KR102270130B1 - 검사 장치 및 ptp 포장기 - Google Patents

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유키히로 타구치
타카마사 오타니
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시케이디 가부시키가이샤
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Abstract

검증에 요하는 노력이나 시간의 대폭적인 저감이나 검증에 따른 편리성의 향상 등을 도모할 수 있는 검사 장치 등을 제공한다. 검사 장치(51)는, 미리 설정된 휘도 임계값을 이용하여, 촬상 수단에 의해 얻어진 화상으로부터 검사 대상 부위에 있어서의 결함의 유무를 검출함으로써, 검사 대상 부위의 양부를 판정하는 양부 판정 수단을 구비한다. 검사 장치(51)는, 양부 판정 수단에 의해 양호하다고 판정되는 양품 화상에 대해 가상적인 결함 화상을 배치하여 이루어진 검증용 화상을 작성하는 검증용 화상 작성부(55)와, 검증용 화상을 이용하여, 양부 판정 수단에 의해 검증용 화상에 있어서의 검사 대상 부위의 양부를 판정시키고, 그 판정 결과에 기초하여, 휘도 임계값을 검증하는 임계값 검증부(56)를 구비한다. 결함 화상의 휘도는, 양품 화상에 있어서의 당해 결함 화상이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정된다.

Description

검사 장치 및 PTP 포장기
본 발명은 PTP 시트 또는 최종적으로 PTP 시트가 되는 부위의 검사에 사용되는 검사 장치, 및 당해 검사 장치를 갖는 PTP 포장기에 관한 것이다.
PTP 시트는 정제나 캡슐 등의 내용물이 수용되는 포켓부가 형성된 용기 필름과, 상기 용기 필름에 대해 포켓부의 개구측을 밀봉하도록 취착되는 커버 필름을 구비하고 있다.
PTP 시트는 PTP 포장기에 의해 제조된다. PTP 포장기는 띠형상의 용기 필름에 대해 포켓부를 형성하는 포켓부 형성 수단, 포켓부에 내용물을 충전하는 충전 수단, 용기 필름에 대해 커버 필름을 취착하여, 띠형상의 PTP 필름을 얻는 시일 수단, 및 PTP 필름을 시트 단위로 펀칭하여, PTP 시트를 얻는 시트 펀칭 수단 등을 갖는다.
또한, PTP 시트의 제조 과정에 있어서는, 용기 필름의 반송 경로를 따라서 검사 장치가 설치된다. 검사 장치에 의해, PTP 시트 또는 최종적으로 PTP 시트가 되는 부위 중, 소정의 검사 대상 부위가 검사된다(예를 들면, 특허문헌 1 등 참조). 검사 장치는 검사 대상 부위에 광을 조사하는 조사 수단, 광이 조사된 검사 대상 부위를 촬상하는 촬상 수단, 및 양부(良否) 판정 수단을 구비하고 있다. 양부 판정 수단은 촬상 수단에 의해 얻어진 화상에 기초하여 검사 대상 부위에 있어서의 결함의 유무를 검출함으로써, 검사 대상 부위의 양부를 판정한다. 구체적으로는, 양부 판정 수단은 미리 설정된 휘도 임계값을 이용하여, 내용물의 파손(내용물 표면의 박리 등), 내용물에 대한 이물의 부착, 시트 부분에 있어서의 시일 양부 등, 내용물이나 시트 부분의 외관 이상에 관한 결함을 검출한다.
특허문헌 1: 일본 공개특허공보 제2001-33390호
그런데, 검사 장치의 운용 전 등에 있어서, 검사 장치에 의한 검사가 정상적으로 실시되는지 아닌지의 검증, 즉, 설정된 휘도 임계값이 적정한지 아닌지의 검증이 실시된다. 이와 같은 검증은 통상, 양부 판정 수단에 의해 불량 판정된다고 상정되는 시트(불량 시트)를 결함의 종별 등에 따라서 복수 작성하고 나서, 이들 불량 시트를 검사 장치에 공급하고, 검사 장치로부터 적정한 검사 결과가 출력되는지 아닌지를 판정함으로써 실시된다.
그러나, 복수의 불량 시트를 준비하는 것은 용이하지 않고, 또, 복수의 불량 시트에 대해 실제로 검사를 실시하는데에는 수고가 든다. 따라서, 검증을 위해 매우 많은 노력이나 시간이 필요해져버릴 우려가 있다. 또한, 불량 시트로부터 이물이 유출되는 사태가 발생해버릴 가능성이 있고, 만일 이물이 유출되어버리면, 이물 유출에 대응하기 위한 여분의 작업(예를 들면, PTP 포장기 내에서의 이물의 탐색 작업 등)을 실시할 필요가 발생해버린다.
또한, 불량 시트를 작성하기 위해서는, 내용물 등, PTP 시트의 구성부의 실물을 준비할 필요가 있는데, 내용물 등이 수중에 존재하지 않는 경우에는, 검증을 실시할 수 없다.
본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것이며, 그 목적은 현물의 불량 시트를 사용하지 않고, 설정된 휘도 임계값의 검증 등을 실시할 수 있고, 검증에 요하는 노력이나 시간의 대폭적인 저감이나 검증에 따른 편리성의 향상 등을 도모할 수 있는 검사 장치, 및 PTP 포장기를 제공하는데에 있다.
이하, 상기 목적을 해결하기에 적합한 각 수단에 대해, 항을 나누어 설명한다. 또한, 필요에 따라서 대응하는 수단에 특유의 작용 효과를 부기한다.
수단 1. 용기 필름에 형성된 포켓부에 대해 내용물이 수용됨과 동시에, 상기 포켓부를 막도록 상기 용기 필름에 대해 커버 필름이 취착되어 이루어진 PTP 시트의 제조 과정에 있어서, PTP 시트 또는 최종적으로 PTP 시트가 되는 부위 중, 소정의 검사 대상 부위의 검사를 실시하기 위한 검사 장치로서,
적어도 상기 검사 대상 부위에 대해 소정의 광을 조사하는 조사 수단과,
상기 조사 수단으로부터 광이 조사된 상기 검사 대상 부위를 촬상 가능한 촬상 수단과,
미리 설정된 휘도 임계값을 이용하여, 상기 촬상 수단에 의해 얻어진 화상으로부터 상기 검사 대상 부위에 있어서의 결함의 유무를 검출함으로써, 상기 검사 대상 부위의 양부를 판정하는 양부 판정 수단과,
상기 양부 판정 수단에 의해 양호하다고 판정되는 양품 화상에 대해, 가상적인 결함 화상을 배치하여 이루어진 검증용 화상을 작성하는 검증용 화상 작성 수단과,
상기 촬상 수단에 의해 얻어진 화상 대신에, 상기 검증용 화상을 이용하여, 상기 양부 판정 수단에 의해 상기 검사 대상 부위의 양부를 판정시키고, 그 판정 결과에 기초하여, 상기 휘도 임계값을 검증하는 임계값 검증 수단을 구비하고,
상기 결함 화상의 휘도는, 상기 양품 화상에 있어서의 당해 결함 화상이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
또한, 양품 화상은, 실제로 조사 수단 및 촬상 수단을 이용하여 얻은 화상이어도 되고, 소정의 시뮬레이터 등에 의해 얻어진, 검사시의 조건(예를 들면, 내용물의 품종이나 조사 수단으로부터의 광의 강도 등)에 기초한 화상이어도 된다.
상기 수단 1에 의하면, 양품 화상에 결함 화상을 배치하여 이루어진 검증용 화상을 이용하여, 결함 검출에 이용되는 휘도 임계값의 검증을 실시할 수 있다. 따라서, 검증시에, 실제로 불량 시트를 준비하거나, 검사를 실시할 필요는 없고, 검증에 요하는 노력이나 시간을 대폭 저감시킬 수 있다. 또한, 불량 시트가 불필요해지므로, 불량 시트로부터 이물이 유출되는 사태를 발생시키지 않는 것으로 할 수 있다. 이에 더해, 검사 대상이 되는 내용물 등의 실물을 갖고 있지 않은 단계라도, 검증용 화상을 준비할 수 있으면, 검증을 실시할 수 있다. 그 때문에, 검증에 따른 편리성을 높일 수 있다.
그런데, 검사 대상 부위(내용물이나 시트 부분)의 휘도는, 통상, 내용물의 종별이나 시트 부분의 구성 재료 등에 따라서 다르다. 그 때문에, 결함 화상으로서, 내용물의 종별 등이 상이하다고 해도 공통으로 이용할 수 있는 것을 사용하는 것을 생각할 수 있다. 이와 같은 결함 화상으로서는, 모발을 상정한 화상 등, 검사 대상 부위의 휘도에 다소의 증감이 있어도, 결함으로서 검출할 수 있는 휘도를 갖는 화상, 즉, 검사 대상 부위와의 휘도 차가 충분히 커지는 화상을 예로 들 수 있다.
그러나, 이와 같은 결함 화상을 이용한 검증은, 어디까지나 휘도 임계값이 최저한도의 결함을 검지할 수 있는 것인지 아닌지의 검증에 불과하다. 따라서, 요구되는 결함의 검출 능력이 보다 높은 경우(보다 섬세한 이물의 검출 등이 요구되는 경우)에, 요구되는 검출 능력을 실현 가능한 휘도 임계값으로 되어 있는지 아닌지의 검증을 실시할 수는 없다.
