KR102192764B1 - 테스트 소켓 장치 - Google Patents

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KR102192764B1
KR102192764B1 KR1020190148861A KR20190148861A KR102192764B1 KR 102192764 B1 KR102192764 B1 KR 102192764B1 KR 1020190148861 A KR1020190148861 A KR 1020190148861A KR 20190148861 A KR20190148861 A KR 20190148861A KR 102192764 B1 KR102192764 B1 KR 102192764B1
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오창수
김보현
윤성호
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(주)티에스이
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Abstract

본 발명은 테스트 소켓 장치를 테스터로부터 완전히 분리하지 않고 테스트 소켓을 용이하게 교체할 수 있는 테스트 소켓 장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서, 테스트 소켓 바디와, 테스터와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부를 갖는 테스트 소켓과, 테스트 소켓이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록과, 테스터의 테스터 보드에 결합되고, 도전부를 테스터 보드에 접속시키기 위한 소켓 가이드 관통구를 구비하며, 가이드 블록이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드와, 테스트 소켓 바디 구비되는 점착 패드와, 소켓 가이드와 가이드 블록 중 적어도 어느 하나에 구비되는 자석을 포함하고, 소켓 가이드와 가이드 블록은 자석에 의한 인력에 의해 상호 분리 가능하게 결합되며, 테스트 소켓은 점착 패드의 점착력에 의해 가이드 블록에 분리 가능하게 결합될 수 있다.

Description

테스트 소켓 장치{TEST SOCKET DEVICE}
본 발명은 테스트 소켓 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 피검사체와 테스터를 전기적으로 연결하는 도전부가 형성된 테스트 소켓의 교체가 용이한 테스트 소켓 장치에 관한 것이다.
반도체 패키지는 미세한 전자회로가 고밀도로 집적되어 형성되어 있으며, 제조공정 중에 각 전자회로의 정상 여부에 대한 테스트 공정을 거치게 된다. 테스트 공정은 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하여 양품과 불량품을 선별하는 공정이다.
통상적으로, 반도체 패키지의 테스트 공정은 반도체 패키지의 단자와 테스트 신호를 인가하는 테스터를 전기적으로 연결하는 테스트 소켓 장치에 의해 이루어진다. 테스트 소켓 장치는 테스터에 고정되는 소켓 프레임과, 소켓 프레임에 결합되는 테스트 소켓과, 반도체 패키지를 테스트 소켓으로 가이드하는 인서트를 포함하는 것이 일반적이다.
반도체 패키지의 테스트에 있어 테스트 소켓 장치의 특성은 테스트 소켓을 어떻게 관리하는지에 따라 사용 특성 및 수명이 달라지게 된다. 대량의 반도체 패키지에 대한 테스트 중 테스터와 피검사체인 반도체 패키지를 통전시키는 테스트 소켓의 수명이 다하여 테스트 소켓의 성능이 저하되면 양질의 반도체 패키지를 불량으로 처리하는 경우가 발생할 수 있다. 따라서, 반도체 제조업체에서는 테스트 소켓이 일정한 사용횟수 즉, 임계 사용횟수에 도달하면 새 것으로 교체하게 되며, 교체된 테스트 소켓은 세정 후 검사를 거쳐 재사용되기도 한다.
테스트 소켓 장치를 유지 보수하기 위해서는 테스트 소켓을 테스터로부터 분리하거나, 테스터에 장착된 상태에서 유지 보수를 하게 되며, 테스트 소켓을 교체하기 위해서는 테스터로부터 테스트 소켓을 완전 분리하여 교체를 진행하게 된다.
일반적으로, 테스트 소켓 장치는 볼트를 통해 테스터에 단단히 고정된다. 부품 교체 등 유지 보수를 위해서는 볼트를 모두 풀어 유지 보수 작업을 수행한 후, 다시 볼트를 이용하여 다시 테스트 소켓 장치를 장착해야 한다. 따라서, 종래의 테스트 소켓 장치는 테스트 소켓의 교체 시간이 상당히 오래 걸리게 되고, 이로 인해 설비의 비가동 시간이 증가하여 반도체 패키지의 양산 시간이 증가하는 문제가 생기게 된다. 또한, 테스트 소켓 장치의 잦은 분해 및 조립은 볼트의 파손으로 이어져 테스트 소켓 장치의 재설치에 문제가 생길 수 있다.
