JP2002148323A - 測定装置の検査装置および検査方法 - Google Patents

測定装置の検査装置および検査方法

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JP2002148323A
JP2002148323A JP2000347208A JP2000347208A JP2002148323A JP 2002148323 A JP2002148323 A JP 2002148323A JP 2000347208 A JP2000347208 A JP 2000347208A JP 2000347208 A JP2000347208 A JP 2000347208A JP 2002148323 A JP2002148323 A JP 2002148323A
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measuring
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JP2000347208A
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English (en)
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Yukio Noda
幸夫 野田
Mamoru Suzuki
守 鈴木
Toshiaki Shirakuma
俊昭 白熊
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】二次電池の製造工程において用いられる測定装
置の電圧・電流・時間の設定精度・測定精度、抵抗・イ
ンピーダンスの測定精度、コンタクトピンの接触、充放
電ユニットからフィクスチャへの配線の正誤を自動的に
検査することを可能にした検査装置および検査方法を提
供することを目的とする。 【解決手段】フィクスチャ14を備えた電気的物理量の
測定装置54と、フィクスチャ14に接続または装填で
きるようにした電気的物理量供給手段52と、同物理量
が測定でき、同測定装置54と通信できる別の測定手段
51とを備え、両者54、51が測定した値を比較して
測定装置54を校正するようにした測定装置の検査装置
に関するものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は測定装置の検査装置
および検査方法に係り、とくに測定装置の測定精度また
は測定状況を測定装置と接続される検査装置によって検
査する測定装置の検査装置および検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】携帯電話機やノート型パーソナルコンピ
ュータ等の携帯型電子機器が普及し、それらの電源とし
て二次電池が使用される。従ってこのような二次電池の
高性能化や品質向上が求められている。このために二次
電池生産時の性能検査の信頼性が重要になっている。二
次電池の生産工程中の検査には、充放電による容量検
査、開放電圧検査、抵抗・インピーダンス検査等の性能
検査がある。これらの検査工程には測定装置が使用され
る。
【0003】このような二次電池の生産工程中の検査工
程の内の充放電は、電気エネルギを蓄え、放出する能力
を確める工程である。このときの電池の性能判定の方法
の1つとして、充放電時の電流・電圧を測定・記録して
電池の容量を算出し、この容量の良否によって良・不良
を判定している。なお二次電池の容量とは、二次電池を
規定された時間内で上限電圧まで充電した状態から、規
定された放電終了電圧まで放電したときの放電電流を積
算したものである。
【0004】二次電池の充電・放電の工程では充放電の
電流・電圧・時間を測定・記録して電池の容量を算出
し、この容量を検査項目としているために、品質管理
上、電圧・電流の設定精度・測定精度をある規定範囲内
に収めることが重要になる。この精度検査には、内部回
路の切替えによって電圧・電流を1つの測定器で計測で
きるようにしたデジタルマルチメータ(DMM)のよう
な汎用測定器を用いて、フィクスチャにかかる電圧およ
びフィクスチャを通る電流を1チャンネル毎につなぎ替
えて測定し、充放電装置が測定した値と比較していた。
またこのような測定動作を自動化するために、充放電装
置内部で設定精度あるいは測定精度を検査するシステム
も見られる。
【0005】充放電装置や開放電圧検査装置等の電圧・
電流測定装置の校正は、人手で外部測定器を1チャンネ
ルずつつなぎ替えて正確に外部から測定した結果と測定
装置の測定結果とを比較し、充放電回路の調整やソフト
ウエア上の補正値の変更等を手動で行なっていた。この
ときに充放電装置や開放電圧検査装置などの電圧・電流
測定装置の校正は、正確な外部測定器をつないでその測
定結果と測定装置の測定結果とを比較し、人手で充放電
回路の調整やソフトウエア上の補正値の変更等を手動に
よって行なっていた。
【0006】また充放電ユニットからフィクスチャへの
配線の確認も、上記精度管理と同様に、1チャンネルだ
けに通電し、電流が流れるか、または電圧が出るかで判
断していた。電圧・電流精度の確認はそれぞれの工場の
品質管理規定に基き、人が検査時期を確認して、デジタ
ルマルチメータ等の測定器を確認したい測定装置の場所
まで運んで行なっていた。
【0007】抵抗またはインピーダンス測定精度を検査
するには、予め正確に抵抗値を測定した抵抗をフィクス
チャに接続して測定したり、電池の抵抗またはインピー
ダンスを、校正されたミリオームメータ、LCRメータ
等の測定器で測定しておき、その電池を電池用トレイに
入れ、測定装置で測定し、測定値を比較していた。また
このような測定を自動化するために、充放電装置内部で
測定精度を検査するシステムも見られた。
【0008】充放電装置やLCRメータ等の抵抗・イン
ピーダンス測定装置の校正は、人手で外部測定器を1チ
ャンネルずつつなぎ替えて正確に外部から測定した結果
と測定装置の測定結果とを比較して充放電回路の調整や
ソフトウエア上の補正値の変更等を手動で行なってい
た。充放電装置やLCRメータ等の抵抗・インピーダン
ス測定装置の校正は、正確な外部測定器をつないでその
測定結果と測定装置の測定結果とを比較し、充放電回路
の人手による調整を行なったり、ソフトウエア上の補正
値の変更等を手動で行なうようにしていた。
【0009】またフィクスチャのコンタクトピンと電池
との接触不良を確認するために、電池トレイに電池を入
れて充電または放電させて電流が流れるか、あるいは正
常な電圧が測定されるかによって判断していた。また抵
抗・インピーダンス測定精度の確認は、それぞれの工場
の品質管理規定に基き、人が検査時期を確認してLCR
メータ等の測定器を確認したい測定装置の場所まで運ん
で行なうようにしていた。また充電時間・放電時間の設
定精度・測定精度の確認は、人が時計で測って行なって
いた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】二次電池の容量やエネ
ルギ量は、電圧・電流・時間の3要素を測定して計算さ
れる。これらを正確に測定し続けられるように測定装置
を管理することが重要になる。さらに電池生産設備は、
ほとんどが大量生産を行なっているので、効率良く管理
する必要がある。
【0011】しかるに上述の従来の精度管理の方法・手
段は、フィクスチャのチャンネルのつなぎ替えに時間が
かかり、しかも人手で行なうために間違いが起る可能性
がある等の問題があった。また自動精度管理システム
は、その装置自身で測定するために、信頼性が不十分な
点や、ピンの接触不良が検出できない等の問題があっ
た。
【0012】また上記電流・電圧校正の方法は非常に手
間がかかったり、つなぎ間違いが起っていた。また電流
・電圧校正の手段は、充放電回路の調整やソフトウエア
上の補正値の変更等を人手によって行なっていたので非
常に手間がかかっていた。また配線確認はチャンネルの
つなぎ替えに時間がかかり、人手で行なうために間違い
が起こる可能性がある等の問題があった。また電圧・電
流精度管理は、人が行なっていたので、検査時期を忘れ
たり、測定装置を間違う恐れがあった。
【0013】また抵抗・インピーダンスの測定は、フィ
クスチャのチャンネルのつなぎ替えに時間がかかり、人
手によって行なうために間違いが起る可能性がある等の
問題があった。また自動抵抗・インピーダンス測定シス
テムは、その装置自身で測定するために信頼性が不十分
な点や、ピンの接触不良が検出できない等の問題があっ
た。また抵抗・インピーダンス校正の方法は、非常に手
間がかかったり、つなぎ間違いが起ったりしていた。ま
た抵抗・インピーダンス校正の手段は、充放電回路の調
整やソフトウエア上の補正値の変更等を手動で行なって
いたので、非常に手間がかかっていた。
【0014】また接触確認は、電池自体の不良によって
誤判定がなされたり、電池の管理状況に手数がかかるこ
とがある等の問題があった。また抵抗・インピーダンス
測定精度管理は、検査時期を忘れたり、測定装置を間違
う恐れがあった。また時間精度確認は、人が時計で測っ
て行なっていたために、手間がかかるばかりか、測定誤
差にばらつきがある等の問題があった。
【0015】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、測定装置の電圧・電流・時間の設定精
度・測定精度・抵抗・インピーダンスの測定精度、コン
タクトピンの接触、充放電ユニットからフィクスチャへ
の配線の正誤を自動的に検査することがきるようにする
ことによって検査時間を短縮し、チャンネルを間違う人
為的事故を防止し、外部で測定することによって正確に
検査できるようにし、電圧・電流の設定・測定精度、抵
抗・インピーダンスの測定精度の調整を自動化すること
によって手間を省き、精度管理を自動的に行なうことが
できるようにした測定装置の検査装置および検査方法を
提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本願の一発明は、測定装
置の測定精度または測定状況を前記測定装置と接続され
る検査装置によって検査する測定装置の検査装置におい
て、検査装置で電気的物理量を測定し、測定結果を測定
装置に送って、測定装置による測定値が検査装置による
測定値と同じくなるように前記測定装置の測定手段を修
正することを特徴とする測定装置の検査装置に関するも
のである。
【0017】ここで測定する電気的物理量が電圧、電
流、抵抗、またはインピーダンスであってよい。また被
測定物を測定装置に装着する被測定物装着治具とほぼ同
一の形状の筐体内に検査装置を組込むようにすることが
可能である。
【0018】検査方法に関する主要な発明は、測定装置
の測定精度または測定状況を前記測定装置と接続される
検査装置によって検査する測定装置の検査方法におい
て、被測定物を測定装置に装着する被測定物装着治具と
ほぼ同一の形状の検査治具を用い、前記検査治具に前記
被測定物の数と同一のチャンネルを設定し、総てのチャ
ンネルの電気的物理量を測定することを特徴とする測定
