KR102119862B1 - 테스트 소켓 - Google Patents

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KR102119862B1
KR102119862B1 KR1020190019627A KR20190019627A KR102119862B1 KR 102119862 B1 KR102119862 B1 KR 102119862B1 KR 1020190019627 A KR1020190019627 A KR 1020190019627A KR 20190019627 A KR20190019627 A KR 20190019627A KR 102119862 B1 KR102119862 B1 KR 102119862B1
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KR1020190019627A
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강이선
조해국
오창수
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(주)티에스이
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Abstract

본 발명은 테스트 소켓을 유지 보수함에 있어서 테스트 소켓을 테스터로부터 완전히 분리하지 않고 전기 신호를 전달하는 테스트 커넥터를 용이하게 교체할 수 있는 테스트 소켓을 제공하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 테스터에 결합되는 프레임 바디 및 프레임 바디의 일단부를 통해 외측으로 개방되도록 프레임 바디의 내측에 마련되는 장착홈을 갖는 소켓 프레임과, 프레임 바디의 개방된 일단부를 통해 장착홈 속으로 진입하거나 장착홈으로부터 분리될 수 있도록 장착홈에 탈착식으로 장착되는 커넥터 베이스 및 테스터와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 커넥터 베이스에 배치되는 도전부를 갖는 테스트 커넥터를 포함하고, 프레임 바디에는 걸림턱이 구비되고, 커넥터 베이스에는 탄성 지지부가 커넥터 베이스의 측면으로부터 이격되되 커넥터 베이스의 측면으로 접근하는 방향을 휘어질 수 있도록 구비되며, 탄성 지지부에는 걸림턱에 걸릴 수 있도록 탄성 지지부로부터 외측으로 돌출되는 걸림돌기가 구비된다.

Description

테스트 소켓{TEST SOCKET}
본 발명은 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 피검사체와 테스터를 전기적으로 연결하는 도전부를 갖는 테스트 커넥터의 교체가 용이한 테스트 소켓에 관한 것이다.
반도체 패키지는 미세한 전자회로가 고밀도로 집적되어 형성되어 있으며, 제조공정 중에 각 전자회로의 정상 여부에 대한 테스트 공정을 거치게 된다. 테스트 공정은 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하여 양품과 불량품을 선별하는 공정이다.
통상적으로, 반도체 패키지의 테스트 공정은 반도체 패키지의 단자와 테스트 신호를 인가하는 테스터를 전기적으로 연결하는 테스트 소켓에 의해 이루어진다. 테스트 소켓은 테스터에 고정되는 소켓 프레임과, 소켓 프레임에 결합되는 테스트 커넥터와, 반도체 패키지를 테스트 커넥터로 가이드하는 가이드를 포함하는 것이 일반적이다.
반도체 패키지의 테스트에 있어 테스트 소켓의 특성은 테스트 소켓을 어떻게 관리하는지에 따라 사용 특성 및 수명이 달라지게 된다. 대량의 반도체 패키지에 대한 테스트 중 테스터와 피검사체인 반도체 패키지를 통전시키는 테스트 커넥터의 수명이 다하여 테스트 소켓의 성능이 저하되면 양질의 반도체 패키지를 불량으로 처리하는 경우가 발생할 수 있다. 따라서, 반도체 제조업체에서는 테스트 소켓이 일정한 사용횟수 즉, 임계 사용횟수에 도달하면 새 것으로 교체하게 되며, 교체된 테스트 소켓은 세정 후 검사를 거쳐 재사용되기도 한다.
테스트 소켓을 유지 보수하기 위해서는 테스트 소켓을 테스터로부터 분리하거나, 테스터에 장착된 상태에서 유지 보수를 하게 되며, 테스트 소켓의 주요 부품인 테스트 커넥터를 교체하기 위해서는 테스터로부터 테스트 소켓을 완전 분리하여 교체를 진행하게 된다.
테스트 소켓은 많게는 512개 이상이 볼트를 통해 테스터에 단단히 고정된다. 따라서, 부품 교체 등 유지 보수를 위해서는 볼트를 모두 풀어 유지 보수 작업을 수행한 후, 다시 볼트를 이용하여 다시 테스트 소켓을 장착해야 하므로, 교체 시간이 상당히 오래 걸리게 된다.
이러한 종래의 문제점을 해결하기 위해, 등록특허 제1032648호(2011. 05. 06)나, 공개특허 제2016-0118796호(2016. 10. 12)에는 볼트 체결용 구조물을 사용하지 않고 볼 플런저나, 핀을 이용하여 부품의 교체를 용이하게 하는 테스트 소켓이 개시되어 있다. 그런데 이러한 테스트 소켓 역시 전기적 통로 역할을 하는 테스트 커넥터를 교체하기 위해서는 체결용 볼트를 모두 해체해야만 테스트 커넥터를 교체할 수 있는 문제점이 있다.
등록특허 제1032648호 (2011. 05. 06) 공개특허 제2016-0118796호 (2016. 10. 12)
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 테스트 소켓을 유지 보수함에 있어서 테스트 소켓을 테스터로부터 완전히 분리하지 않고 전기 신호를 전달하는 테스트 커넥터를 용이하게 교체할 수 있는 테스트 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓에 있어서, 상기 테스터에 결합되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디의 일단부를 통해 외측으로 개방되도록 상기 프레임 바디의 내측에 마련되는 장착홈을 갖는 소켓 프레임; 및 상기 프레임 바디의 개방된 일단부를 통해 상기 장착홈 속으로 진입하거나 상기 장착홈으로부터 분리될 수 있도록 상기 장착홈에 탈착식으로 장착되는 커넥터 베이스와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 배치되는 도전부를 갖는 테스트 커넥터;를 포함하고, 상기 프레임 바디에는 걸림턱이 구비되고, 상기 커넥터 베이스에는 탄성 지지부가 상기 커넥터 베이스의 측면으로부터 이격되되, 상기 커넥터 베이스의 측면으로 접근하는 방향을 휘어질 수 있도록 구비되며, 상기 탄성 지지부에는 상기 걸림턱에 걸릴 수 있도록 상기 탄성 지지부로부터 외측으로 돌출되는 걸림돌기가 구비된다.
