KR20010064117A - 록킹 시간이 빠른 지연고정루프 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체메모리 장치에 있어서 지연고정루프(DLL, Delay Locked Loop)에 관한 것으로 더욱 상세하게는 딜레이 라인을 큰 딜레이를 가지는 제1딜레이 라인과 최소의 딜레이를 가지는 제2 딜레이 라인을 사용하여 초기의 록킹(Locking) 시간을 빠르게 하였고 두 배의 클록 사이클에 해당하는 펄스폭을 가지는 신호를 생성하여 고주파에서도 동작이 가능하게 하는 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 반도체메모리 장치의 지연고정루프에 있어서, 외부 클록을 입력받아 내부에서 사용하는 레벨 신호를 생성하기 위한 클록버퍼; 상대적으로 큰 단위딜레이로 구성되어 상기 클록버퍼의 출력신호를 지연시키기위한 제1딜레이라인부; 최소 단위딜레이로 구성되어 상기 제1딜레이라인부로부터의 출력신호를 지연시키기 위한 제2딜레이라인부; 상기 제2딜레이라인부로부터의 출력신호를 버퍼링하여 출력하기 위한 지연고정루프신호구동부; 상기 클록버퍼의 출력에 응답하여 네 클록마다 한번씩 클록에 동기되어 두배의 클록사이클에 해당하는 펄스폭을 가지는 제1신호(ref) 및 제2신호(delay_in)를 생성하기 위한 클록분주기; 상기 제2신호가 상기 제1딜레이라인부 및 상기 제2딜레이라인부를 통해 딜레이된 값을 모델링하여 피드백신호를 생성하기 위한 딜레이모델링부; 상기 피드백신호와 상기 제1신호에 응답하여 두 신호의 시간차를 비교하는 제1위상비교기 및 제2위상비교기; 상기 제1위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제1딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제1쉬프팅수단; 및 상기 제2위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제2딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제2쉬프팅수단을 포함하여 이루어진 것에 특징이 있다.
Description
본 발명은 반도체메모리 장치에 관한 것으로, 특히 초기의 록킹(Locking) 시간을 빠르게 하는 지연고정루프에 관한 것이다.
일반적으로 지연고정루프란 반도체메모리 장치에서 클록을 사용하는 동기식 메모리의 내부 클록을 에러 없이 외부 클록과 일치되게 하기 위해서 사용하는 회로이다. 즉 외부에서 들어오는 클록이 내부에서 사용될 때 타이밍 딜레이가 발생하는데, 이 타이밍 딜레이를 제어하여 내부에서 사용하는 클록이 외부에서 들어오는 클록과 동일하도록 하기 위해서 사용한다.
도1은 종래기술에 따른 지연고정루프의 블록도이다.
도1을 참조하면, 외부 클록에 응답하여 내부의 레벨 신호를 생성하는 클록버퍼(100), 여덟 클록마다 한번씩 펄스를 생성하고 한 펄스의 크기가 한 클록 사이클인 클록 분주기(110), 외부 클록과 내부 클록을 비교하는 위상 비교기(120), 위상 비교기의 출력에 응답하여 쉬프트 레지스터를 좌우로 이동시키는 신호를 생성하는쉬프트 제어기(130), 쉬프트 제어기의 제어를 받아서 좌우로 이동하는 쉬프트 레지스터(140), 신호 떨림(Jitter)을 줄이기 위하여 최소의 단위 딜레이로 구성된 딜레이 라인(150), 외부에서 유입된 클록과 실제 내부 클록간의 시간 차이를 보상해 주는 딜레이 모델(160), 지연고정루프회로에서 발생된 클록신호를 내부로 구동시키는 지연고정루프 신호 구동기(170)으로 구성되어 있다.
구체적으로 설명되지 않은 각 블록들의 입출력 신호 관계에 대해서는 후술되는 세부 구성 설명 및 동작 설명에서 상세히 언급될 것이다.
도2a는 종래기술에 따른 위상 비교기(120)와 쉬프트 제어기(130)를 도시한 것이다.
