KR19990063469A

KR19990063469A - 전자 사진 장치 및 전자 사진용 테스트 패턴 기록 방법

Info

Publication number: KR19990063469A
Application number: KR1019980058678A
Authority: KR
Inventors: 겐이찌 후지이; 세이지 우찌야마
Original assignee: 미따라이 하지메; 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 1997-12-26
Filing date: 1998-12-24
Publication date: 1999-07-26
Also published as: JP3652093B2; CN1122605C; US6236417B1; EP0925943A3; DE69822105T2; KR100338607B1; DE69822105D1; EP0925943A2; CN1221134A; JPH11188917A; EP0925943B1

Abstract

복수의 레이저 빔을 사용하여 화상 기록을 행하는 광학 프린터에서는 테스트 패턴이 기록되더라도 정상적으로는 이상 상태를 확인할 수 없는 경우가 존재한다. 본 발명에서는 이러한 문제를 해결하기 위해, 입력된 화상에 따라 복수의 레이저 빔 각각을 구동시켜 복수의 레이저 빔으로 동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로에 대해 주사를 행하는 전자 사진 장치를 제공한다. 본 발명의 장치에서는, 복수의 레이저 빔 중 임의 하나가 소정 영역 내에서 구동되어 테스트 패턴을 기록한다.

Description

전자 사진 장치 및 전자 사진용 테스트 패턴 기록 방법

본 발명은 복수의 광 빔을 사용하여 화상 형성을 행하며 이상 상태(잘못된 상태)를 검출하기 위한 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치에 관한 것이다.

최근, 복수의 광 빔, 예를 들어, 복수의 레이저빔을 사용하여 화상 형성을 행하여 전자 시진 프로세스를 통해 희망 화상을 얻는 소위 멀티빔 레이저 프린터가 연구되어 지고 있다.

도 12는 이러한 멀티빔 레이저 프린터의 일례를 도시하고, 도 13은 이 프린터의 동작 타이밍을 도시한다.

도 12에서, 레이저 프린터(1)는 컴퓨터 등의 외부 장비(31)에 연결되어 장비(31)의 제어 하에 기록 용지 상에 화상 형성을 행한다. 외부 장비(31)는 각 종 제어 신호 및 화상 정보를 비디오 제어기(27)에 공급하고, 제어기(27)는 비디오 신호를 출력한다. 프린트 제어 유닛(26)은 프린터(1)의 각 유닛을 제어하기 위한 제어 회로이다. 외부 장비(31)로부터의 RDY 신호가 도 13의 (a)에서 도시된 바와 같이 TRUE로 되면, 비디오 제어기(27)는 도 13의 (b)에서 도시된 바와 같이 PRINT 신호를 TRUE로 설정한다. PRINT 신호가 TRUE로 되면, 프린트 제어 유닛(26)은 도 13의 (f) 및 도 13의 (g)에서 도시된 바와 같이 주 모터(23) 및 다각형 모터(14)의 구동을 개시한다. 모터(23)가 구동되면, 광감성 드럼(17), 정착 유닛(9)의 정착 롤러 및 배치 롤러 (11)가 회전을 개시한다. 그 후, 프린트 제어 유닛(26)은 반도체 레이저(13)의 광량을 제어하기 시작하고, 또한 1차 대전기(19), 현상 유닛(20) 및 전사 대전기(21)의 고전압 구동을 순차로 행한다.

프린트 제어 유닛(26)은 도 13의 (g)에서 도시된 바와 같이 다각형 모터(14)의 구동 개시로부터 시간 T1이 경과하여 모터(14)의 회전이 안정하게 되면 급지 클러치(24)를 턴온시켜 도 13의 (h)에서 도시된 바와 같이 급지 롤러(5)를 구동시킨다. 따라서, 급지 카셋트(2) 내의 기록 용지(3)가 레지스트 롤러(6)를 향해 급송된다. 용지(3)가 롤러(6)에 도달하는 시점에서, 프린트 제어 유닛(26)은 도 13의 (c)에서 도시된 바와 같이 VSREQ 신호를 비디오 제어기(27)에 출력시키고, 또한 클러치(24)를 오프로 하여 도 13의 (h)에서 도시된 바와 같이 롤러(15)의 구동을 정지시킨다. 한편, 제어기(27)가 외부 장비(31)로부터 전송되어진 화상 정보를 도트 화상으로 전개시켜 VDO 신호를 출력하기 위한 준비를 완료한 후 제어기(27)는 도 13의 (c)에서 도시된 VSREQ 신호가 TRUE인지를 획인한다. 그 후, 제어기(27)는 도 13의 (d)에서 도시된 바와 같이 VSYNC 신호를 TRUE로 설정한다. 이러한 동작과 동기하여, 도 13의 (e)에서 도시된 시각 Tv가 경과한 후, 제어기(27)는 VDO 신호를 1 페이지에 상당하는 화상 데이타로서 출력한다.

이 때, 프린트 제어 유닛(26)은 도 13의 (i)에서 도시된 바와 같이 VSYNC 신호의 상승부터 시간 T3 경과 후 레지스트 롤러 클러치(25)를 턴온시켜, 레지스트 롤러(6)를 구동시킨다. 롤러(6)는 도 13의 (i)에서 도시된 바와 같이 시간 T4 동안, 즉 기록 용지(3)의 후단부가 롤러(6)를 통과할 때까지 구동된다. 시간 T4 동안, 프린트 제어 유닛(26)은 비디오 제어기(27)로부터 전송되어진 VDO 신호에 따라 반도체 러이저(13)를 구동시킨다.

반도체 러이저(13)는 두개의 레이저 빔, 즉 레이저 빔 A 및 B를 각각 방출시키는 레이저 A 및 B를 구비한다. 프린트 제어 유닛(26)은 각각의 VDO 신호에 따라 각각의 레이저를 구동시킨다. 두 레이저 빔은 스캐너 유닛(7) 내의 회전 다각형 미러(15)에 의해 반사된 후 미러(16)에 의해 편향되어, 편향된 빔은 광감성 드럼(17)의 각 주사 경로 상으로 안내된다. 예를 들어, 드럼(17) 상의 홀수 라인들은 레이저 빔 A에 의해 주사되는 반면에, 짝수 라인들은 레이저 빔 B에 의해 주사되어 진다. 상기와 같이, 각각의 VDO 신호에 의해 변조되어진 두 레이저 빔은 동시에 광감성 드럼(17) 상으로 조사되어 드럼(17) 상에 잠상이 형성되어져 각 빔에 의해 두 라인이 형성된다. 이러한 동작을 반복함에 의해, 광감성 드럼(17) 상에는 1 페이지분의 잠상이 형성된다. 레이저 빔 A 및 B의 주사 경로 상에 그리고 화성 형성 영역외에 도시되지 않은 빔 검출기가 제공된다. 빔 검출기는 레이저 빔 A 및 B를 검출하여 레이저 빔 A 및 B에 각각 상응하는 /BD1 신호 및 /BD2 신호를 발생시킨다. 레이저 빔의 변조 타이밍은 이들 두 /BD 신호에 기초하여 제어된다.

