KR20060128449A - 표시 기판, 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법 - Google Patents

표시 기판, 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

배선 검사 공정을 용이하게 하기 위한 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법이 개시된다. 표시 기판은 게이트 패드부, 소스 패드부, 제1 정전기 분산부 및 제1 검사부를 포함한다. 게이트 패드부는 게이트 배선들의 일단에 형성되어 게이트 배선들에 신호를 인가한다. 소스 패드부는 소스 배선들의 일단에 형성되어 소스 배선들에 신호를 인가한다. 제1 정전기 분산부는 소스 패드부에 유입된 정전기를 분산시킨다. 제1 검사부는 제1 정전기 분산부와 전기적으로 연결되어, 제1 정전기 분산부를 경유하여 소스 배선들에 제1 검사신호를 전달한다. 이에 따라, 제1 검사부를 통해 소스 배선들에 제1 검사신호를 일률적으로 전달함으로써 그로스 검사시 불량을 용이하게 검사할 수 있다.
그로스 검사, 배선 불량, 다이오드 정전기 분산부

Description

표시 기판, 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법{DISPLAY SUBSTRATE AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DISPLAY PANEL WITH THE SAME}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 제1 표시 기판의 부분 평면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 I-I' 라인을 따라 절단한 단면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 제1 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 5는 본 발명에 따른 제2 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 6은 도 1에 도시된 제1 표시 기판의 부분 평면도이다.
도 7은 도 6에 도시된 II-II' 라인을 따라 절단한 단면도이다.
도 8은 본 발명에 따른 제1 실시예에 따른 제2 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 9는 본 발명에 따른 제2 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 그로스 검사를 위한 검사 장치에 개략적인 사시도이다.
도 11은 도 10에 도시된 검사 장치의 개략적인 블록도이다.
도 12a 내지 도 12b는 도 11에 도시된 검사 장치에 의해 그로스 검사가 수행되는 예들에 대한 평면도들이다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : 표시 패널 200 : 제1 표시 기판
300 : 제2 표시 기판 220 : 게이트 패드부
230 : 제1 다이오드정전기분산부 240 : 스토리지 전압배선
250 : 제2 다이오드정전기분산부 260 : 소스 패드부
270 : 제1 검사부 280 : 제2 검사부
290 : 정전기제거부
본 발명은 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 그로스 검사를 용이하게 하기 위한 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시패널 모듈은 액정표시패널과, 상기 액정표시패널과 전기적으로 연결되어 상기 액정표시패널을 구동시키는 구동장치를 포함한다.
상기 액정표시패널은 어레이 기판, 상기 어레이 기판과 마주하는 상부 기판, 및 상기 어레이 기판과 상기 상부 기판과의 사이에 개재된 액정층으로 이루어진다. 상기 액정표시패널의 제조 공정에 있어서, 파티클에 의한 결함은 제조 수율 저하의 가장 큰 요인이다. 특히 파티클에 의한 배선의 단선(OPEN) 및 단락(SHORT) 불량은 직접적인 수율 저하의 주요인이다.
이러한 배선 불량을 검출하기 위한 검사 방법은, 상기 어레이 기판을 제조 공정시 배선들에 전기적인 신호를 인가하여 1차 검사(예컨대, ARRAY TEST)를 수행한다. 다음, 어레이 기판과 칼라필터기판이 결합된 표시 패널에 액정을 주입한 후 전기적인 신호와 백라이트(또는 프론트 라이트)를 제공하여 2차 검사(Visual Inspection)를 수행한다.
상기 액정표시패널을 구동하는 구동 장치를 실장하기 전, 보다 구체화된 검사 즉, 화소 불량 및 배선 불량을 검사하기 위한 그로스 검사(GROSS TEST)를 통해 3차 검사를 수행한다. 상기 그로스 검사 이후에 결함이 검출되지 않은 액정표시패널에는 구동 장치가 실장되어 액정표시패널 모듈로 완성한다.
상기 그로스 검사는 검사 장치의 핀들과 액정표시패널에 형성된 패드들을 접촉시키고, 상기 핀들을 통해 검사 신호를 상기 액정표시패널에 전달하여 검사를 수행한다. 그러나, 상기 핀들과 패드들이 정확하게 접촉되지 않는 경우가 발생하며 이러한 접촉 불량에 의해 정확한 검사 결과를 얻을 수 없는 문제점이 있다.
