KR970067146A - 광디스크의 마크에지 기록방법과 기록매체 형성방법 - Google Patents

광디스크의 마크에지 기록방법과 기록매체 형성방법 Download PDF

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KR970067146A
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안용진
김종규
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 광 디스크의 기록막 형성과 기록펄스 인가방법에 관한 것으로서, 특히 상변화 광디스크의 기록막 형성 및 기록 펄스 인가방법에 관한 것이다.
상변화 광 디스크상의 마크 스페이스 기록시 마크에지 기록방법에 있어서, 상기 상변화 광디스크상에 기록될 데이터의 마크와 스페이스의 타이밍에 따라 실제 상기 상변화 광디스크상에 인가되는 레이저 기록 펄스폭을 조절하여 기록함을 특징으로 한다.
또한 상변화 광디스크의 기록매체 형성방법에 있어서, 기판위에 제1유전체막 Zn-SiO2화합물을 형성하고, 상기 제1유전체막 상에 게르마늄 안티몬 텔레륨의 화합물인 기록막을 형성하고, 기록막상에 제2유전체막 Zn-SiO2화합물을 형성하며 제2유전체막상에 알루미늄 티타늄의 합금인 반사막을 형성함을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 기록방법과 기록매체 형성방법은 기록펄스와 마크의 폭을 가변시킴으로써 픽업시 타이밍 지터율을 감소시키며, 또한 기록막은 데이터의 소거시에 결정화 속도를 빠르게 하여 전송속도를 높이고 기록감도를 향상시킨다.

Description

광 디스크의 마크에지 기록방법과 기록매체 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 마크에지 기록방식에 의한 기록파형을 보이는 파형도이다, 제4A도 및 제4B도는 본 발명에 따른 마크에지 기록방식에서 펄스조정시간에 따른 타이밍 지터율을 나타낸 그래프이다, 제5도는 본 발명에 따른 기록매체 형성방법에 의하여 형성한 상변화 디스크의 단면도이다.

Claims (12)

  1. 상변화 광 디스크상의 마크 스페이스 기록시 마크에지 기록방법에 있어서, 상기 상변화 광 디스크상에 기록될 데이터의 마크와 스페이스의 타이밍에 따라 실제 상기 상변화 광 디스크상에 인가되는 레이저 기록 펄스폭을 조절하여 기록함을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 마크에지 기록방법.
  2. 제2항에 있어서, 상기 광 디스크상에 인가되는 상기 레이저 기록 펄스폭은 마크 기록시에 기록될 데이터의 마크 시작점에서 소정의 시간(t1)만큼 지연시켜 레이저 기록펄스를 인가하고, 기록될 마크가 끝나기 전 소정의 시간(t2)만큼 먼저 레이저 기록펄스의 인가를 중단함을 특징으로 하는 마크에지 기록방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 소정의 시간(t2)은 10n 내지 20n sec임을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 마크에지 기록방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 소정의 시간(t2)은 5n 내지 25n sec임을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 마크에지 기록방법.
  5. 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법에 있어서, 기판을 형성하는 단계; 상기 기판위에 제1유전체막 Zn-SiO2화합물을 형성하는 단계; 상기 제1유전체막 상에 게르마늄 안티몬 텔레륨의 화합물인 기록막을 형성하는 단계; 상기 기록막상에 제2유전체막 Zn-SiO2화합물을 형성하는 단계; 및 상기 제2유전체막상에 알루미늄 티타늄의 합금인 반사막을 형성함을 특징으로 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1유전체막 Zn-SiO2화합물은 Zn 80%, SiO220%의 구성비를 갖는 화합물임을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제1유전체막의 두께는 700A 내지 1200A으로 형성함을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  8. 제5항에 있어서, 상기 제2유전체막 Zn-SiO2화합물은 Zn 80%, SiO220%의 구성비를 갖는 화합물임을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제2유전체막의 두께는 300A 내지 500A으로 형성함을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  10. 제5항에 있어서, 상기 게르마늄 안티몬 텔레륨의 화합물인 기록막은 {(GeTe)X1(Sb2Te3)X2}YAZ이며, 여기서 A는 Ag,Al,Au,Ga,In,Ti 또는 Pd중의 한가지 이상의 원소를 함유함을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 화합물{(GeTe)X1(Sb2Te3)X2}YAZ에서 변수 X1, X2, Y, Z는 0.30≤X1≤0.70, 0.30≤X2≤0.70, 0.80≤Y≤0.99, 0.01≤Z≤0.20 범위내에 있음을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
  12. 제5항에 있어서, 상기 반사막인 Al-Ti합금은 두께는 400A 내지 600A로 형성함을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록매체 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960007885A 1996-03-22 1996-03-22 광디스크의 마크에지 기록방법과 기록매체 형성방법 KR970067146A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE44808E1 (en) 2002-04-03 2014-03-18 Panasonic Corporation Optical disc drive, optical storage medium, optical storage medium inspection apparatus, and optical storage medium inspection method

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