KR101843302B1 - 적외선 반사 기판 및 그 제조 방법 - Google Patents
적외선 반사 기판 및 그 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101843302B1 KR101843302B1 KR1020167026765A KR20167026765A KR101843302B1 KR 101843302 B1 KR101843302 B1 KR 101843302B1 KR 1020167026765 A KR1020167026765 A KR 1020167026765A KR 20167026765 A KR20167026765 A KR 20167026765A KR 101843302 B1 KR101843302 B1 KR 101843302B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- metal oxide
- layer
- oxide layer
- metal
- substrate
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 139
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 221
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims abstract description 221
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 154
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 154
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 50
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 50
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 37
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 37
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 37
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims abstract description 25
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical group [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 22
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical group [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 16
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 80
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 80
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 abstract description 37
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 22
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 372
- 239000010408 film Substances 0.000 description 67
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 29
- 239000000463 material Substances 0.000 description 28
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 23
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 22
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 19
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 19
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 18
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 13
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 12
- URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N niobium(5+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Nb+5].[Nb+5] URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000002585 base Substances 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- 229910000484 niobium oxide Inorganic materials 0.000 description 10
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 8
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 8
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 8
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 7
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 7
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 7
- KBEVZHAXWGOKCP-UHFFFAOYSA-N zinc oxygen(2-) tin(4+) Chemical compound [O--].[O--].[O--].[Zn++].[Sn+4] KBEVZHAXWGOKCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 6
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 6
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 6
- 150000007519 polyprotic acids Polymers 0.000 description 6
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 5
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 4
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 4
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 4
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 4
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 3
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N phthalic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 239000006097 ultraviolet radiation absorber Substances 0.000 description 3
- FDSUVTROAWLVJA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OC(=O)C=C.OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO FDSUVTROAWLVJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 2
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N Succinic acid Natural products OC(=O)CCC(O)=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N molybdenum trioxide Chemical compound O=[Mo](=O)=O JKQOBWVOAYFWKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N niobium pentoxide Inorganic materials O=[Nb](=O)O[Nb](=O)=O ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 2
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 2
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N tungsten trioxide Chemical compound O=[W](=O)=O ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 2,2,4,4,6,6-hexaphenoxy-1,3,5-triaza-2$l^{5},4$l^{5},6$l^{5}-triphosphacyclohexa-1,3,5-triene Chemical compound N=1P(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP=1(OC=1C=CC=CC=1)OC1=CC=CC=C1 RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 2-(chloromethyl)pyridine-3-carbonitrile Chemical compound ClCC1=NC=CC=C1C#N FALRKNHUBBKYCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102100039506 Organic solute transporter subunit alpha Human genes 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N Phthalic anhydride Natural products C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1 LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N ZrO2 Inorganic materials O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KKEYTLVFLSCKDE-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[Zn+2].[O-2] Chemical group [Sn+2]=O.[O-2].[Zn+2].[O-2] KKEYTLVFLSCKDE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032900 absorption of visible light Effects 0.000 description 1
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-NUQCWPJISA-N butanedioic acid Chemical compound O[14C](=O)CC[14C](O)=O KDYFGRWQOYBRFD-NUQCWPJISA-N 0.000 description 1
- QMONKPMNFOIABU-UHFFFAOYSA-N butanedioic acid;[2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound OC(=O)CCC(O)=O.C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C QMONKPMNFOIABU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N butyl 2,2-difluorocyclopropane-1-carboxylate Chemical compound CCCCOC(=O)C1CC1(F)F JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 150000005690 diesters Chemical class 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 230000032050 esterification Effects 0.000 description 1
- 238000005886 esterification reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012760 heat stabilizer Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N oxotin;zinc Chemical compound [Zn].[Sn]=O KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002467 phosphate group Chemical group [H]OP(=O)(O[H])O[*] 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 230000009993 protective function Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000007127 saponification reaction Methods 0.000 description 1
- 125000005372 silanol group Chemical group 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101150101156 slc51a gene Proteins 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000001384 succinic acid Substances 0.000 description 1
- 229940014800 succinic anhydride Drugs 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 150000005691 triesters Chemical class 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0816—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
- G02B5/085—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal
- G02B5/0875—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal the reflecting layers comprising two or more metallic layers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/26—Reflecting filters
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
- B22F3/10—Sintering only
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F7/00—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression
- B22F7/02—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite layers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G23/00—Compounds of titanium
- C01G23/003—Titanates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G23/00—Compounds of titanium
- C01G23/04—Oxides; Hydroxides
- C01G23/047—Titanium dioxide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G33/00—Compounds of niobium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3647—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer in combination with other metals, silver being more than 50%
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3657—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating having optical properties
- C03C17/366—Low-emissivity or solar control coatings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3681—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating being used in glazing, e.g. windows or windscreens
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/08—Oxides
- C23C14/086—Oxides of zinc, germanium, cadmium, indium, tin, thallium or bismuth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/30—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
- C23C28/32—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer
- C23C28/322—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer only coatings of metal elements only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/30—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
- C23C28/34—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates
- C23C28/345—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer
- C23C28/3455—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer with a refractory ceramic layer, e.g. refractory metal oxide, ZrO2, rare earth oxides or a thermal barrier system comprising at least one refractory oxide layer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/208—Filters for use with infrared or ultraviolet radiation, e.g. for separating visible light from infrared and/or ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/281—Interference filters designed for the infrared light
- G02B5/282—Interference filters designed for the infrared light reflecting for infrared and transparent for visible light, e.g. heat reflectors, laser protection
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2301/00—Metallic composition of the powder or its coating
- B22F2301/30—Low melting point metals, i.e. Zn, Pb, Sn, Cd, In, Ga
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2302/00—Metal Compound, non-Metallic compound or non-metal composition of the powder or its coating
- B22F2302/25—Oxide
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2303/00—Functional details of metal or compound in the powder or product
- B22F2303/01—Main component
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2998/00—Supplementary information concerning processes or compositions relating to powder metallurgy
- B22F2998/10—Processes characterised by the sequence of their steps
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Composite Materials (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Abstract
본 발명의 적외선 반사 기판 (100) 은, 투명 기재 (10) 상에, 제 1 금속 산화물층 (21), 제 2 금속 산화물층 (22) 및 금속층 (30) 을 이 순서로 구비하고, 제 2 금속 산화물층 (22) 과 금속층 (30) 이 직접 접하고 있다. 제 1 금속 산화물층 (21) 은, 굴절률이 2.2 이상이다. 제 2 금속 산화물층 (22) 은, 산화주석 및 산화아연을 함유하고, 산소량이 화학량론 조성에 대해서 부족한 금속 산화물로 이루어지는 것이 바람직하다. 제 2 금속 산화물층은 직류 스퍼터법에 의해서 성막되는 것이 바람직하다. 제 2 금속 산화물층의 성막에는, 아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 타깃이 바람직하게 사용된다. 스퍼터 성막실 내에 도입되는 가스 중의 산소 농도는, 8 체적% 이하가 바람직하다. 본 발명에 의하면, 가시광의 투과율이 높으며, 또한 내구성이 우수한 적외선 반사 기판이 얻어진다.
Description
본 발명은 적외선을 반사함으로써, 차열성 및 단열성을 발휘하는 적외선 반사 기판 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
창유리나 쇼 윈도우 등에 차열성이나 단열성을 부여할 목적에서, 유리나 필름 등의 투명 기재 상에 적외선 반사층을 구비하는 적외선 반사 기판이 사용되고 있다. 적외선 반사층은 적외선의 반사율이 높으며, 또한 저방사율인 것이 바람직하고, 그 재료로서 은 등의 금속이 사용되고 있다.
적외선 반사 기판이 창유리 등에 응용되는 경우에는, 가시광의 투과율이 높을 것이 요구된다. 은 등의 금속층은 가시광의 반사율이 높고 투명성이 낮기 때문에, 적외선 반사 기판의 가시광 투과율을 높이기 위해서는, 적외선 반사층의 투과율 및 반사율의 파장 선택성을 높여 가시광의 반사율을 저감시킬 필요가 있다. 그 때문에, 은 등의 금속층과 산화인듐주석 (ITO) 등의 금속 산화물층을 적층하고, 반사광의 다중 간섭 효과를 이용하여, 투과율 및 반사율에 소기의 파장 선택성을 갖게 하는 것이 이루어지고 있다.
특허문헌 1 에서는, 금속 산화물층으로서 이산화티탄 (TiO2) 등의 고굴절률 재료를 사용하여 가시광 투과율을 높이는 것이 제안되어 있다. 또, 특허문헌 1 에서는, 은 등의 금속층 상에 산화티탄층을 성막할 때, 산화티탄 분말과 금속티탄 분말의 혼합물에서 얻어지는 환원성의 산화물 타깃 (산화물의 화학량론 조성에 대해서 산소가 결핍되어 있는 타깃) 을 사용하고, 직류 스퍼터법에 의해서 성막을 행하는 방법이 개시되어 있다. 이 방법에 의하면, 금속 산화물을 고속 성막 가능한 것에 더하여, 금속층의 산화가 억제되기 때문에, 가시광 투과율이 높으며, 또한 저방사율 (고단열성) 의 적외선 반사 기판이 얻어지는 것이 개시되어 있다.
특허문헌 2 에는, 은층의 양면에 산화아연주석 (ZTO) 을 구비하는 투명 도전막을, 플라즈마 디스플레이의 전자파 차폐 필터나 액정 디스플레이의 투명 전극 등에 사용하는 것이 개시되어 있다. ZTO 는 내습성이나 내약품성이 우수하기 때문에, 투명 도전막의 내구성이 높아진다. ZTO 층의 성막 방법으로는, Zn 과 Sn 의 산화물 소결체 타깃을 사용한 스퍼터법, 및 금속 타깃을 사용한 반응성 스퍼터법이 개시되어 있고, 금속막에 대한 데미지를 저감하는 관점에서, 산화물 소결 타깃을 사용하는 방법이 바람직하다고 되어 있다.
또, 특허문헌 2 에서는, 투명 도전막의 기계적, 화학적 내구성을 향상시킬 목적에서, ZTO 막 상에 다른 금속 산화물층을 형성하여 도전성이나 내약품성을 높이는 것이 개시되어 있다. 또, ZTO 막 상의 금속 산화물층으로서, 이산화티탄 등의 고굴절 재료를 사용함으로써 가시광의 반사 방지 효과가 높아져, 투명성이 향상되는 것이 기재되어 있다.
상기 특허문헌 1, 2 에 개시되어 있는 바와 같이, 은 등의 금속층과, 산화티탄 등의 고굴절률 금속 산화물층의 적층 구성에 의해서 가시광의 반사율을 저감시켜, 투명성이 높아진다. 그러나, 이산화티탄 등의 고굴절률 금속 산화물은 은 등의 금속층과의 밀착성이 낮다. 그 때문에, 특허문헌 1 에 개시되어 있는 적외선 반사 기판은, 내구성이 낮아, 금속층의 열화에 의해서 투명성이나 적외선 반사 특성 (단열성 및 차열성) 이 저하된다는 문제가 있다. 또, 특허문헌 2 와 같이, 금속층과 고굴절률 금속 산화물층 사이에 완전 산화물인 ZTO 층을 형성한 경우도, 금속층과 ZTO 층의 밀착성이 충분하지 않아, 내구성의 대폭적인 향상은 기대할 수 없었다.
또, 특허문헌 2 에도 개시되어 있는 바와 같이, 금속아연과 금속주석으로 이루어지는 금속 타깃을 사용한 반응성 스퍼터법에 의해서 ZTO 층을 형성하면, ZTO 의 성막 하지가 되는 금속층 (Ag 등) 이, 성막 분위기 중의 과잉된 산소에 의해서 산화되어, 적외선 반사 기판의 차열성·단열성·투명성 (가시광 투과율) 등의 특성이 저하된다는 문제를 일으킨다. 한편, 산화아연과 산화주석의 산화물 소결체 타깃은 도전성이 낮고, 특히, 주석의 함유량이 큰 Sn 리치의 ZTO 는, 고성막 레이트를 실현할 수 있는 직류 스퍼터법에 의한 성막을 안정적으로 행하는 것이 곤란하다.
상기와 같이, 투명 기재 상에 금속층과 금속 산화물층의 적층체를 구비하는 적외선 반사 기판에서는, 고굴절률 금속 산화물층을 사용함으로써, 가시광의 반사를 저감하여 투명성을 향상시킬 수 있지만, 충분한 내구성을 부여하는 것이 곤란하였다. 또, 종래 기술에서는, 금속층과 고굴절률 금속 산화물층 사이에 ZTO 를 형성한 경우여도, 금속층과의 밀착성이나 생산성을 향상시키기 위한 유효한 수단을 알아내지 못하였다.
상기 현 상황을 감안하여, 본 발명자들이 검토한 결과, 고굴절률 금속 산화물층과 금속층 사이에, 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 타깃을 사용하여 ZTO 를 스퍼터 성막함으로써, 높은 성막 레이트가 실현됨과 함께, 각 층간의 밀착성이 높아져, 가시광 투과율 및 내구성이 우수한 적외선 반사 기판이 얻어지는 것을 알아내어, 본 발명에 이르렀다.
본 발명의 적외선 반사 기판은, 투명 기재 상에, 제 1 금속 산화물층, 제 2 금속 산화물층 및 금속층을 이 순서로 구비하고, 제 2 금속 산화물층과 금속층이 직접 접하고 있다. 본 발명의 일 실시형태에서는, 투명 기재는 가요성의 투명 필름이다.
제 1 금속 산화물층은 굴절률이 2.2 이상이다. 제 1 금속 산화물층은, Ti, Nb, Ta, Mo, W 및 Zr 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 이상의 금속의 산화물로 이루어지는 것이 바람직하다. 제 2 금속 산화물층은, 산화주석 및 산화아연을 함유하고, 산소량이 화학량론 조성에 대해서 부족한 금속 산화물로 이루어진다.
본 발명의 바람직한 형태에서는, 적외선 반사 기판은, 금속층의 기재측과 반대측의 면에, 추가로 표면측 금속 산화물층을 구비한다. 표면측 금속 산화물층은, 금속층과 직접 접하고 있는 것이 바람직하다. 표면측 금속 산화물층의 재료로는, 산화주석 및 산화아연을 함유하는 금속 산화물이 바람직하게 사용된다.
본 발명의 더욱 바람직한 형태에서는, 적외선 반사 기판은 표면측 금속 산화물층 상에 투명 수지층을 구비한다. 투명 수지층은, 표면측 금속 산화물층과 직접 접하고 있는 것이 바람직하다. 투명 수지층의 막두께는 20 ㎚ ∼ 150 ㎚ 인 것이 바람직하다.
또, 본 발명은, 투명 기재 상에, 제 1 금속 산화물층, 제 2 금속 산화물층 및 금속층을 이 순서로 구비하는 적외선 반사 기판을 제조하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 제조 방법은, 투명 기재 상에 제 1 금속 산화물층이 성막되는 공정 (제 1 금속 산화물층 형성 공정), 제 1 금속 산화물층 상에 제 2 금속 산화물층이 직류 스퍼터법에 의해서 성막되는 공정 (제 2 금속 산화물층 형성 공정), 및 제 2 금속 산화물층의 바로 위에 금속층이 성막되는 공정 (금속층 형성 공정) 을 이 순서로 갖는다.
본 발명의 제조 방법에서는, 제 2 금속 산화물층 형성 공정의 스퍼터 타깃으로서 아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 타깃이 사용된다. 제 2 금속 산화물층의 성막시에는, 스퍼터 성막실 내에 불활성 가스 및 산소가 도입된다. 스퍼터 성막실에 도입되는 가스 중의 산소 농도는 8 체적% 이하가 바람직하다.
본 발명의 제조 방법에서는, 금속층 형성 공정 후에 금속층 상에 표면측 금속 산화물층이 형성되는 공정 (표면측 금속 산화물층 형성 공정) 이 행해져도 된다. 표면측 금속 산화물층 형성 공정에 있어서, 표면측 금속 산화물층은 직류 스퍼터에 의해서 성막되는 것이 바람직하다. 제 2 금속 산화물층의 스퍼터 성막에 있어서는, 아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 스퍼터 타깃이 바람직하게 사용된다.
본 발명의 제조 방법은, 표면측 금속층 산화물 형성 후에, 표면측 금속 산화물층 상에 추가로 투명 수지층이 형성되는 공정 (투명 수지층 형성 공정) 을 갖고 있어도 된다.
본 발명의 적외선 반사 기판은, 투명 기재와 금속층 사이에, 고굴절률의 제 1 금속 산화물층과, 소정 조성의 제 2 금속 산화물층을 구비하기 때문에, 가시광 반사율이 작아 투명성이 우수함과 함께, 금속 산화물층과 금속층의 밀착성이 높아 내구성이 우수하다.
도 1 은, 일 실시형태의 적외선 반사 기판의 적층 구성을 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 2 는, 적외선 반사 기판의 사용예를 모식적으로 나타내는 단면도이다
도 2 는, 적외선 반사 기판의 사용예를 모식적으로 나타내는 단면도이다
도 1 은, 적외선 반사 기판의 구성예를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 적외선 반사 기판 (100) 은, 투명 기재 (10) 의 일 주면 상에, 기재측 금속 산화물층 (20) 및 금속층 (30) 을 이 순서로 구비한다. 기재측 금속 산화물층 (20) 은, 투명 기재 (10) 측으로부터, 제 1 금속 산화물층 (21) 과 제 2 금속 산화물층 (22) 을 구비한다. 제 2 금속 산화물층 (22) 과 금속층 (30) 은 직접 접하고 있다.
[투명 기재]
투명 기재 (10) 로는, 가시광 투과율이 80% 이상인 것이 바람직하게 사용된다. 또한, 가시광 투과율은, JIS A5759-2008 (건축 창유리 필름) 에 준하여 측정된다.
투명 기재 (10) 의 두께는 특별히 한정되지 않는데, 예를 들어 10 ㎛ ∼ 10 ㎜ 정도이다. 투명 기재로는, 유리판이나 가요성의 투명 수지 필름 등이 사용된다. 특히, 적외선 반사 기판의 생산성을 높이며, 또한 창유리 등에 적외선 반사 기판을 첩합 (貼合) 할 때의 시공을 용이하게 하는 관점에서, 투명 기재 (10) 로는 가요성의 투명 수지 필름이 바람직하게 사용된다. 투명 기재로서 투명 수지 필름이 사용되는 경우, 그 두께는 10 ㎛ ∼ 300 ㎛ 정도의 범위가 바람직하다. 또, 투명 기재 (10) 상에, 금속층이나 금속 산화물층 등이 형성될 때, 고온에서의 가공이 행해지는 경우가 있기 때문에, 투명 수지 필름 기재를 구성하는 수지 재료는 내열성이 우수한 것이 바람직하다. 투명 수지 필름 기재를 구성하는 수지 재료로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET), 폴리에틸렌나프탈레이트 (PEN), 폴리에테르에테르케톤 (PEEK), 폴리카보네이트 (PC) 등을 들 수 있다.
투명 기재 (10) 가 투명 수지 필름인 경우, 적외선 반사 기판의 기계적 강도를 높이는 등의 목적에서, 필름의 표면에 경화 수지층을 구비하는 것이 바람직하게 사용된다. 또, 투명 필름 기재 (10) 가 금속 산화물층 (20) 형성면측에 경화 수지층을 구비하는 경우, 금속층이나 금속 산화물층, 및 그 위에 형성되는 투명 수지층 등의 내(耐)찰상성이 높아지는 경향이 있다. 경화 수지층은, 예를 들어 아크릴계, 실리콘계 등의 적절한 자외선 경화형 수지의 경화 피막을, 투명 필름 기재에 부가 형성하는 방식 등에 의해서 형성할 수 있다. 하드 코트층으로는, 경도가 높은 것이 바람직하게 사용된다.
투명 기재 (10) 의 표면에는, 그 위에 형성되는 제 1 금속 산화물층 (21) 과의 밀착성을 높이는 등의 목적에서, 코로나 처리, 플라즈마 처리, 프레임 처리, 오존 처리, 프라이머 처리, 글로 처리, 비누화 처리, 커플링제에 의한 처리 등의 표면 개질 처리가 행해져도 된다.
[기재측 금속 산화물층]
투명 기재 (10) 상에는 기재측 금속 산화물층 (20) 이 형성된다. 기재측 금속 산화물층 (20) 은, 투명 기재 (10) 측으로부터, 제 1 금속 산화물층 (21) 과 제 2 금속 산화물층 (22) 을 구비한다.
<제 1 금속 산화물층>
제 1 금속 산화물층 (21) 은 굴절률이 2.2 이상이다. 고굴절률의 제 1 금속 산화물층 (21) 을 구비함으로써, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율이 저감되어 투명성을 높일 수 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 굴절률은 파장 550 ㎚ 에 있어서의 측정치이고, 분광 엘립소미터에 의해서 측정된다.
제 1 금속 산화물층의 재료로는, Ti, Nb, Ta, Mo, W 및 Zr 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 이상의 금속의 산화물이 바람직하게 사용된다. 보다 구체적으로는, 이산화티탄 (TiO2), 오산화니오브 (Nb2O5), 오산화탄탈 (Ta2O5), 삼산화텅스텐 (WO3), 삼산화몰리브덴 (MoO3), 이산화지르코늄 (ZrO2), 또는, 이것들의 복합 산화물을 들 수 있다.
제 1 금속 산화물층 (21) 의 성막 방법은 특별히 한정되지 않지만, 스퍼터법, 진공 증착법, CVD 법, 전자선 증착법 등의 드라이 프로세스에 의한 성막이 바람직하고, 그 중에서도 직류 스퍼터법이 바람직하다. 스퍼터법은, 산화물 타깃을 사용한 스퍼터법, 및 금속 타깃을 사용한 반응성 스퍼터법의 어느 것이어도 된다. 또, 산소량이 화학량론 조성에 못 미치는 금속 산화물 타깃 (환원성 산화물 타깃) 을 사용하고, Ar 등의 불활성 가스와 산소를 도입하면서, 스퍼터 성막이 행해져도 된다. 환원성 산화물 타깃은, 화학량론의 산소를 함유하는 완전 산화물 타깃에 비해서 도전성이 높고, 직류 스퍼터에 의한 성막 레이트가 높아지기 때문에, 적외선 반사 기판의 생산성을 향상시킬 수 있다.
