KR100854072B1 - Apparatus for inspecting glass - Google Patents

Apparatus for inspecting glass Download PDF

Info

Publication number
KR100854072B1
KR100854072B1 KR1020070066159A KR20070066159A KR100854072B1 KR 100854072 B1 KR100854072 B1 KR 100854072B1 KR 1020070066159 A KR1020070066159 A KR 1020070066159A KR 20070066159 A KR20070066159 A KR 20070066159A KR 100854072 B1 KR100854072 B1 KR 100854072B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
unit
horizontal
vertical
rotating
driving
Prior art date
Application number
KR1020070066159A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이정덕
Original Assignee
주식회사 디네트웍스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 디네트웍스 filed Critical 주식회사 디네트웍스
Priority to KR1020070066159A priority Critical patent/KR100854072B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100854072B1 publication Critical patent/KR100854072B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/067Sheet handling, means, e.g. manipulators, devices for turning or tilting sheet glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

A substrate inspection apparatus is provided to transfer a substrate omnidirectionally without using an expensive articulated robot, thereby significantly reducing an inspection cost. A first horizontal driving unit(120) is connected to move in a first horizontal direction on a base(110). A second horizontal driving unit(130) is connected to move in a second horizontal direction orthogonal to the first horizontal direction on the first horizontal driving unit. A first rotation unit(140) is connected to rotate around a vertical direction on the second horizontal driving unit. A couple of vertical driving units(150) are mounted in both sides of an upper part of the first rotation unit. The vertical driving unit asymmetrically lifts a holder(170), for supporting a substrate, in the vertical direction. A second rotation unit(160) rotates the holder around the first horizontal direction. To prevent skew of an inspection medium when the one couple of vertical driving units are asymmetrically driven, a slide changes a location of the second rotation unit between at least one vertical driving unit and the second rotation unit of the upper part.

Description

기판 검사 장치{Apparatus for inspecting glass} Substrate inspection apparatus {Apparatus for inspecting glass}

본 발명은 디스플레이 검사 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, 디스플레이 소자를 구성하는 기판 검사 장치에 관한 것이다. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a display inspection apparatus, and more particularly, to a substrate inspection apparatus constituting a display element.

일반적으로, 평판 디스플레이 패널, 예를 들어 액정 디스플레이 패널을 제조하는 공정에서는 디스플레이 패널에 대한 검사로서, 육안으로 이루어지는 매크로 검사와, 현미경과 같은 장비를 이용하는 마이크로 검사를 수행하여야 한다. In general, in the process of manufacturing a flat panel display panel, for example, a liquid crystal display panel, as a test for the display panel, a macro test made by the naked eye and a micro test using equipment such as a microscope should be performed.

여기서, 매크로 검사는 디스플레이 패널 표면에 조명광을 조사하거나 혹은 유리 기판의 뒷면에 백라이트를 조사하여, 작업자가 육안으로 기판 표면에 존재하는 흠 또는 오염들을 검사하는 방법이다. Here, the macro inspection is a method of inspecting the flaw or contamination present on the surface of the substrate by the naked eye by irradiating illumination light on the surface of the display panel or by irradiating a backlight on the back surface of the glass substrate.

현재의 디스플레이 소자는 휴대 부품에 채용되기 위하여 소형화가 이루어짐과 동시에, 초대형 TV에 적용될 수 있도록 고품질을 겸비한 대형화 추세에 있다. 현재에는 1870× 2200mm2의 면적을 가진 8세대 기판 내지 1950× 2250mm2의 면적을 가진 9세대 기판이 출시되었다. Current display devices are being miniaturized to be adopted in portable components, and at the same time, they are being enlarged with high quality to be applied to ultra-large TVs. Currently, 8th generation substrates with an area of 1870 × 2200mm 2 to 9th generation substrates with an area of 1950 × 2250mm 2 have been released.

이와 같은 대형화 기판은 여러 장의 유리 기판을 부착하여 얻어질 수도 있고, 또는 한 장의 단일 유리 기판으로 이루어질 수도 있어, 운반 및 취부에 어려움 이 있고, 이를 검사하는 이전의 장비는 전후, 좌우 방향으로만 이동이 가능하여 다양한 방향으로의 검사를 수행하기 어려웠다. Such an enlarged substrate may be obtained by attaching a plurality of glass substrates, or may consist of a single glass substrate, which is difficult to transport and attach, and the previous equipment for inspecting it moves only in the front, rear, left and right directions. This made it difficult to carry out inspections in various directions.

종래에는 다관절 로봇이라는 검사 장치가 제안되었다. 이 다관절 로봇 검사 장치는 다양한 방향으로 구부러지는 로봇 암을 이용하므로써, 대형 기판을 여러 각도로 움직일 수 있다는 장점을 갖는다. In the past, an inspection apparatus called an articulated robot has been proposed. This articulated robot inspection apparatus has an advantage that a large substrate can be moved at various angles by using a robot arm bent in various directions.

이러한 다관절 로봇은 상기와 같은 대형 기판을 지지하여야 하므로 하중을 버티기 위해 비교적 큰 사이즈가 요구된다. 그런데, 이렇게 대형 관절 로봇에 의한 기판 이송은 작업자에게 불안감을 유발할 뿐만 아니라, 다관절 로봇의 오동작시 기판의 파손은 물론 작업자의 안전을 보장할 수 없다는 심각한 문제점을 유발할 수 있다. 더욱이 이러한 다관절 로봇은 매우 고가이기 때문에, 기판 검사 비용, 나아가, 디스플레이 제조 원가를 상승시키는 원인이 된다. Since the articulated robot must support such a large substrate, a relatively large size is required to withstand the load. However, the transfer of the substrate by the large articulated robot not only causes anxiety to the operator, but also may cause a serious problem that the safety of the operator may not be ensured as well as the substrate is broken when the articulated robot malfunctions. Moreover, since such articulated robots are very expensive, they cause substrate inspection costs and even display manufacturing costs to rise.

따라서, 본 발명의 목적은 고가의 다관절 로봇을 사용하지 않고도 다양한 방향으로 기판을 이송시킬 수 있는 기판 검사 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a substrate inspection apparatus capable of transferring a substrate in various directions without using an expensive articulated robot.

