이하에, 본 발명의 광 정보 장치의 실시형태에 대해서 첨부 도면을 참조해서 설명한다. 또한, 각각의 도면에 있어서 동일한 부호는 동일한 구성 요소 또는 마찬가지의 작용, 동작을 하는 것을 나타낸다.
(제1실시형태)
도 1은, 본 발명의 제1실시형태에 따른 광 정보 장치의 구성의 일례(一例)를 나타내는 도면이다. 이 광 정보 장치는, 광 픽업 헤드(optical pickup head)(80)와, 광 기억 매체 구동부(81)와, 광 픽업 헤드 구동부(82)와, 신호 처리부(83)와, 전원부(電源部)(84)를 구비하고 있다. 도면에서는 전원부(84)를 설치하는 구성으로 하고 있지만, 전원부(84) 대신에 외부 전원(도시하지 않음)과의 접속 단자(도시하지 않음)를 설치하여, 외부 전원과 접속 단자를 접속함으로써 전원을 공급하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 광 픽업 헤드(80)의 구성에는 전혀 제약은 없고, 본 실시형태에 있어서의 광 픽업 헤드는, 도 9에 나타내는 종래의 구성과 마찬가지이다.
이어서, 각각의 구성 부재의 기능에 대해서 설명한다. 광 기억 매체 구동부(81)는, 광 기억 매체(41)를 회전시킨다. 광 픽업 헤드(80)는, 광 픽업 헤드(80)와 광 기억 매체(41)와의 위치 관계에 대응하는 신호를 신호 처리부(83)에 보낸다. 신호 처리부(83)는, 보내진 신호를 증폭 또는 연산해서 포커스 오차 신호 및 TE 신호를 생성하고, 광 픽업 헤드(80) 또는 광 픽업 헤드 내의 대물 렌즈를 미동(微動)시킨다. 또한, 광 픽업 헤드(80)는, 광 기억 매체(41)에 기록된 정보를 판독한 신호를 신호 처리부(83)에 보낸다. 신호 처리부(83)에서는 광 기억 매체(41)에 기록된 정보의 복조를 실행한다. 액추에이터(91, 92)는 광 픽업 헤드(80) 내의 대물 렌즈를 구동한다. 광 픽업 헤드 구동부(82)는, 일반적으로 트래버스 메커니즘(traverse mechanism)이라고 불리고 있으며, 광 픽업 헤드(80)로부터 출사되는 빔이 광 기억 매체(41)의 원하는 위치에 집광되도록, 광 픽업 헤드(80)의 위치를 이동시킨다. 상기 신호와 광 픽업 헤드의 구동부(82) 혹은 액추에이터(91, 92)에 의해, 광 기억 매체(41)에 대하여 포커싱 서보(focusing servo)와 트래킹 서보(tracking servo)가 실행되고, 정보의 판독 혹은 기록 또는 소거가 실행된다. 전원부(84)로부터 신호 처리부(83), 광 픽업 헤드 구동부(82), 광 기억 매체 구동부(81) 및 액추에이터(91, 92)에 전원이 공급된다.
또한, 전원 혹은 외부 전원과의 접속 단자는, 각각의 구동 회로에 각각 설치해도 조금도 문제가 없다. 광 기억 매체(41)는, 도 7에 나타낸 바와 같이, 종래의 광 기억 매체(40)와 마찬가지로 2개의 정보 기록면(41b과 41c)을 갖고 있다. 정보 기록면(41b)은, 반투과막이다. 본 광 기억 매체(41)가 종래의 광 기억 매체(40)와 다른 점은, 종래의 광 기억 매체(40)에서는 8-16 변조, 즉, 최단 마크 및 스페이스의 길이가 3T인 변조 방식에 의해 정보를 기록하고 있었지만, 본 광 기억 매체(41)에서는, 1-7 변조, 즉, 최단 마크 및 스페이스의 길이가 2T이며, 마크 길이가 제한되어 있는 변조 방식으로 정보를 기록하고 있는 것이다. 일반적으로, 마크 길이가 제한되어 있는 변조는, RLL(Run Length Limited)이라고 표현되고 있으며, 이번의 경우, RLL(1, 7)로도 표현된다.
도 2는, 신호 처리부(83)의 구체적 구성의 일례를 설명하는 도면이며, 정보를 복조하는 부분의 구성 및 광 기억 매체에 정보를 기록할 때에 이용하는 기록 신호를 생성하는 부분의 구성을 나타내는 도면이다.
광 픽업 헤드(80)로부터 출력된 신호는, 이퀄라이저(equalizer)부(801)에 입력된다. 광학적인 주파수 특성에 의존해서 광 픽업 헤드(80)로부터 출력되는 신호는, 고역(高域) 성분이 저하하고 있으므로, 이퀄라이저부(801)에서는 입력된 신호의 고역 성분을 강조(强調)해서, 광학적으로 열화되어 있는 신호의 고역 성분의 저하를 보정한다.
이퀄라이저부(801)로부터 출력되는 신호는, 자동 이득 조정부(automatic gain controller)(810)에서, 신호 진폭이 일정하게 되도록 증폭 이득이 자동적으로 조정된다. 자동 이득 조정부(810)가 없어도 광 정보 장치는 기능을 하므로, 생략하는 것도 가능하지만, 자동 이득 조정부(810)를 설치함으로써, 광 기억 매체(41)의 반사율이 변동하였을 경우에도 그 영향을 받기 어렵게 되므로, 광 정보 장치의 신뢰성이 향상된다. 또한, 자동 이득 조정부(810)는, 이퀄라이저부(801)의 전(前) 단계에 설치해도 상관없다. 자동 이득 조정부(810)로부터 출력되는 신호는, 2치화부((804)와 파셜 리스폰스부(partial response unit)(802)에 각각 입력된다.
2치화부(804)에서는, 입력된 신호를 1과 0의 2 값으로 2치화한다. 2치화된 신호는 클록 신호 생성부(clock signal generator)(805)에 입력되고, 클록 신호 생성부(805)에서는, 광 기억 매체(41)에 기록된 신호에 상응한 타이밍(timing)을 갖는 클록 신호를 생성한다. 클록 신호 생성부(805)는, 위상 비교기(phase comparator), 저역 통과 필터, VCO 등으로서 이루어지는 일반적인 위상 동기 루프(phase-locked loop)(이하 PLL이라고 한다)를 갖는 구성의 것을 이용할 수 있다. 그러나, 1-7 변조를 이용할 경우, 2T의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호의 S/N은 나쁠 경우가 많다. 이 때, 모든 마크 및 스페이스의 에지를 이용해서 클록 신호를 생성한 경우에는, 클록 신호의 지터가 증가해서, 광 기억 매체에 기록된 정보를 충실하게 재생할 수 없는 일도 생긴다.
여기서는, 광 정보 장치를 최초에 기동하였을 때에는, 모든 마크 및 스페이스의 에지를 이용해서 클록 신호를 생성하고, PLL이 인입을 한 후에는, 2T의 마크 및 스페이스에 관한 에지에 관계되는 위상 비교 결과를 제외하고 클록 신호를 생성하고 있다. 2T의 마크 및 스페이스의 식별은 파셜 리스폰스부(802)가 실행하고, 2T의 마크 및 스페이스를 식별한 결과는 파셜 리스폰스부(802)로부터 클록 신호 생성부(805)에 보내진다. 광 정보 장치를 최초에 기동할 때에는, 모든 마크 및 스페이스의 에지를 이용함으로써, PLL의 인입을 쉽게 실행하게 된다. 한편, PLL이 인입을 한 후에는, 2T의 마크 및 스페이스에 관한 에지에 관계되는 위상 비교 결과를 제외함으로써, 클록 신호의 지터를 낮출 수 있다. 따라서, 본 실시형태의 광 정보 장치에 있어서의 클록 신호 생성부(805)는, 광 기억 매체의 기록 밀도를 높이고, 2T의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호의 S/N이 나빠졌다고 해도, 지터가 적은 클록 신호를 출력하여, 그것만큼, 정보를 신뢰성 높게 재생할 수 있다.
클록 신호 생성부(805)에서 생성된 클록 신호는, 광 기억 매체 구동 신호 생성부(806)와 파셜 리스폰스부(802)에 입력된다. 광 기억 매체 구동 신호 생성부(806)에서는 입력된 신호에 따라, 광 기억 매체(41)의 구동 속도를 제어하기 위한 광 기억 매체 구동 신호를 생성한다. 광 기억 매체 구동 신호 생성부(806)에서 생성된 광 기억 매체 구동 신호는, 광 기억 매체 구동부(81)에 공급된다. 파셜 리스폰스부(802)로부터 출력되는 신호는, 복조부(demodulator)(803)에 입력되어서, 광 기억 매체(41)에 기록된 신호의 복조가 실행된다.
도 3은, 파셜 리스폰스로 설정되는 역치(SL1, SL2)와 아이 패턴(eye pattern)의 관계를 나타내고 있다. 역치로서는, 2T의 마크로부터 얻어지는 신호와 3T의 마크로부터 얻어지는 신호 사이에 제1의 역치(SL1)를, 또한 2T의 스페이스로부터 얻어지는 신호와 3T의 스페이스로부터 얻어지는 신호 사이에 제2의 역치(SL2)를 각각 설정하고 있다. 파셜 리스폰스부(802)에서는, 자동 이득 조정부(810)로부터 출력된 신호를, 클록 신호의 에지의 타이밍으로 샘플링하고, 마크 및 스페이스의 길이의 식별을 실행한다. 제1의 역치(SL1)와 제2의 역치(SL2)를 설정함으로써, 2T의 신호 진폭이 작을 때에, 마크 및 스페이스가 2T라고 하는 것을 정밀도 좋게 식별할 수 있다. 또한, 파셜 리스폰스부에 (1, 2, 2, 1) 등, 다른 클래스(class)를 이용하였을 경우에서도, 비터비 복호(viterbi decoding) 등의 가장 뛰어난 복호를 병용함으로써, 즉 PRML(Partial Response Maximum Likelihood)을 이용함으로써, 2T의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호 진폭이 작을 때라도, 마크 및 스페이스가 2T라고 하는 것을 정밀도 좋게 식별할 수 있다.
도 4는, 클록 신호 생성부(805)에서 생성된 클록 신호 CLK와, 광 기억 매체(41)의 정보 기록면(41b 및 41c)에 기록된 마크와의 관계를 나타내고 있다. 마크(902a∼902c)는, 길이 2T의 마크를, 마크(903)는, 길이 3T의 마크이며, 여기서는, 각각 길이 0.15㎛과, 길이 0.225㎛이다. 정보 기록면(40c)에 기록된 2T와 3T의 마크는, 각각 마크(902a)와 마크(903)이며, 각각의 마크의 폭 W는 균등하다. 한편, 정보 기록면(40b)에 기록된 2T와 3T의 마크는, 각각 마크(902b)와 마크(903)이며, 마크(902b)는 마크(902a)와 비교해서, 폭 W, 길이 L 모두 작게 되어버린다. 마크를 기록하는 조건을 변경함으로써, 마크(902b)를 마크(902c)와 같이 할 수는 있다. 이 때, 마크(902b)의 길이 L을 길게 할 수 있지만, 폭 W는 변함없이 마크(902a)보다도 작은 채로 있다. 이상의 것을 정리하면, 다음과 같이 된다. 우선, 정보 기록면(40c)에는 길이 2T의 마크를 형성하였을 경우에도 길이 3T의 마크와 마찬가지의 폭으로 할 수 있다. 한편, 정보 기록면(40b)에 2T의 마크를 기록하였을 경우에는 3T의 마크에 비해서 충분한 폭으로 할 수 없다. 이것은, 정보 기록면(40b)을 반투과막으로 하고 있기 때문에, 정보 기록면(41b)에 있어서의 열의 확산 시간이 지연되어, 기록한 마크에 대하여 일종의 소거 작용이 작용하기 때문이다.
이 현상은, 기록막에 상변화 재료를 이용하였을 경우뿐만 아니라, 광자기 재료 등, 열을 이용하여 정보의 기록, 소거를 실행할 경우에는, 어느 경우에 있어서도 생긴다. 또한 4T 이상의 마크는, 3T의 마크와 동일한 폭이다. 마크 크기의 감소는, 마크의 길이가 짧을수록 현저하고, 통상적으로, λ/(NA×2.5) 이하일 때 영향을 무시할 수 없게 된다. 즉, NA를 0.85, λ를 0.405㎛으로 하였을 때에는, 마크 길이가 0.190㎛ 이하로, 이 영향을 무시할 수 없게 된다. 마크의 크기가 감소하는 조건에서는, 아이 패턴의 아이의 개구율이 저하하고, 결과로서, 2치화한 후의 지터가 증가한다. 즉, 최단의 마크 및 스페이스의 길이가 2T의 경우에는, 그것보다 긴 3T 이상의 마크 및 스페이스에 비해서 지터가 상대적으로 크게 되는 것을 의미하고 있다.
본 실시형태에서는, 2T의 마크 길이를 0.15㎛, 3T의 마크 길이를 0.225㎛으로 하고 있기 때문에, 먼저 기술한 바와 같이, 2T의 마크가, 다른 마크보다도 폭이 가늘게 되고, 2치화한 후의 지터는 현저하게 증가한다. 그래서, 이 실시형태에서는, 역치를 2개 설치해서, 파셜 리스폰스에 의한 신호의 검출을 실행하고 있다. 2T 마크의 폭이 가늘어졌다고 해도, 2개의 역치를 초과하는 RF 신호로는 안 되고, 정보의 검출에 악영향을 주지 않는다. 즉, 정보 기록면(40b)에 기록된 2T의 마크의 폭이 가늘어졌다고 해도, 정보를 신뢰성 높게 재생할 수 있다.
도 5는, 마크의 길이와 신호 진폭의 관계를 나타내고 있다. 도 5에 있어서, 가로축은, λ/(ML·NA)이다. 여기서, λ는 광원의 파장, NA는 광 픽업 헤드가 갖는 대물 렌즈의 개구수, ML은 동일한 길이의 마크와 스페이스를 1쌍으로 하였을 때의 길이이다. 한편, 세로축은, Ⅰ2pp/Ⅰ8pp가 2T의 마크와 스페이스를 1쌍으로 하였을 때에 얻어지는 신호 진폭을 8T의 마크와 스페이스를 1쌍으로 하였을 때에 얻어지는 신호 진폭으로 나눈 값이다. 또한, Ⅰ3pp/Ⅰ8pp가 3T의 마크와 스페이스를 1쌍으로 하였을 때에 얻어지는 신호 진폭을 8T의 마크와 스페이스를 1쌍으로 하였을 때에 얻어지는 신호 진폭으로 나눈 값이다.
도 5로부터 알 수 있는 것에 대해서 설명한다. λ/(ML·NA)가 약 1.25일 때, Ⅰ2pp/Ⅰ8pp가 0.2, Ⅰ3pp/Ⅰ8pp가 0.6이며, 따라서, Ⅰ2pp와 Ⅰ3pp의 비는 3배이다. 2T의 마크 폭이 3T의 마크 폭보다도 좁아지면, 이 비는 더욱 증대한다. λ/(ML·NA)가 1.25보다도 클 때, 더욱 Ⅰ2pp/Ⅰ8pp가 급격하게 저하하므로, Ⅰ2pp/Ⅰ8pp의 저하에 따라 상대적으로, Ⅰ2pp에 대한 광 기억 매체, 레이저, 회로 등에 의한 노이즈의 비율이 급격하게 증가하므로, 종래의 2치화 신호를 단순하게 검출하는 방식에서는, 2T의 마크 및 스페이스에 관계되는 에지의 지터가 악화한다.
한편, 2개의 역치를 설치하였을 때의, 2T 및 3T의 마크 혹은 스페이스로부터 얻어지는 신호와 역치의 간격은 넓어지고, 즉, 길이 2T의 마크 및 스페이스와 길이 3T의 마크 및 스페이스와의 차이를 식별하는 것이 용이하게 된다. 따라서, ML이 1쌍의 2T의 마크와 스페이스의 길이이고, λ/(ML·N A)가 1.25보다도 클 때, 2개의 역치를 설치하는 파셜 리스폰스부나, PRML을 이용하는 것이 유효하게 된다.
또한, 여기서는, 광 기억 매체(41)가 2개의 기록층을 갖는 경우에 대해서 설명하였지만, 본 발명은 이 경우에 한정되지 않는다. 예를 들면, 광 기억 매체의 기록층이, 2T의 마크가 3T 이상의 마크보다도 가늘게 된다고 하는 특성을 갖고 있을 경우나, ML이 1쌍의 2T의 마크와 스페이스의 길이이고, λ/(ML·NA)가 1.25보다도 클 경우에는, 기록층의 수에 관계없이, 어느 쪽의 경우에도, 본 발명의 광 정보 장치를 이용함으로써 정보를 신뢰성 높게 재생할 수 있는 것은 말할 필요도 없다. 또한, 본 발명의 광 정보 장치는, 여러 번 기록 가능한 광 기억 매체의 기록·재생용에 한정되는 것은 아니고, 1번만 기록 가능한 광 기억 매체나, 판독 전용의 광 기억 매체에 대하여도 유효하다.
예를 들면, 판독 전용 광 기억 매체를 제작할 때의 마스터링 공정(mastering process)에서, 레이저 빔을 이용해서 원반의 커팅(cutting)을 실행하였을 경우에는 2T 마크의 폭이 3T 이상의 마크의 폭보다도 좁아지는 일이 일어날 수 있다. 원반의 커팅에 적용할 수 있는 레이저의 최단 파장이 270nm 정도, 대물 렌즈의 최대 개구수가 0.9 정도인 것을 고려하고, 최단 마크의 길이가 0.2㎛, 트랙 피치가 0.4㎛보다도 작은 고밀도의 판독 전용 광 기억 매체를 제작할 경우에는, 특히 2T의 마크 폭이 3T 이상의 마크 폭보다도 가늘게 되는 것은 피할 수 없다. 이 경우에도 본 실시형태의 광 정보 장치의 효과가 특히 발휘된다.
레이저 빔을 이용해서 원반의 커팅을 실행할 때에 레지스트 막(resist film)에 비선형 투과막을 이용해서, 작은 마크를 형성하는 방법도 있지만, 이 때도 2T 마크의 폭이 3T 이상의 마크 폭보다도 좁아지는 것은, 특히 잘 일어날 수 있다. 이 경우에도 본 실시형태의 광 정보 장치의 효과가 특히 발휘된다. 전자 빔을 이용해서 원반의 커팅을 실행할 경우에는, 2T 마크의 폭을 3T 마크의 폭과 마찬가지로 할 수 있지만, 커팅에 요하는 시간이 레이저 빔을 이용할 경우와 비교해서 매우 길기 때문에, 그것만큼 광 기억 매체의 제조 비용이 증대한다. 본 실시형태의 광 정보 장치를 이용함으로써, 레이저 빔으로 원반의 커팅을 실행하여, 저렴한 광 기억 매체를 제공할 수 있다.
또한, 최단 마크는 길이 2T에 한정되는 것은 아니고, 최단 마크의 폭이, 최단 마크보다도 긴 마크의 폭보다 좁을 경우, 본 발명의 효과를 얻을 수 있으며, 예를 들면 최단 마크가 3T이어도 좋다.
