CN100578577C - 显示基板及测试具有该显示基板的显示面板的装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种显示基板，其包括栅极焊盘部、源极焊盘部、第一静电耗散部、以及第一测试部。栅极焊盘部形成在多条栅极线中的每一条的一个端子上，并且向栅极线传递信号。源极焊盘部形成在多条源极线中的每一条的一个端子上，并且向源极线传递信号。第一静电耗散部散布流入到源极焊盘部中的静电荷。第一测试部接收第一测试信号，与第一静电耗散部电接触，以及通过第一静电耗散部向源极线传递第一测试信号。包括显示基板的显示装置传输通过第一测试部均匀施加到源极线的第一测试信号，从而通过粗测试容易地检测到缺陷。

Description

显示基板及测试具有该显示基板的显示面板的装置和方法

技术领域

本发明涉及显示基板、用于测试具有该显示基板的显示面板的装置、以及用于测试具有该显示基板的显示面板的方法。更特别地，本发明涉及能够简化总测试(gross test)的显示基板、用于测试具有该显示基板的显示面板、以及用于测试具有该显示基板的显示面板的方法。

背景技术

一般地，液晶显示器(“LCD”)面板模块包括LCD面板和电连接至LCD面板以驱动LCD面板的驱动装置。

LCD面板包括阵列基板、面向阵列基板的上部基板、以及置于阵列基板和上部基板之间的液晶层。在LCD面板的生产过程中，由粒子形成的缺陷降低了生产过程的成品率。特别地，由于粒子而形成在LCD面板的线路上的断路或短路导致生产过程中成品率的降低。

首先，在生产过程中通过向阵列基板的线路施加电信号来执行阵列测试，以测试阵列基板。阵列基板与上部基板结合，并且在阵列基板和上部基板之间注入液晶。其次，在生产过程中通过向LCD面板提供由背光组件(或前光组件)生成的光以及电信号来执行目检测试(visual inspection test)，以测试LCD面板。

接下来，在将驱动装置和LCD面板结合之前，测试LCD面板，以通过总测试来检测像素缺陷和线路缺陷。当在总测试中在LCD面板中没有检测到缺陷时，将驱动装置安装在LCD面板上，从而形成LCD面板模块。

在总测试中，测试装置的引脚(pin)与LCD面板的焊盘(pad)接触，以通过引脚向LCD面板施加测试信号，从而测试LCD面板。然而，当测试装置的引脚没有与LCD面板的焊盘准确接触时，测试装置的引脚和LCD面板的焊盘之间的错误连接降低了总测试的可靠性。

发明内容

本发明的示例性实施例提供了一种能够简化总测试的显示基板。

本发明的示例性实施例还提供了一种用于测试具有上述显示基板的显示面板的装置。

本发明的示例性实施例还提供了一种用于测试具有上述显示基板的显示面板的方法。

在本发明的示例性实施例中，显示基板包括栅极焊盘部、源极焊盘部、第一静电耗散部、以及第一测试部。栅极焊盘部设置在多条栅极线中的每一条的一个端子上，以向每条栅极线传递信号。源极焊盘部设置在多条源极线中的每一条的一个端子上，以向每条源极线传递信号。第一静电耗散部向源极焊盘部散布静电荷。用于接收第一测试信号的第一测试部电连接至第一静电耗散部，从而通过第一静电耗散部将第一测试信号施加到源极线。

第一测试部可以包括电连接至第一静电耗散部的第一测试线、以及电连接至第一测试线并且接收第一测试信号的第一测试焊盘。第一测试信号可以是对应于灰度级的数据电压。

显示基板可以进一步包括：第二静电耗散部，用于散布施加到栅极焊盘部的静电荷；以及第二测试部，电连接至第二静电耗散部，从而通过第二静电耗散部将第二测试信号施加到栅极线。第二测试信号可以是用于导通栅极线的栅极导通电压。第二测试信号和第一测试信号可以基本上同时施加到栅极线和源极线。

第二测试部可以包括电连接至第二静电耗散部的第二测试线、以及电连接至第二测试线并接收第二测试信号的第二测试焊盘。

显示基板可以进一步包括由栅极线和源极线限定的多个像素部，并且第一静电耗散部形成在源极焊盘部和像素部之间。显示基板可以进一步包括静电放电部，用于将施加到第一静电耗散部的静电荷释放，并且静电放电部可以置于第一静电耗散部和像素部之间。

第二静电耗散部可以设置于栅极焊盘部和像素部之间。

第一静电耗散部可以包括多个第一二极管。每个第一二极管均可以包括晶体管，该晶体管包括：栅电极，电连接至第一测试部；源电极，电连接至第一测试部；以及漏电极，电连接至源极线中的一条。

