KR20140098689A - 검안 장치 - Google Patents

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가부시키가이샤 니데크
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Abstract

(과제) 반드시 콘트라스트비가 상이한 2 종류의 시표를 준비하지 않아도, 고콘트라스트 시력과 저콘트라스트 시력을 측정하는 것.
(해결 수단) 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표 (12a) 중 일부를 피검안 (E) 에 정시하는 시표 정시 광학계 (10) 와, 시표 정시 광학계 (10) 에 의해 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 에 조명광을 조사하는 가시광원 (11) 을 구비하고, 가시광원 (11) 으로부터 시표 (12a) 에 조사되는 조명광의 광량을 소정의 제 1 광량과 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량으로 전환하는 S2 의 처리와, 가시광원 (11) 으로부터 시표 (12a) 에 조사되는 조명광의 광량을 제 1 광량으로부터 상기 제 2 광량으로 전환하는 경우, 피검안 (E) 에 정시되는 시표를 전환하는 S3 의 처리를 실행하는 제어부 (100) 를 구비한다.

Description

검안 장치{OPTHALMIC APPARATUS}
본 발명은, 피검안에 시표를 정시하여 시력 측정 (검안) 을 실시하는 검안 장치에 관한 것이다.
종래부터 복수의 시표를 사용하여 피검안의 시력 측정을 실시하기 위한 검안 장치가 알려져 있다. 예를 들어, 특허문헌 1 에 기재된 검안 장치에는, 안굴절력을 타각적으로 측정하는 오토 리프랙터미터에 시력값을 측정하기 위한 복수의 시표를 갖는 시력 차트 (본 실시형태의 시표판에 상당) 와, 그 시력 차트의 시표를 피검안에 정시하기 위한 광학계가 형성되어 있다.
일본 공개특허공보 2005-296541호
그런데, 1 대의 장치로 통상적인 시력 측정 외에, 저콘트라스트 시력의 측정, 및 글레어 점등 상태에서의 시력 측정 등을 실시하고자 하는 요망이 있었다. 또 한편으로, 검안 장치는 컴팩트한 구성인 편이 장치의 설치 스페이스가 억제되기 때문에 바람직하다.
본 발명은 이상의 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 컴팩트한 구성으로 상이한 종류의 시력 측정을 양호하게 실시할 수 있는 검안 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 제 1 양태에 관련된 검안 장치는, 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖고, 복수의 시표 중 일부를 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과, 제 1 측정 모드와, 상기 제 1 측정 조건에 대해 피검안의 시력값이 낮아지기 쉬운 제 2 측정 모드로 시력 검사의 측정 모드를 전환함과 함께, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로 전활될 때에 상기 시표를 전환하는 제어 수단을 구비하고 있다.
또, 본 발명의 제 2 양태에 관련된 검안 장치는, 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖는 시표판과, 상기 시표판이 갖는 복수의 시표 중 일부를 선택적으로 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과, 상기 시표판에 조명광을 조사하는 조명 수단과, 상기 조명 수단의 출력을 변경하거나, 또는 상기 조명 수단으로부터 상기 시표판을 향하는 광을 제한하는 필터를 구동시킴으로써, 상기 시표판에 조사되는 조명광의 광량을 제 1 광량으로부터 상기 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량으로 전환함과 함께, 상기 제 1 광량으로부터 상기 제 2 광량으로 전환될 때에 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 시표판이 갖는 시표 중에서 전환하는 제어 수단을 구비하고 있다.
또, 본 발명의 제 3 양태에 관련된 검안 장치는, 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖는 시표판과, 상기 시표판이 갖는 복수의 시표 중 일부를 선택적으로 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과, 피검안에 대해 글레어광을 출사하는 글레어 광원과, 상기 글레어 광원을 소등 상태로부터 점등 상태로 전환함과 함께, 상기 소등 상태로부터 상기 점등 상태로 전활될 때에 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 시표판이 갖는 시표 중에서 전환하는 제어 수단을 구비하고 있다.
도 1 은, 본 발명의 검안 장치의 광학계 및 제어계의 개략 구성도이다.
도 2 는, 글레어 점등 상태에서의 시력 측정에 있어서, 피검안에 정시되는 이미지를 설명하기 위한 설명도이다.
도 3 은, 시력 측정 모드에 있어서의 검사의 흐름의 일례를 나타낸 플로우 차트이다.
이하, 본 발명의 실시형태를 도면에 기초하여 설명한다. 도 1 은, 본 발명의 실시형태인 검안 장치 (1) 의 광학계 및 제어계의 개략 구성도이다. 검안 장치 (1) 는, 통상적인 시력 측정 (이른바 고콘트라스트 시력의 측정) 과, 저콘트라스트 시력의 측정과, 글레어 점등 상태에서의 시력 측정을 실시하기 위한 검안 장치이다. 여기서, 통상적인 시력 측정이란, 본 실시형태에서는, JIS 규격으로 규정되는 표준 시력 검사 장치의 사용 조건에 준한 조건에서 실시되는 시력 측정을 가리키는 것으로 한다. 또한, 저콘트라스트 시력은, 통상적인 시력 측정용의 시표 (고콘트라스트의 시표) 에 비해, 시표와 시표의 배경 부분의 콘트라스트비가 작은 시표 (저콘트라스트의 시표) 를 사용하여 측정된다. 또, 본 실시형태에 있어서, 검안 장치 (1) 는 타각적인 안굴절력 측정을 실시하는 기능을 겸비하는 것으로 하여 설명한다. 검안 장치 (1) 의 광학계 및 제어계는, 도시 생략한 케이싱에 내장되어 있다. 또, 그 케이싱은, 주지된 얼라이먼트용 이동 기구에 의해 피검안 (E) 에 대해 삼차원적으로 이동되어도 된다. 또, 휴대 타입 (핸디 타입) 이어도 된다.
먼저, 검안 장치 (1) 의 광학계에 대해 설명한다. 검안 장치 (1) 는, 주된 광학계로서 시표 정시 광학계 (10) 와, 글레어 테스트 광학계 (40) 와, 링 지표 투영 광학계 (55) 및 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 와, 관찰 광학계 (촬상 광학계) (60) 와, 측정 광학계 (70) 를 갖고 있다.
시표 정시 광학계 (10) 는, 피검안 (E) 에 시표를 정시하기 위한 광학계이다. 시표 정시 광학계 (10) 는, 가시광원 (11) 과, 시표판 (12) 과, 투광 렌즈 (13) 와, 하프 미러 (16) 와, 다이크로익 미러 (17) 와, 대물 렌즈 (18) 를 포함한다. 시표판 (12) 은, 흑색으로 그려진 복수의 시표 (12a) 를 백색의 본체에 갖는 디스크판이다. 각 시표 (12a) 는, 시표판 (12) 의 둘레 방향으로 나열하여 배치되어 있다. 시표판 (12) 은 모터 (18) 에 접속되어 있다. 시표판 (12) 이 모터 (18) 에 의해 회전됨으로써, 피검안 (E) 에 정시하는 시표 (12a) 가 전환된다. 또한, 시표판 (12) 으로서 디스크판 이외의 구성을 채용할 수 있다. 예를 들어, 복수의 시표가 일방향으로 나열된 판재의 시표판이어도 된다. 이러한 경우에는, 예를 들어, 모터 (18) 대신에 시표와 광로 (L1) 가 대향하도록 광로 (L1) 에 대해 시표판을 슬라이드시키는 구동 기구를 형성하면 된다.
