KR20120030604A - 진단 정보에 액세스하기 위한 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

전자 디바이스(10)에서 진단 정보에 액세스하기 위한 기법이 제공된다. 이러한 기법에 따라, 전원(200)에 관한 진단 정보를 결정하기 위한 시스템(74)이 제공된다. 일 실시예에서, 시스템(74)은 진단 정보에 대한 액세스를 제공하기 위해 인터페이스(66)를 제공한다. 시스템(74)은 메모리를 추가로 제공할 수 있으며, 여기에 진단 정보가 저장될 수 있다. 시스템(74)은 전자 디바이스(10)가 비-동작 상태인 경우 진단 정보에 대한 액세스를 제공하도록 추가로 구성될 수 있다.

Description

진단 정보에 액세스하기 위한 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR ACCESSING DIAGNOSTIC INFORMATION}
관련 출원들에 대한 교차-참조
본 출원은 2008년 2월 1일에 출원된 미국 출원 일련번호 제12/024,519호의 부분 계속 출원(continuation-in-part)이다.
본 개시내용은 일반적으로 전자 디바이스에 관한 것이며, 더 구체적으로, 전자 디바이스에서 소비자 오용의 발생(들)을 검출하기 위해 사용될 수 있는 진단 정보에 액세스하기 위한 기법들에 관한 것이다.
이 섹션은 하기에 기술되고 그리고/또는 청구되는 본 발명의 기법들의 다양한 양상들에 관련될 수 있는 당해 기술분야의 다양한 양상들을 독자에게 소개하도록 의도된다. 이러한 논의는 독자에게 배경 정보를 제공하여 본 발명의 다양한 양상들의 더욱 양호한 이해를 용이하게 하는데 도움이 되는 것으로 간주된다. 따라서, 이들 스테이트먼트(statement)들은 종래 기술의 수용으로서가 아니라, 이러한 견지에 판독될 것임이 이해되어야 한다.
소비자들에 의해 구매되는 전자 제품들은 일반적으로, 제품에 결함이 없으며, 적어도 제한된 시간 기간 동안 동작가능하게 유지될 것임을 판매자(vendor) 및/또는 제조자가 보증하는 제품에 첨부된 보증서 또는 리턴 정책과 함께 판매된다. 예를 들어, 통상적인 보증서 및 리턴 정책들은, 제품에 결함이 발견된 경우 또는 보증 기간 동안 제품이 동작불능이 되었을 때, 제조자 또는 판매자가 제품을 교체하거나 또는 소비자에게 매우 적은 비용으로 또는 어떠한 추가의 비용도 부과하지 않고 제품을 동작 상태로 복원시키기 위한 수리 서비스들을 제공할 것임을 특정할 수 있다.
일반적으로, 이러한 보증서 및 리턴 정책들은 오직 제품의 설계 또는 제조에 관련된 고장들 및 결함들만을 커버하도록 의도되며, 통상적으로, 소비자 오용의 결과로서 발생하는 제품 고장을 커버하지는 않는다. 실제로, 많은 보증서 정책들은, 고의적이든 비고의적이든 사용자 오용으로 인한 손상이 제품 고장의 기본 원인인 경우 리턴 또는 수리를 명시적으로 배제한다. 예를 들어, 소비자 오용은 전자 디바이스를 액체, 극도의 온도, 또는 과도한 충격(예를 들어, 전자 디바이스를 드롭시킴으로 인한 결과적인 충돌)에 노출시키는 것을 포함할 수 있다. 소비자 오용은 또한, 정상적인 방식으로 디바이스를 동작시키는 것과 관련되지 않은 디바이스와의 임의의 상호작용을 포함할 수 있는 조작(tampering)으로 인한 것일 수 있다(예를 들어, 디바이스의 케이스 또는 하우징의 개봉, 및 내부 컴포넌트들의 추가, 제거 또는 변경).
불가피하게, 판매된 제품들 중 일부는 결국 고장나거나, 제품의 수명 동안 일부 포인트에서 동작 불가능하게 될 것이다. 이러한 일이 발생하고, 그리고 제품이 여전히 보증 기간 내에 있는 경우, 구매 소비자는 보증 동의서의 항목들에 따라 서비스 또는 교체를 위해 직접 제조자에게 또는 판매점의 판매자에게 고장난 또는 동작 불가능한 디바이스를 리턴시키도록 선택할 수 있다.
그러나, 대략적인 검사시에는 자명하지 않을 수 있는 소비자 오용으로 인해 디바이스가 고장 났으나 소비자가 보증 하에서 수리 또는 교체를 위해 디바이스를 리턴시키려고 시도할 때 문제점들이 발생할 수 있다. 때로는, 특히 판매점에서, 리턴된 디바이스를 접수하는 직원은 디바이스가 제조 결함으로 인해 고장났는지 또는 소비자 오용으로 인해 고장났는지를 결정하기에는 자격이 미달되거나 미교육 상태(untrained)일 수 있다. 따라서, 판매점의 직원은 종종 소비자와의 잠재적인 충돌들을 회피하기 위해 고장 원인과는 무관하게 리턴된 제품을 동작하는 교체 제품과 교환해줄 수 있다. 그 결과, 소비자들이 보증서 항목 하에서 커버되지 않는 오용된 제품들에 대해 수리 서비스 또는 교체 제품을 받는 것이 드문 일이 아니다. 이러한 잘못된 교체 또는 수리는 제품의 제조자 및/또는 판매자에게 고가일 수 있다.
여기서 개시된 특정 실시예들의 요약이 하기에 설명된다. 이들 양상들이 단지 이들 특정 실시예들의 간략한 요약을 독자에게 제공하기 위해 제시되며, 이들 양상들이 본 발명의 범위를 제한하도록 의도되지 않는다는 점이 이해되어야 한다. 실제로, 본 개시내용은 하기에 설명되지 않을 수 있는 다양한 양상들을 포함할 수 있다.
본 개시내용은 일반적으로, 전자 디바이스에서 소비자 오용이 발생했는지의 여부를 결정하기 위한 기법들에 관한 것이다. 일 개시된 실시예에 따라, 예시적인 기법은 소비자 오용 이벤트의 발생을 검출하고 이벤트의 레코드를 저장하기 위한 시스템을 제공할 수 있다. 본 발명의 기법의 일 양상에 따라, 시스템은 소비자 오용 이벤트의 발생을 검출하기 위한 하나 이상의 센서들을 포함할 수 있다. 소비자 오용은 전자 디바이스를 액체, 극도의 온도, 과도한 충격에 노출하는 것을 포함할 수 있고, 또한 디바이스의 정상 동작과 관련되지 않은 방식으로 디바이스를 조작하는 것을 포함할 수 있다. 본 개시내용의 또다른 양상에 따라, 시스템은 하나 이상의 센서들로부터 소비자 오용 이벤트의 발생의 표시를 수신하기 위한 오용 검출 회로를 더 포함할 수 있다.
본 개시내용의 추가적인 양상에 따라, 오용 검출 회로는 검출된 각각의 소비자 오용 이벤트에 대한 레코드를 생성하고, 상기 레코드들을 메모리에 저장할 수 있다. 본 개시내용의 또다른 양상에 따라, 시스템은, 진단 디바이스가 메모리에 액세스하여 레코드들을 분석하고 이벤트가 발생했을 때 소비자 오용 이벤트가 발생했는지의 여부, 및 일부 경우들에서 어떤 타입의 오용 이벤트가 발생했는지를 결정할 수 있는, 인터페이스를 포함할 수 있다. 전자 디바이스에서 소비자 오용이 발생했는지의 여부를 신속하고 용이하게 검출하기 위한 능력을 제공함으로써, 리턴된 제품을 진단하는 판매자 또는 제조자는 보증 정책 하에서 제품 리턴을 개시할지의 여부를 더욱 잘 결정할 수 있다.
또다른 개시된 실시예에 따라, 오용 검출 회로는, 예를 들어, 디바이스에 대한 전력을 디스에이블시킴으로써, 소비자 오용 이벤트의 발생의 검출 시, 전자 디바이스의 동작을 디스에이블시키도록 구성될 수 있다. 디바이스의 디스에이블 동작에 후속하여, 오용 검출 회로는 센서들을 주기적으로 체크하여 검출된 오용 이벤트가 여전히 발생 중인지의 여부를 결정하고, 오용 이벤트가 더 이상 발생하지 않는다고 결정되는 경우 디바이스의 동작을 다시 인에이블시키도록 추가로 구성될 수 있다. 소비자 오용 이벤트의 검출 시 디바이스의 동작을 디스에이블시킴으로써, 오용 이벤트로부터의 디바이스에 대한 손상의 위험이 감소할 수 있다.
오용 검출 회로는 또한 추가적인 진단 기능들을 위해 이용될 수 있다. 일 실시예에서, 진단 디바이스가 오용 검출 회로에 액세스하여 배터리 제어 회로로부터 배터리에 관한 진단 정보를 판독할 수 있다. 예를 들어, 이러한 정보는 동작 전류, 평균 전류 흐름, 전체 용량, 배터리를 고갈시키거나 채우기 위한 시간량, 전압 및 온도를 포함할 수 있다. 또다른 실시예에서, 진단 디바이스를 통해 배터리에 관한 진단 정보에 액세스하기 위한 이러한 성능은 전력 관리 유닛에 포함될 수 있다. 본 개시내용의 양상에 따라, 이러한 정보는 메모리에 저장될 수 있다. 본 개시내용의 또다른 양상에 따라, 이러한 정보는 배터리가 더 이상 적절하게 동작하지 않을(즉, 디바이스에 대한 전원으로서 동작하지 않을)때조차도 진단 툴에 액세스가능할 수 있다. 전자 디바이스 또는 배터리의 기능 상태와는 무관하게 배터리에 관한 진단 정보에 액세스하기 위한 성능은 판매자 또는 제조자로 하여금 배터리 고장 및 결함의 속성을 더욱 용이하게 특성화하여 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하게 할 수 있다.
위에서 주지된 특징들의 다양한 개량(refinement)들이 본 개시내용의 다양한 양상들과 관련하여 존재할 수 있다. 또한, 추가의 특징들 역시 다양한 양상들 내에 통합될 수 있다. 이들 개량들 및 추가적인 특징들은 개별적으로, 또는 임의의 조합에서 존재할 수 있다. 예를 들어, 예시된 실시예들 중 하나 이상과 관련하여 하기에 논의되는 다양한 특징들이 단독으로 또는 임의의 조합으로 본 개시내용의 전술된 양상들 중 임의의 것으로 통합될 수 있다. 다시, 위에 제시된 간략한 요약은 오직 청구 대상에 대한 제한 없이 본 개시내용의 실시예들의 특정 양상들 및 컨텍스트들을 독자에게 친숙하게 하도록 의도된다.
이러한 개시내용의 다양한 양상들은 후속하는 상세한 설명들을 읽을 때 그리고 도면들을 참조할 때 더욱 잘 이해될 수 있다.
도 1은 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 전자 디바이스를 예시하는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 도 1의 전자 디바이스의 컴포넌트들을 예시하는 간략화된 블록도이다.
도 3a는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 오용 검출 시스템을 포함하는 회로 보드의 간략화된 도면이다.
도 3b는 도 3a의 오용 검출 시스템을 동작시키기 위한 예시적인 방법을 예시하는 흐름도이다.
도 4a는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습(diagrammatical view)을 예시하는 블록도이다.
도 4b는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 도 4a의 소비자 오용 검출 시스템에 대한 동작 방법을 예시하는 흐름도이다.
도 5a는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 도 4a의 소비자 오용 검출 시스템의 대안적인 실시예의 도시적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 5b는 도 5a의 오용 검출 시스템을 동작시키기 위한 예시적인 방법을 예시하는 흐름도이다.
도 5c는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하기 위한 방법을 예시하는 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 기술의 제2 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 7은 본 발명의 기술의 제3 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 8은 본 발명의 기술의 제4 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 9는 본 발명의 기술의 제5 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 10은 본 발명의 기술의 일 실시예에 따른, 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하기 위한 대안적인 방법을 예시하는 흐름도이다.
도 11은 본 발명의 기술의 제6 실시예에 따른, 소비자 오용 검출 시스템의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 12는 본 발명의 기술의 실시예에 따른, 전력 관리 유닛의 도식적 모습을 예시하는 블록도이다.
도 13은 본 발명의 기술의 일 실시예에 따른, 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하기 위한 제2 대안적인 방법을 예시하는 흐름도이다.
본 개시내용의 하나 이상의 특정 실시예들이 하기에 기술될 것이다. 이들 기술된 실시예들은 단지 본 발명의 개시된 기술들의 예들이다. 추가로, 이들 실시예들의 간결한 설명을 제공하기 위한 일환으로, 실제 구현의 모든 특징들은 명세서에 기술되지 않을 수 있다. 임의의 이러한 실제 구현예의 개발 시, 임의의 엔지니어링 또는 설계 프로젝트에서와 같이, 다수의 구현-특정적 결정들이 개발자의 특정 목적, 예를 들어, 시스템 관련 및 비즈니스 관련 제약들과의 순응을 달성하기 위해 이루어져야 하며, 이들이 구현예마다 달라질 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 또한, 이러한 개발 노력이 복잡하고 시간 소요적일 수 있지만, 이러한 개시내용의 이점을 가지는 당업자에게는 설계, 제작 및 제조에 착수하는 루틴(routine)일 것이라는 점이 이해되어야 한다.
여기서 사용되는 바와 같이, 용어 "소비자 오용" 등은 전술된 타입들의 소비자 오용(예를 들어, 액체 노출, 극도의 온도 노출, 충격 노출, 조작) 중 임의의 것 중 하나 또는 이들의 조합을 포함할 수 있지만, 반드시 이들 전술된 예들에 제한되도록 해석되지 않아야 한다. 실제로, 기술의 추가적인 실시예들이, 여기서 필수적으로 기술되지는 않지만, 임의의 타입의 소비자 오용 이벤트 또는 이벤트들을 검출하기 위해 적응될 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
이제 도면들을 참조하면, 도 1은 본 개시내용의 양상들에 따른 전자 디바이스(10)를 도시한다. 예시된 실시예에서, 전자 디바이스(10)는 휴대용 미디어 플레이어, 예를 들어, 캘리포니아주, 쿠퍼티노의 Apple Inc.로부터 이용가능한 iPod？ 또는 iPhone？ 중 임의의 모델일 수 있다. 그러나, 본 발명의 개시된 기법들은 예를 들어, 셀룰러 전화들, 노트북 컴퓨터들, 핸드헬드 컴퓨터들(예를 들어, PDA 및 개인용 오거나이저들) 등과 같은 다양한 다른 전자 디바이스들에 적용가능할 수 있다.
특정 실시예들에서, 디바이스(10)는 하나 이상의 충전가능한 및/또는 교체가능한 배터리들에 의해 전력인가될 수 있다. 이러한 실시예들은 휴대성이 커서 사용자로 하여금 여행, 업무, 운동 등을 수행하는 동안 전자 디바이스(10)를 휴대(carry)하게 할 수 있다. 이러한 방식으로, 그리고 전자 디바이스(10)에 의해 제공되는 기능성들에 따라, 사용자는 디바이스(10)를 가지고 자유롭게 움직이면서 디바이스(10)를 사용하고 동작시킬 수 있다. 또한, 디바이스(10)는 사용자의 손 또는 포켓 속에 상대적으로 쉽게 맞도록 크기가 정해질 수 있다(size). 특정 실시예들이 휴대용 전자 디바이스에 대해 기술되지만, 본 발명의 개시된 기법들이 다른, 휴대성이 덜한 전자 디바이스들 및 시스템들의 광범위한 어레이에 적용가능할 수 있다는 점에 유의해야 한다.
본 발명의 예시된 실시예에서, 예시적인 디바이스(10)는 인클로져 또는 하우징(12), 디스플레이(14), 사용자 입력 인터페이스(16), 및 입력/출력 커넥터들(18)을 포함한다. 인클로져(12)는 플라스틱, 금속, 복합 재료들, 또는 다른 적절한 재료들, 또는 이들의 임의의 결합으로 형성될 수 있고, 전자 디바이스(10)의 내부 컴포넌트들을 물리적 손상으로부터 그리고/또는 전자기 간섭(EMI)으로부터 보호하도록 기능할 수 있다.
디스플레이(14)는 액정 디스플레이(LCD), 발광 다이오드(LED) 기반 디스플레이, 유기 발광 다이오드(OLED) 기반 디스플레이, 또는 일부 다른 적절한 디스플레이일 수 있다. 특정 실시예들에 따라, 디스플레이(14)는 사용자 인터페이스, 및 일반적으로 참조 번호(15)에 의해 도시되는 다양한 다른 이미지들, 예를 들어, 로고, 아바타, 사진, 앨범 아트 등을 디스플레이할 수 있다. 또한, 디스플레이는 전력 상태, 통화 상태, 메모리 상태 등과 같은 피드백을 사용자에게 제공하기 위한 다양한 기능 및/또는 시스템 표시자들을 포함할 수 있다. 이들 표시자들은 디스플레이(14) 상에 디스플레이되는 사용자 인터페이스로 통합될 수 있다.
일 실시예에서, 사용자 입력 구조들(16) 중 하나 이상은 예를 들어, 동작 모드, 출력 레벨, 출력 타입 등을 제어함으로써 디바이스(10)를 제어하도록 구성된다. 예를 들어, 사용자 입력 구조들(16)은 디바이스(10)를 턴온 또는 턴오프 하기 위한 버튼을 포함할 수 있다. 또한, 사용자 입력 구조들(16)은 사용자로 하여금 디스플레이(14) 상의 사용자 인터페이스와 상호작용하게 할 수 있다. 휴대용 전자 디바이스(10)의 실시예들은 버튼들, 스위치들, 제어 패드, 스크롤 휠을 포함한 임의의 개수의 사용자 입력 구조들(16), 또는 임의의 다른 적절한 입력 구조들을 포함할 수 있다. 사용자 입력 구조들(16)은 디바이스(10)의 기능들을 제어하기 위해 디바이스(10) 상에 디스플레이되는 사용자 인터페이스 및/또는 디바이스(10)에 접속되거나 디바이스(10)에 의해 사용되는 임의의 인터페이스들 또는 추가적인 디바이스들과 작용할 수 있다. 예를 들어, 사용자 입력 구조들(16)은 사용자로 하여금 디스플레이된 사용자 인터페이스를 탐색하게 할 수 있다.
