JP3788928B2 - 抵抗可変器 - Google Patents

抵抗可変器 Download PDF

Info

Publication number
JP3788928B2
JP3788928B2 JP2001336812A JP2001336812A JP3788928B2 JP 3788928 B2 JP3788928 B2 JP 3788928B2 JP 2001336812 A JP2001336812 A JP 2001336812A JP 2001336812 A JP2001336812 A JP 2001336812A JP 3788928 B2 JP3788928 B2 JP 3788928B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
resistor
unit
pull
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001336812A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003143002A (ja
Inventor
英生 長野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2001336812A priority Critical patent/JP3788928B2/ja
Priority to US10/135,381 priority patent/US6628223B2/en
Publication of JP2003143002A publication Critical patent/JP2003143002A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3788928B2 publication Critical patent/JP3788928B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0278Arrangements for impedance matching
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0272Arrangements for coupling to multiple lines, e.g. for differential transmission
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/028Arrangements specific to the transmitter end
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0292Arrangements specific to the receiver end

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数のデータ伝送チャネルを有するデータ伝送システムにおいて用いられ、特に受信側デバイスにおいて、入力インピーダンスを調整することが必要なシステムに用いられる。
また、ノート型パソコン等で、高速、低電圧、低ノイズ伝送を特徴とするLVDS(Low Voltage Diffrential Signaling)等の差動出力回路に利用可能な抵抗可変器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図6、図7は従来の伝送システムを示す等価回路図であり、図において、1は1本のデータバスからなる伝送線路、2はその送信側デバイス、3はその受信側デバイスである。
また、4は2本のデータバスからなる伝送線路、5はその送信側デバイス、6は差動増幅することによってノイズを低減する受信側デバイスである。
図8は従来のインピーダンス整合がとられた伝送システムを示す等価回路図であり、図において、11は複数本のデータバスからなる伝送線路、12はその送信側デバイス、13はその受信側デバイス、14は受信側デバイス13の外部の各伝送線路11に設けられた終端抵抗である。
【0003】
次に動作について説明する。
従来のシステム構成として、図6、図7に異なるデバイス間における、データ伝送の等価回路図を示す。
一般的に、伝送線路の伝搬遅延時間が信号の立上り、立下り時間よりも長い場合は、分布定数線路として扱い、反射等のノイズの影響も考慮する必要がある。ここで、高速データ伝送システムにおいては、伝送線路の伝搬遅延時間が信号の立上り、立下り時間よりも長い場合が多く、伝送線路のインピーダンス不整合による反射等のノイズに対する対策が重要となる。
【0004】
これに対して、インピーダンス整合を得るためには、一般的に終端抵抗を用いる。図8において、送信側デバイス12の出力インピーダンスZ1、伝送線路11の特性インピーダンスZ0、終端抵抗14(ZL)の整合(マッチング)がとられている場合、基本的には反射は発生しない。すなわち、高速データ伝送システムにおいては、終端抵抗ZLを伝送線路11の特性インピーダンスZ0に整合させることが重要となる。
しかし、一般的な高速データ伝送システムにおける、送受信デバイスのデータバスは、8ビット、16ビット等、多ビットバスを構成することが多い。このような多ビットバスにおいて、受信側デバイスの入力端子の全てに終端抵抗を付加することは、基板上における素子数を増加させ、システムのコストアップ、基板実装面積の増加を招いていた。
ここで、終端抵抗を受信側デバイスに内蔵すると、その抵抗は、一般的に製造ばらつきが大きく、内蔵することにより、さらに、インピーダンス不整合が発生することが考えられる。また、内蔵した場合、ある狙い目の抵抗値になってしまい、伝送線路の特性インピーダンスが異なるシステムには、デバイスを共用できないといった不都合が発生する。よって、使用される伝送線路の特性インピーダンスに応じて、デバイスの外部に終端抵抗を付加する方が特性面では有利であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来の伝送システムは以上のように構成されているので、高速データ伝送システムのノイズ対策として、終端抵抗を用いてインピーダンス整合させていた。
