KR20080052496A - 금속 커버를 갖는 ｗｌ-ｃｓｐ의 구조 및 공정 - Google Patents

금속 커버를 갖는 ｗｌ-ｃｓｐ의 구조 및 공정 Download PDF

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KR20080052496A
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Abstract

웨이퍼 레벨 패키지는 복수의 다이스가 위에 형성되는 웨이퍼; 패키지의 열 전도성을 증가시키기 위하여 접착 물질에 의하여 상기 웨이퍼 상에 부착되며 캐비티가 내부에 형성되는 얇은 금속 커버를 포함한다. 보호 필름은 상기 금속 커버의 후면 상에 형성되며 상기 캐비티로 충진되며, 그럼으로써 레이저 마킹을 용이하게 하며 패키지의 더 나은 절단 품질을 획득할 수 있게 한다.
웨이퍼, 패키지, 마킹, 보호 필름, 열 전도성

Description

금속 커버를 갖는 ＷＬ-ＣＳＰ의 구조 및 공정{Structure and process for WL-CSP with metal cover}
본 발명은 반도체 패키지에 관련되며, 더욱 상세하게는 패키지의 열전도성 및 절단(sawing) 품질을 향상시키기 위하여 실리콘 웨이퍼의 후면 상에 형성된 금속 커버 및 보호 필름을 갖는 웨이퍼 레벨 패키지에 관련되며, 그럼으로써 패키징 성능 및 신뢰도 테스팅 중 라이프 사이클을 증가시킨다.
최근 수년간, 칩 내의 회로 디바이스들은 고밀도로 제조되고 소형의 반도체 디바이스들을 만드는 경향이 있어 왔다. IC(집적 회로들) 설계자들은 각 디바이스의 크기를 축소시키고 단위 면적당의 칩 집적화를 증가시키고자 하였다. 일반적으로, 반도체 디바이스들은 습기나 기계적 손상으로부터의 보호를 요한다. 이 구조는 패키지의 기술을 포함한다. 이 기술에 있어서, 반도체 다이들 또는 칩들은 통상 플라스틱 또는 세라믹 패키지로 개별적으로 패키징된다. 이 패키지는 다이를 보호하고 디바이스들에 의하여 발생된 열을 발산시키기 위해 요청된다. 그러므로 방열(heat dissipation)이 반도체 디바이스들, 특히 디바이스의 파워 및 성능 증가에 매우 중요하다.
나아가 종래의 패키지는 또한 칩의 전체 기능성 테스팅을 수행하기 위해 이용된다. 각 디바이스는 가능한 소형으로 유지되는 것이 중요하다. 최근, 많은 수의 입력 및 출력을 갖는 패키지를 개발하는 것에 대한 높은 관심이 있어 왔다. 이러한 해결책들 중 하나는 볼 그리드 어레이(BGA) 및 어셈블리 기술을 갖는 디바이스들을 개발하는 것이다. 이는 고밀도 하이브리드(high density hybrid)에서의 갱신된 요구가 많은 수의 전기 커넥션들, 디지털 시스템들의 증가하는 클록 레이트의 요건에 의해 가속되기 때문이다.
패키징의 형태에 상관없이, 대부분의 패키징은 패키징되기 전에 개별 칩들로 분할된다. 그러나 웨이퍼 레벨에서의 패키징은 반도체 패키징에서의 하나의 추세이다. 전형적으로 웨이퍼 레벨 패키지는 단일의 칩 또는 다이를 이용하는 것이 아니라 전체 웨이퍼를 오브젝트로써 이용한다. 그러므로, 스크라이빙(scribing) 공정을 수행하기 전에 패키징 및 테스팅이 완료되어야만 한다. 이는 진보된 기술로 와이어 본딩, 몰딩, 다이 마운팅 및 어셈블리의 공정이 생략될 수 있으며 리드 프레임 및 기판도 마찬가지이다. 그러므로, 비용 및 제작 시간이 감소될 것이다. 다른 한편으로는, 전통적인 패키징에서의 공정은 다이 절단, 다이 마운팅, 와이어 본딩, 몰딩, 트리밍, 마킹, 플레이팅 및 검사 등을 포함한다.
