KR20120127463A - 기판 냉각을 수반하는 이송 로봇 - Google Patents

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KR20120127463A
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cooling
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KR1020127021716A
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시니치 쿠리타
마코토 이나가와
타카유키 마츠모토
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어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
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Abstract

본 발명의 실시예는 프로세싱 챔버와 로드록 챔버 사이에서의 이송중에 기판을 냉각시키기 위해 냉각판이 그에 부착된 이송 로봇을 제공한다. 일 실시예에서, 냉각판은 이송되는 기판의 아래에서 이송 로봇에 부착된 단일의 대면적 냉각판이다. 다른 실시예에서, 냉각판은 이송중인 기판의 아래에서 이송 로봇에 부착된 기판들의 어레이이다. 냉각판은 냉각판 전체에 걸쳐서 냉각 유체를 순환시키기 위한 도관 통로를 포함할 수 있다. 냉각판은 높은 복사율의 코팅이 그에 도포되는 상부면을 가질 수 있다.

Description

기판 냉각을 수반하는 이송 로봇{TRANSFER ROBOT WITH SUBSTRATE COOLING}
본 발명의 실시예들은, 일반적으로 이송 공정 동안 기판을 냉각시키기 위해 냉각판이 그에 부착된 기판 이송 로봇에 관한 것이다.
유리, 플라스틱, 또는 다른 물질의 직사각형 시트들과 같은 기판들은, 전형적으로, 평판(flat panel) 디스플레이들, 태양광(solar) 디바이스들, 및 다른 유사한 어플리케이션들의 제조에 사용된다. 이러한 디바이스들을 형성하는 물질들은, 하나 또는 둘 이상의 프로세싱 챔버들을 갖는 프로세싱 시스템 내에서 하나 또는 둘 이상의 프로세스들에 의해 기판들 상에 증착된다. 전형적으로, 기판들은 로드록 챔버(load lock chamber)를 통해 프로세싱 시스템 내로 도입되고, 고온 프로세싱을 위하여 이송 로봇에 의해 하나 또는 둘 이상의 프로세싱 챔버들로 이송되며, 그 후 프로세싱 시스템으로부터 제거되기 전에, 냉각을 위하여 로드록 챔버로 이송된다.
통상적으로, 프로세싱 시스템들 및 설비들 내에서의 기판 처리량(throughput)이 관심사이다. 산업계는 항상, 기판 처리량을 증가시키고 시스템 및 설비 정지시간을 감축시키는 방법들을 찾고 있다. 기판이 더 빨리 프로세싱될수록, 시간당 더 많은 기판들이 프로세싱될 수 있다.
따라서, 기판 프로세싱 시스템들에서 기판 처리량을 증가시키는 장치 및 방법이 필요하다.
본 발명의 일 실시예에서, 기판 이송 로봇은 엔드 이펙터(end effector), 엔드 이펙터에 커플링되어 엔드 이펙터를 선형으로 이동시키도록 동작가능한 상부 조립체, 상부 조립체에 커플링되어 상부 조립체를 회전시키고 수직으로 이동시키도록 동작가능한 하부 조립체, 및 상부 조립체에 부착되고 엔드 이펙터의 아래에 위치되는 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 포함한다.
다른 실시예에서, 기판 이송 로봇은 수평으로 연장하는 복수의 핑거(finger)들을 갖는 엔드 이펙터, 엔드 이펙터에 커플링되어 엔드 이펙터를 수평으로 이동시키도록 동작가능한 상부 조립체, 및 상부 조립체에 부착된 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 포함하며, 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 엔드 이펙터로부터 이격되어 엔드 이펙터의 아래에 수평의 상부면을 갖는다.
또 다른 실시예에서, 기판을 프로세싱하는 방법은, 프로세싱 챔버에서 기판을 프로세싱하는 단계, 기판을 프로세싱한 후 이송 로봇의 핑거들로 프로세싱 챔버로부터 기판을 제거하는 단계, 이송 로봇에 부착된 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 사용하여 기판을 냉각시키는 단계, 및 기판을 냉각한 후 이송 로봇을 사용하여 로드록 챔버로 기판을 이송하는 단계를 포함한다. 냉각판들은 핑거들 아래에서 핑거들로부터 이격되어 있다.
