KR100272123B1 - 텅스텐 화학기상증착 반응실에서의 식각 방법 - Google Patents

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Abstract

텅스텐 CVD 반응이 수행될 때, 박막형성 가스에 의해 반응실의 내부에 증착된 텅스텐이 플라즈마로 제거되는, 텅스텐 CVD 반응실내의 식각 방법에 있어서, 반응실 내에 있는 잔류 박막형성 가스를 배기시키는 단계와, 이후에 상기 반응실내를 소정 진공도로 하고 반응실내에 6불화황(SF6) 및 산소(O2)의 혼합 가스를 도입하면서 고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함하는, 텅스텐 CVD 반응실내의 식각 방법이 제안된다.

Description

텅스텐 화학기상증착 반응실에서의 식각 방법
본 발명은 텅스텐 화학기상증착 반응실 내에서의 식각(etching) 방법에 관한 것이며, 보다 상세히는 플라즈마 식각을 사용하는 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법에 관한 것이다.
종래의 반도체 장치 제조 공정에 있어서는 전기적 전도성 구멍(conducting hole) 즉, 콘택트(contact)가 소정 위치에 제공될 필요가 있다. 스퍼터링(sputtering) 방법에 의해 스퍼터링된 알루미늄(Al)과 같은 전도성 재료가 오랜 기간 동안 사용되어 왔다. 그러나, 최근의 반도체 장치의 고집적화에 따라서, 상기 콘택트의 직경이 서브 미크론 레벨에 도달되고, 그 애스펙트 비(aspect ratio)(높이와 폭의 비)가 커지며, 알루미늄의 콘택트 내부에서의 스텝 커버리지(step coverage)가 악화되고, 전기적으로 쇼트되어 버리는 문제가 발생하였다.
이와 같은 문제를 해결하기 위하여, 스퍼터링 공정이 수행되기 전에 콘택트에 텅스텐(W)을 매설하는 방법이 연구되었다. 예를 들면, 화학기상증착(Chemical Vapor Deposition; 이하 CVD라 함) 방법에 의해, 먼저 텅스텐을 반도체 기판 위에 막형성(成膜)하고, 그 후 건식 식각(dry etching)의 방법으로 상기 텅스텐 박막의 전체 표면에 텅스텐을 식각한다. 이 때, 기판 표면에 형성된 텅스텐 박막은 제거되지만, 콘택트 내부에 매립
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된 텅스텐은 식각되지 않고 잔류하게 된다. 그리고 나서, 알루미늄이 스퍼터링되어, 콘택트 내부의 텅스텐과 접촉하게 되고, 이것에 의해 상기 알루미늄과 텅스텐 사이의 전기적인 도통(導通)이 이루어진다. 이런 방법에 의한 텅스텐 CVD 방법을 첨부된 제1도를 참조하여 설명하기로 한다.
제1도를 참조하면, 제1도는 종래 기술에 따른 텅스텐 CVD 장치를 개략적으로 도시한 단면도로서, 금속성 반응실(1) 내부에 캐소드(2)와 어노드(3)가 서로 대향하여 배치되어 있고, 캐소드(2)의 바닥 부분에는 작은 구멍들이 많이 형성되어 가스 도입구로서의 역할도 한다. 더욱이, 캐소드(2)는 고주파 전원(4)에 연결되고, 또한 어노드(3)는 접지되어 있다. 3불화질소(nitrogen trifluoride, NF3; 이하 NF3라 함)를 제거하기 위한 제거 장치(7)가 펌프(6)를 통해 반응실(1)에 연결되어, 상기 반응실(1)을 배기시킨다.
작동중에는, 어노드(3) 상에 반도체 기판(5)이 장치되고, 그 후 가스 도입구를 통해 반응실(1)의 내부로 6불화텅스텐(tungsten hexafluoride, WF6; 이하 WF6라 함)과같은 가스를 200 sccm 내지 400 sccm 정도로 유입시키고, 고주파 전원(4)으로부터 13.56MHz의 고주파를 100 내지 300 Watt 출력시킨다. 또한, 배기량을 조절하여 반응실(1)내의 압력을 0.5 내지 0.7 Torr 정도로 하고 어노드(3)의 온도를 300℃ 내지 500℃로 상승시키면, 반도체 기판(5) 상에 텅스텐 박막이 형성된다.
이 텅스텐은 당연히 반응실(1)의 내벽과, 캐소드(2)의 표면과, 어노드(3)의 반도체 기판이 설치되지 않는 부분에도 박막형성되며, 이 처리를 반복해가는 중에 점차로 퇴적 막두께가 증대되어 간다, 이 반응실(1)의 내벽등에 대한 텅스텐의 박막형성은 막두께가 두꺼워질수록 박리에 의한 파티클의 원인으로 되므로 제거할 필요가 있다.
이와 같은 제거 작업은 텅스텐 박막이 반도체 기판(5) 위에 형성된 후, 상기 반도체 기판을 반응실(1)에서 반출시키고 난 후에 수행된다. 기판(5)을 반출시키고 난 후 반응실(1)을 일단 진공 펌핑하여 텅스텐 박막형성시에 사용되었던 6불화 텅스텐(WF6)의 잔류 가스를 충분히 배기한 후, 반응실(1)의 내부에 NF3와 같은 불소계 가스를 100 내지 200 sccm 도입하고, 반응실(1)내의 진공도(degree of vacuum)를 100 내지 150 mmTorr 정도로 유지하고, 예를 들어 13.56 MHz의 고주파를 300 내지 500 watt 출력한다.
이러한 제거 공정에 요구되는 처리시간은 반응실의 내부 벽에 부착되어 있는 텅스텐 박막의 두께에 따라서 결정된다. 예를 들어, 500 nm 두께의 박막형성이 1회 이루어진 후라면, 상술된 조건에서 제거 시간은 대략 2분 30초 정도 걸린다. 이러한 식각 공정을, 반도체 기판에 대한 텅스텐 CVD 공정 후에 행하므로써, 반응실(1)의 내벽 등에 부착된 텅스텐 박막을 다음 식(1)과 같이 제거할 수 있고, 파티클의 발생을 억제할 수 있다.
W + 2NF3→ WF6+ N2………(1)
한편, NF3중 W와 반응하지 않는 잔여 가스는 펌프를 통하여 제거 장치(7)로 배기되고, 이 내부에서 처리된 후 질소 가스(N2)만이 배출된다, 제거 장치(7)에는 불소(fluorine)을 흡착하는 물질이 들어있고, 이 물질은 약 3개월 내지 6개월에 한 번씩 교환된다. 이렇게 하므로써, 유해한 NF3가스가 대기중으로 직접 배출되는 것을 방지할 수 있다, 상기 식(1)의 반응에 의해 얻어진 WF6는 충분히 많은 N2가스에 의해 희석된 후에 대기중으로 방출되기 때문에, 안전성에는 문제가 없다.
그러나, 반응실(1)에 대한 플라즈마(Plasma) 식각 방법에 사용되는 NF3가 지구 온난화 물질이기 때문에, 미래에는 이것의 사용이 금지될지도 모른다. 더욱이, 유해한 NF3를 처리하기 위한 제거 장치는 단가가 높다는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 종래 기술의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 유해 가스를 제거하기 위한 장치가 필요없는 텅스텐 CVD 반응실 내에서의 식각 방법을 제공하는데 있다.
본 발명에 따르면, 텅스텐 CVD 반응이 수행될 때, 박막형성 가스에 의해 반응실의 내부에 증착된 텅스텐이 플라즈마로 제거되는, 텅스텐 CVD 반응실내의 식각 방법에 있어서, 반응실 내에 있는 잔류 박막형성 가스를 배기시키는 단계와, 이후에 상기 반응실내를 소정 진공도로 하고 반응실내에 6불화황(SF6) 및 산소(O2)의 혼합 가스를 도입하면서 고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 텅스텐 CVD 반응이 수행될 때, 박막형성 가스에 의해 반응실의 내부에 증착된 텅스텐이 플라즈마로 제거되는, 텅스텐 CVD 반응실내의 식각 방법에 있어서, 반응실 내에 있는 잔류 박막형성 가스를 배기시키는 단계와, 이후에 상기 반응실내를 제1의 소정 진공도로 하고 반응실내에 6불화황 및 산소의 혼합 가스를 도입하면서 제1고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계와, 상기 반응실내를 제2의 소정 진공도로 하고 반응실내에 상기 혼합가스를 도입하면서 제2고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함한다.
제1도는 종래 기술에 따른 식각 방법에서 사용되는 텅스텐 CVD 성장 장치를 도시한 개략도.
제2도는 본 발명에 따른 양호한 실시예에서 사용되는 텅스텐 CVD 성장 장치를 도시한 개략도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 반응실 2 : 캐소드
3 : 어노드 4 : 고주파 전원
5 : 반도체 기판 6 : 펌프
7 : 제거 장치
이하, 본 발명에 대한 양호한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
제2도는 본 발명에 따른 제1실시예의 텅스텐 CVD 반응실 내부에서의 식각 방법을 도시한 개략도로서, 제1도에서 제시되었던 부분에 대해서는 동일 부호로 나타내었다. 제1실시예에서 사용된 텅스텐 CVD 장치의 구성은 종래 기술에 따른 텅스텐 CVD 장치의 구성과 비슷하다. 제2도를 참조하면, 금속 재료로 제조된 반응실(1) 내에서, 캐소드(2)와 어노드(3)는 서로 대향적으로 배치되며, 캐소드(2)의 바닥 부분에는 작은 구멍들이 형성되어, 유도 가스의 도입구로서 기능을 한다. 더욱이, 캐소드(2)는 고주파 전원(4)에 연결되고, 또한 어노드(3)는 접지되어 있다. 반응실(1)의 배기측에 펌프(6)가 연결되어 있지만, 종래 기술에 따른 장치와는 달리, 펌프(6)의 배기측에는 제거 장치(7)가 접속되어 있지 않다.
작동에 있어서, 어노드(3)상에 반도체 기판(5)이 장치되고, 그 후 가스 도입구를 통해 반응실(1)의 내부로 6불화텅스텐(WF6)과 같은 가스를 200 sccm 내지 400 sccm 정도로 주입시키고, 고주파 전원(4)으로부터 13.56 MHz의 고주파를 100 내지 300 W의 출력으로 발생시킨다. 그 후, 배기량을 조절하여 반응실(1)내의 압력을 0.5 내지 0.7 Torr 정도로 하고, 어노드(3)의 온도를 300℃ 내지 500℃로 상승시키면 반도체 기판(5) 상에 텅스텐 박막을 형성시킬 수 있다. 이 때, 전술했듯이, 텅스텐 박막은 반응실(1)의 내벽과, 캐소드(2)의 표면과, 어노드(3)의 표면중 반도체 기판이 설치되지 않은 부분에도 형성될 수 있고, 이것이 파티클의 원인으로 된다.
이 때문에 반응실(1) 내벽에 증착된 텅스텐을 제거하는 작업은 텅스텐이 반도체 기판(5)상에 박막형성되고 반도체 기판이 반응실(1)로부터 반출된 후에 수행된다. 반도체 기판(5)을 반응실(1)로부터 반출시키고난 후에 반응실(1)을 일단 진공 펌핑하고, 텅스텐 박막형성시에 사용한 6불화텅스텐(WF6)의 잔류가스를 충분히 배기한다. 그리고 나서, 6불화황(SF6) 60 내지 70 sccm과 산소(O2) 5 내지 10 sccm의 혼합 가스를 가스 도입구에서 반응실 내부로 도입하여 반응실(1)내의 진공도를 예를 들어 50 내지 70 mmTorr로 유지하면서 예를 들어 13.56 MHz의 고주파를 400 내지 500 Watt로 출력시킨다. 이 조건에서, 제거 작업에 소요되는 시간은 예를들어 500 nm 박막의 텅스텐CVD(WCVD)가 수행되었다면 약 2분 정도이다. 이 반응실(1)에서의 식각 반응은 다음의 식(2)과 같이 이루어진다.
W + SF6+ O2→ WF6+ SO2………(2)
이 경우, 반응실(1)로부터 배출되는 가스는 충분한 양의 N2에 의해 희석되어 대기중으로 배기된다. 따라서, 종래 기술에 따른 방법에서 필요했던 제거 장치가 더 이상 필요없게 된다. 식각 공정을 완성한 후에, 반응실(1)의 내부는 다시 진공 상태로 되고, 다음 반도체 기판(5)이 어노드(3)상에 위치되어 WCVD가 개시된다.
이상, 기술한 방법에 의한 박막형성 식각으로, 500 nm 두께의 WCVD 성장을 1,000번 반복한 후에도 파티클이 발생되지 않았고 이것에 의해 식각 공정이 양호하게 이루어졌음이 입증되었다.
다음으로 본 발명의 제2실시예의 텅스텐 CVD 반응실(1)내에서의 식각 방법에 대하여 설명하기로 한다. 반응실(1) 내부에서 동일 조건의 한 단계만을 사용하여 식각을 수행한 제1실시예에 비교하여, 제2실시예에서는 조건을 달리한 두 단계를 사용하여 식각을 수행한다.
제1실시예에서와 마찬가지로, 반도체 기판(5)이 반응실(1)로부터 반출된 후에 반응실(1)을 일단 진공 펌핑하고, 텅스텐 막형성시에 사용한 6불화텅스텐(WF6)의 잔류가스를 충분히 배기시킨다. 이 후에 가스 도입구로부터 6불화가스(SF6)와 산소(O2)의 혼합가스를, 예를 들어 SF6를 60 내지 70 sccm, 산소를 5 내지 10 sccm의 비율로 가스 도입구에서 반응실내로 유동시키고, 반응실(1)내의 진공도를 예를 들어 5O 내지 70 mmTorr로 유지하여, 13.56 MHz의 고주파를 예를 들어 400 내지 500 Watt로 출력한다. 이 식각 시간은 예를 들어 500 nm의 텅스텐CVD(WCVD) 막형성 후라면 상기 조건에서 약 2분 정도가 양호하다.
제2실시예에서는 상기 제1단계 식각의 종료후에, 조건을 변경하여, 제2단계의 식각을 행한다. 즉, 제2단계에서는 압력을 제1단계보다 고압인 70 내지 100 mmTorr로 하고, 13.56 MHz의 고주파 출력을 200 내지 300 W로 한다. 이 조건에서 제2단계 식각을 30초 정도 행한다.
제2실시예에서, 제1단계 식각은 주로 캐소드(2)와 어노드(3)의 식각이 주가 되며, 반응실(1)의 내벽에 대한 식각은 거의 이루어지지 않는다. 그 이유는 저압-고파워의 조건에서는 플라즈마가 전극 주변에 한정적으로 발생하기 때문이다. 이에 대하여 제2단계 식각은 제1단계 식각에 비해 높은 압력과 낮은 파워의 조건에서 수행되기 때문에, 플라즈마가 반응실(1) 전체에 퍼져서, 반응실(1)의 내벽의 식각도 효과적으로 이루어진다.
제1실시예에서와 마찬가지로, 제2단계 식각을 완료한 후, 반응실(1)은 다시 진공 펌핑되고, 그 후 다음 반도체 기판(5)이 어노드(3)상에 배치되어, WCVD의 막형성이 개시된다. 제2실시예를 사용하여, 500 nm 두께의 WCVD 성장을 총 3,000회 반복하고 난 후에도 파티클은 발생하지 않았다. 제2실시예에서, 반도체 기판 1장당 처리 시간은 제1실시예의 경우보다 길어지지만, 반응실 내의 청정도는 제1실시예의 경우에 비해 약 2배의 기간에 걸쳐 유지된다. 따라서 생산성은 제1실시예의 경우와 거의 동등하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면 반응실의 에칭에, 6불화황(WF6)과 산소(O2)의 혼합 가스를 이용하고 있으므로 WCVD 성장 장치의 배기 측에 유해물질 제거장치를 필요로 하지 않게 되고, 코스트 절감, 플로어의 유효활용이 가능해진다. 이 SF6는 NF3와 같이 전부폐기되는 것이 아니므로, 식각 가스의 변경 등의 가능성은 적다.
본 발명의 완전하고 명확한 설명을 위해, 특정 실시예에 대하여 본 발명을 기술하였지만, 이하 첨부된 청구범위는 실시예에 한정되지 않고, 모든 다른 수정 및 변경을 포함하도록 구성되며, 당업자라면 이러한 변경 및 수정예가 청구범위의 취지 및 범주를 벗어나지 않는한 가능함을 이해할 것이다.

Claims (5)

  1. 텅스텐 화학기상증착(CVD) 반응이 수행될 때, 박막형성 가스에 의해 반응실 내부에 증착된 텅스텐이 플라즈마로 제거되는, 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법에 있어서, 반응싱 내에 있는 잔류 박막형성 가스를 배기시키는 단계와, 이후에 상기 반응실내를 소정 진공도로 하고 반응실내에 6불화황(SF6) 및 산소(O2)의 혼합 가스를 도입하면서 고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 반응실내의 진공도는 70 mmTorr 이하인 것을 특징으로 하는 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법.
  3. 텅스텐 화학기상증착 반응이 수행될 때, 박막형성 가스에 의해 반응실의 내부에 증착된 텅스텐이 플라즈마로 제거되는, 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법에 있어서, 반응실 내에 있는 잔류 박막형성 가스를 배기시키는 단계와, 이후에 상기 반응실내를 제1의 소정 진공도로 하고 반응실내에 6불화황 및 산소의 혼합 가스를 도입하면서 제1고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계와, 상기 반응실내를 제2의 소정 진공도로 하고 반응실내에 상기 혼합가스를 도입하면서 제2고주파 전력을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1고주파 전력은 제2고주파 전력보다 높고, 제1진공도는 제2진공도보다 낮은 것을 특징으로 하는 텅스텐 화학기상증착 반응실 내의 식각 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1진공도는 70 mmTorr 이하이고, 제2진공도는 70 mmTorr 이상인 것을 특징으로 하는 텅스텐 화학기상증착 반응실내의 식각 방법.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6395128B2 (en) * 1998-02-19 2002-05-28 Micron Technology, Inc. RF powered plasma enhanced chemical vapor deposition reactor and methods of effecting plasma enhanced chemical vapor deposition
US6350699B1 (en) * 2000-05-30 2002-02-26 Sharp Laboratories Of America, Inc. Method for anisotropic plasma etching using non-chlorofluorocarbon, fluorine-based chemistry
JP2002317267A (ja) * 2001-04-17 2002-10-31 Nec Kagoshima Ltd 薄膜製造方法
US6886573B2 (en) * 2002-09-06 2005-05-03 Air Products And Chemicals, Inc. Plasma cleaning gas with lower global warming potential than SF6
US20050241671A1 (en) * 2004-04-29 2005-11-03 Dong Chun C Method for removing a substance from a substrate using electron attachment
US8859417B2 (en) 2013-01-03 2014-10-14 Globalfoundries Inc. Gate electrode(s) and contact structure(s), and methods of fabrication thereof
US10648087B2 (en) 2015-11-10 2020-05-12 L'Air Liquide, SociétéAnonyme pour l'Exploitation et l'Etude des Procédés Georges Claude Etching reactants and plasma-free etching processes using the same
CN108346554A (zh) * 2018-04-24 2018-07-31 西南林业大学 一种等离子体刻蚀与沉积设备及方法
US11377733B2 (en) * 2020-08-07 2022-07-05 Sandisk Technologies Llc Fluorine-free tungsten deposition process employing in-situ oxidation and apparatuses for effecting the same

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0464696A1 (en) * 1990-06-29 1992-01-08 Applied Materials, Inc. Two-step reactor chamber self cleaning process
EP0574075A1 (en) * 1992-06-09 1993-12-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a semiconductor device by means of a chemical vapour deposition
JPH0620956A (ja) * 1992-07-06 1994-01-28 Toshiba Corp 光ｃｖｄ装置及び光ｃｖｄ法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5970763A (ja) * 1982-10-12 1984-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜形成装置
JPS59142839A (ja) * 1983-02-01 1984-08-16 Canon Inc 気相法装置のクリ−ニング方法
US4623417A (en) * 1985-08-23 1986-11-18 Texas Instruments Incorporated Magnetron plasma reactor
EP0312986A1 (de) * 1987-10-22 1989-04-26 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Rückätzen von Wolfram mit Titannitrid als Unterlage in Kontaktlöchern von höchstintegrierten Halbleiterschaltungen
US5207836A (en) * 1989-08-25 1993-05-04 Applied Materials, Inc. Cleaning process for removal of deposits from the susceptor of a chemical vapor deposition apparatus
JPH04243121A (ja) * 1991-01-18 1992-08-31 Fuji Electric Co Ltd ウエハ処理装置およびそのクリーニング方法
US5260236A (en) * 1991-06-07 1993-11-09 Intel Corporation UV transparent oxynitride deposition in single wafer PECVD system
US5209836A (en) * 1991-12-19 1993-05-11 Olin Corporation Baseplate for electrolytic cell with a liquid metal cathode
JP3311399B2 (ja) * 1992-10-28 2002-08-05 日本製紙株式会社 電子写真用転写紙
EP0697467A1 (en) * 1994-07-21 1996-02-21 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for cleaning a deposition chamber
JP3404434B2 (ja) * 1994-09-19 2003-05-06 株式会社日立製作所 マイクロ波プラズマ装置のクリーニング方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0464696A1 (en) * 1990-06-29 1992-01-08 Applied Materials, Inc. Two-step reactor chamber self cleaning process
EP0574075A1 (en) * 1992-06-09 1993-12-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a semiconductor device by means of a chemical vapour deposition
JPH0620956A (ja) * 1992-07-06 1994-01-28 Toshiba Corp 光ｃｖｄ装置及び光ｃｖｄ法

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