상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, 베이스, 상기 베이스 상에 제 1 수평 방향을 따라 이동 가능하게 연결된 제 1 수평 구동 유닛, 상기 제 1 수평 구동 유닛 상에 상기 제 1 수평 방향과 직교하는 제 2 수평 방향을 따라 이동 가능하게 연결된 제 2 수평 구동 유닛, 상기 제 2 수평 구동 유닛 상에 수직 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결된 제 1 회전 유닛, 상기 제 1 회전 유닛 상에 장착되어, 기판을 지지하는 홀더를 상기 수직 방향을 따라 이동시키는 수직 구동 유닛, 및 상기 홀더를 상기 제 1 수평 방향을 중심으로 회전시키는 제 2 회전 유닛을 포함한다. In order to achieve the above object of the present invention, the present invention provides a base, a first horizontal drive unit movably connected along a first horizontal direction on the base, the first horizontal direction on the first horizontal drive unit A second horizontal drive unit movably connected along a second horizontal direction orthogonal to the first horizontal unit, a first rotation unit rotatably connected about a vertical direction on the second horizontal drive unit, and mounted on the first rotation unit And a vertical driving unit for moving the holder supporting the substrate along the vertical direction, and a second rotating unit for rotating the holder about the first horizontal direction.

상기 제 1 수평 구동 유닛은 상기 베이스 상에 상기 제 1 수평 방향을 따라 배열된 제 1 볼 스크류, 상기 제 1 볼 스크류에 나사 결합된 제 1 블록, 및 상기 제 1 볼 스크류로 회전력을 전달하는 제 1 구동원을 포함할 수 있다. The first horizontal drive unit may include a first ball screw arranged along the first horizontal direction on the base, a first block screwed to the first ball screw, and a first ball screw that transmits rotational force to the first ball screw. It may include one drive source.

또한, 상기 제 2 수평 구동 유닛은 상기 제 1 수평 구동 유닛 상에 상기 제 2 수평 방향을 따라 배열된 제 2 볼 스크류, 상기 제 2 볼 스크류에 나사 결합된 제 2 블록, 및 상기 제 2 볼 스크류로 회전력을 전달하는 제 2 구동원을 포함할 수 있다. The second horizontal drive unit may further include a second ball screw arranged along the second horizontal direction on the first horizontal drive unit, a second block screwed to the second ball screw, and the second ball screw. It may include a second drive source for transmitting a rotational force to the.

상기 제 1 회전 유닛은 상기 제 2 회전 유닛 상에 상기 수직 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결된 제 1 회전 블록, 및 상기 제 1 회전 블럭에 회전력을 전달하는 제 3 구동원을 포함할 수 있다. The first rotation unit may include a first rotation block rotatably connected about the vertical direction on the second rotation unit, and a third driving source for transmitting rotational force to the first rotation block.

상기 수직 구동 유닛은 제 4 구동원을 포함하고, 상기 제 4 구동원으로부터 동력 전달시, 상기 수직 구동 유닛이 상기 수직 방향으로 연장되어, 상기 홀더를 승강시킬 수 있다. 이러한 상기 수직 구동 유닛은, 상기 제 1 회전 유닛 상에 장착된 중공형 수직 지지대, 및 상기 중공형 수직 지지대 내에 상기 수직 방향을 따라 이동 가능하게 삽입된 하부를 갖고, 상부는 상기 제 2 회전 유닛에 연결된 로드를 포함하고, 상기 로드는 상기 제 4 구동원으로 부터 동력을 전달받아 동작된다.또한, 상기 수직 구동 유닛은 상기 제 1 회전 유닛의 양측에 배치되어, 상기 홀더의 양측을 지지할 수 있으며, 상기 각각의 수직 구동 유닛의 연장 길이는 서로 비대칭적일 수 있다. The vertical driving unit includes a fourth driving source, and when the power is transmitted from the fourth driving source, the vertical driving unit extends in the vertical direction to elevate the holder. The vertical drive unit has a hollow vertical support mounted on the first rotating unit, and a lower portion inserted in the hollow vertical support to be movable along the vertical direction, and an upper portion of the vertical driving unit is connected to the second rotating unit. And a rod connected to the rod, and the rod is operated by receiving power from the fourth driving source. The vertical driving unit may be disposed at both sides of the first rotation unit to support both sides of the holder, The extension lengths of the respective vertical drive units may be asymmetrical to each other.

상기 제 2 회전 유닛은 상기 수직 구동 유닛에 상기 제 1 수평 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결되고, 상기 홀더들이 고정된 제 2 회전 블록, 및 상기 제 2 회전 블럭으로 회전력을 전달하는 제 5 구동원을 포함할 수 있다. 이때, 상기 수직 구동 유닛이 상기 제 1 회전 유닛 양측에 위치되고, 상기 제 2 회전 유닛이 상기 수직 구동 유닛 각각에 설치되는 경우, 상기 각각의 제 2 회전 유닛은 서로 다른 회전력을 가지고 동작될 수 있다. The second rotating unit may be rotatably connected to the vertical driving unit about the first horizontal direction, and may include a second rotating block to which the holders are fixed, and a fifth driving source transmitting a rotating force to the second rotating block. It may include. In this case, when the vertical driving unit is located at both sides of the first rotating unit, and the second rotating unit is installed in each of the vertical driving units, each of the second rotating units may be operated with different rotational forces. .

또한, 상기 제 1 수평 구동 유닛, 상기 제 2 수평 구동 유닛, 상기 제 1 회전 유닛, 상기 수직 구동 유닛 및 상기 제 2 회전 유닛 중 적어도 2개가 동시에 복 합적으로 구동될 수 있다. In addition, at least two of the first horizontal driving unit, the second horizontal driving unit, the first rotating unit, the vertical driving unit, and the second rotating unit may be simultaneously driven in combination.

본 발명에 의하면, 고가의 관절 로봇을 사용하지 않고도 전 방향으로 기판을 이송시킬 수 있어, 작업자가 안정감있게 기판 검사를 실시할 수 있으며, 나아가 검사 비용을 크게 절감할 수 있다. According to the present invention, it is possible to transfer the substrate in all directions without using an expensive articulated robot, so that the operator can perform the substrate inspection stably and further reduce the inspection cost.