이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 그로스 검사시 불량 검사를 용이하게 하기 위한 표시 기판을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 기판을 구비한 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 상기 표시 기판을 구비한 표시 패널의 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 표시 기판은 게이트 패드부, 소스 패드부, 제1 정전기 분산부 및 제1 검사부를 포함한다. 상기 게이트 패드부는 게이트 배선들의 일단에 형성되어 상기 게이트 배선들에 신호를 인가한다. 상기 소스 패드부는 소스 배선들의 일단에 형성되어 상기 소스 배선들에 신호를 인가한다. 상기 제1 정전기 분산부는 상기 소스 패드부에 유입된 정전기를 분산시킨다. 상기 제1 검사부는 상기 제1 정전기 분산부와 전기적으로 연결되어, 상기 제1 정전기 분산부를 경유하여 상기 소스 배선들에 제1 검사신호를 전달한다.
상기 제1 검사부는 상기 제1 정전기 분산부와 전기적으로 연결된 제1 검사 배선 및 상기 제1 검사 배선으로부터 연장되어 상기 제1 검사신호가 인가되는 제1 검사패드를 포함한다.
바람직하게 상기 표시 기판은 상기 게이트 패드부에 유입된 정전기를 분산시키는 제2 정전기 분산부 및 상기 제2 정전기 분산부와 전기적으로 연결되어, 상기 제2 정전기 분산부를 경유하여 상기 게이트 배선들에 제2 검사신호를 전달하는 제2 검사부를 더 포함한다.
상기 제2 검사부는 상기 제2 정전기 분산부와 전기적으로 연결된 제2 검사배 선 및 상기 제2 검사 배선으로부터 연장되어 상기 제2 검사신호가 인가되는 제2 검사패드를 포함한다.
상기 표시 기판은 상기 게이트 배선들과 상기 소스 배선들에 의해 정의되는 복수의 화소부들을 더 포함하며, 상기 제1 정전기 분산부는 상기 소스 패드부와 상기 화소부들 사이에 형성되고, 상기 제1 정전기 분산부와 상기 화소부들 사이에는 상기 제1 정전기 분산부를 경유한 정전기를 제거하는 정전기 제거부가 형성된다.
상기 제2 정전기 분산부는 상기 게이트 패드부와 상기 화소부들 사이에 형성된다.
상기 제1 정전기 분산부는 복수의 제1 다이오드부들을 포함하고, 상기 제1 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극이 상기 제1 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 소스 배선과 연결된 트랜지스터를 포함한다.
상기 제2 정전기 분산부는 복수의 제2 다이오드부들을 포함하고, 상기 제2 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극이 상기 제2 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 게이트 배선과 연결된 트랜지스터를 포함한다.
상기한 본 발명의 다른 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른 복수의 화소부들과, 제1 정전기 분산부를 통해 소스 배선들과 전기적으로 연결된 제1 검사부와, 제2 정전기 분산부를 통해 게이트 배선들과 전기적으로 연결된 제2 검사부가 형성된 표시 패널의 검사 장치는 제1 신호출력부, 제2 신호출력부, 제3 신호출력부 및 제4 신호출력부를 포함한다. 상기 제1 신호출력부는 상기 소스 배선들과 전기적으로 접촉되어, 상기 소스 배선들에 소스 검사신호를 출력한다. 상기 제2 신호출력부 는 상기 게이트 배선들과 전기적으로 접촉되어, 상기 게이트 배선들에 게이트 검사신호를 출력한다. 상기 제3 신호출력부는 상기 제1 검사부와 접촉되어, 상기 제1 검사부에 제1 검사신호를 출력한다. 상기 제4 신호출력부는 상기 제2 검사부와 접촉되어, 상기 제2 검사부에 제2 검사신호를 출력한다.
상기한 본 발명의 또 다른 목적을 실현하기 위한 실시예에 따른복수의 화소들과, 제1 정전기 분산부를 통해 소스 배선들과 전기적으로 연결된 제1 검사부와, 제2 정전기 분산부를 통해 게이트 배선들과 전기적으로 연결된 제2 검사부를 포함하는 표시 패널의 검사 방법은 제1 불량을 검사하기 위해 상기 게이트 배선들 및 소스 배선들에 게이트 검사신호 및 소스 검사신호를 인가하는 단계 및 제2 불량을 검사하기 위해 상기 제1 검사부 및 제2 검사부에 제1 검사신호 및 제2 검사신호를 인가하는 단계를 포함한다.
이러한 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법에 의하면, 정전기 분산부와 연결된 검사부를 형성하여 그로스 검사를 수행함으로써 배선 불량을 용이하게 검사할 수 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 상기 표시 패널(100)은 제1 표시 기판(200)과, 상기 제1 표시 기판(200)에 대향하는 상기 제2 표시 기판(300) 및 상기 제1 및 제2 표시 기판(200, 300)사이에 개재된 액정층(미도시)을 포함한다.
상기 제1 표시 기판(200)은 표시 영역(DA)과 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸는 주변 영역으로 이루어진다.