しかしながら、受信側デバイスの外部に終端抵抗を付加すると、システムのコストアップ、基板実装面積の増加を招き、また、受信側デバイスに終端抵抗を内蔵すると、その抵抗の製造ばらつきにより、インピーダンス不整合が発生してしまうと共に、ある狙い目だけの抵抗値になってしまい、伝送線路の特性インピーダンスが異なるシステムには、デバイスを共用できないなどの課題があった。
【0006】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、半導体チップに終端抵抗を内蔵させ、システムのコストダウンおよび基板実装面積の削減を図り、システムのインピーダンスマッチングをチップ外部の終端抵抗使用時と比較して同程度に保ち、終端抵抗を調整することが可能な抵抗可変器を得ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る抵抗可変器は、高電位電源に複数の抵抗の一端が接続されたプルアップ抵抗部と、複数の抵抗の他端および信号入力端子間にスイッチが接続されたスイッチ回路部と、信号入力端子に一端が接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、モードスイッチの他端にドレインが接続されたNMOSトランジスタ、チップ外部に設けられ、NMOSトランジスタのソースおよび低電位電源間に接続された外部抵抗、入力側が基準電圧生成回路とNMOSトランジスタおよび外部抵抗間のノードとに接続され、出力側がNMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてNMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、モードスイッチおよびNMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、プルアップ抵抗部の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、プルアップ抵抗部の合成抵抗が期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、ラッチ回路から出力されたコードに応じてスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えたものである。
【0008】
この発明に係る抵抗可変器は、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、チップ外部に設けられ、高電位電源に一端が接続された外部抵抗、外部抵抗の他端にソースが接続されたPMOSトランジスタ、入力側が上記基準電圧生成回路と外部抵抗およびPMOSトランジスタ間のノードとに接続され、出力側がPMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてPMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、PMOSトランジスタのドレインおよび信号入力端子間に接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、信号入力端子に複数のスイッチの一端が接続されたスイッチ回路部と、複数のスイッチの他端および低電位電源間に抵抗が接続されたプルダウン抵抗部と、外部抵抗およびPMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、プルダウン抵抗部の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、プルダウン抵抗部の合成抵抗が期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、ラッチ回路から出力されたコードに応じてスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えたものである。
【0009】
この発明に係る抵抗可変器は、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルアップ抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、モードスイッチは、複数の信号入力端子に一端が接続され、セレクタ回路は、複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するようにしたものである。
【0010】
この発明に係る抵抗可変器は、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルダウン抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、モードスイッチは、複数の信号入力端子に一端が接続され、セレクタ回路は、複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するようにしたものである。
【0011】
この発明に係る抵抗可変器は、プルアップ抵抗部を構成する複数の抵抗を、MOSトランジスタのオン抵抗により構成したものである。
【0012】
この発明に係る抵抗可変器は、プルダウン抵抗部を構成する複数の抵抗を、MOSトランジスタのオン抵抗により構成したものである。
【0013】
この発明に係る抵抗可変器は、期待値保持部を、任意に設定されたデジタル期待値コードを保持するレジスタ回路で構成したものである。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の一形態を説明する。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1による抵抗可変器を示す回路図であり、図において、21は電源Vcc(高電位電源)、22は電源21に複数の抵抗素子の一端がそれぞれ接続されたプルアップ抵抗部、23は複数の抵抗素子の他端にそれぞれPMOSトランジスタ(スイッチ)のソースが接続されたスイッチ回路部である。