이하 첨부한 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하도록 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예의 기판 검사 장치(100)는 베이스(110), 제 1 수평 구동 유닛(120), 제 2 수평 구동 유닛(130), 제 1 회전 유닛(140), 수직 구동 유닛(150), 제 2 회전 유닛(160) 및 홀더(170)로 구성될 수 있다. 1 and 2, the substrate inspection apparatus 100 according to the present embodiment may include a base 110, a first horizontal drive unit 120, a second horizontal drive unit 130, a first rotation unit 140, The vertical driving unit 150, the second rotating unit 160, and the holder 170 may be configured.

제 1 수평 구동 유닛(120)은 도 1, 도 2, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 상기 베이스(110) 상부에 위치되며, 베이스의 제 1 수평 방향, 예컨대 x 방향으로 상기 홀더(170)를 이송시킨다. 이러한 제 1 수평 구동 유닛(120)은 제 1 볼 스크류(122), 제 1 블록(124) 및 제 1 구동원(126)으로 구성될 수 있다. 즉, 제 1 수평 구동 유닛(120)은 소위 리니어 모션 가이드(linear motion guide:LM 가이드) 형태로 구성될 수 있다. 상기 제 1 볼 스크류(122)는 상기 베이스(110) 상에 제 1 수평 방향을 따라 배열되고, 제 1 블록(124)은 상기 제 1 볼 스크류(122)와 나사 결합되어 실질적으로 제 1 수평 구동 유닛(120)을 구동시키고, 제 1 구동원(126)은 제 1 볼 스크류(122)로 회전력을 전달한다. The first horizontal drive unit 120 is located above the base 110, as shown in FIGS. 1, 2, 3A, and 3B, and the holder ( 170). The first horizontal drive unit 120 may be composed of a first ball screw 122, a first block 124 and a first drive source 126. That is, the first horizontal drive unit 120 may be configured in the form of a so-called linear motion guide (LM guide). The first ball screw 122 is arranged along the first horizontal direction on the base 110, and the first block 124 is screwed with the first ball screw 122 to substantially drive the first horizontal. The unit 120 is driven, and the first drive source 126 transmits rotational force to the first ball screw 122.

제 2 수평 구동 유닛(130)은 도 1, 도 2, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 상기 홀더(170)를 제 1 수평 방향(x 방향)과 직교하는 제 2 수평방향, 예컨대 y 방향으로 이동시킨다. 이러한 제 2 수평 구동 유닛(130)은 제 2 볼 스크류(132), 제 2 블록(134) 및 제 2 구동원(136)을 포함할 수 있다. 제 2 볼 스크류(132)는 상기 제 1 수평 구동 유닛(120)상에 제 2 수평 방향을 따라 배열되고, 제 2 블록(134)은 상기 제 2 볼 스크류(132)와 나사 결합되어 있으며, 제 2 구동원(136)은 상기 제 2 볼 스크류(132)에 회전력을 전달한다. As shown in FIGS. 1, 2, 4a, and 4b, the second horizontal drive unit 130 has a second horizontal direction, for example, orthogonal to the holder 170, in a first horizontal direction (x direction). To move in the direction of The second horizontal drive unit 130 may include a second ball screw 132, a second block 134, and a second drive source 136. The second ball screw 132 is arranged along the second horizontal direction on the first horizontal drive unit 120, the second block 134 is screwed with the second ball screw 132, and The second drive source 136 transmits rotational force to the second ball screw 132.

제 1 회전 유닛(140)은 도 1, 도 2, 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 수평 구동 유닛(130)상에 위치되어, 상기 홀더(170)를 수직 방향, 예컨대 z 방향을 중심으로 회전시킨다. 이러한 제 1 회전 유닛(140)은 제 2 수평 구동 유닛(130) 상에 상기 수직 방향(z 방향)을 중심으로 회전 가능하게 연결된 제 1 회전 블록(142) 및 상기 제 1 회전 블록(142)에 회전력을 전달하는 제 3 구동원(144)을 포함할 수 있다. The first rotating unit 140 is located on the second horizontal drive unit 130, as shown in FIGS. 1, 2, 5a and 5b, to move the holder 170 in a vertical direction, such as z. Rotate around the direction. The first rotation unit 140 is connected to the first rotation block 142 and the first rotation block 142 rotatably connected about the vertical direction (z direction) on the second horizontal driving unit 130. It may include a third drive source 144 for transmitting a rotational force.

수직 구동 유닛(150)은 도 1, 도 2, 도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같이 제 1 회전 유닛(140)에 장착되어, 상기 홀더(170)를 상기 수직 방향을 따라 이동시킨다. 이러한 수직 구동 유닛(150)은 홀더(170) 양측을 지지할 수 있도록 2개가 구비될 수 있다. 상기 각각의 수직 구동 유닛(150)은 예컨대, 중공형 수직 지지대(152), 로드(154) 및 제 4 구동원(156)을 포함할 수 있다. 상기 로드(154)는 상기 중공형 수직 지지대(152) 내에 내장되어, 수직 방향을 따라 이동 가능하게 삽입되어 있는 하부를 갖고, 그것의 상부는 상기 제 2 회전 유닛(160)에 연결될 수 있 다. 즉, 수직 지지대(152) 및 로드(154)는 텔레스코픽(telescopic) 형태를 가지며, 상기 제 4 구동원(156)은 상기 수직 지지대(152) 내의 로드(154)에 구동력(예컨대 직선운동력으로 변환된 구동력)을 전달하도록 설치되어, 구동력 전달시 로드(154)가 상승하게 된다. 이때, 상기 수직 구동 유닛(140)은 도면에 도시되지는 않았지만, 리니어 모션 가이드, 타이밍 벨트(timing belt) 및/또는 볼 스크류를 추가로 포함할 수 있다. 상기 타이밍 벨트 및 볼 스크류는 상기 제 4 구동원(156)과 함께 상기 로드(154)에 구동력을 전달할 수 있다. 여기서, 상기 한 쌍의 수직 구동 유닛(150)은 서로 대칭을 이루며 홀더(170)를 승강시킬 수 있다. 수직 구동 유닛(150)의 승강 높이는 제 4 구동원(156)으로부터 제공되는 동력의 크기로부터 제어될 수 있다. 예를 들어, 제 4 구동원(156)은 회전력을 발생시킬 수 있으며, 상기 회전력은 기판 검사 장치내에 내장된 기어 장치(도시되지 않음)에 의해 직선운동을 진행하게 하는 동력으로 변환되어 로드(154)에 제공된다. 이렇게 로드(154)에 인가되는 동력은 로드(154)의 상승 높이를 제어한다. The vertical driving unit 150 is mounted to the first rotating unit 140 as shown in FIGS. 1, 2, 6A, and 6B to move the holder 170 along the vertical direction. Two such vertical driving units 150 may be provided to support both sides of the holder 170. Each vertical drive unit 150 may include, for example, a hollow vertical support 152, a rod 154, and a fourth drive source 156. The rod 154 is embedded in the hollow vertical support 152 and has a lower portion that is movably inserted along the vertical direction, and an upper portion thereof may be connected to the second rotating unit 160. That is, the vertical support 152 and the rod 154 has a telescopic shape, and the fourth driving source 156 is a driving force (for example, a driving force converted into a linear motion force) to the rod 154 in the vertical support 152. ) Is installed to transmit, the rod 154 is raised when transmitting the driving force. In this case, the vertical driving unit 140 may further include a linear motion guide, a timing belt, and / or a ball screw, although not shown in the drawing. The timing belt and the ball screw may transmit a driving force to the rod 154 together with the fourth driving source 156. Here, the pair of vertical driving units 150 may elevate the holder 170 in symmetry with each other. The lifting height of the vertical drive unit 150 may be controlled from the magnitude of the power provided from the fourth drive source 156. For example, the fourth driving source 156 may generate a rotational force, which is converted into a power to cause a linear movement by a gear device (not shown) embedded in the substrate inspection device to load the rod 154. Is provided. The power applied to the rod 154 thus controls the rising height of the rod 154.

