KR20080025324A - 초음파 트랜스듀서 구동 회로 및 초음파 진단 장치 - Google Patents
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Abstract
전력 소비를 억제하고 회로 사이즈를 감소시키기 위해 양의 FET(11P)가 양의 펄스 신호에 따라 턴온되고 귀환 전압이 양의 임계치에까지 상승할 때 턴오프된다. 액티브 그라운드 클램프 회로(15)는 소정의 시간이 경과한 후에 출력 라인(W)이 그라운드 전압으로 되돌아가도록 한다. 음의 FET(11N)는 음의 펄스 신호에 따라 턴온되고 귀환 전압이 음의 임계치로 하강하게 되면 턴오프된다. 액티브 그라운드 클램프 회로(15)는 소정의 시간이 경과한 후 출력 라인(W)이 그라운드 전압으로 되돌아가도록 한다.
Description
본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로 및 초음파 진단 장치에 관한 것으로, 특히 전력 소비를 억제하고 회로 사이즈를 감소시킬 수 있는 초음파 트랜스듀서 구동 회로 및 초음파 진단 장치에 관한 것이다.
종래, 온 상태에서 양의 전압을 초음파 트랜스듀서로의 출력 라인으로 출력하는 양의 FET(전계 효과 트랜지스터)와, 초음파 트랜스듀서로의 출력 라인으로 음의 전압을 출력하는 음의 FET와, 이들 양의 FET와 음의 FET를 구동하는 구동기 회로를 포함하는 초음파 진단 장치가 알려져 있다.(가령, 특허문헌 1 및 특허문헌 2를 참조).
[특허문헌 1] 일본 특허공개 제 2006-101997호 공보(도 10, 도 12, 도 14)
[특허문헌 2] 일본 특허공개 제 2004-358133호 공보(도 2)
전술한 종래의 초음파 진단 장치에서는, FET의 게이트 전압을 조정하는(FET에서의 전압 강하를 조정하는) 것에 의해 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압을 제어할 수 있었다.
그러나, 각각의 FET는 전압 펄스가 초음파 트랜스듀서에 인가될 때 펄스 폭 기간 동안만 온으로 유지되기 때문에 전력 소비가 증가되는 문제점이 있었다.
이러한 이유로, 전술한 종래의 초음파 진단 장치에서, 전력 소비는 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압이 낮은 경우 각각의 FET로의 전원 전압을 낮은 전압으로 전환함으로써(FET 양단의 전압 강하를 감소시킴으로써) 억제된다.
그러나, 각각의 FET에 대한 전원 전압을 전환하는 회로가 전원 회로이기 때문에, 회로 사이즈가 대형화되는 문제점이 있었다.
제 1 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하는 것으로, 온 상태에서 초음파 트랜스듀서로의 출력 라인 상으로 양의 전압을 출력하는 양의 전계 효과 트랜지스터와, 온 상태에서 상기 출력 라인으로 음의 전압을 출력하는 음의 전계 효과 트랜지스터와, 상기 양의 전계 효과 트랜지스터와 상기 음의 전계 효과 트랜지스터가 오프 상태에 있을 때 상기 출력 라인을 그라운드 전압으로 복귀시키기 위한 그라운드 클램프 회로와, 공급되는 양의 펄스 신호에 따라 상기 양의 전계 효과 트랜지스터를 턴온시키는 단계와, 상기 출력 라인이 그라운드 전압에서 소정의 양의 전압에 이를 때까지 상승하는 상승 시간 후에 상기 양의 전계 효과 트랜지스터를 턴오프하는 단계와, 공급되는 음의 펄스 신호에 따라 상기 음의 전계 효과 트랜지스터를 턴온시키는 단계와, 상기 출력 라인이 그라운드 전압에서 소정의 음의 전압에까지 하강하는 하강 시간 후에 상기 음의 전계 효과 트랜지스터를 턴오프시키는 단계 중의 적어도 하나를 수행하는 구동기 회로를 포함한다.
