KR20110063586A - Circuit connecting adhesive film, circuit member connecting structure and circuit member connecting method - Google Patents

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Abstract

본 발명의 회로 접속용 접착 필름은 제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재를, 제1 및 제2 회로 전극을 대향 배치시킨 상태에서 접속시키기 위한 회로 접속용 접착 필름이며, 도전 입자 (1) 및 접착제 (2)를 함유하는 도전성 접착제층 (3), 도전성 접착제층 (3)의 한쪽면에 형성된 절연성의 제1 절연성 접착제층 (4), 및 도전성 접착제층 (3)의 제1 절연성 접착제층 (4)가 형성된 면과는 반대측의 면에 형성된 절연성의 제2 절연성 접착제층 (5)를 적어도 갖고, 제1 및 제2 절연성 접착제층 (4), (5) 중의 적어도 한쪽의 층의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛인 것이다.The adhesive film for circuit connection of this invention uses the 1st circuit member which the 1st circuit member in which the 1st circuit electrode was formed on the main surface of the 1st board | substrate, and the 2nd circuit member in which the 2nd circuit electrode was formed on the main surface of the 2nd board | substrate. It is an adhesive film for circuit connection for connecting in the state which has arrange | positioned 2 circuit electrodes, and is formed in the one side of the conductive adhesive layer 3 and the conductive adhesive layer 3 containing the electroconductive particle 1 and the adhesive agent 2 At least the insulating first insulating adhesive layer 4 and the insulating second insulating adhesive layer 5 formed on the side opposite to the surface on which the first insulating adhesive layer 4 of the conductive adhesive layer 3 is formed. The thickness of at least one of the first and second insulating adhesive layers 4 and 5 is 0.1 to 5.0 µm.

Description

회로 접속용 접착 필름, 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법{CIRCUIT CONNECTING ADHESIVE FILM, CIRCUIT MEMBER CONNECTING STRUCTURE AND CIRCUIT MEMBER CONNECTING METHOD}Adhesive film for circuit connection, connection structure of circuit member and connection method of circuit member {CIRCUIT CONNECTING ADHESIVE FILM, CIRCUIT MEMBER CONNECTING STRUCTURE AND CIRCUIT MEMBER CONNECTING METHOD}

본 발명은 회로 접속용 접착 필름, 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 회로 기판끼리 또는 IC 칩 등의 전자 부품과 배선 기판의 접속 등에 이용되는 회로 접속용 접착 필름, 그것을 이용한 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an adhesive film for circuit connection, a connection structure of a circuit member, and a connection method of a circuit member. It relates to an adhesive film, a connection structure of a circuit member using the same, and a connection method of the circuit member.

회로 기판끼리 또는 IC 칩 등의 전자 부품과 회로 기판을 전기적으로 접속할 때에, 접착제에 도전 입자를 분산시킨 이방 도전 접착제가 이용되고 있다. 즉, 이 이방 도전 접착제를 상기한 바와 같은 서로 대치하는 회로 부재의 전극 사이에 배치하고, 가열 및 가압에 의해서 전극끼리를 접속시킴으로써, 가압 방향으로 도전성을 갖게 하며, 인접하여 형성되어 있는 전극끼리에는 절연성을 부여하여, 대향하는 전극 사이만의 전기적 접속을 행할 수 있다. 이러한 이방 도전 접착제로는, 예를 들면, 에폭시 수지를 기재로 한 회로 접속용 접착제가 제안되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).When electrically connecting circuit boards or electronic components, such as an IC chip, and a circuit board, the anisotropic conductive adhesive which disperse | distributed electroconductive particle to the adhesive agent is used. In other words, the anisotropic conductive adhesive is disposed between the electrodes of the circuit members facing each other as described above, and the electrodes are connected by heating and pressurization, thereby providing conductivity in the pressing direction, and the electrodes formed adjacent to each other. By providing insulation, electrical connection between only opposing electrodes can be performed. As such an anisotropically conductive adhesive agent, the adhesive agent for circuit connection based on an epoxy resin is proposed, for example (for example, refer patent document 1).

상기 회로 접속용 접착제를 고 분해능화하기 위한 기본적인 개념은, 도전 입자의 입경을 인접하는 전극 사이의 절연 부분보다도 작게 함으로써 인접 전극 간에서의 절연성을 확보하고, 아울러 도전 입자의 함유량을 입자끼리가 접촉하지 않을 정도로 하고, 또한 전극 상에는 확실하게 도전 입자를 존재시킴으로써, 대향하는 전극 간의 도통성을 얻는 것이다. The basic concept for high resolution of the adhesive for circuit connection is to make the particle size of the conductive particles smaller than the insulating portions between adjacent electrodes to ensure insulation between adjacent electrodes, and to contact the contents of the conductive particles with each other. By making it impossible to do so and reliably present a conductive particle on an electrode, the electroconductivity between opposing electrodes is acquired.

그러나, 상기 종래의 방법에서는, 도전 입자의 입경을 작게 하면, 도전 입자의 표면적의 현저한 증가에 의해 입자가 2차 응집을 일으켜서 연결되어, 인접 전극 간의 절연성이 유지될 수 없게 된다는 문제가 생기기 쉽다. 또한, 도전 입자의 함유량을 감소시키면, 전극 상의 도전 입자의 수도 감소하기 때문에 접촉점수가 부족하여, 접속하여야 할 전극 사이에서의 도통이 충분히 얻어지지 않게 된다는 문제가 생기기 쉽다. 이와 같이, 종래의 방법에서는 장기간 접속 신뢰성을 유지하면서 회로 접속용 접착제를 고 분해능화하는 것이 곤란하였다. However, in the above conventional method, when the particle diameter of the conductive particles is reduced, there is a tendency that the particles are caused to undergo secondary aggregation by a significant increase in the surface area of the conductive particles, whereby the insulation between adjacent electrodes cannot be maintained. In addition, if the content of the conductive particles is reduced, the number of conductive particles on the electrode is also reduced, so that the number of contact points is insufficient, so that there is a problem that the conduction between the electrodes to be connected is not sufficiently obtained. As described above, in the conventional method, it is difficult to increase the resolution of the adhesive for circuit connection while maintaining the connection reliability for a long time.

특히 최근의 회로 기판의 현저한 고 분해능화, 즉 전극 면적 또는 인접 전극 사이의 스페이스의 미세화에 따라, 전극 상의 도전 입자가 접속 시의 가열 가압에 의해서 접착제와 함께 인접 전극 사이에 유출되기 쉽고, 그것이 회로 접속용 접착제의 고 분해능화의 방해가 되고 있었다. In particular, with the recent remarkable high resolution of circuit boards, i.e., the miniaturization of the electrode area or the space between adjacent electrodes, the conductive particles on the electrodes tend to leak out between the adjacent electrodes together with the adhesive by heating and pressing at the time of connection, It hindered the high resolution of the adhesive agent for connection.

이러한 문제를 개선하기 위해서, 도전 입자 함유층과 절연성 접착제층을 분리한 다층 구조의 접착 필름을 제조하여, 전극 상에 있어서의 도전 입자의 포착 효율을 높이는 것에 의해 인접 전극 사이에의 도전 입자의 유출을 억제하여, 고 분해능화하는 방법이 제안되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 내지 5 참조). In order to improve such a problem, the adhesive film of the multilayered structure which isolate | separated the electrically-conductive particle containing layer and the insulating adhesive layer is manufactured, and the outflow of the electrically-conductive particle between adjacent electrodes is improved by raising the trapping efficiency of the electrically-conductive particle on an electrode. The method of suppressing and making high resolution is proposed (for example, refer patent document 2-5).

또한, 상기한 바와 같이 미세화한 전극 또는 회로의 접속을 가능하게 하고, 또한 접속 신뢰성이 우수한 회로 접속용 접착제를 실현하기 위해서, 면 방향의 필요한 부분에 도전 입자의 밀집 영역을 형성한 회로 접속용 접착제의 제안도 이루어져 있다(예를 들면, 특허 문헌 6 참조).Moreover, in order to enable the connection of the electrode or circuit refined | miniaturized as mentioned above, and to implement | achieve the circuit connection adhesive which was excellent in connection reliability, the circuit connection adhesive agent which formed the dense area of the electroconductive particle in the necessary part of the surface direction The proposal of is also made (for example, refer patent document 6).

특허 문헌 1: 일본 특허 공개 (평)3-16147호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-16147

특허 문헌 2: 일본 특허 공개 (평)1-236588호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-236588

특허 문헌 3: 일본 특허 공개 (평)2-18809호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-18809

특허 문헌 4: 일본 특허 공개 (평)4-366630호 공보Patent Document 4: Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-366630

특허 문헌 5: 일본 특허 공개 (평)8-279371호 공보Patent Document 5: Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-279371

특허 문헌 6: 일본 특허 공개 제2002-76607호 공보Patent Document 6: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-76607

그러나, 상기 특허 문헌 2에 기재된 방법에서는, 한쪽의 전극측에서의 도전 입자의 밀도가 높아져서, 최근의 현저한 고 분해능화의 요구에는 충분히 대응하지 못하게 되어 있다. 또한, 한쪽의 전극측에서의 도전 입자의 밀도가 높아지는 것에 의해, 전극과 회로 접속용 접착제의 계면의 접착력이 저하되어, 계면 박리 또는 접속 신뢰성의 악화가 생기기 쉬워진다. However, in the method described in Patent Document 2, the density of the conductive particles on one electrode side is increased, and it is not sufficient to meet the recent demand for remarkable high resolution. Moreover, when the density of the electroconductive particle in one electrode side becomes high, the adhesive force of the interface of an electrode and the adhesive agent for circuit connections will fall, and interface peeling or deterioration of connection reliability will arise easily.

또한, 상기 특허 문헌 3 내지 5에 기재된 방법에서는, 전극과 도전 입자의 접촉이 반드시 충분히 확보되는 것은 아니어서, 접속 저항치가 높아지기 때문에 접속 신뢰성이 악화한다는 문제점이 있다. Moreover, in the method of the said patent documents 3-5, the contact of an electrode and an electroconductive particle is not necessarily fully secured, but there exists a problem that connection reliability deteriorates because connection resistance value becomes high.

또한, 상기 특허 문헌 6에 기재된 회로 접속용 접착제에서는, 도트형의 미세 전극의 접속이 가능해지지만, 접착제의 제조 방법이 번거로우며, 전극 간의 접속을 행할 때에 도전 입자의 밀집 영역과 전극의 정확한 위치 정렬이 필요하여, 작업성이 떨어진다는 문제가 있다. Further, in the adhesive for circuit connection described in Patent Document 6, the connection of the dot-shaped fine electrode becomes possible, but the manufacturing method of the adhesive is cumbersome, and the precise position alignment of the dense region of the conductive particles and the electrode is performed when the electrodes are connected. This necessitates a problem of poor workability.

본 발명은 상기 문제를 감안하여 이루어진 것으로서, 회로 부재끼리의 접속 시에 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적고, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 우수하여, 도전 입자와 전극의 정확한 위치 정렬이 불필요하기 때문에 작업성이 우수한 회로 접속용 접착 필름, 그것을 이용한 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has a small outflow of conductive particles from the electrodes when the circuit members are connected to each other, has excellent high resolution and long-term connection reliability, and does not require precise alignment of the conductive particles with the electrodes. Therefore, it aims at providing the adhesive film for circuit connections excellent in workability, the connection structure of a circuit member using the same, and the connection method of a circuit member.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재를, 상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극을 대향 배치시킨 상태에서 접속하기 위한 회로 접속용 접착 필름이며, 도전 입자 및 접착제를 함유하는 도전성 접착제층, 상기 도전성 접착제층의 한쪽면에 형성된 절연성의 제1 절연성 접착제층, 및 상기 도전성 접착제층의 상기 제1 절연성 접착제층이 형성된 면과는 반대측의 면에 형성된 절연성의 제2 절연성 접착제층을 적어도 갖고, 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층 중의 적어도 한쪽의 층의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛인 회로 접속용 접착 필름을 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention provides a first circuit member having a first circuit electrode formed on the main surface of the first substrate and a second circuit member having a second circuit electrode formed on the main surface of the second substrate. An adhesive film for circuit connection for connecting in a state where the circuit electrode and the second circuit electrode are disposed to face each other, a conductive adhesive layer containing conductive particles and an adhesive, and an insulating first insulating adhesive formed on one side of the conductive adhesive layer. A layer and at least an insulating second insulating adhesive layer formed on a surface of the conductive adhesive layer opposite to the surface on which the first insulating adhesive layer is formed, and at least one of the first insulating adhesive layer and the second insulating adhesive layer. The adhesive film for circuit connections whose thickness of one layer is 0.1-5.0 micrometers is provided.

이러한 회로 접속용 접착 필름에 따르면, 회로 부재끼리의 접속에 이용한 경우에, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적어서 입자 포착성이 양호하고, 이에 따라, 미소한 회로 전극에 대해서도, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도통성을 충분히 확보할 수 있다. 그 때문에, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름은 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성을 고 수준으로 달성할 수 있다. 또한, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름은 도전 입자와 전극의 정확한 위치 정렬이 불필요하기 때문에, 회로 부재끼리의 접속 시의 작업성이 우수하다. According to such an adhesive film for circuit connection, when it uses for the connection of circuit members, there exists little outflow of the electroconductive particle from an electrode, and the particle | grain trapping property is favorable, Therefore, even between a minute circuit electrode, between adjacent electrodes Insulation and the conductivity between the electrodes to be connected can be sufficiently secured. Therefore, the adhesive film for circuit connection of this invention can achieve high resolution and long-term connection reliability at high level. Moreover, since the adhesive film for circuit connection of this invention does not need accurate position alignment of an electroconductive particle and an electrode, it is excellent in the workability at the time of the connection of circuit members.

