KR20070025170A - 알에프 보드용 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 알에프 보드용 검사장치에 관한 것으로서, 검사 비용을 절감하고 작업 효율성을 향상 시킬 수 있음은 물론 신뢰성 및 정확성을 향상 시킬 수 있는 알에프 보드용 검사장치에 관한 것이다.

이를 위해 본 발명은, 알에프 보드의 전기적인 성능을 측정하기 위한 측정기와; 일단이 상기 측정기에 연결되는 알에프 케이블과; 상기 알에프 케이블의 타단에 연결되어 선택적으로 상기 알에프 보드에 접촉되며 상기 알에프 보드와 상기 알에프 케이블을 전기적으로 연결시키는 탐침부;를포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 알에프 보드용 검사장치를 제공한다.

알에프 보드, 알에프 케이블, 임피던스, 탐침부, 포고핀, 스프링부재

Description

알에프 보드용 검사장치{TEST DEVICE FOR RF BOARD}

도 1은 종래 알에프 보드용 검사장치의 구조를 도시한 도면이다.

도 2는 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치의 구조를 도시한 도면이다.

도 3은 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치로서, 접촉부의 구조를 도시한 도면이다.

도 4는 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치로서, 포고핀의 구조를 도시한 도면이다.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

110 : 측정기 120 : 알에프 케이블

130 : 알에프 보드 140 : 탐침부

141 : 커넥터 142 : 연결선

143 : 포고핀 143a : 포고핀 몸체

143b : 접촉핀 143c : 스프링부재

144 : 고정부

본 발명은 알에프 보드용 검사장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 검사 비용을 절감하고 작업 효율성을 향상 시킬 수 있음은 물론 신뢰성 및 정확성을 향상 시킬 수 있는 알에프 보드용 검사장치에 관한 것이다.

첨부한 도 1은 종래 알에프 보드용 검사장치의 구조를 도시한 도면이다.

도 1에서 도시한 바와 같이, 종래 알에프 보드용 검사장치는 임피던스 등을 측정하는 측정기(10)와, 알에프 보드(30)가 상기 측정기(10)에 전기적으로 연결될 수 있도록 일단은 측정기(10)에 연결되고 타단은 알에프 보드(30)에 연결되는 알에프 케이블(20)을 포함하여 구성되어 있다.

아울러 상기 알에프 케이블(20)의 신호선(21)과 접지선(22)는 알에프 보드(30)의 신호선(31)과 접지선(32)에 각각 납땜(W)을 통해 연결되도록 구성되어 있다.

그런데, 종래 알에프 보드용 검사장치에 있어서는, 알에프 보드(30)와 알에프 케이블(20)이 직접 납땜(W)으로 연결됨에 따라 불가피하게 알에프 보드(30)와 알에프 케이블(20)에 파손이 발생되는 문제점이 있었다.

또한 이와 같이 알에프 보드(30)와 알에프 케이블(20)이 납땜(W)에 의해 연결되는 구조의 경우에는 납땜(W) 작업을 위한 별도의 장비가 구비되어야 함에 따라 비용이 증가하는 문제점이 있고, 각각의 신호선(21,31)과 접지선(22,32)을 일일이 납땜(W)으로 연결시키야 함에 따른 작업 공수의 증가로 작업 효율성이 저하되는 문제점이 있었다.

뿐만 아니라 이와 같은 구조의 경우에는 알에프 케이블(20) 구간(특히 납땜 (W) 연결부위)에서의 임피던스 변화 및 손실로 인해 임피던스 보정이 불가능하기 때문에 검사의 정확성 및 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서 안출한 것으로서, 검사 비용을 절감하고 작업 효율성을 향상 시킬 수 있음은 물론 신뢰성 및 정확성을 향상 시킬 수 있는 알에프 보드용 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 알에프 보드의 전기적인 성능을 측정하기 위한 측정기와; 일단이 상기 측정기에 연결되는 알에프 케이블과; 상기 알에프 케이블의 타단에 연결되어 선택적으로 상기 알에프 보드에 접촉되며 상기 알에프 보드와 상기 알에프 케이블을 전기적으로 연결시키는 탐침부;를포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 탐침부는 상기 알에프 케이블의 타단에 연결되는 커넥터와; 상기 커넥터에 연결되는 연결선을 통해 상기 알에프 케이블의 신호선 및 접지선에 각각 전기적으로 연결되어 상기 알에프 보드의 신호선 및 접지선에 각각 접촉되는 복수개의 포고핀과; 상기 포고핀 및 연결선의 둘레를 감싸며 상기 포고핀과 연결선을 지지 고정시키는 고정부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 각 포고핀은 일단이 개구된 수용 공간을 갖도록 형성되어 상기 고정부에 고정되는 포고핀 몸체와; 상기 포고핀 몸체의 내부에 수용되되 선택적으로 상기 포고핀 몸체의 외부로 인출 가능하게 설치되어 상기 알에프 보드에 접촉되 는 접촉핀과; 상기 접촉핀과 상기 포고핀 몸체의 사이에 개재되어 상기 접촉핀이 상기 포고핀 몸체의 외부로 인출되는 방향으로 이동하도록 탄성력을 가하는 스프링부재;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 각 포고핀은 임피던스가 50Ω이 되도록 배치된 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명하면 다음과 같다.

첨부한 도 2는 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치의 구조를 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치로서, 접촉부의 구조를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치로서, 포고핀의 구조를 도시한 도면이다.

다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 대해 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.

도 2 내지 도 4에서 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 알에프 보드용 검사장치는, 알에프 보드(130)의 전기적인 성능 즉 임피던스 등을 측정하기 위한 측정기(110)와, 상기 측정기(110)에 일단이 연결되는 알에프 케이블(120)과, 상기 알에프 케이블(120)의 타단에 연결되어 선택적으로 알에프 보드(130)에 접촉되며 알에프 보드(130)와 알에프 케이블(120)을 전기적으로 연결시키는 탐침부(140)를 포함하여 구성되어 있다.

상기 탐침부(140)는 상기 알에프 케이블(120)의 타단에 연결되는 커넥터(통상적으로 사용되는 SMA 커넥터가 사용된다)(141)와, 상기 커넥터(141)에 연결되는 연결선(142)을 통해 알에프 케이블(120)의 신호선(도시하지 않음) 및 접지선(도시하지 않음)에 각각 전기적으로 연결되어 알에프 보드(130)의 신호선(131) 및 접지선(132)에 각각 접촉되는 복수개의 포고핀(143)과, 상기 포고핀(143) 및 연결선(142)의 둘레를 감싸도록 사출 성형되어 포고핀(143)과 연결선(142)의 배치상태를 지지 고정시키는 고정부(144)를 포함하여 구성되어 있다.

상기 각 포고핀(143)은 일단이 개구된 수용 공간을 갖도록 형성되어 고정부(144)의 선단부에 고정되는 포고핀 몸체(143a)와, 상기 포고핀 몸체(143a)의 내부에 수용되되 그 길이 방향을 따라 상대 이동되며 선택적으로 포고핀 몸체(143a)의 외부로 인출 가능하게 설치되어 알에프 보드(130)에 접촉되는 접촉핀(143b)과, 상기 접촉핀(143b)과 상기 포고핀 몸체(143a)의 사이에 신축 가능하게 개재되어 접촉핀(143b)이 포고핀 몸체(143a)의 외부로 인출되는 방향으로 이동하도록 탄성력을 가하는 스프링부재(143c)를 포함하여 구성되어 있다.

이에 따라 상기 각 포고핀(143)은 서로 독립적으로 알에프 보드(130)에 각각 탄성 접촉될 수 있는 바, 이와 같은 구조는 탐침부(140)가 알에프 보드(130)에 접촉될 시 접촉핀(143b)이 알에프 보드(130)에 대해 직각으로 접촉되도록 배치되지 않거나 알에프 보드(130)의 신호선(131) 및 접지선(132)간에 높이 편차가 있을 경우에도 각 접촉핀(143b)이 알에프 보드(130)에 안정적으로 접촉될 수 있게 하며 그에 따른 접촉 오류를 방지할 수 있게 한다.

또 상기와 같은 각 포고핀(143)은 임피던스가 50Ω이 되도록 설계되는 바, 이때 상기 각 포고핀(143)의 임피던스는 각 포고핀(143)의 사이 간격을 조절하는 방법 등을 통해 조절될 수 있다.

이러한 구성에 의하여 작업자는 탐침부(140)의 고정부(144)를 잡고 알에프 케이블(120)의 신호선 및 접지선에 각각 전기적으로 연결되어 있는 각 포고핀(143)을 그에 해당되는 알에프 보드(130)의 신호선(131) 및 접지선(132)에 각각 접촉시켜 임피던스를 측정할 있게 된다.

이와 같이 본 발명은, 알에프 케이블(120)과 알에프 보드(130)를 연결시키기 위한 별도의 납땜(도 1의 W 참조) 작업을 배제하고 알에프 케이블(120)의 일단부에 구비된 탐침부(140)를 통해 접촉 방식으로 알에프 케이블(120)과 알에프 보드(130)가 연결될 수 있게 함으로써, 알에프 케이블(120)과 알에프 보드(130)의 연결시 알에프 보드(130)와 알에프 케이블(120)이 파손되는 것을 방지할 수 있게 한다.

또한 이와 같은 구조는 납땜 작업을 위한 별도의 장비를 배제시킬 수 있게 함으로써 검사에 따른 비용을 절감할 수 있게 하고, 종래와 같이 알에프 케이블(120)과 알에프 보드(130)의 각 신호선(도 1의 21,31 참조)과 접지선(도 1의 22,32 참조)을 일일이 납땜으로 연결해야 하는 번거로움 없이 탐침부(140)를 통해 각각의 신호선과 접지선이 간단하게 연결(또는 분리)될 수 있게 함으로써 작업 효율성을 향상 시킬 수 있게 함은 물론 기판보정세트(SUBSTRATE CALIBRATION KIT)의 사용을 가능하게 한다.

뿐만 아니라 본 발명은 알에프 케이블(120) 구간(특히 알에프 케이블(120)과 연결된 탐침부(140)와 알에프 보드(130)의 연결부위)에서의 임피던스 변화 및 손실을 최소화할 수 있게 함은 물론 임피던스 보정을 가능하게 함으로써 검사의 정확성 및 신뢰성을 향상 시킬 수 있게 한다.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명하였으나, 본 발명의 범위는 이와 같은 특정 실시예에만 한정되는 것은 아니며, 특허청구범위에 기재된 범주 내에서 적절히 변경 가능한 것이다.

이상에서 본 바와 같이, 본 발명에 따른 알에프 보드용 검사장치에 의하면, 알에프 보드와 알에프 케이블의 연결시 별도의 납땜 작업을 배제하고 포고핀을 포함하여 구성되는 탐침부를 통해 접촉식으로 연결될 수 있게 함으로써, 검사 비용을 절감하고 작업 효율성을 향상 시킬 수 있음은 물론 신뢰성 및 정확성을 향상 시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (4)

1. 알에프 보드의 전기적인 성능을 측정하기 위한 측정기와;

   일단이 상기 측정기에 연결되는 알에프 케이블과;

   상기 알에프 케이블의 타단에 연결되어 선택적으로 상기 알에프 보드에 접촉되며 상기 알에프 보드와 상기 알에프 케이블을 전기적으로 연결시키는 탐침부;를포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 알에프 보드용 검사장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 탐침부는

   상기 알에프 케이블의 타단에 연결되는 커넥터와;

   상기 커넥터에 연결되는 연결선을 통해 상기 알에프 케이블의 신호선 및 접지선에 각각 전기적으로 연결되어 상기 알에프 보드의 신호선 및 접지선에 각각 접촉되는 복수개의 포고핀과;

   상기 포고핀 및 연결선의 둘레를 감싸며 상기 포고핀과 연결선을 지지 고정시키는 고정부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 알에프 보드용 검사장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 각 포고핀은

   일단이 개구된 수용 공간을 갖도록 형성되어 상기 고정부에 고정되는 포고핀 몸체와;

   상기 포고핀 몸체의 내부에 수용되되 선택적으로 상기 포고핀 몸체의 외부로 인출 가능하게 설치되어 상기 알에프 보드에 접촉되는 접촉핀과;

   상기 접촉핀과 상기 포고핀 몸체의 사이에 개재되어 상기 접촉핀이 상기 포고핀 몸체의 외부로 인출되는 방향으로 이동하도록 탄성력을 가하는 스프링부재;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 알에프 보드용 검사장치.
4. 제2항 내지 제3항에 있어서,

   상기 각 포고핀은 임피던스가 50Ω이 되도록 배치된 것을 특징으로 하는 알에프 보드용 검사장치.

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