KR20060126431A - 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치 - Google Patents

평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20060126431A
KR20060126431A KR20067004150A KR20067004150A KR20060126431A KR 20060126431 A KR20060126431 A KR 20060126431A KR 20067004150 A KR20067004150 A KR 20067004150A KR 20067004150 A KR20067004150 A KR 20067004150A KR 20060126431 A KR20060126431 A KR 20060126431A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
spectral data
processing
spectrometer
data
principal component
Prior art date
Application number
KR20067004150A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101019650B1 (ko
Inventor
타카요시 혼다
타이치로 니시야마
야수유키 수가
Original Assignee
아스텔라스세이야쿠 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아스텔라스세이야쿠 가부시키가이샤 filed Critical 아스텔라스세이야쿠 가부시키가이샤
Publication of KR20060126431A publication Critical patent/KR20060126431A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101019650B1 publication Critical patent/KR101019650B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9508—Capsules; Tablets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/359—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/845—Objects on a conveyor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/129—Using chemometrical methods
    • G01N2201/1293—Using chemometrical methods resolving multicomponent spectra

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 반송되는 대상물을 평면 분광기를 이용하고, 높은 분해능에서 이종품의 검출을 가능하게 하는 것이다. 본 발명에서는 반송수단(11)과, 근적외선의 조사수단(4)과, 발사광을 평면 분광하는 평면 분광수단(2)과, 촬상수단(3)과, 반사광의 스펙트럼 데이터를 얻어서 주성분 분석수법을 이용해서 이종품을 검출하는 수단(5)을 구비하고, 상기 해석수단(5)은 상기 스펙트럼 데이터를 평균화 및 표준화하는 전처리, 파장축 평균화 처리, 라그랑지보간 하는 보간처리, 측정위치 최적화 처리, 공간축 평균화 처리, 1차ㆍ2차 미분 및 평활화하는 변환처리, 미리 취득한 로딩벡터 데이터에 의거하여 주성분 득점을 산출하는 주성분 득점 산출처리 및 이종품의 판정을 실시하는 판정 처리를 수행한다.
이종품 검출장치, 평면 분광기, 근적외선 카메라　