본 실시형태에 있어서, 시표 (12a) 에는, 자각 측정시 (시력 측정시) 에 사용되는 시력 검사용 시표 (예를 들어, 란돌트 고리) 와, 타각 측정시에 피검안 (E) 에 운무 (雲霧) 를 실시하기 위한 고 (固) 시표를 적어도 포함한다. 시력 검사용 시표는, 피검안 (E) 에 동시에 정시되는 5 개가 1 세트인 시표 (12a) 가 시력값마다 (본 실시형태에 있어서는, 시력값 0.1, 0.3, 0.5, …, 1.5 의 각 시력값으로 1 세트씩) 준비되어 있다. 본 실시형태에 있어서, 시력 검사용 시표의 색의 농도는 각 시표 (12a) 에서 균일하다.
또한, 본 실시형태에 있어서 시표판 (12) 이 갖는 시력 검사용 시표는, 시력값마다 5 개씩 준비되어 있는 것으로 하여 설명하였지만, 반드시 이것에 한정되는 것은 아니고, 시력값마다 1 이상 있으면 된다. 또, 본 실시형태에 있어서 시표판 (12) 이 갖는 시력 검사용 시표는 란돌트 고리에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시력 검사용 시표로서 문자, 숫자, 기호, 도형 등을 사용할 수 있다.
가시광원 (11) 은 시표판 (12) 에 조명광을 출사하는 광원으로, 피검안 (E) 을 시표판 (12) 에 고시시키기 위한 고시 광원으로서 사용된다. 가시광원 (11) 에 의해 시표 (12a) 가 조명되면, 시표 (12a) 의 시표 광속은, 투광 렌즈 (13) 에서 다이크로익 미러 (17) 까지의 광학 부재를 개재하여 피검안 (E) 을 향한다. 이로써, 광축 (L1) 에 배치된 시표 (12a) 가 피검안 (E) 에 정시된다. 시표판 (12) 은, 모터 (18) 에 의해 회전되고, 시표 정시 광학계 (10) 의 광축 (L1) 상에 배치하는 시표 (12a) 가 전환 배치된다. 이로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 가 전환된다. 또한, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 의 전환은, 시표판 (12) 의 구동에 의해 실시하는 것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시표판 (12) 대신에 시력값마다의 시표를 일람할 수 있는 시력 차트를 미리 광로 (L1) 상에 배치시켜, 원하는 시력값 이외의 시표 (12a) 에 대한 가시광원 (41) 으로부터의 조명광을 필터에 의해 차광하는 등, 조명광의 조사 위치를 전환하는 구성으로 해도 된다.
또, 가시광원 (11) 은, 출사하는 광량을 제 1 광량과, 그 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량의 적어도 2 단계로 전환 가능하게 구성되어 있다. 가시광원 (11) 으로부터 제 2 광량의 조명광이 출사되고 있는 경우에는, 제 1 광량의 조명광이 출사되고 있는 경우와 비교하여, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 의 배경의 휘도가 저하된다. 한편, 가시광원 (11) 으로부터 출사되는 조명광이 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환된 경우에 있어서의 시표 (12a) 의 휘도 변화는, 배경의 휘도 변화에 비해 적다. 이 때문에, 가시광원 (11) 으로부터 제 2 광량의 조명광을 출사시킴으로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 와 그 시표 (12a) 의 배경의 콘트라스트비를, 제 1 광량의 조명광이 출사되고 있는 경우보다 저감시킬 수 있다. 따라서, 시표판 (12) 이 색의 농도가 상이한 시표 (12a) 를 갖지 않아도, 가시광원 (11) 으로부터 출사되는 조명광의 광량을 전환함으로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시력 검사용의 각 시표 (12a) 와 각 시표 (12a) 의 배경의 콘트라스트비가 높은 상태와, 낮은 상태로 전환할 수 있다. 따라서, 본 실시형태의 검안 장치 (1) 에 의하면, 색의 농도가 상이한 시표를 갖지 않는 시표판 (12) 을 사용하여, 고콘트라스트 시력의 측정과, 저콘트라스트 시력의 측정을 실시할 수 있다.
또한, 피검안 (E) 에 정시되는 시력 검사용의 시표 (12a) 와 배경의 콘트라스트비는, 가시광원 (11) 으로부터의 광량을 조절함으로써, 임의의 범위에서 설정할 수 있다. 본 실시형태에 있어서는, 제 1 광량이 조사된 경우의 시력 검사용의 시표 (12a) 와 배경의 콘트라스트비는, 표준 시력 검사 장치의 콘트라스트비에 준하여 82 % 이상이 되는 것으로 하여 설명한다. 또, 제 2 광량이 조사된 경우의 시력 검사용의 시표 (12a) 와 배경의 콘트라스트비는 25 % 미만이 되는 것으로 하여 설명한다. 단, 가시광원 (11) 으로부터의 출사되는 제 1 광량과 제 2 광량을 변경함으로써, 시력 검사용의 시표 (12a) 와 배경의 콘트라스트비를 변경해도, 본 발명을 실시할 수 있다. 예를 들어, 제 1 광량이 조사된 경우의 시력 검사용의 시표 (12a) 와 배경의 콘트라스트비를, 표준 시력 검사 장치의 콘트라스트비에 준하지 않는 82 % 미만의 값으로 해도 된다.
상세는 후술하지만, 고콘트라스트 시력의 측정 외에, 타각적으로 안굴절력의 측정을 실시하는 경우에도 가시광원 (11) 을 제 1 광량으로 점등시킨다. 또, 저콘트라스트 시력의 측정 외에, 글레어 점등 상태에서의 시력 측정을 실시하는 경우에도, 가시광원 (11) 을 제 2 광량으로 점등시킨다.
가시광원 (11) 및 시표판 (12) (시표 (12a)) 은, 모터 및 슬라이드 기구로 이루어지는 구동 기구 (19) 에 의해 광축 (L1) 을 따라 일체적으로 이동된다. 가시광원 (11) 및 시표 (12a) 의 이동에 의해 타각 측정시에는 피검안 (E) 에 운무가 가해진다. 또, 가시광원 (11) 및 시표 (12a) 의 이동에 의해 자각 측정시 (시력 측정시) 에는 피검안에 대한 시표 (12a) 의 정시 위치 (정시 거리) 가 광학적으로 바뀌고, 이로써 피검안의 구면 굴절력의 오차가 교정된다. 즉, 투광 렌즈 (13), 가시광원 (11) 및 시표 (12a) 의 이동에 의해 구면도수의 교정 광학계가 구성된다. 또한, 구면도수의 교정 광학계는, 상기에 나타낸 구성에 한정되는 것은 아니고, 광로 중에 배치한 릴레이 렌즈를 광축 방향으로 이동시키도록 구성 해도 된다.
글레어 테스트 광학계 (40) 는, 가시광원 (글레어 광원) (41) 을 갖고, 시표 정시 광학계 (10) 로부터 시표 (12a) 가 정시된 피검안 (E) 에 대해 글레어광을 출사하기 위한 광학계이다. 글레어 테스트 광학계 (40) 는, 예를 들어, 2 개의 (1 쌍의) 가시광원 (41), 콘덴서 렌즈 (42) 를 포함한다. 2 개의 가시광원 (41) 은, 고콘트라스트 시력의 측정, 저콘트라스트 시력의 측정, 및 타각적인 안굴절력 측정에 있어서는 소등되어 있고, 글레어 점등 상태에서의 시력 측정에 있어서 점등된다. 광원 (41) 으로부터 출사된 광속은, 콘덴서 렌즈 (42), 하프 미러 (16) 를 개재하여 피검안 (E) 을 향한다.
여기서, 도 2 를 참조하여 글레어 점등 상태에서의 시력 측정에 대해 설명한다. 도 2 는, 글레어 점등 상태에서의 시력 측정에 있어서, 피검안 (E) 에 정시되는 이미지를 설명하기 위한 설명도이다. 도 2 에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에 있어서 2 개의 가시광원 (41) 은, 시표 (12a) 의 좌우에 보이는 위치에 배치된다. 글레어 점등 상태에서의 시력 측정에서는, 가시광원 (41) 은 시표 (12a) 의 외주 부근에 글레어광을 발광시킨다. 이 글레어광은, 차의 헤드라이트를 모방한 것으로, 글레어광의 점등에 의해 피검사자가 야간에 차를 본 상황이 시각적으로 재현된다. 예를 들어, 피검사자가 백내장을 앓고 있으면, 피검안 (E) 에 조사된 수정체의 혼탁에 의해 글레어광이 산란되어, 시표 (12a) 가 잘 보이지 않게 된다. 이 때문에, 검사자는 피검사자의 응답에 기초하여, 피검안 (E) 에 백내장이 있는지의 여부를 추측할 수 있다.
도 1 로 돌아와 설명을 계속한다. 도 1 에 나타내는 바와 같이, 피검안 (E) 의 전안부의 전방에는, 링 지표 투영 광학계 (55) 와 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 가 배치되어 있다. 링 지표 투영 광학계 (55) 는, 피검안 (E) 의 각막 (Ec) 에 대해 링 지표를 투영하기 위한 근적외광을 발하는 광학계이다. 각막 (Ec) 에 투영하는 링 지표는, 각막 형상 측정용의 지표로서 이용할 수 있다. 또, 링 지표 투영 광학계 (55) 는, 피검안 (E) 의 전안부를 조명하는 전안부 조명으로서도 사용할 수도 있다. 한편, 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 는, 피검안 (E) 의 각막 (Ec) 에 무한원 지표를 투영하기 위한 근적외광을 발하는 광학계이다. 각막 (Ec) 에 대한 무한원 지표의 위치에 기초하여, 피검안 (E) 에 대한 검안 장치 (1) 의 위치를 얼라이먼트할 수 있다.
측정 광학계 (70) 는, 투영 광학계 (투광 광학계) (70a) 와 수광 광학계 (70b) 로 구성된다. 투영 광학계 (투광 광학계) (70a) 는, 피검안 (E) 의 동공 중심부를 개재하여 피검안 (E) 의 안저 (Ef) 에 스폿상의 측정 지표를 투영하기 위한 광학계이다. 또, 수광 광학계 (70b) 는, 안저 (Ef) 로부터 반사된 안저 반사광을 동공 주변부를 개재하여 링상으로 취출하고, 링상의 안저 반사 이미지를 촬상하기 위한 광학계이다.
투영 광학계 (70a) 는, 시표 정시 광학계 (10) 의 다이크로익 미러 (17) 와 대물 렌즈 (18) 가 공용되고, 측정 광학계 (70) 의 광축 (L2) 상에 배치된 측정 광원 (71) 과, 릴레이 렌즈 (72) 와, 홀 미러 (73) 를 포함한다. 광원 (71) 은, 정시안의 안저 (Ef) 와 광학적으로 공액의 위치 관계로 되어 있다. 또, 홀 미러 (73) 의 개구는, 피검안 (E) 의 동공과 광학적으로 공액의 위치 관계로 되어 있다.
수광 광학계 (70b) 는, 시표 정시 광학계 (10) 의 다이크로익 미러 및 대물 렌즈 (18) 와, 투영 광학계 (70a) 의 홀 미러 (73) 가 공용되어 있다. 또, 수광 광학계 (70b) 는, 홀 미러 (73) 의 반사 방향의 광축 (L2) 상에 배치된 릴레이 렌즈 (76) 와, 전반사 미러 (77) 와, 전반사 미러 (77) 의 반사 방향의 광축 (L2) 상에 배치된 수광 조리개 (78) 와, 콜리메이터 렌즈 (79) 와, 링 렌즈 (80) 와, 에리어 CCD 등으로 이루어지는 이차원 촬상 소자 (수광 소자) (82) 를 포함한다. 수광 조리개 (78) 및 촬상 소자 (82) 는, 안저 (Ef) 와 광학적으로 공액의 위치 관계로 되어 있다. 링 렌즈 (80) 는, 링상으로 형성된 렌즈부와, 렌즈부 이외의 영역에 차광용의 코팅을 실시한 차광부로 구성되고, 피검안 (E) 의 동공과 광학적으로 공액의 위치 관계로 되어 있다. 촬상 소자 (82) 로부터의 출력은 연산 제어부 (100) (이하, 제어부 (100)) 에 입력된다.
또한, 측정 광학계 (70) 는 상기의 것에 한정되지 않고, 피검안 안저 (Ef) 를 향하여 측정광을 투광하는 투광 광학계와, 측정광의 안저 (Ef) 에서의 반사에 의해 취득되는 반사광을 수광 소자에 의해 수광하는 수광 광학계를 갖는 측정 광학계이면 된다. 예를 들어, 안굴절력 측정 광학계는, 샤크 하트만 센서를 구비한 구성이어도 된다. 물론, 다른 측정 방식의 장치가 이용되어도 된다 (예를 들어, 슬릿을 투영하는 위상차 방식의 장치).
관찰 광학계 (촬상 광학계) (60) 는, 대물 렌즈 (18) 와 다이크로익 미러 (17) 를 시표 정시 광학계 (10) 와 공용하고 있고, 하프 미러 (15) 와, 촬상 렌즈 (61) 와, 이차원 촬상 소자 (62) 를 구비한다. 이차원 촬상 소자 (62) 는, 피검안 (E) 의 전안부와 대략 공액의 위치에 배치된 촬상면을 갖고 있다. 이차원 촬상 소자 (62) 로부터의 출력은 제어부 (100) 에 입력되고, 그 결과, 이차원 촬상 소자 (62) 에 의해 촬상되는 피검안 (E) 의 전안부 이미지가 모니터 (7) 상에 표시된다. 또한, 이 관찰 광학계 (60) 는, 피검안 (E) 의 각막에 형성되는 얼라이먼트 지표 이미지를 검출하는 광학계를 겸하고 있다. 이차원 촬상 소자 (62) 에 의한 얼라이먼트 지표 이미지의 촬상 결과에 기초하여 얼라이먼트 지표 이미지의 위치가 검출된다.
이상으로 나타낸 바와 같이, 본 실시형태에 있어서는, 시표 정시 광학계 (10) 를 이용하여 고콘트라스트 시력 및 저콘트라스트 시력의 측정을 실시할 수 있다. 또, 시표 정시 광학계 (10) 와, 링 지표 투영 광학계 (55) 와, 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 와, 관찰 광학계 (60) 와, 측정 광학계 (70) 를 이용하여 타각적인 안굴절력의 측정을 실시할 수 있다. 그런데, 시표 정시 광학계 (10) 의 시표판 (12) 에는, 타각적인 안굴절력 측정을 위한 고시표가 1 개 배치되어 있는 반면, 시력 검사용 시표는 시력값마다 복수 배치되어 있다. 이 때문에, 시력 검사용 시표의 수가 많을수록, 검안 장치 (1) 중에서 시표 정시 광학계 (10) 의 배치 형성 스페이스가 증대된다. 게다가, 시표 정시 광학계 (10) 의 광로는, 관찰 광학계 (60) 및 측정 광학계 (70) 는 피검안 (E) 으로부터 다이크로익 미러 (17) 까지밖에 공용할 수 없어, 링 지표 투영 광학계 (55) 및 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 와는 독립이다. 따라서, 시표 정시 광학계 (10) 의 시표판 (12) 에 있어서 시력 검사용 시표를 증가시킨 경우, 그것에 의해 시표 정시 광학계 (10) 에서 증대된 배치 형성 스페이스를 다른 광학계 (55, 56, 60, 70) 에 의해 흡수하는 것은 어렵다. 요컨대, 본 실시형태와 같은 광학계를 갖는 종래의 검안 장치에서는, 고콘트라스트 시력과 저콘트라스트 시력의 양방을 측정하려고 하면, 단순히 시표의 수가 증가하는 분만큼 검안 장치 전체가 대형화될 우려가 있었다. 이에 반해, 본 실시형태의 검안 장치 (1) 는, 상기 서술한 바와 같이, 고콘트라스트 시력을 측정하는 시표 (12a) 를 저콘트라스트 시력을 측정할 때에도 다시 사용할 수 있다. 따라서, 고콘트라스트 시력 및 저콘트라스트 시력의 시력 측정과 타각적인 안굴절력의 측정이 가능함에도 불구하고, 검안 장치 (1) 의 대형화를 억제할 수 있다.
다음으로, 검안 장치 (1) 의 제어계에 대해 설명한다. 검안 장치 (1) 는, 주된 제어계로서 제어부 (100) 를 갖고 있다. 제어부 (100) 는, 검안 장치 (1) 의 각 부의 제어 처리와, 측정 결과의 연산 처리를 실시하는 전자 회로를 갖는 처리 장치이다. 제어부 (100) 는, 가시광원 (11, 41) 과, 이차원 촬상 소자 (22, 62) 와, 모터 (18) 와, 구동 기구 (19) 와, 메모리 (101) 와, 모니터 (7) 와, 조작부 (90) 에 전기적으로 접속되어 있다.
메모리 (101) 는, 제어부 (100) 가 검안 장치 (1) 의 각종 제어를 실시하기 위한 제어 프로그램이 기억되어 있는 프로그램 기억 영역과, 시력이나 안굴절력 등의 측정 결과를 일시적으로 격납하는 일시 기억 영역을 갖는 기억 장치이다 (도시 생략). 본 실시형태에 있어서, 메모리 (101) 에는, 자각적인 측정인 시력 측정을 여러 가지 상태에서 실시하기 위해 준비된 시력 측정 모드를 위한 제어 프로그램과, 타각적으로 안굴절력을 측정하는 타각 측정 모드를 위한 제어 프로그램이 미리 기억되어 있다. 이 제어 프로그램에 규정되는 시력 측정 모드에는, 추가로 고콘트라스트 시력의 측정을 실시하기 위한 통상 모드와, 저콘트라스트 시력의 측정을 실시하기 위한 저콘트라스트 모드와, 글레어 점등 상태에 있어서 시력 측정을 실시하기 위한 글레어 모드의 적어도 3 종류의 모드가 준비되어 있다.
조작부 (90) 는, 검사자로부터의 조작을 받아들이고, 조작에 따른 신호를 제어부 (100) 에 입력하기 위해 복수의 스위치 (90a, 90b, 90c, 90d, 90e, 90f, 90g, 90f) 가 형성되어 있다. 스위치 (90a, 90b, 90c, 90d) 의 각 스위치는, 각각 제어부 (100) 의 모드를 타각 측정 모드, 통상 모드, 저콘트라스트 모드, 글레어 모드의 각각으로 이행시키기 위한 조작을 받아들이는 스위치이다.
또, 스위치 (90e, 90f) 는, 정시 시표의 시력값을 변경하기 위해 조작되는 스위치이다. 시력 측정 모드에 있어서, 스위치 (90e) 또는 스위치 (90f) 로부터의 조작 신호가 제어부 (100) 에 입력된 경우에는, 제어부 (100) 는, 시표판 (12) 을 구동시켜 광축 (L1) 상에 배치하는 시표 (12a) 의 조합을 전환한다. 이로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 가 전환된다. 또한, 스위치 (90e) 가 조작된 경우에는, 시력값이 1 단계 높은 시표 (12a) 로 전환되고, 스위치 (90f) 가 조작된 경우에는, 시력값이 1 단계 낮은 시표 (12a) 로 전환된다.
또, 스위치 (90g, 90f) 는 교정 렌즈의 구면도수를 변경하기 위한 스위치이다. 스위치 (90g, 90f) 의 조작에 기초하여, 제어부 (100) 는 광원 (11) 및 시표판 (12) 을 광축 (L1) 방향으로 구동시켜 구면도수를 변경한다.
다음으로, 이상과 같은 구성을 구비하는 검안 장치 (1) 의 측정 동작에 대해 설명한다.
<시력 측정 모드>
도 3 을 참조하여 시력 측정 모드에 대해 설명한다. 도 3 은, 시력 측정 모드에 있어서의 검사의 흐름의 일례를 나타낸 플로우 차트이다. 검안 장치 (1) 의 기동 후에 조작부 (90) 가 갖는 스위치 (90b ∼ 90d) 중 어느 것이 조작되면, 제어부 (100) 는 조작된 스위치와 대응하는 시력 측정 모드의 제어를 실행한다. 본 검안 장치 (1) 에 있어서, 통상 모드, 저콘트라스트 모드, 글레어 모드의 각 모드는, 어느 모드로부터라도 이행시킬 수 있지만, 여기서는 설명의 편의를 위해 통상 모드 → 저콘트라스트 모드 → 글레어 모드의 순으로 각각의 모드에서의 검사를 실시하는 경우에 대해 설명한다.
<통상 모드>
검안 장치 (1) 의 기동 후에 스위치 (90b) 가 조작되면, 제어부 (100) 는 통상 모드의 제어를 실행한다. 이로써, 고콘트라스트 시력의 측정, 즉 통상적으로 실시되는 시력 측정이 가능해진다 (S1). 통상 모드에서는, 제어부 (100) 는, 스위치 (90b) 로부터의 조작 신호가 입력되면, 제 1 광량으로 가시광원 (11) 을 점등시킨다. 또, 제어부 (100) 는, 시표판 (12) 을 모터 (18) 로 구동시키고, 최초로 피검안 (E) 에 정시하는 시표 (12a) (시표 (12a) 의 세트) 를 광축 (L1) 상에 배치시킨다. 이 때, 미리 타각 측정 모드에서 측정된 안굴절력이 메모리 (101) 에 기억되어 있는 경우에는, 제어부 (100) 는, 그 안굴절력으로부터 추정되는 시력값을 갖는 시표 (12a) 의 세트를 광축 (L1) 상에 배치시킨다. 한편, 타각 측정 모드에서 측정된 안굴절력이 메모리 (101) 에 기억되어 있지 않으면, 제어부 (100) 는, 가장 시력값이 낮은 시표 (12a) 의 세트 (즉, 시력값 0.1 의 시표 (12a) 의 세트) 를 광축 (L1) 상에 배치시켜 피검안 (E) 에 정시시킨다.
이상의 동작에 의해 최초의 시표 (12a) 가 피검안 (E) 에 정시되면, 검사자는 피검사자의 시력 측정을 실시한다. 검사자는, 피검사자의 응답에 따라 스위치 (90e, 90f) 를 조작하고, 피검안 (E) 에 정시하는 시표 (12a) 의 전환을 실시한다. 정시된 시표 (12a) 를 피검사자가 올바르게 대답할 수 있었던 경우에는, 검사자는 스위치 (90e) 를 조작하여 1 단계 높은 시력값의 시표로 전환한다. 한편, 정시된 시표 (12a) 에 대한 회답을 피검사자가 틀린 경우에는, 검사자는 스위치 (90f) 를 선택하여 1 단계 낮은 시력값의 시표로 전환한다. 이상의 순서를 반복함으로써 피검사자가 판독 가능한 한계의 최고 시력을 검사한다.
최고 시력값이 얻어지면, 검사자는 최고 시력값이 얻어지는 가장 플러스에서의 구면도수를 확인하기 위해, 스위치 (90g, 90h) 의 조작에 의해 구면도수 S 를 변경한다. 스위치 (90g) 또는 스위치 (90h) 가 선택되면, 광원 (11) 및 시표판 (12) 이 광축 (L1) 방향으로 이동되어 구면도수가 변경된다. 이로써, 최고 시력이 얻어지는 가장 플러스에서의 구면도수 S 가 결정되고, 안경 렌즈 또는 콘택트 렌즈 등의 도수를 처방할 때의 참고값이 얻어진다.
<저콘트라스트 모드>
통상 모드에 있어서 스위치 (90c) 의 조작 신호가 제어부 (100) 에 입력되면, 제어부 (100) 는 저콘트라스트 모드의 제어를 실행한다. 저콘트라스트 모드에서는, 먼저, 제어부 (100) 는 가시광원 (11) 으로부터 출사되는 광량을 제어하여, 통상 모드에 있어서의 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량으로 가시광원 (11) 을 점등시킨다 (S2). 이로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시력 검사용의 각 시표 (12a) 와 각 시표 (12a) 의 배경의 콘트라스트비가 25 % 미만까지 저감된다.
또, 제어부 (100) 는, 가시광원 (11) 으로부터의 광량을 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환하는 경우, 모터 (18) 를 구동시켜 광축 (L1) 상에 배치되는 시표 (12a) 를 전환한다 (S3). 이 때, 광축 (L1) 상에는 통상 모드에서 최종적으로 광축 (L1) 상에 배치된 시표 (12a) 보다 시력값이 1 단계 낮은 시표 (12a) 가 새롭게 배치된다. 예를 들어, 통상 모드에서 최종적으로 시력값 0.5 의 시표 (12a) 가 배치되어 있는 경우에는, 그것보다 1 단계 시력값이 낮은 0.3 의 시표 (12a) 가 광축 (L1) 상에 배치된다. 이상의 동작에 의해 최초의 시표 (12a) 가 피검안 (E) 에 정시되면, 검사자는 저콘트라스트 시력의 측정을 실시한다 (S4). 저콘트라스트 시력의 측정으로는, 예를 들어, 본 실시예에 있어서는, 가시광원 (11) 으로부터 제 2 광량이 조사되는 상태에서, 고콘트라스트 시력의 측정과 동일하게 하여, 정시 시표를 시력값이 상이한 것으로 전환하여, 피검사자가 판독 가능한 한계의 최고 시력을 검사하는 것이어도 된다.
이와 같이, 본 실시형태에서는, 가시광원 (11) 으로부터의 광량을 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환하는 경우, 제어부 (100) 가 시표 정시 광학계 (10) 로부터 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 를 전환한다. 이 때문에, 고콘트라스트 시력의 측정과 저콘트라스트 시력의 측정을 계속해서 실시해도, 고콘트라스트 시력의 측정에서 최종적으로 정시된 시표 (12a) 를 본 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 저콘트라스트 시력을 측정할 수 있다.
또, 본 실시형태에 의하면, 시표판 (12) 에 형성된 시력값마다 1 세트씩의 시표 (12a) 의 범위에서 시표 (12a) 의 전환이 실시된다. 이 때문에, 예를 들어, 시표판 (12) 을 복수 갖는 검안 장치에 있어서는, 시표판 (12) 을 전환하지 않아도, 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있다. 또, 본 실시형태와 같이, 시표판 (12) 이 1 개 있으면 (시력값마다 1 세트씩의 시표 (12a) 가 있으면), 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있으므로, 본 실시형태와 같이, 시표 정시 광학계 (10) 의 구성을 단순화할 수 있다.
게다가, 본 실시형태에서는, 가시광원 (11) 으로부터의 광량을 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환하는 경우에 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 는, 통상 모드에서 최종적으로 정시된 시표 (12a) 에 비해, 시력값이 1 단계 낮은 시표 (12a) 로 전환된다. 여기서, 일반적으로, 배경과의 콘트라스트비가 작은 시표를 사용하여 실시되는 저콘트라스트 시력의 측정에서는, 배경과의 콘트라스트비가 큰 시표를 사용하는 고콘트라스트 시력을 측정한 경우와 비교하여, 검사 결과 (최고 시력값) 가 낮은 시력값이 되는 경향이 있는 것이 알려져 있다. 이 때문에, 가시광원 (11) 으로부터의 광량을 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환하는 경우, 1 단계만큼 시력값이 낮은 시표 (12a) 로 전환함으로써, 검사자가 시표 (12a) 의 전환을 실시하는 빈도가 적어진다. 따라서, 고콘트라스트 시력의 측정으로부터 계속해서 실시된 저콘트라스트 시력의 측정에 있어서의 측정 효율을 높일 수 있다.
<글레어 모드>
저콘트라스트 모드에 있어서 스위치 (90c) 의 조작 신호가 제어부 (100) 에 입력되면, 제어부 (100) 는 글레어 모드의 제어를 실행한다. 글레어 모드에서는, 먼저, 제어부 (100) 는 글레어 광학계 (40) 의 2 개의 가시광원 (41) 을 점등시킨다 (S5). 이로써, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 의 외주 부근에서, 스폿적으로 가시광원 (41) 으로부터의 글레어광이 발광한다 (도 2 참조). 또한, 글레어광의 발광에 대해서는 이것에 한정되지 않고, 시표 (12a) 의 주위를 둘러싸도록 하여 글레어광을 발광시켜도 된다.
또, 제어부 (100) 는, 글레어 광학계 (40) 의 가시광원 (41) 을 점등시키는 경우, 시표 정시 광학계 (10) 의 모터 (18) 를 구동시켜 광축 (L1) 상에 배치되는 시표 (12a) 를 전환한다 (S8). 이 때, 광축 (L1) 상에는 저콘트라스트 모드에서 최종적으로 광축 (L1) 상에 배치된 시표 (12a) 보다 시력값이 1 단계 낮은 시표로 전환한다 (S6).
이상의 동작에 의해 최초의 시표 (12a) 가 피검안 (E) 에 정시되면, 검사자는, 글레어 상태에 있어서의 피검사자의 시력 측정을 실시한다 (S7). 예를 들어, 본 실시예에 있어서는, 통상 모드에서의 시력 측정과 동일하게 하여, 글레어광의 발광하에서 시력값의 정시 시표의 전환을 실시하여, 피검사자가 판독 가능한 한계의 최고 시력을 검사한다.
이와 같이, 본 실시형태에서는, 글레어 광학계 (40) 의 가시광원 (41) 을 점등시키는 경우, 제어부 (100) 가 시표 정시 광학계 (10) 로부터 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 를 전환한다. 이 때문에, 저콘트라스트 시력의 측정과 글레어 점등 상태에 있어서의 시력 측정을 계속해서 실시해도, 저콘트라스트 시력의 측정에 있어서 최종적으로 정시된 시표 (12a) 를 본 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 글레어 점등 상태에 있어서의 시력을 측정할 수 있다.
또, 본 실시형태에 의하면, 시표판 (12) 에 형성된 시력값마다 1 세트씩의 시표 (12a) 의 범위에서 시표 (12a) 의 전환이 실시된다. 이 때문에, 예를 들어, 시표판 (12) 을 복수 갖는 검안 장치에 있어서는, 시표판 (12) 을 전환하지 않아도, 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있다. 또, 본 실시형태와 같이, 시표판 (12) 이 1 개 있으면 (시력값마다 1 세트씩의 시표 (12a) 가 있으면), 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있으므로, 시표 정시 광학계 (10) 의 구성을 단순화할 수 있다.
게다가, 본 실시형태에서는, 글레어 광학계 (40) 의 가시광원 (41) 을 점등시키는 경우에 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 는, 점등 전의 시표 (12a) 에 비해 시력값이 1 단계 낮은 시표 (12a) 로 전환된다. 여기서, 일반적으로, 글레어광이 점등되어 있는 경우에 시력 측정을 실시하면, 글레어광이 소등되어 있는 경우의 시력 측정으로 얻어지는 시력값과 비교하여 낮아지는 경향이 있는 것이 알려져 있다. 따라서, 가시광원 (11) 을 점등시키는 경우, 1 단계만큼 시력값이 낮은 시표로 전환함으로써, 검사자가 시표 (12a) 의 전환을 실시하는 빈도가 적어진다. 따라서, 저콘트라스트 시력의 측정으로부터 계속해서 실시된 글레어 점등 상태에 있어서의 시력 측정의 측정 효율을 높일 수 있다.
또한, 본 실시형태에 있어서는 2 개의 글레어 광원을 사용하였지만, 이것에 한정되지 않고, 1 개의 광원이어도 된다. 또, 글레어광이 시표 (12a) 를 둘러싸도록 3 개 이상의 글레어 광원을 사용하는 구성도 가능하다. 즉, 글레어광의 영향을 판단할 수 있는 구성이면 상관없다.
또한, 본 실시형태에 있어서는, 글레어 테스트용 광원 (41) 을 시표 정시 광학계 (10) 의 광로와는 다른 광로에 형성하였지만, 이것에 한정되지 않고, 공통의 광로에 형성해도 된다. 예를 들어, 시표판 (12) 의 외측이나 링 지표 투영 광학계 (55) 또는 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 의 외측에 형성하는 구성이어도 된다. 또, 시표판 (12) 의 전방에 형성하는 구성이어도 되고, 피검사자가 글레어광을 볼 수 있는 구성이면 된다.
이상, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 점등 모드로 이행시키는 경우에 대해 설명하였지만, 통상 모드로부터 글레어 점등 모드로 이행시킬 수도 있다. 이러한 경우에 제어부 (100) 는, 통상 모드의 시력 측정으로 최종적으로 정시된 시표 (12a) 와 비교하여 시력값이 1 단계 낮은 시표 (12a) 를 광축 (L1) 상에 배치시킨다. 따라서, 이러한 경우에도, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 점등 모드로 이행시키는 경우와 동일한 효과를 나타낼 수 있다.
또, 통상 모드, 저콘트라스트 모드, 및 글레어 모드 중 어느 모드로부터 다른 모드로 이행시키는 경우, 시표 정시 광학계 (10) 의 광축 (L1) 에 배치되어 있는 시표의 시력값을 이행 전의 모드에서 실시된 검사 결과로서 메모리 (101) 에 기억하도록 해도 된다. 게다가, 메모리 (101) 에 기억된 시력값을 각 모드에서 재검사를 실시하는 경우에 참조하여, 각 모드의 재검사가 실시되는 경우에는, 광축 (L1) 상에 전회의 검사 결과를 나타내는 시표 (12a) 를 배치하도록 해도 된다. 이와 같이 한 경우, 재검사를 전회의 검사의 계속으로부터 시작할 수 있으므로, 검사 효율을 높일 수 있다.
또한, 상기 설명에서는, 통상 모드, 저콘트라스트 모드, 글레어 모드의 3 종류의 시력 검사가 연속해서 실시되는 경우에 대해 설명하였지만, 예를 들어, 통상 모드와 저콘트라스트 모드만을 실시하는 등, 임의의 2 개의 모드를 임의의 순서로 실시할 수도 있다. 또, 임의의 1 개의 모드에서 시력 측정을 실시할 수도 있다.
<타각 측정 모드>
검안 장치 (1) 가 기동된 경우 (예를 들어, 검안 장치 (1) 의 전원이 투입된 경우), 또는 어느 시력 측정 모드에 있어서 스위치 (90a) 가 조작된 경우, 제어부 (100) 는 타각 측정 모드의 제어를 실시한다. 타각 측정 모드에서는, 먼저, 제어부 (100) 는 모터 (18) 의 구동을 제어함으로써, 피검안 (E) 에 운무를 실시하기 위한 타각 측정용의 시표 (12a) (고시표) 를 광로에 세트한다.
먼저, 검사자는, 피검사자의 얼굴을 도시 생략한 얼굴 지지 유닛에 고정시켜 고시표를 고시하도록 지시한 후, 피검안에 대한 얼라이먼트를 실시한다. 제어부 (100) 는, 측정 개시 신호의 입력에 기초하여 광원 (71) 을 점등시킨다. 광원 (71) 으로부터 출사된 측정광은, 릴레이 렌즈 (72) 에서 대물 렌즈 (18) 까지를 개재하여 안저 (Ef) 에 투영되고, 안저 (Ef) 상에서 회전하는 스폿상의 점광원 이미지를 형성한다.
안저 (Ef) 상에 형성된 점광원 이미지의 광은, 반사·산란되어 피검안 (E) 를 사출하고, 대물 렌즈 (18) 에 의해 집광된다. 대물 렌즈 (18) 에 집광된 광은, 다이크로익 미러 (17) 에서 전반사 미러 (77) 까지를 개재하여 수광 조리개 (78) 의 개구 상에서 다시 집광되고, 콜리메이터 렌즈 (79) 에서 대략 평행 광속 (정시안의 경우) 이 된다. 이 대략 평행 광속은, 링 렌즈 (80) 에 의해 링상 광속으로서 취출되고, 링 이미지로서 촬상 소자 (82) 에 수광된다.
이 때, 제어부 (100) 에서는, 먼저 안굴절력의 예비 측정이 실시된다. 다음으로, 예비 측정의 결과에 기초하여 광원 (71) 및 릴레이 렌즈 (72) 이 광축 (L1) 방향으로 이동됨으로써, 피검안 (E) 에 대해 운무가 가해진다. 그 후, 운무가 가해진 피검안 (E) 에 대해 안굴절력의 측정이 실시된다.
촬상 소자 (82) 로부터의 출력 신호는, 제어부 (100) 에 의해 메모리 (101) 에 화상 데이터 (측정 화상) 로서 기억된다. 그 후, 제어부 (100) 는, 메모리 (101) 에 기억된 측정 화상에 기초하여 각 경선 방향으로 링 이미지의 위치를 특정 (검출) 한다. 이 경우, 제어부 (100) 는, 에지 검출에 의해 링 이미지의 위치를 특정한다. 또한, 링 이미지의 위치의 특정은, 휘도 신호의 파형을 소정의 임계값으로 절단하고, 그 절단 위치에서의 파형의 중간점이나, 휘도 신호의 파형의 피크, 휘도 신호의 중심 위치 등에 의해 특정해도 된다. 다음으로, 제어부 (100) 는, 특정된 링 이미지의 이미지 위치에 기초하여, 최소 이승법 등을 사용하여 링 이미지를 타원에 근사시킨다. 그리고, 제어부 (100) 는, 근사된 타원의 형상으로부터 각 경선 방향의 굴절 오차를 구하고, 굴절 오차에 기초하여 피검안의 안굴절값, S (구면도수), C (주면도수), A (난시축 각도) 의 각 값을 연산하고, 측정 결과를 메모리 (101) 에 기억함과 함께 모니터 (7) 에 표시한다.
전술한 바와 같이, 시력 측정 모드의 통상 모드에서는, 타각 측정 모드에 의한 측정 결과가 미리 메모리 (101) 에 격납되어 있는 경우에는, 그 측정 결과에 기초하여 추정되는 시력값에 가까운 시력값의 시표 (12a) 가 피검안 (E) 에 먼저 정시된다. 따라서, 이러한 경우에는, 피검안 (E) 의 시력값에 가까운 시표 (12a) 를 정시한 단계로부터 시력 측정을 시작할 수 있으므로, 검사자가 시표 (12a) 를 전환하는 빈도가 적어진다. 따라서, 본 실시형태의 검안 장치 (1) 에 있어서는, 타각 측정 모드에 있어서 안굴절력을 측정한 후, 통상 모드로 이행시켜 시력 측정을 실시하는 것이 바람직하다.
본 발명은, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 다양한 변형이 가능한 것은 물론이다. 상기 실시형태에서는, 검안 장치 (1) 는, 시력 측정의 모드가 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우 (시표 정시 광학계 (10) 의 가시광원 (11) 으로부터 출사되는 광량을 제 1 광량으로부터 제 2 광량으로 전환하는 경우) 와, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우 (글레어 테스트 광학계 (40) 의 가시광원 (11) 을 점등시키는 경우) 의 각각의 경우에서, 피검안 (E) 에 정시하는 지표를 1 단계 시력값이 낮은 시표 (12a) 로 전환하는 경우에 대해 설명하였지만, 2 단계 이상 시력값이 낮은 시표 (12a) 로 전환하도록 해도 된다.
또, 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우와, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우에는, 시표 (12a) 의 시력값을 내리는 단계를 일치시키지 않아도 된다. 예를 들어, 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우에는, 정시 시표 (12a) 를 1 단계 시력값이 낮은 시표 (12a) 로 전환하고, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우에는, 정시 시표 (12a) 를 2 단계 시력값이 낮은 시표 (12a) 로 전환하도록 해도 된다.
또, 시력 측정의 모드가 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우와, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우의 각각의 경우에 있어서, 피검안 (E) 에 정시하는 시표 (12a) 를 시력값이 높은 시표 (12a) 로 전환하도록 해도 된다. 이러한 경우에도, 시력 측정의 모드가 전환되는 경우, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 가 시력이 높은 것으로 전환됨으로써, 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있다.
또, 상기 실시형태에서는, 시력 측정을 위해 피검안 (E) 에 대해 동시에 정시되는 시표 (12a) 를 시력값마다 1 세트씩 형성하는 경우에 대해 설명하였지만, 반드시 이것에 한정되는 것은 아니고, 2 세트 이상의 시표 (12a) 를 시력값마다 형성하도록 해도 된다. 예를 들어, 동일한 시력값에 대응하는 2 이상의 시표 (12a) 의 세트를 시표판 (12) 에 갖게 한다. 이러한 경우에는, 시력 측정의 모드가 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우와, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우의 각각의 경우에 있어서, 피검안 (E) 에 정시하는 시표 (12a) 를 시력값이 낮은 것과 높은 것과 동일한 것 중 어느 것으로도 전환할 수 있다. 어느 것으로 전환한 경우에도, 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있다. 또, 시력값마다 서로의 시표가 상이한 2 이상의 시표판을 형성하여, 시력 측정의 모드가 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 이행되는 경우, 저콘트라스트 모드로부터 글레어 모드로 이행되는 경우의 각 경우에 광로 (L1) 상에 시표를 배치시키는 시표판을 전환하도록 해도 된다.
또, 상기 실시형태에 있어서는, 시표 정시 광학계 (10) 에는, 시표판 (12) 에 조사되는 조명광의 광량을 전환하기 위해, 스위치 (90c) 의 조작에 기초하여 출사하는 광량을 전환 가능한 가시광원 (11) 을 형성하는 경우에 대해 설명하였지만, 반드시 상기 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 출사되는 광량이 상이한 2 이상의 조명을 형성하고, 스위치 (90c) 의 조작에 기초하여 점등하는 조명을 전환하도록 해도 된다. 또, 시표판 (12) 에 조사되는 광량을 전환하기 위해, 광원과 시표판 (12) 사이에 스위치 (90c) 의 조작에 기초하여 광원으로부터의 조사광의 일부를 차단하도록 배치되는 필터를 형성해도 된다.
또, 상기 실시형태에 있어서는, 검안 장치 (1) 는, 타각적인 안굴절력 측정을 실시하는 구성을 겸비하는 것으로 하여 설명하였지만, 본 발명을 실시하는 데에 있어서, 타각적인 안굴절력 측정을 실시하기 위한 구성 (예를 들어, 링 지표 투영 광학계 (55) 와, 작동 거리 지표 투영 광학계 (56) 와, 관찰 광학계 (60) 와, 측정 광학계 (70)) 은 반드시 형성하지 않아도 된다. 또, 본 발명을 타각적인 안굴절력 측정을 실시하기 위한 검안 장치 이외의 검안 장치에 적용할 수도 있다. 예를 들어, 자동 시력계에 적용할 수 있다.
또, 상기 실시형태에 있어서는, 검안 장치 (1) 는, 글레어 광학계 (40) 를 사용하여 글레어 점등시에 있어서의 시력 측정을 실시할 수 있는 것으로 하여 설명하였지만, 본 발명을 실시하는 데에 있어서, 글레어 광학계 (40) 는 반드시 형성하지 않아도 된다. 이와 같은 구성이어도, 시력 측정의 모드가 통상 모드로부터 저콘트라스트 모드로 전환되는 경우, 피검안 (E) 에 정시되는 시표 (12a) 가 시력값이 1 단계 낮은 것으로 전환된다. 그 결과, 피검사자의 기억의 영향, 및 잔상 효과의 영향을 피하면서 2 종류의 시력 측정을 계속해서 실시할 수 있다. 또, 저콘트라스트 시력을 측정하기 위해 검사자가 시표 (12a) 를 전환하는 빈도를 줄일 수 있다.
또, 상기 실시형태에 있어서, 제어부 (100) 가 시력 측정의 모드를 글레어 모드로 이행시키고 있는 경우에는, 가시광원 (11) 으로부터 제 2 광량의 조명광을 조사시킨 상태로 하여 시력 측정을 실시하게 하는 경우에 대해 설명하였지만, 반드시 이것에 한정되는 것은 아니고, 제어부 (100) 가 시력 측정의 모드를 글레어 모드로 이행시키고 있는 경우에는, 가시광원 (11) 으로부터 제 1 광량의 조명광을 조사시킨 상태로 하여 시력 측정을 실시하게 해도 된다.
10 : 시표 정시 광학계
11 : 가시광원
12a : 시표
18 :모터
40 : 글레어 테스트 광학계
100 : 제어부

Claims (10)

  1. 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖고, 복수의 시표 중 일부를 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과,
    제 1 측정 모드와, 상기 제 1 측정 조건에 대해 피검안의 시력값이 낮아지기 쉬운 제 2 측정 모드로 시력 검사의 측정 모드를 전환함과 함께, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로 전환될 때에 상기 시표를 전환하는 제어 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 시표에 조명광을 조사하는 조명 수단을 구비하고,
    상기 제어 수단은, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로의 전환을 실시하는 경우에는, 상기 조명 수단의 출력을 변경하거나, 또는 상기 조명 수단으로부터 상기 시표를 향하는 광을 제한하는 필터를 구동시킴으로써, 상기 시표에 조사되는 조명광의 광량을 제 1 광량으로부터 상기 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량으로 전환하는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    피검안에 대해 글레어광을 출사하는 글레어 광원을 구비하고,
    상기 제어 수단은, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로의 전환을 실시하는 경우에는, 상기 글레어 광원을 소등 상태로부터 점등 상태로 전환함과 함께, 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 전환하는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 수단은, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로의 전환을 실시하는 경우, 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 제 1 모드에서 정시된 시표와는 측정되는 시력값이 상이한 것으로 전환하는 것인 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제어 수단은, 상기 제 1 측정 모드로부터 상기 제 2 측정 모드로의 전환을 실시하는 경우, 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 제 1 모드에서 정시된 시표와는 측정되는 시력값이 낮은 것으로 전환하는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    피검안의 안저를 향하여 측정광을 투광하는 투광 광학계와,
    상기 측정광이 피검안의 안저에서 반사된 반사광을 수광 소자에 의해 수광하는 수광 광학계를 갖고 있고,
    상기 제어 수단은, 상기 수광 소자의 수광 결과에 기초하여 피검안의 안굴절력의 타각값을 취득하는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 시표 정시 수단은, 상기 투광 광학계, 및 상기 수광 광학계로부터 독립된 광축 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 수단은, 상기 제 1 측정 모드에서 상기 시표 정시 수단으로부터 먼저 정시되는 시표를, 상기 안굴절력의 타각값에 상응하는 시력값을 갖는 것으로 하는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  9. 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖는 시표판과,
    상기 시표판이 갖는 복수의 시표 중 일부를 선택적으로 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과,
    상기 시표판에 조명광을 조사하는 조명 수단과,
    상기 조명 수단의 출력을 변경하거나, 또는 상기 조명 수단으로부터 상기 시표판을 향하는 광을 제한하는 필터를 구동시킴으로써, 상기 시표판에 조사되는 조명광의 광량을 제 1 광량으로부터 상기 제 1 광량보다 감광된 제 2 광량으로 전환함과 함께, 상기 제 1 광량으로부터 상기 제 2 광량으로 전환될 때에 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 시표판이 갖는 시표 중에서 전환하는 제어 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
  10. 측정하는 시력에 상응하는 복수의 시표를 갖는 시표판과,
    상기 시표판이 갖는 복수의 시표 중 일부를 선택적으로 피검안에 정시하는 시표 정시 수단과,
    피검안에 대해 글레어광을 출사하는 글레어 광원과,
    상기 글레어 광원을 소등 상태로부터 점등 상태로 전환함과 함께, 상기 소등 상태로부터 상기 점등 상태로 전환될 때에 상기 시표 정시 수단에 의해 피검안에 정시되는 시표를 상기 시표판이 갖는 시표 중에서 전환하는 제어 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 검안 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018064052A3 (en) * 2016-09-27 2018-05-24 David Evans Method and apparatus for vision acuity testing

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6391979B2 (ja) * 2014-05-01 2018-09-19 株式会社トプコン 視機能検査装置
JP6466112B2 (ja) * 2014-09-10 2019-02-06 国立大学法人千葉大学 眼中散乱光分布測定方法及び眼中散乱光分布測定装置
CN108307619B (zh) * 2015-06-23 2021-04-23 依视路国际公司 验光测量表
JP6798287B2 (ja) * 2016-12-01 2020-12-09 株式会社ニデック 自覚式検眼装置
CN110338748B (zh) * 2019-06-13 2022-03-08 宁波明星科技发展有限公司 快速定位视力值的方法、存储介质、终端及视力检测仪
WO2023042869A1 (ja) * 2021-09-14 2023-03-23 株式会社ナックイメージテクノロジー コントラスト感度検査装置、光学素子評価装置、コントラスト感度検査方法、光学素子評価方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001017391A (ja) * 1999-07-09 2001-01-23 Nidek Co Ltd 視力検査装置
JP2005296541A (ja) 2004-04-16 2005-10-27 Topcon Corp 検眼装置
US20120162606A1 (en) * 2010-12-27 2012-06-28 Nidek Co., Ltd. Eye measurement apparatus

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4155632A (en) * 1976-02-26 1979-05-22 Acadia Associates Method and apparatus for testing vision
JP2612263B2 (ja) * 1986-12-25 1997-05-21 株式会社トプコン 検眼装置
JP3308373B2 (ja) * 1994-01-11 2002-07-29 株式会社トーメー 視力計
JP3547217B2 (ja) * 1995-05-31 2004-07-28 株式会社ニデック 検眼装置
US5844661A (en) * 1997-08-15 1998-12-01 Kabushiki Kaisha, Topcon Ophthalmic apparatus
US5844660A (en) * 1997-08-15 1998-12-01 Kabushiki Kaisha, Topcon Objectives refraction measuring apparatus
JP3580996B2 (ja) * 1997-10-31 2004-10-27 株式会社ニデック 検眼装置
JP3679258B2 (ja) * 1999-01-12 2005-08-03 株式会社ニデック 動体視力検査装置
JP2000350698A (ja) * 1999-06-10 2000-12-19 Kowa Co 視力計
JP3850254B2 (ja) * 2000-10-20 2006-11-29 株式会社ニデック 省スペース型視機能検査装置
JP3842975B2 (ja) * 2001-01-09 2006-11-08 株式会社ニデック 検眼装置
JP4406258B2 (ja) * 2002-10-30 2010-01-27 株式会社ニデック 視力検査装置
JP2010259492A (ja) * 2009-04-30 2010-11-18 Topcon Corp 眼底観察装置
JP5766961B2 (ja) * 2011-01-24 2015-08-19 株式会社ニデック 自動視力計

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001017391A (ja) * 1999-07-09 2001-01-23 Nidek Co Ltd 視力検査装置
JP2005296541A (ja) 2004-04-16 2005-10-27 Topcon Corp 検眼装置
US20120162606A1 (en) * 2010-12-27 2012-06-28 Nidek Co., Ltd. Eye measurement apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018064052A3 (en) * 2016-09-27 2018-05-24 David Evans Method and apparatus for vision acuity testing

Also Published As

Publication number Publication date
JP6471403B2 (ja) 2019-02-20
JP2014147427A (ja) 2014-08-21
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US9462940B2 (en) 2016-10-11

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