装置の検査方法に関するものである。
【0019】ここで総てのチャンネルの測定装置の代表
値を求め、あるチャンネルの測定値が代表値に近いとき
に良とし、代表値から離れているときに不良とするよう
にしてよい。また前記検査用治具に検査用被測定物を内
蔵させ、前記検査用被測定物の電気的物理量を全チャン
ネルについて測定装置と検査装置とでそれぞれ測定し、
測定装置と検査装置の測定値の差が所定の値以下のとき
に良とし、所定の値よりも大きいときに不良とするよう
にしてよい。また測定装置が開始信号を発行してから終
了信号を発行するまでの時間を前記測定装置によって測
定するとともに、該測定装置によって測定された時間を
検査装置によって測定された時間と比較するようにして
よい。
【0020】次に本願に含まれる好ましい態様を以下に
列記する。
【0021】(1)切替装置を、測定装置のフィクスチ
ャに設置することができるようにするために、外形寸法
や電極の配置を被測定物と同じくし、外部接続端子と電
極対のチャンネル切替手段とを具備し、外部接続端子に
電圧・電流計や直流電源装置を接続し、デジタル信号に
よってチャンネル切替手段を切替えることによって、外
部接続端子に接続される電極対を指定できるようにす
る。このことによって切替装置を測定装置のフィクスチ
ャに設置したときに測定装置の任意のチャンネルを選ん
で電気的物理量を外部で測定することができるようにな
る。従って測定のための電源あるいは測定器の接続の手
間が省けるようになる。
【0022】(2)精度検査の方法に関するものであっ
て、測定するチャンネルの指定と測定手段への接続をデ
ジタル信号で行なう。より詳しくは、チャンネルと測定
モードを示すデジタル信号を入力し、指定されたチャン
ネルへ接続される信号出力を変換し、指定されたチャン
ネルを開閉する。また同デジタル信号を、モードに応じ
て正極・負極の共通線と測定手段を接続する開閉回路へ
接続される信号に変換し、指定されたモードの測定がで
きるようにする。そして校正された電圧計や電流計等の
測定手段によって測定装置のプローブ間に現われる電気
的物理量、例えば電圧や電流を測定し、一方で測定装置
自身で同プローブ間の電気的物理量を測定し、CRTや
液晶表示装置に両者の測定結果を並べて表示したり、そ
の差を求めて表示したりする。このような方法による
と、充放電装置の電圧・電流設定精度・測定精度の検査
を迅速かつ正確に行なうことができる。
【0023】(3)検査システムに関するものであっ
て、上記(1)項に記載の切替装置と、制御手段と校正
済みの電圧・電流測定手段と、直流電源供給手段と、モ
ード切替え手段とを備え、制御手段が測定するチャンネ
ルを指定し、制御手段が切替装置の指定されたチャンネ
ルと電圧・電流測定手段および直流電源供給手段との接
続回路をモード切替手段によって構成し、校正された電
圧計・電流測定手段で測定装置のフィクスチャの電圧・
電流を測定し、一方で測定装置自身でフィクスチャの電
圧・電流を測定し、両者の測定結果を並べて表示した
り、その差を求めて表示する。このようにすることによ
って測定装置のフィスクチャに現われる電圧・電流の設
定・測定精度を自動的に確認できるようになる。このよ
うなシステムによれば、充放電装置の電圧・電流設定確
度・測定確度の検査を迅速かつ正確に行なうことが可能
になる。
【0024】(4)測定装置の校正方法に関するもので
あって、(2)項の精度測定方法によって得られた複数
の電気的物理量測定データを利用してマスター装置が測
定した値と、測定装置が測定した値とが同じくなるよう
に、測定装置による測定値の計算式を修正する。このこ
とによって、より正確な測定結果が得られる。また測定
装置の調整を迅速かつ正確に行なうことができるように
なる。
【0025】(5)測定装置の精度管理システムに係
り、測定対象の電気的物理量の設定にD/Aコンバー
タ、測定にA/Dコンバータを用いる。(3)項の検査
システムを用いて、(4)項の校正方法によって測定装
置の補正値を修正するシステムである。このようにする
ことによって、より正確な測定結果が得られる。このよ
うなシステムによると、測定装置の調整を迅速かつ正確
に行なうことができるようになる。
【0026】(6)配線検査方法に係り、(1)項に記
載の切換装置または(3)項に記載の精度確認システム
を使用し、フィクスチャの持つ複数のチャンネルの内の
1つのチャンネルのみに測定装置側から、あるいは切替
装置側から電源を接続し、その位置の電気的物理量を測
定装置側あるいは切替装置側の内の電源を供給しなかっ
た側に内蔵する測定手段で測定し、設定した電気的物理
量に近い値が測定されるかどうかを確認する方法であ
る。このような方法によって、配線が正しいかどうか、
あるいはフィクスチャと切替装置との接触が良いかどう
かを判断することになる。これによって測定装置のフィ
クスチャの配線の確認が可能になる。
【0027】(7)一体型マスター装置に関するもので
あって、(3)項に記載の精度検査システムの内、測定
装置を除いた手段と、制御手段に接続した無線通信手段
とを備え、これらを(1)項に記載の切替装置に内蔵す
るものである。このような構成によって、被測定物と同
様に自動搬送装置で取扱うことが可能になる。このよう
な構成によれば、装置が小型化される。また外部にケー
ブルがついていないので、電池トレイと同様に自動化が
対応可能である。
【0028】(8)標準抵抗装置に関するものであっ
て、抵抗またはインピーダンス測定装置のフィクスチャ
に装填される被測定物と外形的特徴を同じくすることに
よって、測定装置のフィクスチャに装填できるように
し、被測定物の正極・負極と同じ位置に配置した電極
と、抵抗またはインピーダンス測定の標準となる抵抗器
とを備え、抵抗器の一端を電極の正極、もう一端を負極
に接続するようにしている。このようにすることによっ
て、抵抗またはインピーダンス測定装置の測定精度の検
査に使用できる。このような構成によれば、抵抗または
インピーダンスの測定のための測定器の接続の手間が省
かれる。
【0029】(9)抵抗・インピーダンス測定精度検査
方法に係り、(8)項に記載の標準抵抗装置を測定装置
に装填し、測定装置によって被測定物の抵抗またはイン
ピーダンスを測定し、一方測定装置以外の校正された測
定器によって抵抗またはインピーダンスを測定し、両者
の測定結果を並べて表示したり、その差を求めて表示し
たりして比較することを特徴としている。これによって
測定装置による抵抗またはインピーダンスの測定精度が
検査される。このような構成によれば、抵抗またはイン
ピーダンスの測定確度の検査を迅速かつ正確に行なうこ
とが可能になる。
【0030】(10)抵抗・インピーダンス測定精度検
査システムに係り、(8)項に記載の標準抵抗装置と、
制御手段と、抵抗・インピーダンス測定手段と、標準抵
抗と抵抗・インピーダンス測定手段とを接続する接続手
段と、制御装置およびフィクスチャを含む測定装置とを
備え、(9)項に記載の方法によって測定装置の測定精
度を検査するようにしたことを特徴としている。これに
よって測定装置の抵抗またはインピーダンスの測定精度
が迅速かつ正確にしかも簡便に検査できるようになる。
【0031】(11)抵抗またはインピーダンス校正方
法に係り、(10)項に記載の装置を使用し、マスター
装置で抵抗を測定し、その測定値を測定装置に送り、測
定装置で同抵抗装置を測定した値がマスター装置による
抵抗値と同じくなるように測定装置内蔵の測定手段を修
正するものである。これによって測定結果がより正確に
なり、抵抗またはインピーダンス測定装置の調整を迅速
かつ正確に行なうことができるようになる。
【0032】(12)接触状態検査方法に係り、(8)
項に記載の標準抵抗装置を測定装置のフィクスチャに装
填し、測定装置で総てのチャンネルの抵抗またはインピ
ーダンスを測定し、それらの値の中から代表的な値を求
め、各チャンネルの測定値と代表値との差を求め、その
絶対値が許容値よりも小さい場合を良とし、大きい場合
を不良とする。このようにすることによって、接触の良
否が簡便に検査されるようになり、接触不良検査を迅速
かつ正確に行なうことができるようになる。
【0033】(13)接触不良検査方法に係り、(1
0)項に記載の抵抗・インピーダンス測定精度検査シス
テムを用いて、測定装置によって標準抵抗装置の抵抗ま
たはインピーダンスを測定し、一方測定装置以外の校正
された測定器によって抵抗またはインピーダンスを測定
し、前者の測定値と後者の測定値の差が設定された基準
値よりも小さいチャンネルを良とし、大きいチャンネル
を不良と判断することを特徴とする。これによって接触
の良否が簡便に検査でき、接触不良検査を迅速かつ正確
に行なうことが可能になる。
【0034】(14)一体型マスター装置に係り、
(8)項記載の標準抵抗装置に(10)項記載のマスタ
ー装置、すなわち抵抗・インピーダンス測定精度検査装
置のシステムの内の測定装置を除いたものの総てを内蔵
することを特徴とする。これによって小型で自動搬送装
置の利用が可能になる。従って装置が小型化されるばか
りでなく、外部にケーブルが接続されていないので、電
池トレイと同様の自動化が可能になる。
【0035】(15)時間設定・測定精度検査システム
に係り、時間計測手段と、制御手段と、時計機能を備え
た測定装置とを備え、制御手段が時間を設定し、測定装
置が開始信号を発行してから終了信号を発行するまでの
時間を測定装置および時間計測手段が測定し、両測定結
果を並べて表示したり、両測定結果の差を表示すること
を特徴とする。これによって測定装置の時間設定精度・
測定精度を自動的にかつ正確に検査できるようになる。
従って充放電装置の時間設定精度・測定精度の確認が自
動的にかつ確実にできるようになる。
【0036】
【発明の実施の形態】本実施の形態は、二次電池の生産
工程に使用する充放電測定装置、およびこのような充放
電測定装置の検査装置に関する。以下に測定装置および
検査装置について次の目次の順に説明する。
【0037】目次 1.測定装置 (1)システム構成 (2)トレイ (3)フィクスチャ (4)測定動作 2.測定精度検査装置 (1)システム構成 (2)チャンネル切替装置 (3)精度測定 (4)アナログ値とデジタル値の変換 (5)配線検査 3.抵抗・インピーダンス精度測定・検査装置 (1)システム構成 (2)標準抵抗装置 (3)測定動作 (4)抵抗・インピーダンス測定校正方法 (5)接触状態検査方法 4.一体型測定精度検査装置 (1)切替え式測定精度検査装置 (2)標準抵抗式測定精度検査装置。
【0038】内容の説明 1.測定装置 (1)システム構成 携帯電話機やノート型パーソナルコンピュータ等の携帯
型電子機器が普及し、それらの電源である二次電池にも
高性能化や品質向上が求められている。このために二次
電池生産時の性能検査の信頼性が重要になっている。二
次電池の生産工程においては、充放電による容量検査、
開放電圧検査、抵抗・インピーダンス検査等の性能検査
がある。そしてこれらの検査工程における検査には以下
の測定装置が使用される。
【0039】このような充放電特性、開放電圧、抵抗ま
たはインピーダンスの測定のための測定装置の基本的な
構成は図1に示される。ここでフィクスチャ14は後述