위상 비교기는, 클록분주기에서 출력된 제1신호 ref와 외부에서 들어온 클록과 실제 내부에서 사용된 클록의 시간 차를 보상해 주는 딜레이 모델에서 딜레이를 거친 피드백신호 feedback을 입력으로 하여 외부의 제1신호(ref)과 내부의 클록 피드백신호(feedback)을 비교하는 회로이다. 구성은 상기 제1신호 ref와 상기 피드백신호 feedback을 입력으로 하는 두개의 비교기(122)와 상기 피드백신호 feedback을 딜레이 시키는 단위 딜레이(121)와 상기 피드백신호 feedback과 상기 제1신호 ref를 부정논리합한 후 그 출력 신호를 입력으로 하여 출력신호 cmp_pulse를 발생시키는 제어수단(123)으로 이루어져 있다. 쉬프트 제어기는 비교기(130)는 비교기의 출력 신호 PC0 및 PC2를 입력받는 난드게이트(131), 비교기의 출력 신호 PC1 및 PC2를 입력받는 난드게이트(132),상기 난드게이트(131)의 출력을 반전시키는 인버터(133), 상기 난드게이트(132)의 출력을 반전시키는 인버터(134), 상기 인버터(133)의 출력과 펄스발생기(123)의 출력 신호 cmp_pulse를 입력받는 난드게이트(135), 상기 인버터(134)의 출력과 펄스발생기(123)의 출력 신호 cmp_pulse를 입력받는 난드게이트(136), 상기 난드게이트(135)의 출력을 반전시켜 신호 SR을 출력하는 인버터(137), 상기 난드게이트(136)의 출력을 반전시켜 신호 SL을 출력하는 인버터(138)로 구성되어 있다.
전체적인 동작은 상기 피드백신호 feedback과 단위 딜레이(121)의 출력 신호 1delay를 상기 제1신호 ref와 비교하여 상기 피드백신호 feedback과 상기 신호 1delay가 상기 제1신호 ref의 왼쪽에 있으면 우로 이동시키기 위해 제어 신호 SR을 생성하고 상기 피드백신호 feedback이 상기 제1신호 ref의 왼쪽에 있고 상기 신호 1delay가 상기 제1신호 ref의 오른쪽에 있으면 록킹(Locking)되고 상기 피드백신호 feedback과 상기 신호 1delay가 모두 오른쪽에 있으면 너무 딜레이된 것이므로 좌로 이동시키기 위해 제어 신호 SL을 생성한다.
도3은 딜레이 라인과 쉬프트 레지스터를 도시한 블록도이다. 쉬프트 레지스터는 딜레이를 발생시키는 최적의 값을 제공해준다. 쉬프트 제어기(130)의 출력 SR,SL을 받아서 동작시킨다. 상기 신호 SR을 받으면 레지스터를 오른쪽으로 이동시키고 상기 신호 SL을 받으면 레지스터를 오른쪽으로 이동시켜 준다. 쉬프트 레지스터의 출력이 전부 로우이고 하나만 하이이면 그 곳이 딜레이의 위치를 나타내 준다. 이렇게해서 출력된 하이값은 난드 게이트를 거쳐서 딜레이 라인으로 입력되는데, 딜레이 라인은 신호 떨림(Jitter)을 줄이기 위하여 최소의 딜레이로 구성된 단위 딜레이들로 되어 있고 쉬프트 레지스터의 제어를 받아서 출력 신호 rclk_dll,fclk_dll을 만든다. 또한 여덟번 째 클록마다 펄스가 뜨는 제2신호 delay_in을 받아서 위상 비교기로 입력되는 신호를 출력한다.
도4의 신호 흐름도를 참조하여 종래기술의 동작에 대하여 설명하면, 먼저 외부에서 들어오는 클록을 받아서 여덟 클록마다 한번씩 동기되는 제2신호 delay_in과 그의 반전된 제1신호 ref를 만들어준다. 상기 제1신호 ref는 비교하는 기준이 되는 신호로 쓰이고 상기 제2신호 delay_in은 클록 분주기에서 출력된 신호로써 딜레이 라인을 거치고 딜레이 모델을 거쳐서 나오는 피드백신호 feedback을 만들어낸다. 상기 피드백신호 feedback은 기준되는 제1신호 ref의 상승 에지와 위상 비교기에서 비교되어져 쉬프트 레지스터를 동작시킨다. 이런 식으로 반복하면서 제1신호 ref와 상기 피드백신호 feedback과 의 최소의 신호 떨림(Jitter)를 가지는 순간에 록킹(Locking)시킨다. 즉 외부에서 들어오는 클록과 내부에서 들어오는 클록과의 시간차를 보상하여 주므로써, 실제 내부에서 동작하는 클록(rclk_dll, fclk_dll)은 내부 딜레이를 거쳐서 외부 클록과 동기되어 동작하게 된다.
여기서 제1신호 ref의 펄스 폭을 5n초라고 하고 단위딜레이의 펄스 폭을 0.2n초, 딜레이모델의 펄스 폭을 5n초라고 하면 단위딜레이와 딜레이모델을 지나서 나오는 피드백신호 feedback은 5.2n초가 되고 비교되는 제1신호 ref가 5n초이므로 제1신호 ref보다 나중에 오게 된다. 이런 경우 위상비교기는 처음부터 왼쪽으로 이동하는 쉬프트를 수행하여야 하는데 딜레이 라인은 처음에 왼쪽으로 이동할 수 없으므로 지연고정루프는 원하는 내부 클록을 만들 수 없게 된다.(도5a 참조)
이와 같은 이유로 고주파로 가면 기존의 지연고정루프 회로는 원하는 내부클록을 찾지 못하게 된다.
