KR20080025518A - 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 - Google Patents
기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080025518A KR20080025518A KR1020060090092A KR20060090092A KR20080025518A KR 20080025518 A KR20080025518 A KR 20080025518A KR 1020060090092 A KR1020060090092 A KR 1020060090092A KR 20060090092 A KR20060090092 A KR 20060090092A KR 20080025518 A KR20080025518 A KR 20080025518A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- pressure plate
- guide rod
- coupled
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
Abstract
Description
Claims (6)
- 상부에 인쇄회로기판을 검사하기 위한 프로브핀이 장착되어 있고, 각종 조작을 위한 다수의 버튼 및 표시부가 구비되어 있는 몸체;상기 몸체에 결합되어 있는 수직프레임과 상기 수직프레임 상부에 결합되어 있는 수평프레임;상기 프로브핀 후방에서 상기 몸체와 상기 수평프레임을 연결하는 가이드봉;상기 가이드봉을 따라 상하 슬라이드이동하고, 그 하부에 인쇄회로기판을 가압하는 가압핀이 장착되어 있는 가압판;상기 가이드봉을 따라 상하로 슬라이드이동되는 가압판의 기울어짐을 방지하는 기울어짐방지수단;을 포함하여 이루어진 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판(PCB) 검사장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기울어짐방지수단은상기 가이드봉 후방에서 상기 몸체와 상기 수평프레임을 연결하는 지지봉과,상기 가압판의 후방측 테두리에 결합되어 있고 상기 지지봉의 외주연을 밀착수용하는 수용홈이 형성되어 있는 브라켓을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄호로기판 검사장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 브라켓의 수용홈은 상기 지지봉의 외주연을 좌우방향 기준으로 1/2 이상 밀착수용하는 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가압판의 좌우측 표면에는 각각 가압판의 휘어짐을 방지하기 위한 보강리브가 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 브라켓의 수용홈을 형성하는 내벽은 마찰계수가 작은 MC 나일론계열 재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 브라켓은 상기 가압판의 후단 양측에 각각 결합되어 있고,상기 지지봉은 일정범위 내에서 전후좌우로 이동고정 가능한 것을 특징으로 하는 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080025518A true KR20080025518A (ko) | 2008-03-21 |
KR100830635B1 KR100830635B1 (ko) | 2008-05-20 |
Family
ID=39413312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060090092A KR100830635B1 (ko) | 2006-09-18 | 2006-09-18 | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100830635B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104889578A (zh) * | 2015-05-11 | 2015-09-09 | 池州华钛半导体有限公司 | 一种用于半导体激光标记机的磁控标记装置 |
CN110456252A (zh) * | 2019-07-17 | 2019-11-15 | 安徽瑞佑自动化科技有限公司 | 一种功能检测设备 |
CN116793178A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-09-22 | 陕西汇天广科信息科技有限公司 | 一种用于印刷电路板检测系统 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103471570A (zh) * | 2013-08-28 | 2013-12-25 | 深圳市海目星激光科技有限公司 | 一种震镜激光指示平台 |
CN105676110A (zh) * | 2016-01-27 | 2016-06-15 | 系新电子技术(苏州)有限公司 | 一种电路板测试系统 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3284587B2 (ja) * | 1992-04-15 | 2002-05-20 | ソニー株式会社 | 電子回路の検査装置 |
JPH10123199A (ja) * | 1996-10-21 | 1998-05-15 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
KR100446400B1 (ko) * | 2001-10-10 | 2004-09-01 | 신흥하이텍(주) | 메탈돔의 품질 검사 장치 및 그 방법 |
KR20030073314A (ko) * | 2002-03-11 | 2003-09-19 | (주)세아메카닉스 | gripper 불량 검사 장치 및 검사 방법 |
KR20050103525A (ko) * | 2004-04-26 | 2005-10-31 | 나재희 | 인쇄회로기판 검사 선별장치 |
-
2006
- 2006-09-18 KR KR1020060090092A patent/KR100830635B1/ko active IP Right Grant
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104889578A (zh) * | 2015-05-11 | 2015-09-09 | 池州华钛半导体有限公司 | 一种用于半导体激光标记机的磁控标记装置 |
CN110456252A (zh) * | 2019-07-17 | 2019-11-15 | 安徽瑞佑自动化科技有限公司 | 一种功能检测设备 |
CN110456252B (zh) * | 2019-07-17 | 2021-06-22 | 安徽瑞佑自动化科技有限公司 | 一种功能检测设备 |
CN116793178A (zh) * | 2023-05-15 | 2023-09-22 | 陕西汇天广科信息科技有限公司 | 一种用于印刷电路板检测系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100830635B1 (ko) | 2008-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI559271B (zh) | 用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法 | |
KR100830635B1 (ko) | 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치 | |
KR100600700B1 (ko) | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 | |
US20080210015A1 (en) | Failure analysis system and method using the same | |
CN107015137B (zh) | 一种电路板检测装置、系统及方法 | |
KR101907447B1 (ko) | 표시 패널 검사 장치 | |
KR101346952B1 (ko) | Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 | |
US6130547A (en) | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor | |
KR101346895B1 (ko) | Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 모델 교체 방법 | |
KR101175067B1 (ko) | 필름 타입 핀 보드 | |
KR100767191B1 (ko) | 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치 | |
KR102451715B1 (ko) | Atm용 pcb 기능검사장치 | |
KR102486189B1 (ko) | 터치센서 감지장비 | |
CN212275893U (zh) | 一种ict测试仪 | |
CN105242201A (zh) | 按键耐久试验机 | |
CN105045424A (zh) | 触控面板、邦定结构及软性电路板 | |
CN115561568A (zh) | 一种用于手机显示屏检测的测试设备 | |
KR100941750B1 (ko) | 프로브 카드 | |
KR102021599B1 (ko) | 디스플레이패널 검사용 콘택터 마운트 조립체 | |
JP4659479B2 (ja) | 可撓性プリント基板の電気検査装置 | |
JP2972176B1 (ja) | 基板検査装置 | |
KR100657768B1 (ko) | 회로기판 연결 유닛 및 그것을 갖는 평판표시패널 검사장치 | |
CN216351639U (zh) | 一种lcm显示器的检测治具 | |
CN211577393U (zh) | 带螺柱检测功能的键盘组件检测装置 | |
CN217901816U (zh) | 一种按键板的功能检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130510 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140430 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150511 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160617 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170512 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180510 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190701 Year of fee payment: 12 |