JP2013518410A - 基板冷却を備えた搬送ロボット - Google Patents

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Abstract

本発明の実施形態は、処理チャンバとロードロックチャンバの間の搬送中に、基板を冷却するために冷却板が取り付けられている搬送ロボットを提供する。一実施形態では、冷却板は、搬送される基板の下にある搬送ロボットに取り付けられた単一で大面積の冷却板である。別の一実施形態では、冷却板は、搬送される基板の下にある搬送ロボットに取り付けられた基板のアレイである。冷却板は、冷却板全体に冷却液を循環させるためのコンジットの経路を含むことができる。冷却板は、高放射率コーティングを備えた上面を有することができる。

Description

発明の背景
(発明の分野)
本発明の実施形態は、概して搬送動作中に基板を冷却するための冷却板が取り付けられた基板搬送ロボットに関する。
(関連技術の説明)
通常、ガラス、プラスチック、又は他の材料の長方形のシートなどの基板が、フラットパネルディスプレイ、太陽電池デバイス、及び他の類似のアプリケーションの製造に使用されている。このようなデバイスを形成する材料は、1以上の処理チャンバを有する処理システム内の1以上のプロセスによって基板上に積層される。通常、基板はロードロックチャンバを通って処理システム内に導入され、高温処理用の搬送ロボットによって、1以上の処理チャンバへ搬送され、その後、処理システムから取り除かれる前に、冷却するためにロードロックチャンバへ搬送される。
処理システム及び施設内における基板のスループットが、伝統的に懸案事項である。業界では、基板のスループットを向上させ、システム及び設備のダウンタイムを軽減する方法を常に模索している。基板を速く処理できればできるほど、時間当たりにより多くの基板を処理できる。
したがって、基板処理システム内で基板のスループットを増加させる装置及び方法に対するニーズがある。
本発明の一実施形態では、基板搬送ロボットは、エンドエフェクタと、エンドエフェクタに結合され、エンドエフェクタを直線的に移動するように操作可能な上部アセンブリと、上部アセンブリに結合され、上部アセンブリを回転及び垂直移動するように操作可能な下部アセンブリと、上部アセンブリに取り付けられ、エンドエフェクタの下方に位置する1以上の冷却板を含む。
別の一実施形態では、基板搬送ロボットは、水平方向に延びる複数のフィンガーを有するエンドエフェクタと、エンドエフェクタに結合され、エンドエフェクタを水平方向に移動するように操作可能な上部アセンブリと、上部アセンブリに取り付けられ、エンドエフェクタの下方でエンドエフェクタから離間した水平上面を有する1以上の冷却板を含む。
更に別の実施形態では、基板を処理するための方法は、処理チャンバ内で基板を処理する工程と、搬送ロボットのフィンガー上で基板を処理した後、処理チャンバから基板を除去する工程と、搬送ロボットに取り付けられた1以上の冷却板を用いて基板を冷却する工程と、基板を冷却した後、搬送ロボットを使用してロードロックチャンバに基板を搬送する工程を含む。冷却板は、フィンガーから離間され下方にある。
本発明の上述した構成を詳細に理解することができるように、上記に簡単に要約した本発明のより具体的な説明を、実施形態を参照して行う。実施形態のいくつかは添付図面に示されている。しかしながら、添付図面は本発明の典型的な実施形態を示しているに過ぎず、したがってこの範囲を制限していると解釈されるべきではなく、本発明は他の等しく有効な実施形態を含み得ることに留意すべきである。
本発明の一実施形態に係るマルチチャンバ基板処理システムの平面図である。 本発明の一実施形態に係る搬送ロボットの概略等角図である。 本発明の一実施形態に係る冷却板の概略底面図である。 本発明の別の一実施形態に係る冷却板の概略断面図である。 本発明の一実施形態に係る搬送ロボットの概略平面図である。 冷却板アレイの部分底面図である。
詳細な説明
本発明の実施形態は、処理チャンバとロードロックチャンバの間の搬送中に、基板を冷却するために冷却板が取り付けられている搬送ロボットを提供する。一実施形態では、冷却板は、搬送される基板の下にある搬送ロボットに取り付けられた単一で大面積の冷却板である。別の一実施形態では、冷却板は、搬送される基板の下にある搬送ロボットに取り付けられた基板のアレイである。一実施形態では、冷却板は、冷却板全体に冷却液を循環させるためのコンジットの経路を含む。一実施形態では、冷却板は、高放射率コーティングを備えた上面を有する。
図1は、本発明の搬送ロボット125の一実施形態を有する、平坦なメディア上に薄膜トランジスター(TFT)、有機発光ダイオード(OLEDS)、太陽電池を製造するのに適したマルチチャンバ基板処理システム100の平面図である。搬送ロボット125は、他の処理システムで利用できることが理解される。システム100は、中央搬送チャンバ115の周囲に位置する、複数の処理チャンバ105及び1以上のロードロックチャンバ110を含む。処理チャンバ105は、平坦なメディア(例えば、大面積基板120)又は他の適当な基板の所望の処理を実現するために、多くの高温処理を達成するように構成可能である。