Description

평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치{DIFFERENT-KIND-OF-OBJECT DETECTOR EMPLOYING PLANE SPECTROMETER}
본 발명은 의약품(정제, 캡슐제 등), 고무마개 등과 같이 어떤 하나의 고정한 형태를 갖는 검사 대상물 (이하, 「대상물」이라고 한다.)에 동일한 형태의 이종품의 혼입 여부를 검사하는 기술에 관한 것으로서, 특히, 반송되는 대상물을 인라인에서 전수 검사하는 장치에 관한 것이다.
정제란 나정, 당의정, 필름 코팅정(장용정 등)을 포함하는 것이고, 캡슐제로서는 경질 캡슐제, 연질 캡슐제를 포함하는 것이다.
종래의 이종품 검출장치는 대상물에 조사된 빛의 반사광을 1점으로 분광하는 점분광기를 이용하고 있었기 때문에, 1열이 아니라 다열 반송되는 대상물의 반사광을 분광 분석하기 위해서는 갈바노미러와 같은 가동기구가 필요로 하였다(특허문헌1 참조).
이 경우, 대상물의 위치를 확인하기 위해서 분광기의 상류측에 대상물의 위치를 확인하기 위한 카메라를 별도 준비하는 동시에, 카메라로 촬상한 화상으로부터 대상물의 위치를 특정하는 화상처리장치를 준비할 필요가 있다.
또, 전술한 갈바노미러와 같은 가동기구를 이용하지 않는 경우에는, 다열 반 송되는 대상물의 열의 수만큼 분광기가 필요하게 된다.
또, 동시에 복수점의 반사광을 분광할 수 있는 평면 분광기(특허문헌2 참조)가 제안되고 있다.
[특허문헌 등]
특허문헌1: EP 0 887 638 B1 공보
특허문헌2: WO 93/21548 공보
전자와 같이 점분광기를 이용하는 경우에는, 특허문헌1에 기재되어 있는 바와 같이, 갈바노미러와 같은 가동기구와, 대상물의 위치를 확인하기 위한 카메라와, 화상처리장치가 필요하게 되기 때문에, 장치 전체의 코스트가 증가한다는 문제가 있다.
후자와 같이, 갈바노미러와 같은 가동기구를 이용하지 않고, 대상물의 열의 수만큼 분광기를 사용하는 경우에는, 이들 분광기의 설치 스페이스가 매우 커지기 때문에, 설치 장소에 제한이 발생한다는 문제가 있다.
또, 특허문헌 2에 기재의 것에서는, 평면 동시 분광이 가능한 반면, 점분광과 비교하면 분해능이 약 10분의 1 정도이기 때문에, 그것 자체만으로는 인라인에 있어서의 분광분석에는 이용하는 것이 곤란하였다.
본 발명은 상기 문제를 해결하여 반송되는 대상물을 평면 분광기를 이용해서 높은 분해능으로 이종품의 검출을 가능하게 하는 장치를 제공하는 것을 목적으로 하여 이루어진 것이다.
상기 과제를 해결하기 위해서 본 발명에 있어서는 이하의 수단을 강구하였다.
즉, 본 발명의 청구항 1의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치는 복수의 대상물을 반송하는 반송수단과, 상기 반송수단에 의해서 반송되는 상기 복수의 대상물에 근적외선을 조사하는 조사수단과, 상기 조사수단에 의해서 근적외선이 조사되는 상기 복수의 대상물로부터 반사되는 근적외선의 반사광을 평면 분광하는 평면 분광기와, 상기 평면 분광기에서 평면 분광된 반사광을 근적외선 카메라로 전기신호로 변환하는 촬상수단과, 상기 촬상수단으로 수득되는 상기 전기신호를 해석해서 상기 반사광의 스펙트럼 데이터를 얻어 주성분 분석수법을 이용하여 상기 복수의 대상물 중에서 이종품을 검출하는 해석수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하고 있다.
청구항 2의 발명에서는 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 파장축 방향으로 평균화하는 파장축 평균화처리, 스펙트럼 데이터를 라그랑지의 2차 보간을 이용하여 보간하는 보간처리, 스펙트럼 데이터를 공간축 방향으로 적산하여 대상물의 에지를 검출해서 대상물의 중심위치를 검출하는 측정위치 최적화 처리, 상기 측정위치 최적화 처리에 의해서 검출된 대상물의 중심위치 근방의 복수 포인트에 있어서의 각 파장별 평균값을 구하는 공간축 평균화 처리, 스펙트럼 데이터를 1차 미분 혹은 2차 미분하는 미분처리, 미리 취득한 로딩벡터 데이터와, 이상의 처리에 의해서 수득된 스펙트럼 데이터를 연산하는 것에 의해서 주성분 득점을 산출하는 주성분 득점 산출 처리, 및 산출된 상기 주성분 득점에 의거하여 이종품 혹은 동종품의 판정을 수행하는 판정처리를 수행하도록 구성되어 있다.
청구항 3의 발명에서는 상기 해석수단에 있어서의 파장축 평균화 처리는, 스펙트럼 데이터를 평균화하는 전처리, 스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 비에 의거하여 표준화하는 전처리, 스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 차분에 의거하여 표준화하는 전처리, 또는, 스펙트럼 데이터를 파장축 방향에 대해서 이동 평균하는 파장축 평균화 처리의 적어도 어느 하나의 처리를 수행하도록 구성되어 있다.
청구항 4의 발명에서는 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 평활화하는 변환처리를 수행하도록 구성되어 있다.
청구항 5의 발명에서는 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 MSC(Multiplicative scatter correction)수법에 의한 보정처리를 수행하도록 구성되어 있다.
청구항 6의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 공간축 방향으로 적산하여 대상물의 에지를 검출해서 대상물의 중심위치를 검출하는 측정위치 최적화 처리에 있어서, 소정의 임계값을 넘는 에지를 검출할 수 없는 경우에 대상물의 이상을 검출하도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
여기에서, 대상물의 이상은 형상이 이상한 경우나 대상물이 소정 위치에 존재하지 않고 있는 경우도 포함한다.
청구항 7의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 해석수단은 다열 반송되는 각 열의 대상물에 관해서는 열 별로 작성한 로딩벡터 데이터를 이용하여 주성분 분석하도록 구성하였다.
청구항 8의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터의 소정의 파장대의 데이터만을 선택하여 주성분 분석하도록 구성하였다.
청구항 9의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 해석수단은 주성분 분석의 조건을 바꾸어 2번 이상 되풀이하는 조건 분기처리를 수행하도록 구성하였다.
청구항 10의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 촬상수단은, 롤링방식의 근적외선 카메로 하는 동시에, 상기 근적외선 카메라의 광축에 평행한 축주위로 회전시키는 카메라 회전기구를 구비하였다.
청구항 11의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 반송수단은 시트상의 대상물을 반송하는 반송수단으로 하는 동시에, 상기 대상물의 주위의 시트 부분을 눌러서 플러터링(Fluttering)을 방지하는 플러터링 방지수단을 구비하였다.
청구항 12의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서는 상기 촬상수단의 시야 내에, 소정의 반사 특성을 갖는 광량 보정판을 설치하였다.
본 발명에 있어서는 상기한 구성에 의해서 평면 분광기를 이용하는 동시에, 데이터 보간, 평활화처리를 수행하는 것에 의해, 치밀하면서 노이즈가 적은 데이터를 생성하므로, 스펙트럼 데이터에 의한 주성분 분석의 분해능이 개선된다.
발명의 효과
본 발명의 청구항 1∼5의 발명에 의하면, 평면 분광기를 이용하는 동시에, 특징있는 알고리즘으로 데이터의 보간ㆍ평활화 등의 처리를 수행하는 것에 의해 높은 분해능을 얻을 수 있고, 광범위에 걸친 복수 점의 성분분석을 인라인에서 안정되게 실시하는 것이 가능하게 되었다. 또 1세트의 촬상수단을 이용하여 다열 반송되는 대상물의 다점을 동시에 분광할 수 있기 때문에, 공간 절약화를 도모할 수 있다. 또 측정대상 반송 경로에 대한 부착구조를 매우 심플하게 할 수 있기 때문에, 여러 가지 반송 경로에 용이하게 부착시킬 수 있다. 또, 촬상수단을 1세트로 하는 것에 의해 촬상 특성의 교정은 1번으로 완료된다.
이상과 같이 하여, 반송되는 전품의 인라인 성분 모니터링이 가능하게 되어, 이종품이 혼입되어 있지 않은 안정된 품질의 제품을 출하하는 것이 가능하게 된다.
