KR102231941B1 - 단자 얼라인장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 단자 얼라인장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체의 단자 위치를 간단한 구조로 좌,우 정렬뿐만아니라, 전,후 위치까지 복합적으로 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 관한 것이다.
또한, 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 피 검사체의 단자 위치를 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 있어서, 피 검사체의 단자가 올려지는 지그와 상기 지그에 올려진 단자를 양측에서 지지하여 단자 위치를 정렬시켜주는 정렬부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 피 검사체의 단자 위치를 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 있어서, 피 검사체의 단자가 올려지는 지그와 상기 지그에 올려진 단자를 양측에서 지지하여 단자 위치를 정렬시켜주는 정렬부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 단자 얼라인장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체의 단자 위치를 간단한 구조로 좌,우 정렬뿐만아니라, 전,후 위치까지 복합적으로 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 관한 것이다.
일반적으로 복수 개의 전자부품이 실장된 인쇄회로기판은 전자부품을 실장하는 과정에서 회로의 단락이나 단선 또는 실장되는 전자부품이 파손되는 불량이 발생될 수 있으며, 전자부품을 실장하는 과정 중 또는 실장을 완료한 후 인쇄회로기판의 결함 여부를 확인하기 위해 검사를 진행하게 된다.
또한, 디스플레이를 비롯하여 카메라 등 각종 전자 부품이나, 부분적 또는 완전히 조립된 전자 제품의 정상동작 여부를 확인하기 위해 전원을 인가하여 테스트 동작을 수행시켜 불량 여부를 확인하고 있다.
이와 같이 정상 동작 여부를 확인하기 위한 장치로써, 한국등록특허 제10-1923633호 "카메라 모듈 검사 소켓 장치"가 개발되어 피 검사체를 고정시킨 후 소켓이 피 검사체의 단자에 접촉함으로써, 검사장치와 회로 연결하게 된다.
반면, 전자 부품 및 전자 제품의 경량화, 박판화로 인해 회로 및 단자가 더욱 미세하게 구성됨으로써, 단자가 안착되는 지그의 형상만으로는 단자를 정위치시키기 어려운 문제점이 있었다.
다시 말해서, 작업자가 지그에 단자를 올려놓더라도 접촉 불량이나, 소켓과의 충돌에 의한 단자 파손이 자주 발생되는 문제점이 있었다.
특히, 단자의 위치를 전,후,좌,우 방향뿐만아니라, 단자가 들떠 있는 상태에서 컨택되지 않도록 단자를 하면에 밀착시켜줄 필요성이 있으나, 아직까지 단자의 위치를 다 방향으로 복합적으로 정렬시켜주기 위한 기술 개발이 이루어지지 않고 있다.
본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 단자의 위치를 간단하게 전,후,좌,우 방향에서 정렬시켜주기 위한 단자 얼라인장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 단자의 위치를 정렬시키는 과정에서 단자가 들뜨는 것을 방지하기 위한 단자 얼라인장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 단자 얼라인장치는 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 피 검사체의 단자 위치를 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 있어서, 피 검사체의 단자가 올려지는 지그와 상기 지그에 올려진 단자를 양측에서 지지하여 단자 위치를 정렬시켜주는 정렬부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 정렬부는 단자의 측면을 지지해주기 위한 복수 개의 포크와 상기 포크를 수렴시켜주기 위한 이송부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 포크는 단부에 오목한 수용부가 형성되어 단자의 측면이 일부 수용되어 정렬되도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 포크는 하부에 경사면이 형성되어 포크가 수렴될 때 단자 또는 단자가 배치된 회로기판이 경사면을 따라 하향으로 가압되어 지그에 밀착되도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 이송부는 내부에 실린더가 배치된 몸체와 상기 몸체의 전면에 배치되는 LM 가이드와 상기 몸체의 양측에 배치되어 실린더의 동작에 의해 LM 가이드를 따라 양측으로 벌어지거나, 중앙으로 수렴되는 동작부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 정렬부에 의해 위치가 정렬된 단자와 컨택하여 검사장치와 회로 연결시켜주는 컨택부를 더 포함하며, 상기 컨택부는 단자와 컨택 및 해제를 위해 상,하 이송되는 접속부와 상기 접속부를 수평이송시키기 위한 슬라이드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 단자 얼라인장치에 의하면, 단자를 양측에서 정렬시키기 위한 포크의 단부에 오목한 수용부가 형성되어 양측에서 단자를 지지하는 것만으로도 단자의 위치를 전,후,좌,우 방향으로 정렬시켜줄 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 단자 얼라인장치에 의하면, 단자를 정렬시켜주기 위한 포크의 하부에 형성된 경사면을 따라 단자가 배치된 회로기판이 하향으로 가압되어 단자가 들뜨는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치를 도시한 사시도.
