KR20090026076A - A spreading device and a method for cleaning a spreading device - Google Patents

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Abstract

A spreading device is provided to use a small space in comparison with an existing spreading device in no need of securing a work space for separating a stage. A spreading device comprises the following units. A substrate returning unit(2) returns a substrate(S) by lifting the substrate. A spreading unit(3) spreads a liquid on the substrate. A hole unit formed on the substrate returning unit spreads and sucks gases. A discharging unit discharges the gases from a plurality of hole units. A controlling unit converts a discharging mode to a sucking mode.

Description

도포 장치 및 도포 장치의 클리닝 방법 {A SPREADING DEVICE AND A METHOD FOR CLEANING A SPREADING DEVICE}{A SPREADING DEVICE AND A METHOD FOR CLEANING A SPREADING DEVICE}

본 발명은 도포 장치 및 도포 장치의 클리닝 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a coating apparatus and a cleaning method of the coating apparatus.

본원은, 2007 년 9 월 6 일에 일본에 출원된 일본 특허출원 2007-231534호에 기초하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다. This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2007-231534 for which it applied to Japan on September 6, 2007, and uses the content here.

액정 디스플레이 등의 표시 패널을 구성하는 유리 기판 상에는, 배선 패턴이나 전극 패턴 등의 미세한 패턴이 형성되어 있다. 일반적으로 이와 같은 패턴은 예를 들어 포토리소그래피 등의 수법에 의해 형성된다. 포토리소그래피법에서는, 유리 기판 상에 레지스트막을 형성하는 공정, 이 레지스트막을 패턴 노광하는 공정, 그 후에 당해 레지스트막을 현상하는 공정이 각각 실시된다. Fine patterns, such as a wiring pattern and an electrode pattern, are formed on the glass substrate which comprises display panels, such as a liquid crystal display. In general, such a pattern is formed by a technique such as photolithography. In the photolithography method, a step of forming a resist film on a glass substrate, a step of pattern exposing the resist film, and a step of developing the resist film thereafter are performed.

기판 표면 상에 레지스트막을 도포하는 도포 장치로는, 예를 들어 슬릿 노즐을 고정시키고, 당해 슬릿 노즐의 아래를 이동하는 유리 기판에 레지스트를 도포하는 도포 장치가 알려져 있다. 그 중에서도, 스테이지 상에 기체를 분출함으로써 기판을 부상 이동시키는 도포 장치가 알려져 있다 (예를 들어, 특허 문헌 1 참조). 이와 같은 도포 장치에 있어서는, 스테이지 표면에 기체 분출 구멍 및 흡 인 구멍이 형성되어, 기체의 분출 및 흡인을 실시함으로써 기판의 부상량을 조절할 수 있게 되어 있고, 기판의 부상 높이를 조절하면서 기판을 부상시킨 상태에서 레지스트의 도포가 실시되도록 되어 있다.As a coating apparatus which apply | coats a resist film on the board | substrate surface, the coating apparatus which fixes a slit nozzle, for example, and applys a resist to the glass substrate which moves below the said slit nozzle is known. Especially, the coating apparatus which floats and moves a board | substrate by blowing a gas on a stage is known (for example, refer patent document 1). In such a coating apparatus, a gas blowing hole and a suction hole are formed on the surface of the stage, so that the amount of floating of the substrate can be adjusted by blowing and sucking gas, and the substrate is floated while adjusting the height of the substrate. Application of the resist is carried out in the state of making it.

이 도포 장치에 있어서는, 예를 들어 슬릿 노즐 내에 남은 레지스트 등이 잘못하여 스테이지 상에 흘러 넘치는 경우가 있다. 넘친 레지스트가 기체 분출 구멍 또는 흡인 구멍의 내부에 들어갔을 경우, 정상적인 기체 분출압 및 흡인압을 유지하는 것이 곤란해져, 기판의 부상량을 조절하는 것이 곤란해질 가능성이 있기 때문에, 당해 레지스트를 제거할 필요가 있다.In this coating device, for example, a resist or the like remaining in the slit nozzle may accidentally flow on the stage. When the overflowed resist enters the gas ejection hole or the suction hole, it is difficult to maintain the normal gas ejection pressure and the suction pressure, and thus it is difficult to control the floating amount of the substrate. There is a need.

특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 2005-236092호Patent Document 1: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-236092

그러나, 상기 도포 장치에 있어서는, 기체 분출 구멍 또는 흡인 구멍의 내부에 침입한 레지스트를 제거하기 위해 스테이지를 분해할 필요가 있어, 작업 효율이 매우 나쁘다는 문제가 있다. 또, 스테이지를 분해하기 위한 작업 스페이스를 확보할 필요성도 생긴다.However, in the said coating apparatus, it is necessary to disassemble a stage in order to remove the resist which penetrated into the gas blowing hole or the suction hole, and there exists a problem that work efficiency is very bad. In addition, there is a need to secure a work space for disassembling the stage.

이상과 같은 사정을 감안하여, 본 발명의 목적은 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있는 도포 장치 및 도포 장치의 클리닝 방법을 제공하는 것에 있다.In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a coating apparatus and a cleaning method of the coating apparatus which can improve the work efficiency and can save the space of the work space.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 제 1 양태 (aspect) 에 관련된 도포 장치는, 기판을 부상시켜 반송하는 기판 반송부와, 당해 기판 반송부에 의해 반송시키면서 상기 기판에 액상체를 도포하는 도포부를 구비한 도포 장치로서, 상기 기판 반송부에 복수 형성되고, 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부와, 상기 복수의 구멍부로부터 기체를 분출하는 분출 모드와 상기 복수의 구멍부로부터 흡인하는 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 제어 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the said objective, the coating apparatus which concerns on the 1st aspect of this invention is a board | substrate conveyance part which floats a board | substrate and conveys, and the application | coating which apply | coats a liquid body to the said board | substrate, conveying by the said board | substrate conveyance part. An applicator having a portion, the substrate portion being formed in plural, a hole portion capable of ejecting and sucking gas, an ejection mode for ejecting gas from the plurality of hole portions, and a suction mode sucking from the plurality of hole portions It characterized in that it comprises a control means for switching to implement.

이 양태에 의하면, 기판 반송부에 복수 형성되어 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부와, 복수의 구멍부로부터 기체를 분출하는 분출 모드와 복수의 구멍부로부터 흡인하는 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 제어 수단을 구비하는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 흘러 넘친 경우에는 구멍부를 흡인 모드 로 함으로써 당해 구멍부에 침입한 액상체를 흡인할 수 있다. 이 때문에 기판 반송부를 분해할 필요가 없고, 분해를 위한 스페이스도 필요가 없다. 이로써, 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있다.According to this aspect, a plurality of holes are formed in the substrate carrier to enable the ejection and suction of the gas, the ejection mode for ejecting the gas from the plurality of holes, and the suction mode for sucking from the plurality of holes. Since the control means is provided, when a liquid body flows into a board | substrate conveyance part, the liquid body which penetrated into the said hole part can be sucked by making a hole part into a suction mode. For this reason, it is not necessary to disassemble a board | substrate conveyance part and there is no need for space for disassembly. Thereby, work efficiency can be improved and space saving of a work space can be aimed at.

상기 도포 장치는 상기 구멍부가, 바람직하게는 상기 기판을 부상시키기 위해 기체의 분출 및 흡인을 실시하는 것이다.The coating device is one in which the hole portion preferably blows out and sucks gas in order to float the substrate.

구멍부가 기판을 부상시키기 위해 기체의 분출 및 흡인을 실시하는 구성에 있어서는, 구멍부에 액상체가 침입함으로써 기판의 부상 높이를 정확하게 조절하는 것이 곤란해진다. 이에 반해, 이 실시형태 (embodiment) 에 의하면, 상기와 같이 구멍부를 흡인 모드로 전환할 수 있기 때문에, 구멍부에 액상체가 침입한 경우라도 기판의 부상 높이를 안정화하여 조절할 수 있다.In the configuration in which the hole portion blows out and sucks gas to float the substrate, it is difficult to precisely adjust the height of the floating portion of the substrate due to the liquid entering the hole portion. On the other hand, according to this embodiment, since the hole portion can be switched to the suction mode as described above, even when a liquid enters the hole portion, the floating height of the substrate can be stabilized and adjusted.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 제어 수단이 상기 기판 반송부 중 상기 도포부에 대응하는 영역에 형성된 상기 구멍부에 대해, 상기 분출 모드와 상기 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 수단을 갖는다.The coating device preferably has a means for causing the control means to switch between the ejection mode and the suction mode for the hole portion formed in a region corresponding to the application portion in the substrate transfer portion.

기판 반송부 중 도포부에 대응하는 영역은 특히 액상체가 쉽게 흘러 넘치고, 또 액상체가 흘러 넘침으로써 기판 상에 도포되는 액상체의 도포 상태에 악영향을 미치게 된다. 이에 반해, 이 실시형태에 의하면, 기판 반송부 중 도포부에 대응하는 영역에 형성된 구멍부에 대해 제어 수단이 분출 모드와 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 것으로 했기 때문에, 당해 도포부에 대응하는 영역에 넘친 액상체를 흡인할 수 있다. 이로써, 액상체의 도포 상태에 악영향이 미치는 것을 회피할 수 있다.The area corresponding to the application portion in the substrate transfer portion is particularly adversely affected by the state of application of the liquid to be applied onto the substrate because the liquid flows easily and the liquid flows. In contrast, according to this embodiment, the control means switches the ejection mode and the suction mode to the hole formed in the region corresponding to the application portion of the substrate transfer portion, so that the region corresponding to the application portion is provided. The liquid overflowed in can be sucked. Thereby, the bad influence on the application | coating state of a liquid body can be avoided.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 검지하는 제 1 센서를 추가로 구비한다.The coating device preferably further includes a first sensor that detects the suction sucked from the plurality of holes.

이 실시형태에 의하면, 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 검지하는 제 1 센서를 추가로 구비하는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 넘쳐있는지의 여부를 확인할 수 있다. 또, 제 1 센서가 흘러 넘친 액상체의 양 등을 확인할 수 있는 구성이어도 상관없다.According to this embodiment, since the 1st sensor which detects the suction | suction thing attracted from the some hole part is further provided, it can be confirmed whether the liquid substance overflowed to the board | substrate conveyance part. Moreover, the structure which can confirm the quantity of the liquid body which the 1st sensor overflowed, etc. may be sufficient.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 제어 수단이 상기 제 1 센서에 의한 검지 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지시키는 수단을 갖는다.The said coating device, Preferably, the said control means has a means to stop conveyance of the said board | substrate and application | coating of the said liquid body based on the detection result by a said 1st sensor.

이 실시형태에 의하면, 제어 수단은 제 1 센서에 의한 검지 결과에 기초하여 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지시키는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 흘러 넘쳐있는 경우에 그 상태에서 기판의 반송 및 액상체의 도포가 실시되는 것을 회피할 수 있다.According to this embodiment, since the control means stops the conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body based on the detection result by a 1st sensor, when a liquid body flows into a board | substrate conveyance part, the state of a board | substrate in that state is carried out. The conveyance and application of the liquid can be avoided.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 저류하는 버퍼 탱크를 추가로 구비한다.The coating device preferably further includes a buffer tank for storing suction sucked from the plurality of holes.

이 실시형태에 의하면, 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 저류하는 버퍼 탱크를 추가로 구비하는 것으로 했기 때문에, 흡인을 실시할 때마다 흡인물을 폐기할 필요는 없다. 이로써, 작업 효율을 향상시킬 수 있다.According to this embodiment, since a buffer tank for storing the suction sucked from the plurality of holes is further provided, it is not necessary to discard the suction every time suction is performed. Thereby, work efficiency can be improved.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 제어 수단이 상기 버퍼 탱크에 상기 흡인물이 소정량 이상 저류되었을 경우에 흡인물을 배출시키는 수단을 갖는다. The coating device preferably has means for discharging the suctioned material when the control means is stored in the buffer tank for the predetermined amount or more.

이 실시형태에 의하면, 제어 수단에 의해 버퍼 탱크에 흡인물이 소정량 이상 저류되었을 경우에 흡인물을 배출시키는 것으로 했기 때문에, 버퍼 탱크에 저류된 흡인물의 양을 흡인할 때마다 확인할 필요는 없어진다. 이로써, 작업 효율을 향상시킬 수 있다.According to this embodiment, since the suction is discharged when the suction is stored in the buffer tank by the control means for a predetermined amount or more, it is not necessary to confirm each time the suction of the suction is stored in the buffer tank. Thereby, work efficiency can be improved.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 복수의 구멍부에 접속된 유통로와, 상기 유통로에 세정액을 공급하는 세정액 공급부를 추가로 구비한다.The coating device preferably further includes a flow passage connected to the plurality of hole portions and a washing liquid supply portion for supplying a washing liquid to the flow passage.

이 실시형태에 의하면, 복수의 구멍부에 접속된 유통로와, 당해 유통로에 세정액을 공급하는 세정액 공급부를 추가로 구비하는 것으로 했기 때문에, 복수의 구멍부로부터 흡인되는 흡인물 (액상체를 포함함) 을 세정할 수 있다. 이로써, 흡인물이 복수의 구멍부를 막는 것을 회피할 수 있다.According to this embodiment, since the flow path connected to the some hole part and the cleaning liquid supply part which supplies a washing | cleaning liquid to the said flow path were further provided, the suction object attracted from a some hole part (containing a liquid body) Can be cleaned). As a result, the suction can be prevented from blocking the plurality of holes.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 유통로가 상기 복수의 구멍부에 기체를 공급하기 위한 기체 공급 수단 및 상기 복수의 구멍부로부터 흡인을 실시하기 위한 흡인 수단에 접속된 배관으로, 상기 기체 공급 수단 및 상기 흡인 수단 중 어느 일방이 상기 복수의 구멍부에 접속되도록 상기 유통로에 형성된 밸브를 추가로 구비한다.The coating device is preferably a pipe connected to a gas supply means for supplying gas to the plurality of hole portions and a suction means for sucking from the plurality of hole portions. And a valve formed in the flow passage so that any one of the suction means is connected to the plurality of hole portions.

이 실시형태에 의하면, 유통로가 복수의 구멍부에 기체를 공급하기 위한 기체 공급 수단 및 복수의 구멍부로부터 흡인을 실시하기 위한 흡인 수단에 접속된 배관으로, 당해 기체 공급 수단 및 흡인 수단 중 어느 일방이 복수의 구멍부에 접속되도록 유통로에 밸브가 형성되는 것으로 했기 때문에, 당해 밸브에 의해 분출 모드와 흡인 모드를 용이하게 전환할 수 있다.According to this embodiment, the flow passage is a pipe connected to a gas supply means for supplying gas to the plurality of holes and a suction means for sucking from the plurality of holes, wherein any of the gas supply means and the suction means is provided. Since a valve is formed in the flow path so that one is connected to the plurality of holes, the ejection mode and the suction mode can be easily switched by the valve.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 구멍부에 있어서의 상기 기체의 분출 및 상기 흡인 상태를 검출하는 제 2 센서를 추가로 구비한다.The coating device preferably further includes a second sensor that detects the ejection of the gas and the suction state in the hole.