광감성 드럼(17) 상에 형성된 잠상은 현상 유닛(20)에 의해 형상된 후 전사 대전기(21)에 의해 기록 용지(30 상으로 토너 화상이 전사된다. 그 후, 용지(3)는 정착 유닛(9)에 반송되어 용지(3)에 토너 화상이 정착된다. 그 후, 용지(3)는 배지 롤러(11)에 의해 외부로 배출된다. 다음 페이지의 화상을 연속하여 프린트할 경우, 프린트 제어 유닛(26)은 도 13의 (b)에서 도시된 바와 같이 시간 T5의 경과 후에 다시 PRINT 신호를 TRUE로 설정하여, 제1 페이지 화상에 대한 프린팅과 동일한 제어를 행한다.

이러한 멀티빔 레이저 프린터의 테스트 패턴 데이타 발생 회로로서, 예를 들어, 2-빔 레이저 프린트에서 종선의 테스트 패턴 데이타를 발생시키는 회로에 대해 설명하기로 한다. 도 14는 이 회로의 구조를 도시하고, 도 15는 이 회로의 동작 타이밍을 도시한다.

이하에서, 도 14의 구조 및 동작에 대해 설명하기로 한다. 마스크 신호 발생 타이밍 설정 레지스터(101)는 테스트 프린팅에 필요한 /MASK1 신호(124) 및 /MASK2 신호(224)를 해제시키는 타이밍(=카운터 값) 및 이들 신호를 발생시키는 타이밍(=카운터 값)을 기억하고 있는 레지스터이다. 레지스터(101)로의 기억 동작은 테스트 프린팅의 초기에 행해진다.

도 14에서, 테스트 프린팅 시에 수평 동기를 얻기 위해, 제1 위상 동기 발진기(102) 및 제1 주-주사 카운터(103)에 /BD1 신호가 입력되어 있다.

/BD1 신호(120)가 도 15의 (a)에서 도시된 바와 같이 TRUE로 되면, 제1 주-주사 카운터(103)는 초기에 리셋트된다. 후속하여, 제1 위상 동기 발진기(102)는 도 15의 (b)에서 도시된 바와 같이 /BD1 신호(120)와 동기하여 화상 클럭 신호(CLK 신호; 121)를 발생시킨다. CLK1 신호(121)는 제1 주-주사 카운터(103)에 입력되고, 또한 테스트 패턴 데이타를 발생하기 위한 카운터(106)에 입력된다. 카운터(103)가 클럭 펄스의 수를 계수하므로, 제1 주-주사 카운터 값(122)은 시간이 경과함에 따라 증가한다. 제1 비교기(104)에서, 값(122)이 마스크 신호 발생 타이밍 설정 레지스터(101)에서 설정된 마스크를 해제시키는 카운터 값(123)과 비교된다. 한편, 이 때의 카운터(106)의 값은 0로 유지되는 데, 이것은 /기록 금지 신호(126)가 TRUE로서 카운터(106)는 계속적으로 클리어되기 때문이다.

/BD1 신호(120)에 이어서, /BD2 신호는 도 15의 (f)에서 도시된 바와 같이 그 상태가 FALSE에서 TRUE로 변경된다. 따라서, 상기 제1 주-주사 카운터(103)에서와 동일하게, 제2 주-주사 카운터(203)가 리셋트되고, 제2 위상 동기 발진기(202)는 도 15의 (g)에서 도시된 바와 같이 제2 화상 클럭 펄스 신호(CLK2 신호; 221)를 발생시키고, 카운터(203)는 클럭 펄스의 수를 계수한다. 제2 비교기(204)에서도, 레이저 빔 B의 마스크 해제값(223)과 제2 주-주사 카운터값(222)을 서로 비교한다. 그 결과, 값(222)은 값(223)보다 작기 때문에, /MASK2 신호(224)는 TRUE로 유지된다.

제1 주-주사 카운터값(122)이 마스크 해제값에 도달하면, 레이저 A의 마스크는 도 15의 (c)에서 도시된 바와 같이 해제되고, /MASK1 신호(124)는 게이트(105)에 입력된다.

이 때, FALSE인 /TOPE 신호(125)가 게이트(105)에 입력되면, 4-비트의 제1 카운터(106)는 도 15의 (d)에서 도시된 바와 같이 계수를 시작한다. 카운터(106)에 의해 계수된 각 비트는 NAND 게이트(107)로의 입력값으로서 제어되어 /TEST PATTERN1 신호(127)가 발생된다. 제1 카운터(106)의 값이 Fh일 때, 신호(127)는 도 15의 (e)에서 도시된 바와 같이 TRUE로 된다.

또한, 제2 주-주사 카운터값(222)이 마스크 해제값에 도달하면, /TEST PATTERN2 신호(227)가 동일한 방식으로 발생된다.

제1 주-주사 카운터값(122)이 마스크 발생값에 도달하면, /TEST PATTERN1 신호(127)는 FALSE로 된다. 동일하게, 레이저 B에서도 마스크가 발생되어 기록이 금지된다. 이러한 일련의 동작은 /TOPE 신호(125)가 TRUE로 될 때까지 반복된다. 따라서, 용지 상에 종선 테스트 패턴이 프린트된다.

후속하여, 멀티빔 레이저 프린터에 고유한 이상(잘못된) 상태의 예에 대해 설명하기로 하고, 또한 상기 종래 구조에 있어서의 문제를 지적하기로 한다.

