KR20130108610A - 충방전 검사시스템, 충방전 검사장치를 위한 교정시스템 및 교정장치 - Google Patents

충방전 검사시스템, 충방전 검사장치를 위한 교정시스템 및 교정장치 Download PDF

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Abstract

충방전 검사장치를 위한 교정시스템(100)은, 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치(102)로서, 2차 전지 대신에 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자(106)를 구비하는 교정장치(102)와, 교정장치(102)를 전지 검사유닛(12)으로, 적어도 1개의 접속단자(106)를 복수의 프로브(44) 중 적어도 1개에 접속 가능하게 하는 반송위치에 위치결정하기 위한 반송장치(104)를 구비한다.

Description

충방전 검사시스템, 충방전 검사장치를 위한 교정시스템 및 교정장치{Charge/discharge inspection system, correction system and correction device for charge/discharge inspection device}
본 발명은, 2차 전지를 검사하기 위한 충방전 검사시스템, 및 이러한 시스템에 적합한 교정시스템 및 교정장치에 관한 것이다.
특허문헌 1에는 리튬이온 2차 전지전극의 전극합제의 두께를 검사하는 검사장치가 기재되어 있다. 이 장치는, 리튬이온 2차 전지전극을 계측하는 제1 초음파센서와 기준재를 계측하는 제2 초음파센서를 구비하고, 제2 초음파센서를 이용하여 제1 초음파센서가 교정된다.
(특허문헌)
특허문헌 1: 일본공개특허공보 2010-205678호
2차 전지의 불량 또는 특성을 자동으로 검사하기 위한 충방전 검사장치가 제안되고 있다. 검사는 전지생산의 한 공정 또는 최종공정으로서 행해진다. 일반적으로, 검사정밀도를 유지하기 위하여 소정의 빈도로 검사장치는 교정된다. 교정을 하기 위하여 검사는 일단 종료되고, 2차 전지 대신에 교정을 위한 교정장치가 검사장치에 접속된다. 교정장치의 반입작업이나 검사장치와의 배선접속작업은 수동으로 행해지고 있으며, 이러한 교정처리의 준비작업에 시간을 필요로 하는 것이 실정이다.
본 발명은 이러한 상황에 있어서 이루어진 것이며, 그 일 양태의 예시적인 목적의 하나는, 교정처리의 준비작업의 자동화를 통하여 전지검사의 생산성 향상에 기여하는 것에 있다.
본 발명의 일 양태는 충방전 검사시스템에 관한 것이다. 이 시스템은, 검사를 위하여 복수의 2차 전지를 충방전하기 위한 충방전 검사장치로서, 전원과, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 전원으로부터 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비하는 충방전 검사장치와; 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서, 2차 전지 대신에 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자를 구비하는 교정장치와; 교정장치를 전지 검사유닛으로, 적어도 1개의 접속단자를 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속 가능하게 하는 반송위치에 위치결정하기 위한 반송장치를 구비한다.
이 양태에 의하면, 반송장치에 의하여 교정장치를 반송위치에 위치결정할 수 있다. 반송위치는 교정장치의 접속단자를 전지 검사유닛의 접촉자에 접속 가능하게 하는 전지 검사유닛 내의 위치이다. 이렇게 하여, 교정장치의 반송자동화를 통하여 작업자의 부담경감이나 교정시간의 단축을 도모할 수 있다. 또, 일정한 위치에 위치결정됨으로써, 교정장치의 충방전 검사장치로의 접속작업성도 높아지는 것이 기대된다. 교정처리에 필요한 검사장치의 다운타임이 저감되어, 검사스루풋을 향상시킬 수 있다.
적어도 1개의 접속단자는, 복수의 접촉자의 배열에 적합한 배열로 형성된 복수의 접속단자여도 된다. 이렇게 하여 전지 검사유닛의 접촉자와 교정장치의 접속단자로 서로 위치관계를 맞춤으로써, 양자를 배선으로 접속하는 것 대신에, 접촉에 의하여 직접 접속을 취하는 것이 용이해진다. 접속작업의 자동화를 통하여 교정시간의 단축을 도모하는 것이 가능해진다.
전지 검사유닛은, 복수의 2차 전지와 복수의 접촉자가 상대적으로 진퇴 가능해지고, 접촉자에 대한 2차 전지의 상대전진에 의하여 각 접촉자가 대응하는 2차 전지에 접속되도록 구성되어 있으며, 적어도 1개의 접속단자는 반송위치에 있어서, 반송장치의 반송방향에 관하여 2차 전지가 위치결정되어야 할 위치에 위치결정되고, 복수의 접촉자 중 적어도 1개와 적어도 1개의 접속단자는, 전지 검사유닛에서의 2차 전지의 상대전진방향의 이동에 의하여 접속되어도 된다. 전지 대신에 접속단자가 위치결정됨으로써, 전지와 접촉자와의 상대 이동과 동일한 동작으로 접속단자와 접촉자를 접속하는 것이 가능해진다. 예를 들면, 자동검사처리에 있어서의 전지와 접촉자와의 접속동작을, 교정처리에 있어서의 접속단자와 접촉자와의 접속에 이용할 수 있다. 접속작업의 자동화를 통하여 교정시간의 단축과 작업자의 부담경감을 도모할 수 있다.
반송장치는, 전지 검사유닛의 외측에 배치되는 지지부와, 이 지지부로부터 진퇴 가능하게 구성되어 있으며 교정장치를 지지부로부터 반송위치로 직선적으로 이동시켜 위치결정하기 위한 암부를 구비하여도 된다. 교정장치는, 암부에 의하여 위치결정될 때에 충방전 검사장치와의 간섭을 피하도록 외형이 형성되어 있어도 된다. 이와 같이 하면, 암부의 직선적인 신축동작에 의하여 교정장치를 충방전 검사장치로 원활하게 반송할 수 있다.
교정장치는, 접속단자를 포함하여 전지 검사유닛에 수용 가능한 치수로 형성되어 있는 제1 부분과, 그 제1 부분과 전기적으로 연결된 제2 부분을 구비하여도 된다. 반송장치는, 제1 부분을 반송위치에 위치결정하고, 제2 부분을 전지 검사유닛의 외측에 지지해도 된다. 교정장치의 접속단자부분을 다른 부분으로부터 분리함으로써 당해 부분의 소형화가 용이해진다.
본 발명의 다른 양태는, 교정시스템이다. 이 교정시스템은, 2차 전지의 충방전 검사장치를 위한 교정시스템으로서, 충방전 검사장치는, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비하고 있고; 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서, 2차 전지 대신에 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자를 구비하는 교정장치와; 전지 검사유닛에 있어서 교정장치를, 복수의 접촉자 중 적어도 1개를 적어도 1개의 접속단자에 접속 가능하게 하는 반송위치에 위치결정하기 위한 반송장치를 구비한다.
