KR101585253B1 - 액정표시장치 - Google Patents

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Abstract

액정표시장치가 개시된다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과, 상기 표시영역의 가장자리에 위치하며 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 하부에 배치되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 상부 베젤(Bezel) 영역에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함한다.
오토 프로브, 검사장치, D-IC, 베젤(Bezel) 영역, 데이터 링크 단선 검사

Description

액정표시장치{Liquid crystal display device}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 소형의 액정표시장치에서 D-IC의 사이즈에 관계없이 오토 프로브 검사장치를 액정패널 상에 집적하여 점등검사의 효율을 향상시킬 수 있는 액정표시장치에 관한 것이다.
액정표시장치는 액정의 특정한 분자 배열에 전압을 인가하여 다른 분자 배열로변환시키고 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성 및 광 산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 표시장치이다. 일반적으로, 액정표시장치는 화소단위의 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열되는 액정표시패널과 상기 액정 셀들을 구동시키는 구동회로로 구성된다.
상기 액정표시패널은 일정한 이격간격을 두고 대향하여 합착된 컬러필터 기판 및 박막트랜지스터 어레이 기판과, 두 기판 사이에 형성된 액정층으로 구성된다. 상기 구동회로는 액정표시패널의 게이트라인으로 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부와, 상기 액정표시패널의 데이터라인에 화상정보를 공급하는 데이터 구동부와, 상기 게이트 및 데이터 구동부의 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러 및 액정 표시장치에 사용되는 다양한 구동전압을 공급하는 전원 공급부로 구성된다. 상기 데이터 구동부 및 게이트 구동부는 집적회로(integrated circuit:IC)로 제작되어 테이프 캐리어 패키지(tape carrier package:TCP) 상에 실장되어 탭(tape automated bonding:TAB) 방식으로 액정표시패널에 접속될 수 있다.
최근 들어 급속하게 발전하고 있는 반도체 공정 기술 및 패키지 기술에 의해 고집적 및 고성을 갖는 반도체 칩이 출현함에 따라 상기 구동회로를 고집적 및 고성능 반도체 칩으로 원-칩화하여 상기 원-칩을 액정표시패널의 일부분에 직접 실장할 수 있게 되었다.
특히, 소형 액정표시장치의 경우에 화면이 표시되는 액티브 영역(Active Area:A/A)을 제외한 비표시영역의 일부분에 상기 고집적 및 고성능 반도체 칩을 실장하여 상기 액티브 영역(A/A)에서 영상이 구현되도록 이를 제어하고 있다.
한편, 소형 액정표시장치 뿐만 아니라, 모든 액정표시장치를 제조하기 위한 제조 공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성/러빙 공정, 기판 합착/액정 주입 공정, 실장 공정, 검사 공정 및 리페어 공정 등으로 나뉘어 진다.
이중 검사 공정은 액정표시패널에 각종 신호라인과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 점등검사와 각 화소의 불량 검사를 포함한다. 액정표시패널의 검사 공정에서는 액정표시패널 상의 신호라인의 단선 검사와 점결함 등의 존재 여부 검사를 위하여 오토 프로브(Auto Probe) 장치를 이용하여 점등검사를 하게 된다.
상기 오토 프로브 장치를 이용한 검사방법에는 여러가지가 있지만, 소형 액정표시장치의 경우 오트 프로브 트랜지스터(Auto Probe Transistor:APT)를 구비한 오토 프로브 검사회로를 이용하여 점등검사를 실시한다.
앞서 서술한 바와 같이 소형 액정표시장치의 비표시영역의 일부분에 반도체 집적회로가 실장되는데, 상기 반도체 집적회로의 여유 공간에 상기 오토 프로브 검사회로를 형성하여 소형 액정표시장치의 점등검사를 실시하게 된다.
한편, 소형 액정표시장치에서 사용자의 요구에 따라 액티브 영역(A/A)의 크기가 점점 커지게 되고 이로 인해 상기 액티브 영역(A/A)을 제외한 비표시영역의 면적이 점점 감소하게 되었다. 상기 비표시영역의 면적이 감소하여 반도체 집적회로의 사이즈도 점점 감소하게 되었다. 이로 인해, 상기 반도체 집적회로 내의 여유 공간에 설치되는 오토 프로브 검사회로를 집적하기 위한 공간이 부족해지는 문제점이 발생하였다. 이를 해결하기 위해, 상기 오토 프로브 검사회로에 구비된 오토 프로브 트랜지스터(APT)의 사이즈를 줄여서 상기 오토 프로브 검사회로를 설치하는 방안이 제공되었다.
상기 오토 프로브 트랜지스터(APT)의 사이즈가 줄어들게 되면 액정표시패널의 구동에 필요한 전류를 만족시키지 못하게 되어 점등 검사에 문제가 발생하게 되어 검사 효율이 감소하게 되는 문제가 초래되었다. 또한, 반도체 집적회로의 중앙 부분에 버퍼부가 빈 영역이 존재할 경우 상기 중앙 부분에 오토 프로브 검사회로가 실장되면, 오토 프로브 검사회로의 신호라인들 간의 라인 저항이 발생하게 되어 액정표시패널의 중앙 부분을 중심으로 좌/우측의 밝기 차이가 발생하여 검사자로 하여금 불량 유무를 정확히 판단하기 어렵게 하는 문제가 발생하였다.
본 발명은 소형의 액정표시장치에서 D-IC 내의 여유 공간에 배치되던 오토 프로브 장치를 상부 비표시영역인 베젤(Bezel) 영역으로 이동 배치시켜 D-IC의 사이즈와 관계없이 오토 프로브 장치를 액정패널 상에 집적하여 점등검사의 효율을 향상시킬 수 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 상부 베젤(Bezel) 영역으로 오토 프로브 장치를 배치시킴으로써 D-IC 내의 유 공간에 데이터 링크 라인의 단선 유무를 검사하는 데이터 링크 라인 단선 검출 회로를 설치하여 데이터 링크 라인의 불량을 검출할 수 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과, 상기 표시영역의 가장자리에 위치하며 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 하부에 배치되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 상부 베젤(Bezel) 영역에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함한다.
본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과, 상기 표시영역의 가장자리에 위치하며 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 하부에 배치되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 액정표시패널의 비표시영역 중 상부 베젤(Bezel) 영역에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함하고, 상기 구동 집적회로 내부에 위치하며 상기 구동 집적회로와 상기 다수의 데이터라인를 전기적으로 연결시키는 데이터 링크 라인의 단선 유무를 검출하는 데이터 링크 라인 단선 검출회로를 포함한다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 소형의 액정표시장치의 경우에 상부 비표시영역인 베젤(Bezel) 영역에 오토 프로브 검사회로를 배치하여 드라이버 IC의 사이즈에 관계없이 점등검사를 실시하여 점등검사의 효율을 향상시킬 수 있으며, 드라이버 IC 내의 여유 공간에 데이터 링크 라인의 단선 유무를 검사하는 데이터 링크 라인 단선 검출 회로를 설치하여 데이터 링크 라인의 불량을 검출할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치는 다수의 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)이 배열되며 영상을 표시하는 액정표시패 널(100)과, 상기 액정표시패널(100)의 일부분에 위치하며 상기 액정표시패널(100)을 구동하는 구동회로인 드라이버 IC(140, D-IC)를 포함한다. 이때, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치는 예를 들어 소형 액정표시장치일 수 있다.
상기 액정표시패널(100)은 일정한 이격간격을 두고 대향하여 합착된 컬러필터 기판 및 박막트랜지스터 어레이 기판과, 상기 두 기판 사이에 형성된 액정층으로 구성된다.
상기 다수의 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)은 상기 박막트랜지스터 어레이 기판(도시하지 않음) 상에 형성되어 화소 영역을 정의한다. 상기 화소 영역에는 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)에 전기적으로 접속된 제1 박막트랜지스터(TFT-1) 및 상기 제1 박막트랜지스터(TFT-1)와 전기적으로 접속된 화소전극(130)이 형성되어 있다.
상기 컬러필터 기판(도시하지 않음) 상에는 R, G, B 컬러필터와 이들 각각을 테두리하여 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL) 등을 가리는 블랙 매트릭스 및 이들 모두를 덮는 공통전극이 형성된다.
상기 액정표시패널(100)은 화상이 표시되는 액티브 영역(Active Area:A/A)과 화상이 표시되지 않은 비표시영역인 더미 영역(D/A)으로 구분된다. 또한, 상기 액정표시패널(100)은 제1 내지 제3 영역(A ~ C)으로 구분될 수 있는데, 이중 제1 영역(A)은 상기 액정표시패널(100)의 점등검사를 위한 오토 프로브 구동회로(120)가 위치하는 영역이고, 제2 영역(B)은 화상이 표시되는 영역이며 제3 영역(C)은 상기 드라이버 IC(140)가 위치하는 영역이다.
상기 제3 영역(C)에 위치한 드라이버 IC(140)는 앞서 서술한 바와 같이 액정표시패널(100)을 구동하는 구동회로로써, 상기 액정표시패널(100)의 게이트라인(GL)으로 스캔신호를 공급함과 동시에 상기 액정표시패널(100)의 데이터라인(DL)으로 영상 정보를 갖는 데이터 신호를 공급한다. 상기 드라이버 IC(140)는 외부에 위치하는 타이밍 컨트롤러(도시하지 않음)로부터 제공된 제어신호에 의해 상기 액정표시패널(100)을 구동한다.
상기 제1 영역(A)에 위치한 오토 프로브 검사회로(130)는 데이터 신호 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 데이터 신호 공급 패턴(110)과, 상기 데이터 신호 공급 패턴(110) 및 상기 데이터라인(DL)과 전기적으로 접속된 제2 박막트랜지스터(TFT-2)를 포함한다. 이때, 상기 제1 영역(A)은 비표시영역의 상부 베젤(Bezel) 영역에 해당된다.
상기 데이터 신호 공급 패턴(110)은 제1 데이터 신호(R 데이터)를 제공하는 제1 데이터 신호 공급 패턴(110a)과, 제2 데이터 신호(G 데이터)를 제공하는 제2 데이터 신호 공급 패턴(110b)과, 제3 데이터 신호(B 데이터)를 제공하는 제3 데이터 신호 공급 패턴(110c) 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(110d)을 포함한다.
상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)는 상기 제1 내지 제3 데이터 신호 공급 패턴(110a ~ 110c) 중 어느 하나와 접속된 소스(또는 드레인) 단자와, 상기 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(110d)에 접속된 게이트 단자 및 상기 데이터라인(DL)에 접속된 드레인(또는 소스) 단자를 포함한다. 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)는 오 토 프로브 트랜지스터(Auto Probe Transistor)일 수 있다. 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)는 상기 데이터라인(DL)과 전기적으로 연결되기 때문에 상기 데이터라인(DL)의 수에 대응되게 구비될 수 있다.
상기 데이터 신호 공급 패턴(110)은 외부에 위치하는 오토 프로브 장치의 프로브 유닛에 포함된 프로브 핀과 각각 접속되어 상기 오토 프로브 장치로부터 제1 내지 제3 데이터 신호 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 공급받는다. 이로 인해, 상기 데이터 인에이블 신호 공급패턴(110d)과 접속된 제2 박막트랜지스터(TFT-2)가 턴-온(turn-on) 되어 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)의 소스(또는 드레인) 단자로 제공된 데이터 신호가 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)와 접속된 데이터라인(DL)으로 제공되어 점등검사를 실시하게 된다.
이와 같이, 상기 오토 프로브 검사회로(120)가 상기 액정표시패널(100)의 상부의 베젤(Bezel) 영역에 배치되기 때문에 드라이버 IC(140)의 사이즈에 상관없이 오토 프로브 장치를 이용한 점등검사를 실시할 수 있다. 다시 말하면, 상기 드라이버 IC(140)의 사이즈가 감소하더라도 상기 오토 프로브 검사회로(120)를 상기 드라이버 IC(140) 내부의 여유 공간이 아닌 상기 상부 베젤(Bezel) 영역에 설계하기 때문에 효율적으로 액정표시패널(100)의 점등검사를 실시할 수 있다.
또한, 상기 오토 프로브 검사회로(120)에 구비된 다수의 제2 박막트랜지스터(TFT-2)가 데이터라인(DL)과 동일한 간격으로 배치되기 때문에 점등검사 시 화상품질이 향상될 수 있다.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다. 편의 를 위해, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치에 대한 설명 중 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치와 동일한 구성요소에 대한 설명은 간략하게 하기로 한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치는 영상을 표시하는 액정표시패널(200)을 포함한다. 또한, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치는 상기 액정표시패널(200)의 일부분에 위치하여 상기 액정표시패널(200)을 구동하는 구동회로(도시하지 않음)를 더 포함할 수 있다.
상기 액정표시패널(200)은 화상이 표시되는 액티브 영역(Active Area:A/A)과 화상이 표시되지 않은 비표시영역인 더미 영역(D/A)으로 구분된다. 또한, 상기 액정표시패널(200)은 제1 내지 제3 영역(A ~ C)으로 구분될 수 있는데, 이중 제1 영역(A)은 상기 액정표시패널(200)의 점등검사를 위한 오토 프로브 구동회로(120)가 위치하는 영역이고, 제2 영역(B)은 화상이 표시되는 영역이며 제3 영역(C)은 드라이버 IC(도시하지 않음)가 위치하는 영역이다. 상기 데이터 링크 라인 단선 검출 회로(250)는 상기 데이터라인과 상기 드라이버 IC를 전기적으로 연결시키는 데이터 링크 라인(DLL)의 단선 여부를 검출한다. 이때, 상기 제3 영역(C)의 드라이버 IC 내부에는 데이터 링크 라인 단선 검출 회로(250)가 배치된다.
도면상에서는 편의를 위해 상기 데이터 링크 라인 단선 검출 회로(250)가 제3 영역(C) 전체에 걸쳐 배치되도록 그렸지만, 실제 상기 데이터 링크 라인 단선 검출 회로(250)는 드라이버 IC 내부에 배치된다.
상기 제1 영역(A)에 구비된 오토 프로브 검사 회로(120)는 데이터 신호 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 제1 데이터 신호 공급 패턴(110)과, 상기 제1 데이터 신호 공급 패턴(110) 및 상기 데이터라인(DL)과 전기적으로 접속된 제2 박막트랜지스터(TFT-2)를 포함한다. 이때, 상기 제1 영역(A)은 비표시영역의 상부 베젤(Bezel) 영역에 해당된다.
상기 제1 데이터 신호 공급 패턴(110)은 외부에 위치하는 오토 프로브 장치의 프로브 유닛에 포함된 프로브 핀과 각각 접속되어 상기 오토 프로브 장치로부터 제1 내지 제3 데이터 신호 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 공급받는다. 이로 인해, 상기 데이터 인에이블 신호 공급패턴(110d)과 접속된 제2 박막트랜지스터(TFT-2)가 턴-온(turn-on) 되어 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)의 소스(또는 드레인) 단자로 제공된 데이터 신호가 상기 제2 박막트랜지스터(TFT-2)와 접속된 데이터라인(DL)으로 제공되어 점등검사를 실시하게 된다.
상기 제3 영역(C)에 구비된 데이터 링크 라인 단선 검출 회로(250)는 데이터 신호 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 제2 데이터 신호 공급 패턴(260)과, 데이터 링크 라인(DLL)과 전기적으로 접속된 다수의 패드(270)와, 상기 다수의 패드(270) 및 상기 제2 데이터 신호 공급 패턴(260)과 전기적으로 접속된 다수의 제3 박막트랜지스터(TFT-3)를 포함한다. 이때, 상기 데이터 링크 라인(DLL)은 상기 데이터라인(DL)과 상기 다수의 패드(270)를 전기적으로 연결시킨다.
상기 제2 데이터 신호 공급패턴(260)은 데이터 신호를 제공하는 데이터 신호 공급 패턴(260a)과, 데이터 인에이블(DE)를 제공하는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(260b)을 포함한다.
상기 데이터 신호 공급 패턴(260a)은 상기 제1 영역(A)에 위치하는 오토 프로브 검사 회로(120)의 제1 내지 제3 데이터 신호 공급 패턴(110a ~ 110c) 중 어느 하나의 데이터 신호 공급 패턴과 전기적으로 연결되어 상기 연결된 데이터 신호 공급 패턴으로부터 데이터 신호를 공급받는다. 또한, 상기 데이터 신호 공급 패턴(260a)은 외부의 오토 프로브 장치의 프로브 핀과 접촉되어 데이터 신호를 공급받을 수 있다.
상기 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(260b)은 상기 제1 영역(A)에 위치한 오토 프로브 검사 회로(120)의 데이터 인에이블 신호 공급패턴(110d)과 전기적으로 연결되어 데이터 인에이블(DE) 신호를 공급받는다. 또한, 상기 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(260b)은 외부의 오토 프로브 장치의 포로브 핀과 접촉되어 데이터 인에이블(DE) 신호를 공급받을 수 있다.
상기 제3 박막트랜지스터(TFT-3)는 상기 패드(270)와 전기적으로 접속된 소스(또는 드레인) 단자와, 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(260b)과 전기적으로 접속된 게이트 단자 및 상기 데이터 신호 공급 패턴(260a)과 전기적으로 접속된 드레인(또는 소스) 단자로 구성된다. 상기 제3 박막트랜지스터(TFT-3)는 상기 데이터 링크 라인(DLL) 단선 여부만을 검출하는 것이므로 오토 프로브 검사회로(120)의 제2 박막트랜지스터(TFT-2)의 사이즈에 비해 그 크기가 작다.
상기 패드(270)는 상기 데이터 링크 라인(DLL) 및 제3 박막트랜지스터(TFT-3)를 전기적으로 연결시킨다.
상기 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(260a)으로 데이터 인에이블(DE) 신호 가 제공되면, 상기 제3 박막트랜지스터(TFT-3)는 턴-온(turn-on)되어 상기 데이터 신호 공급 패턴(260a)으로부터 제공된 데이터 신호가 상기 제3 박막트랜지스터(TFT-3)를 통해 상기 패드(270)로 제공된다. 상기 패드(270)로 제공된 데이터 신호가 상기 데이터 링크 라인(DLL)으로 제공되면, 상기 데이터 신호를 이용하여 상기 데이터 링크 라인(DLL)의 단선 여부를 검출할 수 있게 된다.
이와 같이, 상기 오토 프로브 검사회로(120)가 상기 액정표시패널(100)의 상부의 베젤(Bezel) 영역에 배치되기 때문에 드라이버 IC(140)의 사이즈에 상관없이 오토 프로브 장치를 이용한 점등검사를 실시할 수 있다. 다시 말하면, 상기 드라이버 IC(140)의 사이즈가 감소하더라도 상기 오토 프로브 검사회로(120)를 상기 드라이버 IC(140) 내부의 여유 공간이 아닌 상기 상부 베젤(Bezel) 영역에 설계하기 때문에 효율적으로 액정표시패널(100)의 점등검사를 실시할 수 있다.
또한, 종래에 드라이버 IC 내에 배치된 오토 프로브 검사회로(120)를 상부 베젤(Bezel) 영역에 배치시켜 상기 드라이버 IC 내의 여유 공간에 상기 오토 프로브 검사회로(120)에 비해 면적을 작게 차지하는 데이터 링크 라인 검출 회로(250)를 배치시켜 데이터 링크 라인의 단선 여부를 추가적으로 검출할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
100, 200:액정표시패널 110, 260:데이터 신호 공급 패턴
120:오토 프로브 검사 회로 130:화소전극
140:드라이버 IC 250:데이터 링크 라인 단선 검출회로
270:패드

Claims (8)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과, 상기 표시영역의 가장자리에 위치하며 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널;
    상기 액정표시패널의 비표시영역 중 하부에 배치되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로; 및
    상기 액정표시패널의 비표시영역 중 상부 베젤(Bezel) 영역에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로; 및
    상기 구동 집적회로 내부에 위치하며 상기 구동 집적회로와 상기 다수의 데이터라인를 전기적으로 연결시키는 데이터 링크 라인의 단선 유무를 검출하는 데이터 링크 라인 단선 검출회로;를 포함하고,
    상기 데이터 링크 라인 단선 검출회로는 상기 프로브 핀으로부터 공급된 데이터 신호를 제공되는 제2 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 프로브 핀으로부터 공급된 데이터 인에이블 신호를 제공하는 제2 데이터 인에이블 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 링크 라인과 전기적으로 접속된 다수의 패드와, 상기 제2 데이터 신호 공급 패턴과 상기 제2 데이터 인에이블 공급 패턴 사이에 위치하여 상기 패드와 전기적으로 접속된 다수의 검출 트랜지스터를 구비하고,
    상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀으로부터 공급된 데이터 신호를 제공하는 다수의 제1 데이터 신호공급패턴을 포함하고, 상기 제2 데이터 신호 공급 패턴은 다수의 제1 데이터 신호공급패턴 중 어느 하나의 데이터 신호공급패턴과 전기적으로 연결되어 상기 연결된 데이터 신호 공급패턴으로부터 데이터 신호를 공급받는 액정표시장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 오토 프로브 검사회로는,
    상기 프로브 핀으로부터 공급된 데이터 인에이블 신호를 제공하는 제1 데이터 인에이블 신호 공급 패턴; 및
    상기 제1 데이터 신호 공급패턴과 상기 제1 데이터 인에이블 신호 공급 패턴 사이에 위치하여 상기 데이터라인(DL)과 전기적으로 접속된 다수의 오토 프로브 트랜지스터;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 오토 프로브 트랜지스터는 상기 제1 데이터 신호 공급 패턴과 접속된 제1 단자와, 상기 제1 데이터 인에이블 신호 공급 패턴에 접속된 제2 단자 및 상기 데이터라인에 접속된 제3 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  7. 삭제
  8. 제4 항에 있어서,
    상기 검출 트랜지스터는 상기 제2 데이터 신호 공급 패턴과 접속된 제1 단자와, 상기 제2 데이터 인에이블 신호 공급 패턴에 접속된 제2 단자 및 상기 데이터라인에 접속된 제3 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
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