또한, 여기서는 종래와 마찬가지의 광 픽업 헤드를 이용하였지만, 광 기억 매체에 빔을 조사해서, 광 기억 매체로부터 반사된 빔에 상응한 신호를 출력하는 것이라면, 어떠한 구성의 광 픽업 헤드이어도 좋다. 또한, 광 기억 매체에 기록된 RF 신호를 이용해서 클록을 생성하고 있지만, 트랙을 워블(wobble)한 홈으로서, 그 워블의 타이밍으로부터 클록 신호를 생성하는 방법 등, 종래로부터 이용되고 있는 클록 신호의 생성 방법은 모두 적용할 수 있다.
이어서, 정보를 기록하는 시스템(系)을 설명한다.
(a) 디지털 패턴 발생부(807)는, 음악, 영상, 컴퓨터의 데이터 등의 정보를 1-7 변조의 변환 규칙에 근거하여, 원하는 디지털 정보 패턴으로 변환한다. 또한, 디지털 패턴 발생부(807)는, 광 기억 매체에 최적인 기록 조건을 학습하기 위해서, 단일 패턴, 랜덤 패턴, 특정한 마크 및 스페이스 길이의 조합으로 이루어지는 특수 패턴 등을 생성하는 기능도 갖는다.
(b) 디지털 패턴 발생부(807)에서 생성된 디지털 정보 패턴은, 기록 펄스 발생부(808)에 입력된다.
(c) 기록 펄스 발생부(808)는, 입력된 디지털 정보 패턴에 근거하여, 광 기억 매체에 마크 및 스페이스를 기록하는 데에 적합한 기록 펄스 신호를 생성한다. 기록 펄스 신호는, 폭, 진폭, 타이밍 등을 조정할 수 있다. 또한, 광 기억 매체의 고유 정보, 학습한 최적 결과, 광 기억 매체에 기록되어 있는 기록 조건 등의 정보를 저장해 두는 메모리도 갖고 있다. 그 때문에, 한 번 학습을 실행한 광 기억 매체나, 이미 최적인 기록 조건이 광 기억 매체에 기록되어 있는 광 기억 매체에 대하여 기록을 실행할 경우에는, 기록 조건의 학습 시간을 단축할 수 있도록 되어 있다.
(d) 기록 펄스 발생부(808)에서 생성된 기록 펄스 신호는, 레이저 구동부(809)에 입력된다.
(e) 레이저 구동부(809)에서는, 입력된 기록 펄스 신호에 근거하여, 광 픽업 헤드를 구성하는 광원인 반도체 레이저 광원의 출력을 제어함으로써, 광 기억 매체의 기록층에 정보의 기록을 실행한다.
도 6은, 3T의 마크를 기록할 때의 기록 펄스 신호를 나타내고 있다. 여기서는, 마크 길이에 상응해서 펄스 수를 증가시키고 있으며, 3T 마크에서는 펄스 수가 3개, 5T 마크에서는 펄스 수가 5개이다. 파선은, 클록 신호의 에지의 타이밍을 나타내고 있다. PTW1, PTW2, PTW3은 기록 펄스의 폭, TF1, TF2, TF3은 클록 신호의 에지의 타이밍으로부터 기록 펄스의 상승 에지까지의 지연 시간, PW1, PW2, PW3은 기록 펄스의 피크 파워, PB1, PB2, PB3은 바이어스 파워이다.
이것들의 값은, 광 기억 매체가 갖는 특성 및 기록하는 마크의 길이와 전후의 스페이스의 길이에 상응해서 최적화된다. 따라서, PW1∼PW3은 다른 값을 취할 수 있다. PTW1∼PTW3, PB1∼PB3에 대해서도 마찬가지이다. 물론, 레이저 구동부(809)의 특성에 따라서, PW1∼PW3 및 PB1∼PB3을 각각 균등하게 하고, PTW1∼PTW3을 조정함으로써 최적화하는 경우도 있다면, PTW1∼PTW3을 일정하게 해서, PW1∼PW3 및 PB1∼PB3을 최적화해도 좋다.
또한, 다른 길이의 마크나 스페이스에 대하여도 마찬가지로, 최적인 파워, 폭, 지연 시간 등을 설정한다. 또한, 지연 시간에 대해서는, 광 기억 매체의 특성에 의해, 정부(正負) 어느 것의 값에도 될 수 있다. 기록 조건의 학습은, 여기서는 1-7 변조한 랜덤 신호를 광 기억 매체에 기록하여, 2T∼8T의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호의 시간 폭의 평균치가, 각각 T의 정수 배로 균등하게 되도록 기록 펄스를 조정하고 있다. 이것에 의해, 2T의 마크 및 스페이스의 평균치를, 3T 이상의 길이의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호를 2치화할 때에 설정되는 역치와 일치시킬 수 있다. 2T의 마크 및 스페이스의 평균치와 3T 이상의 길이의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호를 2치화할 때에 설정되는 역치와 일치시킴으로써, 2개의 역치를 설정해서 정보를 재생할 때에, 가장 오류를 일으킬 확률이 낮아져, 신뢰성이 높은 광 정보 장치를 제공할 수 있다.
또한, 2T의 마크 혹은 스페이스와 인접하지 않는 3T 이상 길이의 마크 및 스페이스에 관해서는, 지터 혹은 오류율을 평가 함수로 해서, 기록 펄스의 최적화를 도모해도 좋다. 이 때에는, 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호의 시간 폭만으로 최적화를 실행하는 것보다도, 오류를 일으키는 확률이 낮게 되어, 더욱 신뢰성을 높일 수 있다. 또한, 이 때, 2T의 마크 및 스페이스를 제외해서 기록하여, 기록 조건의 최적화를 실행해도 좋다. 그 때에는, 2T의 에지를 식별해서 제외할 필요가 없어지므로, 더욱 간단히 또한 단시간에 기록 조건의 학습을 할 수 있다.
또한, 허용되는 범위에서 기록 조건의 최적화를 도모한 후에 정보를 기록하였을 때, 2T의 마크 및 스페이스에 인접한 에지에 관한 결과를 제외한 지터가, 원하는 값을 상회(上回)할 때에는, 광 기억 매체가 정보를 기록하는 데에 적절하지 않다고 판단해서, 광 기억 매체에 원래 기록하려고 하는 정보를 기록하지 않도록 한다. 더욱이, 광 기억 매체가 정보를 기록하기에는 적절하지 않은 취지를 나타내는 경고를 내도 좋다. 그렇게 함으로써, 귀중한 정보를 광 기억 매체에 기록할 때에는, 높은 신뢰성으로 재생할 수 있는 것이 보증되게 된다.
종래에는, 기록 조건을 모든 마크 및 스페이스의 에지에 관한 지터의 값으로 평가하고 있었다. 이 경우, 2T의 마크 및 스페이스에 인접하는 에지의 지터가 나쁜 것인가 아닌가의 여부를 판단할 수 없었다. 즉, 2T의 마크 및 스페이스에 인접하지 않는 에지의 지터가, 2T의 마크 및 스페이스에 인접한 에지의 지터보다도 매우 작은 경우와, 2T의 마크 및 스페이스에 인접하지 않는 에지의 지터가, 2T의 마크 및 스페이스에 인접한 에지의 지터와 마찬가지인 경우와의 식별은 할 수 없었다. 그 때문에 간단히 모든 에지에 관한 지터의 값이 원하는 값보다도 큰지 작은지에 따라, 광 기억 매체가 정보의 기록에 적합한지 아닌지의 여부를 판별하고 있었다. 그러나, 이 경우, 동일한 지터 값을 나타내는 광 기억 매체이어도, PRML을 이용해서 정보의 재생을 실행하였을 때, 오류율에는 큰 차이가 있었다. 정보를 신뢰성 좋게 기록 재생하기 위해서는, 지터의 기준값을 낮게 유지함으로써, 확실하게 오류율이 낮은 광 기억 매체를 식별하지 않으면 안 되고, PRML을 이용하였을 경우에 충분히 낮은 오류율이 얻어지는 광 기억 매체도 정보의 기록에 적합하지 않은 광 기억 매체로서 취급하지 않으면 안 되었다.
한편, 본 실시형태의 광 정보 장치에 의하면, 2T의 마크 및 스페이스에 인접한 에지에 관한 결과를 제외한 지터를 평가 함수로서 두며, 이 경우에는, 지터의 값과 PRML을 이용하였을 경우의 오류율과는 대단히 강한 상관이 있다. 그 때문에, 지터의 기준값을 종래보다도 높게 설정할 수 있어, PRML을 이용하였을 경우에 낮은 오류율이 얻어지는 광 기억 매체를 확실하게 식별할 수 있다. 따라서, 광 기억 매체를 제조할 때의 제품 수율이 향상되어, 저렴한 광 기억 매체를 제공할 수 있게 된다. 물론, 이 광 기억 매체는, PRML을 이용하였을 경우뿐만 아니라, 2개의 역치를 갖는 파셜 리스폰스를 이용하는 경우도 마찬가지로 허용할 수 있다. 또한, 지터를 평가 함수로 하였을 경우에는, 에지의 수는 1,000∼10,000 정도로 좋지만, 오류율을 평가 함수로 하였을 경우에는, 에지의 수는 100,000∼1,000,000 정도가 필요하게 된다. 따라서, 평가 함수에 지터를 이용함으로써, 평가 함수에 오류율을 이용하는 경우와 비교해서, 평가에 요하는 시간은, 매우 짧은 시간에 완료되므로, 광 기억 매체의 생산성이 향상된다.
(제2실시형태)
도 7은, 본 발명에 따른 다른 광 기억 매체의 일례로서, 광 기억 매체의 구성을 나타낸 도면이다. 광 기억 매체(41)는, 투명한 보호층(41a)과 2개의 기록층(41b, 41c)을 갖고 있다. 광 기억 매체(40)와 광 기억 매체(41)에서 상이한 점은, 정보 기록면(41c)은 몇 번이라도 재기록 가능한 기록층이지만, 정보 기록면(41b)은 판독 전용의 기록층이라고 하는 점이다. 정보 기록면(41b)에는, 엠보스(emboss)로서 마크가 형성되어 있다. 또한, 최단 마크 및 스페이스는 2T이다. 또한, 정보 기록면(41b)의 투과율은 50%보다도 높게 설정되어 있으며, 여기서는, 80%로 하고 있다. 기록층(41b)의 투과율은 판독 전용이기 때문에, 투과율은 어느 위치에서도 거의 일정하다. 판독 전용의 기록층인 정보 기록면(41b)을 기록 가능한 정보 기록면(41c)보다도 광이 입사하는 쪽에 배치함으로써, 정보 기록면(41b)의 투과율이 일정하기 때문에, 정보 기록면(41c)에 조사되는 빔의 파워가 안정되어, 원하는 정보를 기록 재생할 수 있다. 또한, 정보 기록면(41b)의 투과율은 판독 전용이기 때문에, 정보 기록면(41b)의 투과율을 50%보다도 높게 설정할 수 있다. 그 때문에, 정보 기록면(41c)에 기록할 때에 필요한, 광 픽업 헤드를 구성하는 레이저가 출사하는 파워는 적어도 좋으며, 레이저의 수명이 길어지므로, 장기간 사용할 수 있는 광 정보 장치를 구성할 수 있다. 또한, 정보 기록면(41c)에 기록된 정보를 판독할 때에도, 정보 기록면(41b)의 투과율을 높게 하고 있는 분량만큼, 광 검출기에 입사하는 빔의 광량(光量)은 커지므로, 그 분량만큼 S/N이 좋아져, 신뢰성 높게 정보를 재생할 수 있다.
또한, 여기서는 정보 기록면(41c)을 몇 번이라도 재기록 가능한 기록층으로 하였지만, 한 번만 기록 가능한 기록층으로 해도 좋다.
또한, 기록층을 3층 이상 설치해서, 1개의 층만을 기록 가능한 기록층으로 하고, 나머지의 기록층은 판독 전용의 기록층으로 할 때에는, 광 픽업 헤드로부터의 빔이 입사하는 쪽에 판독 전용의 기록층을 배치하고, 광 픽업 헤드로부터의 빔이 입사하는 쪽으로부터 가장 먼 위치에 기록 가능한 기록층을 설치함으로써, 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 실시형태의 광 기억 매체는, 변조 방식에 관해서는 전혀 제약이 없으며, 어떠한 변조 방식도 적용할 수 있다.
(제3실시형태)
도 8은, 본 발명에 따른 다른 광 정보 장치의 일례로서, 길이가 최단인 마크 및 스페이스로서 2T의 마크 및 스페이스가 형성된 후의 광 기억 매체로부터 위상차법(DPD법이라고도 한다)에 의해 TE 신호를 생성하는 광 정보 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
광 기억 매체에는, 예를 들면, 제2실시형태에 나타내는 광 기억 매체(41)와 같이, 엠보스로서 마크가 형성되어 있는 기록층을 갖는 광 기억 매체를 이용할 수 있다. 본 광 정보 장치는, 원방 영역(far-field region)에 있어서의 빔을 분할해서 광 검출기로 수광하여, 위상 비교 가능한 신호를 출력 가능한 광 픽업 헤드라면, 어떠한 광 픽업 헤드도 이용할 수 있다. 여기서는, 가장 일반적으로 이용되고 있는, 도 9에 기재한 광 픽업 헤드를 이용해서 설명한다.
(a) 광 검출기(32)의 수광부(32a∼32d)로부터 출력되는 신호는, 신호 처리부(85)에 입력된다.
(b) 신호 처리부(85)에 입력된 수광부(32a∼32d)로부터 출력된 신호는, 가산부(820)에서 가산된 후, 자동 이득 조정부(810)에 입력된다.
(c) 자동 이득 조정부(810)에서는, 입력된 신호 진폭이 원하는 크기가 되도록 이득이 자동적으로 조정되어서 증폭된다.
(d) 자동 이득 조정부(810)로부터 출력된 신호는, 이퀄라이저부(822)에 입력되어서, 신호의 높은 주파수 성분이 강조된 후, 식별부(821)에 입력된다.
(e) 식별부(821)에서는, 입력된 신호 중, 길이가 2T의 마크 및 스페이스의 에지에 관한 타이밍의 때에 유지 신호를 생성해서 출력한다.
(f) 수광부(32a∼32d)로부터 출력된 신호는, 이퀄라이저부(822)에도 입력되어, 4개의 신호는 각각, 높은 주파수 성분이 강조된 후, 위상 비교부(823)에 입력된다.
(g) 위상 비교부(823)에서는, 입력된 신호의 진폭 변화의 타이밍에 상응한 신호를 출력한다.
(h) 위상 비교부(823)로부터 출력된 신호는, 홀드부(holding circuit)(824)를 경유한 후, 구동 신호 생성부(825)에 입력된다.
(i) 홀드부(824)에서는, 2T의 마크 및 스페이스의 에지에 관한 타이밍의 때 의 신호는 무효로 해서, 구동 신호 생성부(825)에 출력하지 않는다.
(j) 구동 신호 생성부(825)에서는, 입력된 신호를 원하는 크기로 증폭하여, 위상 보상, 대역(帶域) 제한 등의 처리를 실행한 뒤 트래킹 제어용의 액추에이터를 제어하기 위해서 이용되는 신호를 출력한다.
1-7 변조를 이용할 경우, 2T의 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호의 S/N은, 다른 2T보다도 긴 마크 및 스페이스로부터 얻어지는 신호보다도 나쁜 것이 많다. 모든 마크 및 스페이스의 에지를 이용해서 TE 신호를 생성한 경우에는, 2T의 마크 및 스페이스에 관한 에지의 타이밍의 검출 정밀도가 대단히 나쁘고, TE 신호의 S/N을 크게 열화시켜, 그만큼, 트래킹 제어의 정밀도가 저하해버린다. 2T의 마크 및 스페이스에 관한 에지에 관계되는 위상 비교 결과를 제외하고 TE 신호를 생성함으로써, 단위 시간당의 타이밍의 검출 수는 감소하기 때문에, 트래킹 제어의 대역을 높일 수 없는 가능성도 생각되지만, S/N의 개선 효과가 매우 크기 때문에, 모든 마크 및 스페이스의 에지의 타이밍을 이용해서 TE 신호를 생성할 때보다도, 트래킹 제어의 대역을 높일 수 있다.
또한, 제1실시형태에서 설명한 클록 신호를 생성하는 경우와 마찬가지로, λ/(ML·NA)가 1.25보다도 클 때, 특히 본 실시형태에 나타내는 TE 신호의 생성 방법을 이용함으로써, 현저한 효과가 발휘된다.
또한, 도 8에 기재하지 않은 구성 요소에 대해서는, 일반적인 광 정보 장치에 이용되고 있는 구성을 문제없이 적용할 수 있으므로, 설명을 생략하고 있다.
또한, 최단 마크는 2T에 한정되는 것은 아니고, 최단 마크의 폭이, 최단 마 크보다도 긴 마크의 폭보다 좁을 경우, 본 발명의 효과를 얻을 수 있으며, 예를 들면 최단 마크가 3T이어도 좋다.
(제4실시형태)
도 9는, 본 발명에 따른 다른 광 정보 장치의 일례로서의 상변화 광 정보 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 이 광 정보 장치는, 광 픽업 헤드(102)와, 재생 수단(103)과, 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)와, 검출 수단 B(105)와, 최적 기록 파워 결정 수단(106)과, 기록 수단(107)과, 레이저 구동 회로(108)와, 기록 파워 설정 수단(109)을 구비한다. 광 픽업 헤드(102)에 의해 광 기억 매체(101)에 광 빔을 조사하여, 반사광을 수광한다. 재생 수단(103)에서는, 상기 광 픽업 헤드(102)에서 수광한 광에 근거하는 신호를 재생한다. 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)와, 검출 수단 B(105)에 의해, 재생 신호의 품질을 검출한다. 최적 기록 파워 결정 수단(106)에서는, 상기 검출 수단 A(104), 검출 수단 B(105)에서 얻어진 재생 신호 품질에 근거해서 최적 기록 파워를 결정한다. 레이저 구동 회로(108)에 의해 레이저를 출사(出射)한다. 기록 파워 설정 수단(109)에 의해 기록 시의 파워를 설정한다.
도 10은, 본 실시형태에 있어서의 광 기억 매체(101)의 트랙의 구성을 나타내는 도면이다. 광 기억 매체(101)는, 홈 형상의 그루브 트랙(201)에 기록 영역을 갖고, 상기 그루브 트랙이 나선 형상으로 연속하고 있는 광 기억 매체이다.
광 기억 매체(101)가 광 정보 장치에 장착되어, 광 기억 매체 타입의 식별이나 회전 제어 등의 소정의 동작 종료 후, 광 픽업 헤드(102)는 최적 기록 파워를 설정하기 위한 영역으로 이동한다(단계 402: 도 12).
또한 상기 영역은, 광 기억 매체의 최내주(最內周) 혹은 최외주(最外周)에 설치된, 사용자가 데이터를 기록하는 사용자 영역 이외의 기록 영역으로 한다. 사용자 영역 이외의 영역을 사용함으로써, 높은 조사 파워의 기록에 의한 사용자 영역의 열적인 파괴를 방지할 수 있다.