본 발명의 또 다른 양태는, 교정장치이다. 이 장치는, 2차 전지의 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서, 충방전 검사장치는, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비한다. 교정장치는, 2차 전지 대신에 복수의 접촉자에 접속하기 위한 복수의 접속단자를 가지는 접속부를 구비하고, 그 복수의 접속단자는 복수의 접촉자의 배열에 적합한 배열로 형성되어 있으며, 적어도 접속부는 전지 검사유닛에 수용 가능한 치수로 형성되어 있다.
본 발명의 일 양태의 충방전 검사시스템에 의하면, 교정처리의 준비작업의 자동화를 통하여 검사장치의 생산성 향상에 기여할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 관한 충방전 검사장치를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시형태에 관한 전지 검사유닛의 요부를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시형태에 관한 전지 검사유닛의 요부를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시형태에 관한 전지 검사유닛의 요부를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시형태에 관한 전지 검사유닛의 요부를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템을 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템을 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정장치를 나타내는 블록도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템을 모식적으로 나타내는 도면이다.
본 발명의 일 실시형태에 관한 충방전 검사시스템은, 검사를 위하여 복수의 2차 전지를 충방전하기 위한 충방전 검사장치와, 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치와, 교정장치를 충방전 검사장치로 반송하기 위한 반송장치를 구비한다. 충방전 검사장치는, 1개 또는 복수의 전지 검사유닛과, 전지 검사유닛으로의 급전을 위한 전원부를 포함하여 구성된다. 개개의 전지 검사유닛은, 배열된 복수의 2차 전지를 수용하여 일괄하여 검사하도록 구성되어 있다. 일 실시예에 있어서는, 전지 검사유닛은, 각각이 대응하는 개개의 2차 전지의 계측 또는 급전을 하기 위한 복수의 프로브와, 이들 프로브와 2차 전지와의 접속을 확립하거나 차단하도록 양자를 상대적으로 진퇴시키는 이동기구를 구비한다.
일 실시형태에 관한 반송장치는, 교정장치를 그 수납장소로부터 임의의 전지 검사유닛으로 반송하고, 또한 그 전지 검사유닛 내의 적소로 교정장치를 반송하도록 구성되어 있다. 이로써, 교정장치의 반송자동화가 실현된다. 교정장치의 반송위치는, 충방전 검사장치로의 접속작업, 예를 들면 교정장치의 접속단자와 전지 검사유닛의 프로브와의 접속작업의 용이성을 높이는 관점으로부터 결정된다. 반송위치는, 검사처리에 있어서 2차 전지의 전극이 위치결정되어야 할 위치에 교정장치의 접속단자가 위치결정되도록 결정되어도 된다. 교정장치는, 제1 반송단계로서, 반송장치에 의한 전지 검사유닛으로의 반입방향에 관하여 전극이 존재할 위치에 접속단자가 위치결정되어도 된다. 이어서 제2 반송단계로서 반입방향과는 상이한 방향으로 접속단자를 프로브에 접근시키도록 교정장치는 이동되어도 된다.
일 실시형태에 관한 교정장치는, 전지 검사유닛에서의 전지배열에 대응하는 배열로 형성된 접속단자군을 가진다. 교정장치의 접속단자가 전지배열에 대응하여 형성되어 있으므로, 교정장치의 충방전 검사장치로의 접속작업이 용이해진다. 바람직한 일 실시예에 있어서는, 교정장치의 복수의 접속단자는, 전지 검사유닛의 복수의 프로브의 수 및 배치간격에 일치하는 수 및 배치간격으로 형성되어 있다. 접속단자는 전지의 전극과 동일하게, 프로브에 접촉되어 프로브와의 전기적 접속이 확립되도록 구성되어 있어도 된다.
교정장치는 예를 들면 수평방향으로 전지 검사유닛으로 반입되어 2차 전지와 동일하게 위치결정되고, 이어서 예를 들면 연직방향으로 프로브에 대하여 상대적으로 전진한다. 교정장치의 접속단자가 프로브에 접근하여, 결국에는 접촉한다. 이렇게 하여, 교정장치의 복수의 접속단자를 전지 검사유닛의 복수의 프로브에 자동적으로 접속하는 것이 가능해진다.
도 1은, 본 발명의 일 실시형태에 관한 충방전 검사장치(10)를 모식적으로 나타내는 도면이다. 충방전 검사장치(10)는, 다수의 2차 전지를 일괄하여 검사하기 위하여 이들 다수의 2차 전지의 충전 및 방전을 행하도록 구성되어 있는 2차 전지 검사장치이다. 충방전 검사장치(10)는, 전원장치(11)와 전지 검사유닛(12)을 포함하여 구성되어 있다. 다만 이하에서는 전지 검사유닛(12)을 간략히 검사유닛(12)이라고도 칭한다.
일 실시예에 있어서는, 전원장치(11)와 검사유닛(12)은 각각 별개의 장치로서 구성되어 있으며, 접속케이블로 접속된다. 접속케이블에는 전력선과 제어선이 포함된다. 전원장치(11)와 검사유닛(12)은 예를 들면 인접 또는 근접하여 설치되어도 된다. 혹은 전원장치(11)는 검사유닛(12)으로부터 떨어져 설치되어도 된다. 다만 도 1에 있어서는 충방전 검사장치(10)의 전력계통 및 통신제어계통이 모식적으로 나타나 있으며, 각 요소를 접속하는 실선으로 전력선을 나타내고, 파선으로 통신제어선을 나타낸다. 본 실시예에서는 예를 들면 전력선으로부터의 통신선으로의 노이즈의 영향경감 등을 고려하여, 2개의 구성요소를 접속하기 위한 전력선과 통신제어선이 별도로 설치되어 있다.
전원장치(11)는, 전원회생컨버터(13), 정전압전원(14) 및 컨트롤러(15)를 포함하여 구성되어 있다. 전원회생컨버터(13), 정전압전원(14) 및 컨트롤러(15)는, 전원장치 인클로저(도시하지 않음)에 수용되어 있다. 전원장치 인클로저는, 예를 들면 랙이나 프레임구조를 가지고, 전원회생컨버터(13), 정전압전원(14) 및 컨트롤러(15)를 수용하는 직육면체형상의 내부공간을 획정한다.
전원회생컨버터(13)는, 외부전원(도시하지 않음)과 정전압전원(14)을 중계하고 있다. 외부전원은 예를 들면, 공업용으로 공급되는 교류전원 등의 상용전원이다. 전원회생컨버터(13)는, 검사유닛(12)에 있어서 검사되는 전지를 충전할 때에는 외부전원으로부터의 수전회로로서 기능하고, 전지의 방전을 할 때에는 외부전원으로 전력을 되돌리도록 기능한다. 전원회생컨버터(13)는, 복수의 정전압전원(14)에 공통의 전원회생컨버터로서 설치되어 있다.