또한, 도 7a에 도시된 바와 같이, 상기 한 쌍의 수직 구동 유닛(150)은 비대칭적으로 구동될 수 있다. 즉, 하나의 수직 구동 유닛(150)만이 동작되거나, 각각의 수직 구동 유닛(150)이 서로 다른 높이로 동작될 수 있다. 이는 제 4 구동원(156)의 선택적 동작 혹은 제 4 구동원(156)의 서로 다른 구동력 제공에 의해 달성된다.In addition, as shown in FIG. 7A, the pair of vertical driving units 150 may be asymmetrically driven. That is, only one vertical driving unit 150 may be operated, or each vertical driving unit 150 may be operated at different heights. This is achieved by selective operation of the fourth drive source 156 or by providing different drive forces of the fourth drive source 156.

이때, 상기 각각의 수동 구동 유닛(150)이 정상적인 비대칭적으로 구동을 위해, 더 승강된 측의 제 2 회전 유닛(160)이 소정 길이(M)만큼 이송되어야 한다. 즉, 도 7b에 도시된 바와 같이, 수직 구동 유닛(150)이 대칭적으로 구동되는 경우의 제 2 회전 유닛(160)간의 거리(A)와 수직 구동 유닛(150)이 비대칭적으로 구동되는 경우의 제 2 회전 유닛(160)간의 거리(B) 사이에 M 만큼의 거리 차가 발생된다. 이러한 거리차(M)는 유리 기판(도시되지 않음)이 끼워진 홀더(170)을 뒤틀이게 하는 원인이 될 수 있다. 그러므로, 상대적으로 더 승강된 측의 수직 구동 유닛(150) 상의 제 2 회전 유닛(160)을 상기 거리차(M)만큼 이송시켜야 한다. At this time, in order for each of the manual driving units 150 to drive normally asymmetrically, the second rotating unit 160 on the more elevated side must be transported by a predetermined length M. That is, as shown in FIG. 7B, when the distance A between the second rotating units 160 and the vertical driving unit 150 are asymmetrically driven when the vertical driving unit 150 is symmetrically driven. A distance difference of M is generated between the distances B between the second rotation units 160. This distance difference M may cause the holder 170 to which the glass substrate (not shown) is inserted to be twisted. Therefore, the second rotation unit 160 on the vertical drive unit 150 on the relatively lifted side must be transported by the distance difference M.

본 실시예에서는 상기 M 만큼의 거리차를 감소시키기 위하여, 수직 구동 유닛(150)과 상기 제 2 회전 유닛(160) 사이에, 상기 제 2 회전 유닛(160)을 이송시키기 위한 슬라이드(190)가 구비된다. 상기 슬라이드(190)는 적어도 일측에 설치될 수 있으며, 수직 구동 유닛(150)이 비대칭적으로 구동시, 상기 유리 기판이 끼워진 홀더(170)를 정상적으로 요동시킬 수 있다. In the present embodiment, in order to reduce the distance difference by M, a slide 190 for transferring the second rotation unit 160 is provided between the vertical drive unit 150 and the second rotation unit 160. It is provided. The slide 190 may be installed on at least one side, and when the vertical driving unit 150 is asymmetrically driven, the slide 170 may swing normally.

제 2 회전 유닛(160)은 도 1, 도 2, 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이 상기 홀더(170)를 상기 제 1 수평 방향(x 방향)을 중심으로 회전시킨다. 이러한 제 2 회전 유닛(160)은 수직 구동 유닛(150) 각각에 설치될 수 있으며, 상기 제 2 회전 블록(162) 및 제 5 구동원(164)으로 구성되거나, 혹은 단순 회전 베어링 만으로 구성될 수 있다. 제 2 회전 블록(162)은 상기 수직 구동 유닛(150)에 상기 제 1 수평 방향(x 방향)을 중심으로 회전가능하게 연결되며, 상기 홀더(170)에 고정된다. 상기 제 5 구동원(164)은 상기 제 2 회전 블록(160)에 회전력을 전달한다. 여기서, 도면 부호 166은 상기 제 5 구동원(164)의 회전 속도를 조절하기 위한 감속 기어부이다. 이때, 제 2 회전 유닛(160)은 상기 수직 구동 유닛(150) 상에 설치됨 에 의해, 상기 수직 구동 유닛(150)과 함께 상기 홀더(170)를 종속 지지할 수 있다. 이에 따라, 수직 구동 유닛(150)의 비대칭적인 구동을 고려하여, 제 2 회전 유닛(160) 및 상기 수직 구동 유닛(150)의 적어도 일측은 유니버셜 조인트(universal joint)와 같은 수동 지지 부재에 의해 홀더(170)에 고정될 수 있다. 여기서, 상기 수동 지지부재는 실질적으로 회전 블록(162)이 될 수 있다. The second rotation unit 160 rotates the holder 170 about the first horizontal direction (x direction) as shown in FIGS. 1, 2, 8a and 8b. The second rotating unit 160 may be installed in each of the vertical driving units 150, and may be configured of the second rotating block 162 and the fifth driving source 164, or may be configured of only a simple rotating bearing. . The second rotating block 162 is rotatably connected to the vertical driving unit 150 about the first horizontal direction (x direction) and is fixed to the holder 170. The fifth driving source 164 transmits rotational force to the second rotating block 160. Here, reference numeral 166 denotes a reduction gear unit for adjusting the rotational speed of the fifth drive source 164. In this case, the second rotating unit 160 may be installed on the vertical driving unit 150 to support the holder 170 together with the vertical driving unit 150. Accordingly, in consideration of the asymmetrical driving of the vertical drive unit 150, the second rotating unit 160 and at least one side of the vertical drive unit 150 are held by a passive support member such as a universal joint. It may be fixed to (170). Here, the manual support member may be substantially the rotation block 162.

홀더(170)는 유리 기판(180)을 지지하기 위한 것으로, 예를 들어 틀(frame) 형태를 가질 수 있고, 상기 틀로 구획된 공간에 예컨대 상하, 좌우, 대각선 방향으로 연장된 지지 바(174)가 설치될 수 있다. The holder 170 is for supporting the glass substrate 180, and may have a frame shape, for example, and the support bar 174 extending in a vertically, vertically, horizontally, or diagonally direction in the space defined by the frame. Can be installed.

또한, 도면에서 200은 상기 기판 검사 장치를 제어하는 제어부로서, 제어부(200)는 각각의 구동 유닛(120-160)에 동작을 제어하여 상기 홀더(170)의 움직임을 총괄적으로 제어한다. In addition, the reference numeral 200 is a control unit for controlling the substrate inspection apparatus, the control unit 200 controls the movement of the holder 170 by controlling the operation of each drive unit (120-160).

이와 같은 구성을 갖는 본 실시예의 기판 검사 장치는 다음과 같이 구동된다. The board | substrate inspection apparatus of this embodiment which has such a structure is driven as follows.

먼저, 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 제 1 수평 구동 유닛(120)은 제 1 구동원(126)으로부터 회전력을 전달받은 제 1 볼 스크류(122)가 동작함에 의해, 상기 제 1 볼 스크류(122)와 나사 결합된 제 1 블록(125)이 제 1 볼 스크류(122) 연장 방향인 제 1 수평 방향(x방향)으로 움직이게 된다. 이에 따라, 홀더(170)를 제 1 수평 방향인 x 방향으로 움직이게 된다. 이에 따라, 작업자는 위치 변동을 최소화한 상태에서 기판의 좌우면을 검사할 수 있다. First, as shown in FIGS. 3A and 3B, the first horizontal drive unit 120 operates by operating the first ball screw 122 that receives the rotational force from the first drive source 126. The first block 125 screwed with the 122 is moved in a first horizontal direction (x direction) which is a direction in which the first ball screw 122 extends. Accordingly, the holder 170 is moved in the x direction, which is the first horizontal direction. Accordingly, the operator can inspect the left and right sides of the substrate while minimizing the position variation.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제 2 수평 구동 유닛(130)은 제 2 구동원(136)으로부터 회전력을 전달받은 제 2 볼 스크류(132)가 동작함에 의해 상기 제 2 볼 스크류(132)와 나사 결합된 제 2 블록(134)이 제 2 볼 스크류(132)의 연장 방향인 제 2 수평 방향(y 방향)으로 움직이므로써 동작된다. 이에 따라, 상기 홀더(170)가 제 2 수평 구동 유닛(130)에 의해 제 2 수평 방향인 y 방향으로 움직이게 된다. 이에 따라, 작업자의 위치 변동을 최소화한 상태에서 기판(180)의 원근을 조절해가며 검사를 할 수 있다. 4A and 4B, the second horizontal drive unit 130 is screwed with the second ball screw 132 by operating the second ball screw 132 that has received the rotational force from the second drive source 136. The combined second block 134 is operated by moving in the second horizontal direction (y direction), which is the extension direction of the second ball screw 132. Accordingly, the holder 170 is moved by the second horizontal driving unit 130 in the y direction, which is the second horizontal direction. Accordingly, the inspection can be performed while adjusting the perspective of the substrate 180 while minimizing the positional variation of the operator.

제 1 회전 유닛(140)은 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 수직 방향(z 방향)을 중심으로 홀더(170)를 회전시킬 수 있다. 이러한 제 1 회전 유닛(140)은 제 3 구동원(144)에 의해 부여받은 회전력에 의해 제 1 회전 블록(142)이 도면의 화살표 방향으로 회전함으로써 동작된다. 상기 제 1 회전 유닛(140)은 감속기(146), 예를 들어, 유성치차 감속기를 추가로 포함하여, 제 1 회전 유닛(140)의 회전 속도를 제어할 수 있다. 이에 따라, 작업자는 기판(180)을 세운 채로 회전시켜가며 검사를 진행할 수 있다. As shown in FIGS. 5A and 5B, the first rotation unit 140 may rotate the holder 170 about a vertical direction (z direction). The first rotation unit 140 is operated by rotating the first rotation block 142 in the direction of the arrow in the drawing by the rotation force applied by the third drive source 144. The first rotation unit 140 may further include a speed reducer 146, for example, a planetary gear reducer, to control the rotation speed of the first rotation unit 140. Accordingly, the worker may proceed with the inspection while rotating while standing the substrate 180.

상기 수직 구동 유닛(150)은 도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 상기 홀더(170)를 수직 방향(z축 방향)으로 승강시킨다. 이러한 수직 구동 유닛(150)은 제 4 구동원(156)의 동력 공급에 따라 타이밍 벨트(도시되지 않음) 및 볼 스크류(도시되지 않음)에 의해 중공형 수직 지지대(152)내의 로드(154)가 상승함으로써, 상기 홀더(170)가 승강된다. 이때, 상기 한 쌍의 수직 구동 유닛(150)은 상술한 바와 같이 개별적으로(즉, 비대칭적으로) 제어될 수 있다. 즉, 도 6b에 도시된 바와 같 이, 상기 수직 구동 유닛(150)은 같은 높이로 승강(연장)될 수도 있고, 개별적인 제어에 의해 도 7a에 도시된 바와 같이 서로 다른 높이로 연장될 수도 있다. 이러한 개별적인 제어는 상기 제어부(200)를 구동 명령에 의해 수행될 수 있다. 이러한 수직 구동 유닛(150)에 의해 작업자는 큰 움직임 없이, 기판(180)의 상하면을 상세히 검사할 수 있고, 기판을 요동시켜가면서 검사를 수행할 수 있다. As shown in FIGS. 6A and 6B, the vertical driving unit 150 raises and lowers the holder 170 in a vertical direction (z-axis direction). The vertical drive unit 150 is a rod 154 in the hollow vertical support 152 is raised by a timing belt (not shown) and a ball screw (not shown) in accordance with the power supply of the fourth drive source 156. As a result, the holder 170 is elevated. In this case, the pair of vertical driving units 150 may be controlled individually (that is, asymmetrically) as described above. That is, as shown in Figure 6b, the vertical drive unit 150 may be elevated (extended) to the same height, or may be extended to different heights as shown in Figure 7a by individual control. Such individual control may be performed by a command to drive the controller 200. By the vertical driving unit 150, the operator can inspect the upper and lower surfaces of the substrate 180 in detail without large movement, and perform inspection while rocking the substrate.

제 2 회전 유닛(160)은 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 제 1 수평 방향(x축 방향)을 중심으로 하여 상기 홀더(170)를 회전시킨다. 제 2 회전 유닛(160)은 상기 한 쌍의 수직 구동 유닛(150)에 각각 설치되어, 제 5 구동원(164)으로부터 제 2 회전 블록(162)에 동력 전달시, 홀더(170)를 회전시킨다. 이러한 제 2 회전 유닛(160) 역시 감속기(도시되지 않음), 예컨대 유성 치차 감속기를 포함할 수 있어, 회전 속도를 제어할 수 있다. 이에 따라, 작업자는 기판(180)을 x 방향을 기준으로 360° 회전시켜가며 검사를 수행할 수 있다. 또한, 본 실시예에 따른 기판 검사 장치는 적어도 두 개의 구동 유닛을 복합적으로 구동시킬 수도 있다. As shown in FIGS. 8A and 8B, the second rotation unit 160 rotates the holder 170 about the first horizontal direction (x-axis direction). The second rotation unit 160 is installed in the pair of vertical drive units 150, respectively, to rotate the holder 170 when power is transmitted from the fifth drive source 164 to the second rotation block 162. The second rotation unit 160 may also include a speed reducer (not shown), such as a planetary gear reducer, to control the rotation speed. Accordingly, the operator may perform the inspection while rotating the substrate 180 by 360 ° based on the x direction. In addition, the substrate inspection apparatus according to the present embodiment may drive at least two driving units in combination.

도 9를 참조하면, 제 1 수평 구동 유닛(120)을 원하는 위치로 이동시킨 상태에서, 수직 구동 유닛(150)을 구동시키므로 작업자 위치에 맞게 기판을 움직일 수 있다. 제 1 수평 구동 유닛(120) 및 수직 구동 유닛(150)의 구동 순서는 제 1 수평 구동 유닛(120)이 먼저 구동된 후 수직 구동 유닛(150)이 구동될 수도 있고, 수직 구동 유닛(150)이 먼저 구동되고 제 1 수평 구동 유닛(120)이 구동될 수도 있으며, 혹은 동시에 구동될 수도 있다. 이러한 순서는 제어부(200)의 조작에 의해 가변될 수 있다. Referring to FIG. 9, since the vertical driving unit 150 is driven in a state where the first horizontal driving unit 120 is moved to a desired position, the substrate may be moved according to the worker position. In the driving order of the first horizontal driving unit 120 and the vertical driving unit 150, the vertical driving unit 150 may be driven after the first horizontal driving unit 120 is driven first, and the vertical driving unit 150 may be driven. This may be driven first and the first horizontal drive unit 120 may be driven, or may be driven simultaneously. This order may be changed by the operation of the controller 200.

또한, 도 10에 도시된 바와 같이, 제 2 수평 구동 유닛(130)과 수직 구동 유닛(150)도 복합적으로 구동시킬 수 있다. 이 역시, 구동 순서는 가변될 수 있다. In addition, as shown in FIG. 10, the second horizontal driving unit 130 and the vertical driving unit 150 may also be driven in combination. Again, the driving order can be varied.

본 실시예에 의하면, 기판을 x 방향(제 1 수평 방향), y 방향(제 2 수평 방향), z 방향(수직 방향), z축을 기준으로 회전하는 방향, x축을 기준으로 회전하는 방향으로 이송시킴은 물론, 상기 기판을 사선 방향(수직 이동 유닛의 비대칭 동작)으로 이동시킬 수 있어 보다 자세히 기판의 결함을 검사할 수 있다. 이에 따라, 고가의 관절 로봇을 구입하지 않고도, 전 방향으로 기판을 이송시켜가며 검사를 행할 수 있고, 작업자가 보다 안정감 있게 기판을 검사할 수 있다. According to this embodiment, the substrate is conveyed in the x direction (first horizontal direction), the y direction (second horizontal direction), the z direction (vertical direction), the direction of rotation about the z axis, and the direction of rotation about the x axis. In addition, the substrate can be moved in an oblique direction (asymmetrical operation of the vertical moving unit), so that defects of the substrate can be inspected in more detail. Thereby, the inspection can be performed while transporting the substrate in all directions without purchasing an expensive articulated robot, and the operator can inspect the substrate more stably.

본 실시예에서는 설명의 편의를 위해 각 구동 유닛의 일부분에 점선으로 구동원들을 표시하였으나, 본 실시예의 구동원들은 구동 유닛내에 내장되거나, 다양한 위치에 설치가능하다. In the present embodiment, for convenience of explanation, the driving sources are indicated by dotted lines on a portion of each driving unit, but the driving sources of the present embodiment may be embedded in the driving unit or installed at various positions.

이상 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러가지 변형이 가능하다. Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made by those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention. .

