KR20020041121A - 프로그래머블 임피던스 제어회로 - Google Patents
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Abstract
Description
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- N배의 외부 임피던스에 대하여 M배의 내부 임피던스(여기서, N=M 또는 N≠M)를 사용하는 프로그래머블 임피던스 제어회로에 있어서,제1전압이 인가되는 모스 어레이;N배의 외부 임피던스를 갖는 외부 저항부;상기 모스 어레이와 상기 외부 저항부의 조합으로 얻어지는 제2전압을 출력하는 패드;상기 패드로부터 출력되는 제2전압에 대한 기준전압으로 상기 제1전압의 N/(N+M)배에 해당하는 제3전압을 생성하는 기준전압 생성부;를 구비함을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 1항에 있어서, 상기 기준전압 생성부는;상기 제3전압은 제1전압에 연결된 제1저항과 접지에 연결된 제2저항 사이로부터 출력되며, 상기 제1저항과 제2저항의 비율이 M:N임을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 1항에 있어서, 상기 프로그래머블 임피던스 제어회로는:상기 외부 저항부에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스를 감지하여 이를 출력함과 동시에 상기 모스 어레이로 피드-백 시키는 감지부;를 더 구비함을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 3항에 있어서, 상기 감지부는:상기 외부 저항부에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스에 해당하는 코드를 생성하여 출력함과 동시에 상기 모스 어레이로 상기 코드를 피드-백 시킴을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 3항에 있어서, 상기 감지부는:상기 외부 저항부에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스에 해당하는 전류를 생성하여 출력함과 동시에 상기 모스 어레이로 상기 전류를 피드-백 시킴을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 1항에 있어서, 상기 모스 어레이는:복수의 피모스들로 조합되며, 턴-온된 피모스의 게이트 전압이 드레인 전압에 이르면 인접한 피모스를 하나 더 턴-온 시켜 동작범위를 증가시키도록 구성됨을특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 6항에 있어서, 상기 모스 어레이는:상기 각 피모스들의 게이트와 소오스 사이에 커패시터가 삽입됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 4항 또는 제 5항에 있어서,상기 패드의 출력과 상기 감지부 사이에 로우 패스 필터가 삽입됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 4항에 있어서,상기 프로그래머블 임피던스 제어회로는;풀-업에 따른 코드를 출력하는 풀-업 회로와;풀-다운에 따른 코드를 출력하는 풀-다운 회로;로 구성되며,상기 풀-업 회로의 감지부에서 생성한 상기 임피던스에 해당하는 코드를 피드-백 시켜 상기 풀-다운 회로 감지부의 임피던스에 해당하는 코드를 생성함을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 5항에 있어서,상기 프로그래머블 임피던스 제어회로는;풀-업에 따른 전류를 출력하는 풀-업 회로와;풀-다운에 따른 전류를 출력하는 풀-다운 회로;로 구성되며,상기 풀-업 회로의 감지부에서 생성한 상기 임피던스에 해당하는 전류를 피드-백 시켜 상기 풀-다운 회로 감지부의 임피던스에 해당하는 전류를 생성함을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 10항에 있어서,상기 풀-업 회로와 상기 풀-다운 회로의 업/다운 미스매치를 줄이기 위해 전류 미러가 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- N배의 외부 임피던스에 대하여 M배의 내부 임피던스(여기서, N≠M)를 사용하는 프로그래머블 임피던스 제어회로에 있어서,제1전압이 인가되는 제1모스 어레이,N배의 외부 임피던스를 갖는 외부 저항,상기 제1모스 어레이와 상기 외부 저항의 조합으로 얻어지는 제2전압을 출력하는 패드,상기 패드로부터 출력되는 제2전압에 대한 제1기준전압으로 상기 제1전압의 N/(N+M)배에 해당하는 제1기준전압을 생성하는 제1기준전압 생성부,상기 제2전압을 상기 제1기준전압과 비교하여 상기 제2전압에 대한 상기 제1기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제1비교기,상기 제1비교기로부터 출력되는 임피던스 출력에 대해 상기 임피던스에 해당하는 코드를 생성하여 업-드라이버 및 업-터미네이터로 출력함과 동시에 상기 제1모스 어레이로 피드-백 시키는 제1카운터로 구성되는 풀-업 회로;상기 제1전압이 인가되며, 상기 제1카운터로부터 출력되는 코드를 받아 임피던스를 조정하는 제2모스 어레이,일단이 상기 제2모스 어레이와 연결되고 타단은 접지된 제3모스 어레이,상기 제2모스 어레이와 상기 제3모스 어레이 조합으로 얻어지는 제3전압을 제1전압의 절반인 제2기준전압과 비교하여 상기 제3전압에 대한 상기 제2기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제2비교기,상기 제2비교기로부터 출력되는 임피던스 출력에 대해 상기 임피던스에 해당하는 코드를 생성하여 다운-드라이버 및 다운-터미네이터로 출력함과 동시에 상기 제3모스 어레이로 피드-백 시키는 제2카운터로 구성되는 풀-다운 회로;로 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 12항에 있어서,상기 패드의 출력과 상기 제1비교기 사이, 그리고 상기 제1기준전압 생성부와 제1비교기 사이에는 로우 패스 필터가 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 13항에 있어서, 상기 제1기준전압 생성부는;상기 제1기준전압이 상기 제1전압에 연결된 제1저항과 접지에 연결된 제2저항 사이로부터 출력되며, 상기 제1저항과 제2저항의 비율이 M:N임을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- N배의 외부 임피던스에 대하여 M배의 내부 임피던스(여기서, N≠M)를 사용하는 프로그래머블 임피던스 제어회로에 있어서,제1전압이나 제2전압이 인가되는 피모스 전류원,N배의 외부 임피던스를 갖는 외부 저항,상기 피모스 전류원과 상기 외부 저항의 조합으로 얻어지는 제3전압을 출력하는 패드,상기 패드로부터 출력되는 제3전압에 대한 제1기준전압으로 상기 제1전압의 N/(N+M)배에 해당하는 제4전압을 생성하는 제1기준전압 생성부,상기 제3전압을 상기 제1기준전압인 제4전압과 비교하여 상기 제3전압에 대한 상기 제1기준전압에 상응하는 임피던스를 전류로 생성하는 출력함과 동시에 상기 피모스로 피드-백 시키는 제1비교기,상기 제1비교기로부터의 전류를 복사하는 전류 미러,상기 전류 미러로부터의 출력전압을 상기 제1전압의 절반인 제2기준전압과 비교하여 출력하는 제2비교기,상기 제2비교기로부터의 출력에 상응하는 코드를 생성하여 업-드라이버 및 업-터미네이터로 출력함과 동시에 제1모스 어레이로 피드-백 시키는 제1카운터로 구성되는 풀-업 회로;상기 제1전압이 인가되는 제2모스 어레이,일단이 상기 제2모스 어레이와 연결되고 타단은 접지된 엔모스,상기 제2모스 어레이와 상기 엔모스 조합으로 얻어지는 제5전압을 상기 제2기준전압과 비교하여 상기 제5전압에 대한 상기 제2기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제3비교기,상기 제3비교기로부터 출력되는 임피던스 출력에 대해 상기 임피던스에 해당하는 코드를 생성하여 다운-드라이버 및 다운-터미네이터로 출력함과 동시에 상기 제2모스 어레이로 피드-백 시키는 제2카운터로 구성되는 풀-다운 회로;로 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 15항에 있어서,상기 패드의 출력과 상기 제1비교기 사이, 그리고 상기 제1기준전압 생성부와 제1비교기 사이에는 로우 패스 필터가 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 16항에 있어서, 상기 제1기준전압 생성부는;상기 제4전압이 상기 제1전압에 연결된 제1저항과 접지에 연결된 제2저항 사이로부터 출력되며, 상기 제1저항과 제2저항의 비율이 M:N임을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 15항에 있어서, 상기 전류원은:복수의 피모스들로 조합되며, 턴-온된 피모스의 게이트 전압이 드레인 전압에 이르면 인접한 피모스를 하나 더 턴-온 시켜 동작범위를 증가시키도록 구성됨을 특징으로 하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
- 제 18항에 있어서, 상기 전류원은:상기 각 피모스들의 게이트와 소오스 사이에 커패시터가 삽입됨을 특징으로하는 프로그래머블 임피던스 제어회로.
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DE10146825A DE10146825B4 (de) | 2000-11-27 | 2001-09-19 | Programmierbare Impedanzsteuerschaltung |
JP2001336833A JP4338920B2 (ja) | 2000-11-27 | 2001-11-01 | プログラマブルインピーダンス制御回路 |
US10/357,841 US6661250B2 (en) | 2000-11-27 | 2003-02-04 | Programmable impedance control circuit |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100495660B1 (ko) * | 2002-07-05 | 2005-06-16 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 종결 회로를 구비한 반도체 집적 회로 장치 |
KR100702838B1 (ko) * | 2005-05-09 | 2007-04-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치에서의 임피던스 콘트롤러블 출력 구동회로 및그에 따른 임피던스 콘트롤 방법 |
US7295033B2 (en) | 2004-10-11 | 2007-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Impedance adjustment circuits and methods using replicas of variable impedance circuits |
KR101105543B1 (ko) * | 2010-12-16 | 2012-01-17 | 배문옥 | 입체 녹화용 식물 재배 용기 및 이를 이용한 입체 녹화 시스템 |
Families Citing this family (65)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10118863A1 (de) * | 2001-04-18 | 2002-10-31 | Infineon Technologies Ag | Elektrische Schaltung |
US7102200B2 (en) * | 2001-09-04 | 2006-09-05 | Intel Corporation | On-die termination resistor with analog compensation |
US7733119B1 (en) * | 2002-04-03 | 2010-06-08 | Cirrus Logic, Inc. | Single-resistor static programming circuits and methods |
US6998875B2 (en) * | 2002-12-10 | 2006-02-14 | Ip-First, Llc | Output driver impedance controller |
US6985008B2 (en) * | 2002-12-13 | 2006-01-10 | Ip-First, Llc | Apparatus and method for precisely controlling termination impedance |
US6949949B2 (en) * | 2002-12-17 | 2005-09-27 | Ip-First, Llc | Apparatus and method for adjusting the impedance of an output driver |
US6768351B1 (en) * | 2003-03-26 | 2004-07-27 | Intel Corporation | Apparatus and a method for pMOS drain current degradation compensation |
DE10318523B4 (de) * | 2003-04-24 | 2012-02-02 | Qimonda Ag | Verfahren zum Einstellen einer Terminierungsspannung und eine Eingangsschaltung |
US6924660B2 (en) * | 2003-09-08 | 2005-08-02 | Rambus Inc. | Calibration methods and circuits for optimized on-die termination |
TW200520378A (en) * | 2003-12-09 | 2005-06-16 | Prolific Technology Inc | Impedance matching circuit and method |
US7057415B2 (en) * | 2003-12-10 | 2006-06-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Output buffer compensation control |
US6980020B2 (en) * | 2003-12-19 | 2005-12-27 | Rambus Inc. | Calibration methods and circuits for optimized on-die termination |
TWI304529B (en) * | 2004-01-30 | 2008-12-21 | Realtek Semiconductor Corp | Impedance control circuit and method thereof |
US7115210B2 (en) * | 2004-02-02 | 2006-10-03 | International Business Machines Corporation | Measurement to determine plasma leakage |
TWI373925B (en) | 2004-02-10 | 2012-10-01 | Tridev Res L L C | Tunable resonant circuit, tunable voltage controlled oscillator circuit, tunable low noise amplifier circuit and method of tuning a resonant circuit |
US7508898B2 (en) | 2004-02-10 | 2009-03-24 | Bitwave Semiconductor, Inc. | Programmable radio transceiver |
US7248636B2 (en) * | 2004-04-20 | 2007-07-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Systems and methods for adjusting an output driver |
US7888962B1 (en) * | 2004-07-07 | 2011-02-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Impedance matching circuit |
JP4562175B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-10-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 終端抵抗調整回路 |
US7106074B2 (en) * | 2004-09-30 | 2006-09-12 | Lsi Logic Corporation | Technique for measurement of programmable termination resistor networks on rapidchip and ASIC devices |
US7196567B2 (en) * | 2004-12-20 | 2007-03-27 | Rambus Inc. | Systems and methods for controlling termination resistance values for a plurality of communication channels |
KR100655083B1 (ko) * | 2005-05-11 | 2006-12-08 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치에서의 임피던스 콘트롤 회로 및 임피던스콘트롤 방법 |
JP2007006277A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-01-11 | Nec Electronics Corp | インピーダンス制御回路およびインピーダンス制御方法 |
KR100674978B1 (ko) * | 2005-06-27 | 2007-01-29 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 일부 어드레스 핀의 터미네이션 값을조절하는 방법 및 이를 이용한 반도체 장치 |
US7389194B2 (en) * | 2005-07-06 | 2008-06-17 | Rambus Inc. | Driver calibration methods and circuits |
US7535250B2 (en) | 2005-08-22 | 2009-05-19 | Micron Technology, Inc. | Output impedance calibration circuit with multiple output driver models |
JP4618600B2 (ja) * | 2005-10-17 | 2011-01-26 | エルピーダメモリ株式会社 | キャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 |
US7626416B2 (en) * | 2005-12-12 | 2009-12-01 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for high resolution ZQ calibration |
KR100849065B1 (ko) * | 2005-12-15 | 2008-07-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식 메모리 장치의 드라이버 및 오디티 임피던스 조절방법 |
US7439760B2 (en) | 2005-12-19 | 2008-10-21 | Rambus Inc. | Configurable on-die termination |
US7514954B2 (en) * | 2006-05-10 | 2009-04-07 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for output driver calibration |
US7312629B2 (en) * | 2006-05-17 | 2007-12-25 | Sony Corporation | Programmable impedance control circuit calibrated at Voh, Vol level |
US7672645B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-03-02 | Bitwave Semiconductor, Inc. | Programmable transmitter architecture for non-constant and constant envelope modulation |
US20080007365A1 (en) * | 2006-06-15 | 2008-01-10 | Jeff Venuti | Continuous gain compensation and fast band selection in a multi-standard, multi-frequency synthesizer |
US7557603B2 (en) * | 2006-08-29 | 2009-07-07 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for output driver calibration, and memory devices and system embodying same |
US7411407B2 (en) * | 2006-10-13 | 2008-08-12 | Agilent Technologies, Inc. | Testing target resistances in circuit assemblies |
WO2008050268A2 (en) | 2006-10-25 | 2008-05-02 | Nxp B.V. | Determining on chip load impedance of rf circuit |
KR100866928B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-11-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 적은 전류를 소모하는 온 다이 터미네이션 장치. |
JP4891029B2 (ja) * | 2006-11-02 | 2012-03-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
US7372295B1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-05-13 | Altera Corporation | Techniques for calibrating on-chip termination impedances |
KR100879782B1 (ko) * | 2007-06-26 | 2009-01-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 장치 및 이를 포함하는 반도체메모리장치 |
WO2009042236A1 (en) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuits and methods for programming integrated circuit input and output impedance |
JP5006231B2 (ja) * | 2008-02-26 | 2012-08-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | インピーダンス調整回路 |
KR20090121470A (ko) * | 2008-05-22 | 2009-11-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 임피던스 교정 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
US7782080B2 (en) * | 2008-09-09 | 2010-08-24 | Promos Technologies Pte.Ltd. | High capacitive load and noise tolerant system and method for controlling the drive strength of output drivers in integrated circuit devices |
KR101006090B1 (ko) * | 2008-12-29 | 2011-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
US7696778B1 (en) * | 2009-01-16 | 2010-04-13 | Micron Technology, Inc. | Systems and methods for detecting terminal state and setting output driver impedance |
JP2011101143A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びそのシステムとキャリブレーション方法 |
KR20110051860A (ko) * | 2009-11-11 | 2011-05-18 | 삼성전자주식회사 | 전류 소모를 줄이는 온 다이 터미네이션 구조를 갖는 반도체 장치 및 그 터미네이션 방법 |
US8598861B2 (en) * | 2011-12-19 | 2013-12-03 | O2Micro Inc. | Circuit and method for providing a reference signal |
US9281816B2 (en) | 2012-01-31 | 2016-03-08 | Rambus Inc. | Modulated on-die termination |
DE102012104590A1 (de) * | 2012-05-29 | 2013-12-05 | Infineon Technologies Ag | Treiberschaltung |
US9684350B2 (en) * | 2015-03-27 | 2017-06-20 | Intel Corporation | Calibration scheme for improving flexibility on platform implementation |
US9780785B2 (en) | 2015-12-21 | 2017-10-03 | Integrated Silicon Solution, Inc. | Calibration circuit for on-chip drive and on-die termination |
FR3052271B1 (fr) * | 2016-06-06 | 2020-06-05 | STMicroelectronics (Alps) SAS | Dispositif d'asservissement de tension |
JP6902947B2 (ja) * | 2016-08-26 | 2021-07-14 | エイブリック株式会社 | 半導体装置 |
US9893718B1 (en) | 2016-10-17 | 2018-02-13 | Globalfoundries Inc. | Transmission driver impedance calibration circuit |
US10348270B2 (en) | 2016-12-09 | 2019-07-09 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for calibrating adjustable impedances of a semiconductor device |
TWI634740B (zh) * | 2017-01-18 | 2018-09-01 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 阻抗匹配電路與應用阻抗匹配電路的積體電路 |
US10193711B2 (en) | 2017-06-22 | 2019-01-29 | Micron Technology, Inc. | Timing based arbitration methods and apparatuses for calibrating impedances of a semiconductor device |
US10615798B2 (en) | 2017-10-30 | 2020-04-07 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for identifying memory devices of a semiconductor device sharing an external resistance |
US11947374B2 (en) | 2019-02-04 | 2024-04-02 | Sentient Technology Holdings, LLC | Power supply for electric utility underground equipment |
US10917093B1 (en) * | 2019-11-05 | 2021-02-09 | Micron Technology, Inc. | Self-adaptive termination impedance circuit |
US10747245B1 (en) | 2019-11-19 | 2020-08-18 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for ZQ calibration |
CN112585681B (zh) * | 2020-11-26 | 2023-12-19 | 长江存储科技有限责任公司 | 用于多管芯操作的动态峰值功率管理 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3518562B2 (ja) * | 1995-02-17 | 2004-04-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US5666078A (en) * | 1996-02-07 | 1997-09-09 | International Business Machines Corporation | Programmable impedance output driver |
US5955894A (en) * | 1997-06-25 | 1999-09-21 | Sun Microsystems, Inc. | Method for controlling the impedance of a driver circuit |
JP3515025B2 (ja) * | 1999-09-22 | 2004-04-05 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
-
2000
- 2000-11-27 KR KR10-2000-0070879A patent/KR100375986B1/ko active IP Right Grant
-
2001
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-
2003
- 2003-02-04 US US10/357,841 patent/US6661250B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100495660B1 (ko) * | 2002-07-05 | 2005-06-16 | 삼성전자주식회사 | 온-다이 종결 회로를 구비한 반도체 집적 회로 장치 |
US7295033B2 (en) | 2004-10-11 | 2007-11-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Impedance adjustment circuits and methods using replicas of variable impedance circuits |
KR100702838B1 (ko) * | 2005-05-09 | 2007-04-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치에서의 임피던스 콘트롤러블 출력 구동회로 및그에 따른 임피던스 콘트롤 방법 |
KR101105543B1 (ko) * | 2010-12-16 | 2012-01-17 | 배문옥 | 입체 녹화용 식물 재배 용기 및 이를 이용한 입체 녹화 시스템 |
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