KR100394586B1 - 임피던스 제어회로 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (15)
- 그라운드와 칩의 패드 사이에 연결되며 외부 임피던스에 상응하는 저항값을 갖는 외부 저항;상기 패드와 상기 그라운드 사이에 나타나는 전압을 인가되는 기준전압과 비교하여 임피던스 제어전압을 출력하는 비교기;전원전압에 소오스가 연결되고 상기 패드에 드레인이 연결되며, 상기 비교기로부터의 임피던스 제어전압을 게이트로 수신하여, 상기 임피던스 제어전압에 상응하여 상기 드레인에 나타나는 전류를 상기 패드로 인가하는 피모스 트랜지스터; 및상기 피모스 트랜지스터의 전류를 복사하여 업-드라이버와 다운-드라이버로 인가하기 위해 피모스 타입의 트랜지스터와 엔모스 타입의 트랜지스터로 각기 구성된 전류 미러를 구비함을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
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- 제 1항에 있어서,상기 피모스 전류 미러로부터 복사된 상기 피모스 트랜지스터로부터의 전류를 받아 상기 임피던스에 해당하는 전류를 디지털 코딩하는 제1디지털 코딩부;를 구비하는 풀-업 회로 및;상기 엔모스 전류 미러로부터 복사된 상기 피모스 트랜지스터로부터의 전류를 받아 상기 임피던스에 해당하는 전류를 디지털 코딩하는 제2디지털 코딩부;를 구비하는 풀-다운 회로;를 구비함을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
- 제 4항에 있어서, 상기 풀-업 회로는:정전압원에 일단이 연결되며, 상기 피모스 전류 미러의 전류를 인가 받는 제2피모스 트랜지스터;그라운드와 일단이 연결되며, 상기 제2피모스 트랜지스터와 연결되는 엔모스 검출기;상기 제2피모스 트랜지스터와 상기 엔모스 검출기와의 조합에 의해 출력되는 전압에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제1비교기; 및상기 제1비교기에서 출력하는 임피던스를 디지털 코딩하여 임피던스 코드를 생성한 후, 상기 임피던스 코드를 업-드라이버로 출력하는 제1디지털 코딩부를 구비함을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
- 제 4항에 있어서, 상기 풀-다운 회로는:그라운드와 일단이 연결되며, 상기 엔모스 전류 미러의 전류를 인가받는 제2엔모스 트랜지스터;정전압원에 일단이 연결되며, 상기 제2엔모스 트랜지스터와 연결되는 피모스 검출기;상기 제2엔모스 트랜지스터와 상기 피모스 검출기와의 조합에 의해 출력되는 전압에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제2비교기; 및상기 제2비교기에서 출력하는 임피던스를 디지털 코딩하여 임피던스 코드를 생성한 후, 상기 임피던스 코드를 다운-드라이버로 출력하는 제2디지털 코딩부;를 구비함을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
- 그라운드와 패드 사이에 연결된 외부 저항;상기 패드와 그라운드 사이의 전압을 기준전압과 비교하여 상기 패드와 그라운드 사이의 전압에 대하여 상기 기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하는 제1비교기;정전압원과 상기 패드사이에 소오스-드레인 채널이 연결되며, 상기 제1비교기로부터의 임피던스를 피드-백 받아 상기 제1비교기로부터의 임피던스에 해당하는 전류를 상기 패드에 생성하는 피모스 트랜지스터;상기 피모스 트랜지스터의 전류를 복사하여 풀-업 회로와 풀-다운 회로로 인가하는 피모스 및 엔모스 전류미러;정전압원에 일단이 연결되며, 상기 피모스 전류 미러의 전류를 인가 받는 제2피모스 트랜지스터와;그라운드와 일단이 연결되며, 상기 제2피모스 트랜지스터와 연결되는 엔모스 검출기와,상기 제2피모스 트랜지스터와 상기 엔모스 검출기와의 조합에 의해 출력되는 전압에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하고 이를 다시 상기 엔모스 검출기에 피드백 시키는 제2비교기와,상기 제2비교기에서 출력하는 임피던스를 디지털 코딩하여 임피던스 코드를 생성한 후, 상기 임피던스 코드를 업-드라이버로 출력하는 제1디지털 코딩부로 구성된 풀-업 회로;그라운드와 일단이 연결되며, 상기 엔모스 전류 미러의 전류를 인가받는 제2엔모스 트랜지스터와,정전압원에 일단이 연결되며, 상기 제2엔모스 트랜지스터와 연결되는 피모스 검출기와,상기 제2엔모스 트랜지스터와 상기 피모스 검출기와의 조합에 의해 출력되는 전압에 대한 기준전압에 상응하는 임피던스를 출력하고 이를 다시 상기 피모스 검출기에 피드백 시키는 제3비교기와,상기 제3비교기에서 출력하는 임피던스를 디지털 코딩하여 임피던스 코드를 생성한 후, 상기 임피던스 코드를 다운-드라이버로 출력하는 제2디지털 코딩부로 구성되는 풀-다운 회로;를 구비함을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
- 제 7항에 있어서,상기 외부 저항에 연결되는 패드와 상기 제1비교기 사이에 로우 패스 필터가 구성됨을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
- 제 8항에 있어서,상기 제1기준전압 생성부와 제1비교기 사이에 로우 패스 필터가 구성됨을 특징으로 하는 임피던스 제어회로.
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Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0071832A KR100394586B1 (ko) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 임피던스 제어회로 |
US09/872,894 US6573746B2 (en) | 2000-11-30 | 2001-06-01 | Impedance control circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0071832A KR100394586B1 (ko) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 임피던스 제어회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020042093A KR20020042093A (ko) | 2002-06-05 |
KR100394586B1 true KR100394586B1 (ko) | 2003-08-14 |
Family
ID=19702396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0071832A KR100394586B1 (ko) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 임피던스 제어회로 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6573746B2 (ko) |
KR (1) | KR100394586B1 (ko) |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 2000-11-30 KR KR10-2000-0071832A patent/KR100394586B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-06-01 US US09/872,894 patent/US6573746B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020063575A1 (en) | 2002-05-30 |
US6573746B2 (en) | 2003-06-03 |
KR20020042093A (ko) | 2002-06-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120801 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130731 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140731 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160801 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180731 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190731 Year of fee payment: 17 |