본 발명의 열거된 특징들이 상세히 이해될 수 있는 방식으로 앞서 간략히 요약된 본 발명의 보다 구체적인 설명이 실시예들을 참조로 하여 이루어질 수 있는데, 이러한 실시예들의 일부는 첨부된 도면들에 예시되어 있다. 그러나, 첨부된 도면들은 본 발명의 단지 전형적인 실시예들을 도시하는 것이므로 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 간주되지 않아야 한다는 것이 주목되어야 하는데, 이는 본 발명이 다른 균등하게 유효한 실시예들을 허용할 수 있기 때문이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 챔버(multi-chamber) 기판 프로세싱 시스템의 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 로봇의 개략적인 등각도(isometric view)이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 냉각판의 개략적인 저면도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 냉각판의 개략적인 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 로봇의 개략적인 평면도이다.
도 6은 냉각판의 어레이(array)의 부분 저면도이다.
본 발명의 실시예들은 프로세싱 챔버와 로드록 챔버 사이에서의 이송중에 기판을 냉각시키기 위해 냉각판이 그에 부착된 이송 로봇을 제공한다. 일 실시예에서, 냉각판은 이송중인 기판의 아래에서 이송 로봇에 부착된 단일의 대면적(large area) 냉각판이다. 다른 실시예에서, 냉각판은 이송중인 기판의 아래에서 이송 로봇에 부착된 기판들의 어레이이다. 일 실시예에서, 냉각판은 냉각판 전체에 걸쳐서 냉각 유체를 순환시키기 위한 도관 통로를 포함한다. 일 실시예에서, 냉각판은 높은 복사율(emissivity)의 코팅이 그에 도포된(applied) 상부면을 갖는다.
도 1은 본 발명의 이송 로봇(125)의 일 실시예를 갖는 평탄한 매체들상에서의 태양 전지 제조, 유기 발광 다이오드들(OLEDS), 및 박막 트랜지스터들(TFT)의 제조에 적합한 멀티 챔버 기판 프로세싱 시스템(100)의 평면도이다. 이송 로봇(125)은 다른 프로세싱 시스템에 사용될 수 있는 것으로 고려된다. 시스템(100)은 중심 이송 챔버(115)의 둘레에 위치되는 복수의 프로세싱 챔버(105)들 및 하나 또는 둘 이상의 로드록 챔버(110)들을 포함한다. 프로세싱 챔버(105)들은 대면적 기판(120) 또는 다른 적합한 기판과 같은 평탄한 매체들의 원하는 프로세싱을 달성하기 위해, 다수의 고온 프로세스들을 완료하도록 구성될 수 있다.
엔드 이펙터(130)를 갖는 이송 로봇(125)이 중심 이송 챔버(115) 내에 위치된다. 엔드 이펙터(130)는 이송 로봇(125)의 나머지(remainder)에 의해 지지되고 그 이송 로봇(125)의 나머지에 대해 이동하여 기판(120)을 이송하도록 구성된다. 엔드 이펙터(130)는 관절부(wrist)(135)와, 그로부터 수평으로 연장하는 복수의 핑거(140)들을 포함한다. 핑거(140)들은 그 위에 기판(120)을 지지하도록 구성된다. 일 실시예에서, 이송 로봇(125)은 엔드 이펙터(130)를 중심 축을 중심으로 회전시키고 및/또는 엔드 이펙터(130)를 수직 방향으로 선형으로 이동시키도록 구성된다. 엔드 이펙터(130)는, 챔버(105, 110, 및 115)들 사이에서의 기판 이송을 촉진시키기 위하여, 이송 챔버(115)를 둘러싸는 챔버(105, 110)들 내부로 연장하고 이 챔버(105, 110)들로부터 수축되도록 이송 로봇(125)에 의해 수평 방향으로 선형으로 이동하도록 구성된다.
중심 이송 챔버(115)는 기판들의 프로세싱 동안 감소된 압력(즉, 진공)으로 유지된다. 중심 이송 챔버(115)에서의 압력은 주변 압력(즉, 시스템(100) 외부의 압력)보다 낮은 압력으로 유지될 수 있다. 중심 이송 챔버(115) 내에서 유지된 압력은 프로세싱 챔버(105)들 및/또는 로드록 챔버(110)들 내의 압력과 실질적으로 동일할 수 있다.
