KR20050001414A - 전자 부품의 반송 장치 - Google Patents

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KR20050001414A
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이케다미츠루
사사오카요시카즈
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가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/02—Feeding of components
    • H05K13/028—Simultaneously loading a plurality of loose objects, e.g. by means of vibrations, pressure differences, magnetic fields

Abstract

본 발명은 전자 부품을 반송 플레이트에 확실하게 공급하여 운전 효율의 저하를 방지할 수 있으며, 또한 각 부품 저장부마다의 전자 부품의 체류수의 차이를 가능한 한 작게 하여 가동률의 저하를 방지할 수 있는 전자 부품의 반송 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 구성에 따르면, 한 방향(a)으로 반송되며, 상기 반송 방향(a)으로 소정 간격을 두고 형성된 다수의 부품 수납부(2a)를 갖는 반송 플레이트(2)와, 다수의 전자 부품(W)이 충전된 부품 저장부(3∼5)를 가지며, 상기 부품 저장부(3∼5)에서 공급된 전자 부품(W)을 상기 반송 플레이트(2)의 부품 수납부(2a)에 수납하면서 반송하도록 한 전자 부품의 반송 장치에 있어서, 상기 반송 플레이트(2)의 부품 수납부(2a)에 수납된 전자 부품(W)의 유무를 검출하는 카메라(부품 검출 수단)(11)와, 상기 전자 부품(W)의 유무에 따라서 상기 부품 저장부(3∼5) 내에 전자 부품(W)을 보충하는 컨트롤러(부품 보충 수단)(12)를 구비한다.

Description

전자 부품의 반송 장치{Electronic-component conveying device}
본 발명은 다수의 전자 부품을 소정의 간격을 두고 정렬시켜서 반송하도록 한 전자 부품의 반송 장치에 관한 것이다. 본 발명에서는, 전자 부품의 전기적 특성을 측정하여 양부를 선별하도록 한 검사 장치에 매우 적합하므로, 이하, 이것을 예로 들어 설명한다.
예를 들면, 전자 부품의 전기적 특성을 측정하여 양부를 선별하도록 한 검사 장치에서는, 도 5, 도 6에 나타내는 바와 같이, 반송 방향(a)으로 소정 간격을 두고 형성된 다수의 부품 수납부(20a)를 3열을 이루도록 형성한 반송 플레이트(20)와, 상기 반송 플레이트(20)의 각 열의 반송 경로(A, B, C)마다 배치된 부품 저장부(21, 22, 23)를 구비하며, 상기 각 부품 저장부(21∼23)에 충전된 전자 부품(W)을 각 부품 수납부(20a)에 공급하면서 반송 플레이트(20)를 간헐 회전시켜서 다음 공정의 특성 검사부(도시하지 않음)에 반송하도록 구성되어 있다(예를 들면, 미국특허 5,842,579호 참조).
또한 전자 부품(W)의 연속 처리를 행하기 위하여, 각 부품 저장부(21∼23)에 레벨 센서(24, 25, 26)를 배치하고, 부품 저장부(21∼23) 내의 전자 부품(W)이 감소하여 각 센서(24∼26)에 의한 검출이 불가능하게 되었을 때에 전자 부품(W)을 보충하며, 상기 보충한 전자 부품(W)을 검출한 시점에서 정지하는 경우가 있다.
한편, 이러한 종류의 검사 장치에서는, 예를 들면 생산 로트(lot)의 전환을 행하기 위하여 전자 부품(W)의 보충을 정지한 경우, 이 정지한 시점에서 각 부품 저장부(21∼23)에 잔류하는 전자 부품(W)의 검사가 종료할 때까지 운전을 계속하도록 하고 있다.
그러나, 상기 종래의 검사 장치에서는, 각 부품 저장부 내의 전자 부품의 충전 레벨을 검출하여 그 레벨 이하가 되면 보충하기 때문에, 부품 저장부 내에서 어떠한 트러블이 발생하여 전자 부품이 반송 플레이트에 공급되지 않게 된 경우에는, 반송 플레이트가 비어 있는 상태임에도 불구하고 운전을 계속하게 되어, 운전 효율이 저하된다고 하는 문제가 있다.
또한 상기 종래 장치에서는, 상술과 같이 전자 부품의 보충을 정지한 시점에서부터, 각 부품 저장부에 체류하는 모든 전자 부품의 검사가 종료될 때까지 운전을 계속하기 때문에, 각 부품 저장부마다의 체류수에 차이가 생긴 경우에는, 비어 있는 반송 경로가 있는 상태에서 운전을 계속하지 않으면 안되어, 가동률이 저하된다고 하는 문제가 있다. 예를 들면, 도 5에 나타내는 바와 같이, 좌측의 부품 저장부(21)는 전자 부품의 체류수가 소량이고, 중앙의 부품 저장부(22)는 체류수가 0이 되고 있음에도 불구하고, 우측의 부품 저장부(23)에는 대량의 전자 부품(W)이 남아 있기 때문에, 처리 능력이 1/3로 저하되더라도 운전을 계속하지 않으면 안된다. 덧붙여서 말하면, 2열의 반송 경로를 가지며, 1택트(tact) 0.1초로 반송 플레이트를 간헐 회전시키는 경우, 생산 로트의 전환시에 각 반송 경로간의 체류수에 1만개의 차이가 생기면, 처리 능력이 1/2로 저하된 상태에서 약 17분간 운전을 계속하지 않으면 안되게 된다.
즉, 종래 장치에서는, 각 부품 저장부 내의 전자 부품의 충전 레벨을 검출하고 있으며, 이 때문에 전자 부품의 사이즈가 예를 들면 0.6㎜×0.3㎜×0.3㎜로 극히 작은 경우에는, 1㎤의 용적에 약 1만개의 전자 부품이 체류하게 된다. 이와 같이 센싱(sensing) 대상이 매우 작아지면 일정수 이상의 덩어리가 없으면 센싱이 곤란해지기 때문에, 결과적으로 전자 부품의 충전량을 많게 할 필요가 있다.
본 발명은 상기 종래의 상황을 감안하여 이루어진 것으로, 전자 부품을 반송 플레이트에 확실하게 공급함으로써 운전 효율의 저하를 방지할 수 있으며, 또한 각 부품 저장부마다의 전자 부품의 체류수의 차이를 가능한 한 작게 하여 가동률의 저하를 방지할 수 있는 전자 부품의 반송 장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시형태에 따른 전자 부품의 검사 장치를 설명하기 위한 반송 플레이트의 부품 저장부의 평면도이다.
도 2는 상기 반송 플레이트의 부품 저장부의 단면 측면도이다.
도 3은 상기 검사 장치의 모식 구성도이다.
도 4는 상기 실시형태의 전자 부품의 체류수와 충전율의 관계를 나타내는 특성도이다.
도 5는 종래의 반송 장치를 나타내는 평면도이다.
도 6은 종래의 반송 장치의 단면 측면도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 간단한 설명>
1 : 검사 장치(반송 장치) 2 : 반송 플레이트
2a: 부품 수납 구멍(부품 수납부) 3∼5 : 부품 저장부
6 : 부품 검사부 7 : 불량품 배출부
8 : 양품 회수부 11 : 카메라(부품 검출 수단)
12 : 컨트롤러(부품 보충 수단) W : 전자 부품
본 발명은 한 방향으로 반송되며, 상기 반송 방향으로 소정 간격을 두고 형성된 다수의 부품 수납부를 갖는 반송 플레이트와, 다수의 전자 부품이 충전된 부품 저장부를 가지며, 상기 부품 저장부에서 공급된 전자 부품을 상기 반송 플레이트의 부품 수납부에 수납하면서 반송하도록 한 전자 부품의 반송 장치에 있어서, 상기 반송 플레이트의 부품 수납부에 수납된 전자 부품의 유무를 검출하는 부품 검출 수단과, 상기 전자 부품의 유무에 따라 상기 부품 저장부 내에 전자 부품을 보충하는 부품 보충 수단을 구비한 것을 특징으로 하고 있다.
본 발명에 있어서, 상기 부품 보충 수단은 상기 부품 수납부에의 전자 부품의 충전율이 소정의 비율을 하회했을 때, 또는 비어 있는 수가 소정 수를 상회했을 때에 소정량의 전자 부품을 보충하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 부품 수납부는 상기 반송 방향과 직교 방향으로 복수열을 이루도록 형성되며, 또한 각 열마다 상기 부품 저장부가 배치되어 있고, 상기 부품 검출 수단은 상기 각 열마다의 전자 부품의 유무를 검출하도록 구성되며, 상기 부품 보충 수단은 각 열마다의 전자 부품의 유무에 따라서 상기 부품 저장부에 전자 부품을 보충하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 부품 검출 수단은 상기 부품 수납부의 전자 부품의 유무를 상기 전자 부품에 접촉하지 않고 검출하는 것을 특징으로 하고 있다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 부품 검출 수단은 상기 부품 수납부의 전자 부품의 유무를 상기 전자 부품에 접촉하여 검출하는 것을 특징으로 하고 있다.
또한, 본 발명에 있어서, 상기 반송 플레이트는 상기 부품 저장부에서 공급된 전자 부품을 상기 전자 부품의 전기적 특성의 측정, 외관 검사를 행함으로써 양부를 선별하는 부품 검사부로 반송함과 아울러, 상기 부품 검사부에서 선별된 전자 부품을 각각 불량품 배출부, 양품 회수부로 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.
<발명의 실시형태>
이하, 본 발명의 실시형태를 첨부 도면에 기초하여 설명한다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 한 실시형태에 따른 전자 부품의 검사 장치(반송 장치)를 설명하기 위한 도면으로, 도 1, 도 2는 반송 플레이트의 부품 저장부의 평면도, 단면 측면도, 도 3은 검사 장치의 모식 구성도이다.
도면에 있어서, 참조부호 1은 전자 부품(W)의 전기적 특성을 측정하여 양부를 선별하는 검사 장치를 나타내고 있으며, 이 검사 장치(1)는 한 방향(a)(시계 둘레)으로 간헐 회전 구동되는 환상(環狀)의 반송 플레이트(2)와, 전자 부품(W)이 충전된 부품 저장부(3, 4, 5)와, 상기 부품 저장부(3∼5)의 거의 90도 하류측에 배치되며, 전자 부품(W)의 전기적 특성을 측정하여 양부를 선별하는 부품 검사부(6)와, 상기 부품 검사부(6)의 거의 90도 하류측에 배치되며, 선별된 불량품을 외부로 배출하는 불량품 배출부(7)와, 상기 불량품 배출부(7)의 거의 90도 하류측에 배치되며, 선별된 양품을 회수하는 양품 회수부(8)를 구비하고 있다. 상기 전자 부품(W)은 직육면체 형상의 부품 소자의 길이 방향 양단부에 전극을 형성하여 이루어지는 칩형상 부품이다.
상기 반송 플레이트(2)는 부품 검사부(6)측(상부)이 양품 회수부(8)측(하부)보다 높은 곳에 위치하도록 경사시켜서 배치되어 있다. 또한, 후술하는 반송 플레이트(2)의 부품 수납 구멍(2a)의 진공 흡인 수단에 의해 반송중에 전자 부품(W)이 흘러 떨어지지 않도록 되어 있다. 한편, 반송 플레이트(2)는 수직으로 배치해도 수평으로 배치해도 된다. 이 반송 플레이트(2)는 도시하지 않은 프레임에 고정된 고정 베이스(9)의 상면에 미끄럼접합 가능하게 접촉하고 있으며, 상기 고정 베이스(9)에 의해 지지되어 있다.
상기 반송 플레이트(2)에는 둘레 방향으로 소정 간격을 두고 형성된 다수의 부품 수납 구멍(2a)이 반경 방향으로 3열 형성되어 있으며, 이것에 의해 반송 플레이트(2)는 3열의 반송 경로(A, B, C)를 갖고 있다. 이 각 부품 수납 구멍(2a)은 1개의 전자 부품(W)이 수납 가능한 크기로 형성되어 있다. 또한 상기 고정베이스(9)의 각 부품 저장부(3∼5)에 면하는 부분에는 부품 수납 구멍(2a)에 연통(連通) 가능한 진공 흡인 구멍(9a)이 형성되어 있으며, 각 진공 흡인 구멍(9a)에는 도시하지 않은 진공 장치가 접속되어 있다. 이것에 의해 각 부품 저장부(3∼5)에 충전된 전자 부품(W)이 간헐 회전 이동하는 반송 플레이트(2)에 공급되면, 상기 반송 플레이트(2)상을 이동하면서 진공 흡인되어 각 부품 수납 구멍(2a) 내에 흡인 지지된다.
상기 각 부품 저장부(3, 4, 5)는 반송 플레이트(2)상의 각 반송 경로(A, B, C)마다 복수의 부품 수납 구멍(2a)을 덮도록 배치되어 있다. 이 각 부품 저장부(3, 4, 5)에는 전자 부품(W)을 보충하는 부품 충전부(10)가 배치되어 있다.
그리고 본 실시형태의 검사 장치(1)는 상기 각 부품 저장부(3∼5)에서 반송 플레이트(2)의 각 부품 수납부(2a)에 공급된 전자 부품(W)의 유무를 검출하는 부품 검출 수단으로서의 3대의 카메라(11)와, 검출한 전자 부품(W)의 유무에 따라서 각 부품 저장부(3∼5)에 부품 보충부(10)를 통하여 전자 부품(W)을 보충하는 부품 보충 수단으로서의 컨트롤러(12)를 구비하고 있다.
상기 각 카메라(11)는 각 부품 저장부(3, 4, 5)의 반송 방향(a) 하류측 바로 근방에 배치되어 있으며, 각 반송 경로(A, B, C)상을 이동하는 전자 부품(W)을 촬상(撮像)하여, 화상을 컨트롤러(12)에 출력한다.
상기 컨트롤러(12)는 각 카메라(11)로부터의 화상에 기초하여 각 반송 경로(A, B, C)에 있어서의 전자 부품(W)의 충전율을 산출하며, 상기 충전율이 소정의 비율을 하회했을 때, 예를 들면 충전율이 99%를 하회했을 때에, 또는 전자부품(W)의 비어 있는 수가 소정 수를 상회했을 때, 예를 들면 비어 있는 수가 3개 연속했을 때에 약 1000개의 전자 부품(W)을 보충하도록 구성되어 있다.
여기에서, 보충의 타이밍으로서는, 충전율과 비어 있는 수의 상관 관계로부터 전자 부품(W)을 보충해도 되고, 또한 예를 들면 100개의 전자 부품(W)을 1단위로 하여, 수 단위에서 본 충전율의 평균이 99%를 하회했을 때에 보충하도록 해도 된다. 또한, 도 4에 나타내는 바와 같이, 충전율과 체류수의 관계를 보면, 충전율이 떨어지면 그것에 따라서 체류수도 감소하는 경향이 있으므로, 충전율이 떨어지기 시작했을 때에 보충하도록 해도 된다.
본 실시형태의 검사 장치(1)는 간헐 회전 이동하는 반송 플레이트(2)상에 각 부품 저장부(3∼5)로부터 전자 부품(W)이 공급되면, 각 전자 부품(W)은 1개씩 부품 수납 구멍(2a) 내에 진공 흡인되어, 상기 부품 수납 구멍(2a)에 지지된 상태로 부품 검사부(6)로 반송된다. 이 부품 검사부(6)에서는, 각 반송 경로(A, B, C)마다 배치된 측정 단자(도시하지 않음)가 전자 부품(W)에 접촉해서, 상기 전자 부품(W)의 전기적 특성을 측정하여 양부를 선별한다. 반송 플레이트(2)가 더욱 간헐 회전 이동하여, 불량품으로 판정된 전자 부품(W)이 불량품 배출부(7)에 위치하면 상기 배출부(7)에서 외부로 배출되고, 양품으로 판정된 전자 부품(W)이 양품 회수부(8)에 위치하면 상기 회수부(8)에 회수된다.
본 실시형태의 검사 장치(1)에 따르면, 반송 플레이트(2)의 부품 수납부(2a)에 수납된 전자 부품(W)의 유무를 검출하도록 하였기 때문에, 반송 플레이트(2)에 수납된 전자 부품(W)의 하나 하나를 감시할 수 있으며, 부품 저장부(3∼5)에 어떠한 트러블이 발생하여 반송 플레이트(2)에 전자 부품(W)을 공급하지 않게 된 경우에는, 공급 불능 상태인 것을 거의 순시에 검출할 수 있어서, 비어 있는 상태로 반송 플레이트(2)를 회전 구동하는 것을 방지할 수 있어, 운전 효율을 높일 수 있다.
본 실시형태에서는, 반송 플레이트(2)에 수납된 전자 부품(W)의 유무를 검출하여, 상기 전자 부품(W)의 충전율, 비어 있는 수에 따라서 소정량의 전자 부품(W)을 보충하도록 하였기 때문에, 반송 플레이트(2)에 전자 부품(W)을 확실하게 공급할 수 있음과 아울러, 각 부품 저장부(3∼5) 내의 전자 부품수를 안정된 적은 양으로 관리할 수 있다. 이것에 의해, 생산 로트(lot)의 전환을 행하기 위하여 전자 부품(W)의 보충을 정지한 시점에서부터, 각 부품 저장부(3∼5)에 체류하는 전자 부품(W)의 모든 양부 검사가 종료될 때까지의 시간을 단축할 수 있으며, 가동률을 높일 수 있다.
본 실시형태에서는, 전자 부품(W)의 충전율이 예를 들면 99%를 하회했을 때, 또는 전자 부품(W)의 비어 있는 수가 3개 이상 연속했을 때에, 전자 부품(W)을 약 1000개 보충하도록 하였기 때문에, 전자 부품(W)의 보충을 효율적으로, 또한 최적의 타이밍으로 행할 수 있으며, 각 부품 저장부(3∼5) 내의 전자 부품(W) 수를 보다 한층 안정된 적은 양으로 관리할 수 있다. 이것에 의해, 각 부품 저장부(3∼5)에 체류하는 전자 부품수의 차이를 1000개 정도로 할 수 있으며, 종래의 부품 저장부의 전자 부품의 체류 레벨을 검출하는 경우에 비하여, 처리 능력이 1/2로 저하된 상태에서의 운전 시간을 종래의 17분간에서 2분간정도로 단축할 수 있다. 여기에서, 상기 비어 있는 수가 3개 연속하면, 3/1000(0.3%)만큼 충전율이 저하되게 되지만, 이것은 통상 허용 범위로 하고 있는 충전율 99%에서 보면 문제가 되는 비어 있는 수는 아니다.
본 실시형태에서는, 각 반송 경로(A, B, C)마다 부품 저장부(3∼5)를 배치하고, 각 반송 경로(A, B, C)마다 검출한 전자 부품(W)의 유무에 따라서 보충하도록 하였기 때문에, 각 부품 저장부(3∼5) 내의 전자 부품수를 안정된 적은 양으로, 또한 대략 동일한 양으로 관리할 수 있으며, 처리 능력을 약 100% 유지한 상태로, 각 부품 저장부(3∼5)에 체류하는 전자 부품(W)의 검사가 종료될 때까지 시간을 단축할 수 있다.
상기 전자 부품(W)의 유무를 카메라(11)에 의해 촬상하여 검출하도록 하였기 때문에, 1개 1개의 전자 부품을 비접촉으로 정밀도 좋게 검출할 수 있으며, 전자 부품을 반송할 때의 영향을 회피할 수 있다.
한편, 상기 실시형태에서는, 전자 부품(W)의 유무를 카메라(11)에 의해 촬상하여 검출한 경우를 설명하였으나, 전자 부품(W)의 유무를 비접촉으로 검출하는 방법으로서는, 광파이버 센서, 광전 센서, 근접 센서, 레이저 센서, 변위 센서 등을 들 수 있다. 이들 센서의 신호에 기초하여, 전자 부품(W)의 충전율을 산출해도 좋다. 상기 센서를 사용한 경우에는, 카메라에 비하여 설치가 용이하고 산출 처리가 간단하다. 또한, 본 발명에서는, 전자 부품의 유무를 검출 단자를 접촉시킴으로써 검출해도 좋으며, 이렇게 한 것이 청구항 5의 발명이다. 여기에서, 상술한 부품 검사부에 배치된 측정 단자를 전자 부품의 유무를 검출하는 검출 단자로서 겸용하는 것도 가능하다. 이와 같이 한 경우에는, 기존의 측정 단자를 그대로 부품 검출 수단으로서 유효하게 이용할 수 있다.
또한, 상기 실시형태에서는, 전자 부품의 양부를 선별하는 검사 장치를 예로 들어 설명하였으나, 본 발명의 반송 장치는 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 전자 부품을 테이핑 등에 의해 포장하도록 한 포장 장치, 또는 전자 부품을 기판에 장착하도록 한 장착 장치 등에도 적용 가능하며, 요컨대 다수의 전자 부품을 소정의 간격을 두고 정렬시켜서 반송하도록 한 반송 장치이면 어느 것에도 적용 가능하다.
본 발명에 따른 반송 장치에 의하면, 반송 플레이트의 부품 수납부에 수납된 전자 부품의 유무를 검출하도록 하였기 때문에, 반송 플레이트에 수납된 전자 부품의 하나 하나를 감시할 수 있으며, 예를 들면 부품 저장부에 어떠한 트러블이 발생하여, 반송 플레이트에 전자 부품이 공급되지 않게 된 경우에는, 공급 불능 상태를 거의 순시에 검출할 수 있어서, 비어 있는 상태로 반송 플레이트를 운전하는 것을 방지할 수 있어, 운전 효율을 높일 수 있다.
본 발명에서는, 반송 플레이트에 수납된 전자 부품의 유무를 검출하고, 상기 전자 부품의 유무에 따라서 부품 저장부에 전자 부품을 보충하도록 하였기 때문에, 반송 플레이트에의 전자 부품의 공급을 확실하게 행할 수 있음과 아울러, 부품 저장부 내의 전자 부품수를 안정된 적은 양으로 관리할 수 있다. 이것에 의해, 전자 부품의 보충을 정지한 시점에서부터, 부품 저장부에 체류하는 전자 부품의 모든 반송이 종료될 때까지의 시간을 단축할 수 있으며, 가동률을 높일 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 부품 수납부에의 전자 부품의 충전율이 소정의 비율을 하회했을 때, 또는 부품 수납부의 비어 있는 수가 소정 수를 상회했을 때에 소정량의 전자 부품을 보충하도록 하였기 때문에, 전자 부품의 보충을 효율적으로, 또한 최적의 타이밍으로 행할 수 있으며, 부품 저장부 내의 전자 부품수를 보다 한층 안정된 적은 양으로 관리할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 부품 수납부의 각 열마다 부품 저장부를 배치하고, 각열마다의 전자 부품의 유무를 검출하여, 상기 검출값에 따라서 부품 저장부에 전자 부품을 보충하도록 하였기 때문에, 각 부품 저장부 내의 전자 부품수를 안정된 적은 양으로, 또한 대략 동일한 양으로 관리할 수 있다. 이것에 의해 전자 부품의 보충을 정지한 시점에서부터, 처리 능력을 약 100% 유지한 상태로, 각 부품 저장부에 체류하는 전자 부품의 반송이 종료될 때까지 시간을 단축할 수 있으며, 가동률을 향상할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 전자 부품의 유무를 비접촉에 의해 검출하도록 하였기 때문에, 하나 하나의 전자 부품을 정밀도 좋게 검출할 수 있으며, 전자 부품을 반송할 때의 영향을 회피할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 전자 부품의 유무를 상기 전자 부품에 접촉시킴으로써 검출하도록 하였기 때문에, 간단한 구성으로 또한 저비용으로 하나 하나의 전자 부품을 확실히 정밀도 좋게 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 부품 저장부에서 공급된 전자 부품을 전기적 특성 또는 외관 검사를 행하는 부품 검사부에 반송함과 아울러, 상기 부품 검사부에서 선별된 전자 부품을 각각 불량품 배출부, 양품 회수부로 반송하도록 하였기 때문에, 전자 부품의 양부를 선별하도록 한 검사 장치의 가동률을 높일 수 있으며, 나아가서는 생산성을 향상할 수 있다.

Claims (6)

  1. 한 방향으로 반송되며, 상기 반송 방향으로 소정 간격을 두고 형성된 다수의 부품 수납부를 갖는 반송 플레이트와, 다수의 전자 부품이 충전된 부품 저장부를 가지며, 상기 부품 저장부에서 공급된 전자 부품을 상기 반송 플레이트의 부품 수납부에 수납하면서 반송하도록 한 전자 부품의 반송 장치로서, 상기 반송 플레이트의 부품 수납부에 수납된 전자 부품의 유무를 검출하는 부품 검출 수단과, 상기 전자 부품의 유무에 따라 상기 부품 저장부 내에 전자 부품을 보충하는 부품 보충 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송 장치．
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 부품 보충 수단은 상기 부품 수납부에의 전자 부품의 충전율이 소정의 비율을 하회했을 때, 또는 비어 있는 수가 소정 수를 상회했을 때에 소정량의 전자 부품을 보충하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송 장치．
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 부품 수납부는 상기 반송 방향과 직교 방향으로 복수열을 이루도록 형성되며, 또한 각 열마다 상기 부품 저장부가 배치되어 있고, 상기 부품 검출 수단은 상기 각 열마다의 전자 부품의 유무를 검출하도록 구성되며, 상기 부품 보충 수단은 각 열마다의 전자 부품의 유무에 따라서 상기 부품 저장부에 전자 부품을 보충하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 부품 검출 수단은 상기 부품 수납부의 전자 부품의 유무를 상기 전자 부품에 접촉하지 않고 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 부품 검출 수단은 상기 부품 수납부의 전자 부품의 유무를 상기 전자 부품에 접촉하여 검출하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 반송 플레이트는 상기 부품 저장부에서 공급된 전자 부품을 상기 전자 부품의 전기적 특성의 측정, 외관 검사를 행함으로써 양부를 선별하는 부품 검사부에 반송함과 아울러, 상기 부품 검사부에서 선별된 전자 부품을 각각 불량품 배출부, 양품 회수부로 반송하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 반송 장치.
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