JPS59108542A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

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JPS59108542A
JPS59108542A JP57218569A JP21856982A JPS59108542A JP S59108542 A JPS59108542 A JP S59108542A JP 57218569 A JP57218569 A JP 57218569A JP 21856982 A JP21856982 A JP 21856982A JP S59108542 A JPS59108542 A JP S59108542A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transmission
voltage
diagnostic apparatus
ultrasonic diagnostic
weighting
Prior art date
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Pending
Application number
JP57218569A
Other languages
English (en)
Inventor
安東 欧太郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
Priority to JP57218569A priority Critical patent/JPS59108542A/ja
Publication of JPS59108542A publication Critical patent/JPS59108542A/ja
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  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ャンを行なう超音波診断装置に関する。
一般にアレー型探触子を用いる電子スキャン方式による
超音波診断装置では、探触子を複数の振動子エレメント
に分割し、各振動子を励振させるだめの送信・ぞルスに
各々異なる遅延を施すことによって放射された超音波ビ
ームの集束またはセクタ走査における偏向角の制御等を
行なっている。
このような電子スキャン方式では複数の振動子を用いて
超音波ビームを発生させている関係上、主ビームの他に
各振動子そレメントに与える送信パルスの遅延時間の量
子化による量子化サイドローブやグレーティングローブ
等のサイドローブが発生する。従って、被検査体内部、
またはその周辺部に強力なエコー反射部位が存在すると
、断層像中にサイドローブにより捕えた上記部位による
偽像が生じて、画質に悪影響を与えるという問題があっ
た。
本発明はかかる問題に対処すべく々されたものであシ、
その目的は振動子に印加する送信電圧に特定な分布関数
に基づいた重み付けを行なうことによりサイドローブを
抑制し、断層像の画質を向上させ得る超音波診断装置を
提供することにある。
て送信電圧が重み付けされるための制御プログラム等の
重み付は情報を記憶する記憶手段と、上記重み付は情報
に従って充電時間制御信号を出力する制御装置と、上記
充電時間制御信号に基づいて電源電圧の供給及び遮断を
行うスイッチ回路と、このスイッチ回路から供給される
電源電圧によって充電を行うとともにこの充電電圧を波
高値に持つ上記送信電圧を各振動子エレメントに印加す
る送信回路とを具備し、上記分布関数による1(み付け
が行われた送信電圧を各振動子エレメントに印加するこ
とにょシ、発生するサイドローブを抑制することを特徴
としている。
以下、第1図〜第5図に基づいて本実施例で為るリニア
電子スキャン型超音波診断装置について説明を行なう。
一般に、複数の振動子エレメントの配列から放射される
ビームの指向特性は各エレメントに印加する送信エネル
ギー又は得られた受信波にチェビシェフ関数形分布又は
ガウス関数形分布等の特定の分布関数に基づいた重み付
けを行なうことによってサイドローブが減少することが
知られている。
本実施例ではこのような特定の分布関数データやこのデ
ータに基づく重み付は手順等の重み付は情報を、予めR
OM等の記憶手段にプログラミングしておき、この情報
に基づいて送信電圧の重み付けを行なっている。
第1図は本装置の電気的構成を示すプロ、り図である。
第1図におい“て、探触子Jはアレー状に配列された複
数の振動子ニレメン)Za、Jb、・・・。
INから構成゛されておシ、各エレメントはマルチプレ
クサ2に接続されている。このマルチプレクサ2は送受
信に使用する一部の振動子エレメント群を順次選択する
ために設けられており、これら振動子エレメント群に送
信パルスを与える送信回路38〜3Mおよ、び前置増幅
器48〜4Mは遅延#i!5a〜5Mを介して受信加算
・送信分配回路6に接続されている。上記遅延線5a〜
5Mは、本例の如くリニア電子スキャン型では各送受信
信号にそれぞれ適切な遅延を与えてビームの集束および
微小角セクタを行なうだめのものである。
また、各送信回路3a〜3Mにはスイッチ回路7を介し
て高圧電源電圧VH(通常は数十〜数百■)が供給され
ている。さらにこのスイッチ回路は%ポート8に接続さ
れておシ、この%ポート8を介してCPU 9およびR
OM 10がらの情報を受は取る。この北ポート8およ
びCPU 9にて制御装置を構成している。11はデー
タバスである。
上記構成の装置において、いま送信トリガフ9ルスsT
が受信加算・送信分配回路6に与えられると、この送信
トリガパルスSTは遅延線511〜5Mに分配され、各
遅延線に応じた遅延がなされた後、送信回路3a〜3M
へ入力される。送信回路3a〜3Mはこの遅延が施され
た送信トリガパルスBr4 = S!rg Icよって
、マルチプレクサ2に送信パルスを出力するが、この時
の送信電圧は各送信回路38〜3Mに充電されている充
電電圧によって決定されている。
さらに上記送信パルスはマルチプレクサ2によって選択
された振動子ニレメン)7a〜INの一部に印加され、
超音波ビームの放射が行なわれる。この超音波ビームは
被検査体よシ反射した超音波エコーとして再び上記振動
子ニレメン)Ja〜INの一部にて捕えられ、マルチプ
レクサ2を介して前置増幅器48〜4Mに入力され増幅
される。この前置増幅器43〜4Mからの受波信号は遅
延線5a〜5Mによって前述と同等の遅延が施され、受
信加算・送信分配回路6にて加算されることにより受信
出力信号Sとなる。
以下、第2図〜第4図に基づいて送信回路3a〜3Mか
らの送信電圧の生成方法について説明を行なう。
第2図は第1図における主要部分をさらに詳細に示した
ブロック図である。なお、同図において第1図と同一部
分には同一符号を付し、詳しい説明は省くことにする。
また同図において第1図におけるマルチプレクサ2は省
略したが、実際には振動子エレメント1a〜INと送信
回路3a〜37の間にはこのマルチプレクサ2が介在す
るものとみなす。
第2図において、今ROM 10には特定の分布関数デ
ータ(例えばチェビシェフ分布関数等)およびこのデー
タに基づいて行われる送信電圧の重みイ」けを行なうた
めの制御プログラムなど重み付は情報が記憶されている
。CPU 9は上記制御プログラムに従って%71?−
) 8の各出力端子に上記分布関数データに基づいた各
充電時間制御信号を出力させる。即ち、この信号は上記
分布関数データに基づいて、スイッチ回路Zを構成、る
フォトカプラ78〜7Mに各0レベル期間を与えるもの
であり、この0レベル期間が上記7オトカプラ78〜7
Mの導通期間となる。
なお、このフォトカシラフ8〜7Mは高耐圧MO8−F
ET等を使用した高速かつ高耐圧のものが望ましい。
今、フォトカシラフaが導通した場合、送信回路3aに
おける抵抗R1には電源電圧■Hが加わシ、コンデンサ
C1にはこの抵抗R1を介して徐々に電荷が蓄積されて
いく。従ってP点の電位は徐々に上昇する。次に上記フ
ォトカプラ7aはCPU 9の指令によって遮断状態と
なり、P点の電圧は電源電圧V■よりも若干低い電圧V
)I Kて保持される。ここで、トランジスタQ1のペ
ース端子に結合コンデンサC2を介して送信トリガie
ルスSへが加わると、トランジスタQ1は導通状態とな
シ、P点の電位は急激に接地レベルに落とされる。この
結果、コンデンサCIのマイナス側の電位は他端を接地
された抵抗R2の電圧降下によって瞬間的に−V晶とな
υ、ダイオードDノが導通する。かくして、振動子エレ
メント1aには−V’なる送信電圧が印加される。
以上の様子を第3図に示した。即ち第3図は第2図の送
信回路3aの充電電圧(P点の電位)を示す波形図であ
る。
第3図において、P点の電位が送信直後であるとすれば
、toにおいてフォトカプラ7aは導通し徐々に電位が
上昇する。この電位がVHに達する前のtlにおいてフ
ォトカシラフaは遮断状態となり、その時の充電電圧v
4を保持する。さらにt2にてトランジスタQ1のペー
スに送信トリガパルスが加わると同時に送信が行なわれ
、P点の電位は急激に接地レベルに落とされる。これと
同時に、あるいはその後、再びフォトカシラフaが導通
する。以上を繰り返すわけである。このように送信電圧
はコンデンサC1の充電電圧によって決定されるので、
コンデンサCIへの充電時間tONを前記充電時間制御
信号によって制御することによって上記送壷電圧を設定
することができる。そこでこのよりなtONの制御を第
4図に示す如く、各振動子エレメントに印加される送信
電圧が特定の分布関数形となるように行えば良い。
第5図(、) (b)は、第4図のような送信電圧の重
み付けを行なった場合の指向特性を従来のものと比較す
る特性図であり、同図(a)は従来の指向特性を示し、
同図(b)は送信電圧にチェビシェフ分布関数による重
み付けを行なった場合の指向特性を示したものである。
この図から明らかなようにサイドロープは3 dB程度
低下させることができる。
以上の本実施例によれば、送信回路3a〜3Mの充電時
間を各々制御することによシ、特定の分布関数に基づい
た送信電圧の重み付けが行なえるため、超音波ビームに
おける指向特性のサイドローブを抑制することが可能で
ある。
なお、上記ROM 10に複数の分布関数データを記憶
させておくことにより、診断対象に最も適した指向性関
数を任意に選択することも可能である。その際には第1
図および第2図における%ポート8に関数選択信竹与え
れば良い。
また、本実施例では制御装置としてCPU 9および%
y4? −ト8を用いたが、例えばD/Aコンバータ、
積分回路等により、ノ・−ドウエアのみの制御を行なっ
ても良い。
また、本実施例では特にリニア電子スキャン型超音波診
断装置を例にとシ説明を行なったが、セクタ走査型でも
同様の考えにて本発明の適用は可能である。この場合に
は第1図のマルチプレクサ2を用いる必要はない。
以%述べたように本発明によれば、極めて簡単1回路を
付加するのみで各振動子エレメントに印加する送信電圧
の重み付けを任意の分布関数に基づいて行なうことが可
能である。従って従来問題とした超音波ビームのサイド
ローブによるアーティファクトを解消し、画質良好な超
音波診断装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は本発明の一実施例を示す図であシ、第
1図は本実施例であるリニア電子スキャン型超音波診断
装置の電気的構成を示すブロック図、第2図は第1図の
主要部をさらに詳細に示したブロック図、第3図は送信
回路における送信電圧生成のタイミングを示す波形図、
第4図は本装置によって特定の分布関数に基づいた重み
付けを行な、った場合の各振動子エレメントに印加され
る送信電圧を示す図、第5図(、)(b)は本実施例に
より送信電圧の重み付けを行な同図(b)は送信電圧に
チェビシェフ分布関数による重み付けを行なった場合の
指向特性図である。 J・・・探触子、1a〜IN・・・振動子エレメント、
3a〜3M・・・送信回路1.4a〜4M・・前置増幅
器、58〜5M・・・遅延線、7a〜7M・・・フォト
カプラ、1ノ・・・データバス、12・・・アドレスバ
スQ 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第2図 !I3図 第4 図 ニーし−メント@号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. アレー型探触子を用いた超音波診断装置において、少な
    くとも一つの分布関数データおよびこのデータに基づい
    て送信電圧の重み付けを行なう際の制御プログラム等か
    らなる重み付は情報を記憶する記憶手段と、この記憶手
    段にて記憶された上記重み付は情報に従って充電時間制
    御信号を出力する制御装置と、この制御装置から出力さ
    れる各充電時間制御信号に従って←電源電圧の供給及び
    遮断を行なうスイッチ回路と、このスイッチ回路から供
    給される電源電圧によって充電を行ない上記送信電圧を
    得るとともに各振動子エレメントにこの送信電圧を送信
    する送信回路とを具備したととを特徴とする超音波診断
    装置。
JP57218569A 1982-12-14 1982-12-14 超音波診断装置 Pending JPS59108542A (ja)

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JP57218569A JPS59108542A (ja) 1982-12-14 1982-12-14 超音波診断装置

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JP57218569A JPS59108542A (ja) 1982-12-14 1982-12-14 超音波診断装置

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JPS59108542A true JPS59108542A (ja) 1984-06-23

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ID=16721995

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JP57218569A Pending JPS59108542A (ja) 1982-12-14 1982-12-14 超音波診断装置

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6227927A (ja) * 1985-07-29 1987-02-05 アドバンスト・テクノロジ−・ラボラトリ−ズ・インコ−ポレイテツド 高分解多重ライン超音波ビ−ム作成装置
JPS6319133A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 株式会社日立製作所 超音波診断装置
JPH02164347A (ja) * 1988-12-16 1990-06-25 Aloka Co Ltd 超音波診断装置
JPH04193270A (ja) * 1990-11-27 1992-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超音波診断装置
JP2008068014A (ja) * 2006-09-15 2008-03-27 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 超音波振動子駆動回路および超音波診断装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6227927A (ja) * 1985-07-29 1987-02-05 アドバンスト・テクノロジ−・ラボラトリ−ズ・インコ−ポレイテツド 高分解多重ライン超音波ビ−ム作成装置
JPS6319133A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 株式会社日立製作所 超音波診断装置
JPH02164347A (ja) * 1988-12-16 1990-06-25 Aloka Co Ltd 超音波診断装置
JPH04193270A (ja) * 1990-11-27 1992-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超音波診断装置
JP2008068014A (ja) * 2006-09-15 2008-03-27 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 超音波振動子駆動回路および超音波診断装置

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