KR100436455B1 - 무납납땜합금 - Google Patents

무납납땜합금 Download PDF

Info

Publication number
KR100436455B1
KR100436455B1 KR10-2001-0037369A KR20010037369A KR100436455B1 KR 100436455 B1 KR100436455 B1 KR 100436455B1 KR 20010037369 A KR20010037369 A KR 20010037369A KR 100436455 B1 KR100436455 B1 KR 100436455B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
alloy
solder
weight
solderless
balance
Prior art date
Application number
KR10-2001-0037369A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20020002263A (ko
Inventor
사와무라다다시
고미야히사시
이나자와쓰구오
나카가와후지오
Original Assignee
니혼 아루밋토 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 니혼 아루밋토 가부시키가이샤 filed Critical 니혼 아루밋토 가부시키가이샤
Publication of KR20020002263A publication Critical patent/KR20020002263A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100436455B1 publication Critical patent/KR100436455B1/ko

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • B23K35/262Sn as the principal constituent

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

Pb이 전혀 포함되지 않고, 피접합부인 프린트기판의 Cu가 구성원소인 Ni과 결합함으로써, 납땜합금 중에 확산하는 것을 억제하고, 소위, Cu 침출 현상을 충분히 방지하며, 그 위에 납땜부에 발생하는 미세한 크랙을 억제하고, 더구나 납땜접합부의 기계적 강도가 높은 무납납땜합금을 제공한다.
Ag이 3.5∼6.0중량%, Ni가 0.001∼1.0중량%, 잔부가 Sn으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 무납납땜합금이다.