이 점, 상기 수단 1에 의하면, 결함 화상의 휘도는, 양품 화상에 있어서의 당해 결함 화상이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정된다. 예를 들면, 양품 화상에 있어서의 내용물에 이물을 모방한 결함 화상을 배치하는 경우, 당해 결함 화상의 휘도는, 내용물의 휘도를 기준으로 설정된다. 또한, 예를 들면, 양품 화상에 있어서의 시트 부분에 이물을 모방한 결함 화상을 배치하는 경우, 당해 결함 화상의 휘도는, 시트 부분의 휘도를 기준으로 설정된다. 따라서, 내용물이나 시트 부분의 휘도에 가까운 휘도의 결함(예를 들면, 섬세한 이물 등)의 검출시에, 휘도 임계값이 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다. 이에 의해, 요구되는 검출 능력을 실현 가능한 휘도 임계값인지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
수단 2. 상기 조사 수단은, 서로 다른 복수의 파장 성분의 광을 조사 가능하고,
상기 결함 화상의 휘도는, 상기 각 파장 성분의 광에 따라서 각각 독립적으로 설정되는 것을 특징으로 하는 수단 1에 기재된 검사 장치.
또한, 조사 수단은 다른 파장 성분의 광을 한번에 반사하는 것이어도 되고, 개별적으로 조사하는 것이어도 된다. 복수의 파장 성분의 광으로서는 예를 들면, 근적외광[파장이 약 760nm~약 1100nm(보다 바람직하게는 850nm~950nm)의 광], 적색광(파장이 약 620nm~약 750nm의 광), 청색광(파장이 약 400nm~약 495nm의 광), 녹색광(파장이 약 495nm~약 570m)의 광) 등을 들 수 있다.
결함의 종별에 따라서는, 조사하는 광의 파장 성분에 따라서, 결함 부분과 비결함 부분의 휘도차가 크고 작을 수 있다. 이 점에 기초하여, 상기 수단 2에 의하면, 조사 수단으로부터, 다른 복수의 파장 성분의 광이 조사 가능하게 되어 있다. 그 때문에, 폭넓은(복수 종류의) 결함을 정밀도 좋게 검출할 수 있다.
또한, 촬상 수단에 기초하여 얻어진 화상 중에 있어서의 내용물이나 시트 부분의 휘도는, 광의 파장 성분에 따라서 상위할 수 있는 점을 감안하여, 상기 수단 2에 의하면, 결함 화상의 휘도는, 각 파장 성분의 광에 따라서 독립적으로 설정된다. 그 때문에, 다른 파장 성분의 광을 이용하여 얻은 각 화상에 대해, 결함 화상의 휘도를 적절히 설정할 수 있다. 그 결과, 폭넓은 결함의 검출을 실시하는데에 있어서, 휘도 임계값이 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
수단 3. 상기 결함 화상은,
상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 낮은 휘도로 설정되는 암(暗) 결함 화상과,
상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 높은 휘도로 설정되는 명(明) 결함 화상을 포함하는 것을 특징으로 하는 수단 1 또는 2에 기재된 검사 장치.
상기 수단 3에 의하면, 비교적 낮은 휘도로 나타나는 암 결함을 나타내는 화상 및 비교적 높은 휘도로 나타나는 명 결함을 나타내는 화상의 각각의 휘도는, 양품 화상에 있어서의 결함 화상이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정되어 있다. 따라서, 암 결함 및 명 결함의 검출시에, 휘도 임계값이 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다. 즉, 보다 폭넓은 결함의 검출을 실시하는데에 있어서, 휘도 임계값이 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
수단 4. 상기 결함 화상은, 상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 낮은 휘도로 설정됨과 동시에, 그 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 것이 되는 것을 특징으로 하는 수단 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 검사 장치.
상기 수단 4에 의하면, 암 결함 화상은, 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 것이 된다. 즉, 암 결함 화상은, 검사에 있어서 실제로 이물을 촬상했을 때에 얻어지는 이물의 화상과 동일한 태양(態樣)이 된다. 이에 의해, 실제의 검사에 준거한 휘도 임계값의 검증을 실시할 수 있다.
수단 5. 수단 1 내지 4 중 어느 하나에 기재된 검사 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 PTP 포장기.
상기 수단 5에 의하면, 상기 수단 1 등과 동일한 작용 효과를 갖게 된다.
도 1은 PTP 시트의 사시도이다.
도 2는 PTP 시트의 일부 파단 확대 정면도이다.
도 3은 PTP 필름의 사시도이다.
도 4는 PTP 포장기의 개략 구성을 나타내는 모식도이다.
도 5는 시일 전 검사부 및 시일 후 검사부의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다.
도 6은 검증용 화상을 나타내는 모식도이다.
도 7은 도 6에 있어서의 가상 직사각형 내를 나타내는 확대모식도이다.
도 8은 암 결함 화상의 확대도이다.
도 9는 정제에 배치되는 결함 화상에 있어서의 휘도의 설정 범위를 설명하기 위한 그래프이다.
도 10은 시트 부분에 배치되는 결함 화상에 있어서의 휘도의 설정 범위를 설명하기 위한 그래프이다.
도 11은 화상 준비 출력 처리의 플로우차트이다.
도 12는 가상 검사 대응 처리의 플로우차트이다.
도 13은 휘도 임계값 검증 처리의 플로우차트이다.
이하, 일 실시형태에 대해 도면을 참조하면서 설명한다. 우선, PTP 시트(1)에 대해 설명한다. 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, PTP 시트(1)는, 복수의 포켓부(2)를 구비한 용기 필름(3)과, 포켓부(2)를 막도록 하여 용기 필름(3)에 취착된 커버 필름(4)를 갖고 있다.
용기 필름(3)은, 예를 들면 PP(폴리프로필렌)나 PVC(폴리염화비닐) 등의 투명 또는 반투명한 열가소성 수지 재료 등에 의해 형성되어 있다. 한편, 커버 필름(4)은, 예를 들면 폴리에스테르 수지 등으로 이루어진 실란트가 표면에 도포된 불투명 재료(예를 들면, 알루미늄박 등 )에 의해 구성되어 있다.
PTP 시트(1)는 평면시 대략 직사각형 형상으로 형성되어 있고, 시트 긴 방향을 따라서 배열된 5개의 포켓부(2)로 이루어진 포켓 열이 시트 짧은 방향으로 2열 형성되어 있다. 즉, 총 10개의 포켓부(2)가 형성되어 있다. 각 포켓부(2)에는, 내용물로서 정제(5)가 한개씩 수용되어 있다.
PTP 시트(1)는 띠형상의 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)으로 형성된 띠형상의 PTP 필름(6)(도 3참조)이 펀칭됨으로써, 시트 형상으로 제조된다.
계속해서, 상기 PTP 시트(1)를 제조하기 위한 PTP 포장기(11)의 개략에 대해 도 4를 참조하여 설명한다.
PTP 포장기(11)의 최상류측에서는, 띠형상의 용기 필름(3)의 원반이 롤형상으로 감겨져 있다. 롤형상으로 감겨진 용기 필름(3)의 인출단측은 가이드롤(13)로 안내되어 있다. 용기 필름(3)은, 가이드롤(13)의 하류측에 있어서 간헐 이송롤(14)에 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송롤(14)은 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있고, 용기 필름(3)을 간헐적으로 반송한다.
가이드롤(13)과 간헐 전송롤(14) 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라서, 가열 장치(15) 및 포켓부 형성 장치(16)가 순차적으로 설치되어 있다. 그리고, 가열 장치(15)에 의해 용기 필름(3)이 가열되어 상기 용기 필름(3)이 비교적 유연해진 상태에 있어서, 포켓부 형성 장치(16)에 의해 용기 필름(3)의 소정 위치에 복수의 포켓부(2)가 성형된다. 포켓부(2)의 성형은, 간헐 이송롤(14)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작간의 인터벌시에 실시된다.
간헐 이송롤(14)로부터 보내진 용기 필름(3)은 텐션롤(18), 가이드롤(19) 및 필름 받침롤(20)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 필름 받침롤(20)은 일정 회전하는 모터에 연결되어 있으므로, 용기 필름(3)을 연속적으로 또 일정 속도로 반송한다. 텐션롤(18)은 용기 필름(3)을 탄성력에 의해 긴장하는 측으로 잡아당긴 상태로 되어 있고, 상기 간헐 이송로(14)과 필름 받침롤(20)의 반송 동작의 상이에 따른 용기 필름(3)의 느슨함을 방지하여 용기 필름(3)을 상시 긴장 상태로 유지한다.
가이드롤(19)과 필름 받침롤(20)의 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라서 정제 충전 장치(21)가 설치되어 있다. 정제 충전 장치(21)는 포켓부(2)에 정제(5)를 자동적으로 충전하는 충전 수단으로서의 기능을 갖는다. 정제 충전 장치(21)는 필름 받침롤(20)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작과 동기하여, 소정 간격마다 셔터를 개방함으로써 정제(5)를 낙하시키는 것이고, 이 셔터 개방 동작에 따라서 각 포켓부(2)에 정제(5)가 충전된다.
한편, 띠형상으로 형성된 커버 필름(4)의 원반은, 최상류측에 있어서 롤형상으로 감겨져 있다.
롤형상으로 감겨진 커버 필름(4)의 인출단측은, 가이드롤(24)을 따라서 가열롤(25)쪽으로 안내되어 있다. 가열롤(25)은 상기 필름 받침롤(20)에 압접 가능하게 되어 있고, 양 롤(20, 25) 사이에 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이 보내지도록 되어 있다. 그리고, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이 양 롤(20, 25) 사이를 가열 압접 상태로 통과함으로써, 용기 필름(3)에 커버 필름(4)이 부착되고, 포켓부(2)가 커버 필름(4)으로 막아진다. 이에 의해, 정제(5)가 각 포켓부(2)에 충전된 PTP 필름(6)이 제조된다.
필름 받침롤(20)에서 보내진 PTP 필름(6)은 텐션롤(27) 및 간헐 이송롤(28)의 순으로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송로(28)은 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있으므로, PTP 필름(6)을 간헐적으로 반송한다. 텐션롤(27)은 PTP 필름(6)을 탄성력에 의해 긴장하는 측으로 잡아당긴 상태로 되어 있고, 상기 필름 받침롤(20)과 간헐 이송롤(28)의 반송 동작의 상위에 따른 PTP 필름(6)의 느슨함을 방지하여 PTP 필름(6)을 상시 긴장 상태로 유지한다.