종래의 리드 프레임 패키지 기술은 단자들의 밀도가 너무 높기 때문에 이미 진화된 반도체 다이스에 대하여 적합하지 않다. 그러므로, BGA(볼 그리드 어레이)의 새로운 패키지 기술이 진화된 반도체 다이스에 대한 패키징 요건을 만족시키기 위해 개발되어 왔다. BGA 패키지는 구형 단자들이 리드 프레임 패키지보다 짧은 피 치를 갖는 이점이 있으며, BGA의 단자들은 손상되거나 변형되기 쉽지 않다. 또한 더 짧은 신호 전송 거리는 더 빠른 효율 요건에 부합하도록 동작 주파수를 올리는 이점이 있다. 대부분의 패키지 기술들은 각 다이스로, 그리고 이후 패키지로 웨이퍼 상의 다이스를 분할하여 다이 각각을 테스트한다. 이른바 "웨이퍼 레벨 패키지(WLP)"로 불리는 또 다른 패키지 기술은 다이스를 각각의 개별 다이로 분할하기 전에 웨이퍼 상의 다이스를 패키지할 수 있다. WLP 기술은 더 단축된 생산 사이클 타임, 저비용 및 언더필(under-fill) 또는 몰딩을 요하지 않음과 같은 몇 가지 이점을 갖는다.
그러므로 본 발명은 생산량 및 웨이퍼 레벨 패키지 다이스의 신뢰도를 증가시키기 종래 기술의 상기 단점들의 견지에서, 본 발명은 보호 필름을 가진 패키지 구조를 제공하여 손상없이 실리콘 칩을 보호하고 패키징 성능 및 신뢰도 테스팅 중 라이프 사이클을 향상시킨다.
본 발명의 목적은 실리콘 웨이퍼에 가까운 CTE(열팽창 계수)로 인하여 패키지의 커버층으로서 기능하는 합금 42(Ni 42% 및 Fe 58%)을 바람직한 재료로 하는 금속을 이용하여 더 나은 열 전도성 및 기계적 보호를 갖는 패키지를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 추가적인 목적은 제조 가능한 한 더 얇은 패키지를 갖는 패키지를 제공하는 것이며 본 발명의 목적은 웨이퍼 레벨 패키지 및 그 공정을 개시하는 것 이다.
본 발명의 또 다른 목적은 웨이퍼 레벨 번인(burn-in) 테스트 및 최종 테스트에 적응되는 패키지를 만드는 것이다.위하여 웨이퍼 레벨 패키지를 제공한다.
본 발명은 복수의 다이스가 그 위에 형성되며, 그 안에 트렌치가 형성되는 웨이퍼; 상기 복수의 다이스 상부에 형성되며 상기 복수의 다이스의 패드들을 노출시키기 위하여 상기 트렌치로 재충진되는 유전층; 접착 물질에 의하여 상기 웨이퍼 상에 부착되는 금속층; 상기 금속층의 후면 상에 형성된 보호 필름; 상기 유전층 상에 형성되고 상기 패드들에 결합되는 전도성 트레이스; 상기 전도성 트레이스 및 상기 유전층 상에 커버되어 상기 전도성 트레이스의 부분을 노출시키는 솔더 마스크; 및 상기 노출된 부분(UBM) 상에 형성되며 상기 전도성 트레이스에 결합되는 UBM(Under Ball Metallurgy), 솔더링 금속을 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지를 포함한다.
또 다른 실시예에 있어서, 본 발명은 복수의 다이스가 그 위에 형성되며, 그 안에 트렌치가 형성되는 웨이퍼; 접착 물질에 의하여 상기 웨이퍼 상에 부착되며 그 안에 형성되는 스크라이브 라인 상에 트렌치를 갖는 더 두꺼운 기판(스크라이브 라인 상의 상기 트렌치는 상기 웨이퍼 상에서의 부착 이후에 형성될 수 있다); 상기 기판의 후면 상에 형성되며 상기 트렌치로 충진되는 보호 필름; 상기 복수의 다이스 상부에 형성되며, 상기 복수의 다이스의 패드들을 노출시키기 위하여 상기 트렌치로 재충진되는 유전층; 상기 유전층 상에 형성되고 상기 패드들에 결합되는 전 도성 트레이스; 상기 전도성 트레이스의 부분을 노출시키기 위하여 상기 전도성 트레이스 및 상기 유전층 상에 커버되는 솔더 마스크; 및 상기 노출된 부분(UBM) 상에 형성되며 상기 전도성 트레이스에 결합되는 UBM, 솔더링 금속을 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지를 개시한다.