상기 표시 영역(DA)에는 제1 방향으로 연장된 소스 배선(DL)들과, 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장된 게이트 배선(GL)들 및 상기 소스 배선(DL)들과 상기 게이트 배선(GL)들에 의해 정의된 복수의 화소부(P)들을 포함한다. 각각의 화소부(P)에는 스위칭 소자(TFT)와, 액정 캐패시터(CLC) 및 스토리지 캐패시터(CST)를 포함한다.
상기 주변 영역 중 제1 주변 영역(PA1)에는 게이트 패드부(220), 제1 정전기분산부(230) 및 스토리지 전압배선(240)이 형성된다.
상기 게이트 패드부(220)는 상기 표시 영역(DA)내의 게이트 배선(GL)들에 게이트 신호들을 인가하는 복수의 패드들을 포함한다.
상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)는 상기 표시 패널(100) 제조 공정시 상기 게이트 패드부(220)로부터 유입되는 정전기를 분산시키는 복수의 제1 다이오드들을 포함하며, 상기 복수의 제1 다이오드들에 의해 상기 표시 영역(DA)이 상기 정전기에 의해 손실되는 것을 막는다. 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)는 상기 스토리지 전압배선(240)에 연결되어 상기 정전기를 상쇄시킨다.
상기 스토리지 전압배선(240)은 공통전압(Vst)이 인가되어, 상기 공통전압(Vst)은 각각의 화소부(P)에 형성된 스토리지 캐패시터(CST)에 전달된다.
상기 주변 영역 중 제2 주변 영역(PA2)에는 소스 패드부(250), 제2 다이오드 정전기분산부(260), 제1 검사부(270), 제2 검사부(280) 및 정전기 제거부(290)가 형성된다.
상기 소스 패드부(250)는 상기 표시 영역(DA)내의 소스 배선(DL)들에 데이터 신호들을 인가하는 복수의 패드들을 포함한다.
상기 제2 다이오드 정전기분산부(260)는 상기 표시 패널(100) 제조 공정시 상기 소스 패드부(250)로부터 유입된 정전기를 분산시키는 복수의 제2 다이오드들을 포함하며, 상기 복수의 제2 다이오드들에 의해 상기 표시 영역(DA)이 상기 정전기에 의해 손실되는 것을 막는다. 상기 제2 다이오드 정전기분산부(260)는 상기 스토리지 전압배선(240)에 연결되어 상기 정전기를 상쇄시킨다.
상기 제1 검사부(270)는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)와 전기적으로 연결된 제1 검사배선(271)과 상기 제1 검사배선(271)에 제1 검사신호를 인가하는 제1 검사패드(272)를 포함한다. 상기 제1 검사부(270)는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)를 통해서 상기 제1 검사신호를 상기 게이트 배선(GL)들에 전달한다.
상기 제2 검사부(280)는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)와 전기적으로 연결된 제2 검사배선(281)과 상기 제2 검사배선(281)에 제2 검사신호를 인가하는 제2 검사패드(282)를 포함한다. 상기 제2 검사부(280)는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)를 통해서 상기 제2 검사신호를 상기 소스 배선(DL)들에 전달한다.
상기 정전기 제거부(290)는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)와 상기 표시 영역(DA) 사이에 형성되고, 일단이 상기 스토리지 전압배선(240)에 연결된다. 상기 정전기 제거부(290)는 상기 소스 배선(DL)들에 각각 전기적으로 연결된 복수의 트랜지스터들로 이루어진다. 상기 정전기 제거부(290)는 상기 제2 다이오드 정 전기분산부(250)로부터 분산된 정전기 중 잔류하는 정전기를 제거하여, 상기 표시 영역(DA)의 스위칭 소자(TFT)의 채널부가 찢어지는 화소 불량(Ticks)을 방지한다.
도 2는 도 1에 도시된 제1 표시 기판의 부분 평면도이다. 도 3은 도 2에 도시된 I-I' 라인을 따라 절단한 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 제1 표시 기판(200)은 베이스 기판(201)을 포함하며, 상기 베이스 기판(201)에는 복수의 화소부(P)들, 제1 다이오드 정전기분산부(230) 및 제1 검사부(270)가 형성된다.
각각의 화소부(P1)에는 스위칭 소자(TFT1)와 화소 전극(216)을 포함한다. 상기 스위칭 소자(TFT1)는 게이트 배선(GL1)에 연결된 게이트 전극(211)과, 소스 배선(DL1)에 연결된 소스 전극(213)과, 상기 화소 전극(216)에 연결된 드레인 전극(214)을 포함한다. 상기 게이트 전극(211)과 소스-드레인 전극(213, 241) 사이에는 채널부(212)가 형성된다.
또한, 상기 게이트 전극(211)과 채널부(212) 사이에는 게이트 절연층(202)이 형성되고, 상기 소스-드레인 전극(213, 214) 위에는 패시베이션층(203)이 형성된다.