등록특허 제1032648호 (2011. 05. 06) 공개특허 제2016-0118796호 (2016. 10. 12)
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 테스트 소켓 장치를 테스터로부터 완전히 분리하지 않고 테스트 소켓을 용이하게 교체할 수 있는 테스트 소켓 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서, 테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부를 갖는 테스트 소켓; 상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록; 상기 테스터의 테스터 보드에 결합되고, 상기 도전부를 상기 테스터 보드에 접속시키기 위한 소켓 가이드 관통구를 구비하며, 상기 가이드 블록이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드; 상기 테스트 소켓 바디 구비되는 점착 패드; 및 상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 적어도 어느 하나에 구비되는 자석;을 포함하고, 상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록은 상기 자석에 의한 인력에 의해 상호 분리 가능하게 결합되며, 상기 테스트 소켓은 상기 점착 패드의 점착력에 의해 상기 가이드 블록에 분리 가능하게 결합될 수 있다.
상기 자석은 상기 소켓 가이드에 구비되고, 상기 가이드 블록은 적어도 일부분이 상기 자석에 부착될 수 있는 소재로 이루어질 수 있다.
상기 자석은 상기 가이드 블록에 구비되고, 상기 소켓 가이드는 적어도 일부분이 상기 자석에 부착될 수 있는 소재로 이루어질 수 있다.
상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 어느 하나에는 상기 자석이 결합되고, 다른 하나에는 상기 자석에 부착될 수 있는 자력 부착부재가 구비될 수 있다.
상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 어느 하나에는 상기 자석이 삽입되는 자석 삽입홈이 구비되고, 다른 하나에는 상기 자력 부착부재가 삽입되는 자력 부착부재 삽입홈이 마련되되, 상기 자석 삽입홈의 높이는 상기 자석의 높이보다 높고, 상기 자력 부착부재는 상기 자석 삽입홈에 부분적으로 삽입될 수 있도록 그 높이가 상기 자력 부착부재 삽입홈의 높이보다 높을 수 있다.
상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 어느 하나에는 상기 자석이 삽입되는 자석 삽입홈이 구비되고, 다른 하나에는 상기 자력 부착부재가 삽입되는 자력 부착부재 삽입홈이 마련되되, 상기 자력 부착부재 삽입홈의 높이는 상기 자력 부착부재의 높이보다 높고, 상기 자석은 상기 자력 부착부재 삽입홈에 부분적으로 삽입될 수 있도록 그 높이가 상기 자석 삽입홈의 높이보다 높을 수 있다.
상기 가이드 블록은, 상기 피검사체가 상기 도전부와 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 가이드 블록 관통구가 형성된 가이드 블록 바디와, 상기 가이드 블록 바디의 일면에 상기 가이드 블록 관통구를 사이에 두고 상호 마주하도록 돌출되는 한 쌍의 기둥부를 포함하고, 상기 점착 패드는 상기 한 쌍의 기둥부 각각의 끝단에 부착될 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 한 쌍이 구비되며, 상기 테스트 소켓 바디는 상기 한 쌍의 점착 패드에 의해 상기 한 쌍의 기둥부 각각의 끝단에 결합되어 상기 가이드 블록 바디로부터 이격 배치될 수 있다.
상기 가이드 블록은 상기 가이드 블록을 파지하기 위한 탈착용 지그의 파지부가 걸릴 수 있는 가이드 블록 돌기를 구비할 수 있다.
상기 소켓 가이드는 상기 가이드 블록의 적어도 일부분이 삽입될 수 있는 소켓 가이드 홈을 구비하고, 상기 소켓 가이드의 내측면과 상기 가이드 블록의 가장자리 사이에는 상기 가이드 블록을 파지하기 위한 탈착용 지그의 파지부가 삽입될 수 있는 간극이 마련될 수 있다.
