JP5815018B2 - レーザ加工用タッチスクリーンインタフェイス - Google Patents
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Description
RESOLUTION IMAGING MICROSCOPE(HIRIM) AND USES THEREOF」は、一種のデジタル画像処理顕微鏡、具体的には、デジタル画像処理分光光度計及びこの顕微鏡と相互作用するコンピュータについて詳細に述べている。特に、大量の分光分析データを取得し、これをディスプレイに表示可能なコンピュータについて述べられている。2006年6月31日の発明者Nicholas James Salmon及びErnst Hans Karl
Stelzerによる米国特許第6,991,374号「COMPUTER CONTROLLED
MICROSCOPE」は、画像データセットからパラメータ設定を記憶し、システムによって記録されるときに、それを関連する画像データセットに適用できるコンピュータ制御光学顕微鏡が記載されている。2010年6月12日の発明者Michael Roger Cane、Michael Andrew Beadman、及びSymon D'Oyly Cottonによる米国特許第7,647,085号「METHOD
AND APPARATUS FOR INVESTIGATING TISSUE HISTOLOGY」は、タッチスクリーンインタフェイスを備えたコンピュータを利用した光学顕微鏡であるが、そのタッチスクリーンは、操作又はプログラミングステップを開始するためにのみ使用されるものが記載されている。
Claims (8)
- 被検査物を加工するように構成されたレーザ加工システムであって、
コントローラと、
前記コントローラに作用的に接続された、第1の視野を有する第1のカメラと、
触れたユーザの指の移動によってユーザコマンドを入力可能なタッチスクリーンユーザインタフェイスであって、前記コントローラに作用的に接続されて前記第1のカメラからの画像を表示するタッチスクリーンユーザインタフェイスと、
前記コントローラに作用的に接続された、前記被検査物と前記第1の視野との関係を変化させる移動ステージと、
を備え、
前記コントローラは、前記タッチスクリーンユーザインタフェイスから前記入力されたユーザコマンドを受け取り、前記ユーザコマンドを、前記タッチスクリーンユーザインタフェイス上の前記ユーザの指の移動と、前記被検査物と前記第1の視野との関係の移動とを正確に一致させる出力コマンドに変換し、前記出力コマンドを前記移動ステージに通信可能であり、
前記移動ステージは、前記出力コマンドに応答して、前記入力されたユーザコマンドに従い、前記ユーザが前記被検査物を直接動かしているかのように前記タッチスクリーンユーザインタフェイス上の前記被検査物の画像を見せるように、前記第1の視野と前記被検査物との関係を変更する、
レーザ加工システム。 - 前記レーザ加工システムが、レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析、レーザアブレーション誘導結合プラズマ発光分光、又はマトリックス支援レーザ脱離イオン化飛行時間分光のうちの1つである、請求項1に記載のレーザ加工システム。
- 前記第1のカメラは、光学顕微鏡を利用して前記被検査物を撮像する、請求項1に記載のレーザ加工システム。
- 前記コントローラに作用的に接続された、前記第1の視野よりも広い第2の視野を撮像するための第2のカメラを備えた、請求項1に記載のレーザ加工システム。
- 被検査物を加工するためのレーザ加工システムを制御する方法であって、
入力及び出力コマンドを有するコントローラを用意し、
前記コントローラに作用的に接続された、第1の視野を有する第1のカメラを用意し、
前記コントローラに作用的に接続された、ユーザコマンドを入力可能なタッチスクリーンユーザインタフェイスを用意し、
前記コントローラに作用的に接続された、前記被検査物と前記第1の視野との関係を変更する移動ステージを用意し、
前記タッチスクリーンユーザインタフェイスに触れたユーザの指の移動によってユーザコマンドを入力し、前記入力されたユーザコマンドを前記入力コマンドとして前記コントローラに通信し、
前記コントローラを用いて、前記入力コマンドを、前記タッチスクリーンユーザインタフェイス上の前記ユーザの指の移動と、前記被検査物と前記第1の視野との関係の移動とを正確に一致させる出力コマンドに変換し、前記出力コマンドを前記移動ステージに通信し、
前記移動ステージは、前記出力コマンドに応答して、前記入力されたユーザコマンドに従い、前記ユーザが前記被検査物を直接動かしているかのように前記タッチスクリーンユーザインタフェイス上の前記被検査物の画像を見せるように、前記第1の視野と前記被検査物との関係を変更し、これにより前記レーザ加工システムを制御する、
方法。 - 前記レーザ加工システムは、レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析、レーザアブレーション誘導結合プラズマ発光分光、又はマトリックス支援レーザ脱離イオン化飛行時間分光のうちの1つである、請求項5に記載の方法。
- 前記第1のカメラは、光学顕微鏡を利用して前記被検査物を撮像する、請求項5に記載の方法。
- 前記コントローラに作用的に接続された、前記第1の視野よりも広い第2の視野を撮像するための第2のカメラを用意する、請求項5に記載の方法。
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