종래 기술의 또 다른 문제점은 단위딜레이가 0.2n초로 매우 작기 때문에 저주파에서 상기 제1신호 ref와 상기 피드백신호 feedback을 비교하여 록킹하는데 오랜 시간을 필요로 한다. 예를 들어 클록 사이클이 15n초라고 하면 상기 제1신호 ref는 15n초의 펄스를 갖고 딜레이를 거쳐나온 피드백신호 feedback은 5.2n초를 갖는데 이 두 신호를 비교하여 두 신호가 동기되는 때까지 딜레이를 15n초 - 5.2n초 = 9.8n초를 주어야 한다. 9.8n초의 딜레이를 주기 위해서는 9.8n초/0.2n초 = 49, 즉 49번의 쉬프트를 해 주어야한다는 결론이 나오는데 이것은 록킹(Locking)하는데 오랜 시간이 걸린 것이다.(도5b 참조)
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로써, 신호의 펄스 길이를 두배의 클록 사이클로 하여 고주파에서도 동작이 가능하며 또한, 시간 지연을 조정하여 록킹(Locking)하는데 빠른 시간을 가지는 지연 고정 루프를 제공하는데 그 목적이 있다.
도1은 종래기술의 지연고정루프 블록도,
도2a는 종래기술의 위상 비교기 블록도,
도2b, 도2c, 도2d는 종래기술의 위상비교기의 신호 흐름도,
도3은 종래기술의 딜레이 라인과 쉬프트 레지스터의 블록도,
도4는 종래기술의 지연고정루프의 신호 흐름도,
도5a, 도5b는 종래기술의 문제점에 대한 신호 흐름도,
도5c는 본 발명의 개선 사항에 대한 신호 흐름도,
도6은 본 발명에 대한 지연고정루프의 블록도,
도7은 본 발명에 대한 지연고정루프의 신호 흐름도,
도8a은 본 발명에서 사용된 제1위상 비교기의 블록도,
도8b는 본 발명에서 사용된 제1위상 비교기의 신호 흐름도,
도9a는 본 발명에서 사용된 제2위상 비교기의 블록도,
도9b는 본 발명에서 사용된 제2위상 비교기의 신호 흐름도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
600 : 클록 버퍼 610 : 클록 분주기
620 : 제1위상 비교기 630 : 제1쉬프트 제어기
640 : 제1쉬프트 레지스터 650 : 제1딜레이 라인
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 지연고정루프 회로는, 반도체메모리 장치의 지연고정루프에 있어서, 외부 클록을 입력받아 내부에서 사용하는 레벨 신호를 생성하기 위한 클록버퍼; 상대적으로 큰 단위딜레이로 구성되어 상기 클록버퍼의 출력신호를 지연시키기위한 제1딜레이라인부; 최소 단위딜레이로 구성되어 상기 제1딜레이라인부로부터의 출력신호를 지연시키기 위한 제2딜레이라인부; 상기 제2딜레이라인부로부터의 출력신호를 버퍼링하여 출력하기 위한 지연고정루프신호구동부; 상기 클록버퍼의 출력에 응답하여 네 클록마다 한번씩 클록에 동기되어 두배의 클록사이클에 해당하는 펄스폭을 가지는 제1신호(ref) 및 제2신호(delay_in)를 생성하기 위한 클록분주기; 상기 제2신호가 상기 제1딜레이라인부 및 상기 제2딜레이라인부를 통해 딜레이된 값을 모델링하여 피드백신호를 생성하기 위한 딜레이모델링부; 상기 피드백신호와 상기 제1신호에 응답하여 두 신호의 시간차를 비교하는 제1위상비교기 및 제2위상비교기; 상기 제1위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제1딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제1쉬프팅수단; 및 상기 제2위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제2딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제2쉬프팅수단을 포함하여 이루어진다.
이와같이 본 발명은 상기 클록 버퍼의 출력에 응답하여 네 클록마다 한번씩 클록에 동기되어 두배의 클록사이클에 해당하는 펄스폭을 가지는 신호를 생성하는 클록 분주기와 제1딜레이 라인부 및 제2딜레이 라인부를 포함하는 구성을 가지고 있어 먼저 큰 딜레이를 가진 제1 딜레이 라인부로 딜레이를 맞추어 시간차이를 많이 좁힌후에 최소의 딜레이를 가진 제2 딜레이 라인부로 정밀한 딜레이 조정을 해 주기 때문에 고주파에서도 동작이 가능하고 저주파에서도 초기에 빠른 록킹(Locking)시간을 달성할 수 있다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도6은 본 발명의 지연고정루프의 블록도로써, 그의 구성은 외부 클록 신호 CLKb를 입력으로 내부 레벨 신호 fall_clk을 생성하는 제1클록버퍼(610)와, 외부 클록 신호 CLK를 입력으로 내부 레벨 신호 rise_clk을 생성하는 제2클록버퍼(610)과, 상기 내부 레벨 신호 rise_clk을 입력으로 네 클록마다 펄스를 띄우는 제2신호 delay_in과 이에 반전된 제1신호 ref를 생성하는 클록 분주기(620)와, 단위 딜레이를 통해서 딜레이 된 딜레이 모델부(690)의 출력이 피드백되어 온 피드백 신호(feedback)와 클록 분주기(620)로부터의 제1신호(ref)에 응답하여 두 신호의 시간차를 비교하는 제1위상 비교기(630) 및 제2위상 비교기(660)와, 상기 제1위상 비교기(630)의 출력 신호(pc_2n<0:1>)에 응답하여 쉬프트 레지스터단(650)을 제어해주는 제1쉬프트 제어기(640)와, 제1쉬프트 제어기(640)의 출력 신호 SR_2, SL_2를 입력으로 딜레이를 좌측이나 우츨으로 이동시키는 제1쉬프트 레지스터(650)와, 제1쉬프트 레지스터의 제어를 받는 큰 딜레이 라인으로 구성된 제1딜레이 라인부(710)와, 상기 제2위상 비교기(660)의 출력 신호에 응답하여 쉬프트 레지스터단을 제어해주는 제2쉬프트 제어기(670)와, 상기 제2딜레이 라인부를 제어하는 제2쉬프트 레지스터(680)와, 제1딜레이 라인부에서 딜레이를 거쳐서 나온 신호를 입력으로 하는 최소의 딜레이로 구성된 제2딜레이 라인부(720)와, 상기 제2딜레이 라인부(720)에서 출력된 신호에 응답하여 클록의 시간차를 보상하기 위한 딜레이모델부(690)와, 상기 제2딜레이 라인부의 두개의 출력 신호(fclk_dll, rclk_dll)에 응답하여 두 신호를 버퍼링하여 출력하는 지연고정루프 신호 구동기(700)를 포함하여 이루어진다.
도7은 본 발명의 지연 고정 루프 회로의 타이밍도로써, 도7을 참조하여 본 발명의 지연고정루프 회로의 동작상 특징을 간략히 설명하면, 먼저 외부에서 들어오는 clk, clkb를 내부에서 사용하는 레벨 신호 rise_clk, fall_clk로 바꾸어주는 클록 버퍼(610)가 있고, 주기마다 펄스를 생성하는 클록 분주기(620)가 있는데, 종래의 회로에서는 여덟번에 한번씩 클록에 동기되는 펄스를 발생하였지만 본 발명에서는 네번에 한번씩 클록에 동기되는 펄스를 만들어내고 그 펄스의 길이가 두배의 클록사이클이다. 네번마다 한번씩 상기 신호 rise_clk클록에 맞추어 발생하는 제2신호 delay_in을 생성하고 위상이 반대인 제1신호 ref를 생성한다. 상기 제1신호 ref와 딜레이모델링부(690)에서 발생된신호 피드백신호 feedback을 입력으로 해서 제1신호(ref)와 상기 피드백신호 feedback을 비교하는 위상비교기(630,670)가 있는데 딜레이라인부(710,720)에 따라서 제1위상비교기(630)와 제2위상비교기(660)로 나뉜다. 여기서 설명되지 않은 구체적인 동작은 상세히 후술될 것이다.
도8a는 제1위상 비교기와 제1 쉬프트 제어기의 회로도이고, 도8b는 그에 따른 타이밍도로써, 도8a와 도8b를 참조하여 제1위상비교기(630)와 제1쉬프트 제어기(640)에 대하여 살펴보자. 먼저 제1위상 비교기(630)의 구성은 상기 제1신호 ref와 상기 피드백신호 feedback을 입력으로 하는 두개의 비교기(631)와 상기 피드백신호 feedback을 딜레이 시키는 단위 딜레이(632)와, 신호 2n_comparator_end와신호 dll_reset을 부정논리합한 후, 그 출력신호와 상기 제1신호 ref와 상기 피드백신호 feedback을 부정논리곱한 후 그 출력신호를 입력으로 해서 출력 신호 cmp_pulse를 생성하는 제어수단(633)으로 이루어져 있다.
쉬프트 제어기(640)는 제1위상 비교기(630)의 출력 신호 PC0,PC2를 입력으로 하는 난드게이트(641)와, 난드게이트(641)의 출력을 반전하는 제1인버터(642), 인버터(641)의 출력신호와 제어수단(633)의 출력신호 cmp_pulse를 입력으로 하는 난드게이트(643) 및 난드게이트(643)의 출력 반전하여 출력 신호 SR을 생성하는 인버터(644)로 구성되어 있다.