본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는 테스트 소켓이 분리 가능하게 결합되는 가이드 블록이 자석의 인력에 의해 소켓 가이드에 탈착식으로 결합될 수 있으므로, 테스트 소켓이 결합된 가이드 블록을 소켓 가이드에 탈부착하는 작업이 쉽게 이루어질 수 있다. 따라서, 테스터에 고정된 소켓 가이드를 테스터에서 분리할 필요가 없이 소켓 가이드에 테스트 소켓을 장착하거나, 소켓 가이드에서 테스트 소켓을 분리하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는 테스터에 설치되어 테스트 작업 중에 유지 보수가 필요한 경우, 소켓 가이드가 테스터에 설치된 상태에서 테스트 소켓만 간단히 분리되고 교체될 수 있다. 따라서, 테스트 소켓 교체 등 유지 보수 작업 시간이 대폭 단축되고, 테스터의 가동 효율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 테스터에 장착하는 모습을 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 일부분을 나타낸 사시도이다.
도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ 선을 따라 취한 단면도이다.
도 4는 도 2의 Ⅱ-Ⅱ 선을 따라 취한 단면도이다.
도 5 및 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓 조립체를 소켓 가이드로부터 분리한 모습을 나타낸 것이다.
도 7 내지 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓 조립체를 소켓 가이드로부터 분리하는 방법을 설명하기 위한 것이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 나타낸 것이다.
이하, 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 테스터에 장착하는 모습을 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 일부분을 나타낸 사시도이고, 도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ 선을 따라 취한 단면도이며, 도 4는 도 2의 Ⅱ-Ⅱ 선을 따라 취한 단면도이다.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 테스터(10)와 피검사체(미도시)를 전기적으로 매개하기 위한 것으로, 테스트 소켓 조립체(110)와, 테스터(10)의 테스터 보드(12)에 장착되고 테스트 소켓 조립체(110)가 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드(140)와, 테스트 소켓 조립체(110)와 소켓 가이드(140)를 탈착식으로 결합시키기 위한 복수의 자석(150) 및 복수의 자력 부착부재(160)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓 장치(100)는 자석(150)에 의한 인력에 의해 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140)에 장착될 수 있어 테스트 소켓(120)의 교체가 용이하다.
테스트 소켓 조립체(110)는 테스트 소켓(120)과, 테스트 소켓(120)이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록(130)을 포함한다.
테스트 소켓(120)은 테스트 소켓 바디(121)와, 테스터(10)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 테스트 소켓 바디(121)에 지지되는 도전부(122)를 갖는다. 테스트 소켓(120)은 가이드 블록(130)에 탈착식으로 결합되고, 가이드 블록(130)이 소켓 가이드(140)에 결합됨에 따라 소켓 가이드(140)의 소켓 가이드 관통구(144)를 통해 테스터 보드(12)에 접속될 수 있다. 도전부(122)는 테스트 소켓 바디(121)의 대략 중앙부에 배치된다. 도전부(122)는 복수의 검사용 탐침을 포함하는 구조나, 포고핀을 포함하는 구조, 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전영역이 절연부에 지지되는 이방도전 시트 구조 등 테스터(10)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있는 다양한 구조를 취할 수 있다.
테스트 소켓 바디(121)에는 점착 패드(125)가 구비된다. 점착 패드(125)는 실리콘 등 점착성 물질로 이루어져 테스트 소켓 바디(121)에 점착될 수 있다. 점착 패드(125)는 한 쌍이 도전부(122)를 사이에 두고 이격 배치된다. 테스트 소켓(120)은 이러한 점착 패드(125)를 통해 테스트 소켓 바디(121)에 분리 가능하게 결합될 수 있다.