이하에 기록 시의 파워를 결정할 때의 동작에 대해서 설명한다. 또한, 도 9에 나타내는 장치를 구성하는 회로로부터 출력되는 신호와, 상기 신호에 대응하는 광 기억 매체(101) 상의 기록 마크를 도 18 및 도 19에 나타내 적절히 참조한다.
(a) 우선 기록 파워 설정 수단(109)에 의해, 피크 파워(1103), 바이어스 파워(1104), 보텀 파워(1105)의 초기 값이 레이저 구동 회로(108)에 설정된다.
(b) 계속해서 기록 수단(107)으로부터, 소정의 위치로부터 그루브 트랙 1주를 연속해서 기록하기 위한 신호(115)가 레이저 구동 회로(108)에 보내진다.
(c) 레이저 구동 회로(108)로부터, 기록하는 마크의 길이에 상응해서 정형(整形)된 펄스 열(列) 신호(116)가 광 픽업 헤드(102)에 전달되어서, 광 픽업 헤드(102)에 의해 신호가 기록된다. 이 때 광 픽업 헤드(102)의 구성 요소인 반도체 레이저의 출력광은 광 기억 매체(101) 상에 광 스폿으로서 집광되어, 발광 파형에 상응한 기록 마크(1001)가 형성된다. 또한 광 픽업 헤드(102)에 있어서 레이저 광의 파장은 405nm 정도이며, 대물 렌즈의 NA는 0.85 정도이다.
또한 본 실시형태에서는, 1-7 변조 방식의 데이터를 마크 에지 기록 방식으 로 기록하는 것으로 한다. 이 경우, 최단의 2T로부터 최장의 8T까지의 기준 주기인 T마다에 7종류의 마크 및 스페이스가 존재한다. 또한 기록 방식은 이것에 한정되지 않고 다른 기록 방식이라도 좋다. 또한 최단 마크 길이는 0.16㎛ 정도이다.
기록이 종료되면, 광 픽업 헤드(102)의 반도체 레이저는 재생 파워로 발광하고, 조금 전 기록을 실행한 트랙을 재생하여, 재생 신호로서 광 기억 매체(101) 상의 기록 마크(1001)의 유무에 의해 변화되는 신호(110)가 재생 수단(103)에 입력된다.
도 14는, 재생 수단(103)의 구성을 나타내는 블록도이다. 이 재생 수단(103)은, 프리앰프(preamp: pre-amplifier)(601)와, 이퀄라이저(602)와, 저역 통과 필터(low-pass filter)(603)와, 2치화 회로(digitizing circuit)(604)와, PLL(605)을 구비한다. 신호(110)는, 프리앰프(601)에서 증폭되어, 이퀄라이저(602), 저역 통과 필터(603)에서 파형 등화(等化)되어서 신호(606)로 된다. 신호(606)는, 2치화 회로(604)에 입력되어서, 슬라이스 레벨(slice level)(1002)과의 교점에서 펄스를 출력하여, 신호(111)로 된다. 여기서 슬라이스 레벨(1002)은 마크의 적분 값과 스페이스의 적분 값이 균등하게 되도록 통상적으로 수십 KHz의 대역에서 동작한다.
2치화 회로(604)의 출력 신호(111)는, PLL(605)에 입력된다. 도 15는, PLL(605)의 구성을 나타내는 블록도이다. 이 PLL(605)은, 위상 비교기(701)와, 저역 통과 필터(702)와, VCO(703)와, 플립플롭(flip-flop)(704)과, 분주(分周) 회로(705)와, 게이트 회로(706)를 구비한다.
(a) 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)가 위상 비교기(701)에 입력된다.
(b) 위상 비교기(701)는 입력 신호(111)와 게이트 회로(706)의 출력 신호(707)와의 위상 차를 검출하고, 2개의 입력 신호의 위상 차와 주파수 차에 관계되는 오차 신호(708)를 출력한다.
(c) 오차 신호(708)는 저역 통과 필터(702)에서 저주파 성분만이 통과되어, VCO(703)의 제어 전압으로 된다.
(d) VCO(703)는 제어 전압에 의해 결정되는 주파수로 클록 신호(709)를 발생한다.
(e) 클록 신호(709)는, 분주 회로(705)에서 분주되어, 게이트 회로(706)에서 신호(111)에 대응한 신호만이 출력된다. 이 때 VCO(703)는 2개의 입력 신호의 위상이 균등하게 되도록 제어되며, 결과적으로 신호(111)를 그 기본 주기에 동기시킨 신호(112)가 출력되어, 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)와 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)에 입력된다.
도 16은, 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 블록도이다. 이 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)는, 에지 간격 측정 회로(801)와, 지터 연산 회로(803)와, 비교 회로(805)를 구비한다. 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)와 PLL(605)의 출력 신호(112)가 에지 간격 측정 회로(801)에 입력되면, 에지 간격 측정 회로(801)는, 도 18에 나타낸 바와 같이, 2개의 펄스의 에지 간격 t0, t1, t2, t3, t4, t5, t6, t7, t8, t9, …를 측정하여, 지터 연산 회로(803)에서 지터 값을 출력한다. 계속해서 비교 회로(805)에서, 얻어진 지터 값을 역치로 하는 소정의 지터 값과 비교하여, 비교 결과를 신호(113)로서 최적 기록 파워 결정 수단(106)에 출력한다.
이어서, 도 17에 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)의 블록도를 나타낸다. 이 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)는, 실렉터 회로(selector circuit)(901)와, 지연 회로(903)와, 에지 간격 측정 회로(906)와, 지터 연산 회로(908)와, 비교 회로(910)를 구비한다.
(a) 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)와 PLL(605)의 출력 신호(112)는 지연 회로(903)에 입력되어, 각각 신호(904, 905)를 에지 간격 측정 회로(906)에 출력한다.
(b) 신호(111)는 한편으로 실렉터 회로(901)에 입력되어, 최단 마크 및 최단 스페이스의 에지를 검출해서 신호(902)를 에지 간격 측정 회로(906)에 출력한다. 본 실시형태에서는 2T 신호가 최단이므로 2T 이하 혹은 2T+α 이하가 되는 펄스 간격을 검출한다. 여기서 α는 0.5T 이하이며, 바람직하게는 0.25T 이하이다. 이 신호(902)는, 최단 마크 및 최단 스페이스, 예를 들면 여기서는 길이가 2T의 마크 및 스페이스를 마스크(mask)하기 위해서 이용된다.
(c) 에지 간격 측정 회로(906)는, 도 19에 나타낸 바와 같이, 신호(904)에 있어서, 신호(902)로 마스크되는 에지 간격 t3, t6을 비측정으로 하고, 그 이외의 펄스의 에지 간격 t0, t1, t2, t4, t5, t7, t8, t9, …를 측정하여, 지터 연산 회로(908)에서 지터 값을 출력한다.
(d) 계속해서 비교 회로(910)에서, 얻어진 지터 값을 역치로 하는 소정의 지터 값과 비교하여, 비교 결과를 신호(114)로서 최적 기록 파워 결정 수단(106)에 출력한다.
도 11은, 피크 파워와 지터의 관계를 나타내는 도면이다. 도 11에 있어서 가로축이 피크 파워이고, 세로축이 지터이다. 지터라는 것은 재생 신호의 원래 신호와의 시간적인 편차이며, 기록 시의 레이저 광의 조사 파워 부족에 의한 재생 신호 진폭의 저하 등에 의해 발생하고, 재생 신호 진폭이 증가하면 감소하고, 재생 신호 진폭이 포화되면 지터 양(量)도 거의 일정하게 된다. 재생 조건이 균등하면, 일반적으로 지터가 작을수록 정확한 기록이 실행되고 있다. 그래서 기록한 트랙의 지터가 역치 이하가 될 때 OK로 하고, 역치 이상이 될 때를 NG로 한다.
최적 기록 파워 결정 수단(106)은, 예를 들면 도 12, 도 13에 나타내는 흐름도를 따라서 이하와 같이 동작한다.
(a) 우선, 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 1회째의 결과에 있어서 NG이면 시작의 파워보다도 큰 피크 파워를 설정하고(단계 405), OK이면 시작의 파워보다도 작은 피크 파워를 설정해(단계 404), 전회(前回)와 마찬가지로, 설정된 피크 파워로 그루브 트랙의 기록, 재생을 실행한다(단계 406).
(b) 만약 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 1회째의 검출 결과가 NG이고, 2회째의 검출 결과가 OK이면, 최적 기록 파워 결정 수단(106)은 1회째의 피크 파워와 2회째의 피크 파워의 평균 파워(P1)에 일정한 마진을 상승시킨 파워(P2)를 하기의 식을 따라 산출한다(단계 411).
P1 = (현재의 피크 파워+직전의 피크 파워)/2
P2 = K1×P1(마진 상승, K1>1)
(c) 만약 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 1회째의 검출 결과가 OK이고, 2회째의 검출 결과가 NG이면, 최적 기록 파워 결정 수단(106)은 1회째의 피크 파워와 2회째의 피크 파워의 평균 파워(P1)에 일정한 마진을 상승시킨 파워(P2)를 산출한다(단계 411).
P1 = (현재의 피크 파워+직전의 피크 파워)/2
P2 = K1×P1(마진 상승, K1>1)
(d) 만약 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 1회째의 검출 결과가 OK이고, 2회째의 검출 결과가 OK이면, 2회째에 기록한 피크 파워보다도 더욱 작은 파워를 설정하고, 이 피크 파워로 기록, 재생을 실행하여, 재생 신호 품질을 검출한다. 그리고 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 3회째의 검출 결과에 있어서 NG이면, 최적 기록 파워 결정 수단(106)은 2회째의 피크 파워와 3회째의 피크 파워의 평균 파워(P1)에 일정한 마진을 상승시킨 파워(P2)를 산출한다(단계 411).
(e) 계속해서 피크 파워(P2)를 설정하고(단계 412), 그 피크 파워(P2)에 의해, 랜덤 신호를 기록하여, 재생을 실행한다(단계 413).
(f) 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)에서 재생 신호 품질을 검출한다(단계 414).
(g) 만약 검출 결과가 NG이면, 단계 411에 있어서의 마진의 상승 계수의 K1을 변경하고(단계 415), 다시 단계 412 이후의 처리를 실시한다. 변경에 의해 검출 결과가 OK가 되면, 이어서 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)에서 재생 신호 품질을 검출한다(단계 416). 만약 검출 결과가 NG이면, 처리 411에 있어서의 마진의 상승 계수의 K1을 변경하고(단계 417), 다시 412 이후의 처리를 실시한다. 변경에 의해 검출 결과가 OK가 되면 피크 파워(P2)를 사용자 데이터 기록 시의 피크 파워로 결정한다(단계 418). 여기서 단계 415에 있어서의 변경량은 최대로 ±10% 정도이며, 단계 417에 있어서의 변경량은 최대로 ±5% 정도이다.
이상과 같이, 기록 성능 확인 등을 위해서, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터 검출에 추가해서, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출함으로써, 실사용 시에 광 기억 매체와 헤드의 상대적인 틸트나, 디포커스가 발생하였을 경우에서도, 데이터를 바르게 기록할 수 있다.
또한 본 실시형태와 같이 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터의 역치와, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터의 역치를 각각 설정함으로써, 더욱 최적인 기록 재생을 실행하는 것이 가능하게 된다.
환언하면, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터의 역치와, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터의 역치를 만족하는 기록 성능을 광 기억 매체가 가짐으로써, 더욱 최적인 기록 재생을 실행하는 것이 가능하게 된다. 또한 이것들의 역치는 광 기억 매체 상의 재생 전용 영역에 기록되어 있어도 좋고, 광 정보 장치의 메모리에 기억되어 있어도 좋다.
또한, 지금까지 설명한 실시형태는 일례로서, 본 발명의 취지를 일탈(逸脫)하지 않는 범위에서 여러 가지 특징을 채용할 수 있다.
지터나 오류율 등의 평가 척도에 관해서, 마크의 시단 에지와 종단 에지를 구별하지 않고 있지만, 구별해도 좋다. 구별함으로써 시단 에지와 종단 에지의 한쪽이 극단적으로 클 경우를 배제할 수 있다. 또한, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지를 구별할 수 있는 것이라면, 검출량은 지터에 한정하지 않고, 예를 들면 비트 오류율(bit error rate) 등이라도 좋다.
또한, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)에 있어서 펄스 간격을 측정함으로써 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지를 검출하고 있지만, 최단 마크 및 최단 스페이스의 검출 방법은 이것에 한정하지 않고, 도 3에 나타낸 바와 같이 2개의 역치(SL1과 SL2)를 설정해서 진폭으로부터 최단 마크 및 최단 스페이스를 검출하는 등, 특히 검출 방법에 제약은 없다.
또한, 에지 간격 측정 회로(906)는, 실렉터 회로(901)의 출력 신호(902)로 마스크된 에지 간격을 비측정으로 하고 있지만, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 측정할 수 있는 것이라면 다른 방법이라도 좋다.
또한, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)와 PLL(605)의 출력 신호(112)를 기초로 해서 에지 간격을 측정하고 있지만, 에지 간격의 측정은 이것에 한정하지 않고, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)만의 에지 간격을 측정해도 좋다. 신호(112)의 지터를 무시할 수 있는 경우, 이론적으로는, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)만의 에지 간격에 있어서의 지터 값은, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)와 PLL(605)의 출력 신호(112)를 기초로 해서 에지 간격에 있어서의 지터 값의 약 1.41배가 되며, 2치화 회로(604)의 출력 신호(111)만의 에지 간격에 있어서의 지터 값을 검출할 경우라도 상응한 효과를 갖는다.
또한, 재생 시스템에 PRML 방식을 사용할 경우에는, 최단 마크 및 최단 스페이스의 검출 능력이 더한층 향상된다. 이러한 경우에는 특히 본 실시형태에 있어서의, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출하는 것이 유효하다. 예를 들면, 모든 에지에 있어서의 지터 값이 균등한 2개의 기록 상태를 비교하였을 경우에, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터 값이 작은 쪽이 더욱 바르게 데이터를 재생할 수 있는 것은 물론이지만, 최단 마크 및 최단 스페이스의 영향으로, 모든 에지에 있어서의 지터 값이 클 경우라도, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터 값이 작으면, PRML 방식에 의해 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지는 바르게 2T로 검출할 수 있으므로, 결과적으로 모든 에지에 있어서의 지터 값이 작은 경우보다도 바르게 데이터를 재생하는 것이 가능하다.
또한, 부호 계열은, 최단 마크 길이가 2T에 한정되는 것은 아니고, 최단 마크 길이가 3T인 3T계나 1T 등, 다른 길이이어도 마찬가지의 효과를 갖는다.
PRML 방식을 사용할 경우에는, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 흔들림을 작게 하도록 마크를 기록함으로써, 최단 마크 및 최단 스페이스에 대해서는, 옳은 시간 간격이 아니더라도, 적어도 신호의 존재를 검출할 수 있는 정도의 진폭을 갖도록 마크를 기록하면, 가령 모든 에지에 있어서의 지터 값이 클 경우라도 바르게 데이터를 재생할 수 있으므로, 본 실시형태와 같은, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출해서 기록 조건을 구하는 것이 대단히 유효하다.
또한, 본 실시형태에서는 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터와, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터 양쪽을 검출하고 있지만, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터만을 검출하는 경우라도, 상응한 효과를 갖는다.
또한, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출하였을 경우라도, 최단 마크를 포함하지 않는 에지 혹은 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 어느 쪽인가 한쪽의 지터만을 검출할 경우라도, 상응한 효과를 갖는다.
또한, PRML 방식 이외이어도, RLL 부호의 경우에는 최단 마크가 규정되어 있는 것으로부터, 간이적인 최단 마크 및 최단 스페이스의 검출이 가능하다. 즉, RLL(1, 7) 변조 방식에 있어서, 재생 파형으로부터 2.5T의 신호를 검출한 경우에는, 2T의 가능성과 3T의 가능성이 있지만, 2T보다도 짧은 신호를 검출하였을 경우에는 2T의 가능성 쪽이 높다. 따라서, RLL 부호에 의해 기록을 실행할 경우에는, 본 실시형태와 같이 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출하는 것이 유효하다.
또한, 역치가 되는 지터 값은, 광 정보 장치의 에러 정정 능력이나 이퀄라이저의 특징에 따라 상이하지만, 에러 정정 전에서 1.0×10-4으로부터 1.0×10-3 정도의 비트 오류율을 상정한 광 정보 장치의 경우, 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)에 있어서, 본 실시형태에 나타낸 통상적인 선형(線形) 이퀄라이저에서는 8%∼11% 정도가 바람직하고, 부스트(boost)량이 선형 이퀄라이저보다도 큰 리미트 이퀄라이저 등의 비선형 이퀄라이저에서는 6%∼9% 정도가 바람직하다. 마찬가지로 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)에 있어서, 본 실시형태에 나타낸 통상적인 선형 이퀄라이저에서는 7%∼10% 정도가 바람직하고, 부스트량이 선형 이퀄라이저보다도 큰 리미트 이퀄라이저 등의 비선형 이퀄라이저에서는 5%∼8% 정도가 바람직하다. 재생 신호 품질 검출 수단 A(104)의 역치가 되는 지터 값은, 재생 신호 품질 검출 수단 B(105)의 역치가 되는 지터 값 이상이다. 또한 지터 값은 재생 시스템의 구성 등에 의해 1∼2% 정도 변화해도 좋다.
또한, 연속 기록, 연속 재생의 구간에 특히 제약은 없고, 섹터(sector) 단위의 기록을 실행하는 광 정보 장치에 있어서는 섹터 단위의 기록이라도 좋고, ECC 블록 단위의 기록이라도 좋다.
또한, 기록 트랙은 1주가 아니더라도 좋으며, 예를 들면 5트랙을 연속해서 기록하고, 그 중앙 트랙을 재생해도 좋다. 이것에 의해, 인접 트랙에 의한 소거의 영향을 포함할 수 있고, 더욱 실제적인 데이터의 기록에 가까운 조건으로 지터 값을 검출할 수 있다.
또한, 중앙 트랙을 기록한 후에 양측의 트랙에 기록해도 좋다. 이것에 의해, 인접 트랙에 의한 소거의 영향을 포함할 수 있어, 더욱 실제적인 데이터 기록에 가까운 조건으로 지터 값을 검출할 수 있다. 이 때에, 다른 광 정보 장치로 다른 데이터를 인접 트랙에 기록하는 경우를 고려하여, 인접하는 트랙에 중앙 트랙을 기록한 피크 파워보다도 높은 피크 파워로 기록해도 좋다. 더욱 엄격한 조건으로 피크 파워를 구함으로써, 더욱 신뢰성이 높은 기록을 실행할 수 있다.
또한, 특히 인접 트랙에의 기록에 의한 중앙 트랙에의 영향을 고려하지 않을 경우에는, 인접 트랙을 기록한 후에 중앙 트랙에 기록해도 좋다. 이것에 의해 트랙 피치의 얼룩이 있을 경우라도, 인접 트랙의 영향을 저감할 수 있어, 바르게 피크 파워를 구할 수 있다.
또한 기록 횟수는 동일 트랙에 1회가 아니더라도 좋으며, 예를 들면 동일 트랙에 10회 기록을 실행해도 좋다. 반복 기록 가능한 광 기억 매체에 있어서는, 복수 회 기록을 실행함으로써, 더욱 실제적인 데이터 기록에 가까운 조건으로 지터 값을 검출할 수 있다. 또한 지터의 검출은 기록을 실행할 때마다 실행해도 좋으며, 이것에 의해 광 기억 매체의 초기 겹쳐쓰기(overwrite) 특성을 고려한 최적인 피크 파워를 구할 수 있다.
또한, 다른 광 정보 장치에서 높은 피크 파워로 기록된 영역에 겹쳐쓰기를 하는 것을 고려하여, 복수 회의 기록을 실행할 때에, 사용자 영역에 기록을 실행할 때의 피크 파워보다도 높은 피크 파워로 기록을 실행한 후에 사용자 영역에 기록을 실행할 때의 피크 파워로 겹쳐쓰기를 해도 좋다. 더욱 엄격한 조건으로 피크 파워를 구함으로써, 더욱 신뢰성이 높은 기록을 실행할 수 있다.
또한 본 실시형태에서는 피크 파워를 중심으로 설명하였지만, 바이어스 파워, 보텀 파워에 대해서도, 각각 피크 파워와 마찬가지의 구하는 쪽을 실행해도 좋고, 피크 파워에 연동시켜서 변경시켜도 좋다.
또한 본 실시형태는 트랙에 한정되는 것은 아니고, 랜드 트랙(land track)에 기록하는 광 기억 매체는 물론이고, 랜드 트랙과 그루브 트랙 양쪽의 트랙에 기록하는 광 기억 매체이어도 상관없다.
또한, 기록 가능한 층 수에 대해서는 1층이라도 좋고, 2층이라도 좋으며, 그 이상의 층 수라도 좋다. 예를 들면 2층 광 기억 매체에서는, 광 픽업 헤드에 가까운 측의 층에서는 먼 측의 층에 비해서 레이저 광의 코마 수차의 영향이 작고 틸트 특성이 양호하므로, 광 픽업 헤드에 가까운 측의, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터의 역치나, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터의 역치를, 먼 측의 층에 비해서 크게 해도 좋다. 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 역치 지터 값이나, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터의 역치 지터 값을 층마다 각각 설정함으로써, 각각의 층에 있어서 최적인 기록 재생을 실행하는 것이 가능하게 된다. 또한, 이것들의 역치는 광 기억 매체 상의 재생 전용 영역에 기록되어 있어도 좋고, 광 정보 장치의 메모리에 기억되어 있어도 좋다.
또한, 재생 신호 품질 검출 수단의 결과에 상응해서 변화시키는 파라미터는 기록하는 파워에 한정되는 것은 아니고, 예를 들면 기록하는 마크의 길이에 상응해서 정형된 펄스 열의 폭이나 위치이어도 좋다.
또한, 지터의 요인은, 기록 시의 조건에 한정되는 것은 아니고, 예를 들면, 틸트나 디포커스에 의한 조사 파워의 최적이 아니거나, 조사 파워의 변동 등, 기록 시의 요인에 의해 결과적으로 기록 마크의 흔들림으로서 지터가 발생해도 좋고, 기록 마크 자체의 흔들림은 작고, 재생 장치의 노이즈나, 틸트나 디포커스 등에 의한 재생 신호의 흔들림으로서 지터가 발생해도 좋다.
또한, 광 기억 매체의 특징은, 상변화형에 한정되는 것은 아니고, RLL 부호를 이용하는 것이라면, 광자기 기록형의 광 기억 매체나 자기 광 기억 매체 등, 어떠한 광 기억 매체이어도 좋다. 물론, 재생 전용의 광 기억 매체이어도 좋다. 예를 들면 재생 전용의 광 기억 매체의 제조 과정에 있어서 광 기억 매체 성능 확인 등을 위해서, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하는 에지의 지터 검출에 추가해서, 최단 마크 및 최단 스페이스를 포함하지 않는 에지의 지터를 검출함으로써, 실사용 시에 광 기억 매체와 광 픽업 헤드의 상대적인 틸트나, 디포커스가 발생하였을 경우라도, 데이터를 바르게 재생할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명에 의하면, 마크가 원하는 크기보다도 작아짐으로써 지터가 열화하는 광 기억 매체를 이용할 경우라도, 지터가 악화하는 것의 영향을 경감할 수 있어, 기록 재생 시에 광 기억 매체와 헤드의 상대적인 틸트나, 디포커스가 발생하였을 경우라도, 정보를 신뢰성 높게 기록 재생할 수 있는 광 기억 매체, 광 정보 장치, 광 기억 매체 검사 장치 및 광 기억 매체 검사 방법을 제공할 수 있다.
또한, 본 발명은 청구의 범위에 기재한 특징에 한정되지 않고, 아래와 같이 여러 가지 특징으로 전개(展開)할 수 있다.
본 발명의 제1특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 2개의 역치를 이용해서 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 및 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 2T의 마크의 폭이, 3T 이상의 마크의 폭보다도 좁은 광 정보 장치이다.
본 발명의 제2특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 가장 뛰어난 복호를 이용해서 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크의 폭이, 길이가 2T보다도 긴 디지털 정보의 마크의 폭보다도 좁은 광 정보 장치이다.
본 발명의 제3특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 2개의 역치를 이용해서 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는, 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 상기 제1기록층은 조사된 광의 일부가 투과하는 반투과막으로서 이루어지고, 상기 제1기록층을 투과한 광이 상기 제2기록층에 도달하고, 상기 제1기록층에는, 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되며, k는 2 이상의 정수인 광 정보 장치이다.
본 발명의 제4특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 가장 뛰어난 복호를 이용해서 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는, 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 상기 제1기록층은 조사된 광의 일부가 투과하는 반투과막으로서 이루어지고, 상기 제1기록층을 투과한 광이 상기 제2기록층에 도달하고, 상기 제1기록층에는, 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되며, k는 2 이상의 정수인 광 정보 장치이다.
본 발명의 제5특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 디지털 정보를 추출하기 위한 클록 생성 수단과,
상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 상기 제1기록층은 조사된 광의 일부가 투과하는 반투과막으로서 이루어지고, 상기 제1기록층을 투과한 광이 상기 제2기록층에 도달하고, 상기 제1기록층에는, 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 상기 클록 생성 수단은 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 혹은 스페이스에 관련되는 에지로부터 얻어지는 신호를 무효로 해서 클록 신호를 생성하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제6특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 디지털 정보를 추출하기 위한 클록 생성 수단과,
상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크의 폭이, 길이가 2T보다도 긴 디지털 정보의 마크의 폭보다도 좁고, 상기 클록 생성 수단은 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 혹은 스페이스에 관련되는 에지로부터 얻어지는 신호를 무효로 해서 클록 신호를 생성하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제7특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 디지털 정보를 추출하기 위한 클록 생성 수단과,
상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단과,
트래킹 제어에 이용하는 TE 신호 생성 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 상기 트래킹 오차 신호 생성 수단은, 상기 광 기억 매체에 기록된 마크 혹은 스페이스 열의 에지에 광 빔이 조사되었을 때에 생기는 신호의 변화로부터 트래킹 오차 신호를 생성하고, 상기 트래킹 오차 신호 생성 수단은, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 혹은 스페이스에 관련되는 에지에 광 빔이 조사되었을 때에 생기는 신호의 변화는 무효로 해서 트래킹 오차 신호를 생성하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제8특징은, 상기 광 정보 장치로서, 기록층이 반복해서 정보를 기록 및 소거 가능한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제9특징은, 상기 광 정보 장치로서, 기록층이 1번만 정보를 기록 가능한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제10특징은, 상기 광 정보 장치로서, 기록층이 판독 전용인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제11특징은, 상기 광 정보 장치로서, 제1기록층이 판독 전용이고, 제2기록층이 1번만 정보를 기록 가능한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제12특징은, 상기 광 정보 장치로서, 제1기록층이 판독 전용이고, 제2기록층이 반복해서 정보를 기록 및 소거 가능한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제13특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크의 폭이, 길이가 2T보다도 긴 디지털 정보의 마크의 폭보다도 좁고, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 및 스페이스가 반복해서 기록된 패턴으로부터 얻어지는 길이가 3T 이상의 디지털 정보의 마크 및 스페이스가 반복해서 기록된 패턴의 정보를 재생하는 데에 적합한 역치와 동일한 레벨이 되도록, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크의 길이를 조정하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제14특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는, 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, k는 2 이상의 정수이며, 마크 및 스페이스의 길이가 적절하게 되도록 평가 척도를 갖고 있고, 상기 평가 척도에 대하여 길이가 2T보다도 긴 디지털 정보의 마크 및 스페이스의 길이가 적절하게 되도록 조정하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제15특징은, 광 빔을 광 기억 매체에 조사해서, 상기 광 기억 매체로부터 반사된 광 빔을 수광해서, 수광한 광에 근거한 신호를 출력하는 광 픽업 헤드와,
상기 광 픽업 헤드로부터 출력되는 신호를 수신하여, 상기 광 기억 매체에 기록된 정보를 재생하는 복조 수단을 구비하고,
상기 광 기억 매체는 정보를 기록하는 기록층을 갖고, 상기 기록층에는 주기 T를 기본으로 해서 길이가 kT인 디지털 정보가 마크 혹은 스페이스 열로서 기록되고, 마크 및 스페이스의 길이가 적절하게 되도록 평가 척도를 갖고 있고, k는 원래 2 이상의 정수를 이용해서 정보가 기록되는 광 기억 매체에 대하여, k에 3 이상을 선택하여 정보를 기록하고, 상기 평가 척도에 대하여 길이가 3T 이상의 디지털 정보의 마크 및 스페이스의 길이가 적절하게 되도록 조정하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제16특징은, 상기 광 정보 장치로서, 평가 척도가 지터인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제17특징은, 상기 광 정보 장치로서, 평가 척도가 오류율인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제18특징은, 상기 광 정보 장치로서, 평가 척도가 얻어진 신호의 시간 폭인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제19특징은, 상기 광 정보 장치로서, 광 픽업 헤드로부터 조사되는 광 빔의 강도를 조정함으로써, 마크의 길이를 조정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제20특징은, 상기 광 정보 장치로서, 광 픽업 헤드로부터 조사되는 광 빔의 시간 폭을 조정함으로써, 마크의 길이를 조정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제21특징은, 상기 광 정보 장치로서, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크의 폭이, 길이가 2T보다도 긴 디지털 정보의 마크의 폭보다도 좁은 광 기억 매체의 지터를 계측하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제22특징은, 상기 광 정보 장치로서, 광 기억 매체는 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 상기 제1기록층은 조사된 광의 일부가 투과하는 반투과막으로서 이루어지고, 상기 제1기록층을 투과한 광이 상기 제2기록층에 도달하고, 상기 제1기록층에 광 빔을 조사함으로써 얻어지는 신호의 지터를 계측하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제23특징은, 상기 광 정보 장치로서, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 및 스페이스가 반복해서 기록된 패턴으로부터 얻어지는 신호를 Ⅰ2pp로 하고, 길이가 8T인 디지털 정보의 마크 및 스페이스가 반복해서 기록된 패턴으로부터 얻어지는 신호를 Ⅰ8pp로 하였을 때, Ⅰ2pp/Ⅰ8pp<0.2인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제24특징은, 상기 광 정보 장치로서, 길이가 2T인 디지털 정보의 마크 및 스페이스의 1쌍의 길이를 ML이라고 하고, 광 픽업 헤드가 조사하는 광 빔 의 파장을 λ라고 하고, 광 픽업 헤드의 집광 광학계의 개구수를 NA라고 하였을 때, ML<λ/(1.25·NA)인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제25특징은, 상기 광 정보 장치로서, 광 기억 매체의 반사율이 변동해도 복조 수단에 입력되는 신호의 진폭이 변동이 작아지도록, 이득 조정 수단을 설치한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제26특징은, 광 빔을 조사함으로써 정보의 기록 혹은 재생이 이루어지는 광 기억 매체에 있어서, 정보를 기록하는 기록층으로서 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 제1기록층이 판독 전용의 기록층이고, 제2기록층이 1번만 정보를 기록 가능한 기록층이며, 제1기록층이 제2기록층보다도 광 빔이 입사하는 쪽에 위치하는 것을 특징으로 하는 광 기억 매체이다.
