ES2713056T3 - Configuración de adaptador de ensayo - Google Patents

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Abstract

Una placa base (1) para un adaptador de ensayo configurado para permitir el ensayo de diversos dispositivos en una estación de ensayo, comprendiendo la placa base: una primera interfaz configurada para ser conectada con un parte (4) específica a un producto configurada para recibir y someter a ensayo un tipo específico de dispositivo bajo ensayo; y una segunda interfaz configurada para ser conectada con una parte común (3), que comprende elementos de ensayo comunes a diversos dispositivos bajo ensayo, caracterizada porque la placa base (1) es una tarjeta de circuitos impresos dispuesta para encaminar conexiones eléctricas desde la parte común (3) hacia elementos de ensayo de la parte (4) específica a un producto usada para someter a ensayo dicho dispositivo bajo ensayo.

Description

DESCRIPCION
Configuracion de adaptador de ensayo
Campo
La invencion versa sobre el campo de someter a ensayo dispositivos de comunicacion y, en particular, sobre una configuracion de adaptador de ensayo para llevar a cabo tal ensayo.
Antecedentes
Para garantizar una calidad elevada y para reducir fallos en dispositivos fabricados de comunicacion, por ejemplo, telefonos moviles, se llevan a cabo diversos procedimientos de ensayo en una lmea de produccion. Una estacion de ensayo opera en lmeas de produccion o como una estacion autonoma en un entorno de desarrollo de productos. Una celula de ensayo somete a ensayo a diversas interfaces de dispositivos de comunicacion, tales como la comunicacion por radiofrecuencia, interfaces de audio y de usuario. Todas las funciones de la celula de ensayo necesarias para los procedimientos de ensayo estan normalmente automatizadas.
Diferentes dispositivos bajo ensayo (DUT) tienen diferentes caractensticas que han de ser sometidas a ensayo, tales como medios de visualizacion, teclados, diversas almohadillas y tomas de ensayo, camaras, altavoces, microfonos, antenas, sensores, la vibracion, la energfa, interfaces de transferencia de datos, y otras interfaces (cargador, tomas de audio, etc.). Ademas, diferentes DUT tienen alineaciones, posiciones y posibilidades de fijacion diferentes debido a sus formas diferentes y ubicaciones diferentes de teclados, etc. Para permitir el ensayo de diferentes DUT en la misma estacion de ensayo, se usan adaptadores de ensayo.
Un adaptador de ensayo tal como el divulgado en el documento US 6170329 B1 es un componente espedfico de DUT que funciona como un adaptador entre la estacion de ensayo y el DUT de un tipo espedfico. En general, el adaptador de ensayo comprende una placa base y dos interfaces basicas dispuestas en la placa base. La primera interfaz es una interfaz de DUT con todos los componentes de alineacion, colocacion y bloqueo (interfaz mecanica). La segunda interfaz es una interfaz de estacion de ensayo con sus propios elementos de ubicacion y bloqueo y con todos los conectores electricos, de RF y neumaticos necesarios para someter a ensayo al DUT. La interfaz de DUT es personalizable y depende del DUT. Esta parte personalizable con la interfaz de DUT y se denomina la placa base parte espedfica a un producto del adaptador de ensayo. La interfaz de celula de ensayo del adaptador de ensayo puede ser comun para todos los adaptadores de ensayo y, por lo tanto, puede denominarse parte comun.
Los DUT se vuelven mas funcionales a medida que avanza la tecnologfa. Esto tiene como resultado en un aumento en el numero de caractensticas de ensayo y partes usadas en adaptadores de ensayo. Dependiendo del DUT, los adaptadores de ensayo tienen un numero diverso de abrazaderas, soportes de sonda de prueba, diferentes acopladores con cajas de puesta a tierra y sus propias abrazaderas de fijacion, tornillos, accionadores neumaticos, etc. En consecuencia, aumenta el numero de cables electricos, tubos neumaticos, elementos de conexion para conectar partes adicionales de ensayo, por ejemplo, un acoplador de antena y sondas de prueba, etc. Este aumento en el numero de elementos de ensayo que han de ser conectados con el adaptador de ensayo antes de que comience el ensayo tiene como resultado un mayor tamano del adaptador de ensayo, y la conexion de numerosos cables, tubos, y elementos de conexion con el adaptador de ensayo requiere mucho tiempo y ralentiza el procedimiento de ensayo. En consecuencia, el procedimiento de ensayo y el rendimiento de la estacion de ensayo y toda la lmea de produccion necesitan mejorar.
Breve descripcion
Un objeto de la presente invencion es reducir el numero de cables necesarios para conectar una estacion de ensayo con una parte espedfica a un producto de un adaptador de ensayo. Se logra este objeto proporcionando una placa base para un adaptador de ensayo para su uso en una estacion de ensayo de una lmea de produccion, estableciendo la placa base una conexion electrica entre la estacion de ensayo y la parte espedfica a un producto. Segun un aspecto de la presente invencion, se proporciona una placa base para un adaptador de ensayo segun se especifica en la reivindicacion 1.
Segun otro aspecto de la presente invencion, se proporciona un adaptador de ensayo segun se especifica en la reivindicacion 10.
Segun otro aspecto de la presente invencion, se proporciona una estacion de ensayo segun se especifica en la reivindicacion 11.
Segun otro aspecto mas de la presente invencion, se proporciona una lmea de produccion segun se especifica en la reivindicacion 12.
Se definen realizaciones de la invencion en las reivindicaciones dependientes.
Lista de dibujos
Se describiran a continuacion realizaciones de la presente invencion, solamente a modo de ejemplo, con referencia a los dibujos adjuntos, en los que
la Figura 1 ilustra la estructura de un adaptador de ensayo segun una realizacion de la invencion;
la Figura 2 es un diagrama esquematico que ilustra una placa base del adaptador de ensayo ilustrado en la Figura 1;
la Figura 3 es una vista lateral del adaptador de ensayo de la Figura 1, y
la Figura 4 ilustra un procedimiento de ensayo para someter a ensayo un dispositivo bajo ensayo usando el adaptador de ensayo segun una realizacion de la invencion.
Descripcion de realizaciones
Las siguientes realizaciones son ejemplares. Aunque la memoria puede hacer referencia a “una” realizacion, o a “algunas” realizaciones, en varias ubicaciones, esto no quiere decir necesariamente que cada referencia tal sea para la o las mismas realizaciones, o que la caractenstica solamente se aplica a una unica realizacion. Las caractensticas unicas de realizaciones diferentes pueden combinarse para proporcionar otras realizaciones.
Segun se ha mencionado anteriormente, un problema de las soluciones de la tecnica anterior es la cantidad de cables electricos que han de ser conectados con la parte espedfica a un producto cada vez que se cambia la parte espedfica a un producto (o todo el adaptador de ensayo). La presente invencion supera este problema proporcionando un adaptador de ensayo que comprende una placa base para conectar una parte espedfica a un producto y una parte comun entre sf, siendo la placa base una tarjeta de circuitos impresos dispuesta para acoplar senales de la parte comun con un dispositivo (DUT) bajo ensayo. El DUT puede ser un dispositivo de comunicacion inalambrica, tal como un telefono movil.
La Figura 1 ilustra una realizacion del adaptador de ensayo. El adaptador de ensayo comprende una parte comun 3 y una parte 4 espedfica a un producto. La parte 4 espedfica a un producto esta construida en una placa base 1. La placa base 1 es una tarjeta de circuitos impresos (PWB), en la que el cableado es usado para encaminar conexiones electricas desde un conector 20 hasta elementos de la parte 4 espedfica a un producto. El cableado impreso puede estar dispuesto para transferir todas las senales electricas entre la parte comun (y/o la estacion de ensayo) y la parte espedfica a un producto. La placa base ilustrada en la Figura 1 comprende solamente un conector 20, pero el numero de conectores tambien puede ser mayor, dependiendo del numero de conexiones electricas necesarias, de la colocacion de elementos de la parte 4 espedfica a un producto en la placa base 1, etc. Ademas, la placa base puede comprender una antena 12 dispuesta como cableado impreso en la placa base 1 y dispuesta para acoplar senales de radio con el DUT.
Los elementos de la parte 4 espedfica a un producto puede comprender un elemento 14 de recepcion en el cual se ha de disponer el DUT para ser objeto de ensayo, un elemento 16 de soporte dispuesto para soportar el DUT dispuesto en el elemento 14 de recepcion, y elementos 13 de bloqueo configurados para bloquear el DUT en su lugar. Ademas, la parte 4 espedfica a un producto puede comprender sondas 15 de prueba que detecta la presencia y colocacion del DUT (sensores de presencia del producto), sensores de audio para detectar senales de audio producidas por el DUT, etc. Ademas, la parte 4 espedfica a un producto puede comprender elementos de colocacion para guiar la colocacion y el movimiento de accionadores neumaticos. Los accionadores neumaticos pueden conectarse con la parte comun 3. Ademas, la parte espedfica a un producto puede comprender elementos 17 de ensayo dispuestos para aplicar senales al DUT y recibir senales del DUT a traves de la conexion de senal establecida con el DUT. Segun una realizacion de la invencion, al menos algunas de las sondas pueden estar embebidas en la placa base 1.