그리고 청구항 6의 발명에 의하면, 상기 해석수단에 있어서의 상기 측정위치 최적화 처리에 있어서, 소정의 임계값을 넘는 에지를 검출할 수 없는 경우에 대상물의 이상을 검출하도록 구성하였으므로, 대상물의 형상이 이상할 경우나 대상물이 소정 위치에 존재하지 있지 않을 경우, 예를 들면 결함이 있는 정제 등을 검출할 수도 있다.
청구항 7의 발명에서는, 상기 해석수단은 다열 반송되는 각 열의 대상물에 관해서는, 열 별로 작성한 로딩벡터 데이터를 이용해서 주성분 분석하도록 구성하였으므로, 다열 반송되는 경우의 열의 상이에 의한 광량 차이 등의 조건의 차이의 영향을 배제할 수 있다.
청구항 8의 발명에서는, 상기 해석수단은 스펙트럼 데이터의 소정의 파장대의 데이터만을 선택해서 주성분 분석하도록 구성하였으므로, 적은 데이터량으로 정확한 분석이 가능하게 되어, 연산 처리의 부담이 경감되어 처리의 고속화가 가능하게 되었다.
청구항 9의 발명에서는, 상기 해석수단은 주성분분석의 조건을 바꾸어 2번 이상 되풀이하는 조건 분기처리를 수행하도록 구성하였으므로, 하나의 조건에서의 분석에서는 서로 식별할 수 없는 그룹이 있는 경우에도, 식별이 가능하다.
청구항 10의 발명에서는, 상기 촬상수단은 롤링방식의 근적외선 카메라로 하는 동시에, 상기 근적외선 카메라 축을 회전시켜서 조절하는 조절수단을 구비하였으므로, 롤링방식의 근적외선 카메라이라고 하더라도, 데이터 입력 타이밍의 편차를 보상할 수 있다. 롤링방식의 근적외선 카메라가 아닌 경우에는, 조절 수단은 불필요하다.
청구항 11의 발명에서는, 상기 반송수단은 시트상의 대상물을 반송하는 반송수단으로 하는 동시에, 플러터링(Fluttering) 방지판을 구비하였으므로, 상기 대상물의 주위의 시트 부분을 눌러서, 플러터링을 방지하는 것이 가능하게 되어, 정확한 분석이 가능하게 되었다. 대상물이 시트상이 아닌 경우에는 플러터링 방지판은 불필요하다.
청구항 12의 발명에서는, 대상물의 근방에, 소정의 반사 특성을 갖는 광량 보정판을 설치하였으므로, 상기 광량 보정판으로부터 수득되는 데이터가 소정의 값이 되도록 광원이나 촬상수단을 제어하는 것에 의해서, 시간경과에 따른 변화 등에 의한 특성의 변화를 보상하는 것이 가능하다.
도 1은 본 발명에 따른 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치의 실시형태(흡착 드럼식)의 측면구성도이다.
도 2는 상기 실시형태의 요부의 평면구성도이다.
도 3은 평면 분광기의 기능을 설명하는 설명도이다.
도 4는 해석수단에서의 측정위치 최적화 처리의 일부를 설명하는 설명도로서, (A)는 프로파일의 파형, (B)는 미분처리하여 에지를 검출한 파형, (C)는 중심위치와 반경의 산출을 설명하는 도이다.
도 5는 상기 측정위치 최적화 처리에서의 결품 검출처리의 설명도이다.
도 6은 2차원 평면에 분광한 스펙트럼 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 6의 스펙트럼의 라인(7)의 스펙트럼을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 7의 스펙트럼 데이터에 의거한 PCA도이다.
도 9는 도 7의 스펙트럼 도면으로부터 4파장대를 선택한 스펙트럼을 나타내는 도면이다.
도 10은 도 9의 스펙트럼 데이터에 의거한 PCA도이다
도 11은 실시예의 데이터로서, 도 11a는 라인(1)의 PCA도, 도 11b는 라인(1)의 수치 데이터를 나타내는 도면이다.
도 12은 실시예의 데이터이로서, 도 11a는 라인(2)의 PCA도, 도 11b는 라인(2)의 수치 데이터를 나타내는 도면이다.
도 13는 제 1 성분과 제 2 성분을 각각 장단 2축으로 하는 타원영역을 설정 한 PCA도의 예를 나타내는 도이다.
도 14는 본 발명에 따른 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치의 실시형태(콘베이어식)의 측면구성도이다.
도 15는 상기 실시형태의 요부의 평면구성도이다.
도 16은 카메라 회전기구의 설명도이다.
도 17은 광량 보정판을 이용한 보정회로의 블럭도이다.
도 18은 플러터링 방지판의 상세 설명도로, 도 18a는 그 사시도, 도 18b는 그 사용상태의 측면 단면도이다.
<<부호의 설명>>
1 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치　
2 평면 분광기　
3 근적외선 카메라　
4 라이트 가이드　
5 컴퓨터　
6 광량 보정판　
7 플러터링 방지판　
8 카메라 회전기구
9 광량 보정회로　
11 흡착드럼식의 반송수단　
12 흡착드럼　
13 콘베이어식의 반송수단　
T 대상물
도 1 은 본 발명에 따른 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치의 실시형태의 구성도이다.
도 1 중, 도면부호 1은 상기 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치이며, 평면 분광기(2), 촬상수단으로서의 근적외선 카메라(3), 조사수단으로서의 라이트 가이드(4), 해석수단으로서의 컴퓨터(5), 및 반송수단(11)으로 구성되어 있다.
도면부호 11은 후술하는 흡착 드럼식의 반송수단이고, 도시하지 않은 홉퍼로부터 공급되는 예를 들면 정제 등의 대상물(T)를 흡착 드럼(12)의 표면에 흡착하여 반송하도록 구성되어 있다. 도 2의 정면도에 나타낸 바와 같이, 상기 흡착 드럼(12)의 표면에 있어서는, 반송방향에 직각 방향으로 복수의 상기 대상물(T)이 배열된 상태로 다열 반송되도록 구성되어 있다.
상기 라이트 가이드(4)는 상기 대상물(T)의 열에 대하여 가능한 한 균등하게 근적외선을 조사하도록 구성되어 있다. 즉 상기 라이트 가이드(4)는 상기 대상물(T)의 열을 사이에 두도록 한 쌍의 근적외선 광원으로 구성되어, 각 대상물(T)에 가능한 한 그늘이 발생하지 않도록, 또 균등하게 조사되도록 배치되어 있다. 이 라이트 가이드(4)의 위치는 조절 가능하게 배치되어 있다.
상기 근적외선 광원으로서는 예를 들면 할로겐램프와, 근적외선 필터와, 광섬유 속 등의 도광수단으로 구성할 수 있다.
그리고 상기 근적외선 카메라(3)은 파장 900∼1700 nm의 근적외선 영역에 대해서 충분한 감도를 갖는 것으로 한다.
또, 도면부호 6은 광량 보정판으로 상기 라이트 가이드(4)에 의해 근적외선이 조사되는 위치에, 상기 라이트 가이드(4)와 동일하게 고정되어 있다.
상기 평면 분광기(2)는 상기 대상물(T)보다 반사한 근적외선의 반사광이 효율적으로 입사하는 것 같이 설치되어 있다. 즉, 근적외선이 조사되는 대상물(T)와 상기 흡착 드럼(11)의 단면의 중심을 연결하는 반경의 연장선 형상으로, 그 광축을 상기 대상물(T)를 향해서 설치되어 있다. 상기 평면 분광기(2)의 광축은 조절 가능하게 배치되어 있다.
상기 평면 분광기(2)에는 상기 각 대상물(T)로부터의 반사광이 입사되어, 반송 방향(부주사 방향: 화살표(Y) 방향)의 폭은 미소하며, 상기 흡착 드럼(11)의 반송 폭방향(주주사 방향: 화살표(X) 방향)으로 길고, 단면이 라인 형상의 광속(A)(도3 참조)을 얻고, 이 광속(A)을 평면 분광하는 것에 의해서, 예를 들면 가로축이 반송 폭 방향의 위치, 세로축이 파장에 대응한 평면 형상의 분광 스펙트럼(B)(도3참조)을 얻을 수 있다. 이 평면 형상의 분광 스펙트럼(B)의 1변 근방에는 상기 광량 보정판(6)로부터 수득된 기준이 되는 스펙트럼 데이터도 포함되어 있다.
다음에, 상기 흡착 드럼식의 반송수단 대신에, 콘베이어식의 반송수단을 이용하였을 경우의 구성을 도 14에 나타내고 설명한다.
도 14에 있어서, 도 1과 동일구성에 관해서는, 같은 부호를 붙이고 그 설명을 생략하였다.
도면부호 13은 콘베이어식의 반송수단으로 대상물 수납부가 형성된 수지 시트(PTP시트)의 상기 대상물 수납부에 수납되어 다열 반송되는, 예를 들면 정제 등의 대상물(T)을 이송롤로부터 수취롤으로 반송하도록 구성되어 있다. 도 15의 정면도에 나타낸 바와 같이, 상기 PTP시트에 의해, 반송방향에 직각한 방향으로 복수의 상기 대상물(T)이 배열된 상태로 다열 반송되도록 구성되어 있다.
또, 도면부호 6은 광량 보정판으로, 상기 라이트 가이드(4)에 의해 근적외선이 조사되는 위치이며, 또 상기 근적외선 카메라(3)의 시야 내에 상기 라이트 가이드(4)와 동일하게 고정되어 있다.
도면부호 7은 플러터링 방지판으로, 상기 라이트 가이드(4)에 의해 근적외선이 조사되는 위치에, 상기 라이트 가이드(4)이나 광량 보정판(6) 등과 동일하게 고정되어 있다. 도 18a에 나타낸 바와 같이, 이 플러터링 방지판(7)에는 대상물(T)의 촬상을 방해하지 않도록 투공(71)이 형성되어 있다. 따라서, 도 18b에 나타낸 바와 같이, PTP시트로 반송되는 대상물(T)을 상기 투공(71)을 통하여 촬상할 수 있다.