정전압전원(14)은, 외부전원으로부터 전원회생컨버터(13)를 통하여 공급된 전력을 조정하여 출력한다. 정전압전원(14)은 복수(도시한 예에서는 5개) 설치되어 있으며, 각 정전압전원(14)이 전원회생컨버터(13)에 접속되어 있다. 정전압전원(14)은 각각 복수의 채널을 가지고, 각 채널에 개개의 승강압컨버터(28)가 접속된다. 정전압전원(14)은, 전지의 검사사양에 적합한 전압 및 전류보다 높은 전압 및 전류를 승강압컨버터(28)에 제공한다. 정전압전원(14)은 예를 들면 DC-DC컨버터이며, 바람직하게는 절연쌍방향 DC-DC컨버터이다.
컨트롤러(15)는, 충방전 검사장치(10)를 제어한다. 즉 컨트롤러(15)는, 검사유닛(12), 전원회생컨버터(13) 및 정전압전원(14)을 제어하도록 구성되어 있다. 컨트롤러(15)는, 상위의 제어장치 또는 관리서버 등에 의하여 관리되어도 된다. 예를 들면 이 관리서버에 의하여, 후술하는 교정장치, 반송장치가 관리되어도 된다.
컨트롤러(15)에는, 데이터처리유닛(16)이 접속되어 있다. 데이터처리유닛(16)은, 검사유닛(12)에서 얻어진 전지의 전압, 전류, 온도 등의 측정데이터를 컨트롤러(15)를 통하여 수집하고 기억한다. 데이터처리유닛(16)은, 수집된 데이터를 처리하고, 부수하는 디스플레이나 프린터 등의 출력수단에 의하여 출력한다. 데이터처리유닛(16)은 예를 들면 공지의 PC이다. 컨트롤러(15)와 데이터처리유닛(16)은, 예를 들면 LAN 등의 공지의 방법으로 접속된다.
검사유닛(12)에는, 복수의 승강압유닛(17)이 탑재되어 있다. 일 실시예에 있어서는, 승강압유닛(17)은, 검사유닛(12)의 케이싱(22)(도 2 참조)에 있어서 검사스테이지가 배치되는 검사스테이지구획과는 상이한 배치구획에 설치되는 것이 바람직하다.
검사유닛(12)에 탑재된 승강압유닛(17)은, 복수의 승강압컨버터(28)와, 이들 승강압컨버터(28)를 제어하기 위한 제어회로(29)를 구비한다. 승강압유닛(17)의 각각은, 전력케이블(24)에 의하여 정전압전원(14)에 접속되고, 통신케이블(25)에 의하여 컨트롤러(15)에 접속되어 있다. 승강압컨버터(28)는, 정전압전원(14)으로부터 전력케이블(24)을 통하여 부여된 입력을, 검사사양에 적합한 전압 및 전류로 조정한다. 승강압컨버터(28)의 출력은 검사대상이 되는 부하(35)에 부여된다. 부하(35)는 예를 들면 2차 전지(40)(도 2 참조)이다.
검사유닛(12)은 복수의 계측회로(34)를 구비한다. 계측회로(34)는 부하(35)의 상태를 계측한다. 계측회로(34)는 예를 들면 온도계측회로, 전압계측회로 및 전류계측회로 중 적어도 1개를 포함하고, 부하(35)의 온도, 전압, 전류 중 적어도 1개를 계측한다. 측정결과는 컨트롤러(15)로 송신되고, 다시 데이터처리유닛(16)으로 보내진다. 측정결과는, 검사유닛(12)에 설치된 리모트 I/O 등의 공지의 통신 유닛에 의하여 컨트롤러(15)로 중계되어도 된다.
검사유닛(12)에 있어서는, 합계하면, 검사스테이지(42)(도 2 참조)에서 일괄하여 검사 가능한 전지(40)의 수와 동일한 수의 승강압컨버터(28)가 설치되어 있다. 즉, 부하(35)마다 1개의 승강압컨버터(28)가 대응되어 있어, 부하(35)와 같은 수의 승강압컨버터(28)가 설치되어 있다. 또 마찬가지로, 부하(35)마다 계측회로(34)가 설치되어 있다.
도 2 내지 도 5는, 본 발명의 일 실시형태에 관한 충방전 검사장치(10)의 검사유닛(12)의 요부를 모식적으로 나타내는 도면이다. 도 2 및 도 3은 각각, 검사를 위하여 전지(40)가 반입(또는 검사 후에 반출)될 때의 정면도 및 측면도이다. 도 4 및 도 5는 각각, 검사 중의 모습을 나타내는 정면도 및 측면도이다. 도 3 및 도 5는 각각, 도 2 및 도 4에 나타내는 구성의 요부를 측방으로부터 보았을 때의 도면이다. 설명의 편의상, 도시한 바와 같이 XYZ직교좌표계를 결정한다. 즉, 전지(40)의 배열방향을 X방향, 연직방향을 Y방향, 양자에 직교하는 방향을 Z방향으로 한다.
도 2 내지 도 5에 나타나는 바와 같이, 검사유닛(12)은, 검사스테이지(42)와, 프로브유닛(46)을 포함하여 구성된다. 검사스테이지(42)는, 검사대상인 다수의 전지(40)를 예를 들면 매트릭스형상으로 나열하여 배치하도록 구성되어 있다. 프로브유닛(46)은, 전지(40)를 검사하기 위한 접촉자 예를 들면 프로브(44)를 구비한다. 프로브유닛(46)은, 검사스테이지(42)의 매트릭스배열에 대응하는 배열로 설치되어 있는 다수의 프로브(44)를 구비한다.
도시한 실시예에 있어서는, 검사스테이지(42)와 프로브유닛(46)은 대향하고, 양자 사이에 전지배열공간(48)이 형성된다. 검사스테이지(42)는, 프로브유닛(46)의 연직방향 하방에 배치되어 있다. 검사스테이지(42)의 하측에는, 전지(40)의 온도 조정을 하기 위한 크로스플로우팬(50)이 장착되어 있다.
검사유닛(12)의 케이싱(22)은, 검사스테이지(42) 및 프로브유닛(46)을 수용한다. 일 실시예에 있어서는, 케이싱(22)은 도시되는 바와 같이, 내부공간을 외부공간으로부터 폐쇄하고, 수용물을 외부로부터 보이지 않도록 유지하는 구조이다. 케이싱(22)은, 내부공간을 획정하기 위한 벽부 및 도어부(도시하지 않음)를 구비한다. 또, 케이싱(22)은, 수용물이 외부로 개방되어 외부로부터 시인 가능한 구조여도 된다. 케이싱(22)은 예를 들면, 랙, 틀체, 또는 프레임구조여도 된다.
전지(40)는, 도시한 예에서는 직육면체형상을 가지고, 측면을 서로 대향시켜 인접한 전지(40)와 간격을 두고 수평방향(X방향)으로 나열되어 있다. 전지(40)의 측면은 연직방향(Y방향)으로 평행한 평면이다. 본 실시예에서는 전지(40)는, 팔레트(52)에 지지된 상태로 검사유닛(12)으로 반입되어 검사되고 반출된다. 전지(40)는, 그 상면에 1개 또는 복수의(예를 들면 2개의) 전극(41)을 가진다. 다만 전지(40)의 형상 및 배열은 이것에 한정되지 않고, 임의의 형상을 가져도 되며, 임의의 배열로 나열되어도 된다. 또, 전극의 배치 및 수도 도시한 형태에 한정되지 않는다.