환원성 산화물 타깃은, 예를 들어, 금속 산화물과 금속 분말을 고압 압축법, 소결 혹은 용사함으로써 제조할 수 있고, 그 중에서도 소결법이 바람직하게 사용된다. 예를 들어, 산화티탄 성막용의 환원성 산화물 타깃은, 티타니아 분말과 금속티탄 분말의 혼합물을 소결함으로써 얻어진다. 또, 산화니오브 형성용의 환원성 산화물 타깃은, 오산화니오브 분말과 금속 Nb 분말의 혼합물을 소결함으로써 얻어진다.
제 1 금속 산화물층 (21) 의 막두께는, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율을 저감시켜 투명성이 높아지도록, 금속층이나 다른 금속 산화물층의 재료나 막두께 등을 감안하여 적절히 설정된다. 제 1 금속 산화물층의 막두께는, 예를 들어 3 ㎚ ∼ 50 ㎚ 정도, 바람직하게는 5 ㎚ ∼ 30 ㎚ 정도, 보다 바람직하게는 7 ㎚ ∼ 25 ㎚ 정도의 범위에서 조정될 수 있다.
<제 2 금속 산화물층>
제 1 금속 산화물층 (21) 상에는 제 2 금속 산화물층 (22) 이 형성된다. 제 2 금속 산화물층 (22) 은, 산화아연 및 산화주석을 함유하는 복합 금속 산화물이다. 제 2 금속 산화물층은, 제 1 금속 산화물층과 함께, 가시광의 반사량을 저감시켜, 높은 가시광 투과율과 적외선 반사율을 양립시키는 등의 목적에서 형성된다. 또, 제 1 금속 산화물층과 금속층 사이에 제 2 금속 산화물층을 구비함으로써, 적외선 반사 기판의 내구성을 높일 수 있다.
제 2 금속 산화물층 (22) 은, 제 1 금속 산화물층 (21) 상에 직접 형성되어도 되고, 다른 층을 개재하여 형성되어도 된다. 적외선 반사 기판의 적층 구성을 간소화하여 생산성을 높이는 관점에서는, 제 2 금속 산화물층 (22) 은 제 1 금속 산화물층 (21) 의 바로 위에 형성되는 것이 바람직하다.
산화아연주석 (ZTO) 은, 화학적 안정성 (산, 알칼리, 염화물 이온 등에 대한 내구성) 이 우수하다. 제 2 금속 산화물층 (22) 은, 산소량이 화학량론 조성에 대해서 부족한 (산소 결손을 갖는) 것이 바람직하다. 산소 결손을 갖는 ZTO 는, 화학량론 조성의 산소를 갖는 (완전 산화된) ZTO 에 비해서, 은 등의 금속층과의 밀착성이 우수한 경향이 있다. 그 때문에, 금속층 (30) 에 인접하여 제 2 금속 산화물층 (22) 이 형성됨으로써, 금속층의 열화가 억제되어 적외선 반사 기판의 내구성을 높일 수 있다. 한편, 금속 산화물 중의 산소 결손이 과도하게 많아지면, 금속 산화물에 의한 가시광의 흡수가 증대되어 투명성이 저하되는 경향이 있다.
제 2 금속 산화물층 (22) 은, 직류 스퍼터법에 의해서 성막되는 것이 바람직하다. 직류 스퍼터법은 성막 레이트가 높기 때문에, 적외선 반사 기판의 생산성을 향상시킬 수 있다. 직류 스퍼터법에 의해서 제 2 금속 산화물층을 성막할 때의 스퍼터 타깃으로서, 아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과, 금속 분말이 소결된 타깃이 사용된다. 구체적으로는, 타깃 형성 재료가 산화아연을 함유하고, 산화주석을 함유하지 않을 경우, 타깃 형성 재료에는 금속주석 분말이 함유된다. 타깃 형성 재료가 산화주석을 함유하고, 산화아연을 함유하지 않을 경우, 타깃 형성 재료에는 금속아연 분말이 함유된다. 타깃 형성 재료가 산화아연과 산화주석의 양방을 함유할 경우, 타깃 형성 재료 중의 금속 분말은, 금속아연, 금속주석 이외의 금속이어도 되지만, 금속아연과 금속주석 중 적어도 어느 일방이 함유되는 것이 바람직하고, 금속아연이 함유되는 것이 특히 바람직하다.
산화아연이나 산화주석 (특히 산화주석) 은 도전성이 작기 때문에, 금속 산화물만을 소결시킨 ZTO 의 완전 산화물 타깃은, 도전성이 작고, 직류 스퍼터에서는 방전이 발생되지 않거나, 성막을 장시간 안정적으로 행하는 것이 곤란해지는 경향이 있다. 이에 비하여, 본 발명에서는, 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 환원성 산화물 타깃이 사용됨으로써, 타깃의 도전성을 향상시켜 직류 스퍼터 성막시의 방전을 안정시킬 수 있다.
스퍼터 타깃의 형성에 사용되는 금속의 양이 과도하게 작으면, 타깃에 충분한 도전성이 부여되지 않아, 직류 스퍼터에 의한 성막이 불안정해지는 경우가 있다. 한편, 타깃 중의 금속의 함유량이 과도하게 크면, 스퍼터 성막시에 산화되지 않은 잔존 금속이나, 산소량이 화학량론 조성에 못 미치는 금속 산화물의 양이 증대되어, 금속 산화물의 산소량이 화학량론 조성에 대해서 과도하게 부족하기 때문에, 가시광 투과율의 저하를 초래하는 경향이 있다. 그 때문에, 스퍼터 타깃의 형성에 사용되는 금속의 양은, 타깃 형성 재료 중 0.1 중량% ∼ 20 중량% 가 바람직하고, 0.2 중량% ∼ 15 중량% 가 보다 바람직하며, 0.5 중량% ∼ 13 중량% 가 더욱 바람직하고, 1 중량% ∼ 12 중량% 가 특히 바람직하다. 또한, 타깃 형성 재료로서 사용되는 금속 분말은 소결에 의해서 산화되기 때문에, 소결 타깃 중에서는 그 일부가 금속 산화물로서 존재하고 있어도 된다.
제 2 금속 산화물층 (22) 의 성막에 사용되는 스퍼터 타깃 중에 함유되는 아연 원자와 주석 원자의 비율은, 원자비로 Zn : Sn = 10 : 90 ∼ 60 : 40 의 범위가 바람직하다. Zn : Sn 의 비는 15 : 85 ∼ 50 : 50 이 보다 바람직하고, 20 : 80 ∼ 40 : 60 이 더욱 바람직하다. Zn 의 함유량을, Sn 과 Zn 의 합계 100 원자% 에 대해서 10 원자% 이상으로 함으로써, 타깃의 도전성이 높아지고, 직류 스퍼터에 의한 성막이 가능해지기 때문에 적외선 반사 기판의 생산성을 더욱 높일 수 있다. 성막성 향상의 관점에서, 타깃의 체적 저항률은 1000 mΩ·㎝ 이하가 바람직하고, 500 mΩ·㎝ 이하가 보다 바람직하며, 300 mΩ·㎝ 이하가 더욱 바람직하고, 150 mΩ·㎝ 이하가 특히 바람직하고, 100 mΩ·㎝ 이하가 가장 바람직하다.
한편, Zn 의 함유량이 과도하게 크고, 상대적으로 Sn 의 함유량이 작으면, 제 2 금속 산화물층 자체의 내구성의 저하나, 금속층과의 밀착성의 저하에 의해서 적외선 반사 기판의 내구성이 저하되는 경향이 있다. 그 때문에, 타깃 중의, Zn 원자의 함유량은, Sn 과 Zn 의 합계 100 원자% 에 대해서 60 원자% 이하가 바람직하고, 50 원자% 이하가 보다 바람직하며, 40 원자% 이하가 더욱 바람직하다. 또한, 스퍼터 타깃 중에 함유되는 아연 원자는, 산화아연 중의 아연 원자와, 금속아연 분말에서 유래하는 것이다. 또, 스퍼터 타깃 중에 함유되는 주석 원자는, 산화주석 중의 주석 원자와, 금속주석 분말에서 유래하는 것이다.
제 2 금속 산화물층 (22) 으로서, Sn 의 함유량이 큰 Sn 리치의 ZTO 가 성막됨으로써, 금속층 (30) 과 금속 산화물층 (22) 의 밀착성이 높아져, 금속층의 열화 억제에 의해서 적외선 반사 기판의 내구성이 향상되는 경향이 있다. 그 때문에, 스퍼터 타깃 중의 Sn 의 함유량은, Sn 과 Zn 의 합계 100 원자% 에 대해서 40 원자% 이상이 바람직하고, 50 원자% 이상이 보다 바람직하며, 60 원자% 이상이 더욱 바람직하다. 일반적으로, Sn 리치의 ZTO 는 도전성이 작아지는 경향이 있지만, 상기 서술한 바와 같이, 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 타깃이 사용됨으로써, 타깃의 도전성이 향상되기 때문에 Sn 리치의 ZTO 를 직류 스퍼터에 의해서 고레이트로 성막할 수 있다.
제 2 금속 산화물층 (22) 의 성막에 사용되는 스퍼터 타깃은, 아연, 주석, 및 이것들의 산화물 이외에, Ti, Zr, Hf, Nb, Al, Ga, In, Tl 등의 금속, 혹은 이것들의 금속 산화물을 함유해도 된다. 단, 아연과 주석 이외의 금속 원자의 함유량이 증가하면, 금속층과의 밀착성이 저하되는 경우가 있다. 그 때문에, 금속 산화물의 성막에 사용되는 스퍼터 타깃 중의 금속의 합계 100 원자% 중, 아연 원자와 주석 원자의 합계는 97 원자% 이상이 바람직하고, 99 원자% 이상이 보다 바람직하다.
제 2 금속 산화물층의 스퍼터 성막에 있어서, 먼저, 스퍼터 성막실 내를 진공 배기하여, 장치 내의 수분이나 기재로부터 발생되는 유기 가스 등의 불순물을 제거한 분위기로 하는 것이 바람직하다. 진공 배기 후에, 스퍼터 성막실 내에, Ar 등의 불활성 가스와 산소를 도입하면서 스퍼터 성막이 행해진다. 제 2 금속 산화물층 형성 공정에 있어서의 성막실 내로의 산소의 도입량은, 전체 도입 가스 유량에 대해서 8 체적% 이하인 것이 바람직하고, 5 체적% 이하인 것이 보다 바람직하며, 4 체적% 이하인 것이 더욱 바람직하다. 스퍼터 성막시의 산소 도입량이 크면, ZTO 가 완전히 산화되어, 제 2 금속 산화물층 (22) 과 금속층 (30) 의 밀착성이 저하되는 경향이 있다.
한편, 스퍼터 성막시의 산소의 도입량이 과도하게 적으면, 금속 산화물의 산소 결손량이 증대되어 투명성이 저하되는 경향이 있다. 그 때문에, 스퍼터 성막시의 성막실 내로의 산소의 도입량은, 전체 도입 가스 유량에 대해서 0.1 체적% 이상이 바람직하고, 0.5 체적% 이상이 보다 바람직하며, 1 체적% 이상이 더욱 바람직하다.
또한, 산소 도입량은, 금속 산화물층의 성막에 사용되는 타깃이 배치된 성막실로의 전체 가스 도입량에 대한 산소의 양 (체적%) 이다. 차폐판에 의해서 구획된 복수의 성막실을 구비하는 스퍼터 성막 장치가 사용되는 경우에는, 각각이 구획된 성막실로의 가스 도입량을 기준으로 산소 도입량이 산출된다.
제 2 금속 산화물층 (22) 의 스퍼터 성막시의 기판 온도는, 투명 기재의 내열 온도보다 저온인 것이 바람직하다. 투명 기재 (10) 가 수지 필름 기재인 경우, 기판 온도는 예를 들어 20 ℃ ∼ 160 ℃ 가 바람직하고, 30 ℃ ∼ 140 ℃ 가 보다 바람직하다. 제 2 금속 산화물층의 스퍼터 성막시의 전력 밀도는, 예를 들어 0.1 W/㎢ ∼ 10 W/㎢ 가 바람직하고, 0.5 W/㎢ ∼ 7.5 W/㎢ 가 보다 바람직하며, 1 W/㎢ ∼ 6 W/㎢ 가 더욱 바람직하다. 또, 성막시의 프로세스 압력은, 예를 들어, 0.01 ㎩ ∼ 10 ㎩ 가 바람직하고, 0.05 ㎩ ∼ 5 ㎩ 가 보다 바람직하며, 0.1 ㎩ ∼ 1 ㎩ 가 더욱 바람직하다. 프로세스 압력이 지나치게 높으면 성막 속도가 저하되는 경향이 있고, 반대로 압력이 지나치게 낮으면 방전이 불안정해지는 경향이 있다.
스퍼터 성막에 의해서 얻어지는 제 2 금속 산화물층의 조성 (금속 원자의 함유비) 은, 타깃의 조성을 반영한 것이 된다. 그 때문에, 제 2 금속 산화물층의 아연 원자와 주석 원자의 비율은, 원자비로 Zn : Sn = 10 : 90 ∼ 60 : 40 의 범위가 바람직하다. Zn : Sn 의 비는, 15 : 85 ∼ 50 : 50 이 보다 바람직하고, 20 : 80 ∼ 40 : 60 이 더욱 바람직하다.
제 2 금속 산화물층 (22) 으로서, Sn 의 함유량이 큰 Sn 리치의 ZTO 가 성막됨으로써, 금속층 (30) 과 금속 산화물층 (22) 의 밀착성이 높아진다. 그 때문에, 금속층의 열화가 억제되어, 적외선 반사 기판의 내구성이 향상되는 경향이 있다. 이러한 관점에서, 스퍼터 타깃 중의 Sn 의 함유량은, Sn 과 Zn 의 합계 100 원자% 에 대해서 40 원자% 이상이 바람직하고, 50 원자% 이상이 보다 바람직하며, 60 원자% 이상이 더욱 바람직하다. 일반적으로, Sn 리치의 ZTO 는 도전성이 작아지는 경향이 있지만, 본 발명에 있어서는, 전술한 바와 같이, 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 환원성 산화물 타깃이 사용됨으로써, 타깃의 도전성이 향상되기 때문에 Sn 리치의 ZTO 를 직류 스퍼터에 의해서 성막할 수 있다.
스퍼터 성막에 의해서 얻어지는 제 2 금속 산화물층의 조성 (금속 원자의 함유비) 은, 타깃의 조성을 반영한 것이 된다. 그 때문에, 제 2 금속 산화물층의 아연 원자와 주석 원자의 비율은, 원자비로 Zn : Sn = 10 : 90 ∼ 60 : 40 의 범위가 바람직하다. Zn : Sn 의 비는, 15 : 85 ∼ 50 : 50 이 보다 바람직하고, 20 : 80 ∼ 40 : 60 이 더욱 바람직하다.
제 2 금속 산화물층 (22) 의 막두께는, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율을 저감시켜, 투명성을 높일 수 있도록, 금속층이나 다른 금속 산화물층의 재료나 막두께 등을 감안하여 적절히 설정된다. 제 2 금속 산화물층의 막두께는, 예를 들어, 3 ㎚ ∼ 50 ㎚ 정도, 바람직하게는 5 ㎚ ∼ 30 ㎚ 정도, 보다 바람직하게는 7 ㎚ ∼ 25 ㎚ 정도의 범위에서 조정될 수 있다.
[금속층]
기재측 금속 산화물층 (20) 의 제 2 금속 산화물층 (22) 상에는 금속층 (30) 이 형성된다. 금속층 (30) 은 적외선 반사의 중심적인 역할을 갖는다. 적외선 반사 기판의 가시광 투과율을 높이는 관점에서, 금속층 (30) 으로는 은을 주성분으로 하는, 은층 또는 은 합금층이 바람직하게 사용된다. 또, 은은 높은 자유 전자 밀도를 갖고, 근적외선·원적외선이 높은 반사율을 실현할 수 있기 때문에, 차열 효과 및 단열 효과가 우수한 적외선 반사 기판이 얻어진다.
금속층 (30) 중의 은의 함유량은 85 중량% 이상이 바람직하고, 90 중량% 이상이 보다 바람직하며, 95 중량% 이상이 더욱 바람직하다. 금속층 중의 은의 함유량을 높임으로써, 투과율 및 반사율의 파장 선택성을 높여, 적외선 반사 기판의 가시광 투과율을 높일 수 있다.
금속층 (30) 은 은 이외의 금속을 함유하는 은 합금층이어도 된다. 예를 들어, 금속층의 내구성을 높이기 위해서 은 합금이 사용되는 경우가 있다. 금속층의 내구성을 높이는 목적에서 첨가되는 금속으로는, 팔라듐 (Pd), 금 (Au), 구리 (Cu), 비스무트 (Bi), 게르마늄 (Ge), 갈륨 (Ga) 등이 바람직하다. 그 중에서도, 은에 높은 내구성을 부여하는 관점에서 Pd 가 가장 바람직하게 사용된다. Pd 등의 첨가량을 증가시키면, 금속층의 내구성이 향상되는 경향이 있다. 금속층 (30) 이 Pd 등의 은 이외의 금속을 함유하는 경우, 그 함유량은 0.3 중량% 이상이 바람직하고, 0.5 중량% 이상이 보다 바람직하며, 1 중량% 이상이 더욱 바람직하고, 2 중량% 이상이 특히 바람직하다. 한편으로, Pd 등의 첨가량이 증가되고, 은의 함유량이 저하되면, 적외선 반사 기판의 가시광 투과율이 저하되는 경향이 있다. 그 때문에, 금속층 (30) 중의 은 이외의 금속의 함유량은 15 중량% 이하가 바람직하고, 10 중량% 이하가 보다 바람직하며, 5 중량% 이하가 더욱 바람직하다.
금속층 (30) 의 성막 방법은 특별히 한정되지 않지만, 스퍼터법, 진공 증착법, CVD 법, 전자선 증착법 등의 드라이 프로세스가 바람직하다. 특히, 본 발명에 있어서는, 적외선 반사 기판의 생산성 향상의 관점에서, 직류 스퍼터법에 의해서 금속층이 성막되는 것이 바람직하다.
금속층 (30) 의 두께는, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율을 저감시켜 투명성이 높아지도록, 금속층의 굴절률이나, 금속 산화물층의 굴절률 및 두께 등을 감안하여 적절히 설정된다. 금속층 (30) 의 두께는, 예를 들어 3 ㎚ ∼ 50 ㎚ 의 범위에서 조정될 수 있다.
[금속층 상의 적층 구성]
도 1 에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 적외선 반사 기판은, 금속층 (30) 상에 추가로 다른 층을 구비해도 된다. 가시광 투과율을 높이는 관점에서, 적외선 반사 기판은, 금속층 (30) 상에 표면측 금속 산화물층 (40) 을 구비하는 것이 바람직하다. 또, 적외선 반사 기판의 내구성 등을 향상시키는 관점에서, 표면측 금속 산화물층 (40) 상에 투명 수지층 (50) 이 형성되는 것이 바람직하다.
<표면측 금속 산화물층>
금속층 (30) 상에, 표면측 금속 산화물층 (40) 을 구비함으로써, 금속층 (30) 과의 계면에 있어서의 가시광의 반사율을 저감시켜, 높은 가시광 투과율과 적외선 반사율을 양립시킬 수 있다. 또, 표면측 금속 산화물층 (40) 은, 금속층 (30) 의 열화를 방지하기 위한 보호층으로서도 기능할 수 있다.
표면측 금속 산화물층은 단층이어도 되고, 2 층 이상이 적층된 것이어도 된다. 굴절률이 상이한 복수의 금속 산화물층이 적층되어 있을 경우, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율을 저감시킬 수 있다. 한편, 적외선 반사 기판의 적층 구성을 간소화하여 생산성을 높이는 관점에서, 표면측 금속 산화물층 (40) 은 단층인 것이 바람직하다. 또, 후술하는 바와 같이, 표면측 금속 산화물층 (40) 이 단층인 경우여도, 그 위에 투명 수지층 (50) 을 형성함으로써, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율을 저감시켜 투명성을 향상시킬 수 있다.
적외선 반사 기판의 반사 및 투과의 파장 선택성을 높이는 관점에서, 표면측 금속 산화물층 (40) 의 굴절률은 1.5 이상이 바람직하고, 1.6 이상이 보다 바람직하며, 1.7 이상이 더욱 바람직하다. 상기한 굴절률을 갖는 재료로는, Ti, Zr, Hf, Nb, Zn, Al, Ga, In, Tl, Ga, Sn 등의 금속의 산화물, 혹은 이들 금속의 복합 산화물을 들 수 있다. 특히, 본 발명에 있어서는, 표면측 금속 산화물층 (40) 의 재료로서, 기재측의 제 2 금속 산화물층 (22) 과 마찬가지로, 산화아연과 산화주석을 함유하는 복합 금속 산화물이 사용되는 것이 바람직하다.
전술한 바와 같이, 산화아연 및 산화주석을 함유하는 금속 산화물은, 화학적 안정성 (산, 알칼리, 염화물 이온 등에 대한 내구성) 이 우수하기 때문에, 표면측 금속 산화물층 (40) 자체의 내구성이 높아짐과 함께, 금속층 (30) 의 열화를 억제하여 적외선 반사 기판의 내구성을 높일 수 있다. 특히, 표면측 금속 산화물층 (40) 이 산소 결손을 갖는 경우에는, 표면측 금속 산화물층 (40) 과 금속층 (30) 의 밀착성 향상에 의해서, 적외선 반사 기판의 내구성을 더욱 향상시킬 수 있다. 또, 표면측 금속 산화물층 (40) 이 산소 결손을 갖는 ZTO 이면, 금속 산화물층 (40) 과, 그 위에 형성되는 투명 수지층 (50) 의 밀착성 향상에 의한 내구성 향상도 기대할 수 있다.