종래의 위상비교기와 동작이 같으며 다른 점은 오른쪽으로 이동하는 동작만 수행한다. 제1신호 ref와 딜레이 된 피드백신호 feedback을 비교해 준 신호 PC0와 제1신호 ref와 딜레이 된 피드백신호 feedback을 하나의 단위 딜레이를 거친 신호 1delay와 비교해준 신호 PC<1>을 조합하여 쉬프트 제어기는 우로 이동하는 신호 SR을 생성한다.
상기 피드백신호 feedback과 상기 신호 1delay가 제1신호 ref보다 앞에 있을 경우 신호 SR을 생성하여 제1쉬프트 레지스터(650)에서 오른쪽 쉬프트가 되도록한다. 상기 피드백신호 feedback이 제1신호 ref보다 앞에 있고 상기 신호 1delay가 제1신호 ref보다 뒤에 있을 경우 록킹(Locking)이 걸리게 된다.
도9a, 도9b는 제2위상 비교기(660)와 제2쉬프트 제어기(670)에 대한 회로도와 신호 흐름도이다. 제2위상 비교기(640)는 제1신호 ref와 피드백신호 feedback을 입력으로 하는 두개의 비교기(661)와 상기 피드백신호 feedback을 딜레이 시키는 단위 딜레이(662)와 제1신호 ref와 피드백신호 feedback을 입력으로 해서 출력 신호 cmp_pulse를 생성하는 제어수단(663)으로 구성되어 있다.
제2쉬프트 제어기(670)는 제2위상비교기의 출력 신호 PC0,PC2를 입력받는 난드게이트(671)와 이를 반전시킨 인버터(672), 제2위상비교기의 출력신호 PC1,PC3를 입력받는 난드게이트(673)와 이를 반전시킨 인버터(674) 및 상기 인버터(672)의 출력신호와 제어수단(663)의 출력신호 cmp_pulse를 입력받는 난드게이트(675)와 이를 반전시켜 출력신호 SR을 생성하는 인버터(676), 상기 인버터(674)의 출력신호와 제어수단(663)의 출력신호 cmp_pulse를 입력받는 난드게이트와(678)dhk 이를 반전시켜 출력신호 SL을 생성하는 인버터(679)로 구성되어 있다.
동작은 종래의 위상비교기와 같다. 제어수단(663)은 제1신호 ref와 상기 딜레이된 피드백신호 feedback가 동시에 하이인 구간에서 펄스를 만든다. 이렇게 만들어진 com_pulse신호가 뜰때 제2쉬프트 제어기(670)는 위상비교기를 통해 나온 신호 PC0, PC1, PC2, PC3을 받아서 SR,SL신호를 출력한다.
제2위상 비교기의 입력 신호 2n_comparator_end신호는 이러한 동작의 시작을 알려주는 신호이다. 내부클록이 2n초의 딜레이를 갖게 될 때 상기 신호 2n_comparator_end는 로우 값을 갖게 된다. 제1딜레이 라인으로 시간차를 보상하는 동작이 끝난 후에 제2딜레이 라인으로 시간차를 보상하는 동작을 할 수 있도록 제어해 주는 신호로써 쓰인다.
딜레이모델링부(690)은 외부에서 들어온 클록과 실제 내부에서 사용되는 클록의 시간차를 보상하기 위하여 만들어진 회로이다.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
상기와 같이 본 발명은 비교하는 기준 시점을 두 배의 클록 사이클에 해당하는 펄스를 사용함으로써 고주파에서도 동작이 가능하게 하였으며, 비교하는 기준 신호와의 딜레이 차가 큰 경우에 록킹(Locking)시간이 오래 걸렸던 것을 큰 제1딜레이 라인과 최소의 제2딜레이 라인을 사용함으로써 록킹(Locking)하는데 걸리는 시간을 줄여 준다.