Description

무납납땜합금{Pb-free Soldering Alloy}
본 발명은, Pb을 전혀 포함하지 않은 무납납땜합금에 관한 것이다.
종래, 예컨대, 특개평10-13015호 공보 및 특개평11-277290호 공보에서, Ag, Ni 및 잔부가 Sn으로 이루어지는 Pb를 전혀 포함하지 않은 무납납땜합금이 표시되고 있다.
상술한 특개평10-13015호 공보에서는, Ag, Ni 및 잔부가 Sn으로 이루어지는 Pb를 전혀 포함하지 않은 무납납땜합금이 표시되고 있지만, 구체적성분비가 표시되고 있지 않았다.
또한, 상술의 특개평11-277290호 공보에서는, Ni가, 0.01∼0.5중량%, Ag이 0.5∼3.39중량%, 잔부가 Sn으로 이루어지는 무납납땜합금이 표시되어 있다. 그러나, Ag가 0.5∼3.39중량%라면, 적은 함유량이기 때문에, Sn의 함유량이 많다. 이 때문에, 피접합부인 프린트기판의 Cu가 납땜합금에 확산함으로써, 소위, Cu 침출 (leaching)이 많고, 접합부분의 기계적 강도가 저하한다는 문제점이 있었다.
또한, Sn에 대하여 Ag의 첨가량이 3.5% 미만에서는, 납땜부에 과잉의 Sn이β-Sn으로서 석출하고, 응고시에 납땜상층부에, 수축공(shrinkage cacity)에 의한 미세한 크랙이 발생하였다.
따라서, 본 발명은, Pb가 전혀 포함되지 않고, 피접합부인 프린트기판의 Cu가 구성원소인 Ni와 결합함에 의해, 납땜합금중에 확산하는 것을 억제하고, 소위, Cu 침출 현상을 충분히 방지하며, 그 위에 납땜부에 발생하는 미세한 크랙을 억제하고, 더구나 납땜접합부의 기계적 강도가 높은 무납납땜합금을 제공하는 것을 목적으로 한다.
제1항의 본 발명은, Ag이 3.5∼6.0중량%, Ni가 0.001∼1.O 중량%, 잔부가 Sn으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 무납납땜합금이다.
제2항의 본 발명은, P, Ga, Ge 중 어느 일종 이상을 0.001∼1중량% 첨가하는 제1항에 기재된 무납납땜합금이다.
제1항의 본 발명에 의하면, Sn-Ag 납땜합금에 Ni를 첨가함으로써, 납땜합금중으로 Cu가 확산하는 것을 막는다. 그 때문에, 리드선 등의 가는 동선(銅線)의 납땜시에는, 가는 동선으로부터 납땜합금에 용출하는 Cu가 감소하여, 결과적으로 가는 동선의 동 침출을 방지하고, 가는 동선이 가늘게 되는 것을 억제함으로써 가는 동선 그 자체의 기계적 강도를 확보할 수 있다.
또한, Ni가 납땜에 분산함으로써, 납땜 그 자체의 기계적 강도를 확보할 수 있다는 이점이 있다.
전자부품과 프린트기판을 납땜할 때에, 종래의 Sn-Pb 납땜합금이라도 프린트기판의 Cu박에서 Cu가 납땜합금중으로 용출하여 확산하고 있었다.
그러나, Pb를 포함하는 납땜합금이 환경 문제로 사용할 수 없게 되는 경우, Sn을 주성분으로 하는 무납납땜합금으로서는 Cu의 확산이 종래의 Sn-Pb 납땜합금보다 현저하게 되어 Cu가 다량으로 확산한다. 이것은, 납땜합금중의 Sn에 대하여 Cu는 확산하기 쉽기 때문이다. 그 때문에, 종래부터의 기술로서, Cu 침출을 방지하는 납땜으로서는, Pb가 많이 들어간 것을 사용하고 있었다.
이 때문에, Sn-Ag-Cu계 납땜합금이나 Sn-Ag-Cu-Bi계 납땜합금으로서는 Sn이 주성분이며, 종래의 납땜합금보다 Cu 침출이 증가하여, 리드선 등의 기계적 강도를 저하시킨다.
또한, Ag이 3.5∼6.0중량%라면, 많은 함유량이기 때문에, 납땜합금중의 β-Sn이 감소하고, 미세한 Ag3Sn이 존재하는 것과, Ni의 분산의 상승효과에 의해, 납땜접합부의 기계적 강도가 높아진다. 또한, Ni를 첨가함으로써, 납땜시에 모재인 동박으로부터 납땜측으로 확산될 것일 Cu가 Ni에 저해되고, 납땜합금 중에 확산하는 것을 방지되는 것을 발견하였다.
제2항의 본 발명에 의하면, P, Ga, Ge 중 어느 일종 이상을 0.001 ∼1중량% 첨가하기 때문에, 납땜시의 납땜합금의 산화를 방지하고, 드로스(dross)의 발생을 억제하여, 양호한 납땜성을 준다.
[발명을 실시하기 위한 최선의 형태]
이하, 본 발명을, 그 실시예에 따라서 설명한다.
표 1에 나타낸 바와 같이, 실시예1에서, Ni가 0.01중량%, P가 0.05중량%, Ag가 3.8중량%, 잔부의 Sn이 96.14중량%으로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 225℃이었다.
실시예2에서, Ni가 0.05중량%, Ga가 0.05중량%, Ag이 3.8중량%, 잔부의 Sn이 96.1중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 225℃이었다.
실시예3에서, Ni가 0.1중량%, Ge가 0.05중량%, Ag이 4.0중량%, 잔부의 Sn이 95.86중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 227℃이었다.
실시예4에서, Ni가 0.3중량%, P이 0.07중량%, Ga가 0.03중량%, Ag이 4.0중 량%, 잔부의 Sn이 95.6중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 290℃이었다.
실시예5에서, Ni가 0.5중량%, Ga가 0.05중량%, Ge가 0.05중량%, Ag이 4.0중량%, 잔부의 Sn이 95.4중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 356℃이었다.
실시예6에서, Ni가 1.0중량%, P가 0.03중량%, Ge가 0.07중량%, Ag이 4.5중 량%, 잔부의 Sn이 94.4중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 420℃이었다.
비교예1에서, Ni가 0.05중량%, Ag이 2.5중량%, 잔부의 Sn이 97.45중량%으로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 224℃이었다.
비교예2에서, Ni가 0.1중량%, Ag이 3.3중량%, 잔부의 Sn이 96.6중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 223℃이었다.
비교예3에서, Ag가 3.5중량%, 잔부의 Sn이 96.5중량%로 이루어지는 무납납땜합금은 그 용융온도는 221℃이었다.
이 납땜을 350℃, 400℃에서 2초간, 납땜을 하여, 납땜부의 Cu 선의 감소를 조사한 결과, Ni를 첨가함으로써, Cu 선의 Cu의 확산이 억제되고 있다는 것을 확인하였다.
<표1>
Cu 침출시험 결과
Sn중량% Ag중량% Ni중량% P중량% Ga중량% Ge중량% 고상선℃ 액상선℃ 단면율(%)
350℃×2초 400℃×2초
실시예1 96.14 3.8 0.01 0.05 221 225 91.7 84.6
실시예2 96.10 3.8 0.05 0.05 221 225 92.9 84.9
실시예3 95.85 4.0 0.1 0.05 221 227 93.3 85.2
실시예4 95.6 4.0 0.3 0.07 0.03 221 290 93.8 86.1
실시예5 95.4 4.0 0.5 0.05 0.05 221 356 94.8 90.1
실시예6 94.4 4.5 1.0 0.03 0.07 221 420 96.7 91.9
비교예1 97.45 2.5 0.05 221 224 85.5 78.2
비교예2 96.6 3.3 0.1 221 223 87.6 79.6
비교예3 96.5 3.5 0 221 221 86.1 80.2
납땜 전의 Cu선 100으로 한 경우
또한, 납땜부의 강도를 조사하기 위해서 황동에 Sn 도금된 1.2 mm 각의 핀을 구멍지름 1.8 mm, 랜드바깥둘레 3.0 mm의 동패턴의 기판에 삽입하여, 납땜을 하였다. 이 때의 납땜합금은, 30 mg으로 하여, 액상 플럭스를 사용하고, 인두로 납땜을 하여, 시험편을 작성하였다. 인두선단부의 온도는, 350 ℃ 및 400℃로 하고,납땜 시간은 모두 2초로 하였다.
작성한 시험편의 핀을 인장시험기를 써서 인장속도 10 mm/분으로 잡아빼고, 또한 필요한 인장하중을 측정하였다. 측정은 5회 행하고, 그 평균치를 표에 나타내었다. 또한, 드로스의 발생량을 측정하기 위해서, 분류(噴流)납땜조에서 납땜합금을 8시간 분류시키고, 발생한 드로스를 취출하여, 칭량을 행하였다.
표2에서는 8시간 분류시킨 드로스량과 1시간당의 드로스량을 나타내었다.
<표2>
인장시험 및 드로스생성시험결과
인장시험(×102N) 드로스발생량(100kg당)
350℃×2초 400℃×2초 8시간 분류 1시간당
실시예1 3.3 3.1 2.43kg 0.30kg
실시예2 3.4 3.1 2.44kg 0.31kg
실시예3 3.7 3.2 2.41kg 0.30kg
실시예4 3.9 3.2 2.35kg 0.29kg
실시예5 4.0 3.3 2.22kg 0.28kg
실시예6 4.4 3.6 2.11kg 0.27kg
비교예1 3.0 2.8 4.35kg 0.54kg
비교예2 3.2 3.0 4.25kg 0.53kg
비교예3 3.2 2.9 4.18kg 0.52kg
본 발명은, Pb가 전혀 포함되지 않고, 피접합부인 프린트기판의 Cu가 구성원소인 Ni와 결합함에 의해, 납땜합금중에 확산하는 것을 억제하고, 소위, Cu 침출 현상을 충분히 방지하며, 그 위에 납땜부에 발생하는 미세한 크랙을 억제하고, 더구나 납땜접합부의 기계적 강도가 높은 무납납땜합금을 제공한다.

Claims (2)

  1. Ag가 3.5∼6.0중량%, Ni가 0.001∼1.0중량%, 잔부가 Sn으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 무납납땜합금.
  2. 제 1 항에 있어서, P, Ga, Ge 중 어느 1종 이상을 0.001∼1중량% 첨가하는 무납납땜합금.
KR10-2001-0037369A 2000-06-30 2001-06-28 무납납땜합금 KR100436455B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP199074 2000-06-30
JP2000199074A JP3786251B2 (ja) 2000-06-30 2000-06-30 無鉛半田合金

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20020002263A KR20020002263A (ko) 2002-01-09
KR100436455B1 true KR100436455B1 (ko) 2004-06-22

Family

ID=18697142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0037369A KR100436455B1 (ko) 2000-06-30 2001-06-28 무납납땜합금

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6692691B2 (ko)
EP (1) EP1166938A3 (ko)
JP (1) JP3786251B2 (ko)
KR (1) KR100436455B1 (ko)
CN (1) CN1192850C (ko)
CA (1) CA2351912C (ko)
MY (1) MY126111A (ko)
SG (1) SG111021A1 (ko)
TW (1) TW527252B (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW592872B (en) * 2001-06-28 2004-06-21 Senju Metal Industry Co Lead-free solder alloy
KR20020037325A (ko) * 2002-05-02 2002-05-18 주식회사 유진네트비젼 윈도우 기반 터미널을 위한 이동식 저장 매체
TWI242866B (en) 2003-08-21 2005-11-01 Siliconware Precision Industries Co Ltd Process of forming lead-free bumps on electronic component
TW200529963A (en) * 2004-02-04 2005-09-16 Senju Metal Industry Co Solder alloy for preventing Fe erosion and method for preventing Fe erosion
US7134629B2 (en) * 2004-04-06 2006-11-14 The Boeing Company Structural panels for use in aircraft fuselages and other structures
KR20050030237A (ko) * 2004-11-13 2005-03-29 삼성전자주식회사 무연 솔더 합금
CN1313240C (zh) * 2005-05-09 2007-05-02 天津大学 铜锌铝形状记忆合金颗粒增强型锡银复合焊料及制备方法
FR2888253B1 (fr) * 2005-07-07 2007-11-23 Ind Des Poudres Spheriques Sa Alliage d'assemblage sans plomb, a base d'etain et dont l'oxydation a l'air est retardee et utilisation d'un tel alliage.
TWI465312B (zh) * 2005-07-19 2014-12-21 Nihon Superior Co Ltd 追加供應用無鉛焊料及焊浴中之Cu濃度及Ni濃度之調整方法
JP2007038228A (ja) * 2005-07-29 2007-02-15 Nihon Almit Co Ltd はんだ合金
CN1803381A (zh) * 2006-01-11 2006-07-19 黄守友 无铅焊料及其制备方法
JP4711420B2 (ja) * 2006-02-28 2011-06-29 浜松ホトニクス株式会社 光電子増倍管および放射線検出装置
JP4804173B2 (ja) 2006-02-28 2011-11-02 浜松ホトニクス株式会社 光電子増倍管および放射線検出装置
JP4849521B2 (ja) * 2006-02-28 2012-01-11 浜松ホトニクス株式会社 光電子増倍管および放射線検出装置
JP4804172B2 (ja) * 2006-02-28 2011-11-02 浜松ホトニクス株式会社 光電子増倍管、放射線検出装置および光電子増倍管の製造方法
EP2243590B1 (en) * 2008-02-22 2020-04-15 Nihon Superior Sha Co., Ltd Method of regulating nickel concentration in lead-free solder containing nickel
CA2644251A1 (en) * 2008-11-20 2010-05-20 Edwin Atwell Process for preparing low fat and lower fat baked goods and goods obtained therefrom
CN103692085B (zh) * 2014-01-09 2015-10-14 北京航空航天大学 一种用于界面强化传热的铝合金界面低温扩散连接方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900001458A (ko) * 1988-07-29 1990-02-27 미따 가쓰시게 땜납합금 및 이를 사용한 전자회로장치
KR960002784A (ko) * 1994-06-15 1996-01-26 김주영 반도체 소자의 저전압 감지회로

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3503721A (en) * 1967-02-16 1970-03-31 Nytronics Inc Electronic components joined by tinsilver eutectic solder
JPS5572048A (en) * 1978-11-25 1980-05-30 Toshiba Corp Semiconductor element
JPS62230493A (ja) * 1986-03-31 1987-10-09 Taruchin Kk はんだ合金
US4758407A (en) * 1987-06-29 1988-07-19 J.W. Harris Company Pb-free, tin base solder composition
DE3830694A1 (de) * 1988-09-09 1990-03-15 Bosch Gmbh Robert Hochschmelzendes lot
JPH06269983A (ja) * 1993-03-18 1994-09-27 Tokuriki Honten Co Ltd Ag系はんだ
JP3205466B2 (ja) * 1994-06-13 2001-09-04 福田金属箔粉工業株式会社 Sn基低融点ろう材
DE69632866T2 (de) * 1995-09-29 2005-07-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Bleifreies lot
JP3444096B2 (ja) 1996-06-26 2003-09-08 株式会社日立製作所 鉛フリー化方法およびこれを用いたはんだ実装方法
JP3693762B2 (ja) * 1996-07-26 2005-09-07 株式会社ニホンゲンマ 無鉛はんだ
US6033488A (en) * 1996-11-05 2000-03-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Solder alloy
JPH10144718A (ja) * 1996-11-14 1998-05-29 Fukuda Metal Foil & Powder Co Ltd スズ基鉛フリーハンダワイヤー及びボール
US5863493A (en) * 1996-12-16 1999-01-26 Ford Motor Company Lead-free solder compositions
US6231691B1 (en) * 1997-02-10 2001-05-15 Iowa State University Research Foundation, Inc. Lead-free solder
US6179935B1 (en) * 1997-04-16 2001-01-30 Fuji Electric Co., Ltd. Solder alloys
JP3575311B2 (ja) 1998-01-28 2004-10-13 株式会社村田製作所 Pbフリー半田および半田付け物品
KR100377232B1 (ko) * 1998-03-26 2003-03-26 니혼 슈페리어 샤 가부시키 가이샤 무연땜납합금
US6365097B1 (en) * 1999-01-29 2002-04-02 Fuji Electric Co., Ltd. Solder alloy
JP2000343273A (ja) * 1999-06-01 2000-12-12 Fuji Electric Co Ltd はんだ合金
JP3544904B2 (ja) * 1999-09-29 2004-07-21 株式会社トッパンNecサーキットソリューションズ はんだ、それを使用したプリント配線基板の表面処理方法及びそれを使用した電子部品の実装方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900001458A (ko) * 1988-07-29 1990-02-27 미따 가쓰시게 땜납합금 및 이를 사용한 전자회로장치
KR960002784A (ko) * 1994-06-15 1996-01-26 김주영 반도체 소자의 저전압 감지회로

Also Published As

Publication number Publication date
US6692691B2 (en) 2004-02-17
SG111021A1 (en) 2005-05-30
CN1192850C (zh) 2005-03-16
JP2002011592A (ja) 2002-01-15
CA2351912A1 (en) 2001-12-30
CN1329964A (zh) 2002-01-09
EP1166938A3 (en) 2003-12-17
TW527252B (en) 2003-04-11
EP1166938A2 (en) 2002-01-02
JP3786251B2 (ja) 2006-06-14
US20020015659A1 (en) 2002-02-07
KR20020002263A (ko) 2002-01-09
MY126111A (en) 2006-09-29
CA2351912C (en) 2007-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100436455B1 (ko) 무납납땜합금
KR101059710B1 (ko) 솔더 페이스트 및 인쇄 회로 기판
EP3715040B1 (en) Solder alloy, solder paste, solder ball, resin cored solder, and solder joint
EP3666453A1 (en) Solder alloy, solder paste, solder ball, resin-flux cored solder, and solder joint
JPH08164495A (ja) 有機基板接続用鉛レスはんだ及びそれを用いた実装品
JPWO2005102594A1 (ja) はんだ及びそれを使用した実装品
KR20030028430A (ko) 반도체장치, 반도체장치의 실장방법, 및 실장체와 그제조방법
JP2002254195A (ja) はんだ付け用組成物及びはんだ付け方法
US6596094B2 (en) Solder paste and electronic device
US20030178476A1 (en) Solder paste, electronic -component assembly and soldering method
JP6349615B1 (ja) はんだ合金、はんだ接合材料及び電子回路基板
US6630251B1 (en) Leach-resistant solder alloys for silver-based thick-film conductors
US7282174B2 (en) Lead-free solder and soldered article
JP3991788B2 (ja) はんだおよびそれを用いた実装品
KR101002062B1 (ko) 와이어 범프
JP3719624B2 (ja) 電子部品実装用はんだ及び電子部品の実装方法
JP3833829B2 (ja) はんだ合金及び電子部品の実装方法
JP2002178191A (ja) 低温系鉛フリーはんだ組成及びそれを用いた電子部品実装構造体
JPH0985484A (ja) 鉛フリーはんだとそれを用いた実装方法及び実装品
JP2910527B2 (ja) 高温はんだ
JP2007038228A (ja) はんだ合金
JP3864172B2 (ja) はんだ付け用組成物
JP4168735B2 (ja) はんだペーストと電子回路
JPH1058184A (ja) 半田およびそれを用いた電子部品の接続方法ならびに電子回路装置
JPH07116887A (ja) はんだ合金

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130429

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140515

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160425

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170317

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180327

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190325

Year of fee payment: 16