KR20060051344A - Apparatus for treating substrates - Google Patents
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Abstract
본 발명은 기판을 경사지게 하여 반송하면서 처리할 때, 경사 방향의 아래쪽으로 되는 면을 지지 롤러로 확실하게 지지할 수 있는 처리 장치를 제공한다.This invention provides the processing apparatus which can reliably support the surface which becomes the downward direction of inclination direction with a support roller, when processing, making a board | substrate incline and conveying.
기판의 폭 치수보다 작은 폭 치수로 형성되어 나란히 설치되어 있으며, 상기 기판에 대하여 각각 소정의 처리를 행하는 복수개의 처리실(3~5), 상기 기판의 높이 치수보다 짧은 길이 치수로 형성되고, 각각의 상기 처리실 내에, 상하 방향으로 소정 간격으로 평행하게 설치된 복수개의 장착 부재(11), 각각의 상기 장착 부재에 회전 가능하게 설치되어, 상기 처리실 내에서 상기 소정 각도로 경사져 이송되는 기판의 경사 방향의 아래쪽 면을 지지하는 지지 롤러(15), 및 각각의 상기 처리실 내에 회전 구동 가능하게 설치되어, 상기 지지 롤러에 의해 경사 방향의 아래쪽 면이 지지되는 기판의 하단을 지지하면서 회전 구동됨으로써 상기 기판을 소정 방향으로 반송하는 구동 롤러(22)를 구비한다.It is formed in a width dimension smaller than the width dimension of a board | substrate, and is provided next to each other, The process chambers 3-5 which perform predetermined process with respect to the said board | substrate, respectively, are formed in length dimension shorter than the height dimension of the said board | substrate, In the processing chamber, a plurality of mounting members 11 provided in parallel in a predetermined interval in the vertical direction and rotatably installed in the mounting members, respectively, are provided in a lower direction of the inclined direction of the substrate inclined at the predetermined angle in the processing chamber. The support roller 15 which supports a surface, and it is rotatably installed in each said process chamber, and is rotated while supporting the lower end of the board | substrate with which the lower surface of the inclined direction is supported by the said support roller, and rotates the said board | substrate in a predetermined direction. It is provided with the drive roller 22 conveyed by this.
기판, 처리 장치, 처리실, 장착 부재, 지지 롤러, 구동 롤러, 액체 공급관, 노즐. Substrate, processing apparatus, processing chamber, mounting member, support roller, drive roller, liquid supply pipe, nozzle.
Description
도 1은 본 발명의 일실시예를 나타낸 처리 장치의 폭 방향의 종단면도이다.1 is a longitudinal cross-sectional view of a width direction of a processing apparatus showing an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 처리 장치의 제2 처리실 부분의 횡단면도이다.FIG. 2 is a cross sectional view of a second processing chamber portion of the processing apparatus of FIG. 1. FIG.
도 3은 도 1의 처리 장치의 수평 종단면도이다.3 is a horizontal longitudinal cross-sectional view of the processing apparatus of FIG. 1.
도 4는 지지 롤러가 장착된 구조를 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view showing a structure in which the support roller is mounted.
* 도면의 주요 부호의 설명 *Explanation of the Major Codes in the Drawing
1: 상자 2: 격벽1: box 2: bulkhead
3,4,5: 처리실 6: 반입구3,4,5: Process room 6: Entrance entrance
7: 반출구 8: 연통구7: Outlet 8: Communication port
11: 장착 부재 15: 지지 롤러11: mounting member 15: support roller
16: 장착 구멍 22: 구동 롤러16: mounting hole 22: drive roller
23: 구동 모터 25: 공급관23: drive motor 25: supply pipe
26: 노즐26: nozzle
본 발명은 기판을 소정 각도로 경사지게 하여 반송하면서 처리하는 기판의 처리 장치에 관한 것이다The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing while inclining the substrate at a predetermined angle and conveying it.
액정 표시 장치에 사용되는 유리로 된 기판에는 회로 패턴이 형성되어 있다. 기판에 회로 패턴을 형성하는 데에는 리소그라피 프로세스가 채용된다. 리소그라피 프로세스에서는, 공지된 바와 같이, 상기 기판에 레지스트를 도포하고, 이 레지스트에, 회로 패턴이 형성된 마스크를 통하여 광을 조사한다.The circuit pattern is formed in the glass substrate used for a liquid crystal display device. Lithographic processes are employed to form circuit patterns on the substrate. In the lithography process, as is well known, a resist is applied to the substrate, and the resist is irradiated with light through a mask in which a circuit pattern is formed.