Claims (12)
- 반도체메모리 장치의 지연고정루프에 있어서,외부 클록을 입력받아 내부에서 사용하는 레벨 신호를 생성하기 위한 클록버퍼;상대적으로 큰 단위딜레이로 구성되어 상기 클록버퍼의 출력신호를 지연시키기위한 제1딜레이라인부;최소 단위딜레이로 구성되어 상기 제1딜레이라인부로부터의 출력신호를 지연시키기 위한 제2딜레이라인부;상기 제2딜레이라인부로부터의 출력신호를 버퍼링하여 출력하기 위한 지연고정루프신호구동부;상기 클록버퍼의 출력에 응답하여 네 클록마다 한번씩 클록에 동기되어 두배의 클록사이클에 해당하는 펄스폭을 가지는 제1신호(ref) 및 제2신호(delay_in)를 생성하기 위한 클록분주기;상기 제2신호가 상기 제1딜레이라인부 및 상기 제2딜레이라인부를 통해 딜레이된 값을 모델링하여 피드백신호를 생성하기 위한 딜레이모델링부;상기 피드백신호와 상기 제1신호에 응답하여 두 신호의 시간차를 비교하는 제1위상비교기 및 제2위상비교기;상기 제1위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제1딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제1쉬프팅수단; 및상기 제2위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제2딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제2쉬프팅수단을 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제1항에 있어서,상기 제1쉬프팅수단은,상기 제1딜레이라인부의 딜레이값을 조절하는 제1쉬프트레지스터; 및상기 제1위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제1쉬프트레지스터에 저장된 값을 제1방향으로 쉬프트 제어하기 위한 제1쉬프터제어기를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제1항에 있어서,상기 제2쉬프팅수단은,상기 제2딜레이라인부의 딜레이값을 조절하기 위한 제2쉬프트레지스터; 및상기 제2위상비교기의 출력신호에 응답하여 상기 제2쉬프트레지스터에 저장된 값을 제1 및 제2 방향으로 쉬프트 제어하기 위한 제1쉬프터제어기를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제2항에 있어서,상기 제1위상비교기는,상기 제1신호와 상기 피드백신호에 응답하는 입력된 신호의 선후를 비교하기 위한 제1비교기;상기 피드백신호를 딜레이시키는 단위딜레이;상기 제1신호와 상기 단위딜레이의 출력신호에 응답하여 입력된 신호의 선후를 비교하기 위한 제2비교기; 및리셋신호와, 상기 제1신호 및 상기 피드백신호에 응답하여 상기 제1쉬프트제어기를 리셋시키기 위한 제어수단를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제4항에 있어서,상기 제어수단의 리셋신호는 상기 제1 및 제2 비교기의 출력에 응답하여 시간 지연량의 조절이 끝남을 감지한 감지신호 및 외부로부터의 입력되는 지연고정루프리셋신호를 포함하는 것을 특징으로 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제5항에 있어서,상기 제어수단은,상기 감지신호와 상기 지연고정루프리셋신호를 부정논리합하는 제1노아게이트;상기 노아게이트의 출력과 상기 제1신호와 상기 피드백신호를 부정논리곱하는 난드게이트; 및상기 난드게이트의 출력신호를 지연반전시키기 위한 직렬연결된 다수의 인버터;상기 인버터의 출력신호와 상기 난드게이트의 출력신호를 부정논리합한 리셋제어신호를 출력하는 제2노아게이트를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제4항에 있어서,제1쉬프트제어기는,상기 제1비교기로부터의 출력신호와 상기 제2비교기로부터의 출력신호를 부정논리곱하는 제1난드게이트;상기 제1난드게이트의 출력을 반전하기 위한 제1인버터;상기 제1인버터의 출력신호와 상기 제어수단의 출력신호에 응답하여 부정논리곱하는 제2난드게이트; 및상기 제2난드게이트의 출력을 반전하여 상기 제1쉬프트레지스터를 제1방향으로 이동시키기 위한 쉬프팅제어신호를 출력하는 제2인버터를 포함하여 이루어진 반도체메모리 장치의 지연고정루프.
- 제3항에 있어서,상기 제2위상비교기는,상기 제1신호와 상기 피드백신호에 응답하는 입력된 신호의 선후를 비교하기 위한 제1비교기;상기 피드백신호를 딜레이시키는 단위딜레이;상기 제1신호와 상기 단위딜레이의 출력신호에 응답하여 입력된 신호의 선후를 비교하기 위한 제2비교기; 및리셋신호와, 상기 제1신호 및 상기 피드백신호에 응답하여 상기 제1쉬프트제어기를 리셋시키기 위한 제어수단를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제8항에 있어서,상기 제어수단의 리셋신호는 상기 제1 및 제2 비교기의 출력에 응답하여 시간 지연량의 조절이 끝남을 감지한 감지신호임을 특징으로 하는 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제8항에 있어서,상기 제어수단은,상기 감지신호를 반전하는 인버터;상기 인버터의 출력과 상기 제1신호와 상기 피트백신호를 부정논리곱하는 난드게이트; 및상기 난드게이트의 출력신호를 지연반전시키는 직렬연결된 다수의 인버터단;상기 인버터단의 출력과 상기 난드게이트의 출력을 부정논리합하여 상기 제2쉬프트제어기를 리셋시키기 위한 리셋제어신호를 출력하는 노아게이트를 포함하여 이루어진 반도체메모리 장치의 지연고정루프.
- 제8항에 있어서,제2쉬프트제어기는,상기 제1비교기로부터의 출력신호와 상기 제2비교기로부터의 출력신호를 부정논리곱하는 제1 및 제2난드게이트;상기 제1난드게이트의 출력을 반전하기 위한 제1인버터;상기 제2난드게이트의 출력을 반전하기 위한 제2인버터;상기 제1인버터의 출력신호와 상기 제어수단의 출력신호를 부정논리곱하는 제3난드게이트;상기 제2인버터의 출력신호와 상기 제어수단의 출력신호를 부정논리곱하는 제4난드게이트;상기 제3난드게이트의 출력을 반전하여 상기 제2쉬프트레지스터를 제1방향으로 쉬프트시키기 위한 쉬프팅제어신호를 출력하는 제3인버터; 및상기 제4난드게이트트의 출력을 반전하여 상기 제2쉬프트레지스터를 제2방향으로 이동시키기 위한 쉬프팅제어신호를 출력하는 제4인버터를 포함하여 이루어진 반도체메모리장치의 지연고정루프.
- 제4항에 있어서,상기 제1딜레이라인부 및 상기 제2딜레이라인부는 서로 선택적으로 구동되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리장치의 지연고정루프.
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US09/742,276 US6342796B2 (en) | 1999-12-24 | 2000-12-19 | Delay locked loop having fast locking time |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100400318B1 (ko) * | 2001-06-25 | 2003-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 동기화 장치 |
KR100500929B1 (ko) * | 2002-11-27 | 2005-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
KR100505657B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | 서로 다른 단위 지연 시간을 가지는 지연소자를 구비하는지연 시간 보상 회로 |
KR100507875B1 (ko) * | 2002-06-28 | 2005-08-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프에서의 클럭분주기 및 클럭분주방법 |
KR100792379B1 (ko) * | 2006-09-29 | 2008-01-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 여러 주파수의 동작이 가능한 지연고정루프 및지연고정루프의 주파수 분주방법. |
KR100948067B1 (ko) * | 2008-07-10 | 2010-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 |
KR20190141500A (ko) * | 2018-06-14 | 2019-12-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3560780B2 (ja) * | 1997-07-29 | 2004-09-02 | 富士通株式会社 | 可変遅延回路及び半導体集積回路装置 |
KR100527397B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2005-11-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리 장치에서 작은 지터를 갖는 지연고정루프 |
GB2402275B (en) * | 2000-06-30 | 2005-02-23 | Hynix Semiconductor Inc | Delay locked loop for use in semiconductor memory device |
JP4573007B2 (ja) * | 2000-07-13 | 2010-11-04 | エルピーダメモリ株式会社 | Dll回路、及び、dll制御方法 |
US20020184577A1 (en) * | 2001-05-29 | 2002-12-05 | James Chow | Precision closed loop delay line for wide frequency data recovery |
KR100399941B1 (ko) * | 2001-06-30 | 2003-09-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디디알 에스디램의 레지스터 제어 지연고정루프 |
KR100422572B1 (ko) * | 2001-06-30 | 2004-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어 지연고정루프 및 그를 구비한 반도체 소자 |
JP2003032104A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Mitsubishi Electric Corp | Dll回路とその制御方法 |
US6618283B2 (en) * | 2001-08-29 | 2003-09-09 | Micron Technology, Inc. | System and method for skew compensating a clock signal and for capturing a digital signal using the skew compensated clock signal |
US7167023B1 (en) | 2001-08-29 | 2007-01-23 | Altera Corporation | Multiple data rate interface architecture |
US7200769B1 (en) | 2001-08-29 | 2007-04-03 | Altera Corporation | Self-compensating delay chain for multiple-date-rate interfaces |
JP4609808B2 (ja) * | 2001-09-19 | 2011-01-12 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体集積回路装置及び遅延ロックループ装置 |
KR100502675B1 (ko) * | 2001-12-12 | 2005-07-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어형 지연고정루프회로 |
US6642760B1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-11-04 | Rambus, Inc. | Apparatus and method for a digital delay locked loop |
SG96688A1 (en) * | 2002-04-25 | 2003-06-16 | Ritronics Components Singapore | A biometrics parameters protected computer serial bus interface portable data |
KR100477809B1 (ko) * | 2002-05-21 | 2005-03-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 사이클 교정이 가능한 디지털 디엘엘 장치 및 듀티사이클 교정 방법 |
DE10330796B4 (de) * | 2002-10-30 | 2023-09-14 | Hynix Semiconductor Inc. | Registergesteuerter Delay Locked Loop mit Beschleunigungsmodus |
KR100507854B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2005-08-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 가속화 모드를 구비한 레지스터 제어 지연고정루프 |
KR100484252B1 (ko) * | 2002-11-27 | 2005-04-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
US6680634B1 (en) * | 2002-12-03 | 2004-01-20 | Nokia Corporation | Self calibrating digital delay-locked loop |
US7028206B2 (en) * | 2002-12-16 | 2006-04-11 | William Kenneth Waller | Circuit and method for generating a local clock signal synchronized to an externally generated reference clock signal |
KR100631166B1 (ko) * | 2003-05-31 | 2006-10-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정 시간을 줄인 레지스터 제어 지연고정루프 |
CN100364231C (zh) * | 2003-11-20 | 2008-01-23 | 松下电器产业株式会社 | 半导体装置 |
US7234069B1 (en) | 2004-03-12 | 2007-06-19 | Altera Corporation | Precise phase shifting using a DLL controlled, multi-stage delay chain |