제 1 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 양의 전계 효과 트랜지스터가 양의 펄스 신호에 따라 턴온된 후, 소정의 양의 전압으로 상승하면, 턴오프되고, 그에 따라 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압은 상승하지만 소정의 양의 전압으로 제한된다. 다음, 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압은 상기 그라운드 클램프 회로에 의해 그라운드 전압으로 복귀될 수 있다. 따라서, 초음파 트랜스듀서에 인가되는 양의 펄스의 전압값과 펄스 폭이 제어될 수 있다. 또한, 음의 전계 효과 트랜지스터가 음의 펄스 신호에 따라 턴온된 후, 소정의 음의 전압으로 하강하면 음의 전계 효과 트랜지스터는 턴오프되고, 따라서 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압은 하강하지만 소정의 음의 전압으로 제한된다. 다음, 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압은 상기 그라운드 클램프 회로에 의해 그라운드 전압으로 복귀될 수 있다. 따라서, 초음파 트랜스듀서로 인간되는 음의 펄스의 전압값과 펄스 폭은 제어될 수 있다. 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압이 소정의 전압으로 상승하거나 소정의 전압으로 하강하면 FET가 턴오프되기 때문에, 전력 소비는 억제될 수 있다. FET를 위한 전원 전압을 전환하는 회로가 불필요하기 때문에 회로 사이즈는 감소될 수 있다.
제 2 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 1 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 상기 구동기 회로는 상기 양의 펄스 신호, 상기 음의 펄스 신호, 및 상기 출력 라인으로부터 복귀되는 귀환 전압에 기반하여 상기 양의 전계 효과 트랜지스터와 상기 음의 전계 효과 트랜지스터를 구동한다.
전술한 제 2 측면에 따른 초음파 구동 회로에서, 출력 라인으로부터 복귀되는 귀환 전압을 사용하여 제어가 수행되며, 따라서 초음파 트랜스듀서로의 출력 전압은 회로 소자에서의 변동이 발생하더라도 정확하게 제어될 수 있다.
제 3 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 2 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 구동기 회로는 상기 양의 전계 효과 트랜지스터를 구동하는 양의 구동 회로와 상기 음의 전계 효과 트랜지스터를 구동하는 음의 구동 회로를 포함한다.
제 3 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 상기 양의 구동기 회로 및 상기 음의 구동기 회로는 분리되어 있으며, 따라서 각각의 로직 회로는 구성하기가 용이하다.
제 4 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 3 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 상기 양의 구동 회로는 양의 임계치와 상기 귀환 전압을 비교하는 양의 비교기와, 상기 양의 펄스 신호와 상기 양의 비교기의 출력 전압에 기반하여 상기 양의 전계 효과 트랜지스터에 대해 구동 신호를 출력하는 양의 로직 회로를 포함한다.
제 4 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 초음파 트랜스듀서로의 양의 출력 전압은 양의 임계치를 조정함으로써 조정될 수 있다.
제 5 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 4 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 상기 양의 로직 회로는 플립 플롭 회로이다.
상기 제 5 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 출력 라인이 그라운드 전압에서 소정의 양의 전압으로 상승하게 되어 상기 양의 전계 효과 트랜지스터가 턴오프된 후, 상기 양의 전계 효과 트랜지스터의 오프 상태는 출력 라인 상의 전압이 하강하더라도 유지될 수 있다.
제 6 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 3 내지 제 5 측면 중의 임의의 것에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 상기 음의 구동 회로는 음의 임계치와 상기 귀환 전압을 비교하는 음의 비교기와, 상기 음의 펄스 신호와 상기 음의 비교기의 출력 전압에 기반하여 상기 음의 전계 효과 트랜지스터에 대해 구동 신호를 출력하는 음의 로직 회로를 포함한다.
상기 제 6 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 초음파 트랜스듀서로의 음의 출력 전압은 음의 임계치를 조정함으로써 조정될 수 있다.
제 7 측면에서, 본 발명은 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 제공하며, 상기 제 6 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로 내의 상기 음의 로직 회로는 플립 플롭 회로이다.
상기 제 7 측면에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로에서, 상기 출력 라인이 그라운드 전압에서 소정의 음의 전압으로 하강하여 상기 음의 전계 효과 트랜지스터가 턴오프된 후, 상기 음의 전계 효과 트랜지스터의 오프 상태는 상기 출력 라인 상의 전압이 상승하더라도 유지될 수 있다.
제 8 측면에서, 본 발명은 초음파 진단 장치를 제공하며, 상기 초음파 진단 장치는 초음파 프로브와, 제 1 측면 내지 제 7 측면 중의 임의의 것에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로와, 상기 양의 펄스 신호, 상기 음의 펄스 신호, 상기 양의 임계치 및 상기 음의 임계치를 상기 초음파 트랜스듀서 구동 회로에 제공하는 펄서 수단(pulser means)과, 상기 초음파 프로브에서 획득되는 에코 신호를 수신하여 음향 빔 신호를 출력하는 수신기 수단과, 상기 음향 빔 신호에 기반하여 초음파 화상을 생성하는 화상 생성 수단과, 상기 초음파 화상을 디스플레이하는 디스플레이 수단을 포함한다.
상기 제 8 측면에 따른 초음파 진단 장치에서, 상기 제 1 내지 제 7 측면 중의 임의의 것의 초음파 트랜스듀서 구동 회로의 사용에 의해 전력 소비는 억제될 수 있고 회로 사이즈는 감소될 수 있다.
본 발명의 초음파 트랜스듀서 구동 회로 및 초음파 진단 장치에 의하면, 전력 소비는 억제될 수 있다. 게다가 회로 사이즈는 감소될 수 있다.
본 발명의 초음파 트랜스듀서 구동 회로 및 초음파 진단 장치는 초음파 진단 장치의 성능을 개선하고 그 사이즈를 감소시키는 데 사용될 수 있다.
본 발명의 다른 목적들 및 이점들은 첨부되는 도면에서 도시되는 바와 같은 바람직한 실시예의 상세할 설명으로부터 명백해질 것이다.
아래에서, 본 발명은 도면에 도시된 실시예를 통해 보다 상세하게 기술될 것이다. 이러한 실시예는 본 발명을 제한하는 것으로 의도되지는 않는다.
[실시예1]
도 1은 실시예1에 따른 초음파 진단 장치(100)를 나타내는 구조도이다.
이러한 초음파 진단 장치(100)는, 다수의 초음파 트랜스듀서 E가 장착되며 상기 초음파 트랜스듀서로부터 피검체 내로 초음파 빔을 송신하며 상기 피검체로부터 초음파 에코를 수신하는 초음파 프로브(1)와, 상기 초음파 에코로부터 음향 빔 신호를 생성하여 출력하는 수신기 유닛(2)과, 상기 음향 빔 신호에 기반하여 초음파 화상을 생성하는 화상 생성 유닛(3)과, 상기 초음파 화상을 디스플레이하는 디스플레이 유닛(4)과, 초음파를 송신하기 위한 초음파 트랜스듀서 E를 구동하는 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)와, 상기 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)에 송신용 신호를 입력하는 펄서 유닛(5)과, 상기 초음파 진단 장치의 전체 제어를 수행하는 제어 유닛(6)과, 운영자가 상기 진단 장치를 운영하는 데 사용되는 입력 유닛(7)을 포함한다.
도 2는 실시예1에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)를 나타내는 회로도이다.
초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)는 온 상태에서 초음파 트랜스듀서 E로의 출력 라인 W 상으로 양의 전압 +HV를 출력하는 양의 FET(11P)와, 온 상태에서 출력 라인 W 상으로 음의 전압 -HV를 출력하는 음의 FET(11N)와, 상기 펄서 유닛(5)으로부터 공급되는 양의 펄스 신호 PP 및 양의 임계치 THP와 상기 출력 라인으로부터 복귀되는 귀환 전압 Vo에 기반하여 상기 양의 FET(11P)를 구동하는 양의 구동기 회로(12P)와, 상기 펄서 유닛(5)으로부터 공급되는 음의 펄스 신호 PN 및 음의 임계치 THN과 귀환 전압 Vo에 기반하여 음의 FET(11N)를 구동하는 음의 구동기 회로(12N)와, 액티브 그라운드 클램프 회로(15)를 포함한다.
양의 구동기 회로(12P)는, 상기 귀환 전압 Vo가 양의 임계치 THP보다 클 때 "H"가 되는 양의 비교 신호 LVP를 출력하고, 그렇지 않을 경우 "L"이 되는 양의 비교 신호 LVP를 출력하는 비교기(13P)와, 상기 양의 펄스 신호 PP의 "하강 에지 H에서 L로"에서 출력 Q가 "L"로 시프트하며 상기 양의 비교 신호 LVP의 "상승 에지 L에서 H로"에서 "H"로 시프트하는 플립 플롭(14P)을 포함한다.
음의 구동기 회로(12N)은, 상기 귀환 전압 Vo가 음의 임계치 THN보다 클 때 "H"가 되는 음의 비교 신호 LVN을 출력하고, 그렇지 않을 경우 "L"이 되는 음의 비교 신호 LVN을 출력하는 비교기(13N)와, 상기 음의 펄스 신호 PP의 "상승 에지 L에서 H로"에서 반전 출력 Qbar가 "H"로 시프트하며 상기 음의 비교 신호 LVN의 "하강 에지 H에서 L로"에서 "L"로 시프트하는 플립 플롭(14N)을 포함한다.
액티브 그라운드 클램프 회로(15)는 온 상태에서 출력 라인 W를 그라운드 전압으로 복귀하도록 작용하는 양의 FET(16P) 및 음의 FET(16N)를 포함한다.
도 2에 도시된 저항 R5, R6, R7 및 캐패시터 C5는 귀환 응답보다 늦은 출력 응답을 만들어 동작을 안정화시키도록 부가되지만, 이들은 만약 회로의 필수 구성요소에 의해 동작이 충분히 보장된다면 생략될 수 있다.
도 3은 초음파 트랜스듀서 E에 소정의 양의 전압을 인가하고, 그 후 그라운드 전압으로 복귀한 후 소정의 음의 전압을 인가하는 기간 동안의 타이밍 챠트이다.
양의 펄스 신호 PP가 양의 펄스 신호 PP의 하강 에지에서 "H"에서 "L"로 시프트하면, 상기 플립 플롭(14P)의 출력 Q, 즉 양의 구동 신호 DVP는 "H"에서 "L"로 시프트된다. 다음, 양의 FET(11P)의 게이트 전압은 (R1, R6, C1에 의해 결정되는)고정된 시정수에 따라 하강하며, 출력 라인 W로의 출력 전압은 고정된 시정수에 따라 그라운드 전압으로부터 상승하며, 귀환 전압 Vo도 또한 고정된 시정수에 따라 그라운드 전압으로부터 상승한다.
귀환 전압 Vo가 양의 임계치 THP로 상승하게 되면, 양의 비교 신호 LVP는 "L"에서 "H"로 시프트한다. 양의 비교 신호 LVP의 상승 에지에서, 플립 플롭(14P)의 출력 Q, 즉 양의 구동 신호 DVP는 "L"에서 "H"로 시프트한다. 다음에, 양의 FET(11P)의 게이트 전압은 (R6 및 C1에 의해 결정되는) 고정된 시정수를 따라 증가하지만, 출력 라인 W으로의 출력 전압은 실질적으로 THP·Rb/(Ra+Rb)에서 유지되는데, 그 이유는 (플로팅 캐패시터 및 R5, C5 등에 의해 결정되는) 출력 라 인 W의 시정수가 크기 때문이다. 소정의 시간이 경과한 후에, 액티브 그라운드 클램프 회로(15)는 양의 클램프 신호 CPP 및 음의 클램프 신호 CPN에 의해 출력 라인 W로부터 그라운드 전압으로 되돌아간다. 전술한 방식으로, 양의 펄스는 초음파 트랜스듀서 E에 인가되며, 펄스 전압은 양의 임계치 THP에 의해 제어되며, 펄스 폭은 양의 펄스 신호 PP 및 클램프 신호 CPP, CPN에 의해 제어된다.
다음, 음의 펄스 신호 PN이 음의 펄스 신호 PN의 상승 에지에서 "L"로부터 "H"로 시프트될 때, 플립 플롭(14P)의 반전 출력 Qbar, 즉 음의 구동 신호 DVN은 "L"에서 "H"로 시프트된다. 다음, 음의 FET(11N)의 게이트 전압은 (R2, R7, C2에 의해 결정되는) 고정된 시정수를 따라 하강하며, 출력 라인 W로의 출력 전압은 고정된 시정수에 따라 그라운드 전압으로부터 하강하며, 귀환 전압 Vo도 또한 고정된 시정수에 따라 그라운드 전압으로부터 하강한다. 귀환 전압 Vo는 음의 임계치 THN 아래로 하강하게 될 때, 음의 비교 신호 LVN은 "H"에서 "L"로 시프트된다. 음의 비교 신호 LVN의 하강 에지에서, 플립 플롭(14N)의 반전 출력 Qbar, 즉 음의 구동 신호 DVN은 "H"에서 "L"로 시프트된다. 다음, 음의 FET(11N)의 게이트 전압은 (R7 및 C2에 의해 결정되는) 고정된 시정수에 따라 상승하지만, 출력 라인 W로의 출력 전압은 실질적으로 -THN·Rb/(Ra+Rb)에서 유지되는데, 그 이유는 (플로팅 캐패시터 및 R5, C5 등에 의해 결정되는) 출력 라인 W의 시정수가 크기 때문이다. 소정의 시간이 경과한 후, 액티브 그라운드 클램프 회로(15)는 양의 클램프 신호 CPP 및 음의 클램프 신호 CPN에 의해 출력 라인 W를 그라운드 전압으로 복귀시킨다. 전술한 방식에서, 음의 펄스는 초음파 트랜스듀서 E에 인가되며, 펄 스의 전압은 음의 임계치 THN에 의해 제어되며, 펄스 폭은 음의 펄스 신호 PP 및 클램프 신호 CPP, CPN에 의해 제어된다.
도 4는 초음파 트랜스듀서 E에 양의 전압 +HV가 인가되고 그 후 음의 전압 -HV가 인가되는 기간의 타이밍 챠트이다.
그러한 경우, 양의 펄스의 펄스 폭은 양의 펄스 신호 PP 및 음의 펄스 신호 PN에 의해 제어된다.
실시예1의 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10) 및 초음파 트랜스듀서 구동 회로(100)에 의하면, 아래의 이점을 얻을 수 있다.
(1) 초음파 트랜스듀서 E로의 출력 전압이 소정의 전압으로 상승하거나 소정의 전압 아래로 하강할 때 FET(11P) 또는 FET(11N)가 턴오프되므로 전력 소비가 억제될 수 있다.
(2) FET(11P) 및 FET(11N)에 대한 전원 전압을 전환하는 회로가 불필요하므로 회로 사이즈를 감소시킬 수 있다.
(3) 초음파 트랜스듀서 E에 인가되는 펄스의 전압은 정확히 제어될 수 있다.
[실시예2]
본 발명은, 초음파 트랜스듀서 E에 소정의 음의 전압이 인가되고 그 후 그라운드 전압으로의 귀환된 후, 소정의 양의 전압이 인가될 때, 그리고 초음파 트랜스듀서 E에 소정의 음의 전압이 인가된 후 소정의 양의 전압이 인가될 때, 실시예1과 동일한 방식으로 적용될 수 있다.
본 발명의 사상과 범주 내에서 다수의 실시예들이 구성될 수 있다. 본 발명은 첨부된 특허청구범위에 규정되는 것을 제외하고는 명세서에 기재되는 특정의 실시예에 국한되지 않는다는 것을 이해해야 한다.
도 1은 실시예1에 따른 초음파 진단 장치를 도시한 블럭도이다.
도 2는 실시예1에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로를 도시한 회로도이다.
도 3은 초음파 트랜스듀서에 소정의 양의 전압이 인가되고, 그 후 그라운드 전압으로 복귀한 후, 소정의 음의 전압이 인가되는 기간의 타이밍 챠트이다.
도 4는 초음파 트랜스듀서에 소정의 양의 전압이 인가되고 그 후 소정의 음의 전압이 인가되는 기간의 타이밍 챠트이다.
Claims (8)
- 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)에 있어서,온 상태에서 초음파 트랜스듀서(E)로의 출력 라인(W) 상의 양의 전압을 출력하는 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)와,온 상태에서 상기 출력 라인(W) 상으로의 음의 전압을 출력하는 음의 전계 효과 트랜지스터(11N)와,상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P) 및 상기 음의 전계 효과 트랜지스터(11N)가 오프 상태에 있을 때 상기 출력 라인(W)을 그라운드 전압으로 복귀시키기 위한 그라운드 클램프 회로(15)와,공급되는 양의 펄스 신호에 따라 상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)를 턴온시키는 단계와, 상기 출력 라인(W)이 상기 그라운드 전압에서 소정의 양의 전압에 이를 때까지 상승하는 상승 시간 후에 상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)를 턴오프하는 단계와, 공급되는 음의 펄스 신호에 따라 상기 음의 전계 효과 트랜지스터를 턴온시키는 단계와, 상기 출력 라인(W)이 상기 그라운드 전압에서 소정의 음의 전압에까지 하강하는 하강 시간 후에 상기 음의 전계 효과 트랜지스터(11N)를 턴오프시키는 단계 중의 적어도 하나를 수행하는 구동기 회로(12)를 포함하는초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 구동기 회로(12)는 상기 양의 펄스 신호, 상기 음의 펄스 신호, 및 상기 출력 라인(W)으로부터 귀환되는 귀환 전압에 기반하여 상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)와 상기 음의 전계 효과 트랜지스터(11N)를 구동하는초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 2 항에 있어서,상기 구동기 회로(12)는 상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)를 구동하는 양의 구동 회로(12P)와 상기 음의 전계 효과 트랜지스터(11N)를 구동하는 음의 구동 회로(12N)를 포함하는초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 3 항에 있어서,상기 양의 구동 회로(12P)는 양의 임계치와 상기 귀환 전압을 비교하는 양의 비교기(13P)와, 상기 양의 펄스 신호와 상기 양의 비교기(13P)의 출력 전압에 기반하여 상기 양의 전계 효과 트랜지스터(11P)에 대해 구동 신호를 출력하는 양의 로직 회로(14P)를 포함하는초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 4 항에 있어서,상기 양의 로직 회로(14P)는 플립 플롭인초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 3 항 내지 제 5 항 중의 어느 한 항에 있어서,상기 음의 구동 회로(12N)는 음의 임계치와 상기 귀환 전압을 비교하는 음의 비교기(13N)와, 상기 음의 펄스 신호와 상기 음의 비교기(13N)의 출력 전압에 기반하여 상기 음의 전계 효과 트랜지스터에 대해 구동 신호를 출력하는 음의 로직 회로(14N)를 포함하는초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 제 6 항에 있어서,상기 음의 로직 회로(14N)는 플립 플롭인초음파 트랜스듀서 구동 회로.
