KR20080054180A - 표시 장치 - Google Patents

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KR20080054180A
KR20080054180A KR1020060126427A KR20060126427A KR20080054180A KR 20080054180 A KR20080054180 A KR 20080054180A KR 1020060126427 A KR1020060126427 A KR 1020060126427A KR 20060126427 A KR20060126427 A KR 20060126427A KR 20080054180 A KR20080054180 A KR 20080054180A
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Abstract

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 표시 영역과 주변 영역을 포함하는 표시 패널과, 상기 표시 패널의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 영역에 화상 표시를 위한 신호를 제공하는 복수의 신호 라인과, 상기 표시 패널의 주변 영역에 마련되어 상기 복수의 신호 라인의 적어도 일부에 접속된 검사 패드부를 구비하고, 상기 검사 패드부는 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 연장된 연장 라인과, 상기 연장 라인과 상기 신호 라인간을 연결하는 브리지 배선을 포함하고, 상기 브리지 배선은 내부식성 물질로 제작되는 표시 장치를 제공한다. 이와 같이 본 발명은 부식을 전달하지 않는 내부식성의 도전성 물질인 브리지 배선을 통해 신호 라인과 검사 패드부를 연결하여 검사 패드에서 발생한 부식이 신호 라인으로 확산되는 것을 방지하여 신호 라인을 부식으로부터 보호할 수 있다. 그리고, 상기 브리지 배선을 밀봉 부재 하단에 마련하여 브리지 배선 영역이 공기중으로 노출되지 않도록 할 수 있다.
검사 패드부, 신호 라인, 브리지 배선, 부식

Description

표시 장치{DISPLAY APPARATUS}
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 표시 장치의 개념도.
도 2는 제 1 실시예에 따른 표시 장치의 동작을 설명하기 위한 개념도.
도 3은 도 1의 S영역을 확대한 확대도.
도 4는 도 3의 A-A선에 대해 자른 단면도.
도 5는 제 1 실시예의 변형예에 따른 도 1의 S영역을 확대한 확대도.
도 6은 도 5의 A-A선에 대해 자른 단면도.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치의 개념도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10 : 하부 기판 20 : 상부 기판
130 : 제어부 220, 1200 : 구동 라인
400 : 밀봉 부재 1000 : 표시 패널
2000 : 인쇄 회로 기판 2100 : 연성 인쇄 회로 기판
2200 : 데이터 구동부 2300 : 신호 제어부
110, 120, 1100, 1200 : 게이트 구동부
310, 320, 330, 340, 350, 1300 : 검사 패드부
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 표시 패널의 표시 영역 외측에 마련된 검사 패드의 부식에 의한 표시 영역 내의 배선 부식을 방지할 수 있는 배선 연결 방식에 관한 것이다.
평판 표시 장치 중의 하나인 액정 표시 장치는 외부 제어 신호에 따라 화상을 표시하는 액정 표시 패널과, 액정 표시 패널을 구동시키기 위한 구동 수단들 포함한다. 액정 표시 패널은 표시 영역과 주변 영역으로 정의된 상부 기판과 하부 기판 그리고, 상부 기판과 하부 기판 사이에 마련된 액정을 포함한다. 이러한 액정 표시 패널의 제작을 위해 먼저, 하부 기판 상에 박막 트랜지스터와 화소 전극 등을 형성하고, 상부 기판 상에 컬러 필터와 공통 전극 등을 형성한다. 이어서, 상기 상부 기판과 하부 기판을 실링 부재로 합착 밀봉하고, 두 기판 사이 영역에 액정을 주입하여 액정 표시 패널을 제작한다.
이렇게 완성된 액정 표시 패널은 패널 제조 공정 후에 신호 라인들의 쇼트, 오픈과 같은 신호 라인 불량과 박막 트랜지스터의 불량 등의 여부를 검출하기 위하여 비주얼 검사를 실시한다. 이러한 비주얼 검사는 하부 기판의 주변 영역에 마련 되어 표시 영역 내의 복수의 신호 배선에 접속된 복수의 검사 패드를 이용하여 수행 된다.
상기의 검사 패드는 비주얼 검사 후에도 계속하여 하부 기판의 주변 영역에 잔류하게 되고, 잔류하는 검사 패드는 공기 중에 노출되어 쉽게 부식된다. 검사 패드에서 발생한 부식은 이와 접속된 표시 영역 내의 신호 라인으로 확산되어 신호 라인까지 부식시키는 문제가 발생하였다. 이와 같은 표시 영역의 신호 라인의 부식으로 인해 표시 장치의 동작 불량이 발생하는 문제가 있다.
따라서, 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 검사 패드부를 부식이 전달되지 않는 도전성막으로 제작하거나, 부식을 전달하지 않는 별도의 브리지 배선을 통해 상기 검사 패드부와 표시 영역의 신호 배선간을 전기적으로 연결하여 검사 패드부에서 발생한 부식이 표시 영역 내의 신호 배선으로 확산되는 것을 방지할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명에 따른 표시 영역과 주변 영역을 포함하는 표시 패널과, 상기 표시 패널의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 영역에 화상 표시를 위한 신호를 제공하는 복수의 신호 라인과, 상기 표시 패널의 주변 영역에 마련되어 상기 복수의 신호 라인의 적어도 일부에 접속된 검사 패드부를 구비하고, 상기 검사 패드부는 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 연장된 연장 라인과, 상기 연장 라인과 상기 신호 라인간을 연결하는 브리지 배선을 포함하고, 상기 브리지 배선은 내부식성 물질로 제작되는 표시 장치를 제공한다.