도 2에 있어서는 팔레트(52)의 반입출방향을 화살표로 나타내고 있다. 또, 팔레트(52) 및 이에 탑재된 전지(40)가 검사스테이지(42)로 반입되었을 때의 위치를 파선으로 나타내고 있다. 팔레트(52) 및 전지(40)는 예를 들면, 팔레트반송장치(60)에 의하여 검사장치(12)로 반입 또는 반출된다. 팔레트반송장치(60)는 예를 들면, X방향, Y방향, 및 Z방향 각각에 팔레트(52)를 직선적으로 반송 가능하게 구성되어 있다. 팔레트반송장치(60)는, YZ면 내에서 위치결정되는 지지부와, 이 지지부를 YZ면 내에서 이동하기 위한 이동기구와, 팔레트(52)를 탑재한 상태로 지지부로부터 X방향으로 신축 가능하게 구성되어 있는 암부를 구비하여도 된다.
전지(40)의 반송을 위하여, 검사유닛(12)의 측벽의 일부가 개폐 가능한 도어(54)로서 구성되어 있다. 도어(54)는, 전지(40)의 반입출 시에는 개방되고, 전지(40)의 검사를 할 때에는 폐쇄된다. 도어(54)를 닫음으로써, 전지배열공간(48)은 검사 중에 외부공간으로부터 구획된다.
팔레트반송장치(60)는 검사유닛(12)의 외측에서 도어(54)에 인접하는 위치로 먼저 팔레트(52)를 반송하고, 암부를 X방향으로 뻗음으로써 도어(54)를 통하여 팔레트(52)를 검사스테이지(42)로 반입한다. 팔레트반송장치(60)는 각 전지(40)가 대응하는 프로브(44)의 바로 아래에 위치하도록 팔레트(52)를 검사스테이지(42)에 재치한다.
검사스테이지(42)는, 검사대상이 되는 복수의 전지(40)를 재치하여 지지하기 위한 지지테이블이다. 도시한 실시예에서는 검사스테이지(42)는 전지(40)를 직접 지지하는 대신에, 전지(40)를 탑재한 팔레트(52)를 지지함으로써 전지(40)를 지지한다. 검사스테이지(42)는 예를 들면, 연직방향에 수직인 평면(예를 들면 바닥면에 평행한 평면)을 따라 복수(예를 들면 여러 개 내지 수십 개 이상)의 전지(40)를 예를 들면 매트릭스형상으로 또는 일렬로 배열한다.
검사유닛(12)은, 전지(40)에 프로브(44)를 접속 또는 분리시키도록 검사스테이지(42)와 프로브유닛(46)을 상대적으로 이동시키는 이동기구를 구비하여도 된다. 이동기구는 검사스테이지(42)와 프로브유닛(46)과의 예를 들면 연직방향의 상대이동을 제공한다. 이동기구는 이러한 기능을 가지는 공지의 이동기구여도 된다.
일 실시예에 있어서는, 프로브유닛(46)은 위치가 고정되어 있으며, 검사스테이지(42)가 연직방향의 이동기구에 의하여 상하로 이동된다(도 5 참조). 검사스테이지(42)의 이동에 의하여 팔레트(52)와 함께 전지(40)가 이동되어, 전지(40)의 전극(41)과 프로브(44)가 접속 또는 분리된다. 검사스테이지(42)와 함께, 또는 검사스테이지(42) 대신에, 프로브유닛(46)이 이동 가능하게 되어도 된다. 이와 같이 하여 검사유닛(12)은, 복수의 2차 전지(40)와 복수의 프로브(44)가 상대적으로 진퇴 가능하게 되어, 프로브(44)에 대한 2차 전지(40)의 상대전진에 의하여 각 프로브(44)가 대응하는 2차 전지(40)에 접속되도록 구성되어 있다.
프로브(44)는, 각 전지(40)의 전극(41)에 접촉하여 각 전지(40)에 전력을 부여한다. 복수의 프로브(44)는, 복수의 전지(40)의 배열에 대응하는 배열로 설치되어 있다. 프로브(44)의 수 및 배치간격과 전극(41)의 수 및 배치간격은 일치하고 있다. 도시한 예에서는 6개의 전지가 서로 측면을 대향시켜 일렬로 나열되어 있으며, 이것에 대응하여 6세트의 프로브(44)가 동일하게 일렬로 배열되어 있다. 일례에 있어서는 1개의 전지(40)에 2개의 전극(41)이 설치되어 있으며, 이것에 대응하여 2개의 프로브(44)가 설치되어 있다(도 3, 도 5 참조). 또, 전지(40)의 온도 등 그 외의 특성을 측정하기 위한 접촉자(도시하지 않음)도 설치되어 있어도 된다.
각 프로브(44)는 프로브유닛(46)에 의하여 지지되어 있다. 프로브유닛(46)은 예를 들면 프로브(44)를 지지하기 위한 지지플레이트를 포함하고, 이 지지플레이트는 검사스테이지(42)에 대향하여 설치되어 있다. 이 지지플레이트로부터 각 프로브(44)는 검사스테이지(42)를 향하여 돌출되어 있으며, 지지플레이트의 검사스테이지(42)와는 반대측에는, 상술한 계측회로(34)나 승강압유닛(17) 등을 포함하는 각종 전장품(56)을 수용하기 위한 공간이 확보되어 있다(도 3 참조). 계측회로(34)는 각 프로브(44)에 부수하여, 프로브(44)의 근방에 설치되어 있다. 다만 전장품(56)은 검사유닛(12)의 케이싱(22)의 상면에 노출되어 설치되어 있어도 된다. X방향에 관하여 도어(54)와 반대측으로부터, 검사유닛(12)을 전원장치(11)에 접속하는 전력케이블(24) 및 통신케이블(25)이 뻗어 있어도 된다.
이 전장품 수용공간은 프로브유닛(46)에 의하여 전지배열공간(48)으로부터 구획되어 있으며, 전지배열공간(48)으로부터 배기되는 에어플로우를 배기하기 위한 배기공간으로서 이용되어도 된다. 이 배기공간 또한 상술한 정류공간 및 전지배열공간(48)과 마찬가지로 외부공간으로부터 구획되어 있어도 된다.
도 3, 도 5에 나타나는 바와 같이, 본 실시예에서는 전지(40)는 1열로 배열되고, 6개의 전지(40)가 검사유닛(12)에 수용 가능하다. 검사유닛(12)에 더욱 다수의(또는 소수의) 전지를 수용하도록 구성하는 것도 가능하다. 예를 들면 배열방향(X방향)의 개수를 보다 많이 하여도 되고, 전지(40)의 열수를 2열 이상으로 하여도 된다. 또한, 검사스테이지(42)와 프로브유닛(46)을 포함하여 구성되는 전지 검사유닛(12)을 연직방향으로 복수 겹쳐 쌓아도 된다. 이와 같이 하여, 일괄하여 검사 가능한 전지의 수를 늘릴 수 있다.