(이상 상태의 예 1)

우선, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태의 예로서, 복수의 광 빔 중 하나가 저하되어 완전한 동작을 행하지 못하는 경우에 대해 기술하기로 한다. 상기 종래의 구조에서, 종선을 출력시켜 테스트 프린팅을 행하면, 테스트 패턴은 도 16에서 도시된 종방향 실선(53)으로서 프린트된다. 즉, 도 16의 화상에서, 예를 들어, 종선 방향으로 1-도트 간격의 점선이 필수적으로 형성되어야 하지만, 이러한 점선은 정전 사진 프로세스에서의 조건으로 인해 가끕씩 완전히 재현되지 않는다. 비록 점선이 완전히 재현되더라도, 부-주사 방향으로의 라인의 기록 농도가 600 dpi 정도인 경우 사람의 육안으로 점선을 확인하는 것은 매우 곤란하다. 사람의 육안으로 여전히 어느 빔이 이상인지를 특정하는 것은 것은 불가능하다. 상기와 같이, 설사 빔 중 하나가 저하되어 완전한 동작을 행할 수 없더라도, 테스트 패턴을 농도가 약간 낮은 종선 패턴으로서 인식하기 때문에 이상 상태를 검출할 수 없는 경우가 있다.

(이상 상태의 예 2)

후속하여, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태에 대한 예로서, 수평 동기 제어에서 이상이 발생하는 경우에 대해 기술하고자 한다. 이러한 상태은 예를 들어, BD 신호가 빔 광로 상에서의 먼지, 렌즈 상의 굵힘 등으로 인해 지연될 때 발생하는 것에 주목할 필요가 있다. 상기 종래의 구조에서, 종선이 출력되어 테스트 프린트를 행하면, 테스트 패턴은 도 17에서 도시된 종방향 실선(65)으로서 프린트된다. 도 17의 화상에 있어서, 수평 동기 제어에서 어떤 이상이 발생한 것을 인식할 수 있더라도, 단지 두 빔의 타이밍이 비동기인지 또는 두 BD 신호 중 임의 하나에 지터에 의한 영향이 미치는지를 특정하는 것은 불가능하다.

(이상 상태의 예 3)

후속하여, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태에 대한 예로서, 복수의 광 빔의 광량이 균일하지 않은 경우에 대해 기술하고자 한다. 광량이 균일하지 않으면, 농도가 불균일하게 나타난다. 상기 종래 구조를 약간 변형시켜 테스트 패턴으로서 하프톤 솔리드 칼라-화상(halftone solid-color image)이 기록된 것으로 가정하면, 도 18에서 도시된 하프톤 패턴(83)을 얻을 수 있다. 즉, 단지 얻어진 패턴만이 전체적으로 약간 엷어진다. 그러므로, 이상 상태의 상기 예 1에서와 같이, 사람의 육안으로 특정 빔의 프린트된 결과만의 농도가 엷다는 것을 판별하는 것은 곤란하다.

더욱이, 상기와 같은 종래 구조를 갖는 테스트 패턴 데이타 발생 회로에서는, 각 빔을 독립적으로 턴온 및 턴오프시키기 위해서는 복수의 레이저 각각에 프린트 패턴 발생 회로를 제공할 필요가 있어, 비용 상승이 예기된다.

본 발명은 상술된 문제를 고려하여 이루어진 것으로, 그 목적은 복수의 광 빔을 사용하여 화상 형성을 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 데이타를 발생하는 경우, 광 빔의 이상(잘못된) 상태를 정확하게 검출할 수 있는 테스트 패턴 데이타를 발생시키는 것에 있다.

본 발명의 다른 목적은 테스트 패턴 데이타를 저가로 발생시키는 것에 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 이상 상태가 발생된 광 빔을 검출할 수 있는 테스트 패턴을 기록하는 것에 있다.

본 발명은

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 복수의 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단과,

테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 발생 수단을 포함하고,

상기 구동 수단은 테스트 패턴 데이타에 따라 각각의 광 빔을 구동하여 테스트 패턴을 기록하고,

상기 구동 수단은 소정의 영역 내에서의 복수의 광 빔 중 임의 하나를 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치를 특징으로 하고 있다.

또한, 본 발명은

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

복수의 광 빔 중 임의 하나를 선택하기 위한 선택 수단을 더 포함하고,

상기 구동 수단은 소정의 영역 내에서 상기 선택 수단에 의해 선택된 광 빔을 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치를 특징으로 하고 있다.

또한, 본 발명은

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

복수의 광 빔 각각에 대응하는 복수의 영역 각각이 제공되고,

상기 구동 수단은 복수의 영역 각각 내에서 상기 영역에 대응하는 광 빔을 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치를 특징으로 하고 있다.

또한, 본 발명은

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

동일한 기록 매체 상에서 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단을 포함하고,

복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 소정의 영역에 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치를 특징으로 하고 있다.

또한, 본 발명은

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 복수의 영역 각각에 테스트 패턴을 기록하는 전자 사진 장치를 특징으로 하고 있다.

본 발명의 다른 목적 및 효과들은 첨부된 도면을 참조한 이하의 상세한 설명으로부터 명백해 질 것이다.

도 1은 본 발명의 제1 및 제2 실시예에 따라 테스트 패턴 데이타를 발생하기 위한 회로를 도시하는 다이어그램.

도 2는 제1 실시예에서 SEL 신호(330)를 제어하기 위한 동작에 대한 흐름도.

도 3은 제1 실시예에서 정상 상태시의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 4는 제1 실시예에서 복수의 레이저 빔 중 하나가 방출되지 않는 상태에서의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 5는 제2 실시예에서 SEL 신호(330)를 제어하기 위한 동작에 대한 흐름도.

도 6은 제2 실시예에서 정상 상태 시의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 7은 제2 실시예에서 두 레이저 빔 간에서 수평 동기가 변위되는 상태에서의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 8은 제2 실시예에서 BD 신호 검출 수단에서의 지터가 큰 상태 시의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 9는 본 발명의 제3 실시예에 따라 테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 회로를 도시하는 다이어그램.

도 10은 제3 실시에에서 정상 상태 시의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 11은 제3 실시예에서 두 레이저 빔 간의 강도가 균일하지 않은 상태에서의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 12는 (종래 기술과 공통인) 멀티빔 레이저 프린터의 구조를 도시하는 단면도.

도 13은 도 12에서 도시된 멀티빔 레이저 프린터의 동작을 설명하기 위한 타임 차트.

도 14는 종래 멀티빔 레이저 프린터에서 테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 회로를 도시하는 다이어그램.