또한, 예시적인 디바이스(10)는 추가적인 디바이스들의 접속을 허용하기 위한 다양한 입력 및 출력 포트들(18)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 포트(18)는 헤드폰들의 접속을 제공하는 헤드폰 잭일 수 있다. 실제로, 디바이스(10)의 실시예들은 헤드폰 및 헤드셋 잭들, 유니버설 직렬 버스(USB) 포트들, IEEE-1394 포트들, 및 AC 및/또는 DC 전력 커넥터들과 같은 임의의 개수의 입력 및/또는 출력 포트들을 포함할 수 있다. 또한, 디바이스(10)는 다른 휴대용 전자 디바이스들, 개인용 컴퓨터들, 프린터들 등과 같은 임의의 다른 디바이스에 접속하고 이와 데이터를 송신 및 수신하기 위해 입력 및 출력 포트들을 사용할 수 있다. 예를 들어, 일 실시예에서, 디바이스(10)는, IEEE-1394 접속을 통해 개인용 컴퓨터에 접속하여 미디어 파일들과 같은 데이터 파일들을 송신 및 수신할 수 있다. 특정 실시예들에서, 디바이스(10)는 예를 들어, 디바이스(10)가 서비스될 때, 입력 및 출력 포트들(18)을 사용하여 진단 툴과 통신할 수 있다.
이제 도 2를 참조하면, 예시적인 전자 디바이스(10)의 컴포넌트들의 블록도가 일 실시예에 따라 도시된다. 블록도는 전술된 디스플레이(14) 및 I/O 포트들(18)을 포함한다. 또한, 도 2의 블록도는 사용자 인터페이스(20), 하나 이상의 프로세서들(22), 메모리 디바이스(24), 비휘발성 저장소(26), 카드 인터페이스(들)(28), 전원(30), 네트워킹 디바이스(32), 및 오용 검출 시스템(34)을 예시한다.
여기서 논의된 바와 같이, 사용자 인터페이스(20)는 디스플레이(14) 상에 디스플레이될 수 있고, 사용자가 전자 디바이스(10)와 상호작용하게 하기 위한 수단을 제공할 수 있다. 사용자 인터페이스(20)는, 특정 실시예들에서, 사용자로 하여금 하나 이상의 사용자 입력 구조들(16)을 통해 그리고/또는 디스플레이(14)의 터치 감지 구현을 통해, 디스플레이된 인터페이스 엘리먼트들과 인터페이싱하게 할 수 있다. 이러한 실시예들에서, 사용자 인터페이스는 사용자가 디스플레이(14)에 디스플레이된 옵션들 중에서, 터치 스크린 또는 다른 입력 구조들에 의해, 선택하게 하는 대화형 기능성을 제공한다. 따라서, 사용자는 사용자 인터페이스(20)와의 적절한 상호작용에 의해 디바이스(10)를 동작시킬 수 있다.
프로세서(들)(22)는 운영 체제, 프로그램들, 사용자 인터페이스(20), 및 디바이스(10)의 임의의 다른 기능들을 실행하기 위해 요구되는 프로세싱 성능을 제공할 수 있다. 프로세서(들)(22)는 하나 이상의 마이크로프로세서들, 예를 들어, 하나 이상의 "범용" 마이크로프로세서들, 하나 이상의 특수목적 마이크로프로세서들 및/또는 ASICS, 또는 이들의 일부 결합을 포함할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(22)는 하나 이상의 축소 명령 세트(RISC) 프로세서들, 예를 들어, 삼성 전자에 의해 제조되는 RISC 프로세서, 및 그래픽 프로세서들, 비디오 프로세서들, 및/또는 관련 칩셋들을 포함할 수 있다.
전자 디바이스(10)의 실시예들은 또한 메모리(24)를 포함할 수 있다. 메모리(24)는 휘발성 메모리, 예를 들어, 랜덤 액세스 메모리(RAM)를 포함할 수 있다. 메모리(24)는 다양한 정보를 저장할 수 있고, 다양한 목적들로 사용될 수 있다. 예를 들어, 메모리(24)는 운영 체제와 같은 디바이스(10)에 대한 펌웨어, 및 사용자 인터페이스 기능들 및 프로세서 기능들을 포함하는 디바이스(10)의 다양한 기능들을 인에이블시키는 다른 프로그램들을 저장할 수 있다. 또한, 메모리(24)는 디바이스(10)의 동작 동안 데이터를 버퍼링 또는 캐싱하기 위해 사용될 수 있다.
본 발명의 예시된 실시예의 디바이스(10)의 비휘발성 저장소(26)는 판독 전용 메모리(ROM), 플래시 메모리, 하드 드라이브, 또는 임의의 다른 적절한 광학, 자기, 또는 고체 상태(solid-state) 저장 매체, 또는 이들의 조합을 포함할 수 있다. 저장소(26)는 미디어(예를 들어, 음악 및 비디오 파일들)와 같은 데이터 파일들, (예를 들어, 디바이스(10) 상에서 기능들을 실행하기 위한) 소프트웨어, 선호도 정보(예를 들어, 미디어 재생 선호도), 무선 접속 정보(예를 들어, 디바이스(10)로 하여금 전화 접속과 같은 무선 접속을 설정하게 할 수 있는 정보), 가입 정보(예를 들어, 팟캐스트, 텔레비젼 쇼, 또는 사용자가 가입한 다른 미디어의 레코드를 유지하는 정보), 전화 정보(예를 들어, 전화 번호), 및 임의의 다른 적절한 데이터를 저장할 수 있다.
또한, 도 2에 예시된 실시예는 하나 이상의 카드 슬롯들(28)을 포함한다. 카드 슬롯들은 추가 메모리, I/O 기능성, 또는 네트워킹 성능과 같은 기능성을 디바이스(10)에 추가하기 위해 사용될 수 있는 확장 카드들을 수신하도록 구성될 수 있다. 이러한 확장 카드는 임의의 타입의 적절한 커넥터를 통해 디바이스에 접속할 수 있고, 인클로져(12)에 대해 내부에서 또는 외부에서 액세스될 수 있다. 예를 들어, 일 실시예에서, 카드는 SD(SecureDigital) 카드, 미니-또는 마이크로SD, 컴팩트플래시 카드, 멀티미디어 카드(MMC) 등과 같은 플래시 메모리 카드일 수 있다. 추가로, 모바일 전화 기능성을 포함하는 실시예에서, 카드 슬롯(28)은 가입자 신원 모듈(SIM) 카드를 수용할 수 있다.
또한, 디바이스(10)는 전원(30)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전원(30)은 리튬 이온(Li-Ion) 배터리와 같은 하나 이상의 배터리들일 수 있고, 하우징(12)에 대해 사용자-착탈가능하거나 또는 고정될 수 있고, 충전가능할 수도 있고 충전가능하지 않을 수도 있다. 추가로, 전원(30)은 예를 들어, 전기 콘센트(outlet)에 의해 제공되는 AC 전력을 포함할 수 있고, 디바이스(10)는 I/O 포트들(18)을 통해 전원(30)에 접속될 수 있다.
디바이스(10)는 네트워크 제어기 또는 네트워크 인터페이스 카드(NIC)와 같은 네트워크 디바이스(32)를 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 네트워크 디바이스(32)는 임의의 802.11 표준 또는 임의의 다른 적절한 무선 네트워킹 표준을 통한 무선 접속성을 제공하고, 디바이스(10)로 하여금 LAN, WAN, MAN, 또는 인터넷과 같은 네트워크를 통해 통신하게 하는 무선 NIC일 수 있다. 또한, 디바이스(10)는, 예를 들어, 다른 휴대용 전자 디바이스들, 개인용 컴퓨터들, 프린터들 등과 같은, 네트워크 상의 임의의 디바이스에 접속할 수 있고 이와 데이터를 송신 또는 수신할 수 있다. 대안적으로, 일부 실시예들에서, 휴대용 전자 디바이스는 네트워크 디바이스(32)를 포함하지 않을 수 있다. 이러한 실시예에서, NIC가 카드 슬롯(28)에 추가되어 전술된 바와 유사한 네트워킹 성능을 제공할 수 있다.
또한, 도 2에 도시된 예시적인 디바이스(10)는 저전력 특수목적 프로세싱 유닛 및/또는 ASIC, 또는 이들의 일부 조합에 의해 제공될 수 있는 소비자 오용 이벤트들의 발생을 검출하기 위한 오용 검출 시스템(34)을 포함한다. 오용 검출 회로(34)는 소비자 오용 이벤트들 중 임의의 하나 또는 이들의 임의의 조합을 검출하고, 추후 분석을 위해 이러한 이벤트들의 발생의 레코드를 생성 및 저장하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)가 디바이스 고장에 후속하여 서비스되는 경우, 소비자 오용 이벤트 레코드는 (예를 들어, I/O 포트(18)를 통해) 액세스 및 분석될 수 있다. 오용 검출 시스템(34)의 동작 및 컴포넌트들은 하기에 더욱 상세히 논의될 것이다.
도 3a는 전술된 오용 검출 시스템(34)을 포함하는 회로 보드(36)의 블록도를 예시한다. 회로 보드(36)는 여기에 전자적으로 커플링된, 행렬로 배열된 복수의 센서들(38)을 가질 수 있다. 복수의 센서들(38)은 한 가지 타입의 소비자 오용 이벤트를 검출하기 위한 모두 동일한 타입일 수 있거나, 또는 다수의 타입들의 소비자 오용 이벤트들을 검출하기 위한 상이한 타입들의 센서들을 포함할 수 있다. 예시된 실시예에서, 복수의 센서들(38)은 일반적으로 회로 보드(36)의 에지들을 따라 위치된다. 이러한 배열은 특정 타입들의 소비자 오용 이벤트들, 예를 들어, 액체에 노출됨으로 인한 액체 유입을 검출하기 위해 유리할 수 있다.
복수의 센서들(38) 각각은 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 예를 들어, 접속 라인들(40)에 의해 예시된 바와 같이, 복수의 센서들(38) 각각은 오용 검출 시스템(34)에 직접적으로 접속되거나 또는 또다른 센서를 통해 간접적으로 접속될 수 있다. 복수의 센서들(38) 각각은 적어도 한 가지 타입의 소비자 오용 이벤트를 검출하고, 오용 이벤트의 검출 시, 오용 이벤트의 발생의 표시를 오용 검출 시스템(34)에 제공하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 복수의 센서들(38) 각각은, 센서가 미리 결정된 임계를 초과하는 오용 이벤트와 관련된 파라미터를 측정하는 경우 소비자 오용 이벤트가 발생했다는 표시를 제공하도록 구성될 수 있다. 오용 검출 시스템(34)은 또한 복수의 센서들(38) 각각을 계속 모니터링하여, 예컨대, 센서에서의 상태 변경을 검출함으로써, 오용 이벤트의 발생을 결정할 수 있다.
하기에 더욱 상세하게 논의될 바와 같이, 오용 이벤트가 발생했다는 표시의 수신 시에, 오용 검출 시스템은 복수의 센서들(38) 중 임의의 센서에 의해 표시되는 검출된 오용 이벤트의 레코드를 저장할 수 있다. 일부 실시예들에서, 오용 검출 시스템(34)은, 복수의 센서들(38) 중 임의의 센서로부터의 표시의 수신시, 일시적으로, 또는 일부 경우들에서 영구적으로, 디바이스(10)의 동작을 디스에이블시키도록 추가로 구성될 수 있다.
회로 보드(36)는 또한, 전술된 입력 및 출력(I/O) 포트들(18) 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 예시된 실시예에서, I/O 포트(18)는 디바이스(10)를, 예를 들어, 액세서리 디바이스(44) 또는 진단 툴(46)과 같은 하나 이상의 추가 디바이스들과 인터페이싱시키도록 구성될 수 있다. I/O 포트(18)는, 참조 번호(42)로 예시된 바와 같이, 듀얼-모드 양방향 통신 인터페이스에 커플링될 수 있다. 듀얼-모드 인터페이스(42)는 액세서리 디바이스(44) 또는 진단 툴(46)과 같은 다양한 타입들의 외부 디바이스들이 회로 보드(36) 및 I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)에 접속되도록 허용하며, 액세서리 디바이스(44)들이 하나 이상의 프로세서들(22)과 통신하게 하기 위한 정상 통신 모드, 또는 진단 디바이스들(46)이 오용 검출 시스템(34)과 통신하게 하기 위한 진단 모드와 같은, 상이한 통신 모드들을 허용할 수 있다. 하기에 논의될 바와 같이, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)는 각각의 통신 모드에 대해 별도의 서브-인터페이스들을 포함할 수 있다.
특정 실시예들에서, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)는 오용 검출 시스템(34) 및/또는 하나 이상의 프로세서들(22)과의 다수의 통신 모드들을 제공할 수 있다. 특정 통신 모드의 선택은, 예를 들어, I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)에 현재 접속되는 외부 디바이스의 타입에 의존할 수 있다. 본 발명의 예시된 실시예에서, 통신 선택 블록(도 3a에 미도시)이 둘 이상의 통신 모드들 사이에서 선택하도록 제공되고 구성될 수 있다. 통신 선택 블록은 오용 검출 시스템(34)의 일부분으로서 포함될 수 있거나, 또는 별도로 제공된 회로일 수 있다. 통신 선택 블록에 의한 통신 모드들의 선택은 I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)에 접속되는 외부 디바이스의 타입에 적어도 부분적으로 의존할 수 있다.
전술된 바와 같이, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)는 "정상" 통신 모드로서 지정되는 외부 디바이스와 디바이스(10) 사이의 하나의 통신 모드를 제공할 수 있으며, 상기 "정상" 통신 모드는 예시된 액세서리 디바이스(44)에 의해 표현되는 것과 같은 임의의 타입의 액세서리 디바이스와 디바이스(10) 사이의 디폴트 통신 모드일 수 있다. 액세서리 디바이스들(44)의 예들은, 단지 몇몇만을 명명하자면, 도킹 스테이션, FM 라디오 송신기, 스피커들 및/또는 헤드폰들, 개인용 컴퓨터 또는 랩톱, 또는 프린터를 포함할 수 있다. 따라서, 정상/디폴트 통신 모드에서 동작할 때, 오용 검출 시스템(34)은 액세서리 디바이스(44) 및 프로세서(22) 사이에서 단순히 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 정상 통신 모드는 유니버설 비동기 수신기/송신기(UART) 라인들의 세트에 의해 구현될 수 있다. 그러나, 유니버설 직렬 버스(USB) 또는 파이어 와이어(IEEE 1394)와 같은 임의의 적절한 타입의 공지된 디바이스 인터페이스들이 사용될 수 있다는 점이 당업자에 의해 이해될 것이다. 추가의 실시예들에서, 무선 인터페이스들, 예를 들어, 802.11 a/b/g 표준, 적외선, 및 블루투스가 또한 구현될 수 있다.
전술된 바와 같이, 듀얼 모드 통신 인터페이스(42)는, 일부 실시예들에 따라, 또한, 예컨대, 디바이스(10)가 I/O 포트(18)를 통해 진단 툴(46)과 인터페이싱하는 경우, 진단 기능들을 위해 예약될 수 있는 제2 진단 통신 모드를 제공할 수 있다. 진단 모드는, 예를 들어, 진단 툴(46)이 I/O 포트(18)에 접속되는 경우, 통신 선택 블록(도 3a에 미도시)에 제어 신호를 제공함으로써, 또는 정상 인터페이스(예를 들어, UART) 상에서 입력들 또는 커맨드들의 특정 시퀀스를 검출함으로써, 인에이블될 수 있다. 진단 통신 모드를 인에이블시키면, 오용 검출 시스템(34)은 UART 라인들을 통한 데이터의 전달을 중단하고, 듀얼-모드 인터페이스(42)의 진단 인터페이스 라인들을 통한 통신을 인에이블시키도록 "스위칭"한다. 특정 실시예들에서, 진단 통신 모드는 정상 통신 모드에서 사용되는 인터페이스에 비해 덜 복잡한 인터페이스에 의해 제공될 수 있다. 예를 들어, 진단 통신은 2-와이어 인터페이스, 예를 들어, I2C 인터페이스에 의해 구현될 수 있다. 그러나, 직렬 주변장치 인터페이스(SPI) 버스, 시스템 관리 버스(SMBus), 또는 지능적 플랫폼 관리 인터페이스(IMPI)와 같은 다른 비교적 간단한 인터페이스들이 또한 이용될 수 있다는 점이 당업자에 의해 이해될 것이다. 전술된 통신 선택 블록의 동작, 및 정상 및 진단 통신 모드들의 선택에 관한 추가적인 상세항목들이 하기에 추가로 상세하게 논의될 것이다.
공통 액세서리 인터페이스(예를 들어, I/O 포트(18))를 통한 지정된 진단 통신 모드의 제공은 몇몇 이유들로 인해 유리할 수 있다. 예를 들어, 소비자 오용이 디바이스(10)를 동작불능이 되게 하는 손상을 초래한 시나리오에서, 진단 툴(46)은, 손상 또는 고장의 원인의 분석을 보조하기 위해, 예시된 입력 및 출력 포트(18)를 통해 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다. 이러한 진단 장비는, 예를 들어, 진단 모드에서 동작하는 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 통해, 오용 검출 시스템(34)에 저장된 데이터를 판독 및 분석하도록 구성될 수 있다. 오용 검출 시스템(34)에 저장된 정보에 기초하여, 소비자 오용이 발생했는지의 여부 및/또는 소비자 오용이 디바이스(10)의 손상 또는 고장의 원인이 되는지의 여부가 결정될 수 있다. 하기에 더욱 상세히 논의될 바와 같이, 이러한 결정은 손상된 또는 동작불능 디바이스를 리턴시키는 소비자가 보증 동의서의 항목들 하에서 제품 교체 자격을 부여받는지 또는 수리 서비스 자격을 부여받는지의 여부에 대한 결정 인자일 수 있다.
도 3a에 예시된 실시예가 단일 회로 보드(36)를 도시하지만, 다른 실시예들에서, 디바이스(10)는 복수의 회로 보드들을 포함할 수 있다. 이러한 실시예들에서, 복수의 센서들(38)은 복수의 회로 보드들 사이에 분배될 수 있으며, 오용 검출 시스템(34)을 포함한 회로 보드(36)에 한정될 필요가 없다. 또한, 이러한 실시예들에서, 복수의 회로 보드들 각각은 하나 또는 다수의 타입들의 소비자 오용 이벤트들을 검출하기 위한 자신만의 개별 오용 검출 시스템(34)을 포함할 수 있다.
도 3b는 본 발명의 기법의 일 실시예에 따라 도 3a의 오용 검출 시스템(34)을 동작시키기 위한 예시적인 방법(50)을 도시하는 흐름도를 예시한다. 전술된 바와 같이, 복수의 센서들(38)은 한 가지 타입의 소비자 오용의 발생을 검출하기 위한 모두 동일한 타입의 센서일 수 있거나, 또는 다수의 타입들의 소비자 오용을 검출하기 위한 몇몇 상이한 타입들의 센서들을 포함할 수 있다. 오용 검출 시스템(34)의 동작은, 단계(52)에 도시된 바와 같이, 복수의 센서들(38) 중 하나 이상으로부터 오용 이벤트의 표시를 수신할 시에 개시될 수 있다. 전술된 바와 같이, 이러한 표시는, 복수의 센서들(38)을 모니터링하는 오용 검출 시스템(34)이 모니터링되는 오용 이벤트와 관련된 감지된 파라미터가 특정 임계를 초과하였다고 결정할 때 발생할 수 있다. 추가로, 복수의 센서들(38) 각각은 또한, 오용 이벤트가 발생했음을 표시하는 알람 신호를 오용 검출 시스템(34)에 제공할 수 있다.
소비자 오용의 발생 표시의 수신시에, 단계(54)에 도시된 바와 같이, 오용 검출 시스템(34)은 오용 이벤트의 발생을 저장하거나 로깅(log)할 수 있다. 로깅된 이벤트는, 예를 들어, 오용 검출 시스템(34)의 일부분으로서 포함될 수 있는 비휘발성 저장 디바이스에 저장될 수 있거나, 또는 다른 실시예들에서, 오용 검출 시스템(34)으로부터 분리된 구조일 수 있다. 전술된 바와 같이, 오용 검출 시스템(34)은 또한, 단계(56)에 의해 표시된 바와 같이, 소비자 오용 이벤트의 검출 시 디바이스 동작들을 디스에이블시킬 수 있다. 이는, 추가적인 오용을 초래할 수 있는 임의의 방식으로 사용자가 디바이스(10)를 추가로 사용하거나 동작시키는 것을 방지하기 위한 안전 메커니즘으로서 기능한다. 예를 들어, 디바이스(10)의 디스에이블은 전원(30)의 디스에이블, 소프트웨어 설정을 통한 디바이스(10)의 기능성들의 디스에이블 등에 의해 달성될 수 있다.
단계(58)에서, 디바이스(10)는 사용자가 디바이스(10)를 서비스를 위해 직접 제조자에게, 또는 원래 판매점에 리턴시켜야 한다는 일부 표시를 사용자에게 제공할 수 있다. 이는, 디스플레이(14) 상에 텍스트 메시지를 디스플레이함으로써, 도 1에 예시된 휴대용 미디어 플레이어에서, 또는 임의의 타입의 표시자, 예를 들어, LED 표시자에 의해 달성될 수 있다. 디바이스(10)를 서비스 및/또는 진단하기 위한 특정 단계들이 하기에 더욱 상세히 논의될 것이다.
이제 도 4a를 참조하면, 블록도가 본 개시내용의 실시예에 따른, 오용 검출 시스템(34)의 더욱 상세한 모습을 예시한다. 특히, 예시된 실시예의 오용 검출 시스템(34)이 액체 노출, 공통 타입의 소비자 오용을 검출하도록 적응된다. 현대 전자 디바이스들 내의 많은 컴포넌트들이 밀폐되어 봉인(seal)되어, 액체에 담겨도 손상 없이 견딜(survive) 수 있지만, 액체와의 접촉 시, 컴포넌트 보드들(예를 들어, 회로 보드(36)) 상의 패드들 및 트레이스들은 전기분해에 민감할 수 있으며, 이는 보드 상의 패드들 및 트레이스들을 형성하는 금속이 패드들 및 트레이스들로부터 컴포넌트 보드의 다른 영역들로 이동하게 할 수 있다. 이후, 액체가 완전히 건조된 경우라도, 결과적인 잔여물(residue)은 매우 도전성일 수 있고, 회로 단락이 발생하게 할 수 있다. 이는 빽빽한 프로세스 아키텍쳐들 및/또는 고 임피던스 회로 노드들을 이용하는 회로에 대해 특히 문제가 되는데, 빽빽한 프로세스 아키텍쳐들 및/또는 고 임피던스 회로 노드들 모두는 현대의 전자기기, 및 특히 휴대용 전자기기에서 널리 쓰인다(prevalent).
본 발명의 예시된 실시예의 오용 검출 시스템(34)은 액체 검출 회로(60), 클록(62), 메모리 디바이스(64), 및 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 복수의 센서들(38)은 참조 번호(40)에 의해 표시된 바와 같이 하나 이상의 통신 라인들을 통해 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 본 발명의 예시된 실시예에서, 복수의 센서들(38)은 복수의 액체 검출 센서들(38a-38d)에 의해 제공될 수 있다. 일 실시예에 따라, 액체 검출 센서들(38a-38d) 각각은, 이들에 대한 전압이 측정되는, 참조 번호 68로 도시되는, 2개의 감지 포인트들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 감지 포인트(68)는 접지(70)에 접속되는 하나의 패드, 및 오용 검출 회로(34)에 라우팅되는 제2 패드를 가지는 회로 보드(36) 상의 2개의 작은 노출된 패드들에 의해 제공될 수 있다. 2개의 접촉부들이 요구될 수 있지만, 접지된 접촉부가 공통 시스템 접지에 묶이고(tie), 이에 의해, 각각의 센서(38a-38d)에 대해 요구되는 라우팅의 양을 감소시킬 수 있다는 점에 유의해야 한다.
디바이스(10)의 정상 동작 동안, 2개의 감지 포인트들(68)을 지나는 어떠한 전류도 존재하지 않아야 한다. 그러나, 액체가 디바이스(10)에 들어가서 2개의 감지 포인트들(68)과 접촉하는 경우, 전류가 흐르기 시작할 것이다. 따라서, 복수의 액체 검출 센서들(38a-38d) 각각은 오용 검출 시스템(34)에 의해 계속 모니터링되는 동안 감지 포인트들(68)을 지나는 전류를 측정하도록 구성될 수 있다. 오용 감지 시스템(34)이, 액체 검출 센서들(38a-38d) 중 임의의 센서가 미리 결정된 전류 임계를 초과하는 전류를 보고함을 검출하는 경우, 액체 노출이 발생했다고 결정될 수 있다. 추가로, 액체 검출 센서들(38a-38d)은 스스로, 미리 결정된 임계를 초과하는 전류의 측정 시 디바이스가 액체에 노출되었음을 표시하는 알람 신호를 오용 검출 시스템(34)에 송신하도록 구성될 수 있다.
액체 유입이 디바이스(10)에서 검출되었다는 표시를 액체 검출 센서들(38a-38d) 중 임의의 센서로부터 수신할 시에, 액체 검출 회로(60)는 검출된 액체 오용 이벤트에 대응하는 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 데이터 엔트리는 오용 이벤트의 발생, 이 경우, 액체 유입의 검출을 표시하기 위한 임의의 적절한 형태의 데이터일 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 예시된 실시예에서, 액체 검출 회로(60)는 액체 유입 이벤트가 센서들(38a-38d)에 의해 검출된 날짜 및 시간에 대응하는 타임스탬프를 생성하고, 전기적 소거가능하고 프로그램가능한 판독 전용 메모리(EEPROM)와 같은 임의의 적절한 비휘발성 저장 디바이스에 의해 제공될 수 있는 저장 디바이스(64)에 상기 타임스탬프를 저장할 수 있다.
타임스탬프는 클록(62)에 기초하여 생성될 수 있다. 클록(62)은 원하는 타이밍 분해능을 제공하도록 구현될 수 있다. 예를 들어, 일 실시예에서, 오용 이벤트가 발생한 연도, 월, 주, 및 일과 관련된 정보만이 관심 대상인 경우, 클록(62)은 RC 오실레이터에 의해 제공될 수 있다. RC 오실레이터가 실시간 클록의 정확도(예를 들어, 분 및 초에 이르기까지)를 제공하지 않을 수 있지만, RC 오실레이터는, 예를 들어, 디바이스(10)가 순환 파워 온 될 때마다 RC 오실레이터를 리셋함으로써 정기적으로(routinely) 교정될 수 있다. 더 미세한 타이밍 분해능이 바람직한 추가의 실시예들에서, 클록(62)은, 예를 들어, 크리스털 오실레이터에 의해 제공되는 내부 시스템 클록으로부터 유도되는 타임스탬프들을 생성할 수 있다. 또한, 본 발명의 예시되는 실시예가 클록(62)을 오용 검출 시스템(34)에 통합되는 것으로서 도시하지만, 대안적인 실시예들에서, 클록(62)은 오용 검출 시스템(34)으로부터 별개로 구현될 수 있다.
오용 검출 시스템(34)은 또한 디바이스 상태 정보를 저장하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)는 디바이스(10)의 상태를 오용 검출 시스템(34)에 주기적으로 기록하도록 구성될 수 있다. 상태 정보는, 예를 들어, 디바이스(10)가 파워온 됨을 표시하는 "온" 상태, 디바이스(10)가 파워 오프됨을 표시하는 "오프" 상태, 또는 디바이스(10)가 전력인가되었지만 슬립 또는 스탠바이 모드임을 표시하는 "슬립" 상태를 포함할 수 있다. 추가적인 상태는 디바이스(10)의 특정 기능성들에 기초하여 정의될 수 있다. 예를 들어, 셀룰러 전화 통화를 걸 수 있는 디바이스(10)는 디바이스(10)를 사용하는 사용자가 현재 전화 통화 중임을 표시하기 위해 "인-콜(in-call)" 상태를 포함할 수 있다. 오용 이벤트가 오용 검출 시스템(34)에 의해 검출되는 경우, 전술된 타임스탬프 및 디바이스(10)의 마지막 공지된 상태가 오용 검출 시스템(34)의 저장 디바이스(64)에 레코딩될 수 있다. 추가로, 상태 정보는 타임스탬프 정보와 시간상으로 상관될 수 있다. 상태 및 타임스탬프 정보를 분석함으로서, 서비스 기술자는 오용 검출 시스템(34)에 의해 오용 이벤트가 검출된 순간에 디바이스(10)가 어떻게 사용되고 있는지를 결정할 수 있다. 이러한 분석은 특히, 소비자 오용의 발생 또는 비-발생을 검증할 시에 특히 유용할 수 있다.
추가로, 더욱 복잡한 실시예들에서, 액체 검출 센서들(38a-38d)로부터 수신되는 표시는 또한, 오용 이벤트를 검출한 특정 센서를 식별하기 위해 오용 검출 회로(34) 및 진단 장비(예를 들어, 진단 툴(46))에 의해 사용될 수 있는 식별 컴포넌트를 포함할 수 있다. 예를 들어, 이러한 식별 특징들을 이용하는 실시예들에서, 진단 유닛(46)은 어느 특정 센서가 오용 이벤트를 검출했는지를 식별할 수 있거나, 또는 오용 이벤트들이 다수의 센서들에 의해 보고된 경우, 센서들(38a-38d)이 이벤트들을 검출한 순서 또는 진행을 식별할 수 있다. 이러한 데이터는, 디바이스(10) 상에의 어디에서 액체 유입이 초기에 시작되었는지를 결정하고, 센서들(38a-38d)의 위치지정에 기초하여, 디바이스(10) 내로의 액체 유입이 진행된 정도를 결정하기 위해 유용할 수 있다. 일부 실시예들에서, 진단 유닛(46)은 디바이스(10)로의 액체 유입의 진행을 결정하기 위해 복수의 센서들(38)의 위치들에 기초하여 시각적 맵을 생성할 수 있다. 이러한 데이터는 특히 액체 유입에 더욱 민감할 수 있는 특정 제품 상의 영역들을 식별하기 위한 제조자들에게 특히 유리할 수 있으며, 따라서, 향후 제품설계들이 이러한 단점을 극복하도록 조정될 수 있다.
전술된 바와 같이, 액체 유입의 검출 시, 디바이스(10)로부터 전력을 제거하기 위해 전원(30)을 셧 오프시키거나 디스에이블시키고 따라서 전기분해 발생의 위험성을 감소시키는 것이 바람직할 수 있다. 전술된 전원(30)은 하나 이상의 충전가능한 또는 비-충전가능한 배터리들과 같은 배터리 전원, 및 전기 콘센트에 의해 제공되는 것과 같은 AC 전력 모두를 포함할 수 있다. 본 발명의 예시되는 실시예에서, 디바이스(10)는 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)를 포함할 수 있다. 전력 관리 유닛(74)은 파워 업 및 파워 다운 시퀀스들 및 다른 외부 웨이크(wake) 또는 슬립 이벤트들을 핸들링하도록 구성되는 로직을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전력 관리 로직은 실시간 클록, 및 선형 및 스위칭 레귤레이터들의 네트워크를 포함할 수 있다. 또한, AC 전력 및 배터리 전력 모두에 의해 전력인가될 수 있는 휴대용 디바이스들, 예를 들어, 도 1에 예시된 휴대용 미디어 플레이어에서, 전력 관리 유닛(74)은 배터리 전원을 충전시키도록 구성되는 배터리 충전 회로를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 예시된 실시예의 배터리 제어 회로(76)는 셀 전압 및/또는 배터리의 출력 전류를 모니터링하도록 구성될 수 있다. 배터리 제어 회로(76)가 배터리로부터 과도한 전류가 흘러나오고 있음을 검출하는 경우, 배터리 제어 회로(76)는 디스에이블 메커니즘을 통해 배터리의 출력을 디스에이블시키도록 추가로 구성될 수 있다. 디스에이블 메커니즘은, 예를 들어, 인접한(back-to-back) 전계 효과 트랜지스터(FET)들에 의해 제공될 수 있다. 추가로, 배터리 제어 회로(76)는 충전 페이즈들(예를 들어, AC 전력을 통한 충전) 동안 배터리 상태를 모니터링하도록 구성될 수 있다. 추가로, 디바이스(10)가 충전가능한 배터리들을 이용하는 실시예들에서, 배터리 제어 회로(76)는 배터리가 (예를 들어, AC 전력을 통해) 충전되는 동안 충전 전류를 모니터링하도록 추가로 구성될 수 있다. 또한, 본 발명의 예시된 실시예가 오용 검출 시스템(34)으로부터 별개인 독립형 유닛인 것으로서 배터리 제어 회로(76)를 기술하지만, 대안적인 실시예들에서, 배터리 제어 회로(76)는 오용 검출 시스템(34)에 통합될 수 있거나 또는 배터리 유닛 자체 상에 위치될 수 있다.
전술된 바와 같이, 디바이스(10)는 다수의 전원들(예를 들어, AC 전력, 배터리 전력)에 의해 전력인가될 수 있다. 따라서, 모든 전원들은 디바이스(10)에 대한 전력을 완전히 셧오프하기 위해 디스에이블되어야 한다. 본 발명의 예시된 실시예에서, 액체 검출 회로(60)는, 액체 검출 센서들(38a-38d)로부터 액체 유입을 표시하는 신호들의 수신 시, 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76) 모두를 디스에이블시키도록 구성될 수 있다. 이는, 예를 들어, 전력 디스에이블 신호를 접속 라인(78)을 통해 전력 관리 유닛(74)에 송신함으로써 그리고 배터리 출력 디스에이블 신호를 접속 라인(80)을 통해 배터리 제어 회로(76)에 송신함으로써 달성될 수 있다.
디바이스(10)에 대한 전력이 오용 이벤트의 검출에 후속하여 디스에이블되지만, 오용 검출 시스템(34)은 전력인가 상태로 유지된다. 일 실시예에서, 오용 검출 시스템(34)이 배터리 유닛에 위치될 수 있고 따라서, 배터리 제어 회로(76)가 디바이스(10)에 대한 배터리 전력 출력을 디스에이블시킨 이후라 할지라도 전력인가 상태로 계속될 수 있다. 또다른 실시예에서, 배터리 제어 회로(76)와는 독립적인 고 임피던스 전류 제한 탭이 배터리 유닛으로부터 오용 검출 시스템(34)까지 이어질 수 있다(run). 오용 검출 시스템(34)의 높은 임피던스 및 상대적으로 낮은 전류 소비 요건들이 주어지는 경우, 전류 탭이 단락된다 할지라도, 액체 유입으로 인한 디바이스(10)에 대한 위험(threat)은 기껏해야 최소가 된다.
오용 검출 시스템(34)은 오용 이벤트의 검출 시 슬립 모드로 진입하도록 추가로 구성될 수 있다. 따라서, 오용 검출 시스템(34)이 전력인가 상태로 유지된다 할지라도, 액체 검출 회로(60)와 같은 그 내부 컴포넌트들은 슬립 기간 동안 일시적으로 비활성일 수 있다(예를 들어, 센서들(38a-d)의 모니터링을 중단한다). 또한, 슬립 모드로 진입할 시, 오용 검출 시스템(34)은 또한 웨이크업 타이머를 개시할 수 있는데, 웨이크업 타이머는 오용 검출 시스템(34)을 깨우기 전에 미리 결정된 양의 시간 동안 카운트하도록 구성될 수 있다. 본 발명의 예시된 실시예에서, 웨이크업 타이머는 클록(62)에 의해 타이밍될 수 있다.
미리 결정된 웨이크업 시간이 만료된 후, 오용 검출 시스템(34)은 슬립 모드로부터 깨어, 오용 이벤트가 여전히 발생하는지의 여부를 결정하도록 디바이스(10)를 체크할 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 예시된 실시예에서, 오용 검출 회로가 깬 이후, 액체 검출 회로(60)는 액체 유입이 여전히 발생하는지의 여부를 결정하기 위해 액체 검출 센서들(38a-38d)을 다시 체크할 수 있다. 액체 유입이 여전히 발생한다는 표시가 수신되는 경우, 오용 검출 시스템(34)은 다시 한번 슬립 모드로 진입할 수 있고, 웨이크업 타이머를 다시 개시할 수 있다. 이러한 프로세스는 액체 유입이 더 이상 검출되지 않을 때까지 계속될 수 있다.
슬립 모드로부터 리턴될 시에, 액체 검출 회로(60)가 액체 유입이 더 이상 발생하지 않는다고 결정하는 경우(예를 들어, 액체 검출 센서들(38a-38d)을 다시 체크하는 경우), 오용 검출 시스템(34)은 자체 테스트 기능을 개시하여 초기 액체 유입 이벤트로부터 임의의 손상이 초래되었는지의 여부를 결정하도록 디바이스에 명령할 수 있다. 자체 테스트가 어떠한 손상도 발생하지 않았다고 결정하는 경우, 액체 검출 회로(60)는 각각 접속 라인들(78 및 80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)를 다시 인에이블시킬 수 있다. 이러한 점에서, 사용자는 정상적으로 디바이스(10)의 동작을 재개할 수 있다. 반면, 자체 테스트 결과들이 손상 또는 손상 가능성이 존재함을 표시하는 경우, 디바이스(10)는 디스에이블되거나 감소되거나 그리고/또는 제한된 동작 모드에서 유지될 수 있다. 감소되거나 제한된 동작 모드에서, 비디오 파일의 재생, 인터넷 브라우징, 또는 전화 걸기와 같은 정상 기능들은 디스에이블되어 액세스불가능한 상태로 유지될 수 있다. 일 실시예에서, 자체 테스트 기능에 의해 결정된 바와 같은, 잠재적으로 손상된 디바이스(10)의 동작은 디바이스(10)가 제조자에게 또는 서비스에 대한 판매점에 리턴되어야 한다는 표시를 사용자에게 제공하는 것으로 제한될 수 있다. 도 3b의 단계(58)에서 전술된 바와 같이, 표시는 임의의 타입의 표시자, 예를 들어, LED 표시자에 의해, 또는 도 1에 예시된 휴대용 미디어 플레이어에서 서비스에 대한 필요성을 사용자에게 지시(instruct)하는 디스플레이(14) 상의 텍스트 메시지의 디스플레이에 의해 제공될 수 있다.
디바이스(10)의 서비스는 예를 들어, I/O 포트(18)를 통해 하나 이상의 진단 디바이스들(예를 들어, 진단 툴(46))을 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)에 접속시키는 것을 포함할 수 있다. 전술된 바와 같이, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)는 예컨대, 디바이스(10)로 하여금 액세서리 디바이스들(예를 들어, 액세서리 디바이스(44))와 통신하게 하는 디폴트 통신 모드일 수 있는 정상 통신 모드, 및 진단 통신 모드와 같은, 상이한 통신 모드들을 용이하게 하기 위한 다수의 인터페이스 타입들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 일 실시예에서, 정상 통신 모드는 UART 인터페이스에 의해 제공될 수 있는 반면, 진단 통신 모드는 I2C 인터페이스와 같은 2-와이어 인터페이스에 의해 제공될 수 있다. 정상 통신 모드 동안, 오용 검출 시스템(34)은 도 3a에 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 프로세서(들)(22)와 액세서리 디바이스(44) 사이에 단순히 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다. 그러나, 디바이스(10)는 진단 모드로 진입하도록 트리거링될 수 있으며, 여기서, 오용 검출 시스템(34)은 UART 라인들을 통한 데이터 전달을 중단하고, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)의 I2C 라인들로 스위칭하여 오용 검출 시스템(34)과 진단 툴(46) 사이의 진단 통신을 허용한다. 정상 모드로부터 진단 모드로의 스위칭은 임의의 공지된 수단에 의해 인에이블되거나 트리거링될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)는, 단지 몇몇만을 예로 들자면, 특수화된 진단 툴(46)의 I/O 포트(18)로의 접속의 검출 시에 또는 UART 라인들 상의 입력들 또는 커맨드의 특정 시퀀스의 검출 시 진단 모드를 스위칭하도록 구성될 수 있다.
본 발명의 예시된 실시예들에서, 통신 모드(예를 들어, 정상 또는 진단) 및 개별 대응하는 인터페이스(예를 들어, UART 또는 I2C)의 선택은 통신 선택 블록(66)에 의해 결정될 수 있다. 통신 선택 블록(66)은 임의의 적절한 타입의 선택 로직 또는 회로에 의해 제공될 수 있다. 일 실시예에서, 통신 선택 블록(66)은 멀티플렉서에 의해 제공될 수 있다. 이러한 실시예에서, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)에 의해 제공되는 UART 및 I2C 인터페이스들은 통신 선택 블록(66)에 의해 효과적으로 멀티플렉싱될 수 있고, 공지된 방법들에 따라 선택될 수 있다. 예를 들어, 통신 선택 블록(66)은 특정 인에이블 제어 신호의 수신 시 정상 모드에서 진단 모드로 스위칭하도록 구성될 수 있다. 이러한 제어 신호는 진단 툴(46)의 접속 시 I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)로 제공될 수 있거나, 또는 전술된 바와 같이, UART 라인들 상에서 입력들 또는 커맨드의 특정 시퀀스의 검출에 후속하여 생성될 수 있다. 따라서, 디바이스(10)가 오용 이벤트로 인한 파워 다운/디스에이블에 후속하여 서비스를 위해 허가된 시설에 리턴되는 경우, 진단 유닛(46)은 오용 검출 시스템(34)에 의해 수집된 데이터를 분석하기 위해 (예를 들어, I2C 인터페이스를 통해) 진단 모드에서 듀얼 모드 통신 인터페이스(42)를 통해 오용 검출 시스템(34)과 통신하도록 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다.
또한, 전술된 바와 같이, 특정 이벤트들 또는 발생들에 대한 진단 통신 모드의 액세스의 제한에 추가하여, 특정 실시예들은 오용 검출 시스템(34)의 무결성을 제공하도록 설계된 보호장치(safeguard)들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 비휘발성 저장소(64)에 저장된 오용 이벤트 데이터는 공지된 데이터 암호화 기법들을 이용할 수 있고, 그리고/또는 데이터에 대한 액세스가 허용되기 전에 패스키(passkey) 또는 다른 형태의 보안 인증을 요구할 수 있다. 추가로, 디바이스(10)는 오용 검출 시스템(34)의 제거를 검출하고, 오용 검출 시스템(34)의 부재가 검출되는 경우 디바이스(10) 부팅 또는 동작을 방지하도록 구성될 수 있다. 이러한 추가적인 보호장치들은 예를 들어, 가짜 보증서 등록 목적으로, 비휘발성 저장소(64)에 저장된 오용 이벤트 데이터를 제거, 액세스, 변경 및/또는 삭제하려고 시도할 수 있는 교묘한 소비자들에 대한 유용한 대응책일 수 있다.
오용 검출 시스템(34)의 전술된 특징들이 주로 하드웨어 엘리먼트들을 참조하여 기술되었지만, 하기에 설명되는 실시예들을 포함한 추가적인 실시예들에서, 이들 특징들 중 하나 이상이 또한 임의의 컴퓨터 판독가능한 매체 상에 저장된 컴퓨터 프로그램과 같은 소프트웨어를 통해 구현될 수 있다는 점이 당업자에 의해 이해될 것이다.
이제 도 4b의 흐름도를 참조하면, 도 4a의 오용 검출 시스템(34)을 동작시키기 위한 예시적인 방법(90)이 예시된다. 방법(90)은, 단계(92)에 의해 표현된 바와 같이, 도 4a의 액체 검출 센서들(38a-38d) 중 임의의 센서를 통해 액체 유입의 검출시 개시될 수 있다. 전술된 바와 같이, 액체 유입이 발생했다는 표시를 액체 검출 센서들(38a-38d) 중 임의의 센서로부터 수신할 시에, 액체 오용 이벤트의 데이터 레코드가 오용 검출 시스템(34)에 의해 생성되고, 예를 들어, 비휘발성 저장 디바이스(64)에서, 단계(94)에 의해 표시되는 바와 같이 저장될 수 있다. 데이터 레코드는 오용 이벤트가 언제 발생했는지에 대응하는, 클록(62)으로부터 생성된 타임스탬프를 포함할 수 있다. 또한, 데이터 레코드는, 전술된 바와 같이, 센서 식별 컴포넌트 및 디바이스 상태 정보를 포함할 수 있다.
이후, 단계(96)에서, 오용 검출 시스템(34)은 하나 이상의 전원들(30)을 셧오프함으로써 디바이스(10)에 대한 전력을 디스에이블할 수 있다. 도 4a의 예시된 실시예에서, 디바이스(10)에 대한 전력의 디스에이블은 각각 접속 라인(78) 및 접속 라인(80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76) 각각에 비활성화 신호들을 송신함으로써 달성될 수 있다. 위에 논의된 바와 같이, 이는 디바이스(10) 내에서 회로 보드들 또는 컴포넌트들에 대한 손상을 야기하는 전기분해의 위험성을 현저하게 감소시킬 수 있다. 또한, 단계(96)에서 디바이스(10)에 대한 전력의 디스에이블 시에, 오용 검출 시스템(34)은 스탠바이 또는 슬립 모드로 트랜지션할 수 있다.
오용 검출 시스템은, 단계(98)에서, 미리 결정된 시간량 동안 카운트하도록 설정될 수 있는 웨이크업 타이머를 개시할 수 있다. 단계(100)에서, 오용 검출 시스템(34)은 미리 결정된 시간량이 만료되었는지의 여부를 결정하도록 타이머를 체크한다. 시간이 만료되지 않은 경우, 오용 검출 시스템(34)은 시간이 만료될 때까지 주기적으로 타이머를 체크하는 단계(100)를 반복할 수 있다. 웨이크업 타이머가 만료된 경우, 오용 검출 시스템(34)은 단계(102)에 의해 표시된 바와 같이, 슬립 모드로부터 깨어서, 디바이스(10)가 여전히 액체 유입을 겪고 있는지의 여부를 결정하도록 구성될 수 있다. 이러한 단계는 액체 유입의 표시를 위해 액체 검출 센서들(38a-38d)의 전류 판독들을 다시 체크하는 것을 포함할 수 있다.
결정 블록(104)에서, 액체 검출 센서들(38a-38d)이 액체 유입이 여전히 존재하며 발생함을 표시하는 경우, 오용 검출 시스템(34)은 슬립 모드로 리턴하고, 따라서, 프로세스를 단계(96)로 되돌릴 수 있다. 단계(102)에서 웨이크 시, 오용 검출 시스템(34)이 어떠한 액체 유입도 검출하지 않는 경우, 오용 검출 시스템(34)은 단계(106)에서 자체 테스트 기능을 수행하여 이전에 검출된 액체 유입 이벤트 또는 이벤트들로부터 임의의 손상이 초래되었는지의 여부를 결정하도록 디바이스(10)에 명령할 수 있다. 결정 블록(108)에서, 디바이스(10)가 자체 테스트 기능에 통과하는 경우, 전력이 복원되고 정상 기능들이 다시 인에이블되어, 단계(110)에 의해 표시된 바와 같이, 사용자로 하여금 디바이스(10)의 사용을 재개하게 할 수 있다. 그러나, 디바이스(10)가 단계(106)에서 수행된 자체 테스트에 실패하는 경우, 사용자는 서비스를 위해 제조자에 또는 판매점에 디바이스(10)를 리턴시키도록 지시받거나 또는 사용자에게 서비스를 위해 제조자 또는 판매점에 디바이스(10)를 리턴시키라는 표시가 주어질 수 있다.
이제 도 5a를 참조하면, 또다른 실시예에 따른, 도 4a의 액체 오용 검출 시스템(34)의 대안적인 실시예의 블록도가 예시된다. 도 4a 내의 블록들과 본질적으로 동일한 기능을 수행하는 도 5a 내의 블록들은 동일한 참조 번호들로 넘버링되었다.
본 발명의 예시된 도 5a의 오용 검출 시스템(34)은 전술된 액체 검출 회로(60), 클록(62), 및 통신 선택 블록(66)을 포함한다. 오용 검출 시스템(34)은 복수의 액체 검출 센서들(38a'-38d')에 전자적으로 커플링되며, 여기서 복수의 액체 검출 센서들(38a'-38d') 각각은 "정상" 상태 또는 "트립(tripped)" 상태를 표시하도록 구성된다. 따라서, 오용 검출 시스템(34)은 도 4a의 비휘발성 저장 디바이스(64)와 같은 메모리 디바이스에 의존하는 것이 아니라, 참조 번호(38a'-38d')에 의해 지정되는, 각각의 액체 검출 센서의 상태를 판독한다. 일 실시예에서, 액체 센서들(38a'-38d')은 도 4a의 전술된 액체 검출 센서들(38a-38d)과 유사하지만 센서 상태를 저장하기 위한 메모리 엘리먼트들을 포함하는 방식으로 액체 유입의 발행을 검출한다. 예를 들어, 액체 검출 센서들(38a'-38d')은 어떠한 액체 오용도 발생하지 않은 경우 정상 상태를 표시할 수 있다. 그러나, 액체 유입의 검출 시, 영향받은 센서들, 예를 들어, 센서(38a')는 트립 상태로 트랜지션할 수 있다. 또한, 특정 실시예들에서, 트립 센서(38a')는 트립 상태로 영구적으로 고정될 수 있다. 다른 실시예들에서, 트립 센서(38a')는 허가된 서비스 센터에 의해 리셋될 수 있다.
액체 검출 회로(60)가 센서, 예를 들어, 센서(38a')와 같은 센서가 트립 상태로 트랜지션되었다고 결정하는 경우, 액체 검출 회로(60)는 디바이스(10)에 대한 전력을 디스에이블하도록 구성될 수 있다. 전술된 바와 같이, 이는 각각 통신 라인들(78 및 80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 디스에이블 신호들을 송신함으로써 달성될 수 있다. 디바이스(10)에 대한 전력의 디스에이블에 후속하여, 사용자는 서비스를 위해 허가된 서비스 센터에 디바이스(10)를 리턴시키기 위한 표시를 제공받을 수 있다. 디바이스(10)의 서비스는 액체 검출 센서들(38a'-38d')의 상태를 판독하도록, 예를 들어, I/O 포트(18)를 통해 디바이스에 진단 툴(46)을 접속시키는 것을 포함한다. 전술된 바와 같이, 통신 선택 블록(66)은 정상 통신(예를 들어, UART) 및 진단 통신 모드(예를 들어, I2C) 사이에서 동작하도록 듀얼 모드 통신 인터페이스(42)를 스위칭하기 위한 메커니즘을 제공할 수 있다. 하기에 더욱 상세히 논의될 바와 같이, 디바이스의 서비스 동안 어떤 손상도 검출되지 않는 경우, 트립 센서(38a')는 정상 상태로 리셋될 수 있고, 디바이스(10)의 정상 동작이 다시 인에이블될 수 있다.
추가적인 실시예들에서, 액체 검출 센서들(38a'-38d')은 또한 유전 물질을 포함할 수 있다. 유전 물질은, 액체에 대해 노출될 시 특징들을 변경시켜서 디바이스(10)가 액체에 노출되었다는 물리적 표시를 제공하는 임의의 적절한 유전체일 수 있다. 예를 들어, 유전 물질이 2개의 용량성 엘리먼트들 사이에 배치되어 커패시터를 형성할 수 있고, 유전 물질이 액체에 접촉(예를 들어, 흡수)하게 될 때 커패시턴스가 변경될 수 있다. 이러한 정보는 리턴된 디바이스의 분석 실패 시에 특히 유용할 수 있고, 따라서, 제조자는 액체 유입이 시작된 장소, 및 디바이스(10) 내로의 액체 유입이 진행된 정도를 결정할 수 있다. 이러한 정보를 사용하여, 제조자는 액체 유입에 더욱 잘 견디도록 제품의 추후 설계들을 개선할 수 있다.
도 5b는 본 발명의 기법의 일 실시예에 따른 도 5a의 오용 검출 시스템(34)을 동작시키기 위한 예시적인 방법(120)을 도시하는 흐름도를 예시한다. 오용 검출 시스템(34)의 동작은, 단계(122)에 도시된 바와 같이, 액체 유입의 발생 표시를 수신할 시에 개시될 수 있다. 액체 유입의 발생의 검출 시에, 영향받은 센서들, 예를 들어, 센서(38a')는, 단계(124)에 의해 예시된 바와 같이 정상 상태에서 트립 상태로 트랜지션한다. 후속적으로, 오용 검출 시스템(34)은 단계(126)에 의해 표시된 바와 같이, 디바이스의 동작을 디스에이블시킬 수 있다. 이는, 추가적인 손상을 초래할 수 있는 임의의 방식으로 사용자가 디바이스(10)를 추가로 사용하거나 동작시키는 것을 방지하기 위한 안전 메커니즘으로서 기능한다. 전술된 바와 같이, 디바이스(10)를 디스에이블시키는 것은 전원(30)(예를 들어, 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76))의 디스에이블, 소프트웨어 설정들을 통한 디바이스(10)의 기능성들의 디스에이블 등에 의해 달성될 수 있다. 단계(128)에서, 디바이스(10)는 디바이스(10)가 서비스를 위해 직접 제조자에게, 또는 원래 판매점에 리턴되어야 한다는 일부 표시를 사용자에게 제공할 수 있다. 전술된 바와 같이, 이는, 디스플레이(14) 상에 텍스트 메시지를 디스플레이함으로써, 도 1에 예시된 휴대용 미디어 플레이어에서, 또는 임의의 타입의 표시자, 예를 들어, LED 표시자에 의해 달성될 수 있다.
이제 도 5c를 참조하면, 본 발명의 기법의 일 실시예에 따른, 도 5a의 디바이스(10)를 서비스하기 위한 예시적인 방법(130)이 예시된다. 방법(130)은 단계(132)에서, 디바이스(10)가 소비자에 의해 허가된 서비스 센터, 예를 들어, 서비스를 위한 판매점에서의 판매자 또는 제조자에게 리턴되는 경우 개시된다.
단계(134)에서, 디바이스(10)는 진단 장비와 인터페이싱된다. 전술된 바와 같이, 진단 장비, 예를 들어, 진단 유닛(46)은 하나 이상의 I/O 포트들(18)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다. 진단 장비는, 예를 들어, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 통해 디바이스(10)와 통신하도록 구성될 수 있으며, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)는 디바이스 통신 모드를 정상 통신 모드에서 진단 통신 모드로 스위칭하여, 이에 의해, 단계(136)에 의해 표시되는 바와 같이, 진단 툴(46)이 오용 검출 시스템(34)에 액세스하여 센서 데이터를 판독하게 할 수 있다.
결정 블록(138)에서, 진단 툴(46)은 센서들(38a'-38d') 중 임의의 것이 트립 상태인지의 여부를 결정한다. 진단이 어떠한 센서도 트립 상태가 아님을 표시하는 경우, 디바이스 오류 또는 고장의 원인이 가능하게는 보증 정책에 의해 커버될 제조 결함 또는 다른 이벤트에 의한 것일 수 있음이 추론될 수 있다. 그렇게 결정되는 경우, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은 먼저, 단계(140)에 예시된 바와 같이 자체 테스트 루틴을 개시하여, 만약 존재하는 경우, 리턴된 디바이스(10)에 존재하는 손상의 정도를 결정할 수 있다. 결정 블록(142)에서, 리턴된 디바이스(10)가 단계(140)의 자체 테스트 루틴을 통과하는 경우, 디바이스(10)는 어떠한 손상도 겪지 않았거나, 또는 기껏해야 디바이스(10)의 정상 동작에 영향을 주기에는 불충분한 무시가능한 손상을 겪었다는 결론이 내려질 수 있다. 이것이 바로 그러한 경우라면, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은, 예를 들어, 단계(148)에 의해 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 마스터 리셋을 수행함으로써 정상 디바이스 동작을 다시 인에이블시켜서, 디바이스(10)를 소비자에게 돌려줄 수 있다. 결정 블록(142)으로 돌아가서, 디바이스(10)가 단계(140)의 자체 테스트 루틴에 실패하는 경우, 단계(144)에 의해 도시된 바와 같이 보증 정책의 항목들 하에서 제품 리턴이 개시될 수 있고, 방법(130)은 이후 종료된다. 여기서 사용된 바와 같은 용어 "리턴"은 리턴된 디바이스(10)를 수리하여 작동 순서로 복원시키는 것 및 리턴된 디바이스를 작동하는 교체 디바이스와 교환하는 것 둘 모두를 포함할 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
이제 결정 블록(138)을 참조하면, 오용 검출 시스템(34)의 분석이 센서들(38a'-38d') 중 하나 이상이 트립 상태임을 표시하는 경우, 디바이스(10)가 이전에 액체 오용이 있었을 수 있으며, 보증 정책의 항목 하에서의 수리 또는 교체에 부적합하다고 결정될 수 있다. 단계(150)에서, 자체 테스트 루틴은 액체 오용이 디바이스(10)를 손상시키고 그리고/또는 동작불가능하게 할만큼 충분히 심각했는지의 여부를 결정하도록 수행될 수 있다. 결정 블록(152)에서, 리턴된 디바이스(10)가 단계(150)의 자체 테스트 루틴을 통과한 경우, 디바이스(10)에 의해 경험된 오용 이벤트가 영구적 손상을 초래하지 않았거나 또는 기껏해야 디바이스(10)의 정상 동작에 영향을 주기에는 불충분한 무시가능한 손상을 초래했다는 결론이 내려질 수 있다. 이것이 바로 그러한 경우라면, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은, 먼저, 단계(146)에 의해 표시된 바와 같이 임의의 트립 센서들을 리셋하고, 이후, 예를 들어, 단계(148)에 의해 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 마스터 리셋을 수행함으로써 정상 디바이스 동작을 다시 인에이블시킬 수 있다. 결정 블록(152)으로 돌아가서, 디바이스(10)가 단계(148)의 자체 테스트 루틴에 실패하는 경우, 액체 오용 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스(10)가 동작 불가능하게 할만큼 충분한 손상을 야기했다는 결론이 내려질 수 있다. 또한, 손상이 소비자 오용의 결과인 것으로 결정되고 따라서 보증에 의해 커버되지 않으므로, 단계(154)에 의해 예시된 바와 같이 제품 리턴 요청이 거절될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)를 서비스하는 직원 또는 기술자는 소비자에게, 디바이스(10)의 고장 원인이 보증 하에서 커버되지 않음을 통지할 수 있다. 이 점에서, 소비자는 임의의 필요한 수리 서비스에 대한 비용을 지불하거나 또는 교체 제품을 구매하는 것을 선택할 수 있다.
도 4a 및 5a에 의해 예시된 실시예들이 디바이스(10)의 액체 노출을 수반한 소비자 오용 이벤트들의 검출에 관한 것이지만, 다른 실시예들이 다양한 상이한 타입들의 소비자 오용 이벤트들을 검출하기 위해 적응될 수 있다는 점이 당업자에 의해 이해될 것이다. 예를 들어, 대안적인 실시예들이 도 6-9에 예시되며, 여기서, 도 4a 및 5a 내의 블록들과 도 6-9 내에서 본질적으로 동일한 기능을 수행하는 블록들은 동일한 참조 번호로 넘버링된다.
이제 도 6을 참조하면, 본 발명의 기법의 제2 실시예가 예시된다. 특히, 본 발명의 예시된 도 6의 오용 검출 시스템(34)은 디바이스(10)를 극도의 온도에 노출시킴으로 인한 소비자 오용의 발생을 검출하도록 적응되며, 열 검출 회로(156), 및 전술된 클록(62), 비휘발성 저장소(64), 및 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 열 센서(38e)는 통신 라인(40)을 통해 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 본 발명의 예시된 실시예의 열 센서(38e)는 열전대, 서미스터, 부온도계수(NTC) 저항에 의해, 또는 온도를 감지할 수 있는 임의의 적절한 디바이스에 의해 제공될 수 있다.
본 발명의 예시된 실시예에서, 열 센서(38e)는 디바이스(10)에 대해 내부에 또는 외부에 위치될 수 있다. 대안적인 실시예에서, 열 센서(38e)는 총 온도 감지를 위해 오용 검출 시스템(34)에 통합될 수 있다. 또한, 예시된 실시예가 오직 단일 열 센서(38e)만을 도시하지만, 또한 추가적인 열 센서들이 구현되어 오용 검출 시스템(34)에 접속될 수 있다는 점이 당업자에 의해 이해될 것이다. 그러나, 디바이스(10)의 사이즈에 따라, 다수의 열 센서들의 사용은 불필요할 수 있다(redundant). 즉, 디바이스(10)가 도 1의 휴대용 미디어 플레이어와 같은 소형 휴대용 디바이스라고 가정하면, 소형 휴대용 디바이스의 임의의 부분을 극도의 온도에 노출시키는 것은 일반적으로 전체 디바이스에 균일하게 영향을 미칠 것이며, 여기서 단일 센서가 열적 노출을 모니터링하기에 충분할 수 있다. 그러나, 디바이스(10)가 더 크고 휴대성이 덜한 디바이스인 경우, 디바이스(10)에 걸친 다양한 위치들에서 위치되는 다수의 센서들을 이용하는 것이 바람직할 수 있다.
열 센서(38e)는 하나 이상의 온도 임계들에 따라 동작할 수 있다. 예를 들어, 하나의 임계는 디바이스(10)가 극도의 고온에 노출되었는지의 여부, 예를 들어, 디바이스(10)를 장기간 동안 햇볕에 두었는지의 여부를 검출하기 위한 고온 임계일 수 있다. 반면, 또다른 임계는 디바이스(10)가 극도의 저온에 노출되었는지의 여부를 검출하기 위한 저온 임계일 수 있다. 또한, 다른 실시예들에서, 하나의 열 센서는 고온 노출을 검출하기 위해 사용될 수 있고, 또다른 열 센서는 저온 노출을 검출하기 위해 이용될 수 있다. 열 센서(38e)는 내부 온도를 측정하기 위해 디바이스(10)에 대해 내부에 있을 수 있거나, 또는 주변 온도를 측정하기 위해 디바이스(10)에 대해 외부에 있을 수 있다. 실제로, 특정 실시예들은 내부 및 외부 열 센서들을 모두 포함할 수 있다.
예시된 실시예에서, 열 센서(38e)가 디바이스(10) 내의 온도가 설정된 임계를 초과했음을 검출하는 경우, 열 센서(38e)는 열적 오용 이벤트가 발생했다는 표시를 열 검출 회로(156)에 제공하도록 구성될 수 있다. 일반적으로 전술된 바와 같이, 이러한 표시는 열적 오용 검출 회로(156)가 열 센서(38e)를 계속 모니터링하면서, 미리 결정된 임계를 초과하는 열 센서(38e)로부터 측정된 열적 파라미터를 수신할 때 제공될 수 있다. 또한, 열 센서(38e) 그 자체는 미리 결정된 임계를 초과하는 온도를 측정할 시에 디바이스(10)가 과도한 온도에 노출되었음을 표시하는 알람 신호를 열 검출 회로(156)에 송신하도록 구성될 수 있다. 특정 실시예들에서, 열 센서(38e)는 온도 임계가 초과되었다는 것 뿐만 아니라 열 검출 회로(156)에 표시를 송신하기 전에 특정 미리 결정된 시간량 동안 임계가 초과되었음을 검출하도록 구성될 수 있다. 이러한 실시예들의 목적은 디바이스(10)가, 단지 디바이스(10)에서 손상이 발생할 것이 타당하게 기대될 만큼 충분히 길지 않은 짧은 기간 동안 고온에 노출되는 이벤트들을 필터링하거나 무시하는 것이다.
열 센서(38e)로부터 표시를 수신할 시에, 열 검출 회로(156)는 검출된 열적 오용 이벤트에 대응하는 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 전술된 바와 같이, 데이터 엔트리는 열적 이벤트가 열 센서(38e)에 의해 검출되었던 시간에 대응하는(예를 들어, 클록(62)에 기초하여 생성된) 타임스탬프의 형태일 수 있으며, 전술된 바와 같은 임의의 적절한 비휘발성 저장 디바이스(예를 들어, EEPROM)에 의해 제공될 수 있는 메모리 디바이스(64)에 저장될 수 있다. 또한, 데이터 엔트리들은 오용 이벤트가 검출된 때의 디바이스(10)의 동작 상태를 포함할 수 있다. 또한, 다수의 열 센서들을 이용하는 실시예들에서, 데이터 엔트리는 또한 어떤 특정 센서 또는 센서들이 이벤트를 검출했는지를 식별하기 위한 진단 목적으로 사용될 수 있는 식별 컴포넌트를 포함할 수 있다.
열적 오용 이벤트의 검출 시, 열 검출 회로(156)는 또한 디바이스(10)에 대한 전력을 디스에이블하도록 구성될 수 있다. 전술된 바와 같이, 이는 각각 통신 라인들(78 및 80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 디스에이블 신호들을 송신함으로써 달성될 수 있다. 열 검출 회로(156)는 또한 오용 검출 시스템(34)을 슬립 모드로 두고, 클록(62)에 의해 타이밍될 수 있는 웨이크업 타이머를 개시하여 열적 오용이 여전히 발생하는지의 여부를 결정하기 위해 미리 결정된 시간량 이후 오용 검출 시스템(34)을 주기적으로 깨우도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 웨이크 시에, 열 검출 회로(156)는 현재 검출된 온도들이 여전히 전술된 임계(들)를 초과하는지의 여부를 결정하기 위해 열 센서(38e)를 다시 체크할 수 있고, 검출된 온도들이 허용가능한 임계(들)를 초과한다고 결정되는 경우, 열 검출 회로(156)는 오용 검출 시스템(34)을 다시 슬립 모드로 두고 웨이크업 타이머를 다시 개시하도록 구성될 수 있다.
대안적으로, 웨이크 시에 오용 검출 시스템(34)이 검출된 온도가 임계(들)를 초과하지 않는다고 결정하는 경우, 열 검출 회로(156)는 전술된 자체 테스트 기능을 수행하여, 만약 존재하는 경우, 온도 노출로 인해 발생할 수 있는 손상의 정도를 결정하도록 디바이스(10)에 명령할 수 있다. 자체 테스트 결과들에 의해 어떠한 손상도 보고되지 않는 경우, 디바이스(10)는 정상 동작 모드로 리턴할 수 있다. 그러나, 일부 손상 또는 손상 가능성이 검출되는 경우, 사용자는 서비스를 위해 디바이스를 제조자에게 또는 판매점에 리턴시키도록 지시받을 수 있다. 이러한 서비스 활동들은 진단 유닛(64)을 듀얼-모드 통신 채널(42)을 경유하여 통신 선택 블록(66)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱하게 하는 것을 포함할 수 있다. 이는 기술자들이 비휘발성 저장소(64) 내에 저장된 데이터를 분석하고, 열적 오용 이벤트가 발생했는지의 여부를 결정하게 할 수 있다.
도 6의 예시된 실시예가 디바이스(10)가 노출된 외부 온도들을 검출하기에 유용할 뿐만 아니라, 예를 들어, 가능한 열적 오용에 대해 가능하게 될 이러한 방식으로 사용자가 디바이스를 동작시킬 때, 내부 온도 이벤트들을 검출하기 위해 유용할 수 있다는 점에 추가로 유의해야 한다. 예를 들어, 일부 사용자들은 디바이스(10)가 동작하도록 설계되었을 수 있는 것을 초과한 레벨로 전체 프로세싱 속도를 증가시키기 위해 디바이스(10) 내의 하나 이상의 프로세서들의 버스 속도를 증가시키려고 시도할 수 있다. 이는 일반적으로 "오버-클로킹(over-clocking)"이라 참조된다. 그러나, 프로세서의 버스 속도를 증가시킴으로써, 프로세서에 의한 열 출력은 일반적으로 비례하여 증가한다. 따라서, 도 6의 오용 검출 시스템(34)은 또한, 예를 들어, 프로세서에 커플링된 내부 열 센서를 통해, 이러한 타입들의 열적 오용 이벤트들을 검출하도록 지시될 수 있다.
도 7은 과도한 충격 또는 드롭 이벤트들에 관한 소비자 오용 이벤트들을 검출하도록 적응되는 본 발명의 오용 검출 시스템(34)의 제3 실시예를 예시한다. 도 7의 오용 검출 시스템(34)은 충격 검출 회로(158), 및 전술된 클록(62), 비휘발성 저장소(64), 및 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 충격 센서(38f)는 통신 라인(40)을 통해 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 특정 실시예들에서, 충격 센서(38f)는 충격, 이동, 진동 등을 측정하기 위한 임의의 적절한 디바이스에 의해 제공될 수 있다. 예를 들어, 충격 센서(38f)는 중력으로 인한 가속도 또는 진동을 측정하도록 구성되는 가속도계를 통해 구현될 수 있다. 사용될 수 있는 추가적인 타입들의 충격 센서들은 본 출원의 양수인에게 양도되고, 그 개시내용이 여기에 참조로 포함되는, 2007년 3월 15일에 출원된 "Mounted Shock Sensor"라는 명칭의 미국 특허 출원 일련번호 제 11/725,008호에 기술된다. 또한, 본 발명의 예시된 실시예에 단일 충격 센서(38f)가 도시되지만, 다른 실시예들은 디바이스(10)의 사이즈, 기능들, 및 특성들에 따라 다수의 충격 센서들을 포함할 수 있다.
충격 센서(38f)는 미리 결정된 충격 레벨 임계에 기초하여 동작하도록 구성될 수 있다. 충격 이벤트는, 예를 들어, 사용자에 의해 드롭된 이후 디바이스(10)가 특정량의 힘을 가지고 지면(ground) 또는 임의의 다른 물체에 대해 충돌하는 경우 발생할 수 있다. 예를 들어, 충격 센서(38f)는, 감지된 진동 레벨(예를 들어, 디바이스가 지면에 충돌함)이 미리 결정된 진동 임계를 초과하는 경우, 또는 감지된 가속도 레벨(예를 들어, 디바이스(10)가 드롭된 이후에 떨어짐)이 미리 결정된 가속도 레벨을 초과하는 경우, 충격 검출 회로(158)에 충격 오용 이벤트의 발생의 표시를 제공하도록 구성될 수 있다. 실제로, 특정 실시예들은 다수의 타입들의 충격 이벤트들(예를 들어, 진동 또는 가속)을 검출하기 위한 다수의 타입들의 충격 센서들을 포함할 수 있다.
또한, 전술된 바와 같이, 충격 이벤트의 발생의 표시는 충격 검출 회로(158)에 의해 제공될 수 있다. 예를 들어, 충격 센서(38f)를 계속 모니터링하는 동안, 충격 검출 회로(158)는 미리 결정된 충격 임계를 초과하는 측정된 충격 파라미터를 충격 센서(38f)로부터 수신할 수 있다. 추가로, 충격 센서(38f) 그 자체는 미리 결정된 임계를 초과하는 충격 파라미터를 측정할 시에 디바이스(10)가 과도한 충격 또는 힘에 노출되었음을 표시하는 알람 신호를 충격 검출 회로(158)에 송신하도록 구성될 수 있다. 충격 센서(38f)가 동작하는 임계들은 디바이스(10)의 속성에 의존할 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)가, 일반적으로 상당한 충격에 견디도록 설계되지 않은, 상대적으로 민감하고 깨지기 쉬운 전자 디바이스, 예를 들어, 랩톱 컴퓨터인 경우, 진동 및/또는 가속 임계들이 상대적으로 낮게 설정될 수 있고, 따라서, 충격 센서(38f)는 소량의 진동 또는 가속이 검출되었을 때조차 소비자 오용의 발생을 검출하여 표시할 수 있다. 그러나, 고체 상태 메모리 기반 미디어 플레이어들과 같이, 디바이스(10)가 더욱 내구성이 있도록 설계되는 경우, 임계들은 더 높은(예를 들어, 허용오차가 더 큰) 레벨로 설정될 수 있다.
예시된 실시예에서, 충격 센서(38f)가 미리 결정된 충격 임계를 초과하는 충격 이벤트를 검출하는 경우, 충격 센서(38f)는 충격 오용 이벤트가 발생했다는 표시를 충격 검출 회로(158)에 제공하도록 구성될 수 있다. 충격 센서(38f)로부터 표시를 수신 시에, 충격 검출 회로(158)는 검출된 충격 오용 이벤트에 대응하는 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 전술된 바와 같이, 이러한 데이터 엔트리들은, 충격 이벤트가 충격 센서(38f)에 의해 검출된 시간에 대응하는, 예를 들어, 클록(62)에 의해 생성된 타임스탬프의 형태일 수 있다. 데이터 엔트리들은 또한 오용 이벤트가 검출된 때의 디바이스(10)의 동작 상태를 포함할 수 있다. 데이터 엔트리들은, 진단 유닛(46)에 의한 추후 사용 및 분석을 위해, 예를 들어, 참조 번호 64로 표시된, 임의의 적절한 비휘발성 저장 디바이스에 저장될 수 있다. 또한, 다수의 충격 센서들을 이용하는 실시예들에서, 데이터 엔트리는 또한 어떤 특정 센서 또는 센서들이 이벤트를 검출했는지를 식별하기 위한 진단 목적으로 사용될 수 있는 식별 컴포넌트를 포함할 수 있다.
충격 오용 이벤트의 검출 시에, 충격 검출 회로(158)는 전술된 액체 검출 회로(60) 및 열 검출 회로(156)와 유사한 방식으로 동작할 수 있다. 즉, 충격 검출 회로(158)는, 예를 들어, 각각 통신 라인들(78 및 80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 전력 디스에이블 신호들을 송신함으로써 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 유닛(76) 모두에 대한 전력을 일시적으로 디스에이블시키도록 구성될 수 있다.
충격 검출 회로(158)는 또한 오용 검출 시스템을 슬립 모드로 두고, 클록(62)에 의해 타이밍될 수 있는 웨이크업 타이머를 개시하여 진동 또는 가속 레벨들이 여전히 전술된 임계(들)를 초과하는지의 여부를 결정하도록 충격 센서(38f)를 다시 체크하기 위해 미리 결정된 시간량 이후 오용 검출 시스템(34)을 주기적으로 깨우도록 구성될 수 있다. 이는, 예를 들어, 사용자가 혹독한 물리적 활동에 참여하는 동안 사용자가 디바이스(10)를 휴대할 때와 같이, 일정한 지속적인 격동적인 활동이 존재하는 환경에 디바이스(10)가 현재 존재하는 경우 특히 유용할 수 있다. 예를 들어, 오용 검출 시스템(34)의 웨이크 시에, 가속 및/또는 진동 레벨들이 여전히 허용가능한 임계를 초과한다고 결정되는 경우, 충격 검출 회로(158)는 오용 검출 시스템(34)을 슬립 모드로 두고, 웨이크업 타이머를 다시 개시하도록 구성될 수 있다.
대안적으로, 슬립 모드로부터의 웨이크 시에, 충격 검출 회로(158)가, 충격 센서(38f)가 검출된 진동 및/또는 가속 활동이 허용가능한 레벨들 내에 있음을 표시한다고 결정하는 경우, 충격 검출 회로(158)는, 전술된 자체 테스트 기능을 수행하여, 만약 존재하는 경우, 충격 이벤트(들)로 인해 발생할 수 있는 손상의 정도를 결정하도록 디바이스(10)에 명령할 수 있다. 자체 테스트 결과들에 의해 어떠한 손상도 보고되지 않는 경우, 디바이스(10)는 정상 동작 모드로 리턴할 수 있다. 그러나, 일부 손상 또는 손상 가능성이 검출되는 경우, 사용자는 서비스를 위해 디바이스를 제조자에게 또는 판매점에 리턴하도록 지시받을 수 있다. 전술된 바와 같이, 디바이스를 서비스하는 것은 진단 유닛(46)을 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 경유하여 전술된 통신 선택 블록(66)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱하게 하는 것을 포함할 수 있다. 이는 비휘발성 저장소(64) 내에 저장된 데이터의 판독 및 분석으로, 충격 오용 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스(10) 내에서 발생했는지의 여부 및 충격 오용 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스(10) 내에서 발생한 정도를 결정하게 할 수 있다.
관심 대상일 수 있는 추가적인 타입의 소비자 오용은 조작(tampering)이며, 이는 일반적으로, 정상 방식으로 디바이스(10)를 동작시키는 것과 관련되지 않은 디바이스(10)와의 임의의 종류의 상호작용을 포함하는 것으로서 정의될 수 있다. 한가지 타입의 조작은 사용자가 디바이스(10)를 개봉 또는 해체하여 내부에 있는 하나 이상의 컴포넌트들을 조작할 때 발생할 수 있다. 예를 들어, 소비자들은, 저작권 보호 및/또는 디지털 권한 관리(DRM) 컴포넌트들을 피하는 것(circumventing)과 같은 다양한 이유들로 컴포넌트들을 추가하거나 제거하기 위해 디바이스 하우징(예를 들어, 하우징(12))을 개봉하려고 시도할 수 있다. 조작은 또한, 전술된 바와 같이, 오용 검출 시스템(34)의 하나 이상의 컴포넌트들의 제거를 시도하는 것을 포함할 수 있다.
도 8은 정상적 사용과 관련되지 않은 방식으로 디바이스(10)를 조작함으로 인한 사용자 오용을 검출하도록 적응되는 본 개시내용의 오용 검출 시스템(34)의 또다른 예를 예시한다. 도 8의 오용 검출 시스템(34)은 조작 검출 회로(160), 및 전술된 클록(62), 비휘발성 저장소(64), 및 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 연속성(continuity) 센서(38g)와 같은 조작 검출 메커니즘이 통신 라인(40)을 통해 오용 검출 시스템에 전자적으로 커플링될 수 있다.
본 발명의 예시된 실시예가 단일 연속성 센서(38g)를 도시하지만, 다수의 연속성 센서들이 또한 대안적인 실시예들에서 구현될 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 예를 들어, 디바이스(10)의 하우징 또는 케이스 구조들의 에지들을 따라, 사용자들이 가장 디바이스(10)를 개봉하거나 조작하려고 하는 디바이스 내의 또는 디바이스 상의 위치들에 하나 이상의 연속성 센서들을 두는 것이 유용할 수 있다. 연속성 센서(38g)는 조작이 발생했다는 표시를 조작 검출 회로(160)에 제공하도록 구성될 수 있다. 일반적으로 전술된 바와 같이, 이러한 표시는 조작 검출 회로(160)가, 연속성 센서(38g)를 계속 모니터링하면서, 연속성 센서(38g)에 대한 연속성이 중단되었음을 검출할 시에 제공될 수 있다. 또한, 연속성 센서(38g) 그 자체는 디바이스(10)가 센서(38g)에서 연속성의 중단을 검출할 시에 디바이스(10)가 조작되었음을 표시하는 알람 신호를 조작 검출 회로(160)에 송신하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 센서(38g)에 대한 연속성은 사용자가 디바이스(10)의 하우징(12)을 개봉하려고 시도하는 경우 중단될 수 있다.
연속성 센서(38g)로부터 표시의 수신시, 조작 검출 회로(160)는 검출된 조작 오용 이벤트에 대응하는 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 전술된 바와 같이, 이러한 데이터 엔트리들은, 연속성의 중단이 연속성 센서(38g)에 의해 검출된 시간에 대응하는, 클록(62)에 의해 생성된 타임스탬프의 형태일 수 있다. 데이터 엔트리들은 또한 오용 이벤트가 검출된 때의 디바이스(10)의 동작 상태를 포함할 수 있다. 또한, 데이터 엔트리들은, 임의의 적절한 비휘발성 저장 디바이스에 의해 제공될 수 있는 메모리(64)에 저장될 수 있다. 또한, 다수의 연속성 센서들을 이용하는 실시예들에서, 데이터 엔트리는 또한, 전술된 바와 같이, 어떤 특정 연속성 센서가 조작을 검출했는지를 식별하기 위한 진단 목적으로 사용될 수 있는 식별 컴포넌트를 포함할 수 있다.
조작 오용 이벤트에 대응하는 연속성 중단의 검출 시에, 조작 검출 회로(160)는 도 4a, 5a, 6 및 7의 전술된 검출 회로들과 유사한 방식으로 동작할 수 있다. 즉, 조작 검출 회로(160)는, 각각 통신 라인들(78 및 80)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 디스에이블 신호들을 송신함으로써 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 유닛(76) 모두에 대한 전력을 디스에이블시키도록 구성될 수 있다. 또한, 조작 검출 회로(160)는 오용 검출 시스템(34)을 슬립 모드로 두고, 클록(62)에 의해 타이밍될 수 있는 웨이크업 타이머를 개시하여 미리 결정된 시간량 이후 오용 검출 시스템(34)을 주기적으로 깨우도록 구성될 수 있다.
슬립 모드로부터 웨이크 시에, 조작 검출 회로(160)는 연속성 센서(38g)를 다시 체크하여 연속성 중단이 여전히 존재하고 발생하는지의 여부를 결정할 수 있다. 하나 이상의 연속성 중단들이 여전히 존재한다고 결정되는 경우, 조작 검출 회로(160)는 오용 검출 시스템(34)을 다시 슬립 모드로 두도록 구성될 수 있으며, 어느 포인트에서든, 웨이크업 타이머가 다시 개시된다. 조작 검출 회로(160)가 연속성 센서(38g)가 어떠한 연속성 중단도 검출되지 않는다고 결정하는 경우, 디바이스(10)는 전술된 자체 테스트 기능을 수행하여 검출된 조작 이벤트로부터 임의의 손상이 초래되었는지의 여부를 결정하도록 지시될 수 있다. 자체 테스트 결과들에 의해 어떠한 손상도 보고되지 않는 경우, 디바이스(10)는 정상 동작 모드로 리턴할 수 있다. 그러나, 일부 손상 또는 손상 가능성이 검출되는 경우, 사용자는 디바이스(10)를 서비스를 위해 제조자에게 또는 판매점에 리턴하도록 지시받을 수 있다. 전술된 바와 같이, 디바이스를 서비스하는 것은 진단 유닛(46)을 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 경유하여 제공된 통신 선택 블록(66)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱하게 하는 것을 포함할 수 있다. 이는 메모리(64) 내에 저장된 조작 오용 이벤트 데이터의 판독 및 분석으로, 조작과 관련된 연속성 중단들이 디바이스(10) 내에서 발생했는지의 여부 및 조작과 관련된 연속성 중단들이 디바이스(10) 내에서 발생한 정도를 결정하게 할 수 있다.
도 4a 및 도 6-8에 예시된 실시예들 각각이 디바이스(10)에서 별도로 구현될 수 있으며, 따라서, 디바이스(10)가 각각의 타입의 전술된 오용 검출 시스템들 중 하나를 포함한다는 점에 유의해야 한다. 또한, 전술된 실시예들의 특징들을 결합시켜 다수의 타입들의 오용 이벤트들을 검출하기 위한 다수의 타입들의 센서들을 포함하는 단일 오용 검출 시스템(34)을 구현하는 것 역시 가능하다. 예를 들어, 이제 도 9를 참조하면, 본 개시내용의 추가적인 실시예가 도 4a의 액체 검출 센서들(38a-38d), 도 6의 열 센서(38e), 도 7의 충격 센서(38f), 및 도 8의 연속성 센서(38g)를 이용하여 예시된다. 또한, 도 9에 예시된 오용 검출 시스템(34)은 액체 검출 회로(60), 열 검출 회로(156), 충격 검출 회로(158) 및 조작 검출 회로(160)에 대해 전술된 기능성들 모두를 포함할 수 있는 오용 검출 회로(162)를 포함한다.
오용 검출 센서들(38a-38g)은 각각 개별 통신 라인들(40)을 통해 도 9의 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 센서들(38a-38g) 중 임의의 센서에 의한 오용 이벤트의 검출 시에, 오용 이벤트의 대응하는 표시는 통신 라인(40)을 통해 오용 검출 회로(34)에 제공될 수 있다. 이러한 표시의 수신 시에, 오용 검출 회로(162)는 예를 들어, 전술된 바와 같은 타임 스탬프의 형태로, 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 추가로, 데이터 엔트리들은 오용 이벤트가 검출된 때의 디바이스(10)의 동작 상태를 포함할 수 있다. 특히 다수의 센서들을 이용하는 일부 실시예들에서, 데이터 엔트리는 또한, 어떤 특정 센서가 이벤트를 검출했는지, 및 어떤 타입의 오용 이벤트가 검출되었는지를 식별하기 위해 진단 목적으로 사용될 수 있는 식별 컴포넌트를 더 포함할 수 있다.
전술된 슬립/웨이크 및 자체 테스트 프로시져는, 도 4a 및 도 6-8에서 전술된 바와 동일한 방식이 아닌 경우 유사한 방식으로 구현될 수 있다. 또한, 진단 유닛(46)은 예를 들어, 전술된 I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다. 제공된 통신 선택 블록(66)은, 예를 들어, 듀얼-모드 통신 채널(42)을 통해, 비휘발성 메모리(64)에 저장된 이력상의 오용 이벤트 데이터의 판독 및 분석을 허용하고, 여기에 저장된 오용 이벤트 데이터에 기초하여, 진단 유닛(46)은 소비자 오용이 디바이스(10)에서 발생했는지의 여부 및 소비자 오용이 디바이스(10)에서 발생한 정도를 결정할 수 있다.
여기서 기술된 실시예들에 의해 제공되는 하나의 중요한 이점은 소비자 오용이 주어진 디바이스에서 발생했는지의 여부를 결정하기 위한 능력이다. 이는, 판매점에서 중요한 양상들인 보증 및 개런티 정책들에 따라 고려될 때 특히 유용하다. 전술된 바와 같이, 보증서는 주어진 디바이스가 결함 없이 판매된다는 확인이 제조자 또는 판매자에 의해 제공됨을 의미한다. 그러나, 소비자가 추후 디바이스가 실제로 결함을 가짐을 발견하는 경우, 제조자 또는 판매자는, 보증 정책의 항목들 하에, 일반적으로, 소비자에게 작은 비용을 부과하거나 비용을 부과하지 않고 디바이스(10)를 교체 또는 수리할 것이다. 그러나, 보증 정책들은, 일반적으로, 종종 명시적으로, 소비자 오용으로 인한 손상 또는 고장을 배제시킨다. 따라서, 본 개시내용의 양상들은, 소비자가, 오용이 고의든 아니든 간에 고장이 소비자 오용에 의한 손상으로 인한 것임을 알고 제품을 리턴시키지만 제조 결함으로서 리턴을 수행하려고 하는 경우, 특히 유용하다.
이제 도 10을 참조하면, 소비자에 의해 리턴된 이른바 "결함있는" 제품을 분석 및 진단하고, 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하기 위한 예시적인 방법(170)이 예시된다. 방법(170)은 단계(172)에서 제품이 소비자에 의해 서비를 위해 제조자에게 또는 판매점에서 판매자에게 리턴될 때 개시된다. 리턴된 제품은, 전술된 실시예들에 예시된 기법들 중 임의의 양상, 및 여기서 논의된 임의의 다른 변형을 포함하는 디바이스일 수 있다.
단계(174)에서, 디바이스(10)는 진단 장비와 인터페이싱된다. 전술된 바와 같이, 진단 유닛(46)과 같은 진단 장비는 하나 이상의 I/O 포트(18)를 통해 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다. 진단 장비는, 비휘발성 저장소(64)와 같은 디바이스(10) 내의 메모리에 액세스하기 위해, 예를 들어, 듀얼-모드 통신 채널(42)을 통해, 디바이스(10)와 통신하여, 전술된 센서 디바이스들(38a-38g) 중 임의의 센서 디바이스에 의해 수집된 오용 이벤트 데이터를 분석하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 단계(176)에 의해 예시된 바와 같이, 센서들(38a-38g)에 의해 검출되는 오용 이벤트 데이터는 메모리 디바이스(64)로부터 판독되고 분석되어 결정 유닛(178)에서 디바이스(10)가 서비스를 위해 리턴되기 전에 임의의 오용 이벤트들가 발생했는지의 여부를 결정할 수 있다.
진단이 어떠한 오용도 발생하지 않았음을 표시하는 경우, 디바이스 오류 또는 고장의 원인이 보증 정책에 의해 가능하게 커버될 가능성이 있는 제조 결함으로 인한 것이라 추론될 수 있다. 그렇게 결정된 경우, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은 먼저, 단계(180)에 예시된 바와 같이 자체 테스트 루틴을 개시하여, 만약 존재하는 경우, 리턴된 디바이스(10)에 존재하는 손상의 정도를 결정할 수 있다. 결정 블록(182)에서, 리턴된 디바이스가 단계(180)의 자체 테스트 루틴을 통과하는 경우, 디바이스(10)는 손상을 겪지 않았거나, 또는 기껏해야 디바이스(10)의 정상 동작에 영향을 주기에는 불충분한 무시가능한 손상을 겪었다고 결론이 내려질 수 있다. 이것이 바로 그러한 경우라면, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은, 먼저, 단계(186)에 의해 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 마스터 리셋을 수행함으로써 정상 디바이스 동작을 다시 인에이블시키고, 디바이스(10)를 소비자에게 돌려줄 수 있다. 결정 블록(182)으로 돌아와서, 디바이스(10)가 단계(180)의 자체 테스트 루틴에 실패하는 경우, 단계(184)에 의해 도시된 바와 같이 적절한 보증 정책의 항목들 하에서 제품 리턴이 개시될 수 있고, 방법(170)은 이후 종료된다. 여기서 사용된 바와 같은 용어 "리턴"은 리턴된 디바이스(10)를 수리 및/또는 작동 순서로 복원시키는 것 및 리턴된 디바이스를 작동하는 교체 디바이스와 교환하는 것 둘 모두를 포함할 수 있으며, 상기 교체 디바이스는 신제품이거나 일부 경우들에서는 리퍼비시제품(refurbished)일 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
단계(178)를 다시 참조하면, 디바이스(10)의 메모리(64)에 저장된 오용 이벤트 데이터의 분석이 리턴된 디바이스(10)를 접수하기 전에 하나 이상의 오용 이벤트들이 발생했음을 표시하는 경우, 리턴된 디바이스(10)는 보증 정책의 항목들 하에서 수리 또는 교체하기에 부적합할 것이다. 또한, 오용이 발생했다고 결정되면, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은 먼저, 오용이 손상을 야기하고 그리고/또는 디바이스(10)를 동작불가능하게 할만큼 심각했는지의 여부를 결정할 수 있다. 예를 들어, 기술자는 먼저, 단계(188)에 의해 예시된 바와 같이 자체 테스트 루틴을 수행하여, 만약 존재하는 경우, 리턴된 디바이스(10)에 존재하는 손상의 정도를 결정할 수 있다. 결정 블록(190)에서, 리턴된 디바이스가 단계(188)의 자체 테스트 루틴을 통과하는 경우, 디바이스(10)가 겪은 오용 이벤트가 영구적 손상을 초래하지 않았거나, 또는 기껏해야 디바이스(10)의 정상 동작에 영향을 주기에는 불충분한 무시가능한 손상(예를 들어, 디바이스 하우징에 대한 외관상 또는 미관상의 손상)을 초래했다고 결론이 내려질 수 있다. 이러한 경우, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은, 예를 들어, 단계(186)에 의해 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 마스터 리셋을 수행함으로써 정상 디바이스 동작을 다시 인에이블시킬 수 있다. 이제 결정 블록(190)을 참조하면, 디바이스(10)가 단계(188)의 자체 테스트 루틴에 실패하는 경우, 오용 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스가 동작불가능하게 되기에 충분한 손상을 야기했다고 결론이 내려질 수 있다. 또한, 손상이 고객 오용의 결과라고 결정되고 따라서 보증에 의해 커버되지 않으므로, 단계(192)에 예시된 바와 같이, 제품 리턴 요청이 거절될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)를 서비스하는 직원 또는 기술자는 디바이스(10)의 실패의 원인이 보증 하에서 커버되지 않음을 소비자에게 통지할 수 있다. 이 점에서, 소비자는 임의의 필요한 수리 서비스에 대한 비용을 지불하거나 또는 교체 제품을 구매하는 것을 선택할 수 있다.
방법(170)에 기술된 진단 단계(178)가 리턴된 제품에 따라, 그리고 제품이 리턴된 장소에 따라 달라질 수 있다는 점에 유의해야 한다. 예를 들어, 제품이 판매점으로 리턴된 경우, 판매 대표는 숙련자들을 보유하지 못할 수 있거나, 또는 어느 정도의 오용이 발생했는지, 어느 센서들이 오용을 검출했는지 등에 대해 결정할 만큼 고도로 상세하게 디바이스 상에 저장된 오용 이벤트 데이터를 분석할 만큼 교육받지 못했을 수 있다. 따라서, 판매점에서 사용되는 진단 장비는 상대적으로 간단하며, 디바이스에 단독으로 접속하여 소비자 오용이 발생했는지 또는 발생하지 않았는지의 여부를 표시하는 "예" 또는 "아니오"와 등가의 응답만을 표시할 수 있다. 그러나, 리턴된 제품이 서비스를 위해 제조자에게 직접 정상적으로 리턴되는 더욱 복잡한 설계, 예를 들어, 랩톱 컴퓨터, 텔레비젼 등인 경우, 진단 장비는 더욱 정교하여, 디바이스 고장(들)을 분석하는 기술자들로 하여금 오용이 발생했는지의 여부 뿐만 아니라, 예를 들어, 어느 센서가 오용을 검출했는지, 어느 센서가 오용을 검출한 초기 센서인지, 얼마나 오래 또는 얼마나 자주 오용이 발생했는지 등을 결정하게 할 수 있다.
잠재적으로 소비자 오용에 기인한 제품 리턴들에 대한 추가적인 이유는 배터리 고장과 관련된다. 상기 고장들은 (예를 들어, 하나 이상의 배터리들일 수 있는 전원(30)을 사용한) 디바이스(10)에 대한 전력인가 불능, 전원(30)을 적절하게 충전하지 못하는 불능, 디바이스(10)가 사용중일 때 또는 사용중이지 않을 때 전원(30)에서 전하를 적절하게 보유하지 못하는 불능, 전체 전력 용량에서의 예상치 못한 감소, 또는 임의의 다수의 다른 가능성들을 포함하는 많은 형태들을 취할 수 있다. 이러한 고장들은 다수의 인자들에 의해 야기될 수 있다. 예를 들어, 배터리 고장은 충전 회로에서의 고장, 또는 디바이스(10)내의 제조 결함에 의해 야기되어, 과도한 양의 전류가 흘러나오게 할 수 있다. 때때로, 고장들은 이전에 언급된 소비자 오용들로부터 초래할 수 있다. 일부 경우들에서, 고장들은 보증 정책 하에서의 제품 리턴을 야기하게 하려는 소비자에 의한 고의적 동작으로 인한 것일 수 있다.
배터리 고장 모드들은 서로 구별하여 특성화하기 어려울 수 있고, 이는 결국고장의 원인 또는 원인들을 확인하기 어렵게 할 수 있다. 따라서, 리턴된 제품들의 서비스 동안, 소비자가 고의로 배터리를 손상시킨 경우들은 타당한 제조 결함이 존재하는 경우와 동일하게 과실로 취급될 수 있다. 따라서, 배터리에 고장이 발생했음이 분명하다는 것에 관한 진단 정보를 획득하는 것이 유용할 수 있다. 이러한 진단 정보는 동작 전류, 평균 전류 흐름, 배터리 전체 용량, 배터리를 충전 및/또는 방전시키기 위해 요구되는 시간량, 배터리의 수명 동안 충전/방전 사이클들의 수, 전압, 동작 온도 등과 같은 파라미터들을 포함할 수 있다. 이해될 바와 같이, 이러한 정보는 고장 진단을 보조하고 제품 리턴이 개시되어야 하는지의 여부를 결정하는 것을 도울 수 있다.
따라서, 도 11은 배터리 제어 회로(76)를 통해 전원(예를 들어, 배터리(200))에 관한 진단 정보를 보고하도록 적응되는 오용 검출 시스템(34)의 제6 실시예를 예시한다. 본 발명의 실시예에서, 배터리 제어 회로(76)는, 하기에 논의될 바와 같이, 본질적으로 "전원 모니터링 디바이스"로서 기능할 수 있다. 산업에서, 이러한 디바이스들은 "가스 계량기(gauge)" 또는 "연료 계량기"로서 종종 참조될 수 있다. 도 11의 오용 검출 시스템(34)은 오용 검출 회로(162), 및 전술된 클록(62), 비휘발성 저장소(64), 및 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 배터리 제어 회로(76)는 통신 라인(204)을 통해 오용 검출 시스템(34)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 배터리 제어 회로(76)는 또한, 배터리(200)에 커플링될 수 있다. 이전에 언급된 바와 같이, 대안적인 실시예들에서, 배터리 제어 회로(76)는, 오용 검출 시스템(34), 전력 관리 유닛(74)을 포함한 다른 위치들에 통합될 수 있거나, 또는 배터리(200) 자체와 통합될 수 있다.
예시된 실시예에서, 배터리 제어 회로(76)는 배터리(200)의 다양한 진단 파라미터들을 결정하고, 통신 라인(204)을 통해 오용 검출 시스템(34)에 해당 진단 정보를 전달하도록 구성될 수 있다. 통신 라인(204)은, 단일-와이어 인터페이스 또는 멀티-라인 버스 인터페이스와 같은 많은 형태들을 취할 수 있다. 진단 모드에서 동작하는 경우, 전술된 바와 같이, 진단 유닛(46)은 오용 검출 시스템(34)과 인터페이스할 수 있고, 배터리(200)에 관한 진단 정보를 요청할 수 있다. 예를 들어, 배터리(200)가 오류인 경우, (배터리 제어 회로(76) 또는 전력 관리 유닛(74) 내의) 부족 전압 보호 회로는 낮은 공칭 전압 임계, 예를 들어, 대략 3볼트(V)에서 디바이스(10)에 대한 전력을 셧다운 시키도록 구성될 수 있다. 그러나, 배터리 제어 회로(76)는, 예를 들어, 오용 검출 시스템(34)과 같은 다른 컴포넌트들과 함께, 계속 전력인가되어 2.5V에서 동작하도록 구성될 수 있다. 따라서, 디바이스(10)의 나머지가 더 이상 동작하지 않거나, 및/또는 배터리(200) 오류로 인해 더 이상 전력인가될 수 없는 경우라 할지라도 배터리 제어 회로(76)는 연장된 시간 지속기간 동안 기능상태로 유지될 수 있다. 진단 유닛(46)은 이후 배터리(200)의 특성을 결정하고 오류의 원인 또는 원인들을 진단하기 위해 사용될 수 있다.
진단 유닛(46)으로부터 표시를 수신할 시에, 오용 검출 시스템(34)은 통신 라인(204)을 통해 배터리 제어 회로(76)로부터 배터리(200)에 관한 진단 정보를 판독하도록 구성될 수 있다. 이후, 오용 검출 시스템(34)은, 전술된 바와 같이, 2-와이어 인터페이스, 예를 들어, I2C 인터페이스일 수 있는 통신 라인(42)을 통해 진단 유닛(46)에 이러한 정보를 전달할 수 있다. 대안적인 실시예에서, 배터리 제어 회로(76)는 배터리(200)에 관한 진단 정보를 비휘발성 메모리(206), 예를 들어, EEPROM에 주기적으로 저장하도록 구성될 수 있다. 비휘발성 메모리(206)는 배터리 제어 회로(76)에 대해 내부에 또는 외부에(예를 들어, 메모리(64)의 일부) 위치될 수 있다. 이러한 실시예들에서, 오용 검출 시스템(34)은, 전류 값들에 대해 배터리 제어 회로(76)에 질의하는 것 대신 또는 이에 추가하여, 비휘발성 메모리(206)로부터 진단 정보의 마지막 레코딩된 값들, 또는 이력 상의 레코딩된 값들의 세트를 판독하도록 구성될 수 있다. 따라서, 본 발명의 개시된 기법들이 배터리에 관한 현재(예를 들어, 실질적으로 실시간의) 진단 정보, 이력 상의 진단 정보, 또는 이들의 조합을 제공할 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
추가로, 배터리 제어 회로(76)는 미리 결정된 배터리 파라미터 임계들에 기초하여 동작하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 배터리(200)를 계속 모니터링하는 동안, 배터리 제어 회로(76)는, 배터리 고장 이벤트를 표시하는, 미리 결정된 임계를 초과하는 측정된 파라미터를 수신할 수 있다. 배터리 제어 회로(76)가 동작하는 임계들은 디바이스(10) 및 배터리(200)의 속성에 의존할 수 있다. 예를 들어, 랩톱 컴퓨터와 같은 더 복잡한 디바이스는 휴대용 미디어 플레이어와 같은 덜 복잡한 디바이스보다 더 높은 평균 전류 흐름을 가질 수 있다. 동일선 상에서, 랩톱 컴퓨터 상에서 발견되는 더 큰 배터리는 휴대용 미디어 플레이어 또는 모바일 전화와 같은 더 작은 전자 디바이스들 상에서 발견되는 것 같은 더 작은 배터리보다 더 큰 이론상의 용량을 가질 수 있다.
또한, 비정상 배터리 이벤트 또는 배터리 고장 이벤트의 검출 시, 배터리 제어 회로(76)는 검출된 배터리 고장 이벤트에 대응하는 데이터 엔트리를 생성하도록 구성될 수 있다. 여기서 사용된 바와 같이, 용어 "비정상 배터리 이벤트" 또는 "배터리 고장 이벤트" 등은 배터리(200)가 수용가능한 동작 임계들을 벗어나 동작하는 경우들을 참조한다는 점이 이해되어야 한다. 전술된 바와 같이, 이러한 데이터 엔트리들은, 배터리 고장 이벤트가 배터리 제어 회로(76)에 의해 검출된 시간에 대응하는, 예를 들어, 클록(62)에 의해 생성된, 타임스탬프의 형태일 수 있다. 데이터 엔트리들은 또한 오용 이벤트가 검출되었을 때의 디바이스(10)의 동작 상태를 포함할 수 있다. 데이터 엔트리들은 진단 유닛(46)에 의한 추후 사용 및 분석을 위해, 예를 들어, 참조 번호 64로 표시된, 임의의 적절한 비휘발성 저장 디바이스에 저장될 수 있다.
배터리 고장 이벤트의 검출 시에, 오용 검출 시스템(34)은, 예를 들어, 각각 통신 라인들(78 및 204)을 통해 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 전력 디스에이블 신호들을 송신함으로써, 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76) 모두에 대한 전력을 일시적으로 디스에이블시키도록 구성될 수 있다.
배터리 제어 회로(76)는 또한 오용 검출 시스템(34)을 슬립 모드로 두고, 클록(62)에 의해 타이밍될 수 있는 웨이크업 타이머를 개시하여 배터리(200)가 여전히 전술된 임계(들)를 초과하는지의 여부를 결정하도록 배터리 제어 회로(76)를 다시 체크하기 위해 미리 결정된 시간량 이후 오용 검출 시스템(34)을 주기적으로 깨우도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 오용 검출 시스템(34)의 웨이크 시에, 배터리(200)의 일부 특성이 허용가능한 임계들 밖에서 동작한다고 결정되는 경우, 배터리 제어 회로(76)는 오용 검출 시스템(34)을 다시 슬립 모드로 두고 웨이크업 타이머를 다시 개시하도록 구성될 수 있다.
대안적으로, 슬립 모드에서 깨어날 시에, 배터리 제어 회로(76)가 배터리(200)가 허용가능한 임계들 내에서 동작한다고 결정하는 경우, 오용 검출 시스템(34)은 전술된 자체 테스트 기능을 수행하여, 만약 존재하는 경우, 발생할 수 있는 손상의 정도를 결정하도록 디바이스(10)에 명령할 수 있다. 자체 테스트 결과들에 의해 어떠한 손상도 보고되지 않는 경우, 디바이스(10)는 정상 동작 모드로 리턴할 수 있다. 그러나, 일부 손상 또는 손상 가능성이 검출되는 경우, 사용자는 디바이스를 서비스를 위해 제조자에게 또는 판매점에 리턴하도록 지시받을 수 있다. 전술된 바와 같이, 디바이스를 서비스하는 것은 진단 유닛(46)을 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 경유하여 전술된 통신 선택 블록(66)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱하게 하는 것을 포함할 수 있다. 이는 비휘발성 저장소(64 또는 206)에 저장된 데이터의 판독 및 분석으로, 배터리 고장 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스(10)에서 발생했는지의 여부 및 배터리 고장 이벤트 또는 이벤트들이 디바이스(10)에서 발생한 정도를 결정하는 것을 허용할 수 있다.
도 12에 계속하면, 본 발명의 개시된 기법들의 추가적인 양상들에 따라 배터리 제어 회로(76) 및 전력 관리 유닛(74)을 통해 배터리(200)에 관한 정보를 제공하도록 구성되는 시스템을 도시하는 추가적인 실시예가 예시된다. 전력 관리 유닛(74)은 통신 라인들(42)을 통해 I/O 포트(18)에 전자적으로 커플링되는 전술된 통신 선택 블록(66)을 포함할 수 있다. 본 발명의 예시된 실시예가 전력 관리 유닛(74)의 일부분으로서 통신 선택 블록(66)을 도시하지만, 이전에 예시된 바와 같이, 블록(66)이 전력 관리 유닛(74)에 대해 외부에 위치되거나, 오용 검출 시스템(34)과 같은 다른 유닛들 내에 포함될 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 전력 관리 유닛(74)은 통신 라인(204)을 통해 배터리 제어 회로(76)에, 그리고, 또한 배터리 제어 회로(76)에 커플링되는 배터리(200)에 전자적으로 커플링될 수 있다. 진단 유닛(46)은 I/O 포트(18)와 인터페이싱하고, 도 11의 실시예에 예시된 바와 유사한 방식으로 배터리(200)에 관한 진단 정보를 요청하도록 구성될 수 있다. 그러나, 통신 선택 블록(66)이 전력 관리 유닛(74)과 통합되므로, 진단 배터리 정보의 판독이 오용 검출 시스템(34)을 수반하지 않고 달성될 수 있다.
일 실시예에서, 배터리(200)에 관한 진단 정보는 배터리 제어 회로(76) 대신 또는 배터리 제어 회로(76)에 추가하여, 전력 관리 유닛(74)의 하나 이상의 내부 데이터 레지스터들 내에 포함될 수 있다. 이러한 경우, 진단 툴(46)은 배터리 제어 회로(76)를 직접 수반하지 않고 배터리 진단 정보를 검색하도록 전력 관리 유닛(74)과 통신하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 디바이스(10)가 진단 모드에서 동작하는 경우, 전력 관리 유닛(74)은 HDQ 통신 인터페이스(텍사스 주, 달라스의 Texas Instruments, Inc.로부터 이용가능한 단일 와이어 개방-드레인 인터페이스)와 같은 단일 와이어 인터페이스일 수 있는 통신 라인(204)에 의해 배터리 제어 회로(76)로부터 진단 정보를 판독하도록 구성될 수 있다. 이후, 진단 정보는 전력 관리 유닛(74)의 하나 이상의 내부 데이터 레지스터들에 저장될 수 있다. 이해될 바와 같이, 배터리 제어 회로(76)로부터의 진단 정보의 판독은 진단 툴(46)로부터 수신되는 커맨드에 응답하여 수행될 수 있다. 단지 예를 들어, 일 실시예에서, 배터리 제어 회로(76)는, 텍사스 주, 달라스의 Texas Instruments, Inc.로부터 이용가능한, 배터리 셀들을 모니터링하기 위해 Impedance Track？ 기술을 이용하는 "배터리 연료 측량 회로"의 모델(예를 들어, 부품 번호 BQ27505, BQ27541, BQ27510, BQ27501, BQ27500-V120, 등)로서 제공될 수 있다.
추가로, 진단 툴(46)은 또한 전력 관리 유닛(74) 및 배터리 제어 회로(76)에 전력을 제공하도록 구성될 수 있다. 이는 배터리(200)가 디바이스(10)의 회로에 더이상 전력인가하지 못하는 상황들에서(예를 들어, 전압이 2.5 V 미만임) 유용할 수 있다. 따라서, 진단 유닛(46)은, 디바이스(10)의 상태와 무관하게, 배터리(200)에 관한 진단 정보에 여전히 액세스할 수 있을 것이다. 일 실시예에서, I/O 포트(18)에 대한 전용 전력 라인들의 사용 또는 통신 라인들(42)과 같은 기존 전송 라인들로의 전력의 멀티플렉싱을 포함한, 다양한 기법들을 사용하는 진단 유닛(46)에 의해 전력이 제공될 수 있다. 예를 들어, 통신 라인들(42)이 업스트림을 통신하기 위한 데이터 라인 및 다운스트림을 통신하기 위한 데이터 라인(예를 들어, UART 라인들의 세트)으로 구성된 경우, 진단 유닛(46)은 다운스트림 라인을 양방향 단일-와이어 인터페이스로서 그리고 업스트림 라인을 전력 라인으로서 일시적으로 재구성할 수 있다.
도 12에 도시된 바와 같이, 전력 관리 유닛(74)은 서미스터(202)와 같은 하나 이상의 온도 감지 컴포넌트들을 사용하여 배터리(200)의 온도 또는 그 주변 영역(들)을 감지하도록 구성될 수 있다. 서미스터(202)는, 예를 들어, 부온도계수(NTC) 저항과 같은 많은 형태들을 가질 수 있거나, 또는 열 센서(38e)와 같은 센서로 교체될 수 있다. 다른 실시예들에서, 열 감지 기능이 또한 배터리 제어 회로(76) 또는 배터리(200) 자체 내로 통합될 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 서미스터(202)를 사용하여, 전력 관리 유닛(74)은 배터리(200)의 온도가 미리 결정된 임계를 초과한 경우 디바이스(10)에 대한 전력을 셧다운시키도록 구성될 수 있다. 이는, 과도하게 높은 방전 전류들과 같은 극도의(catastrophic) 조건들에 대해 유용할 수 있다.
이제 도 13을 참조하면, 이른바 "결함있는" 배터리를 분석 및 진단하고, 제품 리턴을 개시할지의 여부를 결정하기 위한 예시적인 방법(220)이 예시된다. 방법(220)은 단계(222)에서 디바이스(10)와 같은 제품이 진단 장비와 인터페이싱되는 경우 개시된다. 전술된 바와 같이, 진단 유닛(46)과 같은 진단 장비는 하나 이상의 I/O 포트들(18)을 통해 디바이스(10)와 인터페이싱될 수 있다.
단계(224)에서, 진단 장비가, 예를 들어, 듀얼-모드 통신 인터페이스(42)를 통해 배터리 제어 회로(76)에 접속되도록 통신 선택 블록(66)이 구성된다. 배터리(200)에 관한 진단 정보는 이후, 단계(226)에 의해 예시된 바와 같이, 배터리 제어 회로(76)를 통해 진단 장비에 의해 판독되고 분석되어 결정 블록(228)에서 배터리(200)가 여전히 정상 동작 파라미터들 내에 있는지의 여부를 결정한다.
진단이 배터리(200)가 여전히 정상 동작 파라미터들 내에 있음을 표시하는 경우, 원래 검출된 고장이 가능하게는 보증 정책에 의해 커버될 일부 타입의 제조 결함으로 인한 것일 수 있거나, 고장이 영구 손상을 초래하지 않을 수 있는 일시적 "오용" 조건(예를 들어, 호환불가능한 AC 콘센트를 통해 전원을 충전함)에 의해 야기될 수 있다는 점이 추론될 수 있다. 그렇게 결정되는 경우, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은 먼저, 단계(230)에 예시되는 바와 같이, 먼저 자체 테스트 루틴을 개시하여, 만약 존재하는 경우, 리턴된 디바이스(10)에 존재하는 손상의 범위를 결정할 수 있다. 결정 블록(234)에서, 리턴된 디바이스가 단계(230)의 자체 테스트 루틴을 통과하는 경우, 디바이스(10)는 손상을 겪지 않았거나, 또는 기껏해야 디바이스(10)의 정상 동작에 영향을 주기에는 불충분한 무시가능한 손상을 겪었다고 결론이 내려질 수 있다. 이러한 경우, 디바이스(10)를 서비스하는 직원은, 예를 들어, 단계(236)에 의해 예시된 바와 같이, 디바이스(10)의 마스터 리셋을 수행함으로써 정상 디바이스 동작을 다시 인에이블시키고, 디바이스(10)를 소비자에게 돌려줄 수 있다.
결정 블록(234)으로 돌아와서, 디바이스(10)가 단계(230)의 자체 테스트 루틴에 실패하는 경우, 고장이 제조 결함인 것으로 결정되면 단계(238)에 의해 도시된 바와 같이 적절한 보증 정책의 항목들 하에서 제품 리턴이 개시될 수 있고, 방법(220)은 이후 종료된다. 추가의 실시예에서, 예시적인 방법(170)으로써 전술된 바와 같이, 진단 장비는 리턴을 개시하기 전의 어느 포인트에서든 오용 이벤트 데이터를 분석할 수 있다.
단계(228)로 다시 돌아가서, 배터리(200)에 관한 진단 정보의 분석이 배터리(200)가 정상 동작 파라미터들 내에 더 이상 있지 않음을 표시하는 경우, 단계(232)에 의해 예시된 바와 같이 추가적인 진단들이 수행될 필요가 있을 것이다. 이들 진단들은 배터리(200)에 관해 획득된 진단 정보에 기초하여 달라질 것이지만, 외부 전원을 이용하여 배터리의 충전을 시도하는 동안 진단 정보의 변경들을 모니터링하는 것, 유닛(10)의 나머지로부터 배터리(200)를 분리시키고 리셋시키는 것, 유닛(10) 내의 배터리(200)를 교체하고 다시 테스트 하는 것, 및 특수 테스트 장비를 사용하여 배터리의 동작을 일반적으로 특성화하는 것과 같은 동작들을 포함할 수 있다. 이해될 바와 같이, 진단의 결과들에 기초하여, 적절한 직원이 소비자가 제품 리턴에 대해 적합한지의 여부를 결정할 수 있다.
전술된 특정 실시예들이 예시로서 도시되었지만, 이들 실시예들은 다양한 수정들 및 대안적인 형태들이 용이할 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 청구항들이 개시된 특정 형태들에 제한되도록 의도되는 것이 아니라, 오히려, 본 개시내용의 사상 및 범위 내에 드는 모든 수정들, 등가물들 및 변형예들을 커버하도록 의도된다는 점이 추가로 이해되어야 한다.

Claims (30)

  1. 전자 디바이스 상의 진단 정보에 액세스하기 위한 시스템으로서,
    전원;
    상기 전원에 커플링되어 상기 전원과 관련된 진단 정보를 결정하도록 구성된 전원 모니터링 디바이스;
    상기 전원 모니터링 디바이스에 의해 결정된 상기 진단 정보를 수신하도록 구성된 오용 검출 회로; 및
    상기 전자 디바이스와 외부 진단 디바이스 사이의 통신을 용이하게 하도록 구성된 인터페이스
    를 포함하는 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 인터페이스는 진단 통신 모드 및 비-진단 통신 모드를 제공하도록 구성되고, 상기 오용 검출 회로는 상기 전자 디바이스가 상기 진단 모드에서 동작하는 경우 상기 통신 인터페이스를 사용하여 상기 외부 진단 디바이스에 상기 진단 정보를 전달하도록 구성되는 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 인터페이스는 상기 전자 디바이스가 상기 진단 모드에서 동작하지 않는 경우 상기 전자 디바이스와 외부 비-진단 디바이스 사이의 통신을 용이하게 하도록 더 구성되는 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 외부 진단 디바이스가 상기 인터페이스에 커플링되는 경우에는 상기 진단 통신 모드를 선택하고, 상기 외부 비-진단 디바이스가 상기 인터페이스에 커플링되는 경우에는 상기 비-진단 통신 모드를 선택하도록 구성되는 통신 선택 회로
    를 포함하는 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 전원은 하나 이상의 충전가능한 배터리 셀, 또는 하나 이상의 비-충전가능한 배터리, 또는 이들의 일부 조합을 포함하는 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 진단 정보는 동작 전류, 평균 전류 흐름(draw), 배터리의 전체 용량, 배터리를 충전 및/또는 방전하기 위해 요구되는 시간량, 배터리 수명 동안 충전/방전 사이클들의 수, 전압, 또는 동작 온도, 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 오용 검출 회로는 단일 와이어 인터페이스, 멀티-라인 버스 인터페이스, 또는 상기 인터페이스들의 조합을 사용하여 상기 진단 정보를 수신하는 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 전원 모니터링 디바이스는 상기 전원과 관련된 상기 진단 정보가 하나 이상의 미리 결정된 임계를 초과한다고 결정되는 경우 배터리 고장(battery failure) 이벤트의 표시를 상기 오용 검출 회로에 제공하도록 구성되는 시스템.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 배터리 고장 이벤트의 검출 시, 상기 검출된 배터리 고장 이벤트의 레코드는 비휘발성 메모리 디바이스에 저장되는 시스템.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 오용 검출 회로는 배터리 고장 이벤트의 발생시 상기 전자 디바이스의 동작을 적어도 일시적으로 디스에이블(disable)시키도록 구성되는 시스템.
  11. 전자 디바이스 상에서 진단 정보에 액세스하기 위한 시스템으로서,
    전원;
    상기 전원에 커플링되어, 상기 전원으로부터 상기 전자 디바이스의 하나 이상의 다른 컴포넌트로 전력을 분배하도록 구성된 전력 관리 유닛;
    상기 전원에 커플링되어, 상기 전원과 관련된 진단 정보를 결정하고 저장하도록 구성된 전원 모니터링 디바이스; 및
    진단 모드 및 비-진단 모드에서 동작하도록 구성된 인터페이스
    를 포함하고, 상기 인터페이스가 상기 진단 모드에서 동작하는 경우, 상기 전원 모니터링 디바이스에 저장된 상기 진단 정보는 상기 전자 디바이스로부터 분리된 외부 진단 디바이스에 의해 액세스가능한 시스템.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 인터페이스에 전자적으로 커플링된 통신 선택 회로
    를 포함하고, 상기 통신 선택 회로는 상기 외부 진단 디바이스가 상기 인터페이스에 커플링되는지의 여부에 적어도 부분적으로 의존하여 상기 진단 모드 및 상기 비진단 모드 중 하나에서 상기 인터페이스를 동작시키도록 구성되는 시스템.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 통신 선택 회로는 상기 전력 관리 유닛과 통합되는 시스템.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 전원의 온도를 감지하도록 구성된 온도 감지 디바이스
    를 포함하고, 상기 전력 관리 유닛은, 상기 감지된 온도가 미리 결정된 임계를 초과하는 경우, 상기 전자 디바이스를 디스에이블시키도록 구성되는 시스템.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 온도 감지 디바이스는 열 센서, 서미스터, 또는 이들의 일부 조합을 포함하는 시스템.
  16. 제11항에 있어서,
    상기 전력 관리 유닛은 하나 이상의 데이터 레지스터를 포함하고, 상기 전원에 관련된 상기 진단 정보를 상기 하나 이상의 데이터 레지스터에 저장하도록 구성되는 시스템.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 진단 정보를 상기 전력 관리 유닛의 상기 하나 이상의 데이터 레지스터에 저장하는 것은 상기 전원 모니터링 디바이스에 상기 전력 관리 유닛을 커플링시키는 단일 유선 통신 인터페이스를 통해 상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보를 판독하는 것을 포함하는 시스템.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보를 판독하는 것은 상기 외부 진단 디바이스로부터 수신된 커맨드에 응답하여 수행되고, 상기 진단 정보는 상기 하나 이상의 데이터 레지스터를 통해 상기 외부 진단 디바이스에 의해 액세스가능한 시스템.
  19. 전자 디바이스로서,
    명령어들을 실행하도록 구성된 프로세서;
    데이터를 저장하도록 구성된 저장 디바이스 - 상기 데이터는 상기 프로세서에 의해 실행될 명령어들을 적어도 부분적으로 포함함 -;
    전원;
    상기 전원에 커플링되어, 상기 전원과 관련된 진단 정보를 결정 및 저장하도록 구성된 전원 모니터링 디바이스;
    상기 전원에 커플링되어, 상기 전원으로부터 상기 전자 디바이스의 하나 이상의 다른 컴포넌트로 전력을 분배하도록 구성된 전력 관리 유닛; 및
    상기 전자 디바이스와 외부 디바이스 사이의 통신을 용이하게 하도록 구성되는 인터페이스
    를 포함하고, 상기 외부 디바이스가 진단 디바이스인 경우, 상기 인터페이스는 상기 진단 디바이스에 의해 상기 진단 정보에의 액세스를 제공하도록 구성되는 전자 디바이스.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 전력 관리 유닛은 미리 결정된 전압 임계에서 상기 전자 디바이스를 디스에이블시키도록 구성된 부족전압 보호 회로를 포함하는 전자 디바이스.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 전원 모니터링 디바이스는 상기 미리 결정된 전압 임계 미만에서 상기 진단 디바이스에 의해 액세스 가능하게 그리고 동작 상태로 유지되도록 구성되는 전자 디바이스.
  22. 제19항에 있어서,
    상기 외부 디바이스가 진단 디바이스이고 상기 전원이 비-동작상태인 경우, 상기 인터페이스는 상기 전원 모니터링 디바이스 및 상기 전력 관리 유닛에 전력을 제공하도록 더 구성되는 전자 디바이스.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 인터페이스는 적어도 제1 데이터 라인 및 제2 데이터 라인을 포함하고, 상기 외부 디바이스가 진단 디바이스이고 상기 전원이 비-동작상태인 경우, 상기 인터페이스는 상기 제1 데이터 라인을 통해 전력을 제공하고, 상기 제2 데이터 라인을 통해 단일-유선 양방향 통신 경로를 제공하도록 더 구성되고, 그렇지 않은 경우 상기 인터페이스는 상기 제1 데이터 라인을 통해 업스트림 통신 경로를 제공하고, 상기 제2 데이터 라인을 통해 다운스트림 통신 경로를 제공하도록 구성되는 전자 디바이스.
  24. 외부 진단 디바이스의 전자 디바이스와의 접속을 검출하는 단계 - 전력 관리 유닛, 전원 및 전원 모니터링 디바이스를 포함하는 상기 전자 디바이스는 상기 전력 관리 유닛에 커플링되어 상기 전원에 관련된 진단 정보를 결정하도록 구성됨 -;
    상기 외부 진단 디바이스와 상기 전자 디바이스의 상기 전력 관리 유닛 사이에 통신 경로를 설정하는 단계;
    상기 외부 진단 디바이스의 접속의 검출에 적어도 부분적으로 기초하여 진단 동작 모드에 진입하는 단계; 및
    상기 전자 디바이스가 상기 진단 동작 모드에서 동작하는 경우, 상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보에 액세스하는 단계
    를 포함하는 방법.
  25. 제24항에 있어서,
    상기 진단 동작 모드에 진입하는 단계는 상기 외부 진단 디바이스로부터 커맨드를 수신하는 것에 응답하여 수행되는 방법.
  26. 제24항에 있어서,
    상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보에 액세스하는 단계는:
    상기 외부 진단 디바이스를 사용하여 상기 전력 관리 유닛에 전력인가(power)하는 단계; 및
    상기 외부 진단 디바이스로부터 커맨드를 수신하는 단계
    를 포함하고, 상기 커맨드의 수신시에, 상기 전력 관리 유닛은 상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보를 판독하고, 상기 진단 정보를 하나 이상의 레지스터에 저장하고, 상기 하나 이상의 데이터 레지스터로부터 상기 외부 진단 디바이스로 상기 진단 정보를 전송하도록 구성되는 방법.
  27. 제26항에 있어서,
    상기 외부 진단 디바이스를 사용하여 상기 전력 관리 유닛에 전력인가하는 단계는 상기 외부 진단 디바이스로부터 상기 전력 관리 유닛으로 전력을 전송하기 위해 데이터 라인을 재구성하는 단계를 포함하고, 상기 전자 디바이스가 상기 진단 동작 모드에서 동작하지 않는 경우, 상기 데이터 라인은 데이터를 정상적으로 전송하도록 구성되는 방법.
  28. 제품 리턴들을 평가하기 위한 방법으로서,
    전자 디바이스에 저장된 진단 정보에 액세스하는 단계 - 상기 진단 정보에 액세스하는 단계는: 상기 전자 디바이스를 별도의 진단 디바이스와 인터페이싱하는 단계 및 진단 동작 모드에 진입하는 단계; 전원과 관련된 진단 정보를 결정 및 저장하도록 구성된 전원 모니터링 디바이스와 상기 진단 디바이스 사이에 접속을 설정하는 단계; 및 상기 전원 모니터링 디바이스로부터 상기 진단 정보를 판독하기 위해 상기 진단 디바이스를 사용하는 단계를 포함함 -;
    상기 진단 정보가 상기 전자 디바이스에서의 배터리 고장이 소비자 오용의 결과임을 표시하는지의 여부를 결정하는 단계; 및
    상기 고장이 상기 소비자 오용의 결과가 아닌 경우 제품 리턴을 개시하는 단계
    를 포함하는 방법.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 배터리 고장이 소비자 오용의 결과인지의 여부에 대한 결정은 상기 전원 모니터링 디바이스로부터 판독된 진단 정보를 분석하는 것, 및 상기 전원이 적어도 수용가능한 동작 파라미터들 내에서 동작할 수 있는지의 여부를 결정하는 것을 포함하는 방법.
  30. 제29항에 있어서,
    상기 진단 정보를 분석하는 단계는, 상기 전원에 대한 변경들에 기초하여 상기 진단 정보에 대한 변경들을 모니터링하는 단계, 상기 전자 디바이스로부터 상기 전원을 분리시키는 단계, 또는 상기 전원을 교체하는 단계 중 적어도 하나, 또는 이들의 일부 조합을 포함하는 방법.
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