크로스플로우팬(50)은 전지열마다 장착되어 있다. 크로스플로우팬(50)은, 전지(40)의 배열방향을 따라 배치되어 있다. 크로스플로우팬(50)은 송풍구가 전지(40)에 대향하여 배치되어 있으며, 도 5에 나타내는 바와 같이, 가로방향(Z방향)으로부터 공기를 흡입하여 전지(40)를 향하여 상방(Y방향)으로 송풍한다. 도시되는 바와 같이, 크로스플로우팬(50)의 배열방향의 길이는 전지(40)의 배열길이와 동일하거나 이보다 길게 되어 있다. 이렇게 하여 각 전지의 바로 아래에 팬을 설치할 수 있으므로, 각 전지 주위의 공기흐름속도분포를 공통으로 할 수 있다. 다만, 1개의 전지열에 대하여 복수의 크로스플로우팬(50)을 전지배열방향을 따라 설치하여도 되고, 복수의 전지열이 1개의 크로스플로우팬(50)을 공유하고 있어도 된다. 크로스플로우팬 대신에, 예를 들면 팬, 서큘레이터, 블로어 등의 송풍기가 전지(40)의 배열방향을 따라 배치되어 있어도 된다.
검사스테이지(42)의 내부에는, 크로스플로우팬(50)으로부터 송출되어 각 전지(40)를 향하는 에어플로우를 정류하기 위한 정류공간이 형성되어 있어도 된다. 이 공간을 외부로부터 구획하기 위하여, 검사스테이지(42)는, 전지(40) 또는 팔레트(52)를 지지하기 위한 전지지지플레이트와, 크로스플로우팬(50)을 장착하기 위한 장착플레이트와, 전지지지플레이트와 장착플레이트를 양자의 단부끼리로 접속하는 측면플레이트를 구비하여도 된다.
이상의 구성을 구비하는 충방전 검사장치(10)에 있어서는, 먼저 전지(40)가 팔레트(52)에 배열된 상태로 팔레트반송장치(60)에 의하여 검사유닛(12)으로 반입된다. 팔레트반송장치(60)는, 프로브유닛(46)의 각 프로브(44)의 바로 아래에 각 전지(40)의 전극(41)이 위치하도록 검사스테이지(42)에 팔레트(52)를 위치결정한다(도 2). 검사스테이지(42)의 이동기구에 의하여 팔레트(52) 및 각 전지(40)는 연직방향 상방으로 이동되고, 전극(41)의 프로브(44)로의 접촉에 의하여 전극(41)과 프로브(44)와의 전기적 접속이 확립된다(도 4). 이렇게 하여 검사의 준비단계는 완료된다.
컨트롤러(15)의 제어 하에서 전지(40)의 검사가 실행된다. 검사항목마다 전압프로파일 또는 전류프로파일이 미리 정해져 있다. 이러한 프로파일에 따라 컨트롤러(15)는 각 전지(40)의 충방전을 제어한다. 이와 함께, 필요한 계측항목에 대한 계측치가 취득된다. 계측치에 근거하여 검사가 실행되고, 각 전지(40)의 예를 들면 불량 여부가 판정된다. 검사가 완료되면, 반입과는 반대의 흐름으로 검사유닛(12)으로부터 팔레트(52) 및 전지(40)가 반출된다. 이어서, 다음으로 검사되는 전지(40)가 팔레트(52)에 탑재되어 검사유닛(12)으로 반입되고, 마찬가지로 하여 검사가 실행된다. 혹은 다음 전지를 검사하는 대신에, 후술하는 교정시스템(100)을 사용하여, 충방전 검사장치(10)의 교정프로세스가 실행된다.
다음으로, 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템(100)을 설명한다. 도 6은, 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템(100)을 모식적으로 나타내는 도이다. 교정시스템(100)은, 충방전 검사장치(10)의 교정을 하기 위한 교정장치(102)와, 교정장치(102)를 반송하기 위한 반송장치(104)를 포함하여 구성되어 있다.
교정장치(102)는, 2차 전지(40) 대신에 복수의 프로브(44) 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자(106)를 구비한다. 접속단자(106)는 예를 들면, 2차 전지(40)의 전극(41)과 동일한 구성을 가지고 있으며, 복수의 프로브(44) 중 적어도 1개와 적어도 1개의 접속단자(106)는, 접촉에 의하여 전기적으로 직접 접속된다. 다만 프로브(44)와 접속단자(106)는 배선으로 접속되어도 된다. 도시한 예에서는, 도 2 내지 도 5에 나타낸 전지배열에 대응하여 X방향으로 6쌍의 접속단자(106)가 나타나 있다. 도면에 있어서 Z방향으로 1쌍을 구성하는 2개의 접속단자(106)가 나열되어 있다.
바람직하게는, 교정장치(102)는, 2차 전지(40) 대신에 복수의 프로브(44)의 각각에 접속하기 위한 복수의 접속단자(106)를 가지는 접속부(108)를 구비한다. 도시한 예에서는, 교정장치(102)의 상부가 접속부(108)로서 구성되어 있다. 접속부(108)는 예를 들면, 접속단자(106)를 지지하기 위한 접속단자 지지플레이트이다. 접속부(108)를 포함하는 교정장치(102)의 전체가 검사유닛(12)의 전지배열공간(48)에 수용 가능한 치수로 형성되어 있다.
복수의 접속단자(106)는 복수의 프로브(44)의 배열에 적합한 배열로 형성되어 있다. 예를 들면, 복수의 접속단자(106)의 수 및 간격은, 복수의 프로브(44)의 수 및 간격에 일치하고 있다. 다른 일 실시예에 있어서는, 복수의 접속단자(106)는 복수의 프로브(44)의 배열의 일부에 적합한 배열로 형성되어 있어도 된다. 즉 접속단자(106)는 프로브(44)보다 소수여도 된다. 이 경우, 접속단자(106)를 교정완료된 프로브(44)로부터 미교정 프로브(44)로 바꿔 연결함으로써 모든 프로브(44)의 교정을 완료하여도 된다.
혹은 다른 일 실시예에 있어서는, 복수의 접속단자(106)의 일부가 프로브(44)의 배열에 적합한 배열로 형성되어 있어도 된다. 즉 접속단자(106)는 프로브(44)보다 다수여도 된다. 이 경우, 교정장치(102)는, 여러 가지의 간격으로 배열된 다수의 접속단자(106)를 구비하고, 여러 가지의 배열간격의 프로브(44)에 대응 가능하게 구성되어 있어도 된다. 프로브유닛(46)의 설계에 따라 상이한 프로브 간격에 따라, 사용되는 접속단자군을 선택할 수 있다.