상기 평면 분광기(2)에서는 상기와 마찬가지로, 예를 들면 가로축이 반송 폭 방향의 위치, 세로축이 파장에 대응한 평면형상의 분광 스펙트럼(B)(도3 참조)을 얻을 수 있다.
또, 대상물로부터의 근적외선의 반사광은 PTP시트의 필름을 투과하므로, PTP시트의 필름 위에서 이품종의 유무를 측정할 수 있다.
이상과 같은 흡착 드럼식 혹은 콘베이어식의 반송수단에 의해서 대상물은 다열 반송되도록 구성되어 있다.
그리고, 상기 평면 분광기(2)에서 수득된 평면 형상의 스펙트럼 데이터는 근적외선 카메라(3)의 촬상 면상에 결상하고, 예를 들면 CCD소자 등의 촬상소자에 의해서 전기신호로 변환되고, 추가로 디지털 신호로 변환되어 상기 컴퓨터(5)로 송신된다.
또, 상기 반송수단에 의해서 반송되는 대상물이 소정 위치에 도달한 타이밍으로 수득되는 트리거 신호에 동기해서 화상을 입력하여 상기 컴퓨터(5)로 송신하도록 구성할 수 있다.
상기 컴퓨터(5)에서는, 송신된 스펙트럼 데이터를 새롭게 개발한 후술하는 알고리즘에 의해 처리하고, 대상물(T)를 양품과 이품종으로 식별한다.
후술하는 알고리즘은 스펙트럼 해석에 유효한 케모 메트릭스의 하나인 주성분 분석을 이용한 것이다.
상기 컴퓨터(5)에서의 해석수단으로서의 알고리즘은 이하의 처리를 포함하고 있다.
1) 상기 스펙트럼 데이터를 평균화 및 표준화하는 전처리,
2) 상기 스펙트럼 데이터를 파장축 방향에 대해서 이동평균하는 파장축 평균화 처리,
3) 상기 스펙트럼 데이터를 라그랑지의 2차 보간을 이용하여 보간하는 보간처리,
4) 상기 스펙트럼 데이터를 공간축 방향으로 적산하여 대상물의 에지를 검출해서 대상물의 중심위치를 검출하는 측정위치 최적화 처리,
5) 상기 측정위치 최적화 처리에 의해서 검출된 대상물의 중심위치 근방의 복수 포인트에서의 각 파장별 평균값을 구하는 공간축 평균화 처리,
6) 상기 스펙트럼 데이터를 1차 미분 혹은 2차 미분하는 미분처리,
7) 상기 스펙트럼 데이터를 평활화하고, MSC수법에 의해서 보정하는 처리,
8) 미리 취득한 로딩벡터 데이터와, 이상의 처리에 의해서 수득된 스펙트럼 데이터를 연산하는 것에 의해서 주성분 득점을 산출하는 주성분 득점 산출 처리,
9) 산출된 주성분 득점에 의거하여 이종품 혹은 동종품의 판정을 수행하는 판정처리,
10) 측정위치 최적화 처리를 이용해서 결품의 검출을 실시하는 결품 검출 처리,
11) 조건 분기처리,
또, 처리 순서는 상기 순서에 한정되는 것은 아니다.
다음에 상기 각 처리의 계산방법을 상세하게 설명한다.
1) 전처리(평균화, 표준화)
상기 스펙트럼 데이터에 이하와 같은 평균화, 비율 표준화, 차분 표준화의 적어도 어느 하나의 처리를 수행한다(후술하는 공간축 평균화 처리 후일 수 있다.).
평균화와 차분 표준화를 병용하는 것이 효과적이다.
평균화: 스펙트럼 데이터의 평균값을 각 파장의 데이터에서 빼서 양음의 데이터로 변환하는 처리.
비율 표준화: 스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 비에 의거하여 표준화하는 처리,
구체적으로는 스펙트럼 데이터의 표준 편차로 각 파장의 데이터를 나누어 표준화하고, 각 스펙트럼 데이터간의 편차의 영향을 제외하는 처리.
차분 표준화: 스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 차분에 의거하여 표준화하는 처리,
구체적으로는, 스펙트럼 데이터의 표준편차와 각 파장의 데이터와의 차분을 구해서 표준화하고, 각 스펙트럼 데이터간의 편차의 영향을 제외하는 처리.
2) 파장축 평균화 처리
세로축에 반사율, 가로축에 파장을 나타낸 그래프의 파장축 방향에 대해서 3∼20점의 이동 평균을 취하여, 파형을 탄 미소한 노이즈의 영향을 감소시킨다.
3) 라그랑지 보간 처리
약 4 nm 간격으로 수득된 스펙트럼 데이터를 라그랑지의 2차 이상의 보간을 이용해서 2 nm간격의 보다 치밀한 데이터로 보간한다.
4) 측정위치 최적화 처리
공간축 방향의 포인트 별로 반사율을 적산해서 적산값을 계산하고, 세로축에 적산값, 가로축에 공간축 포인트 수를 나타낸 프로파일(도 4의 (A)참조)에 대해서 1차 미분을 수행하고, 그 극대값과 극소값을 대상물의 가장자리(즉 「에지」)로서 인식시키고(도 4의 (B)참조), 양 에지의 중점으로부터 중심위치와 반경을를 얻는다(도 4의 (c)참조).
5) 공간축 평균화 처리
상기 4)의 측정위치 최적화 처리에 의해 구한 대상물의 중심에서 대상물의 에지까지의 사이의 임의의 포인트 수분에 있어서 각 파장별 반사율의 평균값을 구한다. 이 처리에 의해서, 대상물의 1점만의 반사광이 아니라, 대상물의 복수 부분에 있어서의 반사광의 평균값에 의거한 스펙트럼 데이터를 얻을 수 있다.
6) 변환 처리(1차 미분 혹은 2차 미분, 평활화)
스펙트럼 데이터의 흡수 피크를 강조시키기 위해서, 1차 미분 혹은 2차 미분을 수행한다. 또 노이즈의 영향을 감소시키기 위해서, 몇 포인트∼몇십 포인트 별로 평활화를 실시한다. 1차 미분 혹은 2차 미분, 평활화는 예를 들면 Savitzky-Golay의 최소 제곱법을 이용하고 있다.
또는, MSC수법에 의해 보정처리를 실시하는 것은, 빛의 산란의 영향 등을 배제하는 데에 효과적이다.
7) 주성분 득점 산출처리
　미리, 검사하는 모든 샘플을 이용해서 주성분 분석을 실시하고, 로딩벡터(Loading Vector) 데이터를 취득해 둔다. 이 로딩벡터 데이터와, 이상의 처리에 의해서 보간ㆍ전처리ㆍ변환을 수행한 스펙트럼 데이터를, 하기의 식과 같이 행렬계산하는 것에 의해, 인라인에서의 주성분 득점 산출을 실시한다. 산출한 주성분 득점은 일차원 이상의 Principal Component Analysis(PCA, 주성분 분석. 이하 동일) 도에 플롯된다.
S = X ㆍLa
S: 주성분 득점 　X: 스펙트럼 데이터　 La: 로딩벡터
일반적으로, 이차원의 주성분 분석을 수행함으로써 충분하지만, 삼차원이상의 주성분 분석을 실시하는 것도 가능하다.
8) 판정 처리
PCA 도면에 플롯된 데이터가 미리 설정된 양품 범위 내에 있으면 양품, 상기 양품범위 외라면 이종품으로 판정한 데이터를 배분장치 등에 송신한다.
9) 결품 검출처리
상기 4)의 측정위치 최적화 처리에서 이용한 프로파일에 대해서 1차 미분을 실시한 파형의 극대값에 대하여 임계값을 형성하고, 임계값을 만족하지 않는 데이터를 결품으로서 검지한다(도 5 참조).
결품을 검출하였을 경우에는, 다른 처리가 남아 있는 경우라도, 그것들의 처리를 생략하고, 검사 대상에 대하여 「결품」이라는 판정을 실시한다.
10) 조건 분기처리
검사하는 샘플이 복수 있고, 하나의 PCA도 만으로는 식별할 수 없는 경우에는, 조건 분기처리로 복수 회 주성분 분석을 실시한다. 조건 분기처리는 1번째의 주성분 분석으로 이종품의 그룹으로 나누고, 각 그룹의 제품에 대해서 1번째와는 다른 조건으로 주성분 분석하는 처리방식이다. 이것을 3번ㆍ4번 되풀이하고, 이종품을 모두 식별한다.
다음에, 본 발명의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에서 인라인의 전수검사를 하는 스텝의 개요를 이하에 설명한다.
1) 우선, 동종품 혹은 이종품의 판정을 실시하는 대상의 모든 종류의 대상물에 관해서 미리 PCA도를 작성한다.
이때, 측정한 모든 파장을 계산대상으로 하는 것이 아니라, 양품 스펙트럼이 이종품 스펙트럼과 비교해서 유의차가 있는 파장만을 계산대상으로 하는 것에 의해, 검사 정밀도가 높은 PCA도를 작성하는 것이 가능하다.
또, 하나의 PCA도에서, 복수열을 검사한 결과, 열간의 데이터 편차가 커진 경우에는, 열 별로 PCA도를 작성하는 것에 의해, 검사 정밀도를 올리는 것이 가능하다.
2) PCA도 작성 후에 양품범위를 설정하고, 평가차트를 작성한다.
인라인 검사를 실시할 때는 이 평가차트와 PCA도 작성시에 취득하는 로딩벡터를 사용한다.
3) 인라인 검사에서는 수득된 스펙트럼 데이터에 대해서, 우선 평균ㆍ평활ㆍ보간처리를 수행하고, 다음에 결품검사를 수행한다. 결품검사에 합격하였을 경우에는 측정위치 최적화 처리를 실시하고, 그 후에 전처리, 변환처리를 수행한다.
4) 이 스펙트럼 데이터에 대해서 주성분 분석을 수행하기 위해서, PCA도 작성시에 산출한 로딩벡터와, 수득된 스펙트럼 데이터를 행렬 계산시키는 것에 의해 주성분 득점을 산출한다. 이 방법을 채용하는 것에 의해 주성분 분석을 이용한 인라인 검사를 가능하게 하였다.
5) 산출한 주성분 득점은 미리 작성된 평가차트에 플롯되어 양부 판정된다.
이상의 1번의 주성분 분석으로 식별할 수 없는 경우에는 계산대상으로 하는 파장을 바꾸거나, 미분 회수를 바꾸어서 조건을 바꾸고, 상기 조건 분기방식으로 처리해서 주성분 분석을 되풀이한다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치에 사용하는 상기 알고리즘은 계산량이 적기 때문에, 계산처리에 요하는 사이클 타임이 짧다(한 번의 처리에서 수 mSec).
따라서, 조건 분기처리를 수행하여 복수 회 되풀이하여도 단시간에 충분히 상기의 목적을 달성할 수 있다.
다음에, 평면 분광기와 근적외선 카메라의 위치를 조정하는 카메라 회전 기구에 관하여 설명한다.
카메라의 촬상방식이 롤링방식의 것을 사용하는 경우, 촬상소자의 1셀 별로 순차적으로 데이터를 읽기 때문에 최초의 셀 데이터의 읽기 타이밍과 최후의 셀 데이터의 읽기 타이밍에서는 십 수 mSec의 지연이 발생한다. 따라서, 이 상태에서는 반송 열의 위치에 따라서 측정 포인트에 편차가 발생하고, 모든 측정 열의 각대상물의 같은 위치를 측정할 수 없다. 예를 들면 대상물의 표면의 중심위치의 반사광을 측정할 작정이, 대상물의 반송 위치에 따라서는, 대상물의 중심으로부터 편차위치, 즉 반사특성이 다른 위치의 반사광을 측정하게 된다.
그래서, 도 16a에 나타낸 바와 같이, 평면 분광기(2)와 근적외선 카메라(3)를 그 광축에 평행한 축 주위로 회전하는 카메라 회전기구(8)를 구비할 수 있다. 이 카메라 회전기구(8)는 손잡이(81)를 돌리는 것에 의해 평면 분광기(2)와 근적외선 카메라(3)의 마운드부(82)를 베이스부(83)에 대해서 화살표와 같이 회전시킬 수 있도록 구성되어 있다.
예를 들면, 도 16b에 나타낸 바와 같이, 주주사 방향을 화살표(X)의 방향, 부주사 방향을 화살표(Y)의 방향으로 하였을 때, 반송 열 양단의 대상물에서 측정 포인트의 편차(d)가 발생하는 경우에는 상기 카메라 회전기구(8)를 조작하여 평면 분광기(2)와 근적외선 카메라(3)를 광축에 평행한 축 주위(광축 주위를 포함)에, 상기 측정 포인트의 편차량에 해당하는 각도(θ) 만큼 회전시킨다.
이렇게, 상기 카메라 회전기구(8)에 의해 상기 측정 포인트의 편차(d)를 보상하는 적절한 각도(θ)로 조절하는 것에 의해 상기 읽기 타이밍의 편차를 흡수하고, 모든 반송 열의 대상물의 중심을 측정할 수 있도록 하였다.
또한, 상기 광량 보정판(6)으로부터의 반사광에 의해서 근적외선의 광량이나 촬상수단의 감도가 시간경과에 따라서 변화되어도, 자동 추종하여 보정하도록 구성하였다.
즉, 본 장치의 사용에 앞서서, 기준이 되는 백색판을 측정하여 교정에 사용하는 각 측정 포인트의 레퍼런스 데이터를 취득할 때에, 동시에 광량 보정판(6)으로부터의 반사광의 각 파장별 데이터를 취득해 두고, 측정 시에는 수시로 광량 보정판(6)으로부터의 반사광의 각 파장별 데이터를 취득하여 처음에 측정한 데이터에 대한 변화율을 각 측정 포인트의 레퍼런스 데이터에 반영시키는 것에 의해 광량보정을 수행하였다.
또, 광량보정은 도 17에 나타낸 바와 같이, 광량보정회로(9)를 형성하고, 측정별로 상기 광량보정판(6)으로부터의 반사광의 스펙트럼 데이터를 비교 회로(91) 에 입력하여 기준값과 비교하여, 변환회로(92)에서는 보정용 제어신호를 출력하고, 이 보정용 제어신호로 상기 스펙트럼 데이터가 소정의 레벨이 되도록, 광원구동회로(93)를 제어하여 상기 라이트 가이드(4)의 광원의 광량을 변화시키도록 구성하는 것에 의해서도 수행할 수 있다.
또, 복수 열로 반송되는 대상물과 평면 분광기 사이에 복수의 광섬유로 구성되는 광섬유속을 설치하고, 각 광섬유의 일단을 각각 각 열의 대상물에 대향시키고, 각 광섬유의 타단은 묶여서 평면 분광기에 대향시키고, 각 열의 대상물로부터의 반사광을 각각 대향시킨 광섬유에 입사시켜서 평면 분광기까지 인도하도록 구성하는 것도 가능하다.
실시예 1
다음에, 본 발명의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치를 콘베이어식의 반송수단을 사용해서 PTP포장(7열)되는 5종류의 정제 품목(A, B, C, D, E)을 대상물로 하여 적용한 실시예를 나타낸다.
우선, 주성분 득점 산출 처리용 로딩벡터 데이터를 산출하기 위해서, 각 품목 각각에 대해서, 각 열 40정의 데이터를 사용하고, 280정의 정제를 대상물로서 적용하였다. 280정 중의 90정(3열)에는 인쇄, 또는 각인이 있는 면을 포함시켰다.
이 실시예에서의 측정 조건은 다음과 같았다.
○ 사용 렌즈 : f = 25 mm　
○ 파장축 이동 평균 포인트수 : 3포인트　
○ 통계처리파장 : 1000∼1600 nm　
○ 라그랑지 보간 : 2 nm　
○ 평활화 : 2차　
○ 1차 미분 : 2차　
○ 통계 전처리 : 평균화 + 표준화　
○ 공간축 평균수 : 5　
○ 이동 도 : 4.4 m/min　
○ 반송 열수: 7열
이 실시예 1에서 측정데이터는 다음과 같았다.
1. 로딩벡터 산출
(1) 분광 스펙트럼 취득
상기 측정조건으로 평면 분광기(핀란드 Specim사제)와, 근적외선 카메라(미국 Sensors Unlimited사제)를 사용하여 촬상한 평면형상의 스펙트럼 데이터의 화상을 도 6에 나타냈다.
도 6에서, 지면 횡방향은 파장축을 나타내고, 지면 종방향은 공간방향을 나타내고 있다. (1) ∼(7)이 다열반송되는 7개의 열(라인 1∼7)의 반사광의 스펙트럼 데이터이고, 최하부의 백색부(8)가 백색편으로 구성한 광량 보정용판(6)의 반사광 스펙트럼 데이터이다.
여기에서는, 광량의 편차나 시트의 플러터링 등에서, 조건이 나쁜 라인(7)의 데이터를 사용하여 식별력이 높은 로딩벡터의 산출을 수행하였다.
(2) 주파수대의 선택
도 7의 스펙트럼 데이터(횡축이 파장축)에 의거하여 전주파수 영역을 사용하였을 경우의 PCA도(도 8)와, 식별력이 높은 로딩벡터 데이터를 얻기 위해서 도 9와 같이 4개의 파장대(☆표)를 선택하였을 경우의 PCA도(도 10)를 나타냈다.
주파수대를 선택하지 않은 경우에는, 도 8과 같이 각 품종의 데이터가 분리되지 않기 때문에, 피차 식별은 곤란하지만, 도 9와 같이 주파수대를 선택하였을 경우에는 도 10과 같이, 영역(A, B, C, D, E) 중, 영역(B, C, D)은 서로 중복이 없으므로, 대응하는 품목(B, C, D)은 서로 명확하게 식별할 수 있다(품목(A, E)에 관해서는 영역(A, E)이 중복하기 때문에 식별 곤란).
이렇게 식별이 곤란한 품목(품목(A, E))이 있는 경우에는, 전술한 조건 분기처리를 이용하여, 별도의 주파수대의 데이터로 주성분 분석을 실시하거나, 후술하는 바와 같이 색 등의 다른 지표를 이용해서 식별할 수 있다.
2. 검증
이상과 같이 하여 산출한 로딩 데이터와 평가 시트(제 1 성분과 제 2 성분으로 구성되는 사각형 영역을 설정)을 이용하여 각 품목 300정을 인라인 측정하여 다음과 같이 검증하였다.
라인(1∼7)을 측정하였을 때의 데이터 중에서 라인(1, 2)의 데이터를 선택하고, 그 경우의 PCA도와, 각각의 평균값(m), 표준편차(σ), 평균값(+5σ), 평균값(-5σ)의 수치 데이터를 도 11, 12에 나타냈다.
라인(1)의 데이터(도 11a, 도 11b)에 의하면 품목(B, C, D)은 서로 명확하게 식별할 수 있다(품목(A, E)에 관해서는 식별 곤란).
라인(2)의 데이터(도 12a, 도 12b)에 의하면 품목(C)은 명확하게 다른 것과 것 식별할 수 있지만, 품목(B)과 품목(D)은 그 상태로는 식별할 수 없다. 즉 품목(B)의 제 2 성분의 평균값(+5σ)과, 품목(D)의 제 2 성분의 평균값(5σ)의 영역이 약간 중복(☆표)하고 있다(품목(A, E)에 관해서는 식별 곤란).
또, 라인(3∼7)의 경우의 PCA도와 각각의 수치 데이터에 관해서는 도면 및 설명을 생략하였다.
3. 검토
이상과 같이 해서 제 1 성분과 제 2 성분으로 구성되는 사각형 영역을 설정하면 라인(2)의 경우와 같이, 일부의 중복이 발생하지만, 도 13에 나타내는 바와 같이, 제 1 성분과 제 2 성분을 각각 장단 2축으로 하는 타원영역(R1, R2)을 설정하는 것에 의해서 중복하는 부분의 발생을 방지하여 서로 식별하는 것이 가능하게 된다.
또, 이상의 실시예에서 품목(A)과 품목(E)는 정제색이 서로 다르기 때문에 컬러 센서를 사용하는 것에 의해서 용이하게 식별할 수 있다.
이상과 같이, 이 실시예에서는 본 발명의 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치와 컬러 센서를 조합하는 것에 의해서 5품목 전부를 식별할 수 있었다.