여기서, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름에 의해 상기 효과가 발휘되어지는 것은 이하의 이유에 의한 것이라고 생각된다. 즉, 도전 입자를 도전성 접착제층 중에만 배치함으로써, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적어서 입자 포착 효율이 향상된다. 이에 따라 도전 입자를, 이 도전 입자끼리가 접촉하지 않도록 하고, 또한 전극 상에는 확실하게 존재시킬 수 있어, 접속 부분에 있어서의 도전성을 충분히 얻을 수 있다. 또한, 도전성 접착제층의 양면에 절연성 접착제층을 형성함으로써, 절연성 접착제층이 인접하는 회로 전극 사이에 배치되어, 인접 전극 간의 절연성을 충분히 확보할 수 있다. 더불어, 적어도 한쪽의 절연성 접착제층의 두께를 0.1 내지 5 ㎛로 함으로써, 인접 전극 간의 절연성을 충분히 확보하면서, 전극과 도전 입자의 접촉을 충분히 확보할 수가 있어, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보할 수 있다. Here, it is thought that the said effect is exhibited by the adhesive film for circuit connections of this invention for the following reasons. That is, by disposing the conductive particles only in the conductive adhesive layer, there is little outflow of the conductive particles from the electrode and the particle trapping efficiency is improved. Accordingly, the conductive particles can be prevented from coming into contact with each other, and the conductive particles can be reliably present on the electrode, so that the conductivity at the connecting portion can be sufficiently obtained. Moreover, by forming an insulating adhesive layer on both surfaces of a conductive adhesive layer, an insulating adhesive layer is arrange | positioned between adjacent circuit electrodes, and the insulation between adjacent electrodes can fully be ensured. In addition, by setting the thickness of the at least one insulating adhesive layer to 0.1 to 5 µm, sufficient contact between the electrode and the conductive particles can be ensured while sufficiently securing insulation between adjacent electrodes, and the insulation between adjacent electrodes and the electrode to be connected The conductivity of the liver can be sufficiently secured.

또한, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름에 있어서, 상기 접착제가 열 경화성 수지를 함유하는 것이고, 상기 도전성 접착제층이 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층보다도, 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재의 접속 시의 용융 점도가 높은 것이 바람직하다. 이에 따라, 접속 시의 가열 가압에 의해 도전 입자가 접착제와 함께 인접하는 회로 전극 사이에 유출되는 것을 감소시킬 수 있고, 그에 따라 입자 포착수가 향상되어, 미소한 회로 전극에 대해서도 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보할 수 있다.Moreover, in the adhesive film for circuit connections of this invention, the said adhesive contains a thermosetting resin, and the said conductive adhesive layer has the said 1st circuit member rather than the said 1st insulating adhesive bond layer and the said 2nd insulating adhesive bond layer. It is preferable that the melt viscosity at the time of connection of the said 2nd circuit member is high. Thereby, the outflow of the electrically-conductive particle between adjacent circuit electrodes with an adhesive agent by the heating press at the time of connection can be reduced, and the number of particle capture | acquisitions improves by this, and the insulation between adjacent electrodes also with respect to a minute circuit electrode, and The conductivity between the electrodes to be connected can be sufficiently secured.

또한, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름에 있어서, 상기 도전성 접착제층은 필름 형성성 고분자를 추가로 함유하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 도전성 접착제층의 필름 형성성을 양호한 것으로 할 수 있으며, 도전 입자를 균일하게 분산시킨 상태로 유지할 수 있다. 그리고, 이러한 회로 접속용 접착 필름은 도전 입자와 전극의 정확한 위치 정렬이 불필요하기 때문에 작업성이 우수하고, 접속부에 기포가 함유되기 어렵기 때문에 장기간 접속 신뢰성이 우수하다. Moreover, in the adhesive film for circuit connections of this invention, it is preferable that the said conductive adhesive layer further contains a film formation polymer. Thereby, the film formability of a conductive adhesive layer can be made favorable, and it can hold | maintain in the state which disperse | distributed electroconductive particle uniformly. And such an adhesive film for circuit connection is excellent in workability because accurate positioning of an electrically conductive particle and an electrode is unnecessary, and it is excellent in long-term connection reliability because an air bubble is hard to be contained in a connection part.

본 발명은 또한, 제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재가, 상기 제1 및 제2 회로 부재 사이에 설치된 상기 본 발명의 회로 접속용 접착 필름의 경화물을 포함하는 회로 접속 부재에 의해서, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 대치함과 동시에 전기적으로 접속되도록 접속된 회로 부재의 접속 구조를 제공한다. The present invention also provides a first circuit member in which a first circuit electrode is formed on a main surface of a first substrate, and a second circuit member in which a second circuit electrode is formed on a main surface of a second substrate. Connection of the circuit member connected so that the said 1st circuit electrode and the said 2nd circuit electrode may be replaced and electrically connected by the circuit connection member containing the hardened | cured material of the adhesive film for circuit connections of the said invention provided between. Provide structure.

이러한 회로 부재의 접속 구조는, 회로 접속 부재가 본 발명의 회로 접속용 접착 필름의 경화물을 포함하기 때문에, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적어서 입자 포착성이 양호하여, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도통성을 충분히 확보할 수가 있어, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성을 고 수준으로 달성할 수 있다. Since the circuit connection member contains the hardened | cured material of the adhesive bond film for circuit connections of this invention, such a circuit member connection structure has little outflow of the electroconductive particle from an electrode, and it has a favorable particle trapping property, and is insulating between adjacent electrodes. And the conductivity between the electrodes to be connected can be sufficiently secured, and high resolution and long-term connection reliability can be achieved at a high level.

또한, 상기 회로 부재의 접속 구조에 있어서, 상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극 중의 적어도 한쪽의 회로 전극의 높이가 3.0 ㎛ 이하이고, 상기 회로 접속용 접착 필름에서의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛인 상기 제1 절연성 접착제층 또는 상기 제2 절연성 접착제층이, 높이가 3.0 ㎛ 이하인 상기 회로 전극측에 배치되어 있는 것이 바람직하다. Moreover, in the connection structure of the said circuit member, the height of at least one circuit electrode of the said 1st circuit electrode and the said 2nd circuit electrode is 3.0 micrometers or less, and the thickness in the said adhesive film for circuit connections is 0.1-5.0 micrometers. It is preferable that the said 1st insulating adhesive bond layer or the said 2nd insulating adhesive bond layer is arrange | positioned at the said circuit electrode side whose height is 3.0 micrometers or less.

이러한 회로 부재의 접속 구조는, 미소한 회로 전극에 대하여, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보할 수가 있기 때문에, 최근의 현저한 고 분해능화의 요구를 고 수준으로 달성할 수 있다. Since the connection structure of such a circuit member can ensure sufficient insulation between adjacent electrodes and conductivity between electrodes to be connected with respect to a minute circuit electrode, the recent outstanding high resolution request can be achieved at a high level. have.

본 발명은 또한, 제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재, 상기 본 발명의 회로 접속용 접착 필름, 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재를, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 대치되도록 상기 순서로 적층하고 가열 및 가압함으로써, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 전기적으로 접속되도록 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재를 접속시키는 회로 부재의 접속 방법을 제공한다. The present invention also provides a first circuit member in which a first circuit electrode is formed on a main surface of a first substrate, an adhesive film for circuit connection of the present invention, and a second circuit in which a second circuit electrode is formed on a main surface of a second substrate. The first circuit member and the second circuit electrode are electrically connected to each other so that the first circuit electrode and the second circuit electrode are electrically connected by stacking, heating, and pressing the member in the order so that the first circuit electrode and the second circuit electrode are opposed to each other. A method of connecting a circuit member for connecting a second circuit member is provided.

이러한 회로 부재의 접속 방법에 따르면, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름을 이용함으로써, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출을 억제하여 입자 포착성을 양호한 것으로 할 수가 있어, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도통성을 충분히 확보할 수 있다. 그 때문에, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 고 수준으로 달성된 회로 부재의 접속 구조를 형성할 수 있다. According to the connection method of such a circuit member, by using the adhesive film for circuit connection of this invention, the outflow | flow of the electroconductive particle from an electrode can be suppressed, and particle | grain trapping property can be made favorable, and insulation and the connection between adjacent electrodes should be made. It is possible to sufficiently secure the conductivity between the electrodes. Therefore, the connection structure of the circuit member with which high resolution and long term connection reliability were achieved at high level can be formed.

또한, 상기 본 발명의 회로 부재의 접속 방법에 있어서, 상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극 중의 적어도 한쪽의 회로 전극의 높이가 3.0 ㎛ 이하이고, 상기 회로 접속용 접착 필름에서의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛인 상기 제1 절연성 접착제층 또는 상기 제2 절연성 접착제층을, 높이가 3.0 ㎛ 이하인 상기 회로 전극측에 배치하여 가열 및 가압함으로써, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 전기적으로 접속되도록 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재를 접속시키는 것이 바람직하다. Moreover, in the connection method of the circuit member of the said invention, the height of at least one circuit electrode of the said 1st circuit electrode and the said 2nd circuit electrode is 3.0 micrometers or less, and the thickness in the said adhesive film for circuit connections is 0.1. The first circuit electrode and the second circuit electrode are electrically connected to each other by heating and pressurizing the first insulating adhesive layer or the second insulating adhesive layer having a thickness of 5.0 μm or less on the side of the circuit electrode having a height of 3.0 μm or less. It is preferable to connect the first circuit member and the second circuit member to be connected.

이러한 회로 부재의 접속 방법에 따르면, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보할 수가 있기 때문에, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 고 수준으로 달성된 회로 부재의 접속 구조를 형성할 수 있다.According to the connection method of such a circuit member, since the insulation between adjacent electrodes and the electroconductivity between the electrodes to be connected can fully be ensured, the connection structure of the circuit member with which high resolution and long-term connection reliability were achieved at a high level can be formed. have.

본 발명에 따르면, 회로 부재끼리의 접속 시에 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적어, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 우수하고, 도전 입자와 전극의 정확한 위치 정렬이 불필요하기 때문에 작업성이 우수한 회로 접속용 접착 필름, 그것을 이용한 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법을 제공할 수 있다. According to the present invention, there is less leakage of conductive particles from the electrodes when the circuit members are connected, and thus have excellent resolution and long-term connection reliability. The adhesive film for a connection, the connection structure of the circuit member using the same, and the connection method of a circuit member can be provided.

도 1은 본 발명의 회로 접속용 접착 필름의 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다.
도 2는 본 발명의 회로 접속용 접착 필름의 다른 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다.
도 3은 본 발명에 의한 회로 부재의 접속 구조의 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic cross section which shows one preferable embodiment of the adhesive film for circuit connections of this invention.
Fig. 2 is a schematic sectional view showing another preferred embodiment of the adhesive film for circuit connection of the present invention.
3 is a schematic sectional view showing one preferred embodiment of a connection structure of a circuit member according to the present invention.

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시 형태에 관해서 상세히 설명한다. 한편, 도면 중, 동일 또는 상당 부분에는 동일 부호를 붙이고, 중복되는 설명은 생략한다. 또한, 도면의 치수 비율은 도시된 비율에 한정되는 것은 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of this invention is described in detail, referring drawings. In addition, in drawing, the same code | symbol is attached | subjected to the same or equivalent part, and the overlapping description is abbreviate | omitted. In addition, the dimension ratio of drawing is not limited to the ratio shown.

도 1은 본 발명의 회로 접속용 접착 필름(이방 도전성 접착 필름)의 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다. 도 1에 도시된 회로 접속용 접착 필름 (100)은 도전 입자 (1) 및 접착제 (2)를 포함하는 도전성 접착제층 (3), 및 도전성 접착제층 (3)의 양면에 형성된 절연성의 절연성 접착제층 (4), (5)를 구비하는 것으로서, 절연성 접착제층 (5)의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛의 범위 내로 되어있다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic cross section which shows one preferable embodiment of the adhesive film (anisotropically conductive adhesive film) for circuit connection of this invention. The adhesive film 100 for circuit connection shown in FIG. 1 is a conductive adhesive layer 3 including conductive particles 1 and an adhesive 2, and an insulating insulating adhesive layer formed on both surfaces of the conductive adhesive layer 3. It is provided with (4) and (5), and the thickness of the insulating adhesive bond layer 5 exists in the range of 0.1-5.0 micrometers.

또한, 도 2는 본 발명의 회로 접속용 접착 필름의 다른 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다. 도 2에 도시된 회로 접속용 접착 필름 (110)은 도전 입자 (1) 및 접착제 (2)를 포함하는 도전성 접착제층 (3), 및 도전성 접착제층 (3)의 양면에 형성된 절연성의 절연성 접착제층 (5)를 구비하는 것으로서, 양면의 절연성 접착제층 (5)의 두께가 모두 0.1 내지 5.0 ㎛의 범위 내로 되어있다. 한편, 도 1 및 2에는 도시하지 않지만, 회로 접속용 접착 필름 (100), (110)의 표면에는 작업성 향상 또는 먼지 부착 방지를 위해, 박리 가능한 박리성 기재(지지 필름)가 존재할 수도 있다. 이하, 도 1에 도시된 회로 접속용 접착 필름 (100)을 이용하여, 그 회로 접속용 접착 필름 (100)을 구성하는 각 층에 관해서 상세히 설명한다. 2 is a schematic cross-sectional view which shows another preferable embodiment of the adhesive film for circuit connections of this invention. The adhesive film 110 for a circuit connection shown in FIG. 2 is a conductive adhesive layer 3 including conductive particles 1 and an adhesive 2, and an insulating insulating adhesive layer formed on both surfaces of the conductive adhesive layer 3. (5), both the thicknesses of the insulating adhesive layer 5 on both sides are in the range of 0.1-5.0 micrometers. On the other hand, although not shown in FIGS. 1 and 2, a peelable base material (support film) may be present on the surfaces of the adhesive films 100 and 110 for circuit connection in order to improve workability or prevent dust adhesion. Hereinafter, each layer which comprises the adhesive film 100 for a circuit connection is demonstrated in detail using the adhesive film 100 for a circuit connection shown in FIG.

도전성 접착제층 (3)은 상술한 바와 같이 도전 입자 (1) 및 접착제 (2)를 함유하여 이루어지는 층이고, 회로 전극을 갖는 회로 부재끼리의 접속 시에, 대향하는 회로 전극끼리를 연결하는 방향으로 도전성을 나타내고, 그 대향하는 회로 전극끼리만을 전기적으로 접속시키는 것이 가능한 이방 도전성을 갖는 층이다. 여기서, 접착제 (2)는 열에 의해 경화되는 반응성 수지(열 경화성 수지)를 포함하는 것이 바람직하다. 열 경화성 수지로는 에폭시 수지와, 이미다졸계, 히드라지드계, 삼불화 붕소-아민 착체, 술포늄염, 아민이미드, 폴리아민의 염, 디시안디아미드 등의 잠재성 경화제와의 혼합물, 또는 라디칼 반응성 수지와 유기 과산화물의 혼합물 등이 이용된다. The conductive adhesive layer 3 is a layer containing the conductive particles 1 and the adhesive 2 as described above, and in the direction of connecting the opposing circuit electrodes when connecting the circuit members having the circuit electrodes. It is a layer which shows electroconductivity and has anisotropic conductivity which can electrically connect only the opposing circuit electrodes. Here, it is preferable that the adhesive agent 2 contains the reactive resin (heat curable resin) hardened | cured by heat. The thermosetting resin may be a mixture of an epoxy resin with a latent curing agent such as imidazole, hydrazide, boron trifluoride-amine complex, sulfonium salt, amineimide, salt of polyamine, dicyandiamide, or radical reactivity. Mixtures of resins and organic peroxides are used.

상기 에폭시 수지로는, 에피클로로히드린과 비스페놀 A, F 또는 AD 등으로부터 유도되는 비스페놀형 에폭시 수지, 에피클로로히드린과 페놀노볼락 또는 크레졸노볼락으로부터 유도되는 에폭시노볼락 수지, 나프탈렌환을 포함한 골격을 갖는 나프탈렌계 에폭시 수지, 글리시딜아민, 글리시딜에테르, 비페닐, 지환식 등의 1분자내에 2개 이상의 글리시딜기를 갖는 각종 에폭시 화합물 등을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 이용하는 것이 가능하다. Examples of the epoxy resins include bisphenol type epoxy resins derived from epichlorohydrin and bisphenol A, F or AD, epoxy novolac resins derived from epichlorohydrin and phenol novolac or cresol novolac, and naphthalene rings. Naphthalene-based epoxy resin having a skeleton, glycidylamine, glycidyl ether, biphenyl, various epoxy compounds having two or more glycidyl groups in one molecule such as alicyclic, etc. alone or in combination of two or more It is possible to use.

이들 에폭시 수지는 불순물 이온(Na+, Cl- 등) 또는 가수분해성 염소 등의 함유량을 300 ppm 이하로 감소시킨 고 순도 제품을 이용하는 것이 전자 이동(electron migration) 방지 측면에서 바람직하다. For these epoxy resins, it is preferable to use high-purity products in which the content of impurity ions (Na + , Cl −, etc.) or hydrolyzable chlorine is reduced to 300 ppm or less from the viewpoint of preventing electron migration.

도전성 접착제층 (3)에는, 회로 접속용 접착 필름 (100)에 의해 접속되는 칩의 범프 또는 기판 전극 등의 높이의 변동을 흡수하기 위해서, 이방 도전성을 적극적으로 부여할 목적으로 도전 입자 (1)이 혼입·분산되어 있다. 도전 입자 (1)은, 예를 들면, Au, Ag, Ni, Cu, 땜납 등의 금속을 포함하는 도전성을 갖는 입자이고, 폴리스티렌 등의 고분자를 포함하는 구형의 핵 재료의 표면에, Au, Ag, Ni, Cu, 땜납 등의 금속을 포함하는 도전층을 형성하여 이루어지는 입자인 것이 보다 바람직하다. 또한, 도전 입자 (1)은 도전성을 갖는 입자의 표면에 Su, Au, 땜납 등의 표면층을 형성하여 이루어지는 것일 수도 있다. In order to absorb the fluctuation | variation of the height of bumps, a board | substrate electrode, etc. of the chip | tip connected by the adhesive film 100 for circuit connections, to the electrically conductive adhesive layer 3, electroconductive particle 1 for the purpose of actively giving anisotropic conductivity. This is mixed and dispersed. The electroconductive particle 1 is particle | grains with electroconductivity containing metals, such as Au, Ag, Ni, Cu, and solder, for example, and the surface of the spherical nuclear material containing polymers, such as polystyrene, Au, Ag It is more preferable that it is a particle | grain formed by forming the conductive layer containing metals, such as Ni, Cu, and solder. The conductive particles 1 may be formed by forming a surface layer of Su, Au, solder, or the like on the surface of the conductive particles.

도전 입자 (1)의 입경은 회로 접속용 접착 필름 (100)에 의해 접속되는 회로 부재의 전극의 최소의 간격보다도 작을 필요가 있고, 또한, 전극의 높이에 변동이 있는 경우, 그 높이의 변동보다도 큰 것이 바람직하다. 도전 입자 (1)의 평균 입경은 1 내지 10 ㎛인 것이 바람직하고, 2 내지 5 ㎛인 것이 보다 바람직하다. 평균 입경이 1 ㎛ 미만이면, 전극의 높이의 변동에 대응할 수 없어 전극 간의 도전성이 저하되기 쉬운 경향이 있고, 10 ㎛를 초과하면, 인접하는 전극 간의 절연성이 저하되기 쉬운 경향이 있다. The particle size of the electrically conductive particles 1 needs to be smaller than the minimum distance between the electrodes of the circuit member connected by the adhesive film 100 for circuit connection, and, if there is a variation in the height of the electrode, the particle size of the conductive particles 1 It is desirable to be large. It is preferable that it is 1-10 micrometers, and, as for the average particle diameter of the electroconductive particle 1, it is more preferable that it is 2-5 micrometers. If the average particle diameter is less than 1 µm, the electrode cannot cope with variations in the height and the conductivity between the electrodes tends to be lowered. If the average particle diameter exceeds 10 µm, the insulation between adjacent electrodes tends to be lowered.

도전성 접착제층 (3)에 있어서의 도전 입자 (1)의 함유량은, 도전성 접착제층 중의 고형분의 전체 부피를 기준으로 하여, 0.1 내지 30 부피%인 것이 바람직하고, 0.2 내지 20 부피%인 것이 보다 바람직하다. 이 함유량이 0.1 부피% 미만이면, 접속하여야 할 전극 상의 도전 입자의 수가 감소하기 때문에 접촉점수가 부족하여, 접속 전극 간의 도전성이 저하되기 쉬운 경향이 있고, 30 부피%를 초과하면, 입자 표면적의 현저한 증가에 의해 입자가 2차 응집을 일으켜서 연결되기 쉬워, 인접 전극 간의 절연성이 저하되기 쉬운 경향이 있다. It is preferable that it is 0.1-30 volume%, and, as for content of the electroconductive particle 1 in the conductive adhesive layer 3 based on the total volume of solid content in a conductive adhesive layer, it is more preferable that it is 0.2-20 volume%. Do. If the content is less than 0.1% by volume, the number of conductive particles on the electrode to be connected decreases, so the contact point is insufficient, and the conductivity between the connecting electrodes tends to be lowered. When the content exceeds 30% by volume, the particle surface area is remarkable. The particles tend to cause secondary agglomeration and are easily connected by the increase, and the insulation property between adjacent electrodes tends to decrease.

도전성 접착제층 (3)에는 그의 필름 형성성을 보다 양호한 것으로 하는 관점에서, 필름 형성성 고분자를 배합할 수도 있다. 필름 형성성 고분자로는 페녹시 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리아미드 수지 등의 열가소성 수지 등을 들 수 있다. 이들 필름 형성성 고분자는 열 경화성 수지의 경화 시의 응력 완화에 효과가 있다. 특히, 필름 형성성 고분자가 수산기 등의 관능기를 갖는 경우, 접착성이 향상되기 때문에 보다 바람직하다. The film forming polymer can also be mix | blended with the electroconductive adhesive bond layer 3 from a viewpoint of making the film formation property more favorable. Examples of the film-forming polymer include thermoplastic resins such as phenoxy resins, polyester resins, and polyamide resins. These film-forming polymers are effective for stress relaxation at the time of hardening of a thermosetting resin. In particular, when the film-forming polymer has a functional group such as a hydroxyl group, it is more preferable because the adhesiveness is improved.

또한, 회로 접속용 접착 필름 (100)을 구성하는 절연성 접착제층 (4), (5)는 절연성을 갖는 층이다. 절연성 접착제층 (4), (5)는 회로 부재에 있어서의 인접하는 회로 전극 사이에 배치되었을 때에, 그 인접하는 전극 간의 절연성을 충분히 확보하는(바람직하게는, 인접하는 전극 간의 절연 저항치를 1×108 Ω 이상으로 함) 것이 가능한 것이라면, 그 조성은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 상술한 도전성 접착제층 (3)으로부터 도전 입자 (1)을 제거한 조성과 동일한 조성으로 할 수 있다. In addition, the insulating adhesive layers 4 and 5 which comprise the adhesive film 100 for circuit connection are layers which have insulation. When the insulating adhesive layers 4 and 5 are disposed between adjacent circuit electrodes in the circuit member, the insulating resistance values between the adjacent electrodes are sufficiently secured (preferably, the insulating resistance value between adjacent electrodes is 1 ×). The composition is not particularly limited as long as it is possible to be 10 8 Ω or more. For example, the composition may be the same as the composition in which the conductive particles 1 are removed from the conductive adhesive layer 3 described above.

또한, 도전성 접착제층 (3) 및 절연성 접착제층 (4), (5)에는, 추가로 무기질 충전재 또는 고무 입자를 혼입·분산시킬 수 있다. 이들은, 도전 입자 (1)과 함께 도전성 접착제층 (3)에 혼입·분산될 수 있고, 도전 입자 (1)이 사용되지 않는 절연성 접착제층 (4), (5)에 혼입·분산시키는 것도 가능한데, 특히 도전 입자 (1)을 사용하는 도전성 접착제층 (3)에 혼입·분산시키는 것이 바람직하다. 이들 무기질 충전재 또는 고무 입자를 도전성 접착제층 (3)에 첨가함으로써, 도전성 접착제층 (3)의 회로 부재끼리의 접속 시의 용융 점도를, 절연성 접착제층 (4), (5)의 접속 시의 용융 점도보다도 용이하게 또한 충분히 높게 할 수 있다. In addition, an inorganic filler or rubber particles can be mixed and dispersed in the conductive adhesive layer 3 and the insulating adhesive layers 4 and 5. These can be mixed and dispersed in the conductive adhesive layer 3 together with the conductive particles 1, and can also be mixed and dispersed in the insulating adhesive layers 4 and 5 in which the conductive particles 1 are not used. In particular, it is preferable to mix and disperse | distribute to the electrically conductive adhesive layer 3 which uses the electrically-conductive particle 1. By adding these inorganic fillers or rubber particles to the conductive adhesive layer 3, the melt viscosity at the time of connection of the circuit members of the conductive adhesive layer 3 is melted at the time of the connection of the insulating adhesive layers 4 and 5. The viscosity can be easily and sufficiently higher than that of the viscosity.

무기질 충전재로는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 용융 실리카, 결정질 실리카, 규산칼슘, 알루미나, 탄산칼슘 등의 분체를 들 수 있다. 무기질 충전재의 평균 입경은 접속부에서의 도통 불량을 방지하는 관점에서, 3 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. Although it does not specifically limit as an inorganic filler, For example, powder, such as fused silica, crystalline silica, calcium silicate, alumina, calcium carbonate, is mentioned. It is preferable that the average particle diameter of an inorganic filler is 3 micrometers or less from a viewpoint of preventing the conduction defect in a connection part.

무기질 충전재를 이용하는 경우의 배합량은, 도전성 접착제층 (3) 및 절연성 접착제층 (4), (5) 중 어디에 있어서도, 접착제 (2) 배합량을 100 질량부로 하여 5 내지 100 질량부인 것이 바람직하다. 한편, 용융 점도를 높이기 위해서는, 상기 배합량이 클수록 효과적이다. It is preferable that the compounding quantity at the time of using an inorganic filler is 5-100 mass parts also in any of conductive adhesive layer 3, insulating adhesive layers 4, and (5), making compounding quantity of adhesive (2) 100 mass parts. On the other hand, in order to raise melt viscosity, it is more effective that the said compounding quantity is large.

