JP2007004421A - Idコード判読装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 メダルが連なって流下してもIDコードの判読を確実に行え、自店のIDコードか否かの判断に要する時間を比較的短くでき、IDコードのデータ量を比較的小さくしてCPUにかかる負荷を比較的小さくできるIDコード判読装置を提供する。
【解決手段】 IDコードスキャンライン70を、メダル中心軌跡60からずらす。各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、いずれか一方において、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにする。環状凸部20に対してほぼ直交するように当たったときに反射したビーム光のみを受光部50で受けるようにする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、メダルに形成されたIDコードを判読する技術に関する。
スロットマシン等の遊技機で遊技媒体として使用されるメダル10が自店のものか否かを識別するための技術として、例えば、下記の特許文献1及び特許文献2に開示されている技術が知られている。
特許文献1及び特許文献2に開示されている技術を、図11ないし図20に基づいて説明する。図11(A)は、従来のメダル10の平面図、図11(B)は、図11(A)のF−F線断面図、図12は、メダル10がメダル通路30を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図、図13は、図12のG−G線断面図であって、メダル10が図12の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図14は、環状凸部20の断面拡大図であって、ビーム光が環状凸部20のエッジ部及びその近傍で反射する様子を示す説明図、図15(A)は、メダル10がメダル通路30を流下する様子を示す平面図、図15(B)は、図15(A)のH−H線断面図であって、メダル10が図15(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図15(C)は、メダル10が図15(A)の位置にあるときの受光部50による検出信号の波形を示す説明図、図16(A)は、メダル10がメダル通路30を流下する様子を示す平面図、図16(B)は、図16(A)のI−I線断面図であって、メダル10が図16(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図16(C)は、メダル10が図16(A)の位置にあるときの受光部50による検出信号の波形を示す説明図、図17(A)は、メダル10がメダル通路30を流下する様子を示す平面図、図17(B)は、図17(A)のJ−J線断面図であって、メダル10が図17(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図17(C)は、メダル10が図17(A)の位置にあるときの受光部50による検出信号の波形を示す説明図、図18は、IDコードスキャンライン70におけるメダル10の断面図であって、各環状凸部20のエッジ部と受光部50による検出信号の波形との関係を示す説明図、図19は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下する様子を示す平面図、図20は、IDコードスキャンライン70におけるメダル10の断面図であって、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下したときの、各環状凸部20のエッジ部と受光部50による検出信号の波形との関係を示す説明図である。
特許文献1及び特許文献2に開示されている技術は、次のようなものである。
図11(A)及び(B)に示すように、メダル10の表面に、メダル10の外周円と同心円であり、かつ、径がそれぞれ異なる複数の環状凸部20を設け、これらの数及び相互の間隔の相違等で、固有のIDコードを形成する。そして、このIDコードを、IDコード判読装置で判読し、自店のIDコードを有するメダル10のみを通過させ、自店のIDコードと合致しないメダル10やIDコードを有しないメダル10を排除する。
また、図12及び図13に示すように、IDコード判読装置は、メダル10を流下させるためのメダル通路30と、メダル通路30上の1点に向けてビーム光を照射するための照光部40と、メダル通路30を流下するメダル10のIDコード形成面で反射したビーム光を受けるための受光部50と、受光部50が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うための判読部とを備えている。
ここで、メダル10がメダル通路30を流下したときのメダル10の中心の軌跡を「メダル中心軌跡60」とする。また、メダル10がメダル通路30を流下したときにビーム光がスキャンするIDコード形成面上のラインを「IDコードスキャンライン70」とする。また、ビーム光をIDコード形成面に投影したときの線を「ビーム光投影線80」とする。
図12に示すように、従来のIDコード判読装置では、照光部40は、メダル中心軌跡60上の所定の1点に向けてビーム光を照射するように形成されていた。このため、従来のIDコード判読装置では、メダル中心軌跡60とIDコードスキャンライン70とが一致していた。つまり、従来のIDコード判読装置では、メダル10のセンターライン上をスキャンしていた。
また、図12に示すように、従来のIDコード判読装置では、ビーム光投影線80は、メダル中心軌跡60上に位置していた。