第二静电耗散部可以包括多个第二二极管。每个第二二极管均可以包括晶体管，该晶体管包括：栅电极，电连接至第二测试部；源电极，电连接至第二测试部；以及漏电极，电连接至栅极线中的一条。

在本发明的另一示例性实施例中，显示基板包括栅极焊盘部、第一静电耗散部和第一测试部。栅极焊盘部位于多条栅极线中的每一条的一个端子上，并且向每条栅极线传递信号。第一静电耗散部散布施加到栅极焊盘部的静电荷。第一测试部接收第一测试信号，并且电连接至第一静电耗散部。第一测试信号通过第一静电耗散部施加到栅极线。

在本发明的另一示例性实施例中，用于测试显示面板的装置包括多个像素部、通过第一静电耗散部电连接至多条源极线的第一测试部、以及通过第二静电耗散部电连接至多条栅极线的第二测试部。用于测试显示面板的装置包括第一信号发生器、第二信号发生器、第三信号发生器、以及第四信号发生器。第一信号发生器电连接至源极线，以向源极线施加源极测试信号。第二信号发生器电连接至栅极线，以向栅极线施加栅极测试信号。第三信号发生器电连接至第一测试部，以向第一测试部施加第一测试信号。第四信号发生器电连接至第二测试部，以向第二测试部施加第二测试信号。

在本发明的另一示例性实施例中，提供了如下的用于测试显示面板的方法。显示面板包括多个像素、通过第一静电耗散部电连接至多条源极线的第一测试部、以及通过第二静电耗散部电连接至多条栅极线的第二测试部。分别向栅极线和数据线施加栅极测试信号和源极测试信号，从而首先检测显示面板的缺陷。分别向第一测试部和第二测试部施加第一测试信号和第二测试信号，从而其次检测显示面板的缺陷。

根据显示基板、用于测试具有该显示基板的显示面板的装置、和用于测试具有该显示基板的显示面板的方法，对具有电连接至静电耗散部的测试部的显示基板执行总测试，从而可以容易地测试到线路缺陷。

附图说明

以下，通过结合附图详细对本发明进行详细地描述，本发明的上述和其他特性和优点将更加显而易见，在附图中：

图1是示出根据本发明示例性实施例的示例性显示面板的平面图；

图2是示出图1中所示的示例性第一显示基板的部分平面图；

图3是沿着图2中的线I-I’截取的横截面图；

图4是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第一二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图；

图5是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第一二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图；

图6是示出图1中所示的示例性第一显示基板的部分平面图；

图7是沿着图6中所示的线II-II’截取的横截面图；

图8是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第二二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图；

图9是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第二二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图；

图10是示出根据本发明示例性实施例的用于执行总测试的示例性装置的透视图；

图11是示出图10中所示的示例性装置的框图；以及

图12A和12B是示出用于使用图11中所示的示例性装置来总测试示例性显示面板的示例性方法的透视图。

具体实施方式

下文中将参照附图来全面描述本发明，其中，附图中示出了本发明的实施例。然而，本发明可以以多种不同的形式来实施而不应认为局限于在此所述的实施例。相反，提供这些实施例，以便使公开透彻和完整，并且向本领域的技术人员充分地传达本发明的思想。在附图中，为了清楚起见，放大了层和区域的厚度。

应当理解，当元件或层被指出“位于”、“连接到”、“耦合到”另一个元件或层上时，其可直接位于、连接到、或耦合到另一个元件或层上，或者也可以存在插入元件或层。相反，当元件被指出“直接位于”、“直接连接到”、“直接耦合到”另一个元件或层上时，不存在插入元件或层。通篇中相同的标号表示相同的元件。正如在此所应用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列术语的任何以及所有结合。

应当理解，尽管在此可能使用术语第一、第二、第三等来描述不同的元件、构件、区域、层、和/或部分，但是这些元件、构件、区域、层、和/或部分并不局限于这些术语。这些术语仅用于将一个元件、构件、区域、层、或部分与另一元件、构件、区域、层、或部分相区分。因此，在不背离本发明宗旨的情况下，下文所述的第一元件、构件、区域、层、或部分可以称为第二元件、构件、区域、层、或部分。

为了便于说明，在此可能使用诸如“在...之下”、“在...下面”、“下面的”、“在...上面”、以及“上面的”等的空间关系术语，以描述如图中所示的一个元件或机构与另一元件或机构的关系。应当理解，除图中所示的方位之外，空间关系术语将包括使用或操作中的装置的各种不同的方位。例如，如果翻转图中所示的装置，则被描述为在其他元件或机构“下面”或“之下”的元件将被定位为在其他元件或机构的“上面”。因此，示例性术语“在...下面”包括在上面和在下面的方位。装置可以以其它方式定位(旋转90度或在其他方位)，并且通过在此使用的空间关系描述符进行相应地解释。

在此使用的术语仅用于描述特定实施例而不是限制本发明。正如在此使用的，单数形式的“一个”、“这个”也包括复数形式，除非文中有其它明确指示。应当进一步理解，当在本申请文件中使用术语“包括”和/或“包含”时，是指存在所声称的特征、整数、步骤、操作、元件、和/或部件，但是并不排除还存在或附加一个或多个其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件、和/或其组合。

在此，参考作为本发明的理想实施例(以及中间结构)的示意图的横截示意图来描述本发明的实施例。这样，可以预料诸如制造技术和/或公差可能导致示意图的变化。因此，本发明的实施例不应该被理解为局限于在此示出的特定形状，而且包括例如由于制造而导致的形状的偏差。例如，被显示或描述为平坦的区域，通常可能在其边缘具有粗糙或非线性特性和/或注入浓度梯度。同样，通过注入形成的埋入区域可能导致埋入区和通过其进行注入的表面之间的区域中的一些注入。因此，在图中示出的区域实际上是示意性的，并且其形状不用于描述区域的实际形状，并且不用于限定本发明的范围。

除非另有限定，在此所使用的所有术语(包括技术术语和科技术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常所理解的相同意思。应当进一步理解，例如通用字典中限定的术语应该被解释为与相关技术上下文中的意思相一致的意思，并且除非在此进行特别限定，其不应被解释为理想的或者过于正式的解释。

下文中，将参照附图来详细描述本发明。

图1是示出根据本发明示例性实施例的示例性显示面板的平面图。

参照图1，显示面板100包括第一显示基板200、面向第一显示基板200的第二显示基板300、以及介于第一显示基板200和第二显示基板300之间的液晶层(未示出)。

第一显示基板200包括显示区DA和围绕显示区DA的外围区PA，其中外围区包括第一外围区PA1和第二外围区PA2。

显示区DA包括沿第一方向延伸的多条源极线DL(也称为数据线)、沿第二方向延伸的多条栅极线GL、以及由源极线DL和栅极线GL限定的多个像素部P。第二方向大致垂直于第一方向，使得像素部P呈矩阵排列。每个像素部P均包括开关元件(例如，薄膜晶体管)TFT、液晶电容器CLC、以及存储电容器CST。

栅极焊盘部220、第一二极管静电耗散部230、以及存储电压线240形成在外围区PA的第一外围区PA1中。存储电压线240可以形成在栅极焊盘部220和第一二极管静电耗散部230之间。

栅极焊盘部220包括向显示区DA中的栅极线GL传递选通信号(gate line)的多个焊盘。焊盘可以与向栅极线GL散开的连接线成组地排列。

如在下文中所述，第一二极管静电耗散部230包括多个第一二极管，该第一二极管在显示面板100的生产过程中散布来自栅极焊盘部220的静电荷。第一二极管保护显示区DA免受静电荷的影响。第一二极管静电耗散部230电连接至存储电压线240，以补充静电荷。

向存储电压线240施加共电压Vst。将施加到存储电极线240的共电压Vst施加到每个像素部P中的存储电容器CST。存储电压线240可以大致平行于源极线DL延伸。

第二二极管静电耗散部250、源极焊盘部260、第一测试部270、第二测试部280、以及静电放电部290形成在外围区PA的第二外围区PA2中。第二外围区PA2可以沿着显示区DA的第二侧延伸，该第二侧大致垂直于显示区DA的第一侧，其中，第一外围区PA1在显示区DA的第一侧上延伸。

源极焊盘部260包括向显示区DA中的源极线DL传递数据信号的多个焊盘261。焊盘可以与向源极线DL散开的连接线成组地排列。

如在下文中所述，第二二极管静电耗散部250包括多个第二二极管，该第二二极管在显示面板100的生产过程中将来自源极焊盘部260的静电荷释放。第二二极管保护显示面板100的显示区DA免受静电荷的影响。第二二极管静电耗散部250电连接至存储电压线240，以补充静电荷。存储电压线240可以从第一外围区PA1延伸至第二外围区PA2中。用于接收共电压Vst的存储电压线240的焊盘可以与第一测试部270的焊盘相邻。

第一测试部270包括第一测试线271和第一测试焊盘272。第一测试线271电连接至第一二极管静电耗散部230。第一测试线271可以大致平行于存储电压线240延伸。第一测试焊盘272向第一测试线271传递第一测试信号。将来自第一测试部270的第一测试信号通过第一二极管静电耗散部230施加到栅极线GL。