24はPMOSトランジスタのドレインがそれぞれ接続された信号入力端子、25はモード設定端子、26は信号入力端子24にソースが接続され、モード設定端子25にゲートが接続されたPMOSトランジスタ(モードスイッチ)である。
27は1段のミラー回路およびオペアンプによるバンドギャップ回路により半導体チップ内に構成された基準電圧を生成する基準電圧生成回路である。
28はPMOSトランジスタ26のドレインに、ドレインが接続されたNMOSトランジスタ、29は半導体チップ外部に設けられ、NMOSトランジスタ28のソースおよびグランド(低電位電源)30間に接続された外部抵抗、31は入力側が基準電圧生成回路27とNMOSトランジスタ28および外部抵抗29間のノードとに接続され、出力側がNMOSトランジスタ28のゲートに接続されたオペアンプである。なお、NMOSトランジスタ28、外部抵抗29、およびオペアンプ31により、基準電圧生成回路27によって生成される基準電圧を外部抵抗29に基づいてNMOSトランジスタ28に流れる電流に変換する電圧電流変換部32を構成する。
33はPMOSトランジスタ26およびNMOSトランジスタ28間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路、34はプルアップ抵抗部22の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路33により変換されるデジタル期待値コードを記憶するROM回路(期待値保持部)、35はA/D変換回路33により変換されたデジタルコードと、ROM回路34に記憶されたデジタル期待値コードとを比較し、その誤差量に応じて、プルアップ抵抗部22の合成抵抗がその期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路である。
36はデコーダ回路35によって生成されたコードをモード設定端子25からのモード信号に応じてラッチ出力するラッチ回路、37はラッチ回路36から出力されたコードに応じてスイッチ回路部23の各PMOSトランジスタのオン、オフを制御するセレクタ回路である。
【0015】
次に動作について説明する。
この実施の形態1は、受信側デバイスである半導体チップ内にプルアップ抵抗部22を設け、スイッチ回路部23をオン、オフを制御することによって、所望の終端抵抗を得るものである。以下、具体的な動作について説明する。
まず、終端抵抗としての期待値を100Ωとする場合、初期設定として、スイッチ回路部23において、n個のうちの1からmまでのPMOSトランジスタをオンして、プルアップ抵抗部22において、m個の抵抗素子R1の並列接続により、その合成抵抗R1/m=100Ωとなるようにする。しかしながら、各抵抗素子R1には、製造ばらつきがあり、その合成抵抗R1/mもばらついてしまう。
そこで、モード設定端子25に“L”レベル(有意)のモード信号を入力し、PMOSトランジスタ26をオンさせ、そのPMOSトランジスタ26に電流I1を流させ、PMOSトランジスタ26およびNMOSトランジスタ28間にノード電圧V1を発生させる。
ここで、基準電圧生成回路27は、半導体チップ内のバンドギャップ回路により構成されているので、温度、電圧、製造ばらつきに対してもほぼ不変な基準電圧Vrefを生成する。また、外部抵抗29(R2)も、半導体チップ外部に設けられているので、電圧電流変換部32のオペアンプ31では、基準電圧Vrefを外部抵抗R2に基づいて、温度、電圧、製造ばらつきに対してもほぼ不変なNMOSトランジスタ28に流れる電流I1に変換する。
電流I1、ノード電圧V1は、以下の式で与えられる。
I1=Vref/R2
V1=Vcc−I1×R1/m
∴V1=Vcc−(Vref/R2)×R1/m
【0016】
A/D変換回路33では、PMOSトランジスタ26およびNMOSトランジスタ28間のノード電圧V1をデジタルコードに変換する。
ROM回路34では、プルアップ抵抗部22の合成抵抗の期待値=100Ωに対応するノード電圧に応じたA/D変換回路33により変換されるデジタル期待値コードを予め記憶させておき、デコーダ回路35では、A/D変換回路33により変換された実際に測定されたデジタルコードと、ROM回路34に記憶されたデジタル期待値コードとを比較し、期待値からどれだけずれているかその誤差量を演算し、その誤差量に応じて、プルアップ抵抗部22の合成抵抗がその期待値=100Ωになるように補正するコードを生成する。
ラッチ回路36では、デコーダ回路35によって生成されたコードをモード設定端子25からのモード信号に応じてラッチ出力する。すなわち、モード設定端子25に“L”レベル(有意)のモード信号が入力された場合には、デコーダ回路35によって生成されたコードをそのまま出力し、モード設定端子25に“H”レベル(無意)のモード信号が入力された場合には、デコーダ回路35によって生成されたコードをラッチ出力する。
セレクタ回路37では、ラッチ回路36から出力されたコードに応じてスイッチ回路部23の各PMOSトランジスタのオン、オフを制御し、これらの帰還ループにより、プルアップ抵抗部22において、抵抗素子R1の並列接続により、その合成抵抗が期待値である100Ωとなるようにする。
このように、プルアップ抵抗部22の合成抵抗が期待値となれば、モード設定端子25に“H”レベル(無意)のモード信号が入力され、ラッチ回路36からのコードがラッチ出力され、セレクタ回路37によるスイッチ回路部23の制御が固定されると共に、PMOSトランジスタ26がオフされる。その結果、信号入力端子24に伝送線路からの信号が入力されても電圧電流変換回路32側に影響を与えることはなく、プルアップ抵抗部22における合成抵抗を終端抵抗として構成することができる。
【0017】
以上のように、この実施の形態1によれば、半導体チップ内に、プルアップ抵抗部22からなる終端抵抗を内蔵させることにより、システムのコストダウンおよび基板実装面積の削減を図ることができる。
また、半導体チップ内に内蔵したプルアップ抵抗部22からなる終端抵抗のばらつきを従来と比較して十分に小さくすることができ、システムのインピーダンスマッチングをチップ外部の終端抵抗使用時と比較して同程度に保つことができる。
