KR20090014527A - 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 제1 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀의 문턱전압이 목표 전압과 같거나 높아질 때까지 프로그램 전압을 제1 레벨만큼씩 상승시키면서 ISPP 방식으로 제1 프로그램 동작을 실시하는 단계; 및상기 제1 비트라인과 인접한 제2 비트라인에 연결된 제2 메모리 셀의 문턱 전압이 상기 목표 전압과 같거나 높아질 때까지 상기 프로그램 전압을 상기 제1 레벨보타 높은 제2 레벨만큼씩 상승시키면서 ISPP 방식으로 제2 프로그램 동작을 실시하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제1 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀의 워드라인에 제1 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계;상기 제1 메모리 셀이 정상적으로 프로그램되었을 경우 제1 메모리 셀의 프로그램 동작을 완료하는 단계;상기 제1 메모리 셀이 프로그램되지 않았을 경우 상기 제1 프로그램 전압보다 제1 스텝 전압만큼 높은 프로그램 전압을 상기 워드라인에 인가하며, 상기 제1 메모리 셀이 프로그램될 때까지 상기 제1 스텝 전압만큼 증가된 새로운 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계;상기 제1 비트라인에 인접한 제2 비트라인에 연결된 제2 메모리 셀의 워드라 인에 상기 제1 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계;상기 제2 메모리 셀이 정상적으로 프로그램되었을 경우 제2 메모리 셀의 프로그램 동작을 완료하는 단계; 및상기 제1 메모리 셀이 프로그램되지 않았을 경우 상기 제1 스텝 전압보다 큰 제2 스텝 전압만큼 증가시킨 프로그램 전압을 상기 워드라인에 인가하며, 상기 제2 메모리 셀이 프로그램될 때까지 상기 제2 스텝 전압만큼 증가된 새로운 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 제1 프로그램 전압을 인가하여 상기 제1 메모리 셀을 프로그램한 후, 상기 제1 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 제1 프로그램 전압을 인가하여 상기 제2 메모리 셀을 프로그램한 후, 상기 제2 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 제1 스텝 전압은 상기 제2 스텝 전압보다 작은 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 제1 스텝 전압은 0.3V, 상기 제2 스텝 전압은 0.4V인 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제1 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀의 문턱 전압이 목표 전압보다 낮은 제1 레벨까지 상승하도록 제1 프로그램 동작을 실시하는 단계; 및제2 비트라인에 연결된 제2 메모리 셀의 문턱전압이 상기 목표 전압과 같거나 높은 제2 레벨까지 상승하면서 상기 제1 메모리 셀의 문턱전압이 상기 목표 전압과 같거나 높은 제3 레벨까지 상승하도록 제2 프로그램 동작을 실시하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제1 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀의 워드라인에 제1 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계;상기 워드라인에 목표 검증 전압보다 낮은 제1 검증 전압을 인가하여 상기 제1 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계;상기 제1 비트라인에 인접한 제2 비트라인에 연결된 제2 메모리 셀의 워드라인에 상기 제1 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계; 및상기 워드라인에 목표 검증 전압과 같은 레벨의 제2 검증 전압을 인가하여 상기 제2 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 제1 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계 후,상기 제1 메모리 셀이 정상적으로 프로그램 되었을 경우 제1 메모리 셀의 프로그램 동작을 완료하는 단계; 및상기 제1 메모리 셀이 프로그램되지 않았을 경우 상기 제1 프로그램 전압보다 스텝 전압만큼 높은 프로그램 전압을 상기 워드라인에 인가하며, 상기 제1 메모리 셀이 프로그램될 때까지 상기 스텝 전압만큼 증가된 새로운 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 제2 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하는 단계 후,상기 제2 메모리 셀이 정상적으로 프로그램되었을 경우 제2 메모리 셀의 프로그램 동작을 완료하는 단계; 및상기 제2 메모리 셀이 프로그램되지 않았을 경우 상기 제1 프로그램 전압보다 상기 스텝 전압만큼 큰 프로그램 전압을 상기 워드라인에 인가하며, 상기 제2 메모리 셀이 프로그램될 때까지 상기 스텝 전압만큼 증가된 새로운 프로그램 전압을 인가하여 프로그램하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- ISPP 프로그램 방법을 이용한 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법에 있어서,제1 스텝 전압만큼 순차적으로 증가되는 제1 프로그램 전압을 이용하여 이븐 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀을 프로그램하는 단계; 및상기 제1 스텝 전압보다 큰 제2 스텝 전압만큼 순차적으로 증가되는 제2 프로그램 전압을 이용하여 오드 비트라인에 연결된 제2 메모리 셀을 프로그램하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- ISPP 프로그램 방법을 이용한 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법에 있어서,제1 프로그램 전압을 워드라인에 인가하여 이븐 비트라인에 연결된 제1 메모리 셀을 프로그램하는 단계;제1 검증 전압을 이용하여 상기 제1 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하며, 정상적으로 프로그램되지 않을 경우 상기 제1 프로그램 전압보다 스텝전압만큼 순차적으로 증가되는 프로그램 전압을 이용하여 프로그램하는 단계;상기 제1 프로그램 전압을 상기 워드라인에 인가하여 오드 비트 라인에 연결된 제2 메모리 셀을 프로그램하는 단계; 및상기 제1 검증 전압보다 큰 제2 검증 전압을 이용하여 상기 제2 메모리 셀의 프로그램 상태를 검증하며, 정상적으로 프로그램되지 않을 경우 상기 제1 프로그램 전압보다 상기 스텝전압만큼 순차적으로 증가되는 프로그램 전압을 이용하여 프로그램하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
- 제 12 항에 있어서,상기 제1 검증 전압은 상기 제2 검증 전압보다 작은 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070078556A KR100908560B1 (ko) | 2007-08-06 | 2007-08-06 | 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070078556A KR100908560B1 (ko) | 2007-08-06 | 2007-08-06 | 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090014527A true KR20090014527A (ko) | 2009-02-11 |
KR100908560B1 KR100908560B1 (ko) | 2009-07-21 |
Family
ID=40346361
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070078556A KR100908560B1 (ko) | 2007-08-06 | 2007-08-06 | 플래시 메모리 소자의 프로그램 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7564719B2 (ko) |
JP (1) | JP2009043391A (ko) |
KR (1) | KR100908560B1 (ko) |
CN (1) | CN101364442B (ko) |
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- 2008-02-20 JP JP2008038289A patent/JP2009043391A/ja not_active Ceased
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- 2009-07-20 US US12/506,156 patent/US20090279364A1/en not_active Abandoned
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CN101364442B (zh) | 2011-08-10 |
US7564719B2 (en) | 2009-07-21 |
US20090279364A1 (en) | 2009-11-12 |
US20090040831A1 (en) | 2009-02-12 |
CN101364442A (zh) | 2009-02-11 |
KR100908560B1 (ko) | 2009-07-21 |
JP2009043391A (ja) | 2009-02-26 |
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