본 발명의 몇 개의 샘플 실시예들이 이제 더 상세히 기재될 것이다. 그럼에도 불구하고 본 발명은 명백히 기재된 것들 외에도 넓은 범위의 다른 실시예들에 실시될 수 있으며 본 발명의 범위는 첨부하는 청구항에 기재된 범위로 명백히 제한되는 것이 아님이 인식되어야 한다. 또, 다른 요소들의 구성요소들은 축척에 맞추어 도시되는 것은 아니다. 관련 구성요소들의 몇몇 크기들은 과장되어지며 의미없는 부분들은 본 발명의 더 명확한 설명 및 이해를 제공하기 위하여 도시되지 않는다.
본 발명은 웨이퍼 레벨 패키지 및 웨이퍼 레벨 패키지의 구조를 형성하는 신규한 방법을 개시한다. 상세한 설명이 다음과 같이 기재된다. 설명 및 도면은 본 발명의 실시예를 예시하는 것이지 본 발명이 실시예에 의하여 제한되는 것은 아니다. 먼저, 가공된 웨이퍼 후면(또는 제1 면)은 처음에 그라인더 등으로 폴리쉬(polish)되거나 연마된다. 바람직하게, 복수의 다이스를 갖는 가공된 웨이퍼의 두께는 원하는 두께, 예를 들어 약 2-6 밀로 연마된다(lapped). 이어서, 접착 물질층(3)이 웨이퍼(5)의 후면(back-site) 또는 기판(1) 상에 형성된다. 예를 들어 접착 물질층(3)을 형성하는 방법은 프린팅 또는 코팅 방법에 의해 이용된다. 접착 물 질은 에폭시 수지, 실링 글루(sealing glue), 수용성 UV 글루, 재생가능 UV 글루(re-workable UV glue), 실리콘 수지, 실리콘 고무, 탄성 PU, 다공성 PU, 아크릴 고무, 청색 테이프 또는 UV 테이프를 포함한다. 바람직한 실시예에서, 기판(1)의 재료는 합금 42(42%Ni, 58%Fe의 조합)와 같은 금속을 포함한다. 다음으로 도 1에 도시된 바와 같이 가공된 웨이퍼(5)와 합금 42 기판(1)을 접착 물질을 포함하나 이로 한정되지 않는 적당한 물질(3)을 이용하여 접합하는 단계가 수행되며, 이후 이러한 구조를 경화시킨다. 합금 42 기판(1)은 종래 기술 등에 의하여 개시된 라미네이팅 또는 본딩 공정을 이용하여 부착될 수 있다. 바람직하게는 합금 42 기판(1)의 두께는 대략 2-4밀이다. 그러나 합금 42 기판(1)의 실질적인 두께는 공정의 다른 파라미터들에 따라 달라진다. 석영 또는 세라믹은 합금 42 기판(1)을 대체할 수 있다. 라미네이팅 공정에 사용되는 선택된 물질은 실리콘의 열팽창계수에 가까운 열팽창계수(CTE)를 갖는다. 일반적으로 실리콘의 CTE는 대략 3이다. 합금 42의 주요한 특성들은 약 4.0~4.7(ppm/℃)의 CTE, 약 12(W/m-℃)의 열 전도성, 약 70(μΩ-cm)의 전기 저항성 및 약 620(MPa)의 항복 굽힘 피로 강도(yield bend fatigue strength)를 포함한다. 합금 42와 같은 특수한 합금들은 세라믹들의 열팽창 계수들에 근사하게 매칭하는 열팽창 계수 및 높은 성형성(formability)으로 인하여 넓은 수용성(acceptance)을 획득해왔다. 상기한 바와 같이, 이들 양 물질들의 열팽창 계수들은 2.3ppm/℃인 실리콘 및 세라믹 기판(3.4 내지 7.4ppm/℃)의 열팽창계수와 잘 매칭된다. 합금 42은 대부분의 구리 합금들의 단지 380-550MPa와 비교할 때, 620MPa의 높은 피로강도를 갖는다. 기판 재료는 신호들에 대한 전기적 통로로서 기 능하기 위해 전기적으로 전도성이 있을 수 있다. 나아가 재료는 부식에 대한 저항성이 있어야만 하는데, 부식은 재료의 전기 저항을 증가시키며 그럼으로써 전기적 실패를 야기하고, 결국 기계적 파손을 초래할 수 있다. 본 발명에서 상기 재료들은 Fe-Ni 합금, Fe-Ni-Co 합금, Cu-Fe 합금, Cu-Cr 합금, Cu-Ni-Si 합금 또는 Cu-Sn 합금 등을 포함할 수 있다.
이후, 포토 레지스트(PR)층은 가공된 웨이퍼(5) 표면 지점 상에서 코팅되며 스크라이브 라인(7) 상부의 포토 레지스트층을 노출시킨다. 웨이퍼(또는 실리콘)(5)는 칩들을 분리하기 위해 포토 레지스트의 디벨로핑 공정 이후에 특수한 패턴을 가진 포토 레지스트 마스크(미도시)를 이용하여 에칭된다. 바람직하게는, 포토 레지스트 마스크의 오프닝들은 웨이퍼(5)의 표면 상에 형성된 스크라이브 라인(7)에 정렬되고, 그럼으로써 스크라이브 라인을 노출시킨다. 바람직한 실시예에 있어서, 실리콘 웨이퍼(5)는 습식 에칭을 이용하여 에칭되어 상기 단계에 의하여 생성된 트렌치(9)는 슬로프 프로파일(slope profile)을 갖는다. 본 기술에서 알려진 바와 같이 상기한 결과는 에칭의 레시피를 조절함으로써 쉽게 획득될 수 있다. 상기 두 단계들은 다이싱 절단 기계적 공정에 의해 대치될 수 있다.
도 2로 돌아가서, 이후 예를 들어 BCB, SINR(Siloxanes polymer), 에폭시, 폴리이미드, 실리콘 고무 기반 또는 수지와 같은 물질이 될 수 있는 유전층(11)이 웨이퍼(5)의 제2면(상부) 상에 형성되고 스크라이브 라인(7)으로 충진되며, 이것은 바람직하게는 프린팅, 진공 코팅 공정에 의하여 행해진다. 이 단계는 전형적으로 사용되는 테이프의 형성과 유사하다. 진공 코팅 유전층 공정은 유전층(11)에서의 버블들의 형성을 방지하며, 유전층(11)은 자동적으로 트렌치(9)로 재충진될 것이다. 이후, 경화(curing) 단계가 유전층(11)을 경화시키기 위해 자외선(UV) 방사를 이용하여 수행된다. 택일적으로 열 공정(thermal process)이 이 물질을 경화시키기 위해 이용될 수 있다. 화학 기계적 연마(CMP) 공정이 웨이퍼 회로면 상의 유전층(11)을 연마하기 위해 선택적으로 이용된다.
다음으로, 포토 레지스트(PR)층이 유전층(11) 표면 지점 상에서 코팅되고 그 뒤 포토리소그래피 공정을 이용함으로써 Al 본딩 패드들(13) 상부의 포토 레지스트층을 노출시킨다. 도 3에 도시된 바와 같이, 에칭 공정이 Al 본딩 패드들(13)을 노출시키기 위하여 오프닝을 형성하도록 부분적인 유전층(11)을 제거하기 위해 수행되며, 그럼으로써 복수의 오프닝들(15)이 유전층(11) 내에 형성되며 다이스(칩들)의 패드들(13)에 정렬된다. Al 패드들을 오픈시키기 위한 다른 방법은 유전층(11)이 포토 센시티브(photo sensitive) 물질일 때는 포토리소그래피 공정을 이용하는 것이다. 결과적으로 칩 상의 패드들(13)은 노출된다. 플라즈마 에칭이 Al 본딩 패드들(13)을 클린(clean)하기 위해 수행된다. 정렬 마크는 후속 정렬을 위한 정렬 툴로 가시적(visible)임이 인지되어야 한다. 나아가 유전층(11)은 내습(moisture resistant)의 특성을 나타낸다.
이어서, 전도성 트레이스 레이아웃 또는 이른바 패드 회로 재분포(re-distribution)가 도 4에 도시된 바와 같이 유전층(11)의 상부 표면 위로 배열된다. 재분포 전도성 트레이스(17)는 금속, 합금 등과 같은 전도층으로 구성될 수 있다. 일반적 공정에서, 배리어 시드층(barrier seed layer)은 오프닝(15) 내에 본딩 패 드들(13) 위로 형성되며, 예를 들어 시드층은 Ti/Cu 또는 Ti/W/Cu 합금 등의 소스 재료를 사용하여 스퍼터링된다. 포토 레지스트는 시드층의 상부에 코팅되며 이후 포토 마스크가 RDL 전도층 패턴을 형성한다. RDL 트레이스는 예를 들어 Cu/Au 또는 Cu/Ni/Au 합금 등의 소스 재료를 이용하여 전자 도금 방법을 채용함으로써 시드층 상에 형성된다. 포토 레지스트는 이후 벗겨지며 금속 습식 에칭이 RDL 금속 트레이스를 형성하기 위해 진행된다. 이후의 단계에서 도입되는 솔더 범프들의 적절한 배치 및 피치를 제공하기 위하여 재분포층(RDL)이 배리어층 상에 형성되도록 재분포될 수 있다. 본 기술들에 의해 알려진 바와 같이, 재분포 전도성 트레이스(17)의 부분은 전기적 커넥션을 위하여 패드들(13)에 접촉한다.
또 도 4로 돌아가서, 솔더 마스크 유전층(19)(상부 보호층)은 RDL 전도성 트레이스(17)를 보호하도록 절연을 위해 유전층(11) 및 RDL 전도성 트레이스(17)를 커버하도록 놓여진다. 유전층(19)은 프린팅 또는 코팅에 의해 그리고 그 뒤 솔더 패드들을 형성하기 위해 포토 마스크를 형성하는 포토리소그래피 공정을 채용함으로써 형성된다. 포토리소그래피 공정은 솔더 패드들을 형성하기 위해 재분포 층 트레이스를 노출시키도록 제2 오프닝을 형성하기 위해 부분적인 유전층(19)을 제거하도록 진행된다. 다음으로, 플라즈마 클린 솔더 패드들이 만들어질 수 있다. RDL 트레이스(17)를 형성하기 위한 상기의 공정들은 복수 층의 금속 재분포 UBM 구조를 형성하기 위해 반복될 수 있다. 이러한 접근에서는 UBM의 형태는 패터닝된 유전층(19)에 의해 주로 형성되며, 광 한정성(photo definable) 에폭시가 응력 보상층(Stress Compensation Layer; SCL)로 기능하도록 웨이퍼 상에 선택적으로 코팅된 다.
솔더 마스크(19)는 RDL 전도성 트레이스(17)의 원하는 부분을 노출시키고 RDL 전도성 트레이스(17)의 노출된 영역은 전기적 결합 단자로써 솔더볼들을 위치시키기 위해 기설정된다. 솔더 페이스트 프린팅 공정은 기설정된 영역 상에 솔더(21)를 프린트하기 위해 수행되며, 솔더(21)는 RDL 전도성 트레이스(17)(UBM을 통해; UBM 부분은 도면에 도시되지 않음)에 접촉한다. 그 뒤, 솔더(21)는 도 5에 도시된 바와 같이 구형(spherical)을 단자 접촉기로서 얻기 위해 본 기술에서 알려진 온도로 IR 리플로우에 의해 채용된다. 반도체 다이(5)는 패드 회로 또는 전도성 트레이스들(17)에 의해 솔더볼(21)에 결합된다. 솔더볼(21)은 전형적인 볼 그리드 어레이(BGA) 기술에 의하여 형성될 수 있다. 바람직하게, 솔더볼들(21)은 매트릭스 형태로 구성된다. 일반적으로, 솔더볼들(21)은 전기 커넥션을 형성하기 위하여 이 회로와 결합된다.
이어서, 웨이퍼가 웨이퍼 레벨 테스팅 및/또는 번인 테스트를 위하여 테스팅 장치에 세팅된다. 다음으로 절단 공정이 스크라이브 라인(22)을 절단함으로써 다이스를 분리하기 위해 웨이퍼 레벨 패키지(WLP) 테스트 이후에 수행되며, 그럼으로써, 칩 스케일 패키지(CSP)를 획득한다. 더 얇은 두께의 기판(1)을 가진 패키지 구조에 있어서, 도 5에 도시된 패키지의 커버층을 형성하기 위해 합금 42 기판(1)의 후면 상에 에폭시 수지, 컴파운드, 유전층, 실리콘, 실리콘 고무, 실리콘 수지, 탄성 PU, 다공성 PU, 아크릴 고무, 청색 테이프 또는 UV 테이프 재료들로 이루어질 수 있는 보호 필름(2)을 프린트하는 단계로 진행한다. 예를 들어, 금속층(1)의 두 께는 약 2.0밀에서 4.0밀이다. 보호 필름(2)은 레이저 또는 잉크에 의하여 마킹할 수 있다. 바람직한 실시예에서, 보호 필름(2)의 재료는 수지, 컴파운드, 유전층, 실리콘, 청색 테이프, UV 테이프, 실리콘 고무, 실리콘 수지, 탄성 PU, 다공성 PU 또는 아크릴 고무를 포함한다. 마지막으로, 다이싱(레이저) 소(saw)는 패키지를 분리하기 위하여 스크라이브 라인(22)을 따라 합금 42 기판(1)을 가진 가공된 웨이퍼를 절단하는 것이 용이해진다.
나아가, 더 두꺼운 두께의 기판(1)을 가진 패키지 구조를 포함하는 또 다른 바람직한 실시예에서, 포토 레지스트는 합금 42 기판(1)의 후면(back-site) 상에 코팅되고 이후 스크라이브 라인(22) 상의 포토 레지스트를 노출시키며, 그럼으로써 기판(1) 및 그 사이에 기설정된 패턴을 형성하는 오프닝 상에 그리고 스크라이브 라인 상에 기설정된 패턴을 형성시킨다. 다음으로, 습식 에칭 공정은 스크라이브 라인(22) 상의 더 얇은 두께의 합금 42 기판(1)에 수행되어 다이싱을 용이하게 하기 위해 그 위에 트렌치(23)를 형성하며, 그럼으로써 더 나은 절단 품질을 생성한다. 그리고 이후 예를 들어, 수지, 컴파운드, 유전층, 실리콘, 실리콘 고무, 실리콘 수지, 탄성 PU, 다공성 PU, 아크릴 고무, 청색 테이프 또는 UV 테이프 재료들로 이루어진 보호 필름(2)을 프린팅, 코팅, 태핑(tapping) 또는 몰딩 방법에 의하여 합금 42 기판(1)의 후면 상에 형성하고 패키지의 커버층을 형성하도록 트렌치(23)로 충진되도록 진행된다. 예를 들어, 트렌치(23)의 깊이는 약 2.0밀 내지 10.0밀이다. 본 실시예에서, 스크라이브 라인 영역 상의 더 두꺼운 기판(1)은 선행하는 실시예와 같은 더 얇은 층이 되도록 에칭되며 트렌치(23)는 커버 재료로 충진되어 이 러한 구조는 또한 레이저 마킹 및 패키지의 더 나은 절단 품질을 획득하기가 용이해진다. 유사하게, 다이싱(레이저) 소는 패키지를 분리하기 위해 스크라이브 라인(22)을 따라 가공된 웨이퍼를 절단한다.
결론적으로, 본 발명의 구조 및 공정은 다음과 같은 이점을 갖는다: 손상없이 실리콘 칩을 보호하고, 부서지기 쉬운 재료들이 없으며, 보다 나은 열 전도성을 가지며, 실리콘 기판(2.6)에 가까운 합금 42 CTE(~4.1)를 이용하며, 칩을 완전히 패키징하며, 더 얇은 패키지가 가능하며 복수층의 RDL 전도층을 갖는다. 그러므로, 본 발명의 금속 커버를 갖는 WL-CSP의 구조 및 공정은 패키징 성능 및 신뢰도 테스팅 중 라이프 사이클을 증가시킬 수 있다.
본 기술의 당업자에 의하여 이해되는 바와 같이 본 발명의 전술한 바람직한 실시예들은 본 발명을 제한하는 것이라기보다는 본 발명을 예시하기 위한 것이다. 첨부된 청구항의 정신 및 범위 내에 포함되는 다양한 수정들 및 유사한 장치들을 커버하도록 의도되며, 그 범위는 모든 이러한 수정들 및 유사한 구조를 포괄하도록 가장 넓은 해석에 따라야 한다. 따라서 본 발명의 바람직한 실시예가 예시되고 기재되었지만, 본 발명의 정신 및 범위로부터 벗어나지 않고 다양한 변경이 이루어질 수 있다는 것이 이해될 것이다.
도 1은 본 발명에 따라 접착 물질에 의하여 웨이퍼 상에 부착되는 금속층의 개략도이다.
도 2는 본 발명에 따라 복수의 다이스 상부에 형성되며 트렌치로 재충진되는 유전층의 개략도이다.
도 3은 본 발명에 따라 복수의 다이스의 패드들을 노출시키기 위하여 복수의 다이스 상부에 형성되는 유전층의 개략도이다.
도 4는 본 발명에 따라 전도성 트레이스 상에 커버되는 솔더 마스크 및 전도성 트레이스의 노출된 부분 상에 형성되는 솔더볼들의 개략도이다.
도 5는 본 발명에 따라 금속 커버층의 후면 상에 형성되는 보호 필름의 개략도이다.
도 6은 본 발명에 따라 금속 커버층의 후면 상에 형성되는 보호 필름의 개략도이다.

Claims (10)

  1. 복수의 다이스가 그 위에 형성되며, 그 안에 트렌치가 형성되는 웨이퍼;
    상기 복수의 다이스 상부에 형성되며 상기 복수의 다이스의 패드들을 노출시키기 위하여 상기 트렌치로 재충진되는 유전층;
    접착 물질에 의하여 상기 웨이퍼 상에 부착되는 금속층;
    상기 금속층의 후면 상에 형성된 보호 필름;
    상기 유전층 상에 형성되고 상기 패드들에 결합되는 전도성 트레이스;
    상기 전도성 트레이스 및 상기 유전층 상에 커버되어 상기 전도성 트레이스의 부분을 노출시키는 솔더 마스크; 및
    상기 노출된 부분 상에 형성되며 상기 전도성 트레이스에 결합되는 솔더볼들을 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 금속 기판은 합금 42(42%Ni, 58%Fe)를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 보호 필름의 재료는 에폭시 수지, 컴파운드, 유전층, 실리콘, 청색 테이프, UV 테이프, 실리콘 고무, 실리콘 수지, 탄성 PU, 다공성 PU 또는 아크릴 고무를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 보호 필름은 레이저 또는 잉크에 의하여 마킹할 수 있는 웨이퍼 레벨 패키지.
  5. 청구항 1에 있어서, 상기 금속층의 두께는 약 2.0밀에서 4.0밀인 웨이퍼 레벨 패키지.
  6. 복수의 다이스가 그 위에 형성되며, 그 안에 트렌치가 형성되는 웨이퍼;
    접착 물질에 의하여 상기 웨이퍼 상에 부착되며 그 안에 형성되는 트렌치를 갖는 기판;
    상기 기판의 후면 상에 형성되며 상기 트렌치로 충진되는 보호 필름;
    상기 복수의 다이스 상부에 형성되며, 상기 복수의 다이스의 패드들을 노출시키기 위하여 상기 트렌치로 재충진되는 유전층;
    상기 유전층 상에 형성되고 상기 패드들에 결합되는 전도성 트레이스;
    상기 전도성 트레이스 및 상기 유전층 상에 커버되어 상기 전도성 트레이스의 부분을 노출시키는 솔더 마스크; 및
    상기 노출된 부분 상에 형성되며 상기 전도성 트레이스에 결합되는 솔더볼들을 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  7. 청구항 6에 있어서, 상기 기판은 합금 42를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  8. 청구항 6에 있어서, 상기 보호 필름의 재료는 에폭시 수지, 컴파운드, 유전층, 실리콘, 청색 테이프, UV 테이프, 실리콘 고무, 실리콘 수지, 탄성 PU, 다공성 PU 또는 아크릴 고무를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지.
  9. 청구항 6에 있어서, 상기 보호 필름은 레이저 또는 잉크에 의하여 마킹할 수 있는 웨이퍼 레벨 패키지.
  10. 청구항 6에 있어서, 상기 트렌치의 깊이는 약 2.0밀에서 10.0밀인 웨이퍼 레벨 패키지.
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