また、図12に示すように、従来のIDコード判読装置では、メダル中心軌跡60とIDコードスキャンライン70とが一致し、かつ、メダル中心軌跡60とビーム光投影線80とが一致することにより、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点の双方において、ビーム光が環状凸部20に対して直交するように当たっていた。
また、図13に示すように、従来のIDコード判読装置では、照光部40は、ビーム光をIDコード形成面に対して角度「θ3」傾斜させて照射するように形成されていた。また、図13及び図14に示すように、ビーム光は、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たると、IDコード形成面に対して直角方向に反射するようになっていた。つまり、角度「θ3」は、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たったビーム光がIDコード形成面に対して直角方向に反射する角度である。
また、図13に示すように、受光部50は、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たって反射したビーム光を受けることができる位置に設けられていた。具体的には、図13に示すように、ビーム光の照射位置と受光部50とは、IDコード形成面に対して垂直な同一直線上に設けられていた。これにより、照光部40から照射されたビーム光は、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たると、受光部50へ至るが、それ以外の場合には、受光部50へは至らないようになっていた。
また、図15ないし図17は、メダル10がメダル通路30を流下する様子と、メダル10が各図に示す位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子と、メダル10が各図に示す位置にあるときの受光部50による検出信号の波形とを示している。つまり、メダル10がメダル通路30を流下すると、ビーム光の反射角度、及び受光部50による検出信号の波形は、図15ないし図17に示すように変化する。
また、図18は、各環状凸部20のエッジ部と、受光部50による検出信号の波形との関係を示している。図18に示すように、メダル10には4つの環状凸部20が設けられており、また、ビーム光は各環状凸部20と2ヶ所で直交することから、検出信号には8つのピークが見られる。
また、図19は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下する様子を示しており、また、図20は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下したときの、各環状凸部20のエッジ部と、受光部50による検出信号の波形との関係を示している。
従来のIDコード判読装置では、メダル10のセンターライン上をスキャンするため、メダル10が連なって流下すると、先に流下するメダル10の最後のピークがあらわれなかったり、あるいは先に流下するメダル10のIDコードとこのメダル10に連なって流下するメダル10のIDコードとの境目がわかりにくくなって、IDコードの判読が困難になることがあった。
特開平6−139393号公報 特開平6−139438号公報
上述したように、従来のIDコード判読装置では、メダルが連なって流下すると、IDコードの判読が困難になることがあった。
また、従来のIDコード判読装置では、メダルの一端から他端までスキャンしないと、IDコードの判読ができなかった。このため、自店のIDコードか否かを判断するのに、比較的長い時間を必要とした。
また、従来のIDコード判読装置では、環状凸部の数がnならば、検出信号の波形には2nのピークがあらわれることから、IDコードのデータ量が比較的大きく、CPUにかかる負荷が比較的大きかった。
(請求項1)
そこで、請求項1記載の発明は、IDコードスキャンラインをメダル中心軌跡からずらした。また、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方において、ビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるようにした。更に、環状凸部に対してほぼ直交するように当たったときに反射したビーム光のみを受光部で受けるようにした。これにより、メダルが連なって流下しても、IDコードの境目がわかるようにした。また、2ヶ所ある交点の一方と他方とで、ビーム光の環状凸部への当たり方がそれぞれ異なるようにし、ひいてはビーム光の反射角度がそれぞれ異なるようにした。そして、環状凸部の数がnならば、検出信号の波形にあらわれるピークの数もnになるようにした。そして、メダルの流下方向前側の端から中程まで、あるいはメダルの中程から流下方向後側の端までスキャンすれば、自店のIDコードか否かの判読ができるようにした。このようにして、メダルが連なって流下してもIDコードの判読を確実に行うことができ、また、自店のIDコードか否かの判断に要する時間を比較的短くすることができ、更には、IDコードのデータ量を比較的小さくしてCPUにかかる負荷を比較的小さくすることができるIDコード判読装置を提供することを目的とする。
(請求項2)
また、請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明の目的に加え、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるようにした。これにより、メダルの流下方向前側の端から中程までスキャンすれば、ビーム光の照射位置をメダルが完全に通過するのを待たずに、自店のIDコードか否かの判読ができるようにした。このようにして、メダルの受け付けあるいは返却の迅速な処理が可能なIDコード判読装置を提供することを目的とする。
(請求項1)
請求項1記載の発明は、メダル10に形成されたIDコードを判読するためのIDコード判読装置であって、IDコードは、円板形状のメダル10の少なくとも一方側の面に、メダル10の外周円と同心円でありかつ径がそれぞれ異なる複数の環状凸部20を設けることによって形成され、IDコード判読装置は、メダル10を一定方向へ流下させるためのメダル通路30と、メダル通路30上の1点に向けてビーム光を照射するための照光部40と、メダル通路30を流下するメダル10のIDコード形成面で反射したビーム光を受けるための受光部50と、受光部50が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うための判読部とを備え、メダル10がメダル通路30を流下したときのメダル10の中心の軌跡を、メダル中心軌跡60とし、メダル10がメダル通路30を流下したときにビーム光がスキャンするIDコード形成面上のラインを、IDコードスキャンライン70とすると、照光部40は、IDコードスキャンライン70がメダル中心軌跡60から所定距離ずれた位置になるように、かつ、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方においてビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成され、受光部50は、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たったときにIDコード形成面で反射したビーム光を受けるように形成されていることを特徴とする。
ここで、「IDコード判読装置」は、メダル10に形成されたIDコードを判読するためのものである。
また、「IDコード」は、円板形状のメダル10の少なくとも一方側の面に、メダル10の外周円と同心円であり、かつ、径がそれぞれ異なる複数の環状凸部20を設けることによって形成されるものである。環状凸部20の数や幅や間隔などの相違により、固有のIDコードを形成することができる。また、IDコードは、メダル10の片面にのみ形成してもよく、また、メダル10の両面にそれぞれ形成してもよい。
また、「メダル通路30」は、メダル10を一定方向へ流下させるためのものである。
また、「照光部40」は、メダル通路30上の1点に向けてビーム光を照射するためのものである。
また、「受光部50」は、メダル通路30を流下するメダル10のIDコード形成面で反射したビーム光を受けるためのものである。
また、「判読部」は、受光部50が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うためのものである。
また、「メダル中心軌跡60」は、メダル10がメダル通路30を流下したときのメダル10の中心の軌跡である。
また、「IDコードスキャンライン70」は、メダル10がメダル通路30を流下したときにビーム光がスキャンするIDコード形成面上のラインである。
また、本発明に係るIDコード判読装置では、照光部40は、IDコードスキャンライン70がメダル中心軌跡60からメダル10の半径の範囲内で所定距離ずれた位置になるように、かつ、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方においてビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成されている。
つまり、本発明に係るIDコード判読装置では、IDコードスキャンライン70が、メダル中心軌跡60からずれた位置となっている。また、ずれの方向は、メダル中心軌跡60の上方でもよく下方でもよい。すなわち、IDコードスキャンライン70は、メダル中心軌跡60よりも上方へずらしてもよく、また、メダル中心軌跡60よりも下方へずらしてもよい。換言すると、ビーム光の照射位置は、メダル中心軌跡60よりも上方へずらしてもよく、また、メダル中心軌跡60よりも下方へずらしてもよい。また、ずれの距離は、メダル10の半径の範囲内にする。また、ずれの距離は、最小径の環状凸部20の半径よりも小さい範囲内にする。
また、本発明に係るIDコード判読装置では、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方において、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしてある。
例えば、メダル10の両面に、4つの環状凸部20を設けて、IDコードを形成する。最も外側の環状凸部20を第1環状凸部20(21)とし、そのすぐ内側の環状凸部20を第2環状凸部20(22)とし、そのすぐ内側の環状凸部20を第3環状凸部20(23)とし、最も内側の環状凸部20を第4環状凸部20(24)とする。メダル10がメダル通路30を流下すると、ビーム光は、第1環状凸部20(21)、第2環状凸部20(22)、第3環状凸部20(23)、及び第4環状凸部20(24)をそれぞれ2回ずつ横切る。つまり、第1環状凸部20(21)とIDコードスキャンライン70との交点は2ヶ所となる。第2から第4までの各環状凸部20(22〜24)についても同様である。
ここで、第1環状凸部20(21)とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先にビーム光が横切る方を「第1環状凸部先交点」とし、後でビーム光が横切る方を「第1環状凸部後交点」とする。第2から第4までの各環状凸部20(22〜24)についても同様とする。
第1環状凸部先交点において、ビーム光が第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するように当たるようにする。そうすると、第2環状凸部先交点においても、ビーム光が第2環状凸部20(22)に対してほぼ直交するように当たり、また、第3環状凸部先交点においても、ビーム光が第3環状凸部20(23)に対してほぼ直交するように当たり、また、第4環状凸部先交点においても、ビーム光が第4環状凸部20(24)に対してほぼ直交するように当たる。
一方、第4環状凸部後交点においては、ビーム光は第4環状凸部20(24)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第3環状凸部後交点においても、ビーム光は第3環状凸部20(23)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第2環状凸部後交点においても、ビーム光は第2環状凸部20(22)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第1環状凸部後交点においても、ビーム光は第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するようには当たらない。
これは、IDコードスキャンライン70が、メダル中心軌跡60からずれた位置にあり、かつ、ビーム光投影線80(ビーム光をIDコード形成面に投影したときの線)が、メダル中心軌跡60に対して所定角度傾斜しているためである。また、所定角度は、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のいずれか一方において、ビーム光投影線80が環状凸部20に対してほぼ直交するような角度である。
また、本発明に係るIDコード判読装置では、受光部50は、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たったときにIDコード形成面で反射したビーム光を受けるように形成されている。
例えば、第1環状凸部先交点、第2環状凸部先交点、第3環状凸部先交点、及び第4環状凸部先交点で反射したビーム光のみを受け、第1環状凸部後交点、第2環状凸部後交点、第3環状凸部後交点、及び第4環状凸部後交点で反射したビーム光や、環状凸部20以外の位置で反射したビーム光については受けないように、受光部50の位置及び向きを調整することができる。
以上のように構成されているので、本発明に係るIDコード判読装置では、メダル10が連なって流下しても、IDコードの境目がわかる。また、2ヶ所ある交点の一方と他方とで、ビーム光の環状凸部20への当たり方がそれぞれ異なり、ひいてはビーム光の反射角度がそれぞれ異なる。このため、環状凸部20の数がnならば、検出信号の波形にあらわれるピークの数もnになる。これにより、メダル10の流下方向前側の端から中程まで、あるいはメダル10の中程から流下方向後側の端までスキャンすれば、メダル10の一端から他端までスキャンしなくても、自店のIDコードか否かの判読ができる。
したがって、メダル10が連なって流下してもIDコードの判読を確実に行うことができ、また、自店のIDコードか否かの判断に要する時間を比較的短くすることができ、更には、IDコードのデータ量を比較的小さくしてCPUにかかる負荷を比較的小さくすることができるのである。
なお、上記の説明では、第1環状凸部先交点において、ビーム光が第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するように当たるようにしたが、第1環状凸部後交点において、ビーム光が第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するように当たるようにしてもよい。
(請求項2)
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明を限定したものであって、照光部40は、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうちの先に交わる方においてビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成されていることを特徴とする。
このように、本発明に係るIDコード判読装置では、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしている。つまり、第1環状凸部先交点、第2環状凸部先交点、第3環状凸部先交点、及び第4環状凸部先交点において、ビーム光が各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしている。
このため、メダル10の流下方向前側の端から中程までスキャンすれば、つまり、第1環状凸部先交点から第4環状凸部先交点までスキャンすれば、ビーム光の照射位置をメダル10が完全に通過するのを待たずに、自店のIDコードか否かの判読ができる。したがって、メダル10の受け付けあるいは返却の処理を迅速に行うことができるのである。
(請求項1)
請求項1記載の発明によれば、IDコードスキャンラインをメダル中心軌跡からずらした。また、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方で、ビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるようにした。更に、環状凸部に対してほぼ直交するように当たったときに反射したビーム光のみを受光部で受けるようにした。このため、メダルが連なって流下しても、IDコードの境目がわかる。また、2ヶ所ある交点の一方と他方とで、ビーム光の環状凸部への当たり方がそれぞれ異なり、ひいてはビーム光の反射角度がそれぞれ異なる。よって、環状凸部の数がnならば、検出信号の波形にあらわれるピークの数もnになる。よって、メダルの流下方向前側の端から中程まで、あるいはメダルの中程から流下方向後側の端までスキャンすれば、自店のIDコードか否かの判読ができる。したがって、メダルが連なって流下してもIDコードの判読を確実に行え、また、自店のIDコードか否かの判断に要する時間を比較的短くでき、更には、IDコードのデータ量を比較的小さくしてCPUにかかる負荷を比較的小さくできるIDコード判読装置を提供できる。
(請求項2)
請求項2記載の発明によれば、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるようにした。このため、メダルの流下方向前側の端から中程までスキャンすれば、ビーム光の照射位置をメダルが完全に通過するのを待たずに、自店のIDコードか否かの判読ができる。したがって、メダルの受け付けあるいは返却の迅速な処理が可能なIDコード判読装置を提供できる。
(図面の説明)
図1ないし図10は、本発明の実施の形態を示すものである。
図1(A)は、本実施の形態に係るメダル10の平面図、図1(B)は、図1(A)のA−A線断面図、図2は、メダル10がメダル通路30を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図、図3は、図2のB−B線断面図であって、メダル10が図2の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図4は、図2のC−C線断面図であって、メダル10が図2の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図5は、メダル10がメダル通路30を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図、図6は、図5のD−D線断面図であって、メダル10が図5の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図7は、図5のE−E線断面図であって、メダル10が図5の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図8は、IDコードスキャンライン70におけるメダル10の断面図であって、各環状凸部20のエッジ部と受光部50による検出信号の波形との関係を示す説明図、図9は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下する様子を示す平面図、図10は、IDコードスキャンライン70におけるメダル10の断面図であって、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下したときの、各環状凸部20のエッジ部と受光部50による検出信号の波形との関係を示す説明図である。
(メダル10及びIDコード)
図1(A)及び(B)に示すように、本実施の形態では、円板形状のメダル10の両面に、IDコードが形成されている。
また、本実施の形態では、IDコードは、円板形状のメダル10の両面に、メダル10の外周円と同心円であり、かつ、径がそれぞれ異なる4つの環状凸部20を設けることによって形成されている。ここで、最も外側に設けられているものを第1環状凸部20(21)とし、そのすぐ内側に設けられているものを第2環状凸部20(22)とし、そのすぐ内側に設けられているものを第3環状凸部20(23)とし、最も内側に設けられているものを第4環状凸部20(24)とする。
また、本実施の形態では、メダル10の両面に形成されているIDコードのパターンは、同一である。
また、図1(A)及び(B)に示すように、本実施の形態では、第1から第4までの各環状凸部20(21〜24)は、比較的メダル10の外側寄りに位置させるようにして設けてある。これにより、Lやθ1を極力大きくとれるようにしてある。
また、図1(A)及び(B)に示すように、本実施の形態では、各環状凸部20相互の間隔は、比較的狭くしてある。これにより、各環状凸部20に対するビーム光の照射角度の差が極力小さくなるようにしてある。
(IDコード判読装置)
IDコード判読装置は、メダル10に形成されたIDコードを判読するためのものである。
図2ないし図4に示すように、IDコード判読装置は、メダル10を一定方向へ流下させるためのメダル通路30と、メダル通路30上の1点に向けてビーム光を照射するための照光部40と、メダル通路30を流下するメダル10のIDコード形成面で反射したビーム光を受けるための受光部50と、受光部50が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うための判読部とを備えている。つまり、メダル通路30は、メダル10を一定方向へ流下させるためのものである。また、照光部40は、メダル通路30上の1点に向けてビーム光を照射するためのものである。また、受光部50は、メダル通路30を流下するメダル10のIDコード形成面で反射したビーム光を受けるためのものである。また、判読部は、受光部50が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うためのものである。
また、照光部40は、発光ダイオード等の発光素子と、発光素子から発せられた光をビーム光にするビームレンズとを備えている。そして、照光ドライブ回路が発光素子を発光させると、照光部40からビーム光が照射される。
また、受光部50は、IDコード形成面で反射したビーム光を集めるための集光レンズと、集光レンズで集められた光を信号に変換するためのフォトダイオード等の受光素子とを備えている。このような構成により、受光部50は、受けたビーム光を検出信号に変換する。判読部は、検出信号を、あらかじめ登録したIDコードデータと比較し、その比較結果を中央処理装置に対して出力する。自店のIDコードと合致するメダル10が使用された場合には、判読部は、中央処理装置に対して、あらかじめ登録されたIDコードデータと合致する旨の比較結果を出力する。そうすると、中央処理装置は、出力部に対し、当該メダル10の通過を許容する旨の信号を出力する。一方、自店のIDコードと合致しないメダル10が使用された場合には、判読部は、中央処理装置に対して、あらかじめ登録されたIDコードデータとは合致しない旨の比較結果を出力する。そうすると、中央処理装置は、出力部に対し、当該メダル10を返却する旨の信号を出力する。