이 실시형태에 의하면, 구멍부에 있어서의 기체의 분출 및 흡인 상태를 검출하는 제 2 센서를 추가로 구비하는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡인 상태의 이상 유무를 검지할 수 있다.According to this embodiment, since it is further provided with the 2nd sensor which detects the blowing and suction state of the gas in a hole part, the presence or absence of abnormality of the blowing and suction state of a gas can be detected.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 제어 수단이 상기 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 상기 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하게 하는 수단을 갖는다.The coating device preferably has means for causing the control means to perform the return operation of the plurality of holes based on the detection result of the second sensor.

이 실시형태에 의하면, 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 제어 수단이 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하게 하는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡인 상태에 이상이 없으면 검출되었을 경우에 복귀 동작을 실시하게 할 수 있다. 이 때문에 구멍부로부터 안정적으로 기체를 분출할 수 있고, 또 안정적인 흡인을 실시할 수 있다. 이 복귀 동작으로는, 예를 들어 분출 모드 및 흡인 모드의 전환, 분출 모드에 있어서의 기체의 분출량 조절 및 흡인 모드에 있어서의 흡인량 조절 등이 포함된다.According to this embodiment, based on the detection result of the second sensor, the control means causes the return operation of the plurality of holes, so that the return operation is detected when it is detected if there is no abnormality in the gas ejection and suction state. It can be done. For this reason, gas can be stably ejected from a hole part, and stable suction can be performed. This return operation includes, for example, switching between the blowing mode and the suction mode, adjusting the blowing amount of the gas in the blowing mode, adjusting the suction amount in the suction mode, and the like.

상기 도포 장치는, 바람직하게는 상기 제어 수단이 상기 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지시키는 수단을 갖는다.The coating device preferably has a means for the control unit to stop the conveyance of the substrate and the coating of the liquid body based on the detection result of the second sensor.

이 실시형태에 의하면, 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 제어 수단이 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지시키는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡 인 상태에 이상이 있는 경우에는 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지시킬 수 있다. 이 때문에 구멍부로부터 안정적으로 기체를 분출할 수 없는 경우, 또는 안정적인 흡인을 실시할 수 없는 경우에 기판의 반송 및 액상체의 도포가 실시되는 것을 회피할 수 있다.According to this embodiment, based on the detection result of the 2nd sensor, since a control means stops conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body, conveyance of a board | substrate when there exists an abnormality in gas ejection and aspiration state. And application of the liquid can be stopped. For this reason, it can avoid that conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body are performed when gas cannot be stably blown out from a hole part, or when stable suction cannot be performed.

본 발명의 제 2 양태에 관련된 도포 장치의 클리닝 방법은, 기판을 부상시켜 반송하는 기판 반송부와, 당해 기판 반송부에 의해 반송시키면서 상기 기판에 액상체를 도포하는 도포부를 구비한 도포 장치의 클리닝 방법으로서, 상기 기판 반송부에는 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부가 복수 형성되어 있고, 상기 기판 반송부 상태에 따라, 상기 복수의 구멍부에 있어서 흡인을 실시하는 것을 특징으로 한다.The cleaning method of the coating apparatus which concerns on the 2nd aspect of this invention is the cleaning of the coating apparatus provided with the board | substrate conveyance part which floats and conveys a board | substrate, and the coating part which apply | coats a liquid body to the said board | substrate, conveying by the said board | substrate conveyance part. As a method, the said board | substrate conveyance part is provided with the some hole part which can blow out and attract | suck a gas, and it suctions in the said some hole part according to the state of the said board | substrate conveyance part, It is characterized by the above-mentioned.

이 양태에 의하면, 기판 반송부에는 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부가 복수 형성되어 있고, 기판 반송부 상태에 따라 당해 복수의 구멍부에 있어서 흡인을 실시하는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 흘러 넘친 경우에는 구멍부에 들어간 액상체를 흡인할 수 있다. 이 때문에 기판 반송부를 분해할 필요가 없고, 분해를 위한 스페이스도 필요가 없다. 이로써, 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있다.According to this aspect, since the board | substrate conveyance part is provided with the some hole part which can blow out and attract | suck a gas, and it is supposed that suction is performed in the said some hole part according to the state of a board | substrate conveyance part, When it overflows, the liquid body which entered the hole part can be suctioned. For this reason, it is not necessary to disassemble a board | substrate conveyance part and there is no need for space for disassembly. Thereby, work efficiency can be improved and space saving of a work space can be aimed at.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 복수의 구멍부로부터 흡인되는 흡인물을 검지하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes detecting a suction sucked from the plurality of holes.

이 실시형태에 의하면, 복수의 구멍부로부터 흡인되는 흡인물을 검지하는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 흘러 넘쳐있는지 여부를 확인할 수 있 다. 또, 흘러 넘친 액상체의 양 등을 확인할 수 있도록 해도 상관없다.According to this embodiment, since it is supposed to detect the suction sucked from the plurality of holes, it is possible to confirm whether or not the liquid flows in the substrate transfer portion. Moreover, you may make it possible to confirm the quantity etc. of the liquid which overflowed.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 검지 결과에 기초하여 상기 흡인을 실시하는 것을 포함한다. The cleaning method of the coating device preferably includes performing the suction based on the detection result.

이 실시형태에 의하면, 검지 결과에 기초하여 흡인을 실시하는 것으로 했기 때문에, 액상체가 흘러 넘쳤다고 판단되는 경우에 효율적으로 흡인을 실시할 수 있다.According to this embodiment, since suction is performed based on the detection result, suction can be efficiently performed when it is judged that the liquid body has overflowed.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 검지 결과에 기초하여 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes stopping the conveyance of the substrate and the coating of the liquid body based on the detection result.

이 실시형태에 의하면, 검지 결과에 기초하여 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지하는 것으로 했기 때문에, 기판 반송부에 액상체가 넘치는 경우에 그 상태에서 기판의 반송 및 액상체의 도포가 실시되는 것을 회피할 수 있다.According to this embodiment, since the conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body are stopped based on a detection result, when a liquid body overflows to a board | substrate conveyance part, it is carried out that conveyance of a board | substrate and liquid body application are performed in that state. Can be avoided.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 도포 장치의 기동마다, 소정 시간마다, 소정 장 수의 상기 기판을 처리할 때마다 또는 상기 액상체의 도포 동작 사이마다 상기 검지를 실시하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes performing the detection every startup of the coating device, every predetermined time, each time the predetermined number of substrates are processed, or every application operation of the liquid body. .

이 실시형태에 의하면, 도포 장치의 기동마다, 소정 시간마다, 소정 장수의 기판을 처리할 때마다 또는 액상체의 도포 동작 사이마다 검지를 실시하는 것으로 했기 때문에, 적절한 타이밍에 흡인을 실시할 수 있다.According to this embodiment, since the detection is performed every start of the coating device, every predetermined time, every time the substrate is processed for a predetermined number of times, or every application operation of the liquid body, suction can be performed at an appropriate timing. .

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 도포 장치가 상기 복수의 구멍부에 접속된 유통로를 구비하고, 상기 흡인 후 또는 상기 흡인과 동시에 상기 유통로 내에 세정액을 공급하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes the coating device having a flow path connected to the plurality of hole portions, and supplying a cleaning liquid into the flow path after the suction or at the same time as the suction.

이 실시형태에 의하면, 흡인 후 또는 흡인과 동시에 복수의 구멍부에 접속된 유통로 내에 세정액을 공급하는 것으로 했기 때문에, 복수의 구멍부로부터 흡인되는 흡인물 (액상체를 포함함) 을 세정할 수 있다. 이로써, 복수의 구멍부에 흡인물이 막히는 것을 회피할 수 있다. According to this embodiment, since the cleaning liquid is supplied into the flow path connected to the plurality of hole portions after the suction or at the same time as the suction, the suction material (including the liquid body) sucked from the plurality of hole portions can be washed. have. Thereby, it can avoid that a suction object becomes clogged in a some hole part.

흡인과 동시에 세정액을 공급하는 경우에는, 흡인물과 당해 세정액을 함께 흡인할 수 있기 때문에, 작업 효율이 향상되게 된다.When supplying a washing | cleaning liquid simultaneously with suction, since a suction material and the said washing | cleaning liquid can be sucked together, work efficiency improves.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 세정액의 공급 후, 상기 유통로 내를 건조시키는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes drying the inside of the flow path after supply of the cleaning liquid.

이 실시형태에 의하면, 세정액의 공급 후, 유통로 내를 건조시키는 것으로 했기 때문에, 습도가 높은 기체가 기판 반송부에 공급되는 것을 방지할 수 있다. 또, 습도의 높은 기체가 기판 반송부에 공급되는 것을 방지할 수 있기 때문에, 기판의 오염을 방지할 수 있다.According to this embodiment, since the inside of a flow path is dried after supply of a washing | cleaning liquid, it can prevent that a high humidity gas is supplied to a board | substrate conveyance part. Moreover, since the gas of high humidity can be prevented from being supplied to a board | substrate conveyance part, contamination of a board | substrate can be prevented.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 구멍부에 있어서의 기체 분출 상태 및 상기 흡인 상태를 검출하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes detecting a gas ejection state and the suction state in the hole.

이 실시형태에 의하면, 구멍부에 있어서의 기체 분출 상태 및 흡인 상태를 검출하는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡인 상태에 이상이 있는 경우에 이것을 검지할 수 있다.According to this embodiment, since the gas blowing state and the suction state in a hole part are detected, this can be detected when there is an abnormality in the gas blowing and suction state.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 검출 결과에 기초하여, 상기 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes a return operation of the plurality of holes based on the detection result.

이 실시형태에 의하면, 검출 결과에 기초하여 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡인 상태에 이상이 없으면 검출되었을 경우에 복귀 동작을 실시하게 할 수 있다. 이 때문에 구멍부로부터 안정적으로 기체를 분출할 수 있고, 또 안정적인 흡인을 실시할 수 있다. 이 복귀 동작으로는, 예를 들어 분출 모드 및 흡인 모드의 전환, 분출 모드에 있어서의 기체의 분출량 조절 및 흡인 모드에 있어서의 흡인량 조절 등이 포함된다.According to this embodiment, since the return operation of the plurality of holes is performed on the basis of the detection result, the return operation can be performed when it is detected if there is no abnormality in the gas ejection and suction state. For this reason, gas can be stably ejected from a hole part, and stable suction can be performed. This return operation includes, for example, switching between the blowing mode and the suction mode, adjusting the blowing amount of the gas in the blowing mode, adjusting the suction amount in the suction mode, and the like.

상기 도포 장치의 클리닝 방법은, 바람직하게는 상기 검출 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지하는 것을 포함한다.The cleaning method of the coating device preferably includes stopping the conveyance of the substrate and the application of the liquid body based on the detection result.

이 실시형태에 의하면, 검출 결과에 기초하여 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지하는 것으로 했기 때문에, 기체의 분출 및 흡인 상태에 이상이 있는 경우에는 기판의 반송 및 액상체의 도포를 정지시킬 수 있다. 이 때문에 구멍부로부터 안정적으로 기체를 분출할 수 없는 경우, 또는 안정적인 흡인을 실시할 수 없는 경우에 기판의 반송 및 액상체의 도포가 실시되는 것을 회피할 수 있다.According to this embodiment, since the conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body are stopped based on a detection result, when there exists an abnormality in gas ejection and aspiration state, conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body can be stopped. have. For this reason, it can avoid that conveyance of a board | substrate and application | coating of a liquid body are performed when gas cannot be stably blown out from a hole part, or when stable suction cannot be performed.

본 발명에 의하면, 도포 장치의 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있게 된다.According to the present invention, the work efficiency of the coating device can be improved, and the space of the work space can be reduced.

이하, 도면에 기초하여 본 발명의 실시형태를 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described based on drawing.

도 1 은 본 실시형태에 관련된 도포 장치 (1) 의 사시도이다. 1 is a perspective view of the coating device 1 according to the present embodiment.

도 1 에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 도포 장치 (1) 는, 예를 들어 액정 패널 등에 사용되는 유리 기판 상에 레지스트를 도포하는 도포 장치로 서, 기판 반송부 (2) 와, 도포부 (3) 와, 관리부 (4) 를 주요한 구성 요소로 하고 있다. 이 도포 장치 (1) 는, 기판 반송부 (2) 에 의해 기판을 부상시켜 반송하면서 도포부 (3) 에 의해 당해 기판 상에 레지스트가 도포되도록 되어 있고, 관리부 (4) 에 의해 도포부 (3) 상태가 관리되도록 되어 있다. As shown in FIG. 1, the coating apparatus 1 which concerns on this embodiment is a coating apparatus which apply | coats a resist on the glass substrate used for a liquid crystal panel etc., for example, The board | substrate conveyance part 2 and an application part (3) and the management part 4 are main components. In the coating device 1, a resist is applied onto the substrate by the coating unit 3 while the substrate is lifted and transported by the substrate transfer unit 2, and the application unit 3 is applied by the management unit 4. State is managed.

도 2 는 도포 장치 (1) 의 정면도, 도 3 은 도포 장치 (1) 의 평면도, 도 4는 도포 장치 (1) 의 측면도이다. 이들 도면을 참조하여, 도포 장치 (1) 의 상세한 구성을 설명한다. 2 is a front view of the coating device 1, FIG. 3 is a plan view of the coating device 1, and FIG. 4 is a side view of the coating device 1. With reference to these drawings, the detailed structure of the coating device 1 is demonstrated.

(기판 반송부)(Substrate conveying part)

먼저, 기판 반송부 (2) 의 구성을 설명한다. First, the structure of the board | substrate conveyance part 2 is demonstrated.