상기 브리지 배선은 상기 표시 영역에 마련되는 화소 전극과 동일 물질로 제작되는 것이 바람직하다. 상기 브리지 배선은 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO) 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것이 가능하다.
상기의 브리지 배선은 상기 연장 라인과 상기 신호 라인에 각기 접속된 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드와, 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드를 연결하는 연결 배선을 포함하는 것이 바람직하다.
여기서, 상기 표시 패널의 주변 영역은 밀봉 영역과 개방 영역을 포함하고, 상기 브리지 배선은 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 검사 패드는 상기 개방 영역 내에 마련되는 것이 효과적이다. 상기 표시 패널의 상기 표시 영역의 가장자리 둘레를 따라 상기 밀봉 영역에 마련된 밀봉 부재를 더 구비하고, 상기 브리지 배선은 상기 밀봉 부재 하측 영역에 마련되는 것이 바람직하다.
상기 표시 패널은 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인, 박막 트랜지스터 및 화소 커패시터를 포함하는 하부 기판과, 공통 전극 및 컬러 필터를 포함하는 상부 기판 그리고, 상기 상부 기판과 하부 기판 사이 영역에 마련된 액정을 구비하는 것이 바람직하다.
상기 신호 라인과 상기 연장 라인은 상기 게이트 라인 또는 상기 데이터 라 인과 동일 물질을 사용하고, 상기 게이트 라인 또는 상기 데이터 라인과 함께 제작될 수 있다.
상기에서 하부 기판의 상기 주변 영역의 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 복수의 게이트 라인에 접속된 적어도 하나의 게이트 구동부와, 상기 하부 기판의 상기 주변 영역의 상기 개방 영역 내에 마련되고, 상기 복수의 데이터 라인과, 상기 신호 라인을 통해 상기 게이트 구동부에 접속된 제어부를 더 포함하는 것이 바람직하다.
이때, 상기 하부 기판의 주변 영역에 마련되고, 상기 복수의 게이트 라인에 접속된 적어도 하나의 게이트 구동부와, 연성 인쇄 회로 기판을 통해 상기 표시 패널에 접속된 인쇄 회로 기판을 더 포함하고, 상기 인쇄 회로 기판에는 상기 신호 라인을 통해 상기 데이터 라인에 전기적으로 접속되는 데이터 구동부와, 상기 신호 라인을 통해 상기 게이트 구동부에 전기적으로 접속되고, 상기 데이터 구동부에 접속되는 신호 제어부가 실장될 수도 있다.
또한, 본 발명에 따른 표시 영역과 주변 영역을 포함하는 표시 패널과, 상기 표시 패널의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 영역에 화상 표시를 위한 신호를 제공하는 복수의 신호 라인과, 상기 표시 패널의 주변 영역에 마련되어 상기 복수의 신호 라인의 적어도 일부에 접속된 검사 패드부를 구비하고, 상기 검사 패드부는 내부식성 물질로 제작되는 표시 장치를 제공한다.
상기 검사 패드부는 상기 표시 영역에 마련되는 화소 전극과 동일 물질로 제작되는 것이 바람직하다. 상기 검사 패드부는 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO) 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것이 가능하다.
상기 검사 패드부는 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 연장된 연장 라인과, 상기 연장 라인과 상기 신호 라인간을 연결하는 콘택 패드를 포함하는 것이 효과적이다.
여기서, 상기 표시 패널의 주변 영역은 밀봉 영역과 개방 영역을 포함하고, 상기 콘택 패드는 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 검사 패드는 상기 개방 영역 내에 마련되는 것이 효과적이다. 물론, 상기 표시 패널의 상기 표시 영역의 가장자리 둘레를 따라 상기 밀봉 영역에 마련된 밀봉 부재를 더 구비하고, 상기 콘택 패드는 상기 밀봉 부재 하측 영역에 마련되는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.
도면에서 여러 층 및 각 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 표현하였으며 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭하도록 하였다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 상부에 또는 위에 있다고 표현되는 경우는 각 부분이 다른 부분의 바로 상부 또는 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라 각 부 분과 다른 부분의 사이에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 표시 장치의 개념도이고, 도 2는 제 1 실시예에 따른 표시 장치의 동작을 설명하기 위한 개념도이다. 도 3은 도 1의 S영역을 확대한 확대도이고, 도 4는 도 3의 A-A선에 대해 자른 단면도이다. 도 5는 제 1 실시예의 변형예에 따른 도 1의 S영역을 확대한 확대도이고, 도 6은 도 5의 A-A선에 대해 자른 단면도이다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역(D)과 주변 영역(P)을 포함하는 하부 기판(10)과 상부 기판(20)을 포함한다. 여기서, 상기 표시 영역(D)에는 게이트 라인(G1 내지 Gn), 데이터 라인(D1 내지 Dm), 박막 트랜지스터(T), 유지 커패시터(Cst) 및 화소 커패시터(Clc)가 마련된다. 즉, 하부 기판(10)의 표시 영역(D)에는 게이트 라인(G1 내지 Gn), 데이터 라인(D1 내지 Dm), 박막 트랜지스터(T), 유지 커패시터(Cst) 및 화소 커패시터(Clc)용 화소 전극(미도시)이 마련된다. 그리고, 상부 기판(20)의 표시 영역(D)에는 컬러 필터(미도시)와 화소 커패시터(Clc)용 공통 전극(22)이 마련된다. 상기 하부 기판(10)과 상부 기판(20)의 표시 영역(D) 사이에는 액정(미도시)이 마련된다.