고무 입자로는, 유리 전이 온도가 25℃ 이하의 고무 입자이면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 부타디엔 고무, 아크릴 고무, 스티렌-부타디엔-스티렌 고무, 니트릴-부타디엔 고무, 실리콘 고무 등을 사용할 수 있다. 고무 입자로는, 평균 입경이 0.1 내지 10 ㎛의 것을 이용하는 것이 바람직하고, 평균 입경 이하의 입자가 입경 분포의 80% 이상을 차지하는 고무 입자가 보다 바람직하다. 고무 입자의 평균 입경은, 0.1 내지 5 ㎛인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 고무 입자의 표면을 실란 커플링제로 처리한 경우, 반응성 수지에 대한 분산성이 향상되기 때문에 보다 바람직하다. The rubber particles are not particularly limited as long as the glass transition temperature is 25 ° C. or less, but for example, butadiene rubber, acrylic rubber, styrene-butadiene-styrene rubber, nitrile-butadiene rubber, silicone rubber, and the like can be used. . As a rubber particle, it is preferable to use the thing of 0.1-10 micrometers in average particle diameter, and the rubber particle whose particle | grains below average particle diameter occupy 80% or more of particle size distribution is more preferable. The average particle diameter of the rubber particles is more preferably 0.1 to 5 m. Moreover, when the surface of a rubber particle is processed with a silane coupling agent, since the dispersibility to reactive resin improves, it is more preferable.

고무 입자 중에서도 실리콘 고무 입자는 내 용제성이 우수한 것 외에, 분산성도 우수하기 때문에, 효과적인 고무 입자로서 바람직하게 사용할 수 있다. 한편, 실리콘 고무 입자는 실란 화합물 또는 메틸트리알콕시실란 및/또는 그의 부분 가수분해 축합물을, 가성소다, 암모니아 등의 염기성 물질에 의해 pH 9 이상으로 조정한 알코올 수용액에 첨가하여, 가수분해, 중축합시키는 방법, 또는 오르가노실록산의 공중합 등으로 얻을 수 있다. 또한, 분자 말단 또는 분자내 측쇄에 수산기, 에폭시기, 케티민, 카르복실기, 머캅토기 등의 관능기를 함유한 실리콘 미립자는 반응성 수지에 대한 분산성이 향상되기 때문에 바람직하다. Among the rubber particles, silicone rubber particles are not only excellent in solvent resistance but also excellent in dispersibility, and thus can be preferably used as effective rubber particles. On the other hand, the silicone rubber particles are added with a silane compound or methyltrialkoxysilane and / or a partial hydrolysis condensate thereof to an aqueous solution of alcohol adjusted to pH 9 or higher with a basic substance such as caustic soda or ammonia to hydrolyze and polycondensate. It can obtain by the method of combining, or copolymerization of organosiloxane. Moreover, silicone microparticles | fine-particles which contained functional groups, such as a hydroxyl group, an epoxy group, a ketimine, a carboxyl group, and a mercapto group, in a molecular terminal or an intramolecular side chain are preferable because dispersibility with respect to a reactive resin improves.

고무 입자를 이용하는 경우의 배합량은 도전성 접착제층 (3) 및 절연성 접착제층 (4), (5) 중 어디에 있어서도, 접착제 (2) 배합량을 100 질량부로 하여 5 내지 50 질량부인 것이 바람직하다. It is preferable that the compounding quantity at the time of using a rubber particle is 5-50 mass parts also in any of conductive adhesive layer 3, insulating adhesive layer 4, and (5), making compounding quantity of adhesive agent 2 100 mass parts.

도전성 접착제층 (3) 및 절연성 접착제층 (4), (5)의 형성은, 적어도 상기 접착제 (2)(반응성 수지 및 잠재성 경화제 등)를 포함하고, 도전성 접착제층 (3)에 관해서는 추가로 도전 입자 (1)을 포함하는 접착 조성물을 유기 용제에 용해 또는 분산시킴으로써 액상화하여 도포액을 제조하고, 이 도포액을 박리성 기재(지지 필름) 상에 도포하고, 경화제의 활성 온도 이하에서 용제를 제거함으로써 행할 수 있다. 이 때 이용하는 용제로는, 방향족 탄화수소계 용제와 산소 함유계 용제의 혼합 용제가 재료의 용해성을 향상시키는 관점에서 바람직하다. 또한, 박리성 기재로는 이형성을 갖도록 표면 처리된 PET 필름 등이 바람직하게 이용된다. Formation of the conductive adhesive layer 3 and the insulating adhesive layers 4 and 5 includes at least the adhesive 2 (reactive resin, latent curing agent and the like), and further with respect to the conductive adhesive layer 3. The adhesive composition containing the furnace conductive particles (1) is liquefied by dissolving or dispersing it in an organic solvent to prepare a coating liquid. The coating liquid is applied onto a peelable base material (support film), and the solvent is below the active temperature of the curing agent This can be done by removing. As a solvent used at this time, the mixed solvent of an aromatic hydrocarbon solvent and an oxygen containing solvent is preferable from a viewpoint of improving the solubility of a material. Moreover, as a peelable base material, the PET film etc. surface-treated so that it may have releasability is used preferably.

한편, 도시하지 않지만, 절연성 접착제층 (4), (5)의 외측에 추가로 도전성 접착제층 또는 절연성 접착제층을 설치할 수도 있다. In addition, although not shown in figure, you may provide a conductive adhesive layer or an insulating adhesive layer further on the outer side of insulating adhesive layers 4 and 5.

그리고, 회로 접속용 접착 필름 (100)의 제조 방법으로는, 예를 들면, 상기한 바와 같이 하여 형성한 도전성 접착제층 (3) 및 절연성 접착제층 (4), (5)를 적층시키는 방법, 또는 각 층을 순차 도공하는 방법 등의 공지된 방법을 채용할 수 있다.And as a manufacturing method of the adhesive film 100 for circuit connections, the method of laminating | stacking the conductive adhesive layer 3 and insulating adhesive layers 4 and 5 which were formed as mentioned above, for example, or A well-known method, such as a method of coating each layer sequentially, can be employ | adopted.

이와 같이 하여 얻어지는 회로 접속용 접착 필름 (100)에 있어서, 도전성 접착제층 (3)의 두께는 3 내지 15 ㎛인 것이 바람직하고, 5 내지 10 ㎛인 것이 보다 바람직하다. 이 두께가 3 ㎛ 미만이면, 바람직한 평균 입경인 도전 입자를 적용한 경우에 있어서, 도전성 접착제층의 형성성이 저하되는 경향이 있고, 15 ㎛를 초과하면, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 많아져, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보하기 어려워지는 경향이 있다. In the adhesive film 100 for circuit connection obtained in this way, it is preferable that it is 3-15 micrometers, and, as for the thickness of the conductive adhesive layer 3, it is more preferable that it is 5-10 micrometers. When this thickness is less than 3 micrometers, when the electroconductive particle which is a preferable average particle diameter is applied, there exists a tendency for the formability of a conductive adhesive layer to fall, and when it exceeds 15 micrometers, the outflow of the electroconductive particle from an electrode will increase. There is a tendency that the insulation between adjacent electrodes and the conductivity between the electrodes to be connected are sufficiently secured.

또한, 절연성 접착제층 (5)의 두께는 0.1 내지 5.0 ㎛인 것이 필요한데, 1.0 내지 5.0 ㎛인 것이 바람직하고, 2.0 내지 4.0 ㎛인 것이 보다 바람직하다. 이 두께가 0.1 ㎛ 미만이면, 회로 부재에 있어서의 인접하는 회로 전극 사이에 배치되었을 때에, 그 인접하는 전극 간의 절연성을 충분히 확보할 수 없고, 5 ㎛를 초과하면, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 많아져, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보할 수 없다. Moreover, although the thickness of the insulating adhesive layer 5 needs to be 0.1-5.0 micrometers, it is preferable that it is 1.0-5.0 micrometers, and it is more preferable that it is 2.0-4.0 micrometers. When this thickness is less than 0.1 micrometer, when it is arrange | positioned between adjacent circuit electrodes in a circuit member, the insulation between the adjacent electrodes cannot fully be ensured, and when it exceeds 5 micrometers, the electroconductive particle will flow out from an electrode. This increases the insulation between the adjacent electrodes and the conductivity between the electrodes to be connected.

또한, 절연성 접착제층 (4)의 두께는, 제1 기판의 주면 상에 형성된 제1 회로 전극의 두께와 제2 기판의 주면 상에 형성된 제2 회로 전극의 두께의 총합 이하인 것이 바람직하다. 절연성 접착제층 (4)의 두께가 제1 회로 전극의 두께와 제2 회로 전극의 두께의 총합보다도 크면, 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 많아져, 인접하는 전극 간의 절연성 및 접속하여야 할 전극 간의 도전성을 충분히 확보하기 어려워지는 경향이 있다. The thickness of the insulating adhesive layer 4 is preferably equal to or less than the sum of the thickness of the first circuit electrode formed on the main surface of the first substrate and the thickness of the second circuit electrode formed on the main surface of the second substrate. When the thickness of the insulating adhesive layer 4 is larger than the sum of the thickness of the first circuit electrode and the thickness of the second circuit electrode, the outflow of conductive particles from the electrode increases, resulting in insulation between adjacent electrodes and between electrodes to be connected. It tends to be difficult to sufficiently secure the conductivity.

또한, 회로 접속용 접착 필름 (100)에 있어서, 도전성 접착제층 (3)은 절연성 접착제층 (4), (5)보다도, 회로 부재끼리의 접속 시의 용융 점도가 높은 것이 바람직하다. 여기서, 상기 접속 시의 용융 점도란 회로 접속용 접착 필름 (100)을 이용하여 회로 부재끼리를 접속시킬 때의 가열 온도에 있어서의 용융 점도이다. 한편, 회로 부재끼리를 접속시킬 때의 가열 온도는, 회로 접속용 접착 필름 (100) 중의 접착제의 경화성 등에 따라 적절하게 조정되는데, 통상, 120℃ 내지 220℃의 범위이다. 따라서, 그 온도 범위 내에서, 도전성 접착제층 (3)의 용융 점도가 절연성 접착제층 (4), (5)의 용융 점도보다도 높은 것이 보다 바람직하다. Moreover, in the adhesive film 100 for circuit connections, it is preferable that the conductive adhesive layer 3 has a higher melt viscosity at the time of connection of circuit members than the insulating adhesive layers 4 and 5. Here, the melt viscosity at the time of the said connection is melt viscosity in the heating temperature at the time of connecting circuit members mutually using the adhesive film 100 for circuit connections. On the other hand, although the heating temperature at the time of connecting circuit members is adjusted suitably according to the hardenability of the adhesive agent in the adhesive film 100 for circuit connections, etc., it is 120 to 220 degreeC normally. Therefore, it is more preferable that the melt viscosity of the conductive adhesive layer 3 is higher than the melt viscosity of the insulating adhesive layers 4 and 5 within the temperature range.

또한, 도전성 접착제층 (3)의 접속 시의 용융 점도는 구체적으로는, 예를 들면 120℃에서, 5.0×102 내지 5.0×106 pa·s인 것이 바람직하고, 5.0×103 내지 5.0×105 Pa·s인 것이 보다 바람직하다. In addition, the melt viscosity at the time of connection of the conductive adhesive layer 3 specifically, it is preferable that it is 5.0 * 10 <2> -5.0 * 10 <6> pa * s, for example at 120 degreeC, and it is 5.0 * 10 <3> -5.0 *. It is more preferable that it is 10 5 Pa.s.

또한, 절연성 접착제층 (4), (5)의 접속 시의 용융 점도는 구체적으로는, 예를 들면 120℃에서 1.0×102 내지 1.0×106 Pa·s인 것이 바람직하고, 1.0×103 내지 1.0×105 Pa·s인 것이 보다 바람직하다. In addition, the melt viscosity at the time of connection of the insulating adhesive bond layers 4 and 5 specifically, it is preferable that it is 1.0 * 10 <2> -1.0 * 10 <6> Pa * s, for example at 120 degreeC, and it is 1.0 * 10 <3>. It is more preferable that it is -1.0 * 10 <5> Pa * s.

다음으로, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름 (110)을 이용한 본 발명의 회로 부재의 접속 구조에 관해서 설명한다. Next, the connection structure of the circuit member of this invention using the adhesive film 110 for circuit connections of this invention is demonstrated.

도 3은 본 발명에 의한 회로 부재의 접속 구조의 바람직한 하나의 실시 형태를 도시한 모식단면도이다. 도 3에 도시된 회로 부재의 접속 구조 (200)은 제1 기판 (11) 및 그 주면 상에 형성된 제1 회로 전극 (12)를 갖는 제1 회로 부재 (10), 및 제2 기판 (21) 및 그 주면 상에 형성된 제2 회로 전극 (22)를 갖는 제2 회로 부재 (20)이, 상기 본 발명의 회로 접속용 접착 필름 (110)이 경화된 경화물을 포함하고 제1 및 제2 회로 부재 (10), (20) 사이에 형성된 회로 접속 부재 (110a)에 의해서 접속된 것이다. 회로 부재의 접속 구조 (200)에 있어서는, 제1 회로 전극 (12)와 제2 회로 전극 (22)가 대치됨과 동시에 전기적으로 접속되어 있다. 3 is a schematic sectional view showing one preferred embodiment of a connection structure of a circuit member according to the present invention. The connection structure 200 of the circuit member shown in FIG. 3 includes a first circuit member 10 having a first substrate 11 and a first circuit electrode 12 formed on a main surface thereof, and a second substrate 21. And the 2nd circuit member 20 which has the 2nd circuit electrode 22 formed on the main surface contains the hardened | cured material by which the adhesive film 110 for circuit connection of this invention hardened | cured, and 1st and 2nd circuit It is connected by the circuit connection member 110a formed between the members 10 and 20. In the connection structure 200 of a circuit member, the 1st circuit electrode 12 and the 2nd circuit electrode 22 are replaced, and are electrically connected.

회로 접속 부재 (110a)는 본 발명의 회로 접속용 접착 필름 (110)이 경화된 경화물을 포함하는 것으로서, 상술한 접착제 (2)의 경화물 (2a) 및 이것에 분산되어 있는 도전 입자 (1)을 포함하는 도전성 접착제층 (3)의 경화물 (3a), 및 그 양면에 형성된 절연성 접착제층 (5)의 경화물 (5a)로 구성되어 있다. 그리고, 제1 회로 전극 (12)와 제2 회로 전극 (22)는 도전 입자 (1)을 통해 전기적으로 접속되어 있다. 또한, 절연성 접착제층 (5)의 경화물 (5a)는 제1 및 제2 회로 전극 (12), (22)의 적어도 제1 및 제2 기판 (11), (21) 측의 주위를 덮도록 형성되어 있다. 이것은, 제1 및 제2 회로 부재 (10), (20)의 접속 시에, 절연성 접착제층 (5)가 제1 및 제2 회로 전극 (12), (22) 상(서로 대향하고 있는 면 상)으로부터 그 주위로 유출되기 때문이다. The circuit connection member 110a contains the hardened | cured material which the adhesive film 110 for circuit connection of this invention hardened | cured, and the hardened | cured material 2a of the adhesive agent 2 mentioned above, and the electroconductive particle 1 disperse | distributed to this It consists of the hardened | cured material 3a of the electroconductive adhesive bond layer 3 containing the (), and the hardened | cured material 5a of the insulating adhesive bond layer 5 formed in both surfaces. The first circuit electrode 12 and the second circuit electrode 22 are electrically connected to each other via the conductive particles 1. In addition, the hardened | cured material 5a of the insulating adhesive bond layer 5 may cover the circumference | surroundings of the at least 1st and 2nd board | substrates 11 and 21 side of the 1st and 2nd circuit electrodes 12,22. Formed. This is because, when the first and second circuit members 10 and 20 are connected, the insulating adhesive layer 5 is on the first and second circuit electrodes 12 and 22 (on the surface facing each other). This is because it flows out around it.

제1 및 제2 회로 부재 (10), (20)로는, 전기적 접속을 필요로 하는 전극이 형성되어 있는 것이면 특별히 제한은 없다. 구체적으로는, 액정 디스플레이에 이용되고 있는 ITO 등으로 전극이 형성되어 있는 유리 또는 플라스틱 기판, 인쇄 배선판, 세라믹 배선판, 연성 배선판, 반도체 실리콘칩 등을 들 수 있으며, 이들은 필요에 따라 조합되어 사용된다. 이와 같이, 본 실시 형태에서는 인쇄 배선판 또는 폴리이미드 등의 유기물을 포함하는 재질을 비롯하여, 구리, 알루미늄 등의 금속 또는 ITO(산화 인듐 주석, indium tin oxide), 질화규소(SiNX), 이산화규소(SiO2) 등의 무기 재질과 같이 다종다양한 표면 상태를 갖는 회로 부재를 사용할 수 있다. There is no restriction | limiting in particular as the 1st and 2nd circuit members 10 and 20 as long as the electrode which requires an electrical connection is formed. Specifically, glass or plastic substrates, printed wiring boards, ceramic wiring boards, flexible wiring boards, semiconductor silicon chips, etc., on which electrodes are formed of ITO or the like used in liquid crystal displays, may be used, and these are used in combination as necessary. As described above, in the present embodiment, a material containing organic materials such as a printed wiring board or polyimide, as well as metals such as copper and aluminum, or ITO (indium tin oxide), silicon nitride (SiN X ), and silicon dioxide (SiO) 2 ) circuit members having various surface states can be used, such as inorganic materials.

회로 부재의 접속 구조 (200)은, 예를 들면, 제1 회로 부재 (10), 상기 본 발명의 회로 접속용 접착 필름 (110), 및 제2 회로 부재 (20)을, 제1 회로 전극 (12)와 제2 회로 전극 (22)가 대치되도록 상기 순서로 적층하고 가열 및 가압함으로써, 제1 회로 전극 (12)와 제2 회로 전극 (22)가 전기적으로 접속되도록 제1 회로 부재 (10)과 제2 회로 부재 (20)을 접속하는 방법에 의해서 얻어진다. As for the connection structure 200 of a circuit member, the 1st circuit electrode 10 uses the 1st circuit member 10, the adhesive film 110 for circuit connections of this invention, and the 2nd circuit member 20, for example. The first circuit member 10 such that the first circuit electrode 12 and the second circuit electrode 22 are electrically connected by stacking, heating, and pressing in this order so that the 12 and the second circuit electrode 22 are opposed to each other. And the method of connecting the second circuit member 20 with each other.

이 방법에 있어서는, 우선, 박리성 기재 상에 형성되어 있는 회로 접속용 접착 필름 (110)을 제2 회로 부재 (20) 상에 접합시킨 상태에서 가열 및 가압하여 회로 접속용 접착 필름 (110)을 가접착하고, 박리성 기재를 박리하고 나서, 제1 회로 부재 (10)을 회로 전극을 위치 정렬하면서 얹어서, 제2 회로 부재 (20), 회로 접속용 접착 필름 (110) 및 제1 회로 부재 (10)이 상기 순서로 적층된 적층체를 준비할 수 있다.In this method, first, the adhesive film 110 for a circuit connection is heated and pressed in the state which bonded the adhesive film 110 for circuit connections formed on the peelable base material on the 2nd circuit member 20, and the circuit connection adhesive film 110 is carried out. After temporarily sticking and peeling a peelable base material, the 1st circuit member 10 is mounted, carrying out the alignment of a circuit electrode, and the 2nd circuit member 20, the adhesive film 110 for a circuit connection, and the 1st circuit member ( 10) can be prepared a laminate laminated in this order.

상기 적층체를 가열 및 가압하는 조건은 회로 접속용 접착 필름 중의 접착제의 경화성 등에 따라, 회로 접속용 접착 필름이 경화되어 충분한 접착 강도가 얻어지도록 적절하게 조정된다. The conditions for heating and pressurizing the laminate are appropriately adjusted in accordance with the curability of the adhesive in the adhesive film for circuit connection or the like so that the adhesive film for circuit connection is cured to obtain sufficient adhesive strength.

한편, 상기 회로 부재의 접속 구조 (200) 및 그의 제조 방법의 설명에 있어서는, 회로 접속용 접착 필름 (110)을 이용한 경우를 설명했지만, 회로 접속용 접착 필름 (110) 대신에 회로 접속용 접착 필름 (100)을 이용할 수도 있다.
In addition, in the description of the connection structure 200 of the said circuit member and its manufacturing method, although the case where the adhesive film 110 for circuit connections was used was demonstrated, the adhesive film for circuit connections instead of the adhesive film 110 for circuit connections. 100 may also be used.

<실시예><Examples>

이하, 실시예 및 비교예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명이 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, although this invention is demonstrated further more concretely based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to a following example.

(실시예 1) (Example 1)

페녹시 수지(유니온카바이드사 제조, 상품명: PKHC) 32 질량부, 비스페놀 A형 에폭시 수지 중에 평균 입경 0.2 ㎛의 아크릴 수지 입자가 20 질량% 분산되어 이루어지는 아크릴 입자 함유 수지(니혼쇼쿠바이사 제조, 상품명: BPA328) 10 질량부, 비스페놀 A형 고형 에폭시 수지(유까 쉘 에폭시사 제조, 상품명: YL980) 20 질량부, 이미다졸계 경화제(아사히 가세이 고교사 제조, 상품명: 노바큐어 HX-3941) 35 질량부 및 실란 커플링제(닛본 유니카사 제조, 상품명: A187) 3 질량부를 용제인 톨루엔에 용해시켜서 고형분 50 질량%의 절연성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. Acrylic particle-containing resin (Nihon Shokubai Co., Ltd. make, brand name) by which 20 mass% of acrylic resin particles of 0.2 micrometer of average particle diameters are disperse | distributed in 32 mass parts of phenoxy resins (The Union Carbide company make, brand name: PKHC) and bisphenol-A epoxy resin. : BPA328) 10 parts by mass, bisphenol A type solid epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., brand name: YL980), 20 parts by mass, imidazole series curing agent (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., product name: Novacure HX-3941) 35 parts by mass And 3 mass parts of silane coupling agents (Nipbon Unicar Co., Ltd. brand name: A187) were melt | dissolved in toluene which is a solvent, and the coating liquid for insulating adhesive layer formation of 50 mass% of solid content was obtained.

이어서, 이 도포액을 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 11 ㎛의 절연성 접착제층 (a)를 형성하였다. 이 절연성 접착제층 (a)의 용융 점도를, 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×103 Pa·s였다. Subsequently, this coating liquid was applied to a PET film having a thickness of 50 μm on which a release treatment was applied to one side (surface to which the coating liquid was applied) using a coating apparatus, and then hot-air dried at 70 ° C. for 10 minutes, onto the PET film. An insulating adhesive layer (a) having a thickness of 11 mu m was formed. When the melt viscosity of this insulating adhesive layer (a) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Leometrics), at 120 degreeC The melt viscosity was 1.0 × 10 3 Pa · s.

또한, 상기 절연성 접착제층 형성용 도포액을, 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 25 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10 분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 2 ㎛의 절연성 접착제층 (b)를 형성하였다. 이 절연성 접착제층 (b)의 용융 점도를 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×103 Pa·s 였다.Furthermore, the coating liquid for insulating adhesive layer formation is apply | coated to 25-micrometer-thick PET film in which the mold release process was given to one side (surface to apply | coat a coating liquid) using a coating apparatus, and hot-air dried at 70 degreeC for 10 minutes. By this, the insulating adhesive layer (b) of thickness 2 micrometers was formed on PET film. When the melt viscosity of this insulating adhesive layer (b) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Reimetrics company), Melt viscosity was 1.0 × 10 3 Pa · s.

다음으로, 페녹시 수지(유니온카바이드사 제조, 상품명: PKHC) 32 질량부, 비스페놀 A형 에폭시 수지 중에 평균 입경 0.2 ㎛의 아크릴 수지 입자가 20 질량% 분산되어 이루어지는 아크릴 입자 함유 수지(니혼쇼쿠바이사 제조, 상품명: BPA328) 20 질량부, 이미다졸계 경화제(아사히 가세이 고교사 제조, 상품명 노바큐어 HX-3941) 35 질량부, 실란커플링제(닛본 유니카사 제조, 상품명: A187) 3 질량부 및 실리콘 고무(도레이다우코닝사 제조, 상품명: E604) 30 질량부를 용제인 톨루엔에 용해시켜서 고형분 50 질량%의 접착제 용액을 제조하였다. 이 접착제 용액 100 질량부에, 폴리스티렌계 핵체(직경: 3 ㎛)의 표면에 Au층을 형성하여 이루어지는 도전 입자(평균 입경: 3.2 ㎛) 20 질량부를 분산시켜서 도전성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. Next, acrylic particle-containing resin (Nihon Shokubai Co., Ltd.) in which 20 mass% of acrylic resin particles having an average particle diameter of 0.2 µm are dispersed in 32 parts by mass of a phenoxy resin (manufactured by Union Carbide, trade name: PKHC) and a bisphenol A type epoxy resin. Manufacture, brand name: BPA328) 20 parts by mass, 35 parts by mass of an imidazole series curing agent (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., Novacure HX-3941), 3 parts by mass of a silane coupling agent (manufactured by Nippon Unicar Company, brand name: A187), and silicone 30 mass parts of rubber | gum (Toray Dow Corning make, brand name: E604) was dissolved in toluene which is a solvent, and the adhesive solution of 50 mass% of solid content was produced. 20 mass parts of electroconductive particle (average particle diameter: 3.2 micrometers) formed by forming an Au layer on the surface of a polystyrene-type nuclide (diameter: 3 micrometers) was disperse | distributed to 100 mass parts of this adhesive agent solutions, and the coating liquid for conductive adhesive layer formation was obtained.

이 도포액을 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 10 ㎛의 도전성 접착제층 (c)를 형성하였다. 이 도전성 접착제층 (c)의 용융 점도를 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×104 Pa·s였다. The coating liquid was applied to a PET film having a thickness of 50 µm on which one side (the surface on which the coating liquid was applied) on a PET film having a thickness of 50 μm using a coating apparatus, and dried by hot air at 70 ° C. for 10 minutes to give a thickness of 10 on the PET film. A micrometer conductive adhesive layer (c) was formed. When the melt viscosity of this conductive adhesive layer (c) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Reimetrics company), Melt viscosity was 1.0 × 10 4 Pa · s.