상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)는 각각의 게이트 배선(GL)에 전기적으로 각각 연결된 복수의 제1 다이오드들(GD1, GD2, ..)을 포함한다. 상기 제1 검사부(270)는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)와 전기적으로 연결된 제1 검사배선(271)과 상기 제1 검사배선(271)의 일단에 형성된 제1 검사패드(272)를 포함한다.
구체적으로 각각의 제1 다이오드(GD1)는 상기 제1 검사배선(271)에 전기적으로 각각 연결된 게이트 전극(231) 및 소스 전극(233)과, 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극(234)을 포함한다.
상기 소스 전극(233)은 상기 제1 검사배선(271)으로부터 연장되어 상기 제1 검사배선(271)과 전기적으로 연결되고, 상기 게이트 전극(231)은 연결 패턴(235)을 통해서 상기 제1 검사배선(271)과 전기적으로 연결된다.
상기 드레인 전극(234)은 연결 패턴(236)을 통해서 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된다. 상기 제1 다이오드(GD1)는 상기 게이트 전극(231)과 상기 소스-드레인 전극(233, 234) 사이에 개재된 채널부(232)를 포함한다. 상기 연결 패턴들(235, 236)은 상기 화소부(P)에 형성된 화소 전극(216)과 동일층으로 형성된 도전성 패턴들이다.
또한, 상기 게이트 전극(231)과 채널부(232) 사이에는 게이트 절연층(202)이 형성되고, 상기 소스-드레인 전극(233, 234) 위에는 패시베이션층(203)이 형성된다.
상기 제1 검사부(270)의 제1 검사배선(271)은 상기 소스-드레인 전극(213, 233, 214, 234)과 동일한 금속층으로 형성되고, 상기 제1 검사패드(272)는 상기 화소 전극(216)과 동일한 도전성 물질로 형성된다.
도 4는 본 발명에 따른 제1 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 4를 참조하면, 상기 표시 패널의 표시 영역에는 복수의 화소부들(P1, P2, P3)이 형성되고, 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역에는 게이트 배선(GL)들의 일단부를 통해 유입되는 정전기를 분산시키는 제1 다이오드 정전기분산부(230)가 형성된다. 상기 주변 영역에는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)를 통해 제1 검사신호를 상기 표시 영역에 인가하기 위한 제1 검사부(270)가 형성된다.
각각의 화소부(P1, P2, P3)는 스위칭 소자(TFT), 액정 캐패시터(CLC) 및 스토리지 캐패시터(CST)를 포함한다. 상기 스위칭 소자(TFT)의 게이트 전극은 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결되고, 드레인 전극은 상기 액정 캐패시터(CLC) 및 스토리지 캐패시터(CST)와 전기적으로 연결된다.
상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)는 게이트 배선들에 각각 전기적으로 연결된 복수의 제1 다이오드들(GD1, GD2, GD3)을 포함한다.
각각의 제1 다이오드(GD1)는 상기 제1 검사부(270)와 전기적으로 연결된 게이트 전극 및 소스 전극을 가지며, 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극을 갖는다.
따라서, 상기 제1 검사부(270)로부터 제1 검사신호(T1)가 인가되면, 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)에 상기 제1 검사신호(T1)가 인가되어 상기 제1 다이오드들(GD1, GD2, GD3)을 경유하여 상기 표시 영역의 화소부들(P1, P2, P3)에 상기 제1 검사신호(T1)가 전달된다.
상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)와 전기적으로 연결된 상기 제1 검사부(270)를 통해 상기 표시 영역에 형성된 복수의 게이트 배선(GL1)들에 제1 검사신호가 전달된다. 이에 의해 상기 게이트 배선(GL)들의 단선(OPEN) 및 단락(SHORT) 검 사를 용이하게 할 수 있다.
도 5는 본 발명에 따른 제2 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 5를 참조하면, 제1 다이오드 정전기분산부(230')는 각각의 게이트 배선(GL1)에 전기적으로 연결된 두 개의 다이오드들(GD11, GD12)을 포함한다.
상기 두 개의 다이오드들(GD11, GD12)은 상기 제1 검사부(270)와 전기적으로 연결된 게이트 전극 및 소스 전극을 각각 가지며, 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극을 각각 갖는다.
따라서, 상기 제1 검사부(270)로부터 제1 검사신호는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230')를 통해서 상기 표시 영역의 화소부들(P1, P2, P3)에 상기 제1 검사신호가 전달된다.
도 6은 도 1에 도시된 제1 표시 기판의 부분 평면도이다. 도 7은 도 6에 도시된 II-II' 라인을 따라 절단한 단면도이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 상기 제1 표시 기판(200)은 베이스 기판(201)을 포함하며, 상기 베이스 기판(201)에는 복수의 화소부(P)들, 제2 다이오드 정전기분산부(250) 및 제2 검사부(280)가 형성된다.
각각의 화소부(P1)에는 스위칭 소자(TFT1)와 화소 전극(216)을 포함한다. 상기 스위칭 소자(TFT1)는 게이트 배선(GL1)에 연결된 게이트 전극(211)과, 소스 배선(DL1)에 연결된 소스 전극(213)과, 상기 화소 전극(216)에 연결된 드레인 전극(214)을 포함한다. 상기 게이트 전극(211)과 소스-드레인 전극(213, 241) 사이에는 채널부(212)가 형성된다.
또한, 상기 게이트 전극(211)과 채널부(212) 사이에는 게이트 절연층(202)이 형성되고, 상기 소스-드레인 전극(213, 214) 위에는 패시베이션층(203)이 형성된다.
상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)는 각각의 게이트 배선(GL)에 전기적으로 각각 연결된 복수의 제2 다이오드들(GD1, GD2, ..)을 포함한다. 상기 제2 검사부(280)는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)와 전기적으로 연결된 제2 검사배선(281)과 상기 제2 검사배선(281)의 일단에 형성된 제2 검사패드(282)를 포함한다.
구체적으로 각각의 제2 다이오드(DD1)는 상기 제2 검사배선(281)에 전기적으로 각각 연결된 게이트 전극(251) 및 소스 전극(253)과, 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극(254)을 포함한다.
상기 소스 전극(253)은 상기 제2 검사배선(281)으로부터 연장되어 상기 제2 검사배선(281)과 전기적으로 연결되고, 상기 게이트 전극(251)은 연결 패턴(255)을 통해서 상기 제2 검사배선(281)과 전기적으로 연결된다.
상기 드레인 전극(254)은 연결 패턴(255)을 통해서 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결된다. 상기 제2 다이오드(DD1)는 상기 게이트 전극(251)과 상기 소스-드레인 전극(253, 254) 사이에 개재된 채널부(252)를 포함한다. 상기 연결 패턴(255)은 상기 화소부(P)에 형성된 화소 전극(216)과 동일층으로 형성된 도전성 패턴들이다.
또한, 상기 게이트 전극(251)과 채널부(252) 사이에는 게이트 절연층(202)이 형성되고, 상기 소스-드레인 전극(253, 254) 위에는 패시베이션층(203)이 형성된다.
상기 제2 검사부(280)의 제2 검사배선(281)은 상기 소스-드레인 전극(213, 253, 214, 254)과 동일한 금속층으로 형성되고, 상기 제2 검사패드(282)는 상기 화소 전극(216)과 동일한 도전성 물질로 형성된다.
도 8은 본 발명에 따른 제1 실시예에 따른 제2 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 8을 참조하면, 상기 표시 패널의 표시 영역에는 복수의 화소부들(P1, P2, P3)이 형성되고, 상기 표시 영역을 둘러싸는 주변 영역에는 소스 배선(DL)들의 일단부를 통해 유입되는 정전기를 분산시키는 제2 다이오드 정전기분산부(250)가 형성된다. 상기 주변 영역에는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)를 통해 제2 검사신호를 상기 표시 영역에 인가하기 위한 제2 검사부(280)가 형성된다.
각각의 화소부(P1, P2, P3)는 스위칭 소자(TFT), 액정 캐패시터(CLC) 및 스토리지 캐패시터(CST)를 포함한다. 상기 스위칭 소자(TFT)의 게이트 전극은 상기 게이트 배선(GL1)과 전기적으로 연결되고, 드레인 전극은 상기 액정 캐패시터(CLC) 및 스토리지 캐패시터(CST)와 전기적으로 연결된다.
상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)는 소스 배선(DL)들에 각각 전기적으로 연결된 복수의 제2 다이오드들(DD1, DD2, DD3)을 포함한다.
각각의 제1 다이오드(DD1)는 상기 제2 검사부(280)와 전기적으로 연결된 게 이트 전극 및 소스 전극을 가지며, 상기 소스 배선(DL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극을 갖는다.
따라서, 상기 제2 검사부(280)로부터 제2 검사신호(T2)가 인가되면, 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)에 상기 제2 검사신호(T2)가 인가되고 상기 제2 다이오드들(DD1, DD2, DD3)을 경유하여 상기 표시 영역의 화소부들(P1, P2, P3)에 상기 제2 검사신호(T2)가 전달된다.
상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)와 전기적으로 연결된 상기 제2 검사부(280)를 통해 상기 표시 영역에 형성된 복수의 소스 배선들((DL1, DL2, DL3)에 제2 검사신호가 전달된다. 이에 의해 상기 소스 배선들((DL1, DL2, DL3)의 단선(OPEN) 및 단락(SHORT) 검사를 용이하게 할 수 있다.
도 9는 본 발명에 따른 제2 실시예에 따른 제1 다이오드 정전기분산부를 갖는 표시 패널의 등가회로도이다.
도 9를 참조하면, 제2 다이오드 정전기분산부(250')는 각각의 소스 배선(DL1)에 전기적으로 연결된 두 개의 다이오드들(DD11, DD12)을 포함한다.
상기 두 개의 다이오드들(DD11, DD12)은 상기 제2 검사부(280)와 전기적으로 연결된 게이트 전극 및 소스 전극을 각각 가지며, 상기 소스 배선(DL1)과 전기적으로 연결된 드레인 전극을 각각 갖는다.
따라서, 상기 제2 검사부(280)에 인가된 제2 검사신호는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250')를 통해서 상기 표시 영역의 화소부들(P1, P2, P3)에 상기 제2 검사신호가 전달된다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 표시 패널의 그로스 검사를 위한 검사 장치에 개략적인 사시도이다. 도 11은 도 10에 도시된 검사 장치의 개략적인 블록도이다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참조하면, 검사 장치(500)는 표시 패널(100)에 형성된 게이트 패드부(220), 소스 패드부(260), 제1 검사부(270) 및 제2 검사부(280)와 각각 접촉되어 검사 신호를 출력하는 복수의 신호출력부들(420, 460, 470, 480)과 상기 신호출력부들(420, 460, 470, 480)을 제어하는 제어부(410)를 포함한다.
구체적으로 제1 신호출력부(420)는 복수의 제1 출력 핀들(520)을 포함하며, 상기 제1 출력핀들(520)은 상기 게이트 패드부(220)의 복수의 패드들과 접촉되어 게이트 검사신호를 상기 게이트 패드부(220)에 인가한다.
제2 신호출력부(460)는 복수의 제2 출력 핀들(560)을 포함하며, 상기 제1 출력 핀들(560)은 상기 소스 패드부(260)의 복수의 패드들과 접촉되어 소스 검사신호를 상기 소스 패드부(260)에 인가한다.
제3 신호출력부(470)는 상기 제1 검사부(270)와 접촉되는 하나의 제3 출력 핀(570)을 가지며, 제1 검사신호를 상기 제1 검사부(270)에 인가한다. 상기 제1 검사부(270)를 통해 전달된 제1 검사신호는 상기 제1 다이오드 정전기분산부(230)를 경유하여 게이트 배선(GL)들에 전달된다. 상기 제1 검사신호는 게이트 배선들을 활성화시키는 게이트 온 전압으로, 대략 20V 내지 30V 정도이다.
제4 신호출력부(480)는 상기 제2 검사부(280)와 접촉되는 하나의 제4 출력 핀(580)을 가지며, 제2 검사신호를 상기 제2 검사부(280)에 인가한다. 상기 제2 검 사부(280)를 통해 전달된 제2 검사신호는 상기 제2 다이오드 정전기분산부(250)를 경유하여 소스 배선(DL)들에 전달된다. 상기 제2 검사신호는 소정의 계조를 표시하기 위한 데이터 전압이다.
상기 제어부(410)는 외부로부터 제공되는 검사제어신호에 기초하여 상기 제1 내지 제4 신호출력부들(420, 460, 470, 480)을 제어한다.
구체적으로, 화소 불량을 검사하는 제1 검사제어신호가 상기 제어부(410)에 인가되면, 상기 제어부(410)는 상기 제1 및 제2 신호출력부(420, 460)를 제어하여 게이트 검사신호 및 소스 검사신호를 상기 제1 및 제2 출력핀들(520, 560)을 통해 상기 게이트 패드부(220) 및 소스 패드부(260)에 인가한다. 이때, 상기 제어부(410)는 상기 제3 및 제4 신호출력부들(470, 480)의 제3 및 제4 출력 핀(570, 580)에는 제1 및 제2 검사신호가 출력되지 않도록 제어한다.
한편, 상기 제어부(410)에 배선 불량을 검사하는 제2 검사제어신호가 인가되면, 상기 제어부(410)는 상기 제3 및 제4 신호출력부(470, 480)를 제어하여 제1 검사신호 및 제2 검사신호를 상기 제3 및 제4 출력 핀(570, 580)을 통해 상기 제1 검사부(270) 및 제2 검사부(280)에 인가한다. 이때, 상기 제어부(410)는 상기 제1 및 제2 신호출력부들(420, 460)의 제1 및 제2 출력 핀들(520, 560)에는 게이트 및 소스 검사신호가 출력되지 않도록 제어한다.
도 12a 내지 도 12b는 도 11에 도시된 검사 장치에 의해 그로스 검사가 수행되는 예들에 대한 평면도들이다.
도 12a는 도 11에 도시된 검사 장치를 이용해 표시 품질을 검사하는 예를 도 시한 것이다.
도 12a를 참조하면, 상기 검사 장치(500)는 상기 제1 신호출력부(420) 및 제2 신호출력부(460)를 통해 상기 표시 패널(100)에 이미지 패턴을 표시하기 위해 게이트 검사신호와 소스 검사신호를 출력한다. 한편, 상기 검사 장치(500)는 상기 제3 및 제4 출력 핀(570, 580)에는 제1 및 제2 검사신호를 출력하지 않는다.
상기 제1 신호출력부(420)는 제1 출력 핀들(520)을 통해 상기 표시 패널(100)의 게이트 배선(GL)들을 활성화시키는 게이트 검사신호를 출력하고, 상기 제1 출력 핀들(520)과 접촉된 상기 게이트 패드부(220)에 상기 게이트 검사신호가 인가된다.
상기 제2 신호출력부(460)는 제2 출력 핀들(560)을 통해 상기 표시 패널(100)의 소스 배선(DL)들에 상기 이미지 패턴(501)에 대응하는 소스 검사신호를 출력한다. 상기 제2 출력 핀들(520)과 접촉된 상기 소스 패드부(260)에 상기 소스 검사신호가 인가된다.
이에 의해 상기 표시 패널(100)에는 검사를 위한 이미지 패턴이 표시되며, 표시된 이미지 패턴을 통해 표시 패널의 화소 및 배선 불량을 검사한다.
도 12b는 도 11에 도시된 검사 장치를 통해 배선 오류를 검사하는 예를 도시한 것이다.
도 12b를 참조하면, 상기 검사 장치(500)는 상기 제3 신호출력부(470) 및 제4 신호출력부(480)를 통해 상기 표시 패널(100)에 배선 불량을 검사하기 위한 제1 검사신호 및 제2 검사신호를 각각 출력한다. 한편, 상기 검사 장치(500)는 제1 및 제2 출력 핀들(520, 560)에는 게이트 및 소스 검사신호를 출력하지 않는다.
상기 제3 신호출력부(470)는 게이트 배선(GL)들을 활성화시키는 제1 검사신호를 출력하고, 상기 제3 신호출력부(570)와 접촉된 상기 제1 검사부(270)에 상기 제1 검사신호가 인가된다. 상기 제1 검사부(270)에 인가된 제1 검사신호는 게이트 배선(GL)과 전기적으로 연결된 제1 다이오드 정전기분산부(230)를 경유하여 게이트 배선(GL)들에 전달된다.
상기 제4 신호출력부(280)는 상기 제4 신호출력부(280)와 접촉된 제2 검사부(280)에 제2 검사신호를 출력한다. 상기 제2 검사부(280)에 인가된 제2 검사신호는 소스 배선(DL)과 전기적으로 연결된 제2 다이오드 정전기분산부(250)를 경유하여 소스 배선(DL)들에 전달된다.
상기 제1 및 제2 검사부(280, 290)에 의해 상기 표시 패널(100)의 게이트 배선(GL)들 및 소스 배선(DL)들에는 제1 검사신호 및 제2 검사신호가 동시에 인가된다. 이에 의해 표시 패널(100)은 상기 제2 검사신호에 대응하는 소정 계조의 영상을 표시한다.
한편, 표시 패널(100)의 소스 배선(DL)들 및 게이트 배선(GL)에 단선(OPEN) 및 단락(SHORT)이 발생할 경우, 도시된 바와 같이 불량(LE)이 라인 형태로 표시된다.
상기와 같이, 검사 장치에 의해 배선 불량을 검사할 경우 검사 장치의 핀들과 표시 패널의 패드들 간의 접촉 불량에 의한 검사 오류를 막을 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 게이트 패드부를 통해 유입된 정전기를 분산시키기 위해 형성된 제1 다이오드 정전기분산부에 제1 검사부를 연결하고, 소스 패드부를 통해 유입된 정전기를 분산시키기 위해 형성된 제2 다이오드 정전기분산부에 제2 검사부를 연결한다.
이에, 표시 패널에 대한 그로스 검사 공정시, 상기 제1 및 제2 검사부에 각각 제1 및 제2 검사신호를 인가하여 배선 불량을 검사함으로써 기존의 검사 장치의 핀들과 표시 패널의 패드들간의 접촉 불량에 의한 검사 오류를 막을 수 있다.
이에 의해 표시 패널의 제조 효율 및 신뢰성을 향상시킬 수 있고, 또한, 검사 오류에 의한 자재 낭비를 막을 수 있다.
이상에서는 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (20)

  1. 게이트 배선들의 일단에 형성되어 상기 게이트 배선들에 신호를 인가하는 게이트 패드부;
    소스 배선들의 일단에 형성되어 상기 소스 배선들에 신호를 인가하는 소스 패드부;
    상기 소스 패드부에 유입된 정전기를 분산시키는 제1 정전기 분산부; 및
    상기 제1 정전기 분산부와 전기적으로 연결되어, 상기 제1 정전기 분산부를 경유하여 상기 소스 배선들에 제1 검사신호를 전달하는 제1 검사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 검사부는
    상기 제1 정전기 분산부와 전기적으로 연결된 제1 검사 배선; 및
    상기 제1 검사 배선으로부터 연장되어 상기 제1 검사신호가 인가되는 제1 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  3. 제1항에 있어서, 상기 게이트 패드부에 유입된 정전기를 분산시키는 제2 정전기 분산부; 및
    상기 제2 정전기 분산부와 전기적으로 연결되어, 상기 제2 정전기 분산부를 경유하여 상기 게이트 배선들에 제2 검사신호를 전달하는 제2 검사부를 더 포함하 는 표시 기판.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2 검사부는
    상기 제2 정전기 분산부와 전기적으로 연결된 제2 검사배선; 및
    상기 제2 검사 배선으로부터 연장되어 상기 제2 검사신호가 인가되는 제2 검사패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  5. 제1항에 있어서, 상기 게이트 배선들과 상기 소스 배선들에 의해 정의되는 복수의 화소부들을 더 포함하며,
    상기 제1 정전기 분산부는 상기 소스 패드부와 상기 화소부들 사이에 형성된 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1 정전기 분산부와 상기 화소부들 사이에는 상기 제1 정전기 분산부를 경유한 정전기를 제거하는 정전기 제거부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  7. 제3항에 있어서, 상기 게이트 배선들과 상기 소스 배선들에 의해 정의되는 복수의 화소부들을 더 포함하며,
    상기 제2 정전기 분산부는 상기 게이트 패드부와 상기 화소부들 사이에 형성된 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제1 정전기 분산부는 복수의 제1 다이오드부들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극이 상기 제1 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 소스 배선과 연결된 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  10. 제9항에 있어서, 상기 제1 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극이 상기 제1 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 소스 배선과 연결된 복수의 트랜지스터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  11. 제3항에 있어서, 상기 제2 정전기 분산부는 복수의 제2 다이오드부들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  12. 제11항에 있어서, 상기 제2 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극이 상기 제2 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 게이트 배선과 연결된 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  13. 제12항에 있어서, 상기 제2 다이오드부들 각각은 게이트 전극 및 소스 전극 이 상기 제2 검사부에 공통으로 연결되고, 드레인 전극이 게이트 배선과 연결된 복수의 트랜지스터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  14. 제3항에 있어서, 상기 제2 검사신호는 상기 게이트 배선들을 활성화시키는 게이트 온 전압인 것을 특징으로 하는 표시 기판.
  15. 복수의 화소부들과, 제1 정전기 분산부를 통해 소스 배선들과 전기적으로 연결된 제1 검사부와, 제2 정전기 분산부를 통해 게이트 배선들과 전기적으로 연결된 제2 검사부가 형성된 표시 패널의 검사 장치에서,
    상기 소스 배선들과 전기적으로 접촉되어, 상기 소스 배선들에 소스 검사신호를 출력하는 제1 신호출력부;
    상기 게이트 배선들과 전기적으로 접촉되어, 상기 게이트 배선들에 게이트 검사신호를 출력하는 제2 신호출력부;
    상기 제1 검사부와 접촉되어, 상기 제1 검사부에 제1 검사신호를 출력하는 제3 신호출력부; 및
    상기 제2 검사부와 접촉되어, 상기 제2 검사부에 제2 검사신호를 출력하는 제4 신호출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 제1 및 제2 신호출력부는 제1 불량을 검사하기 위해 상기 소스 및 게이트 배선들에 상기 게이트 및 소스 검사신호를 각각 출력하는 것 을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
  17. 제15항에 있어서, 상기 제3 및 제4 신호출력부는 제2 불량을 검사하기 위해 상기 제1 및 제2 검사부에 제1 및 제2 검사신호를 각각 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 장치.
  18. 복수의 화소들과, 제1 정전기 분산부를 통해 소스 배선들과 전기적으로 연결된 제1 검사부와, 제2 정전기 분산부를 통해 게이트 배선들과 전기적으로 연결된 제2 검사부를 포함하는 표시 패널의 검사 방법에서,
    제1 불량을 검사하기 위해 상기 게이트 배선들 및 소스 배선들에 게이트 검사신호 및 소스 검사신호를 인가하는 단계; 및
    제2 불량을 검사하기 위해 상기 제1 검사부 및 제2 검사부에 제1 검사신호 및 제2 검사신호를 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 제1 불량은 화소 불량을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법.
  20. 제18항에 있어서, 상기 제2 불량은 배선 불량을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 검사 방법.
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