KR101016627B1 - 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 - Google Patents
고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호를 한번에 검사함으로써, 고밀도 플렉시블 피씨비의 생산성을 향상시킴과 아울러 원가절감 및 검사에 대한 시간을 단축하고, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사시, 고밀도 플렉시블 피씨비의 손상을 최소화할 수 있도록 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치에 관한 것으로, 이러한 본 발명은 수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와; 상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와; 상기 수용본체(106)의 수용공간(104)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 상면 중앙에 일정길이 수직상방으로 설치되어 디지털멀티테스트기에 전기적으로 연결된 인터페이스 팁(22)을 삽입시키는 돌기관(108)과; 상기 돌기관(108)의 내부 일측면에 일정간격을 두고 설치되어 상기 돌기관(108)으로 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 주는 볼플런져(110)와; 상기 돌기관(108)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 내부 중앙에 일정길이 수직하방으로 설치되어 삽입되는 인터페이스 팁(22)을 안내하는 가이드관(112)과; 상기 수용본체(106)의 내부 장방향을 따라 형성되어 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)를 한꺼번에 검사하는 도체판(114) 등을 포함하여 이루어진다.
Description
본 발명은 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호를 한번에 검사함으로써, 고밀도 플렉시블 피씨비의 생산성을 향상시킴과 아울러 원가절감 및 검사에 대한 시간을 단축하고, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사시, 고밀도 플렉시블 피씨비의 손상을 최소화할 수 있도록 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 피씨비((PCB : Printed Circuit Board), 인쇄회로기판)는 집적 회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 납땜되는 얇은 판이다.
대부분의 전자장치에 설치되고, 만들어지는 순서는 다음과 같다. 절연체인 에폭시 수지 또는 베이클라이트 수지로 만든 얇은 기판에 구리박을 붙인 후에, 계속하여 구리박으로 남아 있기를 원하는 회로 배선에는 레지스트를 인쇄한다.
그리고 구리를 녹일 수 있는 식각액에 인쇄된 기판을 담그면 레지스트가 묻지 않은 부분은 녹는다. 그 후에 레지스트를 제거하면 구리박이 원하는 형태로 남아 있다. 부품을 꽂아야 하는 부분에는 구멍을 뚫고 납이 묻으면 안 되는 곳에는 푸른색의 납 레지스트를 인쇄한다.
그리고, 전자장치의 소형화에 따라, 도 1 내지 도2에 도시된 바와 같이, 상기 피씨비 또한 아주 얇은 플렉시블하게 개발되고 있는 실정에 있고, 그 이름을 고밀도 플렉시블 피씨비 라 한다.
상기 고밀도 플렉시블 피씨비(10)는 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 일측 단부에 일정간격을 두고 설치된 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)와, 타측 단부에 일정간격을 두고 설치된 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)와, 상기 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)와 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N) 사이에 연결되어 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)와 상기 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)를 연결시켜 주는 전기선(16-1,16-2,16-3,···,16-N)으로 구성된다.
여기서, 상기 일측 단부에 일정간격을 두고 설치된 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)의 크기는,
타측 단부에 일정간격을 두고 설치된 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)의 크기보다 크다.
그리고, 상기와 같이 구성된 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)(14-1,14-2,14-3,···,14-N)의 전기신호를 검사하는바, 도 2에 도시된 바와 같이, 주로 디지털멀티테스트기(도시는 생략함)에 전기적으로 연결된 한 쌍의 인터페이스 팁(20, 22)을 사용한다.
상기 디지털멀티테스트기의 인터페이스 팁(20,22)을 사용하여 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 전기접속단자의 전기신호를 검사할 경우, 도 2에 도시된 바와 같이,
하나의 인터페이스 팁(20)을 상기 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 일측 단부에 설치된 다 수개의 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N) 중 선택된 전기접속단자(12-1) 상면에 접촉시켜 놓은 후, 나머지 하나의 인터페이스 팁(22)을 상기 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 타측 단부에 설치된 다 수개의 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)의 상면에서 하측으로 차례대로 슬라이딩시킨다.
여기서, 상기 인터페이스 팁(22)을 슬라이딩시키는 이유는,
전기접속단자의 크기가 인터페이스 팁(22)의 크기보다 작기 때문이다.
따라서, 상기 인터페이스 팁(22)이 슬라이딩할 때, 소리가 나면, 상기 전기접속단자(12-1)가 전기선으로 잘 연결된 것으로 간주한다.
반대로, 상기 인터페이스 팁(22)이 슬라이딩할 때, 소리가 나지 않으면, 상기 전기접속단자(12-1)가 전기선으로 연결되지 않은 것으로 간주한다.
그러나, 상기와 같이 인터페이스 팁을 슬라이딩시켜 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자를 검사할 때, 상기 고밀도 플렉시블 피씨비가 인터페이스 팁의 가압에 의해 파손이 되는 문제점이 있었다.
이로 인해, 상기 고밀도 플렉시블 피씨비를 전기장치에 장착할 수 없거나 장착이 되어도 신호전달이 불가능한 문제점이 있었다.
특히, 고밀도 플렉시블 피씨비를 다시 제작해야 하는 등에 따른 비용 증가 및 시간 손실이 발생하는 비효율적인 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출 된 것으로서, 그 목적은 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호를 한번에 검사함으로써, 고밀도 플렉시블 피씨비의 생산성을 향상시킴과 아울러 원가절감 및 검사에 대한 시간을 단축하고, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사시, 고밀도 플렉시블 피씨비의 손상을 최소화할 수 있도록 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치를 제공하는 데 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면,
수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와;
상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와;
상기 수용본체(106)의 수용공간(104)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 상면 중앙에 일정길이 수직상방으로 설치되어 디지털멀티테스트기에 전기적으로 연결된 인터페이스 팁(22)을 삽입시키는 돌기관(108)과;
상기 돌기관(108)의 내부 일측면에 일정간격을 두고 설치되어 상기 돌기관(108)으로 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 주는 볼플런져(110)와;
상기 돌기관(108)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 내부 중앙에 일정길이 수직하방으로 설치되어 삽입되는 인터페이스 팁(22)을 안내하는 가이드관(112)과;
상기 수용본체(106)의 내부 장방향을 따라 형성되어 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)를 한꺼번에 검사하는 도체판(114)과;
상기 도체판(114)의 상면 중앙에 수직상방으로 일정길이 설치되되, 상기 가이드관(112)을 통해 안내되어 오는 인터페이스 팁(22)을 접촉시켜 상기 도체판(114)으로 전기신호를 전달하는 도체돌기(116)와;
상기 도체돌기(116)의 외면에 설치되어 스프링을 고정시켜 주는 스프링걸림구(118)과;
상기 가이드관(112)의 하면과 도체판(114)의 상면 사이에 게재되되, 상기 도체판(114)의 스프링걸림구(118)에 고정되어 인터페이스 팁(22)이 도체돌기(116)에 접촉될 때, 상기 도체판(114)에 텐션을 주는 스프링(120)으로 구성된다.
수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와;
상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와;
상기 수용본체(106)의 수용공간(104)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 상면 중앙에 일정길이 수직상방으로 설치되어 디지털멀티테스트기에 전기적으로 연결된 인터페이스 팁(22)을 삽입시키는 돌기관(108)과;
상기 돌기관(108)의 내부 일측면에 일정간격을 두고 설치되어 상기 돌기관(108)으로 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 주는 볼플런져(110)와;
상기 돌기관(108)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 내부 중앙에 일정길이 수직하방으로 설치되어 삽입되는 인터페이스 팁(22)을 안내하는 가이드관(112)과;
상기 수용본체(106)의 내부 장방향을 따라 형성되어 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)를 한꺼번에 검사하는 도체판(114)과;
상기 도체판(114)의 상면 중앙에 수직상방으로 일정길이 설치되되, 상기 가이드관(112)을 통해 안내되어 오는 인터페이스 팁(22)을 접촉시켜 상기 도체판(114)으로 전기신호를 전달하는 도체돌기(116)와;
상기 도체돌기(116)의 외면에 설치되어 스프링을 고정시켜 주는 스프링걸림구(118)과;
상기 가이드관(112)의 하면과 도체판(114)의 상면 사이에 게재되되, 상기 도체판(114)의 스프링걸림구(118)에 고정되어 인터페이스 팁(22)이 도체돌기(116)에 접촉될 때, 상기 도체판(114)에 텐션을 주는 스프링(120)으로 구성된다.
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본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호를 한번에 검사함으로써, 고밀도 플렉시블 피씨비의 생산성을 향상시키는 효과가 있다.
그리고, 본 발명은 원가절감 및 검사에 대한 시간을 단축하고, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사시, 고밀도 플렉시블 피씨비의 손상을 최소화할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 일반적인 고밀도 플렉시블 피씨비를 나타낸 도면,
도 2는 종래기술에 따른 디지털멀티테스트기의 인터페이스 팁으로 고밀도 플렉시블 피씨비를 검사하는 과정을 나타낸 도면,
도 3a는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치를 나타낸 도면,
도 3b는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치로 인터페이스 팁이 설치되는 과정을 나타낸 도면,
도 3c는 도 3b의 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치와 인터페이스 팁의 내부를 나타낸 단면도,
도 3d는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 내부를 확대한 도면,
도 4는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 사용 상태를 나타낸 도면이다.
도 2는 종래기술에 따른 디지털멀티테스트기의 인터페이스 팁으로 고밀도 플렉시블 피씨비를 검사하는 과정을 나타낸 도면,
도 3a는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치를 나타낸 도면,
도 3b는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치로 인터페이스 팁이 설치되는 과정을 나타낸 도면,
도 3c는 도 3b의 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치와 인터페이스 팁의 내부를 나타낸 단면도,
도 3d는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 내부를 확대한 도면,
도 4는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 사용 상태를 나타낸 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 3a는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치를 나타낸 도면이고, 도 3b는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치로 인터페이스 팁이 설치되는 과정을 나타낸 도면이며, 도 3c는 도 3b의 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치와 인터페이스 팁의 내부를 나타낸 단면도이고, 도 3d는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 내부를 확대한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 사용 상태를 나타낸 도면이다.
도 3a 내지 도 4에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치(100)는,
수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와;
상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와;
수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와;
상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와;
상기 수용본체(106)의 수용공간(104)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 상면 중앙에 일정길이 수직상방으로 설치되어 디지털멀티테스트기(도시는 생략함)에 전기적으로 연결된 인터페이스 팁(22)을 삽입시키는 돌기관(108)과;
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상기 돌기관(108)의 내부 일측면에 일정간격을 두고 설치되어 상기 돌기관(108)으로 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 주는 볼플런져(110)와;
상기 돌기관(108)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 내부 중앙에 일정길이 수직하방으로 설치되어 삽입되는 인터페이스 팁(22)을 안내하는 가이드관(112)과;
상기 수용본체(106)의 내부 장방향을 따라 형성되어 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)를 한꺼번에 검사하는 도체판(114)과;
상기 도체판(114)의 상면 중앙에 수직상방으로 일정길이 설치되되, 상기 가이드관(112)을 통해 안내되어 오는 인터페이스 팁(22)을 접촉시켜 상기 도체판(114)으로 전기신호를 전달하는 도체돌기(116)와;
상기 도체돌기(116)의 외면에 설치되어 스프링을 고정시켜 주는 스프링걸림구(118)과;
상기 가이드관(112)의 하면과 도체판(114)의 상면 사이에 게재되되, 상기 도체판(114)의 스프링걸림구(118)에 고정되어 인터페이스 팁(22)이 도체돌기(116)에 접촉될 때, 상기 도체판(114)에 텐션을 주는 스프링(120)으로 구성된다.
그리고, 상기 볼플런져(110)는,
수용공간을 갖는 수직본체(110-1)와;
상기 수직본체(110-1)의 수용공간에 일정길이로 수용된 스프링(110-3)과;
상기 수직본체(110-1)의 수용공간에 수용되되, 상기 스프링(110-3)의 상면에 안착되어 상기 스프링(110-3)의 움직임에 따라 상하로 슬라이딩함과 아울러 삽입되어온 인터페이스 팁(22)을 고정시켜주는 고정부(110-5)로 구성된다.
그리고, 상기 가이드관(112)의 지름과 상기 스프링(120)의 지름은 같다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 사용 과정을 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 및 한 쌍의 인터페이스 팁(20, 22)을 구비한 디지털멀티테스트기(도시는 생략함)을 일정한 장소에 위치시킴과 아울러 검사할 고밀도 플렉시블 피씨비(10)를 위치시킨다.
그리고, 도 4에 도시된 바와 같이, 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 일측 단부에 형성된 전기접속단자(12-1,12-2,12-3,···,12-N)중 인터페이스 팁(20)을 전기접속단자(12-1)의 상면에 접촉시켜 놓는다.
그리고, 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 돌기관(108)으로 인터페이스 팁(22)을 삽입시킨다.
이때, 상기 인터페이스 팁(22)은 돌기관(108), 가이드관(114), 스프링(120)을 거쳐 도체판(114)의 도체돌기(116)의 상면에 접촉함과 아울러 볼플런져(110)가 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 준다.
그리고, 도 4에 도시된 바와 같이, 고밀도 플렉시블 피씨비(10)의 타측 단부에 형성된 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)의 상면에 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치의 도체판(114)을 접촉시켜 놓는다.
이때, 상기 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)와 도체판(114)이 접촉이 잘 안될 경우, 상기 인터페이스 팁(22)을 가압한다.
상기 가압에 따라, 스프링(120)이 텐션을 발생하는바, 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)의 상면에서 도체판(114)을 조절한다.
따라서, 상기 도체판(114)이 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)에 접촉될 때, 소리가 나면, 상기 전기접속단자(12-1)가 전기선으로 잘 연결된 것으로 간주한다.
반대로, 상기 도체판(114)이 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)에 접촉될 때, 소리가 나지 않으면, 상기 전기접속단자(12-1)가 전기선으로 연결되지 않은 것으로 간주한다.
그러므로, 상기와 같은 과정으로 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자를 한꺼번에 검사할 수 있다.
이상의 본 발명은 상기에 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.
100 : 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치
102 : 개구부
106 : 수용본체
108 : 돌기관
110 : 볼플런져
112 : 가이드관
114 : 도체판
116 : 도체돌기
118 : 스프링걸림구
120 : 스프링
102 : 개구부
106 : 수용본체
108 : 돌기관
110 : 볼플런져
112 : 가이드관
114 : 도체판
116 : 도체돌기
118 : 스프링걸림구
120 : 스프링
Claims (3)
- 수용공간(104)을 갖는 삼각형상의 수용본체(106)와;
상기 삼각형상의 수용본체(106)의 내측 하부에 형성된 개구부(102)와;
상기 수용본체(106)의 수용공간(104)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 상면 중앙에 일정길이 수직상방으로 설치되어 디지털멀티테스트기에 전기적으로 연결된 인터페이스 팁(22)을 삽입시키는 돌기관(108)과;
상기 돌기관(108)의 내부 일측면에 일정간격을 두고 설치되어 상기 돌기관(108)으로 삽입된 인터페이스 팁(22)을 고정시켜 주는 볼플런져(110)와;
상기 돌기관(108)과 관통되게 상기 수용본체(106)의 내부 중앙에 일정길이 수직하방으로 설치되어 삽입되는 인터페이스 팁(22)을 안내하는 가이드관(112)과;
상기 수용본체(106)의 내부 장방향을 따라 형성되어 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기접속단자(14-1,14-2,14-3,···,14-N)를 한꺼번에 검사하는 도체판(114)과;
상기 도체판(114)의 상면 중앙에 수직상방으로 일정길이 설치되되, 상기 가이드관(112)을 통해 안내되어 오는 인터페이스 팁(22)을 접촉시켜 상기 도체판(114)으로 전기신호를 전달하는 도체돌기(116)와;
상기 도체돌기(116)의 외면에 설치되어 스프링을 고정시켜 주는 스프링걸림구(118)과;
상기 가이드관(112)의 하면과 도체판(114)의 상면 사이에 게재되되, 상기 도체판(114)의 스프링걸림구(118)에 고정되어 인터페이스 팁(22)이 도체돌기(116)에 접촉될 때, 상기 도체판(114)에 텐션을 주는 스프링(120)으로 구성된 것을 특징으로 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 볼플런져(110)는,
수용공간을 갖는 수직본체(110-1)와;
상기 수직본체(110-1)의 수용공간에 일정길이로 수용된 스프링(110-3)과;
상기 수직본체(110-1)의 수용공간에 수용되되, 상기 스프링(110-3)의 상면에 안착되어 상기 스프링(110-3)의 움직임에 따라 상하로 슬라이딩함과 아울러 삽입되어온 인터페이스 팁(22)을 고정시켜주는 고정부(110-5)로 구성된 것을 특징으로 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 가이드관(112)의 지름과 상기 스프링(120)의 지름은 같은 것을 특징으로 하는 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100090273A KR101016627B1 (ko) | 2010-09-15 | 2010-09-15 | 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100090273A KR101016627B1 (ko) | 2010-09-15 | 2010-09-15 | 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR101016627B1 true KR101016627B1 (ko) | 2011-02-23 |
Family
ID=43777770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020100090273A KR101016627B1 (ko) | 2010-09-15 | 2010-09-15 | 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 |
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| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101016627B1 (ko) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5239261A (en) * | 1992-01-27 | 1993-08-24 | Tektronix, Inc. | Probe apparatus for testing electronic circuits immersed in a liquid cryogen |
| KR20070025170A (ko) * | 2005-08-31 | 2007-03-08 | 엘지전자 주식회사 | 알에프 보드용 검사장치 |
| KR20080003127U (ko) * | 2007-02-02 | 2008-08-06 | 리노공업주식회사 | 반도체 칩 검사용 사각 프로브 |
| KR20080098088A (ko) * | 2007-05-04 | 2008-11-07 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법 |
-
2010
- 2010-09-15 KR KR1020100090273A patent/KR101016627B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
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