KR101594622B1 - 액정표시장치 - Google Patents

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Abstract

액정표시장치가 개시된다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역에 실장되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 비표시영역 상에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함하고, 상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀과 접속되어 데이터 신호를 제공받는 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드와, 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 제공받는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드와 접속되는 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 신호 공급 패턴과 데이터라인 사이에 접속되어 상기 데이터 신호 공급 패턴으로부터 제공된 공통 데이터 신호를 상기 데이터라인으로 제공하는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터를 포함한다.
오토 프로브(Auto Probe), 데이터(Data), 데이터 인에이블(DE) 신호

Description

액정표시장치{Liquid Crystal Display device}
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 오토 프로브(Auto Probe) 장치를 이용한 검사 공정시에 액정표시패널 상에서 발생하는 세로 Dim 현상을 방지할 수 있는 액정표시장치에 관한 것이다.
액정표시장치는 액정의 특정한 분자 배열에 전압을 인가하여 다른 분자 배열로변환시키고 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성 및 광 산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 표시장치이다.
액정표시장치를 제조하기 위한 제조 공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성/러빙 공정, 기판 합착/액정 주입 공정, 실장 공정, 검사 공정 및 리페어 공정 등으로 나뉘어진다. 이중 검사 공정은 액정표시패널에 각종 신호라인과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 점등검사와 각 화소의 불량 검사를 포함한다. 액정표시패널의 검사 공정에서는 액정표시패널 상의 신호라인의 단선 검사와 점결함 등의 존재 여부 검사를 위하여 오토 프로브(Auto Probe) 장치를 이용하여 점등검사를 하게 된다.
상기 오토 프로브 장치를 이용한 검사방법에는 여러가지가 있지만, 소형 액정표시장치의 경우 오트 프로브 트랜지스터(Auto Probe Transistor:APT)를 구비한 오토 프로브 검사회로를 이용하여 점등검사를 실시한다. 특히, 소형 액정표시장치의 경우, 상기 오토 프로브 검사회로를 이용한 검사방법은 액정표시패널의 비표시영역의 일부에 상기 오토 프로브 검사회로를 형성하여 외부에 위치하는 오토 프로브 장치와 상기 오토 프로브 검사회로를 전기적으로 연결시켜 상기 액정표시패널의 신호라인들의 점등검사 및 불량을 검출하게 된다.
도 1은 종래의 오토 프로브 검사회로를 구비한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정표시패널(10)과, 상기 액정표시패널(10)의 비표시영역 일부에 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장되는 영역의 여유공간에 오토 프로브 검사회로(20)를 포함한다.
상기 액정표시패널(10)은 화소영역을 정의하는 다수의 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)이 배열되며, 그 교차부에 형성된 박막트랜지스터(TFT-1) 및 상기 박막트랜지스터(TFT-1)에 접속된 화소전극(30)을 포함한다.
상기 오토 프로브 검사회로(20)는 다수의 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)와, 상기 액정표시패널(10)에 배열된 신호라인들(GL, DL)에 데이터를 공급하기 위한 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 및 상기 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)의 온/오프(On/Off)를 제어하기 위한 인에이블 신호를 제공하는 인에이블 신호 공급 패턴(14)으로 구성된다. 또한, 상기 오토 프로브 검사회로(20)는 드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역에 위치하는 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)를 포함한다.
상기 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26)는 외부에 위치하는 오토 프로브 장치의 프로브 핀과 전기적으로 접속되어 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 각각에 제1 내지 제3 데이터(R, G, B)를 제공하고, 상기 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)는 상기 인에이블 신호 공급 패턴(12d)에 인에이블 신호를 제공한다.
이러한 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)는 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역에 위치하기 때문에 일반적으로 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부 양측에 위치하게 된다. 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 및 인에이블 신호 공급 패턴(12d)은 상기 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)의 접촉부와 거리가 멀어질수록 저항이 커지게 된다.
이러한 저항으로 인해, 특히 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c)의 양측과 가운데의 전위차가 발생하게 된다. 이로 인해, 검사 공정 중에 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c)과 접속되는 다수의 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)에 영향을 미치게 되어 상기 액정패널(10)의 가운데 영역과 좌/우측 영역의 밝기 차이가 나는 딤(Dim) 현상이 발생한다. 검사 공정 중에 발생한 이러한 문제로 인해 액정표시장치에 대한 검사 효율이 저하되는 문제가 발생하게 된다.
본 발명은 하나의 데이터 공급 패턴 및 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴을 구비하여 상기 하나의 데이터 공급 패턴과 접속되는 공통 데이터 오토 프로브 패드를 드라이버 IC 본딩부와 상기 본딩부를 제외한 영역까지도 복수로 배치하여 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 화질을 향상시킬 수 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 검사효율을 향상시킬 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역에 실장되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 비표시영역 상에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함하고, 상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀과 접속되어 데이터 신호를 제공받는 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드와, 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 제공받는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드와 접속되는 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 신호 공급 패턴과 데이터라인 사이에 접속되어 상기 데이터 신호 공급 패턴으로부터 제공된 공통 데이터 신호를 상기 데이터라인으로 제공하는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터를 포함한다.
본 발명에 따른 액정표시장치는 하나의 데이터 공급 패턴 및 제1 내지 제 3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴과, 상기 하나의 데이터 공급 패턴과 전기적으로 접속되는 오토 프로브 패드를 액정표시패널의 일부분에 실장된 드라이버 IC 본딩부와 상기 본딩부를 제외한 영역에까지 복수개로 배치하여 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 화질을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 액정표시장치는 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 검사의 효율을 향상시킬 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정표시패널(110)과, 상기 액정표시패널(110)을 구동하기 위한 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장되는 비표시영역의 일부에 배치된 오토 프로브 검사회로(120)를 포함한다.
상기 액정표시패널(110)은 일정한 이격 간격을 두고 대향하여 합착된 박막트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 기판과, 상기 두 기판 사이에 형성된 액정층으 로 구성된다.
상기 박막트랜지스터 어레이 기판(도시하지 않음) 상에는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)이 배열된다. 상기 화소영역에는 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)에 전기적으로 접속된 박막트랜지스터(TFT-1) 및 상기 박막트랜지스터(TFT-1)와 전기적으로 접속된 화소전극(130)이 형성된다. 상기 컬러필터 기판(도시하지 않음) 상에는 R, G, B 컬러필터와 이들 각각을 테두리하여 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL) 등을 가리는 블랙 매트릭스 및 이들 모두를 덮는 공통전극이 형성된다.
상기 액정표시패널(110)은 화상이 표시되는 액티브 영역(Active Area:A/A)과 화상이 표시되지 않은 비표시영역으로 구분된다. 상기 비표시영역에는 상기 게이트라인(GL)으로 스캔신호를 공급함과 동시에 상기 데이터라인(DL)으로 영상 정보를 갖는 데이터 신호를 공급하는 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장된다. 또한, 상기 비표시영역의 일부에는 앞서 서술한 바와 같이 오토 프로브 검사회로(120)가 위치한다.
상기 오토 프로브 검사회로(120)는 외부의 오토 프로브 장치의 프로브 핀과 전기적으로 접속되는 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와, 상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와 전기적으로 접속되어 데이터 신호를 제공하는 데이터 신호 공급 패턴(112)과, 상기 데이터라인(DL)과 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)과 전기적으로 접속되는 오토 프로브 트랜지스터(APT)를 포함한다.
또한, 상기 오토 프로브 검사회로(120)는 상기 프로브 핀과 전기적으로 접속되는 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118) 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)을 포함한다.
상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 데이터 인에이블 신호(DE1)를 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114) 중 제1 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114a)으로 제공하는 제1 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118a)를 포함한다. 또한, 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 제2 데이터 인에이블 신호(DE2)를 제2 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114b)으로 제공하는 제2 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118b) 및 제3 데이터 인에이블 신호(DE3)를 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114c)으로 제공하는 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118c)를 포함한다.
상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118a ~ 118c)는 드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역 즉, 상기 비표시영역의 좌/우측에 형성된다.
상기 오토 프로브 트랜지스터(APT)는 상기 제1 데이터 인에이블(DE1) 신호에 의해 턴-온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제1 오토 프로브 트랜지스터(APT1)와, 상기 제2 데이터 인에이블(DE2) 신호에 의해 턴-온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제2 오토 프로브 트랜지스터(APT2)와, 상기 제3 데이터 인에이블(DE3) 신호에 의해 턴- 온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제3 오토 프로브 트랜지스터(APT3)를 포함한다.
상기 데이터 신호 공급 패턴(112)은 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와 전기적으로 접속된다. 상기 제1 데이터 오토 프로브 패드(122a)는 상기 비표시영역의 중간부(드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부 내부 공간)에 형성되고, 제2 데이터 오토 프로브 패드(122b)는 상기 비표시영역의 우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에 형성된다.
편의를 위해, 본 발명의 도면에서 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)에 접속되는 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)는 두 개로 도시하였지만, 상기 데이터 오토 프로브 패드는 적어도 2개 이상의 개수로 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)에 접속될 수 있다. 이때, 상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)에는 동일한 레벨의 데이터(Data) 신호가 제공된다.
상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 112b)는 동일한 레벨의 데이터 신호가 제공되는 공통 데이터 패드이다. 3개의 데이터 신호(R, G, B)를 각각 제공하기 위해 3개의 데이터 오토 프로브 패드가 필요한 종래의 액정표시장치에 비해 본 발명에 따른 액정표시장치는 공통 데이터 신호가 제공되는 하나의 공통 데이터 패드만을 필요로 한다. 따라서, 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부의 내부 공간에도 상기 공통 데이터 패드의 삽입이 가능해진다.
따라서, 본 발명에 따른 액정표시장치는 상기 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부의 내부 공간뿐 아니라 비표시영역의 여유 공간에 적어도 2개 이상의 데이터 오 토 프로브 패드를 형성하여, 상기 데이터 오토 프로브 패드와 접속된 데이터 신호 공급 패턴의 라인 저항을 최소화할 수 있다. 이로 인해, 상기 데이터 오토 프로브 패드를 통해 상기 데이터 신호 공급 패턴으로 제공된 데이터 신호는 상기 액정표시패널(110)의 검사 공정 중에 상기 액정표시패널(110)의 영역별로 발생하는 전위차를 최소화하여 화질을 개선하여 검사 효율을 향상시킬 수 있다.
이때, 데이터 인에이블(DE) 신호를 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)으로 공급하는 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터(AP1 ~ AP3)를 별도로 인에이블 시키기 위해 3개로 구비되어야 한다.
상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 비표시영역의 좌/우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에 구비된다. 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)와 접속되는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)에서 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)와의 접촉부에서 멀어질수록 라인 저항으로 인한 신호 왜곡(Delay)이 발생한다. 상기 라인 저항으로 인한 신호 왜곡(Delay)이 발생하더라도 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터(APT1 ~ APT3)의 턴-온/오프에 영향을 미치는 정도는 미비한다. 따라서, 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 비표시영역의 좌/우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에만 구비될 수 있다.
도 3a는 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면이고, 도 3b는 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우의 데이터의 파형을 나타 낸 도면이다.
도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우에 데이터라인으로 제공되는 데이터 신호의 신호 왜곡(Delay)은 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우에 데이터라인으로 제공되는 데이터 신호의 신호 왜곡(Delay)에 비해 그 정도가 심하다.
이러한 실험 데이터를 통해서 알 수 있듯이 동일한 레벨의 공통 데이터가 제공되는 데이터 오토 프로브 패드를 비표시영역 상에 많이 배치할수록 검사 공정 중에 액정표시패널의 영역별로 제공되는 데이터 신호의 전위차를 최소화하여 검사효율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 종래의 오토 프로브 검사회로를 구비한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면.
도 3a는 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면.
도 3b는 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
110:액정표시패널 112:데이터 신호 공급 패턴
114:데이터 인에이블 신호 공급 패턴
114a ~ 114c:제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴
118:데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드
118a ~ 118c:제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드
120:오토 프로브 검사회로 130:화소전극
122a, 122a:제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드

Claims (6)

  1. 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널;
    상기 액정표시패널의 비표시영역에 실장되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로; 및
    상기 비표시영역 상에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로;를 포함하고,
    상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀과 접속되어 데이터 신호를 제공받는 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드와, 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 제공받는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드와 접속되는 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 신호 공급 패턴과 데이터라인 사이에 접속되어 상기 데이터 신호 공급 패턴으로부터 제공된 공통 데이터 신호를 상기 데이터라인으로 제공하는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터;를 포함하며,
    상기 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드는 하나의 데이터 신호 공급 패턴에 접속되고, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드에는 R,G,B 데이터 신호 중 어느 하나의 데이터 신호가 선택적으로 공급되는 액정표시장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 오토 프로브 검사회로는 상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터의 게이트 단자로 제공하는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급패턴을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 공통 데이터 오토 프로브 패드는 상기 구동 집적회로의 본딩부(Bonding) 내부 및 상기 본딩부(Bonding)를 제외한 영역에 모두 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드는 상기 구동 집적회로의 본딩부(Bonding)를 제외한 영역에만 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급패턴은 각각 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와 전기적으로 접속되어 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터를 별도로 인에이블 시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드는 상기 프로브 핀과 접속되어 동일한 레벨의 데이터 신호를 제공받는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
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