エンドエフェクタ130を有する搬送ロボット125が、中央搬送チャンバ115内に配置される。エンドエフェクタ130は、基板120を搬送する搬送ロボット125の残りの部分によって支持され、搬送ロボット125の残りの部分に対して移動するように構成される。エンドエフェクタ130は、リスト135と、そこから水平方向に延在する複数のフィンガー140を含む。フィンガー140は上にある基板120を支持するように使用される。一実施形態では、搬送ロボット125は、中心軸の周りのエンドエフェクタ130を回転させ、及び/又は垂直方向に直線的にエンドエフェクタ130を移動するように構成される。エンドエフェクタ130は、チャンバ105、110、115間における基板の搬送を促進するために、搬送チャンバ115を囲むチャンバ105、110へ出し入れをする搬送ロボット125によって、水平方向に直線的に移動するように構成される。
中央搬送チャンバ115は、基板の処理中、減圧(すなわち、真空)に維持される。中央搬送チャンバ115内の圧力は、周囲圧力(すなわち、システム100の外部の圧力)よりも低い圧力に維持することができる。中央搬送チャンバ115内で維持された圧力は、処理チャンバ105及び/又はロードロックチャンバ110内の圧力に実質的に等しくすることができる。
基板の処理中に、基板120は、1以上の処理チャンバ105内で昇温され処理される。その後基板120は、処理システム100から取り除かれる前に冷却するために搬送ロボット125によってロードロックチャンバ110のうちの1つに搬送される。処理システムのスループットを向上させるために、本発明の実施形態は、処理チャンバ105のうちの1つからロードロックチャンバ110のうちの1つへの搬送中に基板120を冷却するためのエンドエフェクタ130の下の搬送ロボット125に取り付けられた1以上の冷却板126を提供する。その結果、ロードロックチャンバ110内で基板120を冷却するために必要な時間が大幅に短縮され、処理システム100のスループットが向上する。
図2は、本発明の一実施形態に係る搬送ロボット125の概略等角図である。搬送ロボット125は、上部アセンブリ202に結合された下部アセンブリ201を含む。下部アセンブリ201は、中心軸の周りでエンドエフェクタ130を回転させ、中心軸に沿って垂直(Z方向)に移動するように動作可能である。上部アセンブリ202は、下部アセンブリ201に対して横方向又は水平(X方向)にエンドエフェクタ130を移動するように動作可能である。搬送ロボット125は、エンドエフェクタ130に回転運動を提供する搬送ロボット125に結合された回転駆動システム(図示せず)を収容する搬送チャンバ115(図1)に対して固定される固定ベース203を含むことができる。
下部アセンブリ201は、回転駆動システム(図示せず)に結合されるリフトアセンブリ204を含む。リフトアセンブリ204は、上部アセンブリ202を昇降可能な任意の適切なリフトアセンブリが可能である。使用可能なリフトアセンブリ204の一実施形態は、2008年10月7日に出願された米国特許出願第12/247,135号に開示されるようなはさみ型リフトアセンブリを含み、本明細書中で参照として援用される。
リフトアセンブリ204は、プラットフォーム208に結合され、プラットフォーム208を支持し、これは次に、上部アセンブリ202の取り付け面を提供する。上部アセンブリ202は、エンドエフェクタ130に結合されるベース250を含むことができる。ベース250は、水平面内で下部アセンブリ201に対してエンドエフェクタ130を動かすリニアアクチュエータ(図示せず)を含む。
1以上の冷却板126は、エンドエフェクタ130のフィンガー140の下のベース250に取り付けることができる。1以上の冷却板126は、アルミニウム又はステンレス鋼で作ることができる。一実施形態では、図2に示されるように、上部アセンブリ202は、単一の大型の冷却板126を含む。他の実施形態では、後に図5に関して図示及び説明されるように、上部アセンブリ202は、複数の冷却板126を含む。1以上の冷却板126は、適切な手段を介して(例えば、溶接又は機械的な締結部材を使用することによって)ベース250に取り付けることができる。1以上の冷却板126は、エンドエフェクタ130のフィンガー140に実質的に平行な方向を有し、フィンガー140から離間している実質的に平面で水平な上面226を有することができる。一実施形態では、図2に示されるように、基板120の下の1以上の冷却板126の上部平面面積は、基板120とほぼ同じ平面面積を有する。別の一実施形態では、基板120の下の1以上の冷却板126の上部平面面積は、図5に示されるように、基板120の平面面積よりも大きい。例えば、1以上の冷却板126は、0.16平方メートルを超えることができる。1以上の冷却板126の幅も、上部アセンブリ202の幅を超えることができる。
一実施形態では、各冷却板126は、基板搬送工程の間に、エンドエフェクタ130のフィンガー140上に配置された基板120(図1)の冷却速度を高めるために高放射率面を有する。一実施形態では、1以上の冷却板126の上面226は、高い放射率面を提供するために、コーティング、陽極酸化処理、塗装、又はビーズブラストされる。
別の一実施形態では、高放射率コーティング(例えば、アルミニウムの真空コーティング)が、冷却板126の各々の上面226に適用(塗布)される。高放射率コーティングは、各冷却板126の上面226上に直接適用されるか、又はコーティングは、1以上の冷却板126に接触する表面上に粘着剤付きの高放射率アルミニウム箔によって適用されることができる。高放射率アルミニウム箔は、表面処理(例えば、陽極酸化処理、塗装、又はビーズブラストなど)を必要とせずに、1以上の冷却板126の上面226に適用することができる。
一実施形態では、高放射率コーティングは、約0.7〜約0.9の放射率を有する。高放射率コーティングは、約0.3マイクロメートル〜約14マイクロメートルの厚さを有することができる。高放射率コーティングは、複数の層を含むことができる。適切な高放射率コーティングは、イスラエルのAcktar Advanced Coatings, Ltd.から購入することができる。
冷却流体供給源280によって供給された冷却流体は、1以上の冷却板126を通って循環することができる。1以上のコンジット(図示せず)が下部アセンブリ201に提供され、これによって冷却流体供給源280から、1以上の冷却板126を介して冷却流体の流れを促進することができる。冷却流体は、水、脱イオン化(DI)水、エチレングリコール、窒素、ヘリウム、又は熱交換媒体として使用される別の流体が可能である。
図3は本発明の一実施形態に係る冷却板126の概略底面図である。入力ポート356及び出力ポート358を有し、冷却板126の底面360に沿って蛇行したり、曲がりくねった経路で配置された流体コンジット354が図示されている。前述のように冷却流体供給源280(図2)は、入力ポート356を取り付けられており、流体がコンジット354を通って循環する。その後、冷却流体は、出力ポート358から出て冷却流体供給源280(図2)又は排出源(図示せず)のいずれかに戻る。
一実施形態では、コンジット354は、流体が取るべき所望の経路を画定する、冷却板126の底面360に形成された連続した溝内に配置される。溝が形成された後、溝の経路に適合するように曲げられたコンジット354を備えた管が、溝内に固定される。複数の保持板又はストリップを管の長さに沿って間隔を置いて目立たない位置に配置し、これによって溝内の管を保持し、冷却板126の底面360と熱伝達接触することができる。あるいはまた、コンジット354を含む管は、適切な手段(例えば、冷却板126の溝を使用しない溶接又はクランプ)によって、冷却板126の底面360又は上面(図示せず)に取り付けることができる。別の一実施形態では、冷却板126の上面(図示せず)に溝を形成することができる。溝内のコンジット354を配置し、保持した後、高放射率箔を、前述のように、コンジット354を覆う冷却板126の上面に適用することができる。
図4は、本発明の別の一実施形態に係る冷却板126の概略断面図である。冷却板126は、冷却板126の本体内に貫通して形成された複数のドリル穴472を含み得る連続流体コンジット400を有する。図示されるように、穴472は、穴474及び478と交差する。穴474は、穴476と交差し、穴478は、穴480と交差する。図示されるように、穴472の入口点は、プラグ482によって封止されている。穴474の入口点は、プラグ486により封止され、同時に穴478の入口点は、プラグ484によって封止されている。穴476の入口点は、入口ポート488を形成し、同時に穴480の入口点は、相互接続穴472、474、476、478、480によって形成された連続流体コンジット400の出口ポート490を形成する。穴によって形成された単一の連続掘削流体コンジット400が、図4に図示されているが、冷却板126の長さ又は幅を貫通して掘削することによって、複数の平行流体コンジットを形成することができることを理解すべきである。あるいはまた、図4に示される穴を相互接続する複数の他の穴を形成し、複数の直列に接続された流体コンジットを提供することができ、これは冷却板126の本体を貫通する連続又は蛇行経路を形成することができる。
図5は、本発明の一実施形態に係る搬送ロボット125の平面図である。図示されるように、1以上の冷却板126は、アレイ500内に構成され、搬送ロボット125の土台250に取り付けられた複数の冷却板126である。アレイ500は、長方形又は別の形状であることができる。一実施形態において、アレイ500内の冷却板126の各々は、図3又は図4の説明に従って形成される。各冷却板からのコンジット126は、その後、(例えば、ねじ結合または溶接結合によって)直列に結合することができ、これによって冷却板126のアレイ500は、冷却流体を全体に循環させるために配置された連続流体コンジットを備えた単一の冷却板として機能する。
別の実施形態において、アレイ500内の冷却板126の各々は、搬送ロボット125の土台250に個別に取り付けられる。その後、図3において単一大型冷却板126に関して説明したように、及び図6に示されたアレイ500の部分底面図に示されたように、冷却板126のアレイ500の表面に、コンジット354を取り付けることができる。コンジット354は、冷却板126のアレイ500と熱的に接触して配置され、その表面に取り付けることができ、又はコンジット354は、図3において単一大型冷却板126に関して説明したように、冷却板126のアレイ500内に予め形成された溝内に配置することができる。どちらの実施形態でも、冷却板126のアレイ500は、冷却流体を全体に循環させるために配置された連続流体コンジットを備えた単一の冷却板として機能する。
別の一実施形態では、アレイ500内の冷却板126の各々は、図4の説明に従って形成されている。その後、各冷却板126からのコンジットが、例えば、ねじ結合又は溶接結合によって直列に結合され、これによって冷却板126のアレイ500は、図6に示されたものと同様に冷却流体を全体に循環させるために配置されたものではあるが、1つの冷却板126の出口ポート490を隣接する冷却板126の入口ポート488に結合した個々の冷却板126内に構築された連続的な流体コンジットを備えた単一の冷却板として機能する。
図5に関して説明した上述の各実施形態においては、高放射率コーティングは、前述のように、個々の冷却板126に、又は冷却板のアレイ500全体のいずれかに適用可能である。
本明細書内で説明された実施形態は、処理チャンバとロードロックチャンバの間の搬送中に、基板を冷却するために冷却板が取り付けられている搬送ロボットを提供する。すでに提供された運転中、つまり基板の搬送時における基板の冷却によって、処理システムからの取り除かれる前のロードロックチャンバ内において基板冷却に使用される時間をより少なくできる。したがって、いかなる追加の処理操作をも加えることなしに、処理システムのスループットが増加する。
上記は本発明の実施形態を対象としているが、本発明の他の及び更なる実施形態は本発明の基本的範囲を逸脱することなく創作することができ、その範囲は以下の特許請求の範囲に基づいて定められる。

Claims (15)

  1. エンドエフェクタと、
    エンドエフェクタに結合され、エンドエフェクタを直線的に移動するように操作可能な上部アセンブリと、
    上部アセンブリに結合され、上部アセンブリを回転及び垂直移動するように操作可能な下部アセンブリと、
    上部アセンブリに取り付けられ、エンドエフェクタの下方に位置する1以上の冷却板を含む基板搬送ロボット。
  2. 1以上の流体コンジットが、冷却流体を通して循環させるための1以上の冷却板と熱的接触している請求項1記載の基板搬送ロボット。
  3. 1以上の流体コンジットが、1以上の冷却板内に配置されている請求項2記載の基板搬送ロボット。
  4. 1以上の冷却板は、長方形のアレイ内に配置された複数の冷却板を含む請求項2記載の基板搬送ロボット。
  5. 複数の冷却板は、共に流体結合している請求項4記載の基板搬送ロボット。
  6. 1以上の冷却板は、高放射率コーティングを備えた表面を有する請求項1記載の基板搬送ロボット。
  7. 高放射率コーティングは、アルミニウム箔を含む請求項6記載の基板搬送ロボット。
  8. 水平方向に延びる複数のフィンガーを有するエンドエフェクタと、
    エンドエフェクタに結合され、エンドエフェクタを水平方向に移動するように操作可能な上部アセンブリと、
    上部アセンブリに取り付けられ、エンドエフェクタの下方でエンドエフェクタから離間した水平上面を有する1以上の冷却板を含む基板搬送ロボット。
  9. 1以上の流体コンジットが、冷却流体を通して循環させるための1以上の冷却板と熱的接触している請求項8記載の基板搬送ロボット。
  10. 1以上の冷却板は、長方形のアレイ内に配置された複数の冷却板を含む請求項9記載の基板搬送ロボット。
  11. 複数の冷却板は、共に流体結合している請求項10記載の基板搬送ロボット。
  12. 1以上の冷却板は、高放射率コーティングを備えた表面を有する請求項9記載の基板搬送ロボット。
  13. 高放射率コーティングは、粘着剤によって1以上の冷却板に取り付けられたアルミニウム箔を含む請求項12記載の基板搬送ロボット。
  14. 処理チャンバ内で基板を処理する工程と、
    搬送ロボットのフィンガー上で基板を処理した後、処理チャンバから基板を除去する工程と、
    搬送ロボットに取り付けられた1以上の冷却板を用いて基板を冷却する工程であって、冷却板はフィンガーから離間されフィンガーの下方にある工程と、
    基板を冷却した後、搬送ロボットを使用してロードロックチャンバに基板を搬送する工程を含む基板を処理するための方法。
  15. 1以上の冷却板を用いて基板を冷却する工程は、1以上の冷却板を含む複数の冷却板を通る経路のコンジットを通してクーラントを流す工程を含む請求項14記載の方法。
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TW (1) TWI521632B (ja)
WO (1) WO2011090905A2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013062352A (ja) * 2011-09-13 2013-04-04 Tokyo Electron Ltd 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110050558A (ko) * 2008-10-07 2011-05-13 가와사키 쥬코교 가부시키가이샤 기판 반송 로봇 및 시스템
JP5606279B2 (ja) * 2010-11-08 2014-10-15 株式会社ダイヘン 搬送装置
CN110265321A (zh) * 2013-03-15 2019-09-20 应用材料公司 用于小批量基板传送系统的温度控制系统与方法
JP6218526B2 (ja) * 2013-09-20 2017-10-25 Towa株式会社 切断装置及び切断方法
JP5905509B2 (ja) * 2014-05-14 2016-04-20 東京エレクトロン株式会社 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JP6792368B2 (ja) * 2016-07-25 2020-11-25 株式会社Screenホールディングス 熱処理装置、基板処理装置および熱処理方法
KR102399620B1 (ko) * 2017-08-17 2022-05-18 현대자동차주식회사 다이캐스팅용 로봇 암
KR102568797B1 (ko) * 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
KR102319199B1 (ko) * 2019-07-18 2021-10-29 세메스 주식회사 반송 유닛, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
CN112776003B (zh) 2019-11-07 2022-05-06 台达电子工业股份有限公司 散热装置及其适用的机器人
KR102473569B1 (ko) 2020-01-15 2022-12-02 세메스 주식회사 기판 반송 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 시스템

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03248840A (ja) * 1990-02-28 1991-11-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 熱線遮蔽材およびそれを用いた複合シート
JPH07231027A (ja) * 1994-02-18 1995-08-29 Sony Corp 半導体装置の金属プラグ形成装置
JPH1187463A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JPH11168131A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Nec Kyushu Ltd ウエハ搬送チャック
JP2001035902A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Jel:Kk 基板搬送用ロボット
JP2005071992A (ja) * 2003-08-07 2005-03-17 Canon Inc 減圧雰囲気下における加熱、冷却方法及び画像表示装置の製造方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4057158B2 (ja) * 1997-10-07 2008-03-05 大日本スクリーン製造株式会社 基板搬送装置およびそれを備えた基板処理装置
KR100625485B1 (ko) 1998-02-18 2006-09-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 처리 시스템 내 웨이퍼 핸들러를 위한 엔드 이펙터
FR2791592B1 (fr) 1999-04-02 2001-06-01 Suisse Electronique Microtech Dispositif pour robot de manipulation d'objets de petites dimensions et procede applique a ce dispositif
US6499777B1 (en) * 1999-05-11 2002-12-31 Matrix Integrated Systems, Inc. End-effector with integrated cooling mechanism
US6410455B1 (en) 1999-11-30 2002-06-25 Wafermasters, Inc. Wafer processing system
JP2002289669A (ja) 2001-03-28 2002-10-04 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
KR20020088555A (ko) * 2001-05-18 2002-11-29 삼성전자 주식회사 웨이퍼 이송 장치
JP2002346965A (ja) * 2001-05-23 2002-12-04 Assist Japan Kk ロボットにおける冷却ハンド
US6634686B2 (en) 2001-10-03 2003-10-21 Applied Materials, Inc. End effector assembly
US7126087B2 (en) * 2003-08-07 2006-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Method of effecting heating and cooling in reduced pressure atmosphere
US7467916B2 (en) 2005-03-08 2008-12-23 Asm Japan K.K. Semiconductor-manufacturing apparatus equipped with cooling stage and semiconductor-manufacturing method using same
CN101375385B (zh) 2006-01-13 2012-05-30 纳博特斯克株式会社 包括冷却循环路径的基板搬运机器人的驱动设备
US20070209593A1 (en) 2006-03-07 2007-09-13 Ravinder Aggarwal Semiconductor wafer cooling device
JP4908306B2 (ja) * 2007-05-10 2012-04-04 株式会社ダイヘン 搬送装置
KR100919215B1 (ko) * 2007-09-06 2009-09-28 세메스 주식회사 엔드 이펙터 및 이를 갖는 로봇 암 장치
US8272830B2 (en) 2008-10-07 2012-09-25 Applied Materials, Inc. Scissor lift transfer robot

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03248840A (ja) * 1990-02-28 1991-11-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 熱線遮蔽材およびそれを用いた複合シート
JPH07231027A (ja) * 1994-02-18 1995-08-29 Sony Corp 半導体装置の金属プラグ形成装置
JPH1187463A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JPH11168131A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Nec Kyushu Ltd ウエハ搬送チャック
JP2001035902A (ja) * 1999-07-26 2001-02-09 Jel:Kk 基板搬送用ロボット
JP2005071992A (ja) * 2003-08-07 2005-03-17 Canon Inc 減圧雰囲気下における加熱、冷却方法及び画像表示装置の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013062352A (ja) * 2011-09-13 2013-04-04 Tokyo Electron Ltd 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体

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