상기 주변 영역(P)은 밀봉 영역(S)과 노출 영역(O)을 포함한다. 주변 영역(P)에는 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)와, 연장된 데이터 라인(D1 내지 Dm)을 포함하는 복수의 신호 라인부(210, 220)와, 상기 복수의 신호 라인부(210, 220)의 끝단에 각기 마련된 신호 라인 패드부(230, 240)와 상기 신호 라인 패드 부(230, 240)에 접속된 제어부(130)를 포함하고, 상기 복수의 신호 라인부(210, 220) 중 적어도 일부에 접속된 복수의 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)를 포함한다. 즉, 상기 하부 기판(10)의 밀봉 영역(S)에는 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)가 마련되고, 상기 상부 기판(20)의 밀봉 영역(S)에는 블랙 매트릭스(21)가 마련된다. 하부 기판(10)과 상부 기판(20)의 밀봉 영역(S)의 가장자리에는 두 기판간을 밀봉하는 밀봉 부재(400)가 마련된다. 이때, 하부 기판(10)의 밀봉 영역(S)과 노출 영역(O)을 가로 질러 상기 신호 라인부(210, 220)가 연장된다. 상기 신호 라인부(210, 220)는 상기 제어부(130)의 동작 신호를 상기 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)에 공급하는 복수의 구동 라인(220)을 포함한다. 하부 기판(10)의 노출 영역에는 신호 라인 패드부(230, 240)와, 상기 신호 라인 패드부(230, 240)와 접속된 제어부(130)와, 상기 신호 라인부(210, 220)와 그 일부가 접속된 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)가 마련된다. 그리고, 상부 기판(20)에는 노출 영역(O)이 마련되지 않는다.
상술한 구조를 갖는 본 실시예의 표시 장치의 동작에 관해 설명한다.
먼저, 정상 동작의 경우, 상기 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)는 제어부(130)와 접속된 복수의 구동 라인(220)을 통해 공급되는 동작 신호에 따라 동작하여 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 게이트 턴온 전압(Von)을 인가한다. 이때, 게이트 턴온 전압(Von)이 인가된 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 접속된 복수의 박막 트랜지스터(T)가 턴온된다. 이를 통해 표시 장치의 표시 영역(D) 내의 모든 박막 트랜지스터(T)를 순차적으로 턴온시킬 수 있다. 그리고, 제어부(130)는 외부 화상 신호에 따라 복수의 데이터 신호(DS1 내지 DSm)를 생성하여 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 제공한다. 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 제공된 데이터 신호(DS1 내지 DSm)는 턴온된 박막 트랜지스터(T)에 의해 화소 커패시터(Clc)에 공급되어 화소 커패시터(Clc) 양단의 전계를 변화시키게 되고, 이를 통해 화소 커패시터(Clc) 내의 액정의 배열을 변화시켜 액정을 통해 투과하는 광량을 조절하여 원하는 화상을 표시하게 된다.
이를 좀더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
도 2에 도시된 바와 같이 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)는 각기 복수의 스테이지부(110-1 내지 110-n, 120-1 내지 120-n)를 포함한다. 스테이지부(110-1 내지 110-n, 120-1 내지 120-n)는 시작 신호와 제 1 및 제 2 클럭 신호(CKV, CKVB)에 따라 순차적으로 구동하여 게이트 턴온 신호(Von) 및 게이트 턴 오프 신호(Voff)를 상기 스테이지부(110-1 내지 110-n, 120-1 내지 120-n)에 접속된 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 제공한다. 먼저, 상기 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120) 각각의 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)는 수직 동기 시작 신호(STV)와 제 1 및 제 2 클럭 신호(CKV, CKVB)에 따라 동작하여 게이트 턴온 신호(Von)를 상기 제 1 게이트 라인(G1)에 인가한다. 이를 통해 제 1 게이트 라인(G1)에 접속된 복수의 박막 트랜지스터(T1)를 턴온시키고, 이때, 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 인가된 데이터 신호(DS1 내지 DSm)가 턴온된 박막 트랜지스터(T)에 의해 화소 커패시터(Clc)에 제공된다. 여기서, 상기 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)의 게이트 턴온 신호(Von)는 제 2 스테이지부(110-2, 120-2)를 구동시키기 위한 시작 신호로 사용 된다. 따라서, 제 2 스테이지부(110-2, 120-2)는 전단 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)의 출력인 게이트 턴온 신호(Von)와 제 1 및 제 2 클럭 신호(CKV, CKVB)에 따라 동작하여 게이트 턴온 신호(Von)를 제 2 게이트 라인(G2)에 인가한다. 이를 통해 제 2 게이트 라인(G2)에 접속된 박막 트랜지스터(T1)를 턴온시키고, 데이터 신호(DS1 내지 DSm)를 화소 커패시터(Clc)에 제공할 수 있게 된다. 이때, 상기 제 2 스테이지부(110-2, 120-2)의 게이트 턴온 신호(Von)는 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)의 동작을 정지시키는 정지 신호로 사용된다. 이에, 제 2 스테이지부(110-2, 120-2)가 게이트 턴온 신호(Von)를 출력함과 동시에 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)의 동작은 정지하고 이를 통해 제 1 스테이지부(110-1, 120-1)는 게이트 턴오프 전압(Voff)을 제 1 게이트 라인(G1)에 공급한다. 상기 제 2 클럭 신호(CKVB)는 상기 제 1 클럭 신호(CKV)의 반전 신호를 사용한다.