반송장치(104)는, 교정장치(102)를 전지 검사유닛(12)의 내부의 소정 반송위치에 외부의 수납장소로부터 반송하기 위한 자동반송장치이다. 반송장치(104)는 예를 들면, X방향, Y방향, 및 Z방향의 각각에 교정장치(102)를 직선적으로 반송 가능하게 구성되어 있다. 이러한 기능을 가지는 공지의 자동반송장치를 반송장치(104)로서 사용할 수 있다. 반송장치(104)는, YZ면 내에서 위치결정되는 지지부와, 이 지지부를 YZ면 내에서 이동하기 위한 이동기구와, 교정장치(102)를 탑재한 상태로 지지부로부터 X방향으로 진퇴 가능하게 구성되어 있는 암부를 구비하여도 된다. 교정장치(102)를 반송하기 위한 전용의 반송장치여도 되고, 반송장치(104)는 상술한 팔레트반송장치(60)여도 된다. 교정장치(102)는, 검사유닛(12)으로의 반송경로가 2차 전지와 공통으로 되어 있으며, 전지와 반송장치의 공용이 가능하다.
반송장치(104)는 검사유닛(12)의 외측에서 도어(54)에 인접하는 위치로 먼저 교정장치(102)를 반송한다. 도 6에 있어서는 교정장치(102)의 반송방향을 화살표로 나타내고 있다. 또, 교정장치(102)가 검사스테이지(42)로 반송되었을 때의 위치를 파선으로 나타내고 있다. 교정장치(102)의 반송위치는, 적어도 1개의 접속단자(106)를 복수의 프로브(44) 중 적어도 1개에 접속 가능하도록 하는 위치이다. 바람직하게는, 반송장치(104)는 각 접속단자(106)가 대응하는 프로브(44)의 바로 아래에 위치하도록 교정장치(102)를 검사스테이지(42)에 위치결정한다. 이렇게 하여 교정장치(102)는 반송장치(104)로부터 검사유닛(12)으로 전달된다. 전용의 반송장치인 경우에는, 교정장치(102)를 전달한 반송장치(104)는 그대로 대기하고 있어도 된다. 혹은, 반송장치(104)가 팔레트반송장치(60)인 경우에는, 전지(40)의 반송을 위하여 반송장치(104)는 이동되어도 된다.
이와 같이 하여, 접속단자(106)는, 반송장치(104)에 의한 검사유닛(12)으로의 반입방향에 관하여 2차 전지(40)가 위치결정되어야 할 위치에 위치결정된다. 구체적으로는, 반송장치(104)에 의하여 검사스테이지(42) 상의 반송위치에 재치된 교정장치(102)의 접속단자(106)는, 수평면 내에 있어서 2차 전지(40)가 위치결정되어야 할 위치에 위치결정된다.
도 7에 나타내는 바와 같이, 검사유닛(12)의 이동기구에 의하여, 교정장치(102)는 반송위치로부터 프로브유닛(46)과의 접속위치로 이동된다. 일 실시예에 있어서는, 프로브유닛(46)은 위치가 고정되어 있고, 검사스테이지(42)가 연직방향의 이동기구에 의하여 상하로 이동된다. 검사스테이지(42)의 이동에 따라 교정장치(102)가 이동되고, 접속단자(106)와 프로브(44)가 접속 또는 분리된다. 검사스테이지(42)와 함께, 또는 검사스테이지(42) 대신에, 프로브유닛(46)이 이동 가능하게 되어도 된다. 이와 같이 하여, 프로브(44)와 접속단자(106)는, 2차 전지(40)의 프로브(44)와의 접속을 위한 상대이동방향과 동일방향의 상대이동에 의하여 접속된다.
다만, 반송장치(104)의 반송방향은 수평방향(X방향)에 한정되지 않고, 교정장치(102)의 프로브유닛(46)과의 접속방향(즉 검사스테이지(42)와 프로브유닛(46)과의 상대이동방향)도 연직방향(Y방향)에 한정되지는 않는다. 이들은 전지의 형상이나 배열에 따라 변경 가능하다. 일 실시예에 있어서는, 반송장치(104)의 반송방향과 교정장치(102)의 프로브유닛(46)과의 접속방향은 서로 교차하는 방향이며, 바람직하게는 직교하는 방향이다. 예를 들면, 전지가 원통형상을 가지고 그 일단 또는 양단에 전극을 가지는 경우에는, 전지를 Z방향으로 눕혀 이것을 X방향으로 복수 나열하여 배열하고, 검사유닛(12)으로 X방향으로 반송하고, 프로브유닛(46)과 Z방향으로 접속하는 구성도 생각할 수 있다.
도 8은, 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정장치(102)를 나타내는 블록도이다. 교정장치(102)는, 상술한 접속단자(106)에 더하여, 표준저항기(130), 계측기(132), 및 교정제어회로(134)를 포함하여 구성된다. 도시되는 바와 같이, 한 쌍의 프로브(44)에 대응하여 한 쌍의 접속단자(106)가 설치되어 있다. 한 쌍의 프로브(44)의 각각은 전지(40)의 정부(正負)의 전극(41) 각각에 대응하고 있으며, 검사 중에는 한 쌍의 프로브(44)의 각각이 정부의 전극(41) 각각에 접속된다. 따라서, 한 쌍의 접속단자(106)도 각각, 전지(40)의 정부 전극에 대응하는 각각의 프로브(44)에 대응하고 있다.
상술한 바와 같이 프로브(44)에는 계측회로(34)가 접속되어 있으며, 계측회로(34)는 예를 들면 검사 중에 전지에 흐르는 전류를 측정하기 위한 검출저항을 포함한다. 검출저항은, 승강압컨버터(28)의 출력단자와 프로브(44)의 사이의 2차 전지의 충방전 전류의 경로 상에 설치된다. 검출저항에는, 충방전 전류에 비례한 전압강하가 발생한다. 검출저항을 흐르는 전류가 계측된다.
표준저항기(130)는, 교정프로세스에 있어서, 2차 전지 대신에 한 쌍의 프로브(44)의 단자간에 장착된다. 교정프로세스에 있어서는 계측회로(34)의 검출저항 및 표준저항기(130)를 직렬로 포함하는 경로가 구성된다. 즉, 승강압컨버터(28)로부터, 일방의 프로브(44), 일방의 접속단자(106), 표준저항기(130), 타방의 접속단자(106), 타방의 프로브(44), 계측회로(34)의 검출저항을 거쳐, 승강압컨버터(28)로 되돌아오는 경로이다.
교정프로세스에 있어서 승강압컨버터(28)로부터 프로브(44) 및 접속단자(106)를 통하여 표준저항기(130)에 전류가 공급되면, 표준저항기(130)에는, 전류에 비례한 전압강하가 발생한다. 계측기(132)는, 교정프로세스에 있어서, 표준저항기(130)의 전압강하에 근거하여, 표준저항기(130)에 흐르는 전류를 나타내는 전류교정치를 생성한다. 계측기(132)는 예를 들면 디지털멀티미터이다. 표준저항기(130)의 저항치는 공지된 것이며, 그 변동은 무시할 수 있다. 그렇다면, 전류교정치가 나타내는 전류치는, 표준저항기(130)를 포함하는 상기 경로로 흐르는 실제 전류치를 나타내는 것이라고 할 수 있다.
교정제어회로(134)는 교정프로세스를 제어한다. 교정제어회로(134)는 예를 들면, 승강압컨버터(28)로의 전류지령치를 상이하게 하여 복수회 전류교정치를 취득한다. 이 취득결과에 근거하여, 교정제어회로(134)는 예를 들면, 계측기(132)에서 얻어진 실제 전류치와 계측회로(34)에 의한 계측치와의 관계를 연산하고, 계측회로(34)의 계측치를 교정하기 위한 교정파라미터를 구한다. 혹은, 교정제어회로(134)는, 계측기(132)에서 얻어진 실제 전류치와 승강압컨버터(28)로의 전류지령치와의 관계를 연산하여 교정파라미터를 구한다. 교정제어회로(134)는 예를 들면, 계측회로(34)에 의한 계측치, 승강압컨버터(28)로의 전류지령치를 포함하는 연산에 필요한 정보를, 관리서버(110)로부터, 또는 컨트롤러(15)로부터 관리서버(110)를 통하여 취득한다. 교정제어회로(134)는 연산한 교정파라미터를 관리서버(110)로 송신한다. 송신된 교정파라미터는, 검사에 있어서 사용하기 위하여, 관리서버(110) 또는 컨트롤러(15)에 보존된다.
도 8에 있어서는, 한 쌍의 접속단자(106)에 1개의 표준저항기(130)가 나타나 있다. 교정장치(102)가 복수쌍의 접속단자(106)를 구비하는 경우에는, 접속단자쌍과 같은 수의 복수의 표준저항기(130)가 설치되어 있어도 된다. 혹은 후술하는 바와 같이, 복수쌍의 접속단자(106)에서 1개의 표준저항기(130)가 공용되고, 표준저항기(130)에 접속되는 접속단자(106)를 스위치로 전환하여 선택 가능하게 구성되어 있어도 된다.
본 실시예에 의하면, 반송장치(104)에 의하여 교정장치(102)를 검사유닛(12) 내부의 반송위치에 위치결정할 수 있다. 교정장치(102)의 반송자동화를 통하여 작업자의 부담경감이나 교정시간의 단축을 도모할 수 있다. 프로브유닛(46)의 각 프로브(44)와 교정장치(102)의 각 접속단자(106)에서 서로 위치관계를 맞추어 두고, 상대이동 및 접촉에 의하여 한 번에 직접 접속을 취할 수 있다. 접속작업의 자동화를 통하여 교정시간의 단축을 도모하는 것이 가능해진다. 교정처리에 필요로 하는 검사장치의 다운타임이 저감되어, 검사스루풋을 향상시킬 수 있다.
또, 충방전 검사장치(10)가 복수의 검사유닛(12)을 구비하는 경우에는, 교정장치(102)가 반송장치(104)에 의하여 1개의 검사유닛(12)에 전달되어 교정프로세스를 실행하고 있을 때, 다른 검사유닛(12)에서는 전지검사를 실행할 수 있다. 반송장치(104)는 교정장치(102)를 검사유닛(12)에 전달함으로써 자유로운 상태가 되고(즉, 전지(40) 등의 다른 물품을 반송 가능한 상태가 되고), 반송장치(104)를 사용하여 다른 검사유닛(12)에서는 전지검사를 속행할 수 있다. 1개의 검사유닛(12)이 교정 중이어도 다른 검사유닛(12)에 의하여 전지검사를 실시 또는 계속할 수 있는 충방전 검사시스템 또는 교정시스템이 제공된다. 다만, 다른 검사유닛(12)에서는 반송장치(104)와는 다른 반송장치(예를 들면 팔레트반송장치(60))를 사용하여 전지검사를 실행하여도 된다.
다음으로, 본 발명의 다른 일 실시형태에 관한 교정시스템(200)을 설명한다. 도 9는, 본 발명의 일 실시형태에 관한 교정시스템(200)을 모식적으로 나타내는 도면이다. 도 9에 나타내는 교정시스템(200)은, 제1 교정장치(202) 및 제2 교정장치(204)를 포함하는 교정장치를 구비하는 점에서, 일체화된 교정장치(102)를 구비하는 교정시스템(100)과는 상이하다. 다만, 도 9를 참조하여 설명하는 실시예에 관하여 상술한 실시예와 동일한 구성에 대해서는, 간략화를 위하여 설명을 적절히 생략한다.
제1 교정장치(202)는, 접속단자(106)를 포함하여 전지 검사유닛(12)에 수용 가능한 치수로 형성되어 있다. 접속단자(106)에 대해서는 상술한 실시예와 동일한 구성이다. 제2 교정장치(204)는, 제1 교정장치(202)와 케이블(206)에 의하여 전기적으로 연결되어 있다. 제1 교정장치(202)는 반송장치(208)에 의하여 반송위치에 위치결정되고, 또한 반송장치(208)에 의하여 프로브유닛(46)에 접속된다. 제2 교정장치(204)는 반송장치(208)에 의하여 검사유닛(12)의 외측에 지지된다.
반송장치(208)는, 검사유닛(12)의 외측에 배치되는 지지부(210)와, 지지부(210)로부터 진퇴 가능 또는 신축 가능하게 구성되어 있는 암부(212)를 구비한다. 지지부(210)는, 적어도 Y방향으로, 바람직하게는 Y방향 및 Z방향으로 지지부(210)를 이동 가능한 이동기구에 의하여, Y방향으로, 또는 Y방향 및 Z방향으로 이동된다.
도면에 있어서는 암부(212)는 X방향으로 지지부(210)로부터 진퇴 가능하고, 제1 교정장치(202)를 지지부(210)로부터 반송위치로 직선적으로 이동시켜 위치결정한다. 제1 교정장치(202)는 암부(212)에 고정 또는 재치되어 있으며, 제2 교정장치(204)는 지지부(210)에 고정 또는 재치되어 있다.
제1 교정장치(202)는, 암부(212)에 의하여 위치결정될 때에 검사유닛(12)과의 간섭을 피하도록 외형이 형성되어 있다. 예를 들면, 제1 교정장치(202)가 암부(212)에 의하여 검사유닛(12)으로 반입될 때에 제1 교정장치(202) 및 암부(212)와 프로브유닛(46) 및 검사스테이지(42)가 접촉 또는 충돌하지 않도록 제1 교정장치(202)의 치수가 규정되어 있다.