기판 반송부 (2) 는, 기판 반입 영역 (20) 과, 도포 처리 영역 (21) 과, 기판 반출 영역 (22) 과, 반송 기구 (23) 와, 이들을 지지하는 프레임부 (24) 를 갖고 있다. 이 기판 반송부 (2) 에서는, 반송 기구 (23) 에 의해 기판 (S) 이 기판 반입 영역 (20), 도포 처리 영역 (21) 및 기판 반출 영역 (22) 으로 순서대로 반송되도록 되어 있다. 기판 반입 영역 (20), 도포 처리 영역 (21) 및 기판 반출 영역 (22) 은, 기판 반송 방향의 상류측에서 하류측으로 이 순서대로 배열되어 있다. 반송 기구 (23) 는, 기판 반입 영역 (20), 도포 처리 영역 (21) 및 기판 반출 영역 (22) 의 각 부에 걸치도록 당해 각 부의 일측방에 형성되어 있다. The board | substrate conveyance part 2 has the board | substrate loading area | region 20, the coating process area | region 21, the board | substrate carrying out area | region 22, the conveyance mechanism 23, and the frame part 24 which supports these. . In this board | substrate conveyance part 2, the board | substrate S is conveyed by the conveyance mechanism 23 to the board | substrate carrying in area 20, the coating process area | region 21, and the board | substrate carrying out area 22 in order. The board | substrate loading area | region 20, the coating process area | region 21, and the board | substrate carrying out area | region 22 are arrange | positioned in this order from the upstream to the downstream side of a board | substrate conveyance direction. The conveyance mechanism 23 is formed in one side of each said part so that it may apply to each part of the board | substrate carrying in area 20, the coating process area | region 21, and the board | substrate carrying out area 22. As shown in FIG.

이하, 도포 장치 (1) 의 구성을 설명함에 있어서, 표기를 간단하게 하기 위해, 도면 중의 방향을 XYZ 좌표계를 사용하여 설명한다. 기판 반송부 (2) 의 길이 방향으로서 기판의 반송 방향을 X 방향이라고 표기한다. 평면에서 보았을 때 X 방향 (기판 반송 방향) 에 직교하는 방향을 Y 방향이라고 표기한다. X 방향축 및 Y 방향축을 포함하는 평면에 수직인 방향을 Z 방향이라고 표기한다. 또한, X 방향, Y 방향 및 Z 방향의 각각은, 도면 중의 화살표의 방향이 + 방향, 화살표의 방향과는 반대 방향이 - 방향인 것으로 한다. Hereinafter, in explaining the structure of the coating device 1, in order to simplify notation, the direction in drawing is demonstrated using an XYZ coordinate system. As a longitudinal direction of the board | substrate conveyance part 2, the conveyance direction of a board | substrate is described with an X direction. In the plan view, the direction orthogonal to the X direction (substrate conveyance direction) is described as the Y direction. The direction perpendicular to the plane including the X direction axis and the Y direction axis is referred to as the Z direction. In each of the X, Y and Z directions, the direction of the arrow in the figure is the + direction and the direction opposite to the direction of the arrow is the-direction.

기판 반입 영역 (20) 은, 장치 외부로부터 반송되어 온 기판 (S) 을 반입하는 부위로서, 반입측 스테이지 (25) 와 리프트 기구 (26) 를 갖고 있다. The board | substrate loading area | region 20 is a site | part which carries in the board | substrate S conveyed from the exterior of the apparatus, and has the carry-in side stage 25 and the lift mechanism 26. As shown in FIG.

반입측 스테이지 (25) 는, 프레임부 (24) 의 상부에 형성되어 있고, 예를 들어 SUS 등으로 이루어지는 평면에서 보았을 때 직사각형의 판상 부재이다. 이 반입측 스테이지 (25) 는, X 방향이 길이로 되어 있다. 반입측 스테이지 (25) 에는, 에어 분출 구멍 (25a) 과 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 이 각각 복수 형성되어 있다. 이들 에어 분출 구멍 (25a) 및 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 은, 반입측 스테이지 (25) 를 관통하도록 형성되어 있다. The carrying-in side stage 25 is formed in the upper part of the frame part 24, and is a rectangular plate-shaped member when it sees from the plane which consists of SUS etc., for example. As for the carry-in side stage 25, X direction is length. In the carry-in side stage 25, the air blowing hole 25a and the lift pin reeling hole 25b are each formed in multiple numbers. These air blowing holes 25a and the lifting pin dropping-out holes 25b are formed to penetrate the carrying-in side stage 25.

에어 분출 구멍 (25a) 은, 반입측 스테이지 (25) 의 스테이지 표면 (25c) 상으로 에어를 분출하는 구멍으로서, 예를 들어 반입측 스테이지 (25) 중에서 기판 (S) 이 통과하는 영역에 평면에서 보았을 때 매트릭스상으로 배치되어 있다. 이 에어 분출 구멍 (25a) 에는 도시를 생략한 에어 공급원이 접속되어 있다. 이 반입측 스테이지 (25) 에서는, 에어 분출 구멍 (25a) 에서 분출되는 에어에 의해 기판 (S) 을 +Z 방향으로 부상시킬 수 있도록 되어 있다. The air blowing hole 25a is a hole for blowing air onto the stage surface 25c of the carry-in stage 25. For example, the air blowing hole 25a is a plane in the region where the substrate S passes in the carry-in stage 25. When viewed, they are arranged in a matrix. An air supply source (not shown) is connected to this air blowing hole 25a. In this carry-in side stage 25, the board | substrate S can be made to float to + Z direction by the air which blows out from the air blowing hole 25a.

승강 핀 출몰 구멍 (25b) 은, 반입측 스테이지 (25) 중 기판 (S) 이 반입되는 영역에 형성되어 있다. 당해 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 은, 스테이지 표면 (25c) 에 공급된 에어가 새어 나오지 않는 구성으로 되어 있다. The lifting pin projection holes 25b are formed in a region into which the substrate S is loaded in the carry-in stage 25. The lifting pin projection hole 25b is configured such that air supplied to the stage surface 25c does not leak out.

이 반입측 스테이지 (25) 중 Y 방향의 양 단부에는, 얼라이먼트 장치 (25d) 가 1 개씩 형성되어 있다. 얼라이먼트 장치 (25d) 는, 반입측 스테이지 (25) 에 반입된 기판 (S) 의 위치를 맞추는 장치이다. 각 얼라이먼트 장치 (25d) 는 긴 구멍과 당해 긴 구멍 내에 형성된 위치 맞춤 부재를 갖고 있고, 반입 스테이지 (25) 에 반입되는 기판을 양측에서 기계적으로 협지하도록 되어 있다. The alignment apparatus 25d is formed in each of the both ends of the Y direction among these loading side stages 25 one by one. The alignment device 25d is a device for aligning the position of the substrate S carried in the carry-in side stage 25. Each alignment device 25d has a long hole and a positioning member formed in the long hole, and mechanically sandwiches the substrate carried in the loading stage 25 from both sides.

리프트 기구 (26) 는, 반입측 스테이지 (25) 의 기판 반입 위치의 이면측에 형성되어 있다. 이 리프트 기구 (26) 는, 승강 부재 (26a) 와 복수의 승강 핀 (26b) 을 갖고 있다. 승강 부재 (26a) 는, 도시를 생략한 구동 기구에 접속되어 있고, 당해 구동 기구의 구동에 의해 승강 부재 (26a) 가 Z 방향으로 이동하게 되어 있다. 복수의 승강 핀 (26b) 은, 승강 부재 (26a) 의 상면으로부터 반입측 스테이지 (25) 를 향하여 수직 형성되어 있다. 각 승강 핀 (26b) 은, 각각 상기의 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 에 평면에서 보았을 때 겹쳐지는 위치에 배치되어 있다. 승강 부재 (26a) 가 Z 방향으로 이동함으로써, 각 승강 핀 (26b) 이 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 으로부터 스테이지 표면 (25c) 상으로 출몰하게 되어 있다. 각 승강 핀 (26b) 의 +Z 방향 단부는 각각 Z 방향 상의 위치가 일치되도록 형성되어 있고, 장치 외부로부터 반송되어 온 기판 (S) 을 수평한 상태로 유지할 수 있도록 되어 있다. The lift mechanism 26 is formed in the back surface side of the board | substrate carrying in position of the carry-in side stage 25. As shown in FIG. This lift mechanism 26 has a lifting member 26a and a plurality of lifting pins 26b. The lifting member 26a is connected to a drive mechanism (not shown), and the lifting member 26a moves in the Z direction by the drive of the drive mechanism. The plurality of lifting pins 26b are vertically formed from the upper surface of the lifting member 26a toward the carrying-in side stage 25. Each elevating pin 26b is arrange | positioned in the position which overlaps with said elevating pin outgoing hole 25b in planar view, respectively. As the elevating member 26a moves in the Z direction, each elevating pin 26b is projected from the elevating pin recessed holes 25b onto the stage surface 25c. The + Z direction edge part of each lifting pin 26b is formed so that the position on a Z direction may respectively correspond, and the board | substrate S conveyed from the exterior of an apparatus can be hold | maintained in the horizontal state.

도포 처리 영역 (21) 은, 레지스트의 도포가 실시되는 부위로서, 기판 (S) 을 부상 지지하는 처리 스테이지 (27) 가 형성되어 있다. In the application | coating process area | region 21, the process stage 27 which floats and supports the board | substrate S as a site | part to which application | coating of a resist is given is formed.

처리 스테이지 (27) 는, 스테이지 표면 (27c) 이 예를 들어 경질 알루마이트를 주성분으로 하는 광 흡수 재료로 덮인 평면에서 보았을 때 직사각형의 판상 부재이며, 반입측 스테이지 (25) 에 대하여 +X 방향측에 형성되어 있다. 처리 스테이지 (27) 중 광 흡수 재료로 덮인 부분에서는, 레이저 광 등의 광의 반사가 억제되도록 되어 있다. 이 처리 스테이지 (27) 는, Y 방향이 길이로 되어 있다. 처리 스테이지 (27) 의 Y 방향의 치수는, 반입측 스테이지 (25) 의 Y 방향의 치수와 거의 동일하게 되어 있다. 처리 스테이지 (27) 에는 스테이지 표면 (27c) 상에 에어를 분출하는 복수의 에어 분출 구멍 (27a) 과, 스테이지 표면 (27c) 상의 에어를 흡인하는 복수의 에어 흡인 구멍 (27b) 이 형성되어 있다. 이들 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 은 처리 스테이지 (27) 를 관통하도록 형성되어 있다. 또, 처리 스테이지 (27) 의 내부에는, 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 을 통과하는 기체의 압력에 저항을 부여하기 위한 도시를 생략한 홈이 복수 형성되어 있다. 이 복수의 홈은 스테이지 내부에 있어서 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 에 접속되어 있다.The processing stage 27 is a rectangular plate-shaped member when the stage surface 27c is covered with, for example, a light absorbing material containing hard alumite as a main component, and is formed in the + X direction with respect to the carry-in stage 25. It is. In the part covered with the light absorbing material in the processing stage 27, reflection of light such as laser light is suppressed. In the processing stage 27, the Y direction is a length. The dimension of the Y direction of the processing stage 27 is made substantially the same as the dimension of the Y direction of the carry-in side stage 25. The process stage 27 is provided with the some air blowing hole 27a which blows out air on the stage surface 27c, and the some air suction hole 27b which sucks air on the stage surface 27c. These air blowing holes 27a and air suction holes 27b are formed to penetrate the processing stage 27. Moreover, the inside of the process stage 27 is provided with the some groove which abbreviate | omitted illustration for giving resistance to the pressure of the gas which passes through the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b. These grooves are connected to the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b inside the stage.

처리 스테이지 (27) 에서는, 에어 분출 구멍 (27a) 의 피치가 반입측 스테이지 (25) 에 형성되는 에어 분출 구멍 (25a) 의 피치보다 좁고, 반입측 스테이지 (25) 에 비해 에어 분출 구멍 (27a) 이 조밀하게 형성되어 있다. 이 때문에 이 처리 스테이지 (27) 에서는 다른 스테이지에 비해 기판의 부상량을 고정밀도로 조절할 수 있도록 되어 있고, 기판의 부상량이 예를 들어 100㎛ 이하, 바람직하게는 50㎛ 이하가 되도록 제어할 수 있게 되어 있다. In the processing stage 27, the pitch of the air jet holes 27a is narrower than the pitch of the air jet holes 25a formed in the carry-in stage 25, and the air jet holes 27a are smaller than the carry-in stage 25. It is densely formed. For this reason, in this processing stage 27, the floating amount of a board | substrate can be adjusted with high precision compared with another stage, and it can control so that the floating amount of a board | substrate may be 100 micrometers or less, for example, 50 micrometers or less. have.

기판 반출 영역 (22) 은, 레지스트가 도포된 기판 (S) 을 장치 외부로 반출하는 부위로서, 반출측 스테이지 (28) 와 리프트 기구 (29) 를 갖고 있다. 이 반출측 스테이지 (28) 는, 처리 스테이지 (27) 에 대하여 +X 방향측에 형성되어 있고, 기판 반입 영역 (20) 에 형성된 반입측 스테이지 (25) 와 거의 동일한 재 질, 치수로 구성되어 있다. 반출측 스테이지 (28) 에는, 반입측 스테이지 (25) 와 동일하게, 에어 분출 구멍 (28a) 및 승강 핀 출몰 구멍 (28b) 이 형성되어 있다. 리프트 기구 (29) 는, 반출측 스테이지 (28) 의 기판 반출 위치의 이면측에 형성되어 있고, 예를 들어 프레임부 (24) 에 지지되어 있다. 리프트 기구 (29) 의 승강 부재 (29a) 및 승강 핀 (29b) 은, 기판 반입 영역 (20) 에 형성된 리프트 기구 (26) 의 각 부위와 동일한 구성으로 되어 있다. 이 리프트 기구 (29) 는, 반출측 스테이지 (28) 상의 기판 (S) 을 외부 장치로 반출할 때에, 기판 (S) 을 주고 받기 위한 승강 핀 (29b) 에 의해 기판 (S) 을 들어 올릴 수 있도록 되어 있다. The board | substrate carrying out area | region 22 is a site | part which carries out the board | substrate S to which the resist was apply | coated to the exterior of the apparatus, and has the carrying-out stage 28 and the lift mechanism 29. As shown in FIG. This carrying-out stage 28 is formed in the + X direction side with respect to the process stage 27, and is comprised by the material and dimension substantially the same as the carrying-in side stage 25 formed in the board | substrate carrying-in area 20. FIG. In the carrying out side stage 28, the air blowing hole 28a and the lifting pin falling-out hole 28b are formed similarly to the carrying in side stage 25. As shown in FIG. The lift mechanism 29 is formed in the back surface side of the board | substrate carrying out position of the carrying-out stage 28, and is supported by the frame part 24, for example. The elevating member 29a and the elevating pin 29b of the lift mechanism 29 have the same configuration as each part of the lift mechanism 26 formed in the substrate loading area 20. When carrying out the board | substrate S on the carrying-out stage 28 to an external apparatus, this lift mechanism 29 can lift the board | substrate S by the lifting pin 29b for sending and receiving board | substrate S. It is supposed to be.

반송 기구 (23) 는, 반송기 (23a) 와, 진공 패드 (23b) 와, 레일 (23c) 을 갖고 있다. 반송기 (23a) 는 내부에 예를 들어 리니어 모터가 형성된 구성으로 되어 있고, 당해 리니어 모터가 구동함으로써 반송기 (23a) 가 레일 (23c) 상을 이동할 수 있게 되어 있다. The conveyance mechanism 23 has the conveyer 23a, the vacuum pad 23b, and the rail 23c. The conveyer 23a has a structure in which a linear motor is formed, for example, and the conveyer 23a can move on the rail 23c by driving the linear motor.

이 반송기 (23a) 는, 소정의 부분 (23d) 이 평면에서 보았을 때 기판 (S) 의 -Y 방향 단부에 겹쳐지도록 배치되어 있다. 이 기판 (S) 에 겹쳐지는 부분 (23d) 은, 기판 (S) 을 부상시켰을 때의 기판 이면의 높이 위치보다 낮은 위치에 형성되어 있다. This conveyer 23a is arrange | positioned so that the predetermined part 23d may overlap with the edge part of the board | substrate S at the -Y direction when it sees in plan view. The part 23d which overlaps with this board | substrate S is formed in the position lower than the height position of the back surface of the board | substrate at the time of making the board | substrate S float.

진공 패드 (23b) 는, 반송기 (23a) 중에서 상기 기판 (S) 과 겹쳐지는 부분 (23d) 에 복수 배열되어 있다. 이 진공 패드 (23b) 는, 기판 (S) 을 진공 흡착시키는 흡착면을 갖고 있고, 당해 흡착면이 상방을 향하도록 배치되어 있다. 진공 패드 (23b) 는, 흡착면이 기판 (S) 의 이면 단부를 흡착함으로써 당해 기판 (S) 을 유지할 수 있게 되어 있다. 각 진공 패드 (23b) 는 반송기 (23a) 의 상면으로부터의 높이 위치를 조절할 수 있게 되어 있고, 예를 들어 기판 (S) 의 부상량에 따라 진공 패드 (23b) 의 높이 위치를 상하 이동시킬 수 있도록 되어 있다. 레일 (23c) 은, 반입측 스테이지 (25), 처리 스테이지 (27) 및 반출측 스테이지 (28) 의 측방에 각 스테이지에 걸쳐 연장되어 있고, 당해 레일 (23c) 을 슬라이딩함으로써 반송기 (23a) 가 당해 각 스테이지를 따라 이동할 수 있도록 되어 있다. 또한, 반송 기구 (23) 의 각 부의 동작은 도시를 생략한 제어부에 의해 제어되도록 되어 있다.The vacuum pad 23b is arranged in multiple numbers in the part 23d which overlaps with the said board | substrate S in the conveyer 23a. This vacuum pad 23b has the adsorption surface which vacuum-adsorbs the board | substrate S, and is arrange | positioned so that the said adsorption surface may face upward. The vacuum pad 23b can hold | maintain the said board | substrate S by the adsorption surface attracting the back surface edge part of the board | substrate S. As shown in FIG. Each vacuum pad 23b can adjust the height position from the upper surface of the conveyer 23a, and can move the height position of the vacuum pad 23b up and down according to the floating amount of the board | substrate S, for example. It is supposed to be. The rail 23c extends over each stage to the side of the carry-in stage 25, the processing stage 27, and the carry-out stage 28, and the conveyer 23a is made by sliding the said rail 23c. It is possible to move along each said stage. In addition, the operation | movement of each part of the conveyance mechanism 23 is controlled by the control part not shown.

(도포부)(Application department)

다음으로, 도포부 (3) 의 구성을 설명한다. Next, the structure of the application part 3 is demonstrated.

도포부 (3) 는, 기판 (S) 상에 레지스트를 도포하는 부분으로, 문형 (門型) 프레임 (31) 과 노즐 (32) 을 갖고 있다. The application part 3 is a part which apply | coats a resist on the board | substrate S, and has the sentence frame 31 and the nozzle 32. As shown in FIG.

문형 프레임 (31) 은, 지지기둥 부재 (31a) 와 가교 부재 (31b) 를 갖고 있고, 처리 스테이지 (27) 를 Y 방향으로 걸치도록 형성되어 있다. 지지기둥 부재 (31a) 는 처리 스테이지 (27) 의 Y 방향측에 1 개씩 형성되어 있고, 각 지지기 둥 부재 (31a) 가 프레임부 (24) 의 Y 방향측의 양 측면에 각각 지지되어 있다. 각 지지기둥 부재 (31a) 는, 상단부의 높이 위치가 일치되도록 형성되어 있다. 가교 부재 (31b) 는, 각 지지기둥 부재 (31a) 의 상단부 사이에 가교되어 있고, 당해 지지기둥 부재 (31a) 에 대하여 승강할 수 있게 되어 있다. The sentence frame 31 has the support column member 31a and the bridge | crosslinking member 31b, and is formed so that the process stage 27 may be hung in the Y direction. One support column member 31a is formed on the Y-direction side of the processing stage 27, and each support column member 31a is supported on both side surfaces of the frame portion 24 on the Y-direction side, respectively. Each support pillar member 31a is formed so that the height position of an upper end part may correspond. The bridge | crosslinking member 31b is bridge | crosslinked between the upper end parts of each support pillar member 31a, and it is possible to raise / lower the said support pillar member 31a.

이 문형 프레임 (31) 은 이동 기구 (31c) 에 접속되어 있고, X 방향으로 이동할 수 있게 되어 있다. 이 이동 기구 (31c) 에 의해 문형 프레임 (31) 이 관리부 (4) 와의 사이에서 이동할 수 있게 되어 있다. 즉, 문형 프레임 (31) 에 형성된 노즐 (32) 이 관리부 (4) 와의 사이에서 이동할 수 있게 되어 있다. 또, 이 문형 프레임 (31) 은, 도시를 생략한 이동 기구에 의해 Z 방향으로도 이동할 수 있게 되어 있다. This door-shaped frame 31 is connected to the moving mechanism 31c, and can move to an X direction. This moving mechanism 31c allows the door frame 31 to move between the management part 4. That is, the nozzle 32 formed in the door frame 31 is able to move between the management part 4. Moreover, this door-shaped frame 31 can move also in a Z direction by the movement mechanism not shown.

노즐 (32) 은, 일 방향이 길이가 긴 장척 형상으로 구성되어 있고, 문형 프레임 (31) 의 가교 부재 (31b) 의 -Z 방향측의 면에 형성되어 있다. 이 노즐 (32) 중 -Z 방향의 선단에는, 자신의 길이 방향을 따라 슬릿상의 개구부 (32a) 가 형성되어 있고, 당해 개구부 (32a) 로부터 레지스트가 토출되도록 되어 있다. 노즐 (32) 은, 개구부 (32a) 의 길이 방향이 Y 방향으로 평행이 됨과 함께, 당해 개구부 (32a) 가 처리 스테이지 (27) 에 대향하도록 배치되어 있다. 개구부 (32a) 의 길이 방향의 치수는 반송되는 기판 (S) 의 Y 방향의 치수보다 작게 되어 있고, 기판 (S) 의 주변 영역에 레지스트가 도포되지 않도록 되어 있다. 노즐 (32) 의 내부에는 레지스트를 개구부 (32a) 에 유통시키는 도시를 생략한 유통로가 형성되어 있고, 이 유통로에는 도시를 생략한 레지스트 공급원이 접속되어 있다. 이 레지스트 공급원은 예를 들어 도시를 생략한 펌프를 갖고 있고, 당해 펌프로 레지스트를 개구부 (32a) 로 밀어냄으로써 개구부 (32a) 로부터 레지스트가 토출되도록 되어 있다. 지지 부재 (31a) 에는 도시가 생략된 이동 기구가 형성되어 있고, 당해 이동 기구에 의해 가교 부재 (31b) 에 유지된 노즐 (32) 이 Z 방향으로 이동할 수 있게 되어 있다. 노즐 (32) 에는 도시를 생략한 이동 기구가 형성되어 있고, 당해 이동 기구에 의해 노즐 (32) 이 가교 부재 (31b) 에 대해 Z 방향으로 이동할 수 있게 되어 있다. 문형 프레임 (31) 의 가교 부재 (31b) 의 하면에는 노즐 (32) 의 개구부 (32a), 즉, 노즐 (32) 의 선단과 당해 노즐 선단에 대향하는 대향면의 사이의 Z 방향 상의 거리를 측정하는 센서 (33) 가 장착되어 있다. The nozzle 32 is comprised in the elongate shape of one long direction, and is formed in the surface of the cross-sectional member 31b of the sentence frame 31 at the side of the -Z direction. At the tip of the nozzle 32 in the -Z direction, a slit-like opening 32a is formed along its longitudinal direction, and a resist is discharged from the opening 32a. The nozzle 32 is arrange | positioned so that the longitudinal direction of the opening part 32a may become parallel to a Y direction, and the said opening part 32a opposes the processing stage 27. As shown in FIG. The dimension of the longitudinal direction of the opening part 32a is smaller than the dimension of the Y direction of the board | substrate S to be conveyed, and the resist is not apply | coated to the peripheral area of the board | substrate S. FIG. A flow passage (not shown) for circulating the resist in the opening 32a is formed inside the nozzle 32, and a resist supply source (not shown) is connected to the flow path. This resist supply source has a pump (not shown), for example, and the resist is discharged from the opening 32a by pushing the resist into the opening 32a with the pump. A moving mechanism (not shown) is formed in the supporting member 31a, and the nozzle 32 held by the crosslinking member 31b can move in the Z direction by the moving mechanism. A moving mechanism (not shown) is formed in the nozzle 32, and the moving mechanism enables the nozzle 32 to move in the Z direction with respect to the crosslinking member 31b. On the lower surface of the crosslinked member 31b of the door-shaped frame 31, the distance in the Z direction between the opening 32a of the nozzle 32, that is, the front end of the nozzle 32 and the opposing surface opposite to the front end of the nozzle is measured. The sensor 33 is attached.

(관리부)(Management)

관리부 (4) 의 구성을 설명한다. The structure of the management part 4 is demonstrated.

관리부 (4) 는, 기판 (S) 에 토출되는 레지스트 (액상체) 의 토출량이 일정해지도록 노즐 (32) 을 관리하는 부위로서, 기판 반송부 (2) 중에서 도포부 (3) 에 대하여 -X 방향측 (기판 반송 방향의 상류측) 에 형성되어 있다. 이 관리부 (4) 는, 예비 토출 기구 (41) 와, 노즐 세정 장치 (43) 와, 이들을 수용하는 수용부 (44) 와, 당해 수용부를 유지하는 유지 부재 (45) 를 갖고 있다. 유지 부재 (45) 는, 이동 기구 (45a) 에 접속되어 있다. 당해 이동 기구 (45a) 에 의해, 수용부 (44) 가 X 방향으로 이동할 수 있게 되어 있다. The management part 4 is a site | part which manages the nozzle 32 so that the discharge amount of the resist (liquid body) discharged to the board | substrate S may become constant, and -X with respect to the application | coating part 3 in the board | substrate conveyance part 2 is -X. It is formed in the direction side (upstream side of a board | substrate conveyance direction). This management part 4 has the preliminary discharge mechanism 41, the nozzle cleaning apparatus 43, the accommodating part 44 which accommodates these, and the holding member 45 which hold | maintains this accommodating part. The holding member 45 is connected to the moving mechanism 45a. By the said movement mechanism 45a, the accommodating part 44 is able to move to a X direction.

예비 토출 기구 (41), 딥조 (42) 및 노즐 세정 장치 (43) 는, -X 방향측으로 이 순서로 배열되어 있다. 이들 예비 토출 기구 (41), 딥조 (42) 및 노즐 세정 장치 (43) 의 Y 방향의 각 치수는 상기 문형 프레임 (31) 의 지지기둥 부재 (31a) 사이의 거리보다 작게 되어 있고, 상기 문형 프레임 (31) 이 각 부위를 걸쳐서 액세스할 수 있도록 되어 있다. The preliminary ejection mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle cleaning device 43 are arranged in this order on the -X direction side. Each dimension of the preliminary discharge mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle cleaning device 43 in the Y direction is smaller than the distance between the support column members 31a of the sentence frame 31, and the sentence frame (31) It is possible to access over each site | part.

예비 토출 기구 (41) 는, 레지스트를 예비적으로 토출하는 부분이다. 당해 예비 토출 기구 (41) 는 노즐 (32) 에 가장 가깝게 형성되어 있다. 딥조 (42) 는, 내부에 시너 등의 용제가 저류된 액체 조이다. 노즐 세정 장치 (43) 는, 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 근방을 린스 세정하는 장치로서, Y 방향으로 이동하는 도시를 생략한 세정 기구와, 당해 세정 기구를 이동시키는 도시를 생략한 이동 기구를 갖고 있다. 이 이동 기구는, 세정 기구보다 -X 방향측에 형성되어 있다. 노즐 세정 장치 (43) 는, 이동 기구가 형성되는 만큼, 예비 토출 기구 (41) 및 딥조 (42) 에 비해 X 방향의 치수가 커져 있다. 또한, 예비 토출 기구 (41), 딥조 (42), 노즐 세정 장치 (43) 의 배치에 대해서는 본 실시형태의 배치에 한정되지 않고, 다른 배치이어도 상관없다. The preliminary ejection mechanism 41 is a part which ejects a resist preliminarily. The preliminary ejection mechanism 41 is formed nearest to the nozzle 32. The dip tank 42 is a liquid tank in which solvent, such as thinner, was stored inside. The nozzle cleaning device 43 is a device for rinsing and cleaning the vicinity of the opening 32a of the nozzle 32. The nozzle cleaning device 43 includes a cleaning mechanism not shown to move in the Y direction, and a moving mechanism not shown to move the cleaning mechanism. Have This movement mechanism is formed in the -X direction side rather than the washing | cleaning mechanism. The nozzle cleaning device 43 has a larger X-direction dimension than the preliminary discharge mechanism 41 and the dip tank 42 as long as the moving mechanism is formed. In addition, the arrangement | positioning of the preliminary discharge mechanism 41, the dip tank 42, and the nozzle cleaning apparatus 43 is not limited to the arrangement | positioning of this embodiment, and other arrangement | positioning may be sufficient.