도 15는 도 14에서 도시된 종래의 멀티빔 레이저 프린터의 테스트 패턴 데이타 발생 회로의 동작을 설명하기 위한 타임 차트.

도 16은 레이저 빔 중 하나가 방출되지 않은 상태에서의 종래의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 17은 레이저 빔의 수평 동기 제어에서 이상이 발생되는 상태에서의 종래의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도 18은 두 레이저 빔 간의 강도가 균일하지 않은 상태에서의 종래의 테스트 패턴의 프린트 결과를 도시하는 도면.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

26: 프린트 제어 유닛

301: 마스크 신호 타이밍 설정 레지스터

302: 위상 동기 발진기

303: 주-주사 카운터

304: 비교기

310: 멀티플렉서

312: 디멀티플렉서

326: 기록 금지 신호

도 1은 예를 들어 두 레이저 빔을 사용하는 2-빔 레이저 프린터에서 본 발명을 실현하는 테스트 패턴 데이타 발생 회로의 일례를 도시한 것이다. 즉, 제1 실시예에서, 예를 들어 테스트 화상의 상부 절반 영역에서는 레이저 A는 레이저 빔 A를 구동하도록 선택되고 레이저 B의 구동은 금지시키는 반면, 상부 절반 영역에 부-주사 방향으로 인접한 하부 절반 영역에서는 레이저 B는 구동시키고 레이저 A의 구동은 금지시키는 것으로 한다.

제1 실시예에서, 종선 화상은 복수의 영역 각각에서 레이저 중 임의 하나에 의해 기록된다. 제1 실시예에서 전자 사진 프로세스의 동작은 도 12에서 이미 설명된 종래 기술에서의 것과 동일하다.

도 1에서, 두 레이저 및 두 레이저 빔을 선택하는 데 사용되는 SEL 신호(330)가 멀티플렉서(310) 및 또한 BD 신호 동기 회로(311)에 입력된다.

멀티플렉서(310)는 입력된 SEL 신호(330)에 따라 /BD1 신호(331) 및 /BD2 신호(332) 중 하나를 선택한 후, 신호(320)를 위상 동기 발진기(302), 주-주사 카운터(303) 및 BD 신호 동기 회로(311)에 입력시킨다. SEL 신호(330)가 레이저 A를 선택하도록 지시하면, 멀티플렉서(310)는 /BD1 신호(331)를 선택한다. 그 후, SEL 신호(330)가 레이저 A를 구동하도록 지시하는 경우에 대해 설명하기로 한다.

레이저 A가 선택되는 상태에서, 레이저 빔 A가 빔 검출기를 통과하면, /BD1 신호(331)는 TRUE로 된다. 따라서, 이 TRUE 신호를 트리거로서 사용하여, 위상 동기 발진기(302)는 /BD1 신호(331)와 동기하여 화상 클럭 신호(CLK 신호; 321)의 발생을 개시한다. CLK 신호(321)는 다음에 주-주사 카운터(303) 및 테스트 패턴 데이타를 발생하기 위한 카운터(306)에 입력된다.

동일하게, /BD1 신호(331)가 TRUE로 될 때의 타이밍과 동기하여, 주-주사 카운터(303)는 리셋트된다. 주-주사 카운터(303)는 /BD 신호에 기초하여 리셋트되어 CLK 신호(321)를 계수하고 주목할만한(즉, 현저한) 레이저 빔이 현재 주사되어지는 주-주사방향으로의 위치를 검출한다. 비교기(304)에서, 이 카운터(303)의 출력(즉, 주-주사 카운터값(332))을 마스크 신호 타이밍 설정 레지스터(301)에서 사전 설정된 값(322)과 비교한다. 이 후, 비교 결과에 따라, 비교기(304)로부터 마스크 신호(/MASK 신호; 324)가 출력된다. 마스크 신호 타이밍 설정 레지스터(301)에서 마스크 해제 및 마스크 발생을 위한 주-주사 위치를 각각 나타내는 두 값들이 프린트 제어 유닛(26; 도 12)에 의해 사전에 설정되어 있다는 것에 주목해야 한다. 이들 값 및 레이저 빔이 현재 주사 중인 위치가 비교되어 마스크 신호가 출력됨으로써 주-주사 수평 방향으로의 기록 금지를 제어할 수 있다. 한편, 부-주사 방향으로의 기록 금지를 위한 제어 신호는 프린트 제어 유닛(26)에 의해 /톱 소거 신호(/TPOE 신호; 325)로서 입력된다. 주-주사 방향 및 부-주사 방향으로의 기록 금지를 위한 이들 제어 신호(즉, /MASK 신호(324) 및 /TOPE 신호(325))는 게이트(305)에 의해 합성되어 기록 금지 신호(326)가 출력된다.

테스트 패턴 데이타는 4-비트 카운터(306) 및 NAND 게이트(307)에 의해 발생된다. 이 경우, 카운터(306)의 비트 길이는 프린트 패턴에 따라 선택되어야 하므로, 항상 4-비트 길이를 선택할 필요는 없다. 기록 금지 신호(326)가 FALSE로 되어 기록 금지가 해제되면, 카운터(306)는 CLK 신호(321)의 계수를 개시한다. 다음에, 카운터(306)로부터 얻어진 값이 Fh에 도달하면, /테스트 프린트 신호(327)는 TRUE로 된다. 한편, 기록 금지 신호(326)가 FALSE이면, 카운터(306)는 클리어되어, /테스트 프린트 신호(327)는 확실하게 FALSE로 된다. 신호(327)는 디멀티플렉서(312)를 통해 /TEST PATTERN1 신호(334)로서 출력되어, 레이저 A는 출력된 신호(334)에 응답하여 턴온 또는 턴오프된다. 디멀티플렉서(312)는 /BD1 신호(331)에 동기한 SEL 신호(333)에 응답하여 /테스트 프린트 신호(327)를 반도체 레이저(13; 도 12)의 레이저 A에 /TEST PATTERN1 신호(334)로서 출력한다.

상기와 같이, 레이저는 기록 금지 동안 확실하게 OFF로 되고, /TEST PATTERN1 신호(334)는 기록 금지 해제 동안 16 클럭 주기로 1 클럭 동안 TRUE이므로, 레이저 A는 주-주사 방향에서 일정 간격으로 흑색 픽셀을 기록한다. 레이저 A가 선택 중인 동안 레이저 B의 구동은 금지된다는 것에 주목해야 한다.

