KR20110082521A - 검사 어댑터 구조 - Google Patents

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KR20110082521A
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프리델 에이코
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조트 오토메이션 오와이
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Abstract

본 발명은 생산 라인의 검사 기기들에 사용되는 검사 어댑터용 베이스 플레이트를 제공한다. 상기 베이스 플레이트는 특정 타입의 검사 대상 기기를 수용하고 검사하도록 구성된 제품 특유 부(4)에 연결되도록 구성된 제1인터페이스; 및 다양한 검사 대상 기기들에 공통인 검사 부품들을 포함하는 공통부(3)에 연결되도록 구성된 제2인터페이스;를 포함한다. 상기 베이스 플레이트(1)는 상기 공통부(3)로부터의 신호들을 상기 검사 대상 기기에 연결하도록 배열된 인쇄 배선 기판이다.

Description

검사 어댑터 구조{TEST ADAPTER CONFIGURATION}
본 발명은 통신 기기들을 검사하는 분야에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 이러한 검사를 수행하기 위한 검사 어댑터 구조에 관한 것이다.
예를 들어 휴대폰들과 같은 제조된 통신 기기들의 품질을 향상시키고 불량을 저감시키기 위해, 생산 라인에서 다양한 검사 과정들이 수행된다. 검사 스테이션(testing station)이 생산 라인들에서 또는 제품 개발 환경에서의 독립형 스테이션(stand-alone station)으로서 작동된다. 검사용 셀은 무선 주파수 통신, 오디오 및 사용자 인터페이스들과 같은 통신 기기들의 다양한 인터페이스들을 검사한다. 검사 과정들에 요구되는 검사용 셀의 모든 기능들은 일반적으로 자동화되어 있다.
서로 다른 검사 대상 기기(DUT)들은 디스플레이들, 키 패드들, 다양한 검사 패드들 및 소켓들, 카메라들, 스피커들, 마이크로폰들, 안테나들, 센서들, 진동, 동력, 데이터 전달용 인터페이스들, 및 기타 인터페이스들(충전기, 오디오 소켓 등)과 같은 서로 다른 검사 특성들을 가진다. 또한, 서로 다른 DUT들은 키 패드들 등의 서로 다른 형상들과 위치들 때문에 서로 다른 정렬, 위치 조정 및 고정의 가능성들을 가진다. 동일한 검사 스테이션에서 서로 다른 DUT들의 검사를 가능하게 하기 위해, 검사 어댑터들이 사용된다.
검사 어댑터는 검사 스테이션과 특정 타입의 DUT 사이에서 어댑터로서 기능하는 DUT에 특유한 성분(DUT-specific component)이다. 일반적으로, 검사 어댑터는 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트 상에 배열되는 2개의 기본 인터페이스들을 포함한다. 제1의 인터페이스는 모든 정렬, 위치 조정 및 잠금 성분들을 갖는 DUT 인터페이스(기계적 인터페이스)이다. 제2의 인터페이스는 자체의 위치 조정 및 잠금 부품들과 상기 DUT를 검사하기 위해 요구되는 모든 필요한 전기적, RF 및 공압적 커넥터들을 갖는 검사 스테이션 인터페이스이다. 상기 DUT 인터페이스는 주문형(customizable)일 수 있으며, 상기 DUT에 종속된다. 상기 DUT 인터페이스와 상기 베이스 플레이트에 대해 주문형인 부분은 상기 검사 어댑터의 제품 특유부(product-specific part)라고 부른다. 상기 검사 어댑터의 검사용 셀 인터페이스는 모든 검사 어댑터들에 공통적일 수 있으며, 따라서 공통부(common part)라고 부를 수 있다.
기술이 발달함에 따라, DUT들도 보다 기능적이 되고 있다. 이는 검사 특성들과 검사 어댑터에 사용되는 부품들의 수를 증가시킨다. 상기 DUT에 따라, 검사 어댑터들은 다양한 수의 브라켓들, 검사 프로브 홀더들, 접지 박스들(ground boxes)을 갖는 서로 다른 커플러들 및 자체의 고정 브라켓들, 스크류들, 공압 액츄에이터 등을 가진다. 따라서, 전기 배선들, 공압 튜브들, 예를 들어, 안테나 커플러 및 검사 프로브들 등과 같은 추가적인 검사 부품들을 접속시키기 위한 접속 부품들 등의 수가 증가한다. 이와 같이 검사가 시작되기 전 검사 어댑터에 연결될 검사 부품들의 수를 증가시킴으로써 검사 어댑터의 크기가 증가하고, 수많은 배선들, 튜브들, 및 접속 부품들을 검사 어댑터에 연결하는데 시간이 매우 오래 걸리고 검사 과정의 속도를 늦추게 된다. 따라서, 검사 스테이션과 전 생산 라인의 검사 과정과 성능에 있어 개선을 요한다.
본 발명의 목적은 검사 스테이션과 검사 어댑터의 제품 특유부를 연결하는데 필요한 배선들의 수를 감소시키는데 있다.
상기 목적은 생산 라인의 검사 스테이션과 제품 특유부 사이의 전기적 연결을 구현하며, 상기 검사 스테이션에 사용되는 검사 어댑터용의 베이스 플레이트를 제공함으로써 달성된다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 청구항 제1항에서 규정된 검사 어댑터용 베이스 플레이트가 제공된다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 청구항 제11항에서 규정된 검사 어댑터가 제공된다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 청구항 제12항에서 규정된 검사 스테이션이 제공된다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 청구항 제13항에서 규정된 생산 라인이 제공된다.
본 발명의 실시예들은 종속항들에서 정의되어 있다.
본 발명에 따르면, 검사 스테이션과 검사 어댑터의 제품 특유부를 연결하는데 필요한 배선들의 수가 감소된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 검사 어댑터의 구조를 도시하는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 검사 어댑터의 베이스 플레이트를 도시하는 개략도이다.
도 3은 도 1의 검사 어댑터의 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 검사 어댑터를 이용하여 검사 대상 기기를 검사하기 위한 검사 과정을 도시하는 도면이다.
후술될 실시예들은 예시적인 것이다. 본 명세서에서는 몇몇 곳에서 "하나의(an, one)", "몇몇(some)" 실시예(들)이 언급되고 있으나, 이는 반드시 이러한 참조가 동일한 실시예(들)에 대한 것이라거나 특징이 오직 단일 실시예에만 적용된다는 것을 의미하지는 않는다. 상이한 실시예들의 동일한 특징들은 다른 실시예들을 제공하기 위하여 또한 조합될 수 있다.
상술한 바와 같이, 종래 해결 방법들의 문제점은 제품에 특유한 부분(product-specific part)(이하 제품 특유부)(또는 전체 검사 어댑터)이 변할 때마다 상기 제품 특유부에 연결되어야만 하는 전기 배선들의 양이다. 본 발명은 제품 특유부와 공통된 부분(common part)(이하 공통부)을 서로 연결하기 위한 베이스 플레이트(base plate)를 포함하고, 이때 상기 베이스 플레이트는 신호들을 상기 공통부로부터 검사 대상 기기(device under test; DUT)로 연결(couple)하도록 배열된 인쇄 배선 기판(printed wiring board)인 검사 어댑터를 제공함으로써 이 문제를 극복한다. 상기 DUT는 휴대폰과 같은 무선 통신 기기일 수 있다.
도 1은 검사 어댑터의 일실시예를 도시한다. 상기 검사 어댑터는 공통부(3)와 제품 특유부(4)를 포함한다. 상기 제품 특유부(4)는 베이스 플레이트(1) 상에서 구성된다. 상기 베이스 플레이트(1)는 인쇄 배선 기판(printed wiring board; PWB)이며, 전기적 접속들을 커넥터(20)로부터 상기 제품 특유부(4)로 안내(route)하기 위해 상기 배선이 사용된다. 상기 인쇄 배선은 상기 공통부(및/또는 검사 스테이션)과 상기 제품 특유부(4) 사이에서 모든 전기 신호들을 전달하도록 배열될 수 있다. 도 1에 도시된 상기 베이스 플레이트는 오직 하나의 커넥터(20)를 포함하나, 커넥터들의 수는 또한 요구되는 전기적 접속들의 수, 상기 베이스 플레이트(1) 상의 상기 제품 특유부(4)의 부품들의 위치 등에 따라서 더 많을 수도 있다. 또한, 상기 베이스 플레이트는 상기 베이스 플레이트(1) 상의 인쇄 배선으로서 배열되며 무선 신호들을 상기 DUT에 연결(couple)하도록 배열된 안테나(12)를 포함할 수 있다.
상기 제품 특유부(4)의 부품들은 위에 검사를 위해 상기 DUT가 배치되는 수용 부품(14), 상기 수용 부품(14) 위에 배치되는 상기 DUT를 지지하도록 배열된 지지 부품(16), 및 상기 DUT를 그 위치에 잠금시키도록 구성된 잠금 부품들(13)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제품 특유부(4)는 상기 DUT의 존재 및 위치를 검출하는 검사 프로브들(15), 상기 DUT에 의해 발생되는 오디오 신호들을 검출하기 위한 오디오 센서들 등을 포함할 수 있다. 더욱이, 상기 제품 특유부(4)는 공압 액츄에이터들의 위치와 이동을 안내하기 위한 위치 조정 부품들을 포함할 수 있다. 상기 공압 액츄에이터들은 상기 공통부(3)에 연결될 수 있다. 또한, 상기 제품 특유부(4)는 상기 DUT에 구현된 신호 접속부(signaling connection)를 통해 상기 DUT에 신호들을 인가하고 상기 DUT로부터 신호들을 수신하도록 배열된 검사 부품들(17)을 포함할 수 있다. 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 프로브들 중의 적어도 일부가 상기 베이스 플레이트(1) 상에 장착될 수 있다.
도시된 바와 같이, 상기 제품 특유부(4)는 상기 베이스 플레이트(1)와 상기 공통부(3)에 배치된 잠금 성분들(21)과 위치 조정 성분들(22)을 가지고 상기 공통부(3)에 착탈 가능하게 연결된다. 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 위치 조정 성분들(22)은 상기 베이스 플레이트(1)의 정렬 홀들 또는 홈들과 상기 베이스 플레이트(1)의 해당 부분의 돌출부들 또는 핀들에 의해 구현될 수 있다. 상기 잠금 성분들(21)은 퀵 분해 커플러들, 예를 들어, 상기 공통부(3)의 대응부들(counterparts) 내로 삽입되며 비틀리어 상기 베이스 플레이트(1)와 상기 제품 특유부(4)를 상기 공통부(3)에 잠그는 상기 베이스 플레이트(1)에 배열된 플러그들에 의해 구현될 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 공통부(3)와 상기 제품 특유부(4) 사이의 전기적 접속들은 상기 베이스 플레이트(1)와 상기 공통부 상에 배열된 커넥터들(20)을 통해 구축될 수 있다. 자명하게, 상기 커넥터들(20)은 전기적 접속을 가능하게 하는 대응부들이다.
결과적으로, 상기 베이스 플레이트(1)와 상기 제품 특유부(4)는 상기 DUT 타입이 바뀔 때마다 상기 공통부로부터 용이하게 탈리될 수 있다. 할 필요가 있는 모든 것은 상기 잠금 성분들(21)을 열고 상기 제품 특유부(4)와 상기 베이스 플레이트(1)를 제거하는 것이다.
상기 공통부(3)는 베이스 프레임(31)과, 상기 공통부(3)를 상기 제품 특유부에 또한 상기 DUT의 검사를 수행하기 위한 검사 스테이션(미도시)에 연결하기 위한 인터페이스들을 포함한다. 상기 베이스 프레임은, 상술한 바와 같이, 상기 제품 특유부로의 또한 상기 검사 스테이션으로의 기계적 연결을 가능하게 하도록 배열될 수 있다. 상기 공통부(3)와 상기 검사 스테이션 사이의 기계적 연결은 종래에 공지된 임의의 방식으로 수행될 수 있다. 예를 들어, 상기 공통부(3)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 공통부(3)의 양측 상의 홈들(grooves)과 같은 서랍 타입(drawer type) 성분일 수 있으며, 상기 공통부(3)는 서랍 타입의 검사 스테이션 내로 삽입될 수 있다. 상기 공통부(3)와 상기 검사 스테이션 사이의 전기적 접속들은 하나 또는 그 이상의 커넥터들(33,34,35)를 통해 구축될 수 있다. 도 1은 3개의 전기적 커넥터들(33 내지 35)을 도시하고 있으나, 상기 커넥터들의 수와 위치는 당연히 수행 방식에 따라 달라진다. 또한, 상기 공통부(3)는 일측에서 공압 튜브들을 가지고 상기 검사 스테이션에 연결되며 타측에서 상기 제품 특유부(4)에 연결되는 공압 커넥터들(32)을 포함할 수 있다. 상기 공통부는 또한 결정된 검사 절차를 수행하기 위한 공압 액츄에이터들을 포함할 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 상기 베이스 플레이트(1)의 예시적인 레이아웃을 도시한다. 도 2는 도 1에 도시된 커넥터 구조(20)의 베이스 플레이트 부분에 해당하는 커넥터(200), 상기 제품 특유부(4)의 상기 부품들(13 내지 17)의 위치들(210,212,214,216,218) 및 상기 커넥터(200)로부터 상기 제품 특유부(4)의 부품들의 위치들로 전기 배선을 형성하는 인쇄 배선(202)를 도시한다. 상기 베이스 플레이트(1)는 또한 상기 검사 스테이션과 상기 안테나(12) 사이에서 무선 신호들이 전송될 수 있도록 상기 안테나(12)용의 무선 주파수(RF) 커넥터(204)를 포함할 수 있다. 상기 RF 커넥터(204)는 상기 RF 신호들을 전달하는 동축 케이블을 수용하도록 배열된 50- 또는 75-ohm 커넥터와 같은 BNC 커넥터일 수 있다.
상술한 바와 같이, 검사 대상 기기를 검사하는데 사용되는 하나 또는 그 이상의 센서들은 상기 베이스 플레이트 상에 장착될 수 있다. 상기 하나 또는 그 이상의 센서들은, 제품 존재 체크 센서, 액츄에이터 위치 센서, 디스플레이 유닛들을 검사하기 위한 광 센서, 상기 DUT(특히, 휴대폰)의 진동을 검사하기 위한 진동 센서 등 중의 적어도 하나를 포함한다. 상기 센서들은 상기 베이스 플레이트의 하우징들에 납땜될 수 있으며, 상기 베이스 플레이트는 전기 신호들의 전송을 가능하게 하기 위해 상기 하우징으로부터 상기 커넥터 구조로의 배선을 포함할 수 있다.
상기 베이스 플레이트(1)는 초기에는 상기 제품 특유 부품들(14 내지 17)이 제공되지 않은 수 있으며, 즉 상기 커넥터(200)로부터 상기 위치들(210 내지 220)과 상기 안테나(12)로 신호들을 안내하는 인쇄 배선을 포함할 수 있다. 상기 커넥터들(200,204)은 또한 상기 베이스 플레이트(1) 상에 제공될 수 있다. 결과적으로, 상기 베이스 플레이트(1)는 주어진 타입의 제품 특유부에 특유하도록 배열될 수 있다. 상기 DUT들의 성분들의 서로 다른 물리적 크기들 및 위치로 인하여, 상기 제품 특유부는 각 DUT에 대해 다를 수 있다. 결과적으로, 상기 베이스 플레이트는 또한 각 제품 특유부에 대해 서로 다를 수 있다.
하지만, 상기 베이스 플레이트(1)는 모든 가능한 검사 부품들에 대한 하우징을 제공할 수 있으며, 제품에 적용될 검사 절차들과 관련된 검사 부품들만이 상기 베이스 플레이트(1)에 부착될 수 있다. 따라서, 상기 제품 특유부(4)는 수행될 검사 절차들에 따라 상기 베이스 플레이트(1)에 주문형으로 구성(customer-built)될 수 있다. 상기 제품 특유부(4)가 상기 베이스 플레이트(1) 상에 구성됨에 따라, 상기 베이스 플레이트는 상기 제품 특유부에 포함되는 것으로 이해될 수 있다.
도 3은 도 1에 도시된 상기 베이스 플레이트(1)와 상기 제품 특유부(4)의 측면도이다. 도 3은 또한 RF 커넥터를 보다 상세히 도시한다.
다음으로, 도 4를 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 검사 어댑터를 사용할 때 DUT를 검사하기 위한 검사 과정을 고려해 보자. 상기 과정은 블록 400에서 시작한다. 본 발명의 일실시예에 따른 검사 어댑터의 공통부가 검사 스테이션에 연결되어 있고, 제품 특유부는 아직 상기 공통부에 연결되지 않은 경우를 고려하자. 블록 402에서, 제품 특유부가 상기 공통부에 부착된다. 상기 공통부에 연결된 제품 특유부의 타입은 다음에 검사될 DUT의 타입에 따라 결정된다. 상술한 바와 같이, 블록 402는 상기 공통부 상에 상기 제품 특유부를 위치시키고 이를 상기 공통부에 잠그는 것을 포함한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 공통부와 상기 제품 특유부 사이의 전기적 접속을 구축하는 상기 커넥터들(20)은 상기 제품 특유부를 상기 공통부에 잠그면 자동으로 연결된다. 또한, RF 신호 케이블이 상기 RF 커넥터(204)에 연결될 수 있다.
블록 402가 완료되면, 상기 검사 스테이션은 상기 DUT들을 검사할 준비가 되어 있다. 블록 404에서는, DUT가 상기 제품 특유부 상에 위치한다. 상기 DUT를 위치시키는 것은 상기 제품 특유부의 지지대 상에 상기 DUT를 위치시키고, 상기 제품 특유부의 상기 잠금 부품들(13)을 가지고 상기 DUT를 그 위치에 잠그는 것을 포함한다. 또한, 상기 검사 부품들(17)을 통해 상기 DUT와 상기 검사 스테이션 사이에서 신호 교환 접속이 구축된다. 상기 제품 존재 센서들(15)이 상기 DUT가 확고히 위치함을 검출하고 상기 검사 부품들(17)이 상기 신호 교환 접속을 지시할 때, 상기 과정은 블록 406으로 이동한다.
블록 406에서, 상기 검사 스테이션은 상기 DUT에 대한 검사 절차들을 수행한다. 상기 검사 절차들은 상기 베이스 플레이트 상의 배선을 통해 구축된 신호 교환 접속을 통해 상기 검사 스테이션과 상기 DUT 사이에서의 신호들의 전달을 포함할 수 있다(블록 407). 따라서, 상기 커넥터(200)를 통해 검사 신호들이 상기 DUT를 검사하기 위해 구성된 상기 제품 특유부의 부품들로 전달될 수 있다. 상기 검사 절차들은 또한 상기 베이스 플레이트 상의 배선에 의해 형성되는 상기 안테나(12)를 통해 상기 검사 스테이션과 상기 DUT 사이에서 RF 신호들을 전달하는 것을 포함할 수 있다(블록 408). 이러한 방식으로, 상기 DUT의 무선 통신 성질들이 검사된다.
블록 406, 즉 상기 DUT의 검사가 완료되는 경우, 상기 절차는 상기 DUT가 상기 제품 특유부로부터 제거되는 블록 410로 이동한다. 블록 412에서는, 다음에 새로운 타입의 DUT 또는 동일한 타입의 DUT가 검사될 지가 결정된다. 동일한 타입의 DUT들의 검사가 계속되면, 상기 절차는 상기 제품 특유부 상에 새로운 DUT가 위치되는 블록 404로 이동한다. 그렇지 않은 경우, 상기 절차는 블록 404에서 상기 공통부에 부착된 상기 제품 특유부가 제거되는 블록 414로 이동하고, 상기 절차는 다른 제품 특유부가 상기 공통부에 부착되는 블록 402로 되돌아간다.
인쇄 배선 기판으로서 상기 제품 특유부의 상기 베이스 플레이트를 구현함으로써 상기 검사 스테이션을 상기 제품 특유부와 상기 DUT에 연결하기 위한 전기 배선의 필요성이 대체된다. 이는 상기 검사 어댑터에서 "필요 없는(passive)" 전기 배선들을 줄이고 다른 검사 부품들에 대한 공간을 절감시킨다. 따라서, 프로브들, 액츄에이터들 등과 같은 보다 "절실한(active)" 검사 부품들이 전기 배선들의 제거로 인하여 비게 되는 공간으로 인해 동일한 공간 내로 인입될 수 있다. 또한, 상기 DUT의 생산 및 검사 시간이 감소되어, 본 발명의 실시예에 따른 검사 스테이션과 검사 어댑터를 포함하는 전 생산 라인의 효율이 증대된다.
더욱이, 상기 베이스 플레이트의 배선의 일부로서 상기 안테나를 구현하여, 예를 들어, 연결 PWB를 가지고 상기 제품 특유부에 연결되는 추가적인 안테나 부품들이 필요하지 않다. 결과적으로, 공간이 절감되고 상기 제품 특유부를 조립하는 시간이 더욱 감소된다.
기술이 발달함에 따라, 본 발명적 개념이 다양한 방식으로 구현될 수 있다는 점이 당업자에게 자명할 것이다. 본 발명과 그 실시예들은 상술한 예에 한정되지 않고, 청구항의 범위 내에서 변화될 수 있다.
1: 베이스 플레이트
3: 공통부
4: 제품 특유부
13: 잠금 부품들
14: 수용 부품
15: 검사 프로브들
16: 지지 부품
20: 커넥터

Claims (13)

  1. 검사 스테이션에서 다양한 기기들을 검사할 수 있도록 구성된 검사 어댑터용의 베이스 플레이트(1)에 있어서,
    특정 타입의 검사 대상 기기를 수용하고 검사하도록 구성된 제품 특유 부(4)에 연결되도록 구성된 제1인터페이스; 및
    다양한 검사 대상 기기들에 공통인 검사 부품들을 포함하는 공통부(3)에 연결되도록 구성된 제2인터페이스;를 포함하되,
    상기 베이스 플레이트(1)는 상기 공통부(3)로부터의 신호들을 상기 검사 대상 기기에 연결하도록 배열된 인쇄 배선 기판인 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트(1)의 배선은 직접적으로 및/또는 상기 제품 특유부(4)를 통해 신호들을 상기 공통부(3)로부터 상기 검사 대상 기기에 연결하도록 배열된 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 인쇄 배선 보드는 전기적 접속들을 상기 공통부(3)로부터 주어진 검사 대상 기기를 검사하기 위해 사용되는 상기 제품 특유부(4)의 검사 부품들로 안내하도록 배열된 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  4. 선행 청구항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트(1)의 배선은 상기 베이스 플레이트(1)에 장착된 안테나(12)를 통해 무선 주파수 신호를 상기 검사 대상 기기에 연결하도록 배열된 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 안테나의 적어도 일부는 상기 베이스 플레이트의 상기 인쇄 배선의 일부인 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  6. 선행 청구항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트는 상기 공통부에 착탈 가능하게 연결 가능한 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트는 퀵 분해 커플링으로 상기 공통부에 착탈 가능하게 연결 가능한 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트는, 상기 베이스 플레이트에 배치된 커넥터 대응부(200)로써 상기 공통부의 전기 커넥터에 연결 가능한 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  9. 선행 청구항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 검사 대상 기기를 검사하는데 사용되는 하나 또는 그 이상의 센서들이 상기 베이스 플레이트 상에 장착되는 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 하나 또는 그 이상의 센서들은 제품 존재 체크 센서, 액츄에이터 위치 센서, 오디오 센서, 광 센서, 진동 센서 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 베이스 플레이트.
  11. 검사 스테이션에서 기기를 검사하기 위한 검사 어댑터에 있어서,
    제1항 내지 제10항 중의 어느 한 항에 따른 베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트 상에 배열되고, 특정 타입의 검사 대상 기기를 수용하고 검사하도록 구성된 제품 특유부; 및
    상기 베이스 플레이트에 연결 가능하고, 다양한 검사 대상 기기들에 공통인 검사 부품들을 포함하는 공통부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 어댑터.
  12. 제11항에 따른 검사 어댑터를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 스테이션.
  13. 제12항에 따른 검사 스테이션을 포함하는 것을 특징으로 하는 기기의 생산 라인.
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