第二测试部280包括第二测试线281和第二测试焊盘282。第二测试线281可以大致平行于第一测试线271延伸。第二测试线281例如经由连接线电连接至第二二极管静电耗散部250。第二测试焊盘282向第二测试线281传递第二测试信号。来自第二测试部280的第二测试信号通过第二二极管静电耗散部250施加到源极线DL。

静电耗散部290形成在第二二极管静电耗散部250和显示区DA之间。第二二极管静电耗散部250的一个端子电连接至存储电压线240。静电放电部290包括分别电连接至源极线DL的多个晶体管。静电放电部290去除从第二二极管静电耗散部250释放的残余静电荷，以防止显示区DA中的开关元件TFT的故障。可在开关元件TFT中形成的故障实例包括滴答声(tick)、断路、短路等。在嘀答声中，显示区域DA中的开关元件TFT的沟道部分被分成多个部分。

图2是示出图1中所示的示例性第一显示基板的部分平面图。图3是沿着图2中的线I-I’截取的横截面图。

参照图1至图3，第一显示基板200包括底部基板201。多个像素部P、第一二极管静电耗散部230、以及第一测试部270形成在底部基板201上。

像素部P中的一个像素部P1包括开关元件(例如，薄膜晶体管)TFT1和像素电极216。开关元件TFT1包括栅电极211、源电极213、以及漏电极214。栅电极211电连接至栅极线GL1。源电极213电连接至源极线DL1。漏电极214电连接至像素电极216。沟道部212形成在源电极213和漏电极214之间的栅电极211上。

另外，栅极绝缘层202形成在栅电极211和沟道部212之间。钝化层203形成在源电极213和漏电极214上。剩余像素电极部P可以类似于像素部P1排列。

第一二极管静电耗散部230包括多个第一二极管GD1、GD2、...，它们分别电连接至栅极线GL1、GL2、...。第一测试部270的第一测试线271电连接至第一二极管静电耗散部230。第一测试焊盘272位于第一测试线271的一个端子上。

特别地，第一二极管GD1、GD2...中的每一个均包括栅电极231、源电极233、以及漏电极234。第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的栅电极231、源电极233电连接至第一测试线271。第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的漏电极234电连接至栅极线GL1、GL2、...中的每一条。

第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的源电极233从第一测试线271延伸，由此电连接至第一测试线271。第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的栅电极231通过第一连接图样235电连接至第一测试线271。第一连接图样235可以经由用于露出第一测试线271和栅电极231的部分的接触孔连接至栅电极231和第一测试线271。

第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的漏电极234通过第二连接图样236电连接至栅极线GL1、GL2、...。第二连接图样236可以经由用于露出栅极线GL1、GL2、...和漏电极234的部分的接触孔连接至漏电极234和栅极线GL1、GL2、...。第一二极管GD1、GD2、...中的每一个可以进一步包括位于源电极234和漏电极231之间的栅电极231上的沟道部232。第一连接图样235和第二连接图样236由与形成在像素部P1中的像素电极216大致相同的层构成。第一连接图样235和第二连接图样236包括导电材料。

另外，栅极绝缘层202形成在第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的栅电极231和沟道部232之间。钝化层203形成在第一二极管GD1、GD2、...中的每一个的源电极233和漏电极234上。

第一测试部270的第一测试线271由与第一二极管GD1、GD2、...的源电极233和漏电极234、以及开关元件TFT1的源电极213和漏电极214大致相同的层构成。在图1至图3中，第一测试部270的第一测试线271和第一二极管GD1、GD2、...的源电极233和漏电极234、以及开关元件TFT1的源电极213和漏电极214包括金属层。第一测试部270的第一测试焊盘272和像素电极216、以及第一连接图样235和第二连接图样236可以包括透明导电材料。

图4是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第一二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图。

参照图4，多个像素部P1、P2、...形成在显示面板100的显示区DA中。第一二极管静电耗散部230通过栅极线GL1、GL2、...中的一个端子释放施加到栅极线GL1、GL2、...的静电荷，该第一二极管静电耗散部形成在围绕显示区DA的外围区PA中。第一测试部270形成在外围区PA中。第一测试部270通过第一二极管静电耗散部230将第一测试信号传递到显示区DA。

像素部P1、P2、P3、...中的每一个均包括开关元件TFT、液晶电容器CLC、以及存储电容器CST。开关元件TFT的栅电极电连接至其相应的栅极线GL。开关元件TFT的漏电极电连接至液晶电容器CLC和存储电容器CST。

第一二极管静电耗散部230包括分别电连接至栅极线GL1、GL2、GL3、...的多个第一二极管GD1、GD2、GD3、...。

第一二极管GD1、GD2、GD3、...中的每一个均具有电连接至第一测试部270的栅电极、电连接至第一测试部270的源电极、以及电连接至相应的栅极线GL1、GL2、GL3、...的漏电极。