- 초음파 진단 장치(100)로서,초음파 프로브(1)와,제 1 항 내지 제 5 항 중의 어느 한 항에 따른 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)와,상기 양의 펄스 신호, 상기 음의 펄스 신호, 상기 양의 임계치 및 상기 음의 임계치를 상기 초음파 트랜스듀서 구동 회로(10)에 제공하는 펄서 장치(5)와,상기 초음파 프로브(1)에서 획득되는 에코 신호를 수신하여 음향 빔 신호를 출력하는 수신기 장치(2)와,상기 음향 빔 신호에 기반하여 초음파 화상을 생성하는 화상 생성 장치(3)와,상기 초음파 화상을 디스플레이하는 디스플레이 장치(4)를 포함하는초음파 진단 장치.
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US8749294B2 (en) * | 2010-01-15 | 2014-06-10 | Supertex, Inc. | Low pin count high voltage ultrasound transmitter and method therefor |
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US8451155B2 (en) | 2011-02-25 | 2013-05-28 | General Electric Company | Transmission circuit, ultrasonic probe and ultrasonic image display apparatus |
JP5717533B2 (ja) * | 2011-05-16 | 2015-05-13 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 超音波振動子駆動回路及び超音波画像表示装置 |
US8933613B2 (en) * | 2011-10-28 | 2015-01-13 | General Electric Company | Ultrasonic transducer driving ciruit and ultrasonic image display apparatus |
US20130170321A1 (en) * | 2011-12-28 | 2013-07-04 | General Electric Company | Systems and methods for controlling transducer pulse transitions in ultrasound imaging |
US9479162B2 (en) * | 2012-11-28 | 2016-10-25 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for ultrasound probes |
US9594062B2 (en) * | 2014-09-29 | 2017-03-14 | General Electric Company | System and method for testing transducer elements of an acoustic probe |
US9492144B1 (en) | 2015-12-02 | 2016-11-15 | Butterfly Network, Inc. | Multi-level pulser and related apparatus and methods |
EP3383278A4 (en) * | 2015-12-02 | 2019-07-17 | Butterfly Network, Inc. | Multi-stage impulse generator and associated apparatus and method |
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JPS59108542A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-23 | オリンパス光学工業株式会社 | 超音波診断装置 |
JPS60158840A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-20 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
US4642581A (en) | 1985-06-21 | 1987-02-10 | Sono-Tek Corporation | Ultrasonic transducer drive circuit |
JPH07336198A (ja) * | 1994-06-07 | 1995-12-22 | Hitachi Medical Corp | パルス発生回路及びそれを用いた超音波診断装置 |
US6083164A (en) * | 1997-06-27 | 2000-07-04 | Siemens Medical Systems, Inc. | Ultrasound front-end circuit combining the transmitter and automatic transmit/receiver switch |
JP2000152930A (ja) * | 1998-11-20 | 2000-06-06 | Toshiba Corp | 超音波診断装置 |
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US6525530B1 (en) | 2000-11-28 | 2003-02-25 | Mitutoyo Corporation | Continuous sine wave driver for an inductive position transducer |
JP2004358133A (ja) * | 2003-06-09 | 2004-12-24 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 超音波振動子駆動回路および超音波診断装置 |
JP2007506287A (ja) * | 2003-09-22 | 2007-03-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 電界効果型半導体装置における容量素子の動的制御 |
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