상술한 바와 같이 전단 스테이지부의 출력을 시작 신호로 하고, 후단 스테이지부의 출력을 정지 신호로하여 복수의 스테이지부를 순차적으로 구동시켜 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 게이트 턴온 전압(Von)과 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 제공한다. 이때, 마지막의 제 n 스테이지부(110-n, 120-n)는 별도의 더미 스테이지부(미도시)로부터 정지 신호를 인가 받거나, 제어부(130)를 통해 정지 신호를 인가 받아 그 동작이 정지될 수 있다. 물론 이에 한정되지 않고, 상기 제 1 게이트 구동부(110)와 제 2 게이트 구동부(120)가 순차적으로 구동하여 제 1 게이트 구동부(110)는 홀수 번째의 게이트 라인에 게이트 턴온 신호(Von)를 인가하고, 제 2 게이트 구동부(120)는 짝수 번째의 게이트 라인에 게이트 턴온 신호(Von)를 인가할 수 있다.
한편, 검사 동작의 경우, 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)는 상기 제어부(130)로부터 공급되는 신호가 아닌 별도의 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)를 통해 공급되는 테스트용 동작 신호에 따라 동작하여 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 테스트용 게이트 턴온 전압(T-Von)을 인가한다. 여기서, 상기 주변 영역(P)으로 연장된 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)은 적어도 하나의 데이터 검사 패드(미도시)에 접속될 수도 있다.
제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)의 복수의 스테이지부(110-1 내지 110-n, 120-1 내지 120-n)는 상기 검사 패드부(310, 320, 330, 340)를 통해 공급되는 검사를 위한 동작 신호 즉, 테스트용 시작 신호(T-STV), 테스트용 제 1 및 제 2 클럭 신호(T-CKV, T-CKVB) 그리고, 테스트용 게이트 턴온 신호(T-Von) 및 테스트용 게이트 턴오프 신호(T-Voff)에 의해 순차적으로 동작한다. 순차적으로 동작하는 복수의 스테이지부(110-1 내지 110-n, 120-1 내지 120-n)는 검사용 게이트 턴온 신호(T-Von)를 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 제공할 수 있게 된다. 이때, 데이터 검사 패드를 통해 공급되는 테스트용 데이터 신호(T-DS1 내지 T-DSm)는 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 공급된다. 이를 통해 테스트용 화면이 표시 영역(D)에 표시된다. 상술한 검사 동작을 통해 표시 영역(D)의 화면 표시 불량을 육안으로 검출할 수 있다.
여기서, 상기 검사 동작은 하부 기판(10)과 상부 기판(20)을 합착 밀봉한 이후에 수행하는 것이 효과적이다.
상기 구동 라인(220)은 제 1 및 제 2 게이트 구동부(110, 120)를 구동시킬 수 있는 동작 신호 또는 테스트용 동작 신호를 전송할 수 있는 복수의 라인(221, 222, 223, 224, 225)을 포함한다. 즉, 상기 구동 라인(220)은 도 1 및 도 3에 도시된 바와 같이 수직 동기 시작 신호(STV) 또는 테스트용 수직 동기 시작 신호(T-STV)를 전송하는 제 1 라인(221)과, 제 1 클럭 신호(CKV) 또는 테스트용 제 1 클럭 신호(T-CKV)를 전송하는 제 2 라인(222)과, 제 2 클럭 신호(CKVB) 또는 테스트용 제 2 클럭 신호(T-CKVB)를 전송하는 제 3 라인(223)과, 게이트 턴오프 신호(Voff) 또는 테스트용 게이트 턴 오프 신호(T-Voff)를 전송하는 제 4 라인(224)과, 게이트 턴온 신호(Von) 또는 테스트용 게이트 턴온 신호(T-Vof)를 전송하는 제 5 라인(225)을 포함한다.
상기 제 1 내지 제 5 라인(221, 222, 223, 224, 225)의 끝단에는 각기 제 1 내지 제 5 구동 패드(241, 242, 243, 244, 245)가 마련된다. 제 1 구동 패드(241)는 제 1 라인(221)의 끝단에 마련되어 수직 동기 시작 신호(STV)를 제공받고, 제 2 구동 패드(242)는 제 2 라인(222)의 끝단에 마련되어 제 1 클럭 신호(CKV)를 제공받고, 제 3 구동 패드(243)는 제 3 라인(223)의 끝단에 마련되어 제 2 클럭 신호(CKVB)를 제공받고, 제 4 구동 패드(244)는 제 4 라인(224)의 끝단에 마련되어 게이트 턴오프 신호(Voff)를 제공받고, 제 5 구동 패드(245)는 제 5 라인(225)의 끝단에 마련되어 게이트 턴온 신호(Von)를 제공받는다. 이때, 도 3에 도시된 바와 같이 제 1 내지 제 5 라인(221, 222, 223, 224, 225)은 인가되는 신호의 전압 레벨에 따라 그 라인의 선폭이 서로 다르다.
본 실시예에서는 상기 구동 라인(220)에 테스트용 동작 신호를 인가하기 위한 복수의 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)를 더 포함한다.
하기에서는 구동 라인(220)의 제 1 내지 제 5 라인(221, 222, 223, 224, 225)에 각기 접속된 제 1 내지 제 5 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)에 관해 설명한다.