간헐 이송롤(28)에서 보내진 PTP 필름(6)은, 텐션롤(31) 및 간헐 이송롤(32)의 순으로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송롤(32)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있으므로, PTP 필름(6)을 간헐적으로 반송한다. 텐션롤(31)은 PTP 필름(6)을 탄성력에 의해 긴장하는 측으로 잡아당긴 상태로 되어 있고, 상기 간헐 이송롤(28, 32) 간의 PTP 필름(6)의 느슨함을 방지한다.
간헐 이송롤(28)과 텐션롤(31)의 사이에는 PTP 필름(6)의 반송 경로를 따라서, 슬릿 형성 장치(33) 및 각인 장치(34)가 순차적으로 설치되어 있다. 슬릿 형성 장치(33)는 PTP 필름(6)의 소정 위치에 절리용 슬릿을 형성하는 기능을 갖는다. 각인 장치(34)는, PTP 필름(6)의 소정 위치(예를 들면, 태그부)에 각인을 하는 기능을 갖는다.
간헐 이송롤(32)에서 보내진 PTP 필름(6)은, 그 하류측에 있어서 텐션롤(35) 및 연속 이송롤(36)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송롤(32)과 텐션롤(35)의 사이에는 PTP 필름(6)의 반송 경로를 따라서, 시트 펀칭 장치(37)가 설치되어 있다. 시트 펀칭 장치(37)는 PTP 필름(6)을 PTP 시트(1) 단위로 그 외부 가장자리를 펀칭하는 기능을 갖는다.
시트 펀칭 장치(37)에 의해 펀칭된 PTP 시트(1)는 취출 컨베이어(38)에 의해 반송되어, 완성품용 호퍼(39)에 일단 저장된다. 또한, 후술하는 각 검사부(52, 53) 중 어느 하나에 의해 불량 판정된 경우, 취출 컨베이어(38)의 반송 경로를 따라서 설치된 불량 시트 배출 기구(40)에 불량품 신호가 보내진다. 이에 의해, 불량 판정된 PTP 시트(1)는 불량 시트 배출 기구(40)에 의해 별도로 배출되어, 도시하지 않은 불량품 호퍼로 이송된다.
상기 연속 이송롤(36)의 하류측에는, 재단 장치(41)가 설치되어 있다. 그리고, 시트 펀칭 장치(37)에 의한 펀칭 후에 띠형상으로 남은 잔재부(스크랩부)를 구성하는 불요 필름부(42)는, 상기 텐션롤(35) 및 연속 이송롤(36)로 안내된 후, 재단 장치(41)로 인도된다. 또한, 상기 연속 이송롤(36)은 종동롤이 압접되어 있고, 상기 불요 필름부(42)를 협지하면서 반송 동작을 실시한다. 재단 장치(41)는 불요 필름부(42)를 소정의 칫수로 재단하여 스크랩 처리하는 기능을 갖는다. 이 스크랩은 스크랩용 호퍼(43)에 저류된 후, 별도 폐기 처리된다.
또한, 상기 각 롤(14, 19, 20, 28, 31, 32) 등은 그 롤 표면과 포켓부(2)가 대향하는 위치 관계로 되어 있지만, 각 롤(14) 등의 표면에는, 포켓부(2)가 수용되는 오목부가 형성되어 있으므로, 기본적으로는, 포켓부(2)가 찌그러져버릴 수 없다. 또한, 포켓부(2)가 각 롤(14) 등의 오목부에 수용되면서 이송 동작이 실시됨으로써, 간헐 이송 동작이나 연속 이송 동작이 확실히 실시된다.
또한, PTP 포장기(11)는, 최종적으로 PTP 시트(1)가 되는 부위를 검사하기 위한 검사 장치(51)를 구비하고 있다. 검사 장치(51)는, 시일 전 검사부(52), 시일 후 검사부(53) 및 검증 장치(54) 등을 구비하고 있다.
시일 전 검사부(52)는, 시일 전에 용기 필름(3)의 포켓부(2) 돌출부측 및 개구부측(정제(5)의 표리면측)에서 검사를 실시하는 투과광식 및 반사광식의 양 기능을 구비한 검사 수단이다. 시일 전 검사부(52)는, 정제 충전 장치(21)와 필름 받침롤(20) 사이에 설치되어 있고, 정제(5)나 용기 필름(3)(시트 부분)에 있어서의 결함 유무를 검사한다.
시일 후 검사부(53)는, 시일 후에 용기 필름(3)(PTP 필름(6))의 포켓부(2) 돌출부측(정제(5)의 표면측)에서 검사를 실시하는 반사광식 검사 수단이다. 시일 후 검사부(53)는, 필름 받침롤(20)과 텐션롤(27)의 사이에 설치되어 있고, 정제(5) 및 PTP 필름(6)(시트 부분)에 있어서의 결함 유무를 검사한다. 본 실시형태에서는, 정제(5), 용기 필름(3) 및 PTP 필름(6)에 있어서의 최종적으로 PTP 시트(1)가 되는 부위가, 검사 대상 부위에 상당한다.
또한, 각 검사부(52, 53)는, 도 5에 도시한 바와 같이, 각각 조사 수단으로서의 조명 장치(60), 촬상 수단으로서의 카메라(61), 및 양부 판정 수단으로서의 처리 실행 장치(62)를 구비하고 있다.
조명 장치(60)는, 포켓부(2)의 개구부측 또는 돌출부측으로부터 정제(5), 용기 필름(3) 및 PTP 필름(6) 중 최종적으로 PTP 시트(1)가 되는 부위에 대해 소정의 광을 조사 가능하게 구성되어 있다.
시일 전 검사부(52)의 조명 장치(60)는 백색광을 조사한다. 백색광에는 서로 다른 복수의 파장 성분의 광이 포함되어 있고, 본 실시형태에서는, 조명 장치(60)로부터 적색(R) 성분의 광(파장이 약 620nm~약 750nm의 광), 청색(B) 성분의 광(파장이 약 400nm~약 495nm의 광), 및 녹색(G) 성분의 광(파장이 약 495nm~약 570nm의 광)이 조사된다.
또한, 시일 전 검사부(52)의 조명 장치(60)는, 용기 필름(3)의 포켓부(2) 돌출부측 및 개구부측 양측에 한개씩 배치되어 있다.
한편, 시일 후 검사부(53)의 조명 장치(60)는 근적외광[파장이 약 760nm~약 1100nm(보다 바람직하게는 850nm~950nm)의 광]을 조사한다. 시일 후 검사부(53)의 조명 장치(60)는 용기 필름(3)(PTP 필름(6))의 포켓부(2) 돌출부측으로 배치되어 있다.
카메라(61)는, 조명 장치(60)로부터 조사되는 광의 파장 영역에 감도를 갖는 것이다.
시일 전 검사부(52)의 카메라(61)로서는, RGB 삼원색 타입의 CCD 카메라가 채용되어 있다. 그리고, 카메라(61)의 촬상에 의해 얻어진 화상 신호로부터 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B)의 각각의 색 신호를 취출함으로써, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 또는 청색(B) 성분으로 이루어진 3개의 화상을 얻는다. 이와 같이 다른 파장 성분의 광을 이용하여 복수의 화상을 얻는 것은 조사하는 광의 파장 성분에 따라서, 검사 대상 부위에 있어서의 결함 부분과 비결함 부분의 휘도 차가 크고 작을 수 있는 점을 기초로 한 것이다.
또한, 시일 전 검사부(52)의 카메라(61)는, 용기 필름(3)의 포켓부(2)의 개구부측에 2개 설치되어 있다. 그리고, 포켓부(2) 돌출부측의 조명 장치(60)로부터 조사되는 광 중, 용기 필름(3)을 투과한 광이 한쪽의 카메라(61)에 의해 2차원 촬상되고, 포켓부(2) 개구부측의 조명 장치(60)로부터 조사되는 광 중, 정제(5)에 반사된 광이 다른쪽 카메라(61)(칼라 CCD 카메라)에 의해 2차원 촬상되는 구성으로 되어 있다.
한편, 시일 후 검사부(53)의 카메라(61)로서는, 근적외광에 감도를 갖는 CCD 카메라가 채용되어 있다. 시일 후 검사부(53)의 카메라(61)는 용기 필름(3)(PTP 필름(6))의 포켓부(2) 돌출부측에 배치되어 있다. 시일 후 검사부(53)에서는, 카메라(61)에 의해, 조명 장치(60)로부터 조사되는 광(근적외광) 중, 정제(5)나 커버 필름(4)에 반사된 광이 2차원 촬상된다.
그리고, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상은, 처리 실행 장치(62)에 입력된다. 처리 실행 장치(62)는 연산 수단으로서의 CPU나, 각종 프로그램을 기억하는 ROM, 연산 데이터나 입출력 데이터 등의 각종 데이터를 일시적으로 기억하는 RAM 등을 구비한, 이른바 컴퓨터 시스템으로서 구성되어 있다. 처리 실행 장치(62)는 화상 메모리(63), 검사 결과 기억 장치(64), 판정용 메모리(65), 화상·검사 조건 기억 장치(66), 카메라 타이밍 제어 장치(67), 및 CPU 및 입출력 인터페이스(68)를 구비하고 있다.