다음에, 레지스트의 광이 조사되지 않은 부분 또는 광이 조사된 부분을 제거하고, 기판의 레지스트가 제거된 부분을 에칭하며, 에칭 후에 레지스트를 제거하는 등 일련의 공정을 복수회 반복함으로써, 상기 기판에 회로 패턴을 형성한다.Next, the substrate is repeatedly subjected to a plurality of times by removing a portion of the resist not irradiated or the portion to which the light is irradiated, etching the portion of the substrate from which the resist is removed, and removing the resist after etching. To form a circuit pattern.
이와 같은 리소그라피 프로세스에 있어서는, 상기 기판에 현상액, 에칭액 또는 에칭 후에 레지스트를 제거하는 박리액 등에 의해 기판을 처리하는 공정, 또한 세정액에 의해 세정하는 공정이 있고, 세정 후에는 기판에 부착되어 잔류하는 세정액을 제거하는 건조 공정이 필요하다.In such a lithography process, there is a process of treating a substrate with a developing solution, an etching solution or a stripping solution for removing a resist after etching, and a step of cleaning with a cleaning solution, and after cleaning, the cleaning solution adhered to the substrate and remains. A drying process is needed to remove this.
종래, 기판에 대하여 전술한 일련의 처리를 행하는 경우, 상기 기판은 축선을 수평으로 하여 배치된 반송 롤러에 의해 수평인 상태에서 각각의 처리 챔버로 차례로 반송하고, 각 챔버에서 전술한 각각의 처리를 행하도록 하고 있다.Conventionally, when performing the above-mentioned series of processes with respect to a board | substrate, the said board | substrate is conveyed to each processing chamber one by one in the horizontal state by the conveyance roller arrange | positioned horizontally, and each process mentioned above in each chamber is carried out. To do it.
최근에는 액정 표시 장치에 사용되는 유리로 된 기판이 대형화 및 박형화되는 경향이 있다. 따라서, 기판을 수평 반송하면, 자중(自重)에 의해 반송 롤러 사이에서의 기판의 휨이 커지므로, 각 처리 챔버에서의 처리가 기판의 면 전체에 걸쳐서 균일하게 행해지지 않는 경우가 생긴다.In recent years, the glass substrate used for a liquid crystal display device tends to be enlarged and thinned. Therefore, when the substrate is horizontally conveyed, the warpage of the substrate between the conveying rollers increases due to its own weight, so that the processing in each processing chamber may not be uniformly performed over the entire surface of the substrate.
또한, 기판이 대형화되면, 기판상에 공급되어 체류하는 처리액의 양이 증대 되기 때문에, 기판상에 체류하는 처리액의 양에 따라 상기 반송축에 가해지는 하중이 커지고, 그에 따라서도 반송축의 휨이 증대된다. 따라서, 기판은 반송축과 함께 휘기 때문에, 균일한 처리가 행해지지 않는 경우가 있다.In addition, when the substrate is enlarged, the amount of the processing liquid supplied to and retained on the substrate increases, so that the load applied to the conveying shaft increases according to the amount of the processing liquid remaining on the substrate. Is increased. Therefore, since a board | substrate bends with a conveyance shaft, a uniform process may not be performed.
최근에는 기판의 휨을 줄이기 위하여, 기판을 소정 각도로 경사지게 하여 반송하면서, 처리하는 것이 실용화되어 있다. 기판을 경사지게 하여 반송하면, 반송 롤러 사이에서의 기판의 자중에 의한 휨을 제거할 수 있을 뿐만 아니라, 수평으로 반송되는 경우와 같이 기판상에 처리액이 체류하여, 그 무게에 의해 기판이 휘는 것도 방지할 수 있다.In recent years, in order to reduce the curvature of a board | substrate, processing while inclining and conveying a board | substrate at a predetermined angle has been utilized. When the substrate is inclined and conveyed, not only the warpage caused by the weight of the substrate between the conveying rollers can be removed, but also the processing liquid stays on the substrate as in the case of being conveyed horizontally, and the substrate is prevented from bending due to its weight. can do.
상기 기판을 경사지게 하여 반송하는 경우, 기판의 경사 방향의 하면을 지지 롤러로 지지하고, 하단을 구동 롤러로 지지한다. 구동 롤러를 회전 구동함으로써, 상기 기판을 구동 롤러의 회전 방향으로 반송하도록 하고 있다.When the substrate is inclined and conveyed, the lower surface of the substrate in an inclined direction is supported by a support roller, and the lower end is supported by a drive roller. By rotationally driving a drive roller, the said board | substrate is conveyed in the rotation direction of a drive roller.