고가의 관절 로봇을 사용하지 않고도 전 방향으로 기판을 이송시킬 수 있어, 검사 비용을 크게 절감할 수 있다. The board can be moved in all directions without using expensive joint robots, thereby greatly reducing inspection costs.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 사시도, 1 is a perspective view of a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 평면도, 2 is a plan view of a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 정단면도로서 기판 검사 장치의 x축 방향으로의 움직임을 보여주는 도면, 3A and 3B are front cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, illustrating a movement in the x-axis direction of the substrate inspection apparatus;

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 측단면도로서 기판 검사 장치의 y축 방향으로의 움직임을 보여주는 도면, 4A and 4B are side cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, showing a movement in the y-axis direction of the substrate inspection apparatus;

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 정단면도로서, z축 방향을 기준으로 하여 기판 검사 장치의 회전을 보여주는 도면, 5A and 5B are front cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, illustrating rotation of the substrate inspection apparatus based on the z-axis direction;

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 정단면도로서, 기판 검사 장치의 z축 방향으로의 움직임을 보여주는 도면, 6A and 6B are front cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, illustrating a movement in a z-axis direction of the substrate inspection apparatus;

도 7a 및 도 7b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 정단면도로서, 수직 구동 유닛의 비대칭 동작을 설명하기 위한 도면,7A and 7B are front cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, illustrating asymmetrical operation of a vertical driving unit;

도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치의 측단면도로서, x축 방향을 기준으로 하여 기판 검사 장치의 회전을 보여주는 도면, 8A and 8B are side cross-sectional views of a substrate inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, illustrating rotation of the substrate inspection apparatus based on the x-axis direction;

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 검사 장치의 정단면도, 및 9 is a front sectional view of a substrate inspection apparatus according to another embodiment of the present invention, and

도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 기판 검사 장치의 측단면도이다. 10 is a side cross-sectional view of a substrate inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명> <Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

110 : 베이스 120 : 제 1 수평 구동 유닛 110: base 120: first horizontal drive unit

130 : 제 2 수평 구동 유닛 140 : 제 1 회전 유닛 130: second horizontal drive unit 140: first rotating unit

150 : 수직 구동 유닛 160 : 제 2 회전 유닛 150: vertical drive unit 160: second rotation unit

170 : 홀더 180 : 기판170: holder 180: substrate

Claims (14)

베이스; Base; 상기 베이스 상에 제 1 수평 방향을 따라 이동 가능하게 연결된 제 1 수평 구동 유닛; A first horizontal drive unit movably connected in a first horizontal direction on the base; 상기 제 1 수평 구동 유닛 상에 상기 제 1 수평 방향과 직교하는 제 2 수평 방향을 따라 이동 가능하게 연결된 제 2 수평 구동 유닛; A second horizontal drive unit movably connected along the second horizontal direction orthogonal to the first horizontal direction on the first horizontal drive unit; 상기 제 2 수평 구동 유닛 상에 수직 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결된 제 1 회전 유닛; A first rotating unit rotatably connected about a vertical direction on the second horizontal driving unit; 상기 제 1 회전 유닛 상부 양측에 장착되어, 기판을 지지하는 홀더를 상기 수직 방향을 따라 비대칭적으로 승강시키는 한 쌍의 수직 구동 유닛; A pair of vertical driving units mounted on both sides of the upper part of the first rotating unit to asymmetrically lift the holder supporting the substrate along the vertical direction; 상기 홀더를 상기 제 1 수평 방향을 중심으로 회전시키는 제 2 회전 유닛; 및 A second rotating unit for rotating the holder about the first horizontal direction; And 상기 한 쌍의 수직 구동 유닛이 비대칭적으로 구동되는 경우, 검사 매체의 틀어짐을 방지하기 위하여, 상기 적어도 하나의 수직 구동 유닛과 그 상부의 제 2 회전 유닛 사이에 상기 제 2 회전 유닛의 위치를 변경하는 슬라이드를 포함하는 기판 검사 장치. When the pair of vertical drive units are driven asymmetrically, the position of the second rotating unit is changed between the at least one vertical drive unit and the second rotating unit thereon to prevent the test medium from being twisted. Substrate inspection device comprising a slide. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 수평 구동 유닛은, The first horizontal drive unit, 상기 베이스 상에 상기 제 1 수평 방향을 따라 배열된 제 1 볼 스크류; A first ball screw arranged along said first horizontal direction on said base; 상기 제 1 볼 스크류에 나사 결합된 제 1 블럭; 및 A first block screwed to the first ball screw; And 상기 제 1 볼 스크류로 회전력을 전달하는 제 1 구동원을 포함하는 기판 검사 장치. And a first drive source for transmitting rotational force to the first ball screw. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 2 수평 구동 유닛은, The second horizontal drive unit, 상기 제 1 수평 구동 유닛 상에 상기 제 2 수평 방향을 따라 배열된 제 2 볼 스크류; A second ball screw arranged along the second horizontal direction on the first horizontal drive unit; 상기 제 2 볼 스크류에 나사 결합된 제 2 블럭; 및 A second block screwed to the second ball screw; And 상기 제 2 볼 스크류로 회전력을 전달하는 제 2 구동원을 포함하는 기판 검사 장치. And a second drive source for transmitting rotational force to the second ball screw. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 회전 유닛은, The first rotating unit, 상기 제 2 수평 구동 유닛 상에 상기 수직 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결된 제 1 회전 블럭; 및 A first rotating block rotatably connected about the vertical direction on the second horizontal drive unit; And 상기 제 1 회전 블럭에 회전력을 전달하는 제 3 구동원을 포함하는 기판 검사 장치. And a third driving source for transmitting rotational force to the first rotating block. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 수직 구동 유닛은 제 4 구동원을 포함하고, The vertical drive unit includes a fourth drive source, 상기 제 4 구동원으로부터 동력 전달시, 상기 수직 구동 유닛이 상기 수직 방향으로 연장되어, 상기 홀더를 승강시키는 기판 검사 장치. The substrate inspection apparatus extends the holder by extending the vertical drive unit in the vertical direction when transmitting power from the fourth drive source. 제 5 항에 있어서, The method of claim 5, wherein 상기 수직 구동 유닛은 내부에 로드를 구비하며, 상기 로드는 상기 제 4 구동원으로 부터 동력을 전달받아 동작되는 기판 검사 장치. The vertical driving unit includes a rod therein, and the rod is operated by receiving power from the fourth driving source. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 2 회전 유닛은, The second rotating unit, 상기 수직 구동 유닛에 상기 제 1 수평 방향을 중심으로 회전 가능하게 연결되고, 상기 홀더들이 고정된 제 2 회전 블럭; 및 A second rotating block rotatably connected to the vertical driving unit with respect to the first horizontal direction and fixed to the holders; And 상기 제 2 회전 블럭으로 회전력을 전달하는 제 5 구동원을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사 장치. And a fifth driving source for transmitting rotational force to the second rotating block. 제 10 항에 있어서, The method of claim 10, 상기 제 2 회전 블록은 유니버셜 조인트인 기판 검사 장치. And the second rotating block is a universal joint. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 1 수평 구동 유닛, 상기 제 2 수평 구동 유닛, 상기 제 1 회전 유닛, 상기 수직 구동 유닛 및 상기 제 2 회전 유닛 중 적어도 2개가 동시에 복합적으로 구동되는 기판 검사 장치. And at least two of the first horizontal driving unit, the second horizontal driving unit, the first rotating unit, the vertical driving unit, and the second rotating unit are simultaneously driven in combination. 삭제delete 삭제delete
KR1020070066159A 2007-07-02 2007-07-02 Apparatus for inspecting glass KR100854072B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070066159A KR100854072B1 (en) 2007-07-02 2007-07-02 Apparatus for inspecting glass