한편, SEL 신호(330)에 의해 레이저 B를 선택하도록 지시받을 때의 주기 동안, 레이저 B는 동일한 프로세스를 통해 /TEST PATTERN2 신호(335)에 응답하여 턴온 또는 턴오프되고, 레이저 A의 구동은 금지된다.

상술된 바와 같은 테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 구조에서는, 복수의 레이저는 단지 하나만 제공된 테스트 패턴 데이타 발생 회로를 시분할적으로 이용한다. 그러므로, 각각의 레이저에 복수의 테스트 패턴 데이타 발생 회로를 제공할 필요가 없다.

도 2는 도 1에서 도시된 SEL 신호(330)를 제어하기 위한 동작을 도시하는 흐름도이다.

우선, 단계 S1에서는 테스트 프린트 지시를 대기한다. 테스트 프린트 지시가 있으면, 단계 S2로 진행하여 레이저 카운터 변수 n, 주사 변수 scan1 및 레이저 스위치값 scan1을 초기화시킨다. 다음에, 단계 S3로 진행하여 레이저를 선택한다. 그 결과, 단계 S4 또는 단계 S5로 진행한다. 단계 S4에서, 레이저 A를 선택하기 위한 선택 신호(SEL 신호; 330)가 출력되는 반면, 단계 S5에서는 레이저 B를 선택하기 위한 SEL 신호(330)가 출력된다. SEL 신호(330)가 전송된 후, 단계 S6으로 진행하여 /TOPE 신호(325)에 기초한 부-주사 방향으로의 기록 금지가 해제될 때까지 대기한다. 금지가 해제되면, 단계 S7로 진행하여 /BD1 신호(320)가 멀티플렉서(310)를 통과한 후에 TRUE로 될 때까지 대기한다. /BD1 신호(320)가 TRUE로 되면, 단계 S8로 진행하여 주사 변수 scan을 1씩 증가시킨다. 다음에, 단계 S9로 진행하여 주사 변수 scan와 레이저 스위치값 scan1을 비교한다. 만일 scan = scan1이면, 단계 S10로 진행하고, scan ≠ scan1이면, 단계 S11로 진행한다. 단계 S10에서는 레이저 카운터 변수 n을 1씩 증가시킨 후 단계 S3으로 진행한다. 한편, 단계 S11에서는 /TPOE 신호(325)에 기초한 부-주사 빙향으로의 기록 금지가 해제된 것으로 판단되면, 단계 S7로 진행한다. 한편, 기록 금지가 해제되지 않은 것으로 판단되면, 처리는 종료된다. 레이저 스위치값 scan1은 임의로 설정될 수 있다는 것에 주목해야 한다. 예를 들어, 용지의 중심에서 레이저를 절환 또는 변경하는 경우, 값 scan1은 라인이 중심에 도달할 때까지의 주사 라인수/2로 된다.

도 3은 모든 광 빔이 정상인 경우에 제1 실시예의 테스트 패턴 데이타 발생 회로가 동작할 때 출력되는 테스트 패턴 결과의 일례를 도시한다. 도 3에서, 종선(51)은 레이저 A에 의해 용지 상의 상부 절반 영역에서 프린트 또는 그려지고, 종선(52)은 레이저 B에 의해 용지 상의 하부 절반 영역에서 프린트 또는 그려진다. 종선(52 및 52)은 각각 1-도트 간격을 갖고 종방향으로 연장하는 점선으로서 광감성 드럼(17)(도 12) 상에 노출된다. 그러나, 정전 프로세스를 통해, 이들 선들은 실제로 종방향으로 실선에 근사한 선들로 프린트된다.

한편, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태의 예로서, 복수의 광 빔 중 하나가 저하되어 완전히 동작할 수 없는 경우(즉, 이상 상태의 예 1), 제1 실시예에서 도 4에서 도시된 테스트 패턴 결과를 얻을 수 있다. 도 4에서, 하부 절반 영역(55)이 공백이므로, 레이저 B는 저하된 것으로 쉽사리 판단할 수 있다. 도 4는 레이저 B가 완전히 저하된 경우의 예를 도시한 것에 주목해야 한다. 즉, 레이저 B가 완전히 저하되기 전의 과도 상태에서, 영역(55)은 얇은 종선으로 프린트된다. 상기와 같이 본 발명을 적용시킴으로써, 이러한 과도 상태에서라도 검출할 수 있는 테스트 패턴 데이타를 발생시킬 수 있다.

또한, 테스트 패턴 데이타로서 종선 패턴을 사용함으로써 검사할 수 있는 항목으로서, 예를 들어, 프린팅 가능성, 경사 정도, 스캐너 모터에서의 지터 정도, 마스크 영역의 확인 등을 들 수 있다. 이 경우, 마스크 영역의 확인은 테스트 프린팅과 /VDO 신호에 기초한 프린팅 간의 마스크 발생 회로가 동일할 경우에만 검사할 수 있다는 것에 주목해야 한다. 어떠한 경우라도, 이들 항목은 제1 실시예에서 얻어진 레이저 A 및 B에 의해 각각 그려진 종선(51 및 52)으로부터 확인 또는 판별될 수 있다.

제1 실시예의 일례를 통해 2-빔 레이저 프린터에 대해 설명하였지만, 본 발명은 이러한 프린터에만 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명은 복수의 빔을 사용하는 멀티빔 레이저 프린터에 적용가능하다.

또한, 제1 실시예에서는 1매 용지의 단면을 2개 영역으로 분할하여, 각 영역에서 1개의 빔으로 테스트 패턴을 그리는 예에 대해 설명하였다. 그러나, 본 발명은 1매의 용지의 단면 상에 테스트 패턴을 프린트할 때의 동작에만 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 제1 용지 상에는 제1 빔으로 테스트 패턴을 그리고 제2 용지 상에는 제2 빔으로 테스트 패턴을 그릴 수 있고, 용지의 표면 상에는 제1 빔으로 테스트 패턴을 그리고 용지의 이면 상에는 제2 빔으로 테스트 패턴을 그릴 수도 있다.

또한, 종선 패턴에서의 인접한 종선 간의 간격은 카운터(306)의 비트수 등에 기초하여 정해진다. 그러나, 테스트 패턴이 발생될 때마다 간격 변수를 사용자가 임의로 지정한 종선 패턴이 발생되도록 구성할 수 있다.

(제2 실시예)

후속하여, 제2 실시예는 도 5를 참조하여 기술하기로 한다. 도 5는 도 1에서 도시된 SEL 신호(330)의 제어 방법을 도시하는 흐름도이다. 제2 실시예는, 제1 실시예에서 설명된 기능들에 수평 동기 제어 시의 이상 상태 판정 기능을 추가한 것이다.

우선, 단계 S21에서는 테스트 프린트 지시를 대기한다. 테스트 프린트 지시가 있으면, 단계 S22로 진행하여 레이저 카운터 변수 n, 주사 변수 scan1 및 레이저 스위치값 scan1을 초기화시킨다. 다음에, 단계 S23로 진행하여 레이저를 선택한다. 그 결과, 단계 S24 또는 단계 S25로 진행한다. 단계 S24에서, 레이저 A를 선택하기 위한 선택 신호(SEL 신호; 330)가 출력되는 반면, 단계 S25에서는 레이저 B를 선택하기 위한 SEL 신(330)호가 출력된다. SEL 신호(330)가 전송된 후, 단계 S26으로 진행하여 /TOPE 신호(325)에 기초한 부-주사 방향으로의 기록 금지가 해제될 때까지 대기한다. 금지가 해제되면, 단계 S27로 진행하여 /BD1 신호(320)가 멀티플렉서(310)를 통과한 후에 TRUE로 될 때까지 대기한다. /BD1 신호(320)가 TRUE로 되면, 단계 S28로 진행하여 주사 변수 scan을 1씩 증가시킨다. 다음에, 단계 S29로 진행하여 주사 변수 scan와 레이저 스위치값 scan1을 비교한다. 만일 scan mod scan1이면, 단계 S30로 진행하고, scan mod ≠ scan1이면, 단계 S31로 진행한다. 단계 S30에서는 레이저 카운터 변수 n을 1씩 증가시킨 후 단계 S33으로 다시 진행한다. 한편, 단계 S31에서는 /TPOE 신호(325)에 기초한 부-주사 빙향으로의 기록 금지가 해제된 것으로 판단되면, 단계 S27로 진핸한다. 한편, 기록 금지가 해제되지 않은 것으로 판단되면, 처리는 종료된다. 제1 실시예와 동일하게, 레이저 스위치값 scan1은 임의로 설정될 수 있다. 예를 들어, 도 6에서, 1매의 용지의 프린팅 동안 전체 주사수는 7000회인 것으로 가정하여, 값 scan1은 1750이도록 설정된다.

도 6은 모든 광 빔이 동기 제어 시에 정상인 경우에 제2 실시예에 따른 테스트 패턴 데이타 발생 회로가 동작할 때 출력되는 테스트 패턴의 일례를 도시한다. 도 6의 테스트 패턴에서, 종선(61)은 레이저 A에 의해, 종선(62)은 레이저 B에 의해, 종선(63)은 레이저 A에 의해, 종선(64)은 레이저 B에 의해 상부로부터 순차로 프린트 또는 그려진다. 다음에, 종선(61 내지 64)은 각각 1-도트 간격을 갖고 종방향으로 연장하는 점선으로서 광감성 드럼(17)(도 12) 상에 노출된다. 그러나, 정전 프로세스를 통해, 이들 선들은 실제로 종방향으로 실선에 근사한 선들로 프린트된다.

한편, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태의 예로서, 수평 동기 제어에서 이상이 발생하는 경우(즉, 이상 상태의 예 2)와, 예를 들어, 주-주사 방향으로의 두 빔의 기록 타이밍이 비동기인 경우에, 도 7에서 도시된 테스트 패턴 결과를 얻을 수 있다. 또한, /BD 신호(/BD1 신호(120) 및 /BD2 신호(220))를 검출하기 위한 수단에서의 지터가 비교적 커, 도 8에서 도시된 테스트 패턴 결과가 얻어진다.

상술된 바와 같이, 제2 실시예에 따르면, 제1 실시예에서 도출된 효과 이외에도, 단지 1개의 빔을 사용하여 프린팅을 행하는 영역을 반복적으로 제공함으로써 다른 특유의 효과가 도출될 수 있다. 이러한 다른 특유의 효과는 수평 동기를 얻을 수 없을 때 이러한 불일치의 이유를 명백하게 상술할 수 있는 데, 즉 두 빔 중 하나의 수평 동기를 얻을 수 없거나 또는 /BD 신호(/BD1 신호(120) 및 /BD2 신호(220))를 검출하기 위한 수단에서의 지터가 큰지를 판정할 수 있다.

제1 실시예와 동일하게, 제2 실시예에서 2-빔 레이저 프린터에 대해 일레를 들어 설명하였지만, 본 발명은 이러한 프린터에만 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명은 복수의 빔을 사용하는 멀티빔 레이저 프린터에 적용시킬 수 있다.

또한, 제2 실시예에서는 1매 용지의 단면을 2개 영역으로 분할하여, 각 영역에서 1개의 빔으로 테스트 패턴을 그리는 예에 대해 설명하였다. 그러나, 본 발명은 1매의 용지의 단면 상에 테스트 패턴을 프린트할 때의 동작에만 한저되는 것은 아니다. 예를 들어, 제1 용지 상에는 제1 빔으로 테스트 패턴을 그리고 제2 용지 상에는 제2 빔으로 테스트 패턴을 그릴 수 있고, 용지의 표면 상에는 제1 빔으로 테스트 패턴을 그리고 용지의 이면 상에는 제2 빔으로 테스트 패턴을 그릴 수도 있다.

또한, 제2 실시예에서 레이저 스위치 간격이 레이저 스위치값 scan1에 의해 결정되지만, 본 발명은 이러한 결정에만 한정되는 것은 아니다. 즉, 레이저 스위치 간격은 테스트 패턴이 발생될 때마다 사용자에 의해 설계될 수 있다. 또한, 제1 실시예에서 기술된 바와 같이, 종선 패턴에서 인접한 종선 간의 간격을 변경가능하도록 구성할 수 있어 테스트 패턴이 발생될 때마다 사용자에 의해 임의로 설계되는 종선 패턴을 발생시킬 수 있다.

(제3 실시예)

제3 실시예에서, 하프톤 화상 등의 솔리드-칼라 화상은 복수의 레이저 중 하나에 의해 복수 영역 각각에 기록된다.

도 9는 제3 실시예를 실현하는 테스트 패턴 데이타 벌생 회로의 구조를 도시하는 블럭 다이어그램이다. 도 9에서, SEL 신호(430)는 이후의 테스트 프린팅을 행하는 레이저를 선택하기 위한 신호이다. SEL 신호(430)는 멀티플렉서(410) 및 또한 BD 신호 동기 회로(411)에 입력된다. SEL 신호(430)를 수신한 멀티플렉서(410)는 이후 구동될 레이저에 필요한 입력 신호(즉, /BD1 신호(431) 또는 /BD1 신호(432))를 테스트 패턴 발생 회로에 연결시키는 동작을 행한다.

그 후, 레이저 A를 구동시키는 SEL 신호(430)가 멀티플렉서(410)에 입력된 경우에 대해 설명하기로 한다. 멀티플렉서(410)로부터 출력된 /BD1 신호(신호(420))는 위상 동기 발진기(402), 주-주사 카운터(403) 및 BD 신호 동기 회로(411)에 입력된다. /BD1 신호(431)가 TRUE로 되는 타이밍에서, 주-주사 카운터(403)는 리셋트된다. 동일하게, /BD1 신호(431)가 TRUE로 되는 타이밍에서, BD 신호 동기 회로(411)는 디멀티플렉서(412)에 보유된 SEL 신호(430)를 SEL 신호(433)로서 전송한다. /BD1 신호(431)와 동기하여 SEL 신호(433)를 수신한 디멀티플렉서(412)는 레이저 A에 TEST PATTERN1 신호(434)로서 입력된 /테스트 프린트 신호(426)를 출력한다. 또한, /BD1 신호(431)가 TRUE로 되는 변경을 트리거로서 사용함으로써, 발진기(402)는 /BD1 신호(431)와 동기하여 화상 클럭 신호(CLK 신호; 421)의 발생을 개시한다. CLK 신호(421)는 주-주사 카운터(403) 및 NOR 게이트(405)에 입력되고, 카운터(403)는 CLK 신호(421)의 펄스수를 계수한다. 비교기(404)에서, 주-주사 카운터값(422)을 마스크 신호 타이밍 설정 레지스터(401)에서 설정된 값(423)과 비교한다. 이 비교 결과로서, 비교기(404)로부터 /마스크 신호(/MASK 신호; 424)가 출력된다. 프린트 제어 유닛에 의해, 마스크 해제 및 마스크 발생의 두 카운터값이 마스크 신호 타이밍 설정 레지스터(401)에서 사전 설정되어, 수평 방향으로의 기록 금지가 행해진다. 한편, 수직 방향으로의 기록 금지 제어는 프린트 제어 유닛으로부터 전송되어진 /톱 소거 신호(/TOPE 신호; 425)에 기초하여 행해진다. /MASK 신호(424), /TPOE 신호(425) 및 CLK 신호(421)가 NOR 게이트(405)에 입력된다. 기록 금지가 해제되면, NOR 게이트(405)는 CLK 신호(421)를 반전시켜 얻어진 /테스트 패턴 신호(426)를 출력한다. 신호(426)는 이후에 디멀티플렉서(412)를 통해 /TEST PATTERN1 신호(434)로서 출력되어 레이저 A를 턴온 및 턴오프시킨다. 레이저 A가 선택 중인 동안, 레이저 B의 구동은 금지된다.

한편, 레이저 B를 선택하기 위한 SEL 신호(430)에 의해 지시되는 동안, 레이저 B는 /TEST PATTERN2 신호(435)에 따라 턴온 및 턴오프되고, 레이저 A의 구동은 상기와 동일한 방식으로 금지된다.

도 9에서 도시된 SEL 신호는 SEL 신호를 제어하는 도 2의 흐름도에 따른 동작(단, 멀티플렉서(310) 대신 멀티플렉서(410)로 대체됨)으로 발생된다.

도 10은 모든 광 빔의 강도가 균일하게 되도록 제어되는 경우, 제3 실시예의 테스트 패턴 데아타 발생 회로가 동작할 때 출력되는 테스트 패턴의 일례를 도시한다. 도 10에서, 레이저 A에 의한 하프톤(81)은 용지의 상부 영역 상에 프린트되고, 레이저 B에 의한 하프톤(82)은 용지의 하부 영역 상에 프린트된다.

한편, 복수의 광 빔을 사용할 때 고유한 이상 상태의 예로서, 복수의 빔의 광량이 균일하지 않은 경우(이상 상태의 예 3)를 가정한다. 예를 들어, 레이저 빔 B의 강도는 그 기준치보다 미약하고, 제3 실시예에서는 도 11에서 도시된 테스트 패턴 결과가 얻어진다. 즉, 도 11에서 도시된 바와 같이 하부 절반 영역(85)의 농도는 상부 절반 영역(84)의 농도보다 엷기 때문에, 레이저 빔 B의 강도가 미약해진 것을 상대적으로 검출할 수 있다.

테스트 패턴으로서 하프톤 패턴을 사용하여 검사할 수 있는 항목들, 예를 들어, 프린팅 가능성, 농도 불균일성 확인, 마스크 영역의 확인 등을 들 수 있다. 이 경우, 마스크 영역의 확인은 단지 테스트 프린팅과 /VDO 신호에 기초한 프린팅 간의 마스크 발생 회로가 동일한 경우에만 검사할 수 있다는 것에 주목해야 한다. 어떠한 경우라도, 이들 항목들은 또한 레이저 A에 의해 그려진 하프톤 패턴(81) 및 레이저 B에 의해 그려진 하프톤 패턴(82)을 확인 또는 판별할 수 있다.

상술된 바와 같이, 제3 실시예에 따르면, 멀티빔 레이저 프린터에서 하나의 레이저 빔에 의해 그려진 하프톤 패턴으로부터 레이저 빔 강도에서의 변동으로 인한 화상 농도의 변동을 검출할 수 있다.

상기 실시예들과 동일하게, 제3 실시에에서 2-빔 레이저 프린터의 예에 대해 설명하였지만, 본 발명은 이러한 프린터에만 한정되는 아니다. 즉, 본 발명은 복수의 빔을 사용하는 멀티빔 레이저 프린터에도 적용할 수 있다.

또한, 제3 실시에에서는 1매 용지의 단면을 두 영역으로 분할하여 하나의 빔으로 각 영역에 하프톤 패턴을 프린트하는 것에 대해 기술하였다. 그러나, 본 발명은 1매 용지의 단면에 하프톤 패턴을 프린트하는 동작에만 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 제1 빔으로 제1 용지 상에 하프톤 패턴을 프린트하고 제2 빔으로 제2 용지 상에 하프톤 패턴을 프린트할 수 있으며, 또한 제1 빔으로 용지의 표면 상에 하프톤 패턴을 프린트할 수 있고 제2 빔으로 이면 상에 하프톤 패턴을 프린트할 수도 있다.

(기타 실시예)

상기 제1 내지 제3 실시예에서는, 하나의 테스트 패턴 데이타 발생 회로에 의해 발생된 테스트 패턴 데이타가 복수의 레이저 중 임의 하나에 입력되어지는 구조에 대해 설명하였다. 그러나, 복수의 레이저 각각에 대응하는 테스트 패턴 데이타 발생 회로를 제공할 수 있다. 또한, 도 3, 도 6 및 도 10에서 도시된 테스트 패턴을 화상 메모리에 사전에 기억시킬 수 있으며 기억된 패턴에 따라 프린팅을 행할 수 있다.

상기와 같이, 각종 테스트 패턴을 각종 구조에 따라 기록하는 예에 대해 설명하였다. 그러나, 이들 구조를 결합시켜 외부에서 입력된 지시 신호에 따라 각 종 패턴의 발생을 전환시키는 것도 바람직할 수 있다.

상기 실시예들에 따르면, 복수의 광 빔을 사용하여 화상 형성을 행하는 광학 프린터를 위한 테스트 패턴을 기록하는 경우, 광 빔의 이상 상태를 정확하게 검출할 수 있는 테스트 패턴을 기록할 수 있다. 또한, 테스트 패턴을 저가로 기록할 수 잇다. 더욱이, 사용자가 이상 상태가 발생한 광 빔을 검출할 수 있는 테스트 패턴을 기록할 수 있다.

상기와 같이, 본 발명은 상기 여러 실시예를 참조하여 기술되었지만, 본 발명은 이들 실시예에만 한정되지 않고, 첨부된 청구범위 내에서 여러 변형 및 수정 실시예들이 가능하다.

Claims

전자 사진 장치(electrophotographic apparatus)에 있어서,

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단과,

테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 발생 수단을 포함하고,

상기 구동 수단은 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 각각의 광 빔을 구동하여 테스트 패턴을 기록하고,

상기 구동 수단은 소정의 영역 내에서의 상기 복수의 광 빔 중 임의 하나를 구동시키켜 상기 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
전자 사진 장치에 있어서,

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단과,

테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 발생 수단을 포함하고,

상기 구동 수단은 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 각각의 광 빔을 구동하여 테스트 패턴을 기록하고,

상기 복수의 광 빔 중 임의 하나를 선택하기 위한 선택 수단을 더 포함하고,

상기 구동 수단은 소정의 영역 내에서 상기 선택 수단에 의해 선택된 광 빔을 구동시켜 상기 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
전자 사진 장치에 있어서,

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 복수의 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단과,

테스트 패턴 데이타를 발생시키기 위한 발생 수단을 포함하고,

상기 구동 수단은 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 각각의 광 빔을 구동하여 테스트 패턴을 기록하고,

상기 복수의 광 빔 각각에 대응하는 복수의 영역 각각이 제공되고,

상기 구동 수단은 상기 복수의 영역 각각 내에서 상기 영역에 대응하는 광 빔을 구동시켜 상기 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제3항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상(longitudinal image)인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제4항에 있어서,

상기 복수의 영역은 부-주사 방향으로 인접한

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제3항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상(solid-color image)인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
전자 사진 장치에 있어서,

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단을 포함하고,

상기 복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 소정의 영역에 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제7항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제7항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
전자 사진 장치에 있어서,

광 빔을 각각 방출하기 위한 복수의 방출 수단과,

입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 상기 광 빔 각각을 구동시키기 위한 구동 수단과,

동일한 기록 매체 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하기 위한 주사 수단을 포함하고,

상기 복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 복수의 영역 각각에 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제10항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제11항에 있어서,

상기 복수의 영역은 부-주사 방향으로 인접한

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
제10항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치.
복수의 광 빔을 방출하고, 입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시켜 동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법에 있어서,

테스트 패턴 데이타를 발생하는 발생 단계와,

상기 발생 단계에서 발생된 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 소정의 영역 내에서 상기 복수의 광 빔 중 임의 하나를 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 기록 단계를 포함하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
복수의 광 빔을 방출하고, 입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시켜 동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법에 있어서,

상기 복수의 광 빔 중 임의 하나를 선택하는 선택 단계와,

테스트 패턴 데이타를 발생하는 발생 단계와,

상기 선택 단계에서 선택된 광 빔을 상기 발생 단계에서 발생된 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 소정의 영역 내에서 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 기록 단계를 포함하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
복수의 광 빔을 방출하고, 입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시켜 동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법에 있어서,

테스트 패턴 데이타를 발생하는 발생 단계와,

상기 복수의 광 빔 각각에 대응하는 복수의 소정 영역을 제공하고, 상기 발생 단계에서 발생된 상기 테스트 패턴 데이타에 따라 상기 복수의 소정 영역 각각 내에서 상기 영역에 대응하는 광 빔을 구동시켜 테스트 패턴을 기록하는 기록 단계를 포함하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제16항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제17항에 있어서,

상기 복수의 영역은 부-주사 방향으로 인접한

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제16항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
복수의 광 빔을 방출하고, 입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시켜 동일한 기록 매체 상의 서로 상이한 주사 경로 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법에 있어서,

복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 소정 영역에 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제20항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제20항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
복수의 광 빔을 방출하고, 입력된 화상 데이타에 따라 상기 복수의 광 빔 각각을 구동시켜 동일한 기록 매체 상에서 상기 복수의 광 빔으로 주사를 행하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법에 있어서,

복수의 방출 수단 중 임의 하나를 사용하여 복수 영역 각각에 테스트 패턴을 기록하는

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제23항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 종선 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제24항에 있어서,

상기 복수의 영역은 부-주사 방향으로 인접한

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.
제23항에 있어서,

상기 테스트 패턴은 솔리드-칼라 화상인

것을 특징으로 하는 전자 사진 장치용 테스트 패턴 기록 방법.