するトレイに支持された二次電池を上下から挟着すると
ともに、それらの二次電池と電気的な接続を行なう測定
用治具である。測定ユニット16はこのようなフィクス
チャ14を用いて測定を行なうとともに、通信端末ユニ
ット15によって測定データの処理を行なうようにして
いる。
【0040】測定ユニット16は図2に示すような構成
になっており、測定部67は充放電測定においては電圧
・電流計、開放電圧の測定であれば電圧計、抵抗の測定
であれば抵抗計、インピーダンスの測定であればLCR
メータから構成される。また測定部67において測定し
た物理量を数値化するためのA/Dコンバータを備えて
おくことが好ましい。
【0041】選択部68は測定部67と開閉部69とを
測定モードに合わせて接続する機能を有している。開閉
部69は選択部68に接続するフィクスチャ14のチャ
ンネルを選択する。
【0042】図2に示す制御部17は図3に示す構成を
有している。ここで通信部17aは通信端末ユニット1
5および処理部に接続され、それぞれと通信を行なう。
処理部17bは通信部17aおよび記憶部17cと接続
され、演算機能と計算機能とを有し、測定情報の処理を
行なう。記憶部17cは処理部17b、測定部67、選
択部68、および開閉部69と接続され、これらに入出
力する情報を記録する。
【0043】二次電池の生産工程に使用する別の測定装
置は、図4に示すような二次電池の充放電特性の測定を
行なう装置である。ここでは電気エネルギを蓄え、放出
する能力を確認することになる。すなわち二次電池の性
能測定の方法の1つとして、充放電時の電流・電圧を測
定・記録して電池の容量を算出し、この容量の値によっ
て電池の良・不良の判断を行なうものである。
【0044】二次電池の容量とは二次電池を規定された
時間内で上限電圧まで充電した状態から、規定された放
電終止電圧まで放電したときの放電電流を積算したもの
である。このような充放電特性の測定を兼ねた充放電測
定装置が図4に示される。充放電装置はフィクスチャ1
4、充放電ユニット161、通信端末15から成る測定
装置であって、図1に示す測定装置に代替して用いられ
る。
【0045】通信端末ユニット15は中央演算処理装
置、記憶装置、インターフェース等を内蔵した本体15
a、キーボード15b、およびマウス15cから成る入
力装置、ディスプレイ15dから成る出力装置を有して
いるパーソナルコンピュータであって、これに電池の充
放電条件を入力し、その条件を充放電ユニット161に
送り、充放電の状態や充放電結果等の情報を充放電ユニ
ット161から受取り、その情報を表示したり、保存し
たりすることができるようになっている。
【0046】この測定装置の中心をなす充放電ユニット
161はとくに図5に示すように、制御部171、電源
部19、充放電部18、選択部68、開閉部69から構
成される。なおこの構成は図2に示す測定ユニットの構
成を含んでいる。
【0047】図5に示す制御部171は図6に示すよう
に通信部20、処理部21、記憶部22、D/Aコンバ
ータ23〜26、A/Dコンバータ27、28で構成さ
れている。そして通信端末ユニット15と通信、充電上
限電圧、充電上限電流、放電電流、放電終了電圧の充放
電部18に対する設定、充放電の時間の管理、選択部6
8に接続されたチャンネルの電圧・電流値の測定を行な
うようになっている。
【0048】電源部19は変圧器、整流器、安定化回路
から構成され、交流200V等の外部電力源を充放電部
18や制御部171に適した直流電圧に変換して供給す
る。充放電部18は差動アンプ、シャント抵抗、FET
等から構成され、制御部171からの充電・放電の切替
え設定、電圧・電流設定に従って二次電池の充放電を行
なう。選択部68は制御部171からの制御によって、
充放電部18の複数のチャンネルから1つを選び、制御
部171のA/Dコンバータ27、28へ接続する。開
閉部69は制御部171からの制御によって二次電池へ
接続するケーブルと充放電部18との間の接続開閉をす
る。
【0049】(2)トレイ 次に図1あるいは図4に示す測定装置のフィクスチャ1
4に電池を接続するためのトレイ1について説明する。
円筒型二次電池(以下二次電池または電池と表現す
る。)の生産時に用いられる電池トレイ1は図7〜図9
に示される。トレイ1には電池を収納する複数の保持孔
5が所定の配列で形成されており、これらの保持孔5に
それぞれ二次電池が正極を上側にして負極を下側にした
状態で挿入される。またここでは10×10=100個
の電池が入るようになっている。
【0050】図9はトレイ1を図7においてA〜A線で
切断した断面を示している。孔5はその断面の直径d1
が二次電池4の直径よりも少し大きな値に構成され、底
部の穴の直径d2が二次電池4の直径よりもやや小さな
値になっている。これによって図9Bに示すように二次
電池4を穴5に1ずつ収納することができるようになっ
ている。
【0051】またトレイ1の側面には図8に示すよう
に、生産管理をするためのロット番号3が表示されてい
る。またトレイ1の底部であってその所定の位置には図
9に示すように、凹部から成るガイドピン用穴2が設け
られており、後述のフィクスチャ14にトレイ1を置く
ときにトレイ1の方向を間違えないようにしている。電
池工場ではこのトレイ1を用いてロット管理をしながら
搬送・処理・保管を行なうようにしている。
【0052】(3)フィクスチャ 次に上記のトレイ1上の二次電池4を測定ユニット16
と接続するフィクスチャ14について説明する。フィク
スチャ14は図10および図11に示すようなほぼ正方
形の板から成るピンボード6を備えている。図10はこ
のようなピンボード6を上から見た状態を示し、図11
はピンボード6の図10におけるA〜A断面図を示して
いる。ピンボード6には格子状に並んだ100本のピン
7が取付けられている。
【0053】図12に示すようにピン7は金属製であっ
てその先端部が電池4と接触するようになっている。そ
してばね8がピン7の先端側の大径部とピンボード6と
の間に介装され、ピン7を上方に付勢する力をピン7に
与えている。ピン7の下端には一対のナット9が螺着さ
れ、これらのナット9によってピン7のピンボード6か
らの脱落を防止するとともに、ラグ板10を固定してい
る。ラグ板10は金属製の端子板であって、ピン7と被
覆電線11とを接続する役割を果している。被覆電線1
1は充放電回路に接続される。
【0054】図13に示すようにそれぞれ100本ずつ
のピン7を装着した上下一対のピンボード6a、6bに
よってフィクスチャ14が構成される。上下のピンボー
ド6a、6b間にはトレイガイド12が配され、ピンボ
ード6a、6bに対してトレイ1の位置決めを行なうよ
うになっている。シリンダ等の移動機構によって上側の
ピンボード6aは下方に向って、下側のピンボード6b
は上方に向って平行移動できるようになっている。
【0055】図14に示すように二次電池4をそれぞれ
の孔5に収納した電池トレイ1がフィクスチャ14内に
置かれると、移動機構を操作してピンボード6a、6b
を図14に示すように閉じる。ピンボード6a、6bが
閉じられると二次電池4を収納した電池トレイ1がフィ
クスチャ14に固定された状態になる。そして二次電池
4の正極に上側のピンボード6aのピン7が接触し、二
次電池の負極に下側のピンボード6bのピン7が接触す
る。なおガイドピン13はトレイ1の1カ所に設けられ
たガイドピン用穴2と嵌合し、トレイ1の設置方向の間
違いを防ぐようにしている。
【0056】この状態で二次電池4の充放電が行なわれ
る。なおそれぞれの電池4の位置に対応するピンボード
6の充放電回路をチャンネルとし、チャンネル位置を特
定するための番号をアドレスとしている。
【0057】(4)測定動作 次に図4〜図6に示す充放電装置を兼ねた測定装置を用
いて充放電特性を測定する動作を図15に示すフローチ
ャートに基いて説明する。
【0058】まず充放電ユニット161と通信端末ユニ
ット15とを起動すると、充放電ユニット161はステ
ップS12で待機状態になる。ステップS2で通信端末
ユニット15から充放電ユニット161に充放電条件
(チャンネル、電圧、電流、時間等)のデータを送る。
すると充放電ユニット161では、ステップS13で充
放電条件を設定し、ステップS14で待機する。次にス
テップS3で通信端末ユニット15から充放電ユニット
161に充放電開始コマンドが送られる。すると充放電
ユニット161ではステップS15で充放電を開始し、
ステップS24で充放電時間の計測を開始する。
【0059】次にステップS25で充放電監視を行な
う。この動作は図16に示される。まず設定された一定
時間、例えば1分おきに電圧・電流測定をすることにな
っているために、ステップS25−1で測定時間になっ
たかどうかを確認し、そうであればステップS25−2
で電圧・電流と経過時間とを測定する。そうでなければ
ステップS25−1に戻る。ステップS25−2の次に
ステップS25−3で測定データを記録する。そしてス
テップS25−4で充放電終了かどうかの確認を行な
い、そうであればステップS25を抜け、そうでなけれ
ばステップS25−1に戻る。なお充放電終了条件は、
充電時は設定時間が経過したとき、放電時は設定下限電
圧以下になったときである。
【0060】図16で展開されるステップS25を抜け
ると次に図15に示すステップS19で充放電を終了
し、次にステップS26で時間計測を停止する。なおこ
れまでの間に、通信端末ユニット15ではステップS2
1で待機している。
【0061】充放電ユニット161が充放電を終了する
とステップS20で充放電終了信号を送り、ステップS
28で待機する。すると通信端末ユニット15ではステ
ップS27で充放電データ要求を送り、ステップS30
で待機する。充放電ユニット161からはステップS2
9で充放電データを送る。そして通信端末ユニット15
ではステップS31で電圧・電流・時間の充放電データ
を記録し、ステップS32で容量計算などのデータ集計
処理を行ない、ステップS33で充放電集計データを記
録する。以上で充放電の処理が終了する。
【0062】測定装置による測定は、上記の充放電ユニ
ット161による測定の他に、図1〜図3に示すような
測定装置による測定がある。この測定装置は充放電機能
がなく、開放電圧や抵抗・インピーダンスの検査をする
ための測定装置である。これらは基本的に図1〜図3に
示すシステム構成から成り、とくに図2に示す測定部6
7は開放電圧の測定の場合には電圧計となり、インピー
ダンスの測定装置の場合にはLCRメータになる。選択
部68は、開閉部69と測定部67とを測定モードに合
わせて接続する。開閉部69は選択部68に接続するフ
ィクスチャ14のチャンネルを選択する。ここで制御部
17が図3に示す構成になっている。
【0063】2.測定精度検査装置 測定精度検査装置は上述の測定装置による測定精度が正
しい精度になっているかどうか、あるいはまた測定が正
しい状態で行なわれているかどうかを検査するための装
置である。
【0064】(1)システム構成 図17および図18はこの測定精度検査装置53のシス
テム構成を示している。制御手段50は市販のパソコン
50a、LANインターフェース50b、およびI/O
装置50cから構成される。パソコン50aは表示装置
を含んでいる。LANインターフェース50bは制御手
段50と他の制御装置との通信のためのもので、LAN
ケーブルによって充放電装置541に接続される。
【0065】I/O装置50cは16ビットのデジタル
出力ができるボードであって、切替装置29およびボー
ド切替手段41に接続される。パソコン50aとDMM
(デジタルマルチメータ、電流・電圧測定器)39の通
信はシリアル方式RS−232Cによって行なわれる。
モード41の切替えは制御手段50からの充電放電・電
圧・電流のモードによってI/O装置50cの出力で行
なうように構成される。また制御手段50と充放電装置
541との通信はTCP/IPで行なわれる。
【0066】パソコン50aにはプログラムによって精
度検査の条件設定、結果表示、データ保存、充放電ユニ
ット161との通信、切替装置29の制御、モード切替
手段41の制御、デジタルマルチメータ39の制御の機
能を持たせる。デジタルマルチメータ(DMM)39、
直流電源40、測定装置54、フィクスチャ14につい
ては上述の測定装置の項で説明したのでその説明を省略
する。
【0067】モード切替手段41は充電・放電、電圧・
電流のモードにおいてDMM39やDC電源40が切替
装置29に対して適切な接続になるように切替える回路
であって、図21に示す測定切替部と同じ構成である。
この回路のスイッチを表1に示すように切替えればそれ
ぞれの測定に適した接続が達成される。
【0068】
【表1】 ここで精度測定装置の制御手段50にノート型パーソナ
ルコンピュータ50a(ソニー株式会社製PCG−88
8)にマイクロソフト製OSのWindows98をイ
ンストールしたものを、またLANインターフェース5
0bとしてエレコム社製LANEED LD−CDF
を、I/O装置50cとしてコンテック社製PIO−2
4W(PM)から構成した。パソコン50aにインスト
ールするプログラムは、マイクロソフト社製Visua
l C++によって作成した。
【0069】DMM(デジタルマルチメータ)39は、
日本ヒューレット・パッカード社製34401A、直流
電源40は菊水電子工業株式会社製PAK20−18を
使用し、モード切替手段41としてMOSFET(日本
電気株式会社製μPA1751)によって構成した。切
替装置29、充放電装置541、およびフィクスチャ1
4については既に説明したので省略する。このような装
置によって測定装置の精度設定および測定精度を約10
分間で検査することができ、迅速かつ正確に検査できる
ことが確認された。
【0070】次に図17および図18において用いられ
る切替装置29の回路構成を図19によって説明する。
図19において破線で囲まれた領域が切替え装置29の
内部であって、アドレスデコーダ部72、ボード番号設
定部(DIPスイッチ)73、チャンネル切替手段61
を備えている。切替装置29の外部には、アドレスエン
コーダ71、デジタルマルチメータ(DMM)39、直
流(DC)電源52を接続して使用する。また切替装置
29は充放電装置541のフィクスチャ14にセットで
使用されるために、フィクスチャ14とチャンネル切替
手段61に接続される。
【0071】直流電源52は測定対象の測定装置の1チ
ャンネル分の能力に合った直流電圧・電流を出力できる
ものであってよく、放電モード時にチャンネル切替手段
61に接続される。
【0072】チャンネル切替手段61の回路は、図20
に示されるように、例えばMOSFETから構成され、
MOS FETのゲートによってドレインとソースとの
間の開閉を制御する。MOS FETに代えて電子リレ
ーを使用し、コイルの通電によって接点の開閉を制御し
てもよい。
【0073】次に図19に示すボード番号設定部73は
4ビットのDIPスイッチから成り、アドレスデコーダ
部72に接続され、個々のボードアッシの番号を設定す
る。これは1つの切替装置29に10個のボードアッシ
を実装するのでその個別番号になる。
【0074】アドレスデコーダ部72は、論理回路から
構成され、アドレスエンコーダ71、ボード番号設定部
73、およびチャンネル切替手段61に接続され、アド
レスエンコーダ71から送られたアドレスデータによっ
てチャンネル切替手段61の指定されたチャンネルのス
イッチを閉じるように出力する。
【0075】この回路の具体的な構成が図21に示され
る。この回路においてチャンネル1を使用する場合に
は、S6、S7をONにする。よってこの場合には切替
装置29を測定装置54のフィクスチャ14にセット
し、アドレスエンコーダ71、デシダルマルチメータ3
9、および放電試験の場合には直流電源52を接続し、
アドレスデコーダ部72によって測定したいチャンネル
を指定すれば、デジタルマルチメータ39でフィクスチ
ャ14にかかる電圧またはフィクスチャ14を通る電圧
を測定することが可能になる。
【0076】なおこの切替スイッチ29において、アド
レスエンコーダ71としてDIP式のデジタルスイッチ
が使用され、設定する電圧・電流の値を直接入力するよ
うにした。またデジタルマルチメータ39は直流電圧・
直流電流を測定でき、しかもRS−232Cによって通
信できる、日本ヒューレット・パッカード社製の344
01Aを使用した。
【0077】直流電源52は、電池相当の、4.2Vで
1A以上の出力が出せるように、菊水電子工業株式会社
製PAK20−18Aを使用した。切替部61の回路
は、表面実装型MOS FET(日本電気株式会社製μ
−PA1751)によって構成した。ボード番号設定部
73は4ビットのDIPスイッチを使用した。
【0078】アドレスデコーダ72は、PLD(パルテ
ック社製ALTERA EPM7128)にプログラミ
ングした論理回路で構成した。この構成によって、測定
したいチャンネルを指定し、デジタルマルチメータ39
でフィクスチャ14にかかる電圧またはフィクスチャ1
4を通る電圧を測定することができるようになった。
【0079】(2)チャンネル切替装置測定精度検査装
置における切替装置29は、測定装置54のフィクスチ
ャ14に設置することができるようにするために、外形
寸法や電極の位置を、測定装置54のフィクスチャ14
に装填される被測定物の容器であるトレイ1の外形寸法
や、同トレイ1に入れた被測定物である二次電池4の電
極の配置と同じようにしている。
【0080】この切替装置29の筐体は軽量な金属製の
板から作製し、電極は導電性の金属板から作製する。外
部接続端子として多極コネクタを筐体の1つに取付け、
電極対の切替手段となる選択回路としてデジタルICで
デコーダ回路を、それぞれの電極と外部接続端子とを接
続するスイッチ回路として図20に示すように、それぞ
れのチャンネルの正極側および負極側に1つずつ、外部
から開閉をできるようなスイッチ、例えばリレーやMO
S型FETによってチャンネル切替手段61を構成して
いる。
【0081】図19に示すようにアドレスデコーダ回路
72は外部接続端子から信号を受取り、指定されたチャ
ンネルのスイッチ回路を開閉するような出力を発生す
る。この切替装置29は、外部接続端子に電圧・電流計
(デジタルマルチメータ)39や直流電源装置52を接
続し、選択回路によってスイッチ回路を切替えることに
よって、外部接続端子に接続される電極位置を指定でき
るようにし、測定装置54のフィクスチャ14に装填し
たときに任意のチャンネルを選んで電圧・電流を外部で
測定することができるようにしている。
【0082】図22にこの切替装置29の外観を示す。
切替装置29の外形寸法は、電池製造ラインで使用され
る電池トレイ1と同一形状でかつ同じ寸法であって、フ
ィクスチャ14とトレイ1に位置決め用の凹凸等の構造
があれば切替装置29もその形状を同じくして測定装置
54のフィクスチャ14に電池トレイ1と同様にセット
することができるようにする。
【0083】図23に切替装置29の構造を示してい
る。枠31は金属、例えばアルミニウム製の板から構成
され、4枚の板をビスで結合して偏平な正方形の枠体構
造としたものである。ここで向い合う2枚の板31にそ
れぞれ溝を設け、ボードアッシ30を溝に合わせて挿入
できるようにしている。
【0084】カバー34、35、36、37は薄い金属
板、例えばアルミニウム板を板金加工して箱状にしたも
ので、枠31にビスで取付け、ケーブル32、33の保
護および外形を形成するようにしている。この内カバー
34はケーブル32、33を通す穴を形成している。カ
バー36の底部にはガイドピン用穴2が形成されてい
る。
【0085】ボードアッシ30は枠31の内側の溝に沿
って挿入された後に、ケーブル32、33を枠31の側
面に形成した穴31aを通して接続している。ケーブル
32、33はカバー34の穴を挿通し、最後にケーブル
カバー34、35、36、37をビス枠31で装着して
いる。
【0086】図24はボードアッシ30の主要な部品を
構成するプリント基板30aを示しており、両端にコネ
クタJ1、J2がマウントされている。J1は外部から
のDC電源供給および外部測定器への接続のためのもの
であって、ケーブル32と接続される。コネクタJ2は
制御信号用線であって、ケーブル33と接続される。ボ
ード30aの上下にはそれぞれランド30dが形成さ
れ、これらが電極30cに接続される。
【0087】図25は樹脂製の補強板30bを示してい
る。プリント基板30aだけでは電極30cを支える厚
みや強度が不足するために補強板30bが使用される。
ボードアッシ30は金属製の電極30cを備え、プリン
ト基板30aのランド30dに接続されている。そして
この電極30cがフィクスチャ14のコンタクトピン7
に接触する。なお電極30cは図26に示すような形状
をなしている。
【0088】プリント基板30aを図23に示すように
補強板30bに重合わせ、上下10カ所ずつ、合計20
カ所に電極30cを取付けた後に、電極30cの穴を通
してM3のビスでプリント基板30a、補強板30b、
および電極30cを固定する。下の電極30cから上の
電極30cまでの距離は二次電池4の高さと同じく、例
えば65mmの寸法であってよい。
【0089】ここで切替装置29のより具体的な構造に
ついて説明する。図22に示す切替装置29の具体的な
外形寸法は、電池トレイ1と同じで縦600mm、横6
00mm、高さ80mmであって、測定装置54のフィ
クスチャ14に電池トレイ1と同様にセットすることが
できるようになっている。
【0090】また切替装置29の枠31は厚さが10m
mのアルミニウム板を用いて組立てるようにし、カバー
34、35、36、37は厚さが1.5mmのアルミニ
ウム板から製作した。
【0091】また図24に示すプリント基板30aの切
替回路にはMOS FET(日本電気株式会社製μPA
1751)を使用し、コネクタJ1にはメタルカバー付
きのコネクタを、コネクタJ2はMIL規格のフラット
ケーブル用コネクタを使用した。補強板30bはアクリ
ル板を使用した。電極30cは厚さが0.3mmの銅板
に金メッキ処理を施したものを使用した。ボードアッシ
を組立てたときの下の電極30cから上の電極30cま
での距離は、二次電池4の高さと同じ65mmになっ
た。
【0092】(3)精度測定 以上のような構成の測定精度検査装置の測定動作を図2
7によって説明する。まずステップS0で制御手段50
に条件設定を予め入力しておく。条件設定項目は、充電
・放電の区別、電圧・電流の区別、充電上限電流設定
値、充電定電流設定値、放電定電流設定値、充電電圧設
定値の上限・下限、充電電圧測定値である。
【0093】このような条件設定の下で動作を開始する
と、ステップS1で制御手段50がDMM39のモード
を電圧か電流に設定する。また充放電装置541のフィ
クスチャ14とDMM39および直流電源40の接続状
態が測定モードに合うようにモード切替手段41を切替
える。
【0094】次にステップS2で制御手段50から測定
装置54に設定条件が送信される。するとステップS1
2で待機している測定装置54はステップS13で充放
電条件を設定し、ステップS14で待機する。
【0095】測定精度検査装置53ではステップS3で
チャンネル設定と開始信号が送信される。すると測定装
置54ではステップS15でコマンドを解析し、チャン
ネル設定・開始信号であればチャンネルで充電、または
放電モードとなり、ステップS16へ行く。測定終了信
号であればステップS20で充放電モードを解除する。
【0096】ステップS15でコマンドがチャンネル指
定のときは、ステップS16で指定されたチャンネルを
設定し、充放電が開始され、ステップS17で待機す
る。その状態のまま、検査装置53はステップS4で制
御装置から切替装置29にチャンネル設定を行なう。こ
の段階で測定の準備が完了する。
【0097】次にステップS5で制御手段50から充放
電装置541にコマンドを発行し、ステップS18で充
放電装置541が電圧・電流を測定し、ステップS19
で測定データを充放電装置541から制御手段50へ送
る。すると検査装置53側ではステップS7で充放電装
置54から送られてきたデータを保存し、次にステップ
S8で制御手段50からDMM39にトリガコマンドを
発行し、DMM39は電圧・電流を測定してその結果を
測定手段50に送り、ステップS9でデータを保存す
る。
【0098】次にステップS10で全チャンネルの測定
が終了したかどうかを判断し、そうでない場合にはステ
ップS3に戻って次のチャンネルを同様に処理する。こ
れを繰返すことによって、全チャンネルを充放電装置5
41と測定精度検査装置53の両方で測定する。
【0099】全チャンネルの測定が終ると、ステップS
11で測定精度検査装置53から測定装置54へ充放電
終了コマンドを送る。すると測定装置54では充放電の
測定を終了し、ステップS21で充放電の測定終了信号
を送る。すると制御手段50はステップS23でデータ
を集計し、ステップS24で表示する。
【0100】次に上記の測定精度検査装置53による時
間精度確認の処理動作を図28によって説明する。図1
7および図18に示す測定精度検査装置53は、制御手
段50に内蔵する時計を基準の時計として、測定装置5
4にある時間測定機能を使用して、測定時間を測定し、
測定装置54が測定を開始してから終了するまでの時間
を測定精度検査装置53によって測定する。
【0101】例えば測定装置54が充放電装置541に
代ったならば、充電コマンドを利用して次のように行な
う。制御手段50の動作は、まず充放電装置541に充
電時間を設定し、制御手段50から充放電装置541に
充電開始コマンドを出し、制御手段50内の時計で時刻
を記録して待機する。一方充放電装置541では、時間
を含む条件設定を受信すると、充放電条件を設定し、充
放電開始コマンドを受信すると充放電を開始し、すぐに
時間計測を開始し、充放電監視を行なう。充放電が終了
すれば、すぐに時間計測を停止し、その時間を含む信号
を制御手段50に送る。
【0102】制御手段50が充電終了信号を受信する
と、制御手段50内の時計で時刻を記録し、この時刻と
充電開始時に制御手段50が記録した時刻との差を求
め、この値と充電時間の設定値、充放電装置541が記
録した充放電時間を表示する。
【0103】なおここで充電コマンドを利用した例を示
したが、充電コマンドに代えて放電コマンドを利用して
もよい。要するに測定装置54に用意されている時間測
定機能を含むコマンドを使用すればよい。また測定装置
54に充放電装置を使用した例であったが、これは他の
測定装置、例えば図1および図2に示すような開放電圧
測定装置であってもよい。要するに測定装置内に時計計
測機能がある装置であれば測定が可能である。
【0104】時間精度測定の具体的な動作を図28のフ
ローチャートによって順を追って説明する。上記測定精
度検査装置53による時間設定・精度測定の処理の制御
動作は、まずステップS1で制御手段50から充放電装
置541に充電時間、その他の条件を設定し、ステップ
S2で制御手段50から充放電装置541に充電開始コ
マンドを出し、ステップS3で制御手段50内の時計で
時刻を記録する。そしてステップS4で待機する。
【0105】一方充放電装置541ではまずステップS
11で待機し、条件設定を受信するとステップS12で
充放電条件を設定し、ステップS13で待機する。充放
電開始コマンドを受信するとステップS14で充放電を
開始し、ステップS15で図16に示す充放電監視を行
なう。
【0106】ステップS17で充放電が終了すればステ
ップS18で時間計測を停止する。このときの時間の計
測値が充放電時間である。そしてステップS19で充放
電時間を含む充放電終了信号を送る。制御手段50が充
放電終了信号を受信すると、ステップS5で制御手段5
0内の時計で時刻を記録し、ステップS5で記録した時
刻とステップS3で記録した時刻の差をステップS6で
求める。この差の値が制御手段50で測定した充放電時
間になる。ステップS7でその値と設定充電時間と、充
放電装置54が記録した充電時間とを表示する。
【0107】(4)アナログ値とデジタル値の変換 本実施の形態の測定装置の測定精度検査装置53は、こ
の検査装置によって得らた電気的物理量を測定データを
利用して測定装置54による測定を正確にするものであ
る。以下にその一例として、充放電装置541の電圧・
電流測定値を校正する場合の基本的に原理を説明する。
【0108】このような測定装置54の電圧・電流測定
系にはA/Dコンバータを使用している場合がほとんど
である。この場合にA/Dコンバータの変換結果に補正
データを加えて誤差を補正することができるので、上記
精度検査処理結果のデータを利用して補正することによ
って、自動的な校正ができる。その方法を図29によっ
説明する。
【0109】図29において、 x:アナログ値 y:デジタル値 とする。A/D変換の結果であるデジタル値から元のア
ナログ値を求める方法を導く。今、充放電装置541、
検査装置53等の測定装置でxの値を2点測定し、 b1 (x1 ,y1 ) b2 (x2 ,y2 ) が得られたとする。この2点b1 、b2 を通る直線を 直線B:Y=ax+b・・・・式1 とする。この式を変形して x=(y−b)/a・・・・式2 でデジタル値からアナログ値が求められる。通常の測定
装置は式2に基いて電圧・電流等のアナログ値を算出し
ている。
【0110】しかし直線Bはオフセット誤差、ゲイン誤
差を含んでいる。オフセット誤差はbの値に対する誤
差、ゲイン誤差はaの値に対する誤差である。真のDA
変換またはAD変換の関係を表している直線を 直線A:y=aa x+ba ・・・・式3 とする。ここで aa :真のaの値 ba :真のbの値 とすると、ゲイン誤差は直線の傾きaとaa の差、オフ
セット誤差はx=0のときのbとba の差で表される。
【0111】ここで測定装置54のデジタル値がy1 ,
y2 のときにアナログ出力値がx1,x2 と求められた
が、より正確に校正された外部測定器で測定した値がx
1a,x2aであったとする。これらを真の値とみなし、こ
のときの真のa,bの値aa,ba は、 aa =(y2 −y1 )/(x2a−x1a)・・・・式4 ba =y1 −{(y2 −y1 )/(x2a−x1a)}x1a・・・・式5 と求められる。よってこれらの値aa ,ba の値を式2に代入し、 x=(x2a−x1a)(y−y1 )/(y2 −y1 )+x1a・・・・式6 とすることにより正確なxの値を求めることができる。
【0112】以上の原理を応用し、本発明では、まず電
圧・電流をそれぞれについて2点の測定を行ない、これ
らの値を式4、式5に代入することによって、aa ,b
a の値が求められ、これらを式2に代入することによっ
て正確に測定結果が得られるようになる。よって求めら
れたaa ,ba の値を測定装置54が保存するようにす
れば、充放電時の電圧・電流測定において、測定精度検
査装置53が測定した値と測定装置54が測定した値が
同じになるように調整することができる。
【0113】また同様の方法で電流測定値もより正確に
求められるようになる。なおここでは測定値の修正のた
めにA/Dコンバータによる変換の結果であるデジタル
値からアナログ値を求める方法に関する修正方法を示し
たが、同様の考え方でアナログ値からデジタル値を求め
ることもできる。よって電圧・電流の設定値を修正する
こともできる。
【0114】このように測定精度検査装置53は、充放
電装置541の電圧・電流測定系に図6に示すA/Dコ
ンバータ27、28を使用しているので、A/D変換結
果を上記精度確認処理結果データを利用して上述のよう
に補正することにより、自動的に校正ができる。本実施
の形態においては以下のような処理をVisualC+
+によるプログラムで行なうようにした。
【0115】すなわちまず測定精度検査装置53の直流
電源40の出力電圧を0Vにし、出力値を測定装置54
と校正された測定器で測定した値を記録する。次に電圧
設定を4Vにし、同様に測定した値を記録する。これら
の値を上記の式4、式5に代入することによってaa ,
ba の値が求められ、これらを式2に代入することによ
って、正確な測定結果が得られた。
【0116】(5)配線検査 次にこの測定精度検査装置53による配線検査について
説明する。図30および図31はこの配線検査を充放電
ユニット161に適用した例を示している。
【0117】充放電ユニット161からピンボード6へ
の配線が正しい図30の場合には、充放電ユニット16
1から見てCHIのみに充電電圧を出力し、トレイ型切
替器29のスイッチSW1のみを閉じる。するとCH1
のみに電流が流れるために、充放電ユニット161では
CH1のみに電流が流れていることが検出できる。また
トレイ型切替器29でも、チャンネルを選んで電流を測
定できるのでCH1に電流が流れていることが確認でき
る。
【0118】これに対して充放電ユニット161から上
側のピンボード6への配線の内のCH1とCH2とが間
違えて入替っている図31に示す場合には、充放電ユニ
ット161からCH1のみに出力し、トレイ型切替器2
9のスイッチSW1を閉じても回路が閉ループにならな
いので電流が流れない。よって充放電ユニット161ま
たは検査装置53で電流が流れているかどうかを検査す
れば配線の正誤およびコンタクトピン7の接触の良否が
確認できる。
【0119】また同様に、図30において充放電ユニッ
ト161からCH1のみに充電電圧を出力し、トレイ型
切替器29のスイッチSW1〜SW3はどれも閉じない
で、トレイ型切替器29でチャンネルCH1を選んでマ
スター装置で電圧を測定すると、設定した電圧がかかっ
ていることが確認できる。
【0120】ところが図31の場合には充放電ユニット
161からCH1のみに出力しても正極側の回路が接続
されていないので電圧が0Vになる。よって充放電ユニ
ット161または検査装置53で電圧がかかっているか
どうかでの配線の正誤およびコンタクトピン7の接触の
良否が確認できる。
【0121】またその他の例としては、開放電圧検査装
置の場合には、測定精度検査装置53に備えられた直流
電源40からトレイ型切替器29を通して測定装置54
へ出力し、測定装置54の1つのチャンネルだけで電圧
または電流を測定することによって、同様の配線検査が
できる。
【0122】以上の原理を利用して、上記精度測定シス
テムにおいて、1チャンネルだけに電源出力をし、その
チャンネルの電圧または電流を測定し、測定装置54か
らフィクスチャ14への配線が正しければ設定値に近い
値が測定される。これに対して配線がもし間違えたり、
断線や接触不良があれば設定値に近い値は測定されな
い。よって1チャンネルだけに出力し、電圧または電流
を測定し、これを全チャンネルについて行なうことによ
り、配線が正常かどうかを容易に確認することができ
る。
【0123】このような配線確認は、上記測定精度検査
装置を利用し、Visual C++でプログラム化す
ることによって実現された。測定精度検査装置53から
電源を供給し、電圧設定を4V、電流設定を1Aとし、
測定装置54で測定した電流が1A+/−50mA以内
かどうかを検査し、表示するようにしたことで配線の正
誤およびコンタクトピンの接触の良否が確認できるよう
になった。
【0124】3.抵抗・インピーダンス精度測定・検査
装置 (1)システム構成 本実施の形態の測定精度検査装置53は、インピーダン
ス測定検査システムを含んでいる。図32に示すように
この測定精度検査装置53は、標準抵抗装置42と、制
御手段50と、抵抗・インピーダンス測定手段55と、
標準抵抗装置42と抵抗・インピーダンス測定手段55
との接続手段56とを含む検査装置53と、制御装置お
よびフィクスチャ14を含む測定装置54とから構成さ
れる。なおこの構成の具体的なブロックは、図33に示
される。
【0125】この構成において、制御手段50は上述の
電圧・電流精度測定システムの制御手段と同一の構成に
なっているために、その説明を省略する。測定手段55
は、抵抗を測定する場合にはミリオームメータから構成
され、インピーダンスを測定する場合にはLCRメータ
から構成される。どちらも4本1組の測定用端子を具備
する。接続手段56はリレーまたはFET等による1接
点スイッチを4回路内蔵しており、これらの開閉は制御
手段50から制御できるようにしている。
【0126】図32に示すシステムの測定装置54は図
1に示す装置と同じ装置であってよく、抵抗またはイン
ピーダンスが測定できる測定装置であって、フィクスチ
ャ14には1チャンネルにつき正極2ピン、負極2ピン
の4ピンで構成し、測定ユニット16がフィクスチャ1
4と通信端末ユニット15との間に接続される。
【0127】このような装置における測定ユニットの構
成は図2に示される。制御部17は通信部および処理部
から成り、通信端末ユニット15、測定部67、選択部
68、開閉部69との通信をする。測定部67は抵抗ま
たインピーダンスが測定できる測定器で、制御部17か
らのトリガ信号によって測定し、制御部17に測定値を
送るようになっている。選択部68は測定部67が測定
するチャンネルを選択する回路で、アドレスデコーダ、
MOS FET等のスイッチ回路から成る。開閉部69
は各チャンネルの外部との接続を制御部17からの信号
によって開閉するようになっている。
【0128】図32において制御手段50と測定装置5
4とはLANケーブルでつながっており、コマンド、デ
ータの通信ができるようになっている。制御手段50と
測定手段55とはシリアル信号ケーブルでつながってお
り、コマンド、データの通信ができるようになってい
る。制御手段50からI/O出力が接続手段56へつな
がれており、開閉制御できるようになっている。測定手
段55の測定端子は接続手段56につながっており、接
続手段56から標準抵抗装置42へケーブルで接続され
ている。制御手段50は、測定手段55で測定しようと
するときは測定手段56を制御し、標準抵抗装置42と
測定手段55とを接続し、それ以外のときには接続を開
く。標準抵抗装置42は測定装置54のフィクスチャ1
4に設置することによって測定装置54に接続される。
【0129】このようなインピーダンス測定精度検査装
置のシステム構成を図33によってさらに詳細に説明す
る。測定装置54はすでに述べた通りである。またパー
ソナルコンピュータ50aは上述の電圧・電流精度検査
システムの制御手段と同じ構成である。よってその説明
を省略する。測定手段55はインピーダンスを測定でき
るLCRメータ(日本ヒューレット・パッカード社製4
263B)であって、4本1組の測定用端子を有してい
る。接続手段56はMOS FETによる1接点のスイ
ッチを4回路内蔵しており、これらのドレイン、ソース
を標準抵抗装置42およびLCRメータ55に接続して
いる。またゲートをI/O装置50cに接続したことに
よって、制御手段であるパーソナルコンピュータ50a
から開閉制御できるようになっている。
【0130】測定装置54は図1に示すような抵抗また
はインピーダンスを測定できる測定ユニット16から構
成され、フィクスチャ14は1チャンネルにつき正極2
ピン、負極2ピンの4ピンで構成され、充放電ユニット
を測定ユニット16に置換えること以外は図4に示す充
放電装置と同じである。
【0131】図2に示す測定ユニット16の構成は、制
御部17がLANインターフェースおよびIEEE48
8規格による通信部、マイクロコンピュータ(日立製作
所製H8/3004)による処理部から成る。測定部6
7はLCRメータ(日本ヒューレット・パッカード製4
263B)で、選択部68はアドレスデコーダIC(テ
キサスインスツルメント社製74HC138)、MOS
FET(日本電気製μPA1751)によるスイッチ
回路から成る。開閉部69はMOS FET(日本電気
製μPA1751)によるスイッチ回路から成る。
【0132】図33において制御手段50と通信端末ユ
ニット15とは10BASE−TのLANケーブルで接
続される。パーソナルコンピュータ50aと測定手段5
5とは変換器74を介してケーブルによって互いにつな
がっており、変換器74は通信方式をシリアル(RS−
232C)とIEEE488との間で変換する。I/O
装置50cと接続手段56の間はフラットケーブルで接
続される。測定手段55と接続手段56、接続手段56
と標準抵抗装置42の間はそれぞれ4本の同軸ケーブル
5C−2Vで接続される。
【0133】(2)標準抵抗装置 このような抵抗・インピーダンス測定および検査に用い
られる標準抵抗装置42について図34〜図36により
説明する。この装置の外形は測定精度検査装置53の切
替装置29と同様に、測定装置54のフィクスチャ14
に装填できる大きさになっている。なお電極について
は、電池トレイ1に入れた二次電池4の正極および負極
と同じ位置に配置することができる。すなわち総てのチ
ャンネル位置に抵抗を配置することができる。この場合
にはチャンネルの数に相当する抵抗を必要とする。
【0134】これに対して全体を1つにまとめることに
よってより簡潔になる。すなわち図34〜図36に示す
ように、絶縁物から成る外枠47に金属製の天板45を
正極側に、底板46を負極側にして1枚ずつ取付け、そ
の間に単一の抵抗43を接続する。
【0135】正確な抵抗値が分っている標準抵抗43を
内側に取付け、その一端を電線48によって天板45
に、他端を電線48によって底板46に接続することに
よって、測定装置54で二次電池の代りに本装置の抵抗
値を測定する。その際に抵抗43と電極45、46とは
なるべく太い線で最短距離で接続し、線48による抵抗
の増加を最小限にする。さらに外部で抵抗の値を測定す
るために、抵抗43の両端から2本ずつ同軸ケーブル4
9を出し、筐体側のコネクタ44に接続する(図35参
照)。
【0136】標準抵抗装置42のより具体的な構造につ
いて説明すると、この標準抵抗装置42の天板45と底
板46とは厚さが2mmの銅板から構成した。なおここ
でこれらの天板45および底板46の表面に金メッキが
施されている。内部には抵抗値が60mΩの標準抵抗4
3を取付け、その両端に断面が3.5mm2 の電線48
と2本の同軸ケーブル49の心線を半田付けし、一端に
接続した電線48を天板45の中央部に半田付けし、も
う一端に接続した電線48を底板49の中央部に半田付
けした。そして抵抗43に接続した4本の同軸ケーブル
49のもう一端をそれぞれコネクタ44に半田付けして
いる。
【0137】天板45と底板46とは絶縁体、例えばア
クリル樹脂でできた外枠47にビスで固定している。外
枠47には測定装置54のフィクスチャ14に備えられ
た位置決めピンに合うような穴があけられている。
【0138】このようにして天板45と底板46の任意
の位置にミリオームメータまたはLCRメータのプロー
ブを接続しても、コネクタ44に同様に測定器を接続し
てもほぼ同じ抵抗またはインピーダンス値が得られた。
この標準抵抗装置42を測定装置54にセットして測定
装置54で全チャンネルの抵抗・インピーダンスを測定
し、次にコネクタ44に接続した校正済みの測定器55
によって、抵抗・インピーダンスを測定し、両者を比較
することによってインピーダンス測定の良否の判断がで
きた。
【0139】(3)測定動作抵抗・インピーダンス測定
精度検査方法は、標準抵抗装置42を測定装置54のフ
ィクスチャ14に装填し、測定装置54によって標準抵
抗装置42の標準抵抗43またはインピーダンスを測定
し、一方測定装置54以外の校正された測定手段55に
よって抵抗またはインピーダンスを測定し、両者を比較
する方法である。
【0140】まず標準抵抗装置42を測定装置54のフ
ィクスチャ14に装填し、測定装置54によって標準抵
抗42の抵抗またはインピーダンスを測定する。また測
定装置54以外の校正された測定手段55によって抵抗
またはインピーダンスを測定する。なおこれら2つの測
定の順序はどちらが先でも良い。そしてこれら2つの測
定の結果を並べ、その差を求めてディスプレイ上に表示
したり、データを保存したりすることによって、抵抗ま
たはインピーダンスの測定精度が検査される。
【0141】図37に示すフローチャートに基いてイン
ピーダンス設定・測定精度確認の方法を説明する。まず
ステップS0で制御手段50に精度確認の条件、すなわ
ち測定誤差許容値を設定する。精度確認動作を開始する
とステップS1でLCRメータ55の測定モードをイン
ピーダンスに設定し、接続手段56のスイッチを閉じ
る。次いでステップS2で測定装置54に測定モード・
条件設定を送信する。次にステップS3でLCRメータ
55に測定コマンドを発行すると、LCRメータ55が
インピーダンス測定を実行し、結果を送信するのでステ
ップS4で結果を保存する。
【0142】次にステップS5で接続手段56の回路を
開にしてステップS6で測定装置54にチャンネル設定
を送信する。次にステップS7で測定装置54に測定コ
マンドを発行する。そしてステップS8で待機し、測定
装置54から測定データが来ると、ステップS9で保存
する。
【0143】次にステップS10で全チャンネルの測定
が終了したかどうかを確認し、終了していなければステ
ップS6に戻って次のチャンネルを測定する。
【0144】測定装置54側の動作はまずステップS1
2で待機し、制御手段50から設定信号を受信すると、
ステップS13で測定モード・条件を設定し、ステップ
S14で待機する。制御手段50からコマンドを受信す
ると、ステップS15でコマンドを解析し、チャンネル
設定コマンドならステップS16で設定するチャンネル
を設定し、ステップS17で待機する。
【0145】制御手段50からの測定コマンドを受信す
ると、ステップS18でインピーダンスを測定し、ステ
ップS19で測定データを制御手段50へ送り、ステッ
プS14に戻って待機し、次のチャンネルの測定を行な
う。
【0146】そして総てのチャンネルの測定を終了しな
らば、ステップS14で測定終了コマンドを受信するた
めに、ステップS15で測定終了を確認してステップ2
0でモードを解除し、ステップS21で測定終了信号を
制御手段50に送り、ステップS12に戻って待機す
る。
【0147】制御手段50ではステップS10で全チャ
ンネル終了と判断された場合には、ステップS11で測
定終了コマンドを測定装置54に送り、ステップS22
で待機する。測定終了信号を受信すればステップS23
で結果を処理し、ステップS24で表示する。このよう
な処理を制御手段50および測定装置54にプログラム
としてインストールすることによって、インピーダンス
の精度測定ができるようになる。
【0148】なおここではインピーダンス測定の精度確
認についての例を示したが、抵抗測定においても以下に
示したLCRメータをミリオームメータに置換えれば同
様に検査ができる。
【0149】(4)抵抗・インピーダンス測定校正方法
抵抗・インピーダンス測定校正方法は、上述の精度測定
システムを使用して、測定精度検査装置53で抵抗を測
定し、その測定値を測定装置54へ送り、測定装置54
で同抵抗装置42を測定した値が検査装置53による測
定値と同じになるように測定装置54内蔵の測定手段を
修正する方法である。
【0150】ここでは測定装置54内蔵の抵抗またはイ
ンピーダンス測定装置は負荷に接続し、その負荷の正確
な値を外部から入力することによって測定値を補正でき
る機能を有するものを使用する。
【0151】図33においてまず測定精度検査装置53
内で制御手段50が接続手段56に出力を送り、標準抵
抗装置42と抵抗・インピーダンス測定手段55とを接
続する。次に制御手段50が抵抗・インピーダンス測定
手段55に測定コマンドを送り、抵抗・インピーダンス
測定手段55が抵抗またはインピーダンスを測定し、制
御手段50に測定値を送り、制御手段50は接続手段5
6に出力し、標準抵抗装置42と抵抗・インピーダンス
測定手段55の接続を解除する。
【0152】次に制御手段50が測定装置54に内蔵す
る抵抗またはインピーダンス測定手段に、検査装置53
で測定した標準抵抗装置の抵抗値またはインピーダンス
測定値を送り、測定装置54内蔵の抵抗・インピーダン
ス測定手段と標準抵抗装置42とを接続し、制御手段5
0が負荷補正コマンドを測定装置54内蔵の測定ユニッ
ト16に送ることによって、測定装置54での測定結果
を検査装置53での測定結果と同じくなるように修正す
る。
【0153】次に上記インピーダンスの精度確認システ
ムを使用して測定装置54のインピーダンス測定の校正
方法をより具体的に説明する。測定装置54のLCRメ
ータは負荷補正機能を搭載した、日本ヒューレット・パ
ッカード製4263Bを使用する。これには予め正確に
インピーダンス値の分っている標準抵抗を使用し、その
値を負荷補正標準値としてLCRメータ55に入力し、
同抵抗を接続して負荷補正を実施することで測定値が校
正されるものである。
【0154】図34〜図36に示す標準抵抗装置42に
は、測定装置54で測定する二次電池4のインピーダン
スに値が近いものを使用し、図37のフローチャートに
基いて精度確認を行なって、その結果からステップS4
で保存したインピーダンス値を標準値として測定装置5
4内のLCRメータ55を負荷補正する。なおこの精度
確認の動作は、図27に示す精度測定の動作とほぼ同様
なので、その説明を省略する。またここではインピーダ
ンス測定の構成方法の例を示したが、抵抗測定において
も負荷補正機能のあるミリオームメータを使用すれば同
様の校正ができることは勿論である。
【0155】(5)接触状態検査方法 接触状態検査方法は、図34〜図36に示す標準抵抗装
置42をフィクスチャ14に装填し、測定装置54で総
てのチャンネルの抵抗またはインピーダンスを測定し、
それらの値の中から代表的な値を求め、各チャンネルの
測定値と代表値との差を求め、その絶対値が許容偏差値
よりも小さい場合を良とし、大きい場合を不良とする方
法である。
【0156】例えば許容偏差値を5ミリオームとし、1
00ミリオームの標準抵抗装置42を測定装置54のフ
ィクスチャ14に装填する。次に測定装置54で全チャ
ンネルの抵抗値またはインピーダンス値を測定する。次
に例えば全チャンネルの測定値の中から測定値が50ミ
リオーム以下のものと150ミリオーム以上のものを除
外し、残りの平均値を代表値とする。このようにするこ
とによって、接触不良による異常値を取除いた信頼でき
る代表値が求められる。
【0157】次に全チャンネルの測定値について、代表
値との差を計算し、その値の絶対値が5ミリオーム以下
のものを接触状態良とし、それ以外を不良として表示す
る。このような処理を測定精度検査装置53によって行
なう。
【0158】図38によって接触不良検査方法の具体的
な動作を説明する。まずステップS13で測定モードを
インピーダンスに設定する。次にステップS6で測定し
ようとするチャンネルを設定する。次にステップS17
で指定したチャンネルの測定コマンドを発行する。する
とステップS18で測定され、ステップS19でデータ
が保存される。そしてステップS10で全チャンネルの
測定が終了したかどうかを確認し、そうであればステッ
プS20に進み、そうでなければステップS6に戻って
次のチャンネルを設定する。
【0159】ステップS20ではインピーダンス測定モ
ードを解除し、次にステップS23で測定した全チャン
ネルの中央値を求める。中央値とは全チャンネルの測定
値を小さい順に並べたときに中央に来る値のことであ
る。これはインピーダンを測定するには4端子で測定す
るが、4ピンで測定する場合に、接触不良があると異常
に小さな値になったり、大きな値になったりするため
に、信頼できる測定値を得る方法として有効である。
【0160】次にステップS25で各チャンネルの測定
値と中央値の差を求め、その絶対値が5ミリオーム以下
のチャンネルを良とし、5ミリオーム以上であるチャン
ネルを不良とする。なぜならば標準抵抗装置42を使用
しているので、接触不良がない場合には抵抗測定値の標
準抵抗値からのずれは5ミリオーム以下となるからであ
る。そして最後にステップS24でその結果を表示す
る。
【0161】次に別の接触状態検査方法について説明す
る。この方法は、抵抗・インピーダンス測定精度検査装
置を用いて、測定装置54によって電池の抵抗またはイ
ンピーダンスを測定し、一方測定装置54以外の校正さ
れた測定器によって直流抵抗またはインピーダンスを測
定し、前者の測定値と後者の測定値の差が設定した基準
値より小さいチャンネルを良とし、大きいチャンネルを
不良とするように判断するものである。
【0162】図33において、検査装置53の例えば1
00ミリオームの抵抗値を持つ標準抵抗装置42を測定
装置54のフィクスチャ14に装填する。次に測定装置
54によって標準抵抗装置42の抵抗またはインピーダ
ンスを測定し、また検査装置53の測定手段55によっ
て抵抗またはインピーダンスを測定する。これら2つの
測定の順序はどちらでもよい。そしてこれら2つの測定
結果の差を求め、その絶対値が許容偏差値、例えば5ミ
リオーム以下のものを接触状態良とし、それ以外を不良
とすればよい。
【0163】このような接触不良検査方法は、図37に
示すフローチャートを利用して実現される。図37のフ
ローチャートにおいてステップS0〜ステップS23ま
ではインピーダンスの設定・測定精度確認の方法と同じ
処理なので説明を省略する。
【0164】ステップS4で測定した検査装置53のイ
ンピーダンス値とステップS18で測定した測定装置5
4の測定値の差をステップS23で求める。そしてステ
ップS0で設定していた許容値よりも小さいチャンネル
を良とし、大きいチャンネルを不良と判断し、ステップ
S24でその結果を表示する。なお図38に示す方法お
よび図37に示す方法によって接触不良の検査を行なう
方法を示したが、抵抗値の測定においても同様に検査が
できることは勿論である。
【0165】4.一体型測定精度検査装置 (1)切替え式測定精度検査装置 上記測定精度検査装置53は切替装置29の外側に接続
されていたが、各機器を小型化して切替装置29の筐体
内に内蔵することによって、一体型マスター装置とする
ことが可能になる。この装置を図39〜図41によって
説明する。図22と図40とを比較すれば明らかなよう
に、ケーブルが外側に出ていない構造になっていること
が特徴である。
【0166】図41に示すようにボードアッシ30、枠
31、ケーブル32、33、カバー35、36は図23
に示す切替装置と同様になっているので、その説明を省
略する。カバー36はケーブルを通す穴をあけなくてよ
い。カバー37には電池65を両面テープで接着し、D
C−DCコンバータ66が取付けられるようにねじ穴を
形成しておく。
【0167】直流電源59は小型のバッテリ65とDC
−DCコンバータ66を組合わせたものに、測定手段
(電圧・電流計)58はD/Aコンバータを使った回路
に、制御手段57はマイコンに、それぞれ置換えられ、
モード切替手段41は同回路をトレイ内に収まるように
設計変更したものを用いる。また外部の測定装置54と
通信するための通信モデム62aおよびアンテナ62b
は筐体の周囲部に配置することによって、被測定物と同
じ大きさに内蔵している。そして測定装置54側には無
線モデム62aを取付けることによって、測定精度検査
装置53と測定装置54との間で通信ができ、被測定物
と同様に自動搬送ができる一体型検査装置が得られる。
【0168】このような測定精度検査装置53の組立て
において、電池65として12Vの小型シールド型鉛蓄
電池(ユアサコーポレーション製NP2.6−12)
を、DC−DCコンバータ66は入力が12Vで、出力
が+5V,+15V,−15Vのもの(イーター電機製
VTM04C12)を、制御手段57は日立製マイコン
H8/3004を使用し、測定手段(電圧・電流計)5
8はA/Dコンバータ(アナログデバイセス社製AD9
76)を使用した回路を、接続回路は、MOSFET
(日本電気製μPA1751)を使用した回路をトレイ
内に収まるように設計し、モード切替手段41は、同M
OS FETを使った回路をカバー34内に収まるよう
にした。
【0169】また外部の測定装置54と通信するために
2.4GHz帯の無線モデム62a(豊田自動織機製5
151010)を使用し、アンテナ62bを枠31の近
くに配置することによって、電池トレイと同じ大きさの
筐体に内蔵した。そして測定装置側54にも無線モデム
を付けることで、検査装置53と測定装置54との通信
ができ、電池トレイと同様に自動搬送できる一体型精度
検査マスター装置が得られた。
【0170】(2)標準抵抗式測定精度検査装置 標準抵抗式の一体型装置は、図34〜図36に示す標準
抵抗装置42内に、抵抗・インピーダンス測定検査シス
テムの内の測定装置54を除いた総てを内蔵するように
したものである。
【0171】そのシステム構成は図42に示される。制
御手段57はマイクロコンピュータから構成され、通信
手段62、抵抗・インピーダンス測定手段58、接続手
段56との情報の入出力並びに処理を行なう。通信手段
62は無線モデム62aとアンテナ62bから構成さ
れ、制御手段57と測定装置54との通信を行なう。
【0172】抵抗・インピーダンス測定手段58は、自
動平衡ブリッジ回路とA/Dコンバータとから構成さ
れ、インピーダンスを測定してデジタル信号に変換し、
制御手段57に出力する。標準抵抗43は被測定物の抵
抗値に近い抵抗器を使用する。接続手段56はリレーま
たはMOS FETから構成され、制御手段57からの
信号によって標準抵抗43と抵抗・インピーダンス測定
手段58との接続を開閉する。この装置においては、測
定装置54と制御手段57との通信は無線モデム62a
によって行なわれる。
【0173】このような一体型マスター装置の具体的な
構成を図44を参照して説明すると、筐体は上述の如く
コネクタが外部に出ないようになっている。筐体内の電
池65は12Vのシール型鉛電池(ユアサコーポレーシ
ョン製NP2.6−12)である。DC/DCコンバー
タ66は+5V,+15V,−15Vの3出力のあるイ
ーター電機製VTM04C12を使用し、各回路へ電源
を供給するようにした。測定手段58は自動平衡ブリッ
ジ回路から構成され、接続手段56はリレーによる開閉
回路から構成され、制御手段57はマイクロコンピュー
タ(日立製H8/3004)を使用し、外部の測定装置
54と通信をするための無線モデム62aとして豊田自
動織機製5151010を使用した。そしてアンテナ6
2bをトレイの周囲部に配置することによって、電池ト
レイの大きさに内蔵した。そして測定装置54側にも無
線モデムを取付けることによって測定精度検査装置53
と測定装置54との間で通信ができ、電池トレイと同様
に自動搬送できるトレイ型精度測定マスター装置が得ら
れた。
【0174】
【発明の効果】検査装置に係る主要な発明は、測定装置
の測定精度または測定状況を測定装置と接続される検査
装置によって検査する測定装置の検査装置において、検
査装置で電気的物理量を測定し、測定結果を測定装置に
送って、測定装置による測定値が検査装置による測定値
と同じくなるように測定装置の測定手段を修正するよう
にしたものである。
【0175】このような測定装置の検査装置によれば、
電気的物理量が検査装置で測定されるとともに、測定結
果が測定装置に送られるようになり、測定装置による測
定値が検査装置による測定値と同じくなるように測定装
置の測定手段が自動的に修正されるようになる。
【0176】検査方法に関する主要な発明は、測定装置
の測定精度または測定状況を測定装置と接続される検査
装置によって検査する測定装置の検査方法において、被
測定物を測定装置に装着する被測定物装着治具とほぼ同
一の形状の検査治具を用い、検査治具に被測定物の数と
同一のチャンネルを設定し、総てのチャンネルの電気的
物理量を測定するようにしたものである。
【0177】従ってこのような測定装置の検査方法によ
れば、検査治具に設定される被測定物の数と同一のチャ
ンネルの総てについて電気的物理量が自動的に測定され
るようになり、測定装置の検査の自動化が達成されるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】測定ユニットの構成を示すブロック図である。
【図3】制御部の構成を示すブロック図である。
【図4】充放電装置の構成を示すブロック図である。
【図5】充放電ユニットの構成を示すブロック図であ
る。
【図6】制御部の構成を示すブロック図である。
【図7】電池収納トレイの平面図である。
【図8】同トレイの正面図である。
【図9】同トレイの縦断面図である。
【図10】ピンボードの平面図である。
【図11】ピンボードの縦断面図である。
【図12】ピンボードの取付けを示す拡大縦断面図であ
る。
【図13】ピンボードとトレイガイドとから成るフィク
スチャの縦断面図である。
【図14】電池トレイを装填したフィクスチャの縦断面
図である。
【図15】充放電特性の測定動作を示すフローチャート
である。
【図16】充電監視の動作を示すフローチャートであ
る。
【図17】精度検査装置のシステムを示すブロック図で
ある。
【図18】精度検査システムと測定装置との接続を示す
ブロック図である。
【図19】切替装置のブロック図である。
【図20】チャンネル切替手段の回路図である。
【図21】モード切替部の回路図である。
【図22】切替装置の外観斜視図である。
【図23】同切替装置の分解斜視図である。
【図24】プリント基板の正面図である。
【図25】補強板の斜視図である。
【図26】端子の詳細図である。
【図27】精度測定検査の動作を示すフローチャートで
ある。
【図28】時間精度確認の動作を示すフローチャートで
ある。
【図29】アナログ値とデジタル値の変換を示すグラフ
である。
【図30】正しい配線状態の充放電ユニットと切替装置
との接続を示す回路図である。
【図31】誤った配線状態の充放電ユニットと切替装置
との接続を示す回路図である。
【図32】抵抗・インピーダンス測定精度検査装置のブ
ロック図である。
【図33】測定精度検査装置と測定装置との接続を示す
ブロック図である。
【図34】標準抵抗装置の平面図である。
【図35】同標準抵抗装置の正面図である。
【図36】同標準抵抗装置の縦断面図である。
【図37】インピーダンス精度測定の動作を示すフロー
チャートである。
【図38】接触状態の検査の動作を示すフローチャート
である。
【図39】一体型マスター装置を用いた精密検査システ
ムのブロック図である。
【図40】同マスター装置の外観斜視図である。
【図41】同マスター装置の分解斜視図である。
【図42】標準抵抗を備えた一体型マスター装置の内部
の構造を示す平面図である。
【図43】同マスター装置の正面図である。
【図44】同マスター装置の分解斜視図である。
【符号の説明】
1‥‥トレイ、2‥‥ガイドピン用穴、3‥‥ロット番
号、4‥‥二次電池、5‥‥孔、6‥‥ピンボード、7
‥‥ピン、8‥‥ばね、9‥‥ナット、10‥‥ラグ
板、11‥‥被覆電線、14‥‥フィクスチャ、15‥
‥通信端末ユニット、16‥‥測定ユニット、161‥
‥充放電ユニット、17‥‥制御部、171‥‥制御
部、18‥‥充放電部、19‥‥電源部、20‥‥通信
部、21‥‥処理部、22‥‥記憶部、23〜26‥‥
DAC、27、28‥‥ADC、29‥‥切替装置、3
0‥‥ボードアッシ、31‥‥枠、32、33‥‥ケー
ブル、34〜37‥‥カバー、39‥‥DMM(デジタ
ルマルチメータ)、40‥‥DC電源、41‥‥モード
切替手段、42‥‥標準抵抗装置、43‥‥標準抵抗、
44‥‥コネクタ、45‥‥天板、46‥‥底板、47
‥‥外枠、48‥‥電線、49‥‥同軸ケーブル、50
‥‥制御手段、51‥‥電圧・電流測定手段、52‥‥
直流電源供給手段、53‥‥測定精度検査装置、54‥
‥測定装置、541‥‥充放電装置、55‥‥抵抗・イ
ンピーダンス測定手段、56‥‥接続手段、57‥‥制
御手段、58‥‥測定手段、59‥‥直流電源供給手
段、61‥‥チャンネル切替手段、62、63‥‥無線
通信手段、64‥‥一体型マスター装置、65‥‥電
池、66‥‥DC−DCコンバータ、67‥‥測定部、
68‥‥選択部、69‥‥開閉部、71‥‥アドレスエ
ンコーダ、72‥‥アドレスデコーダ、73‥‥ボード
番号設定部、74‥‥変換器

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定装置の測定精度または測定状況を前記
    測定装置と接続される検査装置によって検査する測定装
    置の検査装置において、 検査装置で電気的物理量を測定し、測定結果を測定装置
    に送って、測定装置による測定値が検査装置による測定
    値と同じくなるように前記測定装置の測定手段を修正す
    ることを特徴とする測定装置の検査装置。
  2. 【請求項2】測定する電気的物理量が電圧、電流、抵
    抗、またはインピーダンスであることを特徴とする請求
    項1に記載の測定装置の検査装置。
  3. 【請求項3】被測定物を測定装置に装着する被測定物装
    着治具とほぼ同一の形状の筐体内に検査装置を組込むよ
    うにしたことを特徴とする請求項1に記載の測定装置の
    検査装置。
  4. 【請求項4】測定装置の測定精度または測定状況を前記
    測定装置と接続される検査装置によって検査する測定装
    置の検査方法において、 被測定物を測定装置に装着する被測定物装着治具とほぼ
    同一の形状の検査治具を用い、 前記検査治具に前記被測定物の数と同一のチャンネルを
    設定し、総てのチャンネルの電気的物理量を測定するこ
    とを特徴とする測定装置の検査方法。
  5. 【請求項5】総てのチャンネルの測定装置の代表値を求
    め、あるチャンネルの測定値が代表値に近いときに良と
    し、代表値から離れているときに不良とすることを特徴
    とする請求項4に記載の測定装置の検査方法。
  6. 【請求項6】前記検査用治具に検査用被測定物を内蔵さ
    せ、前記検査用被測定物の電気的物理量を全チャンネル
    について測定装置と検査装置とでそれぞれ測定し、測定
    装置と検査装置の測定値の差が所定の値以下のときに良
    とし、所定の値よりも大きいときに不良とすることを特
    徴とする請求項4に記載の測定装置の検査方法。
  7. 【請求項7】測定装置が開始信号を発行してから終了信
    号を発行するまでの時間を前記測定装置によって測定す
    るとともに、該測定装置によって測定された時間を検査
    装置によって測定された時間と比較することを特徴とす
    る請求項4に記載の測定装置の検査方法。
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