가이드 블록(130)은 가이드 블록 바디(131)와, 한 쌍의 기둥부(133)와, 한 쌍의 가이드 블록 돌기(134)를 포함한다. 가이드 블록 바디(131)의 중앙부에는 가이드 블록 관통구(132)가 가이드 블록 바디(131)를 관통하도록 형성된다. 가이드 블록 관통구(132)에는 피검사체가 부분적으로 삽입될 수 있으며, 가이드 블록 관통구(132)를 통해 피검사체가 테스트 소켓(120)의 도전부(122)와 접속될 수 있다. 한 쌍의 기둥부(133)는 가이드 블록 바디(131)의 일면에 가이드 블록 관통구(132)를 사이에 두고 상호 마주하도록 돌출된다. 한 쌍의 기둥부(133) 끝단에 테스트 소켓(120)이 점착 패드(125)에 의해 분리 가능하게 결합된다. 한 쌍의 가이드 블록 돌기(134)는 가이드 블록 관통구(132)를 사이에 두고 가이드 블록 바디(131)의 양측 가장자리로부터 각각 외측으로 돌출된다. 테스트 소켓 조립체(110)를 파지하기 위한 탈착용 지그(20)의 파지부(22)가 가이드 블록 돌기(134)에 걸릴 수 있다.
가이드 블록 바디(131)에는 복수의 자력 부착부재 삽입홈(135)이 마련된다. 이들 자력 부착부재 삽입홈(135)에는 자력 부착부재(160)가 삽입된다. 자력 부착부재 삽입홈(135)의 높이는 자력 부착부재(160)의 높이보다 낮으며, 자력 부착부재 삽입홈(135)에 삽입되는 자력 부착부재(160)는 가이드 블록(130)으로부터 돌출된다.
가이드 블록 바디(131)이 상면에는 가이드 블록 핀(136)이 구비된다. 가이드 블록 핀(136)은 피검사체를 테스트 소켓(120) 측으로 가이드하기 위해 소켓 가이드(140)에 결합되는 인서트(미도시)의 결합을 위한 것이다. 즉, 가이드 블록 핀(136)은 인서트가 정위치에 결합되도록 인서트를 가이드하게 된다.
이러한 테스트 소켓 조립체(110)는 테스트 소켓(120)이 점착 패드(125)에 의해 가이드 블록(130)에 탈착식으로 결합된다. 즉, 한 쌍의 점착 패드(125)가 한 쌍의 기둥부(133) 각각의 끝단에 점착됨으로써 테스트 소켓(120)은 가이드 블록 바디(131)로부터 이격되도록 가이드 블록(130)에 결합된다. 테스트 소켓(120)이 가이드 블록 관통구(132)가 형성된 가이드 블록 바디(131)로부터 이격됨으로써 가이드 블록 바디(131)의 안쪽에는 피검사체가 안정적으로 삽입될 수 있는 공간이 확보될 수 있다.
테스트 소켓 조립체(110)의 구체적인 구조는 도시된 것으로 한정되지 않는다. 즉, 테스트 소켓(120)과 가이드 블록(130)은 각각 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다. 또한, 도면에는 테스트 소켓(120)이 한 쌍의 점착 패드(125)에 의해 가이드 블록(130)에 결합되는 것으로 나타냈으나, 점착 패드(125)의 개수나 위치는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 테스트 소켓(120)은 점착 패드(125)를 이용하는 방법 이외의 다양한 다른 방법으로 가이드 블록(130)에 분리 가능하게 결합될 수 있다.
소켓 가이드(140)는 테스터 보드(12)에 장착되어 복수의 테스트 소켓 조립체(110)가 테스터 보드(12)에 접속될 수 있도록 복수의 테스트 소켓 조립체(110)를 지지한다. 소켓 가이드(140)는 도시된 것과 같이 볼트 구조의 고정부재(170)에 의한 결합 방식, 또는 다양한 다른 방식으로 테스터 보드(12)에 고정될 수 있다.
소켓 가이드(140)는 고정부재(170)가 결합되는 소켓 가이드 바디(141)와, 복수의 테스트 소켓 조립체(110)를 지지할 수 있도록 소켓 가이드 바디(141)의 내측에 구비되는 안착부(143)를 포함한다. 소켓 가이드 바디(141)의 내측에는 복수의 테스트 소켓(120)을 수용할 수 있는 소켓 가이드 홈(142)이 구비되고, 소켓 가이드 홈(142) 안쪽에 안착부(143)가 구비된다. 안착부(143)에는 복수의 소켓 가이드 관통구(144)가 형성된다. 소켓 가이드 관통구(144)를 통해 테스트 소켓(120)이 테스터 보드(12)에 접속될 수 있다.