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070066159A KR100854072B1 (en) 2007-07-02 2007-07-02 Apparatus for inspecting glass

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100854072B1 true KR100854072B1 (en) 2008-08-25

Family

ID=39878562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070066159A KR100854072B1 (en) 2007-07-02 2007-07-02 Apparatus for inspecting glass

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100854072B1 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120116760A (en) * 2011-04-13 2012-10-23 삼성디스플레이 주식회사 Jig unit for inspecting a display panel
KR101404662B1 (en) 2014-03-05 2014-06-09 주식회사 에스피텍 Gripper device for equipments inspecting display panels
KR101582906B1 (en) * 2014-07-31 2016-01-19 최재원 Apparatus for assembling and testing of curved pannel
KR101863950B1 (en) * 2014-12-18 2018-07-04 주식회사 생명과기술 Method of Measuring the Display and Device of Measuring the Display
CN108594495A (en) * 2018-07-04 2018-09-28 江苏东旭亿泰智能装备有限公司 A kind of full angle LCD macro -graph machines
CN114715647A (en) * 2022-04-24 2022-07-08 台玻悦达汽车玻璃有限公司 Turnover device for automobile glass production
KR102455028B1 (en) * 2022-03-10 2022-10-17 주식회사 제이에스티 Apparatus for inspecting vial drugs

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030077848A (en) * 2002-03-27 2003-10-04 주식회사 제우스 Inspection Apparatus for LCD Glass
KR20050057990A (en) * 2003-12-11 2005-06-16 참엔지니어링(주) Apparatus for inspecting display
KR20060049154A (en) * 2004-11-08 2006-05-18 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Apparatus for inspecting of display panel
KR20060100175A (en) * 2005-03-16 2006-09-20 주식회사 로보스타 Apparatus for inspecting flat panel display
KR20080010800A (en) * 2006-07-28 2008-01-31 아프로시스템 주식회사 Eye inspection apparatus for flat panel display glass

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030077848A (en) * 2002-03-27 2003-10-04 주식회사 제우스 Inspection Apparatus for LCD Glass
KR20050057990A (en) * 2003-12-11 2005-06-16 참엔지니어링(주) Apparatus for inspecting display
KR20060049154A (en) * 2004-11-08 2006-05-18 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Apparatus for inspecting of display panel
KR20060100175A (en) * 2005-03-16 2006-09-20 주식회사 로보스타 Apparatus for inspecting flat panel display
KR20080010800A (en) * 2006-07-28 2008-01-31 아프로시스템 주식회사 Eye inspection apparatus for flat panel display glass

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120116760A (en) * 2011-04-13 2012-10-23 삼성디스플레이 주식회사 Jig unit for inspecting a display panel
KR101868083B1 (en) * 2011-04-13 2018-06-19 삼성디스플레이 주식회사 Jig unit for inspecting a display panel
KR101404662B1 (en) 2014-03-05 2014-06-09 주식회사 에스피텍 Gripper device for equipments inspecting display panels
KR101582906B1 (en) * 2014-07-31 2016-01-19 최재원 Apparatus for assembling and testing of curved pannel
KR101863950B1 (en) * 2014-12-18 2018-07-04 주식회사 생명과기술 Method of Measuring the Display and Device of Measuring the Display
CN108594495A (en) * 2018-07-04 2018-09-28 江苏东旭亿泰智能装备有限公司 A kind of full angle LCD macro -graph machines
KR102455028B1 (en) * 2022-03-10 2022-10-17 주식회사 제이에스티 Apparatus for inspecting vial drugs
CN114715647A (en) * 2022-04-24 2022-07-08 台玻悦达汽车玻璃有限公司 Turnover device for automobile glass production

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100854072B1 (en) Apparatus for inspecting glass
JP4249155B2 (en) Substrate transfer device
KR101427595B1 (en) Substrate conveyor
KR101616564B1 (en) Probe Mobile Apparatus
JP2001156153A (en) Substrate conveyor and conveyance teaching system
JP2006278508A (en) Device and method for transporting substrate
CN104576474A (en) Transfer robot having multiple arms
KR100625510B1 (en) apparatus for supplying panel of FPD testing unit and sub-table used in the apparatus
KR100566347B1 (en) Inversion functional loading/unloading equipment for flat panel display device and an inversion loading/ unloading method thereby
CN108946007B (en) Production line workpiece caching equipment
JP5978937B2 (en) Substrate transfer hand and substrate transfer method
CN100422709C (en) Glass substrate checker
JP2006005362A (en) Substrate conveying device
KR100358707B1 (en) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Inspection System
KR100354103B1 (en) Panel Sending Apparatus of Liquid Crystal Display Panel Inspection System
KR102353206B1 (en) Scribing apparatus
KR20210137262A (en) Tower lift
KR100602424B1 (en) Glass inspection equipment for flat panel display and glass lifter therefor
JP4489720B2 (en) Transfer device and liquid crystal panel inspection apparatus having the same
KR20120079982A (en) Apparatus for transferring the substarate vertically
KR101034041B1 (en) substrate align apparatus
KR20130091673A (en) Scribing apparatus
KR100562587B1 (en) Apparatus for supplying panel
KR100358704B1 (en) Panel Supplying Apparatus of Liquid Crystal Display Panel System
KR20140000500A (en) Auto-lighting apparatus and driving method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120820

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130819

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee