KR100485050B1 - 자기 검출 장치 - Google Patents

자기 검출 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100485050B1
KR100485050B1 KR10-2003-0029237A KR20030029237A KR100485050B1 KR 100485050 B1 KR100485050 B1 KR 100485050B1 KR 20030029237 A KR20030029237 A KR 20030029237A KR 100485050 B1 KR100485050 B1 KR 100485050B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
base
block
lead frame
resin
magnetic detection
Prior art date
Application number
KR10-2003-0029237A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040036521A (ko
Inventor
츠지이시게키
나다타쿠지
히라오카나오키
Original Assignee
미츠비시덴키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미츠비시덴키 가부시키가이샤 filed Critical 미츠비시덴키 가부시키가이샤
Publication of KR20040036521A publication Critical patent/KR20040036521A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100485050B1 publication Critical patent/KR100485050B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
    • G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
    • G01P3/48—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
    • G01P3/481—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
    • G01P3/488—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals delivered by variable reluctance detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G01D5/147—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices influenced by the movement of a third element, the position of Hall device and the source of magnetic field being fixed in respect to each other
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00—Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/24—Housings ; Casings for instruments
    • G01D11/245—Housings for sensors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00—Details of instruments
    • G01P1/02—Housings
    • G01P1/026—Housings for speed measuring devices, e.g. pulse generator

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 생산성이 향상된 자기 검출 장치를 제공하기 위한 것으로서, 상기 목적을 달성하기 위한 자기 검출 장치는 회전체의 이동에 수반하여 변화하는 자계의 변화를 검출하는 자기 저항 소자(2), 외래 노이즈에 대한 보호 회로를 형성하는 전자 부품(3), 상기 전자 부품(3)과 전기적으로 접속된 제1의 리드 프레임(4), 전자 부품(3), 상기 제1의 리드 프레임(4) 및 상기 자기 저항 소자(2)를 수지로 밀봉한 제1의 베이스(5)를 포함하는 제1의 블록(9)과, 피검출체에 대향하여 배치되고 자계를 발생하는 자석(1), 상기 제1의 리드 프레임(4)과 전기적으로 접속되어 있음과 함께 자기 저항 소자(2)의 출력 신호를 외부로 출력하는 커넥터 단자(6)를 갖는 제2의 리드 프레임(7), 상기 제2의 리드 프레임(7)을 수지로 밀봉한 제2의 베이스(8)를 포함하는 제2의 블록(12)과, 상기 제2의 블록(12) 및 상기 제1의 블록(9)를 덮는 외장 수지(20)를 구비하고 있다.

Description

자기 검출 장치{MAGNETIC DETECTION APPARATUS}
본 발명은 자계의 변화를 자기 검출 수단이 검출하여, 예를 들면 피검출체의 회전 수를 검출하는 자기 검출 장치에 관한 것이다.
종래의 자기 검출 장치로서, 외래 노이즈를 제거하기 위한 회로를 구성하는 전자 부품을 자계 발생 수단인 자석 및 리드 프레임을 수지에 의해 인서트 몰드 성형한 베이스상에 배치하고, 또한 자석에 접근하여 베이스에 자계의 변화를 검출하는 자기 검출 수단을 마련한 것이 알려져 있다(예를 들면, 특허 문헌 1(일본특개평 9-105757호 공보(단락 번호 4 내지 5, 도 3)를 참조).
종래의 자기 검출 장치에서는 자기 검출 수단 및 전자 부품이 개별적으로 배치되어 노출되어 있기 때문에, 예를 들면, 그들의 접속부에서의 파손을 방지하기 위해, 자기 검출 수단 및 전자 부품이 배치된 베이스를, 케이스 내에 조립할 때까지 극히 신중히 취급할 필요가 있고, 이는 생산성 향상의 방해가 된다는 문제점이 있었다.
본 발명은, 상기한 바와 같은 문제점을 해결하는 것을 과제로 하는 것으로서, 생산성이 향상된 자기 검출 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 자기 검출 장치는 피검출체의 이동에 수반하여 변화하는 자계의 변화를 검출하는 자기 검출 수단, 상기 자기 검출 수단으로부터의 신호를 제어하는 전자 부품, 상기 전자 부품과 전기적으로 접속된 제1의 리드 프레임, 상기 전자 부품, 상기 제1의 리드 프레임 및 상기 자기 검출 수단을 수지로 밀봉한 제1의 베이스를 포함하는 제1의 블록과, 상기 피검출체에 대향하여 배치되고 자계를 발생하는 자계 발생 수단, 상기 제1의 리드 프레임과 전기적으로 접속되어 있음과 함께 상기 자기 검출 수단의 출력 신호를 외부로 출력하는 커넥터 단자를 갖는 제2의 리드 프레임, 상기 제2의 리드 프레임을 수지로 밀봉한 제2의 베이스를 포함하는 제2의 블록과, 상기 제2의 블록 및 상기 제1의 블록을 덮는 외장 수지를 구비한다.
제1의 실시예
이하, 본 발명에 관한 자기 검출 장치의 한 실시예를 도면에 의거하여 설명한다.
도 1 내지 도 13은 본 발명의 제1의 실시예를 도시한 구성도이다.
제1의 실시예에 따른 자기 검출 장치는 피검출체(도시 생략)에 대향하여 배치되고 자계를 발생하는 자계 발생 수단인 자석(1)과, 피검출체의 회전에 수반하여 변화하는 상기 자계의 변화를 검출하는 자기 검출 수단인 자기 저항 소자(2)와, 외래 노이즈에 대한 보호 회로를 형성하는 전자 부품(3)과, 상기 전자 부품과 용접에 의해 전기적으로 접속된 제1의 리드 프레임(4)과, 전자 부품(3), 제1의 리드 프레임(4) 및 자기 저항 소자(2)를 인서트 몰드 성형으로 수지 밀봉한 제1의 베이스(5)를 구비하고 있다.
여기서, 자기 저항 소자(2), 전자 부품(3), 제1의 리드 프레임(4) 및 제1의 베이스(5)에 의해 제1의 블록(9)을 구성하고 있다.
도 2 내지 도 4는 상기 제1의 블록(9)을 도시한 도면이다. 또한, 인서트 몰드 성형이란, 제1의 베이스(5)를 수지 성형함에 있어서, 수지를 경화시킬 때, 전자 부품(3), 제1의 리드 프레임(4)을 수지 중에 설치하는 성형 방법이다.
제1의 베이스(5)의 하면에는 돌출된 압입부(10)가 형성된다. 또한, 제1의 베이스(5)의 하면에는 압입부(10)와 같은 방향으로 돌출된 한 쌍의 돌기(11)가 형성되어 있다.
또한, 자기 검출 장치는 제1의 리드 프레임(4)과 용접에 의해 전기적으로 접속되어 있으며 자기 저항 소자(2)의 출력 신호를 외부로 출력하는 커넥터 단자(6)를 갖는 제2의 리드 프레임(7)과, 상기 제2의 리드 프레임(7)을 인서트 몰드 성형으로 수지 밀봉하고 제1의 베이스(5)와 일체화한 제2의 베이스(8)를 구비한다.
제2의 베이스(8)의 반(anti) 커넥터 단자(6)측에는 자석(1) 및 자석(1)에서 발생한 자계를 자기 저항 소자(2)로 안내하는 가이드(13)(도 5 내지 도 7 참조)가 압입되어 있다.
여기서, 자석(1), 가이드(13), 제2의 리드 프레임(7) 및 제2의 베이스(8)에 의해, 제2의 블록(12)(도 8 및 도 9 참조)을 구성하고 있다.
제2의 베이스(8)의 윗면의 중간부에는 도 10, 도 11에 도시한 바와 같이, 상기 압입부(10)가 압입되는 홈(14)이 형성되어 있다. 제2의 베이스(8)의 윗면에는 제1의 베이스(5)의 돌기(11)가 압입되는 홀(15)이 형성되어 있다. 또한, 제2의 베이스(8)의 윗면에는 가이드(13)의 양 단부에 형성된 돌기(17)가 압입되는 홀(16)이 형성되어 있다. 또한, 제2의 베이스(8)의 윗면의 반 커넥터 단자(6)측에는 자석(1)이 압입되는 홀(18)이 형성되어 있다.
여기서, 돌기(11)와 홀(15)에 의해, 제1의 블록(9)과 제2의 블록(12)과의 상대 위치를 정하는 위치 결정 수단을 구성하고 있다.
상기 제1의 블록(12) 및 제2의 블록(12)은 커넥터 단자(6)가 노출되도록 외장 수지(20)에 의해 수지 밀봉되어 있다.
상기 구성의 자기 검출 장치에서는 상기 장치에 접근하여 마련된 자성체인 피검출체의 회전에 의해, 자기 저항 소자(2)에는 피검출체의 오목부와 볼록부가 교대로 접근하고, 그 때문에 자기 저항 소자(2)에 인가하는 자석(1)으로부터의 자계가 변화한다. 상기 자계의 변화는 자기 저항 소자(2)에 의해 저항의 변화로서 검출된다. 자기 저항 소자(2)에 발생한 저항의 변화는 커넥터 단자(6)를 통하여 컴퓨터 유닛(도시 생략)으로 보내지고, 피검출체의 회전 수가 검출된다.
다음에, 상기 구성의 자기 검출 장치의 제조 순서에 관해 설명한다.
우선, 도 10, 도 11의 홀(18)에, 자석(1)을 도 12, 도 13에 도시한 바와 같이, 압입한다. 다음에, 가이드(13)의 돌기(17)를 제2의 베이스(8)의 홀(16)에, 도 8, 도 9에 도시한 바와 같이 압입한다.
그 후, 상기 제2의 베이스(8)의 홀(15)에 제1의 베이스(5)의 돌기(11)를 결합함과 함께, 홈(14)에 압입부(10)를 압입하여, 제2의 블록(12)과 제1의 블록(9)을 일체화 한다.
최후로, 일체화 된 제1의 블록(9) 및 제2의 블록(12)을 인서트 성형으로, 커넥터 단자(6)를 노출한 상태로 수지 밀봉함으로써, 외부가 외장 수지(20)로 덮인 자기 검출 장치가 제조된다.
상기 구성의 자기 검출 장치에서는 전자 부품(3), 제1의 리드 프레임(4) 및 자기 저항 소자(2)가 제1의 베이스(5)에서 수지 밀봉되어 구성된 제1의 블록(9)과, 제2의 베이스(8)에 자석(1), 가이드(13)가 압입된 제2의 블록(12)과, 외장 수지(20)로 구성되어 있고, 제조 조립 도중에는 제1의 블록(9), 제2의 블록(12)은 각각 단체로서 취급할 수 있고, 생산성이 향상된다.
또한, 제1의 베이스(5)에는 돌기(11)가 형성되고, 제2의 베이스(8)에는 상기 돌기(11)가 결합하는 홀(15)이 형성되어 있기 때문에, 제1의 블록(9)과 제2의 블록(12)과의 상대 위치 정밀도가 높고, 검출 정밀도에 큰 영향을 주는 자석(1)과 자기 저항 소자(2)와의 배치 정밀도가 향상하고, 높은 검출 정밀도가 확보된다. 또한, 제1의 블록(9) 및 제2의 블록(12)은 인서트 성형으로 외부가 외장 수지(20)로 덮이지만, 그 때 금형 내로 주입되는 수지 압력으로 제1의 블록(9) 및 제2의 블록(12)의 상대 위치가 어긋나는 일은 없다.
또한, 제1의 베이스(5)의 압입부(10)를 제2의 베이스(8)의 홈(14)에 압입할 뿐으로, 제1의 블록(9)과 제2의 블록(12)을 간단하게 일체화 할 수 있어서, 생산성이 향상된다.
또한, 자석(1)을 제2의 베이스(8)의 홀(18)에 압입하고, 또한 가이드(13)의 돌기(17)를 제2의 베이스(8)의 홀(16)에 압입할 뿐으로, 자석(1) 및 가이드(13)를 제2의 베이스(8)에 간단하게 일체화 할 수 있어서, 생산성이 향상된다.
또한, 자석(1) 및 가이드(13)는 제1의 베이스(5)와 제2의 베이스(8)와의 사이에 끼워져 구비되어 있기 때문에, 자석(1) 및 가이드(13)는 소정의 위치에 보다 확실하게 위치 결정, 고정되므로 자기 검출 장치의 성능이 향상된다.
제2의 실시예
도 14 내지 도 17은 본 발명의 제2의 실시예의 자기 검출 장치를 도시한 구성도이다.
제2의 실시예에 있어서, 제2의 베이스(8)의 반 커넥터 단자(6)측에 한 쌍의 돌기(30)가 마련되고, 상기 돌기(30)가 결합하는 홀(31)이 제1의 베이스(5)에 한 쌍 마련되어 있다. 상기 돌기(30)와 홈(31)에 의해, 제1의 베이스(5)와 제2의 베이스(8)와의 사이의 상대 위치를 결정하는 위치 결정 수단을 구성하고 있다. 다른 구성은 제1의 실시예과 같다.
상기 제2의 실시예에서는 자기 저항 소자(2)를 내장한 제1의 베이스(5)의 형상이 보다 간소화 되고, 제1의 베이스(5)의 형상의 자유도가 늘어나서, 다양한 형상의 자기 검출 장치의 실현이 가능하게 된다.
또한, 상기 제1 및 제2의 실시예에서는 자기 검출 수단으로서 자기 저항 소자(2)를 이용하였지만, 물론 이것에 한정되는 것은 아니고, 자계의 변화를 전압의 변화로 바꾸는 홀 소자라도 좋다.
또한, 자계 발생 수단으로서 자석(1) 대신에, 전자석을 이용하여도 좋다.
또한, 제1의 베이스(5)를 제2의 베이스(8)에 압입하여 일체화 하기 위해, 제1의 베이스(5)에 압입부(10)를 형성하고, 제2의 베이스(8)에 홈(14)을 형성하였지만, 제1의 베이스에 홈을 형성하고, 제2의 베이스에 압입부를 형성하도록 하여도 좋다.
또한, 상기 제1 및 제2의 실시예에서는 전자 부품으로서 외래 노이즈에 대한 보호 회로를 형성하는 전자 부품에 관해 설명하였지만, 컴퓨터와의 접속에 필요한 회로를 구성하는 전자 부품이라도 좋다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면 피검출체의 이동에 수반하여 변화하는 자계의 변화를 검출하는 자기 검출 수단, 상기 자기 검출 수단으로부터의 신호를 제어하는 전자 부품, 상기 전자 부품과 전기적으로 접속된 제1의 리드 프레임, 상기 전자 부품, 상기 제1의 리드 프레임 및 상기 자기 검출 수단을 수지로 밀봉한 제1의 베이스를 포함하는 제1의 블록과, 상기 피검출체에 대향하여 배치되고 자계를 발생하는 자계 발생 수단, 상기 제1의 리드 프레임과 전기적으로 접속되어 있음과 함께 상기 자기 검출 수단의 출력 신호를 외부로 출력하는 커넥터 단자를 갖는 제2의 리드 프레임, 상기 제2의 리드 프레임을 수지로 밀봉한 제2의 베이스를 포함하는 제2의 블록과, 상기 제2의 블록 및 상기 제1의 블록을 덮은 외장 수지를 구비하였기 때문에, 제조 조립 도중에 전자 부품, 제1의 리드 프레임 및 자기 검출 수단이 제1의 베이스에서 수지 밀봉된 제1의 블록을 하나의 단체로서 취급할 수 있고, 또한 자석이 제2의 베이스에서 수지 밀봉된 제2의 블록을 하나의 단체로서 취급할 수 있어서, 취급이 용이해지고 생산성이 향상된다.
도 1은 본 발명의 실시예 1에 의한 자기 검출 장치의 정단면도.
도 2는 도 1의 제1의 블록의 저면도.
도 3은 도 2의 제1의 블록의 단면도.
도 4는 도 2의 제1의 블록의 좌측면도.
도 5는 도 1의 가이드의 정면도.
도 6은 도 5의 가이드의 평면도.
도 7은 도 5의 가이드의 우측면도.
도 8은 도 1의 제2의 블록의 평면도.
도 9는 도 8의 제2의 블록의 우측면도.
도 10은 도 1의 제2의 블록의 제조 도중의 평면도.
도 11은 도 10의 우측면도.
도 12는 도 1의 제2의 블록의 제조 도중의 평면도.
도 13은 도 12의 우측면도.
도 14는 본 발명의 제2의 실시예의 제2의 블록의 평면도.
도 15는 도 14의 제2의 블록의 우측면도.
도 16은 본 발명의 제2의 실시예의 제1의 블록의 저면도.
도 17은 도 16의 제1의 블록의 좌측면도.
<도면의 주요 부분에 대한 간단한 설명>
1 : 자석(자계 발생 수단) 2 : 자기 저항 소자(자기 검출 수단)
3 : 전자 부품 4 : 제1의 리드 프레임
5 : 제1의 베이스 7 : 제2의 리드 프레임
8 : 제2의 베이스 9 : 제1의 블록
10 : 압입부 11, 17, 30 : 돌기
12 : 제2의 블록 13 : 가이드
14 : 홈 15, 16, 18, 31 : 홀
20 : 외장 수지

Claims (3)

  1. 피검출체의 이동에 수반하여 변화하는 자계의 변화를 검출하는 자기 검출 수단, 상기 자기 검출 수단으로부터의 신호를 제어하는 전자 부품, 상기 전자 부품과 전기적으로 접속된 제1의 리드 프레임, 상기 전자 부품, 상기 제1의 리드 프레임, 및 상기 자기 검출 수단을 수지로 밀봉한 제1의 베이스를 포함하는 제1의 블록과,
    상기 피검출체에 대향하여 배치되고 자계를 발생하는 자계 발생 수단, 상기 제1의 리드 프레임과 전기적으로 접속되며 상기 자기 검출 수단의 출력 신호를 외부로 출력하는 커넥터 단자를 갖는 제2의 리드 프레임, 상기 제2의 리드 프레임을 수지로 밀봉한 제2의 베이스를 포함하는 제2의 블록과,
    상기 제2의 블록 및 상기 제1의 블록을 덮는 외장 수지를 구비한 것을 특징으로 하는 자기 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1의 베이스와 상기 제2의 베이스와의 사이에는 상대 위치를 결정하는 위치 결정 수단이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 자기 검출 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 위치 결정 수단은 상기 제1의 베이스 및 상기 제2의 베이스의 어느 한쪽에 형성된 돌기와, 상기 제1의 베이스 및 상기 제2의 베이스의 어느 다른쪽에 형성되고 상기 돌기와 결합하는 홀(hole)로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 자기 검출 장치.
KR10-2003-0029237A 2002-10-24 2003-05-09 자기 검출 장치 KR100485050B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002309566A JP3720801B2 (ja) 2002-10-24 2002-10-24 磁気検出装置
JPJP-P-2002-00309566 2002-10-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040036521A KR20040036521A (ko) 2004-04-30
KR100485050B1 true KR100485050B1 (ko) 2005-04-25

Family

ID=32105273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2003-0029237A KR100485050B1 (ko) 2002-10-24 2003-05-09 자기 검출 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7084620B2 (ko)
JP (1) JP3720801B2 (ko)
KR (1) KR100485050B1 (ko)
DE (1) DE10320145B4 (ko)

Families Citing this family (66)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3839802B2 (ja) * 2003-07-25 2006-11-01 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4969026B2 (ja) * 2004-06-15 2012-07-04 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP4085079B2 (ja) * 2004-07-20 2008-04-30 住電エレクトロニクス株式会社 回転検出センサ
EP1662262A1 (de) * 2004-11-29 2006-05-31 Jaquet AG Drehzahlsensor mit integrierter Elektronik, insbesondere zur Anwendung bei Schienenfahrzeugen
JP4661236B2 (ja) * 2005-01-28 2011-03-30 アイシン精機株式会社 回転検出センサ
US20060272405A1 (en) * 2005-06-07 2006-12-07 Lajos Feher Casing for in-tank hall effect sensor used for fuel level sensing
JP2007095810A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Tokai Rika Co Ltd コネクタ一体型デバイス
US20070206363A1 (en) * 2006-03-01 2007-09-06 Wetherill Associates, Inc., Corporation Of The State Of Delaware Voltage regulator with welded lead frame connectors and method of making
US7892244B2 (en) * 2006-03-09 2011-02-22 Niti Surgical Solutions Ltd. Surgical compression clips
US7243541B1 (en) 2006-03-30 2007-07-17 Honeywell International Inc. Combi-sensor for measuring multiple measurands in a common package
DE112007002157T5 (de) 2006-09-22 2009-08-20 Ntn Corp. Rotationserfassungsvorrichtung, damit ausgestattetes Radlager und Verfahren zum Fertigen derselben
DE102006046984A1 (de) * 2006-10-04 2008-04-10 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements mit einem Winkelsensor
DE102007018758B4 (de) * 2007-01-08 2019-05-29 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Winkelsensor
US7816772B2 (en) * 2007-03-29 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for multi-stage molding of integrated circuit package
DE102007051870A1 (de) * 2007-10-30 2009-05-07 Robert Bosch Gmbh Modulgehäuse und Verfahren zur Herstellung eines Modulgehäuses
US9823090B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a target object
DE102008064046A1 (de) * 2008-10-02 2010-04-08 Continental Teves Ag & Co. Ohg Verfahren zur Herstellung eines Geschwindigkeits-Sensorelementes
DE102008064047A1 (de) 2008-10-02 2010-04-08 Continental Teves Ag & Co. Ohg Sensorelement und Trägerelement zur Herstellung eines Sensors
US8486755B2 (en) * 2008-12-05 2013-07-16 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and methods for fabricating the magnetic field sensors
US20100188078A1 (en) * 2009-01-28 2010-07-29 Andrea Foletto Magnetic sensor with concentrator for increased sensing range
EP2462616A1 (de) 2009-08-05 2012-06-13 Continental Teves AG & Co. oHG Sensoranordnung und chip mit zusätzlichen befestigungsbeinen
JP5223899B2 (ja) * 2010-09-15 2013-06-26 株式会社デンソー 回転角検出装置
US9116021B2 (en) 2011-05-18 2015-08-25 Mitsubishi Electric Corporation Sensor device
JP5523389B2 (ja) 2011-05-18 2014-06-18 三菱電機株式会社 磁気検出装置
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US10234513B2 (en) 2012-03-20 2019-03-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9812588B2 (en) 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9666788B2 (en) 2012-03-20 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US9494660B2 (en) 2012-03-20 2016-11-15 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
EP2653839B1 (de) * 2012-04-19 2015-06-10 Sick Ag Sensor mit von einem Hotmelt umgebenen Elektronikkomponenten
US10215550B2 (en) 2012-05-01 2019-02-26 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensors having highly uniform magnetic fields
CH706479A1 (de) * 2012-05-07 2013-11-15 Contelec Ag Mehrgang-Potentiometer zur Messung eines Drehwinkels.
US9817078B2 (en) 2012-05-10 2017-11-14 Allegro Microsystems Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil
US10725100B2 (en) 2013-03-15 2020-07-28 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an externally accessible coil
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
US9810519B2 (en) 2013-07-19 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors that act as tooth detectors
US10145908B2 (en) 2013-07-19 2018-12-04 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus for magnetic sensor producing a changing magnetic field
US10495699B2 (en) 2013-07-19 2019-12-03 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an integrated coil or magnet to detect a non-ferromagnetic target
DE102014205307A1 (de) * 2014-03-21 2015-09-24 Continental Automotive Gmbh Stabförmiger Magnetfeldsensor
US9720054B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US10712403B2 (en) 2014-10-31 2020-07-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US9719806B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a ferromagnetic target object
US9823092B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor providing a movement detector
DE102016202192A1 (de) * 2016-02-12 2017-08-17 Zf Friedrichshafen Ag Magnetfeldaufnehmer, Magnetfeldaufnehmermodul und Verfahren zum Herstellen eines Magnetfeldaufnehmermoduls
US10260905B2 (en) 2016-06-08 2019-04-16 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors to cancel offset variations
US10012518B2 (en) 2016-06-08 2018-07-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a proximity of an object
US10041810B2 (en) 2016-06-08 2018-08-07 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors that act as movement detectors
US10324141B2 (en) 2017-05-26 2019-06-18 Allegro Microsystems, Llc Packages for coil actuated position sensors
US10996289B2 (en) 2017-05-26 2021-05-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated position sensor with reflected magnetic field
US10837943B2 (en) 2017-05-26 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with error calculation
US11428755B2 (en) 2017-05-26 2022-08-30 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated sensor with sensitivity detection
US10641842B2 (en) 2017-05-26 2020-05-05 Allegro Microsystems, Llc Targets for coil actuated position sensors
US10310028B2 (en) 2017-05-26 2019-06-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor
US10866117B2 (en) 2018-03-01 2020-12-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field influence during rotation movement of magnetic target
US10921391B2 (en) 2018-08-06 2021-02-16 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with spacer
US11255700B2 (en) 2018-08-06 2022-02-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor
US10823586B2 (en) 2018-12-26 2020-11-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having unequally spaced magnetic field sensing elements
JP7279422B2 (ja) * 2019-03-07 2023-05-23 株式会社プロテリアル 複合ケーブル及び複合ハーネス
US11061084B2 (en) 2019-03-07 2021-07-13 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deflectable substrate
US10955306B2 (en) 2019-04-22 2021-03-23 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deformable substrate
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
US11280637B2 (en) 2019-11-14 2022-03-22 Allegro Microsystems, Llc High performance magnetic angle sensor
US11237020B2 (en) 2019-11-14 2022-02-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having two rows of magnetic field sensing elements for measuring an angle of rotation of a magnet
US11262422B2 (en) 2020-05-08 2022-03-01 Allegro Microsystems, Llc Stray-field-immune coil-activated position sensor
US11493361B2 (en) 2021-02-26 2022-11-08 Allegro Microsystems, Llc Stray field immune coil-activated sensor
US11578997B1 (en) 2021-08-24 2023-02-14 Allegro Microsystems, Llc Angle sensor using eddy currents

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0227580U (ko) * 1988-08-12 1990-02-22
EP0379180B1 (en) * 1989-01-18 1996-11-20 Nippondenso Co., Ltd. Magnetic detection device and physical quantity detection device using same
US5010263A (en) * 1989-02-21 1991-04-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Hall effect type sensing device
KR930006096B1 (ko) * 1989-03-09 1993-07-07 미쯔비시 덴끼 가부시끼 가이샤 호올 효과형 센서 장치
JP3339169B2 (ja) 1994-03-23 2002-10-28 株式会社デンソー 磁気検出センサ
US5637995A (en) * 1992-12-09 1997-06-10 Nippondenso Co., Ltd. Magnetic detection device having a magnet including a stepped portion for eliminating turbulence at the MR sensor
US5488294A (en) * 1995-01-18 1996-01-30 Honeywell Inc. Magnetic sensor with means for retaining a magnet at a precise calibrated position
JP3223769B2 (ja) * 1995-10-11 2001-10-29 三菱電機株式会社 回転センサとその製造方法
JP3433051B2 (ja) * 1997-06-26 2003-08-04 株式会社日立ユニシアオートモティブ 回転検出装置
US5963028A (en) * 1997-08-19 1999-10-05 Allegro Microsystems, Inc. Package for a magnetic field sensing device
DE19744673C2 (de) 1997-10-10 2000-09-07 Mannesmann Vdo Ag Vorrichtung zur Erfassung der Drehzahl eines umlaufenden Bauteiles, insbesondere für ein Kraftfahrzeug
JPH11304894A (ja) 1998-04-23 1999-11-05 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置とその製造方法
JP2002257840A (ja) 2001-03-01 2002-09-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 回転検出センサ
JP3572042B2 (ja) 2001-11-16 2004-09-29 三菱電機株式会社 磁気センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004144601A (ja) 2004-05-20
DE10320145B4 (de) 2008-05-29
KR20040036521A (ko) 2004-04-30
US7084620B2 (en) 2006-08-01
US20040080314A1 (en) 2004-04-29
JP3720801B2 (ja) 2005-11-30
DE10320145A1 (de) 2004-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100485050B1 (ko) 자기 검출 장치
JP4274051B2 (ja) 回転検出装置及び回転検出装置の製造方法
US6427316B1 (en) Manufacturing method of a rotation sensor
US6737863B2 (en) Rotation detecting device and method of producing same
JP3649010B2 (ja) 回転センサ及びその製造方法
EP0844487A2 (en) Magnetic sensor
JP4138527B2 (ja) 非接触式液面レベルセンサの製造方法
KR100740765B1 (ko) 자기 검출 장치
JP3711951B2 (ja) センサ構造及びセンサの製造方法
US6422075B1 (en) Low cost sensor package for bearing mount
US6804883B1 (en) Method for producing a pressure sensor
JP5035746B2 (ja) 回転検出装置
JP4716103B2 (ja) 回転センサの製造方法
JPH0682478A (ja) センサ装置
KR101022253B1 (ko) 휠속도센서 및 그 제조방법
EP1178319B1 (en) Speed sensor integrated into a bearing cap
JP2000214176A (ja) 移動物体検出装置
JP4221578B2 (ja) 磁気検出装置
KR200397748Y1 (ko) 마그네틱 센서
JP2005106781A (ja) 回転角センサ及びその製造方法
JP2597510Y2 (ja) 磁気センサ
KR102229527B1 (ko) 측정어셈블리를 고정시키는 구조를 갖는 사출금형 및 이를 이용한 사출구조물의 제조방법
JP2018025537A (ja) センサ装置及びその製造方法
JP4281537B2 (ja) 回転検出センサ装置
US20150114146A1 (en) Sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130321

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140319

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160318

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170322

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180316

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190319

Year of fee payment: 15