안착부(143)에는 자석(150)이 삽입될 수 있는 복수이 자석 삽입홈(146)이 형성된다. 자석 삽입홈(146)의 높이는 자석(150)의 높이보다 높다.
소켓 가이드 바디(141)의 상면에는 소켓 가이드 핀(147)이 구비된다. 소켓 가이드 핀(147)은 소켓 가이드(140)에 결합되는 인서트의 결합을 위한 것이다. 즉, 소켓 가이드 핀(147)은 인서트가 정위치에 결합되도록 인서트를 가이드하고 인서트를 고정할 수 있다.
복수의 자석(150) 및 복수의 자력 부착부재(160)는 테스트 소켓 조립체(110)와 소켓 가이드(140)를 자기력으로 결합시키기 위한 것이다.
자석(150)은 소켓 가이드(140)의 자석 삽입홈(146)에 삽입된다. 자석(150)의 높이는 자석 삽입홈(146)의 높이보다 낮다. 따라서, 자석 삽입홈(146)에 삽입되는 자석(150)은 그 끝단이 안착부(143)의 상면으로부터 낮게 위치하게 된다.
자력 부착부재(160)는 가이드 블록(130)의 자력 부착부재 삽입홈(135)에 삽입된다. 자력 부착부재(160)의 높이는 자력 부착부재 삽입홈(135)의 높이보다 높다. 따라서, 자력 부착부재 삽입홈(135)에 삽입되는 자력 부착부재(160)는 그 끝단이 가이드 블록(130)의 가이드 블록 바디(131)로부터 돌출된다. 가이드 블록 바디(131)로부터 돌출되는 자력 부착부재(160)의 끝단은 자석 삽입홈(146)에 삽입될 수 있다. 자력 부착부재(160)는 철이나, 또 다른 자석 등 소켓 가이드(140)에 구비된 자석(150)의 인력에 의해 자석(150)에 부착될 수 있는 다양한 소재로 이루어질 수 있다.
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 자석(150)에 의한 인력에 의해 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140)에 분리 가능하게 결합된다.
즉, 도 3 및 도 4에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140)의 소켓 가이드 홈(142) 속에 놓이면, 테스트 소켓 조립체(110)에 구비되는 복수의 자력 부착부재(160)가 소켓 가이드(140)에 구비되는 복수의 자석(150)과 마주하게 되고, 자석(150)의 인력이 자력 부착부재(160)에 작용하게 된다. 이때, 가이드 블록(130)에서 돌출된 자력 부착부재(160)의 끝단이 자석(150)이 삽입된 자석 삽입홈(146) 속으로 삽입되면서 자력 부착부재(160)가 자석(150)에 부착됨으로써 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140)에 고정될 수 있다. 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140)에 고정될 때, 소켓 가이드(140)의 내측면과 가이드 블록(130)의 가이드 블록 돌기(134) 사이에는 간극(C)이 마련된다.
그리고 도 5 및 도 6에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)이 위쪽으로 당기면, 자력 부착부재(160)가 자석(150)으로부터 떨어짐으로써 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)로부터 간단히 분리할 수 있다.
따라서, 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에 결합하거나, 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)로부터 분리하는 작업이 용이하고, 결과적으로 테스트 소켓(120)의 교체 작업이 신속하게 이루어질 수 있다.
테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에 결합하거나, 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)로부터 분리하는 작업은 도 7 내지 도 9에 나타낸 것과 같은 탈착용 지그(20)를 통해 쉽게 이루어질 수 있다. 탈착용 지그(20)는 말굽형의 지그 바디(21)와, 지그 바디(21)의 양단부에 상호 마주하도록 연장되는 한 쌍의 파지부(22)를 포함할 수 있다. 도시된 것과 같이, 파지부(22)의 끝단은 가이드 블록(130)의 가이드 블록 돌기(134)에 걸릴 수 있는 후크 모양으로 이루어질 수 있다.
테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에서 분리하는 경우, 사용자는 탈착용 지그(20)의 양쪽 파지부(22)를 소켓 가이드(140)와 가이드 블록(130)의 사이의 간극(C)에 각각 삽입하여 탈착용 지그(20)로 테스트 소켓 조립체(110)를 파지할 수 있다. 이때, 파지부(22)가 가이드 블록(130)의 가이드 블록 돌기(134)에 걸림으로써 탈착용 지그(20)를 소켓 가이드(140) 위쪽으로 당기면 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에서 쉽게 분리할 수 있다.
또한, 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에 장착하는 경우, 사용자는 탈착용 지그(20)로 테스트 소켓 조립체(110)를 파지하여 소켓 가이드(140)의 소켓 가이드 홈(142)에 장착할 수 있다. 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에 장착할 때, 가이드 블록(130)에서 돌출된 자력 부착부재(160)의 끝단이 자석(150)이 삽입된 자석 삽입홈(146) 속으로 삽입되면서 테스트 소켓 조립체(110)가 가이드될 수 있다. 따라서, 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140) 상의 정위치에 안정적으로 결합될 수 있고, 테스트 소켓 조립체(110)가 자석(150)의 인력에 의해 소켓 가이드(140)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 테스트 소켓(120)이 가이드 블록(130)에 분리 가능하게 결합되고, 가이드 블록(130)이 자석(150)의 인력에 의해 소켓 가이드(140)에 탈착식으로 결합될 수 있으므로, 테스트 소켓(120)이 결합된 가이드 블록(130)을 소켓 가이드(140)에 탈부착하는 작업이 쉽게 이루어질 수 있다. 따라서, 테스터(10)에 고정된 소켓 가이드(140)를 테스터(10)에서 분리할 필요가 없이 소켓 가이드(140)에 테스트 소켓(120)을 장착하거나, 소켓 가이드(140)에서 테스트 소켓(120)을 분리하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 테스터(10)에 설치되어 테스트 작업 중에 유지 보수가 필요한 경우, 종래와 같이 소켓 가이드를 포함한 전체 부품이 테스터에서 분리될 필요가 없고, 소켓 가이드(140)가 테스터(10)에 설치된 상태에서 테스트 소켓 조립체(110)만 소켓 가이드(140)로부터 분리되어 테스트 소켓(120)만 간단히 분리되고 교체될 수 있다. 따라서, 종래와 같이 소켓 가이드를 고정하는 볼트를 모두 풀고 새로운 테스트 소켓 장착 후, 다시 볼트로 소켓 프레임을 테스터에 장착하는 복잡한 작업이 필요 없이 유지 보수가 가능하므로, 테스트 소켓(120) 교체 등 유지 보수 작업 시간이 대폭 단축되고, 테스터(10)의 가동 효율을 증대시킬 수 있다.
한편, 도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 나타낸 것이다.
도 10에 나타낸 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치(200)는 테스트 소켓 조립체(110)와, 테스터 보드(12)에 장착되고 테스트 소켓 조립체(110)가 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드(140)와, 테스트 소켓 조립체(110)와 소켓 가이드(140)를 탈착식으로 결합시키기 위한 복수의 자석(150) 및 복수의 자력 부착부재(160)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓 장치(200)는 대부분의 구성이 앞서 설명한 테스트 소켓 장치(100)와 같고, 다만 자석(150) 및 자력 부착부재(160)의 길이가 변경된 것이다.
즉, 소켓 가이드(140)에 구비되는 자석(150)의 높이는 자석 삽입홈(146)의 높이보다 높아서 자석 삽입홈(146)에 삽입되는 자석(150)은 그 끝단이 안착부(143)의 상면으로부터 돌출된다. 그리고 가이드 블록 바디(131)에 구비되는 자력 부착부재(160)의 높이는 자력 부착부재 삽입홈(135)의 높이보다 낮아서 자력 부착부재 삽입홈(135)에 삽입되는 자력 부착부재(160)는 그 끝단이 가이드 블록 바디(131) 속에 위치하게 된다.
이러한 테스트 소켓 장치(200)는 테스트 소켓 조립체(110)를 소켓 가이드(140)에 장착할 때, 자석(150)의 끝단이 자력 부착부재(160)가 삽입된 자력 부착부재 삽입홈(135) 속으로 삽입되면서 테스트 소켓 조립체(110)가 가이드될 수 있다. 따라서, 테스트 소켓 조립체(110)가 소켓 가이드(140) 상의 정위치에 안정적으로 결합될 수 있고, 소켓 가이드(140)와 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있다.
이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.
예를 들어, 도면에는 소켓 가이드(140)에 복수의 소켓 가이드 관통구(144)가 형성되고, 소켓 가이드(140)에 복수의 테스트 소켓 조립체(110)가 결합되는 것으로 나타냈으나, 소켓 가이드는 다양한 개수의 테스트 소켓 조립체가 장착될 수 있는 구조를 취할 수 있다.
또한, 도면에는 가이드 블록(130)의 가이드 블록 바디(131)가 사각 틀 형상으로 이루어지고, 네 개의 자력 부착부재(160)가 가이드 블록 바디(131)의 네 모서리 부분에 각각 결합되는 것으로 나타냈으나, 가이드 블록 바디의 구조나 가이드 블록 바디에 구비되는 자력 부착부재의 개수 및 위치는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 자력 부착부재의 개수나 위치에 따라 소켓 가이드에 구비되는 자석의 개수나 위치도 다양하게 변경될 수 있다.
또한, 자석과 자력 부착부재의 설치 위치는 바뀔 수 있고, 자석과 자력 부착부재 각각의 설치 구조는 다양하게 변경될 수 있다. 즉, 자석은 가이드 블록에만 구비되거나, 가이드 블록과 소켓 가이드에 모두 배치될 수 있고, 자력 부착부재는 소켓 가이드에만 구비되거나, 가이드 블록과 소켓 가이드에 모두 배치될 수 있다. 그리고 자석은 가이드 블록이나 소켓 가이드에 형성되는 자석 삽입홈에 삽입되는 방식 이외에, 다양한 다른 방식으로 가이드 블록이나 소켓 가이드에 결합될 수 있다. 또한, 자력 부착부재는 가이드 블록이나 소켓 가이드에 형성되는 자력 부착부재 삽입홈에 삽입되는 방식 이외에, 다양한 다른 방식으로 가이드 블록이나 소켓 가이드에 결합될 수 있다. 다른 예로, 가이드 블록이 플라스틱 소재로 이루어지는 경우, 가이드 블록과 자력 부착부재는 인서트 사출 방식으로 일체화될 수 있다.
또한, 도면에는 자석(150)의 인력이 작용할 수 있는 별도의 자력 부착부재(160)가 가이드 블록(130)에 구비되는 것으로 나타냈으나, 자력 부착부재는 생략되고 가이드 블록의 일부 또는 전체가 자석(150)의 인력이 작용할 수 있는 소재로 이루어질 수 있다. 자석이 가이드 블록에 구비되는 경우에는 소켓 가이드의 일부 또는 전체가 자석의 인력이 작용할 수 있는 소재로 이루어질 수 있다.
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.