(처리 스테이지)(Processing stage)

도 5 는 기판 처리부 (2) 의 처리 스테이지 (27) 의 에어 분출 기구·흡인 기구의 구성을 나타내는 도면이다. 동 도면에 기초하여, 상기 스테이지의 에어 분출 및 에어 흡인에 관한 구성을 설명한다.FIG. 5: is a figure which shows the structure of the air blowing mechanism and the suction mechanism of the processing stage 27 of the board | substrate processing part 2. FIG. Based on the same figure, the structure regarding the air blowing and air suction of the said stage is demonstrated.

처리 스테이지 (27) 에는, 에어 분출 기구 (60) 와, 흡인 기구 (70) 와, 제어부 (제어 수단) (100) 가 형성되어 있다.In the processing stage 27, an air blowing mechanism 60, a suction mechanism 70, and a control unit (control means) 100 are formed.

에어 분출 기구 (60) 는 블로어 (61) 와, 버퍼 탱크 (62) 와, 오토 프레셔 컨트롤러 (APC) (63) 와, 매니폴드 (64) 와, 분출압 감시 포트 (65) 를 갖고 있다.The air blowing mechanism 60 has a blower 61, a buffer tank 62, an auto pressure controller (APC) 63, a manifold 64, and a blowing pressure monitoring port 65.

블로어 (61) 는 에어 분출 기구에 에어를 공급하는 에어 공급원이고, 배관 (60a) 에 의해 버퍼 탱크 (62) 에 접속되어 있다. 에어 공급원으로서 블로어 (61) 대신에 공장 등의 에어 공급 라인을 접속해도 된다. 버퍼 탱크 (62) 는 예를 들어, 공급되는 에어의 온도가 일정하게 유지되도록 구성되어 있고, 배관 (60b) 에 의해 APC (63) 에 접속되어 있다.The blower 61 is an air supply source for supplying air to the air blowing mechanism, and is connected to the buffer tank 62 by a pipe 60a. As an air supply source, an air supply line such as a factory may be connected instead of the blower 61. The buffer tank 62 is comprised so that the temperature of the air supplied may be kept constant, for example, and is connected to the APC 63 by the piping 60b.

APC (63) 는 에어의 공급량을 조절하는 버터플라이 밸브 (63a) 와 컨트롤러 (63b) 가 형성되어 있다. 매니폴드 (64) 는 배관 (60c) 에 의해 처리 스테이지 (27) 에 접속되어 있다. 배관 (60c) 은 처리 스테이지 (27) 측이 분기되어 있고, 당해 분기 부분이 상기 복수의 홈의 하나하나에 각각 접속되어 있다. 따라서, APC (63) 로부터의 에어는 배관 (60c) 및 복수의 홈을 통하여 에어 분출 구멍 (27a) 으로부터 분출되도록 되어 있다. The APC 63 is provided with the butterfly valve 63a and the controller 63b which adjust the supply amount of air. The manifold 64 is connected to the processing stage 27 by the piping 60c. In the piping 60c, the process stage 27 side is branched, and the said branch part is respectively connected to each of the said some groove | channel. Therefore, the air from the APC 63 is blown out of the air blowing holes 27a through the pipe 60c and the plurality of grooves.

또, 매니폴드 (64) 는 배관 (60f) 에 의해 APC (63) 에 접속되어 있다. 또한, 이 매니폴드 (64) 가 형성되지 않은 구성이어도 된다.In addition, the manifold 64 is connected to the APC 63 by a pipe 60f. Moreover, the structure which this manifold 64 is not formed may be sufficient.

분출압 감시 포트 (65) 는 배관 (60e) 에 의해 처리 스테이지 (27) 에 접속되어 있다. 구체적으로는, 배관 (60e) 이 상기 복수의 홈에 접속되어 있고, 당해 배관 (60e) 및 홈을 통하여 분출압 감시 포트 (65) 가 처리 스테이지 (27) 의 에어 분출 구멍 (27a) 에 접속되어 있다. 이 구성에 있어서, 배관 (60e) 은 당해 복수의 홈을 통하여 배관 (60c) 에 접속되어 있는 것이 된다. 분출압 감시 포트 (65) 는 상기 홈에 압력 검지용 포토가 형성된 구성으로 되어 있고, 이 압력 검지용 포트에 의해 스테이지 바로 아래의 기체 압력을 검출할 수 있게 되어 있다. 분출압 감시 포트 (65) 에는 압력계 (66) 가 형성되어 있고, 에어 분출 구멍 (27a) 으로부터 분출되는 에어의 분출압을 측정할 수 있게 되어 있음과 함께, 측정 결과가 전선 (60d) 을 통하여 APC (63) 내의 컨트롤러 (63b) 로 송신되게 되어 있다. 또, 각 배관 (60a) ∼ 배관 (60c) 및 배관 (60e) 에는 각종 밸브가 형성되어 있다. 또, APC (63) 와 에어 분출 구멍 (27a) 사이에 압력계를 형성하고, 측정 결과를 APC (63) 내의 컨트롤러 (63b) 에 송신하도록 해도 된다. The jet pressure monitoring port 65 is connected to the processing stage 27 by the piping 60e. Specifically, the pipe 60e is connected to the plurality of grooves, and the blowing pressure monitoring port 65 is connected to the air blowing hole 27a of the processing stage 27 through the pipe 60e and the groove. have. In this configuration, the pipe 60e is connected to the pipe 60c via the plurality of grooves. The ejection pressure monitoring port 65 has a configuration in which a pressure detecting port is formed in the groove, and the pressure detecting port can detect the gas pressure directly under the stage. A pressure gauge 66 is formed in the jet pressure monitoring port 65, and the jet pressure of the air blown out from the air jet hole 27a can be measured, and the measurement result is APC through the wire 60d. It is supposed to be transmitted to the controller 63b in 63. In addition, various valves are formed in each of the pipes 60a to 60c and the pipe 60e. In addition, a pressure gauge may be provided between the APC 63 and the air blowing hole 27a to transmit the measurement result to the controller 63b in the APC 63.

흡인 기구 (70) 는 블로어 (71) 와, 오토 압력 컨트롤러 (APC) (72) 와, 드레인 (73) 과, 매니폴드 (74) 와, 흡인압 감시 포트 (75) 를 갖고 있다. 블로어 (71), APC (72), 드레인부 (73), 매니폴드 (74) 는 서로 배관 (70a ∼ 70d) 에 의해 각각 접속되어 있고, 각 배관 (70a ∼ 70d) 에는 각종 밸브가 장착되어 있다. 또한, 블로어 (71) 대신에 공장 등의 에어 흡인 라인을 사용해도 된다. 또, 매니폴드 (74) 가 형성되지 않은 구성이어도 상관없다. APC (72) 는 에어의 공급량을 조절하는 버터플라이 밸브 (72a) 와 컨트롤러 (72b) 가 형성되어 있다.The suction mechanism 70 has a blower 71, an auto pressure controller (APC) 72, a drain 73, a manifold 74, and a suction pressure monitoring port 75. The blower 71, the APC 72, the drain portion 73, and the manifold 74 are connected to each other by pipes 70a to 70d, and various valves are attached to each pipe 70a to 70d. . Instead of the blower 71, an air suction line such as a factory may be used. Moreover, the structure in which the manifold 74 is not formed may be sufficient. The APC 72 is provided with the butterfly valve 72a and the controller 72b which adjust the supply amount of air.

드레인부 (73) 는 버퍼 탱크 (73a) 와, 배출관 (73b) 과, 배출 밸브 (73c) 와, 센서 (제 1 센서) (73d) 를 갖고 있다. 버퍼 탱크 (73a) 는 처리 스테이지 (27) 로부터 흡인된 흡인물을 저류하는 탱크이다. 배출관 (73b) 은 버퍼 탱크 (73a) 에 저류된 저류물을 당해 버퍼 탱크 (73a) 로부터 배출할 때의 배출로이다. 배출 밸브 (73c) 는 배출관 (73b) 에 장착되어 있고, 버퍼 탱크 (73a) 내에 저류된 저류물 배출의 온·오프를 전환하는 밸브이다. 센서 (73d) 는 버퍼 탱크 (73a) 에 장착되어 있고, 버퍼 탱크 (73a) 내에 흡인물이 공급되었는지의 여부를 검출하는 센서이다. 또한 이 센서 (73d) 는 버퍼 탱크 (73a) 내의 저류물의 양을 검출할 수도 있게 되어 있다. 센서 (73d) 의 검출 결과 (흡인물의 유무, 저류물의 양) 는 제어부 (100) 에 송신되게 되어 있다. The drain portion 73 has a buffer tank 73a, a discharge pipe 73b, a discharge valve 73c, and a sensor (first sensor) 73d. The buffer tank 73a is a tank for storing suction sucked from the processing stage 27. The discharge pipe 73b is a discharge path at the time of discharging the stored matter stored in the buffer tank 73a from the buffer tank 73a. The discharge valve 73c is attached to the discharge pipe 73b and is a valve for switching on and off of the discharge of the stored matter stored in the buffer tank 73a. The sensor 73d is attached to the buffer tank 73a, and is a sensor that detects whether or not suction is supplied into the buffer tank 73a. The sensor 73d can also detect the amount of debris in the buffer tank 73a. The detection result of the sensor 73d (the presence or absence of the aspirate and the amount of the stored matter) is transmitted to the controller 100.

흡인압 감시 포트 (75) 는 배관 (70e) 에 의해 처리 스테이지 (27) 에 접속되어 있다. 구체적으로는, 배관 (70e) 이 상기 복수의 홈에 접속되어 있고, 당해 배관 (70e) 및 홈을 통하여 흡인압 감시 포트 (75) 가 처리 스테이지 (27) 의 에어 흡인 구멍 (27b) 에 접속되어 있다. 또, 배관 (70e) 은 당해 복수의 홈을 통하여 배관 (70d) 에 접속되어 있는 것이 된다. 흡인압 감시 포트 (75) 는 상기 복수의 홈에 압력 검지용 포트가 접속된 구성으로 되어 있고, 이 압력 검지용의 포트에 의해 처리 스테이지 (27) 의 바로 아래의 기체 압력을 검출할 수 있게 되어 있다. 흡인압 감시 포트 (75) 에는 압력계 (76) 가 장착되어 있고, 에어 흡인 구멍 (27b) 에 의해 흡인되는 에어의 흡인압을 측정할 수 있게 되어 있음과 함께, 측정 결과가 APC (72) 내의 컨트롤러 (72b) 에 송신되게 되어 있다. APC (72) 와 에어 흡인 구멍 (27b) 사이에 압력계를 형성하고, 측정 결과를 APC (72) 내의 컨트롤러 (72b) 에 전선 (도면에 파선으로 나타냄) 등을 통하여 송신하도록 해도 된다.The suction pressure monitoring port 75 is connected to the processing stage 27 by the piping 70e. Specifically, the pipe 70e is connected to the plurality of grooves, and the suction pressure monitoring port 75 is connected to the air suction hole 27b of the processing stage 27 through the pipe 70e and the groove. have. In addition, the pipe 70e is connected to the pipe 70d via the plurality of grooves. The suction pressure monitoring port 75 is configured such that a pressure detecting port is connected to the plurality of grooves, and the pressure detecting port can detect the gas pressure immediately below the processing stage 27. have. A pressure gauge 76 is attached to the suction pressure monitoring port 75, and the suction pressure of the air sucked by the air suction hole 27b can be measured, and the measurement result is the controller in the APC 72. It is supposed to be transmitted to 72b. A pressure gauge may be provided between the APC 72 and the air suction hole 27b, and the measurement result may be transmitted to the controller 72b in the APC 72 via a wire (shown by broken lines in the figure) or the like.

배관 (60f) 과 배관 (70c) 사이에는 전환 밸브 (80) 가 형성되어 있다. 전환 밸브 (80) 는 에어 분출 기구 (60) 와 에어 흡인 기구 (70) 을 전환할 수 있게 되어 있다. 또, 처리 스테이지 (27) 에는 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡 인 구멍 (27b) 으로부터의 에어의 분출량, 흡인량을 검출하는 센서 (27d) 와, 당해 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 의 내부에 세정액을 공급하기 위한 세정액 공급부 (81) 가 형성되어 있다. The switching valve 80 is formed between the pipe 60f and the pipe 70c. The switching valve 80 is able to switch between the air blowing mechanism 60 and the air suction mechanism 70. Further, the processing stage 27 includes a sensor 27d which detects the amount of air ejected from the air ejection hole 27a and the air suction hole 27b and the amount of suction, and the air ejection hole 27a and the air suction. The cleaning liquid supply part 81 for supplying a cleaning liquid inside the hole 27b is formed.

제어부 (100) 는 상기 당해 에어 분출 기구 (60) 및 흡인 기구 (70) 의 동작을 통괄적으로 제어한다. 예를 들어, 블로어 (61) 및 블로어 (71) 의 온·오프를 전환할 수 있게 되어 있다. 또, 드레인부 (73) 의 센서 (73d) 로부터 송신된 저류물의 양에 기초하여 밸브 (73c) 의 개도를 조절하게 되어 있다. 또, 제어부 (100) 는 센서 (73d) 로부터 송신된 흡인물의 유무에 관한 검출 결과에 기초하여, 에어 분출 동작 및 흡인 동작을 실시하거나 정지시키도록 되어도 있다.The control part 100 controls the operation | movement of the said air blowing mechanism 60 and the suction mechanism 70 collectively. For example, the blower 61 and the blower 71 can be switched on and off. Moreover, the opening degree of the valve 73c is adjusted based on the quantity of the storage material transmitted from the sensor 73d of the drain part 73. FIG. Moreover, the control part 100 may perform an air blowing operation | movement and a suction operation | movement or stop based on the detection result regarding the presence or absence of the suction object transmitted from the sensor 73d.

다음으로, 상기와 같이 구성된 도포 장치 (1) 의 동작을 설명한다. Next, operation | movement of the coating device 1 comprised as mentioned above is demonstrated.

도 6 ∼ 도 9 는, 도포 장치 (1) 의 동작 과정을 나타내는 평면도이다. 각 도면을 참조하여, 기판 (S) 에 레지스트를 도포하는 동작을 설명한다. 이 동작에서는, 기판 (S) 을 기판 반입 영역 (20) 에 반입하고, 당해 기판 (S) 을 부상시켜 반송하면서 도포 처리 영역 (21) 에서 레지스트를 도포하고, 당해 레지스트를 도포한 기판 (S) 을 기판 반출 영역 (22) 으로부터 반출한다. 도 6 ∼ 도 9 에는 문형 프레임 (31) 의 윤곽만을 파선으로 나타내어, 노즐 (32) 및 처리 스테이지 (27) 의 구성을 판별하기 쉽게 하였다. 이하, 각 부분에 있어서의 상세한 동작을 설명한다. 6-9 is a top view which shows the operation process of the coating device 1. With reference to each drawing, the operation | movement which apply | coats a resist to the board | substrate S is demonstrated. In this operation, the board | substrate S is carried in the board | substrate carrying-in area | region 20, the resist is apply | coated in the coating process area | region 21, floating and conveying the said board | substrate S, and the board | substrate S which apply | coated this resist was applied. Is carried out from the substrate carrying-out area 22. 6-9, only the outline of the sentence frame 31 was shown with the broken line, and it was easy to distinguish the structure of the nozzle 32 and the processing stage 27. As shown in FIG. The detailed operation in each part is described below.

기판 반입 영역 (20) 에 기판을 반입하기 전에, 도포 장치 (1) 를 스탠바이시켜 둔다. 구체적으로는, 반입측 스테이지 (25) 의 기판 반입 위치의 -Y 방향 측에 반송기 (23a) 를 배치시키고, 진공 패드 (23b) 의 높이 위치를 기판의 부상 높이 위치에 맞추어 둠과 함께, 반입측 스테이지 (25) 의 에어 분출 구멍 (25a), 처리 스테이지 (27) 의 에어 분출 구멍 (27a), 에어 흡인 구멍 (27b) 및 반출측 스테이지 (28) 의 에어 분출 구멍 (28a) 으로부터 각각 에어를 분출 또는 흡인하여, 각 스테이지 표면에 기판이 부상할 정도로 에어가 공급된 상태로 해 둔다. Before carrying in a board | substrate to the board | substrate carrying-in area 20, the coating device 1 is standby. Specifically, the conveyer 23a is arrange | positioned at the -Y direction side of the board | substrate carrying-in position of the carry-in side stage 25, carrying the height position of the vacuum pad 23b to the floating height position of a board | substrate, and carrying in Air is blown out from the air blowing hole 25a of the side stage 25, the air blowing hole 27a of the processing stage 27, the air suction hole 27b, and the air blowing hole 28a of the carrying out side stage 28, respectively. It blows off or aspirates, and it is made to supply the air so that a board | substrate may float on the surface of each stage.

이 상태에서, 예를 들어 도시를 생략한 반송 아암 등에 의해 외부로부터 도 6 에 나타내는 기판 반입 위치에 기판 (S) 이 반송되어 오면, 승강 부재 (26a) 를 +Z 방향으로 이동시켜, 승강 핀 (26b) 을 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 으로부터 스테이지 표면 (25c) 으로 돌출시킨다. 그리고, 승강 핀 (26b) 에 의해 기판 (S) 이 들어 올려져, 당해 기판 (S) 의 수취가 이루어진다. In this state, when the board | substrate S is conveyed to the board | substrate carrying-in position shown in FIG. 6 from the exterior by the conveyance arm etc. which omit illustration, for example, the lifting member 26a is moved to + Z direction, and the lifting pin 26b ) Is projected from the lift pin projection hole 25b to the stage surface 25c. And the board | substrate S is lifted by the lifting pin 26b, and the said board | substrate S is received.

기판 (S) 을 수취한 후, 승강 부재 (26a) 를 하강시켜 승강 핀 (26b) 을 승강 핀 출몰 구멍 (25b) 내에 수용한다. 이 때 스테이지 표면 (25c) 에는 에어의 층이 형성되어 있기 때문에, 기판 (S) 은 당해 에어에 의해 스테이지 표면 (25c) 에 대하여 부상된 상태로 유지된다. 기판 (S) 이 에어층의 표면에 도달했을 때, 얼라이먼트 장치 (25d) 의 위치 맞춤 부재에 의해 기판 (S) 의 위치 맞춤이 이루어지고, 기판 반입 위치의 -Y 방향측에 배치된 반송기 (23a) 의 진공 패드 (23b) 를 기판 (S) 의 -Y 방향측 단부에 진공 흡착시킨다. 기판 (S) 의 -Y 방향측 단부가 흡착된 상태를 도 6 에 나타낸다. After receiving the board | substrate S, the lifting member 26a is lowered and the lifting pin 26b is accommodated in the lifting pin projection hole 25b. At this time, since the layer of air is formed in the stage surface 25c, the board | substrate S is hold | maintained in the state which floated with respect to the stage surface 25c by the said air. When the board | substrate S reaches the surface of an air layer, the carrier of the board | substrate S is aligned by the positioning member of the alignment apparatus 25d, and the conveyance machine arrange | positioned at the -Y direction side of a board | substrate loading position ( The vacuum pad 23b of 23a) is vacuum-suctioned to the edge part at the side of -Y direction of the board | substrate S. FIG. The state to which the edge part at the side of -Y direction of the board | substrate S was adsorb | sucked is shown in FIG.

진공 패드 (23b) 에 의해 기판 (S) 의 -Y 방향측 단부가 흡착된 후, 반송기 (23a) 를 레일 (23c) 을 따라 처리 스테이지 (27) 로 이동시킨다. 기판 (S) 이 부상된 상태가 되었기 때문에, 반송기 (23a) 의 구동력을 비교적 작게 해도 기판 (S) 은 레일 (23c) 을 따라 순조롭게 이동한다. 처리 스테이지 (27) 에서는 에어 분출 구멍 (27a) 에 의한 에어 분출에 더하여 에어 흡인 구멍 (27b) 에 의한 에어 흡인이 실시되고 있어, 보다 고정밀도로 부상량이 조정된다.After the -Y direction side edge part of the board | substrate S is adsorbed by the vacuum pad 23b, the conveyer 23a is moved to the process stage 27 along the rail 23c. Since the board | substrate S has floated, even if the drive force of the conveyer 23a is made relatively small, the board | substrate S will move smoothly along the rail 23c. In the processing stage 27, the air suction by the air suction hole 27b is performed in addition to the air blowing by the air blowing hole 27a, and the floating amount is adjusted more accurately.

기판 (S) 의 반송 방향 선단이 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 의 위치에 도달하면, 도 7 에 나타내는 바와 같이, 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 로부터 기판 (S) 을 향하여 레지스트를 토출한다. 레지스트의 토출은, 노즐 (32) 의 위치를 고정시켜 반송기 (23a) 에 의해 기판 (S) 을 반송시키면서 실시한다. When the conveyance direction front end of the board | substrate S reaches the position of the opening part 32a of the nozzle 32, as shown in FIG. 7, the resist is discharged toward the board | substrate S from the opening part 32a of the nozzle 32. As shown in FIG. do. Discharge of a resist is performed, fixing the position of the nozzle 32, and conveying the board | substrate S by the conveyer 23a.

기판 (S) 의 이동에 수반하여, 도 8 에 나타내는 바와 같이 기판 (S) 상에 레지스트막 (R) 이 도포되어 간다. 기판 (S) 이 레지스트를 토출하는 개구부 (32a) 의 아래를 통과함으로써, 기판 (S) 의 소정 영역에 레지스트막 (R) 이 형성된다. With the movement of the board | substrate S, the resist film R is apply | coated on the board | substrate S as shown in FIG. The resistive film R is formed in the predetermined area | region of the board | substrate S by the board | substrate S passing under the opening part 32a which discharges a resist.

기판 (S) 에 레지스트 (R) 를 도포하기 전에, 가교 부재 (31b) 에 장착된 2 개의 레이저 센서 (33) 에 의해 기판 (S) 과 노즐 (32) 선단부의 Z 방향 상의 거리 (도포 갭) 를 산출한다. 이 산출 결과에 기초하여, 당해 도포 갭이 미리 설정된 소정의 값이 되도록 지지 부재 (31a) 에 형성된 이동 기구에 의해 도포 갭을 조정한다. 도포 갭의 산출시에는, 레이저 사출부로부터 기판 (S) 을 향하여 레이저 광이 사출되고, 기판 (S) 의 표면에서 레이저 광이 반사되어 레이저 수광부에 입사된다. 처리 스테이지 (27) 의 스테이지 표면 (27c) 이 광 흡수 재료인 경질 알루마이트로 덮여 있기 때문에, 레이저 광은 스테이지 표면 (27c) 에서 반사되 지 않고, 기판 (S) 의 표면에서 반사된 광만이 레이저 수광부에 입사되게 된다. 기판 (S) 에 레지스트를 도포가 실시되는 동안, 가교 부재 (31b) 에 장착된 2 개의 레이저 센서 (33) 에 의해 기판 (S) 의 Y 방향의 양단부의 부상량을 각각 측정한다. 레이저 사출부로부터 기판 (S) 을 향하여 레이저 광이 사출되고, 기판 (S) 의 표면에서 레이저 광이 반사되어 레이저 수광부에 입사된다. 처리 스테이지 (27) 의 스테이지 표면 (27c) 이 광 흡수 재료인 경질 알루마이트로 덮여 있기 때문에, 레이저 광은 스테이지 표면 (27c) 에서 반사되지 않고, 기판 (S) 의 표면에서 반사된 광만이 레이저 수광부에 입사되게 된다. Before applying the resist R to the substrate S, the distance on the Z direction of the front end of the substrate S and the nozzle 32 by two laser sensors 33 attached to the crosslinking member 31b (coating gap) Calculate Based on this calculation result, an application | coating gap is adjusted with the moving mechanism provided in the support member 31a so that the said application | coating gap may become predetermined value preset. At the time of calculating the coating gap, laser light is emitted from the laser emitting part toward the substrate S, and the laser light is reflected from the surface of the substrate S to enter the laser receiving part. Since the stage surface 27c of the processing stage 27 is covered with hard alumite, which is a light absorbing material, the laser light is not reflected at the stage surface 27c, and only the light reflected at the surface of the substrate S is the laser light receiving portion. Will be incident on. While the resist is applied to the substrate S, the floating amounts of both ends of the substrate S in the Y direction are measured by the two laser sensors 33 attached to the crosslinking member 31b, respectively. The laser light is emitted from the laser emitting part toward the substrate S, and the laser light is reflected on the surface of the substrate S to enter the laser receiving part. Since the stage surface 27c of the processing stage 27 is covered with hard alumite, which is a light absorbing material, the laser light is not reflected at the stage surface 27c, and only the light reflected at the surface of the substrate S is applied to the laser receiver. Will be incident.

레지스트막 (R) 이 형성된 기판 (S) 은, 반송기 (23a) 에 의해 반출측 스테이지 (28) 로 반송된다. 반출측 스테이지 (28) 에서는, 스테이지 표면 (28c) 에 대하여 부상된 상태에서, 도 9 에 나타내는 기판 반출 위치까지 기판 (S) 이 반송된다.The board | substrate S in which the resist film R was formed is conveyed to the carrying out side stage 28 by the conveyer 23a. In the carrying out side stage 28, the board | substrate S is conveyed to the board | substrate carrying out position shown in FIG. 9 in the state floated with respect to the stage surface 28c.

기판 (S) 이 기판 반출 위치에 도달하면, 진공 패드 (23b) 의 흡착을 해제하고, 리프트 기구 (29) 의 승강 부재 (29a) 를 +Z 방향으로 이동시킨다. 그러면, 승강 핀 (29b) 이 승강 핀 출몰 구멍 (28b) 으로부터 기판 (S) 의 이면으로 돌출되어, 기판 (S) 이 승강 핀 (29b) 에 의해 들어 올려진다. 이 상태에서, 예를 들어 반출측 스테이지 (28) 의 +X 방향측에 형성된 외부의 반송 아암이 반출측 스테이지 (28) 에 액세스하여, 기판 (S) 을 수취한다. 기판 (S) 을 반송 아암에 건네준 후, 반송기 (23a) 를 다시 반입측 스테이지 (25) 의 기판 반입 위치까지 되돌려, 다음 기판 (S) 이 반송될 때까지 대기시킨다. When the board | substrate S reaches | attains the board | substrate carrying out position, suction of the vacuum pad 23b is canceled | released and the lifting member 29a of the lift mechanism 29 is moved to + Z direction. Then, the lifting pin 29b protrudes from the lifting pin projection hole 28b to the back surface of the substrate S, and the substrate S is lifted by the lifting pin 29b. In this state, the external conveyance arm formed in the + X direction side of the carrying out stage 28, for example, accesses the carrying out stage 28, and receives the board | substrate S. FIG. After passing the board | substrate S to a conveyance arm, the conveyer 23a is returned to the board | substrate carrying-in position of the loading side stage 25 again, and it waits until the next board | substrate S is conveyed.

다음 기판 (S) 이 반송되어 올 때까지 동안, 도포부 (3) 에서는, 노즐 (32) 의 토출 상태를 유지하기 위한 예비 토출이 실시된다. 도 10 에 나타내는 바와 같이, 이동 기구 (31) 에 의해 문형 프레임 (31) 을 관리부 (4) 의 위치까지 -X 방향으로 이동시킨다. The preliminary ejection for maintaining the ejection state of the nozzle 32 is performed in the application part 3 until the next board | substrate S is conveyed. As shown in FIG. 10, the moving mechanism 31 moves the sentence frame 31 to the position of the management part 4 in the -X direction.

관리부 (4) 의 위치까지 문형 프레임 (31) 을 이동시킨 후, 문형 프레임 (31) 의 위치를 조정하여 노즐 (32) 을 노즐 세정 장치 (43) 에 액세스시킨다. 노즐 세정 장치 (43) 에서는, 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 근방을 향하여 시너 등의 세정액을 토출함과 함께, 필요에 따라 질소 가스를 시너와 동시에 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 에 토출시키면서, 도시를 생략한 세정 기구를 노즐 (32) 의 길이 방향으로 스캔시킴으로써 노즐 (32) 을 세정한다.After moving the sentence frame 31 to the position of the management part 4, the position of the sentence frame 31 is adjusted, and the nozzle 32 is made to access the nozzle cleaning apparatus 43. FIG. In the nozzle cleaning device 43, a cleaning liquid such as thinner is discharged toward the opening 32a of the nozzle 32, and nitrogen gas is discharged to the opening 32a of the nozzle 32 simultaneously with the thinner as necessary. While cleaning, the nozzle 32 is cleaned by scanning the washing mechanism not shown in the longitudinal direction of the nozzle 32.

노즐 (32) 의 세정 후, 당해 노즐 (32) 을 예비 토출 기구 (41) 에 액세스시킨다. 예비 토출 기구 (41) 에서는, 개구부 (32a) 와 예비 토출면 사이의 거리를 측정하면서 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 를 Z 방향 상의 소정 위치로 이동시키고, 노즐 (32) 을 -X 방향으로 이동시키면서 개구부 (32a) 로부터 레지스트 (R) 를 예비 토출한다.After the nozzle 32 is cleaned, the nozzle 32 is accessed by the preliminary ejection mechanism 41. In the preliminary discharge mechanism 41, the opening 32a of the nozzle 32 is moved to a predetermined position in the Z direction while measuring the distance between the opening 32a and the preliminary ejection surface, and the nozzle 32 is moved in the -X direction. The resist R is preliminarily ejected from the opening 32a while being moved.

예비 토출의 후, 도 11 에 나타내는 바와 같이 문형 프레임 (31) 을 원래의 위치로 되돌린다. 다음 기판 (S) 이 반송되어 오면, 도 11 에 나타내는 바와 같이 지지 부재 (31a) 에 형성되어 있는 도시를 생략한 이동 기구에 의해 노즐 (32) 을 Z 방향 상의 소정 위치로 이동시킨다. 이와 같이, 기판 (S) 에 레지스트막 (R) 을 도포하는 도포 동작과 예비 토출 동작을 반복하여 실시함으로써, 기판 (S) 에는 양질의 레지스트막 (R) 이 형성되게 된다. After the preliminary ejection, the sentence frame 31 is returned to its original position as shown in FIG. 11. When the next board | substrate S is conveyed, as shown in FIG. 11, the nozzle 32 is moved to the predetermined position on a Z direction by the moving mechanism which has not shown the figure formed in the support member 31a. In this manner, by repeatedly performing the coating operation and the preliminary ejecting operation of applying the resist film R to the substrate S, a high quality resist film R is formed on the substrate S. FIG.

또한, 필요에 따라, 예를 들어 관리부 (4) 에 소정의 횟수 액세스할 때마다 당해 노즐 (32) 를 딥조 (42) 내에 액세스시켜도 된다. 딥조 (42) 에서는 노즐 (32) 의 개구부 (32a) 를 딥조 (42) 에 저류된 시너 또는 레지스트의 증기 분위기에 노출시킴으로써 노즐 (32) 의 건조를 방지한다.As needed, for example, the nozzle 32 may be accessed in the dip tank 42 every time the manager 4 is accessed a predetermined number of times. In the dip tank 42, the drying of the nozzle 32 is prevented by exposing the opening 32a of the nozzle 32 to the vapor atmosphere of the thinner or resist stored in the dip tank 42.

상기 일련의 토출 동작 및 예비 토출 동작의 과정에서, 예를 들어 노즐 (32) 로부터 레지스트 (R) 가 처리 스테이지 (27) 상으로 흘러 넘치는 것을 상정할 수 있다. 처리 스테이지 (27) 상에 흘러 넘친 레지스트 (R) 는 에어 흡인 구멍 (27b) 으로부터 흡인 기구 (70) 에 흡인된다. 흡인된 레지스트 (R) 는 흡인 기구 (70) 의 버퍼 탱크 (73a) 에 공급되고, 버퍼 탱크 (73a) 에 장착된 센서 (73d) 에 의해 검지된다. 이 센서 (73d) 에 의해 버퍼 탱크 (73a) 내에 레지스트 (R) 가 공급되었다는 내용의 검지 결과가 제어부 (100) 에 송신된다. 또한, 레지스트 (R) 가 넘쳤을 때의 검지 수단으로서 분출압 감시 포트 (65), 흡인압 감시 포트 (75), 흡인 배관 및 분출 배관에 장착된 압력계에 의한 압력 변화에 의해 검지할 수도 있다.In the course of the series of ejection operations and preliminary ejection operations, for example, it can be assumed that the resist R flows onto the processing stage 27 from the nozzle 32. The resist R which overflowed on the processing stage 27 is attracted to the suction mechanism 70 from the air suction hole 27b. The sucked resist R is supplied to the buffer tank 73a of the suction mechanism 70 and detected by the sensor 73d attached to the buffer tank 73a. The detection result indicating that the resist R is supplied into the buffer tank 73a by the sensor 73d is transmitted to the control unit 100. Moreover, it can also detect by the pressure change by the pressure gauge attached to the jet pressure monitoring port 65, the suction pressure monitoring port 75, the suction pipe, and the jet pipe as a detection means when the resist R overflowed.

제어부 (100) 는 이들의 검지 결과에 기초하여, 처리 스테이지 (27) 상에 레지스트 (R) 가 흘러 넘쳤다는 메세지를 인식하여, 레지스트 (R) 의 토출 동작을 정지시킨다. 또, 제어부 (100) 는 흡인 기구 (70) 의 블로어 (71) 를 셧다운시키거나 또는 흡인 기구 (70) 에 형성된 밸브를 닫은 상태로 함으로써 흡인 동작을 정지시킨다. 흡인 동작을 정지시킨 후, 제어부 (100) 는 기판 (S) 이 노즐 (32) 의 상류측에 위치 하고 있을 때에는 그 상태에서 기판 (S) 의 반송을 정지시킨다. 기판 (S) 이 노즐 (32) 의 바로 아래에 위치하고 있을 때에는 당해 기판 (S) 의 다음에 도포하는 기판의 반송을 정지시킴과 함께, 기판 (S) 에 에어를 분출하도록 한 상태에서 반송 장치 (23) 에 의해 처리 스테이지 (27) 의 외측 (예를 들어, 반입측 스테이지 (25) 또는 반출측 스테이지 (28)) 으로 퇴피시킨다. 기판 (S) 을 처리 스테이지 (27) 의 외측으로 퇴피시킨 후, 제어부 (100) 는 반송 장치 (23) 의 동작을 정지시켜, 분출 기구 (60) 의 블로어 (61) 을 셧다운시킨다. 또한, 블로어 (61) 및 블로어 (71) 의 셧다운, 반송 장치 (23) 의 동작 정지 타이밍으로는 도포 장치 (1) 을 기동할 때마다, 소정 시간마다, 소정 장수의 기판을 처리할 때마다, 레지스트의 도포 동작 사이마다 실시해도 상관없다. 또, 센서 (73d) 로부터 검지 결과가 송신되거나 또는 분출압 감시 포트 (65) 등에 의해 변화가 검지될 때마다 셧다운, 반송 동작 정지를 실시하도록 해도 상관없다.Based on these detection results, the control part 100 recognizes the message that the resist R has overflowed on the processing stage 27, and stops the discharge operation of the resist R. FIG. Moreover, the control part 100 stops the suction operation | movement by shutting down the blower 71 of the suction mechanism 70, or making the valve | bulb provided in the suction mechanism 70 closed. After stopping the suction operation, the control unit 100 stops the conveyance of the substrate S in that state when the substrate S is located upstream of the nozzle 32. When the board | substrate S is located just under the nozzle 32, the conveyance apparatus (a state which stopped the conveyance of the board | substrate apply | coated next to the said board | substrate S, and blows air to the board | substrate S) ( 23 is evacuated to the outside of the processing stage 27 (for example, the carry-in stage 25 or the carry-out stage 28). After evacuating the board | substrate S to the outer side of the process stage 27, the control part 100 stops the operation | movement of the conveying apparatus 23, and shuts off the blower 61 of the blowing mechanism 60. As shown in FIG. In addition, as for the shutdown of the blower 61 and the blower 71, and the operation stop timing of the conveying apparatus 23, every time the application | coating device 1 is started, every predetermined time, every time the predetermined number of board | substrates are processed, You may carry out between every application | coating operation | movement of a resist. Moreover, whenever a detection result is transmitted from the sensor 73d or a change is detected by the jet pressure monitoring port 65 etc., you may make it shut down and conveyance stop operation.

다음으로, 제어부 (100) 는 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 의 양방에서 흡인이 실시되도록 (흡인 모드) 전환 밸브 (80) 를 전환하고, 에어 흡인 기구 (70) 의 블로어 (71) 을 기동시킨다. 이 때, 세정액 공급부 (81) 로부터 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 내에 세정액을 공급하여 당해 세정액과 함께 흡인 동작을 실시한다. 이 때, 버퍼 탱크 (73a) 내의 저류물의 양이 소정량보다 많아졌을 때에는, 밸브 (73c) 의 개도를 크게 하여 버퍼 탱크 (73a) 내의 저류물을 배출시키도록 한다.Next, the control part 100 switches the switching valve 80 so that suction may be performed by both the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b (suction mode), and the blower of the air suction mechanism 70 71) Start it. At this time, the cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid supply part 81 into the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b, and the suction operation is performed together with the cleaning liquid. At this time, when the amount of the storage material in the buffer tank 73a becomes larger than the predetermined amount, the opening degree of the valve 73c is enlarged to discharge the storage material in the buffer tank 73a.

다음으로, 제어부 (100) 는 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 을 건조시킨다. 구체적으로는 에어 분출 기구 (60) 의 블로어 (61) 을 기동시키고, 전환 밸브 (80) 를 에어 분출 기구 (60) 측 및 에어 흡인 기구 (70) 측으로 교대로 전환되도록 한다. 전환 밸브 (80) 가 에어 분출 기구 (60) 측으로 전환되어 있을 때는, 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 의 양방으로부터 에어가 분출된다 (분출 모드). 전환 밸브 (80) 가 에어 흡인 기구 (70) 측으로 전환되어 있을 때는, 상기 흡인 동작의 흡인 모드와 동일하게 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 의 양방에서 흡인이 실시된다. 분출 모드와 흡인 모드를 교대로 전환함으로써, 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 내에 에어를 충분히 유통시켜, 당해 구멍의 내부가 건조된다. 이 건조 동작에 있어서는, 흡인 모드를 먼저 실시하고, 그 후 분출 모드로 전환하는 것이 바람직하다.Next, the control part 100 dries the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b. Specifically, the blower 61 of the air blowing mechanism 60 is started, and the switching valve 80 is alternately switched to the air blowing mechanism 60 side and the air suction mechanism 70 side. When the switching valve 80 is switched to the air ejection mechanism 60 side, air is ejected from both the air ejection hole 27a and the air suction hole 27b (injection mode). When the switching valve 80 is switched to the air suction mechanism 70 side, suction is performed in both the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b in the same manner as the suction mode of the suction operation. By alternately switching the blowing mode and the suction mode, air is sufficiently flowed through the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b, and the inside of the hole is dried. In this drying operation, it is preferable to perform the suction mode first and then switch to the jetting mode.

에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 이 건조되면, 상기 분출 모드 및 흡인 모드에 있어서의 에어 분출량, 흡인량을 조절하고, 소정의 분출량 및 흡인량으로 조절할 수 있게 된 후, 기판 (S) 의 반송 동작 및 레지스트 (R) 의 도포 동작을 실시하도록 한다. 분출 모드 및 흡인 모드의 에어 분출량, 흡인량은, 예를 들어 처리 스테이지 (27) 에 형성된 센서 (27d) 의 검출 결과에 기초하여 조절한다.When the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b are dried, after adjusting the air blowing amount and the suction amount in the said blowing mode and the suction mode, after being able to adjust to a predetermined blowing amount and the suction amount, The conveyance operation | movement of the board | substrate S and the application | coating operation | movement of the resist R are made to perform. The air blowing amount and the suction amount in the blowing mode and the suction mode are adjusted based on the detection result of the sensor 27d formed in the processing stage 27, for example.

이와 같이, 본 실시형태에 의하면, 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 으로부터 기체를 분출하는 분출 모드와, 에어 분출 구멍 (27a) 및 에어 흡인 구멍 (27b) 으로부터 흡인하는 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 제어부 (100) 을 구비하는 것으로 했기 때문에, 처리 스테이지 (27) 에 레지스트 (R) 가 흘러 넘친 경우에는 흡인 모드로 전환함으로써 에어 흡인 구멍 (27b) 에 침입한 레지스트 (R) 를 흡인할 수 있다. 이 때문에 기판 반송부 (2) 를 분해할 필요가 없고, 분해를 위한 스페이스도 필요가 없다. 이로써, 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있다.Thus, according to this embodiment, the blowing mode which blows gas from the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b, and the suction mode which sucks in from the air blowing hole 27a and the air suction hole 27b are made. Since the control part 100 which switches and implements is provided, when the resist R flows in the process stage 27, the resist R which penetrated into the air suction hole 27b is switched to the suction mode. It can be aspirated. For this reason, it is not necessary to disassemble the board | substrate conveyance part 2, and there is also no need for space for disassembly. Thereby, work efficiency can be improved and space saving of a work space can be aimed at.

본 발명의 기술 범위는 상기 실시형태에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절히 변경을 추가할 수 있다.The technical scope of this invention is not limited to the said embodiment, A change can be added suitably in the range which does not deviate from the meaning of this invention.

도포 장치 (1) 의 전체 구성에 대해서는, 상기 실시형태에서는 반송 기구 (23) 를 각 스테이지의 -Y 방향측에 배치하는 구성으로 했는데, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 반송 기구 (23) 를 각 스테이지의 +Y 방향측에 배치하는 구성이어도 상관없다. 또, 도 12 에 나타내는 바와 같이, 각 스테이지의 -Y 방향측에는 상기의 반송 기구 (23) (반송기 (23a), 진공 패드 (23b), 레일 (23c))를 배치하고, +Y 방향측에는 당해 반송 기구 (23) 와 동일한 구성의 반송 기구 (53) (반송기 (53a), 진공 패드 (53b), 레일 (53c)) 를 배치하여, 반송 기구 (23) 와 반송 기구 (53) 에 의해 상이한 기판을 반송할 수 있도록 구성해도 상관없다. 예를 들어, 동 도면에 나타내는 바와 같이 반송 기구 (23) 에는 기판 (S1) 을 반송시키고, 반송 기구 (53) 에는 기판 (S2) 을 반송시키도록 한다. 이 경우, 반송 기구 (23) 와 반송 기구 (53) 에서 기판을 교대로 반송할 수 있게 되기 때문에, 스루풋이 향상되게 된다. 또, 상기의 기판 (S, S1, S2) 의 절반 정도의 면적을 갖는 기판을 반송하는 경우에는, 예를 들어 반송 기구 (23) 와 반송 기 구 (53) 에서 1 장씩 유지하고, 반송 기구 (23) 와 반송 기구 (53) 를 +X 방향으로 나란히 진행시킴으로써 2 장의 기판을 동시에 반송시킬 수 있다. 이와 같은 구성에 의해, 스루풋을 향상시킬 수 있다. About the whole structure of the coating device 1, although the conveyance mechanism 23 was arrange | positioned in the -Y direction side of each stage in the said embodiment, it is not limited to this. For example, the structure which arrange | positions the conveyance mechanism 23 to the + Y direction side of each stage may be sufficient. Moreover, as shown in FIG. 12, said conveyance mechanism 23 (transfer machine 23a, vacuum pad 23b, rail 23c) is arrange | positioned at the -Y direction side of each stage, and the said conveyance is located on the + Y direction side. The conveyance mechanism 53 (conveyor 53a, vacuum pad 53b, rail 53c) of the same structure as the mechanism 23 is arrange | positioned, and the board | substrate different from the conveyance mechanism 23 and the conveyance mechanism 53 is arranged. You may comprise so that conveyance may be carried out. For example, as shown to the same figure, the conveyance mechanism 23 is made to convey the board | substrate S1, and the conveyance mechanism 53 is made to convey the board | substrate S2. In this case, since the board | substrate can be conveyed alternately by the conveyance mechanism 23 and the conveyance mechanism 53, throughput will improve. Moreover, when conveying the board | substrate which has an area about half of said board | substrate S, S1, S2, it hold | maintains one by one in the conveyance mechanism 23 and the conveyance mechanism 53, for example, Two board | substrates can be simultaneously conveyed by advancing 23 and the conveyance mechanism 53 side by side in the + X direction. By such a configuration, the throughput can be improved.

또, 상기 실시형태에서는 처리 스테이지 (27) 에 있어서 분출 모드와 흡인 모드를 전환할 수 있는 구성으로 했는데, 이것으로 한정되는 것은 아니고, 예를 들어 반입측 스테이지 (25) 및 반출측 스테이지 (28) 에 있어서도 분출 모드와 흡인 모드를 전환할 수 있게 구성해도 상관없다.In addition, in the said embodiment, although it was set as the structure which can switch a jet mode and a suction mode in the process stage 27, it is not limited to this, For example, the carry-in stage 25 and the carry-out stage 28 Also in the case, the jet mode and the suction mode may be configured to be switched.

또, 상기 실시형태에서는 센서 (73d) 에 의해 레지스트 (R) 가 처리 스테이지 (27) 상으로 흘러 넘쳤는지의 여부를 검지하는 구성이었으나, 이것으로 한정되는 것은 아니고, 예를 들어 육안에 의해 레지스트 (R) 가 넘쳤는지의 여부를 검지해도 상관없다.Moreover, in the said embodiment, although it was the structure which detects whether the resist R overflowed on the process stage 27 by the sensor 73d, it is not limited to this, For example, a resist ( You may detect whether R) overflowed.

또, 상기 실시형태에서는 레지스트 (R) 가 처리 스테이지 (27) 상에 넘쳤을 때에 도포 장치 (1) 을 흡인 모드로 하는 방법을 설명했지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 처리 스테이지 (27) 상에 흘러 넘친 레지스트 (R) 가 소량 인 경우, 도포 장치 (1) 를 분출 모드로 하여 레지스트 (R) 가 날아가도록 해도 상관없다.Moreover, in the said embodiment, although the method which makes the coating device 1 into the suction mode when the resist R overflowed on the process stage 27 was demonstrated, it is not limited to this. For example, when the resist R which overflowed on the process stage 27 is a small amount, you may make the coating apparatus 1 into a blowing mode, and let the resist R fly off.

본 발명은, 도포 장치의 작업 효율을 향상시킬 수 있고, 작업 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있기 때문에, 산업상 매우 유용하다.The present invention is very useful industrially because the work efficiency of the coating device can be improved and the space saving of the work space can be achieved.

도 1 은 본 실시형태에 관련된 도포 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.1 is a perspective view showing the configuration of a coating apparatus according to the present embodiment.

도 2 는 본 실시형태에 관련된 도포 장치의 구성을 나타내는 정면도이다.2 is a front view illustrating the configuration of the coating apparatus according to the present embodiment.

도 3 은 본 실시형태에 관련된 도포 장치의 구성을 나타내는 평면도이다.3 is a plan view showing the configuration of a coating apparatus according to the present embodiment.

도 4 는 본 실시형태에 관련된 도포 장치의 구성을 나타내는 측면도이다.4 is a side view illustrating the configuration of the coating apparatus according to the present embodiment.

도 5 는 본 실시형태에 관련된 에어 분출 기구 및 흡인 기구의 구성을 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating the configuration of the air blowing mechanism and the suction mechanism according to the present embodiment. FIG.

도 6 은 본 실시형태에 관련된 도포 장치의 동작을 나타내는 도면이다.6 is a view showing the operation of the coating apparatus according to the present embodiment.

도 7 은 동 동작도이다.7 is an operation diagram.

도 8 은 동 동작도이다.8 is an operation diagram.

도 9 는 동 동작도이다.9 is the same operation diagram.

도 10 은 동 동작도이다.10 is the same operation diagram.

도 11 은 동 동작도이다.11 is an operation diagram.

도 12 는 본 실시형태에 관련된 다른 도포 장치의 구성을 나타내는 평면도이다.12 is a plan view showing the configuration of another coating apparatus according to the present embodiment.

※도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of code for main part of drawing ※

1 : 도포 장치1: coating device

2 : 기판 반송부2: board | substrate conveyance part

3 : 도포부 3: coating part

4 : 관리부 4: management

27a : 에어 분출 구멍 27a: air blowing hole

27b : 에어 흡인 구멍 27b: air suction hole

27d : 센서 (제 2 센서) 27d: sensor (second sensor)

60 : 에어 분출 기구 60: air blowing mechanism

70 : 에어 흡인 기구 70: air suction mechanism

73d : 센서 (제 1 센서) 73d: sensor (first sensor)

80 : 전환 밸브 80: switching valve

100 : 제어부100: control unit

S : 기판 S: Substrate

R : 레지스트막R: resist film

Claims (24)

기판을 부상시켜 반송하는 기판 반송부와, 당해 기판 반송부에 의해 반송시키면서 상기 기판에 액상체를 도포하는 도포부를 구비한 도포 장치로서, As a coating apparatus provided with the board | substrate conveyance part which floats a board | substrate and conveys, and the application | coating part which apply | coats a liquid body to the said board | substrate, conveyed by the said board | substrate conveyance part, 상기 기판 반송부에 복수 형성되고, 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부와,A plurality of holes formed in the substrate carrier and capable of ejecting and sucking gas; 상기 복수의 구멍부로부터 기체를 분출하는 분출 모드와 상기 복수의 구멍부로부터 흡인하는 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 제어 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 도포 장치.And a control means for switching the blowing mode for blowing gas from the plurality of holes and the suction mode for sucking in the holes. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 구멍부는 상기 기판을 부상시키기 위해 기체의 분출 및 흡인을 실시하는 도포 장치.And the hole portion ejects and sucks gas to float the substrate. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 제어 수단은 상기 기판 반송부 중 상기 도포부에 대응하는 영역에 형성된 상기 구멍부에 대해, 상기 분출 모드와 상기 흡인 모드를 전환하여 실시하게 하는 수단을 갖는 도포 장치.And said control means has a means for switching between said ejection mode and said suction mode for said hole portion formed in a region corresponding to said application portion of said substrate transfer portion. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 검지하는 제 1 센서를 추가로 구비하는 도포 장치.And a first sensor for detecting a suction sucked from the plurality of holes. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제어 수단은 상기 제 1 센서에 의한 검지 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지시키는 수단을 갖는 도포 장치.And said control means has means for stopping conveyance of said substrate and application of said liquid body on the basis of a detection result by said first sensor. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 복수의 구멍부로부터 흡인된 흡인물을 저류하는 버퍼 탱크를 추가로 구비하는 도포 장치.And a buffer tank for storing the suction sucked from the plurality of holes. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 제어 수단은 상기 버퍼 탱크에 상기 흡인물이 소정량 이상 저류되었을 경우에 상기 흡인물을 배출시키는 수단을 갖는 도포 장치.And the control means has a means for discharging the suctioned material when the suctioned water is stored in the buffer tank for a predetermined amount or more. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 복수의 구멍부에 접속된 유통로와, A flow passage connected to the plurality of holes, 상기 유통로에 세정액을 공급하는 세정액 공급부를 추가로 구비하는 도포 장치.A coating apparatus further comprising a cleaning liquid supply part for supplying a cleaning liquid to the flow passage. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 유통로는 상기 복수의 구멍부에 기체를 공급하기 위한 기체 공급 수단 및 상기 복수의 구멍부로부터 흡인을 실시하기 위한 흡인 수단에 접속된 배관으로, The flow passage is a pipe connected to gas supply means for supplying gas to the plurality of holes and suction means for sucking from the plurality of holes, 상기 기체 공급 수단 및 상기 흡인 수단 중 어느 일방이 상기 복수의 구멍부에 접속되도록 상기 유통로에 형성된 밸브를 추가로 구비하는 도포 장치.And a valve formed in the flow passage so that any one of the gas supply means and the suction means is connected to the plurality of hole portions. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 구멍부에 있어서의 상기 기체의 분출 및 상기 흡인 상태를 검출하는 제 2 센서를 추가로 구비하는 도포 장치.And a second sensor for detecting the ejection of the gas and the suction state in the hole. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제어 수단은 상기 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 상기 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하게 하는 수단을 갖는 도포 장치.And the control means has means for causing a return operation of the plurality of holes based on the detection result of the second sensor. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11, 상기 복귀 동작은 상기 분출 모드 및 상기 흡인 모드의 전환, 상기 분출 모드에 있어서의 상기 기체의 분출량 조절 및 상기 흡인 모드에 있어서의 흡인량 조절을 포함하는 도포 장치.And the return operation includes switching between the blowing mode and the suction mode, adjusting the blowing amount of the gas in the blowing mode, and adjusting the suction amount in the suction mode. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제어 수단은 상기 제 2 센서의 검출 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지시키는 수단을 갖는 도포 장치.And said control means has means for stopping conveyance of said substrate and application of said liquid body based on a detection result of said second sensor. 기판을 부상시켜 반송하는 기판 반송부와, 당해 기판 반송부에 의해 반송시키면서 상기 기판에 액상체를 도포하는 도포부를 구비한 도포 장치의 클리닝 방법으로서, As a cleaning method of the coating device provided with the board | substrate conveyance part which floats a board | substrate and conveys, and the application | coating part which apply | coats a liquid body to the said board | substrate, conveyed by the said board | substrate conveyance part, 상기 기판 반송부에는 기체의 분출 및 흡인이 가능한 구멍부가 복수 형성되어 있고, The board | substrate conveyance part is provided with the some hole part which can blow out and aspirate gas, 상기 기판 반송부 상태에 따라, 상기 복수의 구멍부에 있어서 흡인을 실시하는 것을 특징으로 하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating apparatus characterized by sucking in the said some hole part according to the said board | substrate conveyance part state. 제 14 항에 있어서,The method of claim 14, 상기 복수의 구멍부로부터 흡인되는 흡인물을 검지하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating apparatus which detects the suction material attracted from the said some hole part. 제 15 항에 있어서,The method of claim 15, 상기 검지 결과에 기초하여 상기 흡인을 실시하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which performs the said suction based on the said detection result. 제 15 항에 있어서,The method of claim 15, 상기 검지 결과에 기초하여 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지 하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which stops conveyance of the said board | substrate and application | coating of the said liquid body based on the said detection result. 제 15 항 내지 제 17 항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 15 to 17, 상기 도포 장치의 기동마다, 소정 시간마다, 소정 장수의 상기 기판을 처리할 때마다 또는 상기 액상체의 도포 동작 사이마다 상기 검지를 실시하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which performs the said detection every time the said coating device starts, every predetermined time, every time the said board | substrate of a predetermined number of times is processed, or every application | coating operation | movement of the said liquid body. 제 14 항 내지 제 17 항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 14 to 17, 상기 도포 장치가 상기 복수의 구멍부에 접속된 유통로를 구비하고, The coating device includes a flow path connected to the plurality of hole portions, 상기 흡인 후 또는 상기 흡인과 동시에 상기 유통로 내에 세정액을 공급하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating apparatus which supplies a washing | cleaning liquid in the said flow path after the said suction or simultaneously with the said suction. 제 19 항에 있어서,The method of claim 19, 상기 세정액의 공급 후, 상기 유통로 내를 건조시키는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating apparatus which dries the inside of the said flow path after supply of the said washing | cleaning liquid. 제 14 항 내지 제 17 항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 14 to 17, 상기 구멍부에 있어서의 기체 분출 상태 및 상기 흡인 상태를 검출하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which detects the gas blowing state and the said suction state in the said hole part. 제 21 항에 있어서,The method of claim 21, 상기 검출 결과에 기초하여, 상기 복수의 구멍부의 복귀 동작을 실시하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which performs the return operation | movement of the said some hole part based on the said detection result. 제 22 항에 있어서,The method of claim 22, 상기 복귀 동작은 상기 기체의 분출과 상기 흡인의 전환, 상기 기체의 분출량 조절 및 상기 흡인의 흡인량 조절을 포함하는 도포 장치의 클리닝 방법.And the return operation includes switching of the blowing of the gas and the suction, adjusting the blowing amount of the gas, and adjusting the suction amount of the suction. 제 21 항에 있어서,The method of claim 21, 상기 검출 결과에 기초하여, 상기 기판의 반송 및 상기 액상체의 도포를 정지하는 도포 장치의 클리닝 방법.The cleaning method of the coating device which stops conveyance of the said board | substrate and application | coating of the said liquid body based on the said detection result.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6321912B2 (en) * 2013-03-29 2018-05-09 芝浦メカトロニクス株式会社 Substrate cleaning processing apparatus and cleaning processing method
TW201509544A (en) * 2013-09-05 2015-03-16 Rich Chen Automatically Controlled Co Ltd Substrate coating device and coating method
JP6576146B2 (en) * 2015-07-31 2019-09-18 株式会社Screenホールディングス Coating apparatus and coating method
KR102140869B1 (en) * 2018-09-14 2020-08-03 양승현 PCB board conveying device
JP7019911B1 (en) 2020-11-17 2022-02-16 一般社団法人テトラcoco Teaching tools for math education
CN113426632A (en) * 2021-07-30 2021-09-24 深圳市飞创科技有限公司 Adhesive dispensing device for COB die bonding
CN114700226B (en) * 2022-04-14 2023-08-04 苏州希盟科技股份有限公司 Dispensing valve detection compensation system, dispensing machine and dispensing valve detection compensation method

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0659921B2 (en) * 1990-03-05 1994-08-10 新明和工業株式会社 Method and apparatus for detecting the full amount of dust in a dust suction truck
JP3265237B2 (en) 1997-08-01 2002-03-11 東京エレクトロン株式会社 Substrate edge thin film removal equipment
JP3844670B2 (en) 2001-09-14 2006-11-15 東京エレクトロン株式会社 Coating film forming device
JP2004231331A (en) * 2003-01-29 2004-08-19 Dainippon Printing Co Ltd Conveyance method for base and conveyance device for base
JP4398786B2 (en) * 2003-07-23 2010-01-13 東京エレクトロン株式会社 Coating method and coating apparatus
JP4040025B2 (en) * 2004-02-20 2008-01-30 東京エレクトロン株式会社 Coating film forming device
JP4570545B2 (en) * 2005-09-22 2010-10-27 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing apparatus and substrate processing method

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