본 발명의 제27특징은, 광 빔을 조사함으로써 정보의 기록 혹은 재생이 이루어지는 광 기억 매체에 있어서, 정보를 기록하는 기록층으로서 제1기록층과 제2기록층을 갖고, 제1기록층이 판독 전용의 기록층이고, 제2기록층이 반복해서 정보를 기록 및 소거 가능한 기록층이며, 제1기록층이 제2기록층보다도 광 빔이 입사하는 쪽에 위치하는 것을 특징으로 하는 광 기억 매체이다.
본 발명의 제27특징은, 동심원 형상 혹은 나선 형상으로 형성된 복수의 트랙을 갖고, 광 빔을 상기 트랙의 기록면에 조사해서 마크와, 마크와 마크 사이의 스페이스에서 정보를 기록하는 광 기억 매체에 있어서, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 제외한 신호가 제1의 재생 신호 품질을 갖는 것을 특징으로 하는 광 기억 매체이다.
본 발명의 제28특징은, 상기 광 기억 매체로서, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 포함하는 신호가 제2의 재생 신호 품질을 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제29특징은, 상기 광 기억 매체로서, 제1의 재생 신호 품질이 제2의 재생 신호 품질보다도 높은 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제30특징은, 상기 광 기억 매체로서, 재생 신호 품질로서 지터를 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제31특징은, 상기 광 기억 매체로서, 시단 에지의 지터와 종단 에지의 지터를 구별하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제32특징은, 상기 광 기억 매체로서, 재생 신호 품질로서 오류율을 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제33특징은, 상기 광 기억 매체로서, 광 기억 매체는 복수의 기록층을 갖고, 층마다 재생 신호 품질을 설정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제34특징은, 상기 광 기억 매체로서, 기록 시에 광 픽업 헤드로부터 가장 먼 층의 품질이 가장 높은 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제35특징은, 상기 광 기억 매체로서, 재생 신호 품질의 역치를 광 기억 매체의 소정의 영역에 기재하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제36특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 영역은 재생 전용 영역인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제37특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖 는 트랙은, 인접하는 트랙에도 신호가 기록되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제38특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 트랙에의 기록 이전에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제39특징은, 상기 광 기억 매체로서, 인접하는 트랙에 기록할 때의 레이저 광의 조사 파워가, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에 기록할 때의 레이저 광의 조사 파워보다도 큰 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제40특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 한쪽 트랙에의 기록 후에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제41특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 양쪽 트랙에의 기록 후에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제42특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙은 복수 회의 기록이 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제43특징은, 상기 광 기억 매체로서, 소정의 횟수의 모든 기록에 있어서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제44특징은, 상기 광 기억 매체로서, 제1의 조사 파워로 기록 후에 제2의 조사 파워로 기록하고, 제1의 조사 파워가 제2의 조사 파워보다도 큰 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제45특징은, 동심원 형상 혹은 나선 형상으로 형성된 복수의 트랙을 갖고, 광 빔을 상기 트랙의 기록면에 조사해서 마크와, 마크와 마크 사이의 스페이스에서 정보를 기록하는 광 기억 매체에 있어서, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 제외한 신호가 제1의 재생 신호 품질을 갖는 광 기억 매체를 재생하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제46특징은, 동심원 형상 혹은 나선 형상으로 형성된 복수의 트랙을 갖고, 광 빔을 상기 트랙의 기록면에 조사해서 마크와, 마크와 마크 사이의 스페이스에서 정보를 기록하는 광 기억 매체에 있어서, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 제외한 신호가 제1의 재생 신호 품질을 갖고, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 포함하는 신호가 제2의 재생 신호 품질을 갖는 광 기억 매체를 재생하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제47특징은, 최단 마크 및/또는 최단 스페이스에 인접하는 에지를 제외한 신호가 제1의 재생 신호 품질을 갖도록 기록하는 광 정보 장치로서,
신호를 기록하는 수단과,
기록한 신호를 재생하는 수단과,
재생 신호에 있어서의 최단 마크 혹은 최단 스페이스를 검출하는 수단과,
검출한 최단 마크 혹은 최단 스페이스에 인접하는 에지를 제외한 신호에 있어서의 재생 신호 품질을 검출하는 재생 신호 품질 검출 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 광 정보 장치이다.
본 발명의 제48특징은, 상기 광 정보 장치로서, 최단 마크 및/또는 최단 스 페이스에 인접하는 에지를 포함하는 신호가 제2의 재생 신호 품질을 갖도록 기록하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제49특징은, 상기 광 정보 장치로서, 제1의 재생 신호 품질이 제2의 재생 신호 품질보다도 높은 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제50특징은, 상기 광 정보 장치로서, 재생 신호 품질로서 지터를 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제51특징은, 상기 광 정보 장치로서, 시단 에지의 지터와 종단 에지의 지터를 구별하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제52특징은, 상기 광 정보 장치로서, 재생 신호 품질로서 오류율을 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제53특징은, 상기 광 정보 장치로서, 광 기억 매체는 복수의 기록층을 갖고, 층마다 재생 신호 품질을 설정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제54특징은, 상기 광 정보 장치로서, 기록 시에 광 픽업 헤드로부터 가장 먼 층의 품질이 가장 높은 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제54특징은, 상기 광 정보 장치로서, 재생 신호 품질의 역치를 광 정보 장치의 소정의 영역에 기재하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제55특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙은, 인접하는 트랙에도 신호가 기록되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제56특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 트랙에의 기록 이전에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제57특징은, 상기 광 정보 장치로서, 인접하는 트랙에 기록할 때의 레이저 광의 조사 파워가, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에 기록할 때의 레이저 광의 조사 파워보다도 큰 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제58특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 한쪽 트랙에의 기록 후에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제59특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙에의 기록은, 인접하는 양쪽 트랙에의 기록 후에 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제60특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 트랙은 복수 회의 기록이 실행되고 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제61특징은, 상기 광 정보 장치로서, 소정의 횟수의 모든 기록에 있어서, 소정의 재생 신호 품질을 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제62특징은, 상기 광 정보 장치로서, 제1의 조사 파워로 기록 후에 제2의 조사 파워로 기록하고, 제1의 조사 파워가 제2의 조사 파워보다도 큰 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제63특징은, 상기 광 정보 장치로서, 재생 신호 품질 결과에 따라서 기록 시의 조사 파워를 결정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제64특징은, 상기 광 정보 장치로서, 조사 파워의 결정은, 사용자가 데이터를 기록하는 사용자 영역 이외의 영역에서 실행하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같이, 본 발명은 바람직한 실시형태에 의해 상세하게 설명되어 있지만, 본 발명은 이것들에 한정되는 것은 아니고, 특허청구의 범위에 기재된 본 발명의 기술적 범위 내에서 많은 바람직한 변형 예 및 수정 예가 가능한 것은 당업자에게 자명한 것일 것이다.