KR100586171B1 - 시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 - Google Patents
시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100586171B1 KR100586171B1 KR1020050060329A KR20050060329A KR100586171B1 KR 100586171 B1 KR100586171 B1 KR 100586171B1 KR 1020050060329 A KR1020050060329 A KR 1020050060329A KR 20050060329 A KR20050060329 A KR 20050060329A KR 100586171 B1 KR100586171 B1 KR 100586171B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- word line
- voltage signal
- read
- transistor
- driving
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/14—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/30—Power supply circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Description
Claims (17)
- 워드라인 선택신호에 응답하여 제1 동작모드에서 제1 워드라인 구동전압신호로 워드라인을 구동하기 위한 제1 워드라인 구동기;상기 워드라인 선택신호에 응답하여 제2 동작모드에서 상기 제1 워드라인 구동전압신호보다 높은 전압레벨을 가지는 제2 워드라인 구동전압신호로 상기 워드라인을 구동하기 위한 제2 워드라인 구동기;상기 제1워드라인 구동기와 상기 워드라인 사이에 연결되고, 상기 제1 동작모드 초기에는 셀프 부스팅된 제어전압신호에 응답하고, 소정 시간 이후에는 안정된 전압레벨을 유지하는 제어전압신호에 응답하여 상기 제1 워드라인 구동전압신호를 상기 워드라인에 전달하기 위한 패스 트랜지스터를 구비한 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제1항에 있어서, 상기 셀프 부스팅된 제어전압신호는통상시에는 전원전압레벨로 프리차지되고, 제1 동작 모드 시에는 상기 제1 워드라인 구동전압에 의해 상기 전원전압 레벨로부터 셀프 부스팅된 전압레벨로 유지되는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제1항에 있어서, 상기 안정된 전압레벨을 유지하는 제어전압신호는상기 제1동작모드 이후에 펌핑 동작에 의해 상기 소정 시간 이후에 소정 전 압레벨로 생성된 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제1항에 있어서, 상기 워드라인 구동회로는 상기 패스 트랜지스터의 게이트를 구동하기 위한 게이트 구동회로를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제4항에 있어서, 상기 게이트 구동회로는상기 패스 트랜지스터의 게이트와 전원전압 사이에 연결되고, 상기 제2 워드라인 구동전압신호에 응답하여 상기 패스 트랜지스터의 게이트를 상기 전원전압으로 프리차지시키는 프리차지 트랜지스터; 및상기 안정된 전압레벨을 유지하는 제어전압신호를 상기 패스 트랜지스터의 게이트에 결합하기 위한 다이오드를 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제5항에 있어서, 상기 프리차지 트랜지스터는 네이티브 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제1항에 있어서, 상기 패스 트랜지스터는상기 제1워드라인 구동기와 상기 워드라인 사이에 연결되고, 상기 제1 동작모드 초기에는 셀프 부스팅된 제어전압신호에 응답하는 제1 트랜지스터; 및상기 제1워드라인 구동기와 상기 워드라인 사이에 연결되고, 소정 시간 이후에는 안정된 전압레벨을 유지하는 제어전압신호에 응답하여 상기 제1 워드라인 구동전압신호를 상기 워드라인에 전달하기 위한 제2 트랜지스터를 구비한 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제7항에 있어서, 상기 제2 트랜지스터의 사이즈는 상기 제1 트랜지스터의 사이즈에 비해 상대적으로 작은 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 트랜지스터의 게이트에 전원전압을 결합하기 위하여 상기 제2 워드라인 구동전압신호에 응답하여 상기 패스 트랜지스터의 게이트를 상기 전원전압으로 프리차지시키는 프리차지 트랜지스터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제7항에 있어서, 상기 제2 트랜지스터의 게이트에 인가되는 상기 안정된 전압레벨을 유지하는 제어전압신호는상기 제1동작모드 이후에 펌핑 동작에 의해 상기 소정 시간 이후에 소정 전압레벨로 생성된 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제9항에 있어서, 상기 프리차지 트랜지스터는 네이티브 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 워드라인 선택신호에 응답하여 독출모드에서 독출전압신호로 워드라인을 구동하기 위한 독출모드 구동기;상기 워드라인 선택신호에 응답하여 소거모드에서 소거전압신호로 상기 워드라인을 구동하기 위한 소거모드 구동기;상기 독출모드 구동기와 상기 워드라인 사이에 연결되고, 상기 독출모드 초기에는 셀프 부스팅된 제어전압신호에 응답하고, 소정 시간 이후에는 독출제어전압신호에 응답하여 상기 독출전압신호를 상기 워드라인에 전달하기 위한 패스 트랜지스터를 구비한 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제12항에 있어서, 상기 셀프 부스팅된 제어전압신호는통상시에는 전원전압레벨로 프리차지되고, 독출모드 시에는 상기 독출전압신호에 의해 상기 전원전압 레벨로부터 셀프 부스팅된 전압레벨로 유지되는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제12항에 있어서, 상기 독출제어전압신호는상기 제1동작모드 이후에 펌핑 동작에 의해 상기 소정 시간 이후에 소정 전압레벨로 생성된 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 제12항에 있어서, 상기 플래시 메모리는 임베디드 플래시 메모리 이고, 상기 전원전압은 상기 독출전압신호의 레벨보다 높은 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동회로.
- 대기모드에서 패스 트랜지스터의 게이트를 전원전압으로 프리차지시키는 단계;독출명령에 응답하여 워드라인 선택신호를 발생하는 단계;상기 워드라인 선택신호에 응답하여 독출전압신호를 상기 패스 트랜지스터에 인가하는 단계;상기 인가된 독출전압신호에 의해 상기 패스 트랜지스터의 게이트가 셀프 부스팅되는 단계;상기 셀프 부스팅된 패스트랜지스터를 통해서 선택된 워드라인에 인가된 상기 독출전압신호에 의해 선택된 워드라인을 초기 구동하는 단계;상기 독출명령 이후에 펌핑된 독출제어전압신호에 의해 상기 패스 트랜지스터를 턴온 상태로 유지하는 단계를 구비한 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동방법.
- 대기모드에서 제1 패스 트랜지스터의 게이트를 전원전압으로 프리차지시키는 단계;독출명령에 응답하여 워드라인 선택신호를 발생하는 단계;상기 워드라인 선택신호에 응답하여 독출전압신호를 상기 제1 패스 트랜지스터에 인가하는 단계;상기 인가된 독출전압신호에 의해 상기 패스 트랜지스터의 게이트가 셀프 부스팅되는 단계;상기 셀프 부스팅된 패스트랜지스터를 통해서 선택된 워드라인에 인가된 상기 독출전압신호에 의해 선택된 워드라인을 초기 구동하는 단계;상기 독출명령 이후에 펌핑된 독출제어전압신호에 의해 상기 패스 트랜지스터를 턴온 상태로 유지하는 단계를 구비한 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치의 워드라인 구동방법.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050060329A KR100586171B1 (ko) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 |
US11/475,152 US7366038B2 (en) | 2005-07-05 | 2006-06-27 | Circuit and method of driving a word line of a memory device |
FR0605995A FR2891944B1 (fr) | 2005-07-05 | 2006-07-03 | Circuit et procede d'attaque de ligne de mots d'un dispositif a memoire |
TW095124100A TWI426527B (zh) | 2005-07-05 | 2006-07-03 | 驅動記憶體元件的字元線的電路及其方法 |
CN200610101119A CN100576354C (zh) | 2005-07-05 | 2006-07-04 | 驱动存储器设备的字线的电路和方法 |
DE102006032132A DE102006032132B4 (de) | 2005-07-05 | 2006-07-05 | Schaltung und Verfahren zum Treiben einer Wortleitung eines Speicherbauelements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050060329A KR100586171B1 (ko) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100586171B1 true KR100586171B1 (ko) | 2006-06-07 |
Family
ID=37182266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050060329A KR100586171B1 (ko) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7366038B2 (ko) |
KR (1) | KR100586171B1 (ko) |
CN (1) | CN100576354C (ko) |
DE (1) | DE102006032132B4 (ko) |
FR (1) | FR2891944B1 (ko) |
TW (1) | TWI426527B (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7586333B1 (en) * | 2006-12-21 | 2009-09-08 | Cypress Semiconductor Corporation | High speed, low supply voltage tolerant bootstrapped word line driver with high voltage isolation |
JP5846789B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2016-01-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP5249394B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2013-07-31 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体記憶装置 |
US8976600B2 (en) * | 2013-03-11 | 2015-03-10 | Macronix International Co., Ltd. | Word line driver circuit for selecting and deselecting word lines |
CN106297868B (zh) * | 2015-05-12 | 2018-11-06 | 晶豪科技股份有限公司 | 驱动子字线的半导体存储器元件 |
US11269764B2 (en) | 2017-03-21 | 2022-03-08 | Western Digital Technologies, Inc. | Storage system and method for adaptive scheduling of background operations |
US11188456B2 (en) * | 2017-03-21 | 2021-11-30 | Western Digital Technologies Inc. | Storage system and method for predictive block allocation for efficient garbage collection |
US10635335B2 (en) | 2017-03-21 | 2020-04-28 | Western Digital Technologies, Inc. | Storage system and method for efficient pipeline gap utilization for background operations |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960011206B1 (ko) * | 1993-11-09 | 1996-08-21 | 삼성전자 주식회사 | 반도체메모리장치의 워드라인구동회로 |
US6278316B1 (en) | 1998-07-30 | 2001-08-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Pump circuit with reset circuitry |
TW460876B (en) * | 1998-09-30 | 2001-10-21 | Samsung Electronics Co Ltd | An integrated circuit memory device with hierarchical word line structure |
JP3857461B2 (ja) | 1999-03-18 | 2006-12-13 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
KR100338772B1 (ko) * | 2000-03-10 | 2002-05-31 | 윤종용 | 바이어스 라인이 분리된 비휘발성 메모리 장치의 워드라인 드라이버 및 워드 라인 드라이빙 방법 |
KR100381962B1 (ko) * | 2000-08-07 | 2003-05-01 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치의 로우 디코더 |
KR100378188B1 (ko) * | 2000-12-06 | 2003-03-29 | 삼성전자주식회사 | 멀티 로우 어드레스 디스터브 테스트시 모든 워드라인들에동일한 스트레스를 인가하는 워드라인 드라이버 및 그구동방법 |
JP3702851B2 (ja) | 2002-01-24 | 2005-10-05 | セイコーエプソン株式会社 | 不揮発性半導体装置の昇圧回路 |
US6859397B2 (en) * | 2003-03-05 | 2005-02-22 | Sandisk Corporation | Source side self boosting technique for non-volatile memory |
JP4962828B2 (ja) * | 2004-08-25 | 2012-06-27 | マイクロン テクノロジー, インク. | ワード線ドライバ回路およびこれを利用する方法 |
-
2005
- 2005-07-05 KR KR1020050060329A patent/KR100586171B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-06-27 US US11/475,152 patent/US7366038B2/en active Active
- 2006-07-03 TW TW095124100A patent/TWI426527B/zh active
- 2006-07-03 FR FR0605995A patent/FR2891944B1/fr active Active
- 2006-07-04 CN CN200610101119A patent/CN100576354C/zh active Active
- 2006-07-05 DE DE102006032132A patent/DE102006032132B4/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7366038B2 (en) | 2008-04-29 |
TWI426527B (zh) | 2014-02-11 |
CN1892913A (zh) | 2007-01-10 |
DE102006032132B4 (de) | 2010-04-15 |
FR2891944B1 (fr) | 2014-05-30 |
DE102006032132A1 (de) | 2007-02-22 |
TW200703364A (en) | 2007-01-16 |
FR2891944A1 (fr) | 2007-04-13 |
US20070008805A1 (en) | 2007-01-11 |
CN100576354C (zh) | 2009-12-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100586171B1 (ko) | 시스템 온 칩에 임베드된 메모리의 워드라인 구동회로 및구동방법 | |
US6333874B2 (en) | Semiconductor memory device having normal and standby modes, semiconductor integrated circuit and mobile electronic unit | |
KR100816403B1 (ko) | 저소비 전력형 다이내믹 랜덤 액세스 메모리 | |
JP5041631B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7521988B2 (en) | Voltage booster for semiconductor device and semiconductor memory device using same | |
JP4829029B2 (ja) | メモリシステム及びメモリチップ | |
US7936624B2 (en) | Reduced power bitline precharge scheme for low power applications in memory devices | |
KR100471185B1 (ko) | 내부 공급 전압의 파워-업 기울기를 제어하기 위한 내부전압 변환기 구조 | |
KR100562654B1 (ko) | 균등화신호(bleq) 구동회로 및 이를 사용한 반도체메모리 소자 | |
US8139437B2 (en) | Wordline driving circuit of semiconductor memory device | |
US6798709B2 (en) | Memory device having dual power ports and memory system including the same | |
JP2007323808A (ja) | 半導体記憶装置用xデコーダ | |
US6813216B2 (en) | Method for discharging word line and semiconductor memory device using the same | |
US20100061175A1 (en) | Circuit and method for driving word line | |
US9779814B2 (en) | Non-volatile static random access memory devices and methods of operations | |
US7675798B2 (en) | Sense amplifier control circuit and semiconductor device using the same | |
US6067269A (en) | Semiconductor memory device capable of operating at a low power supply voltage | |
US7414898B2 (en) | Semiconductor memory device with internal power supply | |
US8144493B2 (en) | CAM cell memory device | |
US7158436B2 (en) | Semiconductor memory devices | |
JP4895867B2 (ja) | 内部電圧発生回路 | |
JPH11297090A (ja) | Mos集積回路および不揮発性メモリ | |
KR20040102725A (ko) | 전압손실없이 고속으로 셀에 데이터를 저장하기 위한 방법및 그를 위한 메모리 장치 | |
GB2416234A (en) | Semiconductor memory device including circuit to store access data | |
KR100630670B1 (ko) | 소프트 이레이즈를 방지하는 워드라인 전압 발생기 및이를 구비하는 플래쉬 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130430 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140430 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150430 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160429 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170427 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180430 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190429 Year of fee payment: 14 |