기판 프로세싱 동안, 기판(120)은 하나 또는 둘 이상의 프로세싱 챔버(105)들 내에서 상승한 온도로 프로세싱된다. 그 후, 기판(120)은 프로세싱 시스템(100)으로부터 제거되기 전에 냉각을 위해, 이송 로봇(125)에 의해 로드록 챔버(110)들 중 하나로 이송된다. 프로세싱 시스템의 처리량을 개선시키기 위하여, 본 발명의 실시예들은 프로세싱 챔버(105)들 중 하나로부터 로드록 챔버(110)들 중 하나로의 이송중에 기판(120)을 냉각시키기 위해, 엔드 이펙터(130)의 아래에서 이송 로봇(125)에 부착된 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들을 제공한다. 그 결과, 로드록 챔버(110)에서 기판(120)을 냉각시키는데 요구되는 시간은 상당히 감소되고, 프로세싱 시스템(100)의 처리량은 증가된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 로봇(125)의 개략적인 등각도이다. 이송 로봇(125)은 상부 조립체(202)에 커플링된 하부 조립체(201)를 포함한다. 하부 조립체(201)는 중심 축을 중심으로 엔드 이펙터(130)를 회전시키고 그리고 중심 축을 따라 수직으로(Z 방향) 이동시키도록 동작가능하다. 상부 조립체(202)는 하부 조립체(201)에 대해 엔드 이펙터(130)를 횡방향으로 또는 수평으로(X 방향) 이동시키도록 동작가능하다. 이송 로봇(125)은 엔드 이펙터(130)에 회전 운동을 제공하기 위해, 이송 로봇(125)에 커플링되는 회전 구동 시스템(도시되지 않음)을 수용하는 이송 챔버(115)(도 1)에 대해 고정되는 고정형 베이스(203; fixed base)를 포함할 수 있다.
하부 조립체(201)는 회전 구동 시스템(도시되지 않음)에 커플링되는 리프트(lift) 조립체(204)를 포함한다. 리프트 조립체(204)는 상부 조립체(202)를 상승 및 하강시킬 수 있는 임의의 적합한 리프트 조립체일 수 있다. 사용될 수 있는 리프트 조립체(204)의 일 실시예는 인용에 의해 본원에 포함되며 2008년 10월 7일자로 출원된 미국 특허출원 번호 제12/247,135호에 서술된 바와 같은 가위 타입의 리프트 조립체를 포함한다.
리프트 조립체(204)는 플랫폼(208)에 커플링되어 플랫폼(208)을 지지하며, 플랫폼(208)은 또한 상부 조립체(202)를 위한 장착면을 제공한다. 상부 조립체(202)는 엔드 이펙터(130)에 커플링되는 베이스(250)를 포함할 수 있다. 베이스(250)는 수평면에서 하부 조립체(201)에 대해 엔드 이펙터(130)를 이동시키는 선형 액츄에이터(도시되지 않음)를 포함한다.
하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 엔드 이펙터(130)의 핑거(140)들 아래에서 베이스(250)에 장착될 수 있다. 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 알루미늄 또는 스테인리스 스틸로 제조될 수 있다. 일 실시예에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 상부 조립체(202)는 단일의 대형 냉각판(126)들을 포함한다. 다른 실시예에서, 도 5에 대해 후속하여 도시 및 서술되는 바와 같이 상부 조립체(202)는 복수의 냉각판(126)들을 포함한다. 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 적합한 수단을 통해, 예컨대 용접에 의해 또는 기계적인 체결 부재들을 사용하여 베이스(250)에 장착될 수 있다. 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 실질적으로 평탄한 수평 상부면(226)을 가질 수 있으며, 이 상부면은 엔드 이펙터(130)의 핑거(140)와 실질적으로 평행한 배향을 가지며, 엔드 이펙터(130)의 핑거(140)들로부터 이격되어 있다. 일 실시예에서, 기판(120) 아래의 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 상단 평면 영역은 도 2에 도시된 바와 같이 기판(120)과 거의 동일한 평면 영역을 갖는다. 다른 실시예에서, 기판(120) 아래의 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 상단 평면 영역은 도 5에 도시된 바와 같이 기판(120)의 평면 영역보다 크다. 예를 들어, 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 0.16 평방미터를 초과할 수 있다. 또한, 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 폭은 상부 조립체(202)의 폭을 초과할 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 냉각판(126)은 기판 이송 프로세스들 동안 엔드 이펙터(130)의 핑거(140)들 상에 위치된 기판(120)(도 1)을 냉각시키는 속도(rate)를 증가시키기 위해 높은 복사율의 표면을 갖는다. 일 실시예에서, 높은 복사율의 표면을 제공하기 위해 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 상부면(226)이 코팅, 양극산화(anodized), 페인팅, 또는 비드 블래스팅(bead blasting)된다.
다른 실시예에서, 알루미늄 진공 코팅과 같은 높은 복사율의 코팅이 각각의 냉각판(126)의 상부면(226)에 도포된다. 각각의 냉각판(126)의 상부면(226) 상에 높은 복사율의 코팅이 직접 코팅될 수 있거나, 또는 압력감응형(pressure sensitive) 접착제를 이용하여 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들과 접촉하는 표면상에 높은 복사율의 알루미늄 포일에 의해 코팅이 도포될 수 있다. 높은 복사율의 알루미늄 포일은 양극산화, 페인팅, 또는 비드 블래스팅과 같은 표면처리에 대한 필요 없이, 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 상부면(226)에 도포될 수 있다.
일 실시예에서, 높은 복사율의 코팅은 약 0.7 내지 약 0.9의 복사율을 갖는다. 높은 복사율의 코팅은 약 0.3 마이크로미터 내지 약 14 마이크로미터의 두께를 가질 수 있다. 높은 복사율의 코팅은 복수의(multiple) 층들을 포함할 수 있다. 적절한 고 복사율 코팅은 이스라엘 소재의 악타르 어드밴스드 코팅즈 리미티드(Acktar Advanced Coatings, LTD)로부터 구매할 수 있다.
냉각 유체 소스(280)에 의해 제공된 냉각 유체는 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들의 전체에 걸쳐서 순환될 수 있다. 냉각 유체 소스(280)로부터 그리고 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들을 통해 냉각 유체의 흐름을 촉진시키기 위해, 하부 조립체(201) 내에 하나 또는 둘 이상의 도관들(도시되지 않음)이 제공될 수 있다. 냉각 유체는 물, 탈이온수(DI(de-ionized) water), 에틸렌 글리콜, 질소, 헬륨, 또는 열교환 매체로서 사용되는 다른 유체일 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 냉각판(126)의 개략적인 저면도이다. 입력 포트(356) 및 출력 포트(358)를 갖는 유체 도관(354)은 냉각판(126)의 바닥면(360)을 따라 구불구불한(serpentine) 또는 길고 복잡한(tortuous) 통로에 배치되는 것으로 도시된다. 이미 서술한 바와 같이, 냉각 유체 소스(280)(도 2)는 입력 포트(356)에 부착되며, 유체는 도관(354)을 통해 순환된다. 그 후, 냉각 유체는 출력 포트(358)를 빠져나오며, 그리고 냉각 유체 소스(280)(도 2) 또는 배기(exhaust) 소스(도시되지 않음)로 복귀한다.
일 실시예에서, 도관(354)은 냉각판(126)의 바닥면(360)에 형성된 연속적인 홈에 위치되며, 이 홈은 유체가 수취(受取)되는 원하는 통로를 한정한다. 홈이 형성된 후, 홈의 통로와 일치하도록 구부러진 도관(354)을 포함하는 튜브가 홈 내에 고정된다. 복수의 유지판들 또는 스트립들은, 냉각판(126)의 바닥면(360)과의 열전달 접촉으로 그리고 홈 내에 튜브를 유지시키기 위해, 튜브의 길이를 따라 이격되어 있는 불연속적인 위치들에 배치될 수 있다. 대안적으로, 도관(354)을 포함하는 튜브는 냉각판(126)의 홈을 사용하지 않고서도, 용접 또는 클램핑과 같은 적절한 수단에 의해 냉각판(126)의 바닥면(360) 또는 상단면(도시되지 않음)에 부착될 수 있다. 다른 실시예에서, 홈은 냉각판(126)의 상단면(도시되지 않음)에 형성될 수 있다. 도관(354)을 홈 내에 위치 및 유지시킨 후, 상술한 바와 같이 도관(354)을 덮는 냉각판(126)의 상단면에 높은 복사율의 포일이 도포될 수 있다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 냉각판(126)의 개략적인 단면도이다. 냉각판(126)은 냉각판(126)의 본체에 관통형성된(through-formed) 복수의 천공된 보어(472)들을 포함할 수 있는 연속적인 유체 도관(400)을 갖는다. 도시된 바와 같이, 보어(472)는 보어(474, 478)와 교차한다. 보어(474)는 보어(476)와 교차하며, 보어(478)는 보어(480)와 교차한다. 도시된 바와 같이, 보어(472)의 진입(entry) 지점은 플러그(482)로 밀봉된다. 보어(478)의 진입 지점은 플러그(484)로 밀봉되는 반면에, 보어(474)의 진입 지점은 플러그(486)로 밀봉된다. 보어(476)에 대한 진입 지점은 입구 포트(488)를 형성하는 반면에, 보어(480)의 진입 지점은 상호연결된 보어(472, 474, 476, 478, 480)들에 의해 형성된 연속적인 유체 도관(400)에 대한 출구 포트(490)를 형성한다. 도 4에는 보어들에 의해 형성된 단일의 연속적인 천공된 유체 도관(400)이 도시되지만, 냉각판(126)의 길이 또는 폭을 통해 천공함으로써 복수의 평행한 유체 도관들이 형성될 수 있음을 이해해야 한다. 대안적으로, 직렬로 연결되는 복수의 유체 도관들을 제공하기 위해 도 4에 도시된 보어들을 상호 연결하는 복수의 다른 보어들이 형성될 수도 있으며, 이는 냉각판(126)의 본체를 통하는 연속적인 또는 길고 복잡한 통로를 형성할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 로봇(125)의 개략적인 평면도이다. 도시된 바와 같이, 하나 또는 둘 이상의 냉각판(126)들은 어레이(500)로 구성되고 이송 로봇(125)의 베이스(250)에 부착된 복수의 냉각판(126)들이다. 어레이(500)는 직사각형일 수 있으며 또는 다른 기하학적 구조를 가질 수 있다. 일 실시예에서, 어레이(500)의 각각의 냉각판(126)은 도 3 또는 도 4의 서술에 따라 형성된다. 그 후, 각각의 냉각판(126)으로부터의 도관은, 예컨대 나사형 또는 용접형 커플링에 의해 직렬로 커플링될 수 있으며, 그에 따라 냉각판(126)의 어레이(500)는 냉각 유체를 전체에 걸쳐서 순환시키기 위해 배치되는 연속적인 유체 도관을 갖는 단일의 냉각판으로서 기능한다.
다른 실시예에서, 어레이(500) 내의 각각의 냉각판(126)은 이송 로봇(125)의 베이스(250)에 개별적으로 부착된다. 그 후, 도관(354)은 도 3의 단일의 대형 냉각판(126)에 대해 서술한 바와 같이 그리고 도 6에 도시된 어레이(500)의 부분 저면도로 예시된 바와 같이, 냉각판(126)의 어레이(500)의 표면에 부착될 수 있다. 도관(354)은 냉각판(126)의 어레이(500)와 열 접촉하여 위치될 수 있고 그리고 그 표면에 부착될 수 있으며, 또는 도관(354)은 도 3의 단일의 대형 냉각판(126)에 대해 서술한 바와 같이, 냉각판(126)들의 어레이(500) 내의 미리 형성된 홈 내에 위치될 수 있다. 어느 한 실시예에서도, 냉각판(126)의 어레이(500)는 냉각 유체를 전체에 걸쳐서 순환시키기 위해 배치된 연속적인 유체 도관을 갖는 단일의 냉각판으로서 기능한다.
다른 실시예에서, 어레이(500) 내의 냉각판(126)들은 각각 도 4의 서술에 따라 형성된다. 그 후, 각각의 냉각판(126)으로부터의 도관은, 예컨대 나사형 또는 용접형 커플링에 의해 직렬로 커플링될 수 있으며, 그에 따라 냉각판(126)들의 어레이(500)는 도 6에 도시된 바와 유사하게 냉각 유체를 전체에 걸쳐서 순환시키기 위해 배치되지만, 개별적인 냉각판(126) 내에 구성되는 연속적인 유체 도관을 갖는 단일의 냉각판으로서 기능하며, 인접한 냉각판(126)의 입구 포트(488)에 하나의 냉각판(126)의 출구 포트(490)가 커플링된다.
도 5에 대해 서술된 상술한 실시예들 각각에서, 전술한 바와 같이 개별적인 냉각판(126)에 또는 냉각판들의 전체 어레이(500) 위에, 높은 복사율의 코팅이 도포될 수 있다.
여기에 서술된 실시예는 프로세싱 챔버와 로드록 챔버 사이에서의 이송중에 기판을 냉각시키기 위해 냉각판이 그에 부착된 이송 로봇을 제공한다. 이미 제공된 공정 동안, 즉 기판 이송중에 기판을 냉각시킴으로써 로드록 챔버 내의 기판을 프로세싱 시스템으로부터 제거하기 전에 냉각시키는데 더 적은 시간이 사용될 수 있다. 따라서, 임의의 추가적인 프로세싱 공정들의 추가 없이도 프로세싱 시스템의 처리량이 증가된다.
상술한 바는 본 발명의 실시예들에 관한 것이지만, 그 기본적인 범위로부터의 일탈 없이 본 발명의 다른 및 추가적인 실시예들이 안출될 수 있으며, 그 범위는 하기의 특허청구범위에 의해 결정된다.

Claims (15)

  1. 엔드 이펙터;
    상기 엔드 이펙터에 커플링되어 상기 엔드 이펙터를 선형으로 이동시키도록 동작가능한 상부 조립체;
    상기 상부 조립체에 커플링되어 상기 상부 조립체를 회전시키고 수직으로 이동시키도록 동작가능한 하부 조립체; 및
    상기 상부 조립체에 부착되고 상기 엔드 이펙터 아래에 위치되는 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 포함하는, 기판 이송 로봇.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 냉각판들을 통해 냉각 유체를 순환시키기 위해 하나 또는 둘 이상의 유체 도관들이 상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들과 열 접촉하는, 기판 이송 로봇.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 유체 도관들은 상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들 내에 배치되는, 기판 이송 로봇.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 직사각형 어레이로 배열되는 복수의 냉각판들을 포함하는, 기판 이송 로봇.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 복수의 냉각판들은 함께 유체 커플링되는(fludly coupled), 기판 이송 로봇.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 높은 복사율의 코팅을 갖는 표면을 갖는, 기판 이송 로봇.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 높은 복사율의 코팅은 알루미늄 포일을 포함하는, 기판 이송 로봇.
  8. 수평으로 연장되는 복수의 핑거들을 갖는 엔드 이펙터;
    상기 엔드 이펙터에 커플링되어 상기 엔드 이펙터를 수평으로 이동시키도록 동작가능한 상부 조립체; 및
    상기 상부 조립체에 부착된 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 포함하며,
    상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 상기 엔드 이펙터로부터 이격되어 상기 엔드 이펙터의 아래에 수평의 상부면을 갖는, 기판 이송 로봇.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 냉각판들을 통해 냉각 유체를 순환시키기 위해 하나 또는 둘 이상의 유체 도관들이 상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들과 열 접촉하는, 기판 이송 로봇.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 직사각형 어레이로 배열되는 복수의 냉각판들을 포함하는, 기판 이송 로봇.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 복수의 냉각판들이 함께 유체 커플링되는, 기판 이송 로봇.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들은 높은 복사율의 코팅을 갖는 표면을 갖는, 기판 이송 로봇.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 높은 복사율의 코팅은 압력감응형 접착제로 상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들에 부착된 알루미늄 포일을 포함하는, 기판 이송 로봇.
  14. 프로세싱 챔버에서 기판을 프로세싱하는 단계;
    상기 기판을 프로세싱한 후 이송 로봇의 핑거들로 상기 프로세싱 챔버로부터 상기 기판을 제거하는 단계;
    상기 이송 로봇에 부착된 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 사용하여 상기 기판을 냉각시키는 단계 ― 상기 냉각판은 상기 핑거들 아래에 상기 핑거들로부터 이격되어 있음 ―; 및
    상기 기판을 냉각한 후 상기 이송 로봇을 사용하여 상기 기판을 로드록 챔버로 이송하는 단계를 포함하는, 기판 프로세싱 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 사용하여 상기 기판을 냉각시키는 단계는 상기 하나 또는 둘 이상의 냉각판들을 포함하는 복수의 냉각판들을 통하여 경로가 정해지는(routed) 도관을 통해 냉각제를 흘리는 단계를 포함하는, 기판 프로세싱 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210009891A (ko) * 2019-07-18 2021-01-27 세메스 주식회사 반송 유닛, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101488649B1 (ko) * 2008-10-07 2015-02-04 가와사키 쥬코교 가부시키가이샤 기판 반송 로봇 및 시스템
JP5606279B2 (ja) * 2010-11-08 2014-10-15 株式会社ダイヘン 搬送装置
JP5547147B2 (ja) * 2011-09-13 2014-07-09 東京エレクトロン株式会社 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
WO2014144162A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Applied Materials, Inc Temperature control systems and methods for small batch substrate handling systems
JP6218526B2 (ja) * 2013-09-20 2017-10-25 Towa株式会社 切断装置及び切断方法
JP5905509B2 (ja) * 2014-05-14 2016-04-20 東京エレクトロン株式会社 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JP6792368B2 (ja) * 2016-07-25 2020-11-25 株式会社Screenホールディングス 熱処理装置、基板処理装置および熱処理方法
KR102399620B1 (ko) * 2017-08-17 2022-05-18 현대자동차주식회사 다이캐스팅용 로봇 암
KR102568797B1 (ko) * 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
CN112776003B (zh) * 2019-11-07 2022-05-06 台达电子工业股份有限公司 散热装置及其适用的机器人
KR102473569B1 (ko) 2020-01-15 2022-12-02 세메스 주식회사 기판 반송 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2915471B2 (ja) * 1990-02-28 1999-07-05 三菱重工業株式会社 熱線遮蔽材およびそれを用いた複合シート
JPH07231027A (ja) * 1994-02-18 1995-08-29 Sony Corp 半導体装置の金属プラグ形成装置
JPH1187463A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP4057158B2 (ja) 1997-10-07 2008-03-05 大日本スクリーン製造株式会社 基板搬送装置およびそれを備えた基板処理装置
JPH11168131A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Nec Kyushu Ltd ウエハ搬送チャック
EP1057214A1 (en) 1998-02-18 2000-12-06 Applied Materials, Inc. End effector for wafer handler in processing system
FR2791592B1 (fr) 1999-04-02 2001-06-01 Suisse Electronique Microtech Dispositif pour robot de manipulation d'objets de petites dimensions et procede applique a ce dispositif
US6499777B1 (en) * 1999-05-11 2002-12-31 Matrix Integrated Systems, Inc. End-effector with integrated cooling mechanism
JP3263684B2 (ja) 1999-07-26 2002-03-04 株式会社ジェーイーエル 基板搬送用ロボット
US6410455B1 (en) 1999-11-30 2002-06-25 Wafermasters, Inc. Wafer processing system
JP2002289669A (ja) 2001-03-28 2002-10-04 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
KR20020088555A (ko) * 2001-05-18 2002-11-29 삼성전자 주식회사 웨이퍼 이송 장치
JP2002346965A (ja) 2001-05-23 2002-12-04 Assist Japan Kk ロボットにおける冷却ハンド
US6634686B2 (en) 2001-10-03 2003-10-21 Applied Materials, Inc. End effector assembly
JP2005071992A (ja) * 2003-08-07 2005-03-17 Canon Inc 減圧雰囲気下における加熱、冷却方法及び画像表示装置の製造方法
US7126087B2 (en) * 2003-08-07 2006-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Method of effecting heating and cooling in reduced pressure atmosphere
US7467916B2 (en) 2005-03-08 2008-12-23 Asm Japan K.K. Semiconductor-manufacturing apparatus equipped with cooling stage and semiconductor-manufacturing method using same
US8156840B2 (en) 2006-01-13 2012-04-17 Nabtesco Corporation Drive apparatus of substrate carrying robot including cooling circulation path
US20070209593A1 (en) 2006-03-07 2007-09-13 Ravinder Aggarwal Semiconductor wafer cooling device
JP4908306B2 (ja) * 2007-05-10 2012-04-04 株式会社ダイヘン 搬送装置
KR100919215B1 (ko) * 2007-09-06 2009-09-28 세메스 주식회사 엔드 이펙터 및 이를 갖는 로봇 암 장치
US8272830B2 (en) 2008-10-07 2012-09-25 Applied Materials, Inc. Scissor lift transfer robot

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210009891A (ko) * 2019-07-18 2021-01-27 세메스 주식회사 반송 유닛, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법

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