Segun puede verse, la parte 4 espedfica a un producto esta conectada de manera desprendible con la parte comun 3 con componentes 21 de bloqueo y componentes 22 de ubicacion dispuestos en la placa base 1 y en la parte comun. Segun se ilustra en la Figura 1, los componentes 22 de ubicacion pueden realizarse por agujeros o rebajes de alineacion en la placa base 1 y salientes o pasadores en las partes correspondientes de la placa base. Los componentes 21 de bloqueo pueden ser realizados por acopladores de desconexion rapida, por ejemplo, tapones dispuestos en la placa base 1 que son insertados en sus partes homologas en la parte comun 3 y retorcidos para bloquear la placa base 1 y la parte 4 espedfica a un producto con la parte comun 3. Segun se ha descrito anteriormente, se establecen las conexiones electricas entre la parte comun 3 y la parte 4 espedfica a un producto a traves de conectores 20 dispuestos en la placa base 1 y la parte comun. Obviamente, los conectores 20 son homologos para permitir la conexion electrica.
Como consecuencia, la placa base 1 y la parte 4 espedfica a un producto pueden desacoplarse facilmente de la parte comun cada vez que se cambie el tipo de DUT. Lo unico que hay que hacer es abrir los componentes 21 de bloqueo y retirar la parte 4 espedfica a un producto y la placa base 1.
La parte comun 3 comprende un bastidor 31 de base e interfaces para conectar la parte comun 3 con la parte espedfica a un producto y con la estacion (no mostrada) de ensayo llevando a cabo el ensayo del DUT. El bastidor de base puede estar dispuesto para permitir una conexion mecanica con la parte espedfica a un producto, segun se ha descrito anteriormente, y con la estacion de ensayo. La conexion mecanica entre la parte comun 3 y la estacion de ensayo puede implementarse de cualquier manera conocida en la tecnica. Por ejemplo, la parte comun 3 puede ser de tipo cajon de un componente que comprende surcos en ambos lados de la parte comun 3, segun se ilustra en la Figura 1, y la parte comun 3 puede ser insertada en una estacion de ensayo de tipo cajon. Las conexiones electricas entre la parte comun 3 y la estacion de ensayo pueden establecerse a traves de uno o mas conectores electricos 33, 34 y 35. La Figura 1 ilustra tres conectores electricos 33 a 35, pero el numero y la ubicacion de los conectores puede depender naturalmente de la implementacion. Ademas, la parte comun 3 puede comprender conectores neumaticos 32 conectados con tubos neumaticos con la estacion de ensayo en un lado y con la parte 4 espedfica a un producto en el otro lado. La parte comun tambien puede comprender accionadores neumaticos para realizar determinados procedimientos de ensayo.
La Figura 2 ilustra una disposicion ejemplar de la placa base 1 ilustrada en la Figura 1. La Figura 2 ilustra un conector 200 que se corresponde con la parte de la placa base de la estructura 20 del conector ilustrada en la Figura 1, ubicaciones 210, 212, 214, 216 y 218 para los elementos 13 a 17 de la parte 4 espedfica a un producto y el cableado impreso 202 que forma el cableado electrico desde el conector 200 hasta las ubicaciones de los elementos de la parte 4 espedfica a un producto. La placa base 1 tambien puede comprender un conector 204 de radiofrecuencia (RF) para la antena 12 para permitir la transferencia de senales de radio entre la estacion de ensayo y la antena 12. El conector 204 de RF puede ser un conector BNC, por ejemplo, un conector de 50 o 75 ohmios, dispuesto para recibir un cable coaxial que transfiere las senales de r F.
Segun se ha mencionado anteriormente, uno o mas sensores usados en el ensayo del dispositivo bajo ensayo pueden estar embebidos en la placa base. Los uno o mas sensores pueden comprender al menos uno de los siguientes sensores: un sensor de comprobacion de la presencia del producto, un sensor de posicion del accionador, un sensor de luz para someter a ensayo unidades de visualizacion, un sensor de vibracion para someter a ensayo la vibracion del DUT (particularmente un telefono movil), etc. Los sensores pueden estar soldados en alojamientos en la placa base, y la placa base puede comprender cableado desde el alojamiento hasta la estructura del conector para permitir la transferencia de senales electricas.
Inicialmente, la placa base 1 puede proporcionarse sin los elementos 14 a 17 espedficos a un producto, es decir, comprendiendo el cableado impreso estableciendo el encaminamiento de senales desde el conector 200 hasta las ubicaciones 210 a 220 y la antena 12. Los conectores 200 y 204 tambien pueden proporcionarse en la placa base 1. Como consecuencia, la placa base 1 puede disponerse para ser espedfica para un tipo dado de una parte espedfica a un producto. Debido a los diferentes tamanos ffsicos y diferentes ubicaciones de componentes de la parte espedfica a un producto del DUT puede ser diferente para cada DUT. Como consecuencia, la placa base tambien puede ser diferente para cada parte espedfica a un producto.
Sin embargo, la placa base 1 puede proporcionar un alojamiento para todos los elementos posibles de ensayo, pero solamente pueden fijarse en la placa base 1 los elementos de ensayo relacionados con los procedimientos de ensayo que han de ser aplicados al producto. Por ello, la parte 4 espedfica a un producto puede ser construida de manera personalizada en la placa base 1 segun los procedimientos de ensayo que han de llevarse a cabo. Debido a que se construye la parte 4 espedfica a un producto en la placa base 1, se puede entender que se ha de incluir la placa base en la parte espedfica a un producto.
La Figura 3 ilustra una vista lateral de la placa base 1 y la parte 4 espedfica a un producto ilustrada en la Figura 1. La Figura 3 tambien ilustra el conector 2 de RF con mas detalle.
A continuacion, consideremos un procedimiento de ensayo para someter a ensayo el DUT cuando se usa el adaptador de ensayo segun una realizacion de la invencion con referencia a la Figura 4. Se inicia el procedimiento en el bloque 400. Consideremos que una parte comun del adaptador de ensayo segun una realizacion de la invencion esta conectada con una estacion de ensayo, pero aun no se ha conectado ninguna parte espedfica a un producto con la parte comun. En el bloque 402, una parte espedfica a un producto esta conectada con la parte comun. Se determina el tipo de parte espedfica a un producto conectada con la parte comun segun el tipo de DUT que ha de ser objeto de ensayo a continuacion. El bloque 402 puede comprender ubicar la parte espedfica a un producto en la parte comun y bloquearla en la parte comun, como se ha descrito anteriormente. Segun se ha ilustrado en la Figura 1, se conectan automaticamente los conectores 20 que establecen la conexion electrica entre la parte comun y la parte espedfica a un producto bloqueando la parte espedfica a un producto en la parte comun. Ademas, un cable de senal de RF puede estar conectado con el conector 204 de RF.
Tras la finalizacion del bloque 402, la estacion de ensayo esta lista para someter a ensayo a los DUT. En el bloque 404, se coloca un DUT en la parte espedfica a un producto. Colocar el DUT puede comprender colocar el DUT en un soporte en la parte espedfica a un producto y bloquear el DUT en su lugar con los elementos 13 de bloqueo de la parte espedfica a un producto. Ademas, una conexion de senal puede establecerse entre el DUT y la estacion de ensayo a traves de los elementos 17 de ensayo. Cuando los sensores 15 de comprobacion de la presencia del producto detectan que el DUT esta colocado firmemente y los elementos 17 de ensayo indican la conexion de senal, el procedimiento prosigue al bloque 406.
En el bloque 406, la estacion de ensayo realiza procedimientos de ensayo en el DUT. Los procedimientos de ensayo pueden comprender la transferencia de senales entre la estacion de ensayo y el DUT a traves de la conexion de senalizacion establecida a traves del cableado en la placa base (bloque 407). En consecuencia, se pueden transferir senales de ensayo a traves del conector 200 hasta los elementos de la parte espedfica a un producto configurada para someter a ensayo al DUT. Los procedimientos de ensayo tambien pueden comprender la transferencia de senales de RF entre la estacion de ensayo y el DUT a traves de la antena 12 formada por el cableado en la placa base (bloque 408). De esta manera, se pueden someter a ensayo las propiedades de comunicacion por radio del DUT.
Cuando se ha completado el bloque 406, es decir, el ensayo del DUT, el procedimiento prosigue al bloque 410 en el que el se retira el DUT de la parte espedfica a un producto. En el bloque 412, se determina si se ha de someter a ensayo a continuacion un tipo nuevo de DUT o el mismo tipo de DUT. Si se continua el sometimiento a ensayo del mismo tipo de DUT, el procedimiento prosigue al bloque 404, en el que se coloca un DUT nuevo en la parte espedfica a un producto. De otra manera, el procedimiento prosigue al bloque 414, en el que se retira la parte espedfica a un producto acoplada con la parte comun en el bloque 404, y el procedimiento vuelve al bloque 402, en el que se acopla otra parte espedfica a un producto con la parte comun.
Implementar la placa base de la parte espedfica a un producto como una tarjeta de circuitos impresos sustituye la necesidad de cables electricos para conectar la estacion de ensayo con la parte espedfica a un producto y el DUT. Esto reduce la cantidad de cables electricos “pasivos” en el adaptador de ensayo y ahorra espacio para otros elementos de ensayo. En consecuencia, se pueden introducir mas elementos “activos” de ensayo, tales como sondas, accionadores, etc., en el mismo espacio debido al espacio liberado por la retirada de cables electricos. Ademas, se reduce el tiempo de produccion y de ensayo del DUT, lo que tiene como resultado la eficacia mejorada de toda la lmea de produccion que comprende la estacion de ensayo y el adaptador de ensayo segun una realizacion de la invencion.
Ademas, implementando la antena como una parte del cableado de la placa base, no se necesitan elementos de antena adicionales conectados con la parte espedfica a un producto con una conexion de PWB, por ejemplo. Como consecuencia, se ahorra espacio y se reduce el tiempo adicionalmente para montar la parte espedfica a un producto.
Sera obvio para una persona experta en la tecnica que segun avanza la tecnologfa, el concepto de la invencion podra ser implementado de diversas maneras. La invencion y sus realizaciones no estan limitadas a los ejemplos descritos anteriormente, sino que pueden variar dentro del alcance de las reivindicaciones.

Claims (12)

REIVINDICACIONES
1. Una placa base (1) para un adaptador de ensayo configurado para permitir el ensayo de diversos dispositivos en una estacion de ensayo, comprendiendo la placa base:
una primera interfaz configurada para ser conectada con un parte (4) espedfica a un producto configurada para recibir y someter a ensayo un tipo espedfico de dispositivo bajo ensayo; y
una segunda interfaz configurada para ser conectada con una parte comun (3), que comprende elementos de ensayo comunes a diversos dispositivos bajo ensayo,
caracterizada porque la placa base (1) es una tarjeta de circuitos impresos dispuesta para encaminar conexiones electricas desde la parte comun (3) hacia elementos de ensayo de la parte (4) espedfica a un producto usada para someter a ensayo dicho dispositivo bajo ensayo.
2. La placa base de la reivindicacion 1, en la que el cableado de la placa base (1) esta dispuesto, ademas, para acoplar senales procedentes de la parte comun (3) con el dispositivo bajo ensayo, directamente y/o a traves de la parte (4) espedfica a un producto.
3. La placa base de cualquier reivindicacion precedente, en la que el cableado de la placa base (1) esta dispuesta para acoplar una senal de radiofrecuencia con el dispositivo bajo ensayo a traves de una antena (12) embebida en la placa base.
4. La placa base de la reivindicacion 3, en la que al menos parte de la antena es parte del cableado impreso de la placa base.
5. La placa base de cualquier reivindicacion precedente, en la que la placa base es conectable de manera desprendible con la parte comun.
6. La placa base de la reivindicacion 5, en la que la placa base es conectable de manera desprendible con la parte comun con un acoplamiento de desconexion rapida.
7. La placa base de la reivindicacion 5 o 6, en la que la placa base es conectable con un conector electrico de la parte comun con un conector homologo (200) dispuesto en la placa base.
8. La placa base de cualquier reivindicacion precedente, en la que uno o mas sensores usados en el ensayo del dispositivo bajo ensayo estan embebidos en la placa base.
9. La placa base de la reivindicacion 8, en la que los uno o mas sensores comprenden al menos uno de los siguientes: un sensor de comprobacion de la presencia del producto, un sensor de la posicion del accionador, un sensor de audio, un sensor de luz, un sensor de vibracion.
10. Un adaptador de ensayo para someter a ensayo un dispositivo en una estacion de ensayo, que comprende: la placa base segun una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9;
una parte espedfica a un producto dispuesta en la placa base y configurada para recibir y someter a ensayo un tipo espedfico de dispositivo sometido a ensayo; y
una parte comun conectable con la placa base y que comprende elementos de ensayo comunes a diversos dispositivos bajo ensayo.
11. Una estacion de ensayo para someter a ensayo un dispositivo, que comprende el adaptador de ensayo segun la reivindicacion 10.
12. Una lmea de produccion de un dispositivo, que comprende la estacion de ensayo segun la reivindicacion 11.
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