KR100541685B1 (ko) * | 2004-04-30 | 2006-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 동기 루프 장치 |
US7126399B1 (en) | 2004-05-27 | 2006-10-24 | Altera Corporation | Memory interface phase-shift circuitry to support multiple frequency ranges |
US7123051B1 (en) | 2004-06-21 | 2006-10-17 | Altera Corporation | Soft core control of dedicated memory interface hardware in a programmable logic device |
JP4343073B2 (ja) * | 2004-09-17 | 2009-10-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US7282971B2 (en) * | 2004-12-30 | 2007-10-16 | Stmicroelectronics Pvt. Ltd. | Digital delay lock loop |
US7428284B2 (en) * | 2005-03-14 | 2008-09-23 | Micron Technology, Inc. | Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops |
KR100696957B1 (ko) * | 2005-03-31 | 2007-03-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 듀티 조정 회로, 이를 이용한 지연 고정 루프 회로 및그 방법 |
US7212048B2 (en) * | 2005-05-26 | 2007-05-01 | Agere Systems Inc. | Multiple phase detection for delay loops |
KR100672033B1 (ko) * | 2005-10-14 | 2007-01-19 | 삼성전자주식회사 | 두 개의 입력 기준 클럭을 가지는 지연동기루프회로, 이를포함하는 클럭 신호 발생 회로 및 클럭 신호 발생 방법 |
JP4640274B2 (ja) * | 2006-07-07 | 2011-03-02 | ヤマハ株式会社 | D級増幅器 |
KR100911190B1 (ko) * | 2007-06-11 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 클럭 드라이버 회로 |
US7719332B2 (en) * | 2007-08-01 | 2010-05-18 | Texas Instruments Incorporated | Glitch reduced delay lock loop circuits and methods for using such |
US7583106B2 (en) * | 2007-12-14 | 2009-09-01 | Icera, Inc. | Clock circuitry |
KR100974212B1 (ko) | 2008-02-14 | 2010-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 주파수에 따라 지연 경로를 달리하는 지연 라인 및 이를이용한 지연고정루프 회로 |
JP5375330B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-12-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | タイミング調整回路、タイミング調整方法及び補正値算出方法 |
KR102143109B1 (ko) | 2014-03-04 | 2020-08-10 | 삼성전자주식회사 | 지연 고정 루프, 및 그것의 동작 방법 |
CA3114126A1 (en) | 2018-09-25 | 2020-04-02 | Moroccanoil Israel, Ltd. | Microemulsions and methods of use |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5815016A (en) * | 1994-09-02 | 1998-09-29 | Xilinx, Inc. | Phase-locked delay loop for clock correction |
JPH10117142A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Fujitsu Ltd | 位相同期ループ回路および半導体集積回路 |
US6100736A (en) * | 1997-06-05 | 2000-08-08 | Cirrus Logic, Inc | Frequency doubler using digital delay lock loop |
KR100234729B1 (ko) * | 1997-08-27 | 1999-12-15 | 김영환 | 디지탈 디엘엘 회로 |
KR100269316B1 (ko) * | 1997-12-02 | 2000-10-16 | 윤종용 | 동기지연회로가결합된지연동기루프(dll)및위상동기루프(pll) |
JP3789222B2 (ja) * | 1998-01-16 | 2006-06-21 | 富士通株式会社 | Dll回路及びそれを内蔵するメモリデバイス |
KR100266673B1 (ko) * | 1998-03-12 | 2000-09-15 | 김영환 | 지연 동기 루프회로 |
US6009455A (en) * | 1998-04-20 | 1999-12-28 | Doyle; John F. | Distributed computation utilizing idle networked computers |
JP3320651B2 (ja) * | 1998-05-06 | 2002-09-03 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US6069506A (en) * | 1998-05-20 | 2000-05-30 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for improving the performance of digital delay locked loop circuits |
US6208183B1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-03-27 | Conexant Systems, Inc. | Gated delay-locked loop for clock generation applications |
-
1999
- 1999-12-24 KR KR1019990062250A patent/KR100321755B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-12-19 US US09/742,276 patent/US6342796B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-25 JP JP2000393454A patent/JP4406897B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100400318B1 (ko) * | 2001-06-25 | 2003-10-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 동기화 장치 |
KR100507875B1 (ko) * | 2002-06-28 | 2005-08-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프에서의 클럭분주기 및 클럭분주방법 |
KR100500929B1 (ko) * | 2002-11-27 | 2005-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
US7027352B2 (en) | 2002-11-27 | 2006-04-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop (DLL) in semiconductor device |
KR100505657B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | 서로 다른 단위 지연 시간을 가지는 지연소자를 구비하는지연 시간 보상 회로 |
KR100792379B1 (ko) * | 2006-09-29 | 2008-01-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 여러 주파수의 동작이 가능한 지연고정루프 및지연고정루프의 주파수 분주방법. |
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