当向第一测试部270施加第一测试信号T1时，通过第一测试部270将第一测试信号T1施加到第一二极管静电耗散部230。通过第一二极管GD1、GD2、GD3、...将第一测试信号T1施加到显示区的像素部P1、P2、P3、...。

第一测试信号T1通过电连接至第一二极管静电耗散部230的第一测试部270被施加到栅极线GL1、GL2、GL3、...。栅极线GL1、GL2、GL3、...形成在显示区DA中。因此，可以容易地测试栅极线GL1、GL2、GL3、...，以检测栅极线GL1、GL2、GL3、...的断路或短路。

图5是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第一二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图。除了第一二极管静电耗散部之外，图5的显示面板与图4的显示面板大致相同。因此，将省略对相同部分的描述。

参照图5，第一二极管静电耗散部230’包括电连接至栅极线GL1、GL2、GL3、...中的每一条的两个二极管GD11和GD12、GD21和GD22、GD31和GD32、...。

两个二极管GD11和GD12、GD21和GD22、GD31和GD32、...中的每一个均具有电连接至第一测试部270的栅电极、电连接至第一测试部270的源电极、以及电连接至相应的栅极线GL1、GL2、GL3、...的漏电极。

因此，通过第一二极管静电耗散部230’将来自第一测试部270的第一测试信号施加到显示区的像素部P1、P2、P3、...。

图6是示出图1中所示的示例性第一显示基板的部分平面图。图7是沿着图6中的线II-II’截取的横截面图。

参照图6和图7，第一显示基板200包括底部基板201。多个像素部P1、第二二极管静电耗散部250、以及第二测试部280形成在底部基板201上。

虽然示出并描述了示例性的像素部P1，但是剩余的像素部P可以包括类似的排列。像素部P1包括开关元件TFT1和像素电极216。开关元件TFT1包括栅电极211、源电极213、以及漏电极214。开关元件TFT1的栅电极211电连接至栅极线GL1。开关元件TFT1的源电极213电连接至源极线DL1。开关元件TFT1的漏电极214电连接至像素电极216。开关元件TFT1的沟道部212形成于源电极213和漏电极214之间的栅电极211上。

此外，栅极绝缘层202形成于开关元件TFT1的栅电极211和沟道部212之间。钝化层203形成在源电极213和漏电极214上。

第二二极管静电耗散部250包括电连接至源极线DL1、DL2、...的多个第二二极管DD1、DD2、...。第二测试部280的第二测试线281电连接至第二二极管静电耗散部250。第二测试焊盘282位于第二测试线281的一个端子上。

特别地，第二二极管DD1、DD2、...中的每一个均包括栅电极251、源电极254、以及漏电极253。第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的栅电极251以及第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的源电极254均电连接至第二测试线281。第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的漏电极253电连接至源极线DL1、DL2、...。

第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的栅电极251从第二测试线281延伸，因此电连接至第二测试线281。第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的源电极254通过连接图样255电连接至第二测试线281。

第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的漏电极253从源极线DL1、DL2、...延伸，因此电连接至源极线DL1、DL2、...。第二二极管DD1、DD2、...中的每一个均可以进一步包括位于源电极254和漏电极253之间的栅电极251上的沟道部252。连接图样255由与每个像素部P中的像素电极216大致相同的层构成，并且包括导电图样。

此外，栅极绝缘层202形成在第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的栅电极251和沟道部252之间。即，栅极绝缘层202可以位于栅电极211和251以及沟道部212和252之间。钝化层203形成在第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的源电极254和漏电极253上。即，钝化层203可以位于每个像素部P的开关晶体管TFT的源电极213和漏电极214以及第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的源电极254和漏电极253上。

第二测试部280的第二测试线281可以包括与开关晶体管TFT1的源电极213和漏电极214以及第二二极管DD1、DD2、...中的每一个的源电极254和漏电极253大致相同的金属。第二测试部280的第二测试焊盘282以及连接图样255包括与像素电极216大致相同的导电材料。

图8是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第二二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图。

参照图8，多个像素部P1、P2、P3、...形成在显示面板100的显示区DA中，并且使施加到源极线DL1、DL2、DL3、...的静电荷释放的第二二极管静电耗散部250形成在围绕显示区DA的外围区PA中。第二测试部280形成在外围区PA中。第二测试部280通过第二二极管静电耗散部250向显示区DA传递第二测试信号T2。

像素部P1、P2、P3、...中的每一个均包括开关元件TFT、液晶电容器CLC、以及存储电容器CST。每个开关元件TFT的栅电极均电连接至其相应的栅极线GL。每个开关元件TFT的漏电极均电连接至液晶电容器CLC和存储电容器CST。