상기 커넥터 베이스의 측면과 상기 탄성 지지부 사이에는 상기 탄성 지지부가 상기 커넥터 베이스의 측면으로 접근하는 방향을 휘어질 때 상기 탄성 지지부에 대해 상기 커넥터 베이스의 측면으로부터 멀어지는 방향으로 탄성력을 가하는 탄성부재가 개재될 수 있다.
상기 탄성 지지부는 양쪽 단부가 모두 상기 커넥터 베이스에 지지되는 양단 고정보 구조로 이루어질 수 있다.
상기 탄성 지지부는 일단부만 상기 커넥터 베이스에 지지되고, 타단부는 자유단을 이루는 외팔보 구조로 이루어질 수 있다.
상기 소켓 프레임은, 상기 테스트 커넥터가 상기 장착홈 속으로 진입할 때 상기 걸림돌기가 삽입되어 이동할 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면에 상기 프레임 바디의 일단부에서 상기 걸림턱 측으로 연장되는 가이드 홈과, 상기 걸림돌기를 상기 커넥터 베이스의 측면 측으로 가압할 수 있도록 상기 가이드 홈의 끝에서 상기 프레임 바디의 타단부 측으로 하향 경사지게 배치되는 가이드 슬로프를 포함할 수 있다.
상기 탄성 지지부는 한 쌍이 상기 커넥터 베이스를 사이에 두고 상기 커넥터 베이스의 양측에 배치되고, 상기 걸림돌기는 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 각각 구비되며, 상기 걸림턱은 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 대응하는 위치에 각각 배치될 수 있다.
상기 소켓 프레임은, 상기 테스트 커넥터를 상기 소켓 프레임에 탈착식으로 결합하기 위한 탈착용 지그가 삽입될 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면에 상기 프레임 바디의 일단부에서 상기 걸림턱 측으로 연장되는 지그 삽입홈을 포함할 수 있다.
상기 소켓 프레임은, 상기 장착홈에 장착되는 상기 테스트 커넥터를 떠받칠 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면으로부터 상기 장착홈의 중앙 측으로 돌출되는 지지대와, 상기 지지대에 지지되어 상기 테스트 커넥터가 상기 장착홈으로 진입하는 방향과 평행하게 배치되는 가이드 핀을 포함하고, 상기 테스트 커넥터는 상기 가이드 핀이 삽입될 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 형성되는 핀 홀을 포함할 수 있다.
상기 탄성 지지부는 상기 커넥터 베이스와 일체형으로 이루어지고, 상기 걸림돌기는 상기 탄성 지지부와 일체형으로 이루어질 수 있다.
한편, 상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 테스트 소켓은, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓에 있어서, 상기 테스터에 결합되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디의 일단부를 통해 외측으로 개방되도록 상기 프레임 바디의 내측에 마련되는 장착홈을 갖는 소켓 프레임; 및 상기 프레임 바디의 개방된 일단부를 통해 상기 장착홈 속으로 진입하거나 상기 장착홈으로부터 분리될 수 있도록 상기 장착홈에 탈착식으로 장착되는 커넥터 베이스와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 배치되는 도전부를 갖는 테스트 커넥터;를 포함하고, 상기 커넥터 베이스에는 걸림턱이 구비되고, 상기 프레임 바디의 내측에는 탄성 지지부가 상기 장착홈의 중앙에서 멀어지는 방향으로 휘어질 수 있도록 구비되며, 상기 탄성 지지부에는 상기 걸림턱에 걸릴 수 있도록 상기 장착홈의 중앙 측으로 돌출되는 걸림돌기가 배치된다.
본 발명에 따른 테스트 소켓은 전기 신호를 전달하기 위한 테스트 커넥터를 소켓 프레임의 장착홈 속으로 간단히 밀어 넣는 방식으로 테스트 커넥터를 소켓 프레임에 장착할 수 있으므로, 설치 작업이 용이하고, 설치 시간이 대폭 절감될 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓은 테스터에 설치되어 테스트 작업 중에 유지 보수가 필요한 경우, 소켓 프레임이 테스터에 설치된 상태에서 테스트 커넥터만 간단히 분리되고 교체될 수 있다. 따라서, 테스트 커넥터 교체 등 유지 보수 작업 시간이 대폭 단축되고, 테스터의 가동 효율을 증대시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓이 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓을 나타낸 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 커넥터가 소켓 프레임에서 분리된 모습을 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 커넥터가 소켓 프레임에 결합되는 과정을 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓에 탈착용 지그가 결합된 모습을 나타낸 것이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 커넥터를 소켓 프레임에서 분리하는 과정을 설명하기 위한 평면도이다.
도 8 내지 도 10은 본 발명에 따른 테스트 소켓에 구비되는 테스트 커넥터의 다양한 변형예를 나타낸 것이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓의 일부분을 나타낸 저면도이다.
도 12는 도 11에 나타낸 테스트 소켓의 일부분을 나타낸 단면도이다.
도 13은 도 11에 나타낸 테스트 소켓의 소켓 프레임에 테스트 커넥터가 결합되는 과정을 나타낸 것이다.
이하, 본 발명에 따른 테스트 소켓을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓이 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓을 나타낸 단면도이며, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 커넥터가 소켓 프레임에서 분리된 모습을 나타낸 것이다.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(100)은 테스터(10)와 피검사체를 전기적으로 매개하기 위한 것으로, 테스터(10)의 테스터 보드(12)에 결합되는 소켓 프레임(110)과, 테스터(10)와 피검사체를 전기적으로 연결할 수 있도록 소켓 프레임(110)에 탈착식으로 결합되는 테스트 커넥터(130)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓(100)은 테스터(10)에서 발생하는 테스트 신호를 피검사체에 전달하고, 피검사체의 전기 신호를 테스터(10)에 전달할 수 있다.
소켓 프레임(110)은 테스트 커넥터(130)의 테스터 보드(12)에 고정되는 프레임 바디(112)를 포함한다. 프레임 바디(112)는 테스터 보드(12)에 정렬되어 고정될 수 있도록 외측으로 돌출되는 고정돌기(114)를 구비하고, 고정돌기(114)가 테스터 보드(12)에 구비되는 조립 홈(미도시)에 삽입된 상태에서 볼트 등의 고정부재를 통해 테스터 보드(12)에 단단히 고정될 수 있다. 프레임 바디(112)의 내측에는 테스트 커넥터(130)를 수용할 수 있는 장착홈(116)이 구비된다. 테스트 커넥터(130)는 프레임 바디(112)의 개방된 일단부를 통해 장착홈(116) 속으로 진입하거나 장착홈(116)으로부터 분리될 수 있도록 장착홈(116)에 탈착식으로 장착된다.
도면에는 장착홈(116)이 프레임 바디(112)의 상하 양단부 측으로 개방되는 것으로 나타냈으나, 장착홈(116)은 테스트 커넥터(130)가 출입하게 되는 프레임 바디(112)의 일단부 측으로만 개방될 수 있다. 이 경우, 프레임 바디(112)의 타단부 측에는 관통구멍 등 테스터 보드(12)와 테스트 커넥터(130)를 전기적으로 연결하기 위한 구조가 마련될 수 있다.
프레임 바디(112)의 내측에는 장착홈(116)에 장착된 테스트 커넥터(130)를 떠받칠 수 있는 지지대(118)가 구비된다. 지지대(118)는 프레임 바디(112)의 내측면으로부터 장착홈(116)의 중앙 측으로 돌출되며, 테스트 커넥터(130)가 접하는 평평한 면을 갖는다. 지지대(118)는 테스트 커넥터(130)의 양측을 떠받칠 수 있도록 적어도 두 개가 구비될 수 있다. 지지대(118)에는 가이드 핀(120)이 프레임 바디(112)의 일단부 측으로 돌출 구비된다. 가이드 핀(120)은 지지대(118)에 지지되어 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116)으로 진입하는 방향과 평행하게 배치됨으로써, 장착홈(116)으로 진입하는 테스트 커넥터(130)를 테스터 보드(12) 상의 정해진 위치로 정렬시킬 수 있다.
장착홈(116)에 장착되는 테스트 커넥터(130)를 고정하기 위해 프레임 바디(112)는 그 내측면에서 외측면 방향으로 연장되는 걸림턱(122)을 갖는다. 걸림턱(122)은 테스트 커넥터(130)에 구비되는 걸림돌기(142)와 맞닿음으로써 장착홈(116)에 장착되는 테스트 커넥터(130)를 프레임 바디(112)에서 분리되지 못하게 고정할 수 있다. 걸림턱(122)은 테스트 커넥터(130)에 구비되는 걸림돌기(142)에 대응하는 개수로, 걸림돌기(142)의 위치에 맞춰 배치된다.
이 밖에, 소켓 프레임(110)은 가이드 홈(124)과, 가이드 슬로프(126)와, 지그 삽입홈(128)을 포함한다. 도시된 것과 같이, 이들 가이드 홈(124)과, 가이드 슬로프(126) 및 지그 삽입홈(128)은 프레임 바디(112)의 내측면 중에서 장착홈(116)을 사이에 두고 상호 마주하는 한 쌍의 내측면에 각각 배치될 수 있다.
가이드 홈(124)은 프레임 바디(112)의 내측면에 프레임 바디(112)의 일단부에서 걸림턱(122) 측으로 연장되어 테스트 커넥터(130)의 걸림돌기(142)를 걸림턱(122) 측으로 가이드하고, 테스트 커넥터(130)가 더욱 원활하게 장착홈(116)에 장착될 수 있도록 한다. 즉, 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속으로 진입할 때, 걸림돌기(142)가 가이드 홈(124)에 삽입되어 이동하게 되므로, 걸림돌기(142)가 프레임 바디(112)와 마찰되면서 발생하는 마찰 저항이 감소하고, 보다 적은 힘으로 테스트 커넥터(130)를 장착홈(116) 속으로 밀어 넣는 것이 가능하다.
가이드 슬로프(126)는 가이드 홈(124)의 끝에서 프레임 바디(112)의 타단부 측으로 하향 경사지게 배치된다. 이러한 가이드 슬로프(126)는 가이드 홈(124)을 따라 이동하는 걸림돌기(142)를 점진적으로 테스트 커넥터(130)의 중앙 측으로 가압하면서 걸림돌기(142)를 걸림턱(122)으로 가이드한다. 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속으로 일정 거리 진입하면 가이드 홈(124)을 따라 이동하는 걸림돌기(142)는 가이드 슬로프(126)에 도달한다. 이 상태에서, 도 4에 나타낸 것과 같이, 테스트 커넥터(130)가 테스터 보드(12) 측으로 더욱 이동하면 걸림돌기(142)는 가이드 슬로프(126)에 밀착된 상태로 가이드 슬로프(126)를 따라 움직이게 되므로, 가이드 슬로프(126)에 의해 가압력을 받아 테스트 커넥터(130)의 중앙 측으로 밀리면서 걸림턱(122)으로 이동하게 된다.
지그 삽입홈(128)은 프레임 바디(112)의 내측면에 프레임 바디(112)의 일단부에서 걸림턱(122) 측으로 연장된다. 도 5에 나타낸 것과 같이, 지그 삽입홈(128)에 테스트 커넥터(130)를 파지할 수 있는 탈착용 지그(10)가 부분적으로 삽입될 수 있다. 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에서 분리하는 경우, 사용자는 탈착용 지그(10)의 양쪽 팁을 장착홈(116)을 사이에 두고 마주하도록 배치되는 두 개의 지그 삽입홈(128)에 각각 삽입함으로써, 테스트 커넥터(130)를 탈착용 지그(10)로 집어서 소켓 프레임(110)에서 용이하게 분리할 수 있다. 또한, 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)의 장착홈(116)에 장착하는 경우, 사용자는 탈착용 지그(10)로 테스트 커넥터(130)를 집은 상태에서 탈착용 지그(10)의 양쪽 팁을 두 개의 지그 삽입홈(128)을 따라 움직이면서 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에 용이하게 장착할 수 있다.
도시된 것과 같이, 프레임 바디(112)의 한쪽 내측면에서 지그 삽입홈(128)은 대략 중앙에 하나가 구비되고, 걸림돌기(142)를 가이드하는 가이드 홈(124)과 가이드 슬로프(126)는 지그 삽입홈(128)을 사이에 두고 한 쌍씩 구비될 수 있다.
테스트 커넥터(130)는 프레임 바디(112)의 개방된 일단부를 통해 장착홈(116) 속으로 진입하거나 장착홈(116)으로부터 분리될 수 있도록 장착홈(116)에 탈착식으로 장착된다. 테스트 커넥터(130)는 커넥터 베이스(132)와, 테스터(10)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 커넥터 베이스(132)의 중간에 배치되는 도전부(134)를 포함한다. 도전부(134)는 도시된 것과 같이 복수의 검사용 탐침을 포함하는 구조나, 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전영역이 절연부에 지지되어 있는 이방도전 시트 등 테스터(10)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있는 다양한 구조를 취할 수 있다.
테스트 커넥터(130)는 소켓 프레임(110)의 가이드 핀(120)이 삽입될 수 있도록 커넥터 베이스(132)를 관통하는 형태로 형성되는 핀 홀(136)을 갖는다. 테스트 커넥터(130)가 소켓 프레임(110)의 장착홈(116) 속으로 진입할 때, 가이드 핀(120)이 핀 홀(136)에 삽입됨으로써 테스트 커넥터(130)는 장착홈(116) 속에 정렬되어 배치될 수 있다.
커넥터 베이스(132)의 양측으로는 탄성 지지부(138)가 배치된다. 탄성 지지부(138)는 탄성 변형될 수 있도록 커넥터 베이스(132)에 지지된다. 탄성 지지부(138)는 커넥터 베이스(132)의 측면으로부터 이격되어 커넥터 베이스(132)의 측면과 나란하게 배치된다. 도시된 것과 같이, 탄성 지지부(138)는 양쪽 단부가 상기 커넥터 베이스(132)에 지지되는 양단 고정보 구조로 이루어질 수 있다. 커넥터 베이스(132)의 측면과 탄성 지지부(138)의 사이에는 이격 공간(140)이 마련된다. 이격 공간(140)은 탄성 지지부(138)와 평행하게 연장되는 장착홈 형태로 형성될 수 있다.
탄성 지지부(138)는 커넥터 베이스(132)의 측면 측으로 외력을 받을 때 커넥터 베이스(132)의 측면으로 접근하는 방향을 휘어질 수 있다. 즉, 커넥터 베이스(132)의 측면과 탄성 지지부(138) 사이에 이격 공간(140)이 형성되어 있으므로, 탄성 지지부(138)가 탄성 변형되면서 커넥터 베이스(132)의 측면에 접근하는 방향을 휘어지는 것이 가능하다. 더욱이, 탄성 지지부(138)가 커넥터 베이스(132)의 측면과 나란하게 연장된 보 구조로 이루어짐으로써, 탄성 지지부(138)는 더욱 원활하게 휘어질 수 있다.
탄성 지지부(138)에는 소켓 프레임(110)의 걸림턱(122)에 걸릴 수 있도록 탄성 지지부(138)로부터 외측으로 돌출되는 걸림돌기(142)가 배치된다. 걸림돌기(142)는 한 쌍이 탄성 지지부(138)의 길이 방향으로 이격 배치되며, 탄성 지지부(138)와 마주하는 프레임 바디(112)의 내측면에 구비되는 한 쌍의 가이드 홈(124)에 각각 삽입될 수 있다. 테스트 커넥터(130)가 소켓 프레임(110)의 장착홈(116)에 장착될 때, 한 쌍의 걸림돌기(142)는 한 쌍의 가이드 홈(124)에 각각 삽입되어 가이드 홈(124)을 따라 걸림턱(122)으로 이동할 수 있다. 그리고 한 쌍의 걸림돌기(142)는 걸림턱(122)에 걸림으로써 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에 고정할 수 있다.
걸림돌기(142)는 탄성 지지부(138)와 일체형으로 이루어질 수 있다. 걸림돌기(142)의 크기는 작기 때문에, 탄성 지지부(138)와 일체형으로 형성하는 것이 가공 상 유리하나, 탄성 지지부(138)와 별도로 제작된 후 탄성 지지부(138)에 결합되는 것도 가능하다.
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(100)은 테스트 커넥터(130)가 프레임 바디(112)의 개방된 일단부를 통해 장착홈(116)속으로 진입하거나 장착홈(116)으로부터 분리될 수 있으며, 걸림돌기(142)가 소켓 프레임(110)의 걸림턱(122)에 걸림으로써 장착홈(116) 속에서 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다. 따라서, 테스터(10)에 고정된 소켓 프레임(110)을 테스터(10)에서 분리할 필요가 없이 소켓 프레임(110)에 테스트 커넥터(130)를 장착하거나, 소켓 프레임(110)에서 테스트 커넥터(130)를 분리하는 것이 가능하다.
소켓 프레임(110)에 테스트 커넥터(130)를 장착하는 경우, 사용자는 도 5에 나타낸 것과 같은 탈착용 지그(10)로 테스트 커넥터(130)를 집어 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)의 장착홈(116) 속으로 삽입할 수 있다. 이때, 테스트 커넥터(130)의 걸림돌기(142)가 가이드 홈(124)에 삽입되어 이동하게 되므로, 걸림돌기(142)가 프레임 바디(112)와 마찰되면서 발생하는 마찰 저항이 작고, 테스트 커넥터(130)는 원활하게 장착홈(116) 속으로 진입할 수 있다.
테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속으로 일정 거리 진입하면 가이드 홈(124)을 따라 이동하는 걸림돌기(142)는 가이드 슬로프(126)에 도달하게 되고, 사용자가 테스트 커넥터(130)를 더욱 밀어 넣으면 걸림돌기(142)는 가이드 슬로프(126)에 밀착된 상태로 가이드 슬로프(126)를 따라 움직이게 된다. 이때, 걸림돌기(142)는 가이드 슬로프(126)에 의해 커넥터 베이스(132)의 측면 측으로 가압력을 받게 되며, 이에 따라 탄성 지지부(138)가 커넥터 베이스(132)의 측면에 가까워지는 방향으로 휘어지게 된다. 따라서, 걸림돌기(142)가 커넥터 베이스(132)의 측면 측으로 움직이면서 가이드 슬로프(126)를 원활하게 통과하고 걸림턱(122)에 도달할 수 있다.
그리고 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속에 삽입되는 과정에서 소켓 프레임(110)의 가이드 핀(120)이 테스트 커넥터(130)의 핀 홀(136)에 삽입되어 테스트 커넥터(130)의 이동을 가이드하게 된다. 따라서, 테스트 커넥터(130)가 정해진 위치에 정해진 자세로 정렬되고, 원활하게 직선 이동할 수 있다.
더욱이, 본 실시예에 따른 테스트 소켓(100)은 하나의 탄성 지지부(138)에 한 쌍의 걸림돌기(142)가 이격 배치되어 있으므로, 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속으로 진입할 때 한 쌍의 걸림돌기(142)가 프레임 바디(112)의 내측면에 각각 접하여 커넥터 베이스(132)의 측면을 두 부분에서 지지할 수 있다. 따라서, 테스트 커넥터(130)가 장착홈(116) 속으로 진입하는 과정에서, 테스트 커넥터(130)가 뒤틀리거나 틸팅되지 않고, 테스터 보드(12)와 평행한 상태를 유지하면서 안정적으로 장착홈(116)에 장착될 수 있다.
이와 같이, 테스트 커넥터(130)를 프레임 바디(112)의 개방된 일단부를 통해 간단히 밀어 넣는 방식으로 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에 장착할 수 있으므로, 별도의 탈착용 지그(10)를 이용하지 않고도 사용자는 테스트 커넥터(130)를 장착하는 작업을 손쉽게 수행할 수 있다.
한편, 소켓 프레임(110)에서 테스트 커넥터(130)를 분리해야 하는 경우, 사용자는 도 5에 나타낸 것과 같이 탈착용 지그(10)를 이용하여 테스트 커넥터(130)를 분리할 수 있다. 구체적으로, 사용자는 탈착용 지그(10)의 양쪽 팁을 장착홈(116)을 사이에 두고 마주하도록 배치되는 두 개의 지그 삽입홈(128)에 각각 삽입함으로써, 도 6에 나타낸 것과 같이 탈착용 지그(10)의 양쪽 팁을 테스트 커넥터(130)에 구비되는 한 쌍의 탄성 지지부(138)에 도달시킬 수 있다.
탈착용 지그(10)의 양쪽 팁이 한 쌍의 탄성 지지부(138)에 각각 도달한 후, 사용자가 탈착용 지그(10)의 양쪽 팁을 커넥터 베이스(132) 측으로 가압하면, 도 7에 나타낸 것과 같이, 각각의 탄성 지지부(138)가 커넥터 베이스(132)의 측면에 가까워지는 방향으로 휘어지게 된다. 이때, 걸림돌기(142)가 커넥터 베이스(132)의 측면 측으로 움직이면서 걸림턱(122)에서 벗어나게 되므로, 사용자는 탈착용 지그(10)를 들어올려 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에서 쉽게 분리할 수 있다.
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(100)은 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)의 장착홈(116) 속으로 간단히 밀어 넣는 방식으로 테스트 커넥터(130)를 소켓 프레임(110)에 장착할 수 있으므로, 설치 작업이 용이하고, 설치 시간이 대폭 절감될 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(100)은 테스터(10)에 설치되어 테스트 작업 중에 유지 보수가 필요한 경우, 종래와 같이 소켓 프레임(110)을 포함한 전체 부품이 테스터(10)에서 분리될 필요가 없고, 소켓 프레임(110)이 테스터(10)에 설치된 상태에서 테스트 커넥터(130)만 간단히 분리되고 교체될 수 있다. 따라서, 종래와 같이 소켓 프레임(110)을 고정하는 볼트를 모두 풀고 새로운 테스트 커넥터 장착 후, 다시 볼트로 소켓 프레임을 테스터에 장착하는 복잡한 작업이 필요 없이 유지 보수가 가능하므로, 테스트 커넥터(130) 교체 등 유지 보수 작업 시간이 대폭 단축되고, 테스터(10)의 가동 효율을 증대시킬 수 있다.
본 실시예에서 테스트 커넥터(130)의 양측으로 탄성 지지부(138) 및 걸림돌기(142)가 구비되고, 소켓 프레임(110)에 구비되는 걸림턱(122), 가이드 홈(124), 가이드 슬로프(126) 및 지그 삽입홈(128)이 탄성 지지부(138) 및 걸림돌기(142)의 개수 및 위치에 대응하도록 배치되는 것으로 나타냈으나, 탄성 지지부(138) 및 걸림돌기(142)의 개수나 위치는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 소켓 프레임(110)에 구비되는 걸림턱(122), 가이드 홈(124), 가이드 슬로프(126) 및 지그 삽입홈(128)의 개수나 위치도 탄성 지지부(138) 및 걸림돌기(142)의 개수나 위치에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 하나의 탄성 지지부(138)에 구비되는 걸림돌기(142)의 개수도 도시된 것과 같이 두 개로 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다.
한편, 도 8 내지 도 13은 본 발명에 따른 테스트 소켓의 다양한 변형예를 나타낸 것이다.
먼저, 도 8에 나타낸 테스트 소켓의 테스트 커넥터(230)는 탄성 지지부(152)의 구조가 다소 변형된 것이다. 걸림돌기(142)를 지지하는 탄성 지지부(152)는 일단부만 커넥터 베이스(132)에 지지되고, 타단부는 자유단을 이루는 외팔보 구조로 이루어진다.
이 밖에, 탄성 지지부는 다양한 구조로 커넥터 베이스(132)에 탄성 변형 가능하게 지지되어 걸림돌기를 지지할 수 있다. 또한, 탄성 지지부는 도시된 실시예들과 같이 커넥터 베이스(132)와 일체형으로 이루어질 수 있고, 커넥터 베이스(132)와 별로도 제작된 후 커넥터 베이스(132)에 결합될 수 있다.
도 9 및 도 10에 나타낸 테스트 커넥터(160)(170)는 커넥터 베이스(132)의 측면과 탄성 지지부(138) 사이에 개재되는 탄성부재(162)(172)를 포함하는 것이다.
먼저, 도 9에 나타낸 탄성부재(162)는 코일 스프링 구조로 이루어져 이격 공간(140) 속에 배치된다. 탄성부재(162)는 일단부가 커넥터 베이스(132)의 측면에 접하고 타단부가 탄성 지지부(138)에 접함으로써, 탄성 지지부(138)가 커넥터 베이스(132)의 측면으로 접근하는 방향을 휘어질 때 탄성 지지부(138)에 대해 커넥터 베이스(132)의 측면으로부터 멀어지는 방향으로 탄성력을 가한다. 이와 같이, 탄성부재(162)가 탄성 지지부(138)의 탄성력을 보완해줌으로써 걸림돌기(142)가 더욱 안정적으로 걸림턱(122)에 걸린 상태를 유지할 수 있다.
도 10에 나타낸 탄성부재(172)는 고무나 실리콘 등 탄성력을 갖는 소재를 통해 블록 형태로 만들어진 것이다. 탄성부재(172)는 이격 공간(140) 속에 배치되어 일단부가 커넥터 베이스(132)의 측면에 접하고 타단부가 탄성 지지부(138)에 접한다. 이러한 탄성부재(172) 역시 탄성 지지부(138)의 탄성력을 보완해 줄 수 있다.
한편, 도 11 내지 도 13에 나타낸 테스트 소켓(200)은 소켓 프레임(210)과, 소켓 프레임(210)에 탈착식으로 결합되는 테스트 커넥터(230)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓(200)은 앞서 설명한 테스트 소켓(100)과 대부분의 구성이 동일하고, 소켓 프레임(210)과 테스트 커넥터(230)의 결합 구조가 변형된 것이다. 즉, 본 실시예에 따른 테스트 소켓(200)은 걸림돌기(220)가 소켓 프레임(210)에 구비되고, 걸림턱(236)이 테스트 커넥터(230)에 배치되는 구조를 갖는다.
소켓 프레임(210)은 테스트 커넥터(130)에 고정되는 프레임 바디(212)를 포함한다. 프레임 바디(212)의 내측에는 테스트 커넥터(230)를 수용할 수 있는 장착홈(214)이 구비된다. 테스트 커넥터(230)가 프레임 바디(212)의 개방된 일단부를 통해 장착홈(214) 속으로 진입하거나 장착홈(214)으로부터 분리될 수 있다. 또한, 프레임 바디(212)의 내측에는 탄성 지지부(216)가 배치된다. 탄성 지지부(216)는 탄성 변형될 수 있도록 프레임 바디(212)에 지지된다. 탄성 지지부(216)는 프레임 바디(212)의 내측면으로부터 이격되어 프레임 바디(212)의 내측면과 나란하게 배치된다. 도시된 것과 같이, 탄성 지지부(216)는 양쪽 단부가 상기 프레임 바디(212)에 지지되는 양단 고정보 구조로 이루어질 수 있다. 프레임 바디(212)의 내측면과 탄성 지지부(216)의 사이에는 이격 공간(218)이 마련된다. 이격 공간(218)은 탄성 지지부(216)와 평행하게 연장되는 장착홈 형태로 형성될 수 있다.
탄성 지지부(216)는 프레임 바디(212)의 내측면 측으로 외력을 받을 때 프레임 바디(212)의 내측면으로 접근하는 방향을 휘어질 수 있다. 즉, 프레임 바디(212)의 내측면과 탄성 지지부(216) 사이에 이격 공간(218)이 형성되어 있으므로, 탄성 지지부(216)가 탄성 변형되면서 프레임 바디(212)의 내측면에 접근하는 방향을 휘어지는 것이 가능하다. 더욱이, 탄성 지지부(216)가 프레임 바디(212)의 내측면과 나란하게 연장된 보 구조로 이루어짐으로써, 탄성 지지부(216)는 더욱 원활하게 휘어질 수 있다.
탄성 지지부(216)에는 테스트 커넥터(230)에 구비되는 걸림턱(236)에 걸릴 수 있도록 장착홈(214)의 중앙 측으로 돌출되는 걸림돌기(220)가 배치된다. 걸림돌기(220)는 한 쌍이 탄성 지지부(216)의 길이 방향으로 이격 배치된다. 걸림돌기(220)는 탄성 지지부(216)와 일체형으로 이루어질 수 있다. 걸림돌기(220)의 크기는 작기 때문에, 탄성 지지부(216)와 일체형으로 형성하는 것이 가공 상 유리하나, 탄성 지지부(216)와 별도로 제작된 후 탄성 지지부(216)에 결합되는 것도 가능하다.
또한, 탄성 지지부(216)에는 지그 결합홈(222)이 마련된다. 도시된 것과 같이, 지그 결합홈(222)은 프레임 바디(212)의 개방된 일단부로부터 외측으로 노출되도록 한 쌍의 걸림돌기(220) 사이에 형성될 수 있다. 지그 결합홈(222)에는 테스트 커넥터(230)를 소켓 프레임(210)에서 분리하기 위한 지그(미도시)가 삽입될 수 있다. 사용자는 지그의 팁을 지그 결합홈(222)에 삽입한 상태에서 지그를 이용하여 탄성 지지부(216)를 테스트 커넥터(230)로부터 멀어지는 방향으로 휘어지도록 탄성 변형시킬 수 있다.
테스트 커넥터(230)는 프레임 바디(212)의 개방된 일단부를 통해 장착홈(214) 속으로 진입하거나 장착홈(214)으로부터 분리될 수 있도록 장착홈(214)에 탈착식으로 장착된다. 테스트 커넥터(230)는 커넥터 베이스(232)와, 전기 신호 전달을 위해 커넥터 베이스(232)에 배치되는 도전부(234)를 포함한다. 도전부(234)는 복수의 검사용 탐침을 포함하는 구조나, 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전영역이 절연부에 지지되어 있는 이방도전 시트 등 다양한 구조를 취할 수 있다.
커넥터 베이스(232)의 일면에는 걸림턱(236)이 구비된다. 도 11 및 도 13에 나타낸 것과 같이, 테스트 커넥터(230)가 소켓 프레임(210)의 장착홈(214) 속에 장착될 때 걸림턱(236)이 소켓 프레임(210)의 걸림돌기(220)와 맞닿음으로써 테스트 커넥터(230)가 소켓 프레임(210)에서 분리되지 않고 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있다. 걸림턱(236)은 소켓 프레임(210)에 구비되는 걸림돌기(220)의 위치에 맞춰 배치된다.
커넥터 베이스(232)의 측면에는 가이드 홈(238) 및 가이드 슬로프(240)가 소켓 프레임(210)에 구비되는 걸림돌기(220)에 대응하도록 배치된다.
가이드 홈(238)은 커넥터 베이스(232)의 타면에서 걸림턱(236) 측으로 연장된다. 도 13에 나타낸 것과 같이 테스트 커넥터(230)가 장착홈(214) 속으로 진입할 때, 걸림돌기(220)가 가이드 홈(238)에 삽입된다. 따라서, 걸림돌기(220)가 커넥터 베이스(232)와 마찰되면서 발생하는 마찰 저항이 줄어 들고, 보다 적은 힘으로 테스트 커넥터(230)를 장착홈(214) 속으로 밀어 넣는 것이 가능하다.
가이드 슬로프(240)는 가이드 홈(238)의 끝에서 커넥터 베이스(232)의 일면 측으로 상향 경사지게 배치된다. 이러한 가이드 슬로프(240)는 테스트 커넥터(230)가 장착홈(214) 속으로 진입할 때, 가이드 홈(238)에 삽입된 걸림돌기(220)를 점진적으로 테스트 커넥터(230)의 중앙에서 멀어지는 방향으로 가압할 수 있다. 테스트 커넥터(230)가 장착홈(214) 속으로 일정 거리 진입하면 가이드 홈(238)에 삽입된 걸림돌기(220)는 가이드 슬로프(240)에 도달하고, 이 상태에서 테스트 커넥터(230)가 장착홈(214) 속으로 더 깊이 이동하면 걸림돌기(220)는 가이드 슬로프(240)에 밀착되면서 테스트 커넥터(230)의 중앙에서 멀어지는 방향으로 가압된다. 이때, 탄성 지지부(216)가 테스트 커넥터(230)의 중앙에서 멀어지는 방향으로 휘어지게 된다. 따라서, 걸림돌기(220)가 테스트 커넥터(230)의 중앙에서 멀어지는 방향으로 움직이면서 가이드 슬로프(240)를 원활하게 통과하고 걸림턱(236)에 도달할 수 있다.
본 실시예에 있어서, 소켓 프레임(210)에 구비되는 탄성 지지부(216)의 개수나 위치, 걸림돌기(220)의 개수나 위치는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 걸림돌기(220)의 개수나 위치에 따라 테스트 커넥터(230)에 구비되는 걸림턱(236)과 가이드 홈(238) 및 가이드 슬로프(240)의 개수나 위치도 다양하게 변경될 수 있다.
이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.
예를 들어, 도면에는 나타내지는 않았으나, 소켓 프레임의 내측에는 반도체 패키지 등의 피검사체를 테스트 커넥터 측으로 가이드하기 위한 가이드가 배치될 수 있다.
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.
100, 200 : 테스트 소켓 110, 210 : 소켓 프레임
112, 212 : 프레임 바디 116, 214 : 장착홈
122, 236 : 걸림턱 124, 238 : 가이드 홈
126, 240 : 가이드 슬로프 128 : 지그 삽입홈
130, 150, 160, 170, 230 : 테스트 커넥터
132, 232 : 커넥터 베이스
134 : 도전부 138, 152, 216 : 탄성 지지부
140, 218 : 이격 공간 142, 220 : 걸림돌기
162, 172 : 탄성부재

Claims (10)

  1. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓에 있어서,
    상기 테스터에 결합되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디의 일단부를 통해 외측으로 개방되도록 상기 프레임 바디의 내측에 마련되는 장착홈을 갖는 소켓 프레임; 및
    상기 프레임 바디의 개방된 일단부를 통해 상기 장착홈 속으로 진입하거나 상기 장착홈으로부터 분리될 수 있도록 상기 장착홈에 탈착식으로 장착되는 커넥터 베이스와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 배치되는 도전부를 갖는 테스트 커넥터;를 포함하고,
    상기 프레임 바디에는 걸림턱이 구비되고,
    상기 커넥터 베이스에는 상기 커넥터 베이스의 측면과 나란하게 연장된 보 구조로 이루어지는 탄성 지지부가 구비되되, 상기 탄성 지지부는 상기 커넥터 베이스의 측면으로부터 이격되어 상기 커넥터 베이스의 측면으로 접근하는 방향으로 휘어질 수 있으며, 상기 커넥터 베이스의 측면과 상기 탄성 지지부의 사이에는 이격 공간이 마련되고,
    상기 탄성 지지부에는 상기 걸림턱에 걸릴 수 있도록 상기 탄성 지지부로부터 외측으로 돌출되는 걸림돌기가 구비되고,
    상기 소켓 프레임은,
    상기 테스트 커넥터가 상기 장착홈 속으로 진입할 때 상기 걸림돌기가 삽입되어 이동할 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면에 상기 프레임 바디의 일단부에서 상기 걸림턱 측으로 연장되는 가이드 홈과,
    상기 걸림돌기를 상기 커넥터 베이스의 측면 측으로 가압할 수 있도록 상기 가이드 홈의 끝에서 상기 프레임 바디의 타단부 측으로 하향 경사지게 배치되는 가이드 슬로프를 포함하며,
    상기 탄성 지지부는 한 쌍이 상기 커넥터 베이스를 사이에 두고 상기 커넥터 베이스의 양측에 배치되고, 상기 걸림돌기는 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 각각 복수로 구비되며,
    상기 걸림턱과, 상기 가이드 홈과, 상기 가이드 슬로프는 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 각각 구비되는 상기 걸림돌기에 대응하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 커넥터 베이스의 측면과 상기 탄성 지지부 사이에는 상기 탄성 지지부가 상기 커넥터 베이스의 측면으로 접근하는 방향으로 휘어질 때 상기 탄성 지지부에 대해 상기 커넥터 베이스의 측면으로부터 멀어지는 방향으로 탄성력을 가하는 탄성부재가 개재되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 탄성 지지부는 양쪽 단부가 모두 상기 커넥터 베이스에 지지되는 양단 고정보 구조로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 탄성 지지부는 일단부만 상기 커넥터 베이스에 지지되고, 타단부는 자유단을 이루는 외팔보 구조로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 소켓 프레임은,
    상기 테스트 커넥터를 상기 소켓 프레임에 탈착식으로 결합하기 위한 탈착용 지그가 삽입될 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면에 상기 프레임 바디의 일단부에서 상기 걸림턱 측으로 연장되는 지그 삽입홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 소켓 프레임은,
    상기 장착홈에 장착되는 상기 테스트 커넥터를 떠받칠 수 있도록 상기 프레임 바디의 내측면으로부터 상기 장착홈의 중앙 측으로 돌출되는 지지대와,
    상기 지지대에 지지되어 상기 테스트 커넥터가 상기 장착홈으로 진입하는 방향과 평행하게 배치되는 가이드 핀을 포함하고,
    상기 테스트 커넥터는 상기 가이드 핀이 삽입될 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 형성되는 핀 홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 탄성 지지부는 상기 커넥터 베이스와 일체형으로 이루어지고, 상기 걸림돌기는 상기 탄성 지지부와 일체형으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  10. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓에 있어서,
    상기 테스터에 결합되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디의 일단부를 통해 외측으로 개방되도록 상기 프레임 바디의 내측에 마련되는 장착홈을 갖는 소켓 프레임; 및
    상기 프레임 바디의 개방된 일단부를 통해 상기 장착홈 속으로 진입하거나 상기 장착홈으로부터 분리될 수 있도록 상기 장착홈에 탈착식으로 장착되는 커넥터 베이스와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 커넥터 베이스에 배치되는 도전부를 갖는 테스트 커넥터;를 포함하고,
    상기 커넥터 베이스에는 걸림턱이 구비되고,
    상기 프레임 바디의 내측에는 상기 프레임 바디의 내측면과 나란하게 연장된 보 구조로 이루어지는 탄성 지지부가 구비되되, 상기 탄성 지지부는 상기 프레임 바디의 내측면으로부터 이격되어 상기 프레임 바디의 내측면으로 접근하는 방향으로 휘어질 수 있으며, 상기 프레임 바디의 내측면과 상기 탄성 지지부의 사이에는 이격 공간이 마련되고,
    상기 탄성 지지부에는 상기 걸림턱에 걸릴 수 있도록 상기 장착홈의 중앙 측으로 돌출되는 걸림돌기가 배치되며,
    상기 커넥터 베이스는,
    상기 테스트 커넥터가 상기 장착홈 속으로 진입할 때 상기 걸림돌기가 삽입될 수 있도록 상기 커넥터 베이스의 측면에 상기 커넥터 베이스의 일면에서 상기 걸림턱 측으로 연장되는 가이드 홈과,
    상기 걸림돌기를 상기 프레임 바디의 내측면 측으로 가압할 수 있도록 상기 가이드 홈의 끝에서 상기 커넥터 베이스의 다른 일면 측으로 상향 경사지게 배치되는 가이드 슬로프가 마련되며,
    상기 탄성 지지부는 한 쌍이 상기 장착홈을 사이에 두고 양측에 배치되고, 상기 걸림돌기는 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 각각 복수로 구비되며,
    상기 걸림턱과, 상기 가이드 홈과, 상기 가이드 슬로프는 상기 한 쌍의 탄성 지지부에 각각 구비되는 상기 걸림돌기에 대응하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
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