JPH1153617A

JPH1153617A - メダル識別装置およびその装置用メダル

Info

Publication number: JPH1153617A
Application number: JP20587197A
Authority: JP
Inventors: Shiyouzou Fukii; 承三吹井; Nobuyuki Watanabe; 信之渡辺
Original assignee: SHIYUUKOU DENSHI KK
Current assignee: SHIYUUKOU DENSHI KK
Priority date: 1997-07-31
Filing date: 1997-07-31
Publication date: 1999-02-26

Abstract

(57)【要約】【課題】メダルの真贋や種別を高精度かつ高速度で識
別する識別装置と、その装置で使用される製造経費安価
なメダルを提供することを目的とする。【解決手段】外周面に対して同心円状の環状凹部を複
数備えるメダルを、その外周部で略密着的に支持して円
形面と平行な方向に搬送するメダル搬送手段と、円形面
に対して光を照射し、その中心を通る線上を走査する投
光手段と、それによる照射を異なる方向に連続的に反射
させる反射部位を少なくとも１個所有する環状凹部で反
射される光を受光し、その強度を逐次測定する測光手段
と、それにより得られた値が所定の標準値より大きいと
きにそこが反射部位であると判断する反射部位判断手段
と、それによって判断された反射部位の数および各々の
間隔に基づいて各反射部位の位置を確定する反射部位位
置確定手段と、それにより確定された反射部位位置に基
づいてメダルを識別するメダル識別手段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、スロットマシーン
などの遊技機器や社員食堂などの特定区域で用いられる
疑似通貨等のメダル一般を、検査してその真贋や種別を
識別するメダル識別装置、並びに、その装置で使用され
るメダルに関する。

【０００２】

【従来の技術】メダルの真贋や種別を識別するには、そ
の外径・厚み・重量・色調などを計測して得られた値
を、予め入力されている所定の標準値と比較する方法が
従来多く採られていた。これによると、識別装置を安価
で単純に構成できる利点がある。その一方、識別装置の
精度と速度である識別能力は芳しくなく、また、メダル
の外形などのパラメーターには模造が容易である不都合
が付随していた。

【０００３】そこで、識別装置の識別能力を高めると共
にメダルの模造を困難にするために、メダルの円形面の
外周円に対して同心円状に環状の構成物を形成して、こ
の環状構成物を読み取り、その読取値を予め入力されて
いる正規のメダルの標準値と対比する方法が提示されて
いる。メダルを識別する標準値としては、環状構成物の
数や幅、各環状構成物同士の間隔などがパラメーターと
して利用される。

【０００４】特開平１−１７５０９３号「コイン識別装
置」や、特開平１−２４５３８６号「データー表示器」
は、環状構成物として色彩を用いて、反射率の差異に起
因する反射光量の違いをパラメーターに利用するもので
ある。これによると、環状構成物の細かな構成のため、
模造が困難になると共に識別能力が高まる利点がある。
しかし、色彩模様は変色や汚染等で変調し易いので誤認
が少なからず起こる。そのため、識別装置およびメダル
の構成が複雑な割には、十分な効果を期待するには難が
ある。また、特開平６−６０２４０号「コイン識別装置
およびそのコイン識別装置に使用されるコイン」や、特
開平６−１３９４３８号「ＩＤメダル」は、環状構成物
として凹凸を用いて、反射面の傾斜角に起因する反射光
の光路の違いをパラメーターに利用するものである。こ
れによっても、環状構成物の細かな構成のため、模造が
困難になると共に識別能力が高まる利点がある。しか
し、凸部による反射を受光測定して凹凸を判断すること
に起因し、識別精度が十全ではなかった。

【０００５】環状構成物を読み取るには、メダルを所定
の通路へ通過させる際に光を照射し、通路近傍の受光器
で反射光を受光している。そのため、メダルの照射部位
と受光器との距離が一定であることが前提条件として必
要となる。他方、メダルを短時間で大量に識別する目的
で、通路はメダルの大きさに比べて若干大きく構成さ
れ、メダルが円滑に流れるようになっている。そのた
め、メダルが受光器の近傍を通過する際に通路内で跳動
等して、受光器とメダルとの距離が変化する惧れがあ
る。受光器とメダルとの距離が変化すると、反射光の光
路以外のパラメーターが変化し、凹部と凸部の認識判断
が狂ってしまう惧れがある。これは、反射光量のパター
ン変化に重点をおいて識別している従来技術にとって不
都合である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は以上の
実情に鑑みてなされたものであり、メダルの真贋や種別
を高精度かつ高速度で識別できる識別装置と、製造経費
の安価なその識別装置用メダルを提供することを目的と
する。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のメダル識別装置およびその装置用メダル
は、以下の構成を備える。まず、本発明が対象とするの
は、偏平な円形板であり、その円形板の外周面に対して
同心円状に形成され中心角が１８０度以上である環状凹
部を、少なくとも一方の円形面に複数備えるメダル一般
と、そのメダルの真贋や種別を識別するメダル識別装置
である。メダル識別装置は、メダルの外周部で略密着的
に支持して円形面と平行な方向に搬送するメダル搬送手
段と、円形面に対して光を照射し、その中心を通る線上
を走査する投光手段と、投光手段より発せられた光を異
なる方向に連続的に反射させる反射部位を少なくとも１
個所有する環状凹部で反射される光を受光し、その強度
を逐次測定する測光手段と、測光手段により得られた値
が所定の標準値より大きいときにそこが反射部位である
と判断する反射部位判断手段と、反射部位判断手段によ
って判断された反射部位の数および各々の間隔に基づい
て各反射部位の位置を確定する反射部位位置確定手段
と、反射部位位置確定手段により確定された反射部位位
置に基づいてメダルを識別するメダル識別手段とを備え
る。また、メダルは、反射部位が、環状凹部を形成する
側面のうち少なくとも一方の側面における円板底面との
連続部に形成した実質的に環状の緩曲面であるものや、
反射部位が、環状凹部の底面を含んで単一に連続して形
成した環状の緩曲面であるものが好適に利用できる。

【０００８】

【発明の実施の形態】本発明の実施形態を図面の例に基
づいて説明する。以下、遊戯施設で用いられる識別装置
とその識別装置用メダルの組の例を挙げるが、本発明は
これに限定されず、実施形態は、本発明の主旨から逸脱
しない限り適宜設計変更可能なものである。図１は、本
発明の第１実施例に係るメダルの平面図および断面図で
ある。メダル（７０）は偏平な円形板であり、その一方
の円形面（７２）には、メダル側面（７１）である外周
面に対して同心円状に、中心角１８０度以上の環状凹部
（７６）が複数備わっている。環状凹部（７６）は、略
平坦な円形面（７２）に設けられた窪みなので、その両
側には凸部（７５）（７５）がある。凸部（７５）は、
円形面（７２）に平行な平板状の頂部（７５ｔ）、角を
とって丸みを帯びさせた緩曲部（７５ｒ）、凹部（７
６）に連らなる略平板状の側部（７５ｓ）の連続体を備
える。凹部（７６）は、凸部（７５）の側部（７５ｓ）
に連らなる緩曲部（７６ｒ）と円形面（７２）に平行な
平板状の底部（７６ｂ）の連続体を備える。

【０００９】図２および３は、識別装置の光学系要部を
示す側面図および平面図である。なお凹部（７６）は、
円形面（７２）か円形面（７３）の一方の円形面に形成
されるので、光学系は互いに反対の円形面（７２）（７
３）を識別できるように２箇所設けられる。ここでは説
明を簡単にするために、本実施例においては、投光器
（２０）や受光器（３０）等をメダル（７０）の一方の
円形面（７２）側に設けた場合を説明する。即ち、軌跡
（１５ｃ）上の円形面（７３）側に設けられる他の投光
器や受光器等の構成や作用等については説明を省略す
る。もちろん、メダル（７０）の両円形面（７２）（７
３）に凹部（７６）が形成されている場合は、投光器
（２０）や受光器（３０）等は、一方の円形面側にのみ
設ければよい。メダル（７０）は、断面の内形が略コの
字状の支持体（１０）２体によって、その外周部が略密
着的に挟持されて、円形面（７２）（７３）と平行な方
向に搬送される。光学系の計測部位における支持体（１
０）断面の幅方向寸法は、メダル（７０）断面の外径よ
り僅かに大きいものであり、支持体（１０）の定位置を
メダル（７０）が跳動等することなく通過する。２体の
支持体（１０）（１０）の各側面（１２）（１３）の間
（１５）（１５）は開口して、そこを通るメダルの円形
面（７２）（７３）の中心（７４）近傍が検査のために
露出するよう構成される。

【００１０】図では、搬送手段としての支持体（１０）
は２体から成るが、一方の側面（１２）（１３）の間
（１５）を連続させて１体として、一方のメダル円形面
（７２）のみを露出するよう構成してもよい。なお、一
方の円形面（７３）を垂直に押圧して、支持体側面（１
２）（１３）の片面にメダル円形面（７２）を当接させ
ながら、光学系計測部位を通過させる搬送部材（１９）
を付設してもよい。これによると、メダル（７０）と支
持体（１０）との位置関係がより一定に保たれるので、
メダル（７０）が支持体（１０）中を一層定位置で通過
することができる。

【００１１】メダル（７０）を検査するには、光をプロ
ーブとして、投光手段によりメダル円形面（７２）を照
射し、その反射光を測光手段で受光測定する。投光手段
としての投光器（２０）から照射される光の光束は、円
形面（７２）の中心（７４）が帰掃する軌跡（１５ｃ）
上にある。そのため、メダル（７０）が搬送されるに連
れて、円形面（７２）における中心（７４）を通る線上
が走査されることで、所定の環状凹部（７６）が検査さ
れ、測光手段としての受光器（３０）で反射強度が逐次
測定される。例えば、円形面（７２）の半径部位を検査
すれば、各環状凹部（７６）が中心角を１８０度以上備
えているので、円形面（７２）に備わる全ての環状凹部
（７６）を検査することができる。

【００１２】反射光の測定値は、受光器（３０）に接続
するデータ処理部（４０）へ入力される。データ処理部
（４０）は、反射部位判断手段・反射部位位置確定手段
・メダル識別手段を備える。ここで、反射部位を確定す
る手段について図４を参照しつつ説明する。メダル（７
０）が照射を受けながら搬送されると、円形面（７２）
の凹凸に起因して、表面の傾斜度に呼応した角度で反射
角が変わる。受光器（３０）とメダル搬送部材との位置
関係が固定されているので、反射角の変化に呼応して受
光量が変化する。図４において、投光器（２０）が２０
Ａの位置にある時は、光が凸部（７５）に照射されてい
る時を示す。この時、凸部（７５）の緩曲部（７５ｒ）
からも受光器（３０）へ反射光は達するが、凸面である
ので、反射の方位は分散してしまい、受光器（３０）に
入射する光量は矢印Ｃで示すようにある程度増加するだ
けである。それに対し、投光器（２０）が２０Ｂの位置
にある時は、光が凹部（７６）に照射されている時を示
す。この時、凹部（７６）の緩曲部（７６ｒ）は凹面な
ので集光効果があり、矢印Ｄで示すように受光器（３
０）に入射する光量がここで極大となる。反射部位判断
手段によって、反射強度或いはその微積分値が所定閾値
を超えたときに、その検出地点が、連続的に傾斜度の変
化する曲面である緩曲部（７６ｒ）に備わって、光を異
なる方向に連続的に反射させる反射部位であると判断す
る。そして、反射部位位置確定手段により、反射部位の
数および各々の間隔に基づいて各反射部位の位置を確定
する。

【００１３】こうして得られる各反射部位の位置関係
を、メダル識別手段により、正規のメダル（７０）を検
査して得られた標準値と対比することによって、メダル
（７０）の真贋や種別が識別される。なお、この反射部
位近傍ではＳＮ比の高い測定値が得られ、識別能力の向
上に寄与する。なお、反射強度の微分値とは、反射位置
をパラメーターとして反射強度を微分するものであり、
反射位置のずれに対する反射強度変化の鋭敏さを意味す
る。また、反射強度の積分値とは、反射位置をパラメー
ターとして反射強度を積分するものであり、反射光量を
意味する。

【００１４】図５は、メダル円形面の各部位で反射され
る反射光の強度を表すグラフであり、図６はその一部拡
大図である。図４の説明図で示したものと同様に、凸部
（７５）でも反射は高まるが、凹部での反射が極大とな
っている。ここで、反射強度或いはその微積分値が所定
閾値を越えるか否かを境界条件にしているので、メダル
（７０）の表面に多少の傷が付いた場合にも、正確な識
別を維持することができる。また、メダル（７０）は、
支持体（１０）の定位置を通過するので、照射検査され
る際に若干変位しても、環状凹部（７６）の緩曲部（７
６ｒ）によって集光される位置が僅かにずれるのみで、
総体的な集光作用に変化はない。従って、反射強度或い
はその微積分値は大きな誤差を孕むことなく、各反射部
位の相対位置を正確に判断確定することが可能である。
このようにして、図５に示すような各位置における反射
強度が得られ、反射部位が確定される。ここで反射部位
は、図５において各凹部の左側の反射部位のみが確定さ
れるが、全ての環状凹部は同心円状で形成されているの
で、所定の演算により図５に示すように環状凹部が確定
される。

【００１５】環状凹部（７６）の形状は、光を集光する
効果のある緩曲面を備えるものが好適に利用できる。図
６等で示した上記実施例の環状凹部（７６）は、反射部
位として、凹部を構成する２側面のうち少なくとも一方
の側面における底部（７６ｂ）との連続部に実質的に環
状の緩曲部（７６ｒ）を備える。緩曲部（７６ｒ）は、
厳密に滑らかな曲面の他に、傾斜度の変化率が微小であ
れば多数の平板面の連続体でもよい。

【００１６】また第２実施例として図７に示す環状凹部
（７６）は、連続する１緩曲面で構成され、平板状の側
部や底部は備わっていない。この場合の反射部位は、環
状凹部の底面を含んで単一に連続して形成した環状の緩
曲面である。メダル（７０）の円形面（７２）を成形す
るには、円板形のものを型に押圧して環状凹部（７６）
を形成するので、これらのように緩曲部（７６ｒ）が具
備されることで角がとれていると、成形型の寿命を長く
することができ、メダル（７０）の製造経費が低減する
利点がある。

【００１７】

【発明の効果】本発明は以上の構成をしているので以下
の効果を奏する。請求項１に記載のメダル識別装置によ
ると、メダルの環状凹部は投光手段より発せられた光を
異なる方向に連続的に反射させる反射部位を少なくとも
１個所有するので、集光効果のある環状凹部の反射部位
からの反射光を利用することが可能となり、ＳＮ比の高
い測定値が得られ、識別能力の向上に寄与する。反射強
度或いはその微積分値が所定閾値を越えるか否かを境界
条件にしているので、メダルの表面に多少の傷が付いた
り、メダルと光学系との距離が若干ずれた場合にも、正
確な識別を維持することが可能である。請求項２または
３に記載のメダルは、本発明の識別装置に用いるのに好
適なうえ、環状凹部に緩曲部が具備され角がないので、
成形型の長寿命化により製造経費が安価である。

【図面の簡単な説明】

【図１】メダルの平面図および断面図

【図２】識別装置の光学系要部を示す側面図

【図３】同平面図

【図４】環状凹部近傍での反射を説明するメダル断面図
および反射強度グラフ

【図５】円形面各部位での反射強度を表すグラフおよび
それより確定されるメダルの断面図

【図６】図４の一部拡大図

【図７】別例のメダルの断面図および円形面各部位での
反射強度を表すグラフ

【符号の説明】

１０支持体１１上面１２、１３側面１５側面の開口部１５ｃ側面開口部の中央１９搬送部材２０〜２０Ｂ投光器２１レンズ３０受光器３１レンズ４０データ処理部７０メダル７１側面７２、７３円形面７４中心７５凸部７５ｔ頂部７５ｒ緩曲部７５ｓ側部７６環状凹部７６ｒ緩曲部７６ｂ底部Ｃ、Ｄグラフ上の位置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】偏平な円形板であり、その円形板の外周
面に対して同心円状に形成され中心角が１８０度以上で
ある環状凹部を、少なくとも一方の円形面に複数備える
メダルを、その外周部で略密着的に支持して円形面と平
行な方向に搬送するメダル搬送手段と、円形面に対して光を照射し、その中心を通る線上を走査
する投光手段と、投光手段より発せられた光を異なる方向に連続的に反射
させる反射部位を少なくとも１個所有する環状凹部で反
射される光を受光し、その強度を逐次測定する測光手段
と、測光手段により得られた値が所定の標準値より大きいと
きにそこが反射部位であると判断する反射部位判断手段
と、反射部位判断手段によって判断された反射部位の数およ
び各々の間隔に基づいて各反射部位の位置を確定する反
射部位位置確定手段と、反射部位位置確定手段により確定された反射部位位置に
基づいてメダルを識別するメダル識別手段と、を有することを特徴とするメダル識別装置。
【請求項２】前記反射部位が、前記環状凹部を形成す
る側面のうち少なくとも一方の側面における円板底面と
の連続部に形成した実質的に環状の緩曲面であることを
特徴とする請求項１に記載のメダル識別装置用メダル。
【請求項３】前記反射部位が、前記環状凹部の底面を
含んで単一に連続して形成した環状の緩曲面であること
を特徴とする請求項１に記載のメダル識別装置用メダ
ル。