제 1 내지 제 5 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350) 각각은 도 3에 도시된 바와 같이 제 1 내지 제 5 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)와, 상기 제 1 내지 제 5 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)에서 연장된 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)과, 상기 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)과 상기 구동 라인(220)의 제 1 내지 제 5 라인(221, 222, 223, 224, 225)간을 연결하는 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)을 포함한다. 여기서, 상기 제 1 검사 패드부(310)의 제 1 브리지 배선(313)은 제 1 라인(221)에 접속되어 제 1 검사 패드(311)와 제 1 연장 라인(312)을 통해 제공되는 테스트용 수직 동기 시작 신호(T-STV)를 상기 제 1 라인(221)에 공급한다. 상기 제 2 검사 패드부(320)의 제 2 브리지 배선(323)은 제 2 라인(222)에 접속되어 제 2 검사 패드(321)와 제 2 연장 라인(322)을 통해 제공되는 테스트용 제 1 클럭 신호(T-CKV)를 상기 제 2 라인(222)에 공급한다. 제 3 검사 패드부(330)의 제 3 브리지 배선(333)은 제 3 라인(223)에 접속되어 제 3 검사 패드(331)와 제 3 연장 라인(332)을 통해 제공되는 테스트용 제 2 클럭 신호(T-CKVB)를 상기 제 3 라인(223)에 공급한다. 제 4 검사 패드부(340)의 제 4 브리지 배선(343)은 제 4 라인(224)에 접속되어 제 4 검사 패드(341)와 제 4 연장 라인(342)을 통해 제공되는 테스트용 게이트 턴오프 신호(T-Voff)를 제 4 라인(224)에 공급한다. 제 5 검사 패드부(350)의 제 5 브리지 배선(353)은 제 5 라인(225)에 접속되어 제 5 검사 패드(351)와 제 5 연장 라인(352)을 통해 제공되는 테스트용 게이트 턴온 신호(T-Von)를 제 5 라인(225)에 공급한다.
여기서, 상기 구동 라인(220)은 게이트 라인(G1 내지 Gn)용 금속 및 데이터 라인(D1 내지 Dm)용 금속 중 적어도 어느 하나의 금속을 사용하는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 제 1 내지 제 5 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)도 상기 게이트 라인(G1 내지 Gn)용 금속 및 데이터 라인(D1 내지 Dm)용 금속 중 적어도 어느 하나의 금속을 사용하는 것이 효과적이다. 이때, 상기 구동 라인(220)과 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)이 서로 동일 금속으로 동시에 제작되는 것이 바람직하다. 물론 서로 다른 금속으로 제작될 수 있고, 서로 다른 공정을 통해 제작될 수도 있다. 이때, 상기 게이트 라인(G1 내지 Gn)용 금속 및 데이터 라인(D1 내지 Dm)용 금속으로는 Al, Nd, Ag, Cr, Ti, Ta 및 Mo 중 적어도 어느 하나의 금속 또는 이들을 포함하는 합금으로 형성하되, 단일층 및 다중층으로 형성할 수 있다. 즉, 물리 화학적 특성이 우수한 Cr, Ti, Ta, Mo 등의 금속층과 비저항이 작은 Al 계열 또는 Ag 계열의 금속층을 포함하는 이중층 또는 삼중층으로 형성할 수도 있다.
상술한 금속을 이용하여 라인을 제작할 경우 그 라인 저항을 감소시킬 수 있다. 하지만, 라인의 일부에 부식이 발생할 경우에는 부식이 라인을 따라 확산하게 되어 라인 전체가 부식되어 그 전기적 특성이 열화되는 문제가 발생한다. 특히, 종래에는 상기 검사 패드부가 구동 라인의 일부에서 돌출 연장된 라인 형태로 제작되었다. 상기 검사 패드부의 패드가 주변 영역의 노출 영역에 마련되기 때문에 공기 중에 노출되고, 이로인해 공기중의 수분에 의해 검사 패드부가 쉽게 부식되는 문제가 발생한다. 이러한 검사 패드부의 부식이 이와 연결된 구동 라인으로 확산되어 구동 라인 전체를 부식 시키게 된다.
이에 본 실시예에서는 제 1 내지 제 5 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 제 1 내지 제 5 연장 라인(321, 322, 332, 342, 352)과 구동 라인(220)의 제 1 내지 제 5 라인(221, 222, 223, 224, 225)을 단일 라인으로 제작하지 않고, 이들을 부식이 전달되지 않는 특성을 갖는 도전성막으로 제작된 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)을 통해 연결한다. 이를 통해 제 1 내지 제 5 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 제 1 내지 제 5 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)에서 발생한 부식은 상기 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)을 따라 확산되지만 제 1 내지 제 5 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352) 끝단에 마련된 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)에 의해 그 확산이 차단되어, 구동 라인(220)으로 전달되지 않게 된다. 여기서, 상기 구동 라인(220)의 끝단에 마련된 구동 패드(240) 또한, 주변 영역의 노출 영역에 마련되지만, 제어부(130)의 접속 패드(미도시)와 밀착되기 때문에 공기 중에 노출되지 않아 부식이 쉽게 발생하지 않는다.
