KR100669954B1 - 반도체 기억 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (10)
- 셀프 리프레시 기능을 갖는 반도체 기억 장치에 있어서,제어 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나의 신호의 천이를 검출하여 천이 검출 신호를 출력하는 천이 검출 회로와;상기 천이 검출 신호를 내부에서 발생한 리프레시 요구 신호와 비교하여, 상기 비교 결과에 따른 논리 레벨을 갖고 상기 천이에 따라 회로 동작을 지시하는 선택 신호를 생성하는 비교 회로를 포함하는 반도체 기억 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 천이 검출 신호가 출력되고 나서 상기 제어 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나의 신호가 상기 반도체 기억 장치에서 처리될 때까지 상기 내부에서 발생한 리프레시 요구 신호를 무효로 하기 위한 신호를 생성하는 회로를 더 포함하는 것인 반도체 기억 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 천이 검출 회로는 상기 반도체 기억 장치 내부의 필터에서 처리되기 전의 상기 제어 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나의 신호를 수신하는 것인 반도체 기억 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 비교 회로가 생성하는 선택 신호는 상기 비교 회로에 미리 인가된 신호가 지시하는 회로 동작을 선택하는 것인 반도체 기억 장치.
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- 셀프 리프레시 기능을 갖는 반도체 기억 장치에 있어서,제어 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나의 신호의 천이를 검출하여 천이 검출 신호를 출력하는 천이 검출 회로와;테스트 모드에 있어서 상기 천이 검출 신호와 외부에서 발생한 테스트 신호에 기초하여 상기 셀프 리프레시 동작의 실행을 요구하는 리프레시 요구 신호를 생성하는 리프레시 제어 회로를 포함하는 반도체 기억 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 천이 검출 신호를 상기 리프레시 요구 신호와 비교하여, 회로 동작을 지시하는 결과 신호를 생성하는 비교 회로를 더 포함하는 것인 반도체 기억 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 리프레시 제어 회로는 테스트 모드일 때에는 상기 천이 검출 신호를 상기 리프레시 요구 신호로서 출력하고, 테스트 모드가 아닐 때에는 내부에서 발생하는 또 다른 리프레시 요구 신호를 상기 리프레시 요구 신호로서 출력하는 것인 반도체 기억 장치.
- 제어 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나의 신호의 천이를 검출하여 천이 검출 신호를 출력하는 천이 검출 회로와;상기 제어 신호의 노이즈를 필터링하는 노이즈 필터와;상기 노이즈 필터에 결합되고, 상기 제어 신호에 응답하여 동작 요구 신호를 생성하는 커맨드 제어 회로와;상기 천이 검출 신호의 타이밍을 내부 리프레시 요구 신호의 타이밍과 비교하여, 상기 천이에 따라 회로 동작을 지시하는 선택 신호를 생성하는 비교 회로와;상기 동작 요구 신호, 상기 내부 리프레시 요구 신호 및 상기 선택 신호를 수신하여, 상기 천이에 따라 회로 동작을 지시하는 제어 신호를 출력하는 동작 제어 회로를 포함하는 반도체 기억 장치.
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