JP6893069B2 - Ｒｆアダプタ - Google Patents

Description

本発明は、１対の差動ピンからの信号を、試験測定システムでの試験に使用する同軸のＲＦコネクタへ伝送するためのＲＦアダプタに関する。

被試験デバイス（ＤＵＴ）からの差動信号を測定する種々のシステムが開発されてきている。試験システムをＤＵＴに接続する方法には、様々なものがある。これらは、はんだ付けによる接続、ＲＦコネクタ、圧力式コンタクト、ワイヤ／リード、ピン、アダプタ、インタポーザ、クリップ・オンなどが含まれる。試験システムをＤＵＴに接続するためのインタフェースは、共通して、差動試験ポイントにはんだ付けされた１対のピン／短いワイヤ（リード線）を用いて実現され、これらは、試験システムに接続される。

特開２００４−２２７９４８号公報 特開２０１０−１５３０８２号公報

「コネクタ」の記事、［online］、Wikipedia（日本語版）、［２０１７年３月１０日検索］、インターネット<URL：http://ja.wikipedia.org/wiki/コネクタ> 「絶縁 (電気)」の記事、［online］、Wikipedia（日本語版）、［２０１７年３月１７日検索］、インターネット<URL：http://ja.wikipedia.org/wiki/絶縁 (電気)>

こうしたシステムにおける問題は、シールドのない露出したリード対／ピン対と周囲の電界とが相互に影響し合うことがあって、被測定信号に干渉信号（Interference）が導入されることがあることである。１対のリード／ピンの両方に導入された干渉信号は、コモン・モード干渉信号と呼ばれる。露出されたリード対／ピン対は、コモン・モード干渉信号と、個々のリード及びピンに影響を与える干渉信号の両方にさらされる。露出リード対／ピン対におけるこれら干渉信号から差動信号だけを分離するメカニズムはなく、結果として、ＤＵＴの実際の差動信号には存在しない信号ノイズが付加されて、試験システムで測定される。更に、差動リード対／ピン対のインピーダンスを均一に維持するよう制御すれば、周波数レスポンスに関して劣化することなく、繰り返し測定を行うことができる。しかし、実際の露出リード対／ピン対は、試験プロセス中に、屈曲したり、大幅に位置が変わったりすることがある。露出リード対が屈曲すると、対応する差動対のインピーダンスが変化する。このようにインピーダンスが制御されていないと、試験システムにおける信号の周波数レスポンスは変化し、これによって、帯域幅が損なわれ、リップル電流が生じてしまう。このように、露出したリード対は、試験システムで行う試験の測定精度を劣化させるもので、特に、高周波数成分を有する差動信号を測定する場合に、その影響が顕著に現れる。

本発明の実施形態は、従来技術における上述の課題や他の課題を解決しようとするものである。

本発明の実施形態としては、１対の差動ピンを受けるＲＦアダプタがある。このＲＦアダプタには、中心導体コンタクトがある。中心導体コンタクトの一端部にはＲＦコネクタ（雌）があり、その他端部には信号コンタクトがある。中心導体コンタクトの周囲は、絶縁スリーブで覆われる。絶縁スリーブの周囲は、基準コンタクトで覆われる。板ばねのような固定部品が、差動ピン対の基準ピンを基準／シールド・コンタクトに係合するために使用される。差動ピン対の信号ピンは、中心導体コンタクトと結合される。保護層は、固定部品及び基準コンタクトの周りを覆う。アダプタは、差動ピン対に対してスライドするように構成され、このため、差動ピン対が取り付けられた回路基板に対して、外部基準／シールド・コンタクトが当接できる。このようにして、差動ピン対（例えば、リード線の対）から回路基板の表面に至るまで完全にシールドされ、コモン・モード及び他の形式の干渉からピン対をシールド／絶縁する。更に、アダプタの複数のコンタクトの間隔は、ピン間隔に一致するように選択される。このように、アダプタは、試験中に信号ピン及び基準ピンの形状を維持する。したがって、アダプタは、差動ピン対のインピーダンスを一定に制御して維持し、これによって、インピーダンスの変動を低減又は排除し、結果として、システム周波数応答を維持し、異常なリプル電流を低減／除去する。ＲＦコネクタは、対応するプローブに接続するのに望ましい任意のタイプのＲＦコネクタであってもよい。いくつかの実施形態では、アッテネータ（減衰回路）がＲＦコネクタと信号コンタクトとの間に配置される。アッテネータは、差動信号に関連する利得を減少させて、試験システムの入力信号のレンジを増加させる。アダプタ内のアッテネータによって、より広い種々のＲＦコネクタ（例えば、事前調整回路なしのＲＦコネクタ）に係合しての使用が可能になる。

このように、少なくともいくつかの実施形態では、差動ピン対を受けるＲＦアダプタには、近位端部及び遠位端部を有する中心導体コンタクトがあり、その近位端部には、ＲＦコネクタがあり、その遠位端部には、差動ピン対の信号ピンと結合するよう構成される信号コンタクトがある。アダプタには、また、中心導体コンタクトの周りを覆う絶縁スリーブがある。更に、アダプタには、絶縁スリーブによって中心導体コンタクトから隔離され、差動ピン対の基準ピンと結合するように構成された基準／シールド・コンタクトがある。

別の態様では、少なくともいくつかの実施形態では、差動ピンを受けるＲＦアダプタは、遠位端部からの差動信号の信号成分を近位端部のＲＦコネクタに伝送するように構成された中心導体コンタクトを含む。また、アダプタは、遠位端部からＲＦコネクタへの差動信号の基準信号成分を近位端部で伝送するように構成された基準コンタクトを含む。更に、アダプタは、差動信号の基準信号成分を、差動信号の信号成分から絶縁するように構成された絶縁スリーブを含む。

図１は、試験測定システムの実施形態のブロック図である。 図２は、差動ピン対を受けるＲＦアダプタの実施形態の断面図である。 図３は、アッテネータを有する差動ピン対を受けるＲＦアダプタの実施形態の断面図である。 図４は、図２と同じ差動ピン対を受けるＲＦアダプタの実施形態について、各要素の断面をより具体的に示した断面図である。

図１を参照すれば、本願において、「近位」とは、相対的にホスト１５０に近い側に位置することを意味し、「遠位」とは、相対的にホスト１５０から遠い側に位置する（よって、ＤＵＴ１１０により近い）ことを意味する。

本発明の実施形態は、１対の差動ピン（以下、差動ピン対とも呼ぶ）を受けるＲＦアダプタに関する。このＲＦアダプタは、角型若しくは丸型ピン対又は短いワイヤ・リード対と、この差動対からプローブを介して試験システムへとつながるインタフェースとに取り付けられるよう構成される。ＲＦアダプタは、遠位端部からの信号を近位端部のＲＦコネクタへと伝送するよう構成される中心導体コンタクトを採用している。また、このＲＦアダプタは、この信号に対応する基準信号を伝送するよう構成される基準コンタクトも採用している。従って、中心導体コンタクト及び基準コンタクトは、その差動信号をＲＦコネクタへと伝送する。更に、ＲＦアダプタは、中心導体コンタクトを流れる信号から、基準信号を絶縁するよう構成される絶縁スリーブも採用している。この基準／シールド・コンタクトは、ＤＵＴの回路基板とＲＦコネクタとの間において受けるコモン・モード干渉信号や他の干渉信号から、信号をシールドするよう構成される。アダプタは、ＲＦコネクタ、基準コンタクト・ピンと中心導体コンタクト・ピンと間の同軸接続を一定に維持し、ピン間のインピーダンスを制御し続けるよう構成される。いくつかの実施形態では、中心導体コンタクトにアッテネータが更に設けられ、このアッテネータが、差動信号を近位端部においてＲＦコネクタへと伝送する前に差動信号の利得を低減し、ＲＦプローブ全体について期待される利得に差動信号の利得を整合させたり、試験システムからＤＵＴを電気的にアイソレートしたりするよう構成される。これらピンの接続を維持するのに固定部品が使用される。また、保護層は、アダプタとインタフェース・ピンを使用中の損傷から保護する。

図１は、試験測定システム１００の実施形態のブロック図である。試験測定システム１００には、１対の差動ピン（差動ピン対）１１１を有する被試験デバイス（ＤＵＴ）１１０がある。差動ピン対１１１からの差動信号１６１は、試験のために、ホスト１５０へと送られる。ホスト１５０は、例えば、オシロスコープ、スペクトラム・アナライザなどの試験測定装置としても良い。差動信号１６１は、信号ピン１１１ａを流れる信号と、基準ピン１１１ｂを流れる基準信号との間の差分を表す。ホスト１５０は、差動信号１６１を受けるよう構成されており、そのために、アダプタ１２０は、ホスト１５０へと送られる、２つのピン／リード線を流れる信号を同軸の接続構造に伝送する。差動信号１６１は、プローブ１３０を介して、そして、実施形態によっては、更に、コントローラやホスト１５０のための前処理装置（プリ・プロセッサ）として機能するアクセサリ１４０を介して、ホスト１５０へと送られる。

ＤＵＴ１１０は、試験用の差動信号１６１を生成する構成された任意のデバイスとして良い。ＤＵＴ１１０としては、例えば、差動信号を生成する任意の回路基板としても良い。この差動信号は、データ転送用であったり、電源の制御やバイアス制御用であったり、高電圧シグナリング、他の伝送システムで利用される信号などでも良い。当業者であれば、差動シグナリングを利用するＤＵＴ１１０としては、多種多様なデバイスがあり、本願で説明する例は説明の都合によるものであって、これらに限定されないことが理解出来よう。ＤＵＴ１１０には、差動ピン対１１１があり、これらは、１対の出力ピンであって、試験のために、ＤＵＴ１１０中の差動信号を取り出すのに利用される。差動ピン対（１対の差動ピン）１１１として、信号ピン１１１ａと基準ピン１１１ｂがある。差動信号１６１は、信号ピン１１１ａを流れる信号と、基準ピン１１１ｂを流れる基準信号との間の差を表す信号である。

アダプタ１２０は、差動ピン対を受けるＲＦアダプタであって、本願においては、ＤＵＴの試験ポイントからの差動ピン対／リード対と、インピーダンスが制御された同軸接続構造との間のインタフェースとして機能するよう構成されたデバイスである。アダプタ１２０は、差動ピン対１１１のピン／リードに対するインタフェースとして機能するよう構成され、差動信号１６１をプローブ１３０へと伝送する。具体的には、アダプタ１２０には、ＲＦコネクタに接続される１対のコンタクト（接触子）がある。このＲＦコネクタ（雌）としては、プローブ１３０のＲＦコネクタ（雄）と係合するものが選択されている。アダプタ１２０の中心導体コンタクトは、信号ピン１１１ａに接続されるが、これが、更に、ＲＦコネクタの中心ピン・コンタクトに接続される。更に、アダプタ１２０には、基準ピン１１１ｂに接続される基準コンタクトがあり、これは、プローブ１３０のＲＦコネクタの外部シールド・コンタクトに接続される。アダプタ１２０は、更に、コモン・モードやその他のＤＵＴ１１０とＲＦコネクタの間で生じる周辺からの電気的な干渉から差動信号１６１をシールド／絶縁するために、ＤＵＴ１１０に当接するよう構成される。また、アダプタ１２０は、差動ピン対１１１を物理的に支えるようにも構成されている。具体的には、アダプタ１２０は、差動ピン対１１１の信号ピン１１１ａと基準ピン１１１２ｂと間の互いの相対的な位置を適切に制御すると共に、ＲＦコネクタと対応する同軸接続構造に対する相対的な位置も適切に制御し、結果として、全体的な接続構造におけるインピーダンスを適切に制御し、維持する。アダプタ１２０は、更に、基準ピン１１１ｂを基準コンタクトに固定し、信号ピン１１１ａを中心導体コンタクトに固定するよう構成された固定部品を有していても良い。また、アダプタ１２０と、これに結合された差動ピン対１１１を使用中に保護するための保護層を、アダプタ１２０に設けても良い。アダプタ１２０は、差動ピン対１１１に、はんだ付けされても良いし、はんだ付けされなくても良い。差動ピン対１１１は、丸型ピンや角型ピンでも良いし、また、短いワイヤ・リード（リード線）でも良く、アダプタ１２０は、それらに応じて、ピン／リードに結合するよう構成される。いくつかの実施形態では、アダプタ１２０に、ＲＦコネクタと中心導体コンタクトや基準コンタクトとの間に、アッテネータが設けられ、これは、差動信号１６１の利得を調整することで、受け入れ可能な入力信号のレンジを拡大すると共に、ホスト１５０からＤＵＴ１１０のシステムを更に効果的に電気的にアイソレートする。

プローブ１３０は、ＲＦコネクタでアダプタ１２０と結合し、アクセサリ１４０に向けて差動信号１６１を伝送するように構成された装置である。プローブ１３０は、アダプタ１２０のＲＦコンタクト（雌）と嵌合するプローブＲＦコネクタ（雄）を有する同軸ケーブルを含む。具体的には、プローブ１３０は、中心導体及び外部シールドを有する同軸ケーブルを含む。プローブ１３０は、ツイスト・ペアを用いて構成することもでき、シールドされていても良い。いくつかの実施形態では、プローブ１３０が、アッテネータ（例えば、もしアダプタ１２０がアッテネータを採用していない場合）を有していても良い。更に、プローブ１３０には、同軸ケーブルの周りを囲み、ケーブルの長さに沿って間隔を置いて配置された複数の磁気部品（例えば、フェライト）がある。フェライトは、コモン・モード干渉を低減する。これら磁気部品の間には隙間があって互いに離間され、これら隙間はエラストマ部品で満たされる。エラストマ部品には伸縮性があり、これによって、プローブを屈曲でき、隣接する磁気部品が一緒に押しつぶされるのを防止する（例えば、磨耗を低減し、応力破壊を防止する）。いくつかの実施形態では、プローブ１３０は、電気的に消去可能なプログラマブル読み取り専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）を有し、これは、例えば、プローブ・チップにおける抵抗値、チップの減衰量、周波数応答やそのほかのプローブ１３０に特有のパラメータといった、プローブ１３０の仕様を記憶するのに利用される。

アクセサリ１４０は、ホスト１５０用の差動信号１６１を検出又は事前調整するように構成された任意のデバイスである。アクセサリ１４０は、差動信号１６１を検出する検出ヘッド、差動信号１６１を事前調整するコントローラ、又はそれらを組み合わせたものを有していても良い。例えば、アクセサリ１４０は、差動信号１６１がプローブ１３０を通過するときに自然に生じる電力損失を補償するように差動信号１６１の利得を調整するための情報をＥＥＰＲＯＭから得ることができる。アクセサリ１４０は、元の差動信号１６１とほぼ同じ電気特性を維持しながら、差動信号１６１をホスト１５０へ届けるように設計される。具体的には、アクセサリ１４０は、差動信号１６１が、差動ピン対１１１、アダプタ１２０及びプローブ１３０を通過するときに、差動信号１６１に入り込むノイズを最小限に抑えるように設計されている。

ホスト１５０は、アクセサリ１４０に結合し、試験や測定のために差動信号１６１を受けるように構成されている。ホスト１５０は、例えば、オシロスコープ又はその他の試験システムである。ホスト１５０は、アクセサリ１４０から差動信号１６１を受け、ユーザのために、それらを画面上で表示できる。ホスト１５０は、更に、ユーザによる計算及び使用のために、メモリ内の差動信号１６１から特性を取り込むこともできる。したがって、アダプタ１２０、プローブ１３０及びアクセサリ１４０は、ＤＵＴ１１０から得られた差動信号１６１と実質的に同一の差動信号１６１を、ユーザが測定可能にするために使用される。

図２は、差動ピン用ＲＦアダプタ２００の実施形態の断面図であり、これは、アダプタ１２０と同様のものである。アダプタ２００には、中心導体コンタクト２０９があり、これには、ＲＦ中心コンタクト２０９ａと信号コンタクト２０９ｂがある。説明をわかりやすくするため、ここでは、図２において、アダプタ２００の上側に描かれた要素を近位端部と呼び、アダプタ２００の下側に描かれた要素を遠位端部と呼ぶことにする。近位及び遠位という用語は、説明の都合上、ホストから相対的に遠い側（末端側）を「遠位」とし、ホストから相対的に近い側を「近位」として呼んでいるに過ぎず、説明する構成要素がこれら用語で限定されるものではない。これを踏まえて説明すると、中心導体コンタクト２０９の近位端部２２０にはＲＦ中心コンタクト２０９ａがあり、中心導体コンタクト２０９の遠位端部２２２にはピン／リード信号コンタクト２０９ｂがある。アダプタ２００の近位端部２２０には、プローブ１３０のような対応するＲＦプローブに結合するよう設計された任意の形式のＲＦコネクタ（雌）２１０があり、これには、例えば、プローブ１３０の端部に設けられた対応するＲＦコネクタ（雄）が挿入される。ＲＦコネクタ（雌）２１０は、例えば、ＳＭＰ（Sub-Miniature Push-On）コネクタ、ＳＭＡ（Sub-Miniature version A）コネクタ、ＭＭＣＸ（Micro-Miniature Coaxial）コネクタなどの、任意の同軸コネクタであっても良い（非特許文献１参照）。信号コンタクト２０９ｂは、信号ピン１１１ａのような信号ピンを受けて、係合するよう構成される。具体的には、信号コンタクト２０９ｂには、開口部２１２があり、これは、信号ピン／リードを受けて、係合する。中心導体コンタクト２０９は、電気信号を遠位端部２２２から近位端部２２０へと伝送するととも、その逆方向についても同様に伝送可能な任意の材料から形成され、それは、例えば、銅、銅めっき鋼、真鍮（brass：黄銅）、金、金めっき真鍮などとしても良い。よって、中心導体コンタクト２０９は、差動信号の信号成分を、遠位端部２２２において信号コンタクト２０９ｂに係合された信号ピン１１１ａから、近位端部２２０においてＲＦ中心コンタクト２０９ａへと伝送する。

中心導体コンタクト２０９の周りは、絶縁スリーブ２０７で覆われている。絶縁スリーブ２０７は、基準コンタクト２０５として機能する外部導体シールドと短絡（ショート）しないようにする絶縁体（誘電体）として機能する。絶縁スリーブ２０７は、例えば、テフロン（登録商標）の商品名で知られるポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）などのように、その目的に適した充分な電気的絶縁を提供できるような任意の絶縁材料から形成される。

中心導体コンタクト２０９及び絶縁スリーブ２０７の周りは、基準コンタクト２０５として機能する導体の層で覆われる。基準コンタクト２０５は、例えば、銅、銅めっき鋼、真鍮（brass：黄銅）、金、金めっき真鍮などのような任意の導電性材料から形成しても良い。基準コンタクト２０５は、絶縁スリーブ２０７によって中心導体コンタクト２０９から隔離されて電気的に絶縁され、基準ピン１１１ｂのようなピン／リードの基準ピンと遠位端部２２２において係合するように構成される。具体的には、アダプタ２００には、遠位端部に、基準ピンを受ける少なくとも１つの開口部２１４があり、これは、基準コンタクト２０５と隣接している。１つの基準ピンと係合するには、１つの開口部２１４があれば充分であるが、使用しやすくするために、複数の開口部を設けても良い。ある特定の実施形態では、４つの開口部２１４がアダプタ２００の周りに等間隔で配置され、信号ピンは信号コンタクト２０９ｂと係合できるようになっており、また、基準ピンをこれら開口部２１４のどれにでも挿入可能になっている。アダプタ２００は、差動ピン対と係合するよう設計されるが、開口部２１４及び２１２の間隔は、こうした差動ピン対の間隔に基いて選択される。基準コンタクト２０５は、アダプタ２００の遠位端部２２２において、ＤＵＴと当接するように構成される。ＤＵＴと当接しているとき、基準コンタクト２０５は、エッジに沿ってＤＵＴに物理的に接触する。ＤＵＴと当接することによって、基準コンタクト２０５は、ＤＵＴとＲＦ中心コンタクト２０９ａ間で受けるコモン・モードや他の干渉信号から、信号ピン及び信号コンタクト２０９ｂをシールドでき、これによって、差動信号の信号成分をシールドできる。

アダプタ２００には、更に、基準ピンを開口部２１４に挿入したときに、差動ピン対の中の基準ピンを固定する１つ以上の固定部品２０３がある。例えば、１つの開口部２１４につき、１つの固定部品２０３を使用しても良い。固定部品２０３は、基準ピンを適切な位置に解放可能に固定することができる任意のデバイスでよい。図示した実施形態では、固定部品２０３として板ばねが使用されている。近位端部２２０において、基準コンタクト２０５は、ＲＦ中心コンタクト２０９ａと嵌合するプローブのＲＦコネクタ（雄）を受ける開口部２１６を形成する。開口部２１６は、ＲＦ中心コンタクト２０９ａの一部として機能し、差動信号の信号成分が、中心導体コンタクト２０９からプローブのＲＦコネクタ（雄）の中心導体へと通過するのを可能にすると共に、差動信号の基準信号成分がプローブのＲＦコネクタ（雄）の外部導体へと通過するのを可能にする。従って、基準コンタクト２０５は、基準ピンを受けると共に、差動信号の基準信号成分を遠位端部２２２から、近位端部２２０において、ＲＦコネクタ（雌）２１０へと伝送するよう構成されたデバイスということになる。更に、上述のように、絶縁スリーブ２０７をＤＵＴに当接させても良い。絶縁スリーブ２０７をＤＵＴに当接させると共に、信号ピンに対して所定の距離をもって基準ピンを開口部２１４中に固定することによって、アダプタ２００は、信号ピンを基準ピンに対して平行な位置に維持し、もって、これら差動ピン対間のインピーダンスを一定に維持できる。

アダプタ２００は、更に、保護層２０１を有していても良く、これは、固定部品２０３及び基準コンタクト２０５の周りを覆うもので、よって、絶縁スリーブ２０７と中心導体コンタクト２０９の周りも覆う。保護層２０１は、絶縁ジャケットであり、基準コンタクト２０５が、隣接するＤＵＴ表面のコンタクトや部品とショートするのを防止する。保護層２０１は、こうした目的に適した任意の材料から形成することができ、例えば、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）や他のプラスチック、ゴムなどから形成しても良い。

図３は、アッテネータ３２０を有する差動ピン用ＲＦアダプタ３００の実施形態の断面図である。アダプタ３００は、アダプタ２００とほぼ同様なものなので、図３においては、アッテネータ３２０と直接関わりのある部品に符号を付している。アダプタ２００と比較し、中心導体コンタクト３０９は、信号コンタクト３０９ｂ及びＲＦ中心コンタクト３０９ａ間にアッテネータ３２０を挿入するため、延長されている。アッテネータ３２０は、任意の抵抗回路網としても良く、これは、信号の利得を低減したり、差動信号と関係のないＤＵＴ中の信号源間の電力伝送を最小化する（例えば、ＤＵＴからの信号反射を最小化する）ようにＤＵＴ中の信号源のインピーダンスをマッチングさせたりするよう構成される。中心導体コンタクト３０９においてアッテネータ３２０を利用することで、開口部３１６に挿入されるプローブのＲＦコネクタ（雄）には、減衰／絶縁のためのアッテネータが不要となり、これによって、プローブをより安価なものにでき、また、プローブのＲＦコネクタ（雄）として、より多種多様なものを利用可能となる。機能的には、ＤＵＴの信号ピンは、開口部３１２を介して信号コンタクト３０９ｂに挿入され、プローブのＲＦコネクタ（雄）は、開口部３１６を介してＲＦコネクタ（雌）３１０に挿入される。ＲＦ中心コンタクト３０９ａは、ＲＦコネクタ（雌）３１０の中心導体と接続されている。差動信号の信号成分は、信号コンタクト３０９ｂからアッテネータ３２０を介してＲＦ中心コンタクト３０９ａへと伝送される。アッテネータ３２０は、抵抗回路網を利用して、アダプタ３００の遠位端部から受けた差動信号の利得を、差動信号が近位端部においてＲＦ中心コンタクト３０９ａへ伝送される前に電気的に低減し、これによって、差動信号の利得をＲＦプローブの期待される利得と整合させ、上述のように、ＤＵＴと試験システム（例えば、ホスト１５０）との間における電力伝送エラーを防止する。

本発明の上述した実施形態には、上述した又は当業者であれば理解できるであろう多くの利点がある。しかしながら、これら利点及び特徴の全てが、開示した装置、システム又は方法の全て形態において必ず必要ということではない。

加えて、本願での記述は、特定の特徴に言及している。本願での開示は、これら特定の特徴の有り得る全ての組み合わせを含む。例えば、特定の特徴は、特定の観点又は実施形態を背景として開示されているが、こうした特徴は、可能な範囲において、別の観点又は実施形態を背景としても利用可能である。

また、本願では、２つ以上のステップ又は工程を定義した方法に言及しているが、これら定義したステップ又は工程は、それを排除する記述がない限り、任意の順番に入れ替えて、又は、同時に実行しても良い。

説明の都合上、本発明の特定の実施形態を図示して説明してきたが、本発明の要旨と範囲から逸脱することなく、種々の変形が可能なことが理解できよう。以下では、本発明をいくつかの観点から記述するが、これらは、あくまで、例に過ぎない。

本発明の概念１は、差動ピン対を受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、
ＲＦコネクタを有する近位端部（第１端部）と、上記差動ピン対の信号ピンと結合するよう構成される信号コンタクトを有する遠位端部（第２端部）とを有する中心導体コンタクトと、
上記中心導体コンタクトの周りを囲む絶縁スリーブと、
上記中心導体コンタクトから上記絶縁スリーブによって隔離され、上記差動ピン対の基準ピンと結合するよう構成される基準コンタクトと
を具えている。

本発明の概念２は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記基準コンタクトが、被試験デバイス（ＤＵＴ）に当接し、上記ＤＵＴ及び上記ＲＦコネクタ間で受けるコモン・モード干渉から上記信号ピン及び上記信号コンタクトをシールドするよう構成されている。

本発明の概念３は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記基準コンタクトが、被試験デバイス（ＤＵＴ）に当接し、上記基準ピンに対する上記信号ピンの位置を制御して維持し、上記差動ピン対間のインピーダンスを一定に維持するよう構成される。

本発明の概念４は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記基準コンタクトの周りは、上記絶縁スリーブで囲まれる。

本発明の概念５は、上記概念４の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、更に、上記差動ピン対の上記基準ピンを上記基準コンタクトに対して固定するよう構成される１つ以上の固定部品を具えている。

本発明の概念６は、上記概念５の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、上記固定部品及び上記基準コンタクトの周りを囲む保護層を更に具えている。

本発明の概念７は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、上記中心導体コンタクトが、上記差動ピン対の上記信号ピンから受けた信号の利得を低減するよう構成されるアッテネータを更に有している。

本発明の概念８は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記ＲＦコネクタは、ＳＭＰ（Sub-Miniature Push-On）コネクタ、ＳＭＡ（Sub-Miniature version A）コネクタ又はＭＭＣＸ（Micro-Miniature Coaxial）コネクタとしても良い。

本発明の概念９は、上記概念１の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記信号ピン及び上記基準ピンが、角型ピンであっても良い。

本発明の概念１０は、差動ピン対を受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、
差動信号の信号成分を遠位端部から、近位端部の無線周波数（ＲＦ）コネクタへと伝送するよう構成される中心導体コンタクトと、
上記差動信号の基準信号成分を上記遠位端部から、上記近位端部の上記ＲＦコネクタへと伝送するよう構成される基準コンタクトと、
上記差動信号の上記基準信号成分を上記中心導体コンタクトから絶縁するよう構成される絶縁スリーブと
を具えている。

本発明の概念１１は、上記概念１０の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記基準コンタクトは、被試験デバイス（ＤＵＴ）及び上記ＲＦコネクタ間で受けるコモン・モード干渉から上記信号成分をシールドするよう構成される。

本発明の概念１２は、上記概念１０の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、このとき、上記基準コンタクトは、被試験デバイス（ＤＵＴ）の基準ピンに対する上記ＤＵＴの信号ピンの位置を制御して維持し、上記基準ピン及び上記信号ピン間のインピーダンスを一定に維持するよう構成される。

本発明の概念１３は、上記概念１０の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、更に、上記差動ピン対の上記基準ピンを、上記基準信号成分を伝送する上記基準コンタクトに対して固定するよう構成される１つ以上の固定部品を具えている。

本発明の概念１４は、上記概念１３の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、上記固定部品及び上記基準コンタクトの周りを囲む保護層を更に具えている。

本発明の概念１５は、上記概念１０の差動ピンを受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、上記中心導体コンタクトが、上記差動信号が上記近位端部の上記ＲＦコネクタへと伝送される前に、上記差動ピン対の上記遠位端部から受けた差動信号の利得を低減し、上記差動信号の利得をＲＦプローブの期待される利得と整合させるよう構成されるアッテネータを更に有している。

１００ 試験測定システム
１１０ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
１１１ 差動ピン対
１２０ アダプタ
１３０ プローブ
１４０ アクセサリ
１５０ ホスト
１６１ 差動信号
２００ ＲＦアダプタ
２０１ 保護層
２０３ 固定部品
２０５ 基準コンタクト
２０７ 絶縁スリーブ
２０９ 中心導体コンタクト
２０９ａ ＲＦ中心コンタクト
２０９ｂ 信号コンタクト
２１０ ＲＦコネクタ（雌）
２１２ 開口部
２１４ 開口部
２１６ 開口部
２２０ 近位端部
２２２ 遠位端部
３００ ＲＦアダプタ
３０９ 中心導体コンタクト
３０９ａ ＲＦ中心コンタクト
３０９ｂ 信号コンタクト
３１０ ＲＦコネクタ（雌）
３２０ アッテネータ
２１２ 開口部
３１６ 開口部

Claims (5)

1. 差動ピン対を受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、
   ＲＦコネクタを有する第１端部と、上記差動ピン対の信号ピンと結合するよう構成される信号コンタクトを有する第２端部とを有する中心導体コンタクトと、
   上記中心導体コンタクトの周りを囲む絶縁スリーブと、
   上記中心導体コンタクトから上記絶縁スリーブによって隔離され、上記差動ピン対の基準ピンと結合するよう構成される基準コンタクトと
   を具えるＲＦアダプタ。
2. 上記基準コンタクトが、被試験デバイス（ＤＵＴ）に当接し、上記ＤＵＴ及び上記ＲＦコネクタ間で受けるコモン・モード干渉から上記信号ピン及び上記信号コンタクトをシールドするよう構成される請求項１のＲＦアダプタ。
3. 上記基準コンタクトが、被試験デバイス（ＤＵＴ）に当接し、上記基準ピンに対する上記信号ピンの位置を制御して維持し、上記差動ピン対間のインピーダンスを一定に維持するよう構成される請求項１のＲＦアダプタ。
4. 上記中心導体コンタクトが、上記差動ピン対の上記信号ピンから受けた信号の利得を低減するよう構成されるアッテネータを更に有する請求項１のＲＦアダプタ。
5. 差動ピン対を受ける無線周波数（ＲＦ）アダプタであって、
   差動信号の信号成分を遠位端部から、近位端部の無線周波数（ＲＦ）コネクタへと伝送するよう構成される中心導体コンタクトと、
   上記差動信号の基準信号成分を上記遠位端部から、上記近位端部の上記ＲＦコネクタへと伝送するよう構成される基準コンタクトと、
   上記差動信号の上記基準信号成分を上記中心導体コンタクトから絶縁するよう構成される絶縁スリーブと
   を具えるＲＦアダプタ。

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