상술한 특성을 갖는 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353) 은 화소 전극과 동일 물질막을 사용하는 것이 바람직하다. 즉, 상기 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)으로 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)을 사용하는 것이 효과적이다. 인듐 주석 산화물을 이용하여 제작된 도전성 막의 경우, 내부식을 가지므로 부식이 신호 라인으로 전파되는 것을 억제한다. 물론 상기 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)은 ITO 및 IZO에 한정되지 않고 내부식성을 갖는 다양한 도전성 물질을 사용하거나, 부식을 확산시키지 않는 도정성 물질을 이용하여 제작할 수 있다.
상술한 제 1 내지 제 5 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)은 도 4에 도시된 바와 같이 구동 라인(220)에 접속된 제 1 브리지 콘택 패드(301)와, 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)에 접속된 제 2 브리지 콘택 패드(302) 그리고, 상기 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)간을 연결하는 연결 배선(303)을 포함한다. 여기서, 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)에 의해 절연막(11)으로 보호되었던 구동 라인(220)과 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)의 일부가 노출된다.
따라서, 상기 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)가 공기 중에 노출될 경우 그 하부의 구동 라인(220)과 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)이 쉽게 부식될 우려가 있다. 이에 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)는 주변 영역(P)의 밀봉 영역(S) 내에 마련된다. 본 실시예에서는 도 4에 도시된 바와 같이 상기 밀봉 영역(S)의 밀봉 부재(400) 하부 영역에 마련되는 것이 효과적이다. 이를 통해 상기 밀봉 부재(400)에 의해 상기 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)를 밀봉하여 외부의 수분과 같이 금속막의 부식을 일으킬 수 있는 원인들의 침입을 방지할 수 있다.
하기에서는 상술한 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)을 갖는 브리지 콘택 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 제작에 관해 간략히 설명한다.
먼저 하부 기판(10) 상에 금속막을 형성하고, 이를 식각하여 게이트 라인(G1 내지 Gn) 및 구동 라인(220)을 형성하고, 상기 구동 라인(220)과 이격된 브리지 콘택 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)을 형성한다. 이때, 상기 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 접속된 박막 트랜지스터(T)의 게이트 전극(미도시)과 유지 전극(미도시)도 함께 형성된다. 이어서, 전체 구조상에 게이트 절연막(미도시)을 형성하고, 상기 게이트 전극 상에 활성영역(미도시)을 형성한다. 그리고, 상기 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 직교하는 데이터 라인(D1 내지 Dm)을 형성하고, 상기 게이트 전극 상부에 소스 전극(미도시)과 드레인 전극(미도시)을 형성하여 박막 트랜지스터(T)를 제작한다. 다음으로 전체 구조상에 보호막(미도시)을 형성하고, 상기 보호막의 일부를 제거하여 복수의 콘택홀(미도시)을 형성한다.
이때, 상기 구동 라인(220)의 끝단 영역을 노출하는 구동 패드용 콘택홀과, 상기 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)의 일 끝단 영역을 노출하는 검사 패드용 콘택홀과, 상기 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)의 타 끝단 영역을 노출하는 제 1 브리지 콘택 패드용 콘택홀과, 상기 구동 라인(220)의 일부 영역을 노출하는 제 2 브리지 콘택 패드용 콘택홀을 형성한다. 이어서, 상기 보호막 상에 투명 도전막을 형성하고, 이를 패터닝 하여 화소 전극을 형성하고, 상기 구동 패드용 콘택홀 상에 구동 패드(241, 242, 243, 245)를 형성하고, 상기 검사 패드용 콘택홀 상에 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)를 형성한다. 그리고, 상기 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드용 콘택홀에 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드(301, 302)를 형성하고, 이둘 간을 연결하는 연결 배선(303)을 형성하여 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)을 마련한다. 이를 통해 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)와, 상기 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)로부터 연결된 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352) 그리고, 상기 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)과 구동 라인(220) 간을 연결하는 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)을 포함하는 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)를 제작할 수 있다.
물론 본 실시예에 따른 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)는 상술한 설명에 한정되지 않고, 다양한 변형예가 가능하다. 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 상기 검사 패드부(310, 320, 340, 350)가 부식이 전달되지 않는 특성을 갖는 단일 도전성막으로 제작될 수 있다. 이때, 검사 패드부(310)가 단일 도전성막으로 제작될 경우에는 브리지 배선(313, 323, 333, 343, 353)이 생략될 수 있다. 즉, 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)는 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)에서 연장된 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)과, 상기 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352)과 구동 라인(220)간을 연결하는 콘택 패드(314, 324, 334, 344, 354)를 포함한다. 검사 패드부(310, 320, 330, 340, 350)의 검사 패드(311, 321, 331, 341, 351)와, 연장 라인(312, 322, 332, 342, 352) 그리고 콘택 패드(314, 324, 334, 344, 354)는 화소 전극으로 사용되는 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)을 이용하여 상기 화소 전극과 동시에 패터닝 된다. 또한, 도 5에 도시된 바와 같이 구동 라인(220) 간의 선폭이 서로 동일 할 수 있다.
상술한 설명에서는 다섯개의 라인을 갖는 구동 라인과 연결되는 다섯개의 검사 패드부에 관해 설명하였지만, 본 실시예는 상술한 라인과 검사 패드부의 개수에 한정되지 않고, 상기 라인과 검사패드부의 개수는 이보다 더 많거나 적을 수도 있다. 그리고, 상기 라인의 개수와 검사 패드부의 개수가 서로 동일하지 않을 수도 있다. 또한, 상기 제어부는 데이터 구동부와, 신호 제어부로 분리될 수도 있고, 상기 제어부가 인쇄 회로 기판에 실장되고, 연성 인쇄 회로 기판을 통해 상기 신호 라인들과 전기적으로 접속될 수도 있다. 하기에서는 도면을 참조하여 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치에 관해 설명한다. 후술되는 설명중 상술한 설명과 중복되는 설명은 생략한다. 그리고 후술되는 설명의 기술은 상술한 제 1 실시예에 적용될 수 있다.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치의 개념도이다.
도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역(D)과 주변 영역(P)을 포함하는 액정 표시 패널(1000)과, 연성 인쇄 회로 기판(2100)을 통해 상기 액정 표시 패널(1000)과 접속된 인쇄 회로 기판(2000)을 포함한다.
상기 액정 표시 패널(1000)은 표시 영역(D)과 주변 영역(P)이 정의된 하부 기판(10)과 상부 기판(20)을 구비한다. 하부 기판(10)의 표시 영역(D)에는 게이트 라인(G1 내지 Gn), 데이터 라인(D1 내지 Dm), 박막 트랜지스터(T) 및 화소 전극이 마련된다. 상기 하부 기판(10)의 주변 영역(P)에는 제 1 및 제 2 게이트 구동부(1100)와, 상기 제 1 및 제 2 게이트 구동부(1100)에 접속된 구동 라인(1200)과, 상기 구동 라인(1200)에 접속된 검사 패드부(1300)가 마련된다. 그리고, 상기 하부 기판(20)의 주변 영역(P)에는 상기 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 일부가 연장된다. 상기 검사 패드부(1300)는 주변 영역(P)의 노출 영역(O)에 마련된 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 상기 주변 영역(P)의 밀봉 영역(S)으로 연장된 연장 라인과, 상기 밀봉 영역(S)에 마련되어 연장 라인과 구동 라인(1200)간을 연결하는 브리지 배선을 포함한다. 상기 브리지 배선은 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)을 사용한다. 이를 통해 노출 영역(O)에 마련된 검사 패드에서 발생하여 연장 라인을 따라 확산되는 부식은 브리지 배선에서 차단되어 구동 라인(1200)으로 확산되는 것을 방지할 수 있다. 물론 본 실시예에서는 상기 검사 패드부(1300)를 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)로 제작할 수 있다. 즉, 단일 막으로 제작된 검사 패드부(1300)는 주변 영역(P)의 노출 영역(S)에 마련된 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 상기 주변 영역(P)의 밀봉 영역(S)으로 연장된 연장 라인과, 상기 밀봉 영역(S)에서 상기 연장 라인을 구동 라인(1200)에 접속시키는 콘택 패드를 포함한다. 이와 같이 검사 패드부(1300)를 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)을 포함하는 단일 막으로 제작 하여 상기 노출 영역(O)에 마련된 검사 패드 또는 연장 라인에 부식이 발생하더라도 상기 부식은 밀봉 영역(S)으로 확산되지 않게 된다. 이를 통해 구동 라인(1200)의 부식을 방지할 수 있다.
상기 인쇄 회로 기판(2000)은 연성 인쇄 회로 기판(2100)을 통해 상기 액정 표시 패널(1000)의 주변 영역(P)에 마련된 상기 데이터 라인(D1 내지 Dm)과 접속된 데이터 구동부(2200)와, 데이터 구동부(2200)의 동작을 제어하는 신호 제어부(2300)를 포함한다. 이때, 상기 신호 제어부(2300)는 연성 인쇄 회로 기판(2100)을 통해 상기 액정 표시 패널(1000)의 주변 영역(P)에 마련된 상기 구동라인(1200)과 접속된다. 물론 상기 표시 장치는 도시되지는 않았지만, 복수의 구동전압을 생성하는 구동 전압 생성부를 더 포함할 수 있다. 데이터 구동부(2200)의 데이터 신호는 연성 인쇄 회로 기판(2100)을 통해 액정 표시 패널(1000)의 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 제공된다. 그리고, 신호 제어부(2300)의 구동 신호는 연성 인쇄 회로 기판(2100)을 통해 액정 표시 패널(1000)의 구동 라인(1200)에 제공되어 제 1 및 제 2 게이트 구동부(1100, 1200)를 구동시킨다. 여기서, 제 1 및 제 2 게이트 구동부(1100, 1200)는 클럭 신호와 반전된 클럭 신호 및 수직 동기 시작 신호를 포함하는 구동신호를 상기 신호 제어부(2300)로부터 제공받아, 클럭 신호 및 반전된 클럭 신호를 게이트 턴온 신호로하여 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 공급한다. 또한, 제 1 및 제 2 게이트 구동부(1100, 1200)는 검사 패드부(1300)로부터 테스트용 클럭 신호와 테스트용 반전된 클럭 신호 및 테스트용 수직 동기 시작 신호를 포함하는 테스트용 구동 신호를 제공받아, 테스트용 클럭 신호 및 테 스트용 반전된 클럭 신호를 게이트 턴온 신호로 하여 복수의 게이트 라인에 순차적으로 공급할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 표시 장치의 표시 영역 내의 소자에 전기적 신호를 공급하는 신호 라인에 테스트용 신호를 공급할 수 있는 검사 패드부를 접속시켜 표시 영역내의 소자 동작을 테스트할 수 있다.
또한, 본 발명은 신호 라인과 검사 패드를 내부식성의 도전성 물질의 브리지 배선을 통해 연결하여 검사 패드에서 발생한 부식이 신호 라인으로 확산되는 것을 방지하여 신호 라인을 부식으로부터 보호할 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 브리지 배선을 밀봉 부재 하단에 마련하여 브리지 배선 영역이 공기중으로 노출되지 않도록 할 수 있다.
또한, 본 발명은 신호 라인과 접속되는 검사 패드부를 부식을 전달하지 않는 특성의 단일 도전성막으로 제작하여 검사 패드부에서 발생한 부식이 신호 라인으로 확산되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 본 발명은 신호 라인과 접하는 검사 패드부를 화소 전극으로 사용되는 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO)로 제작하여 공정을 단순화시킬 수 있다.
본 발명을 첨부 도면과 전술된 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위에 의해 한정된다. 따라 서, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 후술되는 특허청구범위의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 변형 및 수정할 수 있다.

Claims (16)

  1. 표시 영역과 주변 영역을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 영역에 화상 표시를 위한 신호를 제공하는 복수의 신호 라인;
    상기 표시 패널의 주변 영역에 마련되어 상기 복수의 신호 라인의 적어도 일부에 접속된 검사 패드부를 구비하고,
    상기 검사 패드부는 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 연장된 연장 라인과, 상기 연장 라인과 상기 신호 라인간을 연결하는 브리지 배선을 포함하고, 상기 브리지 배선은 내부식성 물질로 제작되는 표시 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 브리지 배선은 상기 표시 영역에 마련되는 화소 전극과 동일 물질로 제작되는 표시 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 브리지 배선은 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO) 중 적어도 어느 하나를 사용하는 표시 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 브리지 배선은 상기 연장 라인과 상기 신호 라인에 각기 접속된 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드와, 제 1 및 제 2 브리지 콘택 패드를 연결하는 연결 배선을 포함하는 표시 장치.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 표시 패널의 주변 영역은 밀봉 영역과 개방 영역을 포함하고,
    상기 브리지 배선은 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 검사 패드는 상기 개방 영역 내에 마련된 표시 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 표시 패널의 상기 표시 영역의 가장자리 둘레를 따라 상기 밀봉 영역에 마련된 밀봉 부재를 더 구비하고, 상기 브리지 배선은 상기 밀봉 부재 하측 영역에 마련된 표시 장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 표시 패널은 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인, 박막 트랜지스터 및 화소 커패시터를 포함하는 하부 기판과, 공통 전극 및 컬러 필터를 포함하는 상부 기판 그리고, 상기 상부 기판과 하부 기판 사이 영역에 마련된 액정을 구비하는 표시 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 신호 라인과 상기 연장 라인은 상기 게이트 라인 또는 상기 데이터 라인과 동일 물질을 사용하고, 상기 게이트 라인 또는 상기 데이터 라인과 함께 제작되는 표시 장치.
  9. 청구항 5 또는 청구항 7에 있어서,
    상기 하부 기판의 상기 주변 영역의 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 복수의 게이트 라인에 접속된 적어도 하나의 게이트 구동부와,
    상기 하부 기판의 상기 주변 영역의 상기 개방 영역 내에 마련되고, 상기 복수의 데이터 라인과, 상기 신호 라인을 통해 상기 게이트 구동부에 접속된 제어부를 더 포함하는 표시 장치.
  10. 청구항 7에 있어서,
    상기 하부 기판의 주변 영역에 마련되고, 상기 복수의 게이트 라인에 접속된 적어도 하나의 게이트 구동부와,
    연성 인쇄 회로 기판을 통해 상기 표시 패널에 접속된 인쇄 회로 기판을 더 포함하고,
    상기 인쇄 회로 기판에는 상기 신호 라인을 통해 상기 데이터 라인에 전기적으로 접속되는 데이터 구동부와, 상기 신호 라인을 통해 상기 게이트 구동부에 전기적으로 접속되고, 상기 데이터 구동부에 접속되는 신호 제어부가 실장된 표시 장치.
  11. 표시 영역과 주변 영역을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 영역에 화상 표시를 위한 신호를 제공하는 복수의 신호 라인;
    상기 표시 패널의 주변 영역에 마련되어 상기 복수의 신호 라인의 적어도 일부에 접속된 검사 패드부를 구비하고,
    상기 검사 패드부는 내부식성 물질로 제작되는 표시 장치.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 검사 패드부는 상기 표시 영역에 마련되는 화소 전극과 동일 물질로 제작되는 표시 장치.
  13. 청구항 11에 있어서,
    상기 검사 패드부는 인듐 주석 산화물(Indium Tin Oxide: ITO)이나 인듐 아연 산화물(Indium Zinc Oxide: IZO) 중 적어도 어느 하나를 사용하는 표시 장치.
  14. 청구항 11에 있어서,
    상기 검사 패드부는 검사 패드와, 상기 검사 패드에서 연장된 연장 라인과, 상기 연장 라인과 상기 신호 라인간을 연결하는 콘택 패드를 포함하는 표시 장치.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 표시 패널의 주변 영역은 밀봉 영역과 개방 영역을 포함하고,
    상기 콘택 패드는 상기 밀봉 영역 내에 마련되고, 상기 검사 패드는 상기 개방 영역 내에 마련된 표시 장치.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 표시 패널의 상기 표시 영역의 가장자리 둘레를 따라 상기 밀봉 영역에 마련된 밀봉 부재를 더 구비하고, 상기 콘택 패드는 상기 밀봉 부재 하측 영역에 마련된 표시 장치.
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