KR100761401B1 - 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (8)
- 클럭인에이블신호에 응답하여 DLL 클럭을 카운팅하기 위한 제1 카운팅수단;상기 클럭인에이블신호를 DLL회로의 지연모델에 대응하는 지연시간만큼 지연시키기 위한 제1 지연수단;제1 지연수단에서 지연된 상기 클럭인에이블신호에 응답하여 외부클럭을 카운팅하기 위한 제2 카운팅수단;상기 제1 및 제2 카운딩수단의 출력을 비교하기 위한 비교수단; 및상기 비교수단으로부터 출력되는 레이턴시 신호를 이용하여 출력인에이블 신호를 생성하기 위한 출력인에이블 신호 생성수단을 구비하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서,출력인에이블 리셋 신호에 응답하여 상기 제1 및 제2 카운팅수단을 인에이블/디스에이블 시키기 위한 카운팅 제어수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제2항에 있어서,상기 카운팅 제어수단은,상기 출력인에이블 리셋 신호를 상기 DLL 클럭에 동기시켜 상기 제1 카운팅수단의 카운팅 동작을 제어하기 위한 제1 카운팅 제어신호로서 출력하기 위한 제1 동기수단;상기 제1 카운팅 제어신호를 상기 DLL의 지연모델에 대응하는 지연시간만큼 지연시키기 위한 제2 지연수단; 및상기 제2 지연수단의 출력신호를 상기 외부클럭에 동기시켜 상기 제2 카운팅 수단의 카운팅 동작을 제어하기 위한 제2 카운팅 제어신호로서 출력하기 위한 제2 동기수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1 카운팅 수단은,상기 DLL클럭과 상기 클럭인에이블신호을 입력받아 상기 클럭인에이블신호에 대응하는 신DLL클럭을 생성하기 위한 신호 발생부;상기 클럭인에이블신호에 대응하는 상기 신DLL클럭을 카운팅하는 카운터; 및상기 카운터를 초기화시키는 초기화부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제2 카운팅 수단은,상기 외부클럭과 상기 클럭인에이블신호을 입력받아 상기 클럭인에이블신호에 대응하는 신외부클럭을 생성하기 위한 신호 발생부; 및상기 클럭인에이블신호에 대응하는 상기 신외부클럭을 카운팅하는 카운터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 클럭인에이블신호에 응답하여 DLL 클럭을 카운팅하는 단계;상기 클럭인에이블신호를 DLL의 지연모델에 대응하는 지연시간만큼 지연시키는 단계;지연된 상기 클럭인에이블신호에 응답하여 외부클럭을 카운팅하는 단계;상기 DLL 클럭의 카운팅 값과 상기 외부클럭의 카운팅 값을 비교하는 단계; 및상기 비교 결과에 따라 생성된 레이턴시 신호를 이용하여 출력인에이블 신호를 생성하는 단계를 포함하는 반도체 메모리 장치의 구동방법.
- 제6항에 있어서,상기 DLL클럭의 카운팅은 클럭인에이블신호의 활성화에 의해 카운팅하고, 비활성화에 의해 카운팅이 멈추는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 구동방법.
- 제6항에 있어서,상기 외부클럭의 카운팅은 지연된 클럭인에이블신호의 활성화에 의해 카운팅하고, 비활성화에 의해 카운팅이 멈추는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 구동방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060095188A KR100761401B1 (ko) | 2006-09-28 | 2006-09-28 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
US11/823,878 US7660171B2 (en) | 2006-09-28 | 2007-06-29 | Semiconductor memory device and method for driving the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060095188A KR100761401B1 (ko) | 2006-09-28 | 2006-09-28 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100761401B1 true KR100761401B1 (ko) | 2007-09-27 |
Family
ID=38738617
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060095188A KR100761401B1 (ko) | 2006-09-28 | 2006-09-28 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7660171B2 (ko) |
KR (1) | KR100761401B1 (ko) |
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US7660171B2 (en) | 2010-02-09 |
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