第二二极管静电耗散部250包括分别电连接至源极线DL1、DL2、DL3、...的多个第二二极管DD1、DD2、DD3、...。

第二二极管DD1、DD2、DD3、...中的每一个均包括电连接至第二测试部280的栅电极、电连接至第二测试部280的源电极、以及电连接至相应的源极线DL1、DL2、DL3、...的漏电极。

当向第二测试部280施加第二测试信号T2时，通过第二测试部280将第二测试信号T2施加到第二二极管静电耗散部250。第二测试信号T2通过第二二极管DD1、DD2、DD3、...被施加到显示区DA的像素部P1、P2、P3、...。

第二测试信号T2通过电连接至第二二极管静电耗散部250的第二测试部280被施加到源极线DL1、DL2、DL3、...。源极线DL1、DL2、DL3、...形成在显示区DA中。因此，可以容易地测试源极线DL1、DL2、DL3、...，以检测源极线DL1、DL2、DL3、...的断路或短路。

图9是示出根据本发明另一示例性实施例的具有示例性第二二极管静电耗散部的示例性显示面板的等效电路图。除了第二二极管静电耗散部之外，图9的显示面板与图8的显示面板大致相同。因此，将省略对相同部分的描述。

参照图9，第二二极管静电耗散部250’包括电连接至相应的源极线DL1、DL2、DL3、...中的每一条的两个二极管DD11和DD12、DD21和DD22、DD31和DD32、...。

两个二极管DD11和DD12、DD21和DD22、DD31和DD32、...中的每一个均具有电连接至第二测试部280的栅电极、电连接至第二测试部280的源电极、以及电连接至源极线DL1、DL2、DL3、...中相应一条的漏电极。

因此，通过第二二极管静电耗散部250’将来自第二测试部280的第二测试信号施加到显示区DA的像素部P1、P2、P3。

图10是示出根据本发明示例性实施例的用于执行总测试的示例性装置的示意性透视图。图11是示出图10中所示的示例性测试装置的框图。

参照图1、图10和图11，测试装置500包括多个信号发生器420、460、470和480以及控制器410。信号发生器420、460、470和480分别电连接至栅极焊盘部220、源极焊盘部260、第一测试部270以及第二测试部280。栅极焊盘部220、源极焊盘部260、第一测试部270以及第二测试部280形成在显示面板100上。控制器410控制信号发生器420、460、470和480，以产生测试信号。

特别地，第一信号发生器420包括多个第一输出引脚520。第一输出引脚520电连接至栅极焊盘部220的多个焊盘，并且向栅极焊盘部220发送栅极测试信号。

第二信号发生器460包括多个第二输出引脚560。第二输出引脚560电连接至源极焊盘部260的多个焊盘(图3中示出的焊盘261)，并且向源极焊盘部260发送源极测试信号。

第三信号发生器470包括单个第三输出(发生)引脚570，该第三输出引脚电连接至第一测试部270并且向第一测试部270施加第一测试信号。来自第一测试部270的第一测试信号通过第一二极管静电耗散部230被施加到栅极线GL。第一测试信号是导通栅极线的栅极导通电压。例如，第一测试信号的电平可以是约20V至约30V。

第四信号发生器480包括单个第四输出(发生)引脚580，该第四输出引脚电连接至第二测试部280并且向第二测试部280施加第二测试信号。来自第二测试部280的第二测试信号通过第二二极管静电耗散部250被施加到源极线DL。第二测试信号是对应于灰度级的数据电压。

控制器410基于从外部向控制器410提供的测试控制信号来控制信号发生器420、460、470和480。

特别地，当用于检测像素的测试信号被施加到控制器410时，控制器410控制第一信号发生器420和第二信号发生器460，以通过第一输出引脚520和第二输出引脚560分别向栅极焊盘部220和源极焊盘部260施加栅极测试信号和源极测试信号。在这种情况下，控制器410控制第三信号发生器470和第四信号发生器480，以使第一测试信号和第二测试信号不能施加到第三信号发生器470的第三输出引脚570和第四信号发生器480的第四输出引脚580。

当用于检测线路缺陷的测试信号被施加到控制器410时，控制器410控制第三信号发生器470和第四信号发生器480，以分别通过第三输出引脚570和第四输出引脚580将第一测试信号和第二测试信号施加到第一测试部270和第二测试部280。在这种情况下，控制器410控制第一信号发生器420和第二信号发生器460，以使栅极测试信号和源极测试信号不能施加到第一信号发生器420的第一输出引脚520和第二信号发生器460的第二输出引脚560。

图12A和12B是示出用于使用图11中示出的示例性装置来总测试示例性显示面板的示例性方法的透视图。

图12A是示出使用图11所示的示例性测试装置来测试图像显示质量的透视图。

参照图11和图12A，测试装置500通过第一信号发生器420和第二信号发生器460向显示面板100输出栅极测试信号和源极测试信号，以在显示面板100上显示图像图样501。在这种情况下，测试装置500不向第三输出(发生)引脚570和第四输出(发生)引脚580输出第一测试信号和第二测试信号。

第一信号发生器420通过第一输出引脚520输出用于导通显示面板100的栅极线GL的栅极测试信号。栅极测试信号被施加到电连接至第一输出引脚520的栅极焊盘部220。

第二信号发生器460通过第二输出引脚560向显示面板100的源极线DL施加对应于图像图样501的源极测试信号。因此，源极测试信号被施加到电连接至第二输出引脚560的源极焊盘部260。

因此，用于测试显示面板100的图像图样501显示在显示面板100上，以利用图像图样501来检测像素和线路的缺陷。

图12B是示出使用图11中所示的示例性测试装置来检测示例性显示面板上的线路缺陷的透视图。

参照图1、图11和图12B，测试装置通过第三信号发生器570和第四信号发生器580分别向显示面板100输出用于检测显示面板100的线路的第一测试信号和第二测试信号。在这种情况下，测试装置500不向第一输出引脚520和第二输出引脚560输出栅极测试信号和源极测试信号。

第三信号发生器570产生用于导通栅极线GL的第一测试信号，从而将第一测试信号施加到电连接至第三信号发生器570的第一测试部270。第一测试信号通过电连接至栅极线GL的第一二极管静电耗散部230施加到栅极线GL。

第四信号发生器580向电连接至第四信号发生器580的第二测试部280施加第二测试信号。第二测试信号通过电连接至源极线DL的第二二极管静电耗散部250被施加到源极线DL。

第一测试信号和第二测试信号分别通过第一测试部270和第二测试部280同时施加到显示面板100的栅极线GL和源极线DL。因此，显示面板100显示具有对应于第二测试信号的预定灰度级的图像。

当显示面板100的源极线DL和栅极线GL包括断路或短路时，源极线DL和栅极线GL的缺陷LE显示为线性形状。

因此，使用本发明示例性实施例的测试装置，防止了测试装置的引脚和显示面板的焊盘之间的断线，从而提高了测试的可靠性。

根据本发明，第一测试部电连接至第一二极管静电耗散部，以将施加到栅极焊盘部的静电荷释放，并且第二测试部电连接至第二二极管静电耗散部，以将施加到源极焊盘部的静电荷释放。

第一测试信号和第二测试信号被施加到第一测试部和第二测试部，以在显示面板的总测试期间检测显示面板的线路，以减小由于测试装置和显示面板的焊盘之间的断线而形成的错误。

因此，可以增加显示面板的生长率和测试的可靠性。此外，可以减小显示面板的缺陷，从而增加显示面板生产过程的成品率。另外，可以降低显示面板的制造成本。

虽然已经描述了本发明的示例性实施例，但是应当理解，本发明并不局限于这些示例性实施例，在本发明的权利要求的精神和范围之内，本领域技术人员可以做出各种修改和替换。

Claims (19)

1.一种显示基板，包括：

栅极焊盘部，位于多条栅极线中的每一条的一个端子上，所述栅极焊盘部向每条所述栅极线传递信号；

源极焊盘部，位于多条源极线中的每一条的一个端子上，所述源极焊盘部向每条所述源极线传递信号；

第一静电耗散部，电连接至所述源极焊盘部，用于散布施加到所述源极焊盘部的静电荷；以及

第一测试部，用于接收第一测试信号，所述第一测试部电连接至所述第一静电耗散部，所述第一测试信号通过所述第一静电耗散部施加到所述源极线，

其中，所述第一静电耗散部包括多个第一二极管，以及

其中，所述第一测试信号是对应于灰度级的数据电压。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其中，所述第一测试部包括：

第一测试线，电连接至所述第一静电耗散部；以及

第一测试焊盘，电连接至所述第一测试线，并且接收所述第一测试信号。

3.根据权利要求1所述的显示基板，进一步包括被所述栅极线和所述源极线限定的多个像素部，其中，所述第一静电耗散部形成于所述源极焊盘部和所述多个像素部之间。

4.根据权利要求3所述的显示基板，进一步包括静电放电部，用于将施加到所述第一静电耗散部的静电荷释放，其中，所述静电放电部位于所述第一静电耗散部和所述多个像素部之间。

5.根据权利要求1所述的显示基板，其中，每个所述第一二极管均包括电连接至所述第一测试部的栅电极、电连接至所述第一测试部的源电极、以及电连接至所述源极线之一的漏电极。

6.根据权利要求1所述的显示基板，其中，所述多个第一二极管包括两个二极管，并且所述两个二极管中的每一个均包括电连接至所述第一测试部的栅电极、电连接至所述第一测试部的源电极、以及电连接至所述源极线之一的漏电极。

7.根据权利要求1所述的显示基板，进一步包括：

第二静电耗散部，电连接至所述栅极焊盘部，用于散布施加到所述栅极焊盘部的静电荷；以及

第二测试部，用于接收第二测试信号，所述第二测试部电连接至所述第二静电耗散部，所述第二测试信号通过所述第二静电耗散部施加到所述栅极线，

其中，所述第二静电耗散部包括多个第二二极管，以及

所述第二测试信号是用于导通所述栅极线的栅极导通电压。

8.根据权利要求7所述的显示基板，其中，所述第二测试部包括：

第二测试线，电连接至所述第二静电耗散部；以及

第二测试焊盘，电连接至所述测试线，并且接收所述第二测试信号。

9.根据权利要求7所述的显示基板，进一步包括被所述栅极线和所述源极线限定的多个像素部，其中，所述第二静电耗散部形成于所述栅极焊盘部和所述多个像素部之间。

10.根据权利要求7所述的显示基板，其中，每个所述第二二极管均包括电连接至所述第二测试部的栅电极、电连接至所述第二测试部的源电极、以及电连接至所述栅极线之一的漏电极。

11.根据权利要求7所述的显示基板，其中，所述多个第二二极管包括两个二极管，并且所述两个二极管中的每一个均包括电连接至所述第二测试部的栅电极、电连接至所述第二测试部的源电极、以及电连接至所述栅极线之一的漏电极。

12.根据权利要求7所述的显示基板，其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号分别被同时施加到所述源极线和所述栅极线。

13.一种显示基板，包括：

栅极焊盘部，位于多条栅极线中的每一条的一个端子上，所述栅极焊盘部向所述栅极线中的每一条传递信号；

第一静电耗散部，电连接至所述栅极焊盘部，用于散布施加到所述栅极焊盘部的静电荷；以及

第一测试部，用于接收第一测试信号，所述第一测试部电连接至所述第一静电耗散部，所述第一测试信号通过所述第一静电耗散部被施加到所述栅极线，

其中，所述第一静电耗散部包括多个第一二极管，以及

其中，所述第一测试信号是用于导通所述栅极线的栅极导通电压。

14.一种用于测试显示面板的装置，所述显示面板包括多个像素部、通过第一静电耗散部电连接至多条源极线的第一测试部、以及通过第二静电耗散部电连接至多条栅极线的第二测试部，所述装置包括：

第一信号发生器，电连接至所述源极线，以向所述源极线施加源极测试信号；

第二信号发生器，电连接至所述栅极线，以向所述栅极线施加栅极测试信号；

第三信号发生器，电连接至所述第一测试部，以向所述第一测试部施加第一测试信号；以及

第四信号发生器，电连接至所述第二测试部，以向所述第二测试部施加第二测试信号，

其中，所述第一测试信号是对应于灰度级的数据电压，并且所述第二测试信号是用于导通所述栅极线的栅极导通电压。

15.根据权利要求14所述的装置，其中，所述第一信号发生器和所述第二信号发生器分别向所述源极线和所述栅极线施加所述源极测试信号和所述栅极测试信号，以检测所述显示面板的像素缺陷。

16.根据权利要求14所述的装置，其中，所述第三信号发生器和所述第四信号发生器分别向所述第一测试部和所述第二测试部施加所述第一测试信号和所述第二测试信号，从而检测所述显示面板的线路缺陷。

17.根据权利要求14所述的装置，进一步包括用于控制所述第一、第二、第三、和第四信号发生器的控制器，其中，当由所述第一信号发生器和所述第二信号发生器施加所述源极测试信号和所述栅极测试信号时，所述控制器控制所述第三信号发生器和所述第四信号发生器不施加所述第一测试信号和所述第二测试信号，并且当由所述第三信号发生器和所述第四信号发生器施加所述第一测试信号和所述第二测试信号时，控制所述第一信号发生器和所述第二信号发生器不施加所述源极测试信号和所述栅极测试信号。

18.根据权利要求14所述的装置，其中，所述第三信号发生器包括单个第三输出引脚，并且所述第四信号发生器包括单个第四输出引脚。

19.一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括多个像素部、通过第一静电耗散部电连接至多条源极线的第一测试部、以及通过第二静电耗散部电连接至多条栅极线的第二测试部，所述方法包括：

分别向所述栅极线和所述源极线施加栅极测试信号和源极测试信号，以检测所述显示面板的像素缺陷；以及

分别向所述第一测试部和所述第二测试部施加第一测试信号和第二测试信号，以检测所述显示面板的线路缺陷。

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