상기에서 얻어진 절연성 접착제층 (a) 및 도전성 접착제층 (c)를 40℃에서 가열하면서 롤 라미네이터로 적층시켜 적층 필름을 얻었다. 이어서, 얻어진 적층 필름의 도전성 접착제층 (c)측에, 도전성 접착제층 (c) 상의 PET 필름을 박리한 후, 상기에서 얻어진 절연성 접착제층 (b)를 40℃에서 가열하면서 롤 라미네이터로 적층시켜, 절연성 접착제층 (a)의 두께가 11 ㎛, 도전성 접착제층 (c)의 두께가 10 ㎛, 절연성 접착제층 (b)의 두께가 2 ㎛인 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The insulating adhesive layer (a) and the conductive adhesive layer (c) obtained above were laminated | stacked by the roll laminator, heating at 40 degreeC, and the laminated | multilayer film was obtained. Subsequently, after peeling the PET film on a conductive adhesive layer (c) to the conductive adhesive layer (c) side of the obtained laminated | multilayer film, the insulating adhesive layer (b) obtained above is laminated | stacked with a roll laminator, heating at 40 degreeC, The adhesive film for circuit connection of the 3-layered structure whose thickness of an insulating adhesive layer (a) is 11 micrometers, the thickness of a conductive adhesive layer (c) is 10 micrometers, and the thickness of an insulating adhesive layer (b) is 2 micrometers was obtained.

(실시예 2) (Example 2)

절연성 접착제층 (a)의 두께를 8 ㎛로 하고, 절연성 접착제층 (b)의 두께를 5 ㎛로 하고, 또한 도전성 접착제층 (c)의 두께를 10 ㎛로 한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The thickness of the insulating adhesive layer (a) was 8 µm, the thickness of the insulating adhesive layer (b) was 5 µm, and the thickness of the conductive adhesive layer (c) was 10 µm. To obtain an adhesive film for a circuit connection having a three-layer structure.

(실시예 3) (Example 3)

절연성 접착제층 (a)의 두께를 12 ㎛로 하고, 절연성 접착제층 (b)의 두께를 0.1 ㎛로 하고, 또한 도전성 접착제층 (c)의 두께를 10 ㎛로 한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The thickness of the insulating adhesive layer (a) was 12 µm, the thickness of the insulating adhesive layer (b) was 0.1 µm, and the thickness of the conductive adhesive layer (c) was 10 µm. To obtain an adhesive film for a circuit connection having a three-layer structure.

(실시예 4) (Example 4)

절연성 접착제층 (a)의 두께를 3 ㎛로 하고, 절연성 접착제층 (b)의 두께를 3 ㎛로 하고, 또한 도전성 접착제층 (c)의 두께를 10 ㎛로 한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The thickness of the insulating adhesive layer (a) was 3 µm, the thickness of the insulating adhesive layer (b) was 3 µm, and the thickness of the conductive adhesive layer (c) was 10 µm, in the same manner as in Example 1. To obtain an adhesive film for a circuit connection having a three-layer structure.

(실시예 5) (Example 5)

페녹시 수지(유니온카바이드사 제조, 상품명: PKHC) 32 질량부, 비스페놀 A형 에폭시 수지 중에 평균 입경 0.2 ㎛의 아크릴 입자가 20 질량% 분산되어 이루어지는 아크릴 입자 함유 수지(니혼쇼쿠바이사 제조, 상품명: BPA328) 20 질량부, 이미다졸계 경화제(아사히 가세이 고교사 제조, 상품명: HX-3941) 35 질량부, 실란 커플링제(닛본 유니카사 제조, 상품명: A187) 3 질량부 및 실리콘 고무(도레이 다우코닝사 제조, 상품명: E604) 30 질량부를 용제인 톨루엔에 용해시켜서 고형분 50 질량%의 절연성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. Acrylic particle containing resin (Nippon Shokubai company make, brand name :) by which 20 mass% of acrylic particle of average particle diameter 0.2 micrometer is disperse | distributed in 32 mass parts of phenoxy resins (the product of Union Carbide, brand name: PKHC) and bisphenol-A epoxy resin. BPA328) 20 parts by mass, 35 parts by mass of imidazole series curing agent (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name: HX-3941), 3 parts by mass of a silane coupling agent (manufactured by Nippon Unicar Company, brand name: A187) and silicone rubber (Toray Dow Corning Corporation) Preparation, Brand name: E604) 30 mass parts was dissolved in toluene which is a solvent, and the coating liquid for insulating adhesive layer formation of 50 mass% of solid content was obtained.

이어서, 이 도포액을 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 11 ㎛의 절연성 접착제층 (a)를 형성하였다. 이 절연성 접착제층 (a)의 용융 점도를, 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×104 Pa·s였다. Subsequently, this coating liquid was applied to a PET film having a thickness of 50 μm on which a release treatment was applied to one side (surface to which the coating liquid was applied) using a coating apparatus, and then hot-air dried at 70 ° C. for 10 minutes, onto the PET film. An insulating adhesive layer (a) having a thickness of 11 mu m was formed. When the melt viscosity of this insulating adhesive layer (a) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Leometrics), at 120 degreeC The melt viscosity was 1.0 × 10 4 Pa · s.

또한, 상기 절연성 접착제층 형성용 도포액을, 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 25 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10 분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 2 ㎛의 절연성 접착제층 (b)를 형성하였다. 이 절연성 접착제층 (b)의 용융 점도를 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×104 Pa·s 였다.Furthermore, the coating liquid for insulating adhesive layer formation is apply | coated to 25-micrometer-thick PET film in which the mold release process was given to one side (surface to apply | coat a coating liquid) using a coating apparatus, and hot-air dried at 70 degreeC for 10 minutes. By this, the insulating adhesive layer (b) of thickness 2 micrometers was formed on PET film. When the melt viscosity of this insulating adhesive layer (b) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Reimetrics company), Melt viscosity was 1.0 × 10 4 Pa · s.

다음으로, 페녹시 수지(유니온카바이드사 제조, 상품명: PKHC) 32 질량부, 비스페놀 A형 에폭시 수지 중에 평균 입경 0.2 ㎛의 아크릴 입자가 20 질량% 분산되어 이루어지는 아크릴 입자 함유 수지(니혼쇼쿠바이사 제조, 상품명: BPA328) 10 질량부, 비스페놀 A형 고형 에폭시 수지(유카 쉘 에폭시사 제조, 상품명: YL980) 20 질량부, 이미다졸계 경화제(아사히 가세이 고교사 제조, 상품명: HX-3941) 35 질량부, 실란 커플링제(닛본 유니카사 제조, 상품명: A187) 3 질량부를 용제인 톨루엔에 용해시켜서 고형분 50 질량%의 접착제 용액을 제조하였다. 이 접착제 용액 100 질량부에, 폴리스티렌계 핵체(직경: 3 ㎛)의 표면에 Ni 및 Au 층을 형성하여 이루어지는 도전 입자(평균 입경: 3.2 ㎛) 20 질량부를 분산시켜서 도전성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. Next, acrylic particle containing resin (made by Nihon Shokubai Co., Ltd.) by which 20 mass% of acrylic particles with an average particle diameter of 0.2 micrometer are disperse | distributed in 32 mass parts of phenoxy resins (made by Union Carbide, brand name: PKHC), and a bisphenol-A epoxy resin. , Brand name: BPA328) 10 parts by mass, 20 parts by mass of bisphenol A type solid epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., brand name: YL980), imidazole series curing agent (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., brand name: HX-3941) 35 parts by mass And 3 parts by mass of a silane coupling agent (Nipbon Unicar Co., Ltd., brand name: A187) were dissolved in toluene, which is a solvent, to prepare an adhesive solution having a solid content of 50% by mass. To 100 parts by mass of the adhesive solution, 20 parts by mass of conductive particles (average particle diameter: 3.2 μm) formed by forming Ni and Au layers on the surface of the polystyrene-based nucleus (diameter: 3 μm) were dispersed to provide a coating liquid for forming a conductive adhesive layer. Got it.

이 도포액을 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 10 ㎛의 절연성 접착제층 (c)를 형성하였다. 이 도전성 접착제층 (c)의 용융 점도를, 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×103 Pa·s였다. The coating liquid was applied to a PET film having a thickness of 50 µm on which one side (the surface on which the coating liquid was applied) on a PET film having a thickness of 50 μm using a coating apparatus, and dried by hot air at 70 ° C. for 10 minutes to give a thickness of 10 on the PET film. An insulating adhesive layer (c) of 탆 was formed. When the melt viscosity of this conductive adhesive layer (c) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Leometrics), at 120 degreeC The melt viscosity was 1.0 × 10 3 Pa · s.

상기에서 얻어진 절연성 접착제층 (a) 및 도전성 접착제층 (c)를 40℃에서 가열하면서 롤 라미네이터로 적층시켜 적층 필름을 얻었다. 이어서, 얻어진 적층 필름의 도전성 접착제층 (c)측에, 도전성 접착제층 (c) 상의 PET 필름을 박리한 후, 상기에서 얻어진 절연성 접착제층 (b)를 40℃에서 가열하면서 롤 라미네이터로 적층시켜, 절연성 접착제층 (a)의 두께가 11 ㎛, 도전성 접착제층 (c)의 두께가 10 ㎛, 절연성 접착제층 (b)의 두께가 2 ㎛인 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다.The insulating adhesive layer (a) and the conductive adhesive layer (c) obtained above were laminated | stacked by the roll laminator, heating at 40 degreeC, and the laminated | multilayer film was obtained. Subsequently, after peeling the PET film on a conductive adhesive layer (c) to the conductive adhesive layer (c) side of the obtained laminated | multilayer film, the insulating adhesive layer (b) obtained above is laminated | stacked with a roll laminator, heating at 40 degreeC, The adhesive film for circuit connection of the 3-layered structure whose thickness of an insulating adhesive layer (a) is 11 micrometers, the thickness of a conductive adhesive layer (c) is 10 micrometers, and the thickness of an insulating adhesive layer (b) is 2 micrometers was obtained.

(비교예 1) (Comparative Example 1)

절연성 접착제층 (a)의 두께를 7 ㎛로 하고, 절연성 접착제층 (b)의 두께를 7 ㎛로 하고, 또한 도전성 접착제층 (c)의 두께를 9 ㎛로 한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The thickness of the insulating adhesive layer (a) was set to 7 µm, the thickness of the insulating adhesive layer (b) was set to 7 µm, and the thickness of the conductive adhesive layer (c) was set to 9 µm. To obtain an adhesive film for a circuit connection having a three-layer structure.

(비교예 2) (Comparative Example 2)

페녹시 수지(유니온카바이드사 제조, 상품명: PKHC) 32 질량부, 비스페놀 A형 에폭시 수지 중에 평균 입경 0.2 ㎛인 아크릴 수지 입자가 20 질량% 분산되어 이루어지는 아크릴 입자 함유 수지(니혼쇼쿠바이사 제조, 상품명: BPA328) 10 질량부, 비스페놀 A형 고형 에폭시 수지(유카 쉘 에폭시사 제조, 상품명: YL980) 20 질량부, 이미다졸계 경화제(아사히 가세이 고교사 제조, 상품명: 노바큐어 HX-3941) 35 질량부 및 실란 커플링제(닛본 유니카사 제조, 상품명: A187) 3 질량부를 용제인 톨루엔에 용해시켜서 고형분 50 질량%의 절연성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. Acrylic particle-containing resin (Nihon Shokubai company make, brand name) which disperse | distributes 20 mass% of acrylic resin particles with an average particle diameter of 0.2 micrometer in 32 mass parts and bisphenol-A type epoxy resins by phenoxy resin (made by Union Carbide, brand name: PKHC) : BPA328) 10 parts by mass, 20 parts by mass of a bisphenol A type solid epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Epoxy, trade name: YL980), an imidazole series curing agent (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., product name: Novacure HX-3941) 35 parts by mass And 3 mass parts of silane coupling agents (Nipbon Unicar Co., Ltd. brand name: A187) were melt | dissolved in toluene which is a solvent, and the coating liquid for insulating adhesive layer formation of 50 mass% of solid content was obtained.

이어서, 이 도포액을 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 13 ㎛의 절연성 접착제층 (a)를 형성하였다. 이 절연성 접착제층 (a)의 용융 점도를, 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×103 Pa·s였다. Subsequently, this coating liquid was applied to a PET film having a thickness of 50 μm on which a release treatment was applied to one side (surface to which the coating liquid was applied) using a coating apparatus, and then hot-air dried at 70 ° C. for 10 minutes, onto the PET film. An insulating adhesive layer (a) having a thickness of 13 mu m was formed. When the melt viscosity of this insulating adhesive layer (a) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Leometrics), at 120 degreeC The melt viscosity was 1.0 × 10 3 Pa · s.

다음으로, 상기 절연성 접착제층 형성용 도포액 100 질량부에 폴리스티렌계 핵체(직경: 3 ㎛)의 표면에 Au 층을 형성하여 이루어지는 도전 입자(평균 입경: 3.2 ㎛) 20 질량부를 분산시켜서 도전성 접착제층 형성용 도포액을 얻었다. 이 도포액을, 한쪽면(도포액을 도포하는 면)에 이형 처리가 실시된 두께 50 ㎛의 PET 필름에 도공 장치를 이용하여 도포하고, 70℃에서 10분간 열풍 건조시킴으로써, PET 필름 상에 두께 10 ㎛의 도전성 접착제층 (c)를 형성하였다. 이 도전성 접착제층 (c)의 용융 점도를, 점탄성 측정 장치(레오메트릭스사 제조)를 이용하여 승온 속도 10℃/분, 주파수 10 Hz, 25℃ 내지 200℃의 조건으로 측정한 바, 120℃에서의 용융 점도는 1.0×103 Pa·S였다. Next, 20 parts by mass of conductive particles (average particle diameter: 3.2 μm) formed by forming an Au layer on the surface of the polystyrene-based nucleus (diameter: 3 μm) in 100 parts by mass of the coating liquid for forming an insulating adhesive layer was dispersed in the conductive adhesive layer. The coating liquid for formation was obtained. This coating liquid is applied to a PET film having a thickness of 50 μm on which one side (the surface to which the coating liquid is applied) is subjected to a release process using a coating apparatus, and dried on hot air at 70 ° C. for 10 minutes to give a thickness on the PET film. 10 micrometers of conductive adhesive layers (c) were formed. When the melt viscosity of this conductive adhesive layer (c) was measured on the conditions of a temperature increase rate of 10 degree-C / min, a frequency of 10 Hz, and 25 degreeC-200 degreeC using a viscoelasticity measuring apparatus (made by Leometrics), at 120 degreeC The melt viscosity was 1.0 × 10 3 Pa · S.

상기에서 얻어진 절연성 접착제층 (a) 및 도전성 접착제층 (c)를, 40℃에서 가열하면서 롤 라미네이터로 적층시켜, 2층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The insulating adhesive layer (a) and conductive adhesive layer (c) obtained above were laminated | stacked with the roll laminator, heating at 40 degreeC, and the adhesive film for circuit connection of a two-layered structure was obtained.

(비교예 3) (Comparative Example 3)

절연성 접착제층 (a)의 두께를 12 ㎛로 하고, 절연성 접착제층 (b)의 두께를 0.08 ㎛로 하고, 또한 도전성 접착제층 (c)의 두께를 10 ㎛로 한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름을 얻었다. The thickness of the insulating adhesive layer (a) was 12 μm, the thickness of the insulating adhesive layer (b) was 0.08 μm, and the thickness of the conductive adhesive layer (c) was 10 μm. To obtain an adhesive film for a circuit connection having a three-layer structure.

[입자 포착수의 측정][Measurement of Particle Capture Count]

상기 실시예 및 비교예에서 제조한 회로 접속용 접착 필름을 이용하고, 금 범프(면적: 30×50 ㎛, 범프 높이: 15 ㎛, 범프 수: 300)가 있는 칩(1.2×19 mm, 두께: 500 ㎛)과, ITO 회로가 있는 유리 기판(두께: 0.7 mm, 전극 높이: 0.15 ㎛)의 접속을 이하에 나타낸 바와 같이 행하였다. Chips (1.2 × 19 mm, thickness :) with gold bumps (area: 30 × 50 μm, bump height: 15 μm, number of bumps: 300) using the adhesive films for circuit connection prepared in Examples and Comparative Examples. 500 micrometers) and the glass substrate (thickness: 0.7 mm, electrode height: 0.15 micrometer) with an ITO circuit were performed as shown below.

우선, 회로 접속용 접착 필름(1.5×20 mm)을, ITO 회로가 있는 유리 기판에, 80℃, 0.98 MPa(10 kgf/㎠)의 조건으로 2초간 가열 가압함으로서 접착시켰다. 이 때, 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 절연성 접착제층 (b)를 해당 절연성 접착제층 (b) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시키고, 2층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 도전성 접착제층 (c)를 해당 도전성 접착제층 (c) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시켰다. First, the adhesive film for circuit connection (1.5 * 20mm) was adhere | attached on the glass substrate with an ITO circuit by heating and pressing for 2 second on 80 degreeC and the conditions of 0.98 MPa (10 kgf / cm <2>). At this time, the adhesive film for circuit connection of a three-layered structure adheres an insulating adhesive layer (b) to a glass substrate after peeling off the PET film on this insulating adhesive layer (b), and the adhesive film for a circuit connection of a two-layered structure The conductive adhesive layer (c) was attached to the glass substrate after peeling off the PET film on the conductive adhesive layer (c).

이어서, 회로 접속용 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 칩의 범프와 ITO 회로가 있는 유리 기판과의 위치 정렬을 행한 후, 190℃, 40 g/범프, 10초간의 조건으로 칩 상방으로부터 가열, 가압을 행하여, 회로 접속용 접착 필름을 개재한 칩과 유리 기판의 본 접속을 행하였다. Subsequently, after peeling a PET film from the adhesive film for circuit connections and positioning the bump of a chip and the glass substrate with an ITO circuit, it heats from the chip upper on 190 degreeC, 40 g / bump for 10 second, Pressurization was performed and main connection between the chip and the glass substrate via the adhesive film for circuit connection was performed.

이 때, 금 범프(면적: 30×50 ㎛)에 포착되는 도전 입자의 수를 배율이 200 내지 500배인 현미경을 이용하여 측정하였다. 이에 따라, 상기 실시예 및 비교예에서 제조한 회로 접속용 접착 필름에 있어서의 금 범프의 입자 포착수의 최소치를 구하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. At this time, the number of the electroconductive particles captured by the gold bump (area: 30x50 micrometer) was measured using the microscope of 200-500 times the magnification. Thereby, the minimum value of the number of particle | grains capture of the gold bump in the adhesive film for circuit connections manufactured by the said Example and the comparative example was calculated | required. The results are shown in Table 1.

[절연 저항치의 측정][Measurement of Insulation Resistance]

상기 실시예 및 비교예에서 제조한 회로 접속용 접착 필름을 이용하여, 금 범프(면적: 30×100 ㎛, 범프 사이 스페이스 10 ㎛, 높이: 15 ㎛, 범프수: 472)가 있는 칩(1.9×15 mm, 두께: 500 ㎛)과, ITO 회로가 있는 유리 기판(두께: 0.7 mm, 전극 높이: 0.15 ㎛)의 접속을 이하에 나타낸 바와 같이 행하였다. Chips (1.9 ×) having gold bumps (area: 30 × 100 μm, space between bumps 10 μm, height: 15 μm, bump number: 472) using the adhesive films for circuit connection prepared in the examples and comparative examples. 15 mm, thickness: 500 micrometers, and the glass substrate (thickness: 0.7 mm, electrode height: 0.15 micrometer) with an ITO circuit were performed as shown below.

우선, 회로 접속용 접착 필름(2.0×20 mm)을 ITO 회로가 있는 유리 기판에 80℃, 0.98 MPa(10 kgf/㎠)의 조건으로 2초간 가열 가압함으로써 접착시켰다. 이 때, 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 절연성 접착제층 (b)를 해당 절연성 접착제층 (b) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시키고, 2층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 도전성 접착제층 (c)를, 해당 도전성 접착제층 (c) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시켰다. First, the adhesive film for circuit connection (2.0 * 20mm) was adhere | attached on the glass substrate with an ITO circuit by heat-pressing for 2 second on 80 degreeC and 0.98 MPa (10 kgf / cm <2>) conditions. At this time, the adhesive film for circuit connection of a three-layered structure adheres an insulating adhesive layer (b) to a glass substrate after peeling off the PET film on this insulating adhesive layer (b), and the adhesive film for a circuit connection of a two-layered structure The conductive adhesive layer (c) was bonded to the glass substrate after peeling off the PET film on the conductive adhesive layer (c).

이어서, 회로 접속용 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 칩의 범프와 ITO 회로가 있는 유리 기판과의 위치 정렬을 행한 후, 190℃, 40 g/범프, 10초간의 조건으로 칩 상방으로부터 가열, 가압을 행하여, 회로 접속용 접착 필름을 개재한 칩과 유리 기판의 본 접속을 행하였다. Subsequently, after peeling a PET film from the adhesive film for circuit connections and positioning the bump of a chip and the glass substrate with an ITO circuit, it heats from the chip upper on 190 degreeC, 40 g / bump for 10 second, Pressurization was performed and main connection between the chip and the glass substrate via the adhesive film for circuit connection was performed.

이와 같이 하여 얻어진 접속 샘플에 관해서, 이하의 통전 내습 시험을 행하였다. 즉, 접속 샘플에 대하여, 85℃, 85% RH의 환경 하에서 DC 15V를 500시간 인가하는 처리를 행하였다. Thus, the following energization moisture resistance test was done about the obtained connection sample. That is, the process which applied DC 15V for 500 hours to 85 degreeC and 85% RH was performed with respect to the connection sample.

통전 내습 시험 후의 접속 샘플의 절연 저항치에 관해서, 절연 저항계를 이용하여 인접하는 범프 간의 절연 저항을 실온 중에서 측정 전압 50 V, 전압 인가 시간 60초의 조건으로 측정하였다. 이에 따라, 인접하는 범프 간의 절연 특성이 양호하게 되어 있는지를 판단하였다. 이 경우의 양호한 절연 특성이란, 절연 저항치로 1×108Ω 이상으로 하고, 모든 인접하는 범프 간의 절연 저항치가 1×108Ω 이상의 것을 A, 인접하는 범프 간의 절연 저항치가 1×108Ω 미만인 개소를 포함하는 것을 B로서 평가하였다. 그 결과 및 절연 저항치의 최소치를 표 1에 나타내었다.About the insulation resistance value of the connection sample after an electricity supply humidity test, the insulation resistance between adjacent bumps was measured on the conditions of 50 V of measurement voltage and 60 second of voltage application time using the insulation ohmmeter. Accordingly, it was determined whether the insulation characteristics between adjacent bumps were good. In this case, the good insulation characteristics are 1 × 10 8 Ω or more as an insulation resistance value, and the insulation resistance value between all adjacent bumps is 1 × 10 8 Ω or more, and the insulation resistance value between adjacent bumps is less than 1 × 10 8 Ω. What included the point was evaluated as B. The results and the minimum values of the insulation resistance are shown in Table 1.

[접속 저항치의 측정][Measurement of connection resistance value]

상기 실시예 및 비교예에서 제조한 회로 접속용 접착 필름을 이용하여, 금 범프(면적: 30×50 ㎛, 범프 높이: 15 ㎛, 범프 수: 300)가 있는 칩(1.2×19 mm, 두께: 500 ㎛)과, ITO 회로가 있는 유리 기판(두께: 0.7 mm, 전극 높이: 0.15 ㎛)과의 접속을 이하에 기술한 바와 같이 행하였다. Chips (1.2 × 19 mm, thickness :) with gold bumps (area: 30 × 50 μm, bump height: 15 μm, bump number: 300) using the adhesive films for circuit connection prepared in the examples and comparative examples. 500 micrometers) and the glass substrate (thickness: 0.7 mm, electrode height: 0.15 micrometer) with an ITO circuit were performed as described below.

우선, 회로 접속용 접착 필름(1.5×20 mm)을 ITO 회로가 있는 유리 기판에 80℃, 0.98 MPa(10 kgf/㎠)의 조건으로 2초간 가열 가압함으로써 접착시켰다. 이 때, 3층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 절연성 접착제층 (b)를 해당 절연성 접착제층 (b) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시키고, 2층 구조의 회로 접속용 접착 필름은 도전성 접착제층 (c)를 해당 도전성 접착제층 (c) 상의 PET 필름을 박리한 후에 유리 기판에 접착시켰다. First, the adhesive film for circuit connection (1.5 * 20mm) was adhere | attached on the glass substrate with an ITO circuit by heat-pressing for 2 second on the conditions of 80 degreeC and 0.98 MPa (10 kgf / cm <2>). At this time, the adhesive film for circuit connection of a three-layered structure adheres an insulating adhesive layer (b) to a glass substrate after peeling off the PET film on this insulating adhesive layer (b), and the adhesive film for a circuit connection of a two-layered structure The conductive adhesive layer (c) was attached to the glass substrate after peeling off the PET film on the conductive adhesive layer (c).

이어서, 회로 접속용 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 칩의 범프와 ITO 회로가 있는 유리 기판과의 위치 정렬을 행한 후, 190℃, 40 g/범프, 10초간의 조건으로 칩 상방으로부터 가열, 가압을 행하여, 회로 접속용 접착 필름을 개재한 칩과 유리 기판의 본 접속을 행하였다. Subsequently, after peeling a PET film from the adhesive film for circuit connections and positioning the bump of a chip and the glass substrate with an ITO circuit, it heats from the chip upper on 190 degreeC, 40 g / bump for 10 second, Pressurization was performed and main connection between the chip and the glass substrate via the adhesive film for circuit connection was performed.

이와 같이 하여 얻어진 접속 샘플에 관해서, 이하의 내습 시험을 행하였다. 즉, 접속 샘플을 85℃, 85%RH의 환경 하에서 1000시간 방치하는 처리를 행하였다.The following moisture resistance test was done about the connection sample obtained in this way. That is, the process which left a connection sample to stand for 1000 hours in 85 degreeC and 85% RH environment was performed.

내습 시험 후의 접속 샘플의 접속 저항치에 관해서, 디지탈 멀티미터를 이용하여 1범프 마다의 접속 저항을 4 단자법으로 측정하였다. 이에 따라, 도통이 양호하게 되어 있는지를 판단하였다. 이 경우의 양호한 도통이란, 접속 저항치로 20Ω 이하로 하고, 모든 범프의 접속 저항치가 20Ω 이하인 것을 A, 접속 저항치가 20Ω을 넘는 범프를 포함하는 것을 B로서 평가하였다. 그 결과 및 접속 저항치의 최대치를 표 1에 나타내었다. About the connection resistance value of the connection sample after a moisture proof test, the connection resistance per bump was measured by the 4-probe method using the digital multimeter. Accordingly, it was determined whether the conduction was good. The good conduction in this case was made into 20 ohms or less by connection resistance value, and evaluated as A that the connection resistance value of all bumps is 20 ohms or less, and B containing bumps with more than 20 ohms of connection resistance value. The results and the maximum values of the connection resistance values are shown in Table 1.

Figure pat00001
Figure pat00001

표 1에 나타낸 결과로부터 분명한 바와 같이, 적어도 한쪽면의 절연성 접착제층의 두께가 0.1 내지 5.0 ㎛의 범위 내인 실시예 1 내지 5의 회로 접속용 접착 필름에서는, 전극 사이의 입자 포착수가 충분하고, 통전 내습 시험 후의 절연 저항치 및 내습 시험 후의 접속 저항치가 모두 양호한 것으로 확인되었다. 한편, 절연성 접착제층의 두께가 양면 모두 7 ㎛인 비교예 1의 회로 접속용 접착 필름에서는, 통전 내습 시험 후의 절연 저항치, 내습 시험 후의 접속 저항치 및 입자 포착수 모두가 떨어지는 것이 확인되었다. 또한, 도전성 접착제층과 절연성 접착제층으로 이루어지는 2층 구조의 회로 접속용 접착 필름(비교예 2)에서는, 통전 내습 시험 후의 절연 저항치가 떨어지는 것이 확인되었다. 또한, 절연성 접착제층의 두께가 0.1 ㎛ 미만인 0.08 ㎛인 비교예 3에서는, 인접 전극 간의 절연성을 충분히 확보할 수 없는 것에 의해 통전 내습 시험 후의 절연 저항치가 악화하는 것이 확인되었다. 이상으로부터, 본 발명의 회로 접속용 접착 필름에 따르면, 회로 부재끼리의 접속 시에 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적고, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 우수한 것이 확인되었다.
As is clear from the results shown in Table 1, in the adhesive film for circuit connection of Examples 1 to 5 in which the thickness of the insulating adhesive layer on at least one side is in the range of 0.1 to 5.0 µm, the number of particles captured between the electrodes is sufficient, It was confirmed that both the insulation resistance value after the moisture resistance test and the connection resistance value after the moisture resistance test were good. On the other hand, in the adhesive film for circuit connections of the comparative example 1 whose thickness of an insulating adhesive bond layer is 7 micrometers on both surfaces, it was confirmed that both the insulation resistance value after an electricity supply moisture resistance test, the connection resistance value after a moisture resistance test, and particle | grain capture number fall. Moreover, in the adhesive film for circuit connection (comparative example 2) of the two-layered structure which consists of a conductive adhesive layer and an insulating adhesive bond layer, it was confirmed that the insulation resistance value after an electricity supply moisture resistance test fell. Moreover, in the comparative example 3 whose thickness of an insulating adhesive bond layer is 0.08 micrometers less than 0.1 micrometer, it was confirmed that the insulation resistance value after an electricity supply moisture resistance test deteriorates because the insulation between adjacent electrodes cannot fully be secured. As mentioned above, according to the adhesive film for circuit connections of this invention, it was confirmed that the outflow of the electroconductive particle from an electrode phase is small at the time of the connection of circuit members, and it was excellent in high resolution and long-term connection reliability.

<산업상 이용 가능성>Industrial availability

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 회로 부재끼리의 접속 시에 전극 상으로부터의 도전 입자의 유출이 적고, 고 분해능 및 장기간 접속 신뢰성이 우수하고, 도전 입자와 전극의 정확한 위치 정렬이 불필요하기 때문에 작업성이 우수한 회로 접속용 접착 필름, 그것을 이용한 회로 부재의 접속 구조 및 회로 부재의 접속 방법을 제공할 수 있다.
As described above, according to the present invention, since the outflow of the conductive particles from the electrodes is small when the circuit members are connected to each other, the high resolution and long-term connection reliability are excellent, and precise positioning of the conductive particles and the electrodes is unnecessary. The adhesive film for circuit connections excellent in workability, the connection structure of the circuit member using the same, and the connection method of a circuit member can be provided.

1: 도전 입자
2: 접착제
3: 도전성 접착제층
4: 절연성 접착제층
5: 절연성 접착제층
10: 제1 회로 부재
11: 제1 기판
12: 제1 회로 전극
20: 제2 회로 부재
21: 제2 기판
22: 제2 회로 전극
100, 110: 회로 접속용 접착 필름
110a: 회로 접속 부재
200: 회로 부재의 접속 구조
1: conductive particles
2: glue
3: conductive adhesive layer
4: insulating adhesive layer
5: insulating adhesive layer
10: first circuit member
11: first substrate
12: first circuit electrode
20: second circuit member
21: second substrate
22: second circuit electrode
100, 110: adhesive film for circuit connection
110a: circuit connection member
200: connection structure of the circuit member

Claims (11)

제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재를, 상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극을 대향 배치시킨 상태에서 접속시키기 위한 회로 접속용 접착 필름이며,
도전 입자 및 접착제를 함유하는 도전성 접착제층,
상기 도전성 접착제층의 한쪽면에 형성된 절연성의 제1 절연성 접착제층, 및
상기 도전성 접착제층의 상기 제1 절연성 접착제층이 형성된 면과는 반대측의 면에 형성된 절연성의 제2 절연성 접착제층
을 적어도 갖고,
상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층 중의 적어도 한쪽의 층의 두께가 1.0 내지 4.0 ㎛이며,
상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극 중의 적어도 한쪽의 회로 전극의 높이가 3.0 ㎛ 이하이고, 상기 회로 접속용 접착 필름에서의 두께가 1.0 내지 4.0 ㎛인 상기 제1 절연성 접착제층 또는 상기 제2 절연성 접착제층이, 높이가 3.0 ㎛ 이하인 상기 회로 전극측에 배치되는 회로 접속용 접착 필름.
The first circuit member having the first circuit electrode formed on the main surface of the first substrate and the second circuit member having the second circuit electrode formed on the main surface of the second substrate facing the first circuit electrode and the second circuit electrode. It is the adhesive film for circuit connection for connecting in the state arrange | positioned,
A conductive adhesive layer containing conductive particles and an adhesive,
An insulating first insulating adhesive layer formed on one side of the conductive adhesive layer, and
An insulating second insulating adhesive layer formed on a surface on the side opposite to the surface on which the first insulating adhesive layer is formed of the conductive adhesive layer.
Have at least,
The thickness of at least one of the said 1st insulating adhesive bond layer and the said 2nd insulating adhesive bond layer is 1.0-4.0 micrometers,
The first insulating adhesive layer or the second having a height of at least one circuit electrode of the first circuit electrode and the second circuit electrode is 3.0 μm or less, and the thickness of the adhesive film for circuit connection is 1.0 to 4.0 μm. The adhesive film for circuit connections in which an insulating adhesive bond layer is arrange | positioned at the said circuit electrode side whose height is 3.0 micrometers or less.
제1항에 있어서, 상기 접착제가 열 경화성 수지를 함유하는 것이고,
상기 도전성 접착제층이 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층보다도, 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재의 접속시의 용융 점도가 높은 회로 접속용 접착 필름.
The method according to claim 1, wherein the adhesive contains a thermosetting resin,
The adhesive film for circuit connection whose said electroconductive adhesive bond layer has higher melt viscosity at the time of connection of a said 1st circuit member and a said 2nd circuit member than a said 1st insulating adhesive bond layer and a said 2nd insulating adhesive bond layer.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 도전성 접착제층이 필름 형성성 고분자를 추가로 함유하는 회로 접속용 접착 필름. The adhesive film for circuit connection of Claim 1 or 2 in which the said conductive adhesive layer further contains a film formation polymer. 제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재 및 제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재가, 상기 제1 및 제2 회로 부재의 사이에 설치된 제1항 또는 제2항에 기재된 회로 접속용 접착 필름의 경화물을 포함하는 회로 접속 부재에 의해서, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 대치됨과 동시에 전기적으로 접속되도록 접속되어 있고,
상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극 중의 적어도 한쪽의 회로 전극의 높이가 3.0 ㎛ 이하이고, 상기 회로 접속용 접착 필름에서의 두께가 1.0 내지 4.0 ㎛인 상기 제1 절연성 접착제층 또는 상기 제2 절연성 접착제층이, 높이가 3.0 ㎛ 이하인 상기 회로 전극측에 배치되어 있는 회로 부재의 접속 구조.
A first circuit member having a first circuit electrode formed on a main surface of a first substrate, and a second circuit member having a second circuit electrode formed on a main surface of a second substrate provided between the first and second circuit members; By the circuit connection member containing the hardened | cured material of the adhesive film for circuit connections of Claim 1 or 2, it is connected so that the said 1st circuit electrode and the said 2nd circuit electrode may be replaced and electrically connected,
The first insulating adhesive layer or the second having a height of at least one circuit electrode of the first circuit electrode and the second circuit electrode is 3.0 μm or less, and the thickness of the adhesive film for circuit connection is 1.0 to 4.0 μm. The connection structure of the circuit member in which the insulating adhesive bond layer is arrange | positioned at the said circuit electrode side whose height is 3.0 micrometers or less.
제1 기판의 주면 상에 제1 회로 전극이 형성된 제1 회로 부재,
제1항 또는 제2항에 기재된 회로 접속용 접착 필름, 및
제2 기판의 주면 상에 제2 회로 전극이 형성된 제2 회로 부재를,
상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 대치되도록, 제1 회로 부재, 회로 접속용 접착 필름 및 제2 회로 부재의 배열 순이 되도록 적층하고 가열 및 가압함으로써, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 전기적으로 접속되도록 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재를 접속시키는 방법이며,
상기 제1 회로 전극 및 상기 제2 회로 전극 중의 적어도 한쪽의 회로 전극의 높이가 3.0 ㎛ 이하이고, 상기 회로 접속용 접착 필름에서의 두께가 1.0 내지 4.0 ㎛인 상기 제1 절연성 접착제층 또는 상기 제2 절연성 접착제층을, 높이가 3.0 ㎛ 이하인 상기 회로 전극측에 배치하여 가열 및 가압함으로써, 상기 제1 회로 전극과 상기 제2 회로 전극이 전기적으로 접속되도록 상기 제1 회로 부재와 상기 제2 회로 부재를 접속시키는 회로 부재의 접속 방법.
A first circuit member having a first circuit electrode formed on a main surface of the first substrate,
The adhesive film for circuit connection of Claim 1 or 2, and
A second circuit member having a second circuit electrode formed on a main surface of a second substrate;
The first circuit electrode and the second circuit are laminated, heated, and pressurized by laminating the first circuit member, the adhesive film for connecting the circuit, and the second circuit member so that the first circuit electrode and the second circuit electrode are replaced. A method of connecting the first circuit member and the second circuit member so that a circuit electrode is electrically connected,
The first insulating adhesive layer or the second having a height of at least one circuit electrode of the first circuit electrode and the second circuit electrode is 3.0 μm or less, and the thickness of the adhesive film for circuit connection is 1.0 to 4.0 μm. The first circuit member and the second circuit member are disposed so that the first circuit electrode and the second circuit electrode are electrically connected by arranging an insulating adhesive layer on the side of the circuit electrode having a height of 3.0 μm or less and heating and pressing the insulating adhesive layer. A method of connecting a circuit member to be connected.
제1항에 있어서, 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층 중의 적어도 한쪽의 층의 두께가 2.0 내지 4.0 ㎛인 회로 접속용 접착 필름.The adhesive film for circuit connection of Claim 1 whose thickness of at least one layer of a said 1st insulating adhesive bond layer and a said 2nd insulating adhesive bond layer is 2.0-4.0 micrometers. 제1항에 있어서, 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층 중의 적어도 한쪽의 층의 두께가 2.0 내지 3.0 ㎛인 회로 접속용 접착 필름. The adhesive film for circuit connection of Claim 1 whose thickness of at least one layer of a said 1st insulating adhesive bond layer and a said 2nd insulating adhesive bond layer is 2.0-3.0 micrometers. 제2항에 있어서, 상기 도전성 접착제층의 120℃에서의 용융 점도가 5.0×102 내지 5.0×106 Pa·s인 회로 접속용 접착 필름. The adhesive film for circuit connection of Claim 2 whose melt viscosity in 120 degreeC of the said conductive adhesive layer is 5.0 * 10 <2> -5.0 * 10 <6> Pa * s. 제2항에 있어서, 상기 도전성 접착제층의 120℃에서의 용융 점도가 5.0×103 내지 5.0×105 Pa·s인 회로 접속용 접착 필름.The adhesive film for circuit connection of Claim 2 whose melt viscosity in 120 degreeC of the said conductive adhesive layer is 5.0 * 10 <3> -5.0 * 10 <5> Pa * s. 제2항, 제8항 및 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층의 120℃에서의 용융 점도가 1.0×102 내지 1.0×106 Pa·s인 회로 접속용 접착 필름.The melt viscosity at 120 degreeC of the said 1st insulating adhesive bond layer and the said 2nd insulating adhesive bond layer is 1.0 * 10 <2> -1.0 * 10 <6> Pa *, in any one of Claims 2, 8 and 9. s Adhesive film for circuit connection. 제2항, 제8항 및 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 절연성 접착제층 및 상기 제2 절연성 접착제층의 120℃에서의 용융 점도가 1.0×103 내지 1.0×105 Pa·s인 회로 접속용 접착 필름.
The melt viscosity at 120 degrees C of the said 1st insulating adhesive bond layer and the said 2nd insulating adhesive bond layer is 1.0 * 10 <3> -1.0 * 10 <5> Pa. s Adhesive film for circuit connection.
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