Claims (12)

  1. 복수의 대상물을 반송하는 반송수단과, 　
    상기 반송수단에 의해서 반송되는 상기 복수의 대상물에 근적외선을 조사하는 조사수단과, 　
    상기 조사수단에 의해서 근적외선이 조사되는 상기 복수의 대상물로부터 반사되는 근적외선의 반사광을 평면 분광하는 평면 분광기와, 　
    상기 평면 분광기에서 평면 분광된 반사광을 근적외선 카메라로 전기신호로 변환하는 촬상수단과, 　
    상기 촬상수단으로 수득되는 상기 전기신호를 해석해서 상기 반사광의 스펙트럼 데이터를 얻어 주성분 분석수법을 이용하여 상기 복수의 대상물 중에서 이종품을 검출하는 해석수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 해석수단은, 　
    스펙트럼 데이터를 파장축 방향으로 평균화하는 파장축 평균화처리,　
    스펙트럼 데이터를 라그랑지의 2차 보간을 이용하여 보간하는 보간처리,　
    스펙트럼 데이터를 공간축 방향으로 적산하여 대상물의 에지를 검출해서 대상물의 중심위치를 검출하는 측정위치 최적화 처리,　
    상기 측정위치 최적화 처리에 의해서 검출된 대상물의 중심위치 근방의 복수 포인트에 있어서의 각 파장별 평균값을 구하는 공간축 평균화 처리,　
    스펙트럼 데이터를 1차 미분 혹은 2차 미분하는 미분처리,
    미리 취득한 로딩벡터 데이터와, 이상의 처리에 의해서 수득된 스펙트럼 데이터를 연산하는 것에 의해서 주성분 득점을 산출하는 주성분 득점 산출 처리, 및
    산출된 상기 주성분 득점에 의거하여 이종품 혹은 동종품의 판정을 수행하는 판정처리를 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 해석수단에 있어서의 파장축 평균화 처리는,
    스펙트럼 데이터를 평균화하는 전처리,　스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 비에 의거하여 표준화하는 전처리,　
    스펙트럼 데이터를 소정의 값과의 차분 에 의거하여 표준화하는 전처리, 또는
    스펙트럼 데이터를 파장축 방향에 대해서 이동 평균하는 파장축 평균화 처리의 적어도 어느 하나의 처리를 수행하는 것을 특징으로 하는 이종품 검출장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 평활화하는 변환처리를 수행하도록 구성 되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 MSC(Multiplicative scatter correction)수법에 의한 보정처리를 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 스펙트럼 데이터를 공간축 방향으로 적산하여 대상물의 에지를 검출해서 대상물의 중심위치를 검출하는 측정위치 최적화처리에 있어서, 소정의 임계값을 넘는 에지를 검출할 수 없는 경우에 대상물의 이상을 검출하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 다열 반송되는 각열의 대상물에 관해서는, 열별로 작성한 로딩벡터 데이터를 이용하여 주성분 분석하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 스펙트럼 데이터의 소정의 파장대의 데이터만을 선택해서 주성분 분석하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  9. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 해석수단은 주성분 분석의 조건을 바꾸어 2번 이상 되풀이하는 조건 분기처리를 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상수단은 롤링 방식의 근적외선 카메라로 하는 동시에, 　
    상기 근적외선 카메라의 광축에 평행한 축주위로 회전시키는 카메라 회전 기구를 구비한 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 반송수단은 시트상의 대상물을 반송하는 반송수단으로 하는 동시에,
    상기 대상물의 주위의 시트 부분을 눌러서 플러터링(Fluttering)을 방지하는 플러터링 방지수단을 구비한 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
  12. 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 촬상수단의 시야 내에, 소정의 반사특성을 가진 광량 보정판을 설치한 것을 특징으로 하는 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치.
KR20067004150A 2003-10-17 2004-10-15 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치 KR101019650B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2003-00357763 2003-10-17
JP2003357763 2003-10-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060126431A true KR20060126431A (ko) 2006-12-07
KR101019650B1 KR101019650B1 (ko) 2011-03-07

Family

ID=34463258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20067004150A KR101019650B1 (ko) 2003-10-17 2004-10-15 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7812948B2 (ko)
EP (1) EP1674859A4 (ko)
JP (1) JP5103736B2 (ko)
KR (1) KR101019650B1 (ko)
WO (1) WO2005038443A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102188595B1 (ko) * 2019-06-11 2020-12-09 한국과학기술연구원 스피로피란 및 그의 유도체를 이용한 기계적 자극 분석방법 및 그를 이용한 시스템

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7692832B2 (en) * 2006-04-25 2010-04-06 Xerox Corporation Method for correcting scanner non-uniformity
JP5298684B2 (ja) * 2008-07-25 2013-09-25 住友電気工業株式会社 異物の検出装置及び検出方法
JP5206335B2 (ja) * 2008-11-07 2013-06-12 アステラス製薬株式会社 主成分分析方法、主成分分析装置、異種品検出装置、主成分分析プログラム、及び、主成分分析プログラムが記録された記録媒体
JP5826452B2 (ja) * 2009-02-02 2015-12-02 株式会社ミューチュアル 検査装置
JP5680277B2 (ja) * 2009-02-02 2015-03-04 株式会社ミューチュアル 固形製剤検査装置
US8537399B2 (en) * 2011-06-17 2013-09-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Sharing content in a content database among printers via a request from a first printer
CN103649722B (zh) * 2011-06-28 2016-10-12 大塚制药株式会社 药剂检查装置和药剂检查方法
CN103718022B (zh) * 2011-06-28 2016-03-30 大塚制药株式会社 药剂检测装置和药剂检测方法
US9372644B2 (en) 2012-05-29 2016-06-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Sending a job processing notice to a social network contact
JP2014215177A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 住友電気工業株式会社 検査装置及び検査方法
US9523635B2 (en) 2013-06-20 2016-12-20 Rigaku Raman Technologies, Inc. Apparatus and methods of spectral searching using wavelet transform coefficients
WO2015136620A1 (ja) * 2014-03-11 2015-09-17 株式会社東芝 錠剤検査装置、錠剤検査方法、錠剤検査プログラム
JP2016080429A (ja) * 2014-10-14 2016-05-16 住友電気工業株式会社 分光測定装置
JP2017203658A (ja) * 2016-05-10 2017-11-16 住友電気工業株式会社 検査方法及び光学測定装置
JP6329668B1 (ja) 2017-04-18 2018-05-23 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
WO2018205026A1 (en) * 2017-05-11 2018-11-15 6511660 Canada Inc. Systems and methods for spectral identification and optical sorting of materials
US10878554B2 (en) * 2017-10-26 2020-12-29 United Technologies Corporation Defect detection and measurement method
JP6584624B2 (ja) * 2017-12-08 2019-10-02 キヤノン株式会社 識別装置および選別システム
WO2019111785A1 (ja) 2017-12-08 2019-06-13 キヤノン株式会社 識別装置、選別システム
JP6568245B2 (ja) * 2018-01-24 2019-08-28 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機、及び、検査装置の較正方法
JP2019174328A (ja) * 2018-03-29 2019-10-10 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機、及び、検査方法
JP6706301B2 (ja) 2018-09-28 2020-06-03 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
JP6786565B2 (ja) 2018-10-10 2020-11-18 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
JP7034111B2 (ja) * 2019-03-20 2022-03-11 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
EP4018180A4 (en) * 2019-08-20 2023-05-31 P&P Optica Inc. DEVICES, SYSTEMS AND METHODS FOR SORTING AND LABELING FOOD PRODUCTS
BE1028508B1 (fr) 2020-07-20 2022-02-15 Pharma Flex S A Sonde pour analyse spectroscopique d'objets individuels en défilement
JP6950798B1 (ja) * 2020-08-26 2021-10-13 株式会社サタケ 光学式選別機
JP7074241B2 (ja) * 2020-08-26 2022-05-24 株式会社サタケ 光学式選別機
WO2024003689A1 (en) * 2022-06-27 2024-01-04 P.B.L. Srl Method and system for inspecting a pharmaceutical product contained in a package

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5852551A (ja) * 1981-09-24 1983-03-28 Fuji Electric Co Ltd 固形剤外観検査装置における光学調整機構
JP2558864B2 (ja) 1989-02-27 1996-11-27 浜松ホトニクス株式会社 分光解析装置
FI90289C (fi) 1992-04-08 1994-01-10 Valtion Teknillinen Optinen komponentti
JPH0641864A (ja) * 1992-07-21 1994-02-15 Toyobo Co Ltd シート状物色差検査方法
JPH06288925A (ja) * 1993-04-01 1994-10-18 Toshiba Eng Co Ltd 検査エリア自動設定装置
JPH06288936A (ja) * 1993-04-06 1994-10-18 Fujikura Ltd 異物検査方法
JPH078760A (ja) 1993-06-23 1995-01-13 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 浸透気化装置
DE4321177A1 (de) * 1993-06-25 1995-01-05 Heidelberger Druckmasch Ag Vorrichtung zur parallelen Bildinspektion und Farbregelung an einem Druckprodukt
JP2588295Y2 (ja) * 1993-07-14 1999-01-06 竹中電子工業株式会社 Ｐｔｐ包装の内容物欠落検出装置
JP2700440B2 (ja) * 1994-04-19 1998-01-21 エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社 物品識別システム
US5822219A (en) * 1996-05-13 1998-10-13 Foss Nirsystems, Inc. System for identifying materials by NIR spectrometry
JP3614980B2 (ja) * 1996-05-31 2005-01-26 株式会社マキ製作所 農産物の外観検査方法及び装置
JP4208269B2 (ja) * 1996-10-01 2009-01-14 東芝ソリューション株式会社 異種物混入検査方法及びそのシステム
JP3673957B2 (ja) 1996-11-20 2005-07-20 独立行政法人 国立印刷局 印刷物の識別法
JPH10246702A (ja) * 1997-03-03 1998-09-14 Eisai Co Ltd 錠剤等の識別装置及び包装システム
ATE239913T1 (de) 1997-06-24 2003-05-15 Uhlmann Visiotec Gmbh Vorrichtung und verfahren zum verifizieren der integrität eines produkts
JP2000131230A (ja) * 1998-10-26 2000-05-12 Matsushita Electric Works Ltd 近赤外分光分析方法
WO2000070331A1 (de) * 1999-05-14 2000-11-23 Gunther Krieg Verfahren und vorrichtung zur detektion und unterscheidung zwischen kontaminationen und gutstoffen sowie zwischen verschiedenen farben in feststoffpartikeln
JP3929647B2 (ja) * 1999-07-16 2007-06-13 シーケーディ株式会社 錠剤の外観検査装置及びｐｔｐ包装機
JP3381187B2 (ja) * 2000-01-31 2003-02-24 北海道 鶏卵の内部欠陥検査方法
JP2002098636A (ja) * 2000-09-27 2002-04-05 Kubota Corp 分光分析装置
US6587575B1 (en) * 2001-02-09 2003-07-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture Method and system for contaminant detection during food processing
US6853447B2 (en) * 2001-02-12 2005-02-08 Analytical Spectral Devices, Inc. System and method for the collection of spectral image data
US6894772B2 (en) * 2001-02-12 2005-05-17 Analytical Spectral Devices System and method for grouping reflectance data
JP2002328088A (ja) 2001-05-01 2002-11-15 Snow Brand Food Co Ltd 近赤外分光法による異常肉の判別方法
US20050092941A1 (en) * 2003-06-06 2005-05-05 Aventis Pharma Deutschland Gmbh Method and device for the quantitative analysis of solutions and dispersions by means of near infrared spectroscopy

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102188595B1 (ko) * 2019-06-11 2020-12-09 한국과학기술연구원 스피로피란 및 그의 유도체를 이용한 기계적 자극 분석방법 및 그를 이용한 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
EP1674859A1 (en) 2006-06-28
JPWO2005038443A1 (ja) 2007-11-22
EP1674859A4 (en) 2007-12-12
KR101019650B1 (ko) 2011-03-07
WO2005038443A1 (ja) 2005-04-28
US20080024778A1 (en) 2008-01-31
US7812948B2 (en) 2010-10-12
JP5103736B2 (ja) 2012-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101019650B1 (ko) 평면 분광기를 이용한 이종품 검출장치
JP2014215177A (ja) 検査装置及び検査方法
JP5206335B2 (ja) 主成分分析方法、主成分分析装置、異種品検出装置、主成分分析プログラム、及び、主成分分析プログラムが記録された記録媒体
US7551274B1 (en) Defect detection lighting system and methods for large glass sheets
US9091643B2 (en) Device and method for analyzing kernel component
US20130022250A1 (en) Method and system for inspecting dosage forms having code imprints using chemical imaging and sorting the inspected dosage forms
JP2006170669A (ja) 青果物の品質検査装置
JPWO2008001785A1 (ja) 標本検査装置及び標本検査方法
JP2009168748A (ja) 食品検査装置
JP2013044729A (ja) 塗布状態測定方法
JP6295798B2 (ja) 検査方法
JP6568245B2 (ja) 検査装置、ｐｔｐ包装機、及び、検査装置の較正方法
JP2019148607A (ja) 検査装置
EP3916378B1 (en) Method and apparatus for capturing an image of a lateral face of a wooden board
JP2009168747A (ja) 食品検査方法及び食品検査装置
JP2017203658A (ja) 検査方法及び光学測定装置
JP2016090476A (ja) 異物検出方法
JP2010276361A (ja) 異状検査装置
JP2000111473A (ja) 青果物検査装置
US20090185164A1 (en) Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
JP2015014527A (ja) 異状検出装置及び異状検出方法
JP2017133953A (ja) 錠剤検査装置
JP2018185269A (ja) 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
US20070188751A1 (en) Method for leveling response characteristic of spectroscope
JP7136064B2 (ja) 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140123

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150216

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160203

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180222

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190212

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200220

Year of fee payment: 10