표면측 금속 산화물층의 성막 방법은 특별히 한정되지 않지만, 생산성의 관점에서 직류 스퍼터법이 바람직하다. 표면측 금속 산화물층으로서, 산화아연 및 산화주석을 함유하는 금속 산화물층이 형성되는 경우, 아연 원자와 주석 원자의 비율은, 기재측의 제 2 금속층과 마찬가지로, 원자비로 Zn : Sn = 10 : 90 ∼ 60 : 40 의 범위가 바람직하다. Zn : Sn 의 비는 15 : 85 ∼ 50 : 50 이 보다 바람직하며, 20 : 80 ∼ 40 : 60 이 더욱 바람직하다.
표면측 금속 산화물층의 스퍼터 성막에 있어서는, 아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 환원성의 산화물 타깃을 사용하는 것이 바람직하다. 또, 스퍼터 성막실에 도입되는 가스 중의 산소 농도는, 전체 도입 가스 유량의 8 체적% 이하가 바람직하고, 5 체적% 이하가 보다 바람직하며, 4 체적% 이하가 더욱 바람직하다. 환원성 산화물 타깃을 사용하여 저산소 농도로 표면측 금속 산화물층의 성막이 행해졌을 경우, 표면측 금속 산화물층 (40) 은, 금속층 (30) 및 투명 수지층 (50) 의 각각과의 밀착성이 우수하기 때문에, 높은 내구성을 갖는 적외선 반사 기판이 얻어진다. 또, 표면측 금속 산화물층 (40) 성막시의 산소 도입량을 적게 함으로써, 금속층 (30) 의 산화가 억제되어, 적외선 반사 기판의 단열성이나 차열성이 높아지는 경향이 있다.
표면측 금속 산화물층 (40) 의 두께는, 예를 들어 3 ㎚ ∼ 100 ㎚ 정도, 바람직하게는, 5 ㎚ ∼ 80 ㎚ 정도의 범위에서 조정될 수 있다.
<투명 수지층>
표면측 금속 산화물층 (40) 상에는, 투명 수지층 (50) 이 형성되는 것이 바람직하다. 금속층 (30) 의 표면에, 무기물로 이루어지는 금속 산화물층 (40) 과, 유기물로 이루어지는 투명 수지층 (50) 이 형성됨으로써, 금속층 (30) 에 대한 보호 효과가 높아져, 적외선 반사 기판의 내구성이 더욱 향상되는 경향이 있다.
수지층 (유기물) 은, 일반적으로 C=C 결합, C=O 결합, C-O 결합, 방향족 고리 등을 포함하고 있고, 파장 5 ㎛ ∼ 25 ㎛ 의 원적외선 영역의 적외 진동 흡수가 크다. 수지층에서 흡수된 원적외선은, 금속층에서 반사되지 않고, 열전도에 의해서 실외로 열로서 확산된다. 한편, 투명 수지층 (50) 에 의한 원적외선 흡수가 적을 경우, 실내의 원적외선은 투명 수지층 (50) 및 표면측 금속 산화물층 (40) 을 투과하여 금속층 (30) 에 도달하고, 금속층 (30) 에서 반사되어 실내로 반사된다 (도 2 참조). 그 때문에, 투명 수지층 (50) 에 의한 원적외선의 흡수율이 작을수록, 적외선 반사 기판에 의한 단열 효과를 높일 수 있다.
투명 수지층에 의한 원적외선 흡수량을 작게 하여, 적외선 반사 기판에 의한 단열 효과를 높이는 관점에서, 투명 수지층 (50) 의 두께는 150 ㎚ 이하가 바람직하고, 120 ㎚ 이하가 보다 바람직하며, 100 ㎚ 이하가 더욱 바람직하다. 한편, 투명 수지층에 기계적 강도 및 화학적 강도를 부여하여, 적외선 반사 기판의 내구성을 높이는 관점에서, 투명 수지층 (50) 의 두께는 20 ㎚ 이상이 바람직하고, 30 ㎚ 이상이 보다 바람직하며, 40 ㎚ 이상이 더욱 바람직하다.
투명 수지층 (50) 의 막두께를 상기 범위로 함으로써, 단열 효과가 높아지는 것에 더하여, 적외선 반사 기판의 가시광 반사율이 저감되어, 투명성을 높일 수 있다. 즉, 투명 수지층 (50) 의 막두께가 상기 범위이면, 투명 수지층 (50) 의 표면측에서의 반사광과 금속 산화물층 (40) 측 계면에서의 반사광의 다중 반사 간섭에 의해서, 가시광의 반사율이 저감되어, 투명 수지층이 반사 방지층으로서 기능할 수 있다. 그 때문에, 표면측 금속 산화물층 (40) 이 ZTO 등의 단층의 금속 산화물층으로 이루어지는 경우여도, 투명성이 우수한 적외선 반사 기판이 얻어진다.
가시광의 반사율을 저하시키기 위해서, 투명 수지층 (50) 의 광학 막두께 (굴절률과 물리적인 막두께의 곱) 는 50 ㎚ ∼ 150 ㎚ 가 바람직하고, 70 ㎚ ∼ 130 ㎚ 가 보다 바람직하며, 80 ㎚ ∼ 120 ㎚ 가 더욱 바람직하다. 투명 수지층의 광학 막두께가 상기 범위이면, 투명 수지층에 의한 반사 방지 효과가 높아지는 것에 더하여, 광학 막두께가 가시광의 파장 범위보다 작기 때문에, 계면에서의 다중 반사 간섭에 의해서 적외선 반사 기판의 표면이 무지개 모양으로 보이는「홍채 현상」이 억제되기 때문에, 적외선 반사 기판의 시인성을 높일 수 있다.
투명 수지층 (50) 의 재료로는 가시광 투과율이 높고, 기계적 강도 및 화학적 강도가 우수한 것이 바람직하다. 예를 들어, 불소계, 아크릴계, 우레탄계, 에스테르계, 에폭시계, 실리콘계 등의 활성 광선 경화형 혹은 열 경화형의 유기 수지나, 유기 성분과 무기 성분이 화학 결합된 유기·무기 하이브리드 재료가 바람직하게 사용된다.
투명 수지층 (50) 의 재료에는 가교 구조가 도입되는 것이 바람직하다. 가교 구조가 형성됨으로써, 투명 수지층의 기계적 강도 및 화학적 강도가 높아져, 금속층이나 금속 산화물층에 대한 보호 기능이 증대한다. 투명 수지층의 형성시에 각종 가교제를 사용함으로써 가교 구조가 도입된다. 특히, 가교제로서 산성기와 중합성 관능기를 동일 분자 중에 갖는 에스테르 화합물을 사용한 경우에, 투명 수지층의 기계적 강도나 화학적 강도가 더욱 높아지는 경향이 있다. 산성기와 중합성 관능기를 동일 분자 중에 갖는 에스테르 화합물로는, 인산, 황산, 옥살산, 숙신산, 프탈산, 푸마르산, 말레산 등의 다염기산과 ; 에틸렌성 불포화기, 실란올기, 에폭시기 등의 중합성 관능기와 수산기를 분자 중에 갖는 화합물의 에스테르를 들 수 있다. 또한, 당해 중합성 에스테르 화합물은, 디에스테르나 트리에스테르 등의 다가 에스테르여도 되지만, 다염기산의 산성기 중 적어도 1 개는 에스테르화되어 있지 않은 것이 바람직하다.
투명 수지층 (50) 의 기계적 강도 및 화학적 강도를 높이는 관점에서, 상기 중합성 에스테르 화합물은, 중합성 관능기로서 (메트)아크릴로일기를 함유하는 것이 바람직하다. 또, 가교 구조의 도입을 용이하게 하는 관점에서, 상기 중합성 에스테르 화합물은, 분자 중에 복수의 중합성 관능기를 갖고 있어도 된다.
상기 중합성 에스테르 화합물 중에서도, 인산과 중합성 관능기를 갖는 유기산의 에스테르 화합물이, 투명 수지층과 금속 산화물층의 밀착성을 높이는데 있어서 바람직하다. 투명 수지층과 금속 산화물층의 밀착성 향상은, 중합성 에스테르 화합물 중의 산성기가 금속 산화물과 높은 친화성을 나타내는 것에서 유래하고, 그 중에서도 인산에스테르 화합물 중의 인산하이드록시기가 금속 산화물층과의 친화성이 우수하기 때문에, 밀착성이 향상된다고 추정된다.
인산과 중합성 관능기를 갖는 유기산의 에스테르 화합물로는, 예를 들어, 하기 식 (1) 로 나타내는, 인산모노에스테르 화합물 또는 인산디에스테르 화합물이 바람직하게 사용된다. 또한, 인산모노에스테르와 인산디에스테르를 병용할 수도 있다.
[화학식 1]
식 중, X 는 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, (Y) 는 -OCO(CH2)m- 기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 이고, p 는 1 또는 2 이며, m 은 1 ∼ 6 의 정수이다.
상기 식 (1) 로 나타내는 인산에스테르 화합물의 시판품으로는, 닛폰 화약 제조의 KAYAMER 시리즈 (예를 들어,「KAYAMER PM-1」,「KAYAMER PM-21」,「KAYAMER PM-2」) 등을 들 수 있다.
또, 상기 중합성 에스테르 화합물로서, 다관능 (메트)아크릴 화합물과, 다염기산의 에스테르 화합물도 바람직하게 사용된다. 다관능 (메트)아크릴 화합물로는, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 및 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 다관능 (메트)아크릴 화합물과 다염기산의 무수물 (무수 숙신산, 무수 말레산, 무수 프탈산 등) 의 에스테르화에 의해서 다관능 (메트)아크릴 화합물과 다염기산의 에스테르 화합물이 얻어진다.
다관능 (메트)아크릴 화합물과 다염기산의 에스테르 화합물 시판품으로는, 쿄에이샤 화학 제조의「라이트 아크릴레이트 DPE6A-MS」 (디펜타에리트리톨펜타아크릴레이트숙산산 변성물),「라이트 아크릴레이트 PE3A-MS」 (펜타에리트리톨트리아크릴레이트숙신산 변성물),「라이트 아크릴레이트 DPE6A-MP」 (디펜타에리트리톨펜타아크릴레이트프탈산 변성물),「라이트 아크릴레이트 PE3A-MP」 (펜타에리트리톨트리아크릴레이트프탈산 변성물) 등을 들 수 있다.
투명 수지층이, 상기 에스테르 화합물에서 유래하는 가교 구조를 갖는 경우, 투명 수지층 중의 가교 구조의 함유량은 1 중량% ∼ 40 중량% 가 바람직하고, 1.5 중량% ∼ 30 중량% 가 보다 바람직하며, 2 중량% ∼ 20 중량% 가 더욱 바람직하고, 2.5 중량% ∼ 17.5 중량% 가 특히 바람직하다. 에스테르 화합물 유래의 가교 구조의 함유량이 과도하게 작으면, 강도나 밀착성의 향상 효과가 충분히 얻어지지 않는 경우가 있다. 한편, 에스테르 화합물 유래의 가교 구조의 함유량이 과도하게 크면, 투명 수지층 형성시의 경화 속도가 작아져 경도가 저하되거나, 투명 수지층 표면의 미끄러짐성이 저하되어 내찰상성이 저하되는 경우가 있다. 투명 수지층 중의 에스테르 화합물에서 유래하는 구조의 함유량은, 투명 수지층 형성시에, 조성물 중의 상기 에스테르 화합물의 함유량을 조정함으로써 원하는 범위로 할 수 있다.
투명 수지층 (50) 의 형성 방법은 특별히 한정되지 않는다. 투명 수지층은, 예를 들어, 유기 수지, 혹은 유기 수지의 경화성 모노머나 올리고머와, 필요에 따라서 상기 에스테르 화합물 등의 가교제를 용제에 용해시켜 용액을 조정하고, 이 용액을 금속 산화물층 (40) 상에 도포하고, 용매를 건조시킨 후, 자외선이나 전자선 등의 조사나 열 에너지의 부여에 의해서, 경화시키는 방법으로 형성된다.
또한, 투명 수지층 (50) 의 재료로는, 상기한 유기 재료나 가교제 이외에, 실란 커플링제, 티탄 커플링제 등의 커플링제, 레벨링제, 자외선 흡수제, 산화 방지제, 열 안정제, 활제, 가소제, 착색 방지제, 난연제, 대전 방지제 등의 첨가제가 함유되어 있어도 된다. 이들 첨가제의 함유량은, 본 발명의 목적을 저해하지 않는 범위에서 적절히 조정될 수 있다.
상기와 같이, 금속층 (30) 상에, 표면측 금속 산화물층 (40) 과 투명 수지층 (50) 이 형성됨으로써, 각 층간의 밀착성이 높아진다. 또, 투명 수지층 (50) 의 막두께를 조정함으로써 가시광의 반사 방지 효과를 부여할 수 있기 때문에, 금속층 (30) 상의 표면측 금속 산화물층 (40) 이 단층인 경우여도, 가시광 투과율이 높아, 내구성이 우수한 적외선 반사 기판이 얻어진다.
[접착제층]
투명 기재 (10) 의 금속 산화물층 (20) 형성면과 반대측의 면에는, 적외선 반사 기판과 창유리 등의 첩합에 사용하기 위한 접착제층 등이 부가 형성되어 있어도 된다 (도 2 참조). 접착제층 (60) 으로는, 가시광 투과율이 높고, 투명 기재 (10) 와의 굴절률차가 작은 것이 바람직하게 사용되는, 예를 들어, 아크릴계의 점착제 (감압 접착제) 는, 광학적 투명성이 우수하고, 적당한 젖음성과 응집성과 접착성을 나타내고, 내후성이나 내열성 등이 우수한 점에서 투명 기재에 부가 형성되는 접착제층의 재료로서 바람직하다.
접착제층은 가시광의 투과율이 높으며, 또한 자외선 투과율이 작은 것이 바람직하다. 접착제층의 자외선 투과율을 작게 함으로써, 태양광 등의 자외선에서 기인되는 금속층 등의 열화를 억제할 수 있다. 접착제층의 자외선 투과율을 작게 하는 관점에서, 접착제층은 자외선 흡수제를 함유하는 것이 바람직하다. 또한, 자외선 흡수제를 함유하는 투명 필름 기재 등을 사용함으로써도, 옥외로부터의 자외선에서 기인되는 금속층 등의 열화를 억제할 수 있다. 접착제층의 노출면은, 적외선 반사 기판이 실용에 제공되기까지의 동안에, 노출면의 오염 방지 등을 목적으로 세퍼레이터가 임시 부착되어 커버되는 것이 바람직하다. 이로써, 통례의 취급 상태로, 접착제층의 노출면의 외부와의 접촉에 의한 오염을 방지할 수 있다.
[용도]
본 발명의 적외선 반사 기판은, 건물이나 비히클 등의 창, 식물 등을 넣는 투명 케이스, 냉동 혹은 냉장의 진열장 등에 사용된다. 투명 기재 (10) 가 유리 등의 강성 기재인 경우에는, 적외선 반사 기판을 그대로 창유리 등으로서 사용할 수 있다. 투명 기재 (10) 가 필름 기재 등의 가요성 기재인 경우에는, 적외선 반사 기판을 창유리 등에 첩착 (貼着) 하여 사용하는 것이 바람직하다.
도 2 는, 적외선 반사 기판의 사용 형태를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 당해 사용 형태에 있어서, 적외선 반사 기판 (100) 은, 투명 기재 (10) 측이, 적절한 접착제층 (60) 등을 개재하여 창 (90) 에 첩합되고, 건물이나 자동차의 창 (90) 의 실내측에 배치되어 사용된다. 당해 사용 형태에서는, 실내측에 투명 수지층 (50) 이 배치된다. 특히 투명 기재 (10) 가 수지 필름 기재인 경우, 수지 필름은 원적외선의 흡수량이 크기 때문에, 실내의 단열성을 높이기 위해서는, 실내측에 투명 수지층 (50) 이 배치되는 것이 바람직하다.
도 2 에 모식적으로 나타내는 바와 같이, 적외선 반사 기판 (100) 은, 옥외로부터의 가시광 (VIS) 을 투과시켜 실내에 도입함과 함께, 옥외로부터의 근적외선 (NIR) 을 금속층 (30) 에서 반사한다. 근적외선의 반사에 의해서, 태양광 등에서 기인되는 실외로부터의 열이 실내로 유입되는 것이 억제되기 (차열 효과가 발휘되기) 때문에 여름철의 냉방 효율을 높일 수 있다. 또한, 금속층 (30) 은, 난방 기구 (80) 등으로부터 방사되는 실내의 원적외선 (FIR) 을 반사하기 때문에, 단열 효과가 발휘되어 겨울철의 난방 효율을 높일 수 있다.
실시예
이하에, 실시예를 들어 본 발명을 보다 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다.
[측정 방법]
<각 층의 두께>
투명 필름 기재 상에 형성된 각 층의 두께는, 집속 이온 빔 가공 관찰 장치 (히타치 제작소 제조, 제품명「FB-2100」) 를 사용하여, 집속 이온 빔 (FIB) 법에 의해서 시료를 가공하고, 그 단면 (斷面) 을, 전계 방출형 투과 전자 현미경 (히타치 제작소 제조, 제품명「HF-2000」) 에 의해서 관찰하여 구하였다.
<가시광 투과율 및 반사율>
가시광의 투과율 및 반사율은, 모두 분광 광도계 (히타치 하이테크 제조 제품명「U-4100」) 를 사용하여 측정하였다. 투과율은 JIS A5759-2008 (건축 창유리 필름) 에 준하여 구하였다. 반사율은, 투명 필름 기재측으로부터 입사각 5°에서 광을 입사하고, 파장 400 ㎚ ∼ 800 ㎚ 범위의 5°절대 반사율 (가시광 반사율) 의 평균을 산출함으로써 구하였다.
<수직 방사율>
수직 방사율은, 각도 가변 반사 액세서리를 구비하는 푸리에 변환형 적외 분광 (FT-IR) 장치 (Varian 제조) 를 사용하여, 투명 수지층측으로부터 적외선을 조사했을 경우의, 파장 5 ㎛ ∼ 25 ㎛ 의 적외광의 정반사율을 측정하고, JIS R3106-2008 (판유리류의 투과율·반사율·방사율·일사열 취득률의 시험 방법) 에 준하여 구하였다.
<내염수성 시험>
적외선 반사 기판의 투명 필름 기재측의 면을, 두께 25 ㎛ 의 점착제층을 개재하여 3 ㎝ × 3 ㎝ 의 유리판에 첩합한 것을 시료로서 사용하였다. 이 시료를 5 중량% 의 염화나트륨 수용액에 침지하고, 시료 및 염화나트륨 수용액이 들어있는 용기를 50 ℃ 의 건조기에 넣고, 5 일 후 및 10 일 후에 방사율의 변화 및 외관의 변화를 확인하여, 이하의 평가 기준에 따라서 평가하였다.
◎ : 10 일간 침지 후에도 외관 변화가 없으며, 또한 방사율의 변화가 0.02 이하인 것
○ : 5 일간 침지 후에는 외관 변화가 없으며, 또한 방사율의 변화가 0.02 이하이지만, 10 일간 침지 후에는 외관 변화가 확인되는 것
△ : 5 일간 침지 후에, 외관의 변화가 확인되지만, 방사율의 변화가 0.02 이하인 것
× : 5 일간 침지 후에, 외관의 변화가 확인되고, 방사율의 변화가 0.02 이상인 것
[실시예 1]
(기재에 대한 하드 코트층의 형성)
두께가 50 ㎛ 인 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름 (토오레 제조, 상품명「루미라 U48」, 가시광 투과율 93 %) 의 일방의 면에, 아크릴계의 자외선 경화형 하드 코트층 (JSR 제조 오프스타 Z7540) 이 2 ㎛ 의 두께로 형성되었다. 상세하게는, 그라비아 코터에 의해서 하드 코트 용액이 도포되고, 80 ℃ 에서 건조 후, 질소 분위기 하에서 초고압 수은 램프에 의해서 적산 광량 200 J/㎢ 의 자외선이 조사되어 경화가 행해졌다.
<금속 산화물층 및 금속층의 형성>
PET 필름 기재의 하드 코트층 상에, 권취식 스퍼터 장치를 사용하여, DC 마그네트론 스퍼터법에 의해서, 막두께 17.5 ㎚ 의 산화니오브층, 막두께 15 ㎚ 의 기재측 산화아연주석 (ZTO) 층, Ag-Pd 합금으로 이루어지는 막두께 16 ㎚ 의 금속층, 막두께 22.5 ㎚ 의 표면측 산화아연주석층이 순차적으로 형성되었다.
산화니오브층의 성막에는, 스퍼터 타깃으로서 산화니오브와 금속니오브 분말을 소결시킨 타깃 (NBO 타깃) 이 사용되었다. 산화니오브층 성막시의 스퍼터 성막실로의 가스 도입량은, Ar : O2 = 85 : 15 (체적비) 였다. 또한, 이것과 동일 조건에서 PET 기판 상에 성막된 산화니오브층의 굴절률은 2.33 이었다.
기재측 및 표면측의 ZTO 층의 형성에는, 산화아연과 산화주석과 금속아연 분말을 8.5 : 83 : 8.5 의 중량비로 소결시킨 타깃이 사용되고, 전력 밀도 : 2.67 W/㎢, 프로세스 압력 : 0.4 ㎩, 기판 온도 80 ℃ 의 조건에서 스퍼터가 행해졌다. 이 때, 스퍼터 성막실로의 가스 도입량은, Ar : O2 가 98 : 2 (체적비) 가 되도록 조정되었다.
Ag-Pd 금속층의 형성에는, 은 : 팔라듐을 96.4 : 3.6 의 중량비로 함유하는 금속 타깃이 사용되었다.
(투명 수지층의 형성)
그라비아 코터에 의해서, 표면측 ZTO 층 상에, 불소계의 하드 코트 용액 (JSR 제조 오프스타 JUA204) 을 도포하고, 60 ℃ 에서 1 분간 건조 후, 질소 분위기 하에서 초고압 수은 램프에 의해서 적산 광량 400 mJ/㎢ 의 자외선을 조사함으로써, 두께 60 ㎚ 의 불소계 하드 코트층이 형성된다.
[실시예 2]
기재측의 고굴절률 금속 산화물층으로서, 산화니오브층 대신에, 막두께 15 ㎚ 의 산화티탄층이 형성된 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다. 산화티탄층의 성막에는, 스퍼터 타깃으로서 산화티탄과 금속티탄 분말을 소결시킨 타깃 (AGC 세라믹스 제조, TXO 타깃) 이 사용되었다. 또한, 이것과 동일 조건에서 PET 기판 상에 성막된 산화티탄층의 굴절률은 2.34 였다.
[실시예 3]
Ag-Pd 금속층의 막두께가 11 ㎚ 로 변경된 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다.
[비교예 1]
비교예 1 에서는, 산화니오브층이 형성되지 않고, PET 필름 기재 상에 막두께 30 ㎚ 의 산화아연주석층이 형성되고, 그 위에 Ag-Pd 합금으로 이루어지는 막두께 15 ㎚ 의 금속층, 및 막두께 22.5 ㎚ 의 산화아연주석층이 순차적으로 형성되었다. 또, 비교예 1 에서는, 기재측 산화아연주석층 성막시의 스퍼터 성막실로의 가스 도입량이, Ar : O2 = 90 : 10 (체적비) 으로 변경되었다. 그 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다.
[비교예 2]
비교예 2 에서는, PET 필름 기재 상에 막두께 32 ㎚ 의 산화니오브층이 형성되고, 그 위에 기재측 산화아연주석층이 형성되지 않고, Ag-Pd 합금으로 이루어지는 막두께 16 ㎚ 의 금속층이 형성되었다. 그 후에는, 실시예 1 과 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다.
[비교예 3]
기재측 산화아연주석층 성막시의 스퍼터 성막실로의 가스 도입량이, Ar : O2 = 90 : 10 (체적비) 으로 변경되고, Ag-Pd 합금층의 막두께가 15 ㎚ 로 변경되었다. 그 이외에는, 실시예 2 와 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다.
[비교예 4]
비교예 4 에서는, PET 필름 기재 상에 막두께 30 ㎚ 의 산화티탄층이 형성되고, 그 위에 Ag-Pd 합금으로 이루어지는 막두께 15 ㎚ 의 금속층이 형성되었다. Ag-Pd 금속층 상에, 추가로 막두께 30 ㎚ 의 표면측 산화티탄층이 형성되었다. 기재측의 산화티탄층 및 표면측의 산화티탄층의 형성은, 모두 상기 실시예 2 의 산화티탄층의 형성과 동일 조건에서 행해졌다. 비교예 4 에서는, 투명 수지층의 형성은 행해지지 않았다.
[참고예 1, 2]
투명 수지층의 두께가, 각각 표 1 에 나타내는 바와 같이 변경된 것 이외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여 적외선 반사 기판이 제조되었다.
[평가]
상기 각 실시예 및 비교예의 적외선 반사 기판의 적층 구성 및 평가 결과를 표 1 에 나타낸다. 표 1 의 층 구성에 있어서, ( ) 안은 각 층의 막두께를 나타내고, 기재측 금속 산화물층의 ZTO 의 [ ] 안의 수치는 스퍼터 성막시의 도입 가스의 산소 농도를 나타낸다. 또한, ZTO 성막시의 도입 가스의 산소 농도가 기재되어 있지 않은 것은 2 체적% 이다.
기재측 금속 산화물층으로서 PET 필름 기재 상에 고굴절률 금속 산화물층 및 저산소량의 ZTO 가 이 순서로 형성된 실시예 1 ∼ 3 의 적외선 반사 필름은, 모두 가시광 투과율이 높으며, 또한 내염수성도 양호하였다. 금속층의 막두께가 11 ㎚ 인 실시예 3 에서는, 금속층의 막두께가 16 ㎚ 인 실시예 1 에 비해서, 수직 방사율이 약간 상승되어 있기는 하지만, 반사율의 저감에 의해서 가시광 투과율의 대폭적인 향상이 보였다.
산소 도입량 10 체적% 로 기재측의 ZTO 층이 형성된 비교예 3 에서는, 실시예 2 에 비해서 내염수성이 저하되어 있었다. 또한, 비교예 3 에서는, 적외선 반사 필름의 가시광 반사율은, 실시예 2 와 대략 동등하지만, 가시광 투과율이 향상되어 있었다. 이것은, 기재측의 ZTO 층 성막시의 산소 도입량이 많기 때문에, ZTO 의 산소량이 화학량론 조성에 달하고, ZTO 에 의한 광 흡수가 저감된 것에서 기인한다고 생각할 수 있다.
기재측 금속 산화물층으로서, 고굴절률 금속 산화물층이 형성되지 않고, ZTO 만이 형성된 비교예 1 에서는, 실시예 1 에 비해서 가시광의 반사율이 대폭 증대되어 있었다. 그 때문에, 비교예 1 에서는, 실시예 1 보다 기재측의 ZTO 층 성막시의 산소 도입량이 많고, ZTO 에 의한 광 흡수가 저감되어 있음에도 불구하고, 실시예 1 에 비해서 가시광 투과율이 저하되어 있었다. 한편, 기재측 금속 산화물층으로서 고굴절률 금속 산화물층만이 형성되고, 기재 측에 ZTO 층이 형성되지 않았던 비교예 2 에서는, 가시광 투과율은 실시예 1 과 거의 동등했지만, 내구성이 현저하게 저하되어 있었다.
또, 기재측 금속 산화물층 및 표면측 금속 산화물층으로서 산화티탄층이 형성된 비교예 4 에서는, 표면측의 산화티탄층을 성막 후에, 금속층이 흑색으로 변화되어 있었다. 이것은, 금속층 상에 산화티탄층을 성막할 때, 하지인 금속층의 산화 등에 의한 열화가 발생되었기 때문으로 생각할 수 있다. 실시예 1 과 참고예 1, 2 를 대비하면, 적외선 반사 필름의 최표면에 형성되는 투명 수지층의 막두께를 조정함으로써, 가시광 투과율 및 내구성의 향상이 가능한 것을 알 수 있다. 또한, 투명 보호층의 막두께가 200 ㎚ 인 참고예 2 에서는, 홍채 현상에 의한 시인성의 저하가 보였다.
이상의 결과로부터, 기재측의 금속 산화물층으로서 산화티탄이나 산화니오브 등의 고굴절률 금속 산화물층과 산소량이 화학량론에 못 미친 ZTO 가 이 순서로 형성되고, 그 위에 금속층이 형성됨으로써, 가시광의 투과율이 높으며, 또한 내구성이 우수한 적외선 반사 기판이 얻어지는 것을 알 수 있다.
100 : 적외선 반사 기판
10 : 투명 기재
20 : 기재측 금속 산화물층
21 : 제 1 금속 산화물층
22 : 제 2 금속 산화물층
30 : 금속층
40 : 표면측 금속 산화물층
50 : 투명 수지층
60 : 접착제층
10 : 투명 기재
20 : 기재측 금속 산화물층
21 : 제 1 금속 산화물층
22 : 제 2 금속 산화물층
30 : 금속층
40 : 표면측 금속 산화물층
50 : 투명 수지층
60 : 접착제층
Claims (13)
- 투명 기재 상에, 제 1 금속 산화물층, 제 2 금속 산화물층 및 금속층을 이 순서로 구비하고,
상기 제 1 금속 산화물층은, 굴절률이 2.2 이상이고,
상기 제 2 금속 산화물층은, 산화주석 및 산화아연을 함유하고, 산소량이 화학량론 조성에 대해서 부족한 금속 산화물로 이루어지고,
상기 제 2 금속 산화물층과 상기 금속층이 직접 접하고 있는, 적외선 반사 기판. - 제 1 항에 있어서,
상기 제 1 금속 산화물층은, Ti, Nb, Ta, Mo, W 및 Zr 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 이상의 금속의 산화물로 이루어지는, 적외선 반사 기판. - 제 1 항에 있어서,
상기 금속층의 상기 기재측과 반대측의 면에, 추가로 표면측 금속 산화물층을 구비하는, 적외선 반사 기판. - 제 3 항에 있어서,
상기 표면측 금속 산화물층이, 산화주석 및 산화아연을 함유하는 금속 산화물로 이루어지는, 적외선 반사 기판. - 제 3 항에 있어서,
상기 표면측 금속 산화물층이, 상기 금속층과 직접 접하고 있는, 적외선 반사 기판. - 제 3 항에 있어서,
상기 표면측 금속 산화물층 상에, 투명 수지층을 구비하는, 적외선 반사 기판. - 제 6 항에 있어서,
상기 투명 수지층이, 상기 표면측 금속 산화물층과 직접 접하고 있는, 적외선 반사 기판. - 제 6 항에 있어서,
상기 투명 수지층의 막두께가 20 ㎚ ∼ 150 ㎚ 인, 적외선 반사 기판. - 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 투명 기재가 가요성의 투명 필름인, 적외선 반사 기판. - 투명 기재 상에, 제 1 금속 산화물층, 제 2 금속 산화물층 및 금속층을 이 순서로 구비하는 적외선 반사 기판을 제조하는 방법으로서,
상기 제 1 금속 산화물층은 굴절률이 2.2 이상이고, 상기 제 2 금속 산화물층은 산화주석 및 산화아연을 함유하는 금속 산화물로 이루어지고,
투명 기재 상에, 제 1 금속 산화물층이 성막되는 제 1 금속 산화물층 형성 공정 ;
상기 제 1 금속 산화물층 상에, 제 2 금속 산화물층이 직류 스퍼터법에 의해서 성막되는 제 2 금속 산화물층 형성 공정 ; 및
상기 제 2 금속 산화물층의 바로 위에, 금속층이 성막되는 금속층 형성 공정을 이 순서로 갖고,
상기 제 2 금속 산화물층 형성 공정에 있어서,
아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 타깃이 사용되고,
스퍼터 성막실 내에 불활성 가스 및 산소가 도입되고, 스퍼터 성막실에 도입되는 가스 중의 산소 농도가 8 체적% 이하인, 적외선 반사 기판의 제조 방법. - 제 10 항에 있어서,
상기 금속층 상에, 산화주석 및 산화아연을 함유하는 표면측 금속 산화물층이 직류 스퍼터에 의해서 성막되는 표면측 금속 산화물층 형성 공정을 추가로 갖는, 적외선 반사 기판의 제조 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 표면측 금속 산화물층 형성 공정에 있어서,
아연 원자 및 주석 원자를 함유하고, 산화아연과 산화주석 중 적어도 일방의 금속 산화물과 금속 분말이 소결된 스퍼터 타깃을 사용하여, 직류 스퍼터법에 의해서 성막이 행해지는, 적외선 반사 기판의 제조 방법. - 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
상기 표면측 금속 산화물층 상에, 추가로 투명 수지층이 형성되는 투명 수지층 형성 공정을 갖는, 적외선 반사 기판의 제조 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2014-040906 | 2014-03-03 | ||
JP2014040906A JP6282142B2 (ja) | 2014-03-03 | 2014-03-03 | 赤外線反射基板およびその製造方法 |
PCT/JP2015/055702 WO2015133370A1 (ja) | 2014-03-03 | 2015-02-26 | 赤外線反射基板およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160126070A KR20160126070A (ko) | 2016-11-01 |
KR101843302B1 true KR101843302B1 (ko) | 2018-03-28 |
Family
ID=54055178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020167026765A KR101843302B1 (ko) | 2014-03-03 | 2015-02-26 | 적외선 반사 기판 및 그 제조 방법 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20170075044A1 (ko) |
EP (1) | EP3115812A4 (ko) |
JP (1) | JP6282142B2 (ko) |
KR (1) | KR101843302B1 (ko) |
CN (1) | CN106104320A (ko) |
AU (1) | AU2015225134B2 (ko) |
TW (1) | TWI556015B (ko) |
WO (1) | WO2015133370A1 (ko) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6048526B2 (ja) * | 2015-03-26 | 2016-12-21 | Tdk株式会社 | 透明導電体及びタッチパネル |
JP2019010735A (ja) * | 2015-11-24 | 2019-01-24 | コニカミノルタ株式会社 | ガスバリアー性フィルム及び電子デバイス |
JP6601199B2 (ja) | 2015-12-11 | 2019-11-06 | Tdk株式会社 | 透明導電体 |
EP3203274B1 (en) * | 2016-02-04 | 2023-04-05 | Essilor International | Ophthalmic lens comprising a thin antireflective coating with a very low reflection in the visible |
JP6260647B2 (ja) * | 2016-06-13 | 2018-01-17 | Tdk株式会社 | 透明導電体 |
JP6952580B2 (ja) * | 2016-11-17 | 2021-10-20 | 日東電工株式会社 | 偏光フィルム、画像表示装置用保護板、および、位相差フィルム |
KR102063062B1 (ko) * | 2017-02-06 | 2020-01-07 | 주식회사 엘지화학 | 적외선 반사 필름, 및 이를 포함하는 창호 |
WO2018154723A1 (ja) * | 2017-02-24 | 2018-08-30 | 株式会社麗光 | 赤外線反射フイルム |
WO2018181446A1 (ja) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | 日東電工株式会社 | 遮熱断熱フィルム |
KR20240019407A (ko) * | 2017-03-31 | 2024-02-14 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 열선 반사 투광성 기재 및 열선 반사창 |
WO2018181219A1 (ja) * | 2017-03-31 | 2018-10-04 | 日東電工株式会社 | 熱線透過抑制透光性基材、透光性基材ユニット |
JP2018173630A (ja) * | 2017-03-31 | 2018-11-08 | 日東電工株式会社 | 熱線反射透光性基材、熱線反射窓 |
JP2018171908A (ja) * | 2017-03-31 | 2018-11-08 | 日東電工株式会社 | 熱線透過抑制透光性基材、透光性基材ユニット |
JP6859837B2 (ja) * | 2017-05-09 | 2021-04-14 | 三菱マテリアル株式会社 | 酸化物スパッタリングターゲット |
JP2021501918A (ja) * | 2017-11-07 | 2021-01-21 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 光学フィルム及びそれを含むシステム |
JP2019107789A (ja) * | 2017-12-15 | 2019-07-04 | 株式会社小糸製作所 | 樹脂成形品および車両用部品 |
JP7045186B2 (ja) * | 2017-12-28 | 2022-03-31 | ランテクニカルサービス株式会社 | 基板の接合方法、透明基板積層体及び基板積層体を備えるデバイス |
EP3832378A4 (en) * | 2018-07-31 | 2022-04-27 | Hoya Lens Thailand Ltd. | OPTICAL PRODUCT AND METHOD OF MANUFACTURING IT |
CN109300997A (zh) * | 2018-09-14 | 2019-02-01 | 嘉兴岱源真空科技有限公司 | 阳光热反射膜结构及其制作方法 |
JP7287003B2 (ja) * | 2019-02-28 | 2023-06-06 | Tdk株式会社 | ガスバリア積層体及びその製造方法 |
JP7406315B2 (ja) * | 2019-07-03 | 2023-12-27 | デクセリアルズ株式会社 | 導電性積層体及びこれを用いた光学装置、導電性積層体の製造方法 |
JP7057865B2 (ja) * | 2019-11-26 | 2022-04-20 | 日東電工株式会社 | 反射防止フィルムおよびその製造方法、ならびに画像表示装置 |
JP2021137993A (ja) * | 2020-03-03 | 2021-09-16 | デクセリアルズ株式会社 | 導電性積層体及びこれを用いた光学装置、導電性積層体の製造方法 |
CN112309612A (zh) * | 2020-10-27 | 2021-02-02 | 江西慧光微电子有限公司 | 金属导电薄膜、触控面板及电子产品 |
TWI729956B (zh) * | 2020-10-28 | 2021-06-01 | 行政院原子能委員會核能研究所 | 具抗濕功能的陽光控制膜及其製造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002175020A (ja) | 2000-09-29 | 2002-06-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光学フィルターおよび画像表示装置 |
JP2012006798A (ja) | 2010-06-25 | 2012-01-12 | Asahi Glass Co Ltd | 赤外線反射フィルムおよび合わせガラスの製造方法 |
WO2013168714A1 (ja) | 2012-05-08 | 2013-11-14 | コニカミノルタ株式会社 | 合わせガラス |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4834857A (en) * | 1988-04-01 | 1989-05-30 | Ppg Industries, Inc. | Neutral sputtered films of metal alloy oxides |
US4898789A (en) * | 1988-04-04 | 1990-02-06 | Ppg Industries, Inc. | Low emissivity film for automotive heat load reduction |
JP3724936B2 (ja) * | 1997-09-18 | 2005-12-07 | セントラル硝子株式会社 | 低放射ガラス積層体 |
JP4066101B2 (ja) | 1997-10-17 | 2008-03-26 | 旭硝子株式会社 | 低放射率積層体の製造方法 |
US20030228476A1 (en) * | 2001-10-22 | 2003-12-11 | Harry Buhay | Methods of changing the visible light transmittance of coated articles and coated articles made thereby |
FR2827855B1 (fr) * | 2001-07-25 | 2004-07-02 | Saint Gobain | Vitrage muni d'un empilement de couches minces reflechissant les infrarouges et/ou le rayonnement solaire |
US20030043464A1 (en) * | 2001-08-30 | 2003-03-06 | Dannenberg Rand David | Optical coatings and associated methods |
CN101044579B (zh) * | 2004-08-20 | 2010-11-24 | 帝人株式会社 | 透明导电性层压体及透明触摸屏 |
EP1852402A1 (en) * | 2004-12-06 | 2007-11-07 | Nippon Sheet Glass Company Limited | Glass member having photocatalytic function and heat ray reflective function, and double layer glass employing it |
JP4761868B2 (ja) * | 2005-07-27 | 2011-08-31 | 出光興産株式会社 | スパッタリングターゲット、その製造方法及び透明導電膜 |
JP4961786B2 (ja) | 2006-03-17 | 2012-06-27 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜、およびこれを用いた透明導電性フィルム |
ITRM20060181A1 (it) * | 2006-03-31 | 2007-10-01 | Pilkington Italia Spa | Lastra di vetro rivestita |
JP4730204B2 (ja) * | 2006-05-24 | 2011-07-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 酸化物焼結体ターゲット、及びそれを用いた酸化物透明導電膜の製造方法 |
WO2009038143A1 (ja) * | 2007-09-19 | 2009-03-26 | Asahi Glass Company, Limited | 導電性積層体 |
HUE049451T2 (hu) * | 2008-03-20 | 2020-09-28 | Agc Glass Europe | Vékony rétegekkel bevont üvegezés |
TR201905479T4 (tr) * | 2008-03-20 | 2019-05-21 | Agc Glass Europe | İnce katmanlar ile kaplı sır. |
WO2010055832A1 (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-20 | 旭硝子株式会社 | 導電性積層体及びプラズマディスプレイ用保護板 |
JP4968318B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2012-07-04 | 住友金属鉱山株式会社 | 酸化物蒸着材 |
US8747959B2 (en) * | 2011-06-30 | 2014-06-10 | Guardian Industries Corp. | Planar patterned transparent contact, devices with planar patterned transparent contacts, and/or methods of making the same |
JP6174330B2 (ja) * | 2012-05-17 | 2017-08-02 | 日産自動車株式会社 | 透明誘電体膜、熱反射構造体およびその製造方法、ならびにこれを用いた合わせガラス |
CA2893624C (en) * | 2012-12-17 | 2017-12-19 | Saint-Gobain Glass France | Transparent pane with an electrically conductive coating |
-
2014
- 2014-03-03 JP JP2014040906A patent/JP6282142B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-02-26 KR KR1020167026765A patent/KR101843302B1/ko active IP Right Grant
- 2015-02-26 CN CN201580011679.7A patent/CN106104320A/zh active Pending
- 2015-02-26 WO PCT/JP2015/055702 patent/WO2015133370A1/ja active Application Filing
- 2015-02-26 US US15/123,248 patent/US20170075044A1/en not_active Abandoned
- 2015-02-26 EP EP15757976.4A patent/EP3115812A4/en not_active Withdrawn
- 2015-02-26 AU AU2015225134A patent/AU2015225134B2/en not_active Ceased
- 2015-03-03 TW TW104106718A patent/TWI556015B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002175020A (ja) | 2000-09-29 | 2002-06-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光学フィルターおよび画像表示装置 |
JP2012006798A (ja) | 2010-06-25 | 2012-01-12 | Asahi Glass Co Ltd | 赤外線反射フィルムおよび合わせガラスの製造方法 |
WO2013168714A1 (ja) | 2012-05-08 | 2013-11-14 | コニカミノルタ株式会社 | 合わせガラス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015133370A1 (ja) | 2015-09-11 |
US20170075044A1 (en) | 2017-03-16 |
AU2015225134A1 (en) | 2016-09-29 |
JP2015166141A (ja) | 2015-09-24 |
CN106104320A (zh) | 2016-11-09 |
EP3115812A1 (en) | 2017-01-11 |
EP3115812A4 (en) | 2017-10-25 |
AU2015225134B2 (en) | 2017-04-20 |
TWI556015B (zh) | 2016-11-01 |
KR20160126070A (ko) | 2016-11-01 |
TW201539050A (zh) | 2015-10-16 |
JP6282142B2 (ja) | 2018-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101843302B1 (ko) | 적외선 반사 기판 및 그 제조 방법 | |
KR101860282B1 (ko) | 적외선 반사 필름 | |
WO2014119683A1 (ja) | 赤外線反射フィルムの製造方法 | |
KR101918425B1 (ko) | 적외선 반사 필름 | |
EP3179282A1 (en) | Infrared reflecting substrate | |
WO2014119668A1 (ja) | 赤外線反射フィルムの製造方法 | |
JP6370347B2 (ja) | 赤外線反射フィルム | |
JP6761625B2 (ja) | 赤外線反射フィルム | |
JP2016036929A (ja) | 赤外線反射基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |