JP6914990B2 - 物品検査装置及び物品検査方法 - Google Patents
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Description
図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係る物品検査装置1は、光照射部10と、撮像部20と、搬送部30と、制御部40と、表示部50と、操作部60と、を備える。
続いて、本発明の第2の実施形態に係る物品検査装置について図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第1の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。
10 光照射部
20 撮像部
21 集光器
22 光分岐器
24a 第1イメージセンサ
24b 第2イメージセンサ
25a 第1光パワー検出部
25b 第2光パワー検出部
26a 第1画像生成部
26b 第2画像生成部
30 搬送部
41,41' 処理部
42,46 判定部
43,47 ヒストグラム算出部
44 閾値算出部
45 反射率推定部
48 画素値算出部
49 テーブル作成部
W 被検査物
Claims (6)
- 被検査物を異物検出領域に搬送する搬送部(30)と、前記異物検出領域に搬送された前記被検査物に所定の波長範囲内の光を照射する光照射部(10)と、前記異物検出領域に搬送された前記被検査物からの拡散反射光の画像を撮像する撮像部(20)と、前記撮像部により撮像された画像に基づいて前記被検査物における異物の有無を判定する処理部(41')と、を備える物品検査装置において、
前記所定の波長範囲は、800nm〜1200nmの第1波長範囲、及び、1600nm〜1800nmの第2波長範囲の少なくとも一方であり、
前記撮像部は、
前記光照射部から前記被検査物に照射されて拡散反射された拡散反射光を集光する集光器(21)と、
前記集光器により集光された前記所定の波長範囲内の光の光量に応じた電圧信号を出力する複数の受光素子を含む光電変換部(24a,24b)と、
前記光電変換部の各前記受光素子から出力される電圧信号から光パワーを検出する光パワー検出部(25a,25b)と、
前記光パワー検出部により前記受光素子ごとに検出された光パワーに応じた画素値の画素からなる画像を生成する画像生成部(26a,26b)と、を有し、
前記処理部は、
前記画像生成部により生成された画像における前記被検査物に対応する画像領域の各画素値から、前記被検査物の反射率を前記画素ごとに推定する反射率推定部(45)と、
前記反射率推定部により推定された前記画素ごとの反射率と、異物に対応する反射率との比較に基づいて、前記被検査物における異物の有無を判定する判定部(46)を含み、
前記処理部は、
前記被検査物の代わりに、前記第1波長範囲内で互いに異なる既知の反射率を示す複数のサンプル、又は、前記第2波長範囲内で互いに異なる既知の反射率を示す複数のサンプルが前記異物検出領域に搬送された場合に、前記画像生成部により生成された画像における各前記サンプルに対応する画像領域の画素値のヒストグラムを算出するヒストグラム算出部(47)と、
前記ヒストグラム算出部により算出されたヒストグラムに基づいて、各前記サンプルの前記既知の反射率に対応する画素値を算出する画素値算出部(48)と、
前記画素値算出部により算出された画素値に基づいて、前記被検査物に対応する画像領域の画素値と反射率との関係を示すテーブルを作成するテーブル作成部(49)と、を更に含み、
前記反射率推定部は、前記被検査物が前記異物検出領域に搬送された場合に、前記画像生成部により生成された画像における前記被検査物に対応する画像領域の各画素値に対応する反射率を前記テーブルに基づいて推定することを特徴とする物品検査装置。 - 前記異物が、スズメバチ、アブ、ハチ、ヒナバッタ、トンボ、コガネムシ、セミ、オオスカシバ、カマキリ、ショウリョウバッタ、及びゴキブリのうちの少なくとも1つであることを特徴とする請求項1に記載の物品検査装置。
- 前記異物が毛髪であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の物品検査装置。
- 前記光電変換部がラインイメージセンサである請求項1から請求項3のいずれかに記載の物品検査装置。
- 前記光電変換部がエリアイメージセンサである請求項1から請求項3のいずれかに記載の物品検査装置。
- 被検査物を異物検出領域に搬送する搬送ステップ(S2)と、
前記異物検出領域に搬送された前記被検査物に所定の波長範囲内の光を照射する光照射ステップ(S3)と、
前記異物検出領域に搬送された前記被検査物からの拡散反射光の画像を撮像する撮像ステップ(S4)と、
前記撮像ステップにより撮像された画像に基づいて前記被検査物における異物の有無を判定する処理ステップ(S5)と、を含む物品検査方法において、
前記所定の波長範囲は、800nm〜1200nmの第1波長範囲、及び、1600nm〜1800nmの第2波長範囲の少なくとも一方であり、
前記撮像ステップは、
前記光照射ステップにより前記被検査物に照射されて拡散反射された拡散反射光を集光する集光ステップ(S11)と、
複数の受光素子を含む光電変換部から、前記集光ステップにより集光された前記所定の波長範囲内の光の光量に応じた電圧信号を出力する光電変換ステップ(S12)と、
前記光電変換部の各前記受光素子から出力される電圧信号から光パワーを検出する光パワー検出ステップ(S13)と、
前記光パワー検出ステップにより前記受光素子ごとに検出された光パワーに応じた画素値の画素からなる画像を生成する画像生成ステップ(S14)と、を含み、
前記処理ステップは、
前記画像生成ステップにより生成された画像における前記被検査物に対応する画像領域の各画素値から、前記被検査物の反射率を前記画素ごとに推定する反射率推定ステップ(S31)と、
前記反射率推定ステップにより推定された前記画素ごとの反射率と、異物に対応する反射率との比較に基づいて、前記被検査物における異物の有無を判定する判定ステップ(S32)を含み、
前記処理ステップは、
前記被検査物の代わりに、前記第1波長範囲内で互いに異なる既知の反射率を示す複数のサンプル、又は、前記第2波長範囲内で互いに異なる既知の反射率を示す複数のサンプルが前記異物検出領域に搬送された場合に、前記画像生成ステップにより生成された画像における各前記サンプルに対応する画像領域の画素値のヒストグラムを算出するヒストグラム算出ステップ(S45,S49)と、
前記ヒストグラム算出ステップにより算出されたヒストグラムに基づいて、各前記サンプルの前記既知の反射率に対応する画素値を算出する画素値算出ステップ(S50)と、
前記画素値算出ステップにより算出された画素値に基づいて、前記被検査物に対応する画像領域の画素値と反射率との関係を示すテーブルを作成するテーブル作成ステップ(S51)と、を更に含み、
前記反射率推定ステップは、前記被検査物が前記異物検出領域に搬送された場合に、前記画像生成ステップにより生成された画像における前記被検査物に対応する画像領域の各画素値に対応する反射率を前記テーブルに基づいて推定することを特徴とする物品検査方法。
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