さらに、外部抵抗29の値を変えることにより、プルアップ抵抗部22からなる終端抵抗を調整することができる。
さらに、受信側デバイスにおいて、プルアップ抵抗部22で終端抵抗を実現することができる。
【0018】
実施の形態2.
図2はこの発明の実施の形態2による抵抗可変器を示す回路図であり、図において、41は半導体チップ外部に設けられ、電源21に一端が接続された外部抵抗、42は外部抵抗41の他端にソースが接続されたPMOSトランジスタ、43は入力側が基準電圧生成回路27と外部抵抗41およびPMOSトランジスタ42間のノードとに接続され、出力側がPMOSトランジスタ42のゲートに接続されたオペアンプである。なお、外部抵抗41、PMOSトランジスタ42、およびオペアンプ43により、基準電圧生成回路27によって生成される基準電圧を外部抵抗41に基づいてPMOSトランジスタ42に流れる電流に変換する電圧電流変換部44を構成する。
45は信号入力端子24に複数のPMOSトランジスタのソースがそれぞれ接続されたスイッチ回路部、46は複数のPMOSトランジスタのドレインおよびグランド30間に抵抗素子がそれぞれ接続されたプルダウン抵抗部である。
47は外部抵抗41およびPMOSトランジスタ42間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路である。
その他の構成については、図1と同一である。
【0019】
次に動作について説明する。
上記実施の形態1では、プルアップ抵抗部22を設けたが、この実施の形態2は、受信側デバイスである半導体チップ内にプルダウン抵抗部46を設け、スイッチ回路部45をオン、オフを制御することによって、所望の終端抵抗を得るものである。以下、具体的な動作について説明する。
初期設定として、スイッチ回路部45において、n個のうちの1からmまでのPMOSトランジスタをオンして、プルダウン抵抗部46において、m個の抵抗素子R1の並列接続により、その合成抵抗R1/m=100Ωとなるようにする。しかしながら、各抵抗素子R1には、製造ばらつきがあり、その合成抵抗R1/mもばらついてしまう。
そこで、モード設定端子25に“L”レベル(有意)のモード信号を入力し、PMOSトランジスタ26をオンさせ、そのPMOSトランジスタ26に電流I1を流させ、外部抵抗41およびPMOSトランジスタ42間にノード電圧V1を発生させる。
ここで、基準電圧生成回路27は、温度、電圧、製造ばらつきに対してもほぼ不変な基準電圧Vrefを生成する。また、外部抵抗41(R2)も、半導体チップ外部に設けられているので、電圧電流変換部44のオペアンプ43では、基準電圧Vrefを外部抵抗R2に基づいて、温度、電圧、製造ばらつきに対してもほぼ不変なPMOSトランジスタ42に流れる電流I1に変換する。
A/D変換回路47では、外部抵抗41およびPMOSトランジスタ42間のノード電圧V1をデジタルコードに変換する。
ROM回路34では、プルダウン抵抗部46の合成抵抗の期待値に対応するノード電圧に応じたA/D変換回路47により変換されるデジタル期待値コードを予め記憶させておき、デコーダ回路35では、A/D変換回路47により変換された実際に測定されたデジタルコードと、ROM回路34に記憶されたデジタル期待値コードとを比較し、期待値からどれだけずれているかその誤差量を演算し、その誤差量に応じて、プルダウン抵抗部46の合成抵抗がその期待値になるように補正するコードを生成する。
ラッチ回路36では、デコーダ回路35によって生成されたコードをモード設定端子25からのモード信号に応じてラッチ出力する。すなわち、モード設定端子25に“L”レベル(有意)のモード信号が入力された場合には、デコーダ回路35によって生成されたコードをそのまま出力し、モード設定端子25に“H”レベル(無意)のモード信号が入力された場合には、デコーダ回路35によって生成されたコードをラッチ出力する。
セレクタ回路37では、ラッチ回路36から出力されたコードに応じてスイッチ回路部45の各PMOSトランジスタのオン、オフを制御し、これらの帰還ループにより、プルダウン抵抗部46において、抵抗素子R1の並列接続により、その合成抵抗が期待値となるようにする。
このように、プルダウン抵抗部46の合成抵抗が期待値となれば、モード設定端子25に“H”レベル(無意)のモード信号が入力され、ラッチ回路36からのコードがラッチ出力され、セレクタ回路37によるスイッチ回路部45の制御が固定されると共に、PMOSトランジスタ26がオフされる。その結果、信号入力端子24に伝送線路からの信号が入力されても電圧電流変換回路44側に影響を与えることはなく、プルダウン抵抗部46における合成抵抗を終端抵抗として構成することができる。
【0020】
以上のように、この実施の形態2によれば、半導体チップ内に、プルダウン抵抗部46からなる終端抵抗を内蔵させることにより、システムのコストダウンおよび基板実装面積の削減を図ることができる。
また、半導体チップ内に内蔵したプルダウン抵抗部46からなる終端抵抗のばらつきを従来と比較して十分に小さくすることができ、システムのインピーダンスマッチングをチップ外部の終端抵抗使用時と比較して同程度に保つことができる。
さらに、外部抵抗41の値を変えることにより、プルダウン抵抗部46からなる終端抵抗を調整することができる。
さらに、受信側デバイスにおいて、プルダウン抵抗部46で終端抵抗を実現することができる。
【0021】
実施の形態3.
図3はこの発明の実施の形態3による抵抗可変器を示す回路図であり、図において、22a,22bは電源21に複数の抵抗素子の一端がそれぞれ接続されたプルアップ抵抗部、23a,23bは複数の抵抗素子の他端にそれぞれPMOSトランジスタのソースが接続されたスイッチ回路部である。
24a,24bはPMOSトランジスタのドレインがそれぞれ接続された信号入力端子、26は信号入力端子24a,24bにソースが接続されたPMOSトランジスタである。
また、セレクタ回路37はラッチ回路36から出力されたコードに応じてスイッチ回路部23a,23bの各PMOSトランジスタのオン、オフを制御するものである。
その他の構成については、図1と同一である。
【0022】
次に動作について説明する。
この実施の形態3は、多ビットのバスからの信号入力に対応したものであり、受信側デバイスにおいて、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルアップ抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備えたものである。
図3は説明を簡単にするために、2ビットのバス(A系統信号入力、B系統信号入力)を例として示したものであり、この場合、2本の伝送線路にそれぞれ対応した信号入力端子24a,24bが存在する。
そして、信号入力端子24aに対応して、プルアップ抵抗部22a、およびスイッチ回路部23aを設け、信号入力端子24bに対応して、プルアップ抵抗部22b、およびスイッチ回路部23bを設ける。
ここで、プルアップ抵抗部22a,22b、およびスイッチ回路部23a,23bは、A系統のプルアップ抵抗部22a、およびスイッチ回路部23aを基準として、B系統のプルアップ抵抗部22b、およびスイッチ回路部23bを全く同一の回路、レイアウトにて配置し、与えるバイアス電圧、および制御電圧も同一とするレプリカ回路によって構成されるものとする。
したがって、A系統とB系統とでは、同一の動作、特性を期待することができる。
【0023】
なお、この実施の形態3では、上記実施の形態1に示したプルアップ抵抗部22からなる抵抗可変器に対応したものを示したが、上記実施の形態2に示したプルダウン抵抗部46からなる抵抗可変器に対応しても良く、同様な効果を奏することができる。
また、図3では、2ビットのバスを例として示したが、3ビット以上のバスに対応させても良く、その場合、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルアップ抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備えれば良い。
【0024】
以上のように、この実施の形態3によれば、多ビットのバスでも、受信側デバイスにおいて、それぞれに対応したプルアップ抵抗部またはプルダウン抵抗部で終端抵抗を実現することができる。
【0025】
実施の形態4.
図4はこの発明の実施の形態4による抵抗可変器を示す回路図であり、図において、51は複数のNMOSトランジスタにより構成されたプルアップ抵抗部である。
その他の構成については、図1と同一である。
【0026】
次に動作について説明する。
上記実施の形態1から3では、プルアップ抵抗部を複数の抵抗素子により構成したが、この実施の形態4では、プルアップ抵抗部51を複数のNMOSトランジスタにより構成し、それら複数のNMOSトランジスタのゲートに共通に電源Vbiasを与え、それらNMOSトランジスタのオン抵抗により、所望の終端抵抗を構成するものである。
このように構成することによって、プルアップ抵抗部51のチップ上の配置面積を小さくすることができる。
なお、この実施の形態4では、上記実施の形態1に示したプルアップ抵抗部22からなる抵抗可変器に対応したものを示したが、上記実施の形態2に示したプルダウン抵抗部46からなる抵抗可変器に対応しても良く、同様な効果を奏することができる。
【0027】
実施の形態5.
図5はこの発明の実施の形態5による抵抗可変器を示す回路図であり、図において、61はプルアップ抵抗部22の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路33により変換されるデジタル期待値コードを保持するレジスタ回路(期待値保持部)であり、このレジスタ回路61は、直接に外部から任意に設定されたデジタル期待値コードを書き込み可能なものである。
その他の構成については、図1と同一である。
【0028】
次に動作について説明する。
上記実施の形態1から4では、デジタル期待値コードが予め書き込まれたROM回路34により構成したが、この実施の形態4では、任意に設定されたデジタル期待値コードを直接に外部から書き込み可能なレジスタ回路61により構成したものである。
このように構成することによって、デジタル期待値コードを任意に設定し、レジスタ回路61に保持させることで、終端抵抗を可変することができる。
なお、この実施の形態5では、上記実施の形態1に示したプルアップ抵抗部22からなる抵抗可変器に対応したものを示したが、上記実施の形態2に示したプルダウン抵抗部46からなる抵抗可変器に対応しても良く、同様な効果を奏することができる。
【0029】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、高電位電源に複数の抵抗の一端が接続されたプルアップ抵抗部と、複数の抵抗の他端および信号入力端子間にスイッチが接続されたスイッチ回路部と、信号入力端子に一端が接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、モードスイッチの他端にドレインが接続されたNMOSトランジスタ、チップ外部に設けられ、NMOSトランジスタのソースおよび低電位電源間に接続された外部抵抗、入力側が基準電圧生成回路とNMOSトランジスタおよび外部抵抗間のノードとに接続され、出力側がNMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてNMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、モードスイッチおよびNMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、プルアップ抵抗部の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、プルアップ抵抗部の合成抵抗が期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、ラッチ回路から出力されたコードに応じてスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えるように構成したので、半導体チップ内に、プルアップ抵抗部からなる終端抵抗を内蔵させることにより、システムのコストダウンおよび基板実装面積の削減を図ることができる。
また、半導体チップ内に内蔵したプルアップ抵抗部からなる終端抵抗のばらつきを従来と比較して十分に小さくすることができ、システムのインピーダンスマッチングをチップ外部の終端抵抗使用時と比較して同程度に保つことができる。
さらに、外部抵抗の値を変えることにより、プルアップ抵抗部からなる終端抵抗を調整することができる。
さらに、受信側デバイスにおいて、プルアップ抵抗部で終端抵抗を実現することができる効果がある。
【0030】
この発明によれば、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、チップ外部に設けられ、高電位電源に一端が接続された外部抵抗、外部抵抗の他端にソースが接続されたPMOSトランジスタ、入力側が上記基準電圧生成回路と外部抵抗およびPMOSトランジスタ間のノードとに接続され、出力側がPMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてPMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、PMOSトランジスタのドレインおよび信号入力端子間に接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、信号入力端子に複数のスイッチの一端が接続されたスイッチ回路部と、複数のスイッチの他端および低電位電源間に抵抗が接続されたプルダウン抵抗部と、外部抵抗およびPMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、プルダウン抵抗部の合成抵抗の期待値に対応するA/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、プルダウン抵抗部の合成抵抗が期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、ラッチ回路から出力されたコードに応じてスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えるように構成したので、半導体チップ内に、プルダウン抵抗部からなる終端抵抗を内蔵させることにより、システムのコストダウンおよび基板実装面積の削減を図ることができる。
また、半導体チップ内に内蔵したプルダウン抵抗部からなる終端抵抗のばらつきを従来と比較して十分に小さくすることができ、システムのインピーダンスマッチングをチップ外部の終端抵抗使用時と比較して同程度に保つことができる。
さらに、外部抵抗の値を変えることにより、プルダウン抵抗部からなる終端抵抗を調整することができる。
さらに、受信側デバイスにおいて、プルダウン抵抗部で終端抵抗を実現することができる効果がある。
【0031】
この発明によれば、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルアップ抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、モードスイッチは、複数の信号入力端子に一端が接続され、セレクタ回路は、複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するように構成したので、多ビットのバスでも、受信側デバイスにおいて、それぞれに対応したプルアップ抵抗部で終端抵抗を実現することができる効果がある。
【0032】
この発明によれば、複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルダウン抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、モードスイッチは、複数の信号入力端子に一端が接続され、セレクタ回路は、複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するように構成したので、多ビットのバスでも、受信側デバイスにおいて、それぞれに対応したプルダウン抵抗部で終端抵抗を実現することができる効果がある。
【0033】
この発明によれば、プルアップ抵抗部を構成する複数の抵抗を、MOSトランジスタのオン抵抗により構成したので、プルアップ抵抗部のチップ上の配置面積を小さくすることができる効果がある。
【0034】
この発明によれば、プルダウン抵抗部を構成する複数の抵抗を、MOSトランジスタのオン抵抗により構成したので、プルダウン抵抗部のチップ上の配置面積を小さくすることができる効果がある。
【0035】
この発明によれば、期待値保持部は、任意に設定されたデジタル期待値コードを保持するレジスタ回路であるように構成したので、デジタル期待値コードを任意に設定し、保持させることで、終端抵抗を可変することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による抵抗可変器を示す回路図である。
【図2】 この発明の実施の形態2による抵抗可変器を示す回路図である。
【図3】 この発明の実施の形態3による抵抗可変器を示す回路図である。
【図4】 この発明の実施の形態4による抵抗可変器を示す回路図である。
【図5】 この発明の実施の形態5による抵抗可変器を示す回路図である。
【図6】 従来の伝送システムを示す等価回路図である。
【図7】 従来の伝送システムを示す等価回路図である。
【図8】 従来のインピーダンス整合がとられた伝送システムを示す等価回路図である。
【符号の説明】
21 電源(高電位電源)、22,22a,22b,51 プルアップ抵抗部、23,23a,23b,45 スイッチ回路部、24,24a,24b 信号入力端子、25 モード設定端子、26 PMOSトランジスタ(モードスイッチ)、27 基準電圧生成回路、28 NMOSトランジスタ、29,41 外部抵抗、30 グランド(低電位電源)、31,43 オペアンプ、32,44電圧電流変換部、33,47 A/D変換回路、34 ROM回路(期待値保持部)、35 デコーダ回路、36 ラッチ回路、37 セレクタ回路、42 PMOSトランジスタ、46 プルダウン抵抗部、61 レジスタ回路(期待値保持部)。

Claims (7)

  1. 高電位電源に複数の抵抗の一端がそれぞれ接続されたプルアップ抵抗部と、
    上記複数の抵抗の他端および信号入力端子間にそれぞれスイッチが接続されたスイッチ回路部と、
    上記信号入力端子に一端が接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、
    基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
    上記モードスイッチの他端にドレインが接続されたNMOSトランジスタ、チップ外部に設けられ、そのNMOSトランジスタのソースおよび低電位電源間に接続された外部抵抗、入力側が上記基準電圧生成回路とNMOSトランジスタおよび外部抵抗間のノードとに接続され、出力側がそのNMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、その基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてNMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、
    上記モードスイッチおよび上記NMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、
    上記プルアップ抵抗部の合成抵抗の期待値に対応する上記A/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、
    上記A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび上記期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、上記プルアップ抵抗部の合成抵抗がその期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、
    上記モード設定端子からの有意なモード信号に応じて上記デコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてそのデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、
    上記ラッチ回路から出力されたコードに応じて上記スイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えた抵抗可変器。
  2. 基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
    チップ外部に設けられ、高電位電源に一端が接続された外部抵抗、その外部抵抗の他端にソースが接続されたPMOSトランジスタ、入力側が上記基準電圧生成回路と外部抵抗およびPMOSトランジスタ間のノードとに接続され、出力側がそのPMOSトランジスタのゲートに接続されたオペアンプからなり、その基準電圧生成回路によって生成される基準電圧を外部抵抗に基づいてPMOSトランジスタに流れる電流に変換する電圧電流変換部と、
    上記PMOSトランジスタのドレインおよび信号入力端子間に接続され、モード設定端子からの有意なモード信号に応じてオンし、無意なモード信号に応じてオフするモードスイッチと、
    上記信号入力端子に複数のスイッチの一端がそれぞれ接続されたスイッチ回路部と、
    上記複数のスイッチの他端および低電位電源間にそれぞれ抵抗が接続されたプルダウン抵抗部と、
    上記外部抵抗および上記PMOSトランジスタ間のノード電圧をデジタルコードに変換するA/D変換回路と、
    上記プルダウン抵抗部の合成抵抗の期待値に対応する上記A/D変換回路により変換されるデジタル期待値コードを保持する期待値保持部と、
    上記A/D変換回路により変換されたデジタルコードおよび上記期待値保持部に保持されたデジタル期待値コードに応じて、上記プルダウン抵抗部の合成抵抗がその期待値になるように補正するコードを生成するデコーダ回路と、
    上記モード設定端子からの有意なモード信号に応じて上記デコーダ回路によって生成されたコードをそのまま出力し、無意なモード信号に応じてそのデコーダ回路によって生成されたコードをラッチ出力するラッチ回路と、
    上記ラッチ回路から出力されたコードに応じて上記スイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御するセレクタ回路とを備えた抵抗可変器。
  3. 複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルアップ抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、
    モードスイッチは、上記複数の信号入力端子に一端がそれぞれ接続され、
    セレクタ回路は、上記複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御することを特徴とする請求項1記載の抵抗可変器。
  4. 複数の信号入力端子のそれぞれに対応して、プルダウン抵抗部およびスイッチ回路部を同一構成としたレプリカ回路を備え、
    モードスイッチは、上記複数の信号入力端子に一端がそれぞれ接続され、
    セレクタ回路は、上記複数のスイッチ回路部の各スイッチのオン、オフを制御することを特徴とする請求項2記載の抵抗可変器。
  5. プルアップ抵抗部を構成する複数の抵抗は、MOSトランジスタのオン抵抗によりそれぞれ構成されたことを特徴とする請求項1記載の抵抗可変器。
  6. プルダウン抵抗部を構成する複数の抵抗は、MOSトランジスタのオン抵抗によりそれぞれ構成されたことを特徴とする請求項2記載の抵抗可変器。
  7. 期待値保持部は、任意に設定されたデジタル期待値コードを保持するレジスタ回路であることを特徴とする請求項1または請求項2記載の抵抗可変器。
JP2001336812A 2001-11-01 2001-11-01 抵抗可変器 Expired - Fee Related JP3788928B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001336812A JP3788928B2 (ja) 2001-11-01 2001-11-01 抵抗可変器
US10/135,381 US6628223B2 (en) 2001-11-01 2002-05-01 Resistance changeable device for data transmission system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001336812A JP3788928B2 (ja) 2001-11-01 2001-11-01 抵抗可変器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003143002A JP2003143002A (ja) 2003-05-16
JP3788928B2 true JP3788928B2 (ja) 2006-06-21

Family

ID=19151574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001336812A Expired - Fee Related JP3788928B2 (ja) 2001-11-01 2001-11-01 抵抗可変器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6628223B2 (ja)
JP (1) JP3788928B2 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6862714B2 (en) * 2002-04-19 2005-03-01 Intel Corporation Accurately tuning resistors
US20040032319A1 (en) * 2002-08-17 2004-02-19 Kye-Hyun Kyung Devices and methods for controlling active termination resistors in a memory system
JP4428504B2 (ja) * 2003-04-23 2010-03-10 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP4201128B2 (ja) * 2003-07-15 2008-12-24 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP4254492B2 (ja) * 2003-11-07 2009-04-15 ソニー株式会社 データ伝送システム、データ送信装置、データ受信装置、データ伝送方法、データ送信方法及びデータ受信方法
JP4026593B2 (ja) * 2003-12-25 2007-12-26 セイコーエプソン株式会社 受信装置
KR100582358B1 (ko) * 2003-12-29 2006-05-22 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 온 다이 터미네이션 구동 회로 및 방법
US6982610B2 (en) * 2004-02-19 2006-01-03 Texas Instruments Incorporated Termination impedance tuning circuit
JP4605692B2 (ja) * 2004-03-19 2011-01-05 株式会社リコー 半導体レーザ変調駆動装置及び画像形成装置
WO2006038531A1 (ja) * 2004-10-07 2006-04-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 半導体装置及びデルタシグマ変調器、並びにそれらの抵抗値調整方法
KR100670699B1 (ko) * 2004-11-01 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 회로를 갖는 반도체메모리소자
JP4143615B2 (ja) 2005-03-03 2008-09-03 エルピーダメモリ株式会社 オンダイターミネーション回路
KR100706580B1 (ko) * 2005-07-13 2007-04-13 삼성전자주식회사 저전압 차동 신호 수신기 및 그 종단 저항값 설정 방법
JP2007060194A (ja) * 2005-08-24 2007-03-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Adコンバータ、adコンバータの制御方法およびadコンバータの接続方法
US7710188B1 (en) 2006-01-13 2010-05-04 Marvell International Ltd. Low-noise, temperature-insensitive, voltage or current input, analog front end architecture
JP4832128B2 (ja) 2006-03-20 2011-12-07 富士通セミコンダクター株式会社 終端抵抗調整方法、半導体集積回路及び半導体装置
US20080162766A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-03 Blaise Fanning Signal techniques for bus interfaces
KR100863535B1 (ko) * 2007-11-02 2008-10-15 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 장치 및 이를 포함하는 반도체메모리장치
JP2009022029A (ja) * 2008-09-01 2009-01-29 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
WO2010035608A1 (en) 2008-09-25 2010-04-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
WO2011052141A1 (ja) * 2009-10-29 2011-05-05 パナソニック株式会社 データ伝送システム
US8531898B2 (en) 2010-04-02 2013-09-10 Samsung Electronics Co., Ltd. On-die termination circuit, data output buffer and semiconductor memory device
TWI492623B (zh) * 2012-06-01 2015-07-11 碩頡科技股份有限公司 訊號接收裝置及使用其之電子設備
CN103491281B (zh) * 2012-06-11 2017-04-12 硕颉科技股份有限公司 讯号接收装置及使用其的电子设备
JP6158029B2 (ja) * 2013-10-10 2017-07-05 日立オートモティブシステムズ株式会社 電子制御装置
JP6371111B2 (ja) * 2014-05-16 2018-08-08 ザインエレクトロニクス株式会社 受信装置
US9912498B2 (en) 2015-03-05 2018-03-06 Micron Technology, Inc. Testing impedance adjustment
US9998123B2 (en) * 2016-05-31 2018-06-12 SK Hynix Inc. Impedance calibration device for semiconductor device
US10411703B1 (en) * 2018-06-05 2019-09-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Impedance matched clock driver with amplitude control
CN111669168A (zh) * 2020-06-18 2020-09-15 烽火通信科技股份有限公司 一种高速电平转换电路
CN114495854B (zh) * 2021-12-28 2023-03-21 绵阳惠科光电科技有限公司 驱动电路、驱动方法和显示装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2674076A1 (fr) * 1991-03-14 1992-09-18 Bull Sa Circuit integre a impedances asservies et application aux emetteurs-recepteurs notamment pour la communication entre unites d'un systeme informatique.
JP3640800B2 (ja) * 1998-05-25 2005-04-20 株式会社東芝 半導体装置
JP3448231B2 (ja) 1998-12-10 2003-09-22 株式会社東芝 半導体装置
US6275119B1 (en) * 1999-08-25 2001-08-14 Micron Technology, Inc. Method to find a value within a range using weighted subranges

Also Published As

Publication number Publication date
US20030080891A1 (en) 2003-05-01
US6628223B2 (en) 2003-09-30
JP2003143002A (ja) 2003-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3788928B2 (ja) 抵抗可変器
US6087853A (en) Controlled output impedance buffer using CMOS technology
US6573746B2 (en) Impedance control circuit
US7564258B2 (en) Calibration methods and circuits to calibrate drive current and termination impedance
US7859296B2 (en) Calibration circuit, on die termination device and semiconductor memory device using the same
US6147520A (en) Integrated circuit having controlled impedance
US7034567B2 (en) Semiconductor devices with reference voltage generators and termination circuits configured to reduce termination mismatch
CN202634471U (zh) 电压模式发射器均衡器
US5955894A (en) Method for controlling the impedance of a driver circuit
US7295033B2 (en) Impedance adjustment circuits and methods using replicas of variable impedance circuits
US6771097B1 (en) Series terminated CMOS output driver with impedance calibration
JP4403462B2 (ja) オンダイターミネーション回路を備えた半導体メモリ装置
US6060907A (en) Impedance control circuit
KR100375986B1 (ko) 프로그래머블 임피던스 제어회로
US8264253B2 (en) Transmitter swing control circuit and method
US20060132179A1 (en) Low voltage differential signaling drivers including branches with series resistors
US7109759B2 (en) Voltage mode current-assisted pre-emphasis driver
US20080079457A1 (en) High speed IO buffer
JPH07297678A (ja) Cmos終端抵抗回路
US7825699B2 (en) Receiver circuit having compensated offset voltage
US6756812B2 (en) Differential termination resistor adjusting circuit
JP2009118480A (ja) オンダイターミネーション装置及びこれを備える半導体メモリ装置
US6531914B2 (en) Internal voltage generation circuit
US20060192705A1 (en) Current source cell and D/A converter using the same
JP4237402B2 (ja) 対称送信ライン駆動用出力バッファ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040927

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060306

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060322

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060324

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090407

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407

Year of fee payment: 5

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120407

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120407

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130407

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140407

Year of fee payment: 8

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees