KR20150110287A - X선 분석 장치 - Google Patents

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KR20150110287A
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ray
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KR1020140184608A
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마사히로 사쿠타
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가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스
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Abstract

(과제) 광대한 시료 스테이지 중에 있어서 정밀한 위치 결정을 행하기 위한 조작성을 향상시킬 수 있는 X선 분석 장치를 제공하는 것.
(해결 수단) 시료대와, 시료에 대해 1차 X선을 조사하는 X선원과, 시료로부터 발생하는 2차 X선을 검출하는 검출기와, 시료대와 1차 X선의 상대적인 위치를 조정하는 위치 조정 기구와, 시료대 위의 시료 관찰상을 촬상하는 관찰 기구와, 시료 관찰상을 관찰용 화면(9a)에 표시하는 디스플레이부와, 디스플레이부의 화면 위의 위치를 포인터(P)로 입력 가능하고 드래그 앤드 드롭 조작이 가능한 입력 수단을 가진 컴퓨터를 구비하고, 컴퓨터가, 입력 수단에 의해 관찰용 화면의 중심 영역(A1) 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 중심 영역 밖의 임의의 위치까지 포인터(P)가 이동되면, 중심 영역에 대한 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 시료대를 이동시키는 기능을 갖고 있다.

Description

X선 분석 장치{X-RAY ANALYZING APPARATUS}
본 발명은, 유해물질의 검출 등이 가능하고 제품의 스크리닝 등 혹은 도금의 막 두께 측정 등에 사용되는 형광 X선 분석 장치 등의 X선 분석 장치에 관한 것이다.
형광 X선 분석은, X선원으로부터 출사된 X선을 시료에 조사하고, 시료로부터 방출되는 특성 X선인 형광 X선을 X선 검출기로 검출함으로써, 그 에너지로부터 스펙트럼을 취득해, 시료의 정성분석 혹은 정량분석 또는 막 두께 측정을 행하는 것이다. 이 형광 X선 분석은, 시료를 비파괴로 신속하게 분석 가능하기 때문에, 공정·품질 관리 등에서 널리 이용되고 있다. 근년에는, 고정밀도화·고감도화가 도모되어 미량 측정이 가능해져, 특히 재료나 복합 전자 부품 등에 포함되는 유해 물질의 검출을 행하는 분석 수법으로서 보급이 기대되고 있다.
이러한 형광 X선 분석을 행하는 장치에서는, 통상, X선 조사 부위(측정 부위)를 정하기 위해서 CCD 카메라 등에 의한 시료 관찰상을 디스플레이의 화면 위에 표시하고, 화면 위에서 마우스나 터치 패널 등의 포인팅 디바이스를 사용하여 시료 스테이지(시료대)의 이동을 조작하고 있다. 형광 X선 분석 장치에서는, 수평 방향의 XY축과 수직 방향의 Z축의 3축 좌표 위를 구동하는 것이 일반적이지만, 특히 XY축이 위치 결정으로 빈번히 조작된다.
근년, 미세화가 진행되는 부품이나 기판 패턴을 측정하기 위해서, 장치의 X선 빔 직경은 작고, 또 카메라의 시야도 작아지는 경향이 있으며, 상대적으로 시료 스테이지 전체의 크기가 크게 되어 있다. 이 때문에, 넓은 시료 스테이지 중의 미소한 위치 결정을 신속히 행하기 위해서, 조작 체계의 개선이 검토되고 있다.
종래, 예를 들면 특허 문헌 1에서는, 주사형 하전 입자 빔의 장치이지만, 마우스 클릭에 복수의 기능을 갖게 하고, 또한 싱글 클릭과 더블 클릭으로 이들을 구분하여 사용함으로써, 툴바 버튼 등의 영역으로 마우스의 포인터를 이동시키는 수고를 줄여, 조작성의 향상을 도모하고 있다.
이러한 종래 기술에서는, 예를 들면 마우스에 의해서 화면 주위의 버튼을 누르고, 버튼을 가리키고 있는 동안만, 그 방향으로 시료 스테이지를 움직이게 하는 조작(XY 이동 조작)과, 마우스 등으로 클릭한 화상 위의 점을 측정 대상으로 하여 화면 중앙으로 갖고 오도록 시료 스테이지를 구동하는 조작(중앙 이동 조작)과, 미소 위치에 맞추는 경우에는 카메라의 배율을 확대하는 조작(확대 조작)이 있다. 이 중, 상기 XY 이동 조작에 있어서는, 시료 스테이지의 이동 속도를 툴바의 버튼으로 전환하는 조작이 일반적이었다.
일본국 특허 공개 2000-106119호 공보
상기 종래 기술에는, 이하와 같은 과제가 남아 있다.
즉, 종래 기술에서는, 상기 XY 이동 조작에 있어서 시료 스테이지의 이동 속도를 툴바의 버튼으로 전환하는 조작이 일반적이었는데, 현재 위치로부터 떨어진 점으로 정밀하게 이동하는 순서는, 우선 상기 XY 이동 조작으로 이동 속도를 전환하면서 러프한 위치 결정을 행하고, 목적으로 하는 점을 카메라의 시야 내까지 갖고 온 후에, 상기 중앙 이동 조작으로 정밀한 위치 결정을 행하고 있다. 여기서, 또한 미소한 위치 결정이 필요한 경우에는, 상기 확대 조작의 배율 변경으로 위치 결정하기 쉽게 하고 있다. 그러나, 이동 속도의 전환이나, 상기 XY 이동 조작과 상기 중앙 이동 조작 사이에서 마우스의 커서를 화면 위에서 크게 움직이지 않으면 안 되며, 정밀한 위치 결정 완료까지 시간이 걸려버리는 문제가 있었다. 또, 상기 확대 조작에 있어서는, 툴바의 배율 변경 버튼 등에 마우스의 포인터(커서)를 이동할 필요가 있어, 역시 조작성이 낮았다.
본 발명은, 상술한 과제를 감안하여 이루어진 것이며, 광대한 시료 스테이지 중에 있어서 정밀한 위치 결정을 행하기 위한 조작성을 향상시킬 수 있는 X선 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 상기 과제를 해결하기 위해서 이하와 같은 구성을 채용했다. 즉, 제1의 발명에 따른 X선 분석 장치는, 시료를 설치 가능한 시료대와, 상기 시료에 대해 1차 X선을 조사하는 X선원과, 상기 1차 X선이 조사된 상기 시료로부터 발생하는 2차 X선을 검출하는 검출기와, 상기 시료대와 상기 1차 X선의 상대적인 위치를 조정하는 위치 조정 기구와, 상기 시료대 위의 시료 관찰상을 촬상하는 관찰 기구와, 상기 위치 조정 기구를 제어함과 더불어, 상기 시료 관찰상을 관찰용 화면에 표시하는 디스플레이부와 상기 디스플레이부의 화면 위의 위치를 포인터로 입력 가능하고 드래그 앤드 드롭 조작이 포인터로 가능한 입력 수단을 가진 컴퓨터를 구비하고, 상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 관찰용 화면의 중심 영역 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 상기 중심 영역 밖의 임의의 위치까지 상기 포인터가 이동되면, 상기 중심 영역에 대한 상기 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 상기 위치 조정 기구를 구동하여 상기 시료대를 이동시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 한다.
이 X선 분석 장치에서는, 컴퓨터가, 입력 수단에 의해 관찰용 화면의 중심 영역 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 중심 영역 밖의 임의의 위치까지 포인터가 이동되면, 중심 영역에 대한 상기 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 위치 조정 기구를 구동하여 시료대를 이동시키는 기능을 갖고 있는 드래그 앤드 드롭 조작을 행하는 것만으로, 시료대의 이동 방향 및 이동 속도를 설정하여 조작할 수 있다. 즉, 드래그의 개시점과 드래그 방향에 의해서 위치 조정 기구에 의한 시료대의 이동 방향이 정해지고, 드래그의 개시점에서부터 홀드 상태에서 이동한 위치까지의 거리에 따라 이동 속도가 정해진다. 따라서, 종래에서는 화면에 있어서 시료 관찰상의 밖에 있는 버튼으로 설정했던 시료대의 이동 속도를, 본 발명에서는 드래그 거리에 의해서 직감적으로 지시할 수 있음과 더불어, 스캔 중에도 수시 변경하는 것도 가능하게 된다.
제2의 발명에 따른 X선 분석 장치는, 제1의 발명에 있어서, 상기 컴퓨터가, 반경이 단계적으로 크게 설정된 복수의 동심원선과, 상기 동심원선 중 최소 직경의 최소 동심원선에서부터 최대 직경의 최대 동심원선까지 방사선형으로 연장된 복수의 방사 분할선으로 구성되는 그물선을 상기 관찰용 화면에 표시함과 더불어, 상기 그물선으로 상기 관찰용 화면을 복수의 분할 영역으로 구분하고, 상기 중심 영역이 상기 최소 동심원선 내이며, 상기 임의의 위치가 상기 복수의 분할 영역인 것을 특징으로 한다.
즉, 이 X선 분석 장치에서는, 그물선으로 관찰용 화면을 복수의 분할 영역으로 구분하고, 중심 영역이 최소 동심원선 내이며, 홀드 상태에서 포인터가 이동되는 임의의 위치가 복수의 분할 영역이므로, 그물선으로 구획된 셀인 분할 영역의 위치에 따라서 이동 방향과 이동 속도를 단계적으로 정할 수 있다. 또, 동심원선으로 구획됨으로써, 상하 방향과 좌우 방향과 경사 방향의 각 거리가 같아져, 어느 방향으로 작동시키는 경우에도 같은 조작량으로 실현될 수 있다.
제3의 발명에 따른 X선 분석 장치는, 제1 또는 제2의 발명에 있어서, 상기 입력 수단이, 상기 디스플레이부의 화면에 포인터를 표시하고, 회전 가능한 휠을 갖고 상기 휠의 회전 조작에 따른 입력이 가능한 마우스이며, 상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 휠의 회전 조작이 이루어지면 상기 휠의 회전 방향에 따라 상기 관찰 기구에 의한 상기 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 한다.
즉, 이 X선 분석 장치에서는, 컴퓨터가, 입력 수단에 의해 휠의 회전 조작이 이루어지면 휠의 회전 방향에 따라 관찰 기구에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있으므로, 툴바 등의 배율 변경 버튼을 누를 필요가 없어, 조작성을 더욱 개선할 수 있다.
제4의 발명에 따른 X선 분석 장치는, 제1 또는 제2의 발명에 있어서, 상기 입력 수단이, 상기 디스플레이부의 화면에 접촉함으로써 위치 입력이 가능하고 핀치 인 및 핀치 아웃의 핀치 조작에 따른 입력이 가능한 터치 패널이며, 상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 핀치 조작이 이루어지면 상기 핀치 인인지 상기 핀치 아웃인지에 따라 상기 관찰 기구에 의한 상기 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 한다.
즉, 이 X선 분석 장치에서는, 컴퓨터가, 입력 수단에 의해 핀치 조작이 이루어지면 핀치 인이지 핀치 아웃인지에 따라 관찰 기구에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있으므로, 툴바 등의 버튼을 누를 필요가 없어, 조작성을 더욱 개선할 수 있다. 따라서, 위치 결정 정밀도가 높지 않은 손끝에 의한 터치 패널 위의 조작으로도, 직감적으로 시료대의 조작을 행할 수 있다.
본 발명에 의하면, 이하와 같은 효과를 발휘한다.
즉, 본 발명에 따른 X선 분석 장치에 의하면, 컴퓨터가, 입력 수단에 의해 관찰용 화면의 중심 영역 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 중심 영역 밖의 임의의 위치까지 포인터가 이동되면, 중심 영역에 대한 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 위치 조정 기구를 구동하여 시료대를 이동시키는 기능을 갖고 있으므로, 드래그 앤드 드롭 조작을 행하는 것만으로, 시료대의 이동 방향 및 이동 속도를 설정하여 조작할 수 있다. 따라서, 이 X선 분석 장치에서는, 드래그 앤드 드롭의 간단하고 쉬운 조작에 의해서 광대한 시료 스테이지 중에서도 정밀한 위치 결정을 용이하게 행할 수 있어 조작성을 향상시킬 수 있다.
또한, 종래와 같이 XY의 이동 조작을 행하는 경우에, 한 번 입력 수단의 조작을 중단하여 툴바의 XY 이동용 버튼으로 포인터를 이동시킨다고 하는 조작이 불필요하고, 관찰용 화면 중의 임의의 위치에서 드래그한 채로 이동하고 싶은 방향으로 포인터를 이동시키는 연속적인 조작에 의해 행할 수 있다. 마찬가지로 이동 속도를 변경하는 경우에도, 툴바의 이동 속도 조정용 버튼으로 이동하지 않고, 지금까지의 조작을 중단하지 않고 연속적으로 속도의 증감이 가능해진다. 이와 같이, 본 발명에 의하면, 시료 관찰중에 조작을 중단하는 것에 의한 스테이지의 감속 정지가 없고, 스캔 중에도 수시로 이동시키고자 하는 방향 및 거리를 입력 수단의 드래그 거리에 따라 직감적으로 지시하는 것이 가능하고, 큰 폭으로 조작성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 X선 분석 장치의 일 실시형태를 나타내는 개략적인 전체 구성도이다.
도 2는 본 실시형태에 있어서, 디스플레이부의 화상예를 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명에 따른 X선 분석 장치의 본 실시형태를, 도 1 및 도 2를 참조하면서 설명한다.
본 실시형태의 X선 분석 장치(1)는, 예를 들면 2차 X선으로서 형광 X선을 검출하는 형광 X선 분석 장치이며, 도 1에 나타낸 바와 같이, 시료(S)를 설치 가능한 시료대(2)와, 시료(S)에 대해 1차 X선(X1)을 조사하는 X선원(3)과, 1차 X선(X1)이 조사된 시료(S)로부터 발생하는 2차 X선(X2)을 검출하는 검출기(4)와, 시료대(2)와 1차 X선(X1)의 상대적인 위치를 조정하는 위치 조정 기구(5)와, 시료대(2) 위의 시료 관찰상을 촬상하는 관찰 기구(8)와, 위치 조정 기구(5)를 제어함과 더불어, 시료 관찰상을 관찰용 화면(9a)에 표시하는 디스플레이부(9)와 디스플레이부(9)의 화면 위의 위치를 포인터(P)로 입력 가능하고 드래그 앤드 드롭 조작이 가능한 입력 수단(M)을 가진 컴퓨터(C)를 구비하고 있다.
상기 컴퓨터(C)는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 입력 수단(M)에 의해 관찰용 화면(9a)의 중심 영역(A1) 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 중심 영역(A1) 밖의 임의의 위치까지 포인터(P)가 이동되면, 중심 영역(A1)에 대한 상기 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 위치 조정 기구(5)를 구동하여 상기 시료대(2)를 이동시키는 기능을 갖고 있다. 즉, 컴퓨터(C)는, 상기 기능을 행하기 위한 소프트웨어의 프로그램에 의거해 위치 조정 기구(5)의 제어를 행한다.
또, 이 컴퓨터(C)는, 반경이 단계적으로 크게 설정된 복수의 동심원선(C1~C4)과, 동심원선(C1~C4) 중 최소 직경인 최소 동심원선(C1)에서부터 최대 직경의 최대 동심원선(C4)까지 방사선형으로 연장된 복수의 방사 분할선(R)으로 구성되는 그물선(N)을 관찰용 화면(9a)에 표시함과 더불어, 그물선(N)으로 관찰용 화면(9a)을 복수의 분할 영역(D)으로 구분하고, 중심 영역(A1)이 최소 동심원선(C1) 내이며, 상기 임의의 위치가 복수의 분할 영역(D)으로 되어 있다. 즉, 그물선(N)으로 구획되는 셀인 분할 영역(D) 단위로 이동 방향과 이동 속도가 결정된다.
이와 같이 본 실시형태에서는, 등 간격으로 확경된 4개의 동심원선(C1~C4)과, 중심으로부터 등 간격의 각도로 방사된 8개의 방사 분할선(R)으로 그물선(N)이 구성되어 있다. 따라서, 드래그하는 거리로 움직이는 속도가 3단계로 나뉘어 있음과 더불어, 드래그하는 방향이 8방향으로 나뉘어 있다. 또한, 그물선(N)은, 입력 수단(M)에 의한 드래그 앤드 드롭 조작 동안만 관찰용 화면(9a)에 표시된다.
상기 입력 수단(M)은, 포인팅 디바이스이며, 디스플레이부(9)의 화면에 포인터(커서)(P)를 표시하고, 회전 가능한 휠(H)을 갖고 휠(H)의 회전 조작에 따른 입력이 가능한 마우스이다. 또, 컴퓨터(C)는, 입력 수단(M)에 의해 휠(H)의 회전 조작이 이루어지면 휠(H)의 회전 방향에 따라 관찰 기구(8)에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있다.
상기 관찰 기구(8)는, 시료대(2) 위의 시료(S)를 포함하는 시료 관찰상을 촬상하는 CCD 카메라이다.
또, 상기 광학계(8a)는, 1차 X선(X1)의 광축 위에 배치된 하프 미러 또는 빔 분할기이며, 1차 X선(X1)을 그대로 시료대(2)를 향해 투과시킴과 더불어, 관찰 기구(8)의 광축을 시료대(2)를 향해 변경시켜 시료 관찰상을 촬상 가능하게 하고 있다.
이 컴퓨터(C)는, CPU 등으로 구성되어 시료 관찰상 및 분석 결과를 표시 가능한 디스플레이부(9)를 구비하고 있다. 또한, 시료 관찰상은, 도 1에 나타낸 바와 같이 디스플레이부(9)의 관찰용 화면(9a)에 표시되고, 관찰용 화면(9a)의 중심이 1차 X선(X1)의 조사 위치에 대응하고 있다.
또한, 컴퓨터(C)는, 입력 수단(M)에 의해서 관찰용 화면(9a) 위의 임의의 위치에서 클릭되면, 클릭된 위치를 관찰용 화면(9a)의 중심으로 갖고 오도록, 위치 조정 기구(5)에 의해 시료대(2)를 이동시키는 기능을 갖고 있다.
상기 시료대(2)는, 시료(S)가 재치 가능하고, 위치 조정 기구(5)는, 상부에 시료대(2)를 배치하여 컴퓨터(C)에 의해 제어되고, 시료대(2)를 XY 방향(수평 방향) 및 Z방향(수직 방향)으로 진퇴 가능한 XY축 스테이지 및 Z축 스테이지이다.
상기 X선원(3)은, 1차 X선(X1)을 조사 가능한 X선 관구이며, 관구 내의 필라멘트(음극)로부터 발생한 열전자가 필라멘트(음극)와 타겟(양극) 사이에 인가된 전압에 의해 가속되어 타겟의 W(텅스텐), Mo(몰리브덴), Cr (크롬) 등에 충돌하여 발생한 X선을 1차 X선(X1)으로서 베릴륨박 등의 창으로부터 출사하는 것이다. 또한, X선원(3)의 선단측에는, 1차 X선(X1)을 집광하여 시료대(2) 위의 시료(S)에 조사하는 모노캐필러리, 콜리메이터 또는 폴리캐필러리 등의 집광소자(도시 생략)가 설치되어 있다.
이 검출기(4)는, X선 입사창에 설치되어 있는 반도체 검출 소자(예를 들면, pin 구조 다이오드인 Si(실리콘) 소자)(도시 생략)를 구비하고, X선 광자 1개가 입사하면, 이 X선 광자 1개에 대응하는 전류 펄스가 발생하는 것이다. 이 전류 펄스의 순간적인 전류치가, 입사한 특성 X선의 에너지에 비례하고 있다. 또, 검출기(4)는, 반도체 검출 소자에서 발생한 전류 펄스를 전압 펄스로 변환, 증폭하여, 신호로서 출력하도록 설정되어 있다.
또한, 이 X선 분석 장치(1)에서는, 검출기(4)에 접속되어 검출기(4)로부터의 신호를 분석하는 분석기(도시 생략)를 구비하고 있다. 이 분석기는, 상기 신호로부터 전압 펄스의 파고를 얻어 에너지 스펙트럼을 생성하는 파고 분석기(다중 채널 파고 분석기)이다.
컴퓨터(C)는, 디스플레이부(9)의 화면에 관찰용 화면(9a)과 함께 관찰 기구(8)의 초점 조정용 버튼(B1)과, 위치 조정 기구(5)에 의한 시료대(2)의 Z축 이동용 버튼(B2)과, 위치 조정 기구(5)에 의한 시료대(2)의 XY 방향 이동용 버튼(B3)을 표시하는 기능을 갖고 있다. 상기 초점 조정용 버튼(B1) 및 Z축 이동용 버튼(B2)은, 각각 저속 조정용과 고속 조정용으로 나뉘어 있다. 이들 초점 조정용 버튼(B1) 또는 Z축 이동용 버튼(B2) 위에 포인터(P)를 이동시킨 상태에서 입력 수단(M)에 의해 클릭함으로써, 관찰 기구(8)의 초점 조정이나 시료대(2)의 위치 조정이 가능하다.
본 실시형태에 있어서, 관찰용 화면(9a) 위에서 시료대(2)의 위치 조정을 행하는 경우, 입력 수단(M)에 의한 클릭 조작인지 드래그 조작인지에 따라 구별된다. 클릭 조작된 경우에는, 상술한 바와 같이 클릭한 위치를 관찰용 화면(9a)의 중심으로 갖고 오도록 위치 조정 기구(5)에 의해 시료대(2)가 이동된다.
또, 중앙 영역(A1) 내에서 드래그 조작이 이루어진 경우, 컴퓨터(C)는 관찰용 화면(9a)에 그물선(N)을 표시한다. 이 상태에서, 입력 수단(M)에 의해서 드래그를 홀드한 채로 포인터(P)를 관찰용 화면(9a) 위에서 이동시킴과 더불어, 이동 방향에 따라 위치 조정 기구(5)에 의해 시료대(2)를 이동시킨다. 즉, 드래그 조작의 개시점이 중앙 영역(A1) 내인 경우에 위치 조정 기구(5)가 구동되어, 드래그하는 방향(드래그가 홀드된 상태로 이동하는 포인터(P)의 방향)에 의해서 시료대(2)가 이동하는 방향이 정해진다. 또한, 드래그가 홀드된 상태로 이동시킨 포인터(P)의 궤적은, 관찰용 화면(9a) 위에서 선으로서 표시된다.
또한, 홀드 상태로 이동한 포인터(P)의 거리에 따라서, 시료대(2)의 이동 속도가 정해진다. 즉, 중앙 영역(A1)으로부터 포인터(P)까지의 거리가 길수록 이동 속도가 높게 설정된다. 예를 들면, 도 2에 있어서, 중앙 영역(A1)으로부터 분할 영역(D1)에 포인터(P)가 이동된 경우보다도, 중앙 영역(A1)으로부터 분할 영역(D3)으로 포인터(P)가 이동 조작된 경우가, 같은 이동 방향이지만 시료대(2)의 이동 속도가 높게 설정된다.
다음에, 입력 수단(M)에 의해 포인터(P)가 어느 한 분할 영역(D)까지 이동되어 드롭 조작이 이루어지면, 컴퓨터(C)가, 위치 조정 기구(5)에 의한 시료대(2)의 이동을 멈춤과 더불어, 관찰용 화면(9a)에 있어서의 그물선(N)의 표시를 지운다.
따라서, 이 X선 분석 장치(1)는, 관찰용 화면(9a) 위에서만 시료대(2)의 이동을 행하는 조작 체계를 갖고 있다.
또한, 본 실시형태에서는, 장치의 하드웨어의 제약 등에 의거하여, 1개의 분할 영역(D) 내에서는 어느 위치로 포인터(P)를 이동시키더라도 이동 방향 및 이동 속도는 동일하게 설정되어 있고, 전체적으로, 단계적으로 이동 방향 및 이동 속도가 설정되도록 되어 있지만, 분할 영역(D)에 관계없이, 단순히 중앙 영역(A1) 내에 있어서의 드래그 조작의 개시점에 대해, 이동된 중앙 영역(A1) 밖에 있어서의 포인터(P)의 위치의 방향 및 거리에 따라, 연속적으로 이동 방향 및 이동 속도를 정하도록 설정해도 상관없다.
이와 같이 본 실시형태의 X선 분석 장치(1)에서는, 컴퓨터(C)가, 입력 수단(M)에 의해 관찰용 화면(9a)의 중심 영역(A1) 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 중심 영역(A1) 밖의 임의의 위치까지 포인터(P)가 이동되면, 중심 영역(A1)에 대한 상기 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 위치 조정 기구(5)를 구동하여 시료대(2)를 이동시키는 기능을 갖고 있으므로, 드래그 앤드 드롭 조작을 행하는 것만으로, 시료대(2)의 이동 방향 및 이동 속도를 설정하여 조작할 수 있다.
따라서, 종래에서는 시료 관찰상이 표시되는 관찰용 화면(9a) 밖에 있는 버튼으로 설정했던 시료대(2)의 이동 속도를, 본 실시형태에서는 드래그 거리에 따라서 직감적으로 지시할 수 있음과 더불어, 스캔 중에도 수시로 변경하는 것도 가능하게 된다.
또, 그물선(N)으로 관찰용 화면(9a)을 복수의 분할 영역(D)으로 구분하고, 중심 영역(A1)이 최소 동심원선(C1) 내이며, 홀드 상태에서 포인터(P)가 이동되는 임의의 위치가, 복수의 분할 영역(D)이므로, 그물선(N)으로 구획된 비율 영역(D)의 위치에 따라서 이동 방향과 이동 속도를 단계적으로 정할 수 있다. 또, 동심원선(C1~C4)으로 구획됨으로써, 상하 방향과 좌우 방향과 경사 방향의 각 거리가 같아져, 어느 방향으로 움직이게 하는 경우에도 같은 조작량으로 조작 가능하게 된다.
또한, 컴퓨터(C)가, 입력 수단(M)에 의해 휠(H)의 회전 조작이 이루어지면 휠(H)의 회전 방향에 따라 관찰 기구(8)에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있으므로, 툴바 등의 배율 변경 버튼을 누를 필요가 없어, 조작성을 더욱 개선할 수 있다.
또한, 본 발명의 기술 범위는 상기 각 실시형태로 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에 있어서 다양한 변경을 가하는 것이 가능하다.
예를 들면, 상기 실시형태에서는, 파고 분석기로 X선의 에너지와 강도를 측정하는 에너지 분산 방식의 X선 분석 장치에 적용했는데, 2차 X선을 분광 결정에 의해 분광하여, X선의 파장과 강도를 측정하는 파장 분산 방식의 X선 분석 장치에 적용해도 상관없다.
또, 상기 실시형태에서는, 입력 수단으로서 마우스를 이용했는데, 다른 예로서 디스플레이부의 화면에 접촉함으로써 위치 입력이 가능하고 핀치 인 및 핀치 아웃의 핀치 조작에 따른 입력이 가능한 터치 패널을 포인팅 디바이스(입력 수단)로서 설치해도 상관없다. 이 경우, 디스플레이부에 터치 패널 기능이 설치되고, 디스플레이부의 화면에 접촉한 손끝이 포인터가 된다. 또, 이 경우의 컴퓨터는, 이 터치 패널에 의해 핀치 조작이 이루어지면 핀치 인인지 핀치 아웃인지에 따라 관찰 기구에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있다. 즉, 핀치 인 조작이 행해지면 시료 관찰상의 표시 배율을 낮추고, 핀치 아웃 조작이 행해지면 시료 관찰상의 표시 배율을 올리도록 설정되어 있다.
이와 같이 상기 다른 예에서는, 컴퓨터가, 터치 패널에 의해 핀치 조작이 이루어지면 핀치 인인지 핀치 아웃인지에 따라 관찰 기구에 의한 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있으므로, 툴바 등의 버튼을 누를 필요가 없어, 조작성을 더욱 개선할 수 있다.
또한, 마우스를 사용한 경우와 마찬가지로, 터치 패널을 입력 수단으로 한 경우에도, 상술한 방법과 마찬가지로, 손끝으로 드래그 앤드 드롭 조작함으로써 위치 조정 기구에 의해 시료대를 이동시킬 수 있다. 따라서, 위치 결정 정밀도가 높지 않은 손끝에 의한 터치 패널 위의 조작에서도, 직감적으로 시료대의 조작을 행할 수 있다.
1:X선 분석 장치
2:시료대
3:X선원
4:검출기
5:위치 조정 기구
8:관찰 기구
9:디스플레이부
9a:관찰용 화면
A1:관찰용 화면의 중심 영역
C:컴퓨터
C1~C4:동심원선
D, D1~D3:분할 영역
H:휠
M:입력 수단
N:그물선
P:포인터
S:시료
X1:1차 X선
X2:2차 X선

Claims (4)

  1. 시료를 설치 가능한 시료대와,
    상기 시료에 대해 1차 X선을 조사하는 X선원과,
    상기 1차 X선이 조사된 상기 시료로부터 발생하는 2차 X선을 검출하는 검출기와,
    상기 시료대와 상기 1차 X선의 상대적인 위치를 조정하는 위치 조정 기구와,
    상기 시료대 위의 시료 관찰상을 촬상하는 관찰 기구와,
    상기 위치 조정 기구를 제어함과 더불어, 상기 시료 관찰상을 관찰용 화면에 표시하는 디스플레이부와 상기 디스플레이부의 화면 위의 위치를 포인터로 입력 가능하고 드래그 앤드 드롭 조작이 가능한 입력 수단을 가진 컴퓨터를 구비하고,
    상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 관찰용 화면의 중심 영역 내에서 드래그 조작되어 홀드 상태에서 상기 중심 영역 밖의 임의의 위치까지 상기 포인터가 이동되면, 상기 중심 영역에 대한 상기 임의의 위치의 방향 및 거리에 따른 이동 방향 및 이동 속도로 상기 위치 조정 기구를 구동하여 상기 시료대를 이동시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 X선 분석 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 컴퓨터가, 반경이 단계적으로 크게 설정된 복수의 동심원선과, 상기 동심원선 중 최소 직경의 최소 동심원선에서부터 최대 직경의 최대 동심원선까지 방사선형으로 연장된 복수의 방사 분할선으로 구성되는 그물선을 상기 관찰용 화면에 표시함과 더불어, 상기 그물선으로 상기 관찰용 화면을 복수의 분할 영역으로 구분하고,
    상기 중심 영역이 상기 최소 동심원선 내이며, 상기 임의의 위치가 상기 복수의 분할 영역인 것을 특징으로 하는 X선 분석 장치.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 입력 수단이, 상기 디스플레이부의 화면에 포인터를 표시하고, 회전 가능한 휠을 갖고 상기 휠의 회전 조작에 따른 입력이 가능한 마우스이며,
    상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 휠의 회전 조작이 이루어지면 상기 휠의 회전 방향에 따라 상기 관찰 기구에 의한 상기 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 X선 분석 장치.
  4. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 입력 수단이, 상기 디스플레이부의 화면에 접촉함으로써 위치 입력이 가능하고 핀치 인 및 핀치 아웃의 핀치 조작에 따른 입력이 가능한 터치 패널이며,
    상기 컴퓨터가, 상기 입력 수단에 의해 상기 핀치 조작이 이루어지면 상기 핀치 인인지 상기 핀치 아웃인지에 따라 상기 관찰 기구에 의한 상기 시료 관찰상의 표시 배율을 변경시키는 기능을 갖고 있는 것을 특징으로 하는 X선 분석 장치.
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