ここで、メダル10がメダル通路30を流下したときのメダル10の中心の軌跡を「メダル中心軌跡60」とする。また、メダル10がメダル通路30を流下したときにビーム光がスキャンするIDコード形成面上のラインを「IDコードスキャンライン70」とする。また、ビーム光をIDコード形成面に投影したときの線を「ビーム光投影線80」とする。
図2に示すように、本実施の形態では、照光部40は、IDコードスキャンライン70がメダル中心軌跡60から所定距離ずれた位置になるように、かつ、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方においてビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成されている。
具体的には、図2に示すように、本実施の形態では、IDコードスキャンライン70が、メダル中心軌跡60から下方に距離「L」ずれた位置となっている。また、ずれの距離「L」は、メダル10の半径の範囲内となっている。また、ずれの距離「L」は、最も径が小さい環状凸部20の半径よりも小さくしてある。より具体的には、本実施の形態では、ずれの距離「L」は、第4環状凸部20(24)の半径よりも小さくしてある。これにより、本実施の形態では、IDコードスキャンライン70が、第1から第4までの各環状凸部20(21〜24)とそれぞれ2ヶ所で交わるようになっている。つまり、メダル10がメダル通路30を流下したときに、ビーム光が、第1環状凸部20(21)、第2環状凸部20(22)、第3環状凸部20(23)、及び第4環状凸部20(24)をそれぞれ2回ずつ横切るようになっている。
また、図2に示すように、本実施の形態では、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしてある。
図2に示すように、第1環状凸部20(21)とIDコードスキャンライン70との交点は2ヶ所あり、また、第2環状凸部20(22)とIDコードスキャンライン70との交点も2ヶ所あり、また、第3環状凸部20(23)とIDコードスキャンライン70との交点も2ヶ所あり、また、第4環状凸部20(24)とIDコードスキャンライン70との交点も2ヶ所ある。ここで、第1環状凸部20(21)とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先にビーム光が横切る方を「第1環状凸部先交点」とし、後でビーム光が横切る方を「第1環状凸部後交点」とする。また、第2環状凸部20(22)とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先にビーム光が横切る方を「第2環状凸部先交点」とし、後でビーム光が横切る方を「第2環状凸部後交点」とする。また、第3環状凸部20(23)とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先にビーム光が横切る方を「第3環状凸部先交点」とし、後でビーム光が横切る方を「第3環状凸部後交点」とする。また、第4環状凸部20(24)とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先にビーム光が横切る方を「第4環状凸部先交点」とし、後でビーム光が横切る方を「第4環状凸部後交点」とする。
本実施の形態では、第1環状凸部先交点において、ビーム光が第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するように当たるようにしてある。これにより、第2環状凸部先交点においても、ビーム光が第2環状凸部20(22)に対してほぼ直交するように当たり、また、第3環状凸部先交点においても、ビーム光が第3環状凸部20(23)に対してほぼ直交するように当たり、また、第4環状凸部先交点においても、ビーム光が第4環状凸部20(24)に対してほぼ直交するように当たるようになっている。
一方、第4環状凸部後交点においては、ビーム光は第4環状凸部20(24)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第3環状凸部後交点においても、ビーム光は第3環状凸部20(23)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第2環状凸部後交点においても、ビーム光は第2環状凸部20(22)に対してほぼ直交するようには当たらず、また、第1環状凸部後交点においても、ビーム光は第1環状凸部20(21)に対してほぼ直交するようには当たらない。
これは、図2に示すように、IDコードスキャンライン70が、メダル中心軌跡60からずれた位置にあり、かつ、ビーム光投影線80が、メダル中心軌跡60に対して角度「θ1」傾斜しているためである。また、本実施の形態では、角度「θ1」は、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光投影線80が環状凸部20に対してほぼ直交するような角度としてある。
このため、図2及び図5に示すように、本実施の形態では、第4環状凸部先交点と第4環状凸部後交点とで、ビーム光の第4環状凸部20(24)への当たり方がそれぞれ異なる。したがって、図3、図4、図6及び図7に示すように、第4環状凸部先交点と第4環状凸部後交点とで、ビーム光の反射角度がそれぞれ異なる。図示しないが、第1ないし第3の各環状凸部20についても同様である。
また、図3に示すように、本実施の形態では、照光部40は、ビーム光をIDコード形成面に対して角度「θ2」傾斜させて照射するようにしてある。つまり、IDコード形成面に対するビーム光の入射角度を「θ2」としてある。また、図3に示すように、ビーム光は、各環状凸部20に対してほぼ直交するようにして、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たると、IDコード形成面に対して直角方向に反射するようにしてある。つまり、角度「θ2」は、各環状凸部20に対してほぼ直交するようにして、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たったビーム光が、IDコード形成面に対して直角方向に反射する角度としてある。このように、照光部40は、各環状凸部20に対してほぼ直交するようにして、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たったビーム光が、IDコード形成面に対して直角方向に反射するように、ビーム光をIDコード形成面に対して角度「θ2」傾斜させて照射するようにしてある。なお、図6に示すように、ビーム光は、たとえ各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たったとしても、各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たらないと、IDコード形成面に対して直角方向には反射しない。
また、図3及び図4に示すように、受光部50は、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たったときにIDコード形成面で反射したビーム光を受けるように、その位置及びその向きを調整してある。上述したように、ビーム光は、各環状凸部20に対してほぼ直交するようにして、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たると、IDコード形成面に対して直角方向に反射する。そして、図3及び図4に示すように、受光部50は、このときIDコード形成面で反射したビーム光を受けるように形成されている。より具体的には、図3及び図4に示すように、ビーム光の照射位置と受光部50とは、IDコード形成面に対して垂直な同一直線上に設けられている。また、受光部50は、集光レンズを、IDコード形成面方向へ向けている。これにより、照光部40から照射されたビーム光は、図3及び図4に示すように、各環状凸部20に対してほぼ直交するようにして、各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たると、受光部50へ至るが、それ以外の場合には、より具体的には、環状凸部20のないところに当たったり、あるいは図6及び図7に示すように、たとえ各環状凸部20のエッジ部及びその近傍に当たったとしても、各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たらないと、受光部50へは至らないようになっている。
また、図8は、各環状凸部20のエッジ部と、受光部50による検出信号の波形との関係を示している。本実施の形態では、ビーム光は、第1環状凸部先交点、第2環状凸部先交点、第3環状凸部先交点、及び第4環状凸部先交点では直交するものの、第1環状凸部後交点、第2環状凸部後交点、第3環状凸部後交点、及び第4環状凸部後交点では直交しないことから、1枚のメダル10を一端から他端までスキャンしたときには、図8に示すように、検出信号には4つのピークがあらわれることとなる。
また、図9は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下する様子を示しており、また、図10は、2枚のメダル10がメダル通路30を連なって流下したときの、各環状凸部20のエッジ部と、受光部50による検出信号の波形との関係を示している。
このように、本実施の形態では、IDコードスキャンライン70を、メダル中心軌跡60からずらしてある。また、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしてある。つまり、第1環状凸部先交点、第2環状凸部先交点、第3環状凸部先交点、及び第4環状凸部先交点において、ビーム光が各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしてある。更に、環状凸部20に対してほぼ直交するように当たったときに反射したビーム光のみを受光部50で受けるようにしてある。
このため、メダル10が連なって流下しても、IDコードの境目がわかる。また、2ヶ所ある交点の一方と他方とで、ビーム光の環状凸部20への当たり方がそれぞれ異なり、ひいてはビーム光の反射角度がそれぞれ異なる。これにより、環状凸部20の数がnならば、検出信号の波形にあらわれるピークの数もnになる。よって、メダル10の流下方向前側の端から中程までスキャンすれば、つまり、第1環状凸部先交点から第4環状凸部先交点までスキャンすれば、メダル10がビーム光の照射位置を完全に通過するのを待たずに、自店のIDコードか否かの判読ができる。
したがって、メダル10が連なって流下してもIDコードの判読を確実に行うことができ、また、自店のIDコードか否かの判断に要する時間を比較的短くすることができ、また、IDコードのデータ量を比較的小さくしてCPUにかかる負荷を比較的小さくすることができ、更には、メダル10の受け付けあるいは返却の処理を迅速に行うことができる。
なお、本実施の形態では、IDコードスキャンライン70をメダル中心軌跡60の下方へずらしたが、IDコードスキャンライン70をメダル中心軌跡60の上方へずらしてもよい。
また、本実施の形態では、各環状凸部20とIDコードスキャンライン70との2ヶ所ある交点のうち、先に交わる方において、ビーム光が各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしたが、後に交わる方において、ビーム光が各環状凸部20に対してほぼ直交するように当たるようにしてもよい。
図1(A)は、本実施の形態に係るメダルの平面図、図1(B)は、図1(A)のA−A線断面図。 メダルがメダル通路を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図。 図2のB−B線断面図であって、メダルが図2の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図。 図2のC−C線断面図であって、メダルが図2の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図。 メダルがメダル通路を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図。 図5のD−D線断面図であって、メダルが図5の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図。 図5のE−E線断面図であって、メダルが図5の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図。 IDコードスキャンラインにおけるメダルの断面図であって、各環状凸部のエッジ部と受光部による検出信号の波形との関係を示す説明図。 2枚のメダルがメダル通路を連なって流下する様子を示す平面図。 IDコードスキャンラインにおけるメダルの断面図であって、2枚のメダルがメダル通路を連なって流下したときの、各環状凸部のエッジ部と受光部による検出信号の波形との関係を示す説明図。 図11(A)は、従来のメダルの平面図、図11(B)は、図11(A)のF−F線断面図。 メダルがメダル通路を流下する様子及びビーム光の入射の様子を示す平面図。 図12のG−G線断面図であって、メダルが図12の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図。 環状凸部の断面拡大図であって、ビーム光が環状凸部のエッジ部及びその近傍で反射する様子を示す説明図。 図15(A)は、メダルがメダル通路を流下する様子を示す平面図、図15(B)は、図15(A)のH−H線断面図であって、メダルが図15(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図15(C)は、メダルが図15(A)の位置にあるときの受光部による検出信号の波形を示す説明図。 図16(A)は、メダルがメダル通路を流下する様子を示す平面図、図16(B)は、図16(A)のI−I線断面図であって、メダルが図16(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図16(C)は、メダルが図16(A)の位置にあるときの受光部による検出信号の波形を示す説明図。 図17(A)は、メダルがメダル通路を流下する様子を示す平面図、図17(B)は、図17(A)のJ−J線断面図であって、メダルが図17(A)の位置にあるときのビーム光の入射及び反射の様子を示す説明図、図17(C)は、メダルが図17(A)の位置にあるときの受光部による検出信号の波形を示す説明図。 IDコードスキャンラインにおけるメダルの断面図であって、各環状凸部のエッジ部と受光部による検出信号の波形との関係を示す説明図。 2枚のメダルがメダル通路を連なって流下する様子を示す平面図。 IDコードスキャンラインにおけるメダルの断面図であって、2枚のメダルがメダル通路を連なって流下したときの、各環状凸部のエッジ部と受光部による検出信号の波形との関係を示す説明図。
符号の説明
10 メダル
20 環状凸部
21 第1環状凸部
22 第2環状凸部
23 第3環状凸部
24 第4環状凸部
30 メダル通路
40 照光部
50 受光部
60 メダル中心軌跡
70 IDコードスキャンライン
80 ビーム光投影線

Claims (2)

  1. メダルに形成されたIDコードを判読するためのIDコード判読装置であって、
    IDコードは、円板形状のメダルの少なくとも一方側の面に、メダルの外周円と同心円でありかつ径がそれぞれ異なる複数の環状凸部を設けることによって形成され、
    IDコード判読装置は、
    メダルを一定方向へ流下させるためのメダル通路と、
    メダル通路上の1点に向けてビーム光を照射するための照光部と、
    メダル通路を流下するメダルのIDコード形成面で反射したビーム光を受けるための受光部と、
    受光部が受けたビーム光に基づいてIDコードの判読を行うための判読部とを備え、
    メダルがメダル通路を流下したときのメダルの中心の軌跡を、メダル中心軌跡とし、
    メダルがメダル通路を流下したときにビーム光がスキャンするIDコード形成面上のラインを、IDコードスキャンラインとすると、
    照光部は、IDコードスキャンラインがメダル中心軌跡から所定距離ずれた位置になるように、かつ、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうちのいずれか一方においてビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成され、
    受光部は、ビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たったときにIDコード形成面で反射したビーム光を受けるように形成されていることを特徴とするIDコード判読装置。
  2. 照光部は、各環状凸部とIDコードスキャンラインとの2ヶ所ある交点のうちの先に交わる方においてビーム光が環状凸部に対してほぼ直交するように当たるように、ビーム光をIDコード形成面に対して所定角度傾斜させて照射するように形成されていることを特徴とする請求項1記載のIDコード判読装置。
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