상기 지지 롤러는, 기판의 반송 방향을 따라 소정 간격으로, 또한 경사진 기판의 면과 축선을 평행하게 하여, 즉 기판의 경사 각도와 같은 각도로 경사져 배치된 복수개의 장착축에, 축방향으로 소정 간격으로 회전 가능하게 형성되어 있다.The support roller is predetermined in the axial direction on a plurality of mounting shafts arranged at a predetermined interval along the conveying direction of the substrate and parallel to the surface of the inclined substrate, that is, at an angle equal to the inclination angle of the substrate. It is rotatably formed at intervals.
그런데, 전술한 바와 같이, 기판을 장착축에 설치된 지지 롤러에 의해 경사지게 하여 지지하고, 하단에 설치된 구동 롤러를 구동하여 반송하는 구성에 의하면, 기판이 대형화됨으로써, 상기 장착축이 길게 되는 것을 피할 수 없다. 즉, 장착축은, 경사진 기판의 상하 방향의 치수(높이 치수)보다 길게 하지 않으면 안되고, 최근에는 기판의 대형화에 따라 장착축을 2m 이상으로 하지 않으면 않 된다.By the way, as mentioned above, according to the structure which inclines and supports the board | substrate by the support roller provided in the mounting shaft, and drives and conveys the drive roller provided in the lower end, it can avoid that the said mounting shaft becomes long by increasing a board | substrate. none. That is, the mounting shaft must be longer than the dimension (height dimension) of the up-down direction of the inclined substrate, and in recent years, the mounting shaft has to be 2 m or more as the substrate is enlarged.
장착축이 길게 되고, 특히 2m 이상의 길이로 되면, 이 장착축이 소정 각도로 경사지게 되거나 지지 롤러를 통하여 기판의 중량이 더해지는 등에 의해 장착축에 휨이 생기기 쉬워진다. 장착축에 휨이 생기면, 이 장착축에 소정 간격으로 설치된 복수개의 지지 롤러가 기판의 면에 대하여 균일한 강도로 접촉되지 않게 된다.When the mounting shaft becomes long, and in particular, when it becomes 2 m or more in length, the mounting shaft tends to be inclined at a predetermined angle or the weight of the substrate is added through the supporting roller, and the warp tends to occur in the mounting shaft. When the mounting shaft is warped, a plurality of support rollers provided at predetermined intervals on the mounting shaft do not come into contact with the surface of the substrate with uniform strength.
즉, 기판에 대하여 접촉되지 않는 지지 롤러 또는 지나치게 강하게 접촉되는 지지 롤러가 생긴다. 따라서, 기판을 원활하게 반송할 수 없게 되거나, 강하게 접촉된 지지 롤러에 의해 기판에 상처가 생길 우려가 있다.That is, support rollers that are not in contact with the substrate or support rollers that are in too strong contact are produced. Therefore, there exists a possibility that a board | substrate may not be conveyed smoothly, or a board | substrate may be damaged by the support roller strongly contacted.
본 발명의 목적은, 기판을 소정 각도로 경사지게 하여 반송하는 경우에, 기판에 복수개의 지지 롤러를 균일하게 접촉시켜 반송할 수 있도록 한 기판의 처리 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a processing apparatus for a substrate in which a plurality of support rollers are brought into uniform contact with the substrate so that the substrate can be transported while being inclined at a predetermined angle.
본 발명은, 기판을 소정 각도로 경사지게 하여 반송하고, 반송 과정에서 상기 기판에 대하여 소정의 처리를 행하는 기판의 처리 장치에 있어서,The present invention is a substrate processing apparatus which inclines and transports a substrate at a predetermined angle, and performs a predetermined process with respect to the substrate in a transport process.
상기 기판의 폭 치수보다 작은 폭 치수로 형성되어 나란히 설치되어 있으며, 상기 기판에 대하여 각각 소정의 처리를 행하는 복수개의 처리실,A plurality of processing chambers formed in a width dimension smaller than the width dimension of the substrate and arranged side by side, each of which performs predetermined processing on the substrate;
상기 기판의 높이 치수보다 짧은 길이 치수로 형성되고, 각각의 상기 처리실 내에 상하 방향으로 소정 간격으로 상기 기판의 반송 방향과 평행하게 설치된 복수개의 장착 부재,A plurality of mounting members formed in a length dimension shorter than the height dimension of the substrate, and arranged in parallel to the conveying direction of the substrate at predetermined intervals in a vertical direction in each of the processing chambers,
각각의 상기 장착 부재에 회전 가능하게 설치되어 있어, 상기 처리실 내에서 상기 소정 각도로 경사져 이송되는 상기 기판의 경사 방향의 아래쪽 면을 지지하는 지지 롤러, 및A support roller rotatably provided to each of said mounting members to support a lower surface in the inclined direction of said substrate, which is inclined and conveyed at said predetermined angle in said processing chamber, and
각각의 상기 처리실 내에 회전 구동 가능하게 설치되어, 상기 지지 롤러에 의해 경사 방향의 아래쪽 면이 지지되는 상기 기판의 하단을 지지하면서 회전 구동됨으로써 상기 기판을 소정 방향으로 반송하는 구동 롤러A drive roller which is rotatably installed in each of the processing chambers and is rotatably driven while supporting a lower end of the substrate on which a lower surface in an inclined direction is supported by the support roller, thereby transporting the substrate in a predetermined direction.
를 구비한 것을 특징으로 하는 기판의 처리 장치이다.It is a substrate processing apparatus characterized by the above-mentioned.
본 발명은, 기판을 소정 각도로 경사지게 하여 반송하고, 반송과정에서 상기 기판에 대하여 소정의 처리를 행하는 기판의 처리 장치에 있어서,The present invention is a substrate processing apparatus which inclines and transports a substrate at a predetermined angle, and performs a predetermined process with respect to the substrate in a transfer process.
상기 기판의 폭 치수보다 작은 폭 치수로 형성되어 나란히 설치되어 있으며, 상기 기판에 대하여 각각 소정의 처리를 행하는 복수개의 처리실,A plurality of processing chambers formed in a width dimension smaller than the width dimension of the substrate and arranged side by side, each of which performs predetermined processing on the substrate;
상기 처리실 내에서 상기 소정 각도로 경사져 이송되는 상기 기판의 경사 방향의 아래쪽 면을 지지하는 지지 롤러, 및A support roller for supporting a lower surface of the inclined direction of the substrate to be inclined at the predetermined angle and transported in the processing chamber;
각각의 상기 처리실 내에 회전 구동 가능하게 설치되어 있어, 상기 지지 롤러에 의해 경사 방향의 아래쪽 면이 지지되는 상기 기판의 하단을 지지하면서 회전 구동됨으로써 상기 기판을 소정 방향으로 반송하는 구동 롤러The drive roller which is rotatably installed in each said process chamber, and rotates while supporting the lower end of the said board | substrate with which the lower surface of the inclination direction is supported by the said support roller, and conveys the said board | substrate to a predetermined direction.
를 구비한 것을 특징으로 하는 기판의 처리 장치이다. It is a substrate processing apparatus characterized by the above-mentioned.
본 발명에 의하면, 처리실의 폭 치수를 기판의 폭 치수보다 작게 하고, 또한 지지 롤러가 설치되는 장착 부재의 길이 치수를 기판의 높이 치수보다 짧게 하며, 이 장착 부재를 처리실의 폭 방향을 따라 설치하였다. 따라서, 장착 부재의 길이 치수를 기판의 폭 치수 및 높이 치수에 비해 충분히 짧게 할 수 있기 때문에, 장착 부재에 휨이 생기지 않고, 이 장착 부재에 설치된 지지 롤러에 의해 기판을 확실하 게 지지할 수 있다.According to the present invention, the width dimension of the processing chamber is made smaller than the width dimension of the substrate, the length dimension of the mounting member on which the support roller is installed is made shorter than the height dimension of the substrate, and the mounting member is provided along the width direction of the processing chamber. . Therefore, since the length dimension of a mounting member can be made short enough compared with the width dimension and height dimension of a board | substrate, a bending does not arise in a mounting member, and a board | substrate can be reliably supported by the support roller provided in this mounting member. .
도 1은 본 발명의 처리 장치를 나타낸 개략적 구조도로서, 이 처리 장치는 상자(1)를 구비한다. 이 상자(1)는, 긴 방향으로 소정 간격으로 설치된 복수개의 격벽(2)에 의해 복수개의 처리실, 이 실시예에서는 3개의 처리실로서, 제1 내지 제3 처리실(3~5)로 구획되어 있다. 즉, 상자(1) 내에 제1 내지 제3 처리실(3~5)이 가로 방향으로 나란히 형성되어 있다.1 is a schematic structural diagram showing a treatment apparatus of the present invention, which has a box 1. The box 1 is partitioned into first to
도 3은 상기 상자(1)의 수평 종단면도로서, 상자(1)의 긴 방향의 일단의 측벽(1a)에 슬릿 모양의 반입구(6)가 상하 방향으로 소정 각도, 예를 들면 75도의 각도로 경사져 형성되고, 긴 방향의 타단의 측벽(1b)에는 동일하게 슬릿 모양의 반출구(7)가 반입구(6)와 같은 각도로 경사져 형성되어 있다. 상자(1) 내부를 3개의 처리실(3~5)로 구획한 2개의 격벽(2)에 상기 반입구(6) 및 반출구(7)와 같은 각도로 경사진 슬릿 모양의 연통구(8)가 형성되어 있다.3 is a horizontal longitudinal cross-sectional view of the box 1 in which a slit-
제1 내지 제3 처리실(3~5) 내에, 소정의 두께를 가지는 띠 모양의 복수개의, 이 실시예에서는 4개의 장착 부재(11)가 상하 방향으로 소정 간격으로 수평으로, 또한 도 2에 나타낸 바와 같이 같은 각도로 경사진 반입구(6), 반출구(7) 및 연통구(8)(도 2에는 연통구(8)만 나타나 있음)로부터 이격되어, 전후방향으로 위치가 어긋나게 설치되어 있다.In this embodiment, in the first to
도 3에 나타낸 바와 같이, 상기 상자(1)의 긴 방향에서의 양단의 측벽(1a, lb)의 내면 및 한 쌍의 격벽(2)의 양쪽 면에는 L자 모양의 받침편(12)이 한 변이 고정되어 설치되어 있다. 상기 장착 부재(11)의 긴 방향의 양쪽 단면에는 상기 받 침편(12)에 대응하는 L자 모양의 장착편(13)이 한 변이 고정되어 설치되어 있다.As shown in FIG. 3, L-shaped
상기 받침편(12)의 다른 변에, 상기 장착편(13)의 다른 변이 나사고정되어 있기 때문에, 상기 장착 부재(11)가 각 처리실(3~5) 내에 전술한 바와 같이 상하 방향으로 소정 간격으로 수평으로, 또한 하단으로 가면서 전방으로 위치가 어긋나게 설치되어 있다.Since the other side of the mounting
각 장착 부재(11)의 상면에는, 각각 4개의 지지 롤러(15)가 축선을 수직으로 하여 회전 가능하게 설치되어 있다. 도 4는 상기 지지 롤러(15)의 장착 구조를 나타내고 있다. 즉, 장착 부재(11)에 전후 방향의 전방 단부 쪽에, 전후방향을 따라 가느다란 장착 구멍(16)이 형성되어 있다.On the upper surface of each mounting
상기 지지 롤러(15)에는 베어링(17)이 설치되고, 이 베어링(17)의 내주에 장착 볼트(18)가 삽입되어 있다. 장착 볼트(18)의 상기 장착 구멍(16)으로부터 돌출된 단부에는 와셔(19)를 통하여 너트(20)가 나사 결합되어 있다. 따라서, 상기 지지 롤러(15)는 상기 장착 부재(11)에, 전후 방향의 장착 위치가 조정 가능하도록, 장착되어 있다.A
도 1과 도 2에 나타낸 바와 같이, 각 처리실(3~5)의 하단부에는 복수개의 구동 롤러(22)가 처리실(3~5)의 폭 방향을 따라 소정 간격으로 배치되어 있다. 각 구동 롤러(22)는 구동 모터(23)에 의해 회전 구동되도록 되어 있다.As shown in FIG. 1 and FIG. 2, a plurality of
상기 제1 처리실(3)의 측벽(1a)에 형성된 반입구(6)로부터 액정 패널에 사용되는 유리로 된 기판(W)이(75)도의 각도로 경사져 공급된다. 제1 처리실(3)에 공급된 기판(W)은 하단이 구동 롤러(22)로 지지되고, 경사 방향의 아래쪽 면이 지지 롤러(15)에 의해 지지된다. 따라서, 상기 구동 롤러(22)가 구동 모터(23)에 의해 회전 구동되면, 상기 기판(W)은 구동 롤러(22)의 회전 방향, 즉 제2 처리실(4)의 방향으로 반송된다.The glass substrate W used for the liquid crystal panel is inclined at an angle of 75 degrees from the
상기 기판(W)은 모서리가 2m 이상의 크기로서, 예를 들어 높이 치수가 2200mm, 폭 치수가 2600mm의 크기를 가진다. 제1 내지 제3 처리실(3~5)의 폭 치수는 상기 기판(W)의 폭 치수에 비해 충분히 작게 설정되어 있다. 예를 들면, 기판(W)의 폭 치수의 2분의 1~3분의 2 정도로 설정된다. 상기 장착 부재(11)의 길이 치수는 기판(W)의 높이 치수에 비해 짧게 설정되어 있다. 예를 들면, 기판(W)의 높이 치수의 2분의 1~3분의 2 정도로 설정된다. 따라서, 장착 부재(11)는 자중에 의해 휨이 생기기 어려운 길이 치수, 예를 들어 2m보다 충분히 짧은 치수로 할 수 있다.The substrate W has a corner having a size of 2 m or more, for example, a height dimension of 2200 mm and a width dimension of 2600 mm. The width dimension of the 1st thru | or 3rd process chambers 3-5 is set small enough compared with the width dimension of the said board | substrate W. As shown in FIG. For example, it is set to about two-thirds of the width dimension of the board | substrate W. FIG. The length dimension of the said mounting
상기 장착 부재(11)의 길이 치수를 자중에 의해 휨이 생기기 어려운 길이 치수로 하여도, 각 처리실(3~5)의 폭 치수도 기판(W)의 폭 치수에 비해 짧게 설정되어 있으므로, 장착 부재(11)의 길이 치수가 처리실(3~5)의 폭 치수에 비해 대폭적으로 짧게 되는 일이 없다.Even when the length dimension of the mounting
따라서, 장착 부재(11)에 설치된 지지 롤러(15)는, 기판(W)의 각 처리실(3~5) 내에 위치하는 부분을 폭 방향을 따라 확실하게 지지하게 된다. 즉, 장착 부재(11)를 짧게 하여도, 그에 따라 각 처리실(3~5)의 폭 치수도 짧게 하고 있으므로, 기판(W)의 각 처리실(3~5) 내에 위치하는 부분을 폭 방향에서 지지 롤러(15)에 의해 확실하게 지지할 수 있다.Therefore, the
상기 기판(W)은 상기 제1 처리실(3)에서 도시하지 않은 세정 브러시에 의해 세정된다. 제1 처리실(3)에서 브러시 세정된 기판(W)은 제2 처리실(4)에서 린스(rinse)된다. 즉, 제2 처리실(4) 내에는 린스액의 공급원에 유량 조정 밸브(둘 다 도시되지 않음)를 통하여 접속된 액체 공급관(25)이 상하 방향으로 소정 간격으로 이격되어 수평으로 설치되어 있다.The substrate W is cleaned by a cleaning brush not shown in the
각 액체 공급관(25)에는 복수개의 노즐(26)이 소정 간격으로 설치되어 있고, 이들 노즐(26)로부터는 제2 처리실(3) 내로 반송되는 기판(W)의 경사 방향의 위쪽 면으로 향해 린스액이 분사되도록 되어 있다.Each
기판(W)에 린스액을 분사하는 노즐(26)이 설치된 액체 공급관(25)이 기판(W)의 높이 방향에서 소정 간격으로 배치되었기 때문에, 이 기판(W)의 높이 방향에 있어서, 각 액체 공급관(25)의 노즐(26)로부터 기판(W)에 분사 공급되는 린스액의 양을 각 액체 공급관(25)에 설치된 유량 조정 밸브(도시하지 않음)에 의해 조정할 수 있다. 즉, 기판(W)의 면에 공급된 린스액은 기판(W)의 높이 방향에서 위쪽으로부터 아래쪽으로 향해 흐른다. 따라서, 각 액체 공급관(25)에 같은 양의 린스액을 공급하면, 기판(W)의 높이 방향에서 위쪽보다 아래쪽이 린스액에 의한 린스 작용이 커지고, 기판(W)의 면 전체를 균일하게 린스할 수 없게 된다.Since the
그러나, 복수개의 액체 공급관(25)은 기판(W)의 높이 방향에 대하여 소정 간격으로 이격되어 배치되어 있기 때문에, 각 액체 공급관(25)으로 공급되는 린스액의 공급량을 조정함으로써, 기판(W)의 면의 높이 방향의 상부와 하부에 공급되는 린스액의 양을 조정할 수 있다.However, since the plurality of
따라서, 기판(W)의 상부에 공급되는 린스액의 양을 하부에 공급되는 린스액의 양보다 많게 하면, 상부에 공급된 린스액이 하부로 흐름으로써, 하부가 받는 린스 작용을 상부와 대략 같게 할 수 있다. 일례로서, 경사진 기판(W)의 면에서 흐르는 린스액의 유속과 유량의 총합이 기판(W)의 높이 방향의 어느 위치에 있어서도 같게 되도록, 각 공급관(25)으로부터의 린스액의 공급량을 설정하면, 기판(W)의 면 전체를 대략 균일하게 린스할 수 있게 된다.Therefore, when the amount of the rinse liquid supplied to the upper portion of the substrate W is greater than the amount of the rinse liquid supplied to the lower portion, the rinse liquid supplied to the upper portion flows to the lower portion, so that the rinsing action received by the lower portion is approximately equal to the upper portion. can do. As an example, the supply amount of the rinse liquid from each
이 실시예에서는 기판(W)을 린스액으로 처리하지만, 린스액 이외의 처리액, 예를 들어 에칭액이나 박리액 등의 처리액에 의해 기판(W)을 처리하는 경우에도 전술한 바와 같이 처리액의 공급량을 조정함으로써, 기판(W)의 면 전체를 균일하게 처리하는 것이 가능해진다.In this embodiment, the substrate W is treated with a rinse liquid. However, even when the substrate W is treated with a processing liquid other than the rinse liquid, for example, an etching liquid or a peeling liquid, the processing liquid as described above. By adjusting the supply amount of, the entire surface of the substrate W can be treated uniformly.
제2 처리실(4)에서 린스 처리된 기판(W)은 제3 처리실(5)로 반송된다. 이 제3 처리실(5)에는 도시하지 않은 에어 나이프(air knife)가 기판(W)의 반송 방향에 대하여 교차하는 상하 방향을 따라 배치되어 있어, 린스 처리된 기판(W)의 면에 부착된 린스액을 기체 압력에 의해 제거하는 건조 처리가 행해진다. 그리고, 제3 처리실(5)에서 건조 처리된 기판(W)은 반출구(7)로부터 반출되어 다음 공정으로 넘겨진다.The board | substrate W rinsed in the
이와 같이 구성된 처리 장치에 의하면, 소정 각도로 경사져 반송되는 기판(W)의 경사 방향의 아래쪽 면을, 각 처리실(3~5)의 폭 방향을 따라 수평으로 배치된 장착 부재(11)에 설치된 지지 롤러(15)에 의해 지지하도록 했다.According to the processing apparatus comprised in this way, support provided in the mounting
각 처리실(3~5)의 폭 치수는 기판(W)의 폭 치수보다 작은, 2분의 1~3분의 2 정도로 설정되고, 장착 부재(11)의 길이 치수는 기판(W)의 높이 치수보다 작은, 2분의 1~3분의 2 정도로 설정되어 있다.The width dimension of each of the
장착 부재(11)의 길이 치수를 전술한 바와 같이 짧게 하면, 이 장착 부재(11)에 자중에 의해 휨이 생기는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 각 장착 부재(11)에 설치된 복수개의 지지 롤러(15)는 수평 방향에서 높이에 차가 생기는 일 없이 위치 결정될 수 있다. 각 장착 부재(11)에 설치된 지지 롤러(15)는, 장착 부재(11)에 형성된 장착 구멍(16)에 의해 전후 방향의 장착 위치가 조정될 수 있다.When the length dimension of the mounting
따라서, 각 장착 부재(11)에 설치된 지지 롤러(15)를 기판(W)의 경사 방향의하면에 같은 강도로 접촉시키는 것이 가능하므로, 구동 롤러(22)를 구동시키면, 상기 기판(W)을 상기 지지 롤러(15)에 의해 원활하게 안내하여 반송할 수 있다. 즉, 기판(W)을 손상시키는 일 없이 확실하게 반송할 수 있다.Therefore, since it is possible to make the
처리실(3~5)의 폭 치수에 대하여 장착 부재(11)의 길이 치수가 지나치게 짧으면, 각 처리실(3~5) 내에 있어서, 기판(W)의 폭 방향에 있어서 지지 롤러(15)에 의해 지지되지 않는 부분이 많게 되어, 그 부분이 휘게 될 우려가 있다.If the length dimension of the mounting
그러나, 이 실시예에서는, 장착 부재(11)를 단지 자중에 의해 휨이 생기지 않는 길이 치수로 했을 뿐만 아니라, 처리실(3~5)의 폭 치수도 작게 했기 때문에, 장착 부재(11)의 길이 치수가 각 처리실(3~5)의 폭 치수에 비해 상당히 짧게 되는 일이 없다. 따라서, 기판(W)의 각 처리실(3~5) 내에 위치하는 부분은, 상기 장착 부재(11)에 설치된 복수개의 지지 롤러(15)에 의해 폭 방향에서 확실하게 지지될 수 있다.However, in this embodiment, not only the mounting
즉, 장착 부재(11)를, 단지 자중에 의해 휨이 생기지 않도록 짧게 하면, 처리실(3~5)의 폭 치수에 대하여 장착 부재(11)의 길이 치수가 너무 짧아져, 기판(W)의 각 처리실(3~5) 내에 위치하는 부분의 폭 방향이 지지 롤러(15)에 의해 확실하게 지지되지 않는 상태로 되어, 기판(W)이 변형되거나, 반송이 원활하게 되지 않을 우려가 있다.That is, if the mounting
그러나, 장착 부재(11)를 짧게 했을 뿐만 아니라, 처리실(3~5)의 폭 치수도 작게 했기 때문에, 각 처리실(3~5)의 폭 치수에 비하여 장착 부재(11)가 너무 짧게 되는 일이 없다. 따라서, 장착 부재(11)에 설치된 지지 롤러(15)에 의해 기판(W)의 각 처리조(3~5) 내에 위치하는 부분을 확실하게 지지할 수 있다.However, not only the mounting
기판(W)의 린스 처리를 행하는 제2 처리실(4)에, 린스액을 분사하는 노즐(26)이 설치된 복수개의 액체 공급관(25)을 수평으로 배치하였다. 각 액체 공급관(25)에 공급하는 린스액의 양은 도시하지 않은 유량 제어 밸브에 의해 조정할 수 있다.In the
따라서, 경사져 반송되는 기판(W)의 높이 방향의 위쪽에 위치하는 액체 공급관(25)에 공급되는 린스액의 양을 아래쪽에 위치하는 액체 공급관(25)에 공급되는 린스액의 양보다 많게 함으로써, 기판(W)의 상하 방향을 대략 같은 상태로 린스 처리하는 것이 가능해진다. 즉, 기판(W)의 면 전체를 균일하게 린스 처리할 수 있다.Therefore, by making the amount of the rinse liquid supplied to the
처리실(3~5)의 폭 치수를 기판(W)의 폭 치수보다 작게 하였기 때문에, 기판(W)은 도 1에 쇄선으로 나타낸 바와 같이 복수개의 처리실(3~5) 중, 인접하는 복수 개의 처리실에 걸친 상태에서 반송된다. 따라서, 기판(W)은, 예를 들어 반송 방향의 선단부가 제2 처리실(4)에서 린스 처리되고 있을 때, 후단부는 제1 처리실(3)에서 브러시 세정된다. 마찬가지로, 선단부가 제3 처리실(5)에서 건조 처리되고 있을 때, 후단부는 제2 처리실(4)에서 린스 처리된다.Since the width dimension of the process chambers 3-5 was made smaller than the width dimension of the board | substrate W, the board | substrate W has several adjacent process chambers among several process chambers 3-5 as shown by the dashed line in FIG. It is returned in the state over. Therefore, when the front end part of the board | substrate W is rinsing in the
이와 같이, 기판(W)을 반송하면서, 이 기판(W)에 대하여 여러 가지 처리를 복수개의 처리실(3~5)에서 연속하여 행하는 경우, 인접하는 처리실에서의 상이한 처리를 동시에 행할 수 있으므로, 기판(W)의 처리를 능률적으로 행할 수 있게 된다.Thus, when carrying out various processes with respect to this board | substrate W in the several process chambers 3-5 while conveying the board | substrate W, since the different processes in the adjacent process chamber can be performed simultaneously, a board | substrate The processing of (W) can be efficiently performed.
본 발명은 상기 일실시예에 한정되지 않고, 여러 가지로 변형이 가능하다. 예를 들면, 처리 장치로서 3개의 처리실이 나란히 설치되어 있는 경우를 예로 들어 설명하였으나, 처리실의 수는 한정되지 않고, 또한 각 처리실에서 기판에 대하여 행하는 처리의 종류도 한정되지 않는다.The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, although the case where three process chambers are provided side by side as a processing apparatus was demonstrated as an example, the number of process chambers is not limited and the kind of process performed with respect to a board | substrate in each process chamber is not limited, either.
본 발명의 기판의 처리 장치에 의하면, 처리실의 폭 치수를 기판의 폭 치수보다 작게 하고, 또한 지지 롤러가 설치되는 장착 부재의 길이 치수를 기판의 높이 치수보다 짧게 하며, 이 장착 부재를 처리실의 폭 방향을 따라 설치하였다. 따라서, 장착 부재의 길이 치수를 기판의 폭 치수 및 높이 치수에 비해 충분히 짧게 할 수 있기 때문에, 장착 부재에 휨이 생기지 않고, 이 장착 부재에 설치된 지지 롤러에 의해 기판을 확실하게 지지할 수 있다.According to the processing apparatus of the board | substrate of this invention, the width dimension of a process chamber is made smaller than the width dimension of a board | substrate, and the length dimension of the mounting member by which a support roller is provided is made shorter than the height dimension of a board | substrate, and this mounting member is made into the width of a process chamber. It was installed along the direction. Therefore, since the length dimension of a mounting member can be made short enough compared with the width dimension and height dimension of a board | substrate, curvature does not arise in a mounting member, and a board | substrate can be reliably supported by the support roller provided in this mounting member.
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Cited By (1)
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