100, 200 : 테스트 소켓 장치 110 : 테스트 소켓 조립체
120 : 테스트 소켓 121 : 테스트 소켓 바디
122 : 도전부 125 : 점착 패드
130 : 가이드 블록 131 : 가이드 블록 바디
132 : 가이드 블록 관통구 133 : 기둥부
134 : 가이드 블록 돌기 135 : 자력 부착부재 삽입홈
136 : 가이드 블록 핀 140 : 소켓 가이드
141 : 소켓 가이드 바디 142 : 소켓 가이드 홈
143 : 안착부 144 : 소켓 가이드 관통구
146 : 자석 삽입홈 147 : 소켓 가이드 핀
150 : 자석 160 : 자력 부착부재
170 : 고정부재

Claims (9)

  1. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서,
    테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부를 갖는 테스트 소켓;
    상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록;
    상기 테스터의 테스터 보드에 결합되고, 상기 도전부를 상기 테스터 보드에 접속시키기 위한 소켓 가이드 관통구를 구비하며, 상기 가이드 블록이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드;
    상기 테스트 소켓 바디 구비되는 점착 패드;
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 어느 하나에 구비되는 자석과 상기 자석이 삽입되는 자석 삽입홈; 및 다른 하나에 구비되는 상기 자석에 부착될 수 있는 자력 부착부재와 상기 자력 부착부재가 삽입되는 자력 부착부재 삽입홈;을 포함하고,
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록은 상기 자석에 의한 인력에 의해 상호 분리 가능하게 결합되고,
    상기 테스트 소켓은 상기 점착 패드의 점착력에 의해 상기 가이드 블록에 분리 가능하게 결합되며,
    상기 자석 삽입홈의 높이는 상기 자석의 높이보다 높고, 상기 자력 부착부재는 상기 자석 삽입홈에 부분적으로 삽입될 수 있도록 그 높이가 상기 자력 부착부재 삽입홈의 높이보다 높은 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서,
    테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부를 갖는 테스트 소켓;
    상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록;
    상기 테스터의 테스터 보드에 결합되고, 상기 도전부를 상기 테스터 보드에 접속시키기 위한 소켓 가이드 관통구를 구비하며, 상기 가이드 블록이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드;
    상기 테스트 소켓 바디 구비되는 점착 패드;
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 어느 하나에 구비되는 자석과 상기 자석이 삽입되는 자석 삽입홈; 및 다른 하나에 구비되는 상기 자석에 부착될 수 있는 자력 부착부재와 상기 자력 부착부재가 삽입되는 자력 부착부재 삽입홈;을 포함하고,
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록은 상기 자석에 의한 인력에 의해 상호 분리 가능하게 결합되고,
    상기 테스트 소켓은 상기 점착 패드의 점착력에 의해 상기 가이드 블록에 분리 가능하게 결합되며,
    상기 자력 부착부재 삽입홈의 높이는 상기 자력 부착부재의 높이보다 높고, 상기 자석은 상기 자력 부착부재 삽입홈에 부분적으로 삽입될 수 있도록 그 높이가 상기 자석 삽입홈의 높이보다 높은 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  7. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서,
    테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부를 갖는 테스트 소켓;
    상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합되는 가이드 블록;
    상기 테스터의 테스터 보드에 결합되고, 상기 도전부를 상기 테스터 보드에 접속시키기 위한 소켓 가이드 관통구를 구비하며, 상기 가이드 블록이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드;
    상기 테스트 소켓 바디 구비되는 점착 패드; 및
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록 중 적어도 어느 하나에 구비되는 자석;을 포함하고,
    상기 소켓 가이드와 상기 가이드 블록은 상기 자석에 의한 인력에 의해 상호 분리 가능하게 결합되고,
    상기 테스트 소켓은 상기 점착 패드의 점착력에 의해 상기 가이드 블록에 분리 가능하게 결합되며,
    상기 가이드 블록은, 상기 피검사체가 상기 도전부와 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 가이드 블록 관통구가 형성된 가이드 블록 바디와, 상기 가이드 블록 바디의 일면에 상기 가이드 블록 관통구를 사이에 두고 상호 마주하도록 돌출되는 한 쌍의 기둥부를 포함하고,
    상기 점착 패드는 상기 한 쌍의 기둥부 각각의 끝단에 부착될 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 한 쌍이 구비되며,
    상기 테스트 소켓 바디는 상기 한 쌍의 점착 패드에 의해 상기 한 쌍의 기둥부 각각의 끝단에 결합되어 상기 가이드 블록 바디로부터 이격 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 가이드 블록은 상기 가이드 블록을 파지하기 위한 탈착용 지그의 파지부가 걸릴 수 있는 가이드 블록 돌기를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 소켓 가이드는 상기 가이드 블록의 적어도 일부분이 삽입될 수 있는 소켓 가이드 홈을 구비하고,
    상기 소켓 가이드의 내측면과 상기 가이드 블록의 가장자리 사이에는 상기 가이드 블록을 파지하기 위한 탈착용 지그의 파지부가 삽입될 수 있는 간극이 마련되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
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