화상 메모리(63)는, 카메라(61)에 의해 촬상된 화상을 기억한다. 이 화상 메모리(63)에 기억된 화상에 기초하여 검사가 실행된다. 물론, 검사 실행 시에, 화상에 대해 가공 처리를 실시해도 된다. 예를 들면, 마스킹 처리나, 쉐이딩 보정 등의 처리를 실시하는 것을 생각할 수 있다. 쉐이딩 보정은, 용기 필름(3) 등의 촬상 범위 전체를 조명 장치(60)의 광으로 균일하게 비추는 것은 기술적으로 한계가 있으므로, 위치의 상위에 따라 발생하는 광의 명도의 편차를 보정하기 위한 것이다. 또한, 화상에 대해 2치화 처리를 실시함으로써 얻은 2치화 화상이나, 마스킹 처리를 실시함으로써 얻은 마스킹 화상 등도 당해 화상 메모리(63)에 기억된다.
검사 결과 기억 장치(64)는, 화상에 관한 좌표 등의 데이터, 검사 대상 부위에 대한 양부 판정 결과의 데이터, 및 상기 데이터를 확률 통계적으로 처리한 통계 데이터 등을 기억하는 것이다. 이들 양부 판정 결과의 데이터나 통계 데이터는, 소정의 표시 장치(도시하지 않음)로 표시시킬 수 있도록 되어 있다.
판정용 메모리(65)는, 검사에 이용되는 판정값(임계값 등)를 기억하는 것이다. 판정값은 검사 내용마다 설정된다. 검사에 이용되는 판정값에는, 예를 들면 PTP 시트(1)나 포켓부(2), 정제(5) 등의 칫수, 각종 검사 영역을 획정하기 위한 각종 윈도우 프레임의 형상이나 칫수, 2치화 처리에 따른 휘도 임계값, 면적 판정에 따른 판정값, 색 식별 검사에 따른 색기준값 등이 포함된다. 판정값 중에는, 정제 면적값을 검사하기 위한 판정값 등, 과거의 검사에서 양품이라고 판정된 것에 대한 검사 계측 결과를 통계하여 결정되는 판정값도 있다.
또한, 2치화 처리에 따른 휘도 임계값은, 화상으로부터 결함 부분을 특정하기 위해 이용되는 것이다. 휘도 임계값으로서는, 정제(5)에 있어서의 결함 부분을 특정하기 위한 제1 정제용 휘도 임계값 δ×1 및 제2 정제용 휘도 임계값 δ×2와, 시트 부분(용기 필름(3)이나 PTP 필름(6))에 있어서의 결함 부분을 특정하기 위한 시트용 휘도 임계값 δy가 이용된다.
제1 정제용 휘도 임계값 δ×1은, 화상 중에 있어서의 정제(5)가 차지하는 영역에서 비교적 밝은 태양으로 표시되는, 정제(5)의 명 결함을 특정하기 위해 이용된다. 정제(5)의 명 결함은 예를 들면, 정제(5)가 당의정인 경우에 있어서, 당의 부분이 박리되어 있는 경우 등에 발생한다. 제1 정제용 휘도 임계값 δ×1은, 미리 얻어진 정제(5)에 있어서의 명 결함의 상정 휘도보다도 낮은 한편, 정제(5)의 표면의 휘도보다도 높은 것으로 설정되어 있다. 이와 같이 설정된 제1 정제용 휘도 임계값 δ×1에 의해, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상을 2치화하면, 얻어진 2치화 화상에 있어서, 명 결함 부분의 값이 0이 되고, 정제(5)의 표면의 값은 1이 된다.
제2 정제용 휘도 임계값 δ×2은, 화상 중에 있어서의 정제(5)가 차지하는 영역에서 비교적 어두운 태양으로 표시되는, 정제(5)의 암 결함을 특정하기 위해 사용된다. 정제(5)의 암 결함은, 예를 들면, 정제(5)에 모발 등의 이물이 부착되어 있는 경우 등에 발생한다. 제2 정제용 휘도 임계값 δ×2는, 미리 얻어진 정제(5)에 있어서의 암 결함의 상정 휘도보다도 높고, 정제(5)의 표면의 휘도보다도 낮게 설정되어 있다. 이와 같이 설정된 제2 정제용 휘도 임계값 δ×2에 의해, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상을 2치화하면, 얻어진 2치화 화상에 있어서, 이물 등의 존재 부분의 값이 0이 되고, 정제(5)의 표면의 값은 1이 된다.
시트용 휘도 임계값 δy는, 화상 중에 있어서의 시트 부분이 차지하는 영역에서 비교적 어두운 태양으로 표시되는, 시트 부분의 암 결함을 특정하기 위해 이용된다. 시트 부분의 암 결함은, 시트 부분에 대해 정제분이나 모발 등의 이물이 부착되어 있는 경우나 커버 필름(4)에 찢어짐이나 주름이 있는 경우 등에 발생한다. 시트용 휘도 임계값 δy는, 미리 얻어진 시트 부분에 있어서의 암 결함의 상정 휘도보다도 낮은 반면, 시트 부분의 표면의 휘도보다도 높은 것으로 설정되어 있다. 이와 같이 설정된 시트용 휘도 임계값 δy에 의해, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상을 2치화하면, 얻어진 2치화 화상에 있어서, 이물이나 찢어짐 등이 존재하는 부분의 값이 0이 되고, 시트 부분의 값은 1이 된다.
휘도 임계값 δ×1은, 결함 부분의 검사를 엄밀히 실시하고 싶은 경우, 즉, 결함 부분을 보다 확실히 검출하고 싶은 경우, 비교적 낮은 값으로 설정된다. 한편, 휘도 임계값 δ×2, δy는 결함 부분의 검사를 엄밀히 실시하고 싶은 경우, 비교적 높은 값으로 설정된다.
또한, 시일 전 검사부(52)에서는, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy로서, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 화상에 대응하는 것, 즉, 조명 장치(60)로부터 조사되는, 서로 다른 복수의 파장 성분의 광에 대응하는 것이 각각 설정되어 있다. 즉, 적색(R) 성분에 대응하는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy와, 녹색(G) 성분에 대응하는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy와, 청색(B) 성분에 대응하는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 각각 존재하고 있다. 또한, 이들 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy는 투과광을 촬상한 화상에 대응하는 것과, 반사광을 촬상한 화상에 대응하는 것으로 별도로 준비되어 있다.
한편, 시일 후 검사부(53)에서는, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy로서, 조명 장치(60)로부터 조사되는 근적외광에 대응한 것이 설정되어 있다.
화상·검사 조건 기억 장치(66)는, 예를 들면, 하드디스크 장치에 의해 구성되어 있다. 화상·검사 조건 기억 장치(66)에는, 검사에 의해 불량이라고 판정된 검사 내용, 불량 판정의 일시, 화상 데이터, 검사에 사용된 검사 조건 등이 기억된다.
카메라 타이밍 제어 장치(67)는, 카메라(61)의 촬상 타이밍을 제어한다. 이와 같은 촬상 타이밍은 PTP 포장기(11)에 설치된 도시하지 않은 엔코더로부터의 신호에 기초하여 제어되고, 용기 필름(3) 또는 PTP 필름(6)을 소정량 보낼 때마다 카메라(61)에 의한 촬상이 실시된다.
CPU 및 입출력 인터페이스(68)는, 각 검사부(52, 53)에 있어서의 각종 제어를 담당한다. CPU 및 입출력 인터페이스(68)는, 정제(5) 및 용기 필름(3) 등에 대한 검사 처리 등의 각종 처리 프로그램을 판정용 메모리(65)의 기억 내용 등을 사용하면서 실행한다. 또한, CPU 및 입출력 인터페이스(68)는, PTP 포장기(11)의 구성 장치간에 신호를 송수신 가능하게 되어 있다. 이에 의해, 불량 시트 배출 기구(40) 등을 제어하는 것 등이 가능해진다. 또한, CPU 및 입출력 인터페이스(68)는 화상에 있어서의 포켓부(2)나 정제(5)의 위치에 기초하여, 용기 필름(3)이나 PTP 필름(6)에 있어서의 검사 범위를 특정한다.
또한, CPU 및 입출력 인터페이스(68)는, 디스플레이 등의 소정의 표시 수단(도시하지 않음)에 각종 데이터를 송출하는 기능도 갖는다. 이와 같은 기능에 의해, 각종 화상이나 검사 결과 등을 상기 표시 수단에 표시시킬 수 있도록 되어 있다.
상기와 같이 구성된 처리 실행 장치(62)에서는, 정제(5) 및 용기 필름(3) 등에 대한 검사 처리로서, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상에 대한 2치화 처리, 2치화 처리에 의해 얻어진 2치화 화상에 대한 괴처리, 및 괴처리에 의해 얻어진 괴부분의 수나 면적, 위치 등에 기초하여 결함 부분의 유무를 판정하는 결함 유무 판정 처리 등을 실시한다. 또한, 시일 전 검사부(52)는, 다른 파장 성분의 광으로부터 얻은 복수의 화상을 이용하여 검사를 실시하기 때문에, 폭넓은(복수 종류의) 결함을 정밀도좋게 검출하는 것이 가능하다.
계속해서, 각 검사부(52, 53)에서 실행되는 검사에 대해 보다 상세히 설명한다.
시일 전 검사부(52)는, 시트 상에 있어서의 이물의 유무 및 정제(5)에 있어서의 이상 유무에 대해 검사를 실시한다. 검사 수법에 대해 상술하면, 시일 전 검사부(52)는 우선, 설정된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상을 2치화 처리한다. 이 때, 시일 전 검사부(52)는, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 개별로 이용하여, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 화상을 각각 2치화 처리함으로써, 복수 종류의 2치화 화상을 얻는다. 예를 들면, 적색(R) 성분의 화상에 대해서는, 적색(R) 성분에 대응하여 설정된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 각각 이용하여 이치화 처리를 실시함으로써, 적색(R) 성분의 화상으로 이루어진 복수의 2치화 화상을 얻는다.
그리고 나서, 얻어진 2치화 화상에 대해 포켓부(2)의 영역 또는 시트 부분의 영역에 마스킹 처리를 실시하여, 포켓부(2)가 차지하는 영역 또는 시트 부분이 차지하는 영역을 검사 대상하여 설정한다. 그 후, 2치화 화상에 대해 괴처리를 실시함과 동시에, 괴부분의 면적을 미리 설정된 면적 판정에 따른 판정값과 비교하는 것 등에 의해, 정제(5) 및 시트 부분에 있어서의 결함 부분의 유무를 검사한다.
시일 후 검사부(53)는, 이물의 혼입의 유무 및 정제(5)에 있어서의 이상의 유무에 대해 검사를 실시한다. 시일 후 검사부(53)에 의한 검사 수법은, 기본적으로는 시일 전 검사부(52)에 의한 검사 수법과 동일하다. 단, 시일 후 검사부(53)에서는, 근적외광에 대응하는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여 2치화 화상을 얻는다.
또한, 각 검사부(52, 53)에 있어서 결함 부분이 발견되지 않은 경우에는, 검사 대상에 따른 PTP 시트(1)는 양호하다고 판정된다. 한편, 각 검사부(52, 53)의 적어도 한쪽에서 결함 부분이 발견된 경우에는, 검사 대상에 따른 PTP 시트(1)는 불량이라고 판정된다.
또한, 각 검사부(52, 53)는, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상에 기초하여, 정제(5)나 시트 부분을 실제로 검사하는 검사 모드와, 설정된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 검증하기 위한 검증 모드로 동작 가능하게 되어 있다. 동작 모드의 전환은, 예를 들면, 검증 장치(54)로부터의 동작 전환 신호의 입력에 의해 실시된다. 통상, 각 검사부(52, 53)는 검사 모드로 동작하고 있고, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상에 기초하여 검사 처리를 실행한다.
한편, 검증 모드로 동작하는 경우, 각 검사부(52, 53)는, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상 대신에, 후술하는 검증용 화상(VI)을 이용하여, 상기와 동일한 검사 처리를 실행한다. 그리고, 각 검사부(52, 53)는, 얻어진 양부 판정 결과에 관한 정보(판정 결과 정보)를 검증 장치(54)로 출력한다. 판정 결과 정보에는, 검사 대상이 된 검증용 화상(VI)의 종별에 관한 정보와, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용했을 때의 개별의 양부 판정 결과가 포함된다.
검증 장치(54)는 각 검사부(52, 53)에 있어서의 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy이 적절한지 아닌지의 검증을 실시하기 위한 장치이다. 검증 장치(54)는, 도 4에 도시한 바와 같이, 검증용 화상 작성 수단으로서의 검증용 화상 작성부(55)와, 임계값 검증 수단으로서의 임계값 검증부(56)를 구비하고 있다. 본 실시형태에 있어서, 검증 장치(54)는, PTP 포장기의 설치 장소와 동일한 장소에 설치되어 있다.
검증 장치(54)는, 소정의 입력 장치(57)(예를 들면, 키보드 등)와 통신 가능하게 되어 있고, 당해 입력 장치(57)를 통해 각 검사부(52, 53)에 있어서의 동작 모드에 관한 정보가 입력 가능하게 되어 있다. 그리고, 입력 내용에 따라서, 검증 장치(54)는, 각 검사부(52, 53)에 대해 동작 전환 신호를 출력하여, 검사부(52, 53)의 동작 모드를 검사 모드 또는 검증 모드로 한다. 단, PTP 포장기(11)에 설치된 엔코더로부터의 정보 등에 기초하여, PTP 시트(1)의 제조가 실제로 실시되고 단계에서는, 동작 모드의 전환은 실시되지 않도록 되어 있다.
또한, 입력 장치(57)를 통해, 각 검사부(52, 53)에 있어서의 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 설정·변경을 실시하는 것이 가능하게 되어 있다. 구체적으로는, 입력 장치(57)를 통해 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 검증 장치(54)로 입력되면, 검증 장치(54)는, 입력된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 검사부(52, 53)로 출력한다. 검사부(52, 53)는, 입력 내용에 기초하여, 휘도 임계값δ×1, δ×2, δy를 재설정한다.
검증용 화상 작성부(55)는, 도 6에 도시한 바와 같이, 미리 취득된 양품 화상(GI)에 대해, 가상적인 결함 화상(DG)을 배치하여 이루어진 검증용 화상(VI)을 작성한다. 본 실시형태에 있어서, 검증용 화상 작성부(55)는, 검사부(52, 53)에 있어서의 동작 모드가 검증 모드가 되면, 검증용 화상(VI)을 작성한다. 작성된 검증용 화상(VI)은, 검증 장치(54)가 갖는 도시하지 않는 소정의 기억 장치(예를 들면, 하드디스크 등)에 기억된다. 또한, 도 6에서는, 검증용 화상(VI)에 대해 결함 화상(DG)이 복수 배치되어 있지만, 통상, 검증용 화상(VI)에는, 1의 결함 화상(DG)이 배치된다.
양품 화상(GI)은, 검사부(52, 53)(처리 실행 장치(62))에 의해 양호하다고 판정되는 화상이고, 검사부(52, 53)의 검사에서 이용되는 화상과 동일한 태양으로 되어 있다. 양품 화상(GI)은, 예를 들면, 실제로 카메라(61)에 의해 정제(5) 및 시트 부분(SP)(용기 필름(3)이나 PTP 필름(6))을 촬상함으로써 취득할 수 있다. 양품 화상(GI)을 얻을 때에 있어서의 조명 장치(60)로부터의 광의 조사 조건은, 정제(5) 등의 검사를 실제로 실시할 때에 있어서의 조명 조건과 동일하게 되어 있다. 또한, 검사시의 조건(예를 들면, 정제(5)나 커버 필름(4) 등의 품종이나 조명 장치(60)로부터의 광의 강도 등)을 이용하여, 소정의 시뮬레이터 등에 의해 양품 화상(GI)을 얻기로 해도 된다. 또한, 정제(5)나 시트 부분(SP)의 화상 데이터를 개별로 수득해두고, 이들을 조합함으로써 양품 화상(GI)을 수득하기로 해도 된다.
결함 화상(DG)은, 이물 등의 결함을 모방한 것이고, 양품 화상(GI)에 있어서의 정제(5)나 시트 부분(SP)에 배치된다. 결함 화상(DG)의 형상은 적절히 변경 가능하다.
또한, 결함 화상(DG)에는, 도 7(도 7은, 도 6에 있어서의 가상 직사각형(VR) 내의 확대도이다)에 도시한 바와 같이, 명 결함 화상(DG1) 및 암 결함 화상(DG2)이 포함된다. 명 결함 화상(DG1)은, 화상에 있어서 비교적 밝게 표시되는 결함을 나타내기 위한 것이고, 예를 들면, 당의 부분의 박리 부분 등에 대응하는 것이다. 한편, 암 결함 화상(DG2)은, 화상에 있어서 비교적 어둡게 표시되는 결함을 나타내기 위한 것이고, 예를 들면, 이물이나 시트의 주름 등에 대응하는 것이다. 본 실시형태에서는, 정제(5)에 대해 명 결함 화상(DG1) 및 암 결함 화상(DG2)를 배치 가능하고, 시트 부분(SP)에 대해 암 결함 화상(DG2)을 배치 가능하다.
또한, 시일 전 검사부(52)용의 검증용 화상(VI)으로서는 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 각 양품 화상(GI)에 대해, 대응하는 색 성분의 결함 화상(DG)를 배치한 것이 작성된다. 또한, 검증용 화상(VI)으로서, 한쪽의 카메라(61)에 대응하는 것과, 다른쪽의 카메라(61)에 대응하는 것이 각각 작성된다.
한편, 시일 후 검사부(53)용의 검증용 화상(VI)으로서는, 근적외 성분의 양품 화상(GI)에 대해, 결함 화상(DG)을 배치한 것이 작성된다.
여기서, 결함 화상(DG)의 휘도는, 양품 화상(GI)에 있어서의 당해 결함 화상(DG)이 배치되는 부분의 휘도를 기준으로 설정된다. 따라서, 양품 화상(GI)에 있어서의 정제(5)에 배치되는 결함 화상(DG)의 휘도는, 당해 정제(5)의 표면 휘도를 기준으로 설정된다. 또한, 양품 화상(GI)에 있어서의 시트 부분(SP)에 배치되는 결함 화상(DG)의 휘도는, 당해 시트 부분(SP)의 표면 휘도를 기준으로 설정된다.
또한, 도 8에 도시한 바와 같이, 소정의 암 결함 화상(DG2)(예를 들면, 이물을 상정한 암 결함 화상(DG2))은, 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 태양이 된다. 즉, 암 결함 화상(DG2)은, 휘도의 그라데이션을 가진 것이 된다. 이에 의해, 암 결함 화상(DG2)은, 실제로 촬상된 이물 등과 동일한 휘도 변화를 갖는 것이 된다.
이에 더해, 정제(5)에 배치되는 명 결함 화상(DG1) 및 암 결함 화상(DG2)의 휘도는, 다음의 범위에서 설정된다. 즉, 도 9에 도시한 바와 같이, 미리 설정된 최고 레벨 휘도(예를 들면, 명 결함의 휘도로서 상정될 수 있는 최대의 휘도)를 Lmax라고 하고, 명 결함 화상(DG1)을 배치할 예정인 정제(5)의 표면 휘도를 Lx1로 했을 때, 당해 명 결함 화상(DG1)의 휘도(L1)는, Lx1 초과 Lmax 미만의 범위 내에서 설정된다. 또한, 미리 설정된 최저 레벨 휘도(예를 들면, 모발 등을 상정한 것의 휘도)를 Lmin이라고 하고, 암 결함 화상(DG2)을 배치할 예정인 정제(5)의 표면 휘도를 Lx2로 했을 때, 당해 암 결함 화상(DG2)의 휘도(L2)는, Lmin 초과 Lx2 미만의 범위 내에서 설정된다. 예를 들면, 검사부(52, 53)에 있어서 결함 부분의 검사를 엄밀하게 실시하기 위해, 휘도 임계값 δ×1이 비교적 낮은 값으로 설정되고, 휘도 임계값 δ×2가 비교적 높은 값으로 설정되어 있는 경우, 휘도(L1, L2)는 각각 정제(5)의 표면 휘도(Lx1, Lx2)에 가까운 값으로 설정된다.
또한, 도 9에서는, 명 결함 화상(DG1) 및 암 결함 화상(DG2)의 배치 위치를 동일하게 했을 때에 있어서의, 표면 휘도(Lx1, Lx2)를 나타내고 있으므로, 표면 휘도(Lx1, Lx2)가 동일하게 되어 있다. 그러나, 명 결함 화상(DG1) 및 암 결함 화상(DG2)의 배치 위치를 다른 것으로 하면, 표면 휘도(Lx1, Lx2)는 상위할 수 있다. 또한, 도 9에서는, 근적외(NIR) 성분, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및, 청색(B) 성분의 각 휘도(Lmax)가 동일하게 되어 있지만, 정제(5)의 표면의 색 등에 따라서, 이들은 다른 것이 될 수 있다.
한편, 시트 부분(SP)에 배치되는 암 결함 화상(DG2)의 휘도는, 다음의 범위로 설정된다. 즉, 도10에 도시한 바와 같이, 미리 설정된 최저 레벨 휘도(예를 들면, 모발 등을 상정한 것의 휘도)를 Lmin이라고 하고, 암 결함 화상(DG2)이 배치될 예정인 시트 부분(SP)의 표면 휘도를 Ly로 했을 때, 당해 암 결함 화상(DG2)의 휘도(L3)는, Lmin 초과 Ly 미만의 범위 내에서 설정된다. 예를 들면, 휘도 임계값(δy)이 비교적 높은 값으로 설정되어 있는 경우, 휘도(L3)는, 시트 부분(SP)의 표면 휘도(Ly)에 가까운 값으로 설정된다.
이에 더해, 결함 화상(DG)의 휘도는, 각 파장 성분의 광에 따라서 각각 독립적으로 설정된다. 즉, 근적외(NIR) 성분, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 광에 따라서 각각 독립적으로 설정된다. 따라서, 예를 들면, 적색(R) 성분의 양품 화상(GI)에 배치되는 결함 화상(DG)의 휘도를 비교적 높게 설정하는 한편, 청색(B) 성분의 양품 화상(GI)에 배치되는 결함 화상(DG)의 휘도를 비교적 낮게 설정한다고 하는 것이 가능하다.
또한, 결함 화상(DG)의 휘도를 설정하는데에 있어서는, 촬상 영역의 중심 부분의 휘도가 비교적 높고, 촬상 영역의 외측 부분의 휘도가 비교적 낮아지기 쉬운 점, 및 정제(5)의 중심 부분의 휘도가 비교적 높고, 정제(5)의 외측 부분의 휘도가 비교적 낮아지기 쉬운 점을 고려하여, 배치 위치에 따라서 결함 화상(DG)의 휘도를 미조정해도 된다.
또한, 본 실시형태에서는, 검증 장치(54)에 대해, 입력 장치(57)를 통해 결함 화상(DG)의 휘도에 관한 레벨(가상 결함 휘도 레벨)을 입력 가능하게 되어 있다. 가상 결함 휘도 레벨은, 예를 들면, 복수 단계로 나뉘어져 있고, 매우 작은 결함을 검출하고 싶은 경우에는, 가상 결함 휘도 레벨이 최대로 설정된다. 그리고, 검증용 화상 작성부(55)는, 입력된 가상 결함 휘도 레벨에 따라서, 결함 화상(DG)의 휘도를 자동적으로 설정한다. 예를 들면, 가상 결함 휘도 레벨이 최대인 경우, 정제(5)에 배치되는 명 결함 화상(DG1)의 휘도(L1) 및 암 결함 화상(DG2)의 휘도(L2)를, 각각 정제(5)의 표면 휘도(Lx1, Lx2)로부터 1 단계만큼 증감시킨 휘도로 설정한다. 또한, 시트 부분(SP)에 배치되는 암 결함 화상(DG2)의 휘도(L3)를, 시트 부분(SP)의 표면 휘도(Ly)로부터 1 단계만큼 낮춘 휘도로 설정한다.
물론, 입력 장치(57)을 통해, 결함 화상(DG)의 휘도를 직접 입력 가능하게 해도 된다. 또한, 정제(5)나 시트 부분(SP)의 표면 휘도에 대해 소정값을 곱해 얻은 값이, 결함 화상(DG)의 휘도에 자동적으로 설정되도록 구성해도 된다.
또한, 정제(5)나 시트 부분(SP)의 표면 휘도에서 일정값을 증감시킨 값이, 결함 화상(DG)의 휘도에 자동적으로 설정되도록 구성해도 된다. 이 경우에는, 정제(5)나 용기 필름(3) 등의 품종이 바뀌었다고 해도, 정제(5) 등의 표면 휘도에 대한 휘도차가 일정해진 결함 화상(DG)을 설정할 수 있다.
검증용 화상 작성부(55)에 의해 작성된 검증용 화상(VI)은, 각 검사부(52, 53)로 출력된다. 각 검사부(52, 53)는, 입력된 검증용 화상(VI)를 이용하여, 실제 검사와 동일한 검사 처리를 실행한다. 즉, 시일 전 검사부(52)는 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 검증용 화상(VI)에 대해, 각 색 성분에 대응하여 설정된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여 검사를 실시한다. 또한, 시일 후 검사부(53)는, 근적외(NIR) 성분의 검증용 화상(VI)에 대해, 근적외(NIR)에 대응하여 설정된 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여 검사를 실시한다. 그리고, 각 검사부(52, 53)는, 양부 판정 결과에 관한 정보(판정 결과 정보)를 검증 장치(54)로 출력한다.
임계값 검증부(56)는, 각 검사부(52, 53)로부터 입력된 판정 결과 정보에 기초하여, 설정되어 있는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적정한지 아닌지를 검증한다. 본 실시형태에 있어서, 임계값 검증부(56)는, 판정 결과 정보에 있어서, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여 검사를 실시했을 때의 개별의 양부 판정 결과가 각각 불량으로 되어 있는 경우, 즉, 결함 화상(DG)이 상정한 바와 같이 검출되어 있는 경우에는, 각 검사부(52, 53)의 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy이 각각 적정하다고 판정한다.
한편, 임계값 검증부(56)는, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용했을 때의 개별의 양부 판정 결과 중 어느 하나에서 양호 판정으로 되어 있는 경우, 검사부(52, 53)로부터 입력된 판정 결과 정보에 기초하여, 부적정이라고 생각되는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 특정한다. 그리고, 특정한 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 부적정이라고 판정한다. 예를 들면, 시일 전 검사부(52)에 있어서,반사광을 촬상한 화상에 대응하는, 적색(R) 성분의 검증용 화상(VI)에 대해, 휘도 임계값 δ×2를 이용하여 검사를 실시했을 때의 양부 판정 결과가 양호 판정인 경우, 시일 전 검사부(52)에 있어서의, 반사광을 촬상한 화상의 검사에 이용되는, 적색(R) 성분에 대응하는 휘도 임계값 δ×2이 부적정이라고 판정한다.
또한, 임계값 검증부(56)는, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 적정·부적정에 관한 판정 결과를, 작성된 검증용 화상(VI)을 기억하기 위한 상기 기억 장치에 기억한다.
또한, 임계값 검증부(56)는, 도시하지 않는 소정의 표시 장치(예를 들면, 디스플레이 등)에 있어서, 상기 기억 장치의 내용을 표시하기 위한 처리를 실행한다. 이 처리는, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 적정·부적정에 관한 정보나, 검증용 화상(VI)을 표시시키는 처리이다. 작업자는, 표시된 정보에 기초하여, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적정 또는 부적정인 것의 파악이나, 검증에 이용한 검증용 화상(VI)의 확인 등을 실시할 수 있다. 또한, 작업자는, 표시된 정보에 기초하여, 상기 입력 장치(57)를 통해, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 변경을 실시하는 것도 가능하다.
계속해서, 상술한 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 검증에 따른 처리에 대해 플로우차트를 참조하여 설명한다. 검증에 따른 처리에는, 검증용 화상 작성부(55)에 있어서 실행되는 화상 준비 출력 처리, 검사부(52, 53)에 있어서 실행되는 동작 모드 전환 및 가상 검사 대응 처리(이하, 단지 「검사 대응 처리」라고 칭한다), 및 임계값 검증부(56)에 있어서 실행되는 휘도 임계값 검증 처리가 포함된다.
우선, 검증용 화상 작성부(55)에 있어서 실행되는 화상 준비 출력 처리에 대해 설명한다. 화상 준비 출력 처리는, 검증용 화상(VI)을 작성함과 동시에, 작성한 검증용 화상(VI)을 검사부(52, 53)로 출력하는 처리이다.
화상 준비 출력 처리에서는, 도 11에 도시한 바와 같이, 우선, 단계(S11)에 있어서, 검사부(52, 53)에 있어서의 동작 모드가 검증 모드인지 아닌지를 판정한다. 이 판정은, 예를 들면, 검증 장치(54)로부터 검사부(52, 53)로 출력된 동작 전환 신호의 종별에 기초하여 실시할 수 있다. 단계(S11)의 판정 처리는, 긍정 판정이 되기까지 반복 실시된다.
단계(S11)에서 긍정 판정되면, 단계(S12)에 있어서, 검증용 화상(VI)을 작성한다. 검증용 화상(VI)에 있어서의 결함 화상(DG)의 휘도는, 상기와 같이, 양품 화상(GI)에 있어서의 당해 결함 화상(DG)이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정된다. 또한, 미리 검증용 화상을 작성해둠으로써, 단계(S12)의 처리를 스킵해도 된다.
계속되는 단계(S13)에서는, 작성한 검증용 화상(VI)을 검사부(52, 53)로 출력한다.
계속해서, 단계(S14)에 있어서, 모든 검증용 화상(VI)을 검사부(52, 53)로 출력했는지 아닌지를 판정한다. 즉, 시일 전 검사부(52)에 대해, 반사광을 촬상한 화상 및 투과광을 촬상한 화상에 대응하는, 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및 청색(B) 성분의 검증용 화상(VI)를 출력하고, 또, 시일 후 검사부(53)에 대해, 근적외(NIR) 성분의 검증용 화상(VI)을 출력했는지 아닌지를 판정한다.
단계(S14)에서 부정 판정된 경우에는, 단계(S12)로 복귀하여, 모든 검증용 화상(VI)를 검사부(52, 53)로 출력하기까지 단계(S12, S13)의 처리를 실행한다. 한편, 단계(S14)에서 긍정 판정된 경우에는, 화상 준비 출력 처리를 종료한다.
계속해서, 검사부(52, 53)에 있어서 실행되는 가상 검사 대응 처리에 대해 설명한다. 가상 검사 대응 처리는, 검사부(52, 53)의 동작 모드를 전환함과 동시에, 동작 모드가 검증 모드가 되었을 때, 검증용 화상(VI)을 이용한 가상적인 검사를 실행하는 처리이다.
검사 처리에서는, 도 12에 도시한 바와 같이, 우선, 단계(S21)에 있어서, 검사부(52, 53)의 동작 모드가 검사 모드인지 아닌지를 판정한다. 단계(S21)에서 긍정 판정된 경우에는, 단계(S22)에 있어서, 촬상 화상 선택 처리를 실행하고, 가상 검사 대응 처리를 종료한다. 촬상 화상 선택 처리에서는, 통상의 검사(PTP 시트(1)의 제조 과정에 있는 정제(5)나 시트 부분의 검사)를 실행하기 위해, 카메라(61)에 의해 얻어진 화상에 기초하여 검사를 실시하기 위한 설정을 한다.
한편, 단계(S21)에서 부정 판정된 경우에는, 단계(S23)에 있어서, 검사부(52, 53)의 동작 모드가 검증 모드인지 아닌지를 판정한다. 단계(S23)에 있어서 부정 판정된 경우에는, 단계(S24)에 있어서 이상 처리를 실행하고, 가상 검사 대응 처리를 종료한다. 즉, 동작 모드가 검사 모드 및 검증 모드 모두 설정되어 있지 않은 경우에는, 동작 모드의 설정에 이상이 발생하고 있는 것으로 보고, 이상 처리를 실행한다. 이상 처리에서는, 동작 모드가 설정되어 있지 않은 것을 통지하기 위한 처리 등이 실행된다.
이에 대해, 단계(S23)에서 긍정 판정된 경우, 즉, 동작 모드가 검증 모드인 경우에는, 단계(S25)에 있어서, 검증용 화상(VI)이 입력되었는지 아닌지를 판정한다. 단계(S25)의 판정 처리는, 긍정 판정되기까지 반복 실시된다.
단계(S25)에 있어서 긍정 판정되면, 단계(S26)에 있어서 가상 검사 처리를 실행한다. 가상 검사 처리에서는, 입력된 검증용 화상(VI)을 이용하여, 실제 검사와 동일한 검사를 실행한다. 또한, 입력된 검증용 화상(VI)의 종별에 관한 정보를 일시적으로 기억한다.
계속되는 단계(S27)에서는, 입력된 검증용 화상(VI)에 대한 양부 판정 결과에 관한 정보(판정 결과 정보)가 검증 장치(54)로 출력된다. 판정 결과 정보에는, 상기와 같이, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용했을 때의 개별의 양부 판정 결과나, 검증용 화상(VI)의 종별에 관한 정보가 포함된다.
계속해서, 단계(S28)에 있어서, 모든 검증용 화상(VI)이 입력되었는지 아닌지를 판정한다. 이 판정은, 일시적으로 기억된, 입력된 검증용 화상(VI)의 종별에 관한 정보에 기초하여 실시할 수 있다. 단계(S28)에서 부정 판정된 경우, 즉, 입력되어 있지 않은 검증용 화상(VI)이 존재하는 경우에는, 단계(S25)로 복귀한다.
한편, 단계(S28)에서 긍정 판정된 경우, 즉, 모든 검증용 화상(VI)이 입력되고, 이들에 대한 모든 판정 결과 정보가 검증 장치(54)로 출력되어 있는 경우에는, 가상 검사 대응 처리를 종료한다.
계속해서, 임계값 검증부(56)에 있어서 실행되는 휘도 임계값 검증 처리에 대해 설명한다. 휘도 임계값 검증 처리는, 검사부(52, 53)로부터 입력된 판정 결과 정보에 기초하여, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적정한지 아닌지를 검증하는 처리이다.
휘도 임계값 검증 처리에서는, 도 13에 도시한 바와 같이, 우선, 단계(S31)에 있어서, 검사부(52, 53)로부터 판정 결과 정보가 입력되었는지 아닌지를 판정한다. 이 판정 처리는 긍정 판정되기까지 반복 실시된다.
단계(S31)에 있어서, 긍정 판정되면, 단계(S32)로 이행하고, 판정 결과 정보에 있어서, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용했을 때의 개별의 양부 판정 결과가 각각 불량 판정으로 되어 있는지 아닌지를 판정한다. 즉, 검사부(52, 53)가 결함 화상(DG)을 결함 부분으로서 바르게 인식했는지 아닌지(상정대로의 검사 결과를 출력했는지 아닌지)를 판정한다. 또한, 이 판정 처리와 합해, 입력된 판정 결과 정보가 검증 장치(54)의 상기 기억 장치에 대해 기억된다. 이 기억된 정보는, 후술하는 단계(S36)에 있어서, 모든 판정 결과 정보가 입력되었는지 아닌지를 판정할 때 이용된다.
단계(S32)에서 긍정 판정된 경우에는, 단계(S33)로 이행하고, 판정 결과 정보에 포함되는 검증용 화상(VI)의 종별에 관한 정보를 이용하여, 이 종별의 검증용 화상(VI)에 대응하는 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy이 각각 적정하다고 판정한다. 예를 들면, 시일 전 검사부(52)에 있어서, 적색(R) 성분의 검증용 화상(VI)에 대해, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용하여.검사를 실시했을 때의 양부 판정 결과가 각각 불량 판정인 경우에는, 시일 전 검사부(52)에 있어서의, 적색(R) 성분에 대응하는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 각각 적정하다고 판정한다.
한편, 단계(S32)에서 부정 판정된 경우, 즉, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 이용했을 때의 개별의 양부 판정 결과 중 어느 하나에서 양호 판정으로 되어 있는 경우, 단계(S34)로 이행한다. 그리고, 단계(S34)에 있어서, 검사부(52, 53)로부터 입력된 판정 결과 정보에 기초하여, 부적정이라고 생각되는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 특정함과 동시에, 특정한 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy를 부적정이라고 판정한다.
단계(S33) 또는 단계(S34)에 계속해서, 단계(S35)에 있어서, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 적정 또는 부적정에 관한 판정 결과(임계값 판정 결과)를, 검증 장치(54)의 상기 기억 장치에 기억한다.
계속해서, 단계(S36)에 있어서, 상기 기억 장치의 정보에 기초하여, 모든 판정 결과 정보가 입력되었는지 아닌지를 판정한다. 단계(S36)에서 부정 판정된 경우, 즉, 입력되어 있지 않은 판정 결과 정보가 존재하는 경우에는, 단계(S31)로 복귀한다.
한편, 단계(S36)에서 긍정 판정된 경우, 즉, 모든 판정 결과 정보가 입력되어 있는 경우에는 단계(S37)로 이행한다. 그리고, 단계(S37)에서 표시 처리를 실행하고, 휘도 임계값 검증 처리를 종료한다. 표시 처리에 의해, 상기 표시 장치에 있어서, 각 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 적정·부적정에 관한 정보나, 검증용 화상(VI)이 표시된다.
이상 상술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면, 검증용 화상(VI)을 이용하여, 결함 검출에 이용되는 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 검증을 실시할 수 있다. 따라서, 검증시에, 실제로 불량 시트(불량 판정이라고 상정되는 시트)를 준비하거나, 검사를 실시할 필요가 없어, 검증에 요하는 노력이나 시간을 대폭 저감시킬 수 있다. 또한, 불량 시트가 불필요해지므로, 불량 시트에서 이물이 유출되는 사태를 발생시키지 않는 것으로 할 수 있다. 이에 더해, 검사 대상이 되는 정제(5)나 용기 필름(3) 등의 실물을 갖고 있지 않은 단계여도, 검증용 화상(VI)을 준비할 수 있으면, 검증을 실시할 수 있다. 그 때문에, 검증에 따른 편리성을 높일 수 있다.
그런데, 검사 대상 부위(정제(5)나 시트 부분(SP))의 휘도는, 통상, 정제(5)의 종별이나 시트 부분(SP)의 구성 재료 등에 따라서 다르다. 그 때문에, 결함 화상으로서, 정제(5)의 종별 등이 상위했다고 해도 공통으로 이용할 수 있는 것을 사용하는 것을 생각할 수 있다. 이와 같은 결함 화상에 있어서의 휘도는, 모발의 휘도를 상정한 것 등, 검사 대상 부위와의 휘도차가 충분히 커진 것이 된다. 즉, 결함 화상에 있어서의 휘도는, 도 9나 도 10에 있어서의 최저 레벨 휘도(Lmin)가 된다.
그러나, 이와 같은 결함 화상을 이용한 검증은, 어디까지나 휘도 임계값이 최저한도의 결함을 검지할 수 있는 것인지 아닌지의 검증에 불과하다. 따라서, 요구되는 결함의 검출 능력이 보다 높은 경우(보다 섬세한 이물의 검출 등이 요구되는 경우)에, 요구되는 검출 능력을 실현 가능한 휘도 임계값으로 되어 있는지 아닌지의 검증을 실시할 수는 없다.
이에 대해, 본 실시형태에서는, 결함 화상(DG)의 휘도는, 양품 화상(GI)에 있어서의 당해 결함 화상(DG)이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정된다. 따라서, 정제(5)나 시트 부분(SP)의 휘도에 가까운 휘도가 된 결함의 검출에 있어서, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다. 이에 의해, 요구되는 결함의 검출 능력을 실현 가능한 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy인지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
이에 더해, 결함 화상(DG)의 휘도는, 각 파장 성분의 광에 따라서 독립적으로 설정된다. 그 때문에, 다른 파장 성분의 광을 이용하여 얻은 각 화상에 대해, 결함 화상(DG)의 휘도를 적절히 설정할 수 있다. 그 결과, 폭넓은 결함의 검출을 실시하는데에 있어서, 휘도 임계값이 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
또한, 암 결함 화상(DG2) 및 명 결함 화상(DG1)의 각각의 휘도는, 양품 화상(GI)에 있어서의 결함 화상(DG)이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 설정되어 있다. 따라서, 암 결함 및 명 결함의 검출에 있어서, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다. 즉, 보다 폭넓은 결함의 검출을 실시하는데에 있어서, 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적절한지 아닌지의 검증을 실시할 수 있다.
또한, 소정의 암 결함 화상(DG2)은, 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 것이 되고, 검사에 있어서 실제로 이물을 촬상했을 때에 얻어지는 이물의 화상과 동일한 태양이 된다. 이에 의해, 실제의 검사에 준거한 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy의 검증을 실시할 수 있다.
또한, 상기 실시형태의 기재 내용에 한정되지 않고, 예를 들면, 다음과 같이 실시해도 된다. 물론, 이하에 있어서 예시하지 않는 다른 응용예, 변경예도 당연히 가능하다.
(a) 상기 실시형태에서는, 시일 전 검사부(52)의 조명 장치(60)로부터 백색광이 조사되는, 즉, 서로 다른 복수의 파장 성분의 광이 한번에 조사되도록 구성되어 있지만, 복수의 파장 성분의 광을 별도로 조사하도록 구성해도 된다. 또한, 소정의 단색광(예를 들면, 적색광)만이 조사되도록 구성해도 된다.
(b) 상기 실시형태에 있어서, 시일 전 검사부(52)는 적색(R) 성분, 녹색(G) 성분, 및, 청색(B) 성분의 화상을 이용하여 정제(5) 등의 양부 판정을 실시하도록 구성되어 있지만, 백색광을 조사함으로써 얻은 일반적인 칼라 화상을 이용하여, 정제(5) 등의 양부 판정을 실시하도록 구성되어 있어도 된다. 이 경우, 결함 화상(DG)의 휘도는, 백색광에 대응하는 양품 화상(GI)에 있어서의 정제(5)나 시트 부분(SP)의 휘도를 기준으로 설정된다.
(c) 검사부(52, 53)의 구성은 적절히 변경 가능하다. 예를 들면, 시일 후 검사부(53)은 반사식의 검사 수단으로 되어 있지만, 투과광식의 검사 수단이여도 된다.
(d) 상기 실시형태에서 예로 든 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy는 예로서, 이용하는 휘도 임계값을 적절히 변경해도 된다. 예를 들면, 상기 실시형태에서는, 시트 부분의 명 결함을 검출하기 위한 휘도 임계값은 임계값은 설정되어 있지 않지만, 상기(c)와 같이, 시일 후 검사부(53)를 투과광식의 검사 수단으로 한 경우, 커버 필름(4)의 찢어짐 등의 결함 부분이 비교적 높은 휘도로 나타난다. 즉, 결함 부분이 명 결함이 된다. 그 때문에, 시트 부분(SP)에 있어서의 명 결함을 검출하기 위한 휘도 임계값을 새로 설정해도 된다.
또한, 복수 종류의 결함을 보다 확실히 검출하기 위해, 암 결함을 검출하기 위한 휘도 임계값이나 명 결함을 검출하기 위한 휘도 임계값을 각각 복수 이용하기로 해도 된다.
(e) 상기 실시형태에 있어서, 검증 장치(54)는, PTP 포장기(11)의 설치 장소와 같은 장소에 설치되어 있지만, 검증 장치(54)를 PTP 포장기(11)의 설치 장소와 다른 장소에 설치하여, 검증 장치(54) 및 각 검사부(52, 53)를 원격으로 통신 가능하게 해도 된다. 그리고, 각 검사부(52, 53)에 있어서의 휘도 임계값 δ×1, δ×2, δy가 적절한지 아닌지의 검증을 원격지에서 실시하기로 해도 된다.
또한, 이 경우, 예를 들면, 검증 장치(54)는, 복수의 PTP 포장기에 설치된 검사부에 있어서의 휘도 임계값의 검증을 일괄하여 실시하기로 해도 된다. 즉, 다른 장소에 있는 복수의 검사부에 있어서의 휘도 임계값의 검증을 검증 장치(54)가 집중적으로 실시하기로 해도 된다.
또한, 검증 장치의 임계값 검증 수단을 각 PTP 포장기에 대해 개별로 설치하는 한편, 검증 장치의 검증용 화상 작성 수단을 각 PTP 포장기와 별도로 설치하고, 당해 검증용 화상 작성 수단으로부터 PTP 포장기에 대해, 필요한 검증용 화상을 송신하도록 구성해도 된다.
(f) 상기 실시형태에서는, PTP 시트(1)의 제조 단계에 있어서 최종적으로 PTP 시트(1)가 되는 부위를 검사하도록 구성되어 있지만, 완성품의 PTP 시트(1)를 검사하도록 구성해도 된다.
(g) 상기 실시형태에서는, 내용물이 정제(5)인 경우에 대해 구체화하고 있지만, 내용물은 캡슐(의약품이나 영양식품 등) 등이어도 된다.
(h) 상기 실시형태에서는, 용기 필름(3)이 PP나 PVC 등의 열가소성 수지 재료에 의해 형성되고, 커버 필름(4)이 알루미늄박 등을 기재로 하여 형성되어 있지만, 각 필름(3, 4)의 재료는, 이들에 한정되지 않고, 다른 재질의 것을 채용해도 된다.
１: PTP 시트
2: 포켓부
3: 용기 필름
4: 커버 필름
5: 정제(내용물)
11: PTP 포장기
51: 검사 장치
55: 검증용 화상 작성부(검증용 화상 작성 수단)
56: 임계값 검증부(임계값 검증 수단)
60: 조명 장치(조사 수단)
61: 카메라(촬상 수단)
62: 처리 실행 장치(양부 판정 수단)
DG: 결함 화상
DG1: 명 결함 화상
DG2: 암 결함 화상
GI: 양품 화상
VI: 검증용 화상

Claims (5)

  1. 용기 필름에 형성된 포켓부에 대해 내용물이 수용됨과 동시에, 상기 포켓부를 막도록 상기 용기 필름에 대해 커버 필름이 취착되어 이루어져 있는 PTP 시트의 제조 과정에 있어서, PTP 시트 또는 최종적으로 PTP 시트가 되는 부위 중, 소정의 검사 대상 부위의 검사를 실시하기 위한 검사 장치로서,
    적어도 상기 검사 대상 부위에 대해 소정의 광을 조사하는 조사 수단과,
    상기 조사 수단으로부터 광이 조사된 상기 검사 대상 부위를 촬상 가능한 촬상 수단,
    미리 설정된 휘도 임계값을 이용하여, 상기 촬상 수단에 의해 얻어진 화상으로부터 상기 검사 대상 부위에 있어서의 결함의 유무를 검출함으로써, 상기 검사 대상 부위의 양부를 판정하는 양부 판정 수단,
    상기 양부 판정 수단에 의해 양호하다고 판정되는 양품 화상에 대해, 가상적인 결함 화상을 배치하여 이루어진 검증용 화상을 작성하는 검증용 화상 작성 수단, 및
    상기 촬상 수단에 의해 얻어진 화상 대신에, 상기 검증용 화상을 이용하여, 상기 양부 판정 수단에 의해 상기 검사 대상 부위의 양부를 판정시키고, 그 판정 결과에 기초하여, 상기 휘도 임계값을 검증하는 임계값 검증 수단을 구비하고,
    상기 조사 수단은, 서로 다른 복수의 파장 성분의 광을 조사 가능하고,
    상기 결함 화상의 휘도는, 서로 다른 복수의 파장 성분 마다 촬상한 상기 양품 화상에 있어서의 그 부위의 휘도를 기준으로, 상기 각 파장 성분의 광에 따라서 각각 독립적으로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 결함 화상은,
    상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 낮은 휘도로 설정되는 암 결함 화상, 및
    상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 높은 휘도로 설정되는 명 결함 화상을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 결함 화상은, 상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 낮은 휘도로 설정됨과 동시에, 그 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 것이 되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 결함 화상은, 상기 양품 화상에 있어서의 자신이 배치되는 부위의 휘도를 기준으로 하여, 당해 휘도보다도 낮은 휘도로 설정됨과 동시에, 그 중앙에서 외측을 향해 서서히 휘도가 높아지는 것이 되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 기재된 검사 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 PTP 포장기.
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