도 2 또는 도 3은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 동작을 도시한 사시도.
도 4 또는 도 5는 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부에 의해 정렬된 단자를 도시한 도면.
도 6은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부를 도시한 도면.
도 7은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부가 동작하는 형태를 도시한 도면.
도 2 또는 도 3은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 동작을 도시한 사시도.
도 4 또는 도 5는 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부에 의해 정렬된 단자를 도시한 도면.
도 6은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부를 도시한 도면.
도 7은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부가 동작하는 형태를 도시한 도면.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에서 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치를 도시한 사시도이며, 도 2 또는 도 3은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 동작을 도시한 사시도이고, 도 4 또는 도 5는 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부에 의해 정렬된 단자를 도시한 도면이며, 도 6은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부를 도시한 도면이고, 도 7은 본 발명에 따른 단자 얼라인장치의 정렬부가 동작하는 형태를 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 단자 얼라인장치는 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 디스플레이와 같은 피 검사체(100)로부터 연장된 FPCB(101)과 같은 회로기판에 배치된 단자(102) 위치를 정렬시키기 위한 것으로써, 피 검사체(100)의 FPCB(101) 및 단자(102)가 올려지는 지그(1)와 상기 지그(1)에 올려진 단자(102)를 양측에서 지지하여 단자(102)의 위치를 정렬시켜주는 정렬부(2)를 포함하여 구성된다.
상기 지그(1)의 상부에 피 검사체(100)로부터 연장된 FPCB(101)에 배치된 단자(102)가 올려지면, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 정렬부(2)는 단자(102)의 양측에서 단자(102)를 직접적으로 지지하여 단자(102)의 위치를 정렬시키게 된다.
상기 정렬부(2)에 의해서 단자(102)의 위치가 전,후,좌,우(X축 및 Y축) 방향으로 정렬이 완료되면, 도 3에 도시된 바와 같이 정렬이 완료된 단자(102)와 컨택하여 검사장치와 회로 연결시켜주는 컨택부(3)를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.
즉, 단자(102)의 정렬에서부터 검사장치와 회로 연결까지 순차적으로 실시될 수 있도록 일체로 구성될 수 있는 것이다.
이때, 상기 컨택부(3)는 단자(102)와 컨택 및 해제를 자동으로 수행하기 위해 단자(102)의 정렬이 완료되면, 단자(102)의 상부로 이송된 후 단자(102)와 컨택이 실시될 수 있도록 수평 이송 및 상,하 이송이 가능하도록 구성됨이 바람직하다.
예를 들면, 상,하 이송되는 접속부(31)와 상기 접속부(31)를 수평 이송시키기 위한 슬라이드(32)로 구성될 수 있으며, 상기 접속부(31)의 상,하 이송 및 슬라이드(32)의 수평 이송은 실린더, 리니어모터, 볼스크류 및 LM 가이드 등 이송 방법에 특별한 제약없이 다양한 구성으로 실시될 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 정렬부는 단자(102)의 측면을 지지해주기 위한 복수 개의 포크(11)와 상기 포크(11)를 수렴시켜주기 위한 이송부(12)를 포함하여 구성된다.
특히, 상기 정렬부는 단자(102)의 양측에서 단자(102)를 지지하는 것만으로 좌, 우(X축) 방향 정렬뿐만 아니라, 전, 후(Y축) 방향 정렬도 가능하도록 상기 포크(11)는 단부에 오목한 수용부(11a)가 형성되어 단자(102)의 측면이 일부 수용되어 전, 후(Y축) 방향 정렬이 복합적으로 실시되도록 구성됨이 바람직하다.
또한, 도 5에 도시된 도 4의 A-A` 단면도와 같이 상기 포크(11)는 하부에 경사면(11b)이 형성되어 포크(11)가 수렴될 때 단자(102) 또는 단자(102)가 배치된 FPCB(회로기판, 101)이 경사면(11b)을 따라 하향으로 가압되어 지그(1)에 밀착되도록 구성될 수도 있다.
이를 통해, 지그(1)에 올려진 단자(102) 또는 단자(102)가 배치된 FPCB(회로기판, 101)는 양측에 배치된 포크(11)에 의해 정렬되는 과정에서 하향으로 가압되어 지그(1)에 밀착됨으로써, 단자(102)가 들뜬 상태로 고정되는 것을 효과적으로 방지할 수 있게 된다.
즉, 포크(11)가 수렴되는 동작만으로 단자(102)의 전,후,좌,우 방향의 정렬뿐만 아니라, 상,하 방향의 정렬까지 복합적으로 실시되어 단자(102)의 들뜸까지 효과적으로 방지할 수 있게 되는 것이다.
또한, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 정렬부(2)의 이송부(12)는 내부에 실린더와 같은 구동부재가 배치된 몸체(21)와 상기 몸체(21)의 전면에 배치되는 LM 가이드(22)와 상기 몸체(21)의 양측에 배치되어 실린더와 같은 구동부재의 동작에 의해 LM 가이드(22)를 따라 양측으로 벌어지거나, 중앙으로 수렴되는 동작부(23)를 포함하여 구성된다.
각 동작부(23)는 상부에는 포크(11)가 중앙으로 수렴되는 형태로 배치되어 동작부(23)의 이송동작에 의해 수렴되거나, 벌어지게 된다.
이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.
1 : 지그
2 : 정렬부
3 : 컨택부
11 : 포크
12 : 이송부
21 : 몸체
22 : LM 가이드
23 : 동작부
31 : 접속부
32 : 슬라이드
100 : 피 검사체
101 : FPCB
102 : 단자
2 : 정렬부
3 : 컨택부
11 : 포크
12 : 이송부
21 : 몸체
22 : LM 가이드
23 : 동작부
31 : 접속부
32 : 슬라이드
100 : 피 검사체
101 : FPCB
102 : 단자
Claims (6)
- 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 피 검사체의 단자 위치를 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 있어서,
피 검사체의 단자가 올려지는 지그와;
상기 지그에 올려진 단자를 양측에서 지지하여 단자 위치를 정렬시켜주는 정렬부를 포함하며,
상기 정렬부는
단자의 측면을 지지해주기 위한 복수 개의 포크와;
상기 포크를 수렴시켜주기 위한 이송부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
단자 얼라인장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 포크는
단부에 오목한 수용부가 형성되어 단자의 측면이 일부 수용되어 정렬되도록 구성되는 것을 특징으로 하는
단자 얼라인장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 포크는
하부에 경사면이 형성되어 포크가 수렴될 때 단자 또는 단자가 배치된 회로기판이 경사면을 따라 하향으로 가압되어 지그에 밀착되도록 구성되는 것을 특징으로 하는
단자 얼라인장치.
- 제 1항에 있어서,
상기 이송부는
내부에 실린더가 배치된 몸체와;
상기 몸체의 전면에 배치되는 LM 가이드와;
상기 몸체의 양측에 배치되어 실린더의 동작에 의해 LM 가이드를 따라 양측으로 벌어지거나, 중앙으로 수렴되는 동작부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
단자 얼라인장치.
- 검사장치와 회로 연결을 위해 사용되는 피 검사체의 단자 위치를 정렬시키기 위한 단자 얼라인장치에 있어서,
피 검사체의 단자가 올려지는 지그와;
상기 지그에 올려진 단자를 양측에서 지지하여 단자 위치를 정렬시켜주는 정렬부와;
상기 정렬부에 의해 위치가 정렬된 단자와 컨택하여 검사장치와 회로 연결시켜주는 컨택부를 포함하며,
상기 컨택부는
단자와 컨택 및 해제를 위해 상,하 이송되는 접속부와;
상기 접속부를 수평이송시키기 위한 슬라이드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
단자 얼라인장치.
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Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000056484A (ko) * | 1999-02-22 | 2000-09-15 | 윤종용 | 반도체 제품 테스트 설비 및 테스트 방법 |
KR20070057002A (ko) * | 2005-11-30 | 2007-06-04 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 프로브 카드 탑재 이송 보조 장치 및 검사 설비 |
KR20070109720A (ko) * | 2006-05-12 | 2007-11-15 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
JP2009016745A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
KR20110082521A (ko) * | 2008-09-18 | 2011-07-19 | 조트 오토메이션 오와이 | 검사 어댑터 구조 |
KR20120040471A (ko) * | 2010-10-19 | 2012-04-27 | 주식회사 코디에스 | 구동ic 부착장치 및 방법 |
KR101574486B1 (ko) * | 2015-09-14 | 2015-12-11 | 디플러스(주) | 테스트 소켓 |
KR20160039186A (ko) * | 2013-08-01 | 2016-04-08 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 프로버 |
KR101639176B1 (ko) * | 2016-02-25 | 2016-07-13 | 주식회사 제이앤에프이 | 카메라 모듈의 ois 검사용 소켓 |
KR101807096B1 (ko) * | 2017-07-07 | 2017-12-11 | 프라임텍 주식회사 | 카메라모듈 자동정렬 소켓 |
KR101923633B1 (ko) | 2018-02-23 | 2018-12-03 | 주식회사 비티시스템 | 카메라 모듈 검사 소켓 장치 |
KR200491049Y1 (ko) * | 2019-04-29 | 2020-02-13 | 위드시스템 주식회사 | 소켓용 단자 정렬 장치 |
-
2020
- 2020-04-10 KR KR1020200044253A patent/KR102231941B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000056484A (ko) * | 1999-02-22 | 2000-09-15 | 윤종용 | 반도체 제품 테스트 설비 및 테스트 방법 |
KR20070057002A (ko) * | 2005-11-30 | 2007-06-04 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 프로브 카드 탑재 이송 보조 장치 및 검사 설비 |
KR20070109720A (ko) * | 2006-05-12 | 2007-11-15 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
JP2009016745A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
KR20110082521A (ko) * | 2008-09-18 | 2011-07-19 | 조트 오토메이션 오와이 | 검사 어댑터 구조 |
KR20120040471A (ko) * | 2010-10-19 | 2012-04-27 | 주식회사 코디에스 | 구동ic 부착장치 및 방법 |
KR20160039186A (ko) * | 2013-08-01 | 2016-04-08 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 프로버 |
KR101574486B1 (ko) * | 2015-09-14 | 2015-12-11 | 디플러스(주) | 테스트 소켓 |
KR101639176B1 (ko) * | 2016-02-25 | 2016-07-13 | 주식회사 제이앤에프이 | 카메라 모듈의 ois 검사용 소켓 |
KR101807096B1 (ko) * | 2017-07-07 | 2017-12-11 | 프라임텍 주식회사 | 카메라모듈 자동정렬 소켓 |
KR101923633B1 (ko) | 2018-02-23 | 2018-12-03 | 주식회사 비티시스템 | 카메라 모듈 검사 소켓 장치 |
KR200491049Y1 (ko) * | 2019-04-29 | 2020-02-13 | 위드시스템 주식회사 | 소켓용 단자 정렬 장치 |
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