반송장치(208)는 교정장치의 수납장소로부터, 검사유닛(12)의 외측에서 도어(54)에 인접하는 위치로 먼저 제1 교정장치(202) 및 제2 교정장치(204)를 반송한다. 반송장치(208)에 지지되어 있는 상태의 제1 교정장치(202)를 도 9에 파선으로 나타낸다. 반송장치(208)는 암부(212)를 검사유닛(12)의 전지배열공간(48)으로 뻗음으로써, 제2 교정장치(204)를 지지부(210)에 지지한 채 제1 교정장치(202)를 검사유닛(12)의 반송위치로 이동한다. 이 때, 접속단자(106)와 프로브유닛(46)과의 사이에 약간 거리를 취하도록 지지부(210)의 Y방향위치가 결정되는 것이, 접속단자(106)와 프로브(44)와의 간섭을 피하기 위하여 바람직하다.
반송장치(208)는 각 접속단자(106)가 대응하는 프로브(44)의 바로 아래에 위치하도록 암부(212) 및 제1 교정장치(202)를 위치결정한다. 반송장치(208)는 예를 들면 지지부(210)를 연직방향으로 이동시켜, 제1 교정장치(202)의 접속단자(106)를 프로브유닛(46)의 프로브(44)에 접촉시켜 접속한다. 접속된 후에 검사스테이지(42)를 상승시켜, 암부(212)를 검사스테이지(42)에 의하여 지지하여도 된다.
도 9를 참조하여 설명한 실시예에 의하면, 접속단자부분으로서의 제1 교정장치(202)를 제2 교정장치(204)로부터 분리함으로써 접속단자부분을 소형화, 단순화할 수 있다. 검사유닛(12)으로의 삽입부분의 설계를 용이하게 할 수 있다. 또, 제2 교정장치(204)는 검사유닛(12)에 삽입되지 않고 외부에 유지된다. 이로 인하여, 교정장치 전체를 검사유닛(12)에 삽입하는 경우에 비하여, 제2 교정장치(204)의 발열이 검사유닛(12) 내에서 교정프로세스에 주는 영향을 경감시킬 수 있다.
또, 충방전 검사장치(10)가 복수의 검사유닛(12)을 구비하는 경우에는, 교정장치(202, 204)가 반송장치(208)에 의하여 1개의 검사유닛(12)에서 교정프로세스를 실행하고 있을 때, 다른 검사유닛(12)에서는 팔레트반송장치(60)를 사용하여 전지를 반송하고 전지검사를 실행할 수 있다.
이상, 본 발명을 실시예에 근거하여 설명했다. 본 발명은 상기 실시형태에 한정되지 않으며, 다양한 설계변경이 가능하고, 여러 가지 변형예가 가능한 것, 또 그러한 변형예도 본 발명의 범위에 있는 것은, 당업자에게 이해되는 바이다.
10 충방전 검사장치 11 전원장치
12 전지 검사유닛 13 전원회생컨버터
14 정전압전원 15 컨트롤러
16 데이터처리유닛 17 승강압유닛
22 케이싱 24 전력케이블
25 통신케이블 28 승강압컨버터
29 제어회로 34 계측회로
35 부하 40 전지
41 전극 42 검사스테이지
44 프로브 46 프로브유닛
48 전지배열공간 50 크로스플로우팬
52 팔레트 54 도어
56 전장품 100 교정시스템
102 교정장치 104 반송장치
106 접속단자 110 관리서버
130 표준저항기 132 계측기
134 교정제어회로 200 교정시스템
202 제1 교정장치 204 제2 교정장치
206 케이블 208 반송장치
210 지지부 212 암부

Claims (7)

  1. 검사를 위하여 복수의 2차 전지를 충방전하기 위한 충방전 검사장치로서, 전원과, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 상기 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 상기 전원으로부터 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비하는 충방전 검사장치와,
    상기 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서, 2차 전지 대신에 상기 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자를 구비하는 교정장치와,
    상기 교정장치를 상기 전지 검사유닛으로, 상기 적어도 1개의 접속단자를 상기 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속 가능하게 하는 반송위치에 위치결정하기 위한 반송장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 충방전 검사시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 적어도 1개의 접속단자는, 상기 복수의 접촉자의 배열에 적합한 배열로 형성된 복수의 접속단자인 것을 특징으로 하는 충방전 검사시스템.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 전지 검사유닛은, 상기 복수의 2차 전지와 상기 복수의 접촉자가 상대적으로 진퇴 가능하게 되어, 접촉자에 대한 2차 전지의 상대전진에 의하여 각 접촉자가 대응하는 2차 전지에 접속되도록 구성되어 있으며,
    상기 적어도 1개의 접속단자는 상기 반송위치에 있어서, 상기 반송장치의 반송방향에 관하여 2차 전지가 위치결정되어야 할 위치에 위치결정되고,
    상기 복수의 접촉자 중 적어도 1개와 상기 적어도 1개의 접속단자는, 상기 전지 검사유닛에서의 2차 전지의 상대전진방향의 이동에 의하여 접속되는 것을 특징으로 하는 충방전 검사시스템.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 반송장치는, 상기 전지 검사유닛의 외측에 배치되는 지지부와, 상기 지지부로부터 진퇴 가능하게 구성되어 있으며 상기 교정장치를 상기 지지부로부터 상기 반송위치로 직선적으로 이동시켜 위치결정하기 위한 암부를 구비하고,
    상기 교정장치는, 상기 암부에 의하여 위치결정될 때에 상기 충방전 검사장치와의 간섭을 피하도록 외형이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 충방전 검사시스템.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 교정장치는, 상기 접속단자를 포함하여 상기 전지 검사유닛에 수용 가능한 치수로 형성되어 있는 제1 부분과, 상기 제1 부분과 전기적으로 연결된 제2 부분을 구비하고,
    상기 반송장치는, 상기 제1 부분을 상기 반송위치에 위치결정하고, 상기 제2 부분을 상기 전지 검사유닛의 외측에 지지하는 것을 특징으로 하는 충방전 검사시스템.
  6. 2차 전지의 충방전 검사장치를 위한 교정시스템으로서,
    상기 충방전 검사장치는, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 상기 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비하고 있고,
    상기 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서, 2차 전지 대신에 상기 복수의 접촉자 중 적어도 1개에 접속하기 위한 적어도 1개의 접속단자를 구비하는 교정장치와,
    상기 전지 검사유닛에 있어서 상기 교정장치를, 상기 복수의 접촉자 중 적어도 1개를 상기 적어도 1개의 접속단자에 접속 가능하게 하는 반송위치에 위치결정하기 위한 반송장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 교정시스템.
  7. 2차 전지의 충방전 검사장치의 교정을 하기 위한 교정장치로서,
    상기 충방전 검사장치는, 복수의 2차 전지를 수용하는 전지 검사유닛과, 상기 전지 검사유닛에 설치되어 있으며 각 2차 전지에 급전하기 위한 복수의 접촉자를 구비하고,
    상기 교정장치는, 2차 전지 대신에 상기 복수의 접촉자에 접속하기 위한 복수의 접속단자를 가지는 접속부를 구비하고, 상기 복수의 접속단자는 상기 복수의 접촉자의 배열에 적합한 배열로 형성되어 있으며, 적어도 상기 접속부는